JPH08304265A - 電子機構部品の信頼性試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コネクタ、スイッチ等の電子機構部品につい
て、ガス雰囲気中で加速寿命試験を行う場合、試験装置
の寿命を長くすることができる電子機構部品の信頼性試
験装置を提供することを目的とするものである。 【構成】 コネクタ等の電子機構部品を動かす駆動部
と、ロッド等の駆動部の一部と電子機構部品とを収容す
るガスチャンバーと、このガスチャンバーと駆動部とを
密封する密封部とを有するものである。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、亜硫酸ガス等のガス雰
囲気中でコネクタ等を抜き差し等することによって、コ
ネクタ等の加速寿命試験を行う電子機構部品の信頼性試
験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】電子機器を構成するユニットを接続する
コネクタ、回路を変更するスイッチ等は大気汚染が顕著
になるにつれて接点表面の腐食を原因とする故障が増加
している。これら、コネクタ、スイッチ等の接片または
接点は、自動車の排気ガス等が原因である微量の腐食性
ガスのためにその接触面が腐食され、電気的な接触不良
が生じ、電子機器の故障となる。

【０００３】部品メーカーにおいては腐食性ガスが混入
した雰囲気内でも信頼性の高いコネクタを開発すること
が必要であり、電子機器メーカーにおいては同様に信頼
性の高い部品を選定する必要がある。これらの部品の信
頼性を改善するための信頼性評価を行うには、腐食性ガ
ス雰囲気内での動作試験が必要であるが、腐食性ガスに
よる危険が伴うこと、試験装置が腐食することの理由に
よって、適当な試験装置がまだ開発されていない。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来、亜硫酸ガス等の
雰囲気中でコネクタを抜き差し試験する場合、コネクタ
の抜き差しを多数回実行する抜き差し試験機の全体をガ
スチャンバー内に設置し、このガスチャンバーの横にガ
スボンベを設置し、このガスボンベからガスチャンバー
に向けて配管し、この配管を介して亜硫酸ガスをガスチ
ャンバーに供給し、抜き差し試験機のコネクタ用チャッ
クにコネクタをセットし、抜き差し試験を実行してい
る。

【０００５】従来の腐食性ガス試験装置は、一般に腐食
性ガスを高圧に充填したガスボンベをガス源としている
ために、ボンベとの接続部等からガス漏れが生じると、
危険性があり、特に、室内でガス漏れがあれば人身の危
険があるために、屋外の小屋等に試験装置を設置するよ
うにし、試験装置の設置場所に制約があり、また、ガス
の希釈装置が複雑であるので、試験装置が大型、かつ、
高価であるという問題がある。また、コネクタの抜き差
し動作試験機を、ガス試験装置の内部に設置した場合、
大型の試験室が必要となり、実施が困難である。

【０００６】さらに、腐食性ガス雰囲気内に抜き差し試
験機を設置すると、腐食性ガスのために、抜き差し試験
機が短時間で故障となるので実用に耐えないという問題
がある。つまり、抜き差し試験機を構成するモータ、回
転運動を往復運動に変換するリンク装置等の腐食が速
く、抜き差し試験機自体の寿命が短くなるという問題が
ある。

【０００７】上記各問題は、コネクタの抜き差し試験に
限らず、スイッチ等のオン、オフ試験についても、つま
り、広く電子機構部品の信頼性試験装置についても同様
に発生するものである。

【０００８】本発明の第１の目的は、コネクタ、スイッ
チ等の電子機構部品について、ガス雰囲気中で加速寿命
試験を行う場合、試験装置の寿命を長くすることができ
る電子機構部品の信頼性試験装置を提供することを目的
とするものである。

【０００９】ここで、抜き差し試験機の本体をガス試験
槽の外に設置し、棒状のコネクタ駆動部がガス試験槽を
貫通するような構造を考えることができるが、この場
合、往復運動または回転角往復運動をする棒状のコネク
タ駆動部を、測定に支障がない条件で密閉することが困
難であるという問題がある。

