JPH0829492A - 故障シミュレーション方法 - Google Patents

故障シミュレーション方法

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JPH0829492A
JPH0829492A JP6162204A JP16220494A JPH0829492A JP H0829492 A JPH0829492 A JP H0829492A JP 6162204 A JP6162204 A JP 6162204A JP 16220494 A JP16220494 A JP 16220494A JP H0829492 A JPH0829492 A JP H0829492A
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JP
Japan
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signal line
value
failure
circuit
fault
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JP6162204A
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English (en)
Inventor
Hiroaki Sakai
宏明 堺
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318342—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路における故障をテストベクタが検出可能
か否かを判定する。 【構成】 故障を仮定しない正常回路及び故障を仮定し
た故障回路の両方において、信号線に固有値Ｘ1 〜Ｘn
を設定する（ステップＳ１１）。そしてテストベクタＦ
を与え（ステップＳ１３）、信号を伝搬させるシミュレ
ーションを行う（ステップＳ１４）。 【効果】 未定値が伝搬すること無く、固有値若しくは
その反転した値が伝搬するので、正常回路のシミュレー
ション結果と故障回路のシミュレーション結果とを比較
して、テストベクタがその検出に適しているか否かを判
定することができるところの故障の種類が広げられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は故障シミュレーション
方法に関し、特にテストベクタが集積回路内において仮
定された故障を検出しうるか否かを判定する技術に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図２４乃至図２６は、従来の故障シミュ
レーション方法の説明に用いられる回路図である。図２
４乃至図２６は全て同一の回路を示しており、ＯＲゲー
ト５の入力端５ａ，５ｂにはそれぞれ信号線１，４が接
続され、出力端には信号線３が接続されている。フリッ
プフロップ７の入力端Ｄには信号線３が接続され、反転
出力端ＱＣには信号線４，６が共通して接続されてい
る。フリップフロップ７のクロック端ＣＬＫには信号線
２が接続されており、クロック信号が与えられる。この
回路において信号線１に入力した信号が処理され、信号
線６に与えられた信号が出力される。
【０００３】信号線１が１縮退する故障を検出する場合
を例に採って従来の故障シミュレーション方法を説明す
る。
【０００４】まず図２４に示されるように、テストベク
タの第１の値として信号線に値“１”が与えられる。信
号線１が１縮退している故障（ＳＡ１：stack at 1）が
生じている場合でも、正常である場合であっても、何れ
の場合にもＯＲゲート５の入力端５ａには値“１”が伝
搬してくる。従ってＯＲゲート５は信号線４に与えられ
る論理値に拘らず“１”を出力し、信号線３には値
“１”が与えられる。このためフリップフロップ７の入
力端には値“１”が伝搬する。
【０００５】信号線２において、活性化したクロック信
号が伝搬すると（以下、活性化したクロックが伝搬する
ことを「値“Ｐ”が伝搬する」という）、反転出力端Ｑ
Ｃには値“０”が出力され、信号線４，６には値“０”
が伝搬する。信号線４を伝搬した値“０”はＯＲゲート
５の入力端５ｂに与えられるが、ＯＲゲート５は依然と
して値“１”を出力するので信号線３には値“１”が伝
搬したままである。
【０００６】次にテストベクタの第２の値として信号線
に値“０”が与えられる。図２５に示されるように、信
号線１が正常である場合には、当初信号線４に値“０”
が伝搬しているのでＯＲゲート５は値“０”を信号線３
に伝搬させる。ここで信号線２に値“Ｐ”が伝搬する
と、フリップフロップ７の反転出力端ＱＣは値“１”を
信号線６に伝搬させる。
【０００７】従って回路が正常である場合には、テスト
ベクタの第１の値“１”が与えられた後に値“Ｐ”が伝
搬し、次いで第２の値“０”が与えられた後に値“Ｐ”
が伝搬することによって、信号線６には順次値“０”，
“１”が伝搬する。
【０００８】一方、テストベクタの第２の値として信号
線に値“０”を与えた場合であっても、図２６に示され
るように信号線１が１縮退している故障が生じている場
合には、ＯＲゲート５の入力端５ａには値“１”が与え
られることになる。従って、信号線３に値“１”が伝搬
し、信号線２に値“Ｐ”が伝搬することによってフリッ
プフロップ７の反転出力端ＱＣには値“０”が出力され
る。
【０００９】従って信号線１が１縮退している故障が生
じている場合には、テストベクタの第１の値“１”が与
えられた後に値“Ｐ”が伝搬し、次いで第２の値“０”
が与えられた後に値“Ｐ”が伝搬することによって、信
号線６には順次値“０”，“０”が伝搬する。
【００１０】換言すれば、信号線１が１縮退している故
障が生じているか否かは、信号線２に値“Ｐ”が伝搬す
るタイミングに合わせてテストベクタの値として
“１”，“０”を順次入力し、信号線６に伝搬する出力
を吟味すればよい。そして出力が順次“０”，“１”で
あれば回路は正常であり、“０”，“０”であれば信号
線１が１縮退している故障が生じていることが検出でき
る。
【００１１】従って、信号線１に対して順次“１”，
“０”を与えるテストベクタは、図２４乃至図２６に示
された回路において信号線１が１縮退している故障が生
じているか否かを検出しうるものであると判定される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の故障シ
ミュレーション方式では、信号線１が０縮退している故
障（ＳＡ０：stack at 0）が生じている場合、これを検
出することができない。図２７は図２６と同一の回路を
示しており、信号線１において０縮退している故障が生
じている様子を示している。
【００１３】この場合には信号線１に与えるテストベク
タの値が“１”であれ“０”であれ、ＯＲゲート５の入
力端５ａには値“０”が与えられる。そのためＯＲゲー
ト５の入力端５ｂに与えられた値が信号線３に伝搬する
ことになるが、フリップフロップ７の反転出力端ＱＣの
値が不明であり、信号線４に如何なる値が伝搬している
か不明である。これは未定値“Ｘ”が信号線４に伝搬す
ると表現されてシミュレーションが進められるが、信号
線３にも未定値“Ｘ”が伝搬するため、信号線２に値
“Ｐ”が伝搬しても依然として信号線４に伝搬する値は
不明である。即ち信号線４に伝搬する値は“Ｘ”のまま
となる。
【００１４】信号線１が１縮退している故障が生じてい
るか否かを検出する場合には、フリップフロップ７の反
転出力端ＱＣの値が“０”に初期化されるので、故障検
出を可能とするテストベクタの生成は可能であった。し
かし信号線１が０縮退している故障が生じている場合に
は、信号線１に如何なる値を与えても、また値“Ｐ”が
何回伝搬しようとも、フリップフロップ７を初期化する
ことができないために信号線３，４の値を決定できな
い。
【００１５】換言すれば、如何なるテストベクタに対し
ても、図２４乃至図２７に示された回路における信号線
１の０縮退故障の検出が可能か否かを判定する事が困難
