JPH08180446A - 光情報記録再生用光学装置 - Google Patents
光情報記録再生用光学装置Info
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- JPH08180446A JPH08180446A JP23028695A JP23028695A JPH08180446A JP H08180446 A JPH08180446 A JP H08180446A JP 23028695 A JP23028695 A JP 23028695A JP 23028695 A JP23028695 A JP 23028695A JP H08180446 A JPH08180446 A JP H08180446A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】温度変化により発生する球面収差を自動補正で
きる光情報記録再生装置用の光学装置を提供する。 【構成】レーザ光を射出する半導体レーザ13と、この
レーザ光を情報記録面27に集光する、有限の結像倍率
を持つ対物レンズ23とを有する光学装置において、周
辺温度を検出する温度センサ37と、温度センサ37が
検出した温度に応じて、上記半導体レーザ13の発光点
13aから上記情報記録面27に至る光学距離を調整す
る方向に上記レーザ光源部11を移動させる制御回路3
5および移動機構31を備えた。
きる光情報記録再生装置用の光学装置を提供する。 【構成】レーザ光を射出する半導体レーザ13と、この
レーザ光を情報記録面27に集光する、有限の結像倍率
を持つ対物レンズ23とを有する光学装置において、周
辺温度を検出する温度センサ37と、温度センサ37が
検出した温度に応じて、上記半導体レーザ13の発光点
13aから上記情報記録面27に至る光学距離を調整す
る方向に上記レーザ光源部11を移動させる制御回路3
5および移動機構31を備えた。
Description
【0001】
【技術分野】本発明は、光情報記録再生装置、例えばコ
ンパクトディスクプレーヤー、光磁気ディスク装置など
に適用される光学装置に関する。
ンパクトディスクプレーヤー、光磁気ディスク装置など
に適用される光学装置に関する。
【0002】
【従来技術およびその問題点】半導体レーザなどから発
せられた光束を光学素子により情報記録面に集光する光
情報記録再生装置では、温度が変化すると、光学素子の
屈折率変化および熱膨張により光学素子のパワー変動に
よる集光位置の移動、球面収差などの収差変動が起こ
る。かかる場合も、従来の光情報記録再生装置では、対
物レンズのフォーカシングによる集光位置の補正がなさ
れるのみで、収差変化に対する積極的な補正はなされて
いなかった。集光位置の補正のみでは、大きな収差変化
による影響は除去できない。このため、特にプラスチッ
クのような線膨張係数の大きな材料を用いたレンズは、
温度変化の大きな環境では使用できなかった。
せられた光束を光学素子により情報記録面に集光する光
情報記録再生装置では、温度が変化すると、光学素子の
屈折率変化および熱膨張により光学素子のパワー変動に
よる集光位置の移動、球面収差などの収差変動が起こ
る。かかる場合も、従来の光情報記録再生装置では、対
物レンズのフォーカシングによる集光位置の補正がなさ
れるのみで、収差変化に対する積極的な補正はなされて
いなかった。集光位置の補正のみでは、大きな収差変化
による影響は除去できない。このため、特にプラスチッ
クのような線膨張係数の大きな材料を用いたレンズは、
温度変化の大きな環境では使用できなかった。
【0003】一般に、プラスチックレンズは、温度上昇
によりパワーが弱くなる。したがって、プラスチックレ
ンズを含む光学系は、温度の上昇とともに集光位置が光
源から遠ざかる方向にずれてしまう。そこで、従来の有
限系光情報記録再生装置ではフォーカシングを、レーザ
光源に対して対物レンズを移動して行なっている。
によりパワーが弱くなる。したがって、プラスチックレ
ンズを含む光学系は、温度の上昇とともに集光位置が光
源から遠ざかる方向にずれてしまう。そこで、従来の有
限系光情報記録再生装置ではフォーカシングを、レーザ
光源に対して対物レンズを移動して行なっている。
【0004】しかし、かかる従来のフォーカシングでは
温度上昇によるパワー変化によって発生した球面収差は
除去されておらず(図3(A)、(B)参照)、良好な
記録再生が妨げられている。また、温度変化量が大きく
なるにつれて発生する球面収差量も大きくなるため、温
度変化の大きな環境ではプラスチックレンズの使用はで
きなかった。
温度上昇によるパワー変化によって発生した球面収差は
除去されておらず(図3(A)、(B)参照)、良好な
記録再生が妨げられている。また、温度変化量が大きく