【００１０】本発明の第２の目的は、電子機構部品の信
頼性試験を行うために軸方向に往復運動するロッドと、
信頼性試験の対象である電子機構部品を収容するガスチ
ャンバーとの密閉を、測定に支障がない条件で行うこと
が容易である電子機構部品の信頼性試験装置を提供する
ことを目的とするものである。

【００１１】また、本発明の第３の目的は、信頼性試験
中におけるガスチャンバー内の圧力を一定に維持するこ
とができる電子機構部品の信頼性試験装置を提供するこ
とを目的とするものである。

【００１２】さらに、本発明の第４の目的は、腐食性ガ
スによる危険を防止することができる電子機構部品の信
頼性試験装置を提供することを目的とするものである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は、コネクタ等の
電子機構部品を動かす駆動部と、ロッド等の駆動部の一
部と電子機構部品とを収容するガスチャンバーと、この
ガスチャンバーと駆動部とを密閉する密閉部とを有する
ものである。

【００１４】

【作用】本発明は、コネクタ等の電子機構部品を動かす
駆動部と、ロッド等の駆動部の一部と電子機構部品とを
収容するガスチャンバーと、このガスチャンバーと駆動
部とを密閉する密閉部とを有するので、ガス雰囲気中に
存在する部分がロッド等の駆動部の一部であり、ロッド
等が多少腐食しても、加速寿命試験装置そのものの寿命
に与える影響が少ないので、加速寿命試験装置の寿命が
短くなることを阻止できる。

【００１５】

【実施例】図１は、本発明の一実施例である抜き差し試
験装置Ｔの正面図であり、図２は、抜き差し試験装置Ｔ
におけるロッドＲと折り返し筒状ゴム２２との関係を示
す縦断面図である。

【００１６】抜き差し試験装置Ｔは、第１のチャックＣ
Ｈ１と、第２のチャックＣＨ２と、ロッドＲの一部とを
収容するガスチャンバー１０と、上下動するロッドＲ
と、ロッドＲとガスチャンバー１０とを密閉する密閉部
２０と、ガスチャンバー１０内の圧力を一定に維持する
圧力調整装置３０と、ガスチャンバー１０内に亜硫酸ガ
スを供給するガス供給装置４０と、ロッドＲを上下動す
る上下動機構Ｍと、この上下動機構Ｍを支持する支柱Ｐ
とを有する。

【００１７】ガスチャンバー１０には、第１の開口部１
１と、第２の開口部１２と、連通口１３と、ガラス扉１
４とが設けられている。なお、第１のチャックＣＨ１
は、テストサンプルとしての第１のコネクタＣ１を挟む
ものであり、第２のチャックＣＨ２は、テストサンプル
としての第２のコネクタＣ２を挟むものである。ロッド
Ｒは、その先端に第２のチャックＣＨ２が固定され、第
２のチャックＣＨ２によって第２のコネクタＣ２が挟ま
れる。

【００１８】密閉部２０は、第１の開口部１１に設けら
れた管２１と、この管２１の内壁とロッドＲの外周とを
接続する円錐台状の折り返し筒状ゴム２２とで構成され
ている。折り返し筒状ゴム２２は、細口部２２１と、太
口部２２２とを有し、細口部２２１にロッドＲを挿通し
た状態で、ゴム紐等のバインダー２２３によって、ロッ
ドＲに細口部２２１が密着され、ゴム紐等のバインダー
２２４によって、管２１の突出部２１２に太口部２２２
が密着されている。

【００１９】圧力調整装置３０は、第２の開口部１２に
設けられ、第２の開口部１２を塞ぐ蛇腹２１で構成され
ている。

【００２０】ガス供給装置４０は、ケース４１内に、硫
化物飽和塩を包含する塩類水溶液４２が収容され、ケー
ス４１の側壁に設けられている連通口４３がガスチャン
バー１０の連通口１３に接続されたものである。

