JPH08213418A - Manufacture of semiconductor device and mold used for the manufacture thereof - Google Patents

Manufacture of semiconductor device and mold used for the manufacture thereof

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JPH08213418A
JPH08213418A JP1562295A JP1562295A JPH08213418A JP H08213418 A JPH08213418 A JP H08213418A JP 1562295 A JP1562295 A JP 1562295A JP 1562295 A JP1562295 A JP 1562295A JP H08213418 A JPH08213418 A JP H08213418A
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
mold
board
sealing body
Prior art date
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Pending
Application number
JP1562295A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshio Dobashi
芳男 土橋
Norinaga Arai
徳長 荒井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH08213418A publication Critical patent/JPH08213418A/en
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Abstract

PURPOSE: To provide technology for preventing the warpage of a printed board in the case of manufacturing a semiconductor device in which a sealer made of resin is formed on one surface of the board. CONSTITUTION: A method for manufacturing a semiconductor device in which a sealer 3 made of resin 34 is formed on one surface of a printed board 2 comprises the steps of previously setting a protruding pedestal 35 substantially corresponding to a sealing unit for forming the sealer at the mold surface in direct contact with the board in a mold 25 used at the time of forming the sealer, and forming the sealer in the state that the board is inverted upside down at the time of clamping the mold 25. Even if the board is deformed due to the curing shrinkage of the resin after sealing, the board is molded in the state that the board is previously reversely warped, and hence the board becomes substantially flat due to the warpage by the shrinkage.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はプリント基板の一面にレ
ジンからなる封止体を形成する半導体装置の製造方法、
特にトランスファモールドによって封止体を形成する半
導体装置の製造技術に適用して有効な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device in which a sealing body made of resin is formed on one surface of a printed circuit board.
In particular, the present invention relates to a technique effectively applied to a manufacturing technique of a semiconductor device in which a sealing body is formed by transfer molding.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の封止形態の一つとして、L
CC(leadless-chip carrier)が知られている。このL
CCは、プリント基板にICチップ等を直接組み込むと
ともに、前記チップ上を樹脂からなる封止体で被うCO
B(chip on board)構造となっている。
2. Description of the Related Art As one of the sealing modes for semiconductor devices, L
CC (leadless-chip carrier) is known. This L
The CC is a CO that directly incorporates an IC chip or the like on a printed circuit board and covers the chip with a sealing body made of resin.
It has a B (chip on board) structure.

【0003】プリント基板をベースとしたLCCタイプ
のハイブリッドICについては、日本電気文化センター
発行「NEC技報」Vol.47、No.3 1994 、P31〜P33お
よび日本電気株式会社発行「ユーザーズ・マニュア
ル」、資料番号IEU-765C(第4版)、1992年11月発行、
P2〜P15に記載されている。
Regarding the LCC type hybrid IC based on a printed circuit board, "NEC Technical Report" Vol.47, No.3 1994, P31-P33 issued by NEC Corporation and "User's Manual" issued by NEC Corporation. , Material No. IEU-765C (4th edition), published November 1992,
P2 to P15.

【0004】後者の文献によるLCCでは、封止用の枠
体の内側に樹脂を注入(ポッティング)することで封止
体を形成する構造について記載されている。また、同文
献には、LCCタイプハイブリッドICの反り(コプラ
ナリティに相当)について記載され、反り量は100
(μm)以下程度であることが記載されている。
The LCC according to the latter document describes a structure in which a sealing body is formed by injecting (potting) a resin inside a sealing frame body. Further, the same document describes the warp (corresponding to coplanarity) of the LCC type hybrid IC, and the warp amount is 100.
It is described that it is about (μm) or less.

