JPH08184611A - 電子回路テスタ用盲結合コネクタ - Google Patents

電子回路テスタ用盲結合コネクタ

Info

Publication number
JPH08184611A
JPH08184611A JP7249086A JP24908695A JPH08184611A JP H08184611 A JPH08184611 A JP H08184611A JP 7249086 A JP7249086 A JP 7249086A JP 24908695 A JP24908695 A JP 24908695A JP H08184611 A JPH08184611 A JP H08184611A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
body portion
connector
sleeve
conductor
central conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7249086A
Other languages
English (en)
Inventor
Julius K Botka
ジュリアス・ケイ・ボッカ
David R Veteran
デイヴィッド・アール・ヴェタラン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HP Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of JPH08184611A publication Critical patent/JPH08184611A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes

Abstract

(57)【要約】 【課題】 テスト対象の電子回路に印加された電気信号の
応答を測定するための電子回路テスタに、電子回路テスタのテス
ト・ヘット゛とテスト対象の電子回路に接続された調整ホ゛ート゛又は
取り付けホ゛ート゛の間の接続を行うための盲結合コネクタが提
供される。 【解決手段】 盲結合コネクタは一方の端部に切除領域を有
する本体部分、同軸の中央導体、中央導体を本体部分内
に支持するための隙間領域に配置された誘電体材料、本
体部分と電気的接続を有して切除領域に配置された同軸
スリーフ゛、及びスリーフ゛を本体部分に保持するためのリンク゛を含
む。盲結合コネクタは調整ホ゛ート゛、又は取り付けホ゛ート゛に取り
付けられ、テスト・ヘット゛に組み込まれた雌コネクタにコンフ゜ライアンス
を有して結合する。盲結合コネクタによって接続の繰り返し
精度が向上し、電子回路テスタのセットアッフ゜、調整、及びその
テスタを用いて行う測定を容易にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気信号を印加
し、かつ/又は測定することによって電子回路のテスト
を行うシステムに関し、より詳しくは、パッケージング
された素子又は集積回路、あるいはウエハ上の素子又は
集積回路チップに電気信号を印加し、かつ印加された電
気信号に対する素子又は集積回路の応答を測定する電子
回路テストシステムに関する。特に本発明の一実施例
は、テスト・ヘッドと、テストされる素子又は集積回路
とインタフェースするテスタ用調整ボード、あるいは取
り付けボードとの間で電子回路テスタに電気的な接続を
もたらす、盲結合コネクタが提供される。本発明の一実
施例による盲結合コネクタは、SMA又は3.5mmコネクタの
ようなテスト・ヘッドの標準同軸コネクタと、調整ボー
ド又は取り付けボードの間で電気的な接続をもたらし、
接続の繰り返し精度を向上させ、高周波素子及び集積回
路のテストを行うためのテスタのセットアップ、調整、
及びテスタによる測定を容易にするという点で、特に高
周波電子回路テスタに適応するものであり、それによっ
て信頼性が改善され、全体スループットが高められる。
【0002】プログラム可能電子回路テスタは通常、電
子素子と集積回路の製造段階において、製造された素子
又は集積回路の性能をテストするために使用される。テ
ストは素子又は集積回路が関連する設計仕様上の性能を
満たしているかを確認するために行われる。素子又は集
積回路をテストするため、電子回路テスタは電気信号又
は一組の電気信号をテスト対象の素子又は集積回路に印
加して、その応答(単数又は複数)を測定するようにプ
ログラムされている。この電子回路テスタは、必ずしも
完成しているパッケージングされた素子及び集積回路を
テストするためだけに使用されるわけではなく、初期の
ウエハ処理から最終的なパッケージング処理までの素子
又は集積回路の様々な製造段階におけるテストのために
頻繁に使用される。
【0003】
【従来の技術】従来のプログラム可能電子回路テスタは
一般的に参照番号10を付して図1に示されているような
ものである。電子回路テスタ10はダクト14を通るケーブ
ルによって、テスト・ヘッドとインタフェースされた素
子又は集積回路に電気信号を印加するためのAC、DC電気
信号発生器のような電子テスト及び測定を行う機器のラ
ック(単数又は複数)16に電気的に接続されたテスト・
ヘッド12を備えており、例えば上記の印加された電気信
号に対する応答(単数又は複数)を測定するためのオシ
ロスコープ及びネットワーク解析器である。図1に示す
ように、テスト・ヘッド12はダクト14内のケーブルに接
続された負荷ボード18を介して素子又は集積回路にイン
タフェースし、次に取り付けボード20が負荷ボードに接
続される。あるいは、取り付けボード20をインストール
する前に、テスト・ヘッドを調整するための調整ボード
がテスト・ヘッド12に接続される。負荷ボード18の構成
はアナログ又はディジタル電子回路のような、テストさ
れる素子又は集積回路の種類に依存し、一方取り付けボ
ード20の構成は通常、テストされる素子又は集積回路の
種類に特有である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図1に示すように、テ
スト・ヘッド12はドリー22に取り付けられる。電子回路
テスタ10はパッケージングされた素子及び集積回路の双
方、並びにウエハ上の素子又は集積回路をテストするた
めに使用されうるので、テスト・ヘッド12は旋回式連結
部材24によってドリー22に取り付けられることが好まし
い。旋回式連結部材24によってテスト・ヘッド12は、適
