JPH08180446A - 光情報記録再生用光学装置 - Google Patents
光情報記録再生用光学装置Info
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- JPH08180446A JPH08180446A JP23028695A JP23028695A JPH08180446A JP H08180446 A JPH08180446 A JP H08180446A JP 23028695 A JP23028695 A JP 23028695A JP 23028695 A JP23028695 A JP 23028695A JP H08180446 A JPH08180446 A JP H08180446A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】温度変化により発生する球面収差を自動補正で
きる光情報記録再生装置用の光学装置を提供する。 【構成】レーザ光を射出する半導体レーザ１３と、この
レーザ光を情報記録面２７に集光する、有限の結像倍率
を持つ対物レンズ２３とを有する光学装置において、周
辺温度を検出する温度センサ３７と、温度センサ３７が
検出した温度に応じて、上記半導体レーザ１３の発光点
１３ａから上記情報記録面２７に至る光学距離を調整す
る方向に上記レーザ光源部１１を移動させる制御回路３
５および移動機構３１を備えた。
きる光情報記録再生装置用の光学装置を提供する。 【構成】レーザ光を射出する半導体レーザ１３と、この
レーザ光を情報記録面２７に集光する、有限の結像倍率
を持つ対物レンズ２３とを有する光学装置において、周
辺温度を検出する温度センサ３７と、温度センサ３７が
検出した温度に応じて、上記半導体レーザ１３の発光点
１３ａから上記情報記録面２７に至る光学距離を調整す
る方向に上記レーザ光源部１１を移動させる制御回路３
５および移動機構３１を備えた。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、光情報記録再生装置、例えばコ
ンパクトディスクプレーヤー、光磁気ディスク装置など
に適用される光学装置に関する。
ンパクトディスクプレーヤー、光磁気ディスク装置など
に適用される光学装置に関する。
【０００２】
【従来技術およびその問題点】半導体レーザなどから発
せられた光束を光学素子により情報記録面に集光する光
情報記録再生装置では、温度が変化すると、光学素子の
屈折率変化および熱膨張により光学素子のパワー変動に
よる集光位置の移動、球面収差などの収差変動が起こ
る。かかる場合も、従来の光情報記録再生装置では、対
物レンズのフォーカシングによる集光位置の補正がなさ
れるのみで、収差変化に対する積極的な補正はなされて
いなかった。集光位置の補正のみでは、大きな収差変化
による影響は除去できない。このため、特にプラスチッ
クのような線膨張係数の大きな材料を用いたレンズは、
温度変化の大きな環境では使用できなかった。
せられた光束を光学素子により情報記録面に集光する光
情報記録再生装置では、温度が変化すると、光学素子の
屈折率変化および熱膨張により光学素子のパワー変動に
よる集光位置の移動、球面収差などの収差変動が起こ
る。かかる場合も、従来の光情報記録再生装置では、対
物レンズのフォーカシングによる集光位置の補正がなさ
れるのみで、収差変化に対する積極的な補正はなされて
いなかった。集光位置の補正のみでは、大きな収差変化
による影響は除去できない。このため、特にプラスチッ
クのような線膨張係数の大きな材料を用いたレンズは、
温度変化の大きな環境では使用できなかった。
【０００３】一般に、プラスチックレンズは、温度上昇
によりパワーが弱くなる。したがって、プラスチックレ
ンズを含む光学系は、温度の上昇とともに集光位置が光
源から遠ざかる方向にずれてしまう。そこで、従来の有
限系光情報記録再生装置ではフォーカシングを、レーザ
光源に対して対物レンズを移動して行なっている。
によりパワーが弱くなる。したがって、プラスチックレ
ンズを含む光学系は、温度の上昇とともに集光位置が光
源から遠ざかる方向にずれてしまう。そこで、従来の有
