JPH08304048A - 凹凸欠陥検査装置 - Google Patents

凹凸欠陥検査装置

Info

Publication number
JPH08304048A
JPH08304048A JP10570295A JP10570295A JPH08304048A JP H08304048 A JPH08304048 A JP H08304048A JP 10570295 A JP10570295 A JP 10570295A JP 10570295 A JP10570295 A JP 10570295A JP H08304048 A JPH08304048 A JP H08304048A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
reflected light
reflected
inspected
defect inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10570295A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruo Suzuki
輝男 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP10570295A priority Critical patent/JPH08304048A/ja
Publication of JPH08304048A publication Critical patent/JPH08304048A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】被検査体表面の凹凸欠陥を光学的に増幅してテ
レビモニターに映し出すようにして容易に欠陥の有無及
びその状態を観察できるようにすることにある。 【構成】平行な照射光L0 を発する光源2と、CCDカ
メラ3と、再帰反射特性を有する反射板4とがそれぞれ
定位置に配置され、前記光源2の射出光L0 を所定平面
内に載置した被検査体1の表面で反射させて得られる第
1反射光L1 を前記反射板4に入射して、それにより反
射する第2反射光L2 を得た後、得られた該第2反射光
L2 を前記被検査体1の表面で再度反射させて得られる
第3反射光L3 を前記CCDカメラ3で検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガラス板や鏡面板(フ
ェロ板)や各種反射板など各種平滑部材、あるいは各種
平滑部材のプレス成形加工に使用されるプレス版などを
はじめとする各種被検査体表面における反射特性、特に
反射角度の変動に対応して変化する光強度変化を検出し
て、被検査体表面における平滑性や平面性、凹凸欠陥の
有無や欠陥形状などの表面状態を検査する凹凸欠陥検査
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、金属板、ガラス板、樹脂板など
の物品の表面に、わずかな凹凸、波打ち、異物、傷など
の欠陥があり、これによってその物品の商品価値を損な
い、あるいは使用できない状態となるようなものは表面
検査を必要としている。
【0003】特に、光学部品に使用する物品などは10
μm以下の凹凸が存在しても欠陥となる場合がある。
【0004】従来より物品表面の欠陥検査方法として
は、目視にて、あるいは手で物品の表面をなぞって、そ
の感触により検査することは可能であり、例えば、異
物、傷などに関しては大きいものから微小なものまで、
比較的精度よく検査することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、比較的
大きなピッチの凹凸、波打ちなどは、目視や手の感触で
検査すると、主観に頼るため、判断基準が曖昧になり、
バラツキ、見落としが発生する場合があり、また高低差
が10μm程度、あるいはそれ以下となると検査は困難
である。
【0006】また、凹凸や波打ちを機械的に検査する方
法として、触針式の表面粗さ計を用いる方法があるが、
検査針を物品表面に沿ってスキャニングするスピードが
数mm/秒と遅いため測定時間が長く、大面積の被検査
物品には適さない。
【0007】本発明は、表面の欠陥、中でも今まで検出
が難しかった10μm以下の凹凸を光学的に増幅してテ
レビモニターに映し出すようにして、容易に凹凸の有無
及びその形状を観察できるようにすることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、平行な照射光