なるにつれて発生する球面収差量も大きくなるため、温
度変化の大きな環境ではプラスチックレンズの使用はで
きなかった。
【0005】
【発明の目的】本発明は、温度変化により発生する球面
収差を自動補正できる光情報記録再生装置用の光学装置
を提供すること、を目的とする。
収差を自動補正できる光情報記録再生装置用の光学装置
を提供すること、を目的とする。
【0006】
【発明の概要】一般に、光学系において、物体距離を短
くして結像倍率を大きくすると、アンダー(マイナス)
の球面収差が発生する。図5は、結像倍率と球面収差発
生量との関係を示している。このような現象を、近距離
変化と呼ぶ。本発明は、発光点と情報記録面の距離を短
くする方向に発光点を移動させると、結像倍率が大きく
なり、温度変化によって発生していた球面収差が近距離
変化により補正されて良好な記録再生特性を得ることが
できる点に着目してなされたものである。かかる観点に
着目してなされた本発明は、発散光を射出する光源、お
よびこの発散光を情報記録面に集光する有限の結像倍率
を持つ対物レンズを有する光学装置において、温度に応
じて上記光源および上記情報記録面間の光学距離を変化
させる調整部材を設けたこと、に特徴を有する。
くして結像倍率を大きくすると、アンダー(マイナス)
の球面収差が発生する。図5は、結像倍率と球面収差発
生量との関係を示している。このような現象を、近距離
変化と呼ぶ。本発明は、発光点と情報記録面の距離を短
くする方向に発光点を移動させると、結像倍率が大きく
なり、温度変化によって発生していた球面収差が近距離
変化により補正されて良好な記録再生特性を得ることが
できる点に着目してなされたものである。かかる観点に
着目してなされた本発明は、発散光を射出する光源、お
よびこの発散光を情報記録面に集光する有限の結像倍率
を持つ対物レンズを有する光学装置において、温度に応
じて上記光源および上記情報記録面間の光学距離を変化
させる調整部材を設けたこと、に特徴を有する。
【0007】
【実施例】以下図示実施の形態に基づいて本発明を説明
する。図1は、本発明を適用した光情報記録再生装置の
第1の実施の形態の光学系を示す図、図2は、第2の実
施の形態の光源部付近の拡大断面図である。
する。図1は、本発明を適用した光情報記録再生装置の
第1の実施の形態の光学系を示す図、図2は、第2の実
施の形態の光源部付近の拡大断面図である。
【0008】レーザ光源部11から射出されたレーザビ
ームは、ビームスプリッタ21で反射し、対物レンズ2
3で光ディスク25の保護層26を透過して記録面27
上に集束(集光)される。記録面27上に集束されたレ
ーザビームは、記録面27で反射して光路を逆行する。
つまり、保護層26および対物レンズ23を透過し、さ
らにビームスプリッタ21を透過して、図示しない信号
処理光学系に導かれる。信号処理光学系は、公知の信号
検出系、フォーカスエラー検出系、トラッキングエラー
検出系などを含む。なお、対物レンズ23は、通常、図
示しない公知のフォーカス調整およびトラッキング調整
を行なうアクチュエータに支持されている。また、フォ
ーカスエラー調整は、フォーカスエラー検出系により検
出されたフォーカス信号に基づいて行なわれ、トラッキ
ング調整は、トラッキングエラー検出系により検出され
たトラッキングエラー信号に基づいて行なわれるのが一
般的である。
ームは、ビームスプリッタ21で反射し、対物レンズ2
3で光ディスク25の保護層26を透過して記録面27
上に集束(集光)される。記録面27上に集束されたレ
ーザビームは、記録面27で反射して光路を逆行する。
つまり、保護層26および対物レンズ23を透過し、さ
らにビームスプリッタ21を透過して、図示しない信号
処理光学系に導かれる。信号処理光学系は、公知の信号
検出系、フォーカスエラー検出系、トラッキングエラー
検出系などを含む。なお、対物レンズ23は、通常、図
示しない公知のフォーカス調整およびトラッキング調整
を行なうアクチュエータに支持されている。また、フォ
ーカスエラー調整は、フォーカスエラー検出系により検
出されたフォーカス信号に基づいて行なわれ、トラッキ
ング調整は、トラッキングエラー検出系により検出され
たトラッキングエラー信号に基づいて行なわれるのが一
般的である。
【0009】レーザ光源部11は、詳細は図示しない
が、半導体レーザ13を内蔵し、光情報記録再生装置の
固定部に光軸に沿って進退動(平行移動)自在に支持さ
れている。また、半導体レーザ13の発光点13a(射
出面)の前には透明平行平板からなるカバーガラス15
が配置されている。
が、半導体レーザ13を内蔵し、光情報記録再生装置の
固定部に光軸に沿って進退動(平行移動)自在に支持さ
れている。また、半導体レーザ13の発光点13a(射