限系光情報記録再生装置ではフォーカシングを、レーザ
光源に対して対物レンズを移動して行なっている。
【０００４】しかし、かかる従来のフォーカシングでは
温度上昇によるパワー変化によって発生した球面収差は
除去されておらず（図３（Ａ）、（Ｂ）参照）、良好な
記録再生が妨げられている。また、温度変化量が大きく
なるにつれて発生する球面収差量も大きくなるため、温
度変化の大きな環境ではプラスチックレンズの使用はで
きなかった。
温度上昇によるパワー変化によって発生した球面収差は
除去されておらず（図３（Ａ）、（Ｂ）参照）、良好な
記録再生が妨げられている。また、温度変化量が大きく
なるにつれて発生する球面収差量も大きくなるため、温
度変化の大きな環境ではプラスチックレンズの使用はで
きなかった。
【０００５】
【発明の目的】本発明は、温度変化により発生する球面
収差を自動補正できる光情報記録再生装置用の光学装置
を提供すること、を目的とする。
収差を自動補正できる光情報記録再生装置用の光学装置
を提供すること、を目的とする。
【０００６】
【発明の概要】一般に、光学系において、物体距離を短
くして結像倍率を大きくすると、アンダー（マイナス）
の球面収差が発生する。図５は、結像倍率と球面収差発
生量との関係を示している。このような現象を、近距離
変化と呼ぶ。本発明は、発光点と情報記録面の距離を短
くする方向に発光点を移動させると、結像倍率が大きく
なり、温度変化によって発生していた球面収差が近距離
変化により補正されて良好な記録再生特性を得ることが
できる点に着目してなされたものである。かかる観点に
着目してなされた本発明は、発散光を射出する光源、お
よびこの発散光を情報記録面に集光する有限の結像倍率
を持つ対物レンズを有する光学装置において、温度に応
じて上記光源および上記情報記録面間の光学距離を変化
させる調整部材を設けたこと、に特徴を有する。
くして結像倍率を大きくすると、アンダー（マイナス）
の球面収差が発生する。図５は、結像倍率と球面収差発
生量との関係を示している。このような現象を、近距離
変化と呼ぶ。本発明は、発光点と情報記録面の距離を短
くする方向に発光点を移動させると、結像倍率が大きく
なり、温度変化によって発生していた球面収差が近距離
変化により補正されて良好な記録再生特性を得ることが
できる点に着目してなされたものである。かかる観点に
着目してなされた本発明は、発散光を射出する光源、お
よびこの発散光を情報記録面に集光する有限の結像倍率
を持つ対物レンズを有する光学装置において、温度に応
じて上記光源および上記情報記録面間の光学距離を変化
させる調整部材を設けたこと、に特徴を有する。
【０００７】
【実施例】以下図示実施の形態に基づいて本発明を説明
する。図１は、本発明を適用した光情報記録再生装置の
第１の実施の形態の光学系を示す図、図２は、第２の実
施の形態の光源部付近の拡大断面図である。
する。図１は、本発明を適用した光情報記録再生装置の
第１の実施の形態の光学系を示す図、図２は、第２の実
施の形態の光源部付近の拡大断面図である。
【０００８】レーザ光源部１１から射出されたレーザビ
ームは、ビームスプリッタ２１で反射し、対物レンズ２
３で光ディスク２５の保護層２６を透過して記録面２７
上に集束（集光）される。記録面２７上に集束されたレ
ーザビームは、記録面２７で反射して光路を逆行する。
つまり、保護層２６および対物レンズ２３を透過し、さ
らにビームスプリッタ２１を透過して、図示しない信号
処理光学系に導かれる。信号処理光学系は、公知の信号
検出系、フォーカスエラー検出系、トラッキングエラー
検出系などを含む。なお、対物レンズ２３は、通常、図
示しない公知のフォーカス調整およびトラッキング調整
を行なうアクチュエータに支持されている。また、フォ
ーカスエラー調整は、フォーカスエラー検出系により検
出されたフォーカス信号に基づいて行なわれ、トラッキ
ング調整は、トラッキングエラー検出系により検出され
たトラッキングエラー信号に基づいて行なわれるのが一
般的である。
ームは、ビームスプリッタ２１で反射し、対物レンズ２
３で光ディスク２５の保護層２６を透過して記録面２７
上に集束（集光）される。記録面２７上に集束されたレ