【００２１】次に、上記実施例において、コネクタＣ
１、Ｃ２を抜き差し試験するための準備作業について説
明する。

【００２２】まず、扉１４を開き、第１のチャックＣＨ
１に、テストサンプルであるコネクタＣ１を挟み、ロッ
ドＲの下端に設けられている第２のチャックＣＨ２に、
コネクタＣ１の相手であるコネクタＣ２を挟み、扉１４
を閉じる。そして、ガス供給装置４０の図示しない上扉
を開き、所望の塩類水溶液を入れ、図示しない上扉を閉
じる。これによって、ガス供給装置４０から、連通口４
３、１３を介して、ガスチャンバー１０内に亜硫酸ガス
が供給される。この場合、ガス供給装置４０において亜
硫酸ガスが発生し、飽和塩液からガスが徐々に発生し、
ガスチャンバ１０に供給され、周囲温度が一定であれ
ば、ガスチャンバ１０内の亜硫酸ガスの濃度が一定にな
る。上記実施例においては、たとえば１０ｐｐｍの亜硫
酸ガスの雰囲気中でコネクタＣ１、Ｃ２の抜き差し試験
を行う場合には、その濃度に対応する温度に維持する。

【００２３】次に、上記実施例において、実際に、コネ
クタＣ１、Ｃ２の抜き差し試験を繰り返す動作について
説明する。

【００２４】チャックＣＨ１、ＣＨ２によってそれぞれ
コネクタＣ１、Ｃ２が挟まれ、扉１４が閉じられている
状態で、図示しない電源スイッチをオンすると、上下動
駆動装置Ｍが動作を開始し、ロッドＲが上下動する。こ
こで、ロッドＲが最下点に達すると、筒状ゴム２２が伸
び、図３に示す状態になり、ロッドＲが最上点に達する
と、筒状ゴム２２が縮み、図４に示す状態になる。

【００２５】ロッドＲが最上点からロッドＲが最下点に
移動する過程で、ガスチャンバー１０の容積が小さくな
り、ガスチャンバー１０の気圧が上昇しようとするが、
この圧力が少しでも上昇しようとすると、第２の開口部
１２を塞ぐように設けられている蛇腹３１が膨張し始
め、圧力の上昇が抑制され、圧力調整がなされ、ガスチ
ャンバー１０内の圧力が大気圧に維持される。

【００２６】これとは逆に、ロッドＲが最下点からロッ
ドＲが最上点に移動する過程で、ガスチャンバー１０の
容積が大きくなり、ガスチャンバー１０の気圧が下降し
ようとするが、この圧力が少しでも下降しようとする
と、第２の開口部１２を塞ぐように設けられている蛇腹
２１が収縮し始め、圧力の下降が抑制され、圧力調整が
なされ、ガスチャンバー１０内の圧力が大気圧に維持さ
れる。

【００２７】圧力調整装置３０を設けないと、密閉を厳
格に行わなければならないが、圧力調整装置３０を設け
ることによって、ある程度の密閉を行えば、ガスチャン
バー１０内の亜硫酸ガスがガスチャンバー１０の外に出
ない。つまり、圧力調整装置３０を設けることによっ
て、ガスチャンバー１０から亜硫酸ガスが漏れないよう
にするための密閉が容易になる。

【００２８】ところで、筒状ゴム２２の細口部２２１が
バインダー２２３によって密着され、その太口部２２２
がバインダー２２４によって密着されているので、ロッ
ドＲが上下動している間でも、ガスチャンバー１０とロ
ッドＲとの間が確実に密着される。したがって、ガスチ
ャンバー１０内に亜流酸ガスを入れて抜き差し試験を行
っても、その試験中に亜硫酸ガスがガスチャンバー１０
から外に漏れることがなく、室内にガスチャンバー１０
を設置しても、安全である。また、ガス供給装置４０が
塩類水溶液から放出される亜硫酸ガスを発生し、このよ
うにして発生されたガスをガスチャンバー１０に供給す
るようにしており、塩類水溶液から放出される亜硫酸ガ
スの放出量が微量であるので、室内にガスチャンバー１
０を設置しても、安全である。

