JPH0862270A - コンデンサ故障検出回路 - Google Patents
コンデンサ故障検出回路Info
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- JPH0862270A JPH0862270A JP6195005A JP19500594A JPH0862270A JP H0862270 A JPH0862270 A JP H0862270A JP 6195005 A JP6195005 A JP 6195005A JP 19500594 A JP19500594 A JP 19500594A JP H0862270 A JPH0862270 A JP H0862270A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 直並列接続されたコンデンサの故障を検出す
る回路の簡素化 【構成】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接
続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個のダイオー
ドの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組
のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点に接続され
たＮ相ダイオードブリッジ２２と、該Ｎ相ダイオードブ
リッジの直流端子間に設けられ、直流端子間に発生する
電圧のレベルを検出するレベル検出器２４とから成るコ
ンデンサ故障検出回路。
る回路の簡素化 【構成】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接
続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個のダイオー
ドの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組
のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点に接続され
たＮ相ダイオードブリッジ２２と、該Ｎ相ダイオードブ
リッジの直流端子間に設けられ、直流端子間に発生する
電圧のレベルを検出するレベル検出器２４とから成るコ
ンデンサ故障検出回路。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電力変換装置等に用い
られる直列接続されたコンデンサの故障検出回路に関す
るものである。
られる直列接続されたコンデンサの故障検出回路に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】最近の電力変換装置の高電圧化、大形化
に伴ない高電圧、大容量のコンデンサを必要とする装置
が出現している。このような装置では、コンデンサを多
くは多数直列、並列接続して使用する。コンデンサの直
列数、並列数が多くなると、部分的にコンデンサが故障
しても装置全体の異常として検知することができず、そ
のまま使用し続けると次々とコンデンサが故障して大き
な被害に至るまで気付かない場合が多い。このような拡
大被害防止するため、通常コンデンサの故障検出回路を
設ける。
に伴ない高電圧、大容量のコンデンサを必要とする装置
が出現している。このような装置では、コンデンサを多
くは多数直列、並列接続して使用する。コンデンサの直
列数、並列数が多くなると、部分的にコンデンサが故障
しても装置全体の異常として検知することができず、そ
のまま使用し続けると次々とコンデンサが故障して大き
な被害に至るまで気付かない場合が多い。このような拡
大被害防止するため、通常コンデンサの故障検出回路を
設ける。
【０００３】図５は、従来のコンデンサ故障検出回路の
一例を示す構成図で、高電圧変換装置等でコンデンサを
多数直列接続した回路におけるコンデンサ故障検出回路
を示している。
一例を示す構成図で、高電圧変換装置等でコンデンサを
多数直列接続した回路におけるコンデンサ故障検出回路
を示している。
【０００４】図５において、１１〜１６はコンデンサで
あり、ここでは直列数６の場合を示している。１１ａ〜
１６ａ及び１７，１８は分圧用抵抗、１９は電圧検出器
である。コンデンサ１１〜１６が全て正常な時は、Ｃー
Ｂ間の電圧は、ＡーＢ間の電圧の１／２であり、ＤーＢ
間の電圧もＡーＢ間の電圧の１／２であり、Ｃ点とＤ点
は同電位であり、ＣーＤ間には電圧が印加されない。し
かしなが、例えばコンデンサ１１が短絡故障を起こした
時は、ＣーＢ間の電圧はＡーＢ間の電圧の１／２より上
昇し、Ｃ点からＤ点へ電圧が印加される。電圧検出器１
９は上記Ｃ点からＤ点に印加される電圧を検出してコン
デンサの故障と判定する。反対に、コンデンサ１４が短
絡故障を起こした時はＤ点からＣ点へ印加される電圧に
よりコンデサの故障を検出する。
あり、ここでは直列数６の場合を示している。１１ａ〜
１６ａ及び１７，１８は分圧用抵抗、１９は電圧検出器
である。コンデンサ１１〜１６が全て正常な時は、Ｃー