ーザビームは、記録面２７で反射して光路を逆行する。
つまり、保護層２６および対物レンズ２３を透過し、さ
らにビームスプリッタ２１を透過して、図示しない信号
処理光学系に導かれる。信号処理光学系は、公知の信号
検出系、フォーカスエラー検出系、トラッキングエラー
検出系などを含む。なお、対物レンズ２３は、通常、図
示しない公知のフォーカス調整およびトラッキング調整
を行なうアクチュエータに支持されている。また、フォ
ーカスエラー調整は、フォーカスエラー検出系により検
出されたフォーカス信号に基づいて行なわれ、トラッキ
ング調整は、トラッキングエラー検出系により検出され
たトラッキングエラー信号に基づいて行なわれるのが一
般的である。
【０００９】レーザ光源部１１は、詳細は図示しない
が、半導体レーザ１３を内蔵し、光情報記録再生装置の
固定部に光軸に沿って進退動（平行移動）自在に支持さ
れている。また、半導体レーザ１３の発光点１３ａ（射
出面）の前には透明平行平板からなるカバーガラス１５
が配置されている。
が、半導体レーザ１３を内蔵し、光情報記録再生装置の
固定部に光軸に沿って進退動（平行移動）自在に支持さ
れている。また、半導体レーザ１３の発光点１３ａ（射
出面）の前には透明平行平板からなるカバーガラス１５
が配置されている。
【００１０】このレーザ光源部１１は、光源移動機構３
１に連結支持され、光源移動機構３１によってビームス
プリッタ２１に対して進退動される。光源移動機構３１
は、レーザ光源部１１を精密に移動できるピエゾ素子な
どの素子、あるいはマイクロメータなどの機構であれば
よい。
１に連結支持され、光源移動機構３１によってビームス
プリッタ２１に対して進退動される。光源移動機構３１
は、レーザ光源部１１を精密に移動できるピエゾ素子な
どの素子、あるいはマイクロメータなどの機構であれば
よい。
【００１１】光源移動機構３１は、光情報記録再生装置
内の温度、特に対物レンズ２３付近の温度を検出する温
度センサ３７により検出された温度に基づいて、制御回
路３５によりサーボ回路３３を介して駆動される。温度
センサ３７が検出した温度と光源移動機構３１の移動方
向および移動量に関するデータとして、設計値、あるい
は予め計測した値に基づくデータが制御回路３５の内部
ROM に書込まれている。なお、望ましくは、個々の光情
報記録再生装置ごとに計測し、EEPROMなどからなる内部
ROM に書込む。温度測定する箇所は１か所に限定され
ず、温度の影響を受けやすい部材、箇所に複数設置して
もよい。
内の温度、特に対物レンズ２３付近の温度を検出する温
度センサ３７により検出された温度に基づいて、制御回
路３５によりサーボ回路３３を介して駆動される。温度
センサ３７が検出した温度と光源移動機構３１の移動方
向および移動量に関するデータとして、設計値、あるい
は予め計測した値に基づくデータが制御回路３５の内部
ROM に書込まれている。なお、望ましくは、個々の光情
報記録再生装置ごとに計測し、EEPROMなどからなる内部
ROM に書込む。温度測定する箇所は１か所に限定され
ず、温度の影響を受けやすい部材、箇所に複数設置して
もよい。
【００１２】次に、図２に示した第２の実施の形態につ
いて説明する。図１に示した第１の実施の形態は、温度
を測定して半導体レーザを移動させる構成であったが、
第２の実施の形態は、温度変化により伸縮する、所定の
線膨張係数を有する調整部材によって光源（半導体レー
ザ）を移動させることに特徴がある。
いて説明する。図１に示した第１の実施の形態は、温度
を測定して半導体レーザを移動させる構成であったが、
第２の実施の形態は、温度変化により伸縮する、所定の
線膨張係数を有する調整部材によって光源（半導体レー
ザ）を移動させることに特徴がある。
【００１３】この第２の実施の形態のレーザ光源部４０
は、図１に示した光情報記録再生装置に、レーザ光源部
１１に代えて装着される。ただし、光源移動機構３１、
サーボ回路３３、制御回路３５および温度センサ３７は
不要である。そこで、レーザ光源部４０の断面図のみを
図２に示してある。
は、図１に示した光情報記録再生装置に、レーザ光源部
１１に代えて装着される。ただし、光源移動機構３１、