【0005】また、日経BP社発行「VLSIパッケー
ジング技術(下)」1993年5月15日発行、P174には、C
OBとして、エポキシ基板の主面側にトランスファモー
ルドによってモールド材(封止体)を形成し、裏面にハ
ンダ・バンプを複数整列配置形成した半導体装置(BG
A:ball gried array) が開示されている。
Also, "VLSI Packaging Technology (below)" issued by Nikkei BP, issued May 15, 1993, P174 contains C
As the OB, a semiconductor device (BG) in which a molding material (sealing body) is formed on the main surface side of an epoxy substrate by transfer molding and a plurality of solder bumps are arranged and formed on the back surface thereof (BG
A: ball gried array) is disclosed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本出願人においては、
プリント基板の一面にトランスファモールド法によって
樹脂(レジン)からなる封止体を形成する技術を開発し
ている。この場合、封止体が大型化すると、トランスフ
ァモールド時のレジンの硬化収縮量が大きくなり、プリ
ント基板の反り量が大きくなってしまう。剛性の低いプ
リント基板は反りの発生は大きい。また、LCCの電極
端子はプリント基板の周辺に設けられている。したがっ
て、LCCを配線基板に実装した場合、プリント基板が
反っていると、LCCの電極端子が配線基板のランド
(電極)に半田を介して接続されない状態が発生するこ
とが判明した。
SUMMARY OF THE INVENTION The applicant of the present invention is
We are developing a technology to form a sealing body made of resin (resin) on one surface of a printed circuit board by the transfer molding method. In this case, when the size of the encapsulant is increased, the curing shrinkage amount of the resin at the time of transfer molding becomes large, and the warp amount of the printed circuit board becomes large. A printed circuit board with low rigidity causes a large amount of warpage. Moreover, the electrode terminal of LCC is provided in the periphery of a printed circuit board. Therefore, when the LCC is mounted on the wiring board, if the printed circuit board is warped, the electrode terminals of the LCC are not connected to the lands (electrodes) of the wiring board via solder.

【0007】レジンの硬化収縮率は、レジンの材質によ
っても異なるが、たとえば、2〜3%程度にも及ぶ。し
たがって、半導体装置の大型化は、実装時の電極端子の
接続の信頼性低下を引き起こす確率が高くなる。
The curing shrinkage rate of the resin varies depending on the material of the resin, but is, for example, about 2 to 3%. Therefore, an increase in the size of the semiconductor device increases the probability that the reliability of the connection of the electrode terminals at the time of mounting will be reduced.

【0008】本発明の目的は、プリント基板の一面にレ
ジンからなる封止体が形成されてなる半導体装置の製造
において、封止後にプリント基板の周辺部分が反り返え
ることなく平坦に製造できる半導体装置の製造技術を提
供することにある。
An object of the present invention is to manufacture a semiconductor device in which a sealing body made of a resin is formed on one surface of a printed circuit board. After the sealing, the peripheral portion of the printed circuit board can be manufactured flat without warping. It is to provide a manufacturing technology of a device.

【0009】本発明の他の目的は、プリント基板の一面
にレジンからなる封止体が形成されてなる半導体装置の
製造において、封止後にプリント基板の周辺部分が反り
返えることなく平坦に製造できるモールド金型を提供す
ることにある。
Another object of the present invention is to manufacture a semiconductor device in which a sealing body made of a resin is formed on one surface of a printed board, and the peripheral portion of the printed board is manufactured flat without being warped after sealing. It is to provide a mold that can be molded.

【0010】本発明の前記ならびにそのほかの目的と新
規な特徴は、本明細書の記述および添付図面からあきら
かになるであろう。
The above and other objects and novel characteristics of the present invention will be apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。すなわち、本発明の半導体装置の製
造方法は、プリント基板の一面にレジンからなる封止体
をトランスファモールド法を利用して形成する半導体装
置の製造方法であって、前記封止体形成時に使用される
モールド金型において、前記プリント基板に直接接触す
るモールド金型面に前記封止体を形成する封止部に略対
応する突起台座をあらかじめ設けておき、モールド金型
の型締め時、前記プリント基板を反り返らせた状態で封
止体形成を行う構成となっている。前記突起台座の高さ
は、前記封止体形成後の封止体の硬化収縮によるプリン
ト基板の反りを逆に反り変えさせてプリント基板を平坦
に戻す程度の高さとなっている。また、前記突起台座は
平坦面となるとともに周囲はなだらかな曲線を描いた面
となり、かつ前記突起台座の縁は前記封止体の縁の内側
に位置している。
The outline of the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. That is, the method for manufacturing a semiconductor device of the present invention is a method for manufacturing a semiconductor device in which a sealing body made of a resin is formed on one surface of a printed circuit board by using a transfer molding method, and is used when the sealing body is formed. In the molding die of the present invention, a protrusion pedestal substantially corresponding to the sealing portion forming the sealing body is provided in advance on the surface of the molding die that is in direct contact with the printed circuit board, and when the mold die is clamped, The structure is such that the sealing body is formed while the substrate is warped. The height of the protrusion pedestal is such that the warp of the printed board due to the curing shrinkage of the sealed body after formation of the sealed body is changed to the opposite direction and the printed board is returned to a flat state. In addition, the projection pedestal is a flat surface and the periphery is a surface that draws a gentle curve, and the edge of the projection pedestal is located inside the edge of the sealing body.

