JPH08313890A - Liquid crystal display element and its production - Google Patents

Liquid crystal display element and its production

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Publication number
JPH08313890A
JPH08313890A JP14568895A JP14568895A JPH08313890A JP H08313890 A JPH08313890 A JP H08313890A JP 14568895 A JP14568895 A JP 14568895A JP 14568895 A JP14568895 A JP 14568895A JP H08313890 A JPH08313890 A JP H08313890A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid crystal
crystal display
pixel electrode
active element
Prior art date
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Pending
Application number
JP14568895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidenori Ikeno
英徳 池野
Hiroshi Kano
博司 加納
Eiji Mizobata
英司 溝端
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP14568895A priority Critical patent/JPH08313890A/en
Publication of JPH08313890A publication Critical patent/JPH08313890A/en
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide a reflection type liquid crystal display element having a reflection plate possessing good reflection performance by using substrates subjected to surface roughening before formation of switching elements and having good image quality by simplifying the production process for the reflection type liquid crystal element having a light reflection layer between a liquid crystal layer and the substrates. CONSTITUTION: This liquid crystal display element is constituted by arranging the first substrate having active elements, gate electrodes 41 for driving these active elements and the light reflection plate 40 in common use as pixel electrodes to receive the charges from the active elements on a substrate surface 46 having irregular ruggedness on the front surface and the second substrate attached with transparent electrodes on the front surface in such a manner that the respective front surface face to the inside surfaces and sealing liquid crystals contg. dichromatic dye into the spacing formed by the first and second substrates. Three-terminal or two-terminal elements, such as transistors and diodes, are used as the active elements. The active elements are formed on the substrates which are not flattened.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、反射型液晶表示用のア
クティブマトリクス基板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix substrate for a reflective liquid crystal display.

【0002】[0002]

【従来の技術】近時、携帯型コンピュータ市場の拡大と
ともに、様々なニーズに応じた情報機器が提案されてい
る。これを達成するためのキーテクノロジーの一つとし
て、液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display;「L
CD」という)が挙げられる。
2. Description of the Related Art Recently, with the expansion of the market of portable computers, information devices meeting various needs have been proposed. As one of the key technologies to achieve this, Liquid Crystal Display (“L”)
"CD").

【0003】近年のLCDは、ラップトップパソコン、
デスクトップパソコン、ワードプロセッサー、ワークス
テーション等の卓上での使用を前提とした機器の表示装
置として開発されたため、LCDには、携帯性よりも表
示性能の高画質化が優先されていた。その結果、バック
ライトを光源に採用したTN(Twisted Nematic)液晶
或いは、STN(Super Twisted Nematic)液晶の透過
型LCD方式が主流となった。
LCDs in recent years are laptop personal computers,
Since it was developed as a display device for devices intended for use on desktops such as desktop personal computers, word processors, and workstations, higher image quality of display performance was prioritized for LCDs than for portability. As a result, a TN (Twisted Nematic) liquid crystal adopting a backlight as a light source or an STN (Super Twisted Nematic) liquid crystal transmission type LCD system has become mainstream.

【0004】しかし、前記透過型LCD方式ではバック
ライトが必要とされるため、情報機器の小型化・軽量
化、及び長時間使用には困難であるという問題を有す
る。そして、これが携帯型情報機器の進歩を阻む要因と
なっている。
However, the transmissive LCD system requires a backlight, and thus has a problem that it is difficult to reduce the size and weight of the information device and to use it for a long time. And this is a factor that prevents the progress of portable information devices.

【0005】これに対して、携帯型情報機器向きのLC
Dとしてはバックライトの代わりに反射板を設け、外部
入射光の反射光を光源に利用する反射型LCDの採用が
考えられている。この場合、外部光のみで明るい表示性
能を得るために、液晶方式としては、光利用効率を下げ
る要因となる偏光板を必要としないゲスト・ホスト(G
H)方式を採用し、さらに反射板を液晶層とガラス基板
との間に配置する方式が検討されている(例えば文献、
「S.Mitsui et al.、“Bright Reflective Multicolor
LCDs Addressed by a-Si TFTs”、Proc.SID、第437頁」
参照)。
On the other hand, an LC suitable for portable information equipment
As D, it is considered to adopt a reflection type LCD in which a reflection plate is provided instead of the backlight and the reflected light of external incident light is used as a light source. In this case, in order to obtain a bright display performance only with external light, the guest-host (G
The H) method is adopted, and a method of disposing a reflection plate between the liquid crystal layer and the glass substrate is being studied (for example, literature,
"S. Mitsui et al.," Bright Reflective Multicolor
LCDs Addressed by a-Si TFTs ”, Proc.SID, page 437”
reference).

【0006】以下に、図15を参照して、この従来方式
について具体的構造例を説明する。
A specific structural example of this conventional method will be described below with reference to FIG.

【0007】平坦な下部ガラス基板10上に、薄膜トラ
ンジスタ(TFT)11を作成した後、このTFT11
上部に絶縁層(「厚膜絶縁体」ともいう)5を配置し、
さらに絶縁層5の表面に凹凸が形成されている。
After forming a thin film transistor (TFT) 11 on a flat lower glass substrate 10, the TFT 11 is formed.
An insulating layer (also called “thick film insulator”) 5 is arranged on the upper part,
Further, irregularities are formed on the surface of the insulating layer 5.

【0008】絶縁層5の上に、液晶を駆動する画素電極
を兼ねた金属反射板(「反射画素電極」、「反射板兼電
極」あるいは「反射板電極」ともいう)4が形成されて
いる。
On the insulating layer 5, a metal reflection plate (also referred to as "reflection pixel electrode", "reflection plate / electrode" or "reflection plate electrode") 4 which also serves as a pixel electrode for driving liquid crystal is formed. .

【0009】TFT11で駆動される反射板電極4を有
するガラス基板(「下部ガラス基板」ともいう)10
と、透明電極2を有する対向側ガラス基板(「上部ガラ
ス基板」ともいう)1との間に、液晶層としてゲスト・
ホスト(GH)型液晶3が配設される。
A glass substrate (also referred to as "lower glass substrate") 10 having a reflector electrode 4 driven by a TFT 11
And the opposite side glass substrate (also referred to as “upper glass substrate”) 1 having the transparent electrode 2 as a liquid crystal layer.
A host (GH) type liquid crystal 3 is provided.

【0010】画素電極を兼ねた反射板電極4の表面の凹
凸は、広範囲からの入射光を効率よくパネル前方に反射
すると同時に、干渉色等の色付きを無くすという機能を
有する。
The unevenness of the surface of the reflector plate electrode 4 which also serves as the pixel electrode has a function of efficiently reflecting incident light from a wide range to the front of the panel and, at the same time, eliminating coloring such as interference color.

【0011】反射板電極4の製造方法の一例として、絶
縁層5の表面にフォトリソ技術、エッチング技術を施す
ことにより、高さ数μm程度の凹凸を形成し、その上部
を高反射効率を有する金属で覆うようにするという方法
が採用されている。
As an example of a method of manufacturing the reflector electrode 4, a photolithography technique or an etching technique is applied to the surface of the insulating layer 5 to form irregularities having a height of about several μm, and the upper portion thereof is a metal having high reflection efficiency. The method of covering with is adopted.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記製造工程は、基本
的には、従来の透過型LCDの製造工程に、更に反射板
電極を作成するために、絶縁膜形成、凹凸形成、及びコ
ンタクト形成工程が付加されたものである。
The above manufacturing process is basically the same as the conventional transmissive LCD manufacturing process in order to further form a reflector electrode, an insulating film forming process, an uneven forming process, and a contact forming process process. Is added.

【0013】しかし、この場合、工程数の増加に伴う製
造コストの増大を招く。
However, in this case, the manufacturing cost increases as the number of steps increases.

【0014】さらに、前記の如く、能動素子製造後に凹
凸を形成するため、能動素子に対するダメージ(損傷、
デバイス特性の劣化等)を与えることを回避することが
反射板製造における絶対条件となる。このことが高性能
反射板を有する反射型液晶表示素子の実現を困難にして
きた。
Further, as described above, since the unevenness is formed after the active element is manufactured, the active element is damaged (damage,
It is an absolute condition in the production of the reflector to avoid giving the device characteristics). This has made it difficult to realize a reflective liquid crystal display device having a high-performance reflector.

【0015】本発明は上記問題点に鑑みて為されたもの
であって、低コストで、良好な反射特性を有する反射板
を備えた反射型液晶表示装置及びその製造方法を提供す
ることを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a reflection type liquid crystal display device having a reflection plate having a good reflection characteristic at a low cost and a manufacturing method thereof. And

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、マトリクス状に配置され画素電極を兼用
する光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書
き込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前
記能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1
の基板と、前記画素電極に対向する透明電極を設けた第
2の基板と、前記第1、第2の基板との間に介装された
液晶層と、を含む液晶表示素子において、前記第1の基
板表面が所定の凹凸を有し、前記能動素子が前記第1の
基板の凹凸上に形成されたことを特徴とする液晶表示素
子を提供する。
In order to achieve the above object, the present invention controls a light reflection plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode. An active element, and a first wiring including predetermined wiring for operating the active element
And a second substrate having a transparent electrode facing the pixel electrode, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. There is provided a liquid crystal display element, wherein the first substrate surface has a predetermined unevenness, and the active element is formed on the unevenness of the first substrate.