サーボ回路３３、制御回路３５および温度センサ３７は
不要である。そこで、レーザ光源部４０の断面図のみを
図２に示してある。
【００１４】レーザ光源部４０のガイド筒４１内には、
ガイドアダプタ４７に固定された半導体レーザ４３が収
容されている。ガイドアダプタ４７は、その外周面４７
ａがガイド筒４１の内周面４１ａに摺接して、傾斜しな
いで軸Ｘに沿って自在に移動するように形成されてい
る。
ガイドアダプタ４７に固定された半導体レーザ４３が収
容されている。ガイドアダプタ４７は、その外周面４７
ａがガイド筒４１の内周面４１ａに摺接して、傾斜しな
いで軸Ｘに沿って自在に移動するように形成されてい
る。
【００１５】さらにガイドアダプタ４７とガイド筒４１
の底面４１ｂとの間には、温度変化によりガイドアダプ
タ４７を移動する方向に伸縮する、環状の温度変形部材
４９が装着されている。つまり半導体レーザ４３は、温
度が変化すると、温度変形部材４９によって情報記録面
との間の光学距離を変更する方向に平行移動される。こ
れによって半導体レーザ４３の発光点４３ａとビームス
プリッタ２１との距離が変化する。温度変形部材４９の
材質および移動方向の長さは、後述するように、予め測
定した温度変化と収差との関係に基づいて設定する。な
お、本実施の形態の温度変形部材４９は、ガイド筒４１
ｂの底面およびガイドアダプタ４７の背面４７ｂとに接
着されている。
の底面４１ｂとの間には、温度変化によりガイドアダプ
タ４７を移動する方向に伸縮する、環状の温度変形部材
４９が装着されている。つまり半導体レーザ４３は、温
度が変化すると、温度変形部材４９によって情報記録面
との間の光学距離を変更する方向に平行移動される。こ
れによって半導体レーザ４３の発光点４３ａとビームス
プリッタ２１との距離が変化する。温度変形部材４９の
材質および移動方向の長さは、後述するように、予め測
定した温度変化と収差との関係に基づいて設定する。な
お、本実施の形態の温度変形部材４９は、ガイド筒４１
ｂの底面およびガイドアダプタ４７の背面４７ｂとに接
着されている。
【００１６】図１に示した光学系の構成における温度変
化と球面収差および正弦条件の関係を図３に、温度変化
量と発生する球面収差との関係を図４に示した。この光
学系の構成は、下記表１の通りである。ただし、半導体
レーザ１３の発光点１３ａおよび半導体レーザ４３の発
光点４３ａから対物レンズ２３の第１面（面 NO.５）ま
での距離は15.18mm 、結像倍率ｍ＝-0.200、射出側開口
数ＮＡ＝0.5 であり、さらに、 ｒ：光学素子の境界面の曲率半径、 ｄ：光学素子の
面間距離、 ｎ：波長780nm の光の屈折率、 νd ：ｄ線のアッ
ベ数、 α：線膨張係数、 β：屈折率の温
度係数（dn／dT）、 である。なお、面 NO.１、２は半導体レーザ１３、４３
のカバーガラス１５、４５、面 NO.３、４はビームスプ
リッタ２１、面 NO.５、６は対物レンズ２３、面NO.７
および８は情報記録媒体２５の保護層２６を示してい
る。
化と球面収差および正弦条件の関係を図３に、温度変化
量と発生する球面収差との関係を図４に示した。この光
学系の構成は、下記表１の通りである。ただし、半導体
レーザ１３の発光点１３ａおよび半導体レーザ４３の発
光点４３ａから対物レンズ２３の第１面（面 NO.５）ま
での距離は15.18mm 、結像倍率ｍ＝-0.200、射出側開口
数ＮＡ＝0.5 であり、さらに、 ｒ：光学素子の境界面の曲率半径、 ｄ：光学素子の
面間距離、 ｎ：波長780nm の光の屈折率、 νd ：ｄ線のアッ
ベ数、 α：線膨張係数、 β：屈折率の温
度係数（dn／dT）、 である。なお、面 NO.１、２は半導体レーザ１３、４３
のカバーガラス１５、４５、面 NO.３、４はビームスプ
リッタ２１、面 NO.５、６は対物レンズ２３、面NO.７
および８は情報記録媒体２５の保護層２６を示してい
る。
【００１７】