当な負荷ボード18及び調整ボード又は取り付けボード20
がオペレータによって電子回路テスタ10のテスト・ヘッ
ド上に取り付けられるように、ほぼ上向きの水平位置に
位置付けられうる。テスト・ヘッド12は又、例えばパッ
ケージングされた素子又は集積回路をテストするため
に、取り付けボード20が材料ハンドラとインタフェース
できるように垂直位置へ旋回されうる。最後に、テスト
・ヘッド12はウエハ上の素子又は集積回路チップをテス
トするため、取り付けボード20がウエハとインタフェー
スできるように、下向きの水平位置へと旋回させること
ができる。
【0005】テスト・ヘッド12を調整ボード又は取り付
けボード20に電気的に接続するコネクタは、電子回路テ
スタ10による調整及び実際のテストの間に、何回も接続
され、切断される。しかし、電子回路テスタ10の耐用年
数は、これまでテスト・ヘッド12及び調整ボード又は取
り付けボード20におけるコネクタの耐用年数をはるかに
上回っている。又、得られる接続の繰り返し精度は、コ
ネクタの摩耗のためにコネクタが劣化するので、時間と
ともに低下する。更に、高周波同軸コネクタは比較的壊
れやすく、こうしたコネクタの中央導体は、接続が行わ
れる際にオペレータが注意していなければ破損する可能
性がある。
【0006】従って、より長い期間の電子回路テスタ10
の耐用年数にわたって、セット・アップ、調整、及び実
際のテストの間にテスト・ヘッド12を調整ボード又は取
り付けボード20に対して繰り返し接続するためのコネク
タ構造を提供することが望ましい。更に、接続の際にコ
ネクタに摩耗、及び破損が生じにくい、比較的丈夫なコ
ネクタ構造を提供することが望ましい。こうした構造に
よって、電子回路テスタ10を使用したセット・アップ、
調整、及び測定プロセスの実施が容易になる。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の一実施例は、電
子回路テスタのテスト・ヘッドとそのテスタの調整ボー
ド又は取り付けボードを相互接続するための盲結合コネ
クタを提供する。即ち、盲結合コネクタは、テスト対象
の電子回路に電気信号、又は1組の電気信号を印加し、
その応答を測定するための手段に接続されたテスト・ヘ
ッドと、調整ボード、あるいは、テスト対象の電子回路
に結合された取り付けボードを相互接続するために提供
される。
【0008】本発明の一実施例によれば、盲結合コネク
タは中心軸と第1の内径を備えるほぼ円筒形の導体性本
体部分を備え、前記本体部分は、本体部分の第1の端部
で雄コネクタ及び雌コネクタの一方の外側導体を内側に
収容するようになっている内側表面、及び本体部分の第
2の端部に切除領域を有し、更にその切除領域に第2の
内径を有する。盲結合コネクタは更に、中心軸に対応す
る軸を備えるほぼ円筒形で中実の導電性の中央導体を含
み、前記中央導体が、本体部分の第1の端部と並置さ
れ、本体部分の第1の端部に挿入される雄コネクタ及び
雌コネクタの一方の中央導体と接触するようになってい
る雌端部及び雄端部の一方、及び本体部分の第2の端部
に並置され、本体部分の第2の端部に挿入される雌コネ
クタの中央導体と接触するようになっている雄端部を有
し、盲結合コネクタの中央導体が本体部分の内側表面と
向かい合った外側表面を有し、直径が本体部分の第1の
内径より小さく、本体部分と盲結合コネクタの中央導体
との間に隙間領域を提供する。盲結合コネクタは更に、
本体部分内に盲結合コネクタの中央導体を支持するため
にその隙間領域に配置された誘電体材料を含んでいる。
盲結合コネクタは又、その中心軸に対応する軸を備える
ほぼ円筒形の導電性スリーブを有し、前記スリーブが内
側表面と外側表面を有し、本体部分と電気的な接触を有
して本体部分の第2の端部で切除領域内に配置され、本
体部分の第2の端部に挿入された雌コネクタの外側導体
と接触するようになっている。最後に、盲結合コネクタ
は、スリーブが本体部分内に取り付けられた場合に、ス
リーブを本体部分に保持するための手段を含んでいる。
【0009】本発明の一実施例によれば、本体部分の第
1の端部が雄コネクタの外側導体を挿入するための第2
の切除領域を含み、雄コネクタが挿入される場合、盲結
合コネクタの中央導体の雌端部に、雄コネクタの中央導
体と一体となっている雄ピンを受けるようにスロットが
設けられており、盲結合コネクタは更に、本体部分の第
1の端部の外側表面にネジ山を有し、雄コネクタが挿入
された後に雄コネクタの結合ナットと結合する。又、盲
結合コネクタの本体部分の内側表面、スリーブの内側表
面、及び中央導体の外側表面のそれぞれが階段状の部分
を含み、誘電体材料が、一方は本体部分及びスリーブの
内側表面、もう一方は中央導体の外側表面に関する階段
状の部分の間の誘電体材料を保持するための隙間領域に
挿入された円筒形の誘電体材料であり、円筒形の誘電体
材料が第1と第2の端部を有し、円筒形の誘電体材料の
第1と第2の端部が切除され、盲結合コネクタの本体部
分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分と中央
導体の外側表面に関する階段状の部分によって導入され
る容量の導電補償を提供する。該スリーブは、本体部分
の第2の端部において切除領域の内径にほぼ相当する外
径を備えた中実の円筒形部分と、スリーブの中実の円筒
形部分の外径より小さい外径、及び本体の第2の端部に
挿入される雌コネクタの外側導体に接触させるための直
径の大きくなっている部分を有するスロットが設けられ
た部分を含むことが望ましい。スリーブを保持する手段
は、本体部分の切除領域の内径にほぼ相当する外径を有
し、本体部分の第2の端部内の、スリーブの中実の円筒
形部分とスロットが設けられた部分の交点に近い箇所に
配置される保持リングを含む。本体部分の第2の端部に
おける内側表面は、盲結合コネクタの本体部分の第2の
端部への挿入の間、雌コネクタのガイドを提供するよう
に、外側に向かって先細になっているのが望ましい。
【0010】盲結合コネクタは更に、本体部分の第1と
第2の端部の中間に位置し、本体部分の外側表面と一体
となった環状フランジと、フランジと本体部分の第1及
び第2の端部の一方との間に配置されたネジ山の付いた
部分を含む、調整ボード又は取り付けボードに盲結合コ
ネクタを取り付けるための手段を含むことが望ましい。
ネジ山の付いた部分は、フランジが調整ボード又は取り
付けボードに接触するまで、そのボードの穴を通って挿
入され、ナットを収容してフランジとナットの間にボー
ドを挟むことによって、盲結合コネクタをボードに取り
付けるようになっている。最後に、本体部分の第2の端
部に挿入される雌コネクタは、雄コネクタに対して従動
的な関係を有してテスト・ヘッドに取り付けられるコネ
クタであることが望ましい。
【0011】本発明による盲結合コネクタは、接続の繰
り返し精度が向上し、電子回路テスタのセット・アッ
プ、調整、及びそれを用いた測定を容易にする。このこ
とは測定プロセスの信頼性と速度を向上させることにな
る。
【0012】
【発明の実施の形態】以下で添付の図面に関して提供さ
れる好適実施例を説明することによって、当業者には、
本発明の前述の課題と他の課題、特徴、及び付随する利
点が、より一層理解され、認識される。
【0013】図2は、電子回路テスタの一部、即ちテス
ト・ヘッド100、負荷ボード112、及び取り付けボード11
4を示している。本発明の一実施例によれば、本明細書
全体に亘って符号116で示されている盲結合コネクタ
が、テスト・ヘッド100と取り付けボードの相互接続の
ため、図4に最もよく示されているように、取り付けボ
ード114に組み込まれている。又、本発明による盲結合
コネクタ116を、電子回路テスタをセット・アップ及び
調整する間に、取り付けボード114の代りに用いられる
調整ボード(図示せず)に組み込むことも可能である。
【0014】更に詳細に検討すると、盲結合コネクタ11
6は、図3に示すように導伝性のほぼ円筒形の本体部分1
18を含む。本体部分118は中心軸120を有している。本体
部分118は、第1の、即ち公称の内径D1を備えている。
例えば、本体部分118は本体部分118の第1の端部118Bに
おいて、雄コネクタ(図示せず)の外側導体を内側に収
容するようになっている内側表面118Aを有している。更
に、本体部分118は本体部分の第2の端部118Dにおいて
切除領域118Cを有している。本体部分118は切除領域118
Cにおいて第2の内径D2を有している。本体部分118の第
2の端部118Dにおける内側表面118Aは、外側に向かって
先細になっており、本体部分の第2の端部に対する挿入
時に雌コネクタ(図3には示されていない)のガイドを
提供するようになっているのが望ましい。
【0015】盲結合コネクタ116は、更に中心軸120に対
応する軸を備えた導電性でほぼ円筒形の中実の中央導体
122を含んでいる。例えば、中央導体122は本体部分118
の第1の端部118Bに並置され、本体部分の第1の端部に
挿入される雄コネクタ(図示せず)の中央導体(図示せ
ず)と接触するようになっている雌端部122Aを備えてい
る。中央導体122は、又図4に示すように、本体部分118
の第2の端部118Dに並置され、本体部分の第2の端部に
挿入される雌コネクタ126の中央導体124と接触するよう
になっている雄端部122Bを備えている。中央導体122の
雄端部122Bは、中央導体122と一体となった雄ピン122C
を含むことが望ましい。
【0016】図3に示すように、中央導体122は本体部
分118の内側表面118Aと向かい合った外側表面122Cを備
えている。中央導体122は本体部分118の第1の内径D1よ
り小さい直径D3を有し、本体部分と中央導体の間に隙間
領域128を提供する。
【0017】本体部分118の第1の端部118Bは、雄コネ
クタ(図示せず)の外側導体(図示せず)を挿入するた
めの、第2の切除領域118Eを含んでいることが望まし
い。更に、中央導体122の雌端部122Aは、図3に示すよ
うにスロットを設けてあることが望ましく、雄コネクタ
(図示せず)が挿入されると、雄コネクタの中央導体
(図示せず)と一体となった雄ピン(図示せず)を収容
する。又、本体部分118は本体部分の第1の端部118Bに
おいてネジ山118Gを含む外側表面118Fを有し、雄コネク
タ(図示せず)が本体部分の第1の端部に挿入される
と、雄コネクタの結合ナット(図示せず)と結合する。
【0018】盲結合コネクタ116は又、中心軸120に対応
する軸を備えた導電性でほぼ円筒形のスリーブ130と、
内側表面130A及び外側表面130Bを備えている。スリーブ
130は、本体部分と電気的に接触する場合に、本体部分1
18の第2の端部118Dにおいて切除領域118C内に配置され
る。スリーブ130の直径の大きくなっている部分130C
は、図4に示すように、本体部分118の第2の端部118D
に挿入される雌コネクタ126の外側導体132に接触するよ
うになっている。スリーブ130は、本体部分118の第2の
端部において切除領域118Cの内径D2にほぼ対応する外径
を有する中実の円筒形部分130Dと、スリーブの中実の円
筒形部分の外径より小さい外径D4を有するスロットが設
けられた部分130Eを含むことが望ましい。
【0019】盲結合コネクタ116は更に、本体部分118内
に中央導体122を支持するために隙間領域128内に配置さ
れた誘電体材料134を含んでいる。図3に示すように、
本体部分118の内側表面118A、スリーブ130の内側表面13
0A、及び中央導体122の外側表面122Cのそれぞれが、そ
れぞれ階段状の部分118H、130F、及び122Dを含むことが
望ましい。更に、誘電体材料134は、一方は本体部分118
及びスリーブ130の内側表面118A及び130Aにそれぞれ対
応する階段状の領域118H及び130F、もう一方は中央導体
122の外側表面122Cに対応する階段状の部分122Dの間に
位置する、誘電体材料を保持するための隙間領域128に
挿入された、円筒形の誘電体材料である。又、円筒形の
誘電体材料134は、図3に示すように、切除された第1
と第2の端部134A及び134Bを有しており、本体部分118
及びスリーブ130の内側表面118A及び130Aに関する階段
状の部分118H及び130F、及び中央導体122の外側表面122
Cに関する階段状の部分122Dによって導入される容量の
導電補償を提供する。
【0020】最後に、盲結合コネクタ116は、スリーブ1
30が本体部分118内に取り付けられる場合に、スリーブ
を本体部分内に保持する手段136を含んでいる。スリー
ブ130を保持する手段136は、本体部分118の切除領域118
Cの内径D2にほぼ相当する外径を有し、本体部分の第2
の端部118D内において、スリーブの中実の円筒形部分13
0Dとスロットが設けられた部分130Eの交点に近い箇所に
配置された保持リングを含むことが望ましい。
【0021】図3及び図4に示すように、盲結合コネク
タ116は盲結合コネクタを調整ボード又は取り付けボー
ド114に取り付けるための手段138を含むことが望まし
い。盲結合コネクタ116を取り付けるための手段138が、
本体部分118の第1と第2の端部118B及び118Dの中間に
位置する、本体部分の外側表面118Fと一体となった環状
フランジ118Iを含んでいる。盲結合コネクタ116を取り
付けるための手段138は又、フランジ118Iと本体部分118
の第1の端部と第2の端部118B及び118Dの一方の間に配
置された、本体部分の外側表面118Fのネジ山の付いた部
分118Jも含んでいる。図4に示すように、このネジ山の
付いた部分118Jは、フランジ118Iが調整ボード又は取り
付けボード114に接触するまで、そのボードの穴140を通
って挿入され、ナット142を収容し、フランジとナット
の間にボードが挟まれることによって、盲結合コネクタ
116をそのボードに取り付けるようになっている。
【0022】図4に示すように、盲結合コネクタ116
は、調整ボード又は取り付けボード114に取り付けら
れ、雌コネクタ126と結合している。好都合なことに、
この雌コネクタ126は標準的なSMA又は3.5mmコネクタで
あってもよい。但し、この雌コネクタ126は、図4に示
すように、雄コネクタに対して従動的な関係を有してテ
スト・ヘッドに取り付けられるコネクタであることが望
ましい。従って、雌コネクタ126の外側導体132は、テス
ト・ヘッド100に提供された円筒形部分144の第1の部分
144A内に位置する、スカート132Aを含むことが望まし
い。円筒形部分144の第2の部分144Bにはバネ146が配置
されている。円筒形部分144の第1と第2の部分144A及
び144Bは、アイリス144Cによって隔てられている。最後
に、バネ146がアイリス144Cとカラー148のリップ148Aの
間に保持されるように、カラー148が雌コネクタの外側
導体132とバネ146の間の、雌コネクタ126の外側導体132
に取り付けられる。結果として、バネ146によってカラ
ー148にバイアスが加えられ、これにより、雌コネクタ1
26がテスト・ヘッド100の円筒形部分144のアイリス144C
から離れて盲結合コネクタ116に向かうことになる。雌
コネクタ126が盲結合コネクタ116に向かって移動する位
置は、スカート132Aがアイリス144Cに突き当たることに
よって制限される。雌コネクタ126は、雌コネクタの外
側導体132と盲結合コネクタ116の直径の大きくなってい
る部分130Cとの間で接続がなされるように、テスト・ヘ
ッド100の円筒形部分144の第1と第2の円筒形部分144A
及び144B内を軸方向に移動する。
【0023】動作時に、1つ以上の盲結合コネクタ116
が、対応する数の雌コネクタ126と結合するように、調
整ボード又は取り付けボード114がテスト・ヘッド100に
インストールされる。例えば、図2に示すように、20の
盲結合コネクタ116と対応する雌コネクタ126を備えるこ
とが可能である。テスト・ヘッド100に調整ボード又は
取り付けボード114をインストールするために、テスト
・ヘッドは複数のスロット150Aが設けられたプル・ダウ
ン/エジェクト・リング150を備えることが望ましい。
調整ボード又は取り付けボード114が回転すると、盲結
合コネクタ116が雌コネクタ126に向かって軸方向に移動
し、ボードとテスト・ヘッド100の間の接続が行われる
ように、そのボードは、スロット150A内に相互に取り付
けられたピン152を備えることが望ましい。
【0024】本発明の一実施例による盲結合コネクタ11
6によって、テスト・ヘッド100及び調整ボード又は取り
付けボード114の標準コネクタを繰り返し相互接続する
ことが可能になる。接続の繰り返し精度が6.0GHzの信号
に対して50dBより大きい状態で測定される。更に、反射
減衰量は6.0GHzの信号に対して30dBより大きい。
【0025】上述の本発明の実施例に、様々な追加修
正、変更、及び適応の余地があることが理解され、認識
されるであろう。例えば、本体部分118の第1の端部118
B及び中央導体122の雌端部122Aは、代わりに、雄コネク
タを提供するように再構成することも可能である。代替
案として、図5に示すように、盲結合コネクタ116の本
体部分118の第1の端部118B及び中央導体122の雌端部12
2Aにおいて、コネクタを省くことも可能であり、例え
ば、セグメント化された、不連続な盲結合コネクタ116'
の本体部分118'及び中央導体122に、それぞれのリード
線を直接ハンダ付けすることも可能である。図5に示す
ように、本体部分118'及び中央導体122は、調整ボード
又は取り付けボード114内の穴140'を通って取り付けら
れる。又、盲結合コネクタ116の本体部分118の外側表面
118Fのフランジ118I及びネジ山118Jを省くことも可能で
あり、ハンダ154を使用して、盲結合コネクタ116'を調
整ボード又は取り付けボード114に取り付けることも可
能である。以上の説明によって高周波電気信号を測定す
る電子回路テスタが開示されたが、本発明の原理は一般
的にコネクタに適用することも可能である。これらの全
てが、特許請求の範囲の同等物の趣旨及び範囲内に包含
される。
【0026】以下に本発明の実施態様を列挙する。
【0027】1. 中心軸と第1の内径を有する導電性
のほぼ円筒形の本体部分であって、該本体部分が、本体
部分の第1の端部において、雄コネクタ及び雌コネクタ
の一方の外側導体を内側に収容するようになっている内
側表面、及び本体部分の第2の端部に切除領域を有し、
更に該切除領域に第2の内径を有する、前記本体部分、
中心軸に対応する軸を有する盲結合コネクタの、導電性
でほぼ円筒形の中実の中央導体であって、前記中央導体
が、本体部分の第1の端部と並置されて、本体部分の第
1の端部に挿入される雄コネクタ及び雌コネクタの一方
の中央導体と接触するようになっている雌端部及び雄端
部の一方、及び本体部分の第2の端部に並置されて本体
部分の第2の端部に挿入される雌コネクタの中央導体に
接触するようになっている雄端部を有し、本体部分の内
側表面に向かい合った外側表面を備え、本体部分と前記
中央導体の間に隙間領域を提供するために本体部分の第
1の内径より小さい直径を有する前記中央導体、本体部
分内に盲結合コネクタの中央導体を支持するための隙間
領域に配置された誘電体材料、中心軸に対応する軸を備
えた導電性のほぼ円筒形のスリーブであって、前記スリ
ーブが内側表面と外側表面を有し、本体部分と電気的な
接触を有して本体部分の第2の端部において切除領域に
配置され、本体部分の第2の端部に挿入される雌コネク
タの外側導体と接触するようになっている前記スリー
ブ、及びスリーブが本体部分内に取り付けられる場合
に、スリーブを本体部分に保持するための手段から構成
される盲結合コネクタ。
【0028】2. 本体部分の第1の端部が、雄コネク
タの外側導体を挿入するための第2の切除領域を有し、
雄コネクタが挿入される場合、雄コネクタの中央導体と
一体となった雄ピンを収容するように盲結合コネクタの
中央導体の雌端部にスロットが設けられており、更に本
体部分の第1の端部の外側表面にネジ山を含み、雄コネ
クタが挿入されると、雄コネクタの結合ナットに結合す
ることを特徴とする、項番1に記載の盲結合コネクタ。
【0029】3. 盲結合コネクタの中央導体の雄端部
が、前記中央導体と一体となった雄ピンを含むことを特
徴とする、項番1に記載の盲結合コネクタ。
【0030】4. 盲結合コネクタの本体部分の内側表
面、スリーブの内側表面、及び中央導体の外側表面のそ
れぞれが階段状の部分を含み、誘電体材料が、一方は本
体部分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分、
もう一方は中央導体の外側表面に関する階段状の部分の
間に位置する、誘電体材料を保持するための隙間領域に
挿入された円筒形の誘電体材料であり、円筒形の誘電体
材料が第1と第2の端部を有し、及び円筒形の誘電体材
料の第1と第2の端部が切除され、盲結合コネクタの本
体部分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分と
中央導体の外側表面に関する階段状の部分によって導入
される容量の導電補償が提供されることを特徴とする、
項番1に記載の盲結合コネクタ。
【0031】5. 盲結合コネクタの本体部分の内側表
面、スリーブの内側表面、及び中央導体の外側表面のそ
れぞれが階段状の部分を含み、誘電体材料が、一方は本
体部分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分、
もう一方は中央導体の外側表面に関する階段状の部分の
間に位置する、誘電体材料を保持するための隙間領域に
挿入された円筒形の誘電体材料であり、円筒形の誘電体
材料が第1と第2の端部を有し、及び円筒形の誘電体材
料の第1と第2の端部が切除され、盲結合コネクタの本
体部分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分と
中央導体の外側表面に関する階段状の部分によって導入
される容量の導電補償が提供されることを特徴とする、
項番2に記載の盲結合コネクタ。
【0032】6. スリーブが、本体部分の第2の端部
における切除領域の内径にほぼ相当する外径を備えた中
実の円筒形部分と、スリーブの中実の円筒形部分の外径
より小さい外径、及び本体の第2の端部に挿入される雌
コネクタの外側導体に接触するための直径の大きくなっ
ている部分を備えるスロットが設けられた部分を含むこ
とを特徴とする、項番1に記載の盲結合コネクタ。
【0033】7. スリーブが、本体部分の第2の端部
における切除領域の内径にほぼ相当する外径を備えた中
実の円筒形部分と、スリーブの中実の円筒形部分の外径
より小さい外径、及び本体の第2の端部に挿入される雌
コネクタの外側導体に接触するための直径の大きくなっ
ている部分を備えるスロットが設けられた備えた部分を
含むことを特徴とする、項番2に記載の盲結合コネク
タ。
【0034】8. スリーブを保持する手段が、本体部
分の切除領域の内径にほぼ相当する外径を備え、本体部
分の第2の端部内において、スリーブの中実の円筒形部
分とスロットが設けられた部分の交点に近い箇所に配置
される保持リングを含むことを特徴とする、項番6に記
載の盲結合コネクタ。
【0035】9. スリーブを保持する手段が、本体部
分の切除領域の内径にほぼ相当する外径を備え、本体部
分の第2の端部内において、スリーブの中実の円筒形部
分とスロットが設けられた部分の交点に近い箇所に配置
される保持リングを含むことを特徴とする、項番7に記
載の盲結合コネクタ。
【0036】10. 本体部分の第2の端部における内側
表面が、盲結合コネクタの本体部分の第2の端部に対す
る挿入の間、雌コネクタのガイドを提供するように、外
側に向かって先細になっていることを特徴とする、項番
1に記載の盲結合コネクタ。
【0037】11. 電子回路テスタにおいて、テスト・
ヘッドと調整ボード又は取り付けボードを相互接続する
ための盲結合コネクタであって、中心軸と第1の内径を
有する導電性のほぼ円筒形の本体部分であって、該本体
部分が、本体部分の第1の端部において、雄コネクタ及
び雌コネクタの一方の外側導体を内側に収容するように
なっている内側表面、及び本体部分の第2の端部に切除
領域を有し、更に該切除領域に第2の内径を有し、又盲
結合コネクタを前記ボードに取り付けるための手段を含
む外側表面も有している、前記本体部分、中心軸に対応
する軸を有する盲結合コネクタの、導電性でほぼ円筒形
の中実の中央導体であって、前記中央導体が、本体部分
の第1の端部と並置されて、本体部分の第1の端部に挿
入される雄コネクタ及び雌コネクタの一方の中央導体と
接触するようになっている雌端部及び雄端部の一方、及
び本体部分の第2の端部に並置されて本体部分の第2の
端部に挿入される雌コネクタの中央導体に接触するよう
になっている雄端部を有し、本体部分の内側表面に向か
い合った外側表面を備え、本体部分と前記中央導体の間
に隙間領域を提供するために本体部分の第1の内径より
小さい直径を有する前記中央導体、本体部分内に盲結合
コネクタの中央導体を支持するための隙間領域に配置さ
れた誘電体材料、中心軸に対応する軸を備えた導電性の
ほぼ円筒形のスリーブであって、前記スリーブが内側表
面と外側表面を有し、本体部分と電気的な接触を有して
本体部分の第2の端部において切除領域に配置され、本
体部分の第2の端部に挿入される雌コネクタの外側導体
と接触するようになっている前記スリーブ、及びスリー
ブが本体部分内に取り付けられる場合に、スリーブを本
体部分に保持するための手段から構成される盲結合コネ
クタ。
【0038】12. 盲結合コネクタをボードに取り付け
るための手段が、本体部分の第1と第2の端部の中間に
位置する、本体部分の外側表面と一体となった環状フラ
ンジ、及びフランジと、本体部分の第1及び第2の端部
の一方との間に配置されたネジ山の付いた部分から構成
され、ネジ山の付いた部分が、フランジがボードに接触
するまで、ボードの穴を通って挿入され、ナットを収容
してフランジとナットの間にボードを挟むことによっ
て、盲結合コネクタをボードに取り付けるようになって
いることを特徴とする、項番11に記載の盲結合コネク
タ。
【0039】13. 本体部分の第1の端部が、雄コネク
タの中央導体を挿入するための、第2の切除領域を含
み、雄コネクタが挿入された場合、盲結合コネクタの中
央導体の雌端部に、雄コネクタの中央導体と一体となっ
た雄ピンを収容するためのスロットが設けられており、
更に、雄コネクタが挿入されると、雄コネクタの結合ナ
ットと結合するための、本体部分の第1の端部の外側表
面上のネジ山を含むことを特徴とする、項番11に記載の
盲結合コネクタ。
【0040】14. 本体部分の第1の端部が、雄コネク
タの中央導体を挿入するための、第2の切除領域を含
み、雄コネクタが挿入された場合、盲結合コネクタの中
央導体の雌端部に、雄コネクタの中央導体と一体となっ
た雄ピンを収容するためのスロットが設けられており、
更に、雄コネクタが挿入されると、雄コネクタの結合ナ
ットと結合するための、本体部分の第1の端部の外側表
面上のネジ山を含むことを特徴とする、項番12に記載の
盲結合コネクタ。
【0041】15. 盲結合コネクタの本体部分の内側表
面、スリーブの内側表面、及び中央導体の外側表面のそ
れぞれが階段状の部分を含み、誘電体材料が、一方は本
体部分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分、
もう一方は中央導体の外側表面に関する階段状の部分の
間に位置する、誘電体材料を保持するための隙間領域に
挿入された円筒形の誘電体材料であり、円筒形の誘電体
材料の第1と第2の端部が切除され、円筒形の誘電体材
料が第1と第2の端部を備え、盲結合コネクタの本体部
分及びスリーブの内側表面に関する階段状の部分と中央
導体の外側表面に関する階段状の部分によって導入され
る容量の導電補償が提供されることを特徴とする、項番
11に記載の盲結合コネクタ。
【0042】16. スリーブが、本体部分の第2の端部
における切除領域の内径にほぼ相当する外径を備えた中
実の円筒形部分と、スリーブの中実の円筒形部分の外径
より小さい外径、及び本体の第2の端部に挿入される雌
コネクタの外側導体に接触するための直径の大きくなっ
ている部分を有するスロットが設けられた部分を含むこ
とを特徴とする、項番11に記載の盲結合コネクタ。
【0043】17. スリーブが、本体部分の第2の端部
における切除領域の内径にほぼ相当する外径を備えた中
実の円筒形部分と、スリーブの中実の円筒形部分の外径
より小さい外径、及び本体の第2の端部に挿入される雌
コネクタの外側導体に接触するための直径の大きくなっ
ている部分を有するスロットが設けられた部分を含むこ
とを特徴とする、項番12に記載の盲結合コネクタ。
【0044】18. スリーブを保持する手段が、本体部
分の切除領域の内径にほぼ相当する外径を有し、本体部
分の第2の端部内において、スリーブの中実の円筒形部
分とスロットが設けられた部分の交点に近い箇所に配置
される保持リングを含むことを特徴とする、項番16に記
載の盲結合コネクタ。
【0045】19. スリーブを保持する手段が、本体部
分の切除領域の内径にほぼ相当する外径を有し、本体部
分の第2の端部内において、スリーブの中実の円筒形部
分とスロットが設けられた部分の交点に近い箇所に配置
される保持リングを含むことを特徴とする、項番17に記
載の盲結合コネクタ。
【0046】20. 本体部分の第2の端部に挿入される
雌コネクタが、雄コネクタに対して従動的な関係を有し
てテスト・ヘッドに取り付けられるコネクタであって、
前記コネクタがテスト・ヘッドに提供された円筒形部分
の第1の部分に位置する、雌コネクタの外側導体と一体
となったスカート、円筒形部分の第2の部分に配置され
たバネであって、前記円筒形部分の第1の部分と第2の
部分がアイリスによって隔てられている前記バネ、及び
バネがアイリスとカラーのリップの間に取り付けられる
ように、雌コネクタの外側導体とバネの間において、雌
コネクタの外側導体に取り付けられたカラーを含み、バ
ネによってカラーにバイアスが加えられ、これによって
雌コネクタがアイリスから離れて盲結合コネクタに向か
うが、雌コネクタが盲結合コネクタに向かって移動する
位置は、スカートがアイリスに突き当たることによって
制限され、この結果、雌コネクタの外側導体との間の接
続が、盲結合コネクタのスリーブの直径の大きくなって
いる部分によってなされるように、雌コネクタが円筒形
部分の第1と第2の円筒形部分を軸方向に移動すること
を特徴とする、項番11に記載の盲結合コネクタ。
【0047】
【発明の効果】本発明によって、より長い期間にわたっ
て、セット・アップ、調整、及び実際のテストの間にテ
スト・ヘッドを調整ボード又は取り付けボードに対して
繰り返し接続するための電子回路テスタのコネクタ構造
が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の電子回路テスタの等角図である。
【図2】本発明の一実施例による盲結合コネクタが好適
に組み込まれている、図1に示す電子回路テスタのテス
ト・ヘッド、負荷ボード、及び取り付けボードの分解図
である。
【図3】本発明の一実施例による盲結合コネクタの断面
図である。
【図4】図3に示す本発明の一実施例による盲結合コネ
クタとの接続のために、電子回路テスタのテスト・ヘッ
ドに好適に組み込まれた、雄コネクタに対して従動的な
関係を有してテスト・ヘッドに取り付けられる雌コネク
タの断面図である。
【図5】本発明による盲結合コネクタの代替実施例に関
する断面図である。
【符号の説明】
100 テスト・ヘッド 112 負荷ボード 114 取り付けボード 116 盲結合コネクタ 118 本体部分 122、124 中央導体 126 雌コネクタ 128 隙間領域 130 スリーブ 134 誘電体材料 146 バネ 148 カラー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01R 17/04 501 C

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】中心軸と第1の内径を有する導電性のほぼ
    円筒形の本体部分であって、該本体部分が、本体部分の
    第1の端部において、雄コネクタ及び雌コネクタの一方
    の外側導体を内側に収容するようになっている内側表
    面、及び本体部分の第2の端部に切除領域を有し、更に
    該切除領域に第2の内径を有する、前記本体部分、 中心軸に対応する軸を有する盲結合コネクタの、導電性
    でほぼ円筒形の中実の中央導体であって、前記中央導体
    が、本体部分の第1の端部と並置されて、本体部分の第
    1の端部に挿入される雄コネクタ及び雌コネクタの一方
    の中央導体と接触するようになっている雌端部及び雄端
    部の一方、及び本体部分の第2の端部に並置されて本体
    部分の第2の端部に挿入される雌コネクタの中央導体に
    接触するようになっている雄端部を有し、本体部分の内
    側表面に向かい合った外側表面を備え、本体部分と前記
    中央導体の間に隙間領域を提供するために本体部分の第
    1の内径より小さい直径を有する前記中央導体、 本体部分内に盲結合コネクタの中央導体を支持するため
    の隙間領域に配置された誘電体材料、 中心軸に対応する軸を備えた導電性のほぼ円筒形のスリ
    ーブであって、前記スリーブが内側表面と外側表面を有
    し、本体部分と電気的な接触を有して本体部分の第2の
    端部において切除領域に配置され、本体部分の第2の端
    部に挿入される雌コネクタの外側導体と接触するように
    なっている前記スリーブ、及びスリーブが本体部分内に
    取り付けられる場合に、スリーブを本体部分に保持する
    ための手段から構成される盲結合コネクタ。
JP7249086A 1994-10-03 1995-09-27 電子回路テスタ用盲結合コネクタ Pending JPH08184611A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/316,970 US5558541A (en) 1994-10-03 1994-10-03 Blind mate connector for an electronic circuit tester
US316970 1994-10-03

