JPH0878186A - X-ray fluroscopic photographing device - Google Patents

X-ray fluroscopic photographing device

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JPH0878186A
JPH0878186A JP6232137A JP23213794A JPH0878186A JP H0878186 A JPH0878186 A JP H0878186A JP 6232137 A JP6232137 A JP 6232137A JP 23213794 A JP23213794 A JP 23213794A JP H0878186 A JPH0878186 A JP H0878186A
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JP
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ray
area
light
signal
subject
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Application number
JP6232137A
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Japanese (ja)
Inventor
Tomomi Katayama
智視 片山
Koichi Shibata
幸一 柴田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPH0878186A publication Critical patent/JPH0878186A/en
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Abstract

PURPOSE: To automatically control film density to an optimum film density by detecting a divided area off from a standard level to control a shading means, and regulating the standard value of a comparing means or the integrat ing constant of an integrating means. CONSTITUTION: The signal level every divided area of a photomultiplier 12 obtained from a video signal photographed by a TV camera 7 is compared with a standard level by a fluoroscopic processor 20 to detect the divided area off from the standard level. A liquid crystal mask 11 is interruption-controlled so that the light of the detected divided area is never incident to the tube 12, and the standard value of a comparator 15 or the integrating constant of an integrator 13 is regulated. The optical image of the light measuring area which is never shaded is converted into an electric signal by the tube 12, integrated by the integrator 13, and compared with the comparator 15, and when the integrated value reaches the standard value, an X-ray interruption signal is outputted to an X-ray high voltage device 5 to stop the exposure of X-ray. Thus, the X-ray exposing time can be automatically controlled to photograph a subject with a proper film density.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、X線透視撮影装置に
係り、特に、X線写真撮影に伴うX線露出量を適正値に
自動制御する技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray fluoroscopic imaging apparatus, and more particularly to a technique for automatically controlling an X-ray exposure amount associated with X-ray photography to an appropriate value.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、X線透視撮影装置として、図8に
示すような装置が知られている。これは、X線管100
から被検体MにX線を曝射して被検体Mからの透過X線
をイメージインテンシファイヤ(以下、単にI.I.とい
う)101で光像に変換し、この光像をTVカメラ10
2で撮像して映像信号を生成する。そして、この映像信
号を増幅器等を介してTVモニタ103に与えることに
より、そのTVモニタ103に被検体Mの透視像を映し
出している。術者は、このTVモニタ103上の透視像
を観察しながら、撮影器104で被検体Mの関心部位を
撮影している。
2. Description of the Related Art Conventionally, an apparatus shown in FIG. 8 is known as an X-ray fluoroscopic apparatus. This is an X-ray tube 100
The subject M is irradiated with X-rays from the subject and the transmitted X-rays from the subject M are converted into an optical image by an image intensifier (hereinafter, simply referred to as II) 101, and this optical image is TV camera 10.
Image is picked up at 2 to generate a video signal. Then, by applying this video signal to the TV monitor 103 via an amplifier or the like, a perspective image of the subject M is displayed on the TV monitor 103. The operator takes an image of the region of interest of the subject M with the image taking device 104 while observing the fluoroscopic image on the TV monitor 103.

【0003】フィルムFに被検体MのX線像を撮影する
場合、つぎのようにしてX線露出量が適正値になるよう
にX線自動露出制御部105で自動制御される。I.I.1
01で変換された光像の一部をプリズムレンズなどの分
配器110をとおして検出器(ホトマル)106に導き
電気量に変換し、この電気量を積分器107により積分
する。この積分された充電電圧Vs を比較器108で基
準電圧Vr と比較して、充電電圧Vs が基準電圧Vrに
達したとき、X線遮断信号をX線高電圧装置109に出
力することにより、X線の曝射が停止される。これによ
り、X線露出時間が自動制御されて適正なフィルム濃度
でフィルムFに被検体MのX線像が撮影される。
When an X-ray image of the subject M is taken on the film F, the X-ray automatic exposure control unit 105 automatically controls the X-ray exposure amount so as to have an appropriate value as follows. II1
A part of the light image converted by 01 is led to a detector (photomal) 106 through a distributor 110 such as a prism lens and converted into an electric quantity, and the electric quantity is integrated by an integrator 107. The integrated charging voltage Vs is compared with the reference voltage Vr by the comparator 108, and when the charging voltage Vs reaches the reference voltage Vr, an X-ray cutoff signal is output to the X-ray high-voltage device 109, whereby X The line exposure is stopped. As a result, the X-ray exposure time is automatically controlled and an X-ray image of the subject M is captured on the film F with an appropriate film density.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来装置には、次のような問題がある。すなわち、被
検体Mの撮影部位によって透過する透過X線量が異なる
ので、積分器107での充電電圧Vs が基準電圧Vrに
達する時間に差が生じることになる。従って、X線露光
時間のバラツキによる露出不足や露出過多となり、最適
なフィルム濃度が得られない。
However, the above-mentioned conventional device has the following problems. That is, since the transmitted X-ray dose varies depending on the imaged site of the subject M, there is a difference in the time for the charging voltage Vs in the integrator 107 to reach the reference voltage Vr. Therefore, insufficient exposure or excessive exposure is caused by variations in X-ray exposure time, and an optimum film density cannot be obtained.