L0 を発する光源2と、CCDカメラ3と、再帰反射特
性を有する反射板4とがそれぞれ定位置に配置され、前
記光源2の射出光L0を所定平面内に載置した被検査体
1の表面で反射させて得られる第1反射光L1を前記反
射板4に入射して、それにより反射する第2反射光L2
を得た後、得られた該第2反射光L2 を前記被検査体1
の表面で再度反射させて得られる第3反射光L3 を前記
CCDカメラ3で検出するようにしたことを特徴とする
凹凸欠陥検査装置である。
【0009】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記反射板4は、平面鏡である凹凸欠陥
検査装置である。
【0010】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記反射板4は、基材の表面に反射層を
備え、該反射層の表面に屈折率n≒2の球状の透明ビー
ズを定着固定させた構成による再帰反射特性を備える凹
凸欠陥検査装置である。
【0011】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記反射板4は、トリプルミラー構成に
よる再帰反射特性を備える凹凸欠陥検査装置である。
【0012】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記第1反射光L1を前記反射板4の表
面に対して垂直方向に入射する凹凸欠陥検査装置であ
る。
【0013】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記被検査体1を載置移動させるための
X−Y方向自在移動テーブルを備える凹凸欠陥検査装置
である。
【0014】また、本発明は、上記発明の凹凸欠陥検査
装置において、前記被検査体1を移動量Δxだけ移動さ
せながら、その移動により生じる前記第3反射光L3 の
光強度の変化を前記CCDカメラ3で検出する凹凸欠陥
検査装置である。
【0015】
【作用】本発明の凹凸欠陥検査装置は、所定の平面内に
て被検査体1を固定した状態、又は移動量Δxだけ移動
させながら、前記光源2の平行光束による照射光L0 を
前記被検査体1の表面で反射させて得られる第1反射光
L1 を、反射板4に入射して、この反射板4による反射
により得られた第2反射光L2 を、前記被検査体1の表
面1aで再度反射させて得られる第3反射光L3 をCC
Dカメラ3によって検出するようにしたものである。
【0016】CCDカメラ3の検出視野内における前記
被検査体表面1aが、完全な平滑面である場合には、前
記第1反射光L1 、第2反射光L2 、第3反射光L3
は、不規則な反射光とはならず、ほぼ平行光束による第
3反射光L3 が得られ、CCDカメラは、平行光束の第
3反射光L3 を検出視野内に収めて、所定サイズとパタ
ーンの輝点として検出することができ、被検査体表面1
aに凹凸欠陥が無いことが確認できる。
【0017】また、被検査体1を移動させながら検出す
る場合は、第3反射光L3 の方向に被検査体1の相対移
動による揺らぎが発生せず、CCDカメラは、この第3
反射光L3 を検出視野内に収めて、光強度が変化しない
画像として検出することができ、被検査体表面1aに凹
凸欠陥が無いことが確認できる。
【0018】一方、CCDカメラ3の検出視野内におけ
る前記被検査体1の表面に凹凸や傷などが存在すること
による不完全な平滑面が存在する場合には、第3反射光
L3の方向は不規則となって、CCDカメラは、不規則
な方向に反射する第3反射光L3 の一部分を検出視野内
に収めて、不規則なサイズとパターンの輝点として検出
することができ、被検査体表面1aに凹凸欠陥が有るこ
とが確認できる。
【0019】また、被検査体1を移動させながら検出す
る場合は、第3反射光L3 の方向に被検査体1の相対移
動による揺らぎが発生して、CCDカメラは、この第3
反射光L3 の揺らぎを検出視野内に収めて、光強度が変
化する画像として検出することができ、被検査体表面1
aに凹凸欠陥が有ることが確認できる。
【0020】また、本発明の凹凸欠陥検査装置は、被検
査体表面1aにて反射した第1反射光L1 が、第2反射
光L2 と第3反射光L3 のそれぞれ光路を経由した後
に、CCDカメラの検出視野に到達するようになってい
て、被検査体表面1a及び反射板4は、第1反射光L1
の変化量を光学的に増幅する作用がある。
