JPH0854309A - 防塵試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 箱型の制御盤の取付パネルに前面側から取付
けた状態と同じ状態で制御機器の防塵試験ができるよう
にする。 【構成】 粉塵室５５に吸引室５７を連結する。粉塵室
５５と吸引室５７を支持板５９で仕切る。支持板５９に
は供試機器６１の計器ケース６３がはまる支持孔６５を
設ける。粉塵室５５側から供試機器６１の計器ケース６
３を支持孔６５を介して吸引室５７側へはめて固定し、
粉塵室５５と吸引室５７間を密封する。粉塵室５５の下
端から循環パイプ６９、循環ポンプ７１、循環パイプ７
３を介して粉塵室５５の上部を連結し粉塵の循環系を形
成する。吸引室５７に吸引パイプ８１、ろ過器８３、バ
ルブ８５および真空ポンプ８７を連結し、吸引室５７を
減圧する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は防塵試験装置に係り、例
えば温度調節計等の制御機器、特にパネルカット取付け
型の制御機器の防塵性能を試験する防塵試験装置の改良
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の防塵試験装置としては、
図９に示すような構成が知られている。すなわち、容器
１内を上下に試験室３と塵貯蔵室５に二分し、上側の試
験室３の側面には透明な観察窓７を設けるとともに上面
を蓋９で覆い、下側の塵貯蔵室５の途中には網１１を設
けて粉塵としてのタルクを貯めるとともに外側にバイブ
レータ１３を配置し、網１１の下側の塵貯蔵室５先端に
循環パイプ１５を連結し、この循環パイプ１５の途中に
循環ポンプ１７を配置し、この循環ポンプ１７から循環
パイプ１９を介して試験室３の上側へ連結している。

【０００３】さらに、試験室３内に配置された防塵試験
を行う制御機器である供試機器２１の電線導入口２３か
ら吸引パイプ２５を試験室３外へ導出し、この吸引パイ
プ２５の途中に粉塵をろ過するろ過器２７、吸引空気流
量を測定する流量計２９、吸引空気流量を調節するパル
ブ３１および吸引用の真空ポンプ３３を各々間隔を置い
て連結していた。図９中の符号３５は吸引による試験室
３内の減圧度合いを測定するマノメータであり、ろ過器
２７と平行に接続されている。

【０００４】このような防塵試験装置では、蓋９を開け
て供試機器２１を試験室３内に配置して電線導入口２３
に吸引パイプ２５を接続し、バイブレータ１３による振
動によって粉塵を網１１でふるいにかけ、循環用ポンプ
１７でその粉塵を循環パイプ１５、１９を介して試験室
３内へ循環させ、その粉塵を試験室３内に浮遊させて供
試機器２１全体にかける一方、流量計２９やマノメータ
３５を見てパルブ３１を調節しながら真空ポンプ３３で
供試機器２１内を吸引減圧し、所定時間かけて防塵試験
していた。

【０００５】そして、バイブレータ１３、循環用ポンプ
１７および真空ポンプ３３を停止させて蓋９を開け、供
試機器２１から吸引パイプ２５を外して試験室３から取
り出し、供試機器２１内の粉塵の侵入状態により、防塵
度合いを判定していた。

【０００６】ところで、供試機器２１としては、例えば
図１０に示すように、操作パネル３７ａと図示しない内
部回路で形成された内器３７を計器ケース３９に差し込
み、図示しない制御盤の前面側の取付パネル４１の取付
穴４３に計器ケース３９の後部から挿通する一方、図１
１に示すように、取付具４５を計器ケース３９の係合孔
（図１１では隠れる。）４７に係合するとともに、計器
ケース３９の背面側からねじ４９で係合孔（図１１では
隠れる。）４７に係合した取付具４５をパネル４１を押
圧することにより、計器ケース３９のつば（図１１では
隠れる。）５１の裏面と取付具４５の先端間で取付パネ
ル４１を挟み込むように固定して使用する、いわゆるパ
ネルカット取付けタイプのものが良く使用されている。
図１１中の符号５３は取付具４５のねじ４９を回転させ
るドライバである。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の防塵試験装置は、供試機器２１がパネルカット
取付け型である場合、制御盤内が密閉されて外部からの
油や塵等が取付パネル４１内へ侵入し難いことから、供
試機器２１全体に粉塵をかけて防塵性能試験しても正確
な試験を行うことができず、制御盤に取付けた状況と同
じ使用環境下で試験することが求められていた。

