JPH08212610A

JPH08212610A - 光磁気記録方法

Info

Publication number: JPH08212610A
Application number: JP2070195A
Authority: JP
Inventors: Ayumi Konishi; 歩小西; Minoru Kikuchi; 稔菊地
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1995-02-08
Filing date: 1995-02-08
Publication date: 1996-08-20

Abstract

(57)【要約】【目的】従来より短い平均アクセス時間で最適記録パ
ワーを検出することが可能な光磁気記録方法を提供す
る。【構成】光磁気記録媒体にレーザビームを連続的照射
もしくはパルス照射し、外部磁界の印加によって記録を
行う磁界変調記録方法による光磁気記録方法において、
少なくともメインビームと、これに先行して光磁気記録
媒体上を移行するサブビームの２つ以上のレーザビーム
を用い、データ記録の前に、データ記録領域の直前の領
域を試し書き領域として試し書き情報を記録する工程
と、この記録された試し書き領域を先行サブビームで試
し書き情報を再生した後に、メインビームで試し書き情
報を消去する工程と、試し書き情報の再生信号からデー
タ記録のレーザビームの最適パワーを検出する工程とを
採る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記録方法、特に
磁界変調方式による光磁気記録方法に係わる。

【０００２】

【従来の技術】現行の光磁気記録媒体、例えば光磁気記
録ディスクの記録方法においては、情報に応じて記録磁
性層の磁化の向きを反転させることによってデータの記
録を行っており、一方その再生は、ディスクに対して照
射する読み出し光のディスク記録磁性層から反射してく
る楕円偏光の偏光面の回転角（カー回転角θk ）を利用
して行っている。この光磁気記録媒体への記録を行う方
法には、記録ピットすなわち磁化の反転した領域を形成
する方法によって、光変調記録方法と磁界変調記録方法
とに大別される。

【０００３】磁界変調記録方法では、オーバーライトが
可能なため、記録したい領域を前もって消去する消去過
程を必要としない。

【０００４】記録過程においては、レーザからの直流発
光を記録部に照射させ、記録したい情報に応じてパルス
的に磁気ヘッドから記録部に供給する磁界の方向を反転
させながらレーザを照射することにより温度上昇によっ
て保磁力を低下させて、所要の磁性層の磁化方向を磁界
方向に反転させる。これによって記録したい情報に対応
した記録ピットを形成する。

【０００５】従って、上述の磁界変調記録方法で記録を
行うには、（１）データの記録、（２）確認（ベリファ
イ）の各工程が存在し、ディスクは２回転させる必要が
ある。

【０００６】ここで記録した情報を再生する際に、良好
な信号特性、すなわち高いＣ／Ｎ比（搬送波と雑音の
比）や低いエラーレートを得るためには、記録時のレー
ザパワーを使用するディスクに合わせた最適値で記録す
る必要がある。

【０００７】そこで通常、ディスクの繰り返し記録再生
により、最適記録パワーが初期の設定値よりもずれる現
象が生じた場合や、あるいは記録時の温度変化やディス
ク、レンズへのゴミ付着により実質的に記録パワーがず
れた場合や、さらにはディスク製造時における局所的な
感度むら等が存在する場合でもできるだけ最適値での記
録ができるように、光磁気ディスクには記録パワーマー
ジンを持たした設計を行っている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】近年例えば映像を記録
する分野においては、マルチメディア時代に向けデジタ
ル映像を記録するために、さらなる高転送レート化や高
記録密度化の要望が高まっている。この記録密度を向上
させるために、狭トラック化やピットサイズの短小化を
することにより、パワーマージンは狭まることが知られ
ており、そのため上述した温度変化やゴミ付着等の外乱
に対して充分に補償できるほどのパワーマージンを確保
するのは困難になる。そこで、記録直前に、そのディス
クの記録領域における最適記録パワーを求める何らかの
方法が必要とされている。

【０００９】上述の最適記録パワーの検出方法は、例え
ば、テスト（試し書き）領域にレーザを低パワー側から
段階的に増加させて記録していき、各段階におけるエラ
ーレートを測定する方法がとられている（特公平３−１
７４３７号公報）。

【００１０】最適記録パワーの検出時期は、例えば電源
投入時、もしくは記録媒体交換時、もしくはユーザーが
記録したデータが不良になったとき、もしくはある最適
パワー校正後ある一定の時間が経過した後、もしくはあ
る値以上の温度変化があった場合、もしくはある値以上
の振動や衝撃が加わった後に最適記録パワーの校正を行
っている（特開平４−１４１８２７号公報）。この場合
には、最適記録パワーの検出頻度が少ないため、現行の
最適記録パワーの検出を行っていない記録方法に比べ
て、平均アクセス時間が極端に遅くなることはないが、
繰り返し記録再生に起因する最適記録パワーのずれ、あ
るいは製造時のばらつきによる局所的なディスクの記録
感度むらには対応が不可能である。

