JPH08333685A - Plating method - Google Patents
Plating methodInfo
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- JPH08333685A JPH08333685A JP14015395A JP14015395A JPH08333685A JP H08333685 A JPH08333685 A JP H08333685A JP 14015395 A JP14015395 A JP 14015395A JP 14015395 A JP14015395 A JP 14015395A JP H08333685 A JPH08333685 A JP H08333685A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、鍍金方法に関し、特
に、ガラス、セラミックス、プラスチック、ゴム等で構
成される絶縁性基板、或いは、アルミニウム、アルミニ
ウム合金等のアルカリ土類金属、チタン、タンタル、タ
ングステン等の弁作用金属基板への鍍金方法に関するも
のである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plating method, and particularly to an insulating substrate made of glass, ceramics, plastic, rubber or the like, or an alkaline earth metal such as aluminum or aluminum alloy, titanium, tantalum, The present invention relates to a method for plating a valve action metal substrate such as tungsten.
【0002】[0002]
【産業上の利用分野】従来から、ガラス、セラミック
ス、プラスチック、ゴム等の非導電性基板への鍍金は、
基板に導電性が無いので、無電解鍍金方法が使用されて
いる。[Industrial application] Conventionally, plating of non-conductive substrates such as glass, ceramics, plastics and rubber has been
The electroless plating method is used because the substrate is not conductive.
【0003】上記のような非導電性基板への無電解鍍金
を行う場合には、前記基板を良く洗浄して表面の油脂分
を除去した後に、前記基板の表面を機械的に或いは化学
的エッチングにより粗面化することにより鍍金した金属
膜の前記基板への密着強度を高めている。When performing electroless plating on a non-conductive substrate as described above, the substrate is thoroughly washed to remove oil and fat on the surface, and then the surface of the substrate is mechanically or chemically etched. The roughened surface enhances the adhesion strength of the plated metal film to the substrate.
【0004】例えば、セラミックス基板への無電解鍍金
を行う場合には、洗浄工程で、前記基板を良く洗浄して
表面の油脂分を除去する。粗面化工程で、ホウフッ酸溶
液中で化学的にエッチングして粗面化した後に、フッ酸
が残存しないように充分に水洗する。センシタイジング
処理工程で、塩化錫水溶液中に浸漬し前記の粗面化した
基板の表面に錫化合物を付着させる。アクティベーティ
ング処理工程で、前記の表面に錫化合物を付着させた基
板をパラジウムもしくは白金/塩酸水溶液中に浸漬し前
記の表面に付着した錫化合物を触媒作用を有するパラジ
ウムもしくは白金に置換する。無電解鍍金工程で、前記
の表面に触媒作用を有するパラジウムもしくは白金が付
着した基板を無電解鍍金液中に浸漬して鍍金すべき金属
を前記基板上に化学的に析出させている。 又、アルミ
ニウム、チタン、タンタル、タングステン及びこれらの
金属の合金等の弁作用金属のような導電性基板への鍍金
を行う場合には、直接に電気鍍金を行うのは困難であ
り、電気鍍金を行う前に、予め無電解鍍金を行ってい
る。For example, when electroless plating is performed on a ceramic substrate, the substrate is thoroughly washed in a washing step to remove oil and fat on the surface. In the surface roughening step, after chemically etching in a borohydrofluoric acid solution to roughen the surface, it is sufficiently washed with water so that hydrofluoric acid does not remain. In the sensitizing process, the tin compound is attached to the surface of the roughened substrate by immersing it in an aqueous solution of tin chloride. In the activation treatment step, the substrate having the tin compound attached to the surface is immersed in an aqueous palladium or platinum / hydrochloric acid solution to replace the tin compound attached to the surface with palladium or platinum having a catalytic action. In the electroless plating step, a substrate having palladium or platinum having a catalytic action attached to the surface is immersed in an electroless plating solution to chemically deposit a metal to be plated on the substrate. Further, when electroplating a conductive substrate such as valve metal such as aluminum, titanium, tantalum, tungsten and alloys of these metals, it is difficult to perform electroplating directly, and electroplating is difficult. Before performing, electroless plating is performed in advance.
【0005】その理由は、これらの弁作用金属の表面に
は、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化タンタル、酸
化タングステン等の不導体皮膜が形成されており、電気
鍍金を行うために鍍金浴中でこれらの金属をマイナス極
にして通電しても、前記の表面に形成されている不導体
皮膜によって電気の流れが阻害されるためである。The reason for this is that a non-conductive film of aluminum oxide, titanium oxide, tantalum oxide, tungsten oxide or the like is formed on the surface of these valve action metals, and these are used in a plating bath for electroplating. This is because the non-conductive film formed on the surface hinders the flow of electricity even when the metal of (2) is used as a negative electrode and electricity is applied.
【0006】そして、これらの金属に高い負電圧を印加
して電流を無理に流すと、水の電気分解が起こり、主と
して水素ガス発生反応が起こる。その結果、電極/鍍金
浴界面では水素ガス発生に伴って鍍金浴がアルカリ性に
なる。多くの弁作用金属はアルカリに溶ける性質を有す
るので、鍍金すべき金属の析出が起こり難くなる。又、
析出しても密着性が極めて悪いものになる。When a high negative voltage is applied to these metals and a current is forced to flow, electrolysis of water occurs and a hydrogen gas generating reaction mainly occurs. As a result, at the electrode / plating bath interface, the plating bath becomes alkaline with the generation of hydrogen gas. Since many valve metals have the property of being soluble in alkali, it is difficult for the metal to be plated to deposit. or,
Even if deposited, the adhesion becomes extremely poor.
【0007】従って、このような弁作用金属に鍍金を行
うには、従来から、電気鍍金を行う前に、無電解鍍金に
よって銅、ニッケル等の金属を予め弁作用金属表面に析
出させる方法が用いられている。Therefore, in order to plate such a valve-action metal, a method of depositing a metal such as copper or nickel on the surface of the valve-action metal in advance by electroless plating is used before the electroplating. Has been.
【0008】次に、弁作用金属への無電解鍍金方法を、
アルミニウムへの鍍金を例にして説明する。Next, a method for electroless plating of valve metal is described.
An example of plating on aluminum will be described.
【0009】研磨工程で、機械的に研磨するか化学的に
エッチングして、アルミニウム表面に形成されている酸
化皮膜を除去する。センシタイジング処理工程で、塩化
錫水溶液中に浸漬し前記の酸化皮膜を除去したアルミニ
ウム表面に塩化錫を付着させる。アクティベーティング
処理工程で、前記の表面に塩化錫を付着させたアルミニ
ウムを塩化パラジウム、塩化白金等の触媒溶液中に浸漬
して前記塩化錫を前記の触媒金属に置換する。無電解鍍
金工程で、前記の表面に触媒金属を有するアルミニウム
を無電解鍍金液中に浸漬し、鍍金すべき金属、例えば、
銅、ニッケル、金等を前記の触媒金属が存在するアルミ
ニウム表面に析出させる。更に、必要に応じて前記の無
電解鍍金された銅、ニッケル、金等の上に電気鍍金を行
う。In the polishing step, the oxide film formed on the aluminum surface is removed by mechanical polishing or chemical etching. In the sensitizing treatment step, tin chloride is adhered to the aluminum surface from which the oxide film has been removed by immersing it in an aqueous tin chloride solution. In the activation treatment step, the aluminum having tin chloride attached to the surface is immersed in a catalyst solution such as palladium chloride or platinum chloride to replace the tin chloride with the catalyst metal. In the electroless plating step, aluminum having a catalytic metal on the surface is immersed in an electroless plating solution, and the metal to be plated, for example,
Copper, nickel, gold, etc. are deposited on the surface of the aluminum on which the catalyst metal is present. Further, if necessary, electroplating is performed on the electroless plated copper, nickel, gold or the like.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の従来例
の無電解鍍金方法の構成では、鍍金基板と鍍金した金属
との密着性を得るための工程を付加する必要があるとい
う問題点がある。However, the configuration of the above-mentioned conventional electroless plating method has a problem that it is necessary to add a step for obtaining adhesion between the plated substrate and the plated metal. .
【0011】例えば、ガラス、セラミックス、プラスチ
ック、ゴム等の非導電性基板の場合には、基板表面を機
械的又は化学的に粗面化する粗面化工程が必要であると
いう問題点がある。For example, in the case of a non-conductive substrate made of glass, ceramics, plastic, rubber or the like, there is a problem that a roughening step for mechanically or chemically roughening the surface of the substrate is required.
【0012】又、アルミニウム、チタン、タンタル、タ
ングステン及びこれらの金属の合金等の弁作用金属基板
の場合には、基板表面に存在する金属酸化物等による不
導体皮膜を除去する不導体皮膜除去工程と、前記の不導
体皮膜を除去した基板の表面に塩化錫を析出させるセン
シタイジング処理工程とが必要であるという問題点があ
る。Further, in the case of a valve action metal substrate such as aluminum, titanium, tantalum, tungsten and alloys of these metals, a non-conductive film removing step of removing a non-conductive film due to a metal oxide existing on the substrate surface. In addition, there is a problem that a sensitizing treatment step of depositing tin chloride on the surface of the substrate from which the non-conductive film has been removed is required.
【0013】更に、従来例の無電解鍍金方法で化学的エ
ッチングに使用される薬品、例えば、フッ酸、硝酸等が
少しでも鍍金膜内に残存すれば、鍍金表面からの腐食が
進行し易いという問題点がある。Further, if any chemicals used for chemical etching in the conventional electroless plating method, such as hydrofluoric acid and nitric acid, remain in the plating film, corrosion from the plating surface is likely to proceed. There is a problem.
