JPH08153343A - Production of optical information recording medium and production apparatus - Google Patents

Production of optical information recording medium and production apparatus

Info

Publication number
JPH08153343A
JPH08153343A JP7246211A JP24621195A JPH08153343A JP H08153343 A JPH08153343 A JP H08153343A JP 7246211 A JP7246211 A JP 7246211A JP 24621195 A JP24621195 A JP 24621195A JP H08153343 A JPH08153343 A JP H08153343A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording medium
optical information
information recording
optical
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7246211A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Noboru Yamada
昇 山田
Katsumi Kawahara
克巳 河原
Shigeaki Furukawa
惠昭 古川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP7246211A priority Critical patent/JPH08153343A/en
Publication of JPH08153343A publication Critical patent/JPH08153343A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE: To provide a flash initialization device with which arbitrary setting of discharge light emission time (irradiation time) and discharge light emission power (irradiation light power) is possible and an initialization method which uses the device and decreases thermal damages. CONSTITUTION: An optical information recording medium 3 of a phase transition type having a thin film 1 of a material which induces a reversible change of its optical characteristics by irradiation with an energy beam, such as laser beam, on a substrate 2 is formed. The initialization device is provided with a means (shielding circuit part 10) which instantaneously lowers light emission intensity to a substantially zero level after light emission for a prescribed time at the time of executing an initial crystallization stage with rays 4 emitted from a flash light source 7, by which the large irradiation power is made compatible with the short irradiation time and the various thermal damages are decreased. Since useless electric energy is not consumed, the charging completion time of the electric energy for the next discharge light emission is shortened.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はレーザ光線等の照射
によって結晶−アモルファス間の相変化を生じる記録薄
膜層を基板上に備えた光学的情報記録媒体の製造工程な
らびにそれに適用される製造装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing process of an optical information recording medium having a recording thin film layer on a substrate which causes a phase change between crystal and amorphous upon irradiation with a laser beam or the like, and a manufacturing apparatus applied to the manufacturing process. It is a thing.

【0002】[0002]

【従来の技術】ディスク形、カード形、シート型、ある
いはフィルム型をした基板上に、例えばGe−Sb−T
eやIn−Se等のTe、Seをベースとするカルコゲ
ナイド薄膜、あるいはIn−Sb等の半金属薄膜を情報
記録層として備えたものは、相変化光記録媒体として既
に知られている。相変化光記録では、例えば、上記相変
化材料からなる記録薄膜層にサブミクロンオーダーサイ
ズの光スポットに集光したレーザビームを瞬時照射し、
照射部を局部的に所定の温度に加熱することで照射部に
原子結合状態の変化を生起させる。照射部分の到達温度
が結晶化温度以上になれば微小部分のみを結晶状態に転
換でき、融点以上になれば微小部分のみをアモルファス
化することができる。このようなアモルファス相、結晶
相のいずれかを記録状態、消去状態(または未記録状
態)と定義すれば、可逆的な情報の記録または消去が行
なわれることになる。このような記録薄膜層では、結晶
相とアモルファス相との間で光学的な特性が異なってい
るので、この特性差を光学的に検出することで信号を再
生することができる。
2. Description of the Related Art For example, Ge-Sb-T is mounted on a disk-shaped, card-shaped, sheet-shaped or film-shaped substrate.
Te, such as e and In-Se, and a chalcogenide thin film based on Se, or a semi-metal thin film such as In-Sb as an information recording layer are already known as phase change optical recording media. In phase change optical recording, for example, a recording thin film layer made of the above phase change material is instantly irradiated with a laser beam focused on a light spot of submicron order size,
By locally heating the irradiation unit to a predetermined temperature, a change in the atomic bond state is caused in the irradiation unit. If the reached temperature of the irradiated portion is equal to or higher than the crystallization temperature, only the minute portion can be converted into a crystalline state, and if it is equal to or higher than the melting point, only the minute portion can be made amorphous. If either the amorphous phase or the crystalline phase is defined as a recorded state or an erased state (or an unrecorded state), reversible recording or erasing of information will be performed. In such a recording thin film layer, since the optical characteristics differ between the crystalline phase and the amorphous phase, it is possible to reproduce the signal by optically detecting this characteristic difference.