【００１１】上述のディスクの局所的な記録感度変化に
対応し、ディスク全領域に亘って最適な記録パワーを求
めるには、例えば記録時に各セクタに存在するテスト部
に試し書きを行い、それを再生してジッタを検出し最適
記録パワーを求める方法がある（特開平１−２０５７６
３号公報）。

【００１２】ところが上述の方法では、１セクタのデー
タ書き込みに、（１）試し書き情報の書き込み（２）試
し書き情報の読み出しと最適記録パワーの判定（３）デ
ータの書き込み（４）ベリファイ、という具合にディス
クを合計４回転させる必要がある。

【００１３】磁界変調記録方法に上述の方法を適用する
と、同様にディスク回転数は４回となる。従って、上述
の方法ではデータ書き込みに時間を要し、平均アクセス
時間が長くなることになる。

【００１４】本発明はこのような点を考慮してなされた
もので、従来より短い平均アクセス時間で最適記録パワ
ーを検出することが可能な光磁気記録方法を提供するも
のである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上述の目
的を達成するために鋭意検討を重ねた結果、通常の光磁
気記録方法では、例えばトラッキングサーボなどのサー
ボ信号を得るために、レーザからの光を干渉現象を利用
して０次光によるメインビームと±１次光によるサブビ
ームを発生させるものであることから、データを記録す
る直前の領域に設けた試し書き領域にパワーを変化させ
て試し書きを行った後、メインビームでデータを記録す
る前に先行するサブビームで試し書き領域の記録信号を
再生・検出することによって最適記録パワーが求められ
ることを見い出した。

【００１６】本発明はこれに基づいてなされたもので、
光磁気記録媒体にレーザビームを連続的照射もしくはパ
ルス照射し、外部磁界の印加によって記録を行う磁界変
調記録方法による光磁気記録方法において、少なくとも
メインビームと、これに先行して光磁気記録媒体上を移
行するサブビームの２つ以上のレーザビームを用い、デ
ータ記録の前に、データ記録領域の直前の領域を試し書
き領域として試し書き情報を記録する工程と、この記録
された試し書き領域を先行サブビームで試し書き情報を
再生した後に、メインビームで試し書き情報を消去する
工程と、試し書き情報の再生信号からデータ記録のレー
ザビームの最適パワーを検出する工程とを採る。

【００１７】

【作用】上述の本発明によれば、データを記録する前に
光磁気記録媒体の試し書き領域に記録した試し書き情報
をメインビームに先行するサブビームで再生・検出する
ことにより、最適記録パワーを算出することができる。
この最適記録パワーをもって記録を行うことにより、動
作時の温度変化、繰り返し記録再生などによる記録感度
のズレが生じた場合でも良好な再生信号を得ることがで
きる。

【００１８】ここで、以前に記録したデータはオーバー
ライトによって書き換えが可能であるが、試し書き情報
においては、最適パワーの検出後、光ディスクの入れ替
え後等の次の試し書きの機会において、前回の大きいパ
ワーでの試し書き情報が残っていると、小さいパワーで
試し書きをした時に、前回の試し書き情報が書き換えら
れずに残り、試し書き情報が重複・混在してしまうこと
が起こる。

【００１９】これは、パワーの大小によって、記録がさ
れる幅が変化し、大きいパワーで記録した幅広の領域よ
りも、小さいパワーで記録した領域の方が狭くなるため
である。小さいパワーで記録した領域の外側に前回大き
いパワーで記録した情報の領域が残り、この状態で情報
の再生・検出を行うと両方の情報を採ってしまうため、
正しい判定が困難になる。

【００２０】そこで、試し書き情報を再生した後に、こ
の試し書き領域の情報を消去する必要がある。特に本発
明では、データ記録領域の直前の領域を試し書き領域と
して記録した試し書き情報を、先行するサブビームで再
生した後にメインビームで消去する工程をとることによ
り、光磁気記録媒体、例えば光ディスクにおいて、試し
書き情報の再生と試し書き領域の消去とを同一のディス
ク回転中に行うことができる。

【００２１】光磁気記録方法における、試し書きによる
最適パワーの検出の際に必要なディスク回転数を、図８
に示す光磁気記録媒体内の記録がなされるセクタの模式
図を用いて、従来の検出方法の場合と本発明の検出方法
とを比較して説明する。

【００２２】従来の検出方法においては、まず最初の１
回転目で試し書き領域に試し書き情報を記録する。次に
２回転目にこの試し書き情報を再生する。この再生信号
から最適記録パワーの検出が行われる。続いて３回転目
において、試し書き情報の消去と検出した最適記録パワ
ーの光照射でデータの記録を行う。４回転目に確認（ベ
リファイ）が行われる。以上一連の過程に４回転を要す
る。

【００２３】一方本発明による検出方法においては、最
初の１回転目で従来と同様に試し書き領域に試し書き情
報を記録した後に、２回転目に試し書き情報を再生する
とともに、試し書き情報の消去およびデータ領域への記
録も行うことができる。以下同様に３回転目にデータの
確認を行うことにより合計３回転となり、従来の検出方
法より１回転少なくてすむ。