【0014】本発明は、上記の問題点を解決し、基板へ
の鍍金の密着性と耐蝕性とが極めて良く、従来技術で行
われる密着性を向上させるための前処理工程が不要にな
り、且つ、ホトレジストなしにパターン鍍金が可能な鍍
金方法の提供を課題とする。The present invention solves the above-mentioned problems, and the adhesion and corrosion resistance of the plating on the substrate are very good, and the pretreatment process for improving the adhesion, which is carried out in the prior art, becomes unnecessary, Moreover, it is an object to provide a plating method capable of pattern plating without a photoresist.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】本願第1発明の鍍金方法
は、上記の課題を解決するために、鍍金されるべき基板
を脱脂洗浄し、炭素、硫黄を含む有機金属錯体を熱分解
して発生させる金属硫化物からなる金属硫化物膜を前記
基板上に形成し、アクティベーティング溶液中で前記基
板上に触媒を析出させ、無電解鍍金液中で前記基板上に
無電解鍍金することを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, the plating method of the first invention of the present application involves degreasing and cleaning the substrate to be plated, and thermally decomposing the organometallic complex containing carbon and sulfur. Forming a metal sulfide film composed of a metal sulfide to be generated on the substrate, depositing a catalyst on the substrate in an activating solution, and electroless plating on the substrate in an electroless plating solution. Characterize.
【0016】又、本願第1発明の鍍金方法は、上記の課
題を解決するために、鍍金されるべき基板は、ガラス、
セラミックス、プラスチック、ゴム等で構成される絶縁
性基板、或いは、アルミニウム、アルミニウム合金等の
アルカリ土類金属、チタン、タンタル、タングステン等
の弁作用金属基板であることが好適である。In the plating method of the first invention of the present application, in order to solve the above problems, the substrate to be plated is glass,
An insulating substrate made of ceramics, plastics, rubber or the like, or a valve action metal substrate of alkaline earth metal such as aluminum or aluminum alloy, titanium, tantalum or tungsten is preferable.
【0017】又、本願第1発明の鍍金方法は、上記の課
題を解決するために、炭素、硫黄を含む有機金属錯体
は、金属カルバミン酸錯体、金属イミダゾール錯体、金
属チアゾール錯体、金属ザンテート錯体の単体もしくは
これらの混合体であることが好適である。Further, in order to solve the above-mentioned problems, the plating method of the first invention of the present application is such that the organometallic complex containing carbon and sulfur is a metal carbamic acid complex, a metal imidazole complex, a metal thiazole complex or a metal xanthate complex. A single substance or a mixture thereof is preferable.
【0018】又、本願第1発明の鍍金方法は、上記の課
題を解決するために、有機金属錯体の熱分解は、鍍金さ
れるべき基板を前記有機金属錯体の溶液に浸漬して取り
出し、前記基板を前記有機金属錯体の熱分解温度以上に
加熱することによることが好適である。In order to solve the above-mentioned problems, the plating method of the first invention of the present application is such that the organic metal complex is thermally decomposed by immersing the substrate to be plated in a solution of the organic metal complex and taking out the substrate. It is preferable to heat the substrate to a temperature above the thermal decomposition temperature of the organometallic complex.
【0019】又、本願第1発明の鍍金方法は、上記の課
題を解決するために、有機金属錯体の熱分解は、前記有
機金属錯体の蒸気中で、鍍金されるべき基板を前記有機
金属錯体の熱分解温度以上に加熱することによることが
好適である。In order to solve the above-mentioned problems, the plating method of the first invention of the present application is such that the organic metal complex is pyrolyzed in a vapor of the organic metal complex, and the substrate to be plated is the organic metal complex. It is preferable to heat above the thermal decomposition temperature of.
【0020】本願第2発明の鍍金方法は、上記の課題を
解決するために、鍍金されるべき基板を脱脂洗浄し、炭
素、硫黄を含む有機金属錯体を熱分解して発生させる金
属硫化物からなる金属硫化物膜を前記基板上に形成し、
電解液に浸漬した前記基板を紫外線で部分的に選択照射
することにより、紫外線照射部分の前記金属硫化物膜を
溶出あるいは残存させ、アクティベーティング溶液中で
前記基板上の前記金属硫化物膜が残存する部分に触媒を
析出させ、前記基板上の前記触媒が析出した部分を無電
解鍍金することを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, the plating method of the second invention of the present application involves degreasing and cleaning the substrate to be plated, and removing the metal sulfide generated by thermally decomposing the organometallic complex containing carbon and sulfur. Forming a metal sulfide film on the substrate,
By selectively irradiating the substrate immersed in the electrolytic solution with ultraviolet rays, the metal sulfide film in the ultraviolet irradiation portion is eluted or remains, and the metal sulfide film on the substrate is removed in an activating solution. The catalyst is deposited on the remaining portion, and the portion of the substrate on which the catalyst is deposited is electroless plated.
【0021】[0021]
【作用】先ず、本願第1発明の鍍金方法の作用を説明す
る。一般に、ガラス、セラミックス、プラスチック、ゴ
ム等で構成される絶縁性基板は親水性に欠けるものが多
く、従来技術の無電解鍍金方法の塩化錫水溶液中でセン
シタイジング処理を施しても錫の付着状態が悪い。従っ
て、従来技術の無電解鍍金方法では、付着性を改善する
ために、絶縁性基板の表面を粗面化する粗面化工程が不
可欠である。First, the operation of the plating method of the first invention of the present application will be described. In general, many insulating substrates made of glass, ceramics, plastics, rubber, etc. lack hydrophilicity, and tin adheres even after sensitizing treatment in an aqueous solution of tin chloride, which is a conventional electroless plating method. The condition is bad. Therefore, in the conventional electroless plating method, the roughening step of roughening the surface of the insulating substrate is indispensable in order to improve the adhesion.
【0022】又、アルミニウム、アルミニウム合金等の
アルカリ土類金属、チタン、タンタル、タングステン等
の弁作用金属基板の場合には、これらの表面は、金属酸
化物膜で被覆されている。これらの金属酸化物膜は電気
的に絶縁性であり、その表面には微細孔が多数に存在す
る。例えば、アルミニウムの場合には、アルミニウムの
基板にまでは達しない蜂の巣構造の微細孔がある極めて
薄い酸化アルミニウム膜がその表面に存在する。従っ
て、従来技術の無電解鍍金方法を前記酸化皮膜を除去し
ないで行うと、錫化合物を付着させるセンシタイジング
液や触媒金属を付着させるアクティベーティング液が前
記微細孔内に残り、これらの液が腐食性が強い強酸であ
るので、耐蝕性が悪い鍍金となる。従って、従来技術の
無電解鍍金方法では、耐蝕性を改善し、且つ、密着性を
得るために、基板の表面に存在する酸化皮膜を機械的に
研磨するか化学的にエッチングするかにより除去するこ
とが不可欠になっている。Further, in the case of a valve action metal substrate such as an alkaline earth metal such as aluminum or aluminum alloy, titanium, tantalum or tungsten, the surface thereof is covered with a metal oxide film. These metal oxide films are electrically insulating and have a large number of fine pores on their surface. For example, in the case of aluminum, a very thin aluminum oxide film having fine pores of a honeycomb structure which does not reach the aluminum substrate exists on the surface thereof. Therefore, when the conventional electroless plating method is performed without removing the oxide film, a sensitizing solution for depositing a tin compound and an activating solution for depositing a catalytic metal remain in the fine pores, and these solutions Is a strong acid with strong corrosiveness, so it becomes a plating with poor corrosion resistance. Therefore, in the conventional electroless plating method, in order to improve the corrosion resistance and obtain the adhesion, the oxide film existing on the surface of the substrate is removed by mechanical polishing or chemical etching. Has become essential.
【0023】これに対して、本願第1発明の鍍金方法
は、鍍金されるべき基板を脱脂洗浄し、炭素、硫黄を含
む有機金属錯体を熱分解して発生させる金属硫化物から
なる金属硫化物膜を前記基板上に形成している。On the other hand, the plating method of the first invention of the present application is a metal sulfide consisting of a metal sulfide generated by degreasing and cleaning the substrate to be plated and thermally decomposing an organometallic complex containing carbon and sulfur. A film is formed on the substrate.
【0024】そして、有機金属錯体の熱分解は、鍍金さ
れるべき基板を前記有機金属錯体の溶液に浸漬して取り
出し、前記基板を前記有機金属錯体の熱分解温度以上に
加熱することによるか、前記有機金属錯体の蒸気中で、
鍍金されるべき基板を前記有機金属錯体の熱分解温度以
上に加熱することによる。Then, the thermal decomposition of the organometallic complex is carried out by immersing the substrate to be plated in the solution of the organometallic complex and taking it out, and heating the substrate to a temperature above the thermal decomposition temperature of the organometallic complex. In the vapor of the organometallic complex,
By heating the substrate to be plated to a temperature above the thermal decomposition temperature of the organometallic complex.
【0025】上記のようにして、有機金属錯体の熱分解
による金属硫化物からなる金属硫化物膜を基板上に形成
すると、熱によって、金属硫化物膜が、ガラス、セラミ
ックス、プラスチック、ゴム等で構成される絶縁性基板
の表面に強固に密着し、又、アルミニウム、アルミニウ
ム合金等のアルカリ土類金属、チタン、タンタル、タン
グステン等の弁作用金属基板の表面に存在する酸化皮膜
の微細孔内に浸透して強固に密着し、しかも熱分解によ
って有害な腐食性物質が残存しなくなる。As described above, when the metal sulfide film made of the metal sulfide by the thermal decomposition of the organometallic complex is formed on the substrate, the metal sulfide film is heated by the glass, ceramics, plastic, rubber or the like. It adheres firmly to the surface of the insulating substrate that is composed, and also in the fine pores of the oxide film existing on the surface of the valve action metal substrate such as alkaline earth metal such as aluminum and aluminum alloy, titanium, tantalum, and tungsten. It penetrates and adheres firmly, and no harmful corrosive substances remain due to thermal decomposition.
【0026】前記の金属硫化物膜が基板上に形成される
と、その上に、アクティベーティング溶液中で前記基板
上に触媒を析出させることができ、更に、無電解鍍金液
中で前記の触媒が析出している基板上に無電解鍍金する
ことができる。When the metal sulfide film is formed on the substrate, the catalyst can be deposited on the substrate in the activating solution, and further the catalyst can be deposited in the electroless plating solution. Electroless plating can be performed on the substrate on which the catalyst is deposited.