【００２９】また、上記実施例によれば、ガスチャンバ
ー１０に閉じ込める部分が、抜き差し試験機の全体では
なく、基本的には、ロッドＲ等の駆動部の一部とチャッ
クＣＨ１、ＣＨ２とコネクタＣ１、Ｃ２とであるので、
ガスチャンバー１０の形状を小さくすることができ、し
たがって、抜き差し試験装置が小型であり、このため
に、装置全体が安価になるという利点がある。

【００３０】なお、上記抜き差し試験の過程で、コネク
タＣ２にコネクタＣ１が差し込まれているときにおける
電気抵抗、コネクタＣ２からコネクタＣ１を抜くときの
力、コネクタＣ２にコネクタＣ１を差し込むときの力、
抜き差し回数等が測定され、これらの測定データが図示
しないコンピュータに入力され、所定の演算がなされ、
抜き差し試験の試験結果がリアルタイムで集計される。

【００３１】また、筒状ゴム２２の材料として、各種ゴ
ムを使用することができ、その例としては、天然ゴム、
合成天然ゴム、スチレンゴム、ブチルゴム、ブタジエン
ゴム、エチレン・プロピレンゴム、ニトリルゴム、クロ
ロプレンゴム、ハイパロンゴム、ウレタンゴム、多硫化
ゴム、シリコーンゴム、ふっ素ゴム、アクリルゴム、エ
チレン酢ビゴム等が考えられる。また、筒状ゴム２２
は、ゴム以外のゴム様材料を使用してもよく、伸縮自在
の薄膜を使用してもよく、さらに、筒状ゴム２２の形状
を角錐台状としてもよい。つまり、筒状ゴム２２は、筒
状可撓部材であればよい。

【００３２】図５は、本発明の他の実施例である抜き差
し試験装置Ｔ１の一部を示す縦断面図である。

【００３３】この抜き差し試験装置Ｔ１は、圧力調整装
置３０の代わりに、可撓性の薄膜３１ａと筒３２とで構
成される圧力調整装置３０ａを設けたものであり、圧力
調整装置３０ａ以外の部分は図１に示す抜き差し試験装
置Ｔと同様である。可撓性の薄膜３１ａは、有底の筒状
であり、その無底端部が筒３２の内壁に固着されてい
る。

【００３４】図６は、本発明の別の実施例である抜き差
し試験装置Ｔ２を示す一部縦断面図である。

【００３５】この抜き差し試験装置Ｔ２は、ガス供給装
置４０の代わりに、パーミエーションチューブ４４を使
用したガス供給装置４０ａを使用したものである。ここ
でパーミエーションチューブ４４は、テフロン等で作ら
れた密閉チューブにガスが封入されたものであり、その
テフロンから微量のガスが拡散され、このガス拡散量
は、周囲温度に比例し、周囲温度を一定にすれば、ガス
拡散量が一定になる。

【００３６】また、ガス供給装置４０ａは、ケース４１
内に、パーミエーションチューブ４４と送風機４５とが
設けられ、ケース４１の壁に設けられた連通口４３とガ
スチャンバー１０の連通口１３とを介して、パーミエー
ションチューブ４４からのガスを供給するものである。
なお、送風機４５の代りに、後述する電磁カップリング
によってファンをケース４１の外から駆動するようにし
てもよい。