【００２４】このように本発明の試し書きによる最適記
録パワーの検出方法は、従来の検出方法より１回少ない
ディスク回転数によって最適パワーの検出ができ、この
最適パワーの検出に要する時間の短縮がはかられる。

【００２５】

【実施例】本発明による光磁気記録方法の実施例につい
て説明する。本発明による光磁気記録方法は、基本的に
は前述したように、試し書き情報を再生してそれを基に
最適記録パワーを検出する。

【００２６】上述の試し書き情報の記録は、この記録を
行うレーザビームのパワーを階段的に変化させて行う。

【００２７】また、試し書き情報の記録をレーザビーム
のパワーを階段的に変化させて行うことにより、よりす
ぐれた精度で最適記録パワーの算出を行うことができ
る。

【００２８】さらに、少なくともメインビームと、これ
に先行して光磁気記録媒体上を移行するサブビームの２
つのレーザビームとを取り出す共通の半導体レーザの定
格出力をＰｏ、光磁気記録媒体の試し書き情報の検出時
のパワーをＰｗ、再生時に必要な最低パワーをＰｍｉ
ｎ、半導体レーザの出射光量と光磁気記録媒体への到達
光量比をα、メインビームの分割光量比をａ、サブビー
ムの分割光量比をｂとするとき、次の（数１）に選定す
る。

【００２９】

【数１】Ｐｍｉｎ×（ａ／ｂ）＜Ｐｗ＜Ｐｏ×α×（ａ
／１００）

【００３０】消去を行う時のレーザパワーの範囲を（数
１）に選定することによって試し書き情報の検出を確実
に行うことができる。これについて説明する。ここで、２つのレーザビームを取り出す半導体レーザの定格出力Ｐｏ［ｍＷ］光磁気記録媒体の試し書き情報の検出時のパワーＰｗ［ｍＷ］（試し書き情報の消去に必要なパワーになる）サブビーム読み出しパワーＰｒ［ｍＷ］再生時に必要な最小読み出しパワーＰｍｉｎ［ｍＷ］半導体レーザの出射光量と光磁気記録媒体への到達光量比 α メインビームの分割光量比ａ［％］サブビームの分割光量比ｂ［％］とすると、まず光磁気記録媒体に記録されたデータの書
き換えに必要なパワーＰｗはメインビームの最大到達光
量より小さく、レーザの定格出力から、（数２）を満た
す。

【００３１】

【数２】Ｐｗ＜Ｐｏ×α×（ａ／１００）

【００３２】このとき、サブビームの読み出しパワーＰ
ｒは、（数３）である。

【００３３】

【数３】Ｐｒ＝Ｐｗ×（ｂ／ａ）

【００３４】また読み出しに必要な最小パワーＰｍｉｎ
は、再生データの検出回路の特性等に依存し、読み出し
パワーは最小パワーより大きくする必要があり、（数
４）となる。

【００３５】

【数４】Ｐｍｉｎ＜Ｐｒ

【００３６】（数２）、（数３）、（数４）から、Ｐｗ
の範囲は、前記（数１）すなわち、Ｐｍｉｎ×（ａ／ｂ）＜Ｐｗ＜Ｐｏ×α×（ａ／１０
０）を満足するように選定することにより、記録時に先行サ
ブビームで試し書き情報を確実に検出することができ
る。

【００３７】また、上述のメインビームとこれに先行す
る上述のサブビームとの光磁気記録媒体上での距離を
ｄ、光磁気記録媒体の最低線速度をＶｍｉｎ、光磁気記
録媒体のチャンネルビットレートをＣ、試し書きデータ
を書き込む領域のチャンネルビット数をＮｔ、試し書き
に最低限必要とする領域をＮとするとき、次の（数５）
に選定する。

【００３８】

【数５】Ｎ＞Ｎｔ＋（ｄ／Ｖｍｉｎ）×Ｃ

【００３９】メインビームとサブビーム間の距離と試し
書き領域の関係についてみる。ここで、メインビームとサブビーム間の距離ｄ［ｍ］光磁気記録媒体の最低線速度Ｖｍｉｎ［ｍ／ｓ］光磁気記録媒体のチャンネルビットレートＣ［bit ／ｓ］とすると、メインビームとサブビームとの間の最大とな
るチャンネルビット数Ｎｂは、次の（数６）で与えられ
る。

【００４０】

【数６】Ｎｂ＝（ｄ／Ｖｍｉｎ）×Ｃ

【００４１】ここで、試し書きデータが実際に書き込ま
れる領域のチャンネルビット数をＮｔとすると、試し書
きデータの再生時にはメインビームが記録を行っている
ために、試し書きデータを直接記録する領域の直前にＮ
ｂチャンネルビット分だけデータを記録しない領域を確
保しなければならない。従って、試し書きを行うために
必要な領域のチャンネルビット数Ｎは、（数５）とな
る。

