JPH08195888A - 画質評価装置 - Google Patents

画質評価装置

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JPH08195888A
JPH08195888A JP2102295A JP2102295A JPH08195888A JP H08195888 A JPH08195888 A JP H08195888A JP 2102295 A JP2102295 A JP 2102295A JP 2102295 A JP2102295 A JP 2102295A JP H08195888 A JPH08195888 A JP H08195888A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 原画像を複数のブロックに分割し高能率符号
化した圧縮画像を伸張して得た符号化処理画像につい
て、そのブロック毎の画質の劣化量を定量的に評価す
る。 【構成】 ブロック化手段5,6は、符号化処理画像と
その原画像とを高能率符号化処理時と同じ複数のブロッ
クに分割する。劣化量算出手段7は、この分割された個
々のブロック毎に画質の劣化量を算出し、出力ファイル
8に保存する。表示制御手段9は、出力ファイル8に保
存された劣化量を入力し、符号化処理画像の各ブロック
の劣化量の分布を図化した劣化量分布図を表示装置10
の画面に表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画質評価装置に関し、特
に高能率符号化した圧縮画像を伸張した画像の画質が原
画像に比べてどの程度劣化しているかを定量的に評価す
る画質評価装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、画像の劣化の程度を定量的に評
価する画質評価装置としては、以下のようなものが知ら
れている。
【0003】(1)評価対象とする画像と基準とする画
像との差分を各画素単位で求め、その結果から画像全体
の劣化量を示す数値(例えば各画素単位の差分の2乗平
均誤差)を求める装置。 (2)例えば特開平4−15882号公報に見られるよ
うに、評価対象とする画像を、その画像を構成している
物体の輪郭形状の歪みが反映されるように変換した後、
基準とする画像と画素単位で比較し、画像全体の劣化量
を示す数値を求める装置。 (3)例えば特開平1−298890号公報に見られる
ように、評価対象とする画像の中で劣化している部分の
面積を求め、この面積に応じて、前記(1)と同様にし
て求めた画像全体の劣化量を示す数値を補正する装置。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、一般にディ
ジタル画像データをDCT(離散コサイン変換)をベー
スとする高能率符号化技術で非可逆圧縮を行った場合、
原画像と符号化処理画像(圧縮した画像を伸張した画
像)との間に生じる誤差は、符号化処理の過程から8×
8画素または16×16画素といったブロックを単位と
して発生する。これは、DCTをベースとするMPEG
やJPEG等の高能率符号化技術では、符号化の際に前
記画素の集まりを1ブロックとしたブロック単位で符号
化処理が行われるためであり、その劣化はブロック歪み
と呼ばれる符号化処理画像特有のものである。
【0005】しかるに、一般的に画質の劣化を定量化す
る装置として知られている従来の装置(1)では、画面
全体の劣化量は評価できるが、ブロック毎の劣化程度を
定量的に評価することはできない。また従来の装置
(2)では、画像の輪郭に着目して画質を評価する点は
記載されているが、輪郭以外の部分に着目しての評価は
行えず、従ってブロック単位での評価には対応できな
い。更に、従来の装置(3)では、劣化している面積に
応じて全体の劣化量を補正するものに過ぎず、ブロック
歪みを検出できるものではない。即ち、従来の装置は画
像全体の劣化量を求めることを前提としているため、画
像全体の評価には適しているが、その個々の部分、特に
ブロック単位の画質の劣化の評価には用いることができ
ない。
【0006】そこで本発明の目的は、符号化処理画像の