【0005】例えば、造影剤を含んだ胃を撮影する場
合、図9に示すように、検出器106では測光領域Pa
の光量を電気量に変換しているので、測光領域Pa内に
おいて、造影剤を含んだX線を透過しない領域Aaが多
くなると、電気量が少なくなり、充電電圧Vs が基準電
圧Vrに達するまでに時間がかかることになる。その結
果、X線露光時間が長くなってフィルム濃度の高い輪郭
のぼやけた撮影像になる。
For example, in the case of photographing a stomach containing a contrast agent, as shown in FIG.
Since the amount of light is converted into the amount of electricity, the amount of electricity decreases when the region Aa that does not transmit X-rays containing the contrast agent increases in the photometric region Pa until the charging voltage Vs reaches the reference voltage Vr. Will take time. As a result, the X-ray exposure time becomes long, and a captured image with a high film density and a blurred outline is obtained.

【0006】一方、被検体の食道周辺を撮影する場合、
測光領域Pb内の肺部分Abには空気が入っているた
め、X線がほとんど吸収されずに透過するので、測光領
域Pb内の光量が多くなり、充電電圧Vs がはやく基準
電圧Vrに達することになる。従って、X線露光が短時
間で終了することになり、フィルム濃度が低くい撮影像
になる。
On the other hand, when photographing the area around the esophagus of a subject,
Since the lung part Ab in the photometric region Pb contains air, the X-rays are hardly absorbed and are transmitted, and therefore the amount of light in the photometric region Pb increases and the charging voltage Vs reaches the reference voltage Vr quickly. become. Therefore, the X-ray exposure is completed in a short time, and the captured image has a low film density.

【0007】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、最適なフィルム濃度に自動制御でき
るX線透視撮影装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide an X-ray fluoroscopic apparatus capable of automatically controlling the optimum film density.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するため、次のような構成をとる。すなわ
ち、被検体に向けてX線を曝射するX線曝射手段と、被
検体からの透過X線をフィルム上に撮影する撮影手段
と、被検体からの透過X線を検出して光像に変換するX
線検出手段と、前記X線検出手段で変換された光像の一
部を測光領域として取り出す分配手段と、前記X線検出
手段で変換された光像を撮像し、映像信号を生成する撮
像手段と、前記分配手段で取り出された測光領域の光量
を検出して電気信号に変換する検出手段と、前記検出手
段からの電気信号を積算する積算手段と、前記積算手段
で積算された積算値と基準値とを比較することにより、
前記積算値が基準値に達した場合に前記X線曝射手段に
X線遮断信号を与える比較手段と、前記検出手段の測光
領域を分割し、その分割領域毎に遮光する遮光手段と、
前記撮像手段の映像信号から得られる前記測光領域の各
分割領域ごとの信号レベルと基準レベルとを比較して、
基準レベルから外れた分割領域を検出することに基づ
き、その領域に対応した前記遮光手段の分割領域を遮光
するように前記遮光手段を制御するとともに、前記比較
手段の基準値または前記積算手段の積算定数を調整する
制御手段と、を備えたものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration. That is, an X-ray irradiation unit that irradiates the subject with X-rays, an imaging unit that captures the transmitted X-rays from the subject on a film, and an optical image by detecting the transmitted X-rays from the subject. Convert to X
X-ray detection means, distribution means for extracting a part of the light image converted by the X-ray detection means as a photometric region, and image pickup means for picking up the light image converted by the X-ray detection means and generating a video signal. A detecting means for detecting the amount of light in the photometric region taken out by the distributing means and converting it into an electrical signal; an integrating means for integrating the electrical signals from the detecting means; and an integrated value integrated by the integrating means. By comparing with the reference value,
A comparing means for giving an X-ray blocking signal to the X-ray irradiating means when the integrated value reaches a reference value; and a light-shielding means for dividing the photometric area of the detecting means and shielding the light in each divided area,
By comparing the signal level and the reference level for each divided area of the photometric area obtained from the image signal of the image pickup means,
Based on detecting a divided area deviating from the reference level, the light shielding means is controlled so as to shield the divided area of the light shielding means corresponding to the area, and the reference value of the comparison means or the integration of the integration means is integrated. And a control means for adjusting the constant.

【0009】[0009]

【作用】この発明の構成によれば、次のような作用があ
る。X線曝射手段から被検体に向けてX線が曝射され、
被検体からの透過X線がX線検出手段で光像に変換され
る。この光像が撮像手段で撮像されて映像信号が生成さ
れるとともに、光像の一部が測光領域として分配手段を
とおして検出手段に導きかれて電気量に変換される。
According to the structure of the present invention, the following effects are obtained. X-rays are emitted from the X-ray emission means toward the subject,
The transmitted X-rays from the subject are converted into an optical image by the X-ray detection means. This light image is picked up by the image pickup means to generate a video signal, and a part of the light image is guided to the detection means as a photometric region through the distribution means and converted into an electric quantity.