【０００８】また、循環用ポンプ１７によって試験室３
内に一定量の粉塵を浮遊させるようになっているが、実
際には、塵貯蔵室５内の粉塵量、網１１やバイブレータ
１３の動作状況、供試機器２１の形状等によって浮遊す
る粉塵量が変化し、常に一定の浮遊量を確保した試験が
行われているとは言い難かった。さらに、上述した防塵
試験装置では、防塵試験中の状況をオペレータが常に監
視する必要があり、自動化が望まれていた。

【０００９】本発明はこのような従来の欠点を解決する
ためになされたもので、制御盤等に取付けたのと同じ状
態で制御機器への防塵試験が可能な防塵試験装置の提供
を目的とする。また、本発明は、制御機器の防塵試験に
使用する粉塵の浮遊量を一定に確保し、自動運転も可能
な防塵試験装置を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために本発明は、粉塵を浮遊させる粉塵室と、この粉
塵室から粉塵を流過させて再びその粉塵室へ循環させる
粉塵循環手段と、供試機器を支持する支持孔を有しその
供試機器を密封支持する支持板と、この支持板を介して
その粉塵室に隣接して配置された吸引室と、この吸引室
内を吸引して減圧する吸引手段とを有するものである。

【００１１】そして、本発明は、上述した構成に加え
て、上記粉塵室内に浮遊する粉塵量を測定する光学的測
定手段と、それら粉塵室および粉塵循環手段を含む循環
系に投入する粉塵を貯蔵する粉塵貯蔵手段と、その浮遊
粉塵量が低下してその光学的測定手段の出力による測定
粉塵量が所定値を越えたときその粉塵貯蔵室からの粉塵
を投入制御する制御手段とを設けると良い。

【００１２】

【作用】このような手段を備えた本発明では、供試機器
を支持板に密封支持させた状態でそれら粉塵室と吸引室
にまたがって配置し、それら粉塵循環手段および吸引用
手段を駆動すると、粉塵が循環しながら粉塵室内を浮遊
する一方、隣接する吸引室内が減圧される。

【００１３】そのため、供試機器に隙間等があれば、浮
遊する粉塵が粉塵室から供試機器や吸引室内に流入す
る。また、粉塵室の粉塵量を測定する光学的測定手段、
粉塵を貯蔵する粉塵貯蔵手段および粉塵を投入制御する
制御手段を設けた構成では、光学的測定手段で測定した
粉塵室の粉塵量が低下して所定値を越えたとき、粉塵が
自動的に循環系に追加投入される。

【００１４】

【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。本発明に係る防塵試験装置の詳細を説明する前に、
まず図１および図２を参照してその概略を説明する。図
１および図２は本発明に係る防塵試験装置の一実施例を
分り易くするための概略図であり、後述する図３の防塵
試験装置とは表示が若干異なるが、その差異は便宜上の
ものである。

【００１５】図１において、粉塵を浮遊させる粉塵室５
５は透過性の良好なプラスチックから箱型に形成されて
おり、この粉塵室５５には同様に透過性の良好なプラス
チックからなる吸引室５７が横方向に連結するように配
置されており、粉塵室５５と吸引室５７の間が支持板５
９にて仕切られている。

【００１６】粉塵室５５と吸引室５７は別個又は一体的
に形成されており、図２の概略図に示すように、支持板
５９には供試機器６１の計器ケース（いずれも図２では
省略）６３がはまる寸法の支持孔６５が、粉塵室５５と
吸引室５７とは別個、又は一方もしくは双方と一体的に
形成されている。そのため、例えば粉塵室５５側から計
器ケース６３を支持孔６５から吸引室５７側へ突出する
ようにはめ込み、供試機器６１の背面側から上述した図
１１中の取付具４５等で支持板５９を押圧することによ
って支持されるとともに、粉塵室５５と吸引室５７間が
密封されるようになっている。なお、粉塵室５５への供
試機器６１の収納は、後述するように開閉扉１０３を操
作して行う。