ブロック単位での画質の劣化、つまりブロック歪みを定
量的に評価するのに好適な画質評価装置を提供すること
にある。
【0007】また、本発明の別の目的は、ブロック歪み
の分布状況を図示化して表示する機能を有する画質評価
装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、原画像を複数
のブロックに分割し高能率符号化した圧縮画像を伸張し
て得た符号化処理画像について、その劣化量を定量的に
評価する画質評価装置において、符号化処理画像のブロ
ック歪みを定量的に評価し得るようにするために、符号
化処理画像とその原画像とを高能率符号化処理時と同じ
複数のブロックに分割するブロック化手段と、このブロ
ック化手段によって分割された個々のブロック毎に劣化
量を算出する劣化量算出手段と、この劣化量算出手段で
算出された劣化量を保存する劣化量保存手段とを備えて
いる。
【0009】本発明の好ましい実施例においては、劣化
量保存手段は、符号化処理画像の各ブロックの位置に1
対1に対応するエリアを有しており、算出された劣化量
を符号化処理画像の処理対象ブロックの位置に対応する
エリアに保存する。
【0010】また、ブロック歪みの分布状況を図示化し
て表示し得るようにするために、劣化量保存手段に保存
された劣化量を入力し、符号化処理画像の各ブロックの
劣化量の分布を図化した劣化量分布図を表示装置の画面
に表示する表示制御手段を備えている。
【0011】
【作用】本発明の画質評価装置においては、ブロック化
手段が、符号化処理画像とその原画像とを高能率符号化
処理時と同じ複数のブロックに分割し、劣化量算出手段
が、この分割された個々のブロック毎に劣化量を算出
し、劣化量保存手段が、この算出された劣化量を保存す
る。また、表示制御手段が、劣化量保存手段に保存され
た劣化量を入力し、符号化処理画像の各ブロックの劣化
量の分布を図化した劣化量分布図を表示装置の画面に表
示する。
【0012】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
【0013】図1を参照すると、本発明の一実施例の画
質評価装置は、原画像データファイル1,符号化処理画
像データファイル2,フレームメモリ3,4,ブロック
化手段5,6,劣化量算出手段7,出力ファイル8,表
示制御手段9および表示装置10で構成されている。
【0014】原画像データファイル1は原画像データを
記憶するファイル、符号化処理画像データ2は原画像デ
ータファイル1に記憶された原画像をDCTをベースと
するMPEGやJPEG等の高能率符号化技術で非可逆
圧縮を行い、更に同技術で伸張した画像である符号化処
理画像のデータを記憶するファイルである。これらのフ
ァイル1,2に記憶された原画像データ,符号化処理画
像データは、評価時にそれぞれフレームメモリ3,4に
記録される。
【0015】ブロック化手段5は、原画像データの符号
化処理時に行われるブロック分割と同様に、図2に示す
ようにフレームメモリ3中の原画像を複数のブロックに
分割し、ブロック化手段6も図2に示すように同じくフ
レームメモリ4中の符号化処理画像を同様に複数のブロ
ックに分割する。
【0016】劣化量算出手段7は、ブロック化手段5,
6によって分割された個々のブロック毎に、原画像デー
タを基準として符号化処理画像の劣化量を算出する。即
ち、図2に示すように、ブロック分割された原画像およ
び符号化処理画像から1ブロックずつ抽出し、ブロック
毎に、対応する画素間の差分を1画素単位で求め、その
差分から1ブロック当たりの劣化量を検出する。このた
め、劣化量算出手段7は、図1に示すように、各ブロッ
ク単位でそれぞれの画素の差分を求める差分検出手段7
1と、求められた差分値から1ブロック当たりの劣化量
を求める誤差検出手段72とを有している。劣化量算出
手段7で求められた各ブロック毎の劣化量は、劣化量保
存手段を構成する出力ファイル8に出力され、保存され
る。
【0017】表示制御手段9は、出力ファイル8に保存
された各ブロック毎の劣化量を入力し、符号化処理画像
の各ブロックの劣化量の分布を図化した劣化量分布図を
表示装置10の画面に表示する。また、本実施例では、
符号化処理画像データを入力して、劣化量分布図と同一