【0017】本発明は、マトリクス状に配置され画素電
極を兼用する光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電
極への書き込み電荷を制御する能動素子と、を備えると
共に、前記能動素子を作動させるための所定の配線を備
えた第1の基板と、前記画素電極に対向する透明電極を
設けた第2の基板と、前記第1、第2の基板との間に介
装された液晶層と、を含む液晶表示素子において、前記
第1の基板が前記光反射板の形成領域に対応する領域に
のみ凹凸を備え、前記能動素子が前記第1の基板の平坦
領域上に形成されたことを特徴とする液晶表示素子を提
供する。
The present invention is provided with a light reflecting plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and the active element is operated. A liquid crystal layer interposed between a first substrate provided with a predetermined wiring for controlling the pixel electrode, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, and the first and second substrates. A liquid crystal display element including: and the first substrate is provided with irregularities only in a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed, and the active element is formed on a flat region of the first substrate. A liquid crystal display element is provided.

【0018】本発明においては、好ましくは、前記第1
の基板が、基板表面全面に凹凸を有し、該凹凸領域上に
選択的に有機系膜又は無機系膜が所定の膜厚で形成され
てなる平坦化領域を備え、前記能動素子及び/又は配線
が前記平坦化領域上に形成されてなることを特徴とす
る。
In the present invention, preferably the first
Of the active element and / or the flattening region having an unevenness on the entire surface of the substrate and having an organic film or an inorganic film selectively formed on the uneven region with a predetermined thickness. The wiring is formed on the flattened region.

【0019】本発明においては、好ましくは、前記第1
の基板が、基板表面全面に凹凸を有し、前記凹凸をエッ
チング処理により平坦化してなる平坦化領域を備え、前
記能動素子及び/又は配線が前記平坦化領域上に形成さ
れてなることを特徴とする。
In the present invention, preferably the first
Of the substrate has unevenness on the entire surface of the substrate, and has a flattening region formed by flattening the unevenness by an etching process, and the active element and / or the wiring is formed on the flattening region. And

【0020】本発明においては、好ましくは、前記第1
の基板を鏡面状態とし、前記光反射板が形成される領域
に対応する領域にのみ前記第1の基板表面に凹凸を有す
ることを特徴とする。
In the present invention, preferably the first
The substrate is mirror-finished, and the first substrate surface has irregularities only in the region corresponding to the region where the light reflection plate is formed.

【0021】本発明においては、好ましくは、前記能動
素子が、トランジスタであることを特徴とする。
In the present invention, preferably, the active element is a transistor.

【0022】本発明においては、好ましくは、前記トラ
ンジスタが、ゲート電極上部のみに半導体層が配置され
てなることを特徴とする。
In the present invention, it is preferable that the transistor has a semiconductor layer arranged only above a gate electrode.

【0023】本発明においては、好ましくは、前記トラ
ンジスタが、前記第1の基板上部にパターン形成された
ゲート電極上部を、絶縁層、半導体層、レジスト層にて
全面が覆われた前記第1の基板の背面より露光し、前記
ゲート電極の形状を反映したレジストパターンが最上部
に形成され、該レジストパターンを用いて、半導体層が
パターン化されてなる自己整合プロセスで形成されたこ
とを特徴とする。
In the present invention, preferably, in the transistor, the upper surface of the gate electrode patterned on the first substrate is entirely covered with an insulating layer, a semiconductor layer, and a resist layer. A resist pattern reflecting the shape of the gate electrode is formed on the uppermost portion by exposing from the back surface of the substrate, and a semiconductor layer is patterned using the resist pattern to form a self-alignment process. To do.

【0024】本発明においては、好ましくは、前記トラ
ンジスタが、ゲート電極及びゲート信号線の周囲が絶縁
膜で覆われていることを特徴とする。
In the present invention, preferably, the transistor is characterized in that the periphery of the gate electrode and the gate signal line is covered with an insulating film.

【0025】本発明においては、好ましくは、前記能動
素子が、2端子型の非線形抵抗素子であることを特徴と
する。
In the present invention, preferably, the active element is a two-terminal type non-linear resistance element.

【0026】本発明においては、好ましくは、前記非線
形抵抗素子が、前記第1の基板上部にパターン形成され
た信号配線上部を絶縁層、レジスト層にて全面が覆われ
た前記第1の基板の背面より前記信号配線と直交するス
トライプ状のマスクを用いて露光し、前記信号配線の形
状とマスク形状を反映したレジストパターンが最上部に
形成され、該レジストパターンを用いて、絶縁層がパタ
ーン化される自己整合プロセスで形成されることを特徴
とする。
In the present invention, preferably, the non-linear resistance element of the first substrate is entirely covered with an insulating layer and a resist layer on an upper portion of the signal wiring patterned on the first substrate. Exposure is performed from the back surface using a stripe-shaped mask that is orthogonal to the signal wiring, and a resist pattern reflecting the shape of the signal wiring and the mask shape is formed on the uppermost portion, and the insulating layer is patterned using the resist pattern. It is characterized in that it is formed by a self-aligning process.

【0027】本発明においては、好ましくは、前記2端
子型の非線形素子において、非線形素子は、信号を供給
する配線と、該配線の側壁部の絶縁膜と画素電極を兼用
する光反射板から構成されていることを特徴とする。
In the present invention, preferably, in the two-terminal type non-linear element, the non-linear element is composed of a wiring for supplying a signal and a light reflection plate which also serves as an insulating film on a side wall of the wiring and a pixel electrode. It is characterized by being.

【0028】本発明においては、好ましくは、前記第1
の基板表面の凹凸が、高さが0.5μmから10μm、
ピッチが1μmから30μmまでの間においてランダム
に配置されていることを特徴とする。
In the present invention, preferably the first
Unevenness on the substrate surface of 0.5 to 10 μm in height,
It is characterized in that the pitch is randomly arranged between 1 μm and 30 μm.

【0029】また、本発明は、マトリクス状に配置され
画素電極を兼用する光反射板と、前記画素電極毎に前記
画素電極への書き込み電荷を制御する能動素子と、を備
えると共に、前記能動素子を作動させるための所定の配
線を備えた第1の基板と、前記画素電極に対向する透明
電極を設けた第2の基板と、前記第1、第2の基板との
間に介装された液晶層と、を含む液晶表示素子の製造方
法において、前記第1の基板表面において少なくとも前
記光反射板が形成される領域に対応する領域に所定高さ
の凹凸を形成し、前記第1の基板上に形成されたゲート
電極のパターンを利用して前記第1の基板の背面側より
露光して前記ゲート電極の形状を反映したレジストパタ
ーンを形成し、該レジストパターンを用いて半導体層を
含む前記能動素子の活性層を自己整合的に形成し、前記
ゲート電極の側壁を陽極酸化により絶縁膜で覆い、前記
光反射板を前記第1の基板の凹凸領域上部に形成するこ
とを特徴とする液晶表示素子の製造方法を提供する。
Further, the present invention comprises a light reflection plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and the active element. And a first substrate provided with a predetermined wiring for activating, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, and the first and second substrates. In a method for manufacturing a liquid crystal display device including a liquid crystal layer, the first substrate is provided with unevenness of a predetermined height in at least a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed. The resist pattern reflecting the shape of the gate electrode is formed by exposing from the back side of the first substrate using the pattern of the gate electrode formed above, and the semiconductor pattern including the semiconductor layer is formed using the resist pattern. Active element An active layer is formed in a self-aligned manner, a side wall of the gate electrode is covered with an insulating film by anodic oxidation, and the light reflection plate is formed on an uneven region of the first substrate. A manufacturing method is provided.

【0030】さらに、本発明は、マトリクス状に配置さ
れ画素電極を兼用する光反射板と、前記画素電極毎に前
記画素電極への書き込み電荷を制御する能動素子と、を
備えると共に、前記能動素子を作動させるための所定の
配線を備えた第1の基板と、前記画素電極に対向する透
明電極を設けた第2の基板と、前記第1、第2の基板と
の間に介装された液晶層と、を含む液晶表示素子の製造
方法において、前記第1の基板上において前記光反射板
の形成領域に対応する領域にのみ凹凸を備えると共に前
記能動素子が形成される領域には平坦領域上を形成し、
前記第1の基板上の平坦領域上に半導体層を含む前記能
動素子の活性層を形成し、前記ゲート電極の側壁を陽極
酸化により絶縁膜で覆い、前記光反射板を前記第1の基
板の凹凸領域上部に形成することを特徴とする液晶表示
素子の製造方法を提供する。
Further, the present invention comprises a light reflecting plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and the active element And a first substrate provided with a predetermined wiring for activating, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, and the first and second substrates. A method of manufacturing a liquid crystal display device including a liquid crystal layer, wherein the first substrate is provided with unevenness only in a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed, and a flat region is formed in a region where the active element is formed. Forming the top,
An active layer of the active element including a semiconductor layer is formed on a flat region on the first substrate, a sidewall of the gate electrode is covered with an insulating film by anodic oxidation, and the light reflection plate is formed on the first substrate. Provided is a method for manufacturing a liquid crystal display element, which is characterized in that it is formed on an uneven region.

【0031】本発明においては、好ましくは、前記ゲー
ト電極のパターンを利用して前記第1の基板の背面側よ
り露光し、前記ゲート電極上部を、絶縁層、半導体層、
レジスト層にて全面が覆われた前記第1の基板を背面側
より露光し、該レジストパターンを用いて半導体層を含
む前記能動素子の活性層を自己整合的に形成することを
特徴とする。
In the present invention, preferably, the gate electrode pattern is used to expose from the back side of the first substrate to expose the upper portion of the gate electrode to an insulating layer, a semiconductor layer,
The first substrate, which is entirely covered with a resist layer, is exposed from the back side, and the active layer of the active element including the semiconductor layer is formed in a self-aligned manner by using the resist pattern.