【００４２】また、光記録媒体の各セクタ内のオート・
レーザ・パワー・コントロール部とその直前のギャップ
部の一方もしくは両方を、最適記録パワーを検出する試
し書き領域とする。

【００４３】本発明の光磁気記録方法の実施例の説明に
先立ち、図面を参照して本発明の光磁気記録方法に用い
られる光学系および記録媒体としてのディスク構造につ
いて説明する。

【００４４】１）光学系光学系の基本構成は図１に示すように、レーザ１１、コ
リメータレンズ１２、グレーティング１３、ビームスプ
リッタ（ＢＳ）１４、対物レンズ１５、１／２波長板１
７、シリンドリカルレンズ１８、偏光ビームスプリッタ
（ＰＢＳ）１９、フォトダイオード等の光検出素子２０
および２１を有してなる。これら光学系と光磁気ディス
ク１６を挟んで反対側に磁界を供給するための磁気ヘッ
ド２２が配設されている。

【００４５】レーザ１１から照射されたレーザ光Ｌは、
コリメータレンズ１２で平行光とされ、回折格子からな
るグレーティング１３を通過することで、回折現象によ
って０次光、±１次光に分割される。これら０次光およ
び±１次光は、ＢＳ１４によって、光磁気記録媒体とし
ての光磁気ディスク１６に向けられ、対物レンズ１５に
よって光磁気ディスク１６上に集光され、０次光による
メインビームとレーザ光Ｌは、０、±１次光によるサブ
ビームとして３つの焦点を結ぶ。

【００４６】また光磁気ディスク１６に向かうレーザ光
の一部は、ＢＳ１４により分離されて直進し、ＡＰＣ
（自動パワー制御）回路用のディテクタ２４により検出
されて、ＡＰＣ回路２６に入力され、レーザダイオード
（ＬＤ）ドライバ２７に制御信号を送り、レーザパワー
の制御がなされる。

【００４７】一方、光磁気ディスク１６の表面から反射
された再生光は、対物レンズ１５、ＢＳ１４を直進し、
１／２波長板１７、シリンドリカルレンズ１８を介して
ＰＢＳ１９に入射されこれにより偏光のＳ波とＯ波とに
分離されて、それぞれ光検出素子２０および２１より検
出されて電気信号に変換され、作動アンプ２９によって
その差分が再生出力信号として検出される。

【００４８】通常のように、上述の±１次光、すなわち
サブビームはトラッキングサーボに使用され、０次光、
すなわちメインビームは消去、記録、再生、およびフォ
ーカスサーボに使用される。これら３つのスポットの強
度比すなわち分割光量比ａ、ｂはグレーティング１３に
よって決定される。

【００４９】ここで、これら３つのスポットの位置関係
について説明する。図２に光磁気ディスク１６の記録部
周辺の平面図を示すように、記録が行われるランド３２
とランド３２を挟んで両側に溝状のグルーブ３１がそれ
ぞれディスク回転方向ａと平行に配置され、ランド３２
の中には記録ピット３７が形成され、この記録ピット３
７を用いてプッシュプル法などによりトラッキングサー
ボを行う。

【００５０】そして３つのスポット、すなわちメインビ
ームによるメインスポット３５と、サブビームによる前
方サブスポット３４および後方サブスポット３６とがラ
ンド３２上に照射される。サブスポットはディスク回転
方向ａに沿って、前方サブスポット３４と後方サブスポ
ット３６がメインスポット３５を挟んで、３つのスポッ
トがディスク回転方向ａと平行になるように設定されて
いる。これによって、メインスポット３５にてデータ領
域の記録を行っている際に、先行する前方サブスポット
３４によって試し書き情報の検出を行うことができる。

【００５１】２）ディスク構造本実施例の記録方法に用いる光磁気ディスクの構成を図
９に示す。この光磁気ディスクは基板１の一主面１ａ上
に記録層２と、記録層２を覆うようにして形成された保
護膜３とが設けられ、基板１の記録層２が形成された主
面１ａとは反対側の主面１ｂにハードコートの保護膜４
が形成されてなるものである。

【００５２】基板１は、厚さ数ｍｍ程度の円盤状の透明
基板であって、例えばその材料としては、アクリル樹
脂、ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン樹脂、エポ
キシ樹脂などのプラスティック材料の他、ガラス等によ
って構成される。なお、この基板１の、上記の記録層２
が形成される主面１ａには、通常再生時に使用するレー
ザ光波長のおよそ４分の１の深さを持った案内溝（グル
ーブ）や番地符号ピット等が設けられる。

【００５３】記録層２は、例えば記録磁性層６、誘電体
層５、７および反射層８よりなる４層構造を有し、基板
１上に第１の誘電体層５、記録磁性層６、第２の誘電体
層７、反射層８なる順序で積層されている。これらの層
のうち、第１の誘電体層５および第２の誘電体層７につ
いては酸化物ないしは窒化物によって構成できるが、酸
化物によって構成すると誘電体層５、７中の酸化物に含
有されている酸素が記録磁性層６に悪影響を及ぼす恐れ
があることから、窒化物によって構成することが好まし
い。特にこの窒化物としては酸素、水分子の透過を防止
するのに有利であり、しかも使用レーザ光を充分透過し
うる物質としての窒化硅素あるいは窒化アルミニウムな
どが好適である。

【００５４】また、上述の記録磁性層６は、膜面に垂直
な方向に磁化容易軸を有する非晶質の磁性薄膜であっ
て、磁気光学特性に優れていることはもちろん、室温に
て大きな保磁力を持ち、かつ２００℃近辺にキュリー点
を持つことが望ましい。このような条件にかなった記録
材料としては、希土類−遷移金属非晶質薄膜があげら
れ、中でもＴｂＦｅＣｏ系非晶質薄膜が好適である。こ
の記録磁性層６には、耐食性を向上する目的でＣｒ等の
添加元素が添加されていてもよい。

【００５５】反射層８は、上述の第２の誘電体層７との
境界でレーザ光を７０％以上反射する高反射率の膜によ
り構成することが好ましく、非磁性金属の蒸着膜が好適
である。また、この反射層８は、熱的に良導体であるこ
とが望ましく、入手のしやすさなどを考慮すると、アル
ミニウムが適している。

【００５６】これらの各層は、蒸着やスパッタなどの、
いわゆる気相メッキ技術により形成される。この時各層
の膜厚は任意に設定することができるが、通常は数十か
ら数百ｎｍ程度に設定される。この膜厚の設定は、各層
単独の光学的性質だけでなく組み合わせによる効果を考
慮して行うことが好ましい。これは例えば記録磁性層６
を透過して各層境界で反射した光と多重干渉し、膜厚の
組み合わせにより記録磁性層６の実効的な光学および磁
気光学特性が大きく変動するためである。

【００５７】上述の保護膜３は、記録層２を空気中の酸
素、水分から隔離し、記録層２の腐食、孔食を防止する
ためのものである。この保護膜３は、例えば紫外線硬化
樹脂で構成される。紫外線硬化樹脂としては、防水性に
優れることから、アクリル系紫外線硬化樹脂などが好適
である。

【００５８】一方、基板１の記録層２部が形成された側
とは反対の面に形成されるハードコートの保護膜４は、
基板１の帯電や傷つきを防止するためのものであり、例
えば通常のような、紫外線硬化樹脂により構成される。

【００５９】次に本発明による光磁気記録方法の一実施
例を説明する。

【００６０】ここで光磁気ディスクのフォーマットの例
として、ＩＳＯ５．２５インチＭＯ（光磁気）ディスク
の（２，７）ＲＬＬピットポジション記録方式を用い
る。この記録方式の光磁気ディスクの記録フォーマット
の構成図を図３に示す。

【００６１】図３における各領域の名称の働きは次のよ
うになる。ＳＭ（Sector Mark ）セクタフォーマットの先頭を示すＶＦＯ（Verify check）ＰＬＬ回路ロック用データＡＭ（Adress Mark ）読み出し開始位置を示すＩＤ（IDentifier）トラック・セクタ位置の認識用ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check ）ＩＤ領域誤り検出用ＰＡ（ポストアンブル）ＣＲＣ領域の予備ＯＤＦ（Offset Detection Flag ）トラッキングエラー検出Ｇａｐ（ギャップ）データの空白領域Ｆｌａｇ（フラグ）セクタの状態を示すＡＬＰＣ（Auto Laser Power Control）レーザパワーの制御を可能にするＳｙｎｃ（Sync Field）データ部の同期タイミングを取るＤａｔａユーザーデータを書き込むｃｏｎｔｒｏｌセクタが欠陥のときの処理をするＥＣＣ（Error Correction Code ）誤り訂正検出用冗長語ｒｅｓｙｎｃデータ誤り防止用に同期を取るＢｕｆｆｅｒ（バッファ）ディスク回転変動マージン用

【００６２】そして、ＳＭ領域からＰＡ領域まではプリ
フォーマット部で５２バイト、次の領域はフラグ部で１
４バイト、次のＶＦＯ３からの３つの領域はデータ部で
１２７４バイト、最後にバッファ２０バイトとなってい
る。プリフォーマット部は、アドレス部とも呼ばれ、製
造時に既にプリフォーマットされており、セクタのアド
レス等が書き込まれている。フラグ部はセクタの状態を
示し、データ部はユーザが書きたいデータを書く領域で
ある。またバッファは、データ記録時にディスクの回転
に変動があっても、次のセクタのＳＭ等を書き換えない
ようにするために設置されている。

【００６３】この光磁気ディスクの回転数を２４００ｒ
ｐｍとするとき、チャンネルビットレートは７．４Ｍｂ
ｐｓである。またデータ部での線速範囲は７．５４ｍ／
ｓ〜１５．１ｍ／ｓであり、メイン／サブビーム間距離
は２０μｍであることから、上述の（数６）式において
Ｎｂ＝（２０×１０^-6／７．５４）×７．４×１０⁶≒
２０ch.bitとなる。

【００６４】そこで（数５）を満たすために、図３に示
すディスクフォーマットにおける、フラグ部内のＡＬＰ
Ｃ（オート・レーザ・パワー・コントロール）領域１０
１の２Ｂｙｔｅを試し書きに用いた。（２，７）ＲＬＬ
ピットポジション記録においては、１Ｂｙｔｅは１６c
h.bitであり、２Ｂｙｔｅは３２ch.bitである。よって
（数５）から、試し書きデータを記録するチャンネルビ
ット数Ｎｔは１２ch.bitとなる。

【００６５】なお、（数５）の関係は、試し書き領域の
手前の領域が消去や記録によってシステム動作上影響を
与える領域の場合に適用されるのであって、システム動
作上影響を与えない領域の場合には影響を与える領域Ｎ
ｂは必要ない。例えばＩＳＯ５．２５インチＭＯフォー
マットにおいてＡＬＰＣ領域１０１の手前はＧａｐ（ギ
ャップ）領域１０２であり、消去に使用しても影響はな
いので、ＡＬＰＣ領域１０１の前半１Ｂｙｔｅ（１６c
h.bit）を用いてもよい。

【００６６】この試し書きの流れを図４のフローチャー
トを参照して説明する。まず、記録する最初のセクタの
あるトラックへビームを移動させる。次に変調のマーク
ポジション記録における最短マークである３Ｔ信号を４
回すなわち１２ch.bitを、セクタ内の上述のＡＬＰＣ領
域１０１の後半１６ch.bitに繰り返し書き込む。この試
し書きは、記録を行う最初のセクタの手前のセクタを用
いて行い、セクタ毎に指定した記録パワーで記録する。
より良い精度で最適記録パワーを求めるためには、試し
書きのレーザパワーを階段的に変化させると共に、この
階段的変化の分割数を多くする。この場合、そのレーザ
パワーの分割数と同数のセクタが必要になる。

【００６７】次に、記録を行う前に先行のサブビームが
試し書きを行った領域に入ったときに、試し書き情報検
出用のパワーでレーザを発光させる。このときメインビ
ームはＡＬＰＣエリアの最初の１Ｂｙｔｅを通過してい
て、ここで図１におけるＡＰＣ回路ディテクタ２４の信
号をモニターして、正しい消去パワーすなわち正しい先
行するサブビームの読み出しパワーであることの確認を
行う。この状態において、サブビームで試し書きデータ
の再生および検出を行う。この検出結果をもとに最適記
録パワーを設定し、データエリアへの記録を行う。この
場合メインビームが試し書きデータ上を通過するときに
変調磁界データを１方向に揃えるもしくは磁界強度を０
にすることにより、次に試し書きを行う際に、オーバー
ライトによる前に記録した試し書き情報の消し残りの影
響を受けない構成となっている。

【００６８】次に上述の試し書きデータの検出につい
て、その方法を説明する。図５にその回路構成の一例の
ブロック図を示すように、コンパレータ４１の一方の入
力端子ｔ₁に、前述したように先行するサブビームによ
って再生した試し書き信号を入力し、他方の入力端子ｔ
₂に基準電圧を入力し両者の比較を行ってラッチ回路４
２によってラッチし、再生データ抽出手段４７によって
抽出する。一方、ラッチ回路４２へのクロック信号は、
通常の信号の再生におけると同様に、ディスクにプリフ
ォーマットされている時間軸の基準信号をメインビーム
によって再生して、これを波形整形回路４４によって波
形整形して２値化し、これをＰＬＬ（Phase Locked Loo
p ）回路４５によって連続クロックとし、さらにこれを
ディレイ回路４６によってメインビームとサブビームの
位相ずれを補正して得る。このようにして試し書きの基
準レベルとの比較判定を各セクタ毎に行い、再生データ
検出が可能であったかどうかを判断する。

【００６９】ここで、記録パワーを、Ｐ₁、Ｐ₂、
Ｐ₃、‥‥Ｐ_m‥‥Ｐ_nに段階的に順次大に変化させる
場合、基準レベルを実際に書き込んで、データ検出が可
能となる最小レベルと対応させる。いま、最初の記録パ
ワーＰ₁から順番に比較判定を行い、試し書きデータ検
出の判断が良（合格）となる最初のパワーがデータ検出
最小パワーとなる。このパワーをＰ_mとすると、Ｐ_m+2
が不良と判定されればＰ_m+ ₁を、良と判定されればＰ
_m+2を記録パワーと決定する。なおこのときＰ_m+1も不
良の場合はＰ_mとする。検出結果がすべて不良であった
場合は再記録を行い、再度すべて不良であれば記録動作
を停止させるものとする。

【００７０】次に、最適記録パワーの検出を行った例を
示す。

【００７１】本例では、設定記録パワーをＰ₄として、
Ｐ₄に対して３０％小さいパワーをＰ₁として、低パワ
ー側から１０％ずつＰ₁〜Ｐ₅まで５段階変化（Ｐ₄の
７０％〜１１０％）させて記録を行った。この場合使用
するセクタ数は５セクタである。また、Ｐ₅の段階で試
し書き情報を検出した後、メインビームで試し書き領域
の消去を行う。すなわちＰｗ＝Ｐ₅とする。

【００７２】実施例１上述の光学系の設定値を、Ｐｏ＝３５ｍＷ、α＝０．３
５、ａ＝８３％、ｂ＝７％、Ｐｍｉｎ＝０．６ｍＷ、Ｐ
₄＝９ｍＷとした記録再生装置を用意する。このとき、
Ｐｗ＝Ｐ₅＝９．９ｍＷ、Ｐｍｉｎ×（ａ／ｂ）＝７．
１ｍＷ、Ｐｏ×α×（ａ／１００）＝１０．２ｍＷとな
り（数１）を満たす。また再生パワーはＰｒ＝０．７６
ｍＷとなる。

【００７３】図９に概略断面図を示す、上述の第１の誘
電体層５、記録磁性層６、第２の誘電体層７、金属膜に
よる反射層８の膜厚がそれぞれ、１１０ｎｍ、２３ｎ
ｍ、３５ｎｍ、６０ｎｍである光磁気ディスクＡを用意
する。

【００７４】これに対し、ドライブ回転数２４００ｒｐ
ｍ、記録時線速１０．０ｍ／ｓの条件で試し書きを行
い、試し書き情報を検出した。

【００７５】検出結果の判定表を表１に示す。×印は判
定結果が不良の場合、○印は判定結果が良である場合を
示す。

【００７６】

【表１】

【００７７】上述のアルゴリズムにより、表１の判定表
から、最適記録パワーは９．０ｍＷ（Ｐ₄）と判定し
た。判定の結果の妥当性を確認するために、実際に６〜
１１ｍＷの記録パワーで記録を行い、そのエラーレート
を測定した結果を図６に示す。この図６から明らかなよ
うに、検出判定した最適記録パワーＰ₄は、エラーレー
トに対して充分な記録パワーマージンを有することがわ
かった。

【００７８】実施例２図９に示す金属膜による反射層８の膜厚が８０ｎｍであ
り、その他の層はディスクＡと同じ膜厚であるディスク
Ｂを用意する。記録再生装置やその他の検出条件を実施
例１と同様にして試し書きを行い、試し書き情報の検出
を行った。検出結果の判定表を表２に示す。

【００７９】

【表２】

【００８０】表２の判定結果から、Ｐ₅＝９．９ｍＷを
最適記録パワーと判断した。また、実際に記録を行い、
エラーレートを測定した結果を図７に示す。実施例１と
同様に、判定したＰ₅で記録した場合に充分な記録パワ
ーマージンを有することが明らかである。

【００８１】以上から記録感度が異なる光磁気ディスク
に記録を行う場合にも、試し書きから求めた最適記録パ
ワーを使用することで、良好な記録再生特性が得られる
ことが確認された。

【００８２】また本実施例においては、記録レーザパワ
ーを連続照射させる磁界変調記録方法を用いているが、
記録レーザパワーを磁界変調データに同期させるパルス
発光型の磁界変調方法によっても同様の方法で、試し書
きで検出、判定が可能である。この場合に試し書き情報
を検出させるためのレーザパワーは、ピークパワーＰｗ
ｐ［ｍＷ］とパルスデューティーをｄ［％］で表される
平均パワーＰａｖｅ（Ｐｗｐ×ｄ）をＰｗとして、これ
が前述の（数１）を満たすようにすればよい。

【００８３】尚、上述した実施例における光磁気記録媒
体（光磁気ディスク）においては、その磁性層が記録磁
性層の単層とした場合であるが、再生層、記録層等の積
層構造による磁性層構造とすることもできるなど、上述
の実施例に限られるものではない。

【００８４】上述のように、試し書きを行うことによ
り、ディスクの記録感度変化やドライブ内の環境条件変
化時などの場合においても最適記録パワーで記録を行う
ことができる。

【００８５】尚、上述の実施例は本発明の一例であり、
本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取
り得る。

【００８６】

【発明の効果】上述したように本発明によれば、データ
を記録する領域の直前の領域に試し書きを行い、先行さ
せたサブビームで試し書きによる記録信号を再生し検出
することにより、データの記録に最適な記録パワーを算
出することができる。従ってこの最適記録パワーで記録
を行うことにより、ディスクの記録感度の変化やドライ
ブ内の温度変化が生じた場合においても良好な記録再生
特性を得ることができる。これにより記録および再生の
信頼性が向上することとなる。

【００８７】そして、特に本発明による光磁気記録方法
では、記録時に要するディスクの回転数が、従来の試し
書きを行う方法よりも１回少なくなり、平均アクセス時
間は短くなる。従って、記録の高速化が図られ、データ
の書き込みおよび転送速度も向上し、作業の効率が高ま
ることになる。

【００８８】また、上述したように、本発明では、メイ
ンビームとサブビームとを利用するものであるが、これ
らビームは、例えばトラッキングサーボ用の０次光と±
１次光を用いる３スポット法により通常の光記録方法に
適用されており、何ら特段の手段を設けることがないの
で、構成の複雑化を来すことがない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気記録方法に用いられる光学系の
概略構成図である。

【図２】本発明の光磁気記録方法に用いられる３つのビ
ームによる記録再生方式の一例の概略図である。

【図３】本発明の光磁気記録方法に用いる光磁気記録媒
体の一例のＩＳＯ５．２５ｉｎｃｈ光磁気ディスクのセ
クターフォーマットの構成図である。

【図４】本発明の光磁気記録方法による最適パワーの検
出・設定方法の一例を示すフローチャートである。

【図５】本発明の光磁気記録方法による最適パワーの検
出方法の一例を示すブロック図である。

【図６】実施例１における記録パワーとエラーレートと
の関係を示す図である。

【図７】実施例２における記録パワーとエラーレートと
の関係を示す図である。

【図８】従来の光磁気記録方法と本発明の光磁気記録方
法において試し書きに必要なディスク回転数を比較説明
する図である。

【図９】本発明の光磁気記録方法を適用する光磁気記録
媒体の一例の構成図である。

【符号の説明】

１基板２記録層３保護膜４保護膜（ハードコート）５第１の誘電体層６記録磁性層７第２の誘電体層８反射層１１レーザ１２コリメータレンズ１３グレーティング１４ビームスプリッタ（ＢＳ）１５対物レンズ１６光磁気ディスク１７１／２波長板１８シリンドリカルレンズ１９偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２０、２１光検出素子２２磁気ヘッド２４ＡＰＣディテクタ２５磁界駆動回路２６ＡＰＣ回路２７ＬＤドライバ２８ＬＤ制御回路２９作動アンプ３１グルーブ３２ランド３４、３６サブスポット３５メインスポット３７記録ピットＶ基準電圧４１コンパレータ４２ラッチ回路４４波形整形回路４５ＰＬＬ回路４６ディレイ回路４７再生データ抽出手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光磁気記録媒体にレーザビームを連続的
照射もしくはパルス照射し、外部磁界の印加によって記
録を行う磁界変調記録方法による光磁気記録方法におい
て、少なくともメインビームと、これに先行して上記光磁気
記録媒体上を移行するサブビームの２つ以上のレーザビ
ームを用い、データ記録の前に、データ記録領域の直前の領域を試し
書き領域として試し書き情報を記録する工程と、この記録された試し書き領域を上記先行サブビームで上
記試し書き情報を再生した後に、上記メインビームで上
記試し書き情報を消去する工程と、上記試し書き情報の再生信号から上記データ記録のレー
ザビームの最適パワーを検出する工程とを採ることを特
徴とする光磁気記録方法。
【請求項２】上記試し書き情報の記録を、この記録を
行うレーザビームのパワーを階段的に変化させて行うこ
とを特徴とする請求項１に記載の光磁気記録方法。
【請求項３】上記少なくともメインビームと、これに
先行して上記光磁気記録媒体上を移行するサブビームの
２つのレーザビームを取り出す共通の半導体レーザの定
格出力をＰｏ、上記光磁気記録媒体の上記試し書き情報の検出時のパワ
ーをＰｗ、再生時に必要な最低パワーをＰｍｉｎ、上記半導体レーザの出射光量と上記光磁気記録媒体への
到達光量比をα、上記メインビームの分割光量比をａ、上記サブビームの分割光量比をｂとするとき、Ｐｍｉｎ×（ａ／ｂ）＜Ｐｗ＜Ｐｏ×α×（ａ／１０
０）とすることを特徴とする請求項１または２に記載の光磁
気記録方法。
【請求項４】上記メインビームとこれに先行する上記
サブビームとの上記光磁気記録媒体上での距離をｄ、上記光磁気記録媒体の最低線速度をＶｍｉｎ、上記光磁気記録媒体のチャンネルビットレートをＣ、上記試し書き情報を実際に記録する領域のチャンネルビ
ット数をＮｔ、上記試し書きに最低限必要とする領域をＮとするとき、Ｎ＞Ｎｔ＋（ｄ／Ｖｍｉｎ）×Ｃとすることを特徴とする請求項１、２または３に記載の
光磁気記録方法。
【請求項５】上記光磁気記録媒体の、各セクタ内のオ
ート・レーザ・パワー・コントロール部と、その直前の
ギャップ部の一方もしくは両方を、上記最適記録パワー
を検出する試し書き領域とすることを特徴とする請求項
１、２、３または４に記載の光磁気記録方法。