JPH08300350A

JPH08300350A - プリプレグの製造方法

Info

Publication number: JPH08300350A
Application number: JP11593995A
Authority: JP
Inventors: Masakazu Aoi; 応和青井; Koji Kusada; 晃司草田; Minoru Uno; 稔宇野
Original assignee: Matsushita Electric Works Ltd
Current assignee: Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date: 1995-05-15
Filing date: 1995-05-15
Publication date: 1996-11-19

Abstract

(57)【要約】【目的】熟練した作業者を必要とせず省力化すること
ができると共に品質の安定化を高く得ることができる。【構成】長尺の基材１を連続して送りつつ、基材１に
ワニス２を含浸させた後に乾燥機３に通して加熱乾燥す
ることによってプリプレグ４を製造する。このようにし
て製造するにあたって、乾燥機３から出てきたプリプレ
グ４の硬化度を近赤外分光分析法で測定し、この測定結
果に基づいて乾燥機３による乾燥条件を調整する。プリ
プレグ４をサンプリングする必要なく乾燥機３から出て
きたプリプレグ４から近赤外分光分析法で硬化度を直接
測定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、長尺の基材をワニスに
含浸・乾燥する工程を含むプリプレグの製造方法に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】プリント配線板などの積層板の製造に用
いられるプリプレグは一般的に次のようにして製造され
ている。すなわち、ガラス布等の長尺の基材を連続して
送りながら、ワニス槽に通して基材に熱硬化性樹脂のワ
ニスを含浸させ、次にこのワニスを含浸した基材を連続
して送りつつ乾燥機に通して加熱することによって、ワ
ニス中の溶剤を蒸発させると共に熱硬化性樹脂をＢステ
ージ状態に乾燥させ、そしてこれを所定寸法に切断する
ことによって、プリプレグを製造することができる。

【０００３】上記のようにしてプリプレグを製造するに
あたって、作業環境での温度や湿度の変化等に応じて、
プリプレグの樹脂の硬化度が変動するおそれがあり、放
置しておくとプリプレグの品質が安定しなくなる。そこ
で従来は、所定寸法に切断したプリプレグをサンプリン
グしてその硬化度を測定し、硬化度の測定結果に基づい
て乾燥機による乾燥条件、つまり乾燥温度や乾燥時間を
調整することによって、硬化度を一定にコントロールす
るようにしている。例えば、サンプリングしたプリプレ
グの硬化度が規定された数値よりも高いときは、乾燥機
の乾燥温度を下げたり、乾燥機に通す時間を短くしたり
調整して、以後に製造されるプリプレグの硬化度を低下
させるようにし、またサンプリングしたプリプレグの硬
化度が規定された数値よりも低いときは、乾燥機の乾燥
温度を上げたり、乾燥機に通す時間を長くしたり調整し
て、以後に製造されるプリプレグの硬化度を高めるよう
にし、プリプレグの硬化度を規定の数値に維持するよう
にしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし硬化度の測定
は、サプリングしたプリプレグをビニール袋に入れて人
手で揉むことによって先ずプリプレグを粉状にして試料
を作成し、この試料を自動樹脂硬化時間測定装置（例え
ば伊予電子社製「ゲルタイマー２２３８−００１」な
ど）に投入してゲル化時間を計測することによって行な
うようにしており、硬化度（ゲル化時間）の測定結果が
得られるまで５分程度の時間が必要であった。

【０００５】従って、硬化度の測定や乾燥条件の調整の
ために熟練した作業者が必要であって作業の省力化の上
で問題があり、また測定に要する時間の間、不良品が続
行するおそれがあって品質の安定化の上でも問題があっ
た。本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、熟
練した作業者を必要とせず省力化することができると共
に品質の安定化を高く得ることができるプリプレグの製
造方法を提供することを目的とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明に係るプリプレグ
の製造方法は、請求項１のように、長尺の基材１を連続
して送りつつ、基材１にワニス２を含浸させた後に乾燥
機３に通して加熱乾燥することによってプリプレグ４を
製造するにあたって、乾燥機３から出てきたプリプレグ
４の硬化度を近赤外分光分析法で測定し、この測定結果
に基づいて乾燥機３による乾燥条件を調整することを特
徴とするものである。