【0012】本発明のトランスファモールド用モールド
金型は、下型と上型との間にプリント基板を型締めして
前記プリント基板の一面にレジンからなる封止体を形成
するモールド金型であって、前記プリント基板に直接接
触するモールド金型面に前記封止体を形成する封止部に
対応しかつ前記封止部の縁から所望長さ内側に外周縁が
位置する突起台座が設けられている構造となっている。
The transfer mold of the present invention is a mold for clamping a printed circuit board between a lower mold and an upper mold to form a resin sealing body on one surface of the printed circuit board. A projection pedestal is provided on the mold surface that is in direct contact with the printed circuit board, the projection pedestal corresponding to the sealing portion forming the sealing body and having the outer peripheral edge located within the desired length from the edge of the sealing portion. It has a structure.

【0013】[0013]

【作用】上記した手段によれば、本発明の半導体装置の
製造におけるトランスファモールド方法においては、ト
ランスファモールド時使用されるモールド金型におい
て、プリント基板に直接接触するモールド金型面に前記
封止部に対応しかつ封止部より所望長さ内側に外周縁が
位置する突起台座が設けられていることから、モールド
金型の型締めの際、プリント基板は反り返る状態でトラ
ンスファモールドされるため、トランスファモールド後
のレジンからなる封止体の硬化収縮によってプリント基
板は逆に反り返り平坦化される。
According to the above-mentioned means, in the transfer molding method for manufacturing a semiconductor device of the present invention, in the molding die used at the time of transfer molding, the sealing portion is provided on the surface of the molding die which is in direct contact with the printed board. Since the protruding pedestal, which corresponds to the above and whose outer peripheral edge is located inside the desired length from the sealing portion, is provided, the printed circuit board is transfer-molded in a warped state when the mold is clamped. The printed board, on the contrary, is warped and flattened by the curing shrinkage of the sealing body made of resin after molding.

【0014】本発明のトランスファモールド用モールド
金型は、型締め後トランスファモールド法によってプリ
ント基板の一面に封止体を形成する構造となるととも
に、前記プリント基板に直接接触するモールド金型面に
前記封止体を形成する封止部に対応しかつ前記封止部の
縁から所望長さ内側に外周縁が位置する突起台座が設け
られている構造となっていることから、モールド金型の
型締めの際、プリント基板を反り返えさせる構造となっ
ている。したがって、本発明のモールド金型の使用によ
ってトランスファモールドされて製造された半導体装置
においては、トランスファモールド後、レジンからなる
封止体が硬化収縮してプリント基板が反り返えっても、
前記硬化収縮による反り返りを解消するように逆に反り
返るように型締めされるため、トランスファモールド
後、製品となった状態でのプリント基板は平坦なものと
なる。
The mold for transfer molding according to the present invention has a structure in which a sealing body is formed on one surface of a printed circuit board by a transfer molding method after clamping, and the mold surface directly contacting the printed circuit board has the above structure. Since the protrusion pedestal is provided corresponding to the sealing portion forming the sealing body and having the outer peripheral edge located inside the edge of the sealing portion by a desired length, the mold of the mold is formed. When tightened, it has a structure that allows the printed circuit board to warp. Therefore, in the semiconductor device manufactured by transfer molding by using the molding die of the present invention, after the transfer molding, even if the printed circuit board is warped even if the sealing body made of the resin cures and shrinks,
Since the mold is clamped so as to be warped in the opposite direction so as to eliminate the warping caused by the curing shrinkage, the printed circuit board in a product state after transfer molding becomes flat.