【0032】そして、本発明は、マトリクス状に配置さ
れ画素電極を兼用する光反射板と、前記画素電極毎に前
記画素電極への書き込み電荷を制御する能動素子と、を
備えると共に、前記能動素子を作動させるための所定の
配線を備えた第1の基板と、前記画素電極に対向する透
明電極を設けた第2の基板と、前記第1、第2の基板と
の間に介装された液晶層と、を含む液晶表示素子の製造
方法において、前記第1の基板表面において少なくとも
前記光反射板が形成される領域に対応する領域に所定高
さの凹凸を形成し、前記能動素子が、前記第1の基板上
部にパターン形成された信号配線上部を絶縁層が覆い、
前記信号配線側壁に形成される2端子型の非線形素子か
らなり、前記非線形素子が、前記第1の基板上部にパタ
ーン形成された信号配線上部を絶縁層、レジスト層で全
面が覆われた前記第1の基板の背面側より前記信号配線
と直交するストライプ状のマスクを用いて露光して前記
信号配線の形状とマスク形状を反映したレジストパター
ンを形成し、該レジストパターンを用いて絶縁層がパタ
ーン化される自己整合プロセスで形成され、前記絶縁層
のパターン化により露出した前記信号配線側壁を陽極酸
化により絶縁膜で覆い、前記画素電極を兼用する光反射
板を前記第1の基板の凹凸領域上部に形成することを特
徴とする液晶表示素子の製造方法を提供する。
The present invention further comprises a light reflection plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling the write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and the active element is also provided. And a first substrate provided with a predetermined wiring for activating, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, and the first and second substrates. In a method of manufacturing a liquid crystal display element including a liquid crystal layer, a concave and convex portion having a predetermined height is formed at least in a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed on the surface of the first substrate, and the active element includes: An insulating layer covers the upper portion of the signal wiring patterned on the first substrate,
The non-linear element is formed of a two-terminal type on the sidewall of the signal wiring, and the non-linear element covers the entire surface of the signal wiring patterned on the first substrate with an insulating layer and a resist layer. 1 is exposed from the back side of the substrate using a stripe-shaped mask orthogonal to the signal wiring to form a resist pattern reflecting the shape of the signal wiring and the mask shape, and the insulating layer is patterned using the resist pattern. The light-reflecting plate, which is formed by a self-aligning process and which is exposed by patterning the insulating layer, is covered with an insulating film by anodic oxidation, and the light reflection plate which also serves as the pixel electrode is formed into an uneven region of the first substrate. Provided is a method for manufacturing a liquid crystal display device, which is characterized by being formed on an upper part.

【0033】[0033]

【作用】本発明の原理・作用の詳細について以下に説明
する。
The function and details of the present invention will be described below.

【0034】図1は本発明の反射型液晶表示素子の好ま
しい態様を説明するための図である。図1(A)、図1
(B)、図1(C)は、既に表面に凹凸を有するガラス
基板を第1の絶縁性基板18として用いる場合を説明す
るための図であり、図1(D)は鏡面状態のガラス基板
を第1の絶縁性基板22として用いる場合を説明するた
めの図である。図1において、13はソース電極、14
はドレイン電極、15は反射板(「反射型画素電極」と
いう)、16はゲート絶縁膜、17はゲート電極、18
はガラス基板(「粗面化ガラス基板」、「第1の絶縁性
基板」ともいう)、19は平坦化膜、20は平坦領域、
21は半導体層、22は凹凸形成層をそれぞれ示してい
る。
FIG. 1 is a view for explaining a preferred embodiment of the reflective liquid crystal display device of the present invention. 1A and FIG.
FIGS. 1B and 1C are views for explaining a case where a glass substrate having an uneven surface is used as the first insulating substrate 18, and FIG. 1D is a glass substrate in a mirror state. FIG. 6 is a diagram for explaining a case where is used as a first insulating substrate 22. In FIG. 1, 13 is a source electrode, and 14
Is a drain electrode, 15 is a reflection plate (referred to as “reflection-type pixel electrode”), 16 is a gate insulating film, 17 is a gate electrode, 18
Is a glass substrate (also referred to as a "roughened glass substrate" or "first insulating substrate"), 19 is a flattening film, 20 is a flat region,
Reference numeral 21 denotes a semiconductor layer, and 22 denotes an unevenness forming layer.

【0035】図1(A)を参照して、本発明によれば、
凹凸を有する反射板15を画素電極とし、アクティブマ
トリクス駆動するために該反射型画素電極15と接続さ
れたスイッチング素子を有する第1の絶縁性基板18
と、対向側に位置した透明電極を有する第2の絶縁性基
板(不図示)で液晶層を挟み込んだ構造の反射型液晶表
示装置の第1の絶縁性基板18として、高さ0.5〜1
0μmの範囲の凹凸を有する基板を用いる。
With reference to FIG. 1A, according to the present invention,
A first insulating substrate 18 having a reflecting plate 15 having irregularities as a pixel electrode and having a switching element connected to the reflective pixel electrode 15 for active matrix driving.
And a first insulating substrate 18 of a reflective liquid crystal display device having a structure in which a liquid crystal layer is sandwiched by a second insulating substrate (not shown) having a transparent electrode located on the opposite side. 1
A substrate having irregularities in the range of 0 μm is used.

【0036】この第1の絶縁性基板18の凹凸上部に、
スイッチング素子(ゲート電極17、ゲート絶縁膜1
6、半導体層21、及びソース・ドレイン電極13、1
4からなる逆スタガ構造のトランジスタ素子)及び反射
板15を直接形成する。
On the uneven upper surface of the first insulating substrate 18,
Switching element (gate electrode 17, gate insulating film 1
6, semiconductor layer 21, and source / drain electrodes 13, 1
The transistor element having the inverted stagger structure 4) and the reflector 15 are directly formed.

【0037】これにより、凹凸形成プロセスをスイッチ
ング素子形成以前に行なうことが可能とされることか
ら、プロセス上の制約を受けることなく自由に凹凸形状
を作ることができる。従って、良好な反射性能を有する
反射板を再現性良く提供できる。
With this, since the concavo-convex forming process can be performed before the switching element is formed, the concavo-convex shape can be freely formed without being restricted by the process. Therefore, it is possible to provide a reflector having good reflection performance with good reproducibility.

【0038】さらに、凹凸形成工程がスイッチング素子
形成工程以前に行なわれることから凹凸形成工程がスイ
ッチング素子へ与えるダメージも存在しないために、良
好なパネル表示性能が得られる。
Furthermore, since the concavo-convex forming step is performed before the switching element forming step, there is no damage given to the switching element by the concavo-convex forming step, so that good panel display performance can be obtained.

【0039】あるいは、図1(B)に示すように、凹凸
を有する第1の絶縁性基板18の一部に平坦化膜19を
形成して平坦化し、平坦化膜19の上部にスイッチング
素子及び配線を形成する。または、図1(C)に示すよ
うに、凹凸を有する第1の絶縁性基板18の一部を平坦
化し(平坦領域20参照)、平坦領域20の上部にスイ
ッチング素子及び配線を形成するようにしてもよい。
Alternatively, as shown in FIG. 1B, a flattening film 19 is formed on a portion of the first insulating substrate 18 having irregularities and flattened, and a switching element and a switching element are formed on the flattening film 19. Form the wiring. Alternatively, as shown in FIG. 1C, a part of the first insulating substrate 18 having unevenness is flattened (see the flat region 20) and the switching element and the wiring are formed on the flat region 20. May be.

【0040】これにより、上記に示す作用と平坦部1
9、20上へスイッチング素子及び配線が形成されるた
め、再現性及び素子性能の均一及び信頼性が改善され
る。
As a result, the above-described action and the flat portion 1
Since the switching elements and the wirings are formed on the layers 9 and 20, the reproducibility and the uniformity and reliability of the element performance are improved.

【0041】さらに、図1(D)を参照して、第1の絶
縁性基板18として鏡面研磨された平坦基板を用い、平
坦基板上にスイッチング素子及び配線を形成すると共
に、反射板形成領域上のみに凹凸が形成された領域(凹
凸形成層22参照)を有する基板を用いるようにした場
合にも上記と同様の作用効果が得られる。
Further, referring to FIG. 1D, a mirror-polished flat substrate is used as the first insulating substrate 18, switching elements and wirings are formed on the flat substrate, and at the same time, on the reflection plate forming region. Even when a substrate having a region in which unevenness is formed only (see the unevenness forming layer 22) is used, the same effect as the above can be obtained.

【0042】なお、図1においては、TFT(薄膜トラ
ンジスタ)構造として逆スタガ構造を例に説明したが、
順(正)スタガ構造を採用した場合においても、上記と
同様の作用が得られる。
In FIG. 1, the inverse stagger structure is used as an example of the TFT (thin film transistor) structure.
Even when the forward (positive) stagger structure is adopted, the same operation as described above can be obtained.

【0043】図2は、本発明に係る逆スタガ構造の薄膜
トランジスタの製造方法を工程順に模式的に示す図であ
る。図2において、27は凹凸表面を有する粗面化ガラ
ス(第1の絶縁性基板)、23はゲート電極、24はゲ
ート絶縁層、25は半導体層、26はレジスト層、28
は陽極酸化膜層、29はソース電極、30は反射画素電
極板をそれぞれ示している。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a method of manufacturing a thin film transistor having an inverted stagger structure according to the present invention in the order of steps. In FIG. 2, 27 is roughened glass (first insulating substrate) having an uneven surface, 23 is a gate electrode, 24 is a gate insulating layer, 25 is a semiconductor layer, 26 is a resist layer, 28
Is an anodized film layer, 29 is a source electrode, and 30 is a reflective pixel electrode plate.

【0044】本発明に従えば、第1の絶縁性基板27上
に形成されたゲート電極のパターン(図2(A)参照)
を利用した背面露光プロセスにより、半導体層25を含
む活性層は自己整合(self alignment)される(図2
(B)参照)。
According to the present invention, the pattern of the gate electrode formed on the first insulating substrate 27 (see FIG. 2A).
The active layer including the semiconductor layer 25 is self-aligned by the backside exposure process using the (see FIG. 2).
(B)).