【0010】この際、制御手段によって、撮像手段で撮
像された映像信号から得られる検出手段の各分割領域ご
との信号レベルと基準レベルとが比較され、基準レベル
から外れた分割領域が検出されるとともに、基準レベル
から外れた領域を取り除いた測光領域に応じた比較手段
の基準値または積算手段の積算定数が求められる。そし
て、この制御手段により、基準レベルから外れた分割領
域の光が検出手段に入射しないように遮光手段が遮断制
御されるとともに、比較手段の基準値または積算手段の
積算定数が調整される。
At this time, the control means compares the signal level for each divided area of the detection means obtained from the video signal picked up by the image pickup means with the reference level, and detects the divided area out of the reference level. At the same time, the reference value of the comparison means or the integration constant of the integration means corresponding to the photometric area excluding the area deviating from the reference level is obtained. Then, the control means controls the light-shielding means so that the light in the divided area deviating from the reference level does not enter the detection means, and adjusts the reference value of the comparison means or the integration constant of the integration means.

【0011】遮光手段で基準レベルから外れた分割領域
が遮光された測光領域の光像は、検出手段で電気信号に
変換され、この電気信号が積算手段で積算される。この
積算値は比較手段で基準値と比較され、積算値が基準値
に達したとき、X線曝射手段にX線遮断信号が出力さ
れ、X線の曝射が停止される。または、積算手段の積算
定数が調整されることにより得られた積算値が、所定の
基準値に達したとき、X線曝射手段にX線遮断信号が出
力され、X線の曝射が停止される。従って、X線露出時
間が自動制御されて適正なフィルム濃度で撮影手段に被
検体の透視像が撮影される。
The light image of the photometric area in which the divided area deviating from the reference level is shielded by the shading means is converted into an electric signal by the detecting means, and this electric signal is integrated by the integrating means. The integrated value is compared with the reference value by the comparison means, and when the integrated value reaches the reference value, the X-ray exposure signal is output to the X-ray exposure means, and the X-ray exposure is stopped. Alternatively, when the integrated value obtained by adjusting the integrating constant of the integrating means reaches a predetermined reference value, an X-ray blocking signal is output to the X-ray irradiating means, and the X-ray exposure is stopped. To be done. Therefore, the X-ray exposure time is automatically controlled, and the fluoroscopic image of the subject is photographed by the photographing means at an appropriate film density.

【0012】[0012]

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図1は、この発明に係る一実施例のX線透視
撮影装置の構成を示すブロック図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an X-ray fluoroscopic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0013】図中、符号1は被検体Mが載置される天板
を示し、この天板1に載置された被検体Mを挟んだ状態
で、X線管2と、撮影器3(撮影手段)及びI.I.(イメ
ージインテンシファイヤ)4(X線検出手段)とが対向
配置されている。X線管2にはX線高電圧装置5が接続
されており、後述するタイミングでX線高電圧装置5に
指示が出されると、被検体MへのX線曝射が停止され
る。なお、X線管2とX線高電圧装置5とで、この発明
におけるX線曝射手段に相当する。
In the figure, reference numeral 1 indicates a top plate on which the subject M is placed, and the X-ray tube 2 and the imaging device 3 (with the subject M placed on the top plate 1 sandwiched therebetween. The photographing means) and the II (image intensifier) 4 (X-ray detecting means) are arranged opposite to each other. An X-ray high-voltage device 5 is connected to the X-ray tube 2, and when an instruction is given to the X-ray high-voltage device 5 at a timing described later, X-ray irradiation of the subject M is stopped. The X-ray tube 2 and the X-ray high voltage device 5 correspond to the X-ray irradiation means in this invention.

【0014】天板1と撮影器3との間には、グリッド6
が配置されており、このグリッド6によって被検体M内
で発生した不要な散乱X線が撮影器3及びI.I.4に入射
しないように防止されている。
A grid 6 is provided between the top plate 1 and the photographing device 3.
Are arranged, and the grid 6 prevents unnecessary scattered X-rays generated in the subject M from entering the imagers 3 and II 4.

【0015】撮影器3は、撮影用のフィルムFと、フィ
ルムFを挟み込みX線をフィルムFに応じた光に変換す
る一対の増感紙3aと、フィルムFと一対の増感紙3a
とを密着させる圧着機構3bと、フィルムFを透過した
X線を吸収して反射を防止する鉛板3cとから構成され
ている。また、撮影器3は、X線が照射される撮影位置
に対して進退自在に配置されている。
The photographing device 3 includes a film F for photographing, a pair of intensifying screens 3a for sandwiching the film F and converting X-rays into light corresponding to the film F, and a pair of intensifying screens 3a for the film F.
And a lead plate 3c for absorbing X-rays transmitted through the film F and preventing reflection. Further, the image capturing device 3 is arranged so as to be able to move back and forth with respect to an image capturing position where X-rays are emitted.

【0016】I.I.4には、プリズム7(分配手段)を介
してTVカメラ8(撮像手段)が接続されており、被検
体Mを透過した透過X線はI.I.4で光像に変換され、こ
の光像がTVカメラ8で撮像されて映像信号が生成され
る。生成された映像信号は、後述する透視プロセッサを
介してTVモニタ9に送られ、TVモニタ9上に被検体
Mの透視像が映し出される。
A TV camera 8 (image pickup means) is connected to II4 via a prism 7 (distribution means), and the transmitted X-rays transmitted through the subject M are converted into an optical image by II4. Is picked up by the TV camera 8 and a video signal is generated. The generated video signal is sent to the TV monitor 9 via a fluoroscopic processor described later, and a fluoroscopic image of the subject M is displayed on the TV monitor 9.