【0027】従って、本願第1発明の鍍金方法は、基板
に対する密着性が極めて良く、且つ、耐蝕性に優れた鍍
金が得られる。Therefore, according to the plating method of the first invention of the present application, plating having excellent adhesion to the substrate and excellent corrosion resistance can be obtained.
【0028】次に、本願第2発明の鍍金方法の作用を説
明する。Next, the operation of the plating method of the second invention of the present application will be described.
【0029】本願第2発明の鍍金方法の作用は、後述の
第2実施例により実証されるが、その理由は次のように
推定される。即ち、金属硫化物膜はn型半導体又はp型
半導体の性質を有するものが多く、これらの半導体にそ
のバンドエネルギ以上のエネルギを有する光を照射する
と、半導体内部で電荷分離が起こりホールや電子が発生
する。そして、電解液中で半導体に光を照射すると、n
型半導体の場合には、生成したホールが半導体自身を酸
化し、半導体が溶出する。p型半導体の場合には、この
現象が逆になることが知られている。これらの現象に基
づくと、前記金属硫化物膜がn型半導体の場合、これを
電解液に浸漬し、ホトマスクを当てがって紫外線を照射
すると、紫外線が照射された部分の前記金属硫化物膜が
溶出し、紫外線が照射されていない部分の前記金属硫化
物膜はそのまま残存する。従って、n型半導体である硫
化亜鉛、硫化カドミウムで構成される金属硫化物膜の場
合には、電解液中でホトマスクを使用して紫外線を照射
することにより、紫外線を照射しない部分の前記金属硫
化物膜を残存させることができる。金属硫化物膜がp型
半導体である硫化銅の場合には、逆の現象が起こり、紫
外線を照射した部分の前記金属硫化物膜が残存する。The operation of the plating method of the second invention of the present application will be demonstrated by the second embodiment described later, and the reason is presumed as follows. That is, many metal sulfide films have the property of an n-type semiconductor or a p-type semiconductor, and when these semiconductors are irradiated with light having energy higher than the band energy, charge separation occurs inside the semiconductor and holes and electrons are generated. appear. When the semiconductor is irradiated with light in the electrolytic solution, n
In the case of a type semiconductor, the generated holes oxidize the semiconductor itself, and the semiconductor is eluted. It is known that this phenomenon is reversed in the case of a p-type semiconductor. Based on these phenomena, when the metal sulfide film is an n-type semiconductor, when the metal sulfide film is immersed in an electrolytic solution and a photomask is applied to irradiate it with ultraviolet rays, the portion of the metal sulfide film irradiated with ultraviolet rays is exposed. Is eluted and the metal sulfide film in the portion not irradiated with ultraviolet rays remains as it is. Therefore, in the case of a metal sulfide film composed of n-type semiconductors such as zinc sulfide and cadmium sulfide, by irradiating ultraviolet rays using a photomask in an electrolytic solution, the metal sulfide film in the portion not irradiated with ultraviolet rays is The product film can be left. When the metal sulfide film is copper sulfide which is a p-type semiconductor, the opposite phenomenon occurs, and the metal sulfide film in the portion irradiated with ultraviolet rays remains.
【0030】上記により、ホトマスクの形状に従って所
要のパターンの無電解鍍金、電解鍍金をすることができ
る。As described above, electroless plating or electrolytic plating having a desired pattern can be performed according to the shape of the photomask.
【0031】従って、本願第2発明の鍍金方法では、鍍
金されるべき基板を脱脂洗浄し、炭素、硫黄を含む有機
金属錯体を熱分解して発生させる金属硫化物からなる金
属硫化物膜を前記基板上に形成し、電解液に浸漬した前
記基板を紫外線で部分的に選択照射することにより、紫
外線照射部分の前記金属硫化物膜を溶出あるいは残存さ
せ、アクティベーティング溶液中で前記基板上の前記金
属硫化物膜が残存する部分に触媒を析出させ、前記基板
上の前記触媒が析出した部分を無電解鍍金する。Therefore, in the plating method of the second invention of the present application, the substrate to be plated is degreased and washed, and the metal sulfide film composed of the metal sulfide generated by thermally decomposing the organometallic complex containing carbon and sulfur is generated. By selectively irradiating the substrate, which is formed on the substrate and immersed in an electrolytic solution, with ultraviolet rays, the metal sulfide film in the portion irradiated with ultraviolet rays is eluted or remains, and the metal sulfide film on the substrate is exposed in an activating solution. A catalyst is deposited on the portion where the metal sulfide film remains, and the portion where the catalyst is deposited on the substrate is electroless plated.
【0032】[0032]
【実施例】本発明の鍍金方法の第1実施例を図1に基づ
いて説明する。EXAMPLE A first example of the plating method of the present invention will be described with reference to FIG.
【0033】本実施例は、炭素と硫黄を含む各種の有機
金属錯体を用いて鍍金されるべき基板上に金属硫化物膜
を形成した後に、無電解鍍金、電解鍍金を行うものであ
る。In this embodiment, a metal sulfide film is formed on a substrate to be plated using various organometallic complexes containing carbon and sulfur, and then electroless plating and electrolytic plating are performed.
【0034】図1において、1は、鍍金されるべき基板
である。基板1には、ガラス、セラミックス、プラスチ
ック、ゴム等の絶縁性基板1aと、アルミニウム、チタ
ン、タンタル、タングステン及びこれらの金属の合金等
の弁作用金属基板1bとが使用できる。弁作用金属基板
1bの場合には、基板の表面に酸化皮膜2が存在する。
従来技術では酸化皮膜2は鍍金の邪魔になるのでこれを
除去する必要があるが、本実施例では、鍍金の邪魔には
ならず、却って、鍍金膜の基板への密着性を向上する作
用を有するので除去しないで鍍金を行う。そして、予
め、陽極酸化工程によって酸化皮膜2を形成すること
が、耐蝕性、密着性を向上するために好ましいが必須で
はない。In FIG. 1, reference numeral 1 is a substrate to be plated. As the substrate 1, an insulating substrate 1a made of glass, ceramics, plastic, rubber or the like, and a valve action metal substrate 1b made of aluminum, titanium, tantalum, tungsten or an alloy of these metals can be used. In the case of the valve action metal substrate 1b, the oxide film 2 exists on the surface of the substrate.
In the prior art, the oxide film 2 interferes with the plating and must be removed. However, in this embodiment, the oxide film 2 does not interfere with the plating, but rather has an effect of improving the adhesion of the plating film to the substrate. Since it has, it is plated without removing it. It is preferable, but not essential, to form the oxide film 2 in advance by an anodic oxidation process in order to improve the corrosion resistance and the adhesion.
【0035】先ず、脱脂工程において、絶縁性基板1a
又は弁作用金属基板1bをフロン等の有機溶媒で脱脂す
る。First, in the degreasing step, the insulating substrate 1a
Alternatively, the valve action metal substrate 1b is degreased with an organic solvent such as CFC.
【0036】金属硫化物膜形成工程において、炭素と硫
黄を含む各種の有機金属錯体を用いて鍍金されるべき基
板上に金属硫化物膜3を形成する。炭素と硫黄を含む各
種の有機金属錯体としては、化学式(1)に示す金属カ
ルバミン酸錯体、化学式(2)に示す金属イミダゾール
錯体、化学式(3)に示す金属チアゾール錯体、化学式
(4)に示す金属ザンテート錯体等を初め、炭素と硫黄
とを含む有機金属錯体を使用する。In the metal sulfide film forming step, the metal sulfide film 3 is formed on the substrate to be plated by using various organic metal complexes containing carbon and sulfur. Examples of various organometallic complexes containing carbon and sulfur include a metal carbamic acid complex represented by the chemical formula (1), a metal imidazole complex represented by the chemical formula (2), a metal thiazole complex represented by the chemical formula (3), and a chemical formula (4). An organic metal complex containing carbon and sulfur, such as a metal xanthate complex, is used.
【0037】[0037]
【化1】 Embedded image
【0038】化学式(1)において、R1 、R2 は、C
H3 基、C2 H5 基、C3 H7 基、C4 H9 基等のアル
キル基、シクロアルキル基、フェニルアルキル基等の置
換可能な基全般を表し、それぞれは同一もしくは異なっ
た基である。又、Xは1以上の整数で、種々の金属(M
e)の価数に等しい数である。In the chemical formula (1), R 1 and R 2 are C
H 3 group, C 2 H 5 group, C 3 H 7 group, C 4 H 9 group, and other alkyl groups, cycloalkyl group, phenylalkyl group, and all other substitutable groups, each of which is the same or different. Is. In addition, X is an integer of 1 or more, and various metals (M
It is a number equal to the valence of e).
【0039】[0039]
【化2】 Embedded image
【0040】化学式(2)において、R1 、R2 、R3
は、CH3 基、C2 H5 基、C3 H7 基、C4 H9 基等
のアルキル基、シクロアルキル基、フェニルアルキル基
等の置換可能な基全般を表し、それぞれは同一もしくは
異なった基である。又、Xは1以上の整数で、種々の金
属(Me)の価数に等しい数である。In the chemical formula (2), R 1 , R 2 , R 3
Represents an all-substitutable group such as an alkyl group such as a CH 3 group, a C 2 H 5 group, a C 3 H 7 group, a C 4 H 9 group, a cycloalkyl group, a phenylalkyl group, etc., each of which is the same or different. It is a base. Further, X is an integer of 1 or more, which is a number equal to the valence of various metals (Me).
【0041】[0041]
【化3】 Embedded image
【0042】化学式(3)において、R1 、R2 、R3
は、CH3 基、C2 H5 基、C3 H7 基、C4 H9 基等
のアルキル基、シクロアルキル基、フェニルアルキル基
等の置換可能な基全般を表し、それぞれは同一もしくは
異なった基である。又、Xは1以上の整数で、種々の金
属(Me)の価数に等しい数である。In the chemical formula (3), R 1 , R 2 , R 3
Represents an all-substitutable group such as an alkyl group such as a CH 3 group, a C 2 H 5 group, a C 3 H 7 group, a C 4 H 9 group, a cycloalkyl group, a phenylalkyl group, etc., each of which is the same or different. It is a base. Further, X is an integer of 1 or more, which is a number equal to the valence of various metals (Me).
