JPH08201294A - Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法 - Google Patents

Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法

Info

Publication number
JPH08201294A
JPH08201294A JP2751695A JP2751695A JPH08201294A JP H08201294 A JPH08201294 A JP H08201294A JP 2751695 A JP2751695 A JP 2751695A JP 2751695 A JP2751695 A JP 2751695A JP H08201294 A JPH08201294 A JP H08201294A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nozzle
liquid
sample liquid
gas
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2751695A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Uemura
健 植村
Koichiro Matsuda
耕一郎 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP2751695A priority Critical patent/JPH08201294A/ja
Publication of JPH08201294A publication Critical patent/JPH08201294A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 洗浄を能率よくおこなえ高い分析精度が得ら
れるコスト安なICP分析用ネブライザー装置とその装
置を用いたICP分析方法を提供する。 【構成】 互いに所定の対応角度をなす2つのノズル
4,5の噴出口を、霧化室2内に臨んで設けたアルゴン
ガスノズル3の噴出口に近接させ、かつその噴出口と略
直交する方向に向けて配設している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、誘導結合高周波プラズ
マ(Inductively Coupled Plasma、以下ICPとい
う。)放電による発光分光法を利用した溶液試料の分析
のための装置および方法の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】ICP発光分析装置では、溶液試料をプ
ラズマトーチに導入するために、溶液を吸い上げて噴霧
するネブライザー(霧化器)と噴霧された溶液ミストの
液滴の大きさを選別するスプレーチャンバー(噴霧室)
とよりなるアトマイザーが用いられる。
【0003】ネブライザーはクロスフロー型又は同軸型
のものが使用され、いずれも霧吹き原理で溶液試料を吸
い上げて噴霧するものである。一方、スプレーチャンバ
ーでは、粒子径の小さい液滴のみをプラズマトーチに送
り、径の大きい粒子はドレンとして捨てられる。クロス
フロー型のネブライザーとスプレーチャンバーの基本的
な構成は図4に示される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のクロス
フロー型のネブライザー1では、ICP分析時に、Ar
ガスを導入するためのアルゴンガスノズル3に対して直
交する方向に配置した試料液ノズル4により、そのネブ
ライザー1と一体化されたスプレーチャンバー2を洗浄
液で洗浄する必要があり、試料毎に、試料液ノズル4
に、試料液と洗浄液とを交互に導入していた。
【0005】そのため、その試料液ノズル4に接続した
チューブ6を試料液容器8と洗浄液容器9とに入れ替え
操作しなければならず、その操作が、人手を要して煩瑣
なものとなっていた。
【0006】一方、例えば特公平6−78984号公報
には、1つのプラズマトーチに対して2系列のネブライ
ザーとスプレーチャンバーを設けた試料導入系の構成が
記載されている。この場合、第1試料導入系には分析用
試料を、また、第2試料導入系には分析対象元素を多量
に含むピーク検出用試料を、それぞれ導入するように
し、微量の元素をも精度よく検出できるように、ピーク
の検出を確実におこなえるようにしている。
【0007】しかし、このような構成によって、たとえ
ピークの検出を確実におこなっても、スプレーチャンバ
ー内に残留する試料液によるメモリー効果に起因する分
析精度の低下を抑制するためには、試料を替える度毎に
洗浄が必要であり、この方式では、特に、2系列の試料
導入系を洗浄しなければならず、煩に耐えない。
【0008】また、この方法では、2つのネブライザー
とスプレーチャンバーを用いていることから装置が大型
化し、かつコスト高になる難点もある。
【0009】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
洗浄を能率よくおこなえ高い分析精度が得られるコンパ
クトでコスト安なICP分析用ネブライザー装置とその
装置を用いたICP分析方法を提供することを目的とし
ている。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するための手段を以下のように構成している。すなわ
ち、請求項1に記載の発明では、互いに所定の対応角度
をなす2つのノズルの噴出口を、霧化室内に臨ませて設
けたアルゴンガスノズルの噴出口に近接させ、かつその
噴出口と略直交する方向に向けて配設してなることを特
徴としている。
【0011】請求項2に記載の発明では、請求項1に記
載の発明における一方のノズルを試料液噴射用とし、他
方のノズルを洗浄液噴射用として、試料液と洗浄液を交
互に霧化室内に噴射供給することを特徴としている。
【0012】請求項3に記載の発明では、請求項1に記
載の発明における一方のノズルを試料液噴射用とし、他
方のノズルを測定対象となる元素のピーク位置を検出す
るための標準液噴射用として用いることを特徴としてい