【0003】物質の相変化を情報の記録に応用するもの
としては、このようなアモルファス相−結晶相間の相変
化を利用するものとは別に、結晶状態の高温相と低温相
間の相変化を利用するものもある。高温相をアモルファ
ス相、低温相を結晶相として、ほぼ同様に取り扱うこと
が可能であることが知られている。
In addition to utilizing such a phase change between an amorphous phase and a crystalline phase, a phase change between a high temperature phase and a low temperature phase in a crystalline state is used to apply the phase change of a substance to information recording. Some do. It is known that it is possible to treat the high temperature phase as an amorphous phase and the low temperature phase as a crystalline phase in almost the same manner.

【0004】通常、上記アモルファス−結晶間の相変化
光学的記録媒体では、記録方向を結晶からアモルファス
への変化とするので、記録を行なう前提として、記録薄
膜を予め結晶状態に転換しておくことが行なわれる。こ
れを初期化と呼んでいる。
Usually, in the above-mentioned amorphous-crystal phase change optical recording medium, the recording direction is changed from crystal to amorphous. Therefore, the recording thin film should be converted into a crystalline state in advance as a precondition for recording. Is performed. This is called initialization.

【0005】初期化の方法として、現在実用化されてい
るのは、例えば特開昭60−106031号公報等に記
載されているようなレーザビームによる逐次処理の方法
である。すなわち、記録・再生に用いるレーザダイオー
ドよりもはるかに大出力のレーザを用い、数10〜数1
00μm幅の光スポットを形成する。媒体を一定速度で
送りながら、この光スポットを照射することで、一回の
操作で多数のトラックを一度に結晶化することができ
る。この手法の場合、一度に加熱する面積が小さいの
で、熱負荷が小さく、クラックが生じにくいという長所
がある反面、初期化に時間がかかるという短所がある。
As an initialization method, a method which is put into practical use at present is a sequential processing method using a laser beam as described in, for example, JP-A-60-106031. In other words, using a laser with a much higher output than the laser diode used for recording and reproduction,
A light spot with a width of 00 μm is formed. By irradiating this light spot while feeding the medium at a constant speed, a large number of tracks can be crystallized at one time by one operation. In the case of this method, since the area to be heated at one time is small, the heat load is small and cracks are unlikely to occur, but there is a disadvantage that initialization takes time.

【0006】これに対し、フラッシュ光を用いてディス
ク面全体を一括して結晶化するという方法がある。これ
は、例えば特開昭62−250533号公報等で提案さ
れている。同公報では、有機質からなる基板(アクリル
樹脂)に結晶質と非晶質の間で相変化を生じる記録膜
(例えば厚さ100nmのSiO2層で挟まれた、厚さ
70nmのTe90Ge10記録層)を設け、この記録膜に
フラッシュ露光を行なうことで初期結晶化を行なう方法
が開示されている。同公報では、光源としてキセノンフ
ラッシュを用いること、反射鏡を用いること、露光時間
が1μs〜1msであること、1MWの出力で500μ
s間の照射を行なったこと(エネルギーは500J)が
記載されているが、フラッシュ光の正確な発光波形の具
体例、発光波形の制御方法、電源の構成等についての開
示は一切ない。また、同公報に明示されている実施例
は、どれもフラッシュ照射を記録膜側から行なうもので
あり、基板側からフラッシュ露光することについては開
示がない。
On the other hand, there is a method of collectively crystallizing the entire disk surface by using flash light. This is proposed, for example, in JP-A-62-250533. In the publication, a recording film (for example, Te 90 Ge 10 having a thickness of 70 nm sandwiched between SiO 2 layers having a thickness of 100 nm) that causes a phase change between crystalline and amorphous is formed on a substrate (acrylic resin) made of an organic material. There is disclosed a method in which a recording layer) is provided and the recording film is subjected to flash exposure for initial crystallization. In this publication, a xenon flash is used as a light source, a reflecting mirror is used, an exposure time is 1 μs to 1 ms, and an output of 1 MW is 500 μm.
It is described that the irradiation was performed for s (the energy is 500 J), but there is no disclosure about a specific example of an accurate light emission waveform of flash light, a method of controlling the light emission waveform, a configuration of a power supply, or the like. Further, in all the examples disclosed in the publication, flash irradiation is performed from the recording film side, and there is no disclosure about flash exposure from the substrate side.

