JPH08203965A - Bonding tool and lead connection structure body - Google Patents

Bonding tool and lead connection structure body

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JPH08203965A
JPH08203965A JP1272295A JP1272295A JPH08203965A JP H08203965 A JPH08203965 A JP H08203965A JP 1272295 A JP1272295 A JP 1272295A JP 1272295 A JP1272295 A JP 1272295A JP H08203965 A JPH08203965 A JP H08203965A
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lead
divided
bonding tool
leads
rows
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直樹 迫田
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Abstract

PURPOSE: To realize collective connection of total leads with high reliability, independently of the reduction of lead pitch and lead width and multilead configuration which are caused by high density high level integration of electronic components. CONSTITUTION: A leading-out lead 19 extruded from a TAB package is made to abut against an electrode 17 on a circuit board 16, and connected with the electrode 17 by heating and pressing with a bonding tool 31 descending from above. Divided pressing parts 32a, 32b which are divided into two rows of inside and outside are collectively fixed, via solder material, to the tip part of body material 34 of the bonding tool 31. The gap 32a, of the outside divided pressing part 32a faces the inside divided pressing part 32b in the inside outside direction. The gap 32b, of the inside divided pressing part 32b faces the outside divided pressing part 32a, in the inside outside direction.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、回路基板の電極に対し
て集積回路素子等の電子部品からの外部引き出しリード
を加熱加圧により接続するボンディングツール、およ
び、ボンディングツールによって接続されて製作される
リード接続構造体に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bonding tool for connecting an external lead lead from an electronic component such as an integrated circuit element to an electrode of a circuit board by heating and pressing, and a connecting tool manufactured by the bonding tool. And a lead connection structure.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体チップから外部へ電気的導
通を得るための接続方法として、機器の付加価値の向上
に寄与する立体的な実装、電気的特性検査の容易性、薄
型で小型なパッケージ化が可能である等の特長を有する
TAB(Tape Automated Bonding)方式が広く採用され
ている。
2. Description of the Related Art In recent years, as a connection method for obtaining electrical continuity from a semiconductor chip to the outside, three-dimensional mounting contributing to improvement of added value of equipment, ease of electrical characteristic inspection, thin and small package The TAB (Tape Automated Bonding) method, which has the advantages of being able to be used, is widely adopted.

【0003】このTAB方式の接続に関しては、フィル
ムキャリアのインナーリードと半導体チップの電極とを
突起電極(バンプ)を介して接続するインナーリードボ
ンディング工程と、フィルムキャリアのアウターリード
と回路基板の電極同士を接続するアウターリードボンデ
ィング工程とがある。
Regarding the TAB connection, an inner lead bonding step of connecting the inner leads of the film carrier and the electrodes of the semiconductor chip via protruding electrodes (bumps), and the outer leads of the film carrier and the electrodes of the circuit board are connected to each other. There is an outer lead bonding process for connecting.

【0004】以下、後者のアウターリードボンディング
工程について、図5を用いて説明する。
The latter outer lead bonding step will be described below with reference to FIG.

【0005】ボンディングツール11は、ボディ(シャ
ンク)材14の先端部にろう材13を介して加圧部12
を接合した状態に構成されている。
The bonding tool 11 includes a pressurizing portion 12 via a brazing material 13 at the tip of a body (shank) material 14.
Are joined together.

【0006】インナーリードボンディング工程の後に、
樹脂塗布工程、電気検査工程を終了し、良品と判定され
たサンプルは、長尺なポリイミド製等の有機フィルム2
1上から、パンチングおよび外部引き出しリード19の
フォーミングをする。有機フィルム21上のインナーリ
ードは半導体チップ20に対して突起電極22を介して
接続されている。フォーミングされたTABパッケージ
18は、このパッケージ18におけるSnやハンダまた
はAuでメッキされた外部引き出しリード19を、Sn
やハンダまたはAuで処理された回路基板16上の電極
17に位置合わせし対接させる。回路基板16は予めボ
ンディングステージ15上に位置決め状態で載置されて
いる。
After the inner lead bonding process,
Samples judged to be non-defective after the resin coating process and electrical inspection process are completed are long organic film 2 made of polyimide or the like.
From above, punching and forming of the external lead 19 are performed. The inner leads on the organic film 21 are connected to the semiconductor chip 20 via protruding electrodes 22. The formed TAB package 18 has Sn or solder or Au plated external lead leads 19 in the package 18 as Sn.
It is aligned with and brought into contact with the electrode 17 on the circuit board 16 treated with solder or Au. The circuit board 16 is previously mounted on the bonding stage 15 in a positioned state.

【0007】次に、250〜500℃に加熱されたボン
ディングツール11を下降させ、50〜100g/リー
ドの圧力で0.5〜3.0秒の間、加圧部12によりリ
ード19と回路基板16の電極17との接触部を加熱加
圧し、全リードを一括的に熱圧着接続する。ボンディン
グステージ15は、ボンディング時の熱衝撃を緩和する
ため、内蔵しているヒーター23によって、通常、ボン
ディング温度以下の150℃前後の温度に予備加熱され
ている。ここで、リード19がSnメッキされ、回路基
板16の電極17がAu処理されている場合、共晶合金
ができ、それによって接続される。なお、リード19や
電極17の表面処理の材料等に応じて、上記の接続条件
も適宜選定される。
Next, the bonding tool 11 heated to 250 to 500 ° C. is lowered, and the pressure of the pressure of 50 to 100 g / lead is applied for 0.5 to 3.0 seconds. The contact portion of the electrode 16 with the electrode 17 is heated and pressed, and all the leads are collectively thermocompression bonded. The bonding stage 15 is usually preheated to a temperature of about 150 ° C., which is lower than the bonding temperature, by a built-in heater 23 in order to reduce thermal shock during bonding. Here, when the lead 19 is Sn-plated and the electrode 17 of the circuit board 16 is Au-treated, a eutectic alloy is formed and is connected by it. The above-mentioned connection conditions are appropriately selected according to the material of the surface treatment of the leads 19 and the electrodes 17.