【0021】そのため、平行光束の照射光L0 を、特
に、被検査体表面1aの検査位置mの領域内に照射する
ことによって得られる第1反射光L1 の光路方向の変動
の有無を、CCDカメラ3によって明確に検出すること
ができる。
【0022】
【実施例】本発明の凹凸欠陥検査装置を、図1〜図3の
実施例にしたがって以下に詳細に説明する。
【0023】図1は、本発明の凹凸欠陥検査装置の全体
斜視図であり、光源2は、レンズ系による平行な照射光
を発する光源であり、被検査体1の表面1aを、該表面
1aに対して角度θ1 で入射する照射光L0 を含む平行
光線により照明するように定位置に固定配置されてい
る。あるいは、該光源2は、その照明光軸を通る照射光
L0 が角度θ1 となるように定位置に固定配置されてい
る。
【0024】CCDカメラ3は、その検出光軸Lが、平
行光束を発する前記光源2の照射光L0 (平行光束の光
軸)に対して角度θ2 となるように定位置に固定配置さ
れている。
【0025】平面鏡による反射板4又は再帰反射特性を
有する反射板4は、前記光源2から被検査体1の表面1
aに入射する平行光束の照射光L0 を該被検査体1の表
面1aで反射させて得られる第1反射光L1 が、該反射
板4の表面に対して所定角度で入射する位置に固定配置
されている。
【0026】なお図1中、l1 は被検査体1の検査位置
mと光源2との間のX方向の距離、l2 は被検査体1の
検査位置mとCCDカメラ3との間のX方向の距離、l
3 は被検査体1の検査位置mと反射板4中心部とのX方
向の距離、h1 は光源2の設置高さ、h2 はCCDカメ
ラの設置高さ、h3 は反射板4の設置高さを示す。
【0027】図1において、光源2からの平行光束によ
る照射光L0 は、被検査体1の表面1aにおける検査位
置mの領域、又はその領域外の近傍を照射する。
【0028】前記照射光L0 は、被検査体表面1aの検
査位置mにて第1反射光L1 として反射して、前記反射
板4の表面に立てた垂直線に対する所定の入射角度で入
射する。
【0029】前記反射板4の表面への第1反射光L1 の
入射角度は、反射板4の最良の反射特性を得るために
は、例えば、0°(垂直)〜45°の範囲のうちのいず
れかの入射角度で入射するように設定するのが良く、垂
直若しくは垂直に近似する角度で入射させることが好ま
しい。
【0030】前記反射板4に垂直に入射した第1反射光
L1 は、平面鏡による反射板4、又は再帰反射特性を有
する反射板4の表面4aで第2反射光L2 として反射す
る。
【0031】図2は、被検査体1の表面1aにおいて部
分的又は全面的に完全に(若しくはほぼ完全に)平滑な
表面状態にある検査位置mの領域と、反射板4との間に
おける照射光L0 の反射光路を示す拡大概要側面図であ
る。
【0032】図2に示すように、検査位置mの領域にお
いて前記平滑面を呈する被検査体表面1aに角度θ1 で
入射した平行光束の照射光L0 は、ほぼ同一角度θ1 の
ほぼ平行光束の第1反射光L1 として反射して反射板4
に入射する。
【0033】反射板4に入射したほぼ平行光束の前記第
1反射光L1 は、該反射板4の表面4aで、第2反射光
L2 として反射する。
【0034】図2に示すように、前記第2反射光L2
は、ほぼ平行光束の第1反射光L1 に対して、ほぼ同一
の内角α(第1反射光L1 と第2反射光L2 とのなす角
度)をもって反射する。
【0035】前記反射板4の内角αは、本発明において
は特に限定されないが、できる限り小さい角度になるよ
うに、被検査体1、光源2、CCDカメラ3、反射板4
を、それぞれ固定配置することが良く、例えば、内角α
は、0°〜5°の範囲に設定することが望ましい。
【0036】平面鏡による反射板4を使用した場合に
は、前記反射板4の内角αは、その入射角と反射角が等
しくなるような反射条件下で形成される内角である。
【0037】一方、再帰反射特性を有する反射板4を使
用した場合には、前記反射板4の内角αは、その反射板
4の再帰反射特性によって決定される。
【0038】しかしながら、いずれの場合においても入
射角の変化に対応して反射角が変化することになる。
【0039】なお、平面鏡による反射板4での内角αが
0°である場合は、第1反射光L1と第2反射光L2 と
は同一光路を進行する光線であり、一方、再帰反射特性
をもつ反射板4での内角αが0°である場合は、第1反
射光L1 と第2反射光L2 とは厳密には同一光路を進行
しない互いに平行な光線である。
【0040】また、再帰反射特性を有する反射板4での
