JPH08233939A - 光波測距装置 - Google Patents
光波測距装置Info
- Publication number
- JPH08233939A JPH08233939A JP7036679A JP3667995A JPH08233939A JP H08233939 A JPH08233939 A JP H08233939A JP 7036679 A JP7036679 A JP 7036679A JP 3667995 A JP3667995 A JP 3667995A JP H08233939 A JPH08233939 A JP H08233939A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- timing
- measured
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定距離の大きさにまったく関係なく常に正
しい光量レベルを検出し、適性な受光量調節を行って効
率的にかつ高精度な測定を行うことができる光波測距装
置を提供すること 【構成】 受光手段が受光レベルの平均値によって受光
量を調節する受光量調節手段を有し、上記受光手段がさ
らに受光ピーク値を保持する時間を受光タイミングから
起算し、演算部が一定範囲の受光レベルの受信パルスの
みを選択して距離演算を行うことを特徴とする光波測距
装置。
しい光量レベルを検出し、適性な受光量調節を行って効
率的にかつ高精度な測定を行うことができる光波測距装
置を提供すること 【構成】 受光手段が受光レベルの平均値によって受光
量を調節する受光量調節手段を有し、上記受光手段がさ
らに受光ピーク値を保持する時間を受光タイミングから
起算し、演算部が一定範囲の受光レベルの受信パルスの
みを選択して距離演算を行うことを特徴とする光波測距
装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パルス的に発光する光
源部と、該光源部からの光を測定対象物に対して送り出
すための光学手段と、上記測定対象物からの反射項を受
光し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、上記光源部の発光タイミングと上記受光手段の受光
タイミングの時間差から上記測定対象物までの距離を演
算するための演算部と有する光波測距装置に関する。
源部と、該光源部からの光を測定対象物に対して送り出
すための光学手段と、上記測定対象物からの反射項を受
光し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、上記光源部の発光タイミングと上記受光手段の受光
タイミングの時間差から上記測定対象物までの距離を演
算するための演算部と有する光波測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光波測距装置、すなわちパルス的
に発光する光源部と、該光源部からの光を測定対象物に
対して送り出すための光学手段と、上記測定対象物から
の反射光を受光し、電気信号の受信パルスに変換するた
めの受光手段と、上記光源部の発光タイミングと上記受
光手段の受光タイミングの時間差から上記測定対象物ま
での距離を演算するための演算部と有する光波測距装置
においては、測定対象物からの反射光と本体内部の光路
光を測定し、装置のもつ誤差をキャンセルし、測定精度
を上げている。また、受光光量の違いによる受光素子の
特性が測定精度に影響しないように反射光と光路光を一
定に保つ光量調整装置が設けられている。一方、光源部
はパルス光を周期的に発光し、例えばその周期は１００
マイクロ秒、パルス巾は２０ナノ秒であり、各毎にパル
ス光の光量レベルを検出することは不可能である。その
ため、受光量調節を行うための一定時間内のパルス光の
受光レベル値の平均値を用いている。受光からリセット
までの時間と受光ピーク値により得られる積分値につい
て、一定時間内の積分値を演算し平均化している。受光
ピーク値保持のリセットは、発光タイミングから起算し
た時間によって定められている。
に発光する光源部と、該光源部からの光を測定対象物に
対して送り出すための光学手段と、上記測定対象物から
の反射光を受光し、電気信号の受信パルスに変換するた
めの受光手段と、上記光源部の発光タイミングと上記受
光手段の受光タイミングの時間差から上記測定対象物ま
での距離を演算するための演算部と有する光波測距装置
においては、測定対象物からの反射光と本体内部の光路
光を測定し、装置のもつ誤差をキャンセルし、測定精度
を上げている。また、受光光量の違いによる受光素子の
特性が測定精度に影響しないように反射光と光路光を一
定に保つ光量調整装置が設けられている。一方、光源部
はパルス光を周期的に発光し、例えばその周期は１００
マイクロ秒、パルス巾は２０ナノ秒であり、各毎にパル
ス光の光量レベルを検出することは不可能である。その
ため、受光量調節を行うための一定時間内のパルス光の
受光レベル値の平均値を用いている。受光からリセット
までの時間と受光ピーク値により得られる積分値につい
て、一定時間内の積分値を演算し平均化している。受光
ピーク値保持のリセットは、発光タイミングから起算し
た時間によって定められている。
【０００３】
【発明が解決しようとする問題点】上述した従来技術の
光波測距装置においては、受光ピーク値保持のリセット
信号の発生を、発光タイミングから起算した時間によっ