【0007】別の先行技術である特開昭63−2615
53号公報は、光ディスクを形成する場合の途中の段階
においても、フラッシュ光を用いた初期化の可能性があ
ることを開示している。同公報の明細書には、基板(ポ
リカーボネイト)上に記録膜(厚さ120nmのSb−
Se−Bi膜)を形成した段階、保護膜(紫外線硬化樹
脂あるいは厚さ50nm〜1μmのSiO2膜)を形成
した段階、2枚のディスクを接着剤で張り合わせた段階
の3つの場合での初期化実験の結果が示されている。同
時に、ここでは基板側から照射を行なう場合と、保護層
側から照射を行なう場合の差異に関する実験結果が示さ
れている。すなわち、基板側から照射を行う場合には基
板表面(照射側とは反対側で記録膜を形成した側)に、
熱ダメージによって、微小な凹凸が生じやすいことが開
示されている。さらに、同明細書中には、これを解決す
る手段として、フラッシュ光を照射する際、ディスクの
内周部と外周部をマスクで覆うという方法が開示されて
いる。ただし、この先行例の場合、開示されているフラ
ッシュ光の照射条件は、0.5ms〜2msというフラ
ッシュランプの発光時間だけであって、フラッシュ光の
発光波形のバリエーション例、あるいは発光波形を最適
な波形に制御する方法については全く触れられていな
い。
Another prior art is Japanese Patent Laid-Open No. 63-2615.
JP-A-53-53 discloses that there is a possibility of initialization using flash light even in the middle of forming an optical disc. In the specification of the publication, a recording film (Sb-having a thickness of 120 nm) is formed on a substrate (polycarbonate).
Initial stage in three cases: the step of forming a Se-Bi film), the step of forming a protective film (ultraviolet curable resin or a SiO 2 film having a thickness of 50 nm to 1 μm), and the step of adhering two disks with an adhesive. The results of the chemical experiments are shown. At the same time, here, the experimental results regarding the difference between the case where the irradiation is performed from the substrate side and the case where the irradiation is performed from the protective layer side are shown. That is, when irradiation is performed from the substrate side, on the substrate surface (the side on which the recording film is formed on the side opposite to the irradiation side),
It is disclosed that minute unevenness is likely to occur due to heat damage. Further, as a means for solving this, the same specification discloses a method of covering the inner peripheral portion and the outer peripheral portion of the disk with a mask when irradiating with flash light. However, in the case of this prior example, the disclosed flash light irradiation condition is only the emission time of the flash lamp of 0.5 ms to 2 ms, and the variation example of the emission waveform of the flash light or the emission waveform is optimized. No mention is made of how to control the waveform.

【0008】フラッシュ光の照射波形を制御することに
関する先行技術としては、例えば特開平3−35424
号公報が挙げられる。同公報の明細書中の実施例5で
は、発光開始から発光強度がピークに達するまでの時間
Δt3とピークに達してから発光が停止するまでの時間
Δt4の関係を、Δt4≦Δt3となるように発光させる
ことで熱ダメージの小さい結晶化が行えることを開示し
ており、その手段としてその明細書に添付した図面(第
11図)で回路を示している。しかしながら、上記回路
はフラッシュランプを放電発光させるための一般的な回
路であって、この場合には発光時間(放電時間)は回路
の時定数で一義的に決定される。すなわち、この先行技
術に開示されている回路では、t3及びt4を独立して任
意に設定することは困難である。すなわち、後に詳細に
述べる本願発明のように、一定時間の放電後は、放電を
瞬時に強制的に停止させるという発明とは異なってい
る。
As a prior art relating to controlling the irradiation waveform of flash light, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 3-35424 is known.
Publication. In Example 5 in the specification of the publication, the relationship between the time Δt3 from the start of light emission to the peak of the emission intensity and the time Δt4 from the peak to the stop of the light emission is such that Δt4 ≦ Δt3. It is disclosed that crystallization with small heat damage can be performed by emitting light, and as a means for that, a circuit is shown in the drawing (FIG. 11) attached to the specification. However, the above circuit is a general circuit for discharging and emitting a flash lamp, and in this case, the light emission time (discharge time) is uniquely determined by the time constant of the circuit. That is, in the circuit disclosed in this prior art, it is difficult to arbitrarily set t3 and t4 independently. That is, unlike the invention of the present invention which will be described in detail later, after the discharge for a certain period of time, the discharge is instantaneously and forcibly stopped.