内角αの値の分散状態(再帰特性)に関しては、例えば
0°≦α≦5°、好ましくは0°≦α≦3°であること
が好ましい。
【0041】図1及び図2に示すように、前記反射板4
の表面4aで反射した後の前記第2反射光L2 は、被検
査体1の表面1aに再度入射し、続いて該表面1aで反
射して、ほぼ平行光束の第3反射光L3 となってCCD
カメラ3の方向に向かうものである。
【0042】CCDカメラ3は、前記平行光束の第3反
射光L3 を検出して、図1に示すように、CRTディス
プレイ5のモニター画面は、その第3反射光L3 の光像
を、濃淡の無い所定サイズの輝点画像として出力して、
被検査体1の表面1aが、前記検査位置mの領域におい
て完全(若しくはほぼ完全)な平滑面を呈していること
が確認され、被検査体表面1aの検査位置mの領域にお
いては凹凸欠陥が無いことが確認される。
【0043】図3は、被検査体1の表面1aにおいて部
分的又は全面的に凹凸や傷などによる不完全な平滑面が
存在する状態にある検査位置mの領域と反射板4との間
における照射光L0 の反射光路を示す拡大概要側面図で
ある。
【0044】図3において、光源2からの平行光束の照
射光L0 は、被検査体1の表面1aにおける不完全な平
滑面が存在する検査位置mの領域、又はその領域外の近
傍を照射する。
【0045】そして、前記照射光L0 は、被検査体表面
1aの前記不完全な平滑面が存在する検査位置mの領
域、又はその領域外の近傍にて、第1反射光L1 として
反射して反射板4に入射する。
【0046】この場合における第1反射光L1 の被検査
体表面1aにおけるそれぞれ反射位置が全て完全な平滑
面であれば、該第1反射光L1 は、ほぼ平行光束となっ
て反射板4に入射し、一方、不完全な平滑面であれば、
第1反射光L1 は、平行光束とはならずに不規則な方向
に散乱して反射板4に入射する。
【0047】このようにして、前記反射板4に入射した
第1反射光L1 は、図3に示すように、該反射板4の表
面4aで第2反射光L2 として反射する。
【0048】この場合において、前記第1反射光L1
が、ほぼ平行光束となって反射板4に入射するならば、
図3に示すように、前記第2反射光L2 は、第1反射光
L1 に対して、ほぼ同一の内角α(第1反射光L1 と第
2反射光L2 とのなす角度)をもって反射する。
【0049】また一方、第1反射光L1 が、平行光束と
はならずに不規則な方向に散乱して反射板4に入射する
ならば、前記第2反射光L2 は、第1反射光L1 に対し
て不規則な内角α(第1反射光L1 と第2反射光L2 と
のなす角度が不規則に異なる内角)をもって反射する。
【0050】図3に示すように、第1反射光L1 に対し
て、ほぼ同一の内角αをもって反射した後の前記第2反
射光L2 は、被検査体1の表面1aに再度入射し、該表
面1aで第3反射光L3 として反射してする。
【0051】その第2反射光L2 が反射する被検査体表
面1aの検査位置mの領域における例えば反射位置A、
B、Cに、部分的又は全面的に凹凸や傷などによる不完
全な平滑面が存在すると、該第2反射光L2 は、位置
A、B、Cにて不規則に反射して、図3に示すように平
行光束ではない不規則な方向の第3反射光L3 となり、
該第3反射光L3 は、CCDカメラ3の検出視野内に入
る反射光と、他の方向に向かう反射光に分散する。
【0052】CCDカメラ3は、前記検出視野内に入る
第3反射光L3 のみを検出して、図1に示すCRTディ
スプレイ5のモニター画面は、該第3反射光L3 の光像
を、濃淡の有る輝点画像として出力して、被検査体1の
表面1aが、前記検査位置mの領域において部分的に不
完全な平滑面を呈していることが確認され、被検査体表
面1aの検査位置mの領域に凹凸欠陥が有ることが確認
される。
【0053】ところで、本発明の上記凹凸欠陥検査装置
においては、前記照射光L0 が、例えば被検査体表面1
aにおける検査位置mの領域外を照射し、しかも該検査
位置mの領域外が不完全な平滑面を呈している場合は、
照射光L0 による前記第1反射光L1 、第2反射光L2
、第3反射光L3 はそれぞれ平行光束を形成せず、そ
れぞれ不規則な光束による反射光となる。
【0054】そのためCCDカメラ3は、不規則な光束
の第3反射光L3 を検出して、CRTディスプレイ5の
モニター画面は、その第3反射光L3 の光像を、濃淡の
有る所定サイズの輝点画像として出力する。
【0055】そこで、本発明の上記凹凸欠陥検査装置に