る。
【0013】請求項4に記載の発明では、請求項1に記
載の発明における一方のノズルを試料液噴射用とし、他
方のノズルを検量線作成のための標準液噴射用として用
いることを特徴としている。
【0014】請求項5に記載の発明では、請求項1に記
載の発明における一方のノズルを試料液噴射用とし、他
方のノズルを試料液作製時の試薬等を含むブランク液噴
射用として用いることを特徴としている。
【0015】
【作用】請求項1に記載の装置では、アルゴンガスノズ
ルの噴出口に、2つのノズルの噴出口を臨ませているこ
とにより、以下のような分析方法をおこなうことができ
る。
【0016】請求項2では、一方のノズルを試料液噴射
用とし、他方のノズルを洗浄液噴射用として用いること
により、試料液を切り換えている間に、霧化室内を洗浄
することができる。
【0017】請求項3では、一方のノズルを試料液噴射
用とし、他方のノズルを測定対象となる元素のピーク位
置を検出するための標準液噴射用として用いることによ
り、確実にピーク位置の検出ができ、シーケンシャル分
析を迅速、かつ高精度におこなえる。
【0018】請求項4では、一方のノズルを試料液噴射
用とし、他方のノズルを検量線作成のための標準液噴射
用として用いることにより、検量線の作成が容易とな
る。
【0019】請求項5では、一方のノズルを試料液噴射
用とし、他方のノズルを試料液作製時の試薬等を含むブ
ランク液噴射用として用いることにより、分析元素のス
ペクトルのブランク処理ができる。
【0020】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を参照し
つつ詳細に説明する。図1はICP分析用ネブライザー
装置の模式的断面図、図2は正面図、図3はICP分析
装置の構成図である。これらの図において、1はクロス
フロー型のネブライザー、2はそのネブライザー1と一
体化されたスプレーチャンバー(霧化室)、21は霧出
口、22はドレン排出口、3はスプレーチャンバー2内
に噴出口を臨ませたアルゴンガスノズル、4はそのアル
ゴンガスノズル3の噴出口に近接させて略直交する方向
に設けた試料液ノズル、5は試料液ノズル4と略30度
の対応角度をなし、アルゴンガスノズル3の噴出口に近
接させて略直交する方向に設けた洗浄液ノズル、6,7
はチューブ、61,71はピンチバルブ、8は試料液容
器、9は洗浄液容器である。
【0021】上述のスプレーチャンバー2の霧出口21
には、試料液をプラズマ発光させるためのプラズマトー
チ11が接続される。そのプラズマトーチ11には分光
器が接続され、多数の発光線の中から目的とする分析線
が正確に選び出された後、測定部で測定対象元素の分析
線位置での発光強度が測定され、その発光強度に基づい
て、演算部で測定対象成分の濃度が求められる(図3参
照)。
【0022】上述のプラズマトーチ11への試料導入系
について説明すると、アルゴンガスノズル3には、流量
1〜2l(リットル)/minのArガスが供給され、
ノズル先端周囲に負圧が生じることにより、ピンチバル
ブ61を開くと、試料液ノズル4の噴出口からは減圧に
よって試料液が吸い上げられ、Arガスと混合霧化され
る。霧化された粒子の小さな霧滴は霧出口21からプラ
ズマトーチ11に送られるが、粒子の大きな霧滴は慣性
で壁面に衝突し凝集してドレン排出口22から排出され
る。
【0023】一方、ピンチバルブ71を開くと、洗浄液
(例えば純水)が吸い上げられてArガスと混合霧化さ
れスプレーチャンバー2およびプラズマトーチ11に吹
き付けられて洗浄される。この洗浄作業は、専用のチュ
ーブ7と洗浄液ノズル5によっておこなわれるため、高
い洗浄効果が得られる。なお、洗浄液として、純水の他
に、酸液や溶媒等を用いることもある。
【0024】このような試料導入系によって、以下のよ
うにして、試料液の切り換え時にきわめて能率よく、洗
浄を済ませることができる。まず、一方のピンチバルブ
61を開いて他方のピンチバルブ71を閉じ、Arガス
を供給すると、試料液81がスプレーチャンバー2内に
噴霧され、試料液81の分析をおこなうことができる。
【0025】次いで、試料液82を分析するために、一
方のピンチバルブ61を閉として、チューブ6を試料液
82に移動させる間に、他方のピンチバルブ71を開と
して、スプレーチャンバー2内に洗浄液を吸入・噴霧さ
せることにより、スプレーチャンバー2およびプラズマ
トーチ11内の洗浄をおこなうことができる。
【0026】そして、洗浄終了後に、他方のピンチバル
ブ71を閉じ、一方のピンチバルブ61を開くことによ
り、試料液82の分析をすることができる。以下、同様
に、チューブ6を試料液83,…に入れ替える際に、洗
浄を済ませることができ、他方のチューブ7をそのまま
として、一方のチューブ6のみを移動させるだけで、き
わめて能率よく多成分のICP分析をおこなうことがで
きる。
【0027】そのチューブ6の移動操作の回数は従来の
半分でよく、移動時間が大幅に低減される。また、チュ
ーブ6の移動中における空気の吸引によるプラズマの不
安定化が防止され、分析精度が向上する。
【0028】しかも、専用の洗浄経路によって、前述の
ように、洗浄効果が向上するとともに、より一層洗浄効
果を高めるために、例えば試料液の種類毎に異なる洗浄
液の使用や、洗浄液流量の調整用として、他方のチュー
ブ7および/またはArガスの供給ラインにダイヤフラ
ムポンプ等のアクチュエータを設けることも可能であ
る。
【0029】このような試料導入系は、試料液ノズル4
に加えて洗浄液ノズル5をネブライザー1に接続させ
た、簡易でコンパクトな構成であり、かつコスト安に提
供することができる。
【0030】また、上述の他方のノズル(洗浄液ノズ
ル)5は、洗浄液噴射用としてだけでなく、例えば測定
対象となる元素のピーク位置を検出するための標準液噴
射用として用いることもでき、その場合には、ピーク位
置の検出を確実におこなうことができ、微量の元素をも
精度よく検出することができ、迅速かつ精度の高いシー
ケンシャル分析が可能となる。
【0031】あるいは、検量線作成のための標準液噴射
用として他方のノズル5を用いてもよく、また、試料液
作製時の試薬等を含むブランク液噴射用として用いるこ