【0009】また、同公報には、発光パワーの変化速度
(立ち上がり、立ち下がり)を色々選ぶことができると
の記載があるが、変化速度が急峻な方がよいのか、なだ
らかな方がよいのかに関しては、判断が示されていな
い。むしろ、同公報の明細書中、第4ページ左上欄第1
〜第2行目には、同公報に添付された図面(第3図)を
例にとり、この立ち上がり、立ち下がりの変化形状には
特別な意味がないことが述べられている。とくに同公報
に添付された第3図(あるいは同第1図、同第6図)の
発光波形のように立ち下がりを急峻にするためには、な
んらかの特別な工夫が必要と考えられるが、それを実現
する手段はなんら記載されていない。
Further, the publication describes that various changing speeds (rising and falling) of the light emission power can be selected, but whether the changing speed is steeper or smoother is better. As for, no judgment has been given. Rather, in the specification of the publication, page 4, upper left column, first
In the second line, taking the drawing (FIG. 3) attached to the publication as an example, it is stated that the rising and falling changing shapes have no special meaning. Especially, in order to make the fall sharp like the light emission waveform of FIG. 3 (or FIG. 1, FIG. 6, FIG. 6) attached to the publication, some special device is considered necessary. There is no description of means for realizing the above.

【0010】一般に通常の放電回路で前記第3図のよう
な急激な立ち下がりを得るための最も簡便な手段は、回
路の時定数を小さくすることであるが、その場合にはエ
ネルギーを貯めておくコンデンサーの容量を小さくする
ことが必要になり、それに応じて発光エネルギーも小さ
くなってしまうのが通常である。発光エネルギーを大き
く保ち、なおかつ急峻な立ち下がりを実現する方法、ま
た、それによる効果がどのようなものであるかについて
開示された先行文献はない。
Generally, the simplest means for obtaining a sharp fall as shown in FIG. 3 in a normal discharge circuit is to reduce the time constant of the circuit. In that case, energy is stored. It is usually necessary to reduce the capacity of the condenser to be placed, and the light emission energy is also reduced accordingly. There is no prior document that discloses a method of keeping a large amount of emission energy and realizing a steep fall, and the effect thereof.

【0011】上述の各先行文献にも記載されているよう
にフラッシュ初期化方法の課題は、樹脂基板を用いた場
合に、基板が熱ダメージ(収縮、歪、反り等)を受けや
すいという点にあって、これを解決するために、従来よ
り幾つかの提案がなされてきた。ただし、従来のいずれ
の方法にも共通して言えることは、放電時間の絶対値は
回路の時定数に依存して一義的に決まるスタイルのもの
であって、発光時間、立ち上がり速度、立ち下がり速度
等の発光波形を記録媒体に合わせて、手軽にかつ任意に
設定するということは行なわれていなかった。
As described in each of the above-mentioned prior documents, the problem of the flash initialization method is that when a resin substrate is used, the substrate is susceptible to thermal damage (shrinkage, distortion, warpage, etc.). Therefore, some proposals have been made in the past to solve this problem. However, what can be said in common with any of the conventional methods is that the absolute value of the discharge time is uniquely determined depending on the time constant of the circuit, that is, the light emission time, the rising speed, and the falling speed. It has not been carried out to easily and arbitrarily set the light emission waveforms such as that according to the recording medium.

【0012】一般に、放電回路の時定数はコンデンサー
容量に反比例するので、発光のエネルギーを大きくする
ことと、放電時間を短くすることとは相反することであ
り、これまでは、照射パワーと照射時間を独立した変数
として任意に選ぶことができないという不都合さがあっ
た。いいかえると、様々な特性を有する媒体、すなわち
結晶化温度や結晶化速度の異なる様々な媒体に対して、
それぞれに最適な条件を与えることは容易ではなく、装
置の汎用性は低かった。
In general, since the time constant of the discharge circuit is inversely proportional to the capacitance of the capacitor, increasing the energy of light emission and shortening the discharge time are contradictory. Until now, the irradiation power and the irradiation time have been increased. There was the inconvenience that could not be arbitrarily selected as an independent variable. In other words, for media with various characteristics, that is, for various media with different crystallization temperatures and crystallization rates,
It was not easy to give optimum conditions to each, and the versatility of the device was low.