出面)の前には透明平行平板からなるカバーガラス15
が配置されている。
【0010】このレーザ光源部11は、光源移動機構3
1に連結支持され、光源移動機構31によってビームス
プリッタ21に対して進退動される。光源移動機構31
は、レーザ光源部11を精密に移動できるピエゾ素子な
どの素子、あるいはマイクロメータなどの機構であれば
よい。
1に連結支持され、光源移動機構31によってビームス
プリッタ21に対して進退動される。光源移動機構31
は、レーザ光源部11を精密に移動できるピエゾ素子な
どの素子、あるいはマイクロメータなどの機構であれば
よい。
【0011】光源移動機構31は、光情報記録再生装置
内の温度、特に対物レンズ23付近の温度を検出する温
度センサ37により検出された温度に基づいて、制御回
路35によりサーボ回路33を介して駆動される。温度
センサ37が検出した温度と光源移動機構31の移動方
向および移動量に関するデータとして、設計値、あるい
は予め計測した値に基づくデータが制御回路35の内部
ROM に書込まれている。なお、望ましくは、個々の光情
報記録再生装置ごとに計測し、EEPROMなどからなる内部
ROM に書込む。温度測定する箇所は1か所に限定され
ず、温度の影響を受けやすい部材、箇所に複数設置して
もよい。
内の温度、特に対物レンズ23付近の温度を検出する温
度センサ37により検出された温度に基づいて、制御回
路35によりサーボ回路33を介して駆動される。温度
センサ37が検出した温度と光源移動機構31の移動方
向および移動量に関するデータとして、設計値、あるい
は予め計測した値に基づくデータが制御回路35の内部
ROM に書込まれている。なお、望ましくは、個々の光情
報記録再生装置ごとに計測し、EEPROMなどからなる内部
ROM に書込む。温度測定する箇所は1か所に限定され
ず、温度の影響を受けやすい部材、箇所に複数設置して
もよい。
【0012】次に、図2に示した第2の実施の形態につ
いて説明する。図1に示した第1の実施の形態は、温度
を測定して半導体レーザを移動させる構成であったが、
第2の実施の形態は、温度変化により伸縮する、所定の
線膨張係数を有する調整部材によって光源(半導体レー
ザ)を移動させることに特徴がある。
いて説明する。図1に示した第1の実施の形態は、温度
を測定して半導体レーザを移動させる構成であったが、
第2の実施の形態は、温度変化により伸縮する、所定の
線膨張係数を有する調整部材によって光源(半導体レー
ザ)を移動させることに特徴がある。
【0013】この第2の実施の形態のレーザ光源部40
は、図1に示した光情報記録再生装置に、レーザ光源部
11に代えて装着される。ただし、光源移動機構31、
サーボ回路33、制御回路35および温度センサ37は
不要である。そこで、レーザ光源部40の断面図のみを
図2に示してある。
は、図1に示した光情報記録再生装置に、レーザ光源部
11に代えて装着される。ただし、光源移動機構31、
サーボ回路33、制御回路35および温度センサ37は
不要である。そこで、レーザ光源部40の断面図のみを
図2に示してある。
【0014】レーザ光源部40のガイド筒41内には、
ガイドアダプタ47に固定された半導体レーザ43が収
容されている。ガイドアダプタ47は、その外周面47
aがガイド筒41の内周面41aに摺接して、傾斜しな
いで軸Xに沿って自在に移動するように形成されてい
る。
ガイドアダプタ47に固定された半導体レーザ43が収
容されている。ガイドアダプタ47は、その外周面47
aがガイド筒41の内周面41aに摺接して、傾斜しな
いで軸Xに沿って自在に移動するように形成されてい
る。
【0015】さらにガイドアダプタ47とガイド筒41
の底面41bとの間には、温度変化によりガイドアダプ
タ47を移動する方向に伸縮する、環状の温度変形部材
49が装着されている。つまり半導体レーザ43は、温
度が変化すると、温度変形部材49によって情報記録面
との間の光学距離を変更する方向に平行移動される。こ
れによって半導体レーザ43の発光点43aとビームス
プリッタ21との距離が変化する。温度変形部材49の
材質および移動方向の長さは、後述するように、予め測
定した温度変化と収差との関係に基づいて設定する。な
お、本実施の形態の温度変形部材49は、ガイド筒41
bの底面およびガイドアダプタ47の背面47bとに接
着されている。
の底面41bとの間には、温度変化によりガイドアダプ
タ47を移動する方向に伸縮する、環状の温度変形部材
49が装着されている。つまり半導体レーザ43は、温
度が変化すると、温度変形部材49によって情報記録面
との間の光学距離を変更する方向に平行移動される。こ
れによって半導体レーザ43の発光点43aとビームス
プリッタ21との距離が変化する。温度変形部材49の
材質および移動方向の長さは、後述するように、予め測
定した温度変化と収差との関係に基づいて設定する。な
お、本実施の形態の温度変形部材49は、ガイド筒41
bの底面およびガイドアダプタ47の背面47bとに接
着されている。
【0016】図1に示した光学系の構成における温度変
化と球面収差および正弦条件の関係を図3に、温度変化
量と発生する球面収差との関係を図4に示した。この光
学系の構成は、下記表1の通りである。ただし、半導体
レーザ13の発光点13aおよび半導体レーザ43の発
光点43aから対物レンズ23の第1面(面 NO.5)ま
での距離は15.18mm 、結像倍率m=-0.200、射出側開口
数NA=0.5 であり、さらに、 r:光学素子の境界面の曲率半径、 d:光学素子の
面間距離、 n:波長780nm の光の屈折率、 νd :d線のアッ
ベ数、 α:線膨張係数、 β:屈折率の温
度係数(dn/dT)、 である。なお、面 NO.1、2は半導体レーザ13、43
のカバーガラス15、45、面 NO.3、4はビームスプ
リッタ21、面 NO.5、6は対物レンズ23、面NO.7
および8は情報記録媒体25の保護層26を示してい
る。
化と球面収差および正弦条件の関係を図3に、温度変化
量と発生する球面収差との関係を図4に示した。この光
学系の構成は、下記表1の通りである。ただし、半導体
レーザ13の発光点13aおよび半導体レーザ43の発
光点43aから対物レンズ23の第1面(面 NO.5)ま
での距離は15.18mm 、結像倍率m=-0.200、射出側開口
数NA=0.5 であり、さらに、 r:光学素子の境界面の曲率半径、 d:光学素子の
面間距離、 n:波長780nm の光の屈折率、 νd :d線のアッ
ベ数、 α:線膨張係数、 β:屈折率の温
度係数(dn/dT)、 である。なお、面 NO.1、2は半導体レーザ13、43
のカバーガラス15、45、面 NO.3、4はビームスプ
リッタ21、面 NO.5、6は対物レンズ23、面NO.7
および8は情報記録媒体25の保護層26を示してい
る。
【0017】
【表1】 面NO. r d n νd α β 1 ∞ 0.25 1.51072 64.1 74.0×10-7 2.80×10−6 2 ∞ 3 ∞ 4.00 1.51702 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 4 ∞ 2.00 5 1.832 1.85 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 6 -3.335 7 ∞ 1.2 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 8 ∞ ただし、面 NO.5、6は非球面であり、非球面は下記式
で定義され、各面の非球面係数は下記の通りである。 x=cy2/[1+{1-(1+K)c2y2}1/2]+A4y4+A6y6+A8y8+A10y10 NO.5 :K=-0.600、A4 =-4.641×10-3、A6=-3.079 ×10
-4、A8=-2.536 ×10-4、A10=-4.920×10-6 NO.6 :K= 0.000、A4 =3.613 ×10-2、A6=-1.020 ×10
-2、A8=1.540×10-3、A10=-6.056×10-6
で定義され、各面の非球面係数は下記の通りである。 x=cy2/[1+{1-(1+K)c2y2}1/2]+A4y4+A6y6+A8y8+A10y10 NO.5 :K=-0.600、A4 =-4.641×10-3、A6=-3.079 ×10
-4、A8=-2.536 ×10-4、A10=-4.920×10-6 NO.6 :K= 0.000、A4 =3.613 ×10-2、A6=-1.020 ×10
-2、A8=1.540×10-3、A10=-6.056×10-6
【0018】この実施の形態では、温度が上昇すると、
発光点13a、43aと情報記録面27間の距離を短く
する方向に半導体レーザ13、43を移動させる。図5
は、この実施の形態での温度が設計温度から20℃上昇
した状態において、結像倍率の変化と発生する球面収差
との関係を表わしている。このように結像倍率を設計温
度での結像倍率より大きくすると、近距離変化により、
発生していた球面収差が補正されて(図3(C)参
照)、良好な記録再生特性を得ることができる。そこ
で、第1の実施の形態では温度変化に応じて光源移動機
構31により半導体レーザ13を移動し、第2の実施の
形態では温度変形部材49の伸縮により半導体レーザ4
3を移動している。
発光点13a、43aと情報記録面27間の距離を短く
する方向に半導体レーザ13、43を移動させる。図5
は、この実施の形態での温度が設計温度から20℃上昇
した状態において、結像倍率の変化と発生する球面収差
との関係を表わしている。このように結像倍率を設計温
度での結像倍率より大きくすると、近距離変化により、
発生していた球面収差が補正されて(図3(C)参
照)、良好な記録再生特性を得ることができる。そこ
で、第1の実施の形態では温度変化に応じて光源移動機
構31により半導体レーザ13を移動し、第2の実施の
形態では温度変形部材49の伸縮により半導体レーザ4
3を移動している。
【0019】より詳細には、この実施の形態では、設計
温度のときの半導体レーザ13、43の発光点13a、
43aと情報記録媒体25の情報記録面27の距離が1
9.441mmである。温度が20℃上昇したときには、この
距離が0.300mm 短くなるように、半導体レーザ13、4
3を移動させている。つまり、半導体レーザ13、43
を、1℃当たり0.015mm だけビームスプリッタ21に接
近させている。したがって、第1の実施の形態では、光
源移動機構31により半導体レーザ13を0.015(mm/
℃) 駆動制御し、第2の実施の形態では、温度変形部材
49が0.015(mm/ ℃) 伸縮するように材料および長さを
設定してある。
温度のときの半導体レーザ13、43の発光点13a、
43aと情報記録媒体25の情報記録面27の距離が1
9.441mmである。温度が20℃上昇したときには、この
距離が0.300mm 短くなるように、半導体レーザ13、4
3を移動させている。つまり、半導体レーザ13、43
を、1℃当たり0.015mm だけビームスプリッタ21に接
近させている。したがって、第1の実施の形態では、光
源移動機構31により半導体レーザ13を0.015(mm/
℃) 駆動制御し、第2の実施の形態では、温度変形部材
49が0.015(mm/ ℃) 伸縮するように材料および長さを
設定してある。
【0020】なお、温度が下降した場合には、上記温度
が上昇した場合とは全く逆の現象を生じる。したがっ
て、本実施の形態は、温度が基準設計値から下降したと
きでも球面収差を補正できる。
が上昇した場合とは全く逆の現象を生じる。したがっ
て、本実施の形態は、温度が基準設計値から下降したと
きでも球面収差を補正できる。
【0021】また、温度の上昇によりレンズパワーが強
くなる光学系においても、上記温度が上昇した場合とは
全く逆の現象を生じる。したがって、かかる光学系に本
発明を適用する場合には、温度変化に応じた半導体の移
動方向を、図示実施の形態とは逆にすればよい。
くなる光学系においても、上記温度が上昇した場合とは
全く逆の現象を生じる。したがって、かかる光学系に本
発明を適用する場合には、温度変化に応じた半導体の移
動方向を、図示実施の形態とは逆にすればよい。
【0022】その第3の実施の形態を以下に示す。第3
の実施の形態は、第1の実施の形態または第2の実施の
形態において、対物レンズをガラスレンズに代えたもの
である。この実施の形態では、温度が上昇したときにレ
ンズパワーが強くなる光学系となっている。このような
光学系では、温度変化に対してこれまで述べてきた場合
とは逆の現象を生じる。したがって、温度上昇に応じた
半導体レーザの移動方向は、レーザ発光点と情報記録面
の距離を長くする方向となる。
の実施の形態は、第1の実施の形態または第2の実施の
形態において、対物レンズをガラスレンズに代えたもの
である。この実施の形態では、温度が上昇したときにレ
ンズパワーが強くなる光学系となっている。このような
光学系では、温度変化に対してこれまで述べてきた場合
とは逆の現象を生じる。したがって、温度上昇に応じた
半導体レーザの移動方向は、レーザ発光点と情報記録面
の距離を長くする方向となる。
【0023】第3の実施の形態の具体的構成の数値例
を、以下に示す。なお、第3の実施の形態の基本的光学
系の構成は、図2および図1に示した実施の形態と同様
である。面NO. 1、2は半導体レーザのカバーガラス、
面NO. 3、4はビームスプリッタ、面NO. 5、6は対物
レンズ、面NO. 7、8は情報記録媒体の記録面保護層で
あり、結像倍率m=-0.200、 射出側開口数NA
=0.5 、半導体レーザ発光点から対物レンズ第1面まで
の距離:15.18mmである。
を、以下に示す。なお、第3の実施の形態の基本的光学
系の構成は、図2および図1に示した実施の形態と同様
である。面NO. 1、2は半導体レーザのカバーガラス、
面NO. 3、4はビームスプリッタ、面NO. 5、6は対物
レンズ、面NO. 7、8は情報記録媒体の記録面保護層で
あり、結像倍率m=-0.200、 射出側開口数NA
=0.5 、半導体レーザ発光点から対物レンズ第1面まで
の距離:15.18mmである。
【0024】
【表2】 面NO. r d n(780nm) νd α β 1 ∞ 0.25 1.51072 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 2 ∞ 3 ∞ 4.00 1.51702 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 4 ∞ 2.00 5 2.306 1.85 1.82497 23.9 78.0×10-7 11.90×10-6 6 -7.454 7 ∞ 1.2 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 8 ∞ ただし、面 NO.5、6は非球面であり、それらの非球面係数は下記の通りであ る。 NO.5 :K=-0.520、A4 =-2.748×10-3、A6=-2.060 ×10-4、A8=-1.865 ×10-4、 A10=-2.600×10-6 NO.6 :K= 0.000、A4 = 1.265×10-2、A6=-3.359 ×10-3、A8=-2.893 ×10-4、 A10= 2.238×10-4
【0025】この第3の実施の形態では、設計温度のと
きの半導体レーザ43の発光点43aと情報記録媒体の
情報記録面27の距離は19.423mmである。そうして、温
度が20℃上昇したときには、この距離が0.014mm 長く
なるように、半導体レーザ13を移動させている。つま
り、半導体レーザ13を、1℃当たり0.0007mmだけビー
ムスプリッタから離反させている。したがって、光源移
動方法が第1の実施の形態の方法の場合には、光源駆動
機構31により半導体レーザ13を0.0007(mm/℃) 駆動
制御し、第2の実施の形態の方法の場合には、温度変形
部材49が0.0007(mm/℃) 伸縮するように温度変形部材
49の材料および長さを設定してある。
きの半導体レーザ43の発光点43aと情報記録媒体の
情報記録面27の距離は19.423mmである。そうして、温
度が20℃上昇したときには、この距離が0.014mm 長く
なるように、半導体レーザ13を移動させている。つま
り、半導体レーザ13を、1℃当たり0.0007mmだけビー
ムスプリッタから離反させている。したがって、光源移
動方法が第1の実施の形態の方法の場合には、光源駆動
機構31により半導体レーザ13を0.0007(mm/℃) 駆動
制御し、第2の実施の形態の方法の場合には、温度変形
部材49が0.0007(mm/℃) 伸縮するように温度変形部材
49の材料および長さを設定してある。
【0026】
【発明の効果】以上の通り本発明の光情報記録再生用光
学系は、温度変化を生じると、球面収差を補正する方向
にレーザ光源を移動するので、本発明を適用した光情報
記録再生装置によれば、温度変化により発生する球面収
差が適度に補正されて、良好な記録再生が可能になる。
学系は、温度変化を生じると、球面収差を補正する方向
にレーザ光源を移動するので、本発明を適用した光情報
記録再生装置によれば、温度変化により発生する球面収
差が適度に補正されて、良好な記録再生が可能になる。
【図1】本発明を適用した光情報記録再生装置の第1の
実施の形態の光学系および制御系の要部を示す図であ
る。
実施の形態の光学系および制御系の要部を示す図であ
る。
【図2】本発明を適用した光情報記録再生装置の第2の
実施の形態のレーザ光源部を示す断面図である。
実施の形態のレーザ光源部を示す断面図である。
【図3】光情報記録再生用光学装置の球面収差と正弦条
件の関係を示す図であって、(A)は設計温度、(B)
は設計温度から+20℃上昇したときの球面収差および
正弦条件違反量、(C)は設計温度から+20℃上昇し
たときの本実施の形態による補正後の球面収差および正
弦条件違反量を示す図である。
件の関係を示す図であって、(A)は設計温度、(B)
は設計温度から+20℃上昇したときの球面収差および
正弦条件違反量、(C)は設計温度から+20℃上昇し
たときの本実施の形態による補正後の球面収差および正
弦条件違反量を示す図である。
【図4】温度変化によって発生する球面収差を示す図で
あって、横軸は温度変化量(℃)、縦軸は球面収差発生
量を示している。
あって、横軸は温度変化量(℃)、縦軸は球面収差発生
量を示している。
【図5】設計温度から+20℃上昇したときの結像倍率
と球面収差との関係を示す図であって、横軸は結像倍率
を、縦軸は球面収差発生量を示している。
と球面収差との関係を示す図であって、横軸は結像倍率
を、縦軸は球面収差発生量を示している。
11 レーザ光源部 13 半導体レーザ 13a 発光点 15 カバーガラス 21 ビームスプリッタ 23 対物レンズ 25 光ディスク(情報記録媒体) 26 保護層 27 情報記録面 31 光源移動機構 33 サーボ回路 35 制御回路 37 温度センサ 40 レーザ光源部 41 ガイド筒 43 半導体レーザ 43a 発光点 45 カバーガラス 47 ガイドアダプタ 49 温度変形部材
Claims (6)
- 【請求項1】 発散光を射出する光源、およびこの発散
光を情報記録面に集光する、有限の結像倍率を持つ対物
レンズを有する光学装置において、 温度に応じて上記光源および上記情報記録面間の光学距
離を変化させる調整部材、を備えたことを特徴とする光
情報記録再生用光学装置。 - 【請求項2】 請求項1において、前記調整部材は、温
度変化に応じて上記光源の発光点から上記情報記録面に
至る光学距離を変化させること、を特徴とする光情報記
録再生用光学装置。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の調整部材は、
温度に応じて上記光源を進退動させること、を特徴とす
る光情報記録再生用光学装置。 - 【請求項4】 請求項1から3のいずれか一項に記載の
光学装置はさらに温度測定手段を備え、上記調整部材
は、上記温度測定手段により測定した温度に基づいて上
記光源を移動させる光源移動機構を有すること、を特徴
とする光情報記録再生用光学装置。 - 【請求項5】 請求項1から3のいずれか一項に記載の
調整部材は、所定の線膨張係数を有する材料で形成さ
れ、伸縮方向の一方の端部が光学装置の固定部に固定さ
れ、他方の端部が上記光源に連結され、温度に応じて伸
縮して上記光源を進退動させること、を特徴とする光情
報記録再生用光学装置。 - 【請求項6】 請求項1から5のいずれか一項に記載の
光源は半導体レーザであること、を特徴とする光情報記
録再生用光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23028695A JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6-264987 | 1994-10-28 | ||
JP26498794 | 1994-10-28 | ||
JP23028695A JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08180446A true JPH08180446A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=26529262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23028695A Withdrawn JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08180446A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005166209A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
JP2010009745A (ja) * | 2003-12-08 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 光ディスク装置、光ディスク方法および半導体集積回路 |
KR100953966B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2010-04-21 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업장치와 픽업렌즈의 온도감지장치 |
-
1995
- 1995-09-07 JP JP23028695A patent/JPH08180446A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100953966B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2010-04-21 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업장치와 픽업렌즈의 온도감지장치 |
JP2005166209A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
JP2010009745A (ja) * | 2003-12-08 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 光ディスク装置、光ディスク方法および半導体集積回路 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20040120 |