【0045】その後、ゲート電極23の側壁が陽極酸化
により絶縁膜で覆われ(図2(C)の陽極酸化膜層28
参照)、ソース、ドレイン電極29、30と絶縁される
(図2(D)参照)。
After that, the side wall of the gate electrode 23 is covered with an insulating film by anodic oxidation (the anodic oxide film layer 28 of FIG. 2C).
(See FIG. 2D).

【0046】これにより、背面露光プロセスを用いるこ
とで、基板凹凸の影響による目合わせの精度の劣化とは
無関係にスイッチング素子のパターン化ができる。その
結果、スイッチング素子性能の安定性、及び信頼性が確
保でき、素子間における素子特性のばらつきがなくな
る。さらに、フォトリソ工程が僅か2工程となるために
低コスト化ができる作用を有する。
Thus, by using the backside exposure process, the switching element can be patterned regardless of the deterioration of the alignment accuracy due to the influence of the substrate irregularities. As a result, the stability and reliability of the switching element performance can be ensured, and variations in element characteristics between elements can be eliminated. Furthermore, since the photolithography process is only two processes, there is an effect that the cost can be reduced.

【0047】また、本発明は、前記作用に記載した図1
(A)、図1(B)、図1(C)、図1(D)の基板を
第1絶縁性基板として利用しても同様の作用が得られ
る。
The present invention also relates to FIG.
Similar effects can be obtained by using the substrates of (A), FIG. 1 (B), FIG. 1 (C), and FIG. 1 (D) as the first insulating substrate.

【0048】本発明に従えば、アクティブマトリクス駆
動スイッチング素子であるTFTの代わりに、金属/絶
縁膜/金属(MIM)構造のダイオードを前述した図1
(A)、図1(B)、図1(C)、図1(D)の基板上
に製造した場合においても、前記ダイオード製造前に反
射板凹凸構造が形成できるため、良好な反射性能を有す
る反射板を有する液晶表示素子が提供できる。
According to the present invention, a diode having a metal / insulating film / metal (MIM) structure is used in place of the TFT which is an active matrix driving switching element as shown in FIG.
Even in the case of manufacturing on the substrate of (A), FIG. 1 (B), FIG. 1 (C), and FIG. 1 (D), since the reflecting plate concavo-convex structure can be formed before the diode is manufactured, good reflecting performance is obtained. It is possible to provide a liquid crystal display device having the reflecting plate.

【0049】図3及び図4は、本発明のMIM構造ダイ
オードの製造方法の工程順に模式的に示す図である。
3 and 4 are diagrams schematically showing the order of steps in the method of manufacturing the MIM structure diode according to the present invention.

【0050】本発明に従えば、下部信号線32パターン
(図3(A)参照)を利用した背面露光プロセスによ
り、レジスト層34と絶縁層33は自己整合される(図
3(B)、図3(C)参照)。
According to the present invention, the resist layer 34 and the insulating layer 33 are self-aligned by the backside exposure process using the lower signal line 32 pattern (see FIG. 3A) (FIG. 3B, FIG. 3 (C)).

【0051】その後、下部信号電極側壁35が絶縁膜に
より覆われることで(図4(D)参照)、上部反射画素
電極板36と下部信号電極32とは電気的に絶縁される
(図4(E)参照)。
Thereafter, the lower signal electrode side wall 35 is covered with the insulating film (see FIG. 4D), so that the upper reflective pixel electrode plate 36 and the lower signal electrode 32 are electrically insulated (see FIG. 4 ( See E)).

【0052】背面露光プロセスを用いることにより、目
合わせズレとは無関係にスイッチング素子のパターン化
ができる結果、スイッチング素子性能の安定性、及び信
頼性が確保でき、素子特性のばらつきがなくなるという
作用を有する。
By using the back exposure process, the switching element can be patterned regardless of the misalignment, so that the stability and reliability of the switching element performance can be secured and the variation of the element characteristic is eliminated. Have.

【0053】また、フォトリソ工程数が、基本的に(1)
信号線パターン形成、(2)絶縁膜パターン形成(背面露
光)、(3)反射画素電極形成の3工程となり、低コスト
で反射型液晶表示素子を提供できる。
Further, the number of photolithography processes is basically (1)
There are three steps of signal line pattern formation, (2) insulating film pattern formation (back exposure), and (3) reflective pixel electrode formation, and a reflective liquid crystal display element can be provided at low cost.

【0054】なお、本発明は、前述した図1(A)、図
1(B)、図1(C)、図1(D)の基板を第1の基板
として利用しても同様の作用が得られる。
In the present invention, the same effect can be obtained even if the above-mentioned substrates of FIGS. 1 (A), 1 (B), 1 (C) and 1 (D) are used as the first substrate. can get.

【0055】[0055]

【実施例】図面を参照して、本発明の実施例を以下に説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0056】[0056]

【実施例1】本発明の一実施例としてスイッチング素子
にトランジスタを用いて作成する液晶表示素子について
説明する。
Example 1 As an example of the present invention, a liquid crystal display element produced by using a transistor as a switching element will be described.

【0057】図5に、本実施例に従い作成したTFT素
子を説明するための平面図を示す。また、図6に図5の
A−A′線に沿った断面図を示し、図7に図5のB−
B′線に沿った断面図を示す。
FIG. 5 shows a plan view for explaining the TFT element prepared according to this embodiment. 6 is a sectional view taken along the line AA ′ of FIG. 5, and FIG.
A sectional view taken along line B ′ is shown.

【0058】本実施例においては、下部基板46とし
て、研磨材#1000番で研磨した粗面化ガラスを用いた。
In this embodiment, as the lower substrate 46, roughened glass polished with abrasive # 1000 is used.

【0059】研磨後の該ガラス基板表面には、高さが1
〜10μm程度の鋭角で且つ不規則な凹凸が形成されて
いる。
The height of the glass substrate surface after polishing is 1
Irregular irregularities with an acute angle of about 10 μm are formed.

【0060】該ガラス基板を50%濃度フッ化水素酸水
溶液中において、25℃、40秒間エッチング処理を行
い、滑らかな凹凸面を形成した。これにより、良好な反
射性能が得られる凹凸面を下部基板46の全面に形成し
た。なお、このエッチング処理時間を変化させることに
より、凹凸傾斜角度を自在に可変制御することができ
た。
The glass substrate was etched in a 50% aqueous solution of hydrofluoric acid at 25 ° C. for 40 seconds to form a smooth uneven surface. As a result, a concave-convex surface with good reflection performance was formed on the entire surface of the lower substrate 46. By changing the etching treatment time, it was possible to variably control the inclination angle of the unevenness.

【0061】その後、下部基板46上に、ゲート電極4
1としてTaを膜厚300nmスパッタ法により蒸着
し、ゲート絶縁膜45としてSiNを膜厚500nm、
半導体層44としてアモルファスシリコンを膜厚300
nm、連続してプラズマCVD(化学気相成長)法によ
り成膜した。
After that, the gate electrode 4 is formed on the lower substrate 46.
1, Ta was vapor-deposited with a film thickness of 300 nm by a sputtering method, and SiN was used as the gate insulating film 45 with a film thickness of 500 nm.
Amorphous silicon is used as the semiconductor layer 44 and has a thickness of 300.
nm, and a film was continuously formed by a plasma CVD (chemical vapor deposition) method.

【0062】次に、ゲート電極41の形(幅5μmの短
冊状)にパターニング処理を行った。
Next, patterning processing was performed on the shape of the gate electrode 41 (a strip shape having a width of 5 μm).

【0063】その際、基板表面の凹凸のため露光装置で
は焦点ズレが起こり、目合わせ精度を保証範囲内に収め
ることが困難となる。
At this time, the unevenness of the substrate surface causes a focus shift in the exposure apparatus, making it difficult to keep the alignment accuracy within the guaranteed range.

【0064】そこで、本実施例では、下部基板46の裏
面より露光処理を行う背面露光プロセスを採用し、ゲー
ト電極41をマスクとして該ゲート電極形状と同一形状
レジストパターンを形成した。このように、背面露光を
用いてレジストパターンを形成したことにより、前記し
た焦点ズレに起因する問題を解決することができた。
Therefore, in this embodiment, a backside exposure process is used in which the backside of the lower substrate 46 is exposed, and a resist pattern having the same shape as the gate electrode shape is formed using the gate electrode 41 as a mask. As described above, by forming the resist pattern by using the back exposure, it was possible to solve the above-mentioned problem caused by the focus shift.

【0065】また、背面露光の際、ガラス表面の凹凸に
よる光散乱により、ゲートマスク領域の内側に光が進入
し、マスク領域がゲート領域よりも小さくなる。
Further, at the time of back exposure, light enters inside the gate mask region due to light scattering due to the unevenness of the glass surface, and the mask region becomes smaller than the gate region.

【0066】これを防ぐために、本実施例では、レジス
ト層として、ガラス基板と同一の屈折率を有する感光性
有機膜を膜厚1μm以上形成する。これにより、凹凸面
が平坦化されて光散乱面が無くなり、ゲート電極と同一
形状のレジストパターンが形成できる。
In order to prevent this, in this embodiment, as the resist layer, a photosensitive organic film having the same refractive index as that of the glass substrate is formed with a film thickness of 1 μm or more. As a result, the uneven surface is flattened to eliminate the light scattering surface, and a resist pattern having the same shape as the gate electrode can be formed.