【0017】プリズム7は、I.I.4で変換された光像を
TVカメラ9に送るとともに、その光像の一部(図9に
示す側光領域P)を分配してX線自動露出制御部10に
導くものである。
The prism 7 sends the light image converted by II4 to the TV camera 9 and distributes a part of the light image (side light area P shown in FIG. 9) to the X-ray automatic exposure control unit 10. It is a guide.

【0018】X線自動露出制御部10は、プリズム7で
分配された光像の所定エリアを遮断する液晶マスク11
(遮光手段)と、液晶マスク11を透過した光像を検出
して電気信号に変換する光電子増倍管12(検出手段)
と、光電子増倍管12で変換された電気信号を充電する
積分器13(積算手段)と、基準電圧Vr を切り換える
基準電圧切換回路14と、積分器13の充電電圧Vs と
基準電圧Vr を比較し、充電電圧Vs が基準電圧Vr に
達したとき前記したX線高電圧装置5にX線遮断信号を
出力する比較器15(比較手段)と、画像処理や後述す
るX線の露出時間を制御する透視プロセッサ20(制御
手段)とを備えて構成されている。
The X-ray automatic exposure control unit 10 includes a liquid crystal mask 11 that blocks a predetermined area of the light image distributed by the prism 7.
(Light-shielding means) and a photomultiplier tube 12 (detection means) for detecting an optical image transmitted through the liquid crystal mask 11 and converting it into an electric signal.
And an integrator 13 (integrating means) for charging the electric signal converted by the photomultiplier tube 12, a reference voltage switching circuit 14 for switching the reference voltage Vr, and a charging voltage Vs and a reference voltage Vr for the integrator 13. Then, when the charging voltage Vs reaches the reference voltage Vr, a comparator 15 (comparing means) that outputs an X-ray cutoff signal to the above-mentioned X-ray high voltage device 5 and image processing and X-ray exposure time described later are controlled. And a fluoroscopy processor 20 (control means).

【0019】液晶マスク11は、図9に示すような測光
領域Pに対応し、その領域を例えば80等分したドット
から構成されている。液晶マスク11は、透視プロセッ
サ20からの信号に応じてドット毎にマスキングするこ
とにより、光電子増倍管12に送られる光像を部分的に
遮断するものである。
The liquid crystal mask 11 corresponds to a photometric area P as shown in FIG. 9 and is composed of dots obtained by dividing the area into, for example, 80 equal parts. The liquid crystal mask 11 masks each dot according to a signal from the perspective processor 20 to partially block an optical image sent to the photomultiplier tube 12.

【0020】透視プロセッサ20は、図2に示すよう
に、TVカメラ8で撮像された映像信号をデジタル信号
に変換するA/D変換器21と、デジタル化された映像
信号のデータを記憶するフレームメモリ22と、フレー
ムメモリ22を通過したデジタル映像信号をアナログ信
号に変換するD/A変換器23と、フレームメモリ22
内のデータをホールドしたり、液晶マスク11や基準電
圧切換回路14に命令信号を出力するCPU24とから
構成されている。
As shown in FIG. 2, the perspective processor 20 includes an A / D converter 21 for converting a video signal picked up by the TV camera 8 into a digital signal, and a frame for storing the data of the digitized video signal. A memory 22, a D / A converter 23 for converting a digital video signal passing through the frame memory 22 into an analog signal, and a frame memory 22.
It is composed of a CPU 24 that holds the data in it and outputs a command signal to the liquid crystal mask 11 and the reference voltage switching circuit 14.

【0021】フレームメモリ22は、TVカメラ8から
送られてきた映像信号、すなわち、図3に示すように、
測光領域Pに対応する領域を512×512画素群と
し、CPU24による処理では、この画素群Gを液晶マ
スク11のドット数に対応して80等分して取り扱われ
る。
The frame memory 22 stores the video signal sent from the TV camera 8, that is, as shown in FIG.
The area corresponding to the photometric area P is a 512 × 512 pixel group, and in the processing by the CPU 24, this pixel group G is divided into 80 equal parts corresponding to the number of dots of the liquid crystal mask 11 and handled.

【0022】次に、X線露光制御、及び撮影動作を図4
のフローチャートを参照して説明する。
Next, the X-ray exposure control and the photographing operation are shown in FIG.
This will be described with reference to the flowchart in FIG.

【0023】(1)まず、撮影器3が退避し(図1に実
線で示す位置)、X線が曝射されてTVモニタ9に被検
体Mの透視像が映し出されている状態で関心部位が決め
られた後、術者が、撮影スイッチSWを操作することに
より、X線露出制御が開始される。
(1) First, the imaging device 3 is retracted (the position shown by the solid line in FIG. 1), the X-ray is irradiated, and the fluoroscopic image of the subject M is displayed on the TV monitor 9, and the region of interest is displayed. Then, the operator operates the imaging switch SW to start X-ray exposure control.

【0024】ステップ1,2:CPU24は、スイッチ
SWがONされたか判断し、スイッチSWがONなら
ば、後述する各値を初期化する。すなわち、図3の分割
エリアAi(i=1〜80)のアドレスiを設定するレ
ジスタを「1」に、明るいエリアの個数aを計数するレ
ジスタを「0」に、暗いエリアの個数bを計数するレジ
スタを「0」にそれぞれ初期化する。
Steps 1 and 2: The CPU 24 judges whether or not the switch SW is turned on. If the switch SW is turned on, the CPU 24 initializes each value described later. That is, the register for setting the address i of the divided area Ai (i = 1 to 80) in FIG. 3 is set to "1", the register for counting the number a of bright areas is set to "0", and the number b of dark areas is counted. The respective registers to be initialized are initialized to "0".

【0025】ステップ3:次に、CPU24は、フレー
ムメモリ22にホールド信号を出力し、フレームメモリ
22内の輝度データをホールドさせる。
Step 3: Next, the CPU 24 outputs a hold signal to the frame memory 22 to hold the brightness data in the frame memory 22.

【0026】ステップ4〜11:そして、画素群Gの8
0等分された各エリアAi毎に、各画素上のデータの総
和Σviを求め、このデータ総和値viと上限基準レベ
ルVU とを比較する。例えば、画素群GのエリアA1
データ総和値v1 が上限基準レベルVU より大きけれ
ば、ステップ6に進み、明るいエリアの個数aを計数す
るレジスタの内容を一つカウントアップするとともに、
画素群GのエリアA1 に対応する液晶マスク11のドッ
トをマスキングする。例えば、図9に示す測光領域Pb
からX線透過量の多い肺部分Abの部分領域を遮光す
る。ここで、上限基準レベルVU は実験で求められた値
であり、予めCPU24に記憶させている。なお、上限
基準レベルVU は図示しない操作部から入力するように
してもよい。
Steps 4 to 11: Then, 8 of the pixel group G
The sum Σvi of the data on each pixel is obtained for each area Ai divided into 0 and the sum total value vi of the data is compared with the upper limit reference level V U. For example, if the data summation value v 1 of the area A 1 of the pixel group G is greater than the upper limit reference level V U, the process proceeds to step 6, as well as one count up the contents of register for counting the number a bright area,
The dots of the liquid crystal mask 11 corresponding to the area A 1 of the pixel group G are masked. For example, the photometric area Pb shown in FIG.
To block the partial region of the lung part Ab having a large X-ray transmission amount. Here, the upper limit reference level V U is a value obtained by an experiment and is stored in the CPU 24 in advance. The upper limit reference level V U may be input from an operation unit (not shown).

【0027】エリアA1 の処理が終了すると、アドレス
iを一つカウントアップし、ステップ4に戻って次のエ
リアA2 において、上記したステップ4,5の処理を繰
り返す。
When the processing of the area A 1 is completed, the address i is incremented by one and the process returns to step 4 to repeat the processing of steps 4 and 5 in the next area A 2 .

【0028】エリアA2 のデータ総和値v2 が下限基準
レベルVL より小さければ、ステップ10に進み、暗い
エリアの個数bを計数するレジスタの内容を一つカウン
トアップする。ここで、暗いエリアは、例えば、図9に
示す測光領域Paにおける造影剤を含む部分に相当す
る。この部分は、X線をほとんど透過しないので、液晶
マスク11でマスキングされない。
[0028] If the data summation value v 2 of the area A 2 is smaller than the lower limit reference level V L, the process proceeds to step 10, to one count up the contents of register for counting the number b of dark areas. Here, the dark area corresponds to, for example, a portion including the contrast agent in the photometric area Pa shown in FIG. 9. Since this portion hardly transmits X-rays, it is not masked by the liquid crystal mask 11.

【0029】そして、エリアA2 の処理が終了すると、
アドレスiを一つカウントアップし、ステップ4に戻っ
て次のエリアA3 において、上記したステップ4〜10
の処理を繰り返す。
When the processing of area A 2 is completed,
The address i is incremented by one, the process returns to step 4, and in the next area A 3 , the above steps 4 to 10 are performed.
Is repeated.

【0030】エリアA3 のデータ総和値v3 が上下基準
レベルVU ,VL の範囲内であれば、ステップ11に進
む。このようにして、画素群GのエリアA1 からエリア
80までの各エリアAi毎にステップ4〜10の処理を
繰り返す。
The area A 3 of the data summation value v 3 is the vertical reference level V U, as long as it is within the range of V L, the process proceeds to step 11. In this way, the processes of steps 4 to 10 are repeated for each area Ai from the area A 1 to the area A 80 of the pixel group G.

【0031】ステップ12:そして、エリアA80の処理
が終了したことを判断すると、例えば、次式により比較
器15の基準電圧の補正値である補正基準電圧V'rを算
出する。 V'r=Vref −((a・k+b)/80)Vref ここで、Vref は、すべてのエリアA1 〜エリアA80
データ総和値が基準レベルVU とVL との間の適正レベ
ルにあるときの基準電圧であり、kは、実験的に求めら
れた係数である。
Step 12: Then, when it is judged that the processing of the area A 80 is completed, for example, the corrected reference voltage V'r which is the correction value of the reference voltage of the comparator 15 is calculated by the following equation. V′r = V ref − ((a · k + b) / 80) V ref Here, V ref is the sum of data of all areas A 1 to A 80 between the reference levels V U and V L. It is a reference voltage when it is at an appropriate level, and k is an experimentally obtained coefficient.

【0032】ステップ13:次に、CPU24は、基準
電圧切換回路14に基準電圧設定信号を出力する。これ
により、基準電圧切換回路14に上式で求められた補正
基準電圧V'rが設定される。
Step 13: Next, the CPU 24 outputs a reference voltage setting signal to the reference voltage switching circuit 14. As a result, the corrected reference voltage V'r obtained by the above equation is set in the reference voltage switching circuit 14.

【0033】ステップ14:基準電圧切換回路14に補
正基準電圧V'rを設定すると、CPU24の指示に基づ
いて、以下のように、X線撮影が開始される。なお、こ
こで、術者が、撮影用スイッチSWを操作することによ
り、X線撮影が開始されようにしてもよい。
Step 14: When the corrected reference voltage V'r is set in the reference voltage switching circuit 14, the X-ray photography is started in the following manner based on the instruction from the CPU 24. Here, the operator may start the X-ray imaging by operating the imaging switch SW.

【0034】(2)まず、X線管2のX線曝射を停止し
た後、撮影器3を、図1に鎖線で示す撮影位置に進入さ
せる。そして、圧着機構3bを作動させて一対の増感紙
3aをフィルムFに挟み込むように圧着させる。この状
態で、X線曝射開始信号をX線高電圧装置5に出力す
る。
(2) First, after stopping the X-ray irradiation of the X-ray tube 2, the photographing device 3 is moved to the photographing position shown by the chain line in FIG. Then, the crimping mechanism 3b is operated to crimp the pair of intensifying screens 3a so as to be sandwiched between the films F. In this state, the X-ray exposure start signal is output to the X-ray high voltage device 5.

【0035】(3)X線高電圧装置5は、X線曝射開始
信号が与えられると、高電圧をX線管2に印加する。こ
れにより、X線管2から天板1に載置された被検体Mに
X線が曝射される。
(3) The X-ray high voltage device 5 applies a high voltage to the X-ray tube 2 when the X-ray irradiation start signal is given. As a result, X-rays are emitted from the X-ray tube 2 to the subject M placed on the top plate 1.

【0036】(4)被検体Mを透過した透過X線は、増
感紙3aを介してフィルムFに照射してX線露光が開始
される。フィルムFを透過した透過X線は、I.I.4によ
って光像に変換される。そして、この光像の一部をプリ
ズム9をとおして検出器12に導き電気量に変換する。
この際、上記したように、上限基準レベルVU より大き
なエリアが存在すれば、液晶マスク11でそのエリアが
マスキングされて検出器12に入射しないように遮断さ
れる。この電気量を積分器17により積分する。この充
電された電圧V'sを比較器15で補正基準電圧V'rと比
較し、充電電圧V'sが補正基準電圧V'rに達したとき、
X線遮断信号をX線高電圧装置5に出力することによ
り、X線の曝射が停止され、フィルムFへのX線像の撮
影が終わる。
(4) The transmitted X-rays that have passed through the subject M are applied to the film F via the intensifying screen 3a to start X-ray exposure. The transmitted X-rays transmitted through the film F are converted into an optical image by II4. Then, a part of this light image is guided to the detector 12 through the prism 9 and converted into an electric quantity.
At this time, as described above, if there is an area larger than the upper limit reference level V U , the area is masked by the liquid crystal mask 11 and blocked so as not to enter the detector 12. This electric quantity is integrated by the integrator 17. The comparator 15 compares the charged voltage V's with the correction reference voltage V'r, and when the charging voltage V's reaches the correction reference voltage V'r,
By outputting the X-ray cutoff signal to the X-ray high voltage device 5, the X-ray exposure is stopped and the X-ray image capturing on the film F is completed.

【0037】ここで、X線露出制御を具体的に説明す
る。被検体の食道周辺を撮影する場合、図9に示すよう
に、測光領域Pb内の肺部分Abは、X線透過量が多
く、その充電電圧Vs がはやく基準電圧Vrに達してX
線露光が短時間で終了するので、X線露光時間を長くし
なければならない。
Here, the X-ray exposure control will be specifically described. When the periphery of the esophagus of the subject is imaged, as shown in FIG. 9, the lung portion Ab in the photometric region Pb has a large amount of X-ray transmission, and the charging voltage Vs thereof quickly reaches the reference voltage Vr and becomes X.
Since the line exposure is completed in a short time, the X-ray exposure time has to be lengthened.

【0038】そこで、上記したように、測光領域Pb内
から肺部分Abを取り除くことにより、光量が少なくな
り電圧の充電時間がながくなる。すなわち、図5に示す
ように、充電電圧Vsが、肺部分を取り除いた領域の充
電電圧V'sになる。また、測光領域Pb内から肺部分を
取り除くので、上記したように、基準電圧Vrを肺部分
に相当する電圧を引いた補正基準電圧V'rにして、充電
電圧V'sと補正基準電圧V'rを比較することにより、X
線露光時間がTからTaに長くなる。
Therefore, as described above, by removing the lung portion Ab from the photometric region Pb, the light amount is reduced and the charging time of the voltage is reduced. That is, as shown in FIG. 5, the charging voltage Vs becomes the charging voltage V's in the region excluding the lung portion. Further, since the lung portion is removed from the photometric region Pb, as described above, the reference voltage Vr is set to the corrected reference voltage V'r obtained by subtracting the voltage corresponding to the lung portion, and the charging voltage V's and the corrected reference voltage V'r. X by comparing
The line exposure time increases from T to Ta.