である、という問題点があった。
【００１６】この発明は上記の問題点を解消するために
為されたもので、より多くの種類の故障の検出に関して
も、テストベクタがかかる故障の検出に用いることがで
きるか否かを判定することができる故障シミュレーショ
ン方法を提供することを目的としている。
【００１７】即ち生成されたテストベクタによる故障検
出の可能性を大きくすることを目的としており、これは
見方を変えれば故障検出を行うテストベクタの生成可能
性を大きくすることでもある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】この発明のうち請求項１
にかかるものは、複数の信号線及び少なくとも一つの論
理素子を含む被測定回路における少なくとも一種の故障
を、前記信号線の少なくとも一つに２値論理を与える少
なくとも一つのテストベクタが、検出することができる
か否かを判定する故障シミュレーション方法である。そ
して（ａ）前記故障を前記被測定回路に仮に与えて故障
回路を求める工程と、（ｂ）前記故障回路に対して、そ
の前記信号線に一意に対応する固有値を少なくとも一つ
設定する工程と、（ｃ）前記テストベクタを前記被測定
回路に故障が全く存在しない正常回路及び前記故障回路
の何れに対しても与える工程と、（ｄ）前記正常回路及
び前記故障回路において、前記信号線に論理値を伝搬さ
せる工程と、（ｅ）前記正常回路の特定の前記信号線に
伝搬する正常結果値と、前記特定信号線に対応する前記
故障回路の前記信号線に伝搬する故障結果値とを求める
工程と、（ｆ）前記正常結果値と前記故障結果値とを比
較して、前記テストベクタが前記故障を検出できるか否
かを判定する工程とを備える。ここで前記固有値は、論
理値“１”，“０”のいずれか一方であることを、
“１”，“０”のいずれであるかを問わずに総括的に表
すものである。
【００１９】この発明のうち請求項２にかかるものは、
請求項１記載の故障シミュレーション方法であって、前
記故障は複数種であり、前記工程（ａ）に先立ち（ｘ）
前記故障のうち、前記固有値の設定を必要とするものを
第１グループに、必要としないものを第２グループに、
それぞれ分類する工程を更に備える。そして前記工程
（ｂ）は前記第１グループに分類された前記故障に対応
する場合においてのみ実行され、前記工程（ａ）乃至
（ｆ）が複数種の前記故障に対応して実行される。
【００２０】この発明のうち請求項３にかかるものは、
請求項２記載の故障シミュレーション方法であって、前
記工程（ｘ）は（ｘ−１）前記故障回路において論理値
を伝搬させる工程と、（ｘ−２）論理値がそれ以上伝搬
できなくなった箇所の前記論理素子を最先端信号入力素
子として特定する工程と、（ｘ−３）故障伝搬フラグを
前記最先端信号入力素子から伝搬させる工程と、（ｘ−
４）前記故障伝搬フラグの伝搬がループを形成した場合
に、前記ループのリセット可能性の有無を判定し、前記
リセット可能性が有る場合には前記故障を前記第２グル
ープに、無い場合には前記故障を前記第１グループに、
それぞれ分類する工程とを有する。
【００２１】この発明のうち請求項４にかかるものは、
請求項３記載の故障シミュレーション方法であって、前
記工程（ａ）に先立ち、前記工程（ｘ）に続いて、前記
第１グループに属する前記故障に対して実行される
（ｙ）前記固有値の設定が必要な前記信号線のみを検出
する工程を更に備える。そして前記工程（ｂ）において
は、前記工程（ｙ）において検出された前記信号線に対
してのみ前記固有値が設定され、前記工程（ａ）乃至
（ｆ）が複数種の前記故障に対応して実行される。
【００２２】この発明のうち請求項５にかかるものは、
請求項４記載の故障シミュレーション方法であって、
（ｙ−１）前記ループの前記ループ起因素子から前記故
障伝搬フラグに沿って後方トレースを行い、前記ループ
起因素子に戻るまでに存在する前記論理素子であって、
クロック信号の活性化するタイミングでの出力が決定す
るものを検出する工程と、（ｙ−２）前記工程（ｙ−
１）において検出された前記論理素子の出力端に接続さ
れた前記信号線を、前記固有値の設定が必要な前記信号
線であるとして検出する工程とを有する。
【００２３】この発明のうち請求項６にかかるものは請
求項１記載の故障シミュレーション方法であって、前記
テストベクタは第１番目から第ｎ番目（ｎ≧２）までの
複数与えられる。そして前記工程（ｂ）は（ｂ−１）前
記故障回路の信号線の全てに前記固有値を設定する工程
と、（ｂ−２）前記第１番目のテストベクタを前記正常
回路及び前記故障回路の何れに対しても与える工程と、
（ｂ−３）前記正常回路において、前記第１番目のテス
トベクタの値を伝搬させる工程と、（ｂ−４）前記故障
回路において、前記第１番目のテストベクタの値及び前
記固有値を伝搬させる工程と、（ｂ−５）前記工程（ｂ
−４）によって前記固有値及び前記固有値の反転した値
のいずれかが伝搬する前記信号線を記憶する工程と、
（ｂ−６）前記工程（ｂ−３），（ｂ−４）によって得
られた前記正常結果値と、前記故障結果値とを求める工
程と、（ｂ−７）前記工程（ｂ−６）で得られた前記正
常結果値と前記故障結果値とを比較して、前記第１番目
のテストベクタが前記故障を検出できるか否かを判定す
る工程と、（ｂ−８）前記工程（ｂ−６）で記憶された
信号線のみに前記固有値を設定する工程とを有する。そ
して、前記工程（ｃ）乃至（ｆ）は前記第２番目から前
記第ｎ番目の前記テストベクタに対して行われる。
【００２４】
【作用】この発明のうち請求項１にかかる故障シミュレ
ーション方法においては、論理値“１”，“０”のいず
れか一方であることを、“１”，“０”のいずれである
かを問わずに総括的に表す固有値が信号線に与えられ
る。従って、論理値が未定のまま信号線を伝搬するので
はなく、固有値若しくは固有値の反転した値が信号線を
伝搬する。
【００２５】この発明のうち請求項２にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、固有値の設定を必要とす
る故障のみに固有値の設定を行う。
【００２６】この発明のうち請求項３にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、故障伝搬フラグの伝搬が
ループを形成した場合に、ループのリセット可能性の有
無によって、故障が固有値の設定を必要とするものか否
かを判定する。
【００２７】この発明のうち請求項４にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、固有値の設定が必要な信
号線のみに固有値の設定を行う。
【００２８】この発明のうち請求項５にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、クロック信号の伝搬に依
存して出力する素子の出力端に接続された信号線に対し
て固有値を設定する。但しクロック信号の伝搬に依存し
て出力する素子の出力端に接続される全ての信号線に対
して固有値を設定する必要はない。未定値が伝搬するこ
とのない素子には、もともとその必要がない。従って故
障伝搬フラグの伝搬が行われるループのうちリセット可
能性のないものにおいて、クロック信号の伝搬に依存し
て出力する素子の出力端が存在するならば、その出力端
に接続された信号線に固有値を設定する。
【００２９】この発明のうち請求項６にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、或る故障に対して第１番
目のテストベクタがその検出に適しているか否かを判定
する際に全ての信号線に対して固有値が設定される。そ
して故障回路シミュレーションにおいて結果的に固有値
又はその反転した値が伝搬しなくなった信号線に対して
は、固有値を設定する必要がないと判断する。
【００３０】
【実施例】
第１実施例：図１及び図２は両者相まってこの発明の第
１実施例にかかる故障シミュレーション方法の手順を示
すフローチャートであり、接続子Ｊ１で連続する。ま
た、図３乃至図５は第１実施例にかかる故障シミュレー