【００１７】この支持板５９は１枚構成でもよいもの
の、図示はしないが、計器ケース６３がはまる支持孔６
５を有する小支持板を大きい枠状の大支持板に重ねて取
付け、この大支持板を粉塵室５５や吸引室５７に固定す
る二重構成とすることも可能であり、二重構成の支持板
を用いれば寸法の異なる複数種類の供試機器６１を試験
できる。粉塵室５５の下部は先細りになって垂下してお
り、途中に上述した図９と同様な網が配置されているが
見えない。すなわち、粉塵室５５は、上述した図９の試
験室３と塵貯蔵室５を合わせた容器１のような構成とな
っている。

【００１８】粉塵室５５の下部外周にはこれを例えば１
００Ｈｚ程度の周波数で振動させる電磁型のバイブレー
タ６７が取付けられており、粉塵室５５の先細り下端に
は循環パイプ６９が連結され、この循環パイプ６９から
循環ポンプ７１および循環パイプ７３を介して粉塵室５
５の上部へ連結され、粉塵室５５からの粉塵を循環させ
て再び粉塵室５５へ循環させる粉塵循環手段７５が形成
されている。粉塵室５５の上面にはこれに粉塵を投入す
る粉塵貯蔵手段７７が形成されており、粉塵室５５の側
面には内部に配置した供試機器６１の近傍に位置するよ
うに光学的測定手段７９が配置されている。これら詳細
は後述する。

【００１９】吸引室５７の下部には吸引パイプ８１が連
結されており、この吸引パイプ８１の途中には吸引した
空気中の粉塵を除去するろ過器８３、吸引空気流量を調
節するバルブ８５が連結され、吸引パイプ８１の先端に
は吸引用の真空ポンプ８７が間隔を置いて連結されてお
り、これらによって吸引室５７内を吸引脱気して減圧す
る吸引手段８９が形成されている。符号９１は吸引パイ
プ８１に接続された流量計である。

【００２０】制御手段９３は、循環ポンプ６９や真空ポ
ンプ８７をオンオフ制御したり、光学的測定手段７９に
よる粉塵室５５内の浮遊粉塵量が所定値を越えたとき、
粉塵貯蔵手段７７を駆動制御して粉塵を粉塵室５５内へ
追加投入制御する他、粉塵を追加投入しても浮遊粉塵量
が所定値を越えないとき警報を出力制御する機能を有す
るものである。詳細は後述する。

【００２１】次に、上述した本発明の防塵試験装置の詳
細な構造を図３を参照して説明する。図３において、裏
側四隅にキャスタ９５を取付けた基台９７の対向辺から
一対の支持柱９９が立設されており、これら支持柱９９
の先端間および途中の間が連結棒１０１で連結固定され
て保持枠を形成している。なお、基台９７は図示しない
防振マット上に置いて使用すると良いであろう。

【００２２】途中の２本の連結棒１０１の間にはこれら
支持柱９９と連結棒１０１で形成される枠を横切るよう
に、上述した粉塵室５５と吸引室５７の連結体が適当な
固定手段（図示せず）によって固定されている。以下、
便宜上、粉塵室５５側を正面側とし、吸引室５７側を背
面側として説明する。

【００２３】粉塵室５５の上部側面には、供試機器（図
３では省略）６１を出入れするとともに内部が見えるよ
うに透過材料からなる開閉扉１０３が外側へ開閉自在に
固定される一方、吸引室５７の側面にも供試機器６１の
固定作業に供し、内部が見えるように透過材料からなる
開閉扉１０５が外側へ開閉自在に固定されている。これ
ら開閉扉１０３、１０５は上述した図１や図２では図示
が省略されている。