【0067】次に、ゲート電極41の形にエッチングを
行ったレジストを残した状態で、基板を0.1wt%の
クエン酸水溶液に浸し、2Vの定電圧により陽極酸化を
行い陽極酸化膜47をゲート電極側壁に形成した。その
際、レジスト層をアモルファスシリコンの保護膜として
使用することにより、電解液(この場合0.1wt%ク
エン酸水溶液)による汚染を防止している。
Next, while leaving the etched resist in the shape of the gate electrode 41, the substrate is immersed in a 0.1 wt% citric acid aqueous solution and anodized at a constant voltage of 2 V to form an anodized film 47. It was formed on the side wall of the gate electrode. At this time, the resist layer is used as a protective film of amorphous silicon to prevent contamination by the electrolytic solution (0.1 wt% citric acid aqueous solution in this case).

【0068】そして、アルミニウムの蒸着を行い、画素
電極及び信号電極43を形成した。本実施例では、図7
のチャネル長aを3μm、信号線と隣接画素間距離bを
30μmとした。
Then, aluminum was vapor-deposited to form pixel electrodes and signal electrodes 43. In this embodiment, FIG.
The channel length a was 3 μm, and the distance b between the signal line and the adjacent pixel was 30 μm.

【0069】その後、表示部周辺の下部基板49の端子
出し工程を行う。
After that, a step of exposing terminals of the lower substrate 49 around the display portion is performed.

【0070】なお、図3(B)の工程で、TFT素子部
のa−Si層(アモルファスシリコン層)のアイランド
化を行えば、ドレイン信号線と隣接画素の間にできる寄
生トランジスタの発生を防ぐことができる。
If the a-Si layer (amorphous silicon layer) of the TFT element portion is formed into an island in the step of FIG. 3B, generation of a parasitic transistor between the drain signal line and an adjacent pixel can be prevented. be able to.

【0071】TFT基板と、ガラス基板表面に透明導電
膜として酸化インジウム−スズ(Indium-Tin-Oxide;
「ITO」という)を蒸着したガラス基板を内側に膜面
を向けて重ね合わせた。
As a transparent conductive film on the surface of the TFT substrate and the glass substrate, Indium-Tin-Oxide (Indium-Tin-Oxide;
A glass substrate on which “ITO” was vapor-deposited was laminated with the film surface facing inward.

【0072】なお、TFT基板と上部ガラス基板には配
向処理が施されており、両基板の間にはプラスチック粒
子等のスペーサを介し、周辺部にエポキシ系の接着剤を
用いて張り合わされている。
The TFT substrate and the upper glass substrate are subjected to an orientation treatment, and a spacer such as plastic particles is interposed between the two substrates, and an epoxy adhesive is applied to the peripheral portion of the substrates. .

【0073】その後、GH型の液晶を注入し液晶層とす
ることで液晶素子とした。
After that, a GH type liquid crystal was injected to form a liquid crystal layer, thereby forming a liquid crystal element.

【0074】上記製造工程に従い製造された本実施例に
係る液晶表示装置は、従来の反射型液晶パネルに匹敵す
るコントラスト比と白色度が得られた。
The liquid crystal display device according to this example manufactured according to the above manufacturing process had a contrast ratio and whiteness comparable to those of the conventional reflection type liquid crystal panel.

【0075】なお、今回試作した液晶表示装置における
チャネル長、信号線と隣接画素間距離(図7のa、b参
照)等はあくまで一例を示すものであり、本発明はこれ
に限定されるものではない。
The channel length, the distance between the signal line and the adjacent pixel (see a and b in FIG. 7) and the like in the liquid crystal display device prototyped this time are merely examples, and the present invention is not limited thereto. is not.

【0076】また、本実施例では、画素電極兼光反射板
としてアルミニウム金属を用いたが、銀、或いは金属を
多層膜として用いた場合でも同様な効果が得られる。
Further, in this embodiment, aluminum metal is used as the pixel electrode and light reflecting plate, but the same effect can be obtained when silver or metal is used as the multilayer film.

【0077】[0077]

【実施例2】本発明の第2の実施例を以下に説明する。
本実施例では、ガラス基板上にポリイミド膜(日産化学
製RN−812)を1〜10μmの範囲で成膜し、その
後ポリイミド膜表面を研磨、エッチング処理を行うこと
により凹凸形成を行った。
Second Embodiment A second embodiment of the present invention will be described below.
In this example, a polyimide film (RN-812 manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) was formed on the glass substrate in the range of 1 to 10 μm, and then the surface of the polyimide film was polished and etched to form irregularities.

【0078】この不規則な凹凸を有する基板を第1の絶
縁性基板18(図1参照、図6の下部基板46に対応)
として用い、前記第1の実施例と同様にしてTFTを作
成した。これにより得られた反射型液晶表示パネルは、
前記第1の実施例と全く同様の表示性能を得ることがで
きた。
The substrate having this irregular asperity is used as the first insulating substrate 18 (see FIG. 1, corresponding to the lower substrate 46 in FIG. 6).
Then, a TFT was prepared in the same manner as in the first embodiment. The reflection type liquid crystal display panel thus obtained is
The same display performance as that of the first embodiment could be obtained.

【0079】[0079]

【実施例3】次に、本発明の第3の実施例を説明する。
本実施例では、反射型液晶素子の第1の絶縁性基板に窒
化珪素を焼結させたセラミック基板を用いて、前記第1
の実施例と同様のプロセスを用いて液晶表示装置の製造
を行った。その結果、前記第1の実施例と同様の表示性
能を得ることができた。
Third Embodiment Next, a third embodiment of the present invention will be described.
In this embodiment, a ceramic substrate made by sintering silicon nitride is used as the first insulating substrate of the reflective liquid crystal device, and the first insulating substrate is used.
A liquid crystal display device was manufactured by using the same process as in the above example. As a result, it was possible to obtain the same display performance as that of the first embodiment.

【0080】[0080]

【実施例4】次に、本発明の第4の実施例を説明する。
本実施例では、粗面化ガラス基板のTFT、及び配線が
形成される領域を予め平坦化した基板を用いて反射型液
晶表示素子を試作した。
Fourth Embodiment Next, a fourth embodiment of the present invention will be described.
In this example, a reflective liquid crystal display device was experimentally manufactured by using a substrate of a roughened glass substrate in which a TFT and a region where wirings were formed were flattened in advance.

【0081】TFTを製造する基板として、粗面化ガラ
ス基板を第1の絶縁性基板として用い、フォトレジスト
工程により、TFT、及び配線が形成される領域以外を
レジスト(OFPR−800C:東京応化製)で覆い、
その後フッ化水素酸水溶液により凹凸部をエッチングし
た。
A roughened glass substrate was used as a first insulating substrate as a substrate for manufacturing TFTs, and a photoresist process was used to form a resist (OFPR-800C: manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) except for regions where TFTs and wirings were formed. ),
After that, the uneven portion was etched with a hydrofluoric acid aqueous solution.

【0082】前記エッチング溶液には50%濃度を用
い、1〜10分間、凹凸をウェットエッチングした。該
工程により、エッチング領域の凹凸高さは平均2μmか
ら0.1μm以下にまで減少する(図8参照)。図8
は、凹凸の平均高さ(縦軸)とエッチング時間(横軸)
との関係を示す図である。
A 50% concentration was used as the etching solution, and the unevenness was wet-etched for 1 to 10 minutes. By this step, the uneven height of the etching region is reduced from 2 μm on average to 0.1 μm or less (see FIG. 8). FIG.
Is the average height of irregularities (vertical axis) and etching time (horizontal axis)
It is a figure which shows the relationship with.

【0083】レジスト剥離した後、前記第1の実施例で
説明した同一の製造プロセスにより、エッチング処理し
た平坦領域にはTFT及び配線が形成され、凹凸領域に
は反射板が形成された。
After removing the resist, by the same manufacturing process as described in the first embodiment, TFTs and wirings were formed in the etched flat area, and a reflection plate was formed in the uneven area.

【0084】なお、本実施例のエッチング処理にはウェ
ットエッチングを用いたが、4フッ化炭素(CF4)と
酸素(O2)の混合ガスを用いたドライエッチングプロ
セスでも同様な効果が得られた。その際のドライエッチ
ング条件としては、CF4を20sccmとO2を20s
ccm流し、反応圧力を0.1Torr、プラズマパワ
ーを250Wとした。特に、ドライエッチングを用いた
場合、異方性エッチングが可能であるために、平坦領域
(図1(C)、図1(D)参照)を正確に形成すること
ができた。
Although wet etching was used for the etching treatment of this embodiment, the same effect can be obtained by a dry etching process using a mixed gas of carbon tetrafluoride (CF 4 ) and oxygen (O 2 ). It was The dry etching conditions at that time are 20 sccm of CF 4 and 20 s of O 2 .
The reaction pressure was 0.1 Torr and the plasma power was 250 W. In particular, when dry etching is used, anisotropic etching is possible, so that a flat region (see FIGS. 1C and 1D) can be accurately formed.

【0085】以上により、本実施例では、前記第1の実
施例と同様に、明るい表示性能を有する反射型液晶表示
素子を実現することができた。
As described above, in this embodiment, as in the case of the first embodiment, the reflection type liquid crystal display element having the bright display performance could be realized.

【0086】[0086]

【実施例5】次に、本発明の第5の実施例を説明する。
本実施例では、鏡面研磨されたガラス基板の反射板が形
成される領域だけを凹凸化した基板を用いて、反射型液
晶表示素子を試作した。図9は、本実施例に係る製造方
法を工程順に模式的に説明する図である。
Fifth Embodiment Next, a fifth embodiment of the present invention will be described.
In this example, a reflective liquid crystal display device was experimentally manufactured using a mirror-polished glass substrate in which only the region where the reflection plate was formed was made uneven. FIG. 9 is a diagram schematically illustrating the manufacturing method according to this embodiment in the order of steps.