【０００７】また請求項２の発明は、近赤外分光分析計
のセンサー５をプリプレグ４の幅方向の中央部及び両側
部に配置して、プリプレグ４の幅方向の中央部と両側部
での硬化度を近赤外分光分析法で測定するようにしたこ
とを特徴とするものである。また請求項３の発明は、近
赤外分光分析計のセンサー５をプリプレグ４の幅方向に
スキャニングしながらプリプレグ４の硬化度を近赤外分
光分析法で測定するようにしたことを特徴とするもので
ある。

【０００８】また請求項４の発明は、近赤外分光分析計
として反射式のものを用いることを特徴とするものであ
る。さらに請求項５の発明は、乾燥機３から出てきたプ
リプレグ４をロール６の外周に沿って送ると共に、この
ロール６の近傍において近赤外分光分析計のセンサー５
を配設してプリプレグ４の硬化度を近赤外分光分析法で
測定するようにしたことを特徴とするものである。

【０００９】

【作用】請求項１の発明は、乾燥機３から出てきたプリ
プレグ４の硬化度を近赤外分光分析法で測定し、この測
定結果に基づいて乾燥機３による乾燥条件を調整するよ
うにしているものであり、プリプレグ４をサンプリング
する必要なく乾燥機３から出てきたプリプレグ４から近
赤外分光分析法で硬化度を直接測定することができる。

【００１０】請求項２の発明は、近赤外分光分析計のセ
ンサー５をプリプレグ４の幅方向の中央部及び両側部に
配置して、プリプレグ４の幅方向の中央部と両側部での
硬化度を近赤外分光分析法で測定するようにしているも
のであり、プリプレグ４の幅方向で平均化して硬化度を
測定することが可能になる。また請求項３の発明は、近
赤外分光分析計のセンサー５をプリプレグ４の幅方向に
スキャニングしながらプリプレグ４の硬化度を近赤外分
光分析法で測定するようにしているものであり、プリプ
レグ４の幅方向で平均化して硬化度を測定することが可
能になる。

【００１１】また請求項４の発明は、近赤外分光分析計
として反射式のものを用いるようにしているものであ
り、高い精度で硬化度を検出することができる。さらに
請求項５の発明は、乾燥機３から出てきたプリプレグ４
をロール６の外周に沿って送ると共に、このロール６の
近傍において近赤外分光分析計のセンサー５を配設して
プリプレグ４の硬化度を近赤外分光分析法で測定するよ
うにしているものであり、プリプレグ４と近赤外分光分
析計のセンサー５との間の距離を一定に保った状態で安
定して硬化度を測定することができる。

【００１２】

【実施例】以下、本発明を実施例によって詳述する。図
１はプリプレグ４を製造する装置の全体の概略の構成を
示すものであり、ガラス布や紙等で形成される長尺の基
材１がロールに巻いた状態で送り出し装置１１にセット
してある。この長尺の基材１は送り出し装置１１から連
続して繰り出されるようになっており、バッファロール
１２を通した後に、連続して送りつつ第１のワニス槽１
２を通過させる。

【００１３】第１のワニス槽１２にはエポキシ樹脂等の
熱硬化性樹脂のワニス２が供給されており、第１のワニ
ス槽１２に基材１を通過させることによって、基材１の
片面からワニス２を浸透させて含浸させることができ
る。第１のワニス槽１２に通された基材１はさらに第２
のワニス槽１３を通過させ、上記と同種（異種のもので
も可）のワニス２を基材１に含浸させる。このように基
材１にワニス２を含浸させた後に、一対のスクイズロー
ル１４間に基材１を通過させ、余分なワニス２を絞っ
て、ワニス２を含浸した基材１の厚みを一定に規制す
る。この一対のスクイズロール１４は基材１が通過する
クリアランスを調整できるように、近接離反する方向で
開閉調節ができるようになっている。

【００１４】このようにしてワニス２を含浸した基材１
をさらに連続して送りつつ、乾燥機３に通す。図１の実
施例には、乾燥機３は加熱器１５を縦に配置して基材１
を縦方向に送る縦型乾燥機として形成したものが例示し
てあり、基材１を乾燥機３に通して加熱することによっ
て、ワニス２中の溶剤を蒸発させると共に樹脂分をＢス
テージ状態にまで硬化させて乾燥し、プリプレグ４を得
ることができる。そしてこの長尺状態のプリプレグ４を
さらに連続して送りつつ、切断装置１６で所定寸法に切
断することによって、一定寸法の大きさのプリプレグ４
を得ることができるものである。