【００２４】そして、正面側の開閉扉１０３を開けて供
試機器６１を粉塵室５５内に入れるとともに、計器ケー
ス６３を支持板５９の支持孔６５から吸引室５７へ挿入
し、供試機器６１の操作パネル６４に形成されるつばを
粉塵室５５側で支持板５９に当接させ、背面側の開閉扉
１０５を開けて背面側から、上述した図１１のように取
付具４５を計器ケース３９（６３）の係合孔４７に係合
させ、ねじ４９で支持板５９を吸引室５７側から押圧す
ることにより、供試機器６１が支持板５９に密封支持さ
れる。

【００２５】開閉扉１０３、１０５が閉められたとき
は、粉塵に対して粉塵室５５と吸引室５７が密閉構造と
なる。粉塵室５５の上面に配置された粉塵貯蔵手段７７
は、図４に示すように、モータ１０７をフランジ１０７
ａ、１０９ａどうしを重ねるようにして貯蔵筒１０９に
固定し、貯蔵筒１０９の他方のフランジ１０９ｂをパッ
キン１１１を介して粉塵室５５に固定して形成されてい
る。実際の固定は、フランジ１０７ａ、１０９ａ、１０
９ｂ部分にねじ等を介して行われている。

【００２６】貯蔵筒１０９内には、制御手段９３に接続
されたモータ１０７から延びるロータ軸１１３にジョイ
ント１１５を介して回転軸１１７が延びており、回転軸
１１７の先端に回転板１１９とそのパッキン１１１が挿
通され、その回転板１１９がねじ１２３でねじ止めされ
ている。

【００２７】回転板１１９には、図５に示すように、細
長いスリット１２５が形成されており、粉塵室５５の上
面およびパッキン１１１にはスリット１２５に揃う貫通
孔１２７が形成されている。そのため、モータ１０７の
回転によって回転軸１１７先端の回転板１１９が回転
し、図５のようにスリット１２５と貫通孔１２７の位置
が揃えば、貯蔵筒１０９内の粉塵１２９が粉塵室５５内
に追加投入される。なお、図５は図４の粉塵貯蔵手段７
７のうちパッキン１１１や回転板１１９部分のみ示した
ものである。

【００２８】粉塵室５５の上部側面に配置された光学的
測定手段７９は、概略図である図６に示すように、粉塵
室５５の対向する側面に互いに対向配置された発光部７
９ａと、この発光部７９ａからの光の強弱に応じた電気
信号に変換する受光部７９ｂから形成され、いずれも制
御手段９３に接続されてこれによって制御されている。
例えば、粉塵室５５内の浮遊粉塵の濃度が少ないときに
は制御手段９３への変換電気信号が大きくなり、濃度が
大きいときには変換電気信号が小さくなるようになって
いる。

【００２９】粉塵室５５の下部外周にバイブレータ６７
が配置されるとともに、粉塵室５５の下端に循環パイプ
６９、循環ポンプ７１および循環パイプ７３が連結され
て粉塵循環手段７５が形成されるのは図１の構成と同様
であるから、説明を繰返さない。さらに、吸引室５７に
も、上述したように、吸引パイプ８１が連結され、この
途中にろ過器８３、バルブ８５、真空ポンプ８７が間隔
を置いて連結されるとともに流量計９１が配置されてい
るが、真空ポンプ８７以外は隠れて見えない。支持柱９
９にはランプやブザー等の警報手段１３１が配置されて
おり、制御手段９３によって制御されている。

【００３０】支持柱９９および連結棒１０１に配置され
た制御手段９３は、図示しない電源スイッチのオンオフ
に基づき、バイブレータ６７、循環ポンプ７１および真
空ポンプ８７をオンオフ制御する一方、光学的測定手段
７９の発光部７９ａを適宜発光駆動するとともにこの発
光部７９ａからの電気信号を入力し、入力信号が所定値
を越えたとき、粉塵室５５内の浮遊粉塵量が少なくなっ
た判断し、粉塵貯蔵手段７７のモータ１０７を例えばス
テッピング駆動し、上述したスリット１２５と貫通孔１
２７の位置が揃う毎、所定量の粉塵１２９を粉塵室５５
内に追加投入して供給制御する