Ｂ間の電圧は、ＡーＢ間の電圧の１／２であり、ＤーＢ
間の電圧もＡーＢ間の電圧の１／２であり、Ｃ点とＤ点
は同電位であり、ＣーＤ間には電圧が印加されない。し
かしなが、例えばコンデンサ１１が短絡故障を起こした
時は、ＣーＢ間の電圧はＡーＢ間の電圧の１／２より上
昇し、Ｃ点からＤ点へ電圧が印加される。電圧検出器１
９は上記Ｃ点からＤ点に印加される電圧を検出してコン
デンサの故障と判定する。反対に、コンデンサ１４が短
絡故障を起こした時はＤ点からＣ点へ印加される電圧に
よりコンデサの故障を検出する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上述べた故障検出方
法はコンデンサの多数直列回路において比較的並列数が
少ない回路等では一般的な故障検出方法であるが、比較
的並列数の多い回路ではこのような方法は不向きであ
る。
法はコンデンサの多数直列回路において比較的並列数が
少ない回路等では一般的な故障検出方法であるが、比較
的並列数の多い回路ではこのような方法は不向きであ
る。
【０００６】例えば図６に示すコンデンサの直列回路を
例にとると、電圧検出器１９〜２１がコンデンサの並列
数だけ必要となり、コンデンサの並列数が多くなった場
合、それに応じて電圧検出器の数が増加するので全体と
して高価になる。
例にとると、電圧検出器１９〜２１がコンデンサの並列
数だけ必要となり、コンデンサの並列数が多くなった場
合、それに応じて電圧検出器の数が増加するので全体と
して高価になる。
【０００７】又、図７に示すように各コンデンサをメッ
シュ構造にすれば電圧検出器１９の数が１つで良いが、
各コンデンサの電流不平衡が大きくなり、各コンデンサ
の電流容量を大きくする必要が有り、全体として高価に
なってしまう。
シュ構造にすれば電圧検出器１９の数が１つで良いが、
各コンデンサの電流不平衡が大きくなり、各コンデンサ
の電流容量を大きくする必要が有り、全体として高価に
なってしまう。
【０００８】本発明の目的は、前述の点に鑑みなされた
のもで、コンデンサの並列数の増加に対しても電圧検出
器を増加することなく低価格なコンデンサ故障検出回路
を提供することにある。
のもで、コンデンサの並列数の増加に対しても電圧検出
器を増加することなく低価格なコンデンサ故障検出回路
を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載の発明は、Ｍ個のコンデンサの直列
回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少く
とも２個のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ
交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれ
の中間点に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ
相ダイオードブリッジの直流端子間に設けられ、直流端
子間に発生する電圧のレベルを検出するレベル検出器で
構成したことを特徴とする。
に、請求項１に記載の発明は、Ｍ個のコンデンサの直列
回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少く
とも２個のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ
交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれ
の中間点に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ
相ダイオードブリッジの直流端子間に設けられ、直流端
子間に発生する電圧のレベルを検出するレベル検出器で
構成したことを特徴とする。
【００１０】又、請求項２に記載の発明は、Ｍ個のコン
デンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデンサ
回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ個並
列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列回
路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオードブリ
ッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に設け
られるコンデンサと、該コンデンサを電源として前記Ｎ
相ダイオードブリッジの直流端子間に発生する電圧のレ
ベルを検出するレベル検出器で構成したことを特徴す
る。
デンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデンサ
回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ個並
列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列回