【0087】TFTを作成する基板として、鏡面研磨さ
れたガラス基板49を第1の基板として用い、その後フ
ォトレジスト工程により、TFT及び配線が形成される
領域50をレジスト層48で覆い、反射電極板52を形
成する領域51にはパターンを不規則に配置した(図9
(A)参照)。
A mirror-polished glass substrate 49 is used as a first substrate for forming a TFT, and then a photoresist process is performed to cover a region 50 where TFTs and wirings are to be formed with a resist layer 48 to form a reflective electrode plate. A pattern is irregularly arranged in a region 51 forming 52 (FIG. 9).
(A)).

【0088】その後、フッ化水素酸水溶液によりガラス
基板49のエッチングを行った。前記エッチング溶液に
は50%濃度を用い1〜6分間処理した。該工程によ
り、エッチングにより形成された凹凸高さは平均1μm
から2μmであった。
Then, the glass substrate 49 was etched with a hydrofluoric acid aqueous solution. The etching solution was treated at a concentration of 50% for 1 to 6 minutes. The average height of the unevenness formed by etching in this step is 1 μm.
To 2 μm.

【0089】図9(B)に、上記エッチングにより得ら
れたガラス基板49の断面を模式的に示す。領域50は
その上にTFT及び配線が形成される平坦領域であり、
表面に凹凸が形成された領域51上には反射電極板52
が形成される
FIG. 9B schematically shows a cross section of the glass substrate 49 obtained by the above etching. The region 50 is a flat region on which TFTs and wirings are formed,
A reflective electrode plate 52 is provided on the area 51 where the surface is uneven.
Is formed

【0090】すなわち、本実施例においては、反射電極
板52の形成領域のみに凹凸が形成され、TFT及び配
線領域53は初期の平坦状態を維持できる。
That is, in this embodiment, the unevenness is formed only in the formation region of the reflective electrode plate 52, and the TFT and the wiring region 53 can maintain the initial flat state.

【0091】レジスト剥離した後、前記実施例1で記載
した同一の製造プロセスにより、TFT及び配線、反射
板が形成される(図9(C)参照)。
After stripping the resist, the TFT, the wiring, and the reflector are formed by the same manufacturing process as described in the first embodiment (see FIG. 9C).

【0092】なお、エッチング方法には、前記第4の実
施例と同様にドライエッチング処理を行っても同様の結
果が得られる。
Incidentally, as the etching method, the same result can be obtained by performing the dry etching treatment as in the case of the fourth embodiment.

【0093】以上により、本実施例では、前記第1実施
例と同様に、明るい表示性能を有する反射型液晶表示素
子を実現することができた。
As described above, in the present embodiment, a reflective liquid crystal display element having a bright display performance could be realized as in the first embodiment.

【0094】[0094]

【実施例6】次に、本発明の第6の実施例を説明する。
本実施例では、スイッチング素子としてMIMダイオー
ドを用いた場合の試作を行った。図10、図11、図1
2、図13は本実施例を説明するための図である。
Sixth Embodiment Next, a sixth embodiment of the present invention will be described.
In this example, a prototype was made using an MIM diode as a switching element. 10, 11, and 1
2 and 13 are views for explaining the present embodiment.

【0095】本実施例における試作パネルを作成するた
めの下部基板58としては、前記第1の実施例で説明し
た研磨材#1000番による研磨により得られた粗面化ガラ
ス基板を50%濃度フッ酸中において40秒エッチング
したものを用いた。
As the lower substrate 58 for making the prototype panel in this embodiment, the roughened glass substrate obtained by polishing with the abrasive # 1000 described in the first embodiment is used as the lower substrate 58 with a 50% concentration. What was etched for 40 seconds in acid was used.

【0096】該粗面化ガラス基板の上に、リード電極5
6としてTaを膜厚500nmスパッタ法により作成
し、幅が10μmの短冊状になるようにエッチングを行
った。
A lead electrode 5 is formed on the roughened glass substrate.
As No. 6, Ta was formed by a sputtering method with a film thickness of 500 nm, and etching was performed so as to have a strip shape with a width of 10 μm.

【0097】レジストの剥離後、絶縁膜59としてSi
2膜を膜厚500nm蒸着した。
After removing the resist, Si is used as an insulating film 59.
An O 2 film was deposited to a thickness of 500 nm.

【0098】レジスト54を塗布後、基板裏面(レジス
トが塗布されていない面)より、幅が10μm、ピッチ
100μmのスリット状の光をリード電極と直交するよ
うに背面露光を行う。
After applying the resist 54, back exposure is performed from the back surface of the substrate (surface not coated with the resist) so that slit-shaped light having a width of 10 μm and a pitch of 100 μm is orthogonal to the lead electrodes.

【0099】現像後、絶縁膜59のエッチング処理を行
った。この時の平面図を図10に、図10のa−b線、
c−d線の断面を模式的に示す図を図11(A)、図1
1(B)にそれぞれ示す。
After the development, the insulating film 59 was etched. A plan view at this time is shown in FIG.
1A and 1B are diagrams schematically showing a cross section taken along line cd.
1 (B), respectively.

【0100】その後、リード線側壁部61は、0.1w
t%のクエン酸水溶液に浸して、2Vの定電圧を印加す
ることにより陽極酸化された。これにより、図11
(A)におけるリード電極56の露出部分の表面が陽極
酸化絶縁薄膜61(図11(C)参照)で覆われる。
After that, the lead wire side wall portion 61 has a thickness of 0.1 w.
It was anodized by immersing in a t% aqueous solution of citric acid and applying a constant voltage of 2V. As a result, FIG.
The surface of the exposed portion of the lead electrode 56 in (A) is covered with the anodized insulating thin film 61 (see FIG. 11C).

【0101】最後に光反射板兼電極60であるアルミニ
ウム層を蒸着し、画素形状にエッチングすることにより
光反射板兼電極を作成し、リード線/側壁部の陽極酸化
膜/反射画素電極板間でMIM素子が形成される(図1
1(C)参照)。
Finally, an aluminum layer which is the light reflection plate / electrode 60 is vapor-deposited and etched into a pixel shape to form a light reflection plate / electrode, and the space between the lead wire / side wall anodic oxide film / reflection pixel electrode plate is formed. MIM element is formed by (Fig. 1
1 (C)).

【0102】図12に、完成した反射型液晶表示素子を
模式的に示す斜視図を示す。また、図12におけるA−
A′線とB−B′線に沿った断面図を図13、図14に
それぞれ示す。
FIG. 12 is a perspective view schematically showing the completed reflective liquid crystal display element. In addition, A- in FIG.
13 and 14 are cross-sectional views taken along the line A'and the line BB ', respectively.

【0103】その後、上記MIM基板と、透明導電膜の
ITOとが、リード電極と直交する方向に短冊状に形成
した対向基板を、各々の膜面が対向するようにして重ね
合わせた。
After that, a counter substrate in which the above MIM substrate and ITO of the transparent conductive film were formed in a strip shape in a direction orthogonal to the lead electrodes was laminated so that their respective film surfaces face each other.

【0104】なお、MIM基板と対向基板には配向処理
が施され、両基板はプラスチック粒子等のスペーサを介
して、パネル周辺部にエポキシ系の接着剤を塗ることに
より張り合わされた。
The MIM substrate and the counter substrate were subjected to orientation treatment, and both substrates were bonded together by applying an epoxy adhesive to the peripheral portion of the panel through a spacer such as plastic particles.

【0105】その後、GH型の液晶を注入し液晶層とす
ることにより液晶素子とした。
After that, a GH type liquid crystal was injected to form a liquid crystal layer to obtain a liquid crystal element.

【0106】本発明により得られた液晶パネルは、従来
の液晶パネルと同様のコントラスト比と白色度が得られ
た。従って、本発明を用いれば、低コストで、かつ良好
な表示性能を有する反射型液晶表示素子が得られること
を示した。
The liquid crystal panel obtained according to the present invention had the same contrast ratio and whiteness as the conventional liquid crystal panel. Therefore, it is shown that the present invention can provide a reflective liquid crystal display device having low cost and good display performance.

【0107】以上、本発明を上記各実施例に即して説明
したが、本発明は上記態様にのみ限定されるものでな
く、本発明の原理に準ずる各種態様を含むことは勿論で
ある。
Although the present invention has been described with reference to each of the above embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and it is needless to say that various embodiments conforming to the principle of the present invention are included.

【0108】[0108]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
液晶駆動用の非線形素子を液晶素子内部に有し、かつ光
反射板を液晶素子内部に有するアクティブ駆動反射型液
晶表示素子においてスイッチング素子及び配線等を製造
する以前に、予め基板上に反射板表面に用いる凹凸面を
作成することが可能とされるため、液晶素子パネルの低
コスト化と最適な反射性能を有する反射板凹凸形成が可
能となり、さらにアクティブマトリクス駆動素子の製造
プロセスにおいて背面露光処理により素子を自己整合す
ることにより、素子特性のばらつきがなく、且つ優れた
スイッチング性能を有する能動素子が得られるという効
果を有する。
As described above, according to the present invention,
Before manufacturing switching elements, wiring, etc. in an active drive reflective liquid crystal display element having a liquid crystal driving non-linear element inside the liquid crystal element and a light reflecting plate inside the liquid crystal element, the surface of the reflector plate is previously formed on the substrate. Since it is possible to create an uneven surface to be used for, it becomes possible to reduce the cost of the liquid crystal element panel and form the unevenness of the reflecting plate having the optimum reflection performance. Furthermore, by the backside exposure treatment in the manufacturing process of the active matrix driving element. By self-aligning the elements, there is an effect that it is possible to obtain an active element having no variation in element characteristics and having excellent switching performance.