よって、被検査体表面1aのいずれの個所に不完全な平
滑面が存在しているかを確認する必要がある場合には、
前記照射光L0 によって被検査体表面1aにおける検査
位置mの領域内(好ましくは第3反射光3 のそれぞれ入
射位置A、B、Cと同一位置、若しくはその近傍)を照
射するようにして検査することが適当である。
【0056】本発明の上記凹凸欠陥検査装置は、被検査
体1を、所定平面内にてX−Y(縦横)方向に自在に所
定移動量Δxを以て移動させながら、該被検査体表面1
aに凹凸欠陥が有るか無いかを検査することができる。
【0057】この場合における本発明の凹凸欠陥検査装
置は、図1に示すように、被検査体1を固定するチャッ
ク機構を備えた所定平面内をX−Y方向に自在に移動可
能な被検査体載置テーブル6を併設するものである。
【0058】上記X−Y方向移動テーブル上に載置した
被検査体1の表面1aが、図1に示すCCDカメラ3の
検出視野内にある検査位置mの領域において、完全な平
滑面であるならば、被検査体表面1aの該検査位置mの
領域にて再度反射した第3反射光L3 の方向は、被検査
体表面1aの移動量Δxを以て前記テーブル6によって
相対移動する平滑面が完全な平滑面であるために変動せ
ず、前記CCDカメラ3の検出視野内に入る第3反射光
L3 の光強度は変化せず、CCDカメラ3はこの第3反
射光L3 を光強度が不変の画像として検出する。
【0059】これによって、被検査体表面1aの検査位
置mの領域においては凹凸欠陥が存在しないことが確認
される。
【0060】一方、被検査体1aの検査位置mの領域
に、凹凸や傷、あるいは波打ちなどがあって、不完全な
平滑面(図3の被検査体表面1a)が存在する場合は、
該検査位置mの領域にて再度反射した第3反射光L3 の
方向には、被検査体表面1aの移動量Δxを以て前記テ
ーブル6によって相対移動する不完全な平滑面による揺
らぎが発生し、CCDカメラ3は、この第3反射光L3
の方向の揺らぎを、光強度の変化する画像として検出す
る。
【0061】これによって、被検査体表面1aの検査位
置mの領域において凹凸欠陥が存在することが確認され
る。
【0062】本発明の上記凹凸欠陥検査装置に使用する
反射板4として、例えば、ガラスや金属材料により形成
された平面鏡が使用できる。
【0063】また、本発明の上記凹凸欠陥検査装置に使
用する反射板4として、図4(a)に示すように、プレ
ート状又はシート状の基材10の表面に、粘着剤層12
を備え、該粘着剤層12の表面に、ガラス又はプラスチ
ック製の球状透明ビーズ11(例えば屈折率n≒2)を
単一層として密に多数配列して埋め込み固定し、該透明
ビーズ11の裏面側にアルミニウムなどの不透明な金属
蒸着による反射層13を施した再帰反射特性を有する再
帰反射シート、あるいはトリプルミラー構成による再帰
反射シートなどが使用できる。
【0064】また、本発明の上記凹凸欠陥検査装置に使
用する反射板4として、図4(b)に示すように、プレ
ート状又はシート状のレンチキュラースクリーンシート
20(表面にカマボコ状の凸レンズを備える)、又はキ
ュービクラー(ハエの目)スクリーンシートの裏面(平
滑面)に、アルミニウムなどの不透明な金属蒸着による
反射層23を施した、例えば内角αが、0°〜5°のう
ちいずれかの再帰反射特性を有する再帰反射シート、あ
るいはトリプルミラー構成による再帰反射シートなどが
使用できる。
【0065】
【発明の効果】本発明の凹凸欠陥検査装置は、被検査体
表面の欠陥、中でも今まで検出が難しかった10μm以
下の凹凸や、緩やかな波打ちを光学的に増幅してテレビ
モニターに可視画像として映し出すことができ、映し出
された画像を目視することにより、凹凸の有無及びその
形状を観察でき、容易に且つ明確に凹凸欠陥の検査がで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の凹凸欠陥検査装置の構造の概要を示す
斜視図である。
【図2】本発明の凹凸欠陥検査装置により被検査体を検
査する際の動作原理を示す側面図である。
【図3】本発明の凹凸欠陥検査装置により被検査体を検
査する際の動作原理を示す側面図である。
【図4】(a)〜(b)は本発明の凹凸欠陥検査装置に
使用する反射板の各例を説明する側断面図である。
【符号の説明】
1…被検査体 1a…被検査体表面 2…平行光束によ
る光源 3…CCDカメラ 4…反射板 4a…反射板表面 5
…CRTディスプレイ 6…X−Y移動テーブル 10…基材シート 11…球状の透明なビーズ 12…