【0013】相変化記録媒体の構成としては、例えば図
10Aに示すように、基板40の上に誘電体層41,4
3でサンドイッチされた記録薄膜層42を形成し、さら
に反射層44、保護層45を順次形成した構成が最も一
般的である。保護層45としては、例えばスピンコート
等の方法で紫外線硬化樹脂を数10μm厚に塗布し、こ
れに紫外光線を照射して硬化させたものが多く用いられ
る。通常、この形状でディスク面の片側のみを用いる場
合を単板構造と称する。また、例えば図10Bに示した
ように、単板構造の媒体を膜面を内側にして2枚貼り合
わせた場合を両面構造と呼んでいる。この両面構造は、
基板40の上に第1の誘電体層41、記録薄膜層42、
第2の誘電体層43、反射層44、保護層45を形成し
た積層体を2枚用い、保護層45,45を接着剤(たと
えばホットメルト接着剤)49で一体化している。すな
わち両面型媒体の場合には、上記の方法で紫外線硬化樹
脂層による保護層を形成した2枚の単板基板を、互いに
保護層面を内側にして、ホットメルト接着剤で接合する
という方法が用いられている。この接着工程を分解する
と少なくとも1)各々の単板媒体に紫外線硬化樹脂層を
塗布する工程、2)これに紫外線を照射して硬化させ保
護層を形成する工程、3)各々の保護層面に液体状態に
したホットメルト接着剤を塗布する工程、4)接着剤を
塗布した面と面とをはりあわせて冷却し、接着面を固定
する工程の4工程が必要であり単板構成の製造に比べて
工程が多かった。
The structure of the phase change recording medium is, for example, as shown in FIG. 10A, a dielectric layer 41, 4 on a substrate 40.
The most general structure is that the recording thin film layer 42 sandwiched by 3 is formed, and then the reflective layer 44 and the protective layer 45 are sequentially formed. As the protective layer 45, for example, a material in which an ultraviolet curable resin is applied to a thickness of several tens of μm by a method such as spin coating and is irradiated with an ultraviolet ray and cured is often used. Usually, the case where only one side of the disk surface is used in this shape is called a single plate structure. Further, for example, as shown in FIG. 10B, a case where two mediums having a single plate structure are stuck together with the film surface inside is called a double-sided structure. This double-sided structure
A first dielectric layer 41, a recording thin film layer 42,
The two dielectric layers 43, the reflective layer 44, and the protective layer 45 are used as two laminated bodies, and the protective layers 45 and 45 are integrated with an adhesive (for example, hot melt adhesive) 49. That is, in the case of a double-sided medium, a method is used in which two single plate substrates having a protective layer made of an ultraviolet curable resin layer formed by the above method are bonded to each other with their protective layer surfaces facing inward with a hot melt adhesive. Has been. When this bonding step is disassembled, at least 1) a step of applying an ultraviolet curable resin layer on each single-plate medium, 2) a step of irradiating this with ultraviolet rays to cure and form a protective layer, and 3) a liquid on each protective layer surface. Compared with the production of a single-plate structure, four steps are required: a step of applying the hot melt adhesive in a state of 4), a step of bonding the adhesive-coated surface to the surface and cooling, and fixing the adhesive surface. There were many processes.

【0014】両面型媒体の場合に、紫外線硬化樹脂層を
接着層として張り合わせてメディアを構成する方法は特
開昭63−275057号公報に開示されている。ただ
し、ここで開示されている方法はディスク面に対して紫
外光線をなるべく水平方向から照射することで硬化を促
進するというものであって、通常の場合のようにディス
ク面に対して、垂直方向から照射するだけで接着するこ
とが可能な本願の方法とは異なっている。上記従来技術
では、樹脂層が露出している端面部から紫外線照射を行
なうというもので、照射効率が上がりにくいという課
題、複数の紫外線照射光源が必要になるという課題があ
った。
In the case of a double-sided medium, a method of forming a medium by laminating an ultraviolet curable resin layer as an adhesive layer is disclosed in JP-A-63-275057. However, the method disclosed here is to accelerate the curing by irradiating the disc surface with ultraviolet rays from the horizontal direction as much as possible. This method is different from the method of the present invention in which the adhesive can be applied only by irradiating from the outside. In the above-mentioned conventional technology, since the ultraviolet irradiation is performed from the end face portion where the resin layer is exposed, there are problems that the irradiation efficiency is difficult to increase and that a plurality of ultraviolet irradiation light sources are required.