【0043】[0043]
【化4】 [Chemical 4]
【0044】化学式(4)において、R1 は、CH
3 基、C2 H5 基、C3 H7 基、C4 H9 基等のアルキ
ル基、シクロアルキル基、フェニルアルキル基等の置換
可能な基全般を表し、それぞれは同一もしくは異なった
基である。又、Xは1以上の整数で、種々の金属(M
e)の価数に等しい数である。In the chemical formula (4), R 1 is CH
3 groups, C 2 H 5 groups, C 3 H 7 groups, C 4 H 9 groups, and other alkyl groups, cycloalkyl groups, phenylalkyl groups, and other substitutable groups are all represented by the same or different groups. is there. In addition, X is an integer of 1 or more, and various metals (M
It is a number equal to the valence of e).
【0045】前記有機金属錯体を用いて基板1上に金属
硫化物膜3を形成するには次の2つの方法がある。There are the following two methods for forming the metal sulfide film 3 on the substrate 1 using the organometallic complex.
【0046】第1の方法では、これらの有機金属錯体の
単体又は2種以上の混合体を溶解させた有機溶媒中に基
板1を浸漬し、取り出した後に、前記基板1を加熱して
付着している前記有機金属錯体を熱分解させ、分解して
できた金属硫化物によって金属硫化物膜3を形成する。In the first method, the substrate 1 is immersed in an organic solvent in which a simple substance or a mixture of two or more kinds of these organometallic complexes is dissolved, taken out, and then the substrate 1 is heated and attached. The metal sulfide film 3 is formed by thermally decomposing the above-mentioned organometallic complex and decomposing the metal sulfide.
【0047】このようにすると、前記溶液は濡れ性が良
いので、前記絶縁性基板1aの表面を濡らし、弁作用金
属基板1bの表面の酸化皮膜に多数存在する微小孔に含
浸する。この状態で前記基板1を前記溶液から取り出し
て加熱し、前記有機金属錯体を熱分解して金属硫化物膜
を形成すると、加熱の作用により前記金属硫化物膜の前
記絶縁性基板1aへの密着性が良くなり、或いは、前記
金属硫化物が前記弁作用金属基板1b表面の酸化皮膜に
多数存在する微細孔内部に浸み込んだ状態で金属硫化物
膜になるので前記金属硫化物膜の前記弁作用金属基板1
bへの密着性が極めて良くなる。In this way, since the solution has good wettability, it wets the surface of the insulating substrate 1a and impregnates a large number of micropores existing in the oxide film on the surface of the valve action metal substrate 1b. In this state, the substrate 1 is taken out of the solution and heated to thermally decompose the organometallic complex to form a metal sulfide film. When the metal sulfide film is formed, the metal sulfide film adheres to the insulating substrate 1a by the action of heating. Of the metal sulfide film or the metal sulfide film becomes a metal sulfide film in a state where the metal sulfide penetrates into the fine pores present in the oxide film on the surface of the valve action metal substrate 1b in large numbers. Valve metal substrate 1
The adhesion to b is extremely improved.
【0048】前記有機金属錯体を溶解させる有機溶媒と
しては、ディメチルホルムアミド(DMF)、アセトニ
トリル(ACN)、ディメチルスルフォキサイド(DM
SO)、キシレン、ベンゼン等の有機溶媒を使用する
が、有機溶媒に限らず、前記有機金属錯体を溶解させ得
る溶媒は総て使用可能である。例えば、錯体の末端基に
水酸基を有する前記有機金属錯体の場合には水系溶媒も
使用可能である。As the organic solvent for dissolving the organometallic complex, dimethylformamide (DMF), acetonitrile (ACN), dimethylsulfoxide (DM) can be used.
Although an organic solvent such as SO), xylene, or benzene is used, the solvent is not limited to the organic solvent, and any solvent capable of dissolving the organometallic complex can be used. For example, in the case of the organometallic complex having a hydroxyl group at the terminal group of the complex, an aqueous solvent can be used.
【0049】第2の方法では、前記の有機金属錯体の単
体又は2種以上の混合体を加熱して気化させ、前記有機
金属錯体の蒸気中に基板1を置き、前記基板1を前記有
機金属錯体の熱分解温度以上に加熱することにより、前
記基板1の表面に金属硫化物膜3を形成する。In the second method, a single substance or a mixture of two or more kinds of the above-mentioned organometallic complex is heated to be vaporized, the substrate 1 is placed in the vapor of the organometallic complex, and the substrate 1 is placed in the organometallic complex. By heating above the thermal decomposition temperature of the complex, the metal sulfide film 3 is formed on the surface of the substrate 1.
【0050】この場合にも、加熱の作用により前記金属
硫化物膜の前記絶縁性基板1aへの密着性が良くなり、
或いは、前記金属硫化物が前記弁作用金属基板1b表面
の酸化皮膜に多数存在する微細孔内部に入り込んだ状態
で金属硫化物膜になるので前記金属硫化物膜の前記弁作
用金属基板1bへの密着性が極めて良くなる。Also in this case, the adhesion of the metal sulfide film to the insulating substrate 1a is improved by the action of heating,
Alternatively, since the metal sulfide becomes a metal sulfide film in a state in which a large number of fine holes exist in the oxide film on the surface of the valve action metal substrate 1b, the metal sulfide film is applied to the valve action metal substrate 1b. The adhesion is extremely good.
【0051】上記のようにして、基板1上に金属硫化物
膜3を形成した後は、従来技術の無電解鍍金方法のアク
ティベーティング処理工程以降の処理を行う。即ち、前
記の表面に金属硫化物膜3を形成させた基板1を、塩化
パラジウム、塩化白金等の触媒溶液中に浸漬してパラジ
ウム膜4等の触媒膜を形成する。After the metal sulfide film 3 is formed on the substrate 1 as described above, the treatments after the activation treatment step of the conventional electroless plating method are performed. That is, the substrate 1 having the metal sulfide film 3 formed on the surface is immersed in a catalyst solution such as palladium chloride or platinum chloride to form a catalyst film such as a palladium film 4.
【0052】無電解鍍金工程で、前記の表面にパラジュ
ウム膜4を有する基板1を無電解鍍金液中にに浸漬して
鍍金すべき金属、例えば、銅、ニッケル、金等の無電解
鍍金液膜5を析出させる。更に、必要に応じて前記の無
電解鍍金膜5上に所望の電気鍍金を行う。In the electroless plating step, the substrate 1 having the palladium film 4 on the surface is immersed in the electroless plating solution and plated with a metal, for example, an electroless plating solution film of copper, nickel, gold or the like. Precipitate 5. Furthermore, if necessary, desired electroplating is performed on the electroless plating film 5.
【0053】本実施例によって得られる無電解鍍金膜5
は、従来技術で行っている粗面化工程が無いにもかかわ
らず、基板1に対する密着度がすぐれているのが特長で
ある。Electroless plating film 5 obtained by this embodiment
The feature is that the adhesiveness to the substrate 1 is excellent even though there is no roughening step performed in the prior art.
【0054】以下に、炭素と硫黄とを含む各種の有機金
属錯体を使用した場合の例を、アルミナ基板1aに無電
解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第1〜第9例と、チタ
ン酸バリウム基板1aに無電解鍍金と電解鍍金とを行う
場合の第10例と、ジルコン酸アンチモン基板1aに無
電解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第11例と、弁作用
金属基板1bに無電解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第
12〜第14例と、非晶質セラミックス基板1aに無電
解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第15例と、プラスチ
ック基板1aに無電解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第
16〜第18例と、アルミナ基板1aに無電解鍍金と電
解鍍金とを行う場合の第19例と、ジルコン酸アンチモ
ン基板1aに無電解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第2
0〜26例とに分けて図1に基づいて説明する。Examples of the case of using various organometallic complexes containing carbon and sulfur will be described below. Examples 1 to 9 of electroless plating and electrolytic plating of the alumina substrate 1a, and titanic acid. Tenth example of performing electroless plating and electrolytic plating on the barium substrate 1a, eleventh example of performing electroless plating and electrolytic plating on the antimony zirconate substrate 1a, and electroless plating on the valve action metal substrate 1b. Twelfth to fourteenth examples in the case of performing plating and electrolytic plating, fifteenth example in the case of performing electroless plating and electrolytic plating on the amorphous ceramics substrate 1a, and electroless plating and electrolytic plating on the plastic substrate 1a. Examples 16 to 18 in the case of performing the above, Example 19 in the case of performing electroless plating and electrolytic plating in the alumina substrate 1a, and Cases of performing the electroless plating and electrolytic plating in the antimony zirconate substrate 1a Second
It will be described based on FIG. 1 separately for 0 to 26 examples.
【0055】第1例は、アルミナを主体とするセラミッ
クス製の厚さ1mm×幅1cm×長さ2cmの基板1a
を使用し、洗浄工程で前記基板1aをフロン洗浄剤で洗
浄し、続いて、粗面化処理を行わずに、金属硫化物膜形
成工程において、化学式(5)に示す銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の0.5モルをキシレンに分散
溶解した有機溶液中に前記基板1aを15分間浸漬して
取り出し、150°Cで乾燥後、350°Cのオーブン
中で30分間加熱して硫化銅を主体とする金属硫化物膜
3を前記基板1a上に形成した。The first example is a substrate 1a made of ceramics mainly composed of alumina and having a thickness of 1 mm, a width of 1 cm and a length of 2 cm.
Is used to clean the substrate 1a with a chlorofluorocarbon cleaning agent, and subsequently, in a metal sulfide film forming step without roughening treatment, copper / dimethyldithiol represented by the chemical formula (5) is used. The substrate 1a was immersed in an organic solution in which 0.5 mol of a carbamic acid complex was dispersed and dissolved in xylene for 15 minutes, taken out, dried at 150 ° C., and then heated in an oven at 350 ° C. for 30 minutes to form copper sulfide. A metal sulfide film 3 mainly composed of is formed on the substrate 1a.