【0015】[0015]

【実施例】以下図面を参照して本発明の半導体装置の製
造方法の一実施例について説明する。図1は本発明の一
実施例による半導体装置(LCC)の製造方法を示す要
部の断面図、図2は同じく部品を搭載したプリント基板
とモールド金型とを示す要部の分解断面図、図3はモー
ルド金型の下型とプリント基板および下型の底に設けら
れた突起台座部分を示す模式的平面図、図4は本発明の
一実施例による半導体装置の製造方法によって製造され
たLCCの概要を示す模式的断面図、図5は実際のLC
Cの要部を示す模式的斜視図、図6は本実施例によって
製造されたLCCの実装状態を示す模式的断面図、図7
は同じく一部を示す斜視図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a semiconductor device manufacturing method of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view of an essential part showing a method for manufacturing a semiconductor device (LCC) according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded cross-sectional view of an essential part showing a printed board on which components are mounted and a molding die. FIG. 3 is a schematic plan view showing a lower die of a molding die, a printed board, and a pedestal pedestal portion provided on the bottom of the lower die. FIG. 4 is manufactured by a method for manufacturing a semiconductor device according to an embodiment of the present invention. Schematic sectional view showing the outline of LCC, FIG. 5 is an actual LC
FIG. 7 is a schematic perspective view showing a main part of C, FIG. 6 is a schematic sectional view showing a mounted state of the LCC manufactured according to this embodiment, and FIG.
FIG. 3 is a perspective view showing a part of the same.

【0016】本実施例ではLCC(半導体装置)の製造
方法、すなわち、LCCのトランスファモールド方法に
本発明を適用した例について説明する。
In this embodiment, an example in which the present invention is applied to a method for manufacturing an LCC (semiconductor device), that is, a transfer molding method for an LCC will be described.

【0017】本発明の製造方法によって製造されるLC
C(半導体装置)1について簡単に説明する。LCC1
は、図4および図5に示すように、外観的にはプリント
基板2と、このプリント基板2の主面に形成されたレジ
ンからなる封止体3とからなっている。プリント基板2
は、たとえば、0.6mmの厚さとなるとともに、その
大きさは25mm□となっている。また、前記封止体3
は数mmの厚さとなるとともに、その大きさは20mm
□となっている。
LC manufactured by the manufacturing method of the present invention
The C (semiconductor device) 1 will be briefly described. LCC1
As shown in FIGS. 4 and 5, the external appearance is composed of a printed circuit board 2 and a sealing body 3 made of a resin formed on the main surface of the printed circuit board 2. Printed circuit board 2
Has a thickness of, for example, 0.6 mm, and its size is 25 mm □. In addition, the sealing body 3
Has a thickness of several mm, and its size is 20 mm.

【0018】前記プリント基板2は、主面および裏面に
所望の配線4(裏面の配線は図示せず)が形成されてい
る。図5に示すように、前記封止体3から外れたプリン
ト基板2の主面の配線4においては、プリント基板2を
貫通状態で形成されたスルーホールに設けられた導体層
5を介してプリント基板2の裏面の電極端子6に電気的
に接続されている。前記電極端子6は、プリント基板2
の側面からプリント基板2の主面(上面)にまで延在し
ている。
The printed circuit board 2 has desired wirings 4 (the wirings on the back surface are not shown) formed on the main surface and the back surface. As shown in FIG. 5, in the wiring 4 on the main surface of the printed circuit board 2 which is separated from the sealing body 3, the printed matter is printed through the conductor layer 5 provided in the through hole formed so as to penetrate the printed circuit board 2. It is electrically connected to the electrode terminals 6 on the back surface of the substrate 2. The electrode terminal 6 is a printed circuit board 2
From the side surface to the main surface (upper surface) of the printed circuit board 2.

【0019】また、前記封止体3に覆われるプリント基
板2の主面部分には、所望の電子部品が搭載されてい
る。所望の電子部品としては、たとえば、図4に示すよ
うに、能動部品としてLSIチップ7やICチップ8が
固定されるとともに、能動部品としてチップコンデンサ
9が組み込まれている。前記LSIチップ7やICチッ
プ8の図示しない電極と、プリント基板2の図示しない
配線とは、導電性のワイヤ10で電気的に接続されてい
る。
A desired electronic component is mounted on the main surface portion of the printed circuit board 2 covered with the sealing body 3. As a desired electronic component, for example, as shown in FIG. 4, an LSI chip 7 or an IC chip 8 is fixed as an active component, and a chip capacitor 9 is incorporated as an active component. Electrodes (not shown) of the LSI chip 7 and IC chip 8 and wiring (not shown) of the printed circuit board 2 are electrically connected by a conductive wire 10.