画面に符号化処理画像を併せて表示するようにしてい
る。なお、図化した劣化量分布図を表示しない構成にお
いては、表示制御手段9は省略され、その代わりに、出
力ファイル8に保存された劣化量そのものが表示装置1
0あるいは図示しないプリンタ装置から出力される構成
が採用される。
【0018】図3は上記の実施例の概略フローチャート
である。評価時、原画像データファイル1,符号化処理
画像データファイル2の原画像データ,符号化処理画像
データがフレームメモリ3,4に読み込まれる(S1,
S2)。次に、ブロック化手段5によってフレームメモ
リ3中の原画像データからブロック分割した場合の最初
のブロックが読み込まれ、同様にブロック化手段6によ
ってフレームメモリ4中の符号化処理画像データからブ
ロック分割した場合の最初のブロックが読み込まれる
(S3,S4)。そして、ブロック化手段5に読み込ま
れた原画像のブロックとブロック化手段6に読み込まれ
た符号化処理画像のブロックとが劣化量算出手段7の差
分検出手段71に入力されて、それぞれのブロック内で
同じ位置にある画素の差分値が下記の式により求められ
る(S5)。
【0019】 Ci,j =Ai,j −Bi,j …(1) 但し、Ci,j ;差分値 Ai,j ;原画像データの画素の値(例えば輝度) Bi,j ;符号化処理画像データの画素の値(例えば輝
度)
【0020】図4は以上のような差分検出手段71の処
理を示すフローチャートであり、原画像データのブロッ
クをブロック化手段5から入力すると共に、符号化処理
画像データのブロックをブロック化手段6から入力し
(S11,S12)、次に、それらのブロック内から原
画像データの1つの画素とそれに対応する符号化処理画
像の1つの画素とが読み取られ(S13,S14)、上
記(1)式でその差分値が求められる(S15)。そし
て今回処理した画素が当該ブロックにおける最終画素か
どうかを判定し(S16)、最終画素でなく残りの画素
がある場合、次の画素に注目を移して(S17)、ステ
ップS13に戻り、上記の処理を繰り返す。これを残り
の画素がなくなるまで繰り返すことにより1ブロック分
の差分値を全て求め、その結果を誤差検出手段72に出
力する(S18)。
【0021】誤差検出手段72では、差分検出手段71
から渡された1ブロック分の差分値Ci,j から、1ブロ
ック当たりの劣化量Nを求める(図3のS6)。本実施
例では、劣化量Nは2乗平均誤差法を用いて、次式によ
り求める。
【数1】 …(2) 但し、n,mはそれぞれブロックの縦横の画素数を表す
定数である。
【0022】なお、2乗平均誤差法以外に、絶対値平均
誤差法などの他の平均誤差によって劣化量Nを求めるよ
うにしても良い。
【0023】誤差検出手段72で1ブロック当たりの劣
化量Nが求められると、今回処理されたブロックが最終
ブロックでなく残りのブロックがある場合は(図2のS
7でNO)、次のブロックへ注目を移して(S8)、ス
テップS3に戻り、上記の動作を繰り返す。そして、残
りのブロック全てについて処理を行い、画像の全ブロッ
ク毎の劣化量を求め終わると、それらを出力ファイル8
に出力する(S9)。
【0024】図5は劣化量を保存する出力ファイル8の
論理的な構成例を示す図である。同図に示すように、出
力ファイル8は、符号化処理画像の各ブロックの位置に
1対1に対応するエリアEを有し、算出された劣化量
(図中の2,3等の数値)を符号化処理画像の処理対象
ブロックの位置に対応するエリアEに保存する。
【0025】表示制御手段9は、図5に示すような形式
で格納された各ブロック毎の劣化量を入力し、符号化処
理画像の各ブロックの劣化量の分布を図化した劣化量分
布図を表示装置10の画面に表示する(S10)。
【0026】図6は表示制御手段9の劣化量分布図表示
処理例のフローチャートである。表示制御手段9は、出
力ファイル8に保存された劣化量を読み込み(S2
1)、その先頭から順に1つずつ入力し(S22)、入
力した劣化量に応じたドット密度のパターンを決定する
(S23)。即ち、劣化量が多いほどドット密度の高い
パターンを決定する。ここで、ドット密度とは8×8画
素のブロックを白画素と黒画素で埋めた場合の黒画素の
占める割合をいう。以上の処理を出力ファイル8に保存
された全ての劣化量に対して繰り返す(S24,S2
5)。そして、各劣化量に対して決定したドット密度の
パターンを、表示装置10の画面上における符号化処理
画像と同一サイズの枠内における、各劣化量に対応する
ブロックの位置に表示する(S26)。
【0027】図7は図6の処理によって表示装置10の
画面に表示された劣化量分布図の要部を示しており、劣
化量が多いほどドット密度の高いパターンが描画される
ことにより、劣化量の分布が視覚的に明瞭に認識できる
ようになっている。
【0028】なお、以上の劣化量分布図はドット密度の
異なるパターンを使用して劣化量の分布図を作成した
が、他の種類のパターンを使用することもでき、また劣
化量に応じて色の種類を変える等、他の方法も採用する
ことができる。更に、劣化量分布図を符号化処理画像と
重ねて表示するようにしても良い。
【0029】
【発明の効果】以上説明した本発明の画質評価装置によ
れば、以下のような効果を得ることができる。
【0030】ブロック歪みという符号化処理画像特有の
局部的な劣化を測定者の主観によらずに定量的に算出す
ることができる。このため、例えばグラフィカルユーザ
インタフェースで使用する画面イメージを圧縮して蓄積
しておき、使用時に伸張して画面に表示するような情報
端末装置における画面イメージの設計において、試作し
た画面イメージにおける劣化の分布を評価し、劣化が集
中している部分のイメージを劣化の少ないイメージに部
分的に修正するなどといった作業を効率良く実施するこ
とができる。
【0031】算出された各ブロック毎の劣化量を、符号
化処理画像の各ブロックの位置に1対1に対応するエリ
アに保存することにより、その分布状況を確認すること
が可能である。特に、各ブロックの劣化量の分布を図化
した劣化量分布図を表示装置の画面に表示する構成によ
れば、ブロック歪みの分布状況を視覚的に極めて容易に
把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の画質評価装置のブロック図
である。
【図2】原画像,符号化処理画像のブロック分割,各ブ
ロック毎の差分検出の説明図である。
【図3】図1の実施例の動作の概略を示すフローチャー
トである。
【図4】差分検出手段の処理例を示すフローチャートで
ある。
【図5】出力ファイルの論理的な構成例を示す図であ
る。
【図6】表示制御手段の処理例を示すフローチャートで
ある。
【図7】劣化量分布図の一例を示す図である。
【符号の説明】
1…原画像データファイル 2…符号化処理画像データファイル 3,4…フレームメモリ 5,6…ブロック化手段 7…劣化量算出手段 71…差分検出手段 72…誤差検出手段 8…出力ファイル 9…表示制御手段 10…表示装置10

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 原画像を複数のブロックに分割し高能率
    符号化した圧縮画像を伸張して得た符号化処理画像につ
    いて、その劣化量を定量的に評価する画質評価装置にお
    いて、 符号化処理画像とその原画像とを高能率符号化処理時と
    同じ複数のブロックに分割するブロック化手段と、 該ブロック化手段によって分割された個々のブロック毎
    に劣化量を算出する劣化量算出手段と、 該劣化量算出手段で算出された劣化量を保存する劣化量
    保存手段とを備えることを特徴とする画質評価装置。
  2. 【請求項2】 前記劣化量保存手段は、前記符号化処理
    画像の各ブロックの位置に1対1に対応するエリアを有
    し、前記算出された劣化量を符号化処理画像の処理対象
    ブロックの位置に対応するエリアに保存することを特徴
    とする請求項1記載の画質評価装置。
  3. 【請求項3】 前記劣化量保存手段に保存された劣化量
    を入力し、前記符号化処理画像の各ブロックの劣化量の
    分布を図化した劣化量分布図を表示装置の画面に表示す
    る表示制御手段を備えることを特徴とする請求項2記載
    の画質評価装置。
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