【0056】[0056]
【化5】 Embedded image
【0057】以後は、従来技術の無電解鍍金処理を行っ
た。即ち、アクティベーティング処理工程で、1×10
-3モルの塩化パラジウム/塩酸溶液中に金属硫化物膜3
を形成した前記基板1aを浸漬し、前記基板1aの表面
にパラジウム膜4を付着させ、無電解鍍金工程で、奥野
製薬製の無電解銅鍍金液(商品名:OPCカッパー)に
15分間浸漬して無電解銅鍍金を行い、更に、析出した
無電解銅鍍金上にピロリン酸銅よりなる電解鍍金液中で
約10ミクロンの厚さに銅を電解析出させた。Thereafter, the conventional electroless plating treatment was performed. That is, in the activation process step, 1 × 10
-Metal sulfide film 3 in 3 molar palladium chloride / hydrochloric acid solution 3
The substrate 1a on which the substrate has been formed is dipped, the palladium film 4 is attached to the surface of the substrate 1a, and in the electroless plating process, it is dipped in an electroless copper plating solution (trade name: OPC copper) manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd. for 15 minutes. Then, electroless copper plating was performed, and copper was electrolytically deposited on the deposited electroless copper plating in an electrolytic plating solution containing copper pyrophosphate to a thickness of about 10 μm.
【0058】鍍金した銅のアルミナへの密着強度を調べ
るために引っ張り強度試験を行った結果、4mm2 当た
り2.8kgの強度を得た。A tensile strength test was conducted to investigate the adhesion strength of the plated copper to alumina, and a strength of 2.8 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0059】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じアルミナ基板1a上に従来技術の無電解銅鍍金と電
解銅鍍金とで施した場合の引っ張り強度試験を行った
が、その結果は0.09kgであり、本実施例が粗面化
処理無しに優れた密着強度を得ることを確認した。For comparison, a tensile strength test was carried out when the conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating were performed on the same alumina substrate 1a which had not been roughened, and the results were obtained. It was 0.09 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0060】尚、本実施例では、従来技術の無電解鍍金
処理をアクティベーティング処理工程から行っている
が、アクティベーティング処理工程の前に、センシタイ
ジング処理工程を入れても同様の結果が得られる。In this embodiment, the electroless plating process of the prior art is performed from the activating process step. However, the same result can be obtained by inserting the sensitizing process step before the activating process step. Is obtained.
【0061】第2例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに亜鉛・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体を使用し硫化亜鉛膜3を形成した
もので、4mm2 当たり2.5kgの強度を得た。[0061] The second example, in the first example, but using a zinc di-methyl di thiocarbamate complex instead of copper di-methyl di thiocarbamate complex to form a zinc sulfide layer 3, 4 mm 2 per A strength of 2.5 kg was obtained.
【0062】第3例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりにカドミ・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体を使用し硫化カドミ膜3を形成
したもので、4mm2 当たり2.6kgの強度を得た。[0062] third example, in the first example, which was in place of copper di-methyl di thiocarbamate complex using cadmium di-methyl di thiocarbamate complex to form a cadmium sulfide film 3, 4 mm 2 per A strength of 2.6 kg was obtained.
【0063】第4例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに錫・ディメチルディチ
オカルバミン酸錯体を使用し硫化錫膜3を形成したもの
で、4mm2 当たり2.3kgの強度を得た。[0063] The fourth example, in the first example, made by forming a copper-di-methyl di thiocarbamate tin sulfide film 3 using tin di-methyl di thiocarbamate complex instead of the complex, 4 mm 2 per A strength of 2.3 kg was obtained.
【0064】第5例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに銅・ディエチルディチ
オカルバミン酸錯体を使用し硫化銅膜3を形成したもの
で、4mm2 当たり2.0kgの強度を得た。[0064] The fifth example, in the first example, in which instead of the copper-di-methyl di thiocarbamate complex using copper-Dieci Rudy thiocarbamate complex to form copper sulfide film 3, 4 mm 2 per 2 A strength of 0.0 kg was obtained.
【0065】第6例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに銅・ディブチルディチ
オカルバミン酸錯体を使用し硫化銅膜3を形成したもの
で、4mm2 当たり2.0kgの強度を得た。[0065] Example 6 is a first example, in which copper is used di-butyl di thiocarbamate complex instead of copper di-methyl di thiocarbamate complex to form a copper sulfide film 3, 4 mm 2 per A strength of 2.0 kg was obtained.
【0066】第7例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに銅・エチルフェニルデ
ィチオカルバミン酸錯体を使用し硫化銅膜3を形成した
もので、4mm2 当たり2.7kgの強度を得た。[0066] Example 7 is a first example, which was in place of copper di-methyl di thiocarbamate complex using copper-ethylphenyl di thiocarbamate complex to form a copper sulfide film 3, 4 mm 2 per A strength of 2.7 kg was obtained.
【0067】第8例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりにディベンジルディチオ
カルバミン酸銅を使用し硫化銅膜3を形成したもので、
4mm2 当たり2.4kgの強度を得た。The eighth example is the first example, in which copper dibenzyldithiocarbamate is used instead of the copper-dimethyldithiocarbamate complex to form the copper sulfide film 3.
A strength of 2.4 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0068】第9例は、第1例で、銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりにn−ペンタメチレンデ
ィチオカルバミン酸銅を使用し硫化銅膜3を形成したも
ので、4mm2 当たり2.4kgの強度を得た。[0068] Example 9 is a first example, those using n- pentamethylene di thiocarbamate copper instead of copper di-methyl di thiocarbamate complex to form copper sulfide film 3, 4 mm 2 per A strength of 2.4 kg was obtained.
【0069】第10例は、第1例で、アルミナを主体と
するセラミックスの代わりにチタン酸バリウムを主体と
するセラミックスを使用したもので、4mm2 当たり
2.7kgの強度を得た。比較のために、粗面化処理を
行っていない同じチタン酸バリウム基板1a上に従来技
術の無電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合
の引っ張り強度試験を行ったが、その結果は0.1kg
であり、本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を
得ることを確認した。The tenth example is the first example, which uses ceramics mainly containing barium titanate instead of ceramics mainly containing alumina, and a strength of 2.7 kg per 4 mm 2 was obtained. For comparison, a tensile strength test was performed when copper plating was performed with the conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating on the same barium titanate substrate 1a that had not been surface-roughened. The result is 0.1 kg
Therefore, it was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0070】第11例は、第1例で、アルミナを主体と
するセラミックスの代わりにジルコン酸アンチモンを主
体とするセラミックスを使用したもので、4mm2 当た
り1.9kgの強度を得た。比較のために、粗面化処理
を行っていない同じジルコン酸アンチモン基板1a上に
従来技術の無電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施し
た場合の引っ張り強度試験を行ったが、その結果は0.
1kgであり、本実施例が粗面化処理無しに優れた密着
強度を得ることを確認した。The eleventh example is the first example, in which ceramics mainly containing antimony zirconate was used instead of ceramics mainly containing alumina, and a strength of 1.9 kg per 4 mm 2 was obtained. For comparison, a tensile strength test was performed when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a that had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result is 0.
It was 1 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0071】第12例は、第1例のアルミナを主体とす
るセラミックスの代わりにアルミニウム製の厚さ1mm
×幅1cm×長さ2cmの基板1bを使用し、粗面化処
理を行わずに、洗浄工程で前記基板1bをフロン洗浄剤
を使用して洗浄し、陽極酸化工程で1規定硫酸溶液中で
10Vの直流電圧を印加してアルミニウム表面に酸化ア
ルミニウムを形成し、金属硫化物膜形成工程で、銅・デ
ィメチルディチオカルバミン酸錯体の1モルを含むディ
メチルフォルムアミド中に前記基板1bを15分間浸漬
して取り出し、150°Cで乾燥後、350°Cのオー
ブン中で30分間加熱して硫化銅を主体とする金属硫化
物膜3を前記基板1b上に形成した。In the twelfth example, instead of the ceramics containing alumina as the first example, a thickness of 1 mm made of aluminum is used.
A substrate 1b having a width of 1 cm and a length of 2 cm was used, and the substrate 1b was washed with a chlorofluorocarbon cleaning agent in the washing step without roughening the surface, and then in a 1N sulfuric acid solution in the anodizing step. A direct current voltage of 10 V is applied to form aluminum oxide on the aluminum surface, and the substrate 1b is added to dimethylformamide containing 1 mol of the copper-dimethyldithiocarbamic acid complex in the step of forming a metal sulfide film. It was immersed in the substrate for 1 minute, taken out, dried at 150 ° C., and then heated in an oven at 350 ° C. for 30 minutes to form a metal sulfide film 3 mainly containing copper sulfide on the substrate 1b.
【0072】以後は、従来技術の無電解鍍金処理を行っ
た。即ち、アクティベーティング処理工程で、1×10
-3モルの塩化パラジウム/塩酸溶液中に金属硫化物膜3
を形成した前記基板1bを浸漬し、前記基板1bの表面
にパラジウム膜4を付着させ、無電解鍍金工程で、奥野
製薬製の無電解銅鍍金液(商品名:OPCカッパー)に
15分間浸漬して無電解銅鍍金を行い、更に、析出した
無電解銅鍍金上にピロリン酸銅よりなる電解鍍金液中で
約10ミクロンの厚さに銅を電解析出させた。Thereafter, the conventional electroless plating treatment was performed. That is, in the activation process step, 1 × 10
-Metal sulfide film 3 in 3 molar palladium chloride / hydrochloric acid solution 3
Immersing the substrate 1b having formed thereon, depositing the palladium film 4 on the surface of the substrate 1b, and immersing it in an electroless copper plating solution (trade name: OPC copper) manufactured by Okuno Chemical Industries for 15 minutes in the electroless plating process. Then, electroless copper plating was performed, and copper was electrolytically deposited on the deposited electroless copper plating in an electrolytic plating solution containing copper pyrophosphate to a thickness of about 10 μm.
【0073】鍍金した銅のアルミナへの密着強度を調べ
るために引っ張り強度試験を行った結果、4mm2 当た
り2.5kgの強度を得た。A tensile strength test was conducted to examine the adhesion strength of plated copper to alumina, and a strength of 2.5 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0074】比較のために、同じアルミニウム基板1b
上に陽極酸化工程で酸化アルミニウムを形成した後に、
従来技術の無電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施し
た場合の引っ張り強度試験を行ったが、その結果は0.