て定めているため、測距距離が異なると、受光ピーク値
を保持している時間すなわち受光からリセットまでの時
間が測量距離により異なり、測定距離が遠い場合は短
く、近い場合は長く、それに応じて積分値も異なること
になる。本来は受光量に応じたピーク値の積値を用い、
所定時間内の積分値の平均値を求め光量調整するのであ
るが、平均値が測定距離の影響を受け、例えば、測定距
離が遠い場合は平均値が低く設定され、入力する光量を
適正な光量レベルに調整できなくなる。その結果測定誤
差が大きくなったり、測距効率を低下させたり、場合に
よっては測定を停止してしまうという問題があった。
光波測距装置においては、受光ピーク値保持のリセット
信号の発生を、発光タイミングから起算した時間によっ
て定めているため、測距距離が異なると、受光ピーク値
を保持している時間すなわち受光からリセットまでの時
間が測量距離により異なり、測定距離が遠い場合は短
く、近い場合は長く、それに応じて積分値も異なること
になる。本来は受光量に応じたピーク値の積値を用い、
所定時間内の積分値の平均値を求め光量調整するのであ
るが、平均値が測定距離の影響を受け、例えば、測定距
離が遠い場合は平均値が低く設定され、入力する光量を
適正な光量レベルに調整できなくなる。その結果測定誤
差が大きくなったり、測距効率を低下させたり、場合に
よっては測定を停止してしまうという問題があった。
【０００４】
【発明の目的】本発明は、上述した従来技術の光波測距
装置の問題点に鑑みてなされたものであって、測定距離
の大きさにまったく関係なく常に正しい光量レベルを検
出し、適性な受光量調節を行って効率的にかつ高精度な
測定を行うことができる光波測距装置を提供することを
目的とする。
装置の問題点に鑑みてなされたものであって、測定距離
の大きさにまったく関係なく常に正しい光量レベルを検
出し、適性な受光量調節を行って効率的にかつ高精度な
測定を行うことができる光波測距装置を提供することを
目的とする。
【０００５】
【発明の構成】本発明は、パルス的に発光する光源部
と、該光源部からの光を測定対象物に対して送り出すた
めの光学手段と、上記測定対象物からの反射光を受光
し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、上記光源部の発光タイミングと上記受光手段の受光
タイミングの時間差から上記測定対象物までの距離を演
算するための演算部と有し、上記受光手段が受光レベル
の平均値によって受光量を調節する受光量調節手段を有
し、上記受光手段がさらに受光ピーク値を保持する時間
を受光タイミングから起算して定め、上記演算部が一定
範囲の受光レベルの受信パルスのみを選択して距離演算
を行うことを特徴とする光波測距装置である。本発明は
また、パルス的に発光する光源部と、該光源部からの光
を測定対象物に対して送り出すための光学手段と、上記
測定対象物からの反射光を受光し、電気信号の受信パル
スに変換するための受光手段と、上記光源部の発光タイ
ミングと上記受光手段の受光タイミングの時間差から上
記測定対象物までの距離を演算するための演算部と有
し、上記受光手段が、受光タイミングによって起算した
一定時間後に受光信号ピーク値を保持するためのコンデ
ンサのリセット信号を発生する１ショットマルチバイブ
レータを有することを特徴とする光波測距装置である。
と、該光源部からの光を測定対象物に対して送り出すた
めの光学手段と、上記測定対象物からの反射光を受光
し、電気信号の受信パルスに変換するための受光手段
と、上記光源部の発光タイミングと上記受光手段の受光
タイミングの時間差から上記測定対象物までの距離を演
算するための演算部と有し、上記受光手段が受光レベル
の平均値によって受光量を調節する受光量調節手段を有
し、上記受光手段がさらに受光ピーク値を保持する時間
を受光タイミングから起算して定め、上記演算部が一定
範囲の受光レベルの受信パルスのみを選択して距離演算
を行うことを特徴とする光波測距装置である。本発明は
また、パルス的に発光する光源部と、該光源部からの光
を測定対象物に対して送り出すための光学手段と、上記
測定対象物からの反射光を受光し、電気信号の受信パル
スに変換するための受光手段と、上記光源部の発光タイ
ミングと上記受光手段の受光タイミングの時間差から上
記測定対象物までの距離を演算するための演算部と有
し、上記受光手段が、受光タイミングによって起算した
一定時間後に受光信号ピーク値を保持するためのコンデ
ンサのリセット信号を発生する１ショットマルチバイブ
レータを有することを特徴とする光波測距装置である。
【０００６】
【作用】受光手段が、１ショットマルチバイブレータに
よって受光タイミングに基づいて起算した一定時間後に
受光信号ピーク値を保持するためのコンデンサのリセッ
ト信号を発生することにより、受光ピーク値の平均値を
正確に演算することができ、この正確なピーク値の平均
値により適性な受光量調節を行うことができる。
よって受光タイミングに基づいて起算した一定時間後に
受光信号ピーク値を保持するためのコンデンサのリセッ
ト信号を発生することにより、受光ピーク値の平均値を
正確に演算することができ、この正確なピーク値の平均
値により適性な受光量調節を行うことができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例の光波測距装置を図に
基づいて説明する。光波測距装置の測距光学系は、図３
に示すように、レーザー光源１００から放射されたパル
スレーザー光束又は変調レーザー光束を、回転遮光デス