路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオードブリ
ッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に設け
られるコンデンサと、該コンデンサを電源として前記Ｎ
相ダイオードブリッジの直流端子間に発生する電圧のレ
ベルを検出するレベル検出器で構成したことを特徴す
る。
【００１１】更に、請求項３に記載の発明は、Ｍ個のコ
ンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデン
サ回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ個
並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列
回路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオードブ
リッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に設
けられるコンデンサと、該コンデンサを電源として前記
Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に発生する電圧の
レベルが所定値を越えた時に光信号を出力するレベル検
出器と、前記光信号を低圧部に設けられる光電変換回路
に伝送するライトガイドで構成したことを特徴する。
ンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデン
サ回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ個
並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直列
回路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオードブ
リッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に設
けられるコンデンサと、該コンデンサを電源として前記
Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に発生する電圧の
レベルが所定値を越えた時に光信号を出力するレベル検
出器と、前記光信号を低圧部に設けられる光電変換回路
に伝送するライトガイドで構成したことを特徴する。
【００１２】更に又、請求項４に記載の発明は、Ｍ個の
コンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデ
ンサ回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ
個並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直
列回路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオード
ブリッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に
設けられ、該直流端子間に発生する電圧のレベルが所定
値を越えた時に光信号を出力する光発光素子と、前記光
信号を低圧部に設けられる光電変換回路に伝送するライ
トガイドで構成したことを特徴する。
コンデンサの直列回路を、Ｎ組並列接続して成るコンデ
ンサ回路と、少くとも２個のダイオードの直列回路をＮ
個並列接続し且つ交流端子が前記Ｎ組のコンデンサの直
列回路のそれぞれの中間点に接続されたＮ相ダイオード
ブリッジと、該Ｎ相ダイオードブリッジの直流端子間に
設けられ、該直流端子間に発生する電圧のレベルが所定
値を越えた時に光信号を出力する光発光素子と、前記光
信号を低圧部に設けられる光電変換回路に伝送するライ
トガイドで構成したことを特徴する。
【００１３】
【作用】前述のように構成された請求項１に記載の発明
によれば、いずれかのコンデンサに異常が発生すれば、
Ｎ組の直列コンデンサの中点電位に差が生じて、この差
電位がレベル検出器に加わるため、レベル検出器により
コンデンサの異常を検出出来る。
によれば、いずれかのコンデンサに異常が発生すれば、
Ｎ組の直列コンデンサの中点電位に差が生じて、この差
電位がレベル検出器に加わるため、レベル検出器により
コンデンサの異常を検出出来る。
【００１４】又、請求項２に記載の発明によれば、いず
れかのコンデンサに異常が発生すれば、Ｎ組の直列コン
デンサの中点電位に差が生じて、この差電位がレベル検
出器に加わるため、レベル検出器によりコンデンサの異
常を検出出来ると共に、レベル検出器の電源をＮ相ダイ
オードブリッジの直流端子間から得ることが出来る。
れかのコンデンサに異常が発生すれば、Ｎ組の直列コン
デンサの中点電位に差が生じて、この差電位がレベル検
出器に加わるため、レベル検出器によりコンデンサの異
常を検出出来ると共に、レベル検出器の電源をＮ相ダイ