03kgであり、本実施例が粗面化処理無しに優れた密
着強度を得ることを確認した。For comparison, the same aluminum substrate 1b is used.
After forming aluminum oxide in the anodizing process on the
A tensile strength test was carried out when copper plating was performed using conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result was 0.
It was 03 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0075】又、耐蝕性を調べるために、本例と従来例
で銅鍍金を行ったアルミニウム板にASTM試験を行っ
た。この試験では、試験溶液として、5%塩化ナトリウ
ム溶液を酢酸にてpH3.2に調整したものを使用し、
この溶液による塩霧試験を60°Cで行った。その結
果、250時間経過後、本例のアルミニウム板には何ら
の腐食を認めなかったが、従来例のアルミニウム板には
著しい食孔の発生が認められた。Further, in order to examine the corrosion resistance, an ASTM test was conducted on an aluminum plate plated with copper in this example and the conventional example. In this test, a 5% sodium chloride solution adjusted to pH 3.2 with acetic acid was used as a test solution.
A salt fog test with this solution was performed at 60 ° C. As a result, after 250 hours, no corrosion was observed in the aluminum plate of this example, but significant pitting was observed in the aluminum plate of the conventional example.
【0076】第13例は、第1例で、アルミナを主体と
するセラミックスの代わりにチタン基板1bを使用した
もので、4mm2 当たり2.5kgの強度を得た。The thirteenth example is the first example, in which the titanium substrate 1b is used instead of the ceramics mainly containing alumina, and a strength of 2.5 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0077】比較のために、同じチタン基板1b上に陽
極酸化工程で酸化チタンを形成した後に、従来技術の無
電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ
張り強度試験を行ったが、その結果は0.02kgであ
り、本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得る
ことを確認した。For comparison, a tensile strength test is conducted in the case where titanium oxide is formed on the same titanium substrate 1b by an anodic oxidation process, and then copper plating is performed using conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result was 0.02 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0078】第14例は、第1例で、アルミナを主体と
するセラミックスの代わりにタングステン基板1bを使
用したもので、4mm2 当たり1.7kgの強度を得
た。The fourteenth example is the first example, in which the tungsten substrate 1b is used instead of the ceramics mainly containing alumina, and a strength of 1.7 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0079】比較のために、同じタングステン基板1b
上に陽極酸化工程で酸化チタンを形成した後に、従来技
術の無電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合
の引っ張り強度試験を行ったが、その結果は0.02k
gであり、本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度
を得ることを確認した。For comparison, the same tungsten substrate 1b is used.
A tensile strength test was performed when copper was plated with conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating after titanium oxide was formed by an anodizing process on the surface, and the result was 0.02 k.
It was confirmed that this example obtained excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0080】第15例は、第1例で、アルミナを主体と
するセラミックス基板1aの代わりに鉛ガラスを主体と
する非晶質セラミックス基板1aを使用したもので、4
mm2 当たり3.1kgの強度を得た。The fifteenth example is the first example, in which an amorphous ceramics substrate 1a mainly made of lead glass is used instead of the ceramics substrate 1a mainly made of alumina.
A strength of 3.1 kg per mm 2 was obtained.
【0081】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じ鉛ガラスを主体とする非晶質セラミックス基板1a
上に従来技術の無電解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を
施した場合の引っ張り強度試験を行ったが、その結果は
0.6kgであり、本実施例が粗面化処理無しに優れた
密着強度を得ることを確認した。For comparison, an amorphous ceramic substrate 1a mainly made of the same lead glass which has not been roughened.
A tensile strength test was performed when copper plating was performed on the above electroless copper plating and electrolytic copper plating of the prior art. The result was 0.6 kg, and this example is excellent without roughening treatment. It was confirmed that good adhesion strength was obtained.
【0082】第16例は、ポリプロピレンからなるプラ
スチック製の厚さ1mm×幅1cm×長さ2cmの基板
1aを使用し、粗面化処理を行わずに、前記基板1aを
洗浄工程でフロン洗浄剤を使用して洗浄し、金属硫化物
膜形成工程で、0.05モルの銅・メチル・エチルヒド
ロキシルディチオカルバミン酸錯体/DFM溶媒中に前
記基板1aを10分間浸漬して取り出し、100°Cの
オーブン中で30分間加熱して硫化銅を主体とする金属
硫化物膜3を前記基板1a上に形成した。The sixteenth example uses a substrate 1a made of polypropylene made of plastic and having a thickness of 1 mm, a width of 1 cm and a length of 2 cm, and the substrate 1a is subjected to a cleaning process without a roughening treatment. In a metal sulfide film forming step, the substrate 1a is immersed in 0.05 mol of a copper-methyl-ethylhydroxyldithiocarbamic acid complex / DFM solvent for 10 minutes and taken out, and the temperature is set to 100 ° C. By heating in an oven for 30 minutes, a metal sulfide film 3 mainly containing copper sulfide was formed on the substrate 1a.
【0083】以後は、従来技術の無電解鍍金処理を行っ
た。即ち、アクティベーティング処理工程で、1×10
-3モルの塩化パラジウム/塩酸溶液中に金属硫化物膜3
を形成した前記基板1aを浸漬し、前記基板1aの表面
にパラジウム膜4を付着させ、無電解鍍金工程で、奥野
製薬製の無電解銅鍍金液(商品名:OPCカッパー)に
15分間浸漬して無電解銅鍍金を行い、更に、析出した
無電解銅鍍金上にピロリン酸銅よりなる電解鍍金液中で
約10ミクロンの厚さに銅を電解析出させた。Thereafter, the conventional electroless plating treatment was performed. That is, in the activation process step, 1 × 10
-Metal sulfide film 3 in 3 molar palladium chloride / hydrochloric acid solution 3
The substrate 1a on which the substrate has been formed is dipped, the palladium film 4 is attached to the surface of the substrate 1a, and in the electroless plating process, it is dipped in an electroless copper plating solution (trade name: OPC copper) manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd. for 15 minutes. Then, electroless copper plating was performed, and copper was electrolytically deposited on the deposited electroless copper plating in an electrolytic plating solution containing copper pyrophosphate to a thickness of about 10 μm.
【0084】鍍金した銅のアルミナへの密着強度を調べ
るために引っ張り強度試験を行った結果、4mm2 当た
り1.8kgの強度を得た。A tensile strength test was conducted to examine the adhesion strength of plated copper to alumina, and a strength of 1.8 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0085】比較のために、同じポリプロピレン基板1
aの表面を粗面化することなく、従来技術の無電解銅鍍
金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張り強度
試験を行ったが、その結果は0.1kgであり、本実施
例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ることを確認
した。For comparison, the same polypropylene substrate 1
Without roughening the surface of a, a tensile strength test was performed when copper plating was performed using conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result was 0.1 kg, and the result was 0.1 kg. It was confirmed that the example obtained excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0086】第17例は、第16例のポリプロピレンの
代わりにポリカーボネート樹脂からなるプラスチック製
の厚さ1mm×幅1cm×長さ2cmの基板1aを使用
したもので、4mm2 当たり2.5kgの強度を得た。The seventeenth example uses a substrate 1a made of a plastic made of a polycarbonate resin instead of the polypropylene of the sixteenth example and having a thickness of 1 mm, a width of 1 cm and a length of 2 cm, and has a strength of 2.5 kg per 4 mm 2. Got
【0087】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じポリカーボネート樹脂基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.07kgであ
り、本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得る
ことを確認した。For comparison, a tensile strength test was conducted when copper plating was performed on the same polycarbonate resin substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result was 0.07 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0088】第18例は、第16例のポリプロピレンの
代わりに塩化ビニール樹脂からなるプラスチック製の厚
さ1mm×幅1cm×長さ2cmの基板1aを使用した
もので、4mm2 当たり1.7kgの強度を得た。[0088] Example 18 is obtained by using a substrate 1a of the first 16 patients plastic thickness 1 mm × width 1 cm × length 2cm consisting of vinyl chloride resin in place of the polypropylene, of 4 mm 2 per 1.7kg Gained strength.
【0089】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じ塩化ビニール樹脂基板1a上に従来技術の無電解銅
鍍金と電解銅鍍金とで施した場合の引っ張り強度試験を
行ったが、その結果は0.09kgであり、本実施例が
粗面化処理無しに優れた密着強度を得ることを確認し
た。For comparison, a tensile strength test was conducted on the same vinyl chloride resin substrate 1a which had not been surface-roughened by the conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result was 0.09 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0090】第19例は、第1例の銅・ディメチルディ
チオカルバミン酸錯体の代わりに、銅・2メルカプトメ
チルベンゾイミダゾール錯体を使用したもので、4mm
2 当たり2.5kgの強度を得た。The nineteenth example uses a copper-2 mercaptomethylbenzimidazole complex in place of the copper-dimethyldithiocarbamic acid complex of the first example.
A strength of 2.5 kg per 2 was obtained.
【0091】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じアルミナ基板1a上に従来技術の無電解銅鍍金と電
解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張り強度試験を
行ったが、その結果は0.2kgであり、本実施例が粗
面化処理無しに優れた密着強度を得ることを確認した。For comparison, a tensile strength test was carried out when copper plating was performed on the same alumina substrate 1a which had not been roughened by the conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. The result was 0.2 kg, and it was confirmed that this example obtains excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0092】第20例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、亜鉛・2メルカプ
トメチルベンゾイミダゾール錯体を使用したもので、4
mm2 当たり2.3kgの強度を得た。The twentieth example uses a zinc / 2-mercaptomethylbenzimidazole complex instead of the copper / dimethyldithiocarbamic acid complex of the eleventh example.
A strength of 2.3 kg per mm 2 was obtained.
【0093】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.1kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was conducted when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.1 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0094】第21例は、第20例の亜鉛・2メルカプ
トメチルベンゾイミダゾール錯体の代わりに、錫・2メ
ルカプトメチルベンゾイミダゾール錯体を使用したもの
で、4mm2 当たり2.7kgの強度を得た。In the 21st example, a tin / 2mercaptomethylbenzimidazole complex was used in place of the zinc / 2mercaptomethylbenzimidazole complex of the 20th example, and a strength of 2.7 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0095】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.3kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was carried out when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.3 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0096】第22例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、銅・メルカプトベ
ンゾチアゾール錯体を使用したもので、4mm2 当たり
2.6kgの強度を得た。In the 22nd example, a copper / mercaptobenzothiazole complex was used in place of the copper / dimethyldithiocarbamic acid complex of the 11th example, and a strength of 2.6 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0097】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.2kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was conducted when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.2 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0098】第23例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、亜鉛・メルカプト
ベンゾチアゾール錯体を使用したもので、4mm2 当た
り2.7kgの強度を得た。In the twenty-third example, a zinc-mercaptobenzothiazole complex was used in place of the copper-dimethyldithiocarbamic acid complex of the eleventh example, and a strength of 2.7 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0099】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.3kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was carried out when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.3 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0100】第24例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、錫・メルカプトベ
ンゾチアゾール錯体を使用したもので、4mm2 当たり
2.0kgの強度を得た。In the 24th example, a tin-mercaptobenzothiazole complex was used in place of the copper-dimethyldithiocarbamate complex of the 11th example, and a strength of 2.0 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0101】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.1kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was carried out when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.1 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0102】第25例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、亜鉛・イソプロピ
ルザンテート錯体を使用したもので、4mm2 当たり
2.7kgの強度を得た。The 25th example uses a zinc-isopropylzanthate complex instead of the copper-dimethyldithiocarbamic acid complex of the 11th example, and a strength of 2.7 kg per 4 mm 2 was obtained.
【0103】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.2kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was conducted when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.2 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0104】第26例は、第11例の銅・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体の代わりに、銅・ブチルザンテ
ート錯体を使用したもので、4mm2 当たり2.7kg
の強度を得た。The 26th example uses a copper-butyl xanthate complex in place of the copper-dimethyldithiocarbamic acid complex of the 11th example, and is 2.7 kg per 4 mm 2.
Gained strength.
【0105】比較のために、粗面化処理を行っていない
同じジルコン酸アンチモン基板1a上に従来技術の無電
解銅鍍金と電解銅鍍金とで銅鍍金を施した場合の引っ張
り強度試験を行ったが、その結果は0.1kgであり、
本実施例が粗面化処理無しに優れた密着強度を得ること
を確認した。For comparison, a tensile strength test was conducted when copper plating was performed on the same antimony zirconate substrate 1a which had not been surface-roughened by conventional electroless copper plating and electrolytic copper plating. However, the result is 0.1 kg,
It was confirmed that this example can obtain excellent adhesion strength without roughening treatment.
【0106】尚、第1実施例では、有機金属錯体を単独
で使用し、単一金属の金属硫化物膜をえているが、有機
金属錯体を混合して使用し、異種金属の硫化物が混合し
た金属硫化物膜を形成させても同様の結果が得られる。In the first embodiment, the organometallic complex is used alone to obtain a metal sulfide film of a single metal. However, the organometallic complex is mixed and used, and the sulfides of different metals are mixed. Similar results can be obtained by forming the metal sulfide film.
【0107】次に、本発明の鍍金方法の第2実施例を図
1に基づいて説明する。Next, a second embodiment of the plating method of the present invention will be described with reference to FIG.
【0108】本実施例は、炭素と硫黄を含む各種の有機
金属錯体を用いて第1実施例と同様にして鍍金されるべ
き基板上に金属硫化物膜を形成した後に、前記基板を電
解液中でホトマスクを当てがって紫外線を照射し、前記
紫外線が照射された部分の前記金属硫化物膜を溶出ある
いは残存させ、前記金属硫化物膜が残存している部分の
みを無電解鍍金、電解鍍金するものである。In this example, various organic metal complexes containing carbon and sulfur were used to form a metal sulfide film on a substrate to be plated in the same manner as in the first example, and then the substrate was electrolyzed. Irradiate ultraviolet rays by applying a photomask in, elute or leave the metal sulfide film in the portion irradiated with the ultraviolet ray, electroless plating only the portion where the metal sulfide film remains, electrolysis It is a plating process.
【0109】本実施例により上記のことが可能であるこ
とが実証されるが、その理由は次のように推定される。
即ち、前記金属硫化物膜はn型半導体又はp型半導体の
性質を有するものが多く、これらの半導体にそのバンド
エネルギ以上のエネルギを与える光を照射すると、半導
体内部に電荷分離によりホールと電子が発生する。そし
て、電解液中で半導体に光を照射すると、n型半導体の
場合には、生成したホールが半導体自身を酸化し、前記
電解液のpH値によって、酸化した半導体が溶出し、p
型半導体の場合には、この現象が逆になることが知られ
ている。これらの現象に基づくと、前記金属硫化物膜が
n型半導体の場合、これを電解液に浸漬し、ホトマスク
を当てがって紫外線を照射すると、紫外線が照射された
部分の前記金属硫化物膜が溶出し、紫外線が照射されて
いない部分の前記金属硫化物膜はそのまま残存する。従
って、n型半導体である硫化亜鉛、硫化カドミウムで構
成される金属硫化物膜の場合には、電解液中でホトマス
クを使用して紫外線を照射することにより、紫外線非照
射部分の前記金属硫化物膜を残存させることができる。
金属硫化物膜がp型半導体である硫化銅の場合には、逆
の現象が起こり、紫外線照射部分の前記金属硫化物膜が
残存する。The present example demonstrates that the above is possible, and the reason is estimated as follows.
That is, many of the metal sulfide films have the property of an n-type semiconductor or a p-type semiconductor. When these semiconductors are irradiated with light that gives energy higher than the band energy, holes and electrons are generated inside the semiconductor due to charge separation. appear. When the semiconductor is irradiated with light in the electrolytic solution, in the case of an n-type semiconductor, the generated holes oxidize the semiconductor itself, and the oxidized semiconductor is eluted depending on the pH value of the electrolytic solution.
In the case of type semiconductors, this phenomenon is known to be reversed. Based on these phenomena, when the metal sulfide film is an n-type semiconductor, when the metal sulfide film is immersed in an electrolytic solution and a photomask is applied to irradiate it with ultraviolet rays, the portion of the metal sulfide film irradiated with ultraviolet rays is exposed. Is eluted and the metal sulfide film in the portion not irradiated with ultraviolet rays remains as it is. Therefore, in the case of a metal sulfide film composed of n-type semiconductors such as zinc sulfide and cadmium sulfide, by irradiating with ultraviolet rays using a photomask in an electrolytic solution, the metal sulfides in the non-ultraviolet rays are irradiated. The membrane can remain.
When the metal sulfide film is copper sulfide which is a p-type semiconductor, the opposite phenomenon occurs, and the metal sulfide film in the portion irradiated with ultraviolet rays remains.
【0110】上記により、ホトマスクの形状に従って所
要のパターンにのみ無電解鍍金、電解鍍金することがで
きる。As described above, electroless plating or electrolytic plating can be performed only on a desired pattern according to the shape of the photomask.
【0111】以下に、炭素と硫黄とを含む各種の有機金
属錯体を使用した場合の例を、アルミナ基板1aに無電
解鍍金と電解鍍金とを行う場合の第1〜第3例を図1に
基づいて説明する。An example of using various organometallic complexes containing carbon and sulfur is shown in FIG. 1 as a first to third example of electroless plating and electrolytic plating on the alumina substrate 1a. It will be explained based on.
【0112】第1例は、アルミナを主体とするセラミッ
クス製の厚さ0.5mm×幅3cm×長さ5cmの基板
1aを使用し、洗浄工程で前記基板1aをフロン洗浄剤
で洗浄し、続いて、粗面化処理を行わずに、金属硫化物
膜形成工程において、亜鉛・ディメチルディチオカルバ
ミン酸錯体の0.05モルをディメチルホルムアミド
(DMF)に分散溶解した有機溶液中に前記基板1aを
15分間浸漬して取り出し、300°Cのオーブン中で
30分間加熱して硫化亜鉛を主体とするn型半導体であ
る金属硫化物膜3を前記基板1a上に形成した。In the first example, a substrate 1a made of ceramics mainly composed of alumina and having a thickness of 0.5 mm × a width of 3 cm × a length of 5 cm is used, and the substrate 1a is washed with a chlorofluorocarbon cleaning agent in a washing step, Then, in the step of forming a metal sulfide film without performing a roughening treatment, the substrate was immersed in an organic solution in which 0.05 mol of a zinc-dimethyldithiocarbamic acid complex was dispersed and dissolved in dimethylformamide (DMF). 1a was soaked for 15 minutes, taken out, and heated in an oven at 300 ° C. for 30 minutes to form a metal sulfide film 3 which is an n-type semiconductor mainly containing zinc sulfide on the substrate 1a.
【0113】前記セラミックス基板1aにステンレス製
のホトマスクを当てがい、pH6.0の硫酸酸性溶液中
に浸漬し、紫外線を10分間照射した後に、前記硫酸溶
液から前記セラミックス基板1aを取り出し、水洗後、
従来技術の無電解鍍金処理を行った。即ち、アクティベ
ーティング処理工程で、1×10-3モルの塩化パラジウ
ム/塩酸溶液中に金属硫化物膜3を形成した前記基板1
aを浸漬し、前記基板1aの表面にパラジウム膜4を付
着させ、無電解鍍金工程で、奥野製薬製の無電解銅鍍金
液(商品名:OPCカッパー)に15分間浸漬して無電
解銅鍍金を行い、更に、析出した無電解銅鍍金上にピロ
リン酸銅よりなる電解鍍金液中で約10ミクロンの厚さ
に銅を電解析出させた。A stainless steel photomask was applied to the ceramics substrate 1a, and the ceramics substrate 1a was immersed in a sulfuric acid acidic solution having a pH of 6.0 and irradiated with ultraviolet rays for 10 minutes. Then, the ceramics substrate 1a was taken out from the sulfuric acid solution and washed with water.
A conventional electroless plating process was performed. That is, the substrate 1 on which the metal sulfide film 3 is formed in a 1 × 10 −3 mol palladium chloride / hydrochloric acid solution in the activation treatment step.
a, and a palladium film 4 is attached to the surface of the substrate 1a. In the electroless plating step, the electroless copper plating is performed by immersing the palladium film 4 in an electroless copper plating solution (trade name: OPC Copper) manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd. for 15 minutes. Further, copper was electrolytically deposited on the deposited electroless copper plating in an electrolytic plating solution containing copper pyrophosphate to a thickness of about 10 μm.
【0114】その結果、紫外線照射部分には銅が析出せ
ず、紫外線非照射部分にのみ銅を析出させることができ
た。As a result, copper could not be deposited on the UV-irradiated portion, and copper could be deposited only on the UV-irradiated portion.
【0115】第2例は、第1例で、亜鉛・ディメチルデ
ィチオカルバミン酸錯体/ディメチルホルムアミド(D
MF)の代わりに、カドミウム・ディメチルディチオカ
ルバミン酸錯体/ディメチルホルムアミド(DMF)を
使用しn型半導体である硫化カドミウム膜を形成したも
ので、その結果、第1例と同様に、紫外線照射部分には
銅が析出せず、紫外線非照射部分にのみ銅を析出させる
ことができた。The second example is the first example, in which zinc / dimethyldithiocarbamic acid complex / dimethylformamide (D
Instead of MF), a cadmium-dimethyldithiocarbamic acid complex / dimethylformamide (DMF) was used to form a cadmium sulfide film which is an n-type semiconductor. No copper was deposited on the irradiated part, and copper could be deposited only on the part not irradiated with ultraviolet rays.
【0116】第3例は、第1例および第2例と異なり、
p型半導体を基板表面に形成させた。先ず、銅・ディメ
チルディチオカルバミン酸錯体の0.05モルをディメ
チルホルムアミド(DMF)に溶解した有機溶液を用
い、第1例と同様にして基板表面にp型半導体である硫
化銅膜を形成し、前記基板を用い、第1例および第2例
と同様にしてその表面に銅鍍金を施した。The third example differs from the first and second examples in that
A p-type semiconductor was formed on the surface of the substrate. First, an organic solution prepared by dissolving 0.05 mol of a copper-dimethyldithiocarbamic acid complex in dimethylformamide (DMF) was used, and a copper sulfide film that was a p-type semiconductor was formed on the substrate surface in the same manner as in the first example. The substrate was formed, and the surface thereof was plated with copper in the same manner as in the first and second examples.
【0117】その結果、第1例および第2例とは逆に、
紫外線照射部分以外には銅が析出せず、紫外線照射部分
にのみ銅を析出させることができた。As a result, contrary to the first and second examples,
Copper was not deposited on the portions other than the UV irradiation portion, and copper could be deposited only on the UV irradiation portion.
【0118】[0118]
【発明の効果】本発明の鍍金方法は、少なくとも1種の
金属有機硫化物錯体を使用し、前記金属有機硫化物錯体
を熱分解させることにより、単一金属又は複数金属の硫
化物からなる金属硫化物膜を、ガラス、セラミックス、
プラスチック、ゴム等の絶縁性基板、又は、アルミニウ
ム、チタン、タンタル、タングステン及びこれらの金属
の合金等の弁作用金属基板上に形成することにより、従
来技術で行われる密着性を向上させるための前処理工程
が不要になり、且つ、基板への鍍金の密着性と耐蝕性と
が極めて良い無電解鍍金、電解鍍金を行うことができる
という効果を奏する。The plating method of the present invention uses at least one metal-organic sulfide complex and thermally decomposes the metal-organic sulfide complex to form a metal composed of a sulfide of a single metal or a plurality of metals. Sulfide film, glass, ceramics,
Before forming an insulating substrate such as plastic or rubber or a valve action metallic substrate such as aluminum, titanium, tantalum, tungsten and alloys of these metals to improve the adhesion, which is performed in the prior art. It is possible to perform electroless plating and electrolytic plating that require no treatment step and have excellent adhesion and corrosion resistance of the plating to the substrate.
【0119】そして、プラスチック成形品に本発明の鍍
金方法を使用すると、耐久性が良い金属代替装飾部品、
例えば、車の内装品が得られるという効果を奏する。When the plating method of the present invention is used for a plastic molded product, a metal substitute decorative part having good durability,
For example, there is an effect that interior parts of a car can be obtained.
【0120】又、鍍金されるべき基板上に金属硫化物膜
を形成した後に、前記基板を電解液中でホトマスクを当
てがって紫外線を照射し、前記紫外線が照射された部分
の前記金属硫化物膜を溶出あるいは残存させ、前記金属
硫化物膜が残存している部分のみを無電解鍍金、電解鍍
金することができるという効果を奏する。After forming a metal sulfide film on the substrate to be plated, the substrate is exposed to ultraviolet light by applying a photomask in an electrolytic solution, and the portion of the metal sulfide exposed to the ultraviolet light is exposed. This has the effect that the material film can be eluted or left, and only the portion where the metal sulfide film remains can be electrolessly plated or electrolytically plated.
【0121】そして、基板上に得られたパターン化した
鍍金膜を、セラミックコンデンサの電極や電子回路とし
て使用すると、鍍金膜の密着性と耐蝕性とが優れている
ので、極めて安定した電気特性が得られるという効果を
奏する。When the patterned plating film obtained on the substrate is used as an electrode or an electronic circuit of a ceramic capacitor, the adhesion and corrosion resistance of the plating film are excellent, so that extremely stable electric characteristics can be obtained. The effect is obtained.
【図1】本発明の鍍金方法を使用して得られる鍍金膜の
断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view of a plating film obtained by using the plating method of the present invention.
1 基板 1a 絶縁性基板 1b 弁作用金属基板 2 酸化皮膜 3 金属硫化物膜 4 パラジウム膜 5 無電解鍍金膜 1 Substrate 1a Insulating Substrate 1b Valve Metallic Substrate 2 Oxide Film 3 Metal Sulfide Film 4 Palladium Film 5 Electroless Plating Film
Claims (6)
素、硫黄を含む有機金属錯体を熱分解して発生させる金
属硫化物からなる金属硫化物膜を前記基板上に形成し、
アクティベーティング溶液中で前記基板上に触媒を析出
させ、無電解鍍金液中で前記基板上に無電解鍍金するこ
とを特徴とする鍍金方法。1. A substrate to be plated is degreased and washed, and a metal sulfide film made of a metal sulfide generated by thermally decomposing an organometallic complex containing carbon and sulfur is formed on the substrate.
A plating method comprising depositing a catalyst on the substrate in an activating solution and electroless plating the substrate in an electroless plating solution.
ックス、プラスチック、ゴム等で構成される絶縁性基
板、或いは、アルミニウム、アルミニウム合金等のアル
カリ土類金属、チタン、タンタル、タングステン等の弁
作用金属基板である請求項1に記載の鍍金方法。2. The substrate to be plated is an insulating substrate made of glass, ceramics, plastic, rubber or the like, or a valve action of an alkaline earth metal such as aluminum or aluminum alloy, titanium, tantalum or tungsten. The plating method according to claim 1, wherein the plating method is a metal substrate.
カルバミン酸錯体、金属イミダゾール錯体、金属チアゾ
ール錯体、金属ザンテート錯体の単体もしくはこれらの
混合体である請求項1に記載の鍍金方法。3. The plating method according to claim 1, wherein the organic metal complex containing carbon and sulfur is a metal carbamic acid complex, a metal imidazole complex, a metal thiazole complex, a metal xanthate complex, or a mixture thereof.
き基板を前記有機金属錯体の溶液に浸漬して取り出し、
前記基板を前記有機金属錯体の熱分解温度以上に加熱す
ることによる請求項1に記載の鍍金方法。4. The thermal decomposition of the organometallic complex is carried out by immersing the substrate to be plated in a solution of the organometallic complex and taking out the substrate.
The plating method according to claim 1, wherein the substrate is heated to a temperature equal to or higher than the thermal decomposition temperature of the organometallic complex.
錯体の蒸気中で、鍍金されるべき基板を前記有機金属錯
体の熱分解温度以上に加熱することによる請求項1に記
載の鍍金方法。5. The plating method according to claim 1, wherein the thermal decomposition of the organometallic complex is performed by heating the substrate to be plated at a temperature not lower than the thermal decomposition temperature of the organometallic complex in the vapor of the organometallic complex. .
素、硫黄を含む有機金属錯体を熱分解して発生させる金
属硫化物からなる金属硫化物膜を前記基板上に形成し、
電解液に浸漬した前記基板を紫外線で部分的に選択照射
することにより、紫外線照射部分の前記金属硫化物膜を
溶出あるいは残存させ、アクティベーティング溶液中で
前記基板上の前記金属硫化物膜が残存する部分に触媒を
析出させ、前記基板上の前記触媒が析出した部分を無電
解鍍金することを特徴とする鍍金方法。6. A substrate to be plated is degreased and washed, and a metal sulfide film made of a metal sulfide generated by thermally decomposing an organometallic complex containing carbon and sulfur is formed on the substrate.
By selectively irradiating the substrate immersed in the electrolytic solution with ultraviolet rays, the metal sulfide film in the ultraviolet irradiation portion is eluted or remains, and the metal sulfide film on the substrate is removed in an activating solution. A plating method, characterized in that a catalyst is deposited on the remaining portion and the portion of the substrate on which the catalyst is deposited is electrolessly plated.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14015395A JPH08333685A (en) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Plating method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14015395A JPH08333685A (en) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Plating method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08333685A true JPH08333685A (en) | 1996-12-17 |
Family
ID=15262108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP14015395A Pending JPH08333685A (en) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Plating method |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH08333685A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017073147A1 (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | 日本電気硝子株式会社 | Method for producing glass plate having film |
-
1995
- 1995-06-07 JP JP14015395A patent/JPH08333685A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017073147A1 (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-04 | 日本電気硝子株式会社 | Method for producing glass plate having film |
JP2017081781A (en) * | 2015-10-28 | 2017-05-18 | 日本電気硝子株式会社 | Method for producing film-fitted glass plate |
TWI686361B (en) * | 2015-10-28 | 2020-03-01 | 日商日本電氣硝子股份有限公司 | Method for manufacturing glass plate with film |
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