【００１５】そして本発明では、乾燥機３から出てきた
プリプレグ４の樹脂の硬化度を、乾燥機３と切断装置１
６との間において近赤外分光分析法で測定するようにし
てある。近赤外線は波長が７００ｎｍ〜２５００ｎｍの
電磁波であり、試料に近赤外線を照射すると、図７に示
すような近赤外吸収スペクトルが得られる。物質の構成
成分の分子は固有の振動をしており、これに近赤外線を
照射するとその振動と同調する周波数が吸収される。こ
の吸収の強さは成分の量や濃度に関係する。従って、プ
リプレグ４の近赤外吸収スペクトルと樹脂の硬化度とは
相関関係を有しており、近赤外吸収スペクトルを分析す
ることによって、プリプレグ４の樹脂の硬化度を測定す
ることができる。

【００１６】図２（ａ）（ｂ）はブランルーベ社から市
販されて提供されている近赤外分光分析計のセンサー５
の原理構成を示すものであり、２０は積分球、２１はミ
ラー、２２は検出器、２３，２４，２５はレンズ、２６
はアパーチャー、２７は干渉フィルター、２８はチョッ
パー、２９は光源であり、また３０は拡散反射光、３１
はリファレンス光を示す。そして硬化度が異なるプリプ
レグ４を作成して各プリプレグ４から１５水準程度の硬
化度を有する試料３２を調製し、積分球２０と反射板３
３との間に試料３２をセットして、光源から発光された
光のうち、干渉フィルター２７により選択した波長の光
を試料３２に照射し、反射した光を検出器２２で検出す
ることによって、試料３２の近赤外吸収スペクトルを得
ることができる。

【００１７】一方、同じ試料３２についてそれぞれ、従
来から行われている既知の方法で硬化度を実測する。例
えば既述の自動樹脂硬化時間測定装置を用いてゲル化時
間を計測することによって硬化度を実測する測定する。
図９は自動樹脂硬化時間測定装置（伊予電子社製自動ゲ
ル化試験機「ゲルタイマー２２３８−００１」）の原理
を示すものであり、１８０℃前後に温調した熱盤４６の
上に粉にした試料３２を載せ、トルクモータ４７にてス
ティック４８を回転させ、スティック４８の回転トルク
が予め設定したトルクに達するまでの時間をゲル化時間
として計測することによって、硬化度を測定することが
できる。そしてこのように測定して得られた１５水準程
度の試料３２の硬化度（ゲル化時間）の実測値と、近赤
外分光分析計による吸光度の値から、両者の関係式（検
量線）を重回帰分析により求める。

【００１８】検量線は、偏回帰係数を所定値に設定してゲル化時間（ｓ）＝Ｋ₀＋Ｋ₁Ｆ（λ₁）＋Ｋ₂Ｆ（λ₂）＋Ｋ₃Ｆ（λ₃）＋〜＋Ｋ_nＦ（λ_n） …（１）（Ｋ：偏回帰係数、Ｆ（λ）：波長λｎｍの吸光度）と
して得ることができる。そしてこの検量線を用いて未知
の試料３２の硬化度を推定することができる。すなわ
ち、硬化度が未知の試料３２について近赤外吸収スペク
トルをとって波長λ₁，λ₂，λ₃，〜λ_nの吸光度を
求め、これらの波長の吸光度Ｆ（λ₁），Ｆ（λ₂），
Ｆ（λ₃），〜Ｆ（λ_n）を（１）式の検量線に代入す
ることによって、その試料の硬化度（ゲル化時間）を推
定することがきるのである。

【００１９】ここで、吸光度を測定する波長λ₁，
λ₂，λ₃…λ_nは、実測値と検量線から求める推定値
の間の誤差が最も小さくなる波長を選択して設定するの
が好ましく、この波長は実験により経験的に求めること
ができる。また、検量線に用いる波長の数が多いと硬化
度の測定時間が長くなり、しかも測定対象でないプリプ
レグ４の固有波長でないものが選択される可能性が高く
なるので、検量線に用いる波長の数は３つに限定するの
が好ましい。

【００２０】例えば、あるプリプレグ４について実験に
基づいて経験的に２１６６ｎｍ，２２０８ｎｍ，２３３
４ｎｍの波長を選定したときには、ゲル化時間（ｓ）＝−８０９５．２１７Ｆ（２１６６）＋１０４７０．３５９Ｆ（２２０８）−２２２３．５４６Ｆ（２３３４）＋７４．０６８ …（２）の検量線が得られた。この（２）式の検量線の精度は実
測値との相関係数が０．９８２、実測値との標準誤差が
３．８秒である。