ション方法の動作を説明するのに用いられる回路図であ
り、図２４乃至図２７に示された回路とは素子及びその
接続関係が同一である。
【００３１】まずステップＳ１１により、被測定回路Ｍ
に対して、故障Ｃを仮定した回路Ｍ’を求める。図３及
び図４にそれぞれ回路Ｍ，Ｍ’を示す。ここでは故障Ｃ
として、従来の故障シミュレーション方法で対応できな
かった信号線１の０縮退故障を考慮している。
【００３２】次にステップＳ１２により、回路Ｍ’、或
いは更に回路Ｍにおいて、全ての信号線Ｌ1 〜Ｌn に対
し、それぞれ固有値Ｘ1 〜Ｘn を設定する。ここではま
ず、回路Ｍ，Ｍ’の何れに対しても固有値を設定する場
合について説明し、その後、回路Ｍに対して固有値を設
定しなくても良いことを示す。
【００３３】図３及び図４の何れにおいても信号線１〜
４に対して固有値Ｘ1 〜Ｘ4 を設定する。信号線６は常
に信号線４と同一の値が伝搬するので、ここでは固有値
の設定が省略されている。
【００３４】従来の故障シミュレーション方法で用いら
れた未定値“Ｘ”は、論理が未定であって“０”と
“１”との中間的な値を採る可能性を払拭することがで
きないのに対し、固有値Ｘ1 〜Ｘn は“１”または
“０”のいずれか一方の値を採っていることを総括的に
示す論理値である。かかる固有値を設定する工程を有す
る点で、本発明の第１実施例は従来の故障シミュレーシ
ョン方法と大きく異なっている。
【００３５】次にステップＳ１３において、特定の信号
線Ｌj （１≦ｊ≦ｎ）に対し、回路Ｍ，Ｍ’の何れにお
いても同一のテストベクタＦを与える。ここで示される
例ではその要素数が１であり、１回目に信号線２に値
“Ｐ”が伝搬するのに先だって値“１”を、２回目に信
号線２に値“Ｐ”が伝搬するのに先だって値“１”を、
それぞれ信号線１に与える。即ち、ここでは特定の信号
線Ｌj として信号線１が選択される。
【００３６】そしてステップＳ１４において、回路Ｍ，
Ｍ’のそれぞれにおいてテストベクタＦの値及び固有値
Ｘ1 〜Ｘn を伝搬させる。まず図３に基づいて回路Ｍに
おけるこれらの値の伝搬について説明する。信号線１に
伝搬する値はテストベクタを与えることにより値“１”
に遷移する。よってＯＲゲート５によって信号線３には
値“１”が伝搬する。そして信号線２に値“Ｐ”が伝搬
すると、フリップフロップ７の反転出力端は値“０”を
信号線４に伝搬させる。これによってＯＲゲート５の出
力が変化することはないので信号線３には値“１”が伝
搬したままとなる。
【００３７】この後、テストベクタは再び値“１”を信
号線１に与える。これによってＯＲゲート５の出力が変
化することはないので信号線３には値“１”が伝搬した
ままとなる。そして信号線２に値“Ｐ”が伝搬すると、
フリップフロップ７の反転出力端は値“０”を信号線４
に伝搬させる。
【００３８】この伝搬の様子から、正常回路Ｍに対して
は固有値を設定してもしなくても同一の結果が得られる
ことが解り、ステップＳ１２においては必ずしも回路Ｍ
に対する固有値の設定を行う必要がない。
【００３９】次に図４に基づいて回路Ｍ’における値の
伝搬について説明する。信号線１にテストベクタの値
“１”が与えられても、信号線１は０縮退故障が仮定さ
れているので、これに伝搬する値は“Ｘ1 ”から“０”
へ遷移する。よってＯＲゲート５によって信号線３には
値“Ｘ4 ”が伝搬する。信号線２に値“Ｐ”が伝搬する
と、フリップフロップ７の反転出力端は値“＾Ｘ4 ”を
信号線４に伝搬させる。記号“＾”は、これに続いて記
載される固有値の論理を反転する事を意味する。
【００４０】従来の故障シミュレーション方法では信号
線４に与えられていた値が不明なため、未定値“Ｘ”と
して取り扱われていた。そのため信号線３に如何なる値
が伝搬するかも不明のままであり、信号線４に与えられ
る値も不明となる堂々めぐりを招来していた。しかしこ
の発明においては信号線４に与えられていた値を不明で
あるとするのではなく、“１”，“０”を総括的に表現
する固有値“Ｘ4 ”を初期値として与えているので、信
号線３に伝搬する値は“Ｘ4 ”という総括的な値で取り
扱うことができ、信号線２に値“Ｐ”が伝搬した時にフ
リップフロップ７が出力する値は“＾Ｘ4 ”として取り
扱うことができる。
【００４１】信号線４に値“＾Ｘ4 ”が伝搬することに
より、信号線３にも値“＾Ｘ4 ”が伝搬する。そして信
号線１に０縮退故障が仮定されているので、信号線３に
伝搬する値は、テストベクタの値を入力しても変化しな
い。よって次に信号線２に値“Ｐ”が伝搬することによ
り、信号線４には値“Ｘ4 ”が伝搬する。
【００４２】以上の伝搬が終了すると、ステップＳ１５
において、回路Ｍの特定の信号線Ｌk （１≦ｋ≦ｎ）に
伝搬する値Ｖk （正常結果値）と、回路Ｍ’における信
号線Ｌk に伝搬する値Ｖk ’（故障結果値）とを求め
る。図３及び図４においては信号線Ｌk として信号線６
が選定される。信号線６に伝搬する値は信号線４に伝搬
する値と同一である。
【００４３】図３に示された回路Ｍにおいては値Ｖk は
順次“０”，“０”となる。また、図４に示された回路
Ｍ’においては値Ｖk ’は順次“＾Ｘ4 ”，“Ｘ4 ”と
なる。
【００４４】次にステップＳ１６において値Ｖk ，
Ｖk ’が一致しているか否かを判断する。一致していれ
ば故障Ｃによって値が異ならないのであるから、テスト
ベクタＦによる故障Ｃの検出は不可能である（ステップ
Ｓ１７）。しかし、一致しないのであれば故障Ｃの検出
は可能である（ステップＳ１８）。つまりテストベクタ
Ｆは故障Ｃの検出に適していると判定することができ
る。
【００４５】これを図３及び図４に即して考えれば、回
路ＭにおいてはテストベクタＦによって互いに等しく
“０”である２つの値が得られるのに対し、回路Ｍ’に
おいては互いに異なる（論理が反対である）値が得られ
ている。既述のように、固有値“Ｘ4 ”は“１”，
“０”の何れか一方の値を総括的に示すのであるから、
“＾Ｘ4 ”，“Ｘ4 ”は必ず互いに論理が異なっている
ことになる。
【００４６】勿論、従来の故障シミュレーション方法に
おいて、テストベクタがその検出を行うことができるか
否かの判定を下せるところの故障である、信号線１の１
縮退故障に関しても、第１実施例の故障シミュレーショ
ン方法によって、テストベクタの適否を判定することが
できる。以下これについて説明する。
【００４７】従来の故障シミュレーション方法で説明さ
れたように、順次値“１”，“０”を採るテストベクタ
がかかる故障を検出することができることが分かってい
る。従って、ここではかかるテストベクタが第１実施例
にかかる故障シミュレーション方法によっても、信号線
１の１縮退故障を検出することができると判定されるこ
とを示す。
【００４８】図５は故障のない回路Ｍにおいてテストベ
クタとして信号線１に順次値“１”，“０”を与える場
合の信号の伝搬の様子を示す回路図である。信号線１の
値が“Ｘ1 ”から“１”になることにより、信号線４に
伝搬する値に拘らずＯＲゲート５は信号線３に値“１”
を伝搬させる。そして信号線２に値“Ｐ”が伝搬すると
フリップフロップ７はその反転出力端ＱＣに値“０”を
出力し、信号線４には値“０”が伝搬する。
【００４９】次にテストベクタの値は“０”となるの
で、信号線３には値“０”が伝搬する。そして信号線２
に値“Ｐ”が伝搬するとフリップフロップ７はその反転
出力端ＱＣに値“１”を出力し、信号線４には値“１”
が伝搬する。従って値Ｖk は順次に値“０”，“１”を
採る。
【００５０】図６は回路Ｍ’として、図３に示された回
路Ｍに対して信号線１の１縮退故障を仮定した回路図で
ある。信号線１の１縮退故障が仮定されているので、テ
ストベクタの値及び信号線４に伝搬する値によらず、信
号線３には値“１”が伝搬する。よって信号線２に値
“Ｐ”が伝搬すると信号線４には値“０”が伝搬する。
更に、ＯＲゲート５はテストベクタの値及び信号線４に
伝搬する値によらず、信号線３に値“１”を伝搬させる
ので、値Ｖk ’は順次“０”，“０”を採ることにな
る。
【００５１】従って、値Ｖk と値Ｖk ’とは一致せず、