【0020】一方、これが本発明の特徴の一つである
が、前記プリント基板2の裏面には、図4に示すよう
に、わずかな窪み15が形成されているとともに、プリ
ント基板2の周辺部分は平坦面16となっている。すな
わち、プリント基板2の裏面側に配列形成された各電極
端子6は、略同一平面上に位置するようになる。
On the other hand, this is one of the features of the present invention. As shown in FIG. 4, a slight recess 15 is formed on the back surface of the printed board 2 and the peripheral portion of the printed board 2 is formed. Has a flat surface 16. That is, the electrode terminals 6 arrayed and formed on the back surface side of the printed circuit board 2 are located on substantially the same plane.

【0021】この結果、図6および図7に示すように、
本発明によって製造されたLCC1を配線基板17に実
装した場合、プリント基板2の周辺が略同一平面となる
平坦面16となっていることから、従来のようにプリン
ト基板2が反るようなこともなく、前記平坦面16部分
に形成された電極端子6は、配線基板17の主面(上
面)に設けられた配線18に半田19を介して確実に固
定されるようになる。
As a result, as shown in FIGS. 6 and 7,
When the LCC 1 manufactured according to the present invention is mounted on the wiring board 17, the printed board 2 is warped as in the conventional case because the periphery of the printed board 2 is the flat surface 16 which is substantially the same plane. Of course, the electrode terminals 6 formed on the flat surface 16 are securely fixed to the wirings 18 provided on the main surface (upper surface) of the wiring board 17 via the solder 19.

【0022】つぎに、前記LCC1の製造について説明
する。図2に示すように、LSIチップ7,ICチップ
8およびチップコンデンサ9等を搭載したプリント基板
2を用意し、図1に示すように、トランスファモールド
装置のモールド金型25に型締めする。モールド金型2
5は、図2に示すように、下型26と、上型27とから
なり、下型26のパーティング面28側には、前記プリ
ント基板2が収容される収容窪み29が設けられてい
る。
Next, the production of the LCC1 will be described. As shown in FIG. 2, a printed circuit board 2 on which an LSI chip 7, an IC chip 8, a chip capacitor 9 and the like are mounted is prepared and, as shown in FIG. 1, is clamped in a molding die 25 of a transfer molding apparatus. Mold die 2
As shown in FIG. 2, 5 includes a lower mold 26 and an upper mold 27, and a housing recess 29 for housing the printed circuit board 2 is provided on the parting surface 28 side of the lower mold 26. .

【0023】また、前記収容窪み29に対応する上型2
7のパーティング面30には、いずれも窪みとなる被モ
ールド空間としてのキャビティ31、溶けたレジンを案
内するランナー32、前記ランナー32の先端でありか
つ前記キャビティ31に連なる細く絞られたゲート33
が設けられている。
Also, the upper mold 2 corresponding to the accommodation recess 29.
On the parting surface 30 of FIG. 7, a cavity 31 as a space to be molded, which is a depression, a runner 32 for guiding the melted resin, and a narrowed gate 33 which is the tip of the runner 32 and is continuous with the cavity 31.
Is provided.

【0024】一方、これが本発明の特徴の一つである
が、図2および図3に示すように、下型26の収容窪み
29の底には、突起台座35が設けられている。前記収
容窪み29の深さは、前記プリント基板2の厚さと略同
じかあるいはわずかに浅くなっている。これは、トラン
スファモールド時、溶けたレジンが下型26と上型27
のパーティング面28,30間にレジンが流出すること
を防止するためである。
On the other hand, this is one of the features of the present invention. As shown in FIGS. 2 and 3, a projection pedestal 35 is provided at the bottom of the accommodation recess 29 of the lower mold 26. The depth of the accommodation recess 29 is substantially the same as or slightly smaller than the thickness of the printed circuit board 2. This is because the melted resin is lower mold 26 and upper mold 27 during transfer molding.
This is to prevent the resin from flowing out between the parting surfaces 28 and 30 of the.

【0025】前記突起台座35の高さは、たとえば、
0.1mm程度となり、その周縁は、前記封止体3を形
成するための封止部(キャビティ31)の縁よりも数ミ
リ内側に位置するようになっている。このように、突起
台座35の縁を前記キャビティ31の縁よりも数ミリ内
側にすることによって、トランスファモールド後の封止
体の硬化収縮によるプリント基板2の平坦化がより確実
になる。
The height of the protrusion pedestal 35 is, for example,
It is about 0.1 mm, and its peripheral edge is positioned a few millimeters inside the edge of the sealing portion (cavity 31) for forming the sealing body 3. In this way, by making the edge of the protrusion pedestal 35 inside by a few millimeters from the edge of the cavity 31, the flattening of the printed board 2 due to the curing shrinkage of the sealing body after transfer molding becomes more reliable.