【0109】また、本発明の製造方法によれば、背面露
光プロセスを用いたことにより、基板凹凸の影響による
目合わせの精度の劣化とは無関係にスイッチング素子の
パターン化が可能とされ、その結果スイッチング素子性
能の安定性、及び信頼性が確保でき、素子間における素
子特性のばらつきが低減回避すると共に、さらにフォト
リソ工程が僅か2工程となるために低コスト化ができる
という効果を有する。
Further, according to the manufacturing method of the present invention, by using the backside exposure process, the switching element can be patterned regardless of the deterioration of the alignment accuracy due to the influence of the substrate unevenness. The stability and reliability of the switching element performance can be ensured, the variation in element characteristics between elements can be reduced and avoided, and the cost can be reduced because the photolithography process is only two steps.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る反射型液晶表示素子を説明するた
めの図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining a reflective liquid crystal display device according to the present invention.

【図2】本発明に係る反射型液晶表示素子におけるTF
T製造工程を工程順に説明するための図である。
FIG. 2 shows a TF in the reflective liquid crystal display device according to the present invention.
It is a figure for demonstrating T manufacturing process in process order.

【図3】本発明に係る反射型液晶表示素子におけるMI
M製造工程を工程順に説明するための図である。
FIG. 3 shows MI in the reflective liquid crystal display element according to the present invention.
It is a figure for demonstrating M manufacturing process in process order.

【図4】本発明に係る反射型液晶表示素子におけるMI
M製造工程を工程順に説明するための図である。
FIG. 4 shows MI in the reflective liquid crystal display element according to the present invention.
It is a figure for demonstrating M manufacturing process in process order.

【図5】本発明の一実施例に係るTFTアクティブマト
リクス駆動反射型液晶素子の平面図である。
FIG. 5 is a plan view of a TFT active matrix drive reflective liquid crystal device according to an embodiment of the present invention.

【図6】図5のA−A′線に沿った断面を示す図であ
る。
6 is a diagram showing a cross section taken along line AA ′ of FIG.

【図7】図5のB−B′線に沿った断面を示す図であ
る。
FIG. 7 is a view showing a cross section taken along line BB ′ of FIG.

【図8】粗面化ガラス表面凹凸平均高さとエッチング速
度の関係を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a relationship between an average height of surface roughness of a roughened glass and an etching rate.

【図9】本発明の別の実施例における鏡面ガラス基板を
用いた反射型液晶表示素子の製造工程を工程順に説明す
るための図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining a manufacturing process of a reflective liquid crystal display element using a mirror-finished glass substrate in another embodiment of the present invention in the order of steps.

【図10】本発明の更に別の実施例におけるMIMアク
ティブマトリクス駆動反射型液晶素子の製造工程を工程
順に説明するための平面図である。
FIG. 10 is a plan view for explaining a manufacturing process of a MIM active matrix drive reflective liquid crystal element in still another embodiment of the present invention in the order of steps.

【図11】本発明の更に別の実施例におけるMIMアク
ティブマトリクス駆動反射型液晶素子の製造工程を工程
順に説明するための図である。
FIG. 11 is a diagram for explaining a manufacturing process of the MIM active matrix drive reflective liquid crystal element in still another embodiment of the present invention in the order of steps.

【図12】本発明の実施例によりランダムな凹凸面上に
作成されたMIMアクティブマトリクス駆動反射型液晶
素子におけるMIM基板の斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view of an MIM substrate in a MIM active matrix drive reflective liquid crystal device formed on a random uneven surface according to an embodiment of the present invention.

【図13】図11のA−A′線に沿った断面を示す図で
ある。
13 is a diagram showing a cross section taken along line AA ′ of FIG.

【図14】図10のB−B′線に沿った断面を示す図で
ある。
14 is a diagram showing a cross section taken along line BB ′ of FIG.

【図15】従来のTFT駆動反射型液晶表示素子の断面
を示す図である。
FIG. 15 is a view showing a cross section of a conventional TFT driving reflection type liquid crystal display element.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 上部ガラス基板 2 透明電極 3 ゲスト・ホスト型液晶 4 反射板兼電極 5 厚膜絶縁体 6 アモルファスシリコン 7 リード電極 8 ゲート絶縁膜 9 ゲート電極 10 下部ガラス基板 11 TFT 12 パッシベーション 13 ソース電極 14 ドレイン電極 15 反射型画素電極 16 ゲート絶縁膜 17 ゲート電極 18 粗面化ガラス基板 19 平坦化膜 20 平坦領域 21 半導体層 22 凹凸形成層 23 ゲート電極 24 ゲート絶縁層 25 半導体層 26 レジスト層 27 粗面化ガラス 28 陽極酸化膜層 29 ソース電極 30 反射画素電極板 31 下部基板 32 信号線 33 絶縁層 34 レジスト層 35 陽極酸化層 36 反射画素電極板 37 画素電極1 38 画素電極2 39 画素電極3 40 画素電極4 41 ゲート電極 42 TFT部 43 信号電極 44 半導体層 45 ゲート絶縁膜 46 下部基板 47 陽極酸化膜 48 レジスト層 49 下部基板 50 平坦領域 51 凹凸部 52 反射電極板 53 TFT及び配線形成部 54 レジスト層 55 下部基板 56 リード電極 57 MIMダイオード形成領域 58 下部ガラス基板 59 絶縁膜 60 光反射板兼電極 61 陽極酸化絶縁薄膜 1 Upper Glass Substrate 2 Transparent Electrode 3 Guest / Host Type Liquid Crystal 4 Reflector / Electrode 5 Thick Film Insulator 6 Amorphous Silicon 7 Lead Electrode 8 Gate Insulating Film 9 Gate Electrode 10 Lower Glass Substrate 11 TFT 12 Passivation 13 Source Electrode 14 Drain Electrode 15 Reflective Pixel Electrode 16 Gate Insulating Film 17 Gate Electrode 18 Roughened Glass Substrate 19 Flattening Film 20 Flat Region 21 Semiconductor Layer 22 Uneven Layer 23 Gate Electrode 24 Gate Insulating Layer 25 Semiconductor Layer 26 Resist Layer 27 Roughened Glass 28 Anodized film layer 29 Source electrode 30 Reflective pixel electrode plate 31 Lower substrate 32 Signal line 33 Insulating layer 34 Resist layer 35 Anodized layer 36 Reflective pixel electrode plate 37 Pixel electrode 1 38 Pixel electrode 2 39 Pixel electrode 3 40 Pixel electrode 4 41 Gate electrode 42 TFT section 43 Signal electrode 44 Semiconductor layer 45 Gate insulating film 46 Lower substrate 47 Anodized film 48 Resist layer 49 Lower substrate 50 Flat Region 51 Concavo-convex part 52 Reflective electrode plate 53 TFT and wiring formation part 54 Resist layer 55 Lower substrate 56 Lead electrode 57 MIM diode formation region 58 Lower glass substrate 59 Insulation film 60 Light reflection plate / electrode 61 Anodized insulation thin film

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】マトリクス状に配置され画素電極を兼用す
る光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書き
込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前記
能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1の
基板と、 前記画素電極に対向する透明電極を設けた第2の基板
と、 前記第1、第2の基板との間に介装された液晶層と、を
含む液晶表示素子において、 前記第1の基板表面が所定の凹凸を有し、前記能動素子
が前記第1の基板の凹凸上に形成されたことを特徴とす
る液晶表示素子。
1. A light reflection plate, which is arranged in a matrix and also serves as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and for operating the active element. A first substrate provided with a predetermined wiring, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates, A liquid crystal display element including: a surface of the first substrate having a predetermined unevenness, and the active element formed on the unevenness of the first substrate.
【請求項2】マトリクス状に配置され画素電極を兼用す
る光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書き
込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前記
能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1の
基板と、 前記画素電極に対向する透明電極を設けた第2の基板
と、 前記第1、第2の基板との間に介装された液晶層と、を
含む液晶表示素子において、 前記第1の基板が前記光反射板の形成領域に対応する領
域にのみ凹凸を備え、前記能動素子が前記第1の基板の
平坦領域上に形成されたことを特徴とする液晶表示素
子。
2. A light reflection plate arranged in a matrix also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and for operating the active element. A first substrate provided with a predetermined wiring, a second substrate provided with a transparent electrode facing the pixel electrode, a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates, In a liquid crystal display device including: the first substrate is provided with unevenness only in a region corresponding to the formation region of the light reflection plate, and the active element is formed on a flat region of the first substrate. Liquid crystal display device.
【請求項3】前記第1の基板が、基板表面全面に凹凸を
有し、該凹凸領域上に選択的に有機系膜又は無機系膜が
所定の膜厚で形成されてなる平坦化領域を備え、前記能
動素子及び/又は配線が前記平坦化領域上に形成されて
なることを特徴とする請求項2記載の液晶表示素子。
3. A flattening region in which the first substrate has unevenness on the entire surface of the substrate, and an organic film or an inorganic film is selectively formed on the uneven region to a predetermined thickness. The liquid crystal display element according to claim 2, further comprising: the active element and / or the wiring formed on the flattening region.
【請求項4】前記第1の基板が、基板表面全面に凹凸を
有し、前記凹凸をエッチング処理により平坦化してなる
平坦化領域を備え、前記能動素子及び/又は配線が前記
平坦化領域上に形成されてなることを特徴とする請求項
2記載の液晶表示素子。
4. The first substrate is provided with a flattened region having an unevenness on the entire surface of the substrate, and the unevenness is flattened by an etching process, and the active element and / or the wiring is on the flattened region. 3. The liquid crystal display element according to claim 2, wherein the liquid crystal display element is formed.
【請求項5】前記第1の基板を鏡面状態とし、前記光反
射板が形成される領域に対応する領域にのみ前記第1の
基板表面に凹凸を有することを特徴とする請求項2記載
の液晶表示素子。
5. A mirror surface of the first substrate, wherein the first substrate surface has irregularities only in a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed. Liquid crystal display device.
【請求項6】前記能動素子が、トランジスタであること
を特徴とする請求項1又は2記載の液晶表示素子。
6. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein the active element is a transistor.
【請求項7】前記トランジスタが、ゲート電極上部のみ
に半導体層が配置されてなることを特徴とする請求項5
記載の液晶表示素子。
7. The transistor according to claim 5, wherein the semiconductor layer is arranged only on the gate electrode.
The liquid crystal display element described.
【請求項8】前記トランジスタが、前記第1の基板上部
にパターン形成されたゲート電極上部を、絶縁層、半導
体層、レジスト層にて全面が覆われた前記第1の基板の
背面より露光し、前記ゲート電極の形状を反映したレジ
ストパターンが最上部に形成され、該レジストパターン
を用いて、半導体層がパターン化されてなる自己整合プ
ロセスで形成されたことを特徴とする請求項7記載の液
晶表示素子。
8. The transistor exposes the patterned gate electrode upper portion on the first substrate upper portion from the back surface of the first substrate entirely covered with an insulating layer, a semiconductor layer, and a resist layer. The resist pattern reflecting the shape of the gate electrode is formed on the uppermost portion, and the semiconductor pattern is formed by a self-alignment process in which the semiconductor layer is patterned using the resist pattern. Liquid crystal display device.
【請求項9】前記トランジスタが、ゲート電極及びゲー
ト信号線の周囲が絶縁膜で覆われていることを特徴とす
る請求項7記載の液晶表示素子。
9. The liquid crystal display element according to claim 7, wherein the transistor has a gate electrode and a gate signal line surrounded by an insulating film.
【請求項10】前記能動素子が、2端子型の非線形抵抗
素子であることを特徴とする請求項1又は2記載の液晶
表示素子。
10. The liquid crystal display element according to claim 1, wherein the active element is a two-terminal type non-linear resistance element.
【請求項11】前記非線形抵抗素子が、前記第1の基板
上部にパターン形成された信号配線上部を絶縁層、レジ
スト層にて全面が覆われた前記第1の基板の背面より前
記信号配線と直交するストライプ状のマスクを用いて露
光し、前記信号配線の形状とマスク形状を反映したレジ
ストパターンが最上部に形成され、該レジストパターン
を用いて、絶縁層がパターン化される自己整合プロセス
で形成されることを特徴とする請求項10記載の液晶表
示素子。
11. The non-linear resistance element is connected to the signal wiring from the back surface of the first substrate which is entirely covered with an insulating layer and a resist layer on the upper portion of the signal wiring patterned on the first substrate. Exposure is performed using orthogonal stripe-shaped masks, a resist pattern reflecting the shape of the signal wiring and the mask shape is formed on the uppermost portion, and the insulating layer is patterned using the resist pattern in a self-alignment process. The liquid crystal display element according to claim 10, which is formed.
【請求項12】前記2端子型の非線形素子において、非
線形素子は、信号を供給する配線と、該配線の側壁部の
絶縁膜と画素電極を兼用する光反射板から構成されてい
ることを特徴とする請求項10記載の液晶表示素子。
12. The two-terminal type non-linear element, wherein the non-linear element is composed of a wiring for supplying a signal and a light reflection plate which also serves as an insulating film on a side wall of the wiring and a pixel electrode. The liquid crystal display device according to claim 10.
【請求項13】前記第1の基板表面の凹凸が、高さが
0.5μmから10μm、ピッチが1μmから30μm
までの間においてランダムに配置されていることを特徴
とする請求項1又は2記載の液晶表示素子。
13. The unevenness of the surface of the first substrate has a height of 0.5 μm to 10 μm and a pitch of 1 μm to 30 μm.
The liquid crystal display element according to claim 1 or 2, wherein the liquid crystal display elements are randomly arranged.
【請求項14】マトリクス状に配置され画素電極を兼用
する光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書
き込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前
記能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1
の基板と、 前記画素電極に対向する透明電極を設けた第2の基板
と、 前記第1、第2の基板との間に介装された液晶層と、を
含む液晶表示素子の製造方法において、 前記第1の基板表面において少なくとも前記光反射板が
形成される領域に対応する領域に所定高さの凹凸を形成
し、 前記第1の基板上に形成されたゲート電極のパターンを
利用して前記第1の基板の背面側より露光して前記ゲー
ト電極の形状を反映したレジストパターンを形成し、 該レジストパターンを用いて半導体層を含む前記能動素
子の活性層を自己整合的に形成し、 前記ゲート電極の側壁を陽極酸化により絶縁膜で覆い、 前記光反射板を前記第1の基板の凹凸領域上部に形成す
ることを特徴とする液晶表示素子の製造方法。
14. A light reflection plate arranged in a matrix and also serving as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and for operating the active element. 1st with a predetermined wiring of
And a second substrate having a transparent electrode facing the pixel electrode, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. And forming a concavo-convex pattern of a predetermined height on at least a region corresponding to the region where the light reflection plate is formed on the surface of the first substrate, and using the pattern of the gate electrode formed on the first substrate. Exposing from the back side of the first substrate to form a resist pattern reflecting the shape of the gate electrode, and using the resist pattern to form an active layer of the active element including a semiconductor layer in a self-aligned manner, A method of manufacturing a liquid crystal display device, characterized in that a sidewall of the gate electrode is covered with an insulating film by anodic oxidation, and the light reflection plate is formed on an uneven region of the first substrate.
【請求項15】マトリクス状に配置され画素電極を兼用
する光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書
き込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前
記能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1
の基板と、 前記画素電極に対向する透明電極を設けた第2の基板
と、 前記第1、第2の基板との間に介装された液晶層と、を
含む液晶表示素子の製造方法において、 前記第1の基板上において前記光反射板の形成領域に対
応する領域にのみ凹凸を備えると共に前記能動素子が形
成される領域には平坦領域上を形成し、 前記第1の基板上の平坦領域上に半導体層を含む前記能
動素子の活性層を形成し、 前記ゲート電極の側壁を陽極酸化により絶縁膜で覆い、 前記光反射板を前記第1の基板の凹凸領域上部に形成す
ることを特徴とする液晶表示素子の製造方法。
15. A light reflection plate, which is arranged in a matrix and also serves as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and for operating the active element. 1st with a predetermined wiring of
And a second substrate having a transparent electrode facing the pixel electrode, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A flat area is formed in the area where the active element is formed, and the flat area is formed in the area where the active element is formed. Forming an active layer of the active element including a semiconductor layer on the region, covering a sidewall of the gate electrode with an insulating film by anodization, and forming the light reflection plate on an uneven region of the first substrate. A method for manufacturing a characteristic liquid crystal display device.
【請求項16】前記ゲート電極のパターンを利用して前
記第1の基板の背面側より露光し、前記ゲート電極上部
を、絶縁層、半導体層、レジスト層にて全面が覆われた
前記第1の基板を背面側より露光し、該レジストパター
ンを用いて半導体層を含む前記能動素子の活性層を自己
整合的に形成することを特徴とする請求項15記載の液
晶表示素子の製造方法。
16. The first substrate, which is exposed from the back side of the first substrate by using the pattern of the gate electrode, and whose upper surface is covered with an insulating layer, a semiconductor layer, and a resist layer. 16. The method for manufacturing a liquid crystal display element according to claim 15, wherein the substrate of 1. is exposed from the back side, and the active layer of the active element including the semiconductor layer is formed in a self-aligned manner by using the resist pattern.
【請求項17】マトリクス状に配置され画素電極を兼用
する光反射板と、前記画素電極毎に前記画素電極への書
き込み電荷を制御する能動素子と、を備えると共に、前
記能動素子を作動させるための所定の配線を備えた第1
の基板と、 前記画素電極に対向する透明電極を設けた第2の基板
と、 前記第1、第2の基板との間に介装された液晶層と、を
含む液晶表示素子の製造方法において、 前記第1の基板表面において少なくとも前記光反射板が
形成される領域に対応する領域に所定高さの凹凸を形成
し、 前記能動素子が、前記第1の基板上部にパターン形成さ
れた信号配線上部を絶縁層が覆い、前記信号配線側壁に
形成される2端子型の非線形素子からなり、 前記非線形素子が、前記第1の基板上部にパターン形成
された信号配線上部を絶縁層、レジスト層で全面が覆わ
れた前記第1の基板の背面側より前記信号配線と直交す
るストライプ状のマスクを用いて露光して前記信号配線
の形状とマスク形状を反映したレジストパターンを形成
し、該レジストパターンを用いて絶縁層がパターン化さ
れる自己整合プロセスで形成され、 前記絶縁層のパターン化により露出した前記信号配線側
壁を陽極酸化により絶縁膜で覆い、前記画素電極を兼用
する光反射板を前記第1の基板の凹凸領域上部に形成す
ることを特徴とする液晶表示素子の製造方法。
17. A light reflection plate, which is arranged in a matrix and also serves as a pixel electrode, and an active element for controlling a write charge to the pixel electrode for each pixel electrode, and for operating the active element. 1st with a predetermined wiring of
And a second substrate having a transparent electrode facing the pixel electrode, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A signal wiring pattern in which the active element is patterned on the upper surface of the first substrate by forming unevenness of a predetermined height in at least a region corresponding to a region where the light reflection plate is formed on the surface of the first substrate. An insulating layer covers the upper part and is composed of a two-terminal type non-linear element formed on the side wall of the signal wiring. The non-linear element comprises an insulating layer and a resist layer on the upper part of the signal wiring patterned on the first substrate. The back surface of the first substrate, which is entirely covered, is exposed using a stripe-shaped mask that is orthogonal to the signal wiring to form a resist pattern that reflects the shape of the signal wiring and the mask shape. Is formed by a self-alignment process in which an insulating layer is patterned by using, and the signal wiring side wall exposed by patterning the insulating layer is covered with an insulating film by anodization, and the light reflection plate also serving as the pixel electrode is formed. A method for manufacturing a liquid crystal display element, which is characterized in that the liquid crystal display element is formed on an uneven region of a first substrate.
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