これらの値を信号線６にもたらしたテストベクタ
（“１”，“０”）は回路Ｍにおける信号線１の１縮退
故障の存否を検出することができると判定される。
【００５２】以上に示されたように、第１実施例によれ
ば、各信号線に対して初期値として“０”，“１”を総
括的に表現する固有値を与えておき、テストベクタと固
有値を伝搬させるので、従来の故障シミュレーション方
法において判定が可能であったテストベクタの適否のみ
ならず、従来の故障シミュレーション方法では判定がで
きないようなテストベクタの適否をも判定することがで
きる。
【００５３】第２実施例：第１実施例で示された故障シ
ミュレーション方法によれば、従来の故障シミュレーシ
ョン方法において判定が不可能であったテストベクタの
適否をも判定することができる。しかし見方を変えれ
ば、第１実施例で示された故障シミュレーション方法を
用いなくても、特定の回路の特定の故障を仮定した場合
には従来の故障シミュレーション方法を用いてテストベ
クタの適否を判定することができる、といえる。
【００５４】従って、第１実施例に示されたように固有
値を設定する必要のある故障なのか、あるいは従来の故
障シミュレーション方法のように固有値を設定する必要
のない故障なのか、を予め判断し、この判断に基づいて
固有値の設定の要／不要を決定し、シミュレーションを
進めることができる。このようにすることにより、テス
トベクタの適否を簡単に判定する事ができる。
【００５５】図７及び図８は両者相まって第２実施例に
かかる故障シミュレーション方法の手順を示すフローチ
ャートであり、接続子Ｊ２，Ｊ３で連続する。
【００５６】まずステップＳ２０において、回路Ｍに仮
定すべき故障を、固有値の設定を必要とするものと、そ
うでないものとに、それぞれグループＡ，Ｂへ分類す
る。例えば図６に示された信号線１の１縮退故障（ここ
では故障Ｃ1 に対応するとする）はグループＢに、図４
に示された信号線１の０縮退故障（ここでは故障Ｃ2 に
対応するとする）はグループＡに、それぞれ分類され
る。
【００５７】次に全ての故障に関して故障シミュレーシ
ョン（後述する）が行われたか否かを判断する（ステッ
プＳ２１）。当初は故障シミュレーションは行われてい
ないのでステップＳ２２に進む。
【００５８】ステップＳ２２においては、仮定すべき故
障が更新される。当初は故障Ｃ1 が選択される。そして
ステップＳ２３においては全てのテストベクタについて
故障検出の適否が判定されたか否かが判断される。そし
てステップＳ２４においてテストベクタの内の一つが選
択される。
【００５９】その後、まず正常回路シミュレーションが
行われる。これは回路Ｍに故障を仮定せずに、テストベ
クタを与えて信号の伝搬をシミュレーションするもので
ある。例えばテストベクタが順次に値“１”，“０”を
採るものである場合（ここではテストベクタＦ1 に対応
するとする）、正常回路シミュレーションは従来の技術
において説明された図２４及び図２５に示されたように
行われる。その結果、信号線２に値“Ｐ”が伝搬する毎
に、信号線６には順次に値“０”，“１”が伝搬する。
【００６０】次にステップＳ２６において故障がグルー
プＡ，Ｂのいずれに属していたのかが判断される。グル
ープＡに属しているのであれば、ステップＳ２７におい
て各信号線に固有値を設定する。グループＢに属してい
るのであれば固有値を設定する必要はない。今、故障Ｃ
1 として信号線１の１縮退故障を考えているので、固有
値を設定する必要はない。
【００６１】ステップＳ２８においてはステップＳ２１
で言及された故障回路シミュレーションが行われる。故
障回路シミュレーションは、回路Ｍに故障を仮定して回
路Ｍ’を求め、この回路Ｍ’にテストベクタを与えて信
号を伝搬させるシミュレーションを行うものである。例
えば故障Ｃ1 を仮定した回路Ｍ’としては図２６に示さ
れた回路が相当する。そして信号の伝搬の様子は図２４
と図２６に示される通りであり、信号線６には順次に値
“０”，“０”が伝搬する。
【００６２】そしてステップＳ２９に進み、正常回路シ
ミュレーションと故障回路シミュレーションとの結果か
ら、現在判断対象となっているテストベクタが、現在着
目している故障の検出に適しているか否かが判定され
る。今、ここで説明している例ではテストベクタＦ1 を
用いて正常回路シミュレーションにおいて得られた結果
（“０”，“１”）と、故障回路シミュレーションにお
いて得られた結果（“０”，“０”）とは異なっている
ので、第１実施例のステップＳ１６，Ｓ１８と同様にし
て「テストベクタＦ1 は回路Ｍの故障Ｃ1 を検出するの
に適している」と判定される。
【００６３】この後、ステップＳ２３に戻り、他のテス
トベクタについても故障Ｃ1 の検出の適否が判定され
る。例えばステップＳ２４においてテストベクタＦ2 と
して順次に値“１”，“１”を採るものが選択されたと
すると、ステップＳ２５において得られる結果は
“０”，“０”であり、またステップＳ２８において得
られる結果も“０”，“０”である。従って、ステップ
Ｓ２９において「テストベクタＦ2 は回路Ｍの故障Ｃ1
を検出するのに適していない」と判定される。
【００６４】このようにして一つの故障に関して全ての
テストベクタが吟味されると、ステップＳ２３からステ
ップＳ２１，Ｓ２２に進む。そして他の故障について、
テストベクタがその故障の検出に適しているか否かが判
定される。
【００６５】例えばステップＳ２２において故障Ｃ2 が
選択される。ステップＳ２５においてテストベクタＦ1
を用いた正常回路シミュレーションが行われる。これに
より信号線６には順次に値“０”，“１”が伝搬するこ
とが解る。次にステップＳ２６において故障Ｃ2 はグル
ープＡに属しているので、ステップＳ２７において固有
値が設定される。そしてステップＳ２８において、故障
Ｃ2 が仮定された回路Ｍ’にテストベクタＦ1 を用いた
故障回路シミュレーションが行われる。故障Ｃ2 は信号
線１の０縮退故障であったので、テストベクタの値によ
らず、第１実施例において図４を用いて説明されたよう
に、信号線６には順次“＾Ｘ4 ”，“Ｘ4 ”が伝搬す
る。
【００６６】次にステップＳ２９においてテストベクタ
Ｆ1 が故障Ｃ2 の検出に適しているか否か判定される。
正常回路シミュレーションにおいても、故障回路シミュ
レーションにおいても、互いに異なる論理が順次に信号
線６に伝搬しているので、「テストベクタＦ1 は故障Ｃ
2 の検出に適していない」と判定される。
【００６７】再度ステップＳ２３に戻り、ステップＳ２
４においてテストベクタＦ2 が選択され、ステップＳ２
５においてテストベクタＦ2 を用いた正常回路シミュレ
ーションが行われる。信号線１に順次に値“１”，
“１”を伝搬させることにより、信号線６には順次に値
“０”，“０”が伝搬する。
【００６８】次にステップＳ２６において故障Ｃ2 はグ
ループＡに属していると判断されるので、ステップＳ２
７において固有値が設定される。そしてステップＳ２８
において、故障Ｃ2 が仮定された回路Ｍ’にテストベク
タＦ2 を用いた故障回路シミュレーションが行われる。
第１実施例において図４を用いて説明されたように、信
号線６には順次“＾Ｘ4 ”，“Ｘ4 ”が伝搬する。
【００６９】正常回路シミュレーションにおいては互い
に等しい論理が順次信号線６に伝搬するのに対し、故障
シミュレーションにおいては互いに異なる論理が伝搬す
るので、ステップＳ２９においては「テストベクタＦ2
は故障Ｃ2 の検出に適している」と判定される。
【００７０】以上のように、第２実施例によれば、固有
値を設定する必要のある故障に関してのみ固有値を設定
し、設定する必要のない故障に関しては固有値を設定し
ない。従ってテストベクタが、故障の検出に適している
か否かを容易に判定することができる。
【００７１】第３実施例：第３実施例は第２実施例で示
されたステップＳ２０の好適な具体例を示すものであ
る。図９はステップＳ２０の詳細を例示するフローチャ
ートである。又、図１０はステップＳ２０の手順の説明
に用いられる回路Ｍの構成を例示する回路図である。説
明の容易のため、第３実施例において回路Ｍとして採用
される回路は、第１及び第２実施例において回路Ｍとし
て採用されたものとは異なっている。
【００７２】図１０において、回路ＭはＯＲゲート５，
２２と、フリップフロップ７，２１と、ＡＮＤゲート２
０とを備えている。そしてＯＲゲート５は信号線１，４
に伝搬された値の論理和を信号線３に伝搬させる。ま
た、ＡＮＤゲート２０は信号線１６，２３に伝搬された
値の論理積を信号線１７に伝搬させる。そしてＯＲゲー
ト２２は信号線１８，１９に伝搬された値の論理和を信
号線６に与える。フリップフロップ７の入力端Ｄには信
号線３が、反転出力端ＱＣには信号線１８が、それぞれ
接続されている。またフリップフロップ２１の入力端Ｄ
には信号線１７が、非反転出力端Ｑには信号線１９が、
それぞれ接続されている。フリップフロップ７，２１の
いずれのクロック端ＣＬＫに対しても共通に信号線２が
接続されている。信号線１，２３は共通して接続されて
おり、信号線４，６も共通に接続されている。
【００７３】まずステップＳ２０１において、全ての故
障Ｃ1 〜Ｃn に関して後述するリセット可能性が判定さ
れたか否かが判断される。最初にステップＳ２０１を実
行する場合には当然ながらリセット可能性は判断されて
いないので、ステップＳ２０２に進む。そして故障Ｃ1
〜Ｃn が順次更新され、それぞれに関してリセット可能
性が判定されて行く。ここではまず故障Ｃ1 として信号
線１の０縮退故障を選択する。
【００７４】次にステップＳ２０３において回路Ｍの信
号値テーブルを初期化する。信号値テーブルとは各信号
線において伝搬する値を保持するテーブルであり、これ
を初期化する事は全ての信号線を伝搬する値を初期化す
る事を意味する。具体的には各信号線に如何なる論理を
も（固有値をも）設定しない。
【００７５】次にステップＳ２０４において故障値シミ
ュレーションを行う。故障値シミュレーションとは、現
在着目している故障に基づいた信号のみを伝搬させるシ
ミュレーションである。但し、クロック信号に関しては
値“Ｐ”が伝搬すると仮定する。
【００７６】故障Ｃ1 を例に採って具体的に説明する
と、まず信号線１が０縮退故障しているのであるから、
これに共通して接続された信号線２３に“０”が伝搬す
る。
【００７７】ＡＮＤゲート２０は信号線１６に伝搬する
値に拘らずに値“０”を信号線１７に伝搬させるので、
信号線２に値“Ｐ”が伝搬するとフリップフロップ２１
の動作によって信号線１９に値“０”が伝搬する。そし
て信号の伝搬のシミュレーションはこれ以上行われな
い。
【００７８】その理由は以下の通りである。ＯＲゲート
５が信号線３に如何なる値を伝搬させるかは信号線４に
伝搬する値に依存するが、ステップＳ２０３において信
号線４に対しては値が与えられていないので、信号線３
に伝搬する値は決定できない。従ってフリップフロップ
７が反転出力端ＱＣを介して信号線１８に伝搬させる値
も決定できない。このためＯＲゲート２２が信号線４，
６に伝搬させる値も決定できないのである。
【００７９】このようにして信号を伝搬させた後、信号
がそれ以上伝搬しない素子が最先端信号入力素子として
記憶される（ステップＳ２０５）。上記の例では信号線
１に伝搬する値を入力するＯＲゲート５と、信号線１９
に伝搬する値を入力するＯＲゲート２２が最先端信号入
力素子に該当する。
【００８０】次に、ステップＳ２０６において故障伝搬
フラグのセットと伝搬のシミュレーションを行う。図１
１は回路Ｍにおいて、故障伝搬フラグのセットを行う様
子を示す回路図であり、図１２及び図１３は両者相まっ
てステップＳ２０６の詳細を示すフローチャートであ
り、接続子Ｊ５，Ｊ６，Ｊ７において連続する。
【００８１】まずステップＳ２０６１において、故障伝
搬フラグｆｌｇが与えられていない出力端を有する最先
端信号入力素子が存在するか否か判断される。もし既に
全ての最先端信号入力素子の出力端に故障伝搬フラグｆ
ｌｇが与えられていれば、ステップＳ２０７へ進む。最
初にステップＳ２０６１に進んだ場合には未だ故障伝搬
フラグｆｌｇは与えられていないので、ステップＳ２０
６２へ進む。
【００８２】次にステップＳ２０６２において最先端信
号入力素子の出力端に接続された信号線（上記の例で言
えばＯＲゲート５，２２に対してそれぞれ信号線３，６
が対応している）に故障伝搬フラグｆｌｇを与える。ス
テップＳ２０６２ではまず一つの最先端信号入力素子に
対応して故障伝搬フラグｆｌｇを与える。ここでは信号
線３に故障伝搬フラグｆｌｇを与える。
【００８３】素子の入力端の内、故障伝搬フラグｆｌｇ
が与えられた入力端を除く全てに関して、以下の何れか
に該当している場合には故障伝搬フラグｆｌｇがその素
子を介して伝搬する（ステップＳ２０６３）。
【００８４】値が決まってない。
【００８５】既に故障伝搬フラグｆｌｇが与えられて
いる。
【００８６】非制御値（その値により素子の出力する
値を一意に決定できない値）が伝搬している。
【００８７】そして、もはや故障伝搬フラグｆｌｇが回
路Ｍ内を伝搬しなくなった場合のみならず、故障伝搬フ
ラグｆｌｇがループ状に伝搬した場合にも伝搬が終了す
る（ステップＳ２０６６，Ｓ２０６７）。
【００８８】上記の例で言えば、まず信号線３に故障伝
搬フラグｆｌｇが与えられる。これはフリップフロップ
７の入力端Ｄに伝搬するが、信号線２を介してフリップ
フロップ７のクロック端ＣＬＫには値“Ｐ”が伝搬す
る。よって入力端Ｄに関しては上記条件が該当し、ク
ロック端ＣＬＫに関しては上記条件が該当する。その
ためフリップフロップ７を介して信号線１８にも故障伝
搬フラグｆｌｇが伝搬する。
【００８９】信号線１８はＯＲゲート２２の一方の入力
端に故障伝搬フラグｆｌｇを与える。ＯＲゲート２２の
他方の入力端にはステップＳ２０４によって信号線１９
を介して値“０”が与えられている。しかし、ＯＲゲー
ト２２に対して入力する値“０”は、ＯＲゲート２２の
出力を一意に決定できない。即ち値“０”はＯＲゲート
２２に関して非制御値であり、他方の入力端は上記条件
のに該当する。そのため、ＯＲゲート２２を介して故
障伝搬フラグｆｌｇが信号線４，６に伝搬する。
【００９０】更にＯＲゲート５の入力端には信号線１が
値“０”を伝搬させるが、上記条件に該当するので、
故障伝搬フラグｆｌｇはＯＲゲート５を介して信号線３
に伝搬する。
【００９１】以上のようにして故障伝搬フラグｆｌｇが
ループ状に伝搬したので、信号線３に故障伝搬フラグｆ
ｌｇをセットしたことに起因する伝搬は終了する。な
お、ＯＲゲート２２も最先端信号入力素子であるが、既
に信号線６に故障伝搬フラグｆｌｇが与えられているの
で、もはやＯＲゲート２２に基づいての故障伝搬フラグ
ｆｌｇのセット及び伝搬は行われない。
【００９２】条件，，からわかるように、故障伝
搬フラグｆｌｇがループ状に伝搬する部分は、未定値
“Ｘ”が伝搬する可能性のある部分である。そして従来
の技術において解決すべき問題点は、この未定値“Ｘ”
が伝搬する部分を初期化できなかったことに起因する。
従って第１実施例に示された手法、即ち固有値を用いた
故障シミュレーションを用いる必要があるか否かは、故
障伝搬フラグｆｌｇがループ状に伝搬する部分に対し、
その初期化の可能性を吟味すればよい。
【００９３】ステップＳ２０６８において、故障伝搬フ
ラグｆｌｇのループの原因となっているゲートのみをス
タックし、それ以外の最先端信号入力素子をスタックか
ら外す。即ち一つのループに対して一つの最先端信号入
力素子（ループ起因素子）のみがスタックされる。ここ
ではループ状に伝搬した故障伝搬フラグｆｌｇの伝搬の
起点はＯＲゲート５であったので、ＯＲゲート２２はス
タックから排除される。
【００９４】このようなループ起因素子の出力が初期化
（リセット）されてしまえば、そのループにおける信号
線には順次に値が定まって伝搬するために固有値の設定
を行わなくても良いが、初期化ができなければこのルー
プ状の故障伝搬フラグｆｌｇがなくなることがないので
未定値“Ｘ”が伝搬する可能性が残る。従ってそのよう
な場合には固有値の設定を行わなければならない。
【００９５】ステップＳ２０７に進み、ループ状に伝搬
した故障伝搬フラグｆｌｇのリセット可能性を吟味す
る。図１４はステップＳ２０７の詳細を示すフローチャ
ートである。まずステップＳ２０７１において特定素子
の検出を行う。ここで特定素子とは、故障伝搬フラグｆ
ｌｇが伝搬することなく、しかも論理値も決定されてい
ない信号線が接続された入力端を有する素子をいう。こ
の特定素子は故障箇所である信号線１から前方トレース
されることにより検出される。信号線１はＯＲゲート５
及び、信号線２３を介してＡＮＤゲート２０に接続され
ているが、ＯＲゲート５の入力端は値“０”に決定して
いたり、故障伝搬フラグｆｌｇが与えられていたりして
いるので、特定素子足り得ない。一方、ＡＮＤゲート２
０の入力端に接続された信号線１６は未だ値も与えられ
ておらず、しかも論理値も決定されていない。従って、
ＡＮＤゲート２０は信号線１６が接続された入力端を有
する特定素子であるとして検出される。
【００９６】次にステップＳ２０７２において、特定素
子の有する入力端のうち、論理値が未決定の入力端に
“０”，“１”の値をそれぞれ設定する。そしてこれら
の値を伝搬させる。図１５は図１１の回路において信号
線１６に値“０”，“１”を与えた場合を示す回路図で
ある。この回路においては既に信号線２３の値が“０”
に決定しているので、信号線１６に値“０”，“１”の
何れが与えられても、ＡＮＤゲート２０の出力端は信号
線１７に常に“０”を与える。
【００９７】そしてステップＳ２０７３において、値が
決定された範囲において存在する出力端を有するループ
起因素子が記憶から排除される。図１５に示された回路
ではループ起因素子であるＯＲゲート５の出力端はステ
ップＳ２０７２においても値が決定されなかったので、
記憶から削除されることなく残る。
【００９８】このようにして、ループ起因素子がステッ
プＳ２０７３によっても排除されない場合には、このル
ープはリセット可能性が無いと判断され（ステップＳ２
０７５）、ステップＳ２０８へと進む。一方、ループ起
因素子の全てがステップＳ２０７３によって排除された
場合には、ループのリセット可能性が有ると判断され
（ステップＳ２０７６）、ステップＳ２０９へと進む
（ステップＳ２０７４）。
【００９９】ループ起因素子に関するステップＳ２０７
４の判断でリセット可能性の有無を判断し、ステップＳ
２０８，Ｓ２０９に進めるのは次の理由による。既述の
ように、故障伝搬フラグｆｌｇがループ状に伝搬してい
る部分には未定値“Ｘ”が伝搬する可能性がある。しか
し、テストベクタを適切に選択することにより、故障伝
搬フラグｆｌｇがループ状に伝搬する原因となった素子
（ここではＯＲゲート５）の出力端の値を決定できるの
であれば、かかる故障伝搬フラグｆｌｇのループをリセ
ットする可能性が存在する。
【０１００】換言すれば、値を自由に設定することが許
されている信号線（ここでは信号線１６）に対して与え
られる、ある値が故障伝搬フラグｆｌｇのループをリセ
ットするのであれば、そのような値を採るテストベクタ
は故障Ｃi を検出すると判定されるのである。従ってリ
セット可能性があるのであれば、固有値を設定すること
がなくても、テストベクタさえ適切であれば正常回路と
故障回路の判別ができるのであり、逆にリセット可能性
があるのに正常回路と故障回路の判別ができないのであ
れば、それはそのテストベクタが故障Ｃi の検出には不
適当であることを表している。
【０１０１】図１６及び図１７はステップＳ２０７３に
おいて、ループ起因素子が記憶から排除される場合に該
当する回路を示す回路図である。いずれも図３に示され
た回路に対してＡＮＤゲート３０を信号線３の間に挿入
した回路である。信号線３はＡＮＤゲート３０の前後で
それぞれ信号線３１，３２に分割されており、ＡＮＤゲ
ート３０の一方の入力端には信号線３１が接続され、他
方の入力端には信号線３３が接続されている。そしてそ
の出力端には信号線３２が接続されている。
【０１０２】図１６はステップＳ２０６が終了した様子
を示す回路図であり、ステップＳ２０６８によってＯＲ
ゲート５がループ起因素子としてスタックに残置してい
る。この場合にはステップＳ２０７１においてＡＮＤゲ
ート３０が特定素子として検出される。そしてステップ
Ｓ２０７２において信号線３３には“０”，“１”の値
が設定される。
【０１０３】信号線３３に値“１”が設定されても、特
定素子たるＡＮＤゲート３０の出力端は故障伝搬フラグ
ｆｌｇが伝搬したままであり、値は決定されない。しか
し、図１７に示されるように信号線３３に値“０”が設
定された場合には特定素子たるＡＮＤゲート３０の出力
端は信号線３２に値“０”を伝搬させるので、信号線２
に値“Ｐ”が伝搬することによってフリップフロップ７
の反転出力端ＱＣは信号線４，６に伝搬する値を“１”
に決定する。このためループ起因素子であるＯＲゲート
５の出力端が信号線３１に値“１”を伝搬させる。
【０１０４】このようにしてステップＳ２０７２におい
て信号線を伝搬する値が全て決定され、ループ起因素子
であったＯＲゲート５はスタックから排除される。その
ため、図１６及び図１７に示された回路はリセット可能
性が有るとしてステップＳ２０７６を経由してステップ
Ｓ２０９に進む。
【０１０５】この様に第３実施例によれば、第２実施例
において示されたステップＳ２０の好適な具体的ステッ
プを構成することができる。
【０１０６】第４実施例：第２及び第３実施例では、固
有値を設定する必要のある故障なのか、あるいは従来の
故障シミュレーション方法のように固有値を設定する必
要のない故障なのか、を予め判断する技術が示された。
しかし固有値を設定する必要のある故障であっても、固
有値を設定する必要が有る信号線と無い信号線とが存在
する。
【０１０７】図１８及び図１９は両者相まって第４実施
例にかかる故障シミュレーション方法の手順を示すフロ
ーチャートであり、接続子Ｊ８，Ｊ９で連続する。
【０１０８】ステップＳ３０において、回路Ｍに仮定す
べき故障に対して、固有値の設定を必要とする信号線を
記憶する。その後、第２実施例のステップＳ２１乃至Ｓ
２５と同様にしてステップＳ３１乃至Ｓ３５の処理が進
み、ステップＳ３６において信号線のうち固有値を設定
すべきものが存在するか否かが判断される。もし、現在
着目している故障Ｃi に関して、ステップＳ３０におい
て信号線が記憶されていたならば、ステップＳ３７に進
んでその信号線のみに固有値が設定され、ステップＳ３
８に進む。ステップＳ３６において信号線が記憶されて
いないと判断されれば固有値を設定する必要がないので
あるから、ステップＳ３８に進む。
【０１０９】その後はステップＳ２８，Ｓ２９と同様の
処理がステップＳ３８，３９において行われる。
【０１１０】以上のように、第４実施例によれば、固有
値を設定する必要のある信号線に関してのみ固有値を設
定し、設定する必要のない信号線に関しては固有値を設
定しない。従ってテストベクタが、故障の検出に適して
いるか否かを容易に判定することができる。
【０１１１】第５実施例：一旦全ての固有値を設定して
も、その信号線に接続される出力端を有する素子がその
出力線に決定された値を与える可能性がある。この場合
には、当該信号線には固有値を設定する必要がない。こ
のような状態が生じるか否かは、一つの故障に対して最
初のテストベクタを与えたときに、実際に固有値が他の
値に決定される様子を調べればわかる。よってステップ
Ｓ３０において信号線の吟味をおこなわなくても、一旦
正常回路及び故障回路についてシミュレーションを行っ
て固有値の設定の有無を確認することができる。
【０１１２】図２０及び図２１は両者相まって第５実施
例にかかる故障シミュレーション方法の手順を示すフロ
ーチャートであり、接続子Ｊ１０，Ｊ１１で連続する。
【０１１３】まずステップＳ４０において、ステップＳ
２１と同様にして全ての故障について故障シミュレーシ
ョンが行われたか否かを判断する。そしてステップＳ４
１においてステップＳ２２と同様にして故障Ｃi の更新
を順次に行う。
【０１１４】その後第１実施例と同様にしてステップＳ
４３において最初のテストベクタＦ1 による正常回路シ