【0026】図1は、LSIチップ7,ICチップ8,
チップコンデンサ9等を搭載したプリント基板2をモー
ルド金型25によって型締めし、かつゲート33から溶
けたレジン34(図中点々を施した領域)をキャビティ
31に注入した状態を示すものである。この状態では、
平板であったプリント基板2は、モールド金型25の底
に設けられた突起台座35の存在によって中央部分が盛
り上がるように反り返えるように型締めされる。この反
り返り量は、トランスファモールド後のレジン(封止体
3)の硬化収縮によるプリント基板2の反り返りによっ
て、少なくともプリント基板2の周辺部分が平坦化する
ような反り返りとなるように設定されている。
FIG. 1 shows an LSI chip 7, an IC chip 8,
This shows a state in which the printed circuit board 2 on which the chip capacitors 9 and the like are mounted is clamped by the molding die 25, and the melted resin 34 (the dotted region in the figure) is injected into the cavity 31 from the gate 33. In this state,
The printed circuit board 2 which is a flat plate is clamped so that it can be warped so that the central portion thereof rises due to the presence of the protrusion pedestal 35 provided on the bottom of the molding die 25. The amount of warpage is set so that at least the peripheral portion of the printed circuit board 2 is flattened by the warpage of the printed circuit board 2 due to the curing shrinkage of the resin (sealing body 3) after transfer molding.

【0027】本実施例において製造される半導体装置
(LCC)は、モールド金型にプリント基板を型締めし
た後、プリント基板の一面側にトランスファモールドに
よってレジンからなる封止体が形成される。このトラン
スファモールド時、使用されるモールド金型において
は、プリント基板に直接接触するモールド金型面に前記
封止部に対応しかつ封止部より所望長さ内側に外周縁が
位置する突起台座が設けられている構造となっている。
したがって、モールド金型の型締めの際、プリント基板
は反り返る状態でトランスファモールドされるため、ト
ランスファモールド後のレジンからなる封止体の硬化収
縮によってプリント基板が逆に反り返っても、あらかじ
めプリント基板を逆に反り返らせてあることからプリン
ト基板の周辺部分は平坦化する。この結果、配線基板に
本発明によって製造されたLCCを実装した場合、LC
Cの各電極端子は配線基板の電極に半田等の接合材を介
して確実に接続されることになる。
In the semiconductor device (LCC) manufactured in this embodiment, after the printed circuit board is clamped in the molding die, a sealing body made of resin is formed on one surface side of the printed circuit board by transfer molding. At the time of this transfer molding, in the molding die used, a projection pedestal corresponding to the sealing portion and having an outer peripheral edge located at a desired length inside the sealing portion is provided on the molding die surface which is in direct contact with the printed circuit board. The structure is provided.
Therefore, when the mold is clamped, the printed circuit board is transfer-molded in a warped state, so even if the printed circuit board warps backward due to curing shrinkage of the resin encapsulant after transfer molding, the printed circuit board is warped in advance. On the contrary, since it is bent back, the peripheral portion of the printed circuit board is flattened. As a result, when the LCC manufactured according to the present invention is mounted on the wiring board, the LC
Each electrode terminal of C is surely connected to the electrode of the wiring board through a bonding material such as solder.

【0028】本発明のトランスファモールド用モールド
金型は、型締め後トランスファモールド法によってプリ
ント基板の一面に封止体を形成する構造となるととも
に、前記プリント基板に直接接触するモールド金型面に
前記封止体を形成する封止部に対応しかつ前記封止部の
縁から所望長さ内側に外周縁が位置する突起台座が設け
られている構造となっていることから、モールド金型の
型締めの際、プリント基板を反り返えさせる構造となっ
ている。したがって、このモールド金型の使用によって
トランスファモールドされて製造された半導体装置にお
いては、トランスファモールド後、レジンからなる封止
体が硬化収縮してプリント基板が反り返えっても、前記
硬化収縮による反り返りを解消するように逆に反り返る
ように型締めされるため、トランスファモールド後、製
品となった状態でのプリント基板は平坦なものとなる。
The mold for transfer molding according to the present invention has a structure in which a sealing body is formed on one surface of a printed circuit board by a transfer molding method after clamping, and the mold surface directly contacting the printed circuit board has the above structure. Since the protrusion pedestal is provided corresponding to the sealing portion forming the sealing body and having the outer peripheral edge located inside the edge of the sealing portion by a desired length, the mold of the mold is formed. When tightened, it has a structure that allows the printed circuit board to warp. Therefore, in a semiconductor device manufactured by transfer molding by using this molding die, even if the printed circuit board warps due to curing shrinkage of the resin encapsulant after transfer molding, the warping due to the curing shrinkage may occur. In order to solve the problem, the mold is clamped so as to warp in the opposite direction, so that the printed circuit board becomes a flat product after transfer molding.