オードブリッジの直流端子間から得ることが出来る。
【００１５】更に、請求項３に記載の発明によれば、い
ずれかのコンデンサに異常が発生すれば、Ｎ組の直列コ
ンデンサの中点電位に差が生じて、この差電位がレベル
検出器に加わるため、レベル検出器によりコンデンサの
異常を検出出来ると共に、レベル検出器の電源をＮ相ダ
イオードブリッジの直流端子間から得ることが出来るた
め、高電圧部で検出されたコンデンサの故障検出信号を
ライトガイドを介して低圧部へ伝送できるため高電圧化
に適したものとなる。
ずれかのコンデンサに異常が発生すれば、Ｎ組の直列コ
ンデンサの中点電位に差が生じて、この差電位がレベル
検出器に加わるため、レベル検出器によりコンデンサの
異常を検出出来ると共に、レベル検出器の電源をＮ相ダ
イオードブリッジの直流端子間から得ることが出来るた
め、高電圧部で検出されたコンデンサの故障検出信号を
ライトガイドを介して低圧部へ伝送できるため高電圧化
に適したものとなる。
【００１６】更に又、請求項４に記載の発明によれば、
いずれかのコンデンサに異常が発生すれば、光発光素子
が光信号を発生し、コンデンサの異常を検出出来るた
め、レベル検出器は不要となり、非常に単純な回路で高
電圧化に適用出来る。
いずれかのコンデンサに異常が発生すれば、光発光素子
が光信号を発生し、コンデンサの異常を検出出来るた
め、レベル検出器は不要となり、非常に単純な回路で高
電圧化に適用出来る。
【００１７】
【実施例】以下、請求項１に記載の発明の一実施例を、
図５と同一の要素に同一符号を付して示す図１を参照し
て説明する。コンデンサ１１と１２、コンデンサ１３と
１４及びコンデンサ１５と１６をそれぞれ直列接続し
て、これら３組の直列回路を並列接続してコンデンサ回
路を構成する。
図５と同一の要素に同一符号を付して示す図１を参照し
て説明する。コンデンサ１１と１２、コンデンサ１３と
１４及びコンデンサ１５と１６をそれぞれ直列接続し
て、これら３組の直列回路を並列接続してコンデンサ回
路を構成する。
【００１８】一方、少くとも２個のダイオード２２１と
２２２、ダイオード２２３と２２４及びダイオード２２
５と２２６を直列接続し、この３個の直列回路を並列接
続して３相ダイオードブリッジ２２を構成する。
２２２、ダイオード２２３と２２４及びダイオード２２
５と２２６を直列接続し、この３個の直列回路を並列接
続して３相ダイオードブリッジ２２を構成する。
【００１９】３相ダイオードブリッジ２２の交流端子
を、それぞれ３組のコンデンサの直列回路の中間電位点
に接続し、３相ダイオードブリッジ２２の直流端子間に
抵抗２３とレベル検出器２４を接続する。
を、それぞれ３組のコンデンサの直列回路の中間電位点
に接続し、３相ダイオードブリッジ２２の直流端子間に
抵抗２３とレベル検出器２４を接続する。
【００２０】このように構成された図１のコンデンサ故
障検出回路において、今、全てのコンデンサ１１〜１６
が正常であった場合には、各コンデンサの各々直列回路
の中点電位Ｃ，Ｄ，Ｅの各電位は、ＡーＢ間の中点電位
となり、３相ダイオードブリッジ２２の出力Ｆ，Ｇ間に
は電位差が発生しない。従って、レベル検出器２４も動
作しない。
障検出回路において、今、全てのコンデンサ１１〜１６
が正常であった場合には、各コンデンサの各々直列回路
の中点電位Ｃ，Ｄ，Ｅの各電位は、ＡーＢ間の中点電位
となり、３相ダイオードブリッジ２２の出力Ｆ，Ｇ間に
は電位差が発生しない。従って、レベル検出器２４も動
作しない。
【００２１】ここで、コンデンサ１１が短絡故障となっ
た場合、Ｃ点電位はＡーＢ間の電圧となり他の中点電位
Ｄ，ＥはＡーＢ間の１／２の電圧であるからダイオード
２２２、ダイオード２２３及びダイオード２２５が導通
して、抵抗２３の両端にＣ点とＤ，Ｅ点の電位差即ちＡ
ーＢ間の１／２の電圧が印加される。レベル検出器２４
により抵抗２３の電圧レベルを検出することによりコン
デンサの故障を検出出来る。
た場合、Ｃ点電位はＡーＢ間の電圧となり他の中点電位
Ｄ，ＥはＡーＢ間の１／２の電圧であるからダイオード
２２２、ダイオード２２３及びダイオード２２５が導通
して、抵抗２３の両端にＣ点とＤ，Ｅ点の電位差即ちＡ
ーＢ間の１／２の電圧が印加される。レベル検出器２４
により抵抗２３の電圧レベルを検出することによりコン
デンサの故障を検出出来る。
【００２２】ここで、コンデンサ１１〜１６が完全に短
絡に至らず劣化により容量が減少した場合でも、直列の
電圧分担が変り、Ｃ，Ｄ，Ｅに電位差が生じ抵抗２３の
両端に、短絡した場合程ではないが電圧が印加される。
そこでレベル検出器２４の検出レベル値を容量減少の許
容量より計算される値とすることで、より精度の高いコ
ンデンサ故障の検出が達成出来る。
絡に至らず劣化により容量が減少した場合でも、直列の
電圧分担が変り、Ｃ，Ｄ，Ｅに電位差が生じ抵抗２３の
両端に、短絡した場合程ではないが電圧が印加される。
そこでレベル検出器２４の検出レベル値を容量減少の許
容量より計算される値とすることで、より精度の高いコ
ンデンサ故障の検出が達成出来る。
【００２３】図１と、同一部に同一符号を付して示した
図２は、レベル検出器２４の電源を３相ダイオードブリ
ッジ２２の直流端子間から得るようにした、請求項２に
記載の発明の一実施例を示す構成図である。
図２は、レベル検出器２４の電源を３相ダイオードブリ
ッジ２２の直流端子間から得るようにした、請求項２に
記載の発明の一実施例を示す構成図である。
【００２４】図２の実施例は、抵抗２３に並列にコンデ
ンサ２５を接続し、このコンデンサ２５の充電電圧をレ
ベル検出器２４の電源として用いるようにしたものであ
る。このように構成された図２の実施例によれば、コン
デンサ１１〜１６の正常時には、コンデンサ２５は充電
されないため、レベル検出器２４も動作しない。もっと
も、コンデンサ１１〜１６が正常であれば動作する必要
が無い。
ンサ２５を接続し、このコンデンサ２５の充電電圧をレ
ベル検出器２４の電源として用いるようにしたものであ
る。このように構成された図２の実施例によれば、コン
デンサ１１〜１６の正常時には、コンデンサ２５は充電
されないため、レベル検出器２４も動作しない。もっと
も、コンデンサ１１〜１６が正常であれば動作する必要
が無い。
【００２５】ここで、前述したように、コンデンサ１１
が短絡故障となった場合、前述したように、抵抗２３の
両端にＡーＢ間電圧の１／２の電圧が印加されるため、
コンデンサ２５もこの電圧に充電され、レベル検出器２
４の電源が確立する。従ってコンデンサ１１が短絡故障
を起こしてから、レベル検出器２４の電源が確立するま
での時間遅れはあるもののコンデンサの故障を検出出来
る。
が短絡故障となった場合、前述したように、抵抗２３の
両端にＡーＢ間電圧の１／２の電圧が印加されるため、
コンデンサ２５もこの電圧に充電され、レベル検出器２
４の電源が確立する。従ってコンデンサ１１が短絡故障
を起こしてから、レベル検出器２４の電源が確立するま
での時間遅れはあるもののコンデンサの故障を検出出来
る。
【００２６】図２と、同一部に同一符号を付して示した
図３は、高電圧部に設置したコンデンサ回路の故障を低
圧部にて検出するようにした、請求項３に記載の発明の
一実施例を示す構成図である。
図３は、高電圧部に設置したコンデンサ回路の故障を低
圧部にて検出するようにした、請求項３に記載の発明の
一実施例を示す構成図である。
【００２７】図３において、レベル検出器２６はフォッ
トカプラ等を内在し、コンデンサの故障検出信号を光信
号として出力するものである。このレベル検出器２６か
らの光信号をライトガイド２７を介して低圧部に設けら
れる光電変換回路２８に導くことによって、低圧部にて
高圧部に設置されたコンデンサの故障を電気信号で検出
することができる。
トカプラ等を内在し、コンデンサの故障検出信号を光信
号として出力するものである。このレベル検出器２６か
らの光信号をライトガイド２７を介して低圧部に設けら
れる光電変換回路２８に導くことによって、低圧部にて
高圧部に設置されたコンデンサの故障を電気信号で検出
することができる。
【００２８】尚、前述の実施例において、レベル検出器
２４及びレベル検出器２６の検出レベルをコンデンサの
故障数等に応じて複数にすれば軽故障、重故障等の判別
も出来る。
２４及びレベル検出器２６の検出レベルをコンデンサの
故障数等に応じて複数にすれば軽故障、重故障等の判別
も出来る。
【００２９】図１と、同一部に同一符号を付して示した
図４は、レベル検出器を用いること無く、高電圧部に設
置したコンデンサ回路の故障を低圧部にて検出するよう
にした、請求項４に記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
図４は、レベル検出器を用いること無く、高電圧部に設
置したコンデンサ回路の故障を低圧部にて検出するよう
にした、請求項４に記載の発明の一実施例を示す構成図
である。
【００３０】図４の実施例は、３相ダイオードブリッジ
２２の直流端子間に抵抗２３と発光ダイオード等の光発
光素子２９の直列回路を接続し、光発光素子２９からの
光信号をライトガイド２７で低圧部に設置される光電変
換回路２８に導くようにしたものである。
２２の直流端子間に抵抗２３と発光ダイオード等の光発
光素子２９の直列回路を接続し、光発光素子２９からの
光信号をライトガイド２７で低圧部に設置される光電変
換回路２８に導くようにしたものである。
【００３１】このように構成することにより、光発光素
子２９の動作レベルによって直列接続されるコンデンサ
数によって、検出感度は規制されるが、レヘル検出器を
用いることなく、簡素化された回路でコンデンサの故障
を検出出来る。
子２９の動作レベルによって直列接続されるコンデンサ
数によって、検出感度は規制されるが、レヘル検出器を
用いることなく、簡素化された回路でコンデンサの故障
を検出出来る。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明によれば、コンデンサの並列数が増加してもダイオ
ードを増加するだけで１個のレベル検出器で構成出来る
ので全体の構成が単純になり且つ低価格に直並列したコ
ンデンサの故障検出回路を提供できる。
発明によれば、コンデンサの並列数が増加してもダイオ
ードを増加するだけで１個のレベル検出器で構成出来る
ので全体の構成が単純になり且つ低価格に直並列したコ
ンデンサの故障検出回路を提供できる。
【００３３】又、請求項２に記載の発明によれば、請求
項１に記載の発明の効果に加え、レベル検出器の電源を
外部から供給することなく、Ｎ相ダイオードブリッジの
直流出力から得ることのできるコンデンサ故障検出回路
を提供できる。
項１に記載の発明の効果に加え、レベル検出器の電源を
外部から供給することなく、Ｎ相ダイオードブリッジの
直流出力から得ることのできるコンデンサ故障検出回路
を提供できる。
【００３４】更に、請求項３に記載の発明によれば、請
求項２に記載の発明の効果に加え、コンデンサ回路が高
電圧部に設置されるような高電圧化に適したコンデンサ
故障検出回路を提供できる。更に又、請求項４に記載の
発明によれば、請求項３に記載の発明の効果に加えて、
更に回路の簡素化を図ったコンデンサ故障検出回路を提
供できる。
求項２に記載の発明の効果に加え、コンデンサ回路が高
電圧部に設置されるような高電圧化に適したコンデンサ
故障検出回路を提供できる。更に又、請求項４に記載の
発明によれば、請求項３に記載の発明の効果に加えて、
更に回路の簡素化を図ったコンデンサ故障検出回路を提
供できる。
【図１】請求項１に記載の発明の一実施例を示す構成
図。
図。
【図２】請求項２に記載の発明の一実施例を示す構成
図。
図。
【図３】請求項３に記載の発明の一実施例を示す構成
図。
図。
【図４】請求項４に記載の発明の一実施例を示す構成
図。
図。
【図５】従来のコンデンサ検出回路の一例を示す構成
図。
図。
【図６】従来のコンデンサ検出回路の他の実施例を示す
構成図。
構成図。
【図７】従来のコンデンサ検出回路の更に他の実施例を
示す構成図。
示す構成図。
１１〜１６ …コンデンサ １１ａ〜１
６ａ …分圧用抵抗 １７，１８ …分圧用抵抗 １９〜２１
…電圧検出器 ２２ …ダイオード整流器 ２２１〜２
２６ …ダイオード ２４ …レベル検出器 ２５
…コンデンサ ２６ …レベル検出器 ２７
…ライトガイド ２８ …光電変換回路 ２９
…光発光素子
６ａ …分圧用抵抗 １７，１８ …分圧用抵抗 １９〜２１
…電圧検出器 ２２ …ダイオード整流器 ２２１〜２
２６ …ダイオード ２４ …レベル検出器 ２５
…コンデンサ ２６ …レベル検出器 ２７
…ライトガイド ２８ …光電変換回路 ２９
…光発光素子
Claims (4)
- 【請求項１】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、
Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個
のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子
が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点
に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ相ダイオ
ードブリッジの直流端子間に設けられ、直流端子間に発
生する電圧のレベルを検出するレベル検出器とから成る
コンデンサ故障検出回路。 - 【請求項２】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、
Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個
のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子
が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点
に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ相ダイオ
ードブリッジの直流端子間に設けられるコンデンサと、
該コンデンサを電源として前記Ｎ相ダイオードブリッジ
の直流端子間に発生する電圧のレベルを検出するレベル
検出器から成るコンデンサ故障検出回路。 - 【請求項３】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、
Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個
のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子
が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点
に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ相ダイオ
ードブリッジの直流端子間に設けられるコンデンサと、
該コンデンサを電源として前記Ｎ相ダイオードブリッジ
の直流端子間に発生する電圧のレベルが所定値を越えた
時に光信号を出力するレベル検出器と、前記光信号を低
圧部に設けられる光電変換回路に伝送するライトガイド