ク１０２、直角プリズム１０４、対物レンズ１０６を介
して測距対象物１０８又はそこに置かれた反射鏡１１０
に向けて投射する。パルスレーザー光束を使用するとき
は、反射物体が、測距対象物１０８であっても反射鏡で
あってもよい変調レーザー光束では測路対象物そのもの
であってもよいが、なるべくなら反射鏡の使用が望まし
い。測距対象物１０８又は反射鏡１１０によって反射さ
れた測距レーザー光束は、直角プリズム１０４及び対物
レンズ１０６、光量減衰フイルター１１２を介して受光
素子１２０に達する。受光素子１２０に入射する測距レ
ーザー光束は、光量減衰フイルター１１２によって光量
調節される。参照光光学系は、レーザー光源１００と回
転遮光デスク１０２との間に配置されたハーフミラー１
３０によって分割された参照レーザー光束を、ミラー１
３２、回転遮光デスク１０２、一対のリレーレンズ１３
４、１３６、ミラー１３８、そして光量減衰フイルター
１１２と受光素子１２０との間に配置されたハーフミラ
ー１４０を介して受光素子１２０に入射させる。レーザ
ー光源１００から放射されたレーザー光束は、回転遮光
デスク１０２の回転によって測距レーザー光束と参照レ
ーザー光束として交互に射出される。
基づいて説明する。光波測距装置の測距光学系は、図３
に示すように、レーザー光源１００から放射されたパル
スレーザー光束又は変調レーザー光束を、回転遮光デス
ク１０２、直角プリズム１０４、対物レンズ１０６を介
して測距対象物１０８又はそこに置かれた反射鏡１１０
に向けて投射する。パルスレーザー光束を使用するとき
は、反射物体が、測距対象物１０８であっても反射鏡で
あってもよい変調レーザー光束では測路対象物そのもの
であってもよいが、なるべくなら反射鏡の使用が望まし
い。測距対象物１０８又は反射鏡１１０によって反射さ
れた測距レーザー光束は、直角プリズム１０４及び対物
レンズ１０６、光量減衰フイルター１１２を介して受光
素子１２０に達する。受光素子１２０に入射する測距レ
ーザー光束は、光量減衰フイルター１１２によって光量
調節される。参照光光学系は、レーザー光源１００と回
転遮光デスク１０２との間に配置されたハーフミラー１
３０によって分割された参照レーザー光束を、ミラー１
３２、回転遮光デスク１０２、一対のリレーレンズ１３
４、１３６、ミラー１３８、そして光量減衰フイルター
１１２と受光素子１２０との間に配置されたハーフミラ
ー１４０を介して受光素子１２０に入射させる。レーザ
ー光源１００から放射されたレーザー光束は、回転遮光
デスク１０２の回転によって測距レーザー光束と参照レ
ーザー光束として交互に射出される。
【０００８】光量減衰フイルター１１２の制御は、図４
に示すように、受光素子１２０と光検出部１５０とから
なる受光部１５４によって測距レーザー光束の光量すな
わち測距レーザー光量を検出してＣＰＵ１５６へ出力す
る。ＣＰＵ１５６は測距レーザー光量に基づいて駆動回
路部１５８の制御信号を演算して、参照レーザー光束の
光量制御信号を駆動回路部１５８に出力する。駆動回路
部１５８は、入力された光量制御信号に基づいて光量減
衰フイルター１１２の駆動モータ１６４を駆動制御す
る。光波測距装置のピークレベル検出回路は、図１に示
すように、入力信号が、発光タイミングでＯＮする第１
電子スイッチ１０を介してコンデンサ４４にチャージさ
れて、受光ピーク値として保持される。第１電子スイッ
チ１０は、発光タイミングでＯＮし、受光タイミングに
よってＯＦＦするように構成される。第１電子スイッチ
１０を受光タイミングによってＯＦＦさせることは、受
光タイミング以降に雑音信号がコンデンサ４４に入力し
て、図２に右下がり斜線で示す雑音成分２００を含む誤
ったピーク値信号がチャージされることを防止するため
である。
に示すように、受光素子１２０と光検出部１５０とから
なる受光部１５４によって測距レーザー光束の光量すな
わち測距レーザー光量を検出してＣＰＵ１５６へ出力す
る。ＣＰＵ１５６は測距レーザー光量に基づいて駆動回
路部１５８の制御信号を演算して、参照レーザー光束の
光量制御信号を駆動回路部１５８に出力する。駆動回路
部１５８は、入力された光量制御信号に基づいて光量減
衰フイルター１１２の駆動モータ１６４を駆動制御す
る。光波測距装置のピークレベル検出回路は、図１に示
すように、入力信号が、発光タイミングでＯＮする第１
電子スイッチ１０を介してコンデンサ４４にチャージさ
れて、受光ピーク値として保持される。第１電子スイッ
チ１０は、発光タイミングでＯＮし、受光タイミングに
よってＯＦＦするように構成される。第１電子スイッチ
１０を受光タイミングによってＯＦＦさせることは、受
光タイミング以降に雑音信号がコンデンサ４４に入力し
て、図２に右下がり斜線で示す雑音成分２００を含む誤
ったピーク値信号がチャージされることを防止するため
である。
【０００９】入力信号はまた、１ショットマルチバイブ
レータ１４に入力し、１ショットマルチバイブレータ１
４はＳＷ１０スイッチによる入力受光信号の制御及びＳ
Ｗ１６スイッチによるコンデンサのリセット信号の制御
をする。上記リセット信号は、コンデンサ４４の放電に
時間を要することに鑑み、コンデンサ４４を一定時間放
電状態にするための放電開始信号である。放電終了信号
であるリセット解除信号は発光の所定前に発生するため
の発光と同様にＣＰＵで制御されている。１ショットマ
ルチバイブレータ１４は、受光タイミングから一定時間
経過後にリセット信号を第２電子スイッチ１６に出力
し、さらに発光タイミングから一定時間経過後にリセッ