【００３１】また、制御手段９３は、粉塵１２９を追加
投入しても発光部７９ａからの電気信号が所定回数や所
定期間にわたって所定値を越えないとき、正常な粉塵量
に達しないと判断し、異常事態が発生したとして警報手
段１３１を駆動する機能を有している。

【００３２】さらに、制御手段９３は、図示しない操作
手段からの入力により、循環ポンプ７１や真空ポンプ８
７の試験時間Ｔ１の設定や、バイブレータ６７が起動し
てから粉塵室５５内の粉塵濃度が安定するまでの時間Ｔ
２の設定や、粉塵濃度に応じてバイブレータ６７の振動
強度を切換え制御する機能を有する他、後述する機能を
有する。なお、制御手段９３は、実際にはＣＰＵや、こ
のＣＰＵの動作プログラムを格納したＲＯＭ、演算過程
のデータを一時的に格納するＲＡＭ、データや信号のイ
ンターフェースであるＩ／Ｏから形成されたマイクロコ
ンピュータである。

【００３３】このような本発明の防塵試験装置の動作を
図７および図８のフローチャートを参照して説明する。
まず、供試機器６１を粉塵室５５と吸引室５７にまたが
って支持板５９に設置した後、ステップ１０１で電源を
オンしてプログラムを開始して運転をスタートさせる。
ステップ１０２で循環ポンプ７１をオンし、ステップ１
０３で真空ポンプ８７をオンして粉塵の循環と吸引をス
タートさせる。

【００３４】続くステップ１０４で試験時間Ｔ１を例え
ば８時間（Ｈ）に設定して試験時間のカウントをスター
トさせ、ステップ１０５でバイブレータ６７を弱くオン
するとともに警報カウントＳ１を「０」に設定し、ステ
ップ１０６で粉塵室５５内の粉塵安定時間Ｔ２を例えば
３分に設定する。この安定時間Ｔ２がカウントアップし
たか否かをステップ１０７で判断し、粉塵が安定してカ
ウントアップするまでステップ１０７を繰返し、カウン
トアップしてステップ１０７がＹＥＳになると、ステッ
プ１０８で光学的測定手段７９からの測定信号の入力に
基づき粉塵室５５内の浮遊粉塵量が十分か否か確認し、
不足してＮＯであればステップ１１０へ移り、十分であ
ればＹＥＳとなってステップ１０９に移る。

【００３５】ステップ１０９では試験時間Ｔ１がタイム
アップしたか否かを判断し、タイムアップしてＹＥＳに
なればステップ１２５に移り、タイムアップせずにＮＯ
であればステップ１０８に戻る。ステップ１１０では粉
塵量を増加させるためにバイブレータ６７を強くオンし
て、続くステップ１１１で粉塵安定時間Ｔ２をオンし、
ステップ１１２で粉塵が安定したか否か判断し、粉塵が
安定してカウントアップするまでステップ１１２を繰返
す。

【００３６】カウントアップしてステップ１１２がＹＥ
Ｓになるとステップ１１３で光学的測定手段７９からの
測定信号に基づき粉塵量が十分か否か確認し、不足して
いれば図８のステップ１１５へ移り、十分であればステ
ップ１１４でバイブレータ６７を弱に変更してステップ
１０９へ移る。図７のステップ１２５ではステップ１０
９で試験時間Ｔ１がタイムアップしてＹＥＳとなった場
合や図８のステップ１２４で警報出力がオンの場合に循
環ポンプ７１をオフし、続くステップ１２６で真空ポン
プ８７をオフし、ステップ１２７でバイブレータ６７を
オフして終了する。

【００３７】図８のステップ１１５では警報カウント値
Ｓ１を１つ増加させて粉塵投入回数とし、ステップ１１
６では規定投入回数をｎとしてカウント値Ｓ１が（ｎ＋
１）以上になったか否かを判断し、規定投入回数未満で
ＮＯの場合にはステップ１１７に移り、規定投入回数以
上となってＹＥＳの場合にはステップ１２４に移って警
報出力をオンして警報手段１３１を駆動させてステップ
１２５へ移る。ステップ１１６の判断が規定投入回数未
満の場合には、バイブレータ６７を強に変更しても粉塵
の量が少ない状態であるから、続くステップ１１７で粉
塵貯蔵手段７７のモータ１０７をオン駆動し、ステップ
１１８で粉塵を粉塵室５５内へ一定時間投入し、ステッ
プ１１９でモータ１０７をオフし、ステップ１２０で粉
塵安定時間Ｔ２をオンする。