【0015】両面型の場合に、紫外線硬化樹脂を接着剤
として用いない理由は以下の通りである。すなわち、相
変化型の光ディスクの場合(光磁気ディスクでも同様で
あるが)金属反射層を用いている等の理由で、紫外線硬
化樹脂を硬化させるための紫外光が基板側からはほとん
ど透過しないからである。つまり、どちらの面から紫外
線を照射しても、接着層まで光が届かないことから紫外
線硬化樹脂層を硬化させることが困難であるという理由
によった。前記従来技術は、この根本的課題への解決方
法を示してはいない。
The reason why the UV curable resin is not used as an adhesive in the case of the double-sided type is as follows. That is, in the case of a phase-change type optical disk (similarly to a magneto-optical disk), the ultraviolet light for curing the ultraviolet curable resin is hardly transmitted from the substrate side because the metal reflective layer is used. Is. In other words, it is difficult to cure the UV curable resin layer because the light does not reach the adhesive layer when irradiated with UV light from either side. The above-mentioned prior art does not show a solution to this fundamental problem.

【0016】ところで、単板構成の媒体では、上下の構
成が非対称であることから、いずれかの方向に反りが生
じやすいという傾向がある。すなわち、保護層45は、
例えば光ディスク等のような光学的情報記録媒体の記録
に直接関わる層を、例えば塵埃、湿度または外力等の影
響を受けないように保護するため、この分野では通常に
設置される層であって、作業性、強度及び接着性等の観
点から専ら紫外線硬化樹脂が使用されている。しかしな
がら、現在の紫外線硬化樹脂は重合して硬化する段階に
収縮し、これが光学的情報記録媒体に反り及び/または
歪を生じさせる原因となる。反りや歪の別の原因とし
て、記録薄膜層の体積変化も挙げられる。相変化光記録
媒体では、上述のように、記録薄膜を予め結晶状態に転
換しておくが、結晶化時には記録薄膜層がやはり収縮す
る傾向を有し、反り発生の一因となる。いずれの原因に
せよ、例えば図10Aの単板構成では、保護層の側が収
縮して凹面になり、基板側が凸になるという傾向があっ
た。
By the way, in a medium having a single plate structure, since the upper and lower structures are asymmetrical, there is a tendency that a warp is likely to occur in either direction. That is, the protective layer 45 is
For example, in order to protect a layer directly related to recording of an optical information recording medium such as an optical disc from being affected by dust, humidity, external force, etc., it is a layer usually installed in this field, From the viewpoint of workability, strength, adhesiveness, etc., an ultraviolet curable resin is exclusively used. However, current UV curable resins shrink when polymerized and cured, which causes warping and / or distortion of the optical information recording medium. Another cause of the warp and strain is a change in volume of the recording thin film layer. As described above, in the phase change optical recording medium, the recording thin film is converted into a crystalline state in advance, but the recording thin film layer also tends to contract during crystallization, which causes warpage. Regardless of the cause, for example, in the single-plate configuration of FIG. 10A, there was a tendency that the protective layer side contracted and became a concave surface, and the substrate side became convex.

【0017】フラッシュ照射による初期化時には、熱が
媒体全面に一挙に加わるので、上記結晶化によるストレ
スに加えて紫外線硬化樹脂の収縮によるストレスも同時
に生起する。すなわち、ストレスを緩和することが難し
く、反りや歪が顕著に生じやすいという課題があった。
At the time of initialization by flash irradiation, heat is applied to the entire surface of the medium all at once. Therefore, in addition to the stress due to the above-mentioned crystallization, the stress due to the shrinkage of the ultraviolet curable resin also occurs at the same time. That is, there is a problem that it is difficult to relieve stress, and warpage and distortion are likely to occur remarkably.

【0018】ようするに、単板構造のディスクでは、初
期化作業の結果として、多少の反りが生じることは避け
がたい傾向として残ってしまう。実施例で述べるよう
に、記録媒体に生じた反りや歪は、それをドライブする
場合に、フォーカス不良、トラッキング不良等のサーボ
不良をおこす大きな原因になり好ましくない。単板構成
では、また別の課題として、表層に設けられた保護層の
硬化が充分でない場合には、例えば高温高湿条件下等に
当該光学的情報記録媒体を曝すと、例えば記録薄膜層が
変質または剥離する等により、記録薄膜層としての機能
が損なわれる等の課題もあった。
As described above, in the disk having the single plate structure, some warpage as an result of the initialization work remains as an unavoidable tendency. As described in the examples, the warp or distortion generated in the recording medium is a great cause of servo defects such as focus defect and tracking defect when it is driven, which is not preferable. In the single-plate structure, as another problem, when the protective layer provided on the surface layer is not sufficiently cured, for example, when the optical information recording medium is exposed to high temperature and high humidity conditions, the recording thin film layer is There is also a problem that the function as a recording thin film layer is impaired due to deterioration or peeling.