【0029】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。たとえば、
前記実施例では突起台座35の突出高さを0.1mm程
度としたが、これはプリント基板2がガラス・エポキシ
樹脂基板でありかつ厚さが0.6mmのものの場合であ
る。したがって、プリント基板2の厚さや材質(剛性,
熱膨張係数等)によって、前記突起台座35の厚さや大
きさは適宜選択する必要がある。たとえば、厚さ0.8
mmのガラス・エポキシ樹脂基板の場合では、前記突起
台座35の突出高さは0.15mm程度が適当となる。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say. For example,
In the above embodiment, the protrusion height of the protrusion pedestal 35 is set to about 0.1 mm, but this is the case where the printed circuit board 2 is a glass / epoxy resin substrate and has a thickness of 0.6 mm. Therefore, the thickness and material (rigidity,
It is necessary to properly select the thickness and size of the protrusion pedestal 35 depending on the coefficient of thermal expansion and the like. For example, thickness 0.8
In the case of a glass / epoxy resin substrate of mm, the protrusion height of the protrusion pedestal 35 is appropriately about 0.15 mm.

【0030】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるLCC
の製造技術に適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく、プリント基板の一面に封止体
を有するとともに、他面に複数の突起電極を有するボー
ルグリッドアレイ(BGA)型の半導体装置の製造技術
にも同様に適用できる。この場合、封止体形成後に突起
電極を形成する。本発明は少なくともプリント基板の一
面にレジンからなる封止体を形成する技術には適用でき
る。
In the above description, the LCC, which is the field of application of the invention mainly made by the present inventor, was the background.
However, the present invention is not limited to this, and a ball grid array (BGA) type semiconductor having a sealing body on one surface of a printed circuit board and a plurality of protruding electrodes on the other surface thereof. The same can be applied to the manufacturing technology of the device. In this case, the protruding electrode is formed after forming the sealing body. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to at least a technique of forming a sealing body made of a resin on one surface of a printed board.

【0031】[0031]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。本発明の半導体装置(LCC)の製
造方法においては、トランスファモールド後の封止体の
硬化収縮を勘案して、プリント基板に直接接触する突起
台座を有するモールド金型を使用して、型締め時、プリ
ント基板が封止体の硬化収縮時に反り返る方向とは逆と
なる方向にプリント基板を反り返えして型締めを行うよ
うになっている。したがって、トランスファモールド後
のLCCのプリント基板の周辺部分は平坦な面となり、
配線基板への実装の信頼性が高くなる。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows. In the method for manufacturing a semiconductor device (LCC) of the present invention, a mold die having a protruding pedestal that directly contacts the printed circuit board is used in consideration of the curing shrinkage of the sealing body after transfer molding. The mold is clamped by bending back the printed circuit board in a direction opposite to the direction in which the printed circuit board warps when the encapsulant cures and shrinks. Therefore, the peripheral part of the printed circuit board of the LCC after transfer molding becomes a flat surface,
The reliability of mounting on the wiring board is increased.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例によるLCCの製造方法を示
す要部の断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of an essential part showing a method for manufacturing an LCC according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施例によるLCCの製造方法における部品
を搭載したプリント基板とモールド金型とを示す要部の
分解断面図である。
FIG. 2 is an exploded cross-sectional view of essential parts showing a printed board on which components are mounted and a molding die in the method for manufacturing an LCC according to the present embodiment.

【図3】本実施例におけるモールド金型の下型とプリン
ト基板および下型の底に設けられた突起台座部分を示す
模式的平面図である。
FIG. 3 is a schematic plan view showing a lower die of a molding die in the present embodiment, a printed circuit board, and a protruding pedestal portion provided on the bottom of the lower die.