【００３８】そして、ステップ１２１で粉塵が安定した
か否か判断し、カウントアップして粉塵が安定するまで
ステップ１２１を繰返し、カウントアップしてＹＥＳに
なるとステップ１２２で光学的測定手段７９からの測定
信号に基づき粉塵量が十分か否か判断し、不足していれ
ばステップ１１５へ移り、十分であればステップ１２３
でバイブレータ６７を弱に変更して上述したステップ１
０９へ移る。

【００３９】このように上述した防塵試験装置は、供試
機器６１の前面部を配置する粉塵室５５と、供試機器６
１の計器ケース６３を配置する吸引室５７と、粉塵室５
５内に粉塵を浮遊させる粉塵循環手段７５と、吸引室５
７内を減圧にする吸引手段８９を設けたから、供試機器
６１の前面部側から粉塵をかけて供試機器６１内に粉塵
が流入するか否か試験可能となり、箱型の制御盤の前面
側にある取付パネルに設けた取付孔に供試機器６１をこ
の背面側から挿入して取付けた状態と同様の環境下で防
塵試験できる。

【００４０】また、光学的測定手段７９によって粉塵室
５５内の浮遊粉塵量の測定が可能となり、粉塵濃度が低
下してその測定値が所定値を越えたとき制御手段９３が
粉塵貯蔵手段７７を駆動して粉塵１２９を自動的に粉塵
室５５内に投入できるから、循環ポンプ７１の駆動変
動、網やバイブレータ６７による粉塵ふるい動作変動、
更に、試験する供試機器６１の大きさ等に起因して粉塵
室５５の浮遊粉塵量が変化しても、一定の浮遊量を自動
的に確保できる。さらに、制御手段９３で制御される警
報手段１３１を有するから、粉塵貯蔵手段７７を駆動し
て粉塵１２９を追加投入しても浮遊粉塵量が増加しない
場合、外部に警報を発することが可能となり、この点か
らも自動運転が可能である。

【００４１】しかも、粉塵量の不足状態が所定期間継続
したり又は所定数に達してから粉塵量の異常を判断可能
であるから、粉塵量の不足誤動作を防止して信頼性を高
めることができる。また、上述した粉塵室５５および吸
引室５７を透過性の良好な樹脂材料等で形成すれば、粉
塵室５５および吸引室５７内を観察し易くなり、試験の
状況および計器の状態を確認し易いが、本発明では粉塵
室５５や吸引室５７等の材料を任意に選定できる。

【００４２】本発明では、粉塵貯蔵手段７７を粉塵室５
５に固定して粉塵室５５内へ粉塵を投入する構成であっ
たが、粉塵貯蔵手段７７は粉塵室５５、循環パイプ６
９、循環ポンプ７１、循環パイプ７３の循環系のいずれ
かの箇所に取付け、その循環系に粉塵を投入する構成で
実施可能である。さらに、上述した実施例は、供試機器
６１を粉塵室５５と吸引室５７にまたがって支持板５９
に支持させ、粉塵を浮遊させた粉塵室５５側から吸引室
５７側の供試機器６１部分に粉塵が流入するか否かを試
験する構成であったが、従来のように、本発明の構成に
おいて、粉塵室５５のみに供試機器６１を配置して粉塵
をかけて試験することも可能である。この場合、粉塵室
５５に設置した供試機器６１から電線導入口等の開口部
から補助パイプ（図示せず）を吸引パイプ８１へ連結す
れば良い。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように本発明の防塵試験装
置は、供試機器を粉塵室と吸引室の間に配置した支持板
にそれら粉塵室と吸引室にまたがるように配置し、粉塵
循環手段にて粉塵室内に粉塵を浮遊させる一方、吸引手
段で吸引室内を減圧にするようにしたから、供試機器の
前面部側から粉塵をかけて供試機器内への粉塵流入試験
が可能となり、箱型の制御盤の前面側にある取付パネル
の取付孔に取付けた状態と同様の環境下でパネルカット
取付け型の供試機器を防塵試験できるし、従来のように
供試機器全体に防塵粉塵をかけて試験も可能である。そ
して、粉塵室の粉塵量を測定する光学的測定手段、粉塵
を貯蔵する粉塵貯蔵手段および粉塵を投入制御する制御
手段とを設ける構成では、光学的測定手段で測定した粉
塵室の粉塵量が低下して所定値を越えたとき、粉塵が自
動的に循環系に追加投入されるから、粉塵循環系の粉塵
量を自動的に一定に保つことができるうえ、自動運転も
可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る防塵試験装置の一実施例を示す概
略図である。