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08184611A true JPH08184611A (ja) 1996-07-16

Family

ID=23231520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7249086A Pending JPH08184611A (ja) 1994-10-03 1995-09-27 電子回路テスタ用盲結合コネクタ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5558541A (ja)
JP (1) JPH08184611A (ja)
DE (1) DE19526961C2 (ja)
GB (1) GB2293926B (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3286183B2 (ja) * 1996-09-30 2002-05-27 アジレント・テクノロジー株式会社 同軸コネクタフローティングマウント装置
US6347287B1 (en) 1999-05-07 2002-02-12 International Business Machines Corporation Calibration system and method for receiver guardband reductions
US6510724B1 (en) * 2000-06-08 2003-01-28 Motorola, Inc. Method and system for selective soldering process characterization
US6552528B2 (en) * 2001-03-15 2003-04-22 Advantest Corporation Modular interface between a device under test and a test head
US6488545B1 (en) * 2001-09-14 2002-12-03 Tektronix, Inc. Electrical signal interconnect assembly
US6879807B2 (en) * 2002-04-12 2005-04-12 Intel Corporation Remote access unit for wireless wide-area data networking
US6791317B1 (en) 2002-12-02 2004-09-14 Cisco Technology, Inc. Load board for testing of RF chips
US6900649B1 (en) * 2003-09-23 2005-05-31 Keithley Instruments, Inc. High frequency RF interconnect for semiconductor automatic test equipment
US7627445B2 (en) * 2003-11-26 2009-12-01 Advantest Corporation Apparatus for testing a device with a high frequency signal
US7672805B2 (en) * 2003-11-26 2010-03-02 Advantest Corporation Synchronization of modules for analog and mixed signal testing in an open architecture test system
US6981889B1 (en) 2004-07-30 2006-01-03 Agilent Technologies, Inc. Signal isolating blindmate connector
US7274202B2 (en) * 2005-10-07 2007-09-25 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Carousel device, system and method for electronic circuit tester
US8622762B2 (en) 2010-11-22 2014-01-07 Andrew Llc Blind mate capacitively coupled connector
US9219461B2 (en) 2011-12-22 2015-12-22 Commscope Technologies Llc Capacitive blind-mate module interconnection
US8801460B2 (en) 2012-11-09 2014-08-12 Andrew Llc RF shielded capacitively coupled connector
US8747152B2 (en) 2012-11-09 2014-06-10 Andrew Llc RF isolated capacitively coupled connector
DE102013200810A1 (de) * 2013-01-18 2014-07-24 Robert Bosch Gmbh Abschirmanordnung für eine elektrische Steckverbindung
CN204349085U (zh) 2014-10-10 2015-05-20 康普技术有限责任公司 一种盲配浮动型的低互调射频连接器组件
WO2016106641A1 (zh) * 2014-12-31 2016-07-07 深圳市大富科技股份有限公司 一种测试接头

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4336974A (en) * 1978-11-13 1982-06-29 Microwave Development Labs. Inc. Coaxial rotary joint
US4333697A (en) * 1980-07-14 1982-06-08 Sealectro Corporation Adapter for a coaxial connector
US4355857A (en) * 1980-11-07 1982-10-26 Hayward Robert D Coax push-on test connector
GB2092396B (en) * 1981-01-07 1985-01-30 Bunker Ramo Push pull connector
US4687279A (en) * 1985-12-20 1987-08-18 Storm Products Co. High frequency coaxial connector adaptor
US4824399A (en) * 1987-06-19 1989-04-25 Amp Incorporated Phase shifter
US4846731A (en) * 1988-08-03 1989-07-11 Amp Incorporated Shielded electrical connectors
US4995837A (en) * 1989-08-30 1991-02-26 Amp Incorporated Precision test connector

Also Published As

Publication number Publication date
GB9519316D0 (en) 1995-11-22
GB2293926A (en) 1996-04-10
DE19526961A1 (de) 1996-04-04
GB2293926B (en) 1998-09-16
DE19526961C2 (de) 1996-10-17
US5558541A (en) 1996-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH08184611A (ja) 電子回路テスタ用盲結合コネクタ
US4665360A (en) Docking apparatus
US6535006B2 (en) Test socket and system
US4734046A (en) Coaxial converter with resilient terminal
JP3527724B2 (ja) Icソケット及びic試験装置
JP3286183B2 (ja) 同軸コネクタフローティングマウント装置
US5015946A (en) High density probe
US6515499B1 (en) Modular semiconductor tester interface assembly for high performance coaxial connections
US6252415B1 (en) Pin block structure for mounting contact pins
US6951482B1 (en) Controlled-impedance coaxial cable interconnect system
US6348810B1 (en) Interface unit for a tester and method of connecting a tester with a semiconductor device to be tested
US5552701A (en) Docking system for an electronic circuit tester
US6636057B1 (en) Electric part testing apparatus with movable adapter
EP0177809B1 (en) Coaxial connector arrangement
EP0461391B1 (en) Electrical test probe having integral strain relief and ground connection
JP3302576B2 (ja) コネクタ付きプローブカード及びdut接続装置
US7057410B1 (en) Interface structure for semiconductor integrated circuit test equipment
US4975639A (en) Test head with improved shielding
EP0462944A1 (en) Universal multicontact connection between an EWS probe card and a test card of a "test-on-wafer" station
US6981889B1 (en) Signal isolating blindmate connector
US6441632B1 (en) Spring probe contactor for testing PGA devices
US6407568B1 (en) Apparatus for probing ends of pins
KR100560113B1 (ko) 전기 부품 시험장치
KR100337234B1 (ko) 테스트 자동화용 하이스피드 프로브
KR20050033939A (ko) 전기 부품 시험장치

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050920

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20051220

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20051226

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060316

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060425