JPH0875404A - ひずみゲージの接続構造 - Google Patents

ひずみゲージの接続構造

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JPH0875404A
JPH0875404A JP21018994A JP21018994A JPH0875404A JP H0875404 A JPH0875404 A JP H0875404A JP 21018994 A JP21018994 A JP 21018994A JP 21018994 A JP21018994 A JP 21018994A JP H0875404 A JPH0875404 A JP H0875404A
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JP
Japan
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lead wire
side lead
strain gauge
gauge
measurement
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Pending
Application number
JP21018994A
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English (en)
Inventor
Michio Kurihara
美智雄 栗原
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TOKYO SOKKI KENKYUSHO KK
Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd
Original Assignee
TOKYO SOKKI KENKYUSHO KK
Tokyo Sokki Kenkyujo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ひずみゲージを使用した測定に必要なリード線
を可能な限り再使用することができ、また、ひずみゲー
ジと測定装置との接続を容易に行うことができるひずみ
ゲージの接続構造を提供する。 【構成】ひずみゲージ1と測定装置とを接続するための
リード線2を、ひずみゲージ1に結線されたゲージ側リ
ード線3と、測定装置に接続する測定装置側リード線4
とにより構成し、ゲージ側リード線3及び測定装置側リ
ード線4をひずみゲージ1寄りの位置でコネクタ5a,
5bにより着脱自在に接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、建造物等の測定対象物
にひずみゲージを貼着し、そのひずみゲージの測定信号
により測定対象物に生じるひずみや荷重、圧力等の物理
量を測定する場合に、ひずみゲージと測定装置とを接続
するための構造に関する。
【0002】
【従来の技術】ひずみゲージは、それを貼着した測定対
象物に生じるひずみ量に応じた抵抗値変化を生じるセン
サであり、これを利用して、測定対象物のひずみや荷重
等の物理量を測定することは、土木、建築、機械等、種
々の産業分野において行われている。
【0003】このような測定に使用されるひずみゲージ
には、通常、製造業者により、ビニール被覆等を施した
リード線があらかじめ結線されており、測定に際して
は、ひずみゲージの測定信号の処理等を行って測定対象
物の物理量を測定するための測定装置に前記リード線が
接続される。尚、ひずみゲージに結線するリード線は、
通常は、該ひずみゲージの両端にそれぞれ一本づつリー
ド線を結線する2線式であるが、温度補償を行うため
に、ひずみゲージの一端に一本のリード線を結線すると
共に他端に二本のリード線を結線する3線式とする場合
もある。
【0004】ところで、上記のように測定に使用したひ
ずみゲージはもはや再使用することができないので、測
定が終了すると、該ひずみゲージは廃棄される。この場
合、ひずみゲージに結線されているリード線にあって
は、それを使用者がひずみゲージから切り離し、他の用
途に使用する場合もあるが、通常は測定に使用したひず
みゲージと共に廃棄されている。
【0005】しかしながら、従来は、このように測定に