【表１】 面NO. ｒ ｄ ｎ νd α β １ ∞ 0.25 1.51072 64.1 74.0×10-7 2.80×１０−６ ２ ∞ ３ ∞ ４．００ 1.51702 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 ４ ∞ 2.00 ５ 1.832 1.85 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 ６ -3.335 ７ ∞ 1.2 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 ８ ∞ ただし、面 NO.５、６は非球面であり、非球面は下記式
で定義され、各面の非球面係数は下記の通りである。 x=cy2/[1+{1-(1+K)c2y2}1/2]+A4y4+A6y6+A8y8+A10y10 NO.５ :K=-0.600、A4 =-4.641×10-3、A6=-3.079 ×10
-4、A8=-2.536 ×10-4、A10=-4.920×10-6 NO.６ :K= 0.000、A4 =3.613 ×10-2、A6=-1.020 ×10
-2、A8=1.540×10-3、A10=-6.056×10-6
で定義され、各面の非球面係数は下記の通りである。 x=cy2/[1+{1-(1+K)c2y2}1/2]+A4y4+A6y6+A8y8+A10y10 NO.５ :K=-0.600、A4 =-4.641×10-3、A6=-3.079 ×10
-4、A8=-2.536 ×10-4、A10=-4.920×10-6 NO.６ :K= 0.000、A4 =3.613 ×10-2、A6=-1.020 ×10
-2、A8=1.540×10-3、A10=-6.056×10-6
【００１８】この実施の形態では、温度が上昇すると、
発光点１３ａ、４３ａと情報記録面２７間の距離を短く
する方向に半導体レーザ１３、４３を移動させる。図５
は、この実施の形態での温度が設計温度から２０℃上昇
した状態において、結像倍率の変化と発生する球面収差
との関係を表わしている。このように結像倍率を設計温
度での結像倍率より大きくすると、近距離変化により、
発生していた球面収差が補正されて（図３（Ｃ）参
照）、良好な記録再生特性を得ることができる。そこ
で、第１の実施の形態では温度変化に応じて光源移動機
構３１により半導体レーザ１３を移動し、第２の実施の
形態では温度変形部材４９の伸縮により半導体レーザ４
３を移動している。
発光点１３ａ、４３ａと情報記録面２７間の距離を短く
する方向に半導体レーザ１３、４３を移動させる。図５
は、この実施の形態での温度が設計温度から２０℃上昇
した状態において、結像倍率の変化と発生する球面収差
との関係を表わしている。このように結像倍率を設計温
度での結像倍率より大きくすると、近距離変化により、
発生していた球面収差が補正されて（図３（Ｃ）参
照）、良好な記録再生特性を得ることができる。そこ
で、第１の実施の形態では温度変化に応じて光源移動機
構３１により半導体レーザ１３を移動し、第２の実施の
形態では温度変形部材４９の伸縮により半導体レーザ４
３を移動している。
【００１９】より詳細には、この実施の形態では、設計
温度のときの半導体レーザ１３、４３の発光点１３ａ、
４３ａと情報記録媒体２５の情報記録面２７の距離が1
9.441mmである。温度が２０℃上昇したときには、この
距離が0.300mm 短くなるように、半導体レーザ１３、４
３を移動させている。つまり、半導体レーザ１３、４３
を、１℃当たり0.015mm だけビームスプリッタ２１に接
近させている。したがって、第１の実施の形態では、光
源移動機構３１により半導体レーザ１３を0.015(mm/
℃) 駆動制御し、第２の実施の形態では、温度変形部材
４９が0.015(mm/ ℃) 伸縮するように材料および長さを
設定してある。
温度のときの半導体レーザ１３、４３の発光点１３ａ、
４３ａと情報記録媒体２５の情報記録面２７の距離が1
9.441mmである。温度が２０℃上昇したときには、この
距離が0.300mm 短くなるように、半導体レーザ１３、４
３を移動させている。つまり、半導体レーザ１３、４３
を、１℃当たり0.015mm だけビームスプリッタ２１に接
近させている。したがって、第１の実施の形態では、光
源移動機構３１により半導体レーザ１３を0.015(mm/
℃) 駆動制御し、第２の実施の形態では、温度変形部材
４９が0.015(mm/ ℃) 伸縮するように材料および長さを
設定してある。
【００２０】なお、温度が下降した場合には、上記温度
が上昇した場合とは全く逆の現象を生じる。したがっ
て、本実施の形態は、温度が基準設計値から下降したと
きでも球面収差を補正できる。
が上昇した場合とは全く逆の現象を生じる。したがっ
て、本実施の形態は、温度が基準設計値から下降したと
きでも球面収差を補正できる。
【００２１】また、温度の上昇によりレンズパワーが強
くなる光学系においても、上記温度が上昇した場合とは
全く逆の現象を生じる。したがって、かかる光学系に本
発明を適用する場合には、温度変化に応じた半導体の移
動方向を、図示実施の形態とは逆にすればよい。
くなる光学系においても、上記温度が上昇した場合とは
全く逆の現象を生じる。したがって、かかる光学系に本
発明を適用する場合には、温度変化に応じた半導体の移
動方向を、図示実施の形態とは逆にすればよい。
【００２２】その第３の実施の形態を以下に示す。第３
の実施の形態は、第１の実施の形態または第２の実施の
形態において、対物レンズをガラスレンズに代えたもの
である。この実施の形態では、温度が上昇したときにレ
ンズパワーが強くなる光学系となっている。このような
光学系では、温度変化に対してこれまで述べてきた場合
とは逆の現象を生じる。したがって、温度上昇に応じた
半導体レーザの移動方向は、レーザ発光点と情報記録面
の距離を長くする方向となる。
の実施の形態は、第１の実施の形態または第２の実施の
形態において、対物レンズをガラスレンズに代えたもの
である。この実施の形態では、温度が上昇したときにレ
ンズパワーが強くなる光学系となっている。このような
光学系では、温度変化に対してこれまで述べてきた場合
とは逆の現象を生じる。したがって、温度上昇に応じた
半導体レーザの移動方向は、レーザ発光点と情報記録面
の距離を長くする方向となる。
【００２３】第３の実施の形態の具体的構成の数値例
を、以下に示す。なお、第３の実施の形態の基本的光学
系の構成は、図２および図１に示した実施の形態と同様
である。面NO. １、２は半導体レーザのカバーガラス、
面NO. ３、４はビームスプリッタ、面NO. ５、６は対物
レンズ、面NO. ７、８は情報記録媒体の記録面保護層で
あり、結像倍率ｍ＝-0.200、 射出側開口数ＮＡ
＝0.5 、半導体レーザ発光点から対物レンズ第１面まで
の距離：15.18mmである。
を、以下に示す。なお、第３の実施の形態の基本的光学
系の構成は、図２および図１に示した実施の形態と同様
である。面NO. １、２は半導体レーザのカバーガラス、
面NO. ３、４はビームスプリッタ、面NO. ５、６は対物
レンズ、面NO. ７、８は情報記録媒体の記録面保護層で
あり、結像倍率ｍ＝-0.200、 射出側開口数ＮＡ
＝0.5 、半導体レーザ発光点から対物レンズ第１面まで
の距離：15.18mmである。
【００２４】
【表２】 面NO. ｒ ｄ ｎ(780nm) νd α β １ ∞ 0.25 1.51072 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 ２ ∞ ３ ∞ 4.00 1.51702 64.1 74.0×10-7 2.80×10-6 ４ ∞ 2.00 ５ 2.306 1.85 1.82497 23.9 78.0×10-7 11.90×10-6 ６ -7.454 ７ ∞ 1.2 1.57346 29.9 680.0×10-7 -107.0 ×10-6 ８ ∞ ただし、面 NO.５、６は非球面であり、それらの非球面係数は下記の通りであ る。 NO.５ :K=-0.520、A4 =-2.748×10-3、A6=-2.060 ×10-4、A8=-1.865 ×10-4、 A10=-2.600×10-6 NO.６ :K= 0.000、A4 = 1.265×10-2、A6=-3.359 ×10-3、A8=-2.893 ×10-4、 A10= 2.238×10-4
【００２５】この第３の実施の形態では、設計温度のと
きの半導体レーザ４３の発光点４３ａと情報記録媒体の
情報記録面２７の距離は19.423mmである。そうして、温
度が２０℃上昇したときには、この距離が0.014mm 長く
なるように、半導体レーザ１３を移動させている。つま
り、半導体レーザ１３を、１℃当たり0.0007mmだけビー
ムスプリッタから離反させている。したがって、光源移
動方法が第１の実施の形態の方法の場合には、光源駆動
機構３１により半導体レーザ１３を0.0007(mm/℃) 駆動
制御し、第２の実施の形態の方法の場合には、温度変形
部材４９が0.0007(mm/℃) 伸縮するように温度変形部材
４９の材料および長さを設定してある。
きの半導体レーザ４３の発光点４３ａと情報記録媒体の
情報記録面２７の距離は19.423mmである。そうして、温
度が２０℃上昇したときには、この距離が0.014mm 長く
なるように、半導体レーザ１３を移動させている。つま
り、半導体レーザ１３を、１℃当たり0.0007mmだけビー
ムスプリッタから離反させている。したがって、光源移
動方法が第１の実施の形態の方法の場合には、光源駆動
機構３１により半導体レーザ１３を0.0007(mm/℃) 駆動
制御し、第２の実施の形態の方法の場合には、温度変形
部材４９が0.0007(mm/℃) 伸縮するように温度変形部材
４９の材料および長さを設定してある。
【００２６】
【発明の効果】以上の通り本発明の光情報記録再生用光
学系は、温度変化を生じると、球面収差を補正する方向
にレーザ光源を移動するので、本発明を適用した光情報
記録再生装置によれば、温度変化により発生する球面収
差が適度に補正されて、良好な記録再生が可能になる。
学系は、温度変化を生じると、球面収差を補正する方向
にレーザ光源を移動するので、本発明を適用した光情報
記録再生装置によれば、温度変化により発生する球面収
差が適度に補正されて、良好な記録再生が可能になる。
【図１】本発明を適用した光情報記録再生装置の第１の
実施の形態の光学系および制御系の要部を示す図であ
る。
実施の形態の光学系および制御系の要部を示す図であ
る。
【図２】本発明を適用した光情報記録再生装置の第２の
実施の形態のレーザ光源部を示す断面図である。
実施の形態のレーザ光源部を示す断面図である。
【図３】光情報記録再生用光学装置の球面収差と正弦条
件の関係を示す図であって、（Ａ）は設計温度、（Ｂ）
は設計温度から＋２０℃上昇したときの球面収差および
正弦条件違反量、（Ｃ）は設計温度から＋２０℃上昇し
たときの本実施の形態による補正後の球面収差および正
弦条件違反量を示す図である。
件の関係を示す図であって、（Ａ）は設計温度、（Ｂ）
は設計温度から＋２０℃上昇したときの球面収差および
正弦条件違反量、（Ｃ）は設計温度から＋２０℃上昇し
たときの本実施の形態による補正後の球面収差および正
弦条件違反量を示す図である。
【図４】温度変化によって発生する球面収差を示す図で
あって、横軸は温度変化量（℃）、縦軸は球面収差発生
量を示している。
あって、横軸は温度変化量（℃）、縦軸は球面収差発生
量を示している。
【図５】設計温度から＋２０℃上昇したときの結像倍率
と球面収差との関係を示す図であって、横軸は結像倍率
を、縦軸は球面収差発生量を示している。
と球面収差との関係を示す図であって、横軸は結像倍率
を、縦軸は球面収差発生量を示している。
１１ レーザ光源部 １３ 半導体レーザ １３ａ 発光点 １５ カバーガラス ２１ ビームスプリッタ ２３ 対物レンズ ２５ 光ディスク（情報記録媒体） ２６ 保護層 ２７ 情報記録面 ３１ 光源移動機構 ３３ サーボ回路 ３５ 制御回路 ３７ 温度センサ ４０ レーザ光源部 ４１ ガイド筒 ４３ 半導体レーザ ４３ａ 発光点 ４５ カバーガラス ４７ ガイドアダプタ ４９ 温度変形部材
Claims (6)
- 【請求項１】 発散光を射出する光源、およびこの発散
光を情報記録面に集光する、有限の結像倍率を持つ対物
レンズを有する光学装置において、 温度に応じて上記光源および上記情報記録面間の光学距
離を変化させる調整部材、を備えたことを特徴とする光
情報記録再生用光学装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記調整部材は、温
度変化に応じて上記光源の発光点から上記情報記録面に