ト解除信号を第２電子スイッチ１６に出力する。すなわ
ち、リセット解除信号は、図２に示すように、受光ピー
ク保持回路のセットアップ時間に必要な時間だけ発光タ
イミンングから早い方向にずらした時点で発生される。
リセット解除信号をこのように発光タイミングの直前に
発生させることによって、リセット解除信号が発生され
てから受光タイミングまでにコンデンサ４４に入力され
る雑音信号すなわち図２に左下がり斜線で示すバイアス
成分２０２の入力を極力小さくする。
レータ１４に入力し、１ショットマルチバイブレータ１
４はＳＷ１０スイッチによる入力受光信号の制御及びＳ
Ｗ１６スイッチによるコンデンサのリセット信号の制御
をする。上記リセット信号は、コンデンサ４４の放電に
時間を要することに鑑み、コンデンサ４４を一定時間放
電状態にするための放電開始信号である。放電終了信号
であるリセット解除信号は発光の所定前に発生するため
の発光と同様にＣＰＵで制御されている。１ショットマ
ルチバイブレータ１４は、受光タイミングから一定時間
経過後にリセット信号を第２電子スイッチ１６に出力
し、さらに発光タイミングから一定時間経過後にリセッ
ト解除信号を第２電子スイッチ１６に出力する。すなわ
ち、リセット解除信号は、図２に示すように、受光ピー
ク保持回路のセットアップ時間に必要な時間だけ発光タ
イミンングから早い方向にずらした時点で発生される。
リセット解除信号をこのように発光タイミングの直前に
発生させることによって、リセット解除信号が発生され
てから受光タイミングまでにコンデンサ４４に入力され
る雑音信号すなわち図２に左下がり斜線で示すバイアス
成分２０２の入力を極力小さくする。
【００１０】電源２４に接続された第１抵抗２６及び接
地された第２抵抗２７は、第１コンデンサ１２の一方の
側を一定の電位に維持する。電源２４に接続された第３
抵抗３０はトランジスタ３２を駆動させる。トランジス
タ３２に接続されたコイル４０は、入力信号のＤＣ成分
すなわちバイアス成分を除去する。ダイオード４２及び
第２コンデンサ４４は、入力信号を検波する。バッファ
アンプ４６はダイオード４２及び第２コンデンサ４４か
ら出力されたピーク値信号のドループを防止してピーク
値保持を行う。バッファアンプ４６を介して出力された
ピーク値信号は、レベル判定回路５０においてレベルが
判定される。この判定の結果受光量の調整が必要である
と、駆動回路部１５８を介して、光量減衰フイルター１
１２の駆動モータ１６４を駆動させ、受光量調節を行
う。
地された第２抵抗２７は、第１コンデンサ１２の一方の
側を一定の電位に維持する。電源２４に接続された第３
抵抗３０はトランジスタ３２を駆動させる。トランジス
タ３２に接続されたコイル４０は、入力信号のＤＣ成分
すなわちバイアス成分を除去する。ダイオード４２及び
第２コンデンサ４４は、入力信号を検波する。バッファ
アンプ４６はダイオード４２及び第２コンデンサ４４か
ら出力されたピーク値信号のドループを防止してピーク
値保持を行う。バッファアンプ４６を介して出力された
ピーク値信号は、レベル判定回路５０においてレベルが
判定される。この判定の結果受光量の調整が必要である
と、駆動回路部１５８を介して、光量減衰フイルター１
１２の駆動モータ１６４を駆動させ、受光量調節を行
う。
【００１１】
【発明の効果】本発明の光波測距装置によれば、測定距
離の大きさにまったく関係なく常に正しい光量レベルを
検出し、適性な受光量調節を行って効率的にかつ高精度
な測定を行うことができる効果を有する。
離の大きさにまったく関係なく常に正しい光量レベルを
検出し、適性な受光量調節を行って効率的にかつ高精度
な測定を行うことができる効果を有する。
【図１】本発明の実施例の光波測距装置の受光量調節系
の構成説明図である。
の構成説明図である。
【図２】本発明の実施例の光波測距装置の受光量調節系
の作動を説明するためのタイミングチャート図である。
の作動を説明するためのタイミングチャート図である。
【図３】本発明の実施例の光波測距装置の構成説明図で
ある。
ある。
【図４】本発明の実施例の光波測距装置の受光量調節系
のブロック図である。
のブロック図である。
１０ 第１電子スイッチ １２ 第１コンデンサ １４ １ショットマルチバイブレータ １６ 第２電子スイッチ ２４ 電源 ２６ 第１抵抗 ２７ 第２抵抗 ３０ 第３抵抗 ３２ トランジスタ ４０ コイル ４２ ダイオード ４４ 第２コンデンサ ４６ バッファアンプ ５０ レベル判定回路 １０２ 回転遮光デスク １０４ 直角プリズム１０４ １０６ 対物レンズ １０８ 測距対象物 １１０ 反射鏡 １１２ 光量減衰フイルター １２０ 受光素子 １３０ ハーフミラー １５０ 光検出部 １５２ Ａ／Ｄコンバータ １５６ マイクロコンピュータ １６４ 駆動モータ ２００ 雑音成分 ２０２ バイアス成分
フロントページの続き (72)発明者 斎藤 武重 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社ト プコン内
Claims (2)
- 【請求項１】 パルス的に発光する光源部と、該光源部
からの光を測定対象物に対して送り出すための光学手段
と、上記測定対象物からの反射光を受光し、電気信号の
受信パルスに変換するための受光手段と、上記光源部の
発光タイミングと上記受光手段の受光タイミングの時間
差から上記測定対象物までの距離を演算するための演算
部と有し、 上記受光手段が受光レベルの平均値によって受光量を調