【0008】このようなボンディングに使用されるボン
ディングツール11の加熱方式には、ボンディング時の
みボンディングツール11に瞬間的にパルス電流を流し
て加熱する「パルスヒート方式」と、ボンディングツー
ル11にヒーター24を内蔵し、常時的に加熱する「コ
ンスタントヒート方式」とがある。
The heating method of the bonding tool 11 used for such bonding is a "pulse heating method" in which a pulse current is instantaneously applied to the bonding tool 11 for heating only during bonding, and a heater 24 is used for the bonding tool 11. There is a "constant heat system" that has a built-in, and constantly heats.

【0009】コンスタントヒート方式のボンディングツ
ール11は、図6の(a)に示すように、一般的に、ボ
ディ材14にステンレス鋼や超鋼材を用い、加圧部12
には硬度面やクリーニング性から焼結ダイヤモンドやC
BN(Cubic Boron Nitride)等を用い、Ag等のろう
材13を介してボディ材14に加圧部12を接合した構
造となっている。
In the constant heat type bonding tool 11, as shown in FIG. 6 (a), generally, a stainless steel or a super steel material is used for the body material 14, and the pressing portion 12 is used.
In terms of hardness and cleaning properties, is sintered diamond or C
The pressure unit 12 is joined to the body member 14 through a brazing filler metal 13 such as Ag using BN (Cubic Boron Nitride).

【0010】従来、ボンディングツール11の先端の加
圧部12の形状としては、図6の(b)に示すように、
先端部表面の4辺に沿って一文字型の加圧部12aを4
つ分離して形成したものや、図6の(c)に示すよう
に、一文字型の加圧部を各辺ともに等分割した加圧部1
2bに形成したものがある。
Conventionally, as the shape of the pressing portion 12 at the tip of the bonding tool 11, as shown in FIG.
Along the four sides of the front surface of the tip part, the letter-shaped pressure part 12a is
6 separately formed, or as shown in FIG. 6C, a pressure part 1 in which a single-character pressure part is equally divided on each side.
2b is formed.

【0011】図6の(b)に示す4辺がいずれも一文字
型の加圧部12aの場合には、ボンディングツール11
の形状や素材の熱伝導率に起因した温度分布のばらつき
や、加圧部12aをボディ材14にろう付けしたときの
素材間の熱膨張差のために、常温で加圧部12aを平面
に加工しても、高温にすると、加圧部12aに凹状の大
きな反りが発生する。これは、加圧部12aが比較的細
長いことによる。チップサイズの大型化に伴い、ボンデ
ィングツール11の先端部サイズが大きくなると、加圧
部12aがさらに長くなり、その反りの傾向が増大す
る。
In the case where the four sides shown in FIG. 6 (b) are the pressing portions 12a each having a single letter shape, the bonding tool 11 is used.
Due to the variation in temperature distribution due to the shape and the thermal conductivity of the material, and the difference in thermal expansion between the materials when the pressure member 12a is brazed to the body material 14, the pressure member 12a becomes flat at room temperature. Even if it is processed, when it is heated to a high temperature, a large concave warp is generated in the pressing portion 12a. This is because the pressing portion 12a is relatively elongated. As the tip size of the bonding tool 11 increases as the chip size increases, the pressurizing portion 12a becomes longer and the tendency of warping increases.

【0012】例えば、加圧部12aがインコネル(熱膨
張係数:16.0×10-6/℃)で各辺が20mm×1
mmのサイズとなっているボンディングツール11で、
300℃に加熱した場合、加圧部12aの両端で40μ
m以上の歪みが生じ、凹状の反りが発生する。すなわ
ち、一文字型の加圧部12aでリード19と電極17と
の接続を行うと、接続時の加熱により加圧部12aの表
面に凹状の大きな反りが発生し、各コーナー部に強い圧
力が加わり、また、各コーナー部の間にあるリード19
には充分な圧力を加えることができず、接続不良に至
る。
For example, the pressure part 12a is made of Inconel (coefficient of thermal expansion: 16.0 × 10 -6 / ° C.) and each side is 20 mm × 1.
With the bonding tool 11 having a size of mm,
When heated to 300 ° C, 40μ at both ends of the pressure part 12a
A strain of m or more occurs and a concave warp occurs. That is, when the lead 19 and the electrode 17 are connected to each other by the one-character type pressurizing portion 12a, a large concave warp is generated on the surface of the pressurizing portion 12a due to heating at the time of connection, and a strong pressure is applied to each corner portion. , And the lead 19 between each corner
Insufficient pressure cannot be applied to the tube, resulting in poor connection.

【0013】上述したような理由により、一般的には、
全リードを一括して接続する場合には、図6の(c)に
示す各辺の一文字型を等分割した分割加圧部12bを複
数個有するボンディングツール11が使用されている。
このボンディングツールにおいては、1つ1つの分割加
圧部12bが短いので、反りの発生を抑制することがで
きる。
For the reasons mentioned above, in general,
In the case of connecting all the leads at once, the bonding tool 11 having a plurality of divided pressing portions 12b obtained by equally dividing the one-letter shape on each side shown in FIG. 6C is used.
In this bonding tool, since each of the divided pressing portions 12b is short, it is possible to suppress the occurrence of warpage.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
LSIなどの半導体チップの高密度・高集積化に伴うI
/Oポート数の増加(多リード化)やリードピッチ、リ
ード幅の縮小化の傾向があり、図6の(c)に示す各辺
の一文字型を等分割した加圧部12bを複数個有するボ
ンディングツール11であっても、図7に示すように、
外部引き出しリード19を回路基板16の電極17に一
括的に接続する場合、リード19のピッチやリード幅に
よっては、分割加圧部12bにより正しい位置関係で対
応せず、隣接する分割加圧部12bの隙間12b1 の箇
所にリード19が対応すると充分な圧力を受けられない
19aで示すようなリードが生じてしまい(一方はリー
ド自体に全く加圧されていないし、もう一方はリードに
ボンディングツールの加圧部が片当たりした結果、リー
ドが傾いている)、満足な接続状態が得られず、接続信
頼性が不良となるという問題がある。
However, in recent years,
I for high density and high integration of semiconductor chips such as LSI
There is a tendency for the number of / O ports to increase (more leads), lead pitch, and lead width to decrease, and there are a plurality of pressure portions 12b obtained by equally dividing one letter type on each side shown in FIG. 6C. Even with the bonding tool 11, as shown in FIG.
When the external lead-out leads 19 are collectively connected to the electrodes 17 of the circuit board 16, depending on the pitch or the lead width of the leads 19, the divided pressurizing portions 12b do not correspond in a correct positional relationship, and the adjacent pressurizing portions 12b adjacent to each other. When the lead 19 corresponds to the gap 12b 1 of the above, a lead as shown by 19a which cannot receive sufficient pressure is generated (one is not pressed to the lead itself, and the other is attached to the lead by a bonding tool). As a result of one-sided contact of the pressure part, the leads are tilted), a satisfactory connection state cannot be obtained, and the connection reliability becomes poor.

【0015】これは、高温時の反りを抑制するために、
その加圧部12bとして1辺を複数に分割したことに原
因がある。その反面、加圧部を長くすると、凹状の反り
が生じて、やはり接続信頼性の低下を招く。
This is because in order to suppress warpage at high temperature,
This is because the pressing portion 12b has one side divided into a plurality of parts. On the other hand, if the pressurizing portion is lengthened, a concave warp occurs, which also leads to a decrease in connection reliability.

【0016】本発明は、このような事情に鑑みて創案さ
れたものであって、進展する半導体チップ等の電子部品
の高密度・高集積化に伴うリードピッチ、リード幅の縮
小化および多リード化にかかわらず、全リードの一括的
接続を高い接続信頼性のもとで実現できるボンディング
ツールを提供することを目的としており、さらに、高密
度・高集積化された半導体チップ等の電子部品を実装す
るものでありながら高い接続信頼性をもったリード接続
構造体を提供することを目的としている。
The present invention was conceived in view of the above circumstances, and leads to a reduction in lead pitch, lead width, and a large number of leads, which accompanies the higher density and higher integration of electronic components such as semiconductor chips. The aim is to provide a bonding tool that can achieve a collective connection of all leads with high connection reliability, regardless of the trend toward higher density. It is an object of the present invention to provide a lead connection structure which is mounted but has high connection reliability.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明に係わる請求項1
のボンディングツールは、ボディ材の先端部の各辺にそ
れぞれ、少なくとも2列以上で各列ともに複数個に分割
された加圧部が一体的に固着されており、前記2列以上
の分割加圧部の列は、外側に位置する分割加圧部の一部
分と内側に位置する分割加圧部の一部分とが内外方向で
重なり合い、外側の分割加圧部の隣接するもの同士間の
隙間が内側の分割加圧部に対して内外方向で対向する状
態に配列されていることを特徴とするものである。
A first aspect of the present invention.
In the bonding tool described in (1), at least two rows of pressurizing portions, each of which is divided into a plurality of rows, are integrally fixed to each side of the tip portion of the body material. In the row of parts, a part of the divided pressurizing section located on the outside and a part of the divided pressurizing section located on the inner side are overlapped in the inward and outward directions, and a gap between adjacent parts of the outer divided pressurizing section is the inner side. It is characterized in that they are arranged so as to face the divided pressurizing portions in the inward and outward directions.

【0018】本発明に係わる請求項2のボンディングツ
ールは、上記請求項1において、内外の分割加圧部の列
が2列であり、各列の分割加圧部は等分割されて長さが
ほぼ等しくなっており、外側の分割加圧部の隙間が内側
の分割加圧部の長さ方向のほぼ中央に位置していること
を特徴とするものである。
A bonding tool according to a second aspect of the present invention is the bonding tool according to the first aspect, in which the rows of the inner and outer split pressurizing portions are two rows, and the split pressurizing portions of each row are equally divided to have a length. They are substantially equal to each other, and the gap between the outer divided pressurizing portions is located substantially at the center of the inner divided pressurizing portions in the length direction.

【0019】本発明に係わる請求項3のリード接続構造
体は、上記請求項1または請求項2のボンディングツー
ルによって製作されるリード接続構造体であって、電子
部品から延出された多数のリードと回路基板上の多数の
電極とが対接されてボンディングされており、電極に対
するリードのリード長手方向での接続位置が互いに同一
位置ではないことを特徴とするものである。
The lead connection structure according to claim 3 of the present invention is the lead connection structure manufactured by the bonding tool according to claim 1 or 2, wherein a large number of leads extending from the electronic component are provided. And a large number of electrodes on the circuit board are contacted and bonded to each other, and the connection positions of the leads to the electrodes in the lead longitudinal direction are not the same position.

【0020】本発明に係わる請求項4のリード接続構造
体は、上記請求項3において、電極に対するリードのリ
ード長手方向での接続位置が、隣接リードごとに交互に
前後して全体として千鳥状の配列になっていることを特
徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the lead connecting structure according to the third aspect, wherein the connecting positions of the leads with respect to the electrodes in the longitudinal direction of the lead are alternately staggered for each adjacent lead, and are arranged in a zigzag shape as a whole. It is characterized by being arranged.

【0021】[0021]

【作用】請求項1のボンディングツールにおいては、各
列の加圧部のいずれもが複数個に分割され、個々の分割
加圧部の長さが短くなっているので、高温時の反りが防
止される。しかも、外側の分割加圧部での隙間を内側の
分割加圧部でカバーするとともに、内側の分割加圧部で
の隙間を外側の分割加圧部でカバーするような形態とな
っているから、すべてのリードがいずれかの分割加圧部
で加圧されることになり、半導体チップ等の電子部品の
高密度・高集積化に伴うリードピッチ、リード幅の縮小
化および多リード化にかかわらず、各辺においてリード
と電極との接続不良が発生する領域がなくなる。
In the bonding tool according to the first aspect of the present invention, since each of the pressing parts in each row is divided into a plurality of parts, and the length of each divided pressing part is shortened, warpage at high temperature is prevented. To be done. In addition, since the gap in the outer split pressurizing portion is covered by the inner split pressurizing portion, the gap in the inner split pressurizing portion is covered by the outer split pressurizing portion. Since all the leads are pressed by one of the divided pressing parts, the lead pitch, the lead width can be reduced and the number of leads can be increased in accordance with the high density and high integration of electronic components such as semiconductor chips. In addition, there is no region where a defective connection between the lead and the electrode occurs on each side.

【0022】請求項2のボンディングツールにおいて
は、反りの防止と全リード一括接続との双方を満足しな
がら、最も簡単な構造であり、しかもすべての接続箇所
の接続状態を均一化する。
In the bonding tool according to the second aspect of the present invention, both the prevention of warpage and the collective connection of all leads are satisfied, the structure is the simplest, and the connection state of all connection points is made uniform.

【0023】請求項3、請求項4のリード接続構造体に
おいては、高密度・高集積化された半導体チップを実装
するもので、リードピッチ、リード幅の縮小化および多
リード化されているにもかかわらず、すべてのリードに
ついて回路基板上の電極との接続信頼性が高いものとな
る。
In the lead connection structure according to the third and fourth aspects, the semiconductor chip with high density and high integration is mounted, and the lead pitch and lead width are reduced and the number of leads is increased. Nevertheless, all the leads have high reliability of connection with the electrodes on the circuit board.

【0024】[0024]

【実施例】以下、本発明に係わるボンディングツールの
一実施例およびそのボンディングツールによって接続さ
れて製作されたリード接続構造体の一実施例を図面に基
づいて詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a bonding tool according to the present invention and an embodiment of a lead connection structure connected and manufactured by the bonding tool will be described in detail below with reference to the drawings.

【0025】図1の(a)は実施例に係わるボンディン
グツールの先端部の加圧部の配列をボンディングツール
を上下逆さまにして見たときの斜視図、図1の(b)は
図(a)の状態での加圧部の配列を示す平面図、図1の
(c)はボンディングツールを正規の姿勢にしたときの
下側部分の正面図である。図2はボンディング動作中の
様子を示す要部の概略的な正面図、図3は図2に対応し
たボンディング状態を1辺のみについて示す要部の平面
図、図4は製作されたリード接続構造体の概略的な斜視
図である。図2,図3において、図示された電極17お
よびリード19の数は6本だけであるが、実際には50
〜100本程度であり、そのまま図示すると難解である
ので、理解しやすいように6本だけとしたものである。
FIG. 1 (a) is a perspective view of the bonding tool arrangement according to the embodiment when the bonding tools are arranged upside down when the pressing portions at the tip are arranged upside down, and FIG. 1 (b) is shown in FIG. ) Is a plan view showing the arrangement of the pressurizing sections in the state of FIG. 1C, and FIG. 1C is a front view of the lower side portion when the bonding tool is in the normal posture. 2 is a schematic front view of a main part showing a state during a bonding operation, FIG. 3 is a plan view of the main part showing a bonding state corresponding to FIG. 2 on only one side, and FIG. 4 is a manufactured lead connection structure. It is a schematic perspective view of a body. In FIG. 2 and FIG. 3, the number of electrodes 17 and leads 19 shown is only six, but in reality
The number is up to about 100, which is difficult to understand as it is, so only 6 are provided for easy understanding.

【0026】ボンディングツール31は、そのボディ
(シャンク)材34の先端部において、正方形の4つの
各辺に沿ってそれぞれ、2列で各列とも複数個に分割さ
れた外側の分割加圧部32aと内側の分割加圧部32b
とをろう材33を介して一体的に固着された状態に構成
されている。ボディ材34はステンレス鋼や超鋼材で構
成され、各分割加圧部32a,32bは焼結ダイヤモン
ドやCBN(Cubic Boron Nitride )等から構成され、
ろう材33としてはAgろうなどが使用されている。
The bonding tool 31 has an outer divided pressurizing portion 32a which is divided into a plurality of rows in two rows along each of the four sides of the square at the tip of the body (shank) material 34. And the inner pressurizing section 32b
And the brazing filler metal 33 are integrally fixed to each other. The body material 34 is made of stainless steel or super steel material, and the divided pressing portions 32a, 32b are made of sintered diamond, CBN (Cubic Boron Nitride), or the like.
Ag brazing or the like is used as the brazing material 33.

【0027】外側の分割加圧部32aは1辺を4つに等
分割した構造となっており、内側の分割加圧部32bは
1辺を3つに等分割した構造となっている。1辺の全長
は約20mmであり、各分割加圧部32a,32bのサ
イズについては、各分割加圧部を熱収縮率が非常に小さ
い焼結ダイヤモンド(熱膨張係数:3.0〜3.8×1
-6/℃)で構成し、400℃程度に昇温した場合で
も、熱歪みにより発生する反りがリード19と回路基板
16の電極17との接続不良が発生しない程度の寸法、
すなわち、長さが4mm程度、厚さが0.2mm程度と
なっている。
The outer divided pressure portion 32a has a structure in which one side is equally divided into four, and the inner divided pressure portion 32b has a structure in which one side is equally divided into three. The total length of one side is about 20 mm, and regarding the size of each divided pressing portion 32a, 32b, the sintered diamond (coefficient of thermal expansion: 3.0 to 3. 8x1
Constituted by 0 -6 / ° C.), even when heated to about 400 ° C., the extent of dimension connection failure does not occur in the warp caused by thermal strain and electrode 17 of lead 19 and the circuit board 16,
That is, the length is about 4 mm and the thickness is about 0.2 mm.

【0028】外側の分割加圧部32aも内側の分割加圧
部32bも共に等分割され、それぞれ長さが等しくなっ
ている。外側の分割加圧部32aの各一部分と内側の分
割加圧部32bの各一部分とが内外方向で重なり合って
いる。外側の分割加圧部32aの隣接するもの同士間の
隙間32a1 は、内側の分割加圧部32bの長さ方向の
ほぼ中央位置に対して内外方向で対向し、内側の分割加
圧部32bによってカバーされている。同様に、内側の
分割加圧部32bの隣接するもの同士の隙間32b
1 は、外側の分割加圧部32aの長さ方向のほぼ中央位
置に対して内外方向で対向し、外側の分割加圧部32a
によってカバーされている。
Both the outer pressure-applying portion 32a and the inner pressure-applying portion 32b are equally divided and have the same length. Each part of the outer divided pressurizing portion 32a and each part of the inner divided pressurizing portion 32b overlap each other in the inner and outer directions. The gap 32a 1 between adjacent ones of the outer divided pressurizing portions 32a faces the substantially central position in the length direction of the inner divided pressurizing portion 32b in the inner and outer directions, and the inner divided pressurizing portion 32b. Are covered by. Similarly, a gap 32b between adjacent ones of the inner divided pressurizing portions 32b.
1 is opposed to the central position in the lengthwise direction of the outer divided pressing portion 32a in the inner and outer directions, and
Are covered by.

【0029】外側の隙間32a1 の幅と内側の隙間32
1 の幅とはほぼ同じであり、この幅をwで表すと、隙
間幅wはリード19の幅よりも狭い方が好ましいが、4
mm程度の長さの分割加圧部の場合は、隣接する分割加
圧部が昇温によって干渉しあって反りが発生するのを避
けるため、0.1mm以上の幅をとっていれば充分であ
る。本実施例の場合、外側の隙間32a1 を内側の分割
加圧部32bがカバーし、内側の隙間32b1 を外側の
分割加圧部32aがカバーしているので、リード19と
電極17との対接部を圧着しない領域は存在せず、隙間
幅wの上限については特に限定する必要はないのである
が、本実施例の場合には約0.2mmの幅としている。
The width of the outer gap 32a 1 and the inner gap 32
It is almost the same as the width of b 1. When this width is represented by w, it is preferable that the gap width w is narrower than the width of the lead 19.
In the case of a divided pressurizing section having a length of about mm, a width of 0.1 mm or more is sufficient in order to prevent adjacent divided pressurizing sections from interfering with each other due to temperature rise and causing warpage. is there. In the case of the present embodiment, since the outer gap 32a 1 is covered by the inner split pressurizing portion 32b and the inner gap 32b 1 is covered by the outer split pressurizing portion 32a, the lead 19 and the electrode 17 are separated from each other. There is no region where the contact portion is not crimped, and the upper limit of the gap width w need not be particularly limited, but in the case of the present embodiment, it is about 0.2 mm.

【0030】なお、分離された各分割加圧部32a,3
2b個々の形状としては、熱歪みによる反りや変形を考
慮するとなるべく正方形に近い形状が望ましい。元の1
枚板を複数分割して分割加圧部を作る方法は、ワイヤで
削ったり電子ビームによる熱で溶かしたりするものであ
る。
Incidentally, the respective divided pressurizing parts 32a, 3 which are separated from each other.
The shape of each 2b is preferably as close to a square as possible in consideration of warpage and deformation due to thermal strain. Original 1
A method of dividing a single plate into a plurality of parts to form a divided pressing part is to shave with a wire or melt with heat from an electron beam.

【0031】隙間32a1 ,32b1 の深さdは、分割
加圧部32a,32bの高さhよりも小さいが、なるべ
く高さhに近い値とするのが望ましい。それは、加圧部
をボディ材にろう付けするときに、素材間の熱膨張差に
よる分割加圧部の熱歪みによる反りをなるべく減少させ
るためである。なお、深さdを高さhと等しくしてもよ
い。
The depth d of the gaps 32a 1 and 32b 1 is smaller than the height h of the divided pressing portions 32a and 32b, but it is desirable that the depth d be as close to the height h as possible. This is because when brazing the pressurizing portion to the body material, warpage due to thermal strain of the divided pressurizing portion due to a difference in thermal expansion between the materials is reduced as much as possible. The depth d may be equal to the height h.

【0032】図4に示すように、TAB方式によるイン
ナーリードボンディング後、樹脂を塗布し、テープキャ
リアフィルムをパンチングしたTABパッケージ18か
ら多数の外部引き出しリード19が延出されているが、
上記した構成のボンディングツール31は、この多数の
リード19の外側端部と回路基板16上の多数の電極1
7とを位置合わせ対接した状態で、加熱加圧することに
より一体的に接合するものである。
As shown in FIG. 4, after the inner lead bonding by the TAB method, a large number of external lead leads 19 are extended from the TAB package 18 in which resin is applied and the tape carrier film is punched.
The bonding tool 31 having the above-described configuration is provided with the outer ends of the large number of leads 19 and the large number of electrodes 1 on the circuit board 16.
7 and 7 are aligned and in contact with each other, and are integrally joined by heating and pressurizing.

【0033】TABパッケージ18は、約320ピンの
高密度・高集積回路素子であり、チップサイズは約10
mm角である。回路基板16上で電極17に対してリー
ド19をアウターリードボンディングするエリアサイズ
は約20mm角である。回路基板16上の電極17およ
びリード19のピッチは200〜250μm、リード幅
は約80μm、リード厚さは約30μmである。リード
19はCuから構成され、その表面にSnがメッキ処理
されており、電極17の表面はAuメッキ処理されてい
る。
The TAB package 18 is a high density / highly integrated circuit device having about 320 pins and a chip size of about 10
mm square. The area size for outer lead bonding of the lead 19 to the electrode 17 on the circuit board 16 is about 20 mm square. The pitch of the electrodes 17 and the leads 19 on the circuit board 16 is 200 to 250 μm, the lead width is about 80 μm, and the lead thickness is about 30 μm. The lead 19 is made of Cu, the surface of which is plated with Sn, and the surface of the electrode 17 is plated with Au.

【0034】ボンディングステージ15上に回路基板1
6を位置決め状態で載置し、ボンディングステージ15
に内蔵しているヒーター23によって予備加熱してお
く。回路基板16に対して、回路基板16の多数の電極
17にTABパッケージ18の多数の外部引き出しリー
ド19を位置合わせする状態で、TABパッケージ18
を載置する。そして、ボンディングツール31を、内部
のヒーター24で昇温した後に、下降させ、その先端部
の内外2列で四角かつ千鳥状に配列された分割加圧部3
2a,32bによって、互いに対接している多数のリー
ド19と電極17とを一括的にボンディング(接合)す
る。
The circuit board 1 is mounted on the bonding stage 15.
6 is placed in the positioning state, and the bonding stage 15
It is preheated by the heater 23 built in the. With respect to the circuit board 16, the TAB package 18 is aligned with the electrodes 17 of the circuit board 16 and the external leads 19 of the TAB package 18.
Is placed. Then, the bonding tool 31 is heated by an internal heater 24 and then lowered, and the divided pressing portions 3 arranged in a square and staggered manner in two rows inside and outside of the tip portion thereof.
A large number of leads 19 and electrodes 17 that are in contact with each other are collectively bonded (joined) by 2a and 32b.

【0035】ボンディングの条件としては、例えば、ボ
ンディングツール31の温度を400℃程度とし、1リ
ード当たり50g重で3.0秒間にわたって加熱加圧す
るようにした。リード19のSnメッキと電極17のA
uメッキとが溶融し、共晶合金となって接続される。
As the bonding conditions, for example, the temperature of the bonding tool 31 is set to about 400 ° C., and 50 g weight per lead is heated and pressed for 3.0 seconds. Sn plating of lead 19 and A of electrode 17
The u plating melts and forms a eutectic alloy for connection.

【0036】本実施例の場合、各列の加圧部をいずれも
分割加圧部32a,32bとし、個々の分割加圧部の長
さを短くしているので、高温時の反りを防止できる。そ
して、それだけでなく、外側の分割加圧部32aの隙間
32a1 を内側の分割加圧部32bでカバーし、内側の
分割加圧部32bの隙間32b1 を外側の分割加圧部3
2aでカバーしているから、TABパッケージ18の高
密度・高集積化に伴ってリードピッチ、リード幅が縮小
化し多リード化しているにもかかわらず、すべてのリー
ド19に対してそれぞれに対応した電極17への圧着圧
力を充分に与えることができる。つまり、各辺において
リード19と電極17との接続不良の領域の発生をなく
し、全リードの一括的接続を高い接続信頼性のもとで実
現することができる。
In the case of the present embodiment, since the pressurizing portions of each row are divided pressurizing portions 32a and 32b and the lengths of the individual pressurizing portions are shortened, warping at high temperature can be prevented. . Not only that, the gap 32a 1 of the outer divided pressurizing portion 32a is covered by the inner divided pressurizing portion 32b, and the gap 32b 1 of the inner divided pressurizing portion 32b is covered by the outer divided pressurizing portion 3b.
Since it is covered with 2a, the lead pitch and the lead width have been reduced and the number of leads has been increased as the density and integration of the TAB package 18 have increased. A sufficient pressure can be applied to the electrode 17. That is, it is possible to eliminate the occurrence of a defective connection area between the lead 19 and the electrode 17 on each side, and to collectively connect all the leads with high connection reliability.

【0037】また、このようにして製作された図4に示
すリード接続構造体100は、図3からも分かるよう
に、電極17に対するリード19のリード長手方向での
接続位置(小さい黒丸印で示してある)が、同一位置で
はない配列となっている(より具体的には、隣接リード
ごとに交互に前後し、全体として千鳥状の配列となって
いる)。しかし、すべての接続箇所において接続の状態
は均質なものとなっており、すべてのリードについて回
路基板上の電極との接続信頼性を高いものにすることが
できる。また、歩留まりが良いことから、リード接続構
造体100の製造コストを低減することも可能である。
Further, in the lead connection structure 100 shown in FIG. 4 manufactured in this way, as can be seen from FIG. 3, the connection position of the lead 19 to the electrode 17 in the lead longitudinal direction (indicated by a small black circle). However, the arrangement is not at the same position (more specifically, the adjacent leads are alternately arranged back and forth, and the arrangement is staggered as a whole). However, the state of connection is uniform at all connection points, and it is possible to improve the reliability of connection of all leads to the electrodes on the circuit board. Further, since the yield is good, it is possible to reduce the manufacturing cost of the lead connection structure 100.

【0038】なお、本発明は上記実施例によって限定さ
れるものではない。上記実施例では各辺の分割加圧部の
列の数を2列としたが、この列数は3列以上でもよい。
ただし、2列の場合が最も構造が簡単である。上記実施
例では外側の列を4分割し、内側の列を3分割したが、
分割数は2分割以上であればよい。また、各分割加圧部
32a,32bは必ず等分割で構成する必要はないし、
隙間の位置は、カバーされるのであればよく、相手方の
分割加圧部の中央からずれていてもよい。上記実施例で
はボディ材34と分割加圧部32a,32bの材質が相
違していたが、これに代えてボディ材34と分割加圧部
32a,32bとを同一材質としてもよいし、さらには
一体成形してもよい。リード19と電極17との接続箇
所が千鳥状になる場合もあることから、回路基板16上
での電極17の配列が千鳥状の場合でも対応できる。ま
た、上記実施例ではTAB方式のアウターリードボンデ
ィング工程に用いるボンディングツールについて説明し
たが、樹脂モールドパッケージ等の同様のリード接続用
ボンディングツールにおいても本発明を適用してよいこ
とはいうまでもない。
The present invention is not limited to the above embodiment. In the above-mentioned embodiment, the number of rows of the divided pressing portions on each side is two, but the number of rows may be three or more.
However, the structure is the simplest in the case of two rows. In the above embodiment, the outer row is divided into four and the inner row is divided into three.
The number of divisions may be two or more. Further, it is not always necessary that the divided pressurizing portions 32a and 32b be equally divided.
The position of the gap may be any position as long as it is covered, and may be deviated from the center of the opposing divided pressing portion. In the above embodiment, the material of the body material 34 and the divided pressure portions 32a, 32b are different, but instead of this, the body material 34 and the divided pressure portions 32a, 32b may be made of the same material. It may be integrally molded. Since the connecting points between the leads 19 and the electrodes 17 may be staggered in some cases, it is possible to deal with the case where the electrodes 17 are arranged in a staggered manner on the circuit board 16. Further, in the above embodiment, the bonding tool used in the outer lead bonding process of the TAB method has been described, but it goes without saying that the present invention may be applied to a similar bonding tool for lead connection such as a resin mold package.

【0039】さらに、上記実施例ではコンスタントヒー
ト方式のボンディングツールについて説明したが、もう
一つの加熱方式であるパルスヒート方式のボンディング
ツールにおいても本発明を適用してよいことはいうまで
もない。
Further, although the constant heat type bonding tool has been described in the above embodiment, it is needless to say that the present invention may be applied to another heating type pulse heating type bonding tool.

【0040】[0040]

【発明の効果】本発明に係わる請求項1のボンディング
ツールによれば、各列とも加圧部が分割されて個々の分
割加圧部の長さを短くしているので、高温時の反りを防
止できることに加え、外側の分割加圧部での隙間を内側
の分割加圧部でカバーし、かつ内側の分割加圧部での隙
間を外側の分割加圧部でカバーする形態としたので、す
べてのリードがいずれかの分割加圧部で加圧されること
になり、半導体チップ等の電子部品の高密度・高集積化
に伴うリードピッチ、リード幅の縮小化および多リード
化にかかわらず、各辺においてリードと電極との接続不
良が発生する領域をなくし、全リードの一括的接続を高
い接続信頼性のもとで実現することができる。したがっ
て、ボンディングの歩留まりが向上するし、ボンディン
グツールを昇温させたときの熱歪みによる加圧部の傾き
を修正する必要性がなくなり、作業能率の向上も図るこ
とができる。
According to the bonding tool of the first aspect of the present invention, since the pressurizing portion is divided in each row and the length of each divided pressurizing portion is shortened, the warping at high temperature is prevented. In addition to being able to prevent, since the gap in the outer split pressurizing section is covered by the inner split pressurizing section, and the gap in the inner split pressurizing section is covered by the outer split pressurizing section, All leads will be pressed by one of the divided pressure parts, regardless of the lead pitch, lead width reduction and multiple leads accompanying the high density and high integration of electronic components such as semiconductor chips. It is possible to eliminate a region where a poor connection between the lead and the electrode occurs on each side and to collectively connect all the leads with high connection reliability. Therefore, the yield of bonding is improved, it is not necessary to correct the inclination of the pressurizing portion due to thermal strain when the temperature of the bonding tool is raised, and the work efficiency can be improved.

【0041】本発明に係わる請求項2のボンディングツ
ールによれば、反りの防止と全リード一括接続との双方
を満足しながら、最も簡単な構造とでき、しかもすべて
の接続箇所の接続状態を均一化することができる。
According to the bonding tool of the second aspect of the present invention, the simplest structure can be achieved while satisfying both the prevention of warpage and the collective connection of all leads, and the connection state of all connection points is uniform. Can be converted.

【0042】本発明に係わる請求項3、請求項4のリー
ド接続構造体によれば、高密度・高集積化された半導体
チップ等の電子部品を実装することからリードピッチ、
リード幅の縮小化および多リード化されているにもかか
わらず、すべてのリードについて回路基板上の電極との
接続信頼性を高いものにすることができる。また、歩留
まりが良いことからコストの低減も可能となる。
According to the lead connection structure of the third and fourth aspects of the present invention, since the electronic component such as the semiconductor chip having a high density and high integration is mounted, the lead pitch,
Even though the lead width is reduced and the number of leads is increased, it is possible to improve the connection reliability with the electrodes on the circuit board for all the leads. Further, since the yield is good, the cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】(a)は本発明の一実施例に係わるボンディン
グツールの先端部の加圧部の配列をボンディングツール
を上下逆さまにして見たときの斜視図、(b)は図
(a)の状態での加圧部の配列を示す平面図、(c)は
ボンディングツールを正規の姿勢にしたときの下側部分
の概略的な正面図である。
FIG. 1 (a) is a perspective view of a bonding tool according to an embodiment of the present invention when an array of pressure portions at a tip end portion is viewed upside down, and FIG. 1 (b) is a view (a). FIG. 3C is a plan view showing the arrangement of the pressing portions in this state, and FIG. 6C is a schematic front view of the lower portion when the bonding tool is in the normal posture.

【図2】実施例におけるボンディング動作中の様子を示
す要部の概略正面図である。
FIG. 2 is a schematic front view of a main part showing a state during a bonding operation in the example.

【図3】図2に対応したボンディング状態を1辺のみに
ついて示す要部の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of an essential part showing a bonding state corresponding to FIG. 2 on only one side.

【図4】本発明の一実施例に係わるボンディングツール
によって製作されたリード接続構造体の概略的な斜視図
である。
FIG. 4 is a schematic perspective view of a lead connection structure manufactured by a bonding tool according to an exemplary embodiment of the present invention.

【図5】従来例におけるアウターリードボンディング工
程を説明する概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating an outer lead bonding process in a conventional example.

【図6】(a)は従来例のボンディングツールの概略構
造を示す半断面図、(b)はその先端部に形成された一
文字型の加圧部の形態を上下裏返して示した平面図、
(c)は一文字型を等分割した加圧部の形態を示す平面
図である。
FIG. 6A is a half sectional view showing a schematic structure of a bonding tool of a conventional example, and FIG. 6B is a plan view showing an upside down shape of a one-letter type pressurizing portion formed at a tip portion thereof.
(C) is a plan view showing a form of a pressurizing portion obtained by equally dividing a one-character type.

【図7】従来例におけるアウターリードボンディング用
のボンディングツールを用いた場合にリードと回路基板
上の電極との接続が良好に行えない状態を示す概略正面
図である。
FIG. 7 is a schematic front view showing a state where a lead and an electrode on a circuit board cannot be satisfactorily connected when a bonding tool for outer lead bonding in a conventional example is used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

15………ボンディングステージ 16………回路基板 17………電極 18………TABパッケージ 19………外部引き出しリード 20………半導体チップ 31………ボンディングツール 32a……外側の分割加圧部 32a1 …外側の分割加圧部の隙間 32b……内側の分割加圧部 32b1 …内側の分割加圧部の隙間 33……ろう材 34……ボディ材 100……リード接続構造体15 ... Bonding stage 16 ... Circuit board 17 ... Electrode 18 ... TAB package 19 ... External lead 20 ... Semiconductor chip 31 ... Bonding tool 32a. Part 32a 1 ... Gap between outer split pressurizing parts 32b ... Inner split pressurizing part 32b 1 ... Gap between inner split pressurizing parts 33 ... Brazing material 34 ... Body material 100 ... Lead connection structure

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子部品から延出された多数のリードと
回路基板上の多数の電極とを一体化接合するボンディン
グツールであって、 ボディ材の先端部の各辺にそれぞれ、少なくとも2列以
上で各列ともに複数個に分割された加圧部が一体的に固
着されており、 前記2列以上の分割加圧部の列は、外側に位置する分割
加圧部の一部分と内側に位置する分割加圧部の一部分と
が内外方向で重なり合い、外側の分割加圧部の隣接する
もの同士間の隙間が内側の分割加圧部に対して内外方向
で対向する状態に配列されていることを特徴とするボン
ディングツール。
1. A bonding tool for integrally bonding a large number of leads extending from an electronic component and a large number of electrodes on a circuit board, wherein at least two rows are provided on each side of the tip of the body material. In each of the rows, a plurality of divided pressure portions are integrally fixed, and the rows of the divided pressure portions of two or more rows are located inside a part of the divided pressure portions located outside and inside. A part of the divided pressurizing portion is overlapped in the inner and outer directions, and a gap between adjacent outer pressurizing portions is arranged so as to face the inner divided pressurizing portion in the inner and outer directions. Characteristic bonding tool.
【請求項2】 内外の分割加圧部の列が2列であり、各
列の分割加圧部は等分割されて長さがほぼ等しくなって
おり、外側の分割加圧部の隙間が内側の分割加圧部の長
さ方向のほぼ中央に位置していることを特徴とする請求
項1に記載のボンディングツール。
2. The rows of the inner and outer divided pressure portions are two rows, the divided pressure portions of each row are equally divided and have substantially equal lengths, and the gap between the outer divided pressure portions is inside. The bonding tool according to claim 1, wherein the split pressing portion is located substantially at the center in the length direction.
【請求項3】 請求項1または請求項2のボンディング
ツールによって製作されるリード接続構造体であって、
電子部品から延出された多数のリードと回路基板上の多
数の電極とが対接されてボンディングされており、電極
に対するリードのリード長手方向での接続位置が、同一
位置ではないことを特徴とするリード接続構造体。
3. A lead connection structure manufactured by the bonding tool according to claim 1 or 2.
A large number of leads extended from the electronic component and a large number of electrodes on the circuit board are contacted and bonded to each other, and the connection positions of the leads to the electrodes in the lead longitudinal direction are not the same position. Lead connection structure.
【請求項4】 電極に対するリードのリード長手方向で
の接続位置が、隣接リードごとに交互に前後して全体と
して千鳥状の配列になっていることを特徴とする請求項
3に記載のリード接続構造体。
4. The lead connection according to claim 3, wherein the connection positions of the leads with respect to the electrodes in the longitudinal direction of the lead are alternately arranged in front and back for each adjacent lead to form a staggered arrangement as a whole. Structure.
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