至る光学距離を変化させること、を特徴とする光情報記
録再生用光学装置。 - 【請求項３】 請求項１または２に記載の調整部材は、
温度に応じて上記光源を進退動させること、を特徴とす
る光情報記録再生用光学装置。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれか一項に記載の
光学装置はさらに温度測定手段を備え、上記調整部材
は、上記温度測定手段により測定した温度に基づいて上
記光源を移動させる光源移動機構を有すること、を特徴
とする光情報記録再生用光学装置。 - 【請求項５】 請求項１から３のいずれか一項に記載の
調整部材は、所定の線膨張係数を有する材料で形成さ
れ、伸縮方向の一方の端部が光学装置の固定部に固定さ
れ、他方の端部が上記光源に連結され、温度に応じて伸
縮して上記光源を進退動させること、を特徴とする光情
報記録再生用光学装置。 - 【請求項６】 請求項１から５のいずれか一項に記載の
光源は半導体レーザであること、を特徴とする光情報記
録再生用光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23028695A JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26498794 | 1994-10-28 | ||
| JP6-264987 | 1994-10-28 | ||
| JP23028695A JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08180446A true JPH08180446A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=26529262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23028695A Withdrawn JPH08180446A (ja) | 1994-10-28 | 1995-09-07 | 光情報記録再生用光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08180446A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005166209A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JP2010009745A (ja) * | 2003-12-08 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 光ディスク装置、光ディスク方法および半導体集積回路 |
| KR100953966B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2010-04-21 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업장치와 픽업렌즈의 온도감지장치 |
-
1995
- 1995-09-07 JP JP23028695A patent/JPH08180446A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100953966B1 (ko) * | 2003-07-18 | 2010-04-21 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업장치와 픽업렌즈의 온도감지장치 |
| JP2005166209A (ja) * | 2003-12-05 | 2005-06-23 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JP2010009745A (ja) * | 2003-12-08 | 2010-01-14 | Panasonic Corp | 光ディスク装置、光ディスク方法および半導体集積回路 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20040120 |