【図4】本実施例の半導体装置の製造方法によって製造
されたLCCの概要を示す模式的断面図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the outline of an LCC manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device of this embodiment.

【図5】本実施例の半導体装置の製造方法によって製造
された実際のLCCの要部を示す模式的斜視図である。
FIG. 5 is a schematic perspective view showing a main part of an actual LCC manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device of this embodiment.

【図6】本実施例の半導体装置の製造方法によって製造
されたLCCの実装状態を示す模式的断面図である。
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a mounted state of an LCC manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device of this embodiment.

【図7】本実施例の半導体装置の製造方法によって製造
されたLCCの実装状態の一部を示す斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing a part of a mounted state of an LCC manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device of this embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…LCC、2…プリント基板、3…封止体、4…配
線、5…導体層、6…電極端子、7…LSIチップ、8
…ICチップ、9…チップコンデンサ、10…ワイヤ、
15…窪み、16…平坦面、17…配線基板、18…配
線、19…半田、25…モールド金型、26…下型、2
7…上型、28…パーティング面、29…収容窪み、3
0…パーティング面、31…キャビティ、32…ランナ
ー、33…ゲート、34…レジン、35…突起台座。
1 ... LCC, 2 ... Printed circuit board, 3 ... Sealing body, 4 ... Wiring, 5 ... Conductor layer, 6 ... Electrode terminal, 7 ... LSI chip, 8
... IC chip, 9 ... Chip capacitor, 10 ... Wire,
15 ... Dimple, 16 ... Flat surface, 17 ... Wiring board, 18 ... Wiring, 19 ... Solder, 25 ... Mold die, 26 ... Lower die, 2
7 ... Upper mold, 28 ... Parting surface, 29 ... Housing recess, 3
0 ... parting surface, 31 ... cavity, 32 ... runner, 33 ... gate, 34 ... resin, 35 ... projection pedestal.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント基板の一面にレジンからなる封
止体を形成する半導体装置の製造方法であって、前記封
止体形成時に使用されるモールド金型において、前記プ
リント基板に直接接触するモールド金型面に前記封止体
を形成する封止部に略対応する突起台座をあらかじめ設
けておき、モールド金型の型締め時、前記プリント基板
を反り返らせた状態で封止体形成を行うことを特徴とす
る半導体装置の製造方法。
1. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein a sealing body made of a resin is formed on one surface of a printed circuit board, wherein a mold used in forming the sealing body is a mold which is in direct contact with the printed circuit board. A protrusion pedestal that substantially corresponds to the sealing portion that forms the sealing body is provided on the die surface in advance, and the sealing body is formed while the printed circuit board is warped when the mold die is clamped. A method of manufacturing a semiconductor device, comprising:
【請求項2】 前記突起台座の高さは前記封止体形成後
の封止体の硬化収縮によるプリント基板の反りを逆に反
り変えさせてプリント基板を平坦に戻す程度の高さとな
っていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置の
製造方法。
2. The height of the projection pedestal is such that the warp of the printed circuit board due to curing shrinkage of the sealed body after formation of the sealed body is changed to the opposite direction to return the printed circuit board to a flat surface. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein
【請求項3】 前記突起台座は平坦面となるとともに、
周囲はなだらかな曲線を描いた面となり、かつ前記突起
台座の縁は前記封止体の縁の内側に位置していることを
特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
3. The projection pedestal has a flat surface, and
2. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the periphery is a surface having a gentle curved line, and the edge of the protrusion pedestal is located inside the edge of the sealing body.
【請求項4】 下型と上型との間にプリント基板を型締
めして前記プリント基板の一面にレジンからなる封止体
を形成するモールド金型であって、前記プリント基板に
直接接触するモールド金型面に前記封止体を形成する封
止部に対応しかつ前記封止部の縁から所望長さ内側に外
周縁が位置する突起台座が設けられていることを特徴と
するモールド金型。
4. A mold die for clamping a printed circuit board between a lower mold and an upper mold to form a resin sealing body on one surface of the printed circuit board, which is in direct contact with the printed circuit board. A mold base corresponding to a sealing part forming the sealing body on a mold surface and provided with a projection pedestal having an outer peripheral edge located inside a desired length from an edge of the sealing part. Type.
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Cited By (3)

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