使用したひずみゲージに結線されているリード線を廃棄
していたために、ひずみゲージを使用した測定を行う都
度、測定に必要なリード線を新たなひずみゲージと共に
購入しなければならず、測定コストが高価なものとなっ
てしまう。そして、このような不都合は、測定対象物が
建造物等、大型なものにあっては、ひずみゲージを貼着
する測定箇所と測定装置との距離が大きくならざるを得
ず、それに伴って必要なリード線の長さが長くなるよう
な場合や、3線式のリード線を必要とする場合、あるい
は必要な測定箇所が多数あって、多数のひずみゲージを
使用する場合に顕著なものとなる。
【0006】また、特にリード線が長い場合には、その
取り回し作業や測定装置との接続作業に手間がかかるの
であるが、そのようなリード線を必要とする測定を数回
にわたって行う場合には、その測定の都度、新たなリー
ド線の取り回し作業等を行わなければならず、多大な作
業時間を要するという不都合があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる不都合
を解消し、ひずみゲージを使用した測定に必要なリード
線を可能な限り再使用することができ、また、ひずみゲ
ージと測定装置との接続を容易に行うことができるひず
みゲージの接続構造を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明はかかる目的を達
成するために、測定対象物に貼着されるひずみゲージ
と、該ひずみゲージの測定信号により前記測定対象物の
物理量を測定する測定装置とをリード線を介して接続す
るための接続構造であって、前記リード線を前記ひずみ
ゲージにあらかじめ結線したゲージ側リード線と、前記
測定装置に接続する測定装置側リード線とにより構成
し、該ゲージ側リード線と測定装置側リード線とをそれ
らの端部にあらかじめ取付けたコネクタによりひずみゲ
ージ寄りの位置で着脱自在に接続したことを特徴とす
る。
【0009】さらに、前記ゲージ側リード線は2線式、
前記測定装置側リード線は3線式であり、該測定装置側
リード線の3線のうちの2線を前記コネクタを介して前
記ゲージ側リード線の1線に接続することを特徴とす
る。
【0010】
【作用】本発明によれば、前記ひずみゲージと測定装置
との接続は、前記ゲージ側リード線と測定装置側リード
線とを前記コネクタにより接続すると共に、測定装置側
リード線を前記測定装置に接続することによりなされ、
この状態で測定が行われる。そして、その測定を再び行
う際には、前記ひずみゲージ及び前記ゲージ側リード線
を新たなものに交換し、その新たなゲージ側リード線に
取付られているコネクタを先に使用した測定装置側リー
ド線のコネクタに接続することで、測定を行うことが可
能となる。従って、測定を繰り返す場合には、前記測定
装置側リード線を交換することなく、前記ひずみゲージ
及び前記ゲージ側リード線を新たなものに交換して、そ
れを前記測定装置側リード線に前記コネクタを介して接
続するだけでよい。そして、前記コネクタは、ひずみゲ
ージ寄りの位置にあるので、測定装置側リード線の長さ
は、ゲージ側リード線の長さよりも十分に長くすること
ができ、これにより、ひずみゲージと測定装置とを接続
するためのリード線の大部分を再使用することが可能と
なる。
【0011】この場合、前記ゲージ側リード線及び測定
装置側リード線は、その両者を2線式とし、あるいは、
温度補償のための3線式としてもよいが、温度補償を行
うためには、測定装置側リード線側を3線式とすると共
にゲージ側リード線を2線式とし、該測定装置側リード
線の3線のうちの2線を前記コネクタを介して前記ゲー
ジ側リード線の1線に接続するようにしてもよい。この
ようにしても、ひずみゲージと測定装置との間のリード
線の大部分を占める測定装置側リード線は3線式である
ため、温度補償上、大きな支障はない。そして、このよ
うにした場合には、測定を繰り返すに際して、2線式に
較べて高価な3線式の測定装置側リード線は、再使用す
ることができ、比較的安価な2線式のゲージ側リード線
をひずみゲージと共に交換すればよいので、コスト的に
有利となる。
【0012】尚、ひずみゲージの測定信号は比較的微小
な信号であるため、ひずみゲージと測定装置との間にコ
ネクタを介在させることは測定精度上好ましくないと一
般には考えられていたが、本発明者等の知見によれば、
比較的接触抵抗が小さく且つ該接触抵抗が安定したコネ
クタを使用すれば、支障なく測定を行うことが可能であ
る。
【0013】
【実施例】本発明の第1の実施例を図1及び図2を参照
して説明する。図1は本実施例のひずみゲージの接続構
造を示す平面図、図2は図1のひずみゲージと測定装置
との接続状態を示す説明図である。
【0014】図1を参照して、1はひずみゲージ、2は
ひずみゲージ1を後述の測定装置に接続するためのリー
ド線である。
【0015】リード線2はそれぞれ3線式のゲージ側リ
ード線3と測定装置側リード線4とにより構成され、ゲ
ージ側リード線3の長さは測定装置側リード線4の長さ
よりも十分に短いものとされている。本実施例において
は、ゲージ側リード線3の長さは例えば1mであり、測
定装置側リード線4の長さは例えば10mである。
【0016】ゲージ側リード線3の各線3a,3b,3
cは、例えばビニール被覆を施したφ0.12mm/1
0芯のものであり、そのうちの1線3aがひずみゲージ
1の一端に半田付けにより結線され、残りの2線3b,
3cがひずみゲージ1の他端に半田付けにより結線され
ている。そして、ゲージ側リード線3のひずみゲージ1
と反対側の端部には、一対の着脱自在な3端子のコネク
タ5a,5bのうちの一方のコネクタ5aが取付けられ
ている。この場合、ゲージ側リード線3の各線3a,3
b,3cは、コネクタ5aの各端子に互いに独立して接
続されている。
【0017】測定装置側リード線4の各線4a,4b,
4cは、ゲージ側リード線3と同様にビニール被覆を施
したφ0.18mm/20芯のものであり、その一端部
には、ゲージ側リード線3と同様に前記一対のコネクタ
5a,5bのうちの他方のコネクタ5bが取付けられて
いる。そして、測定装置側リード線4の他端部において
は、各線4a,4b,4cの芯線が、後述の測定装置と
接続可能なように露出され、さらに半田メッキが施され
ている。
【0018】尚、前記コネクタ5a,5bは、その接続
時の接触抵抗が十分に小さいもの(例えば1mΩ程度)
を採用している。
【0019】かかるひずみゲージ1及びリード線2を用
いて測定を行う場合には、図2に示すように、ひずみゲ
ージ1を測定対象物Wに貼着すると共に、測定装置側リ
ード線4を測定装置6に接続し、さらに前記コネクタ5
a,5bを接続する。
【0020】この場合、測定装置6は、複数のひずみゲ
ージを用いて多点測定を行う場合に各ひずみゲージの切
換えを行ったり、ひずみゲージを含む測定用ホイートス
トンブリッジ回路を構成するためのスイッチボックス7
と、ひずみゲージの測定信号の処理や測定結果の表示等
を行うための本体測定器8とにより構成され、前記測定
装置側リード線4はスイッチボックス7に接続される。
そして、このような接続状態において、本体測定器8は
スイッチボック7を介してひずみゲージ1の測定信号を
受け取り、測定対象物Wのひずみや荷重等の物理量の測
定がなされる。
【0021】この場合、ひずみゲージ1の測定信号のレ
ベルは比較的微小なものであるものの、コネクタ5a,
5bの接触抵抗は十分に小さいので、支障なく測定を行
うことができる。
【0022】このような測定を行った後、同様の測定を
繰り返す場合には、ひずみゲージ1を交換する必要があ
る。この場合、ひずみゲージ1をそれに付帯するゲージ
側リード線3及びコネクタ5aと共に、これらと同様の
仕様の新たなものに交換し、その新たなもののコネクタ
5aを既存の測定装置側リード線4のコネクタ5bに接
続すれば、リード線4を交換することなく測定を再開す
ることができる。従って、測定者は、測定を繰り返す毎
に、ひずみゲージ1、ゲージ側リード線3及びコネクタ
5aのみを1セットとして新たに購入するだけで、リー
ド線2の大部分を占める測定装置側リード線4は繰り返
し使用することができ、測定費用を安価なものとするこ
とができる。しかも、測定装置側リード線4は、測定装
置6に接続したままでよいので、測定に際しては、ひず
みゲージ1の測定対象物Wへの貼着と、コネクタ5a,
5b同士の接続だけを行えばよく、測定のためのセッテ
ィングを短時間で容易に行うことができる。
【0023】尚、本実施例のリード線2は3線式である
ので、測定において温度変化の影響を受けにくいものと
なっていることはもちろんである。
【0024】次に、本発明の第2の実施例を図3を参照
して説明する。図3は本実施例のひずみゲージの接続構
造を示す平面図である。
【0025】本実施例のものは、前記第1の実施例のも
のと同様にひずみゲージ1と前記測定装置6とをリード
線2により接続するためのものであり、リード線2は、
それぞれ2線式のゲージ側リード線9及び測定装置側リ
ード線10とにより構成されている。ゲージ側リード線
9及び測定装置側リード線10の長さは前記第1の実施
例のものと同一であり、また、ゲージ側リード線9の各
線9a,9b及び測定装置側リード線10の各線10
a,10bの種類も前記第1の実施例のものと同一であ
る。
【0026】この場合、ゲージ側リード線9の各線9
a,9bはその一端部がひずみゲージ1に半田付けによ
り結線され、他端部には、一対の着脱自在な2端子のコ
ネクタ11a,11bのうちの一方のコネクタ11aが
取付けられている。
【0027】同様に測定装置側リード線10の各線10
a,10bの一端部にはコネクタ11bが取付けられ、
他端部においては、各線10a,10bの芯線が測定装
置6に接続可能に露出されて半田メッキが施されてい
る。
【0028】本実施例のひずみゲージ1及びリード線2
を用いて測定を行う場合には、前記第1の実施例と同様
に、図2に示すようにひずみゲージ1を測定対象物Wに
貼着すると共に、コネクタ11a,11bを接続し、さ
らに測定装置側リード線10を測定装置6のスイッチボ
ックス7に接続する。そして、測定を繰り返す場合に
は、測定装置側リード線10を交換することなく、ひず
みゲージ1、ゲージ側リード線9及びコネクタ11aの
みを新たなものに交換すればよい。従って、測定装置側
リード線10を再使用して測定費用を低減させることが
できると共に、測定のためのセッティングを容易に行う
ことができる。
【0029】尚、本実施例のリード線2は2線式である
ので、測定に際しては、温度変化の少ない環境下で行う
ことが好ましい。
【0030】次に、本発明の第3の実施例を図4を参照
して説明する。図4は本実施例のひずみゲージの接続構
造を示す平面図である。
【0031】本実施例のものは、前記第1及び第2の実
施例のものと同様にひずみゲージ1と前記測定装置6と
をリード線2により接続するためのものであり、リード
線2は、2線式のゲージ側リード線12及び3線式の測
定装置側リード線13とにより構成されている。ゲージ
側リード線12及び測定装置側リード線13の長さは前
記第1及び第2の実施例のものと同一であり、また、ゲ
ージ側リード線12の各線12a,12b及び測定装置
側リード線13の各線13a,13b,13cの種類も
前記第1の実施例のものと同一である。
【0032】この場合、ゲージ側リード線12の各線1
2a,12bはその一端部がひずみゲージ1に半田付け
により結線され、他端部には、一対の着脱自在な2端子
のコネクタ14a,14bのうちの一方のコネクタ14
aが取付けられている。
【0033】また、測定装置側リード線13の各線13
a,13b,13cのうちの1線13aはコネクタ14
bの一つの端子に独立して接続され、残りの2線13
b,13cはコネクタ14bの他方の端子に電気的に導
通した状態で接続されている。尚、測定装置側リード線
13のコネクタ14bと反対側の端部においては、各線
13a,13b,13cの芯線が露出されて半田メッキ
が施されている。
【0034】本実施例のひずみゲージ1及びリード線2
を用いて測定を行う場合には、前記第1の実施例と同様
に、図2に示すようにひずみゲージ1を測定対象物Wに
貼着すると共に、コネクタ14a,14bを接続し、さ
らに測定装置側リード線13を測定装置6のスイッチボ
ックス7に接続する。
【0035】この場合、測定装置側リード線13のうち
の2線13b,13cは、コネクタ14a,14b及び
ゲージ側リード線12の1線12bを介してひずみゲー
ジ1の一端に結線されることとなり、しかもゲージ側リ
ード線12の長さは十分に短いので、リード線2の大部
分が3線式となり、前記第1の実施例のものと同様に、
温度変化の影響を受けにくいものとなっている。
【0036】そして、測定を繰り返す場合には、測定装
置側リード線13を交換することなく、ひずみゲージ
1、ゲージ側リード線12及びコネクタ14aのみを新
たなものに交換すればよい。従って、測定装置側リード
線13を再使用して測定費用を低減させることができる
と共に、測定のためのセッティングを容易に行うことが
できる。この場合、交換の必要なゲージ側リード線12
は2線式であるので、それを3線式とした前記第1の実
施例のものよりも、さらにコスト的に有利なものとな
る。
【0037】尚、本実施例においては、ゲージ側リード
線12は2線式であるので、温度補償のためには、ゲー
ジ側リード線12の長さを可能な限り短くすることが好
ましく、高々1m程度とすることが好ましい。
【0038】
【発明の効果】上記の説明から明らかなように、本発明
によれば、ひずみゲージに結線されたゲージ側リード線
と、測定装置に接続する測定装置側リード線とをひずみ
ゲージ寄りの位置でコネクタにより着脱自在に接続する
ようにしたことによって、測定を繰り返すに際して、ひ
ずみゲージと測定装置とを接続するためのリード線の大
部分を形成する測定装置側リード線を再使用することが
でき、測定コストを低減することができる。そして、ひ
ずみゲージをゲージ側リード線と共に新たなものに交換
して、それをコネクタにより測定装置側リード線に接続
するだけで測定を再開することができるので、ひずみゲ
ージと測定装置との接続等、測定のためのセッティング
を容易に行うことができ、測定の作業時間を短縮するこ
とができる。
【0039】また、ゲージ側リード線及び測定装置側リ
ード線をそれぞれ2線式及び3線式とし、測定装置側リ
ード線の3線のうちの2線を前記コネクタを介してゲー
ジ側リード線の1線に接続するようにしたことによっ
て、温度補償を確保しつつ測定を繰り返すに際して測定
毎に安価な2線式のゲージ側リード線を交換すればよ
く、しかも温度補償は同一の3線式の測定装置側リード
線により十分に確保することができるので、測定コスト
を安価なものとしつつ精度のよい測定を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の接続構造を示す平面
図。
【図2】本発明の実施例におけるひずみゲージと測定装
置との接続状態を示す説明図。
【図3】本発明の第2の実施例の接続構造を示す平面
図。
【図4】本発明の第3の実施例の接続構造を示す平面
図。
【符号の説明】
1…ひずみゲージ、2…リード線、3,9,12…ゲー
ジ側リード線、4,10,13…測定装置側リード線、
5a,5b,11a,11b,14a,14b…コネク
タ、6…測定装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定対象物に貼着されるひずみゲージと、
    該ひずみゲージの測定信号により前記測定対象物の物理
    量を測定する測定装置とをリード線を介して接続するた
    めの接続構造であって、前記リード線を前記ひずみゲー
    ジにあらかじめ結線したゲージ側リード線と、前記測定
    装置に接続する測定装置側リード線とにより構成し、該
    ゲージ側リード線と測定装置側リード線とをそれらの端
    部にあらかじめ取付けたコネクタによりひずみゲージ寄
    りの位置で着脱自在に接続したことを特徴とするひずみ
    ゲージの接続構造。
  2. 【請求項2】前記ゲージ側リード線は2線式、前記測定
    装置側リード線は3線式であり、該測定装置側リード線
    の3線のうちの2線を前記コネクタを介して前記ゲージ
    側リード線の1線に接続することを特徴とする請求項1
    記載のひずみゲージの接続構造。
JP21018994A 1994-09-02 1994-09-02 ひずみゲージの接続構造 Pending JPH0875404A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105571946A (zh) * 2016-02-02 2016-05-11 燕山大学 一种测试上硬下软型土样应变及变形的膜结构

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105571946A (zh) * 2016-02-02 2016-05-11 燕山大学 一种测试上硬下软型土样应变及变形的膜结构

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