粘着剤層 13…反射層 20…レンチキュラースクリーンシート 21…カマボ
コ状の凸レンズ 23…反射層 L…CCDカメラの光軸 L0 …照射光 L1 …第1反
射光 L2 …第2反射光 L3 …第3反射光 θ1 …光源設置角度 θ2 …CCD
カメラ設置角度

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平行な照射光L0 を発する光源2と、CC
    Dカメラ3と、反射板4とがそれぞれ定位置に配置さ
    れ、前記光源2の射出光L0 を所定平面内に載置した被
    検査体1の表面で反射させて得られる第1反射光L1 を
    前記反射板4に入射して、それにより反射する第2反射
    光L2 を得た後、得られた該第2反射光L2 を前記被検
    査体1の表面で再度反射させて得られる第3反射光L3
    を前記CCDカメラ3で検出するようにしたことを特徴
    とする凹凸欠陥検査装置。
  2. 【請求項2】前記反射板4は、平面鏡である請求項1記
    載の凹凸欠陥検査装置。
  3. 【請求項3】前記反射板4は、基材の表面に反射層を備
    え、該反射層の表面に屈折率n≒2の球状の透明ビーズ
    を定着固定させた構成による再帰反射特性を備える請求
    項1記載の凹凸欠陥検査装置。
  4. 【請求項4】前記反射板4は、トリプルミラー構成によ
    る再帰反射特性を備える請求項1記載の凹凸欠陥検査装
    置。
  5. 【請求項5】前記第1反射光L1 を前記反射板4の表面
    に対して垂直方向に入射する請求項1乃至請求項4記載
    の凹凸欠陥検査装置。
  6. 【請求項6】前記被検査体1を載置移動させるためのX
    −Y方向自在移動テーブルを備える請求項1乃至請求項
    4記載の凹凸欠陥検査装置。
  7. 【請求項7】前記被検査体1を移動量Δxだけ移動させ
    ながら、その移動により生じる前記第3反射光L3 の光
    強度の変化を前記CCDカメラ3で検出する請求項1乃
    至請求項6記載の凹凸欠陥検査装置。
JP10570295A 1995-04-28 1995-04-28 凹凸欠陥検査装置 Pending JPH08304048A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10570295A JPH08304048A (ja) 1995-04-28 1995-04-28 凹凸欠陥検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10570295A JPH08304048A (ja) 1995-04-28 1995-04-28 凹凸欠陥検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08304048A true JPH08304048A (ja) 1996-11-22

Family

ID=14414702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10570295A Pending JPH08304048A (ja) 1995-04-28 1995-04-28 凹凸欠陥検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08304048A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6236734B1 (en) 1996-05-31 2001-05-22 The University Of Queensland Detection of defects in glass
US6716146B2 (en) 2000-08-23 2004-04-06 Sankyo Manufacturing Co., Ltd. Tool Magazine
JP2010008252A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Ricoh Co Ltd 表面形状検査装置及び表面形状検査方法
JP2013539052A (ja) * 2010-10-08 2013-10-17 ダーク フィールド テクノロジーズ、インコーポレーテッド レトロ反射型撮像
KR20150137769A (ko) * 2014-05-30 2015-12-09 이영우 오목 반사체를 이용한 기판 검사장치
JP2017130454A (ja) * 2016-01-19 2017-07-27 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングRobert Bosch Gmbh 光源装置、車両用ヘッドライト及び光源装置の製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6236734B1 (en) 1996-05-31 2001-05-22 The University Of Queensland Detection of defects in glass
US6716146B2 (en) 2000-08-23 2004-04-06 Sankyo Manufacturing Co., Ltd. Tool Magazine
JP2010008252A (ja) * 2008-06-27 2010-01-14 Ricoh Co Ltd 表面形状検査装置及び表面形状検査方法
JP2013539052A (ja) * 2010-10-08 2013-10-17 ダーク フィールド テクノロジーズ、インコーポレーテッド レトロ反射型撮像
KR20150137769A (ko) * 2014-05-30 2015-12-09 이영우 오목 반사체를 이용한 기판 검사장치
JP2017130454A (ja) * 2016-01-19 2017-07-27 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングRobert Bosch Gmbh 光源装置、車両用ヘッドライト及び光源装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1816466B1 (en) Method and device for inspecting defect of transparent plate body
US4920385A (en) Panel surface flaw inspection
CA1241721A (en) Panel surface flaw inspection
CN101175986B (zh) 玻璃检测系统及其使用方法
TW468043B (en) Stereo vision inspection system for transparent media
US8415648B2 (en) Method of determination of glass surface shapes and optical distortion by reflected optical imaging
US5225890A (en) Surface inspection apparatus and method
JPH03267745A (ja) 表面性状検出方法
JPH07509785A (ja) 表面のピット及びマウンド検出,識別装置及び方法
JPH07122618B2 (ja) 対向反射装置を用いる透明容器の検査
JP2008514922A (ja) 調光フィルムの検査システム及び検査方法並びに調光フィルムの製造方法
KR102633672B1 (ko) 유리 시트들 상의 표면 결함들을 검출하기 위한 방법들 및 장치
JPH08304048A (ja) 凹凸欠陥検査装置
Reynolds et al. Theory and applications of a surface inspection technique using double-pass retroreflection
WO1993019345A1 (en) Optical device for checking the flatness and smoothness of a surface
JP4576006B2 (ja) 外観検査用投光装置
KR20080019395A (ko) 평판디스플레이용 이물검사장치
CN102608132A (zh) 多类型玻璃瑕疵检测装置及检测方法
CN202512073U (zh) 多类型玻璃瑕疵检测装置
JP2948353B2 (ja) ガラス板の表面欠陥検査方法および検査装置
JPH04105009A (ja) 逆反射を利用した表面検査及び歪み測定のための方法及び装置
JP2926365B2 (ja) 表面欠陥検査装置
JPS6342413A (ja) 平坦度測定方法及びその装置
JPH0344504A (ja) 表面三次元形状測定方法及びその装置
JPH044207Y2 (ja)