ともできる。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明では、互いに所定の対応角度をなす2つのノズルの
噴出口を、アルゴンガスノズルの噴出口に近接させ、か
つその噴出口と略直交する方向に向けて配設しているの
で、一方のノズルを試料液噴射用とし、他方のノズルを
洗浄液噴射用として用いることにより(請求項2)、試
料液を切り換えている間に、霧化室内の洗浄をすること
ができ、分析に要する時間を大幅に短縮化することがで
き、かつ高い洗浄効果により分析精度が向上するととも
に、コンパクト化、低廉化をも実現できる。
【0033】また、他方のノズルを標準液噴射用として
用いることにより(請求項3,4)、ピーク位置の検出
や検量線の作成が可能となる。あるいは、その他方のノ
ズルを試料液作製時の試薬等を含むブランク液噴射用と
していることにより(請求項5)、分析元素のスペクト
ルのブランク処理ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のICP分析用ネブライザー装置の基本
的な構成を示す模式図である。
【図2】同正面図である。
【図3】ICP分析装置の構成図である。
【図4】従来のクロスフロー型のICP分析用ネブライ
ザー装置の基本的な構成を示す模式図である。
【符号の説明】
2…霧化室、3…アルゴンガスノズル、4…一方のノズ
ル、5…他方のノズル。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに所定の対応角度をなす2つのノズ
    ルの噴出口を、霧化室内に臨ませて設けたアルゴンガス
    ノズルの噴出口に近接させ、かつその噴出口と略直交す
    る方向に向けて配設してなることを特徴とするICP分
    析用ネブライザー装置。
  2. 【請求項2】 前記2つのノズルのうち、一方のノズル
    を試料液噴射用とし、他方のノズルを洗浄液噴射用とし
    て、試料液と洗浄液を交互に霧化室内に噴射供給するこ
    とを特徴とする請求項1に記載のICP分析用ネブライ
    ザー装置を用いたICP分析方法。
  3. 【請求項3】 前記2つのノズルのうち、一方のノズル
    を試料液噴射用とし、他方のノズルを測定対象となる元
    素のピーク位置を検出するための標準液噴射用として用
    いることを特徴とする請求項1に記載のICP分析用ネ
    ブライザー装置を用いたICP分析方法。
  4. 【請求項4】 前記2つのノズルのうち、一方のノズル
    を試料液噴射用とし、他方のノズルを検量線作成のため
    の標準液噴射用として用いることを特徴とする請求項1
    に記載のICP分析用ネブライザー装置を用いたICP
    分析方法。
  5. 【請求項5】 前記2つのノズルのうち、一方のノズル
    を試料液噴射用とし、他方のノズルを試料液作製時の試
    薬等を含むブランク液噴射用として用いることを特徴と
    する請求項1に記載のICP分析用ネブライザー装置を
    用いたICP分析方法。
JP2751695A 1995-01-23 1995-01-23 Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法 Pending JPH08201294A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2751695A JPH08201294A (ja) 1995-01-23 1995-01-23 Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2751695A JPH08201294A (ja) 1995-01-23 1995-01-23 Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08201294A true JPH08201294A (ja) 1996-08-09

Family

ID=12223300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2751695A Pending JPH08201294A (ja) 1995-01-23 1995-01-23 Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08201294A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10188877A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Yokogawa Analytical Syst Kk 誘導結合プラズマ質量分析装置
JP2002039994A (ja) * 2000-07-19 2002-02-06 Yokogawa Analytical Systems Inc 試料連続分析方法及び試料連続分析装置
JP2006066312A (ja) * 2004-08-30 2006-03-09 Yokogawa Analytical Systems Inc Icp分析用試料導入装置及び方法
EP1760053A2 (en) 2005-09-06 2007-03-07 Nisshinbo Industries, Inc. Corrosion-resistant member
EP2710623A1 (en) * 2011-05-20 2014-03-26 Purdue Research Foundation (PRF) Systems and methods for analyzing a sample
GB2506892A (en) * 2012-10-11 2014-04-16 Thermo Fisher Scient Bremen Sample injection apparatus and method for improving throughput in spectrometry
CN108760958A (zh) * 2018-07-02 2018-11-06 东华理工大学 自吸式自动进样的光催化反应在线检测系统