節する受光量調節手段を有し、上記受光手段がさらに受
光ピーク値を保持する時間を受光タイミングから起算
し、上記演算部が一定範囲の受光レベルの受信パルスの
みを選択して距離演算を行うことを特徴とする光波測距
装置。 - 【請求項２】 パルス的に発光する光源部と、該光源部
からの光を測定対象物に対して送り出すための光学手段
と、上記測定対象物からの反射光を受光し、電気信号の
受信パルスに変換するための受光手段と、上記光源部の
発光タイミングと上記受光手段の受光タイミングの時間
差から上記測定対象物までの距離を演算するための演算
部と有し、 上記受光手段が、受光タイミングによって起算した一定
時間後に受光信号ピーク値を保持するためのコンデンサ
のリセット信号を発生する１ショットマルチバイブレー
タを有することを特徴とする光波測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3667995A JP3532991B2 (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 光波測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3667995A JP3532991B2 (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 光波測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08233939A true JPH08233939A (ja) | 1996-09-13 |
| JP3532991B2 JP3532991B2 (ja) | 2004-05-31 |
Family
ID=12476548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3667995A Expired - Fee Related JP3532991B2 (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 光波測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3532991B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226971A (ja) * | 1995-02-21 | 1996-09-03 | Topcon Corp | 光波測距装置 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04131786A (ja) * | 1990-09-22 | 1992-05-06 | Topcon Corp | 距離測定装置の光量制御装置及び光量制御方法 |
| JPH05232230A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JPH05297140A (ja) * | 1992-04-15 | 1993-11-12 | Topcon Corp | 光波距離計と、この光波距離計に使用する光量調整装置 |
| JPH06230130A (ja) * | 1993-02-02 | 1994-08-19 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| JPH08226971A (ja) * | 1995-02-21 | 1996-09-03 | Topcon Corp | 光波測距装置 |
| JP2860571B2 (ja) * | 1989-12-20 | 1999-02-24 | 株式会社トプコン | 光検出方法およびそのための装置 |
| JP3141120B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2001-03-05 | 株式会社トプコン | 位相測定装置及び距離測定装置 |
| JP3141119B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2001-03-05 | 株式会社トプコン | パルス信号検出装置及び光波距離計 |
-
1995
- 1995-02-24 JP JP3667995A patent/JP3532991B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2860571B2 (ja) * | 1989-12-20 | 1999-02-24 | 株式会社トプコン | 光検出方法およびそのための装置 |
| JPH04131786A (ja) * | 1990-09-22 | 1992-05-06 | Topcon Corp | 距離測定装置の光量制御装置及び光量制御方法 |
| JPH05232230A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JP3141120B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2001-03-05 | 株式会社トプコン | 位相測定装置及び距離測定装置 |
| JP3141119B2 (ja) * | 1992-02-21 | 2001-03-05 | 株式会社トプコン | パルス信号検出装置及び光波距離計 |