【００３７】さらに、抜き差し試験装置Ｔ２において
は、中和装置５０が設けられ、この中和装置５０は、ガ
スチャンバー１０内の亜硫酸ガスを導くパイプ５１と、
中和剤５３を収容する容器５２と、中和されたガスを放
出するパイプ５４とで構成されている。中和剤として
は、過酸化水素、カセーソーダ溶液等が考えられる。

【００３８】上記実施例によれば、ガス源としてボンベ
を使用せず、塩類の水溶液４２またはパーミエーション
チューブ４４を使用しているので、危険が非常に少な
い。

【００３９】つまり、塩類の水溶液４２をガス源として
使用した場合、密閉空間では、ある程度の水面面積があ
れば、空間内部は、水溶液と温度との条件で定まる一定
のガス濃度になり、水溶液の流出等が発生したとして
も、水溶液から短時間に多量のガスが発生することはな
く、また、発生ガスの全量もボンベの場合と比較して、
少量であるので、危険は格段に少ない。ガス試験層を小
型に構成できること、利用できるガスの種類が多いこと
が利点である。

【００４０】また、４弗化エチレン（テフロン）等の化
学的に安定な樹脂で製造された円筒にガスを充填し密閉
した小型のチューブがパーミエーションチューブとして
市販されている。このパーミエーションチューブをガス
源として使用した場合、そのチューブの壁面からガスが
拡散浸透して出てくるもので、その浸出量は温度によっ
て一定であるので、定量の空気と混合することによっ
て、任意の濃度のガスを生成することができる。チュー
ブを損傷することがなければガス漏れは発生せず、ガス
の全量も少ないので安全である。ガス試験層を小型に構
成できること、利用できるガスの種類が多いことが利点
である。

【００４１】上記各実施例において、ガスチャンバーガ
ス１０に供給するガスとして、亜硫酸ガスの他に、硫化
水素、酸化窒素、一酸化炭素等を使用することができ
る。

【００４２】上記各実施例において、筒状ゴム２２の代
わりに、第１の開口部１１とロッドＲとを接続し、ガス
チャンバー１０を密閉する筒状可撓部材であれば、蛇腹
等の他の筒状可撓部材を使用することができる。

【００４３】また、上記各実施例は、ガスチャンバー１
０の上部のみに密閉部２０が設けられているが、ガスチ
ャンバー１０の下部にも密閉部２０と同様の密閉部を設
けるようにしてもよい。つまり、第１のチャックＣＨ１
を支持するロッドまたは台座とガスチャンバー１０とを
密閉する第２の密閉部を付加するようにしてもよい。こ
の第２の密閉部として、抜き差し試験装置Ｔ等における
密閉部２０または蛇腹を使用するようにしてもよい。こ
のように第２の密閉部を付加することによって、第１の
チャックＣＨ１を前後、左右に位置決めすることができ
る。

【００４４】上記各実施例において、コネクタＣ１、Ｃ
２の代りに、スイッチ等を加速寿命試験の対象にしても
よい。つまり、コネクタ以外の電子機構部品を加速寿命
試験の対象にしてもよい。ここで、本願明細書における
「電子機構部品」とは、コネクタ、スイッチ等のよう
に、可動部分を有する電子部品のことであり、コネクタ
については、電気製品を使用しているときにコネクタ同
士を相対的に動かすことはしないが、その電気製品の組
立時、または接続替え時にコネクタ同士を相対的に動か
すので、コネクタも可動部分を有すると考えることがで
き、またスイッチは、そのノブなどを動かすものであ
り、可動部分を有する。さらに、コネクタ、スイッチ以
外の部品で、可動部分を有するものは、本願明細書でい
う電子機構部品に属する。

【００４５】なお、電子機構部品としてスイッチを使用
する場合における電子機構部品の信頼性試験装置は、次
のようなものである。つまり、第１の開口部を具備する
ガスチャンバーと、このガスチャンバー内に設置され、
所定のスイッチを固定するスイッチ固定手段と、軸方向
に往復運動し、第１の開口部を挿通可能なロッドと、こ
のロッドの先端に設置され、スイッチのノブを押圧動
作、引っ掛け動作のうちの少なくとも１つの動作を行う
ノブ用治具と、第１の開口部とロッドとを接続し、ガス
チャンバーを密閉する筒状可撓部材とによって、電子機
構部品の信頼性試験装置が構成されていればよい。