【００２１】一方、最も相関係数が高くなるように３波
長を選択したときには、ゲル化時間（ｓ）＝−１２８９．８０２Ｆ（１４３２）−１８５８２．８６３Ｆ（２１６０）＋２０６１７．０７Ｆ（２１９６）−２６０．９６３…（３）の検量線が得られた。この（３）式の検量線の相関係数
は０．９８７、標準誤差４．６であり、相関係数は高い
が、検量線から推定される数値の誤差が大きくなってい
る。

【００２２】また、最も相関係数が高くなるように６波
長を選択すると、ゲル化時間（ｓ）＝−１７５３３．５５９Ｆ（１３８４）＋１６０５３．３５４Ｆ（１４０８）−４０６４９．０６６Ｆ（１４３２）＋４１２４４．１９９Ｆ（１４４０）−１５９０９．６９１Ｆ（２１６０）＋１８２２０．５１０Ｆ（２１９６）−５９１．８３１ …（４）の検量線が得られた。この（４）式の検量線の相関係数
は０．９９６、標準誤差２．９である。波長数が増える
と当然、標準誤差は小さくなるが、検量線によって推定
される測定値のばらつきは図８及び表１にみられるよう
に大きくなる。

【００２３】図８（ａ）及び表１（ａ）は同じ試料３２
について近赤外分光分析を繰り返して１０回行なったと
きの、（２），（３），（４）式の検量線から得た推定
ゲル化時間を示すものであり、また図８（ｂ）及び表２
（ｂ）は一つのサンプル（プリプレグ）の１０箇所から
採取した各試料３２について近赤外分光分析を行なった
ときの、（２），（３），（４）式の検量線から得た推
定ゲル化時間を示すものである。この図８や表１にみら
れるように、式（２）の検量線から推定されるゲル化時
間はばらつきが小さいが、（３），（４）式の検量線か
ら推定されるゲル化時間のばらつきは大きく、特に
（４）式の検量線から推定されるゲル化時間はばらつき
が極めて大きい。従って、本発明においては、近赤外分
光分析計のセンサー５で測定した値を硬化度に変換する
検量線に用いる波長として、実験により経験的に求めた
３波長に限定するのが好ましい。

【００２４】

【表１】

【００２５】尚、図２は反射式の近赤外分光分析計のセ
ンサー５を示すものであり、このように反射式の近赤外
分光分析計を用いると、透過式のものよりも試料３２を
近赤外線が通過する回数が２倍になるために、近赤外線
の吸収の傾向が出やすくなり、高い検出能力で硬化度を
測定することができるものである。しかして本発明にお
いて、近赤外分光分析計のセンサー５は乾燥機３と切断
装置１６との間においてプリプレグ４の表面に近接させ
て配置してあり、センサー５を制御するコントローラ３
５及びセンサー５の出力を処理するマイクロコンピュー
タを内蔵する演算器３６に接続することによって、硬化
度センサーシステム３７を形成するようにしてある。そ
して乾燥機３から出てきたプリプレグ４に近赤外分光分
析計のセンサー５から近赤外線を照射して吸収スペクト
ルを計測することによって近赤外分光分析が常時行われ
るようにしてあり、設定された測定波長の吸光度がセン
サー５から演算器３６に入力され、演算器３６に登録さ
れている検量線にこの吸光度を代入して演算を行なうこ
とによってゲル化時間を推定し、このゲル化時間として
プリプレグ４の硬化度を測定するようにしてある。プリ
プレグ４の硬化度の測定は、測定波長が３波長の場合、
約１０秒程度で完了し、しかもプリプレグ４に非接触で
且つ非破壊で行なうことができるものである。このよう
に近赤外分光分析計のセンサー５による硬化度の測定を
常時行なうようにする他に、所定時間毎に硬化度の測定
を行なうようにしてもよいのはいうまでもない。

【００２６】このようにして近赤外分光分析計で測定し
たプリプレグ４の硬化度に基づいて演算器３６によって
乾燥機３の加熱温度や基材１を送るロール３８の回転速
度をフィードバック制御するようにしてある。すなわ
ち、プリプレグ４の硬化度の測定値が規定された数値よ
りも高いときは、乾燥機３の加熱器１５の加熱温度を下
げたり、ロール３８の回転速度を上げて基材１を乾燥機
３に通す時間を短くしたりする制御を行なって、加熱条
件を下げてプリプレグ４の硬化度を低下させるように
し、またプリプレグ４の硬化度の測定値が規定された数
値よりも低いときは、乾燥機３の加熱器１５の加熱温度
を上げたり、ロール３８の回転速度を下げて基材１を乾
燥機３に通す時間を長くしたりする制御を行なって、加
熱条件を高くしてプリプレグ４の硬化度を高めるように
し、プリプレグ４の硬化度を規定の数値に維持するよう
にしてある。