| JPH05297140A (ja) * | 1992-04-15 | 1993-11-12 | Topcon Corp | 光波距離計と、この光波距離計に使用する光量調整装置 |
| JP3256859B2 (ja) * | 1992-04-15 | 2002-02-18 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
| JPH06230130A (ja) * | 1993-02-02 | 1994-08-19 | Sokkia Co Ltd | 光波距離計 |
| JPH08226971A (ja) * | 1995-02-21 | 1996-09-03 | Topcon Corp | 光波測距装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226971A (ja) * | 1995-02-21 | 1996-09-03 | Topcon Corp | 光波測距装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3532991B2 (ja) | 2004-05-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1012621B1 (en) | Distance measuring apparatus using pulse light | |
| US6611318B2 (en) | Adjustable mirror for collimated beam laser sensor | |
| US7589826B2 (en) | Laser scanner | |
| US7095490B2 (en) | Electric distance meter | |
| US6288775B1 (en) | Lightwave distance measuring apparatus and method | |
| US6229598B1 (en) | Electro-optic distance measuring apparatus | |
| JP4761751B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH1123709A (ja) | 距離測定装置 | |
| KR20050013184A (ko) | 거리 측정 장치 및 방법 | |
| EP1054233A2 (en) | Distance measuring system | |
| EP1177458A1 (en) | Laser photoelectric sensor | |
| JP3256859B2 (ja) | 光波距離計 | |
| JP2000206244A (ja) | 測距装置 | |
| JP3532991B2 (ja) | 光波測距装置 | |
| JP3532986B2 (ja) | 光波測距装置 | |
| JPH11352226A (ja) | 高精度測距装置 | |
| JP2853350B2 (ja) | レーザ測距装置 | |
| JPH05264719A (ja) | レーザレーダ装置 | |
| JPH07270535A (ja) | 光電センサ，レーザ測距装置およびレーザ測距装置を搭載した車両 | |
| JP2552325Y2 (ja) | 光波測距装置 | |
| JPH01206212A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2887190B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP2003270346A (ja) | パルス信号生成回路および距離測定装置 | |
| JPH06258436A (ja) | 光波距離計 | |
| KR960033244A (ko) | 2차원 레이저 거리측정장치 및 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031215 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040301 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040305 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080312 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100312 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100312 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110312 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110312 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120312 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120312 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140312 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |