JPH08285828A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
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- JPH08285828A JPH08285828A JP8505895A JP8505895A JPH08285828A JP H08285828 A JPH08285828 A JP H08285828A JP 8505895 A JP8505895 A JP 8505895A JP 8505895 A JP8505895 A JP 8505895A JP H08285828 A JPH08285828 A JP H08285828A
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- JP
- Japan
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- vibrator
- ultrasonic probe
- wedge
- width
- transducer
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 傾いた欠陥に対する検出能を向上させた超音
波探触子を得る。 【構成】 超音波の指向角が５°以上となるように振動
子５の幅ｄまたは取付幅ｄが下記の式を満たすように楔
２に取り付ける。 ｄ＜０．４４λ／ｓｉｎ（５π／１８０） 但し、λは被検体中の超音波の波長である。
波探触子を得る。 【構成】 超音波の指向角が５°以上となるように振動
子５の幅ｄまたは取付幅ｄが下記の式を満たすように楔
２に取り付ける。 ｄ＜０．４４λ／ｓｉｎ（５π／１８０） 但し、λは被検体中の超音波の波長である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超音波探傷法において
使用する超音波探触子に関し、特に傾いた欠陥の検出能
を向上させる超音波探触子に関する。
使用する超音波探触子に関し、特に傾いた欠陥の検出能
を向上させる超音波探触子に関する。
【０００２】
【従来の技術】超音波探傷は、被検体中の欠陥の有無を
検査する技術であり、超音波探触子を用い、被検体に超
音波パルスを送波し、被検体内部からの超音波エコーを
受波する、パルス反射法が一般的である。鋼管の製造中
におけるオンライン探傷を例にとると、管軸に対し直角
に超音波探触子を配置して管軸方向の欠陥を検出する
（この方法は「管周斜角探傷法」と呼ばれる。）か、管
軸に平行に超音波探触子を配置して管周方向の欠陥を検
出する（この方法は「管軸斜角探傷法」と呼ばれる。）
ことが行われている。しかしながら、実際に鋼管に発生
する欠陥は、管軸に対して傾いたものが多く、その角度
も様々であるため、傾いた欠陥を検出できないという問
題があった。これは、ロールの表面傷の探傷においても
同様の問題がある。
検査する技術であり、超音波探触子を用い、被検体に超
音波パルスを送波し、被検体内部からの超音波エコーを
受波する、パルス反射法が一般的である。鋼管の製造中
におけるオンライン探傷を例にとると、管軸に対し直角
に超音波探触子を配置して管軸方向の欠陥を検出する
（この方法は「管周斜角探傷法」と呼ばれる。）か、管
軸に平行に超音波探触子を配置して管周方向の欠陥を検
出する（この方法は「管軸斜角探傷法」と呼ばれる。）
ことが行われている。しかしながら、実際に鋼管に発生
する欠陥は、管軸に対して傾いたものが多く、その角度
も様々であるため、傾いた欠陥を検出できないという問
題があった。これは、ロールの表面傷の探傷においても
同様の問題がある。
【０００３】このような傾いた欠陥を検出する従来法と
して、例えば特公昭５９−３３２２６号では超音波探触
子を管軸と平行な面内で傾ける方法を開示している。す
なわち、図１４に示すように、鋼管１０の欠陥２０に対
し直角に近い角度で超音波ビームを当てるように超音波
探触子１を管軸に直角の１Ａの位置から入射方向を含む
管軸と平行な面内で角度αだけ傾けて検出するようにし
ている。Ｐは超音波ビームの鋼管への入射点である。こ
の場合、αは５°以上２０°以下とされている。また、
同公報第３欄１８〜２１行目には、「振動子直径が小さ
いほど、また周波数が低いほど、傷の傾きによるエコー
高さの低下が小さくなる。すなわち傷の傾きによる影響
を受けにくくなる。」旨記載されている。
して、例えば特公昭５９−３３２２６号では超音波探触
子を管軸と平行な面内で傾ける方法を開示している。す
なわち、図１４に示すように、鋼管１０の欠陥２０に対
し直角に近い角度で超音波ビームを当てるように超音波
探触子１を管軸に直角の１Ａの位置から入射方向を含む
管軸と平行な面内で角度αだけ傾けて検出するようにし
ている。Ｐは超音波ビームの鋼管への入射点である。こ
の場合、αは５°以上２０°以下とされている。また、
同公報第３欄１８〜２１行目には、「振動子直径が小さ
いほど、また周波数が低いほど、傷の傾きによるエコー
高さの低下が小さくなる。すなわち傷の傾きによる影響
を受けにくくなる。」旨記載されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法では、傾いた欠陥を検出するためには特定の角度に超
音波探触子を傾ける調整機構が必要となるので、実際に
様々な角度に傾いた欠陥を検出するには装置が複雑にな
り、操作も面倒で時間がかかり、コスト高ともなる。ま
た、振動子直径を小さくすれば超音波の指向角を拡大す
ることになるが、反面、反射波のエネルギーが小さくな
るため、ＳＮ比が小さくなり、欠陥を見落とす可能性が
大となる。
法では、傾いた欠陥を検出するためには特定の角度に超
音波探触子を傾ける調整機構が必要となるので、実際に
様々な角度に傾いた欠陥を検出するには装置が複雑にな
り、操作も面倒で時間がかかり、コスト高ともなる。ま
た、振動子直径を小さくすれば超音波の指向角を拡大す
ることになるが、反面、反射波のエネルギーが小さくな
るため、ＳＮ比が小さくなり、欠陥を見落とす可能性が
大となる。
【０００５】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、様々な角度に傾いた欠陥を、簡
単かつ安価な構成で、しかもＳＮ比を低下させることな
く確実に検出できる超音波探触子を提供することを目的
としている。
ためになされたもので、様々な角度に傾いた欠陥を、簡
単かつ安価な構成で、しかもＳＮ比を低下させることな
く確実に検出できる超音波探触子を提供することを目的
としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る超音波探触
子は、楔と、この楔に取り付けられた振動子とからなる
超音波探触子において、平板からなる前記振動子の幅ま
たは該振動子の前記楔への取付幅が下記の式（１）を満
たすことを特徴とするものである。 ｄ＜０．４４λ／ｓｉｎ（５π／１８０） …（１） ここに、ｄは振動子幅または振動子取付幅、λは被検体
中の超音波の波長である。
子は、楔と、この楔に取り付けられた振動子とからなる
超音波探触子において、平板からなる前記振動子の幅ま
たは該振動子の前記楔への取付幅が下記の式（１）を満
たすことを特徴とするものである。 ｄ＜０．４４λ／ｓｉｎ（５π／１８０） …（１） ここに、ｄは振動子幅または振動子取付幅、λは被検体
中の超音波の波長である。
【０００７】前記楔は前記振動子を取り付けるための山
形状の取付部を有し、その取付部の頂部が幅ｄを持つ振
動子取付平面になっていることを特徴とする。
形状の取付部を有し、その取付部の頂部が幅ｄを持つ振
動子取付平面になっていることを特徴とする。
【０００８】また、本発明の他の態様によると、前記楔
が凹面の振動子取付面を有し、この取付面に取り付けら
れる前記振動子が下記の近似式を満たす凸状曲面板に形
成されていることを特徴とする超音波探触子である。
が凹面の振動子取付面を有し、この取付面に取り付けら
れる前記振動子が下記の近似式を満たす凸状曲面板に形
成されていることを特徴とする超音波探触子である。
【数２】
【０００９】さらに、本発明の他の態様によると、前記
楔がその底面に対し逆円錐状の振動子取付面を有し、こ
の取付面に取り付けられる前記振動子が中空皿型板に形
成されていることを特徴とする超音波探触子である。
楔がその底面に対し逆円錐状の振動子取付面を有し、こ
の取付面に取り付けられる前記振動子が中空皿型板に形
成されていることを特徴とする超音波探触子である。
【００１０】
【作用】超音波探触子の幅または楔との取付幅が式
（１）を満たすものであれば、超音波の指向角が５°以
上となり、広い広がり角度でもって被検体中を超音波が
進むので、傾き角度の大きい欠陥でも確実に検出するこ
とができる。また、振動子の面積が大きいので、反射波
のエネルギーを高く保つことができ、ＳＮ比が低下しな
い。
（１）を満たすものであれば、超音波の指向角が５°以
上となり、広い広がり角度でもって被検体中を超音波が
進むので、傾き角度の大きい欠陥でも確実に検出するこ
とができる。また、振動子の面積が大きいので、反射波
のエネルギーを高く保つことができ、ＳＮ比が低下しな
い。
【００１１】また、式（２）を満たす凸状曲面板の振動
子を有する超音波探触子を使用した場合には、超音波が
山形状になって被検体中を進むので、傾いた欠陥に対す
る検出能がさらに向上する。
子を有する超音波探触子を使用した場合には、超音波が
山形状になって被検体中を進むので、傾いた欠陥に対す
る検出能がさらに向上する。
【００１２】また、中空皿型板の振動子を有する超音波
探触子では、超音波が円錐状になって被検体中を進むの
で、同様に、傾いた欠陥に対する検出能が向上する。
探触子では、超音波が円錐状になって被検体中を進むの
で、同様に、傾いた欠陥に対する検出能が向上する。
【００１３】
（第１実施例）図１は本発明の第１実施例に係る超音波
探触子の斜視図である。本実施例の超音波探触子１は、
アクリル樹脂等からなる楔２の底面３に対し傾斜した斜
面４に、幅ｄの細長い平板からなる振動子５をその長辺
が斜面４の傾斜方向に平行になるように接着剤で固定し
たものである。本実施例では斜面４が振動子取付面とな
っている。振動子５には、例えば圧電振動子を使用して
いる。振動子５の幅ｄは、式（１）を満たすように定め
る。この式を満たす振動子幅ｄであれば、図２に示すよ
うに超音波の指向角θが５°以上となるので、広い指向
角を得ることができる。本実施例では、ｄ＝２mmとした
ので、指向角θは８°である。振動子５の長さｘは６mm
である。また、屈折角は４０°としたので、楔２の角度
αは３２．９°である。このように振動子５は細長い平
板からなるものであるため、反射波のエネルギーを高く
保つことができ、ＳＮ比の低下が少ない。
探触子の斜視図である。本実施例の超音波探触子１は、
アクリル樹脂等からなる楔２の底面３に対し傾斜した斜
面４に、幅ｄの細長い平板からなる振動子５をその長辺
が斜面４の傾斜方向に平行になるように接着剤で固定し
たものである。本実施例では斜面４が振動子取付面とな
っている。振動子５には、例えば圧電振動子を使用して
いる。振動子５の幅ｄは、式（１）を満たすように定め
る。この式を満たす振動子幅ｄであれば、図２に示すよ
うに超音波の指向角θが５°以上となるので、広い指向
角を得ることができる。本実施例では、ｄ＝２mmとした
ので、指向角θは８°である。振動子５の長さｘは６mm
である。また、屈折角は４０°としたので、楔２の角度
αは３２．９°である。このように振動子５は細長い平
板からなるものであるため、反射波のエネルギーを高く
保つことができ、ＳＮ比の低下が少ない。
【００１４】図２はこの超音波探触子１を用いて鋼管や
ロール等の管状被検体の欠陥を探傷する方法を示す説明
図である。図中、６は超音波の指向角θを示す線、７は
パルス送信部、８は受信部、９は評価部、１０は被検
体、２０は欠陥である。超音波探触子１は、楔２を被検
体１０に接触させるか、もしくは被検体１０との間に水
を介在させて設置する。被検体１０は回転しながら移動
している。そして、パルス送信部７より、例えば正弦波
の電気信号を振動子５へ送出する。超音波探触子１は正
弦波の電気信号を超音波へ変換し、楔２を介して被検体
１０へ送出する。超音波ビームは図中６のような広がり
を持って被検体中を進む。このため、欠陥２０のように
傾いた欠陥に対しても直角に入射し、入射方向に反射す
る。反射波は再び超音波探触子１に戻り、電気信号に変
換され、受信部８にて増幅され、評価部９にて欠陥の有
無や大きさなどが評価される。
ロール等の管状被検体の欠陥を探傷する方法を示す説明
図である。図中、６は超音波の指向角θを示す線、７は
パルス送信部、８は受信部、９は評価部、１０は被検
体、２０は欠陥である。超音波探触子１は、楔２を被検
体１０に接触させるか、もしくは被検体１０との間に水
を介在させて設置する。被検体１０は回転しながら移動
している。そして、パルス送信部７より、例えば正弦波
の電気信号を振動子５へ送出する。超音波探触子１は正
弦波の電気信号を超音波へ変換し、楔２を介して被検体
１０へ送出する。超音波ビームは図中６のような広がり
を持って被検体中を進む。このため、欠陥２０のように
傾いた欠陥に対しても直角に入射し、入射方向に反射す
る。反射波は再び超音波探触子１に戻り、電気信号に変
換され、受信部８にて増幅され、評価部９にて欠陥の有
無や大きさなどが評価される。
【００１５】図３は図２の方法による実験結果を示す図
である。ここでは、被検体に外径２１３mm、肉厚１３mm
の鋼管を用い、外面に様々な傾き角度の１０mm長のノッ
チ傷を加工して、それらを探傷した。超音波の周波数は
５ＭＨｚとし、屈折角４０°の横波斜角探傷を行った。
横軸はノッチ傷の傾き角度を表わし、縦軸はエコー高さ
を傾き角度０°のときを基準として表わしている。図
中、ａは従来広く用いられているｄ＝１２．５mmの超音
波探触子での結果であり、ｂは本発明の超音波探触子１
を用いた結果である。欠陥検出の判定基準は図中−６ｄ
Ｂとした。図３から、従来の超音波探触子では２°以下
の傾きの傷しか検出できないのに対し、本発明の超音波
探触子１を用いれば、８°の傾きの傷まで検出できるこ
とが分かる。
である。ここでは、被検体に外径２１３mm、肉厚１３mm
の鋼管を用い、外面に様々な傾き角度の１０mm長のノッ
チ傷を加工して、それらを探傷した。超音波の周波数は
５ＭＨｚとし、屈折角４０°の横波斜角探傷を行った。
横軸はノッチ傷の傾き角度を表わし、縦軸はエコー高さ
を傾き角度０°のときを基準として表わしている。図
中、ａは従来広く用いられているｄ＝１２．５mmの超音
波探触子での結果であり、ｂは本発明の超音波探触子１
を用いた結果である。欠陥検出の判定基準は図中−６ｄ
Ｂとした。図３から、従来の超音波探触子では２°以下
の傾きの傷しか検出できないのに対し、本発明の超音波
探触子１を用いれば、８°の傾きの傷まで検出できるこ
とが分かる。
【００１６】図４は超音波探触子の他の配置方法を示す
図である。この例では９０°ごとに４個の超音波探触子
１を配置している。各々の超音波探触子１には、図示は
省略するが図２で示した回路部が接続されている。この
ような、超音波探触子１の配置構成とすると、様々に傾
いた欠陥を４個の超音波探触子１で確実に検出すること
ができる。
図である。この例では９０°ごとに４個の超音波探触子
１を配置している。各々の超音波探触子１には、図示は
省略するが図２で示した回路部が接続されている。この
ような、超音波探触子１の配置構成とすると、様々に傾
いた欠陥を４個の超音波探触子１で確実に検出すること
ができる。
【００１７】（第２実施例）図５は本発明の第２実施例
を示す斜視図、図６は側面図、図７は図６の矢印Ａの方
向から見た図である。本実施例の超音波探触子１１は、
楔２１の振動子取付部２４を山形状に形成し、その頂部
の幅をｄとする細長い傾斜した平面４１に形成し、この
傾斜平面４１にやや幅広い平板の振動子５１を接着剤で
取り付けたものである。つまり、振動子５１は楔２１と
幅ｄ長さｘの細い面で接しており、その取付幅ｄが式
（１）を満たすようにする。本実施例では、取付幅ｄを
１mmとし、振動子５１の大きさはｘ＝６mm、ｙ＝１２mm
のものを用いている。ここで、ｘは小さすぎると反射波
のエネルギーが小さくなり、大きすぎると縦方向のビー
ム幅が太くなって分解能が悪くなるため、周波数５ＭＨ
ｚの場合は５〜１０mmが適当である。振動子５１の幅ｙ
はｄより大きければよい。本実施例の超音波探触子１１
によっても、指向角は振動子取付幅ｄで決まるため、図
３と同じ結果が得られる。この超音波探触子１１も図４
に示した配置構成とすることができる。
を示す斜視図、図６は側面図、図７は図６の矢印Ａの方
向から見た図である。本実施例の超音波探触子１１は、
楔２１の振動子取付部２４を山形状に形成し、その頂部
の幅をｄとする細長い傾斜した平面４１に形成し、この
傾斜平面４１にやや幅広い平板の振動子５１を接着剤で
取り付けたものである。つまり、振動子５１は楔２１と
幅ｄ長さｘの細い面で接しており、その取付幅ｄが式
（１）を満たすようにする。本実施例では、取付幅ｄを
１mmとし、振動子５１の大きさはｘ＝６mm、ｙ＝１２mm
のものを用いている。ここで、ｘは小さすぎると反射波
のエネルギーが小さくなり、大きすぎると縦方向のビー
ム幅が太くなって分解能が悪くなるため、周波数５ＭＨ
ｚの場合は５〜１０mmが適当である。振動子５１の幅ｙ
はｄより大きければよい。本実施例の超音波探触子１１
によっても、指向角は振動子取付幅ｄで決まるため、図
３と同じ結果が得られる。この超音波探触子１１も図４
に示した配置構成とすることができる。
【００１８】なお、山形状の振動子取付部２４は、図５
のように楔２１と一体に形成してもよく、この取付部２
４のみを別体に形成し、図１の斜面４上にネジ等で固定
する方法でもよい。
のように楔２１と一体に形成してもよく、この取付部２
４のみを別体に形成し、図１の斜面４上にネジ等で固定
する方法でもよい。
【００１９】（第３実施例）図８は本発明の第３実施例
を示す斜視図、図９は断面側面図、図１０は図９の矢印
Ｂの方向から見た図である。本実施例の超音波探触子１
２は、楔２２の振動子取付面４２を凹面に形成し、この
凹面に曲率半径ｒの凸状曲面板の振動子５２を取り付け
たものである。この場合、近似的には、凸状振動子５２
の曲面中心角の半分が指向角θと考えられるので、振動
子５２の弦の長さｙ及び振動子４２の曲面の曲率半径ｒ
は式（２）を満たすように定める。したがって、超音波
は山形状に広がって被検体中を進む。振動子５２の長さ
ｘは上に述べた理由で５〜１０mmが適当である。振動子
５２の弦の長さｙは、あまり小さいと曲率の効果がなく
なるので５mm以上が適当であり、大きい方には制限はな
いが、一般的には１２mm程度にされる。
を示す斜視図、図９は断面側面図、図１０は図９の矢印
Ｂの方向から見た図である。本実施例の超音波探触子１
２は、楔２２の振動子取付面４２を凹面に形成し、この
凹面に曲率半径ｒの凸状曲面板の振動子５２を取り付け
たものである。この場合、近似的には、凸状振動子５２
の曲面中心角の半分が指向角θと考えられるので、振動
子５２の弦の長さｙ及び振動子４２の曲面の曲率半径ｒ
は式（２）を満たすように定める。したがって、超音波
は山形状に広がって被検体中を進む。振動子５２の長さ
ｘは上に述べた理由で５〜１０mmが適当である。振動子
５２の弦の長さｙは、あまり小さいと曲率の効果がなく
なるので５mm以上が適当であり、大きい方には制限はな
いが、一般的には１２mm程度にされる。
【００２０】本実施例の場合の検出能は、指向角θが振
動子５２の曲率半径ｒで決まるため、図１１のようにな
る。図１１は図３に対応する実験結果であり、ｙ＝１
０．０mmとしたときの結果である。図１１から、ｒ＝５
０mm以下であれば、相当大きい傾き角度の傷まで検出で
きることが分かる。
動子５２の曲率半径ｒで決まるため、図１１のようにな
る。図１１は図３に対応する実験結果であり、ｙ＝１
０．０mmとしたときの結果である。図１１から、ｒ＝５
０mm以下であれば、相当大きい傾き角度の傷まで検出で
きることが分かる。
【００２１】（第４実施例）図１２は本発明の第４実施
例を示す断面正面図、図１３は平面図である。本実施例
の超音波探触子１３は、楔２３の振動子取付面４３を底
面３に対し逆円錐状に形成し、この逆円錐面に中空皿型
板の振動子５３を取り付けたものである。本実施例で
は、屈折角は振動子取付面４３の傾斜角θで決まり、超
音波は円錐状の広がりを持って被検体中を進むことにな
る。したがって、１個の超音波探触子１３で様々に傾い
た欠陥を確実に検出することができる。
例を示す断面正面図、図１３は平面図である。本実施例
の超音波探触子１３は、楔２３の振動子取付面４３を底
面３に対し逆円錐状に形成し、この逆円錐面に中空皿型
板の振動子５３を取り付けたものである。本実施例で
は、屈折角は振動子取付面４３の傾斜角θで決まり、超
音波は円錐状の広がりを持って被検体中を進むことにな
る。したがって、１個の超音波探触子１３で様々に傾い
た欠陥を確実に検出することができる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように本発明の超音波探触子は、
超音波の指向角を５°以上にすることができるので、様
々に傾いた欠陥を確実に検出することができる。しか
も、探傷に際して超音波探触子を傾ける必要はなく、固
定状態で使用することができ、かつ、ＳＮ比を低下させ
ないので、検出能が高いものである。また、超音波探触
子の使用個数が少なくてすむため、構成が簡単で安価に
できる。
超音波の指向角を５°以上にすることができるので、様
々に傾いた欠陥を確実に検出することができる。しか
も、探傷に際して超音波探触子を傾ける必要はなく、固
定状態で使用することができ、かつ、ＳＮ比を低下させ
ないので、検出能が高いものである。また、超音波探触
子の使用個数が少なくてすむため、構成が簡単で安価に
できる。
【００２３】凸状曲面板からなる振動子を有する超音波
探触子または中空皿型板からなる振動子を有する超音波
探触子では、さらに検出能を高めることができる。
探触子または中空皿型板からなる振動子を有する超音波
探触子では、さらに検出能を高めることができる。
【図１】本発明の第１実施例を示す超音波探触子の斜視
図である。
図である。
【図２】第１実施例による超音波探傷方法を示す説明図
である。
である。
【図３】第１実施例による実験結果を欠陥の傾き角度と
エコー高さの関係で表わした図である。
エコー高さの関係で表わした図である。
【図４】超音波探触子の他の配置例を示す説明図であ
る。
る。
【図５】本発明の第２実施例を示す超音波探触子の斜視
図である。
図である。
【図６】図６の側面図である。
【図７】図６の矢印Ａの方向から見た図である。
【図８】本発明の第３実施例を示す超音波探触子の斜視
図である。
図である。
【図９】図８の断面側面図である。
【図１０】図９の矢印Ｂの方向から見た図である。
【図１１】第３実施例による実験結果を示す図である。
【図１２】本発明の第４実施例を示す超音波探触子の断
面正面図である。
面正面図である。
【図１３】図１３の平面図である。
【図１４】従来の超音波探傷法を示す説明図である。
１、１１、１２、１３ 超音波探触子 ２、２１、２２、２３ 楔 ２４ 振動子取付部 ４、４１、４２、４３ 振動子取付面 ５、５１、５２、５３ 振動子 １０ 被検体 ２０ 欠陥
Claims (4)
- 【請求項１】 楔と、この楔に取り付けられた振動子と
からなる超音波探触子において、 平板からなる前記振動子の幅または該振動子の前記楔へ
の取付幅が下記の式を満たすことを特徴とする超音波探
触子。 ｄ＜０．４４λ／ｓｉｎ（５π／１８０） ここに、ｄは振動子幅または振動子取付幅、λは被検体
中の超音波の波長である。 - 【請求項２】 前記楔は前記振動子を取り付けるための
山形状の取付部を有し、その取付部の頂部が幅ｄを持つ
振動子取付平面になっていることを特徴とする請求項１
記載の超音波探触子。 - 【請求項３】 楔と、この楔に取り付けられた振動子と
からなる超音波探触子において、 前記楔が凹面の振動子取付面を有し、この取付面に取り
付けられる前記振動子が下記の近似式を満たす凸状曲面
板に形成されていることを特徴とする超音波探触子。 【数１】 - 【請求項４】 楔と、この楔に取り付けられた振動子と
からなる超音波探触子において、 前記楔がその底面に対し逆円錐状の振動子取付面を有
し、この取付面に取り付けられる前記振動子が中空皿型
板に形成されていることを特徴とする超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8505895A JPH08285828A (ja) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8505895A JPH08285828A (ja) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | 超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08285828A true JPH08285828A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=13848045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8505895A Pending JPH08285828A (ja) | 1995-04-11 | 1995-04-11 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08285828A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110261489A (zh) * | 2019-07-01 | 2019-09-20 | 河海大学常州校区 | 线性相控阵超声斜探头辐射偏转声场扩散角的计算方法 |
-
1995
- 1995-04-11 JP JP8505895A patent/JPH08285828A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110261489A (zh) * | 2019-07-01 | 2019-09-20 | 河海大学常州校区 | 线性相控阵超声斜探头辐射偏转声场扩散角的计算方法 |
| CN110261489B (zh) * | 2019-07-01 | 2021-10-08 | 河海大学常州校区 | 线性相控阵超声斜探头辐射偏转声场扩散角的计算方法 |
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