【００４６】また、上記実施例は、ロッドＲが往復運動
するものであるが、ロッドＲが往復回動するもの（ある
方向に所定角度回動し、その後、逆の方向に所定角度回
動し、これらを繰り返して動作するもの）であってもよ
い。このようにすれば、ロータリスイッチ、可変抵抗器
等の回動する部品について加速寿命試験することがで
き、この場合に、密閉部２０に筒状可撓部材を使用して
いるので、ロッドＲとガスチャンバー１０とを確実に密
閉することができる。

【００４７】つまり、電子機構部品の加速寿命試験装置
としては、電子機構部品を動かす駆動部と、この駆動部
の一部と、上記電子機構部品とを収容するガスチャンバ
ーと、このガスチャンバーと上記駆動部とを密閉する密
閉部とを有してさえいればよい。

【００４８】上記実施例は、主に、ガス雰囲気中で電子
機構部品の可動部分を強制的に可動することによって、
接触抵抗値の変化を検出するものであるが、マイブレー
ション（腐食等によって絶縁部分の一方の端部から金属
が次第に延出し、その絶縁部分の他端部まで延出し、そ
の絶縁が破壊される現象）について試験する場合にも、
上記実施例を応用することができる。

【００４９】さらに、上記各実施例において、ガスチャ
ンバー１０の外に、温度センサ、湿度センサ、ヒータ、
クーラ、加湿器、ファンを設け、これらを、断熱性、機
密性を有する別の筐体に収納し、湿度センサ、温度セン
サが検出した湿度、温度に応じて、マイクロコンピュー
タが、ヒータ、クーラ、加湿器を制御し、温度、湿度を
所望の値に制御するようにしてもよい。この場合、上記
別の筐体に開口部を設け、ロッドＲを挿通し、ロッドＲ
と上記別の筐体との間に、密閉部２０と同様の新たな密
閉部を設けれるようにしてもよい。また、新たな密閉部
の近傍に、結露防止用のヒータを設けるようにしてもよ
い。

【００５０】また、上記各実施例において、ガスチャン
バー１０内に攪拌用のファンを設け、電磁カップリング
によって上記ファンを、ガスチャンバー１０の外から回
すようにしてもよい。つまり、ガスチャンバー１０の外
に回転磁界発生手段を設け、この回転磁界発生手段が発
生する磁界に応じて回転する円板状の磁石と、この磁石
を自由回転させるための固定シャフトと、この磁石と連
動するファンとをガスチャンバー１０内に設けてもよ
い。このように、ガスチャンバー１０の外に設けられて
いる回転磁界発生手段と、ガスチャンバー１０の内に設
けられている磁石と固定シャフトとファンとによって攪
拌装置を構成することによって、ファンの駆動源が腐食
ガスによって腐食することを阻止できる。また、ガスチ
ャンバー１０内のガスが攪拌によって、均一化される。

【００５１】

【発明の効果】本発明によれば、コネクタ、スイッチ等
の電子機構部品について、ガス雰囲気中で加速寿命試験
を行う場合、試験装置の寿命を長くすることができると
いう効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例である抜き差し試験装置Ｔの
正面図である。