【００２７】ここで、演算器３６には予め実験的に求め
た、硬化度の規定値からの偏差と、乾燥機３の温度調整
やロール３８の回転速度調整の関係式が登録してあり、
近赤外分光分析計で測定したプリプレグ４の硬化度に応
じてこの関係式に基づいて自動的に乾燥機３の加熱温度
やロール３８の回転速度をフィードバック制御するよう
にしてある。従って、熟練した作業者が長年の感で調整
するような必要がなくなり、作業を省力化することがで
きることになるものである。また、近赤外分光分析法に
よるプリプレグ４の硬化度の測定は短時間で行なわれる
ために、リアルタイムでフィードバック制御して硬化度
の変動に迅速に対応することができ、プリプレグ４の硬
化度が規定から大きく外れるようなことを確実に防い
で、品質を安定化することができるものである。

【００２８】上記のようにして近赤外分光分析計でプリ
プレグ４の硬化度を測定するにあたって、近赤外分光分
析計のセンサー５はプリプレグ４を送り、あるいはガイ
ドするロール６の近傍に配置するのが好ましい。乾燥機
３から出てきたプリプレグ４は長尺のシート状であるた
めに、プリプレグ４はばたついた状態（プリプレグ４の
面と垂直な方向に変位する状態）で送られることにな
り、プリプレグ４がこのようにばたついているとセンサ
ー５とプリプレグ４の表面との間の距離が変動し、プリ
プレグ４の硬化度を安定して測定できないおそれがあ
る。一方、プリプレグ４が図３のようにロール６の外周
に接している部分では、プリプレグ４はロール６で規制
されてばたつきが抑えられるために、近赤外分光分析計
のセンサー５をロール６の近傍に配置すると、センサー
５とプリプレグ４の表面との間の距離が一定になり、プ
リプレグ４の硬化度を安定して測定することができるも
のである。

【００２９】また、近赤外分光分析計のセンサー５をプ
リプレグ４に近接させて配置するにあたって、図４の実
施例ではプリプレグ４の幅方向の中央部及び両側部の３
箇所にセンサー５を配置してあり、プリプレグ４の幅方
向の３箇所の硬化度を近赤外分光分析法で測定するよう
にしてある。このようにプリプレグ４の幅方向の３箇所
で硬化度を測定してその測定値の平均値を出すことによ
って、検量線による推定値と実際の値との誤差を小さく
することができ、硬化度の測定の精度を高めることがで
きるものである。図５の実施例では、プリプレグ４の長
手方向に直交する方向でガイドレール３９が配置してあ
り、近赤外分光分析計のセンサー５をこのガイドレール
３９に沿って往復移動駆動自在に取り付けてある。そし
てこのようにセンサー５をガイドレール３９に沿って移
動させて、プリプレグ４の幅方向にスキャニングしなが
ら、プリプレグ４の中央部の範囲と、左右の各側部の範
囲について硬化度を近赤外分光分析法で測定するように
してある。このようにプリプレグ４の幅方向の３つの範
囲で硬化度を測定してその測定値の平均値を出すことに
よって、検量線による推定値と実際の値との誤差を小さ
くすることができ、硬化度の測定の精度を高めることが
できるものであり、しかもこの場合には近赤外分光分析
計のセンサー５は一つで済むことになる。

【００３０】尚、図１において４０はβ線ゲージであ
り、プリプレグ４の厚みをベータ線の透過量で測定する
ようにしてある。このベータ線ゲージ４０は図６に示す
ようにベータ線ゲージ制御盤４１に接続してあり、ベー
タ線ゲージ制御盤４１はパソコン４２を介してシーケン
サ４３に接続してあると共にシーケンサ４３はスクイズ
ロール１４の開閉機構部に接続してある。そしてこのβ
線ゲージ４０によるプリプレグ４の厚みの測定値に基づ
いて、スクイズロール１４の開閉機構を作動させてスク
イズロール１４間のクリアランスをマグネットスケール
４４で検出しつつ制御し、基材１へのワニス２の含浸量
（レジンコンテント）を一定に保つことができるように
してある。