【0039】一方、造影剤を含んだ胃を撮影する場合、
測光領域Pa内の造影剤を含んだ部分は、X線透過量が
ほとんどなく、その充電電圧Vs が基準電圧Vrに達す
るまでに時間がかっかてX線露光時間が長くなるので、
X線露光をはやく終了させなければならない。
On the other hand, when photographing a stomach containing a contrast medium,
The portion containing the contrast agent in the photometric region Pa has almost no X-ray transmission amount, and it takes a long time for the charging voltage Vs to reach the reference voltage Vr.
X-ray exposure must be completed quickly.

【0040】造影剤を含んだ部分はX線撮影するとき
は、液晶マスク11によって遮光されないので、充電電
圧Vs は変化しないが、上記したように、基準電圧Vr
を造影剤を含んだ部分に相当する電圧を引いた補正基準
電圧V'rにして、充電電圧Vsと補正基準電圧V'rを比
較することにより、X線露光時間がTからTbに短くな
る。
The portion containing the contrast agent is not shielded by the liquid crystal mask 11 during X-ray photography, so that the charging voltage Vs does not change, but as described above, the reference voltage Vr
Is set as a correction reference voltage V'r obtained by subtracting a voltage corresponding to a portion including a contrast agent, and the charging voltage Vs and the correction reference voltage V'r are compared to shorten the X-ray exposure time from T to Tb. .

【0041】以上のように、上限基準レベルVU から外
れたエリアAを遮光した測光領域P’における充電電圧
V'sと、上下基準レベルVU ,VL から外れたエリアの
個数に応じて補正された補正基準電圧V'rとを比較し
て、充電電圧V'sが補正基準電圧V'rに達したときにX
線露光を停止しているので、測光領域内に造影剤や空気
層が存在しても、適正なフィルム濃度でX線撮影するこ
とができる。
[0041] As described above, the charge voltage V's in the photometric area P 'that shields the area A out of the upper reference level V U, the upper and lower reference level V U, are corrected according to the number of the areas out of the V L When the charging voltage V's reaches the correction reference voltage V'r, X is compared with the correction reference voltage V'r.
Since the line exposure is stopped, X-ray photography can be performed with an appropriate film density even if a contrast agent or an air layer exists in the photometric region.

【0042】なお、上記実施例では、液晶マスク11と
フレームメモリ22をそれぞれ80等分したが、この発
明はこれに限らず、両者が対応するように分割すればよ
い。
In the above embodiment, the liquid crystal mask 11 and the frame memory 22 are each divided into 80 equal parts, but the present invention is not limited to this, and they may be divided so that they correspond to each other.

【0043】また、上記実施例では、エリアAi毎にデ
ータの総和ΣViを求めて上下基準レベルVU ,VL
比較するようにしたが、この発明はこれに限らず、例え
ば、エリアAiのデータの総和ΣViから画素数で割っ
た平均値と1画素当たりの基準レベルとを比較するよう
にしてもよい。
Further, in the above embodiment, the total sum ΣVi of data is obtained for each area Ai and compared with the upper and lower reference levels V U and V L , but the present invention is not limited to this. The average value obtained by dividing the total sum ΣVi of data by the number of pixels may be compared with the reference level per pixel.

【0044】また、上記実施例では、基準電圧を補正す
ることにより、X線露光時間を制御するように構成した
が、この発明はこれに限らず、例えば、図6に示すよう
に、積分器13に可変抵抗器30を接続し、透視プロセ
ッサ20で求められた補正基準抵抗値を、可変抵抗器3
0に設定することにより、CR時定数を補正するように
してもよい。すなわち、図7に示すように、積分器13
のCR時定数をCR0からCR1に補正することによ
り、比較器15の基準電圧を補正した場合と同様にX線
露光時間がT0からT1に制御される。
Further, in the above embodiment, the X-ray exposure time is controlled by correcting the reference voltage, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. A variable resistor 30 is connected to 13 and the correction reference resistance value obtained by the perspective processor 20 is set to the variable resistor 3
The CR time constant may be corrected by setting 0. That is, as shown in FIG.
By correcting the CR time constant of CR0 to CR1, the X-ray exposure time is controlled from T0 to T1 as in the case where the reference voltage of the comparator 15 is corrected.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明のX線透視撮影装置によれば、次のような効果を奏す
る。基準レベルから外れた領域を遮光した測光領域にお
ける光量の積算値と、測光領域の各部の信号レベルに応
じて補正された補正基準電圧とを比較して、あるいは、
基準レベルから外れた領域を遮光した測光領域における
光量を補正された積算定数を用いて積算し、その積算値
と基準値とを比較して、その積算値が基準値に達したと
きにX線露光を停止しているので、測光領域内に造影剤
や空気層が存在しても、適正なフィルム濃度でX線撮影
することができる。
As is apparent from the above description, the X-ray fluoroscopic imaging apparatus of the present invention has the following effects. Comparing the integrated value of the amount of light in the photometry area that shields the area outside the reference level with the corrected reference voltage corrected according to the signal level of each part of the photometry area, or
The amount of light in the photometric area that shields the area outside the reference level is integrated using the corrected integration constant, the integrated value is compared with the reference value, and when the integrated value reaches the reference value, X-ray Since the exposure is stopped, X-ray photography can be performed with an appropriate film density even if a contrast agent or an air layer exists in the photometric area.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明に係る一実施例のX線透視撮影装置の
構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an X-ray fluoroscopic imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】透視プロセッサの構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a perspective processor.