とから成るコンデンサ故障検出回路。 - 【請求項４】 Ｍ個のコンデンサの直列回路を、
Ｎ組並列接続して成るコンデンサ回路と、少くとも２個
のダイオードの直列回路をＮ個並列接続し且つ交流端子
が前記Ｎ組のコンデンサの直列回路のそれぞれの中間点
に接続されたＮ相ダイオードブリッジと、該Ｎ相ダイオ
ードブリッジの直流端子間に設けられ、該直流端子間に
発生する電圧のレベルが所定値を越えた時に光信号を出
力する光発光素子と、前記光信号を低圧部に設けられる
光電変換回路に伝送するライトガイドとから成るコンデ
ンサ故障検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6195005A JPH0862270A (ja) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | コンデンサ故障検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6195005A JPH0862270A (ja) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | コンデンサ故障検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0862270A true JPH0862270A (ja) | 1996-03-08 |
Family
ID=16333954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6195005A Pending JPH0862270A (ja) | 1994-08-19 | 1994-08-19 | コンデンサ故障検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0862270A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007150231A (ja) * | 2005-10-27 | 2007-06-14 | Denso Corp | 熱電変換装置 |
| KR101017415B1 (ko) * | 2008-08-26 | 2011-02-28 | 주식회사 다원시스 | 콘덴서 소손 감지 회로 |
| WO2011161730A1 (ja) | 2010-06-25 | 2011-12-29 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 電力変換装置 |
| JP2012090506A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 電力変換装置 |
| CN103091598A (zh) * | 2013-01-28 | 2013-05-08 | 中国矿业大学 | 开关磁阻电机双开关功率变换器续流二极管故障诊断方法 |
| CN112986857A (zh) * | 2021-01-25 | 2021-06-18 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种单端口检测并识别定位电容组短路故障的电路及方法 |
-
1994
- 1994-08-19 JP JP6195005A patent/JPH0862270A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2011161730A1 (ja) | 2010-06-25 | 2011-12-29 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 電力変換装置 |
| US9030853B2 (en) | 2010-06-25 | 2015-05-12 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation | Power conversion equipment having a capacitor failure detecting circuit |
| JP2012090506A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp | 電力変換装置 |
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| CN112986857A (zh) * | 2021-01-25 | 2021-06-18 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种单端口检测并识别定位电容组短路故障的电路及方法 |
| CN112986857B (zh) * | 2021-01-25 | 2023-04-25 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种单端口检测并识别定位电容组短路故障的电路及方法 |
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