ミュレーションを行う。またステップＳ４４において最
初のテストベクタＦ1 による故障回路シミュレーション
を行う。従って、この２つのステップにおける手順は第
１実施例と同様である。これらのステップＳ４３，４４
に先だって、ステップＳ４２において全ての信号線に関
して固有値が設定されるが、既に述べたように正常回路
Ｍには固有値を設定してもしなくても良いので、ステッ
プＳ４２の対象となる回路は回路Ｍ’のみとしても良
い。
【０１１５】この後、故障回路シミュレーションにおい
て結果的に固有値若しくはその反転した値を有する信号
線を記憶する（ステップＳ４５）。これに対し、ステッ
プＳ４４の結果、固有値が現れない信号線には固有値を
設定する必要がない。正常回路シミュレーションの場合
と同様に、他の信号線に伝搬する値によって伝搬する値
が決定されるためである。
【０１１６】その後ステップＳ４６において、故障Ｃi
の検出に関するテストベクタＦ1 の適否を判定する。
【０１１７】ステップＳ４７乃至ステップＳ５２は、残
りのテストベクタＦ2 〜Ｆm の適否を判定する。ステッ
プＳ４７において残りのテストベクタの全てについて適
否が判定されたか否かが判断され、ステップＳ４８にお
いて順次テストベクタＦj が更新される。
【０１１８】ステップＳ４９においては固有値の設定が
行われる。但し、結果的に固有値若しくはその反転した
値の伝搬する信号線、即ちステップＳ４５において記憶
された信号線のみに対して固有値が設定される。
【０１１９】そしてステップＳ５０，Ｓ５１においてそ
れぞれ正常回路シミュレーション及び故障回路シミュレ
ーションを行い、Ｓ５２において故障Ｃi の検出に関す
るテストベクタＦj の適否を判定する。
【０１２０】上記のような手順においては、一つの故障
に関して一回は全ての信号線に対して固有値を設定する
が、最初のテストベクタによる正常回路シミュレーショ
ン及び故障シミュレーションによって固有値を設定すべ
き信号線を特定できるので、２つ目以後のテストベクタ
の適否の判定を行うに際しては、不要な固有値の設定を
行う必要がない。但し、故障の種類が異なれば固有値を
設定すべき信号線も異なるので、ステップＳ４２はステ
ップＳ４１よりも後にステップＳ４３よりも前に設ける
必要がある。
【０１２１】以上のようにして第５実施例においても第
４実施例と同様の効果を得ることができる。
【０１２２】第６実施例：第６実施例は第４実施例で示
されたステップＳ３０の好適な具体例を示すものであ
る。
【０１２３】例えば、第１実施例において図６に示され
た信号線１，３には固有値を設定する必要がない。信号
線１に１縮退の故障が仮定されているのであるから、信
号線１に固有値を設定しても直ちに値が“１”に決定し
てしまう。そして信号線１に伝搬する値が“１”である
ために、ＯＲゲート５は信号線３に伝搬する値を“１”
に固定してしまう。従って信号線３に固有値を設定する
必要がない。
【０１２４】更に、図４に示されたように信号線１に０
縮退の故障を仮定した場合においても、ＯＲゲート５は
信号線４を伝搬する値を信号線３に伝搬させることにな
る。従って、信号線４にさえ固有値が設定されていれ
ば、信号線３に伝搬する値は信号線４に伝搬する固有値
の反転した論理値を有することになる。
【０１２５】以上のことから解るように、値“Ｐ”の伝
搬に依存せずに出力が決定される素子の出力端に接続さ
れた信号線には固定値を設定する必要がない。換言すれ
ば値“Ｐ”の伝搬に依存して出力する素子（図４、図６
で言えばフリップフロップ７）の出力端に接続された信
号線に対して固有値を設定する必要がある。
【０１２６】しかし、値“Ｐ”が伝搬する素子の出力端
に接続される全ての信号線に対して固有値を設定する必
要もない。未定値“Ｘ”が伝搬することのない素子に
は、もともとその必要がない。従って第３実施例で示さ
れた、故障伝搬フラグｆｌｇの伝搬が行われるループの
うちリセット可能性のないものにおいて、値“Ｐ”が伝
搬することで出力する素子の出力端が存在するならば、
その出力端に接続された信号線にさえ固有値を設定すれ
ば良いことになる。
【０１２７】図２２はステップＳ３０の詳細を例示する
フローチャートである。又、図２３はステップＳ３０の
手順の説明に用いられる回路Ｍの構成を例示する回路図
である。ステップＳ３０は、その当初はステップＳ２０
において示されたステップＳ２０１乃至ステップＳ２０
７と同一の手順を含んでいる。即ち故障Ｃi に関しての
リセット可能性の有無が判断される。
【０１２８】リセット可能性がなければステップＳ３０
１に進み、ループのループ起因素子から故障伝搬フラグ
ｆｌｇに沿って後方トレースを行う。そしてループ起因
素子に戻るまでに存在するフリップフロップを検出す
る。そしてステップＳ３０２においてこの検出されたフ
リップフロップの出力端に接続された信号線を、固有値
の設定が必要な信号線として記憶する。その後ステップ
Ｓ２０１に戻って全ての故障に関して同様の処理を行
う。
【０１２９】ステップＳ２０７においてリセット可能性
があると判断された場合にも、如何なる信号線に対して
も固有値を設定する必要がないので、ステップＳ２０１
に戻る。
【０１３０】図２３においては、ＯＲゲート５がループ
起因素子であったので、ここから後方トレースを行う。
ＯＲゲート２２はフリップフロップではないので、ステ
ップＳ３０１においてはフリップフロップ７が検出され
る。そしてその出力端に接続される信号線１８が、固有
値を設定する必要のある信号線として記憶される（ステ
ップＳ３０２）。
【０１３１】この様に第６実施例によれば、第４実施例
において示されたステップＳ３０の好適な具体的ステッ
プを構成することができる。
【０１３２】
【発明の効果】以上のようにこの発明により、これまで
テストベクタが検出できるか否かを判定できなかった故
障に対しても、テストベクタの適否の判定をすることが
可能となり、より正確な故障シミュレーションが実行で
きる。
【０１３３】この発明のうち請求項１にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、正常結果値と故障結果値
の何れにおいても、２値論理又は固有値若しくは固有値
の反転した値が得られるので、両者の一致／不一致を判
断することができる故障の種類が多くなる。従って、テ
ストベクタとしての適否を従来の故障シミュレーション
方法において判定が可能であったテストベクタの適否の
みならず、従来の故障シミュレーション方法では判定が
できないようなテストベクタの適否をも判定することが
できる。
【０１３４】この発明のうち請求項２にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、不要な固有値の設定を省
略するので、簡易に請求項１にかかる故障シミュレーシ
ョン方法の効果を得ることができる。
【０１３５】この発明のうち請求項３にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、ループが未定値の伝搬し
得る範囲として把握され、このループがリセットされる
可能性が存在するのであれば、かかるリセットを行うこ
とのできるテストベクタが存在し得ることになる。従っ
て、ループのリセット可能性が有るものに関しては固有
値を設定する必要がないので、請求項２にかかる故障シ
ミュレーション方法の効果を得ることができる。
【０１３６】この発明のうち請求項４にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、不要な固有値の設定を省
略するので、簡易に請求項１にかかる故障シミュレーシ
ョン方法の効果を得ることができる。
【０１３７】この発明のうち請求項５にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、未定値の伝搬し得る範囲
として把握されるループに対して、クロック信号の伝搬
に依存して出力する素子が論理値を与える場合におい
て、その素子の出力端に接続された信号線を検出するの
で、この検出線にのみ固有値を設定することにより請求
項４にかかる故障シミュレーション方法の効果を得るこ
とができる。
【０１３８】この発明のうち請求項６にかかる故障シミ
ュレーション方法においては、論理素子に論理値が伝搬
することによって固有値又はその反転した値が伝搬しな
くなった信号線には、固有値を設定しなくても後に論理
値が決定される。従って、かかる信号線に対しては固有
値を設定する必要が無いと判断されるので、第２番目以
降のテストベクタの検査において容易に請求項１にかか
るものの効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 図２と相まってこの発明の第１実施例を示す
フローチャートである。
【図２】 図１と相まってこの発明の第１実施例を示す
フローチャートである。
【図３】 この発明の第１実施例を説明する回路図であ
る。
【図４】 この発明の第１実施例を説明する回路図であ
る。
【図５】 この発明の第１実施例を説明する回路図であ
る。
【図６】 この発明の第１実施例を説明する回路図であ
る。
【図７】 図８と相まってこの発明の第２実施例を示す
フローチャートである。
【図８】 図７と相まってこの発明の第２実施例を示す
フローチャートである。
【図９】 この発明の第３実施例を示すフローチャート
である。
【図１０】 この発明の第３実施例を説明する回路図で
ある。
【図１１】 この発明の第３実施例を説明する回路図で
ある。
【図１２】 図１３と相まってこの発明の第３実施例を
示すフローチャートである。
【図１３】 図１２と相まってこの発明の第３実施例を
示すフローチャートである。
【図１４】 この発明の第３実施例を示すフローチャー
トである。
【図１５】 この発明の第３実施例を説明する回路図で
ある。
【図１６】 この発明の第３実施例を説明する回路図で
ある。
【図１７】 この発明の第３実施例を説明する回路図で
ある。
【図１８】 図１９と相まってこの発明の第４実施例を
示すフローチャートである。
【図１９】 図１８と相まってこの発明の第４実施例を
示すフローチャートである。
【図２０】 図２１と相まってこの発明の第５実施例を
示すフローチャートである。
【図２１】 図２０と相まってこの発明の第５実施例を
示すフローチャートである。
【図２２】 この発明の第６実施例を示すフローチャー
トである。
【図２３】 この発明の第６実施例を説明する回路図で
ある。
【図２４】 従来の技術を説明する回路図である。
【図２５】 従来の技術を説明する回路図である。
【図２６】 従来の技術を説明する回路図である。
【図２７】 従来の技術を説明する回路図である。
【符号の説明】
１，２，３，４，６，１６，１７，１８，１９，２３，
３１〜３３ 信号線、Ｘ1 〜Ｘ4 固有値。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複数の信号線及び少なくとも一つの論理素
    子を含む被測定回路における少なくとも一種の故障を、
    前記信号線の少なくとも一つに２値論理を与える少なく
    とも一つのテストベクタが、検出することができるか否
    かを判定する故障シミュレーション方法であって、 （ａ）前記故障を前記被測定回路に仮に与えて故障回路
    を求める工程と、 （ｂ）前記故障回路に対し、その前記信号線に一意に対
    応する固有値を少なくとも一つ設定する工程と、 （ｃ）前記テストベクタを前記被測定回路に故障が全く
    存在しない正常回路及び前記故障回路の何れに対しても
    与える工程と、 （ｄ）前記正常回路及び前記故障回路において、前記信
    号線に論理値を伝搬させる工程と、 （ｅ）前記正常回路の特定の前記信号線に伝搬する正常
    結果値と、前記特定信号線に対応する前記故障回路の前
    記信号線に伝搬する故障結果値とを求める工程と、 （ｆ）前記正常結果値と前記故障結果値とを比較して、
    前記テストベクタが前記故障を検出できるか否かを判定
    する工程とを備え、 前記固有値は、論理値“１”，“０”のいずれか一方で
    あることを、“１”，“０”のいずれであるかを問わず
    に総括的に表す、故障シミュレーション方法。
  2. 【請求項２】前記故障は複数種であり、 前記工程（ａ）に先立ち（ｘ）前記故障のうち、前記固
    有値の設定を必要とするものを第１グループに、必要と
    しないものを第２グループに、それぞれ分類する工程を
    更に備え、 前記工程（ｂ）は前記第１グループに分類された前記故
    障に対応する場合においてのみ実行され、 前記工程（ａ）乃至（ｆ）が複数種の前記故障に対応し
    て実行される、請求項１記載の故障シミュレーション方
    法。
  3. 【請求項３】前記工程（ｘ）は （ｘ−１）前記故障回路において論理値を伝搬させる工
    程と、 （ｘ−２）論理値がそれ以上伝搬できなくなった箇所の
    前記論理素子を最先端信号入力素子として特定する工程
    と、 （ｘ−３）故障伝搬フラグを前記最先端信号入力素子か
    ら伝搬させる工程と、 （ｘ−４）前記故障伝搬フラグの伝搬がループを形成し
    た場合に、前記ループのリセット可能性の有無を判定
    し、前記リセット可能性が有る場合には前記故障を前記
    第２グループに、無い場合には前記故障を前記第１グル
    ープに、それぞれ分類する工程とを有する、請求項２記
    載の故障シミュレーション方法。
  4. 【請求項４】 前記工程（ａ）に先立ち、前記工程
    （ｘ）に続いて、前記第１グループに属する前記故障に
    対して実行される（ｙ）前記固有値の設定が必要な前記
    信号線のみを検出する工程を更に備え、 前記工程（ｂ）においては前記工程（ｙ）において検出
    された前記信号線に対してのみ前記固有値が設定され、 前記工程（ａ）乃至（ｆ）が複数種の前記故障に対応し
    て実行される、請求項３記載の故障シミュレーション方
    法。
  5. 【請求項５】 前記工程（ｙ）は （ｙ−１）前記ループの前記ループ起因素子から前記故
    障伝搬フラグに沿って後方トレースを行い、前記ループ
    起因素子に戻るまでに存在する前記論理素子であって、
    クロック信号の活性化するタイミングでその出力が決定
    するものを検出する工程と、 （ｙ−２）前記工程（ｙ−１）において検出された前記
    論理素子の出力端に接続された前記信号線を、前記固有
    値の設定が必要な前記信号線であるとして検出する工程
    とを有する、請求項４記載の故障シミュレーション方
    法。
  6. 【請求項６】 前記テストベクタは第１番目から第ｎ番
    目（ｎ≧２）までの複数与えられ、 前記工程（ｂ）は（ｂ−１）前記故障回路の信号線の全
    てに前記固有値を設定する工程と、 （ｂ−２）前記第１番目のテストベクタを前記正常回路
    及び前記故障回路の何れに対しても与える工程と、 （ｂ−３）前記正常回路において、前記第１番目のテス
    トベクタの値を伝搬させる工程と、 （ｂ−４）前記故障回路において、前記第１番目のテス
    トベクタの値及び前記固有値を伝搬させる工程と、 （ｂ−５）前記工程（ｂ−４）によって前記固有値及び
    前記固有値の反転した値のいずれかが伝搬する前記信号
    線を記憶する工程と、 （ｂ−６）前記工程（ｂ−３），（ｂ−４）によって得
    られた前記正常結果値と、前記故障結果値とを求める工
    程と、 （ｂ−７）前記工程（ｂ−６）で得られた前記正常結果
    値と前記故障結果値とを比較して、前記第１番目のテス
    トベクタが前記故障を検出できるか否かを判定する工程
    と、 （ｂ−８）前記工程（ｂ−６）で記憶された信号線のみ
    に前記固有値を設定する工程とを有し、 前記工程（ｃ）乃至（ｆ）は前記第２番目から前記第ｎ
    番目の前記テストベクタに対して行われる、請求項１記
    載の故障シミュレーション方法。
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