【図２】図１中の粉塵室および吸引室の概略を一部除去
して示す斜視図である。

【図３】図１の防塵試験装置を詳細に示す斜視図であ
る。

【図４】図１中の粉塵貯蔵手段を示す縦断面図である。

【図５】図４中の粉塵貯蔵手段の要部を示す概略平面図
である。

【図６】図１中の粉塵室に配置された光学的測定手段の
概略を説明する図である。

【図７】図１の防塵試験装置の動作を説明するフローチ
ャートである。

【図８】図１の防塵試験装置の動作を説明する図７に続
くフローチャートである。

【図９】従来の防塵試験装置を説明する図である。

【図１０】供試機器を制御盤の取付パネルに取付ける状
態を示す分解斜視図である。

【図１１】供試機器を取付パネルに取付ける手順を示す
斜視図である。

【符号の説明】

１ 容器 ３ 試験室 ５ 塵貯蔵室 ７ 観察窓 ９ 蓋 １１ 網 １３、６７ バイブレータ １５、１９、６９、７３ 循環パイプ １７、７１ 循環ポンプ ２１、６１ 供試機器（制御機器） ２３ 電線導入口 ２５、８１ 吸引パイプ ２７、８３ ろ過器 ２９、９１ 流量計 ３１、８５ パルブ ３３、８７ 真空ポンプ ３５ マノメータ ３７ 内器 ３７ａ 操作パネル ３９、６３ 計器ケース ４１ 取付パネル ４３ 取付穴 ４５ 取付具 ４７ 係合孔 ４９ ねじ ５１ つば ５３ ドライバ ５５ 粉塵室 ５７ 吸引室 ５９ 支持板 ６５ 支持孔 ７５ 粉塵循環手段 ７７ 粉塵貯蔵手段 ７９ 光学的測定手段 ７９ａ 発光部 ７９ｂ 受光部 ８９ 吸引手段 ９３ 制御手段 ９５ キャスタ ９７ 基台 ９９ 支持柱 １０１ 連結棒 １０３、１０５ 開閉扉 １０７ モータ １０７ａ、１０９ａ フランジ １０９ 貯蔵筒 １１１ パッキン １１３ ロータ軸 １１５ ジョイント １１７ 回転軸 １１９ 回転板 １２３ ねじ １２５ スリット １２７ 貫通孔 １２９ 粉塵 １３１ 警報手段

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粉塵を浮遊させる粉塵室と、 この粉塵室から前記粉塵を流過させて再び前記粉塵室へ
   循環させる粉塵循環手段と、 試験される供試機器を支持する支持孔を有し前記供試機
   器を密封支持する支持板と、 この支持板を介して前記粉塵室に隣接して配置された吸
   引室と、 この吸引室内を吸引して減圧する吸引手段と、 を有することを特徴とする防塵試験装置。
2. 【請求項２】 前記粉塵室内に浮遊する粉塵量を測定す
   る光学的測定手段と、 前記粉塵室および粉塵循環手段を含む循環系に投入する
   前記粉塵を貯蔵する粉塵貯蔵手段と、 前記浮遊粉塵量が低下して前記光学的測定手段からの測
   定粉塵量が所定値を越えたとき、前記粉塵貯蔵室からの
   前記粉塵を投入制御する制御手段と、 を有する請求項１記載の防塵試験装置。