【図3】フレームメモリのデータ構成を示す模式図であ
る。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a data configuration of a frame memory.

【図4】X線露光制御のフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart of X-ray exposure control.

【図5】補正基準電圧と充電電圧との関係を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a correction reference voltage and a charging voltage.

【図6】その他の実施例装置の要部を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a main part of an apparatus according to another embodiment.

【図7】図6に示す装置における補正CR時定数と基準
電圧との関係を示す図である。
7 is a diagram showing a relationship between a corrected CR time constant and a reference voltage in the device shown in FIG.

【図8】従来装置の構成を示すブロック図である。FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a conventional device.

【図9】従来装置の課題を説明する図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a problem of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 … 天板 2 … X線管(X線曝射手段) 3 … 撮影器(撮影手段) 4 … I.I.(イメージインテンシファイヤ)(X線検
出手段) 5 … X線高電圧装置(X線曝射手段) 7 … プリズム(分配手段) 8 … TVカメラ(撮像手段) 10 … X線自動露出制御部 11 … 液晶マスク(遮光手段) 12 … 光電子増倍管(検出手段) 13 … 積分器(積算手段) 14 … 基準電圧切換回路 15 … 比較器(比較手段) 20 … 透視プロセッサ(制御手段) 22 … フレームメモリ 24 … CPU
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Top plate 2 ... X-ray tube (X-ray exposure means) 3 ... Imaging device (imaging means) 4 ... II (image intensifier) (X-ray detection means) 5 ... X-ray high-voltage device (X-ray exposure means) Ejection means 7 ... Prism (distribution means) 8 ... TV camera (imaging means) 10 ... X-ray automatic exposure control section 11 ... Liquid crystal mask (light-shielding means) 12 ... Photomultiplier tube (detection means) 13 ... Integrator (integration) Means) 14 ... Reference voltage switching circuit 15 ... Comparator (comparing means) 20 ... Perspective processor (control means) 22 ... Frame memory 24 ... CPU

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検体に向けてX線を曝射するX線曝射
手段と、被検体からの透過X線をフィルム上に撮影する
撮影手段と、被検体からの透過X線を検出して光像に変
換するX線検出手段と、前記X線検出手段で変換された
光像の一部を測光領域として取り出す分配手段と、前記
X線検出手段で変換された光像を撮像し、映像信号を生
成する撮像手段と、前記分配手段で取り出された測光領
域の光量を検出して電気信号に変換する検出手段と、前
記検出手段からの電気信号を積算する積算手段と、前記
積算手段で積算された積算値と基準値とを比較すること
により、前記積算値が基準値に達した場合に前記X線曝
射手段にX線遮断信号を与える比較手段と、前記検出手
段の測光領域を分割し、その分割領域毎に遮光する遮光
手段と、前記撮像手段の映像信号から得られる前記測光
領域の各分割領域ごとの信号レベルと基準レベルとを比
較して、基準レベルから外れた分割領域を検出すること
に基づき、その領域に対応した前記遮光手段の分割領域
を遮光するように前記遮光手段を制御するとともに、前
記比較手段の基準値または前記積算手段の積算定数を調
整する制御手段と、を備えたことを特徴とするX線透視
撮影装置。
1. An X-ray irradiating means for irradiating an X-ray toward a subject, an imaging means for photographing a transmitted X-ray from the subject on a film, and a transmitted X-ray from the subject are detected. X-ray detection means for converting into a light image, a distribution means for taking out a part of the light image converted by the X-ray detection means as a photometric region, and an image of the light image converted by the X-ray detection means, Image pickup means for generating a video signal, detecting means for detecting the light amount of the photometric region taken out by the distributing means and converting it into an electric signal, accumulating means for accumulating the electric signals from the detecting means, and the accumulating means. By comparing the integrated value integrated by the reference value with the integrated value, the comparison means for giving an X-ray cutoff signal to the X-ray exposure means when the integrated value reaches the reference value, and the photometric area of the detection means. And a light-shielding device that divides the light beam in each divided area, By comparing the signal level for each divided area of the photometric area obtained from the video signal of the step and the reference level, and detecting the divided area deviating from the reference level, the light-shielding means corresponding to the area is detected. An X-ray fluoroscopic imaging apparatus comprising: a control unit that controls the light-shielding unit so as to shield the divided region and adjusts a reference value of the comparison unit or an integration constant of the integration unit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014509538A (en) * 2011-03-30 2014-04-21 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ Method and apparatus for automatic brightness detection based on image content

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014509538A (en) * 2011-03-30 2014-04-21 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ Method and apparatus for automatic brightness detection based on image content
US9330333B2 (en) 2011-03-30 2016-05-03 General Electric Company Method and apparatus for image content-based automatic brightness detection

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