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10188877A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Yokogawa Analytical Syst Kk 誘導結合プラズマ質量分析装置
JP2002039994A (ja) * 2000-07-19 2002-02-06 Yokogawa Analytical Systems Inc 試料連続分析方法及び試料連続分析装置
JP4592881B2 (ja) * 2000-07-19 2010-12-08 アジレント・テクノロジーズ・インク 試料連続分析方法及び試料連続分析装置
JP2006066312A (ja) * 2004-08-30 2006-03-09 Yokogawa Analytical Systems Inc Icp分析用試料導入装置及び方法
EP1760053A2 (en) 2005-09-06 2007-03-07 Nisshinbo Industries, Inc. Corrosion-resistant member
EP2710623A1 (en) * 2011-05-20 2014-03-26 Purdue Research Foundation (PRF) Systems and methods for analyzing a sample
EP2710623A4 (en) * 2011-05-20 2015-03-11 Purdue Res Foundation Prf SYSTEMS AND METHODS FOR SAMPLE ANALYSIS
US9129786B2 (en) 2011-05-20 2015-09-08 Purdue Research Foundation Systems and methods for analyzing a sample
GB2506892A (en) * 2012-10-11 2014-04-16 Thermo Fisher Scient Bremen Sample injection apparatus and method for improving throughput in spectrometry
GB2506892B (en) * 2012-10-11 2015-06-10 Thermo Fisher Scient Bremen Apparatus and method for improving throughput in spectrometry
US9892900B2 (en) 2012-10-11 2018-02-13 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Apparatus and method for improving throughput in spectrometry
CN108760958A (zh) * 2018-07-02 2018-11-06 东华理工大学 自吸式自动进样的光催化反应在线检测系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7128810B2 (ja) 化学的分析のためのシステムおよび方法
JP4139112B2 (ja) 粒子を表面上に堆積させる堆積装置
EP1081487B1 (en) Nebulizer
US9541479B2 (en) Apparatus and method for liquid sample introduction
US9804183B2 (en) Apparatus and method for liquid sample introduction
US9892900B2 (en) Apparatus and method for improving throughput in spectrometry
JP3694598B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
US8058611B2 (en) System for preventing backflow in an ion source
JPH08201294A (ja) Icp分析用ネブライザー装置とその装置を用いたicp分析方法
JP7292293B2 (ja) 質量分光分析のための直接サンプリング界面のフィードバック制御のための方法およびシステム
JP3686198B2 (ja) 誘導結合プラズマ質量分析装置
US11607701B2 (en) Sample pretreatment device
CN111487238A (zh) 一种十字交叉式雾化室及其制备方法
JPH07209190A (ja) 溶液試料の測定方法および装置
JP2949108B1 (ja) 噴霧器アレイ
US20230197428A1 (en) High flowrate flushing for open port sampling probe
JP4199605B2 (ja) Icp分析方法
US7959810B1 (en) Method for adapting a detection device to be coupled to a liquid chromatography column and equipped with means for forming and conveying an aerosol
KR940007044Y1 (ko) Gmk 스프레이쳄버의 세척장치
JPH06249782A (ja) Icp発光分光分析装置
JPH09199076A (ja) 誘導結合プラズマ質量分析装置及びその方法
WO2023275694A1 (en) Methods and systems for performing reactions within direct sampling interfaces for mass spectrometric analysis
JPH01158334A (ja) Icp発光分析装置
JPH06249783A (ja) Icp発光分光分析装置
JPS61193062A (ja) 液体クロマトグラフ・質量分析器直結用インタ−フエ−ス装置