【図２】抜き差し試験装置ＴにおけるロッドＲと筒状ゴ
ム２２との関係を示す縦断面図である。

【図３】上記実施例において、ロッドＲが最下点に達
し、筒状ゴム２２が伸びた状態を示す縦断面図である。

【図４】上記実施例において、ロッドＲが最上点に達
し、筒状ゴム２２が縮んだ状態を示す縦断面図である。

【図５】本発明の他の実施例である抜き差し試験装置Ｔ
１を示す縦断面図である。

【図６】本発明の別の実施例である抜き差し試験装置Ｔ
２を示す一部縦断面図である。

【符号の説明】

Ｔ、Ｔ１、Ｔ２…抜き差し試験装置、 １０…ガスチャンバー、 １１…第１の開口部、 １２…第２の開口部、 １３…第３の開口部、 ２０…密閉部、 ２１…管、 ２２…筒状ゴム、 ３０、３０ａ…圧力調整装置、 ３１…蛇腹、 ３１ａ…可撓性の薄膜、 ４０、４０ａ…ガス供給装置、 ４１…ケース、 ４２…塩類水溶液、 ４３…連通口、 ４４…パーミエーションチューブ、 ５０…中和装置、 Ｒ…ロッド、 Ｍ…上下動機構、 ＣＨ１…第１のチャック、 ＣＨ２…第２のチャック、 Ｃ１…第１のコネクタ、 Ｃ２…第２のコネクタ。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子機構部品を動かす駆動部と；この駆
   動部の一部と、上記電子機構部品とを収容するガスチャ
   ンバーと；このガスチャンバーと上記駆動部とを密閉す
   る密閉部と；を有することを特徴とする電子機構部品の
   信頼性試験装置。
2. 【請求項２】 第１の開口部を具備するガスチャンバー
   と；上記ガスチャンバー内に設置され、第１のコネクタ
   を固定する第１のコネクタ固定手段と；軸方向に往復運
   動し、上記第１の開口部を挿通可能なロッドと；上記ロ
   ッドの先端に設置され、上記第１のコネクタと嵌合すべ
   き第２のコネクタを固定する第２のコネクタ固定手段
   と；上記第１の開口部と上記ロッドとを接続し、上記ガ
   スチャンバーを密閉する筒状可撓部材と；を有すること
   を特徴とする電子機構部品の信頼性試験装置。
3. 【請求項３】 第１の開口部を具備するガスチャンバー
   と；このガスチャンバー内に設置され、所定のスイッチ
   を固定するスイッチ固定手段と；軸方向に往復運動し、
   上記第１の開口部を挿通可能なロッドと；このロッドの
   先端に設置され、上記スイッチのノブを押圧動作、引っ
   掛け動作のうちの少なくとも１つの動作を行うノブ用治
   具と；上記第１の開口部と上記ロッドとを接続し、上記
   ガスチャンバーを密閉する筒状可撓部材と；を有するこ
   とを特徴とする電子機構部品の信頼性試験装置。
4. 【請求項４】 請求項２または請求項３において、 上記ガスチャンバーの一部に、圧力調整手段が設けられ
   ていることを特徴とする電子機構部品の信頼性試験装
   置。
5. 【請求項５】 請求項４において、 上記圧力調整手段は、上記ガスチャンバーの筐体の一部
   に設けられている第２の開口部と、この第２の開口部を
   塞ぐ第２の可撓部材とで構成されていることを特徴とす
   る電子機構部品の信頼性試験装置。
6. 【請求項６】 請求項２または請求項３において、 上記ガスチャンバーに所定のガスを供給するガス発生部
   が設けられていることを特徴とする電子機構部品の信頼
   性試験装置。
7. 【請求項７】 請求項６において、 上記ガス発生部は、パーミエーションチューブまたは塩
   類水溶液からガスを発生するものであることを特徴とす
   る電子機構部品の信頼性試験装置。
8. 【請求項８】 請求項１〜７のいずれか１項において、 上記ガスチャンバーの外に設けられた回転磁界発生手段
   と、この回転磁界発生手段が発生する磁界に応じて回転
   する磁石と、この磁石を自由回転させるための固定シャ
   フトと、上記磁石と連動するファンとで構成される攪拌
   装置を有することを特徴とする電子機構部品の信頼性試
   験装置。