【００３１】

【発明の効果】上記のように請求項１の発明は、長尺の
基材を連続して送りつつ、基材にワニスを含浸させた後
に乾燥機に通して加熱乾燥することによってプリプレグ
を製造するにあたって、乾燥機から出てきたプリプレグ
の硬化度を近赤外分光分析法で測定し、この測定結果に
基づいて乾燥機による乾燥条件を調整するようにしたの
で、プリプレグをサンプリングする必要なく乾燥機から
出てきたプリプレグから近赤外分光分析法で硬化度を短
時間で直接測定することができると共に、この測定結果
に基づいて乾燥条件の制御を行なうことができ、熟練し
た作業者を必要とせず省力化することができると共に品
質の安定化することができるものである。

【００３２】また請求項２の発明は、近赤外分光分析計
のセンサーをプリプレグの幅方向の中央部及び両側部に
配置して、プリプレグの幅方向の中央部と両側部での硬
化度を近赤外分光分析法で測定するようにしたので、プ
リプレグの幅方向で平均化して硬化度を測定することが
でき、硬化度の測定の精度を高めることができるもので
ある。

【００３３】また請求項３の発明は、近赤外分光分析計
のセンサーをプリプレグの幅方向にスキャニングしなが
らプリプレグの硬化度を近赤外分光分析法で測定するよ
うにしたので、プリプレグの幅方向で平均化して硬化度
を測定することができ、硬化度の測定の精度を高めるこ
とができるものである。また請求項４の発明は、近赤外
分光分析計として反射式のものを用いるようにしたの
で、透過式のものよりも高い傾向で近赤外線吸収スペク
トルを得ることができ、高い検出能力で硬化度を測定す
ることができるものである。

【００３４】さらに請求項５の発明は、乾燥機から出て
きたプリプレグをロールの外周に沿って送ると共に、こ
のロールの近傍において近赤外分光分析計のセンサーを
配設してプリプレグの硬化度を近赤外分光分析法で測定
するようにしたので、プリプレグのばたつきが抑制され
ているロールの近傍において、プリプレグと近赤外分光
分析計のセンサーとの間の距離を一定に保った状態で硬
化度を測定することができ、硬化度の測定を安定して行
なうことができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す概略図である。

【図２】同上の近赤外分光分析計のセンサーを示すもの
であり、（ａ）は拡大した一部の概略図、（ｂ）は全体
の概略図である。

【図３】同上のセンサーの配置を示す側面図である。

【図４】本発明の他の実施例の斜視図である。

【図５】本発明のさらに他の実施例の斜視図である。

【図６】ベータ線ゲージによる制御を示す概略図であ
る。

【図７】近赤外吸収スペクトルを示すグラフである。

【図８】ゲル化時間の測定結果を示すグラフであり、
（ａ）は試料を１０回繰り返して測定したときのグラ
フ、（ｂ）はサンプルの１０箇所から採取した試料を測
定したときのグラフである。

【図９】自動樹脂硬化時間測定装置の原理を示す概略図
である。

【符号の説明】

１基材２ワニス３乾燥機４プリプレグ５センサー６ロール

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】長尺の基材を連続して送りつつ、基材に
ワニスを含浸させた後に乾燥機に通して加熱乾燥するこ
とによってプリプレグを製造するにあたって、乾燥機か
ら出てきたプリプレグの硬化度を近赤外分光分析法で測
定し、この測定結果に基づいて乾燥機による乾燥条件を
調整することを特徴とするプリプレグの製造方法。
【請求項２】近赤外分光分析計のセンサーをプリプレ
グの幅方向の中央部及び両側部に配置して、プリプレグ
の幅方向の中央部と両側部での硬化度を近赤外分光分析
法で測定するようにしたことを特徴とする請求項１に記
載のプリプレグの製造方法。
【請求項３】近赤外分光分析計のセンサーをプリプレ
グの幅方向にスキャニングしながらプリプレグの硬化度
を近赤外分光分析法で測定するようにしたことを特徴と
する請求項１に記載のプリプレグの製造方法。
【請求項４】近赤外分光分析計として反射式のものを
用いることを特徴とする請求項２又は３に記載のプリプ
レグの製造方法。
【請求項５】乾燥機から出てきたプリプレグをロール
の外周に沿って送ると共に、このロールの近傍において
近赤外分光分析計のセンサーを配設してプリプレグの硬
化度を近赤外分光分析法で測定するようにしたことを特
徴とする請求項２乃至４のいずれかに記載のプリプレグ
の製造方法。