【0019】なお初期化時に記録層から発生する熱によ
る応力や、相変化による記録層の体積変化により低下し
た記録層と誘電体層の界面の密着性を回復させる目的
で、初期化後の光記録媒体を30℃〜90℃の条件で6
時間〜24時間熱処理する先行技術がある(特開平5−
151623号公報)。
For the purpose of recovering the adhesiveness at the interface between the recording layer and the dielectric layer, which is reduced by the stress due to heat generated from the recording layer at the time of initialization and the volume change of the recording layer due to the phase change, The recording medium 6 under the condition of 30 ℃ ~ 90 ℃
There is a prior art in which heat treatment is performed for 24 hours to 24 hours (JP-A-5-
No. 151623).

【0020】ただし、この先行技術の目的は、初期化作
業時に発生する熱等の影響で現実に反りや歪が生じた場
合、その反りや歪を矯正するために熱処理を行なうとい
う本発明の目的とは異なっている。また、本発明の目的
を達成するためには、後述するように熱処理の際の媒体
の保持形態や、外力を加え方等の点が重要になるが、こ
の先行技術の文献ではその点に関しては一切触れられて
いない。また、先行技術ではレーザ初期化による実施例
のみが示されており、フラッシュ法の場合に問題になる
接着層の昇温に起因する問題等は一切考えられていな
い。
However, the purpose of this prior art is to provide an object of the present invention to perform heat treatment in order to correct the warp or distortion if the warp or distortion actually occurs due to the heat generated during the initialization work. Is different from. Further, in order to achieve the object of the present invention, as will be described later, the manner of holding the medium at the time of heat treatment, the point of how to apply an external force, etc. become important. Not touched at all. Further, in the prior art, only the example by laser initialization is shown, and no problem due to the temperature rise of the adhesive layer, which is a problem in the case of the flash method, is considered.

【0021】フラッシュランプを閃光させる装置として
は、図7に示すような電気回路構成になっているのが一
般的であった。すなわち、フラッシュランプ31を閃光
させるのに必要な電気エネルギーを蓄積するメインコン
デンサ32と、このメインコンデンサ32に電気エネル
ギーを充電するための電源33と、フラッシュランプ3
1の閃光を開始させるためにトリガー電圧を発生させる
ためのトリガーコイル34と、放電スイッチ35と、メ
インコンデンサ32の充電と放電を切り替えるための切
り替えスイッチ36と、充電時の電流値制御のための抵
抗37とからなる回路を基本としている。図7の電気回
路構成の初期化装置を用いて、光学的記録媒体を初期化
させるには、以下の方法が一般的である。すなわち、切
り替えスイッチ36を充電に切り替え、電源33の出力
には、フラッシュランプ31の閃光強度を決めるに必要
な電圧値と同じ電圧を設定する。この電圧設定は主にメ
インコンデンサ32の耐圧で決められ、耐圧以上に設定
すると、フル充電時にメインコンデンサ32の耐圧を越
えてメインコンデンサ32が破壊されるので閃光強度を
決める電圧と同じにしておくのが一般的ある。電源33
とメインコンデンサ32の端子との間には電位差が発生
するため、電源33から抵抗37を通してメインコンデ
ンサ32に電気エネルギーが供給される。メインコンデ
ンサ32の端子電圧は、電気エネルギーの供給と共に高
くなり、最終的には電源33の出力電圧とメインコンデ
ンサ32の端子電圧とが同じになるまで(すなわち、電
位差が無くなるまで)電気エネルギが供給される。この
ようにして、メインコンデンサ32の充電後、切り替え
スイッチ36をOFF状態にする。その後、放電スイッ
チ35をONすると、トリガコイル34の一次側にパル
ス状の電圧が発生する。これにより、トリガコイルの二
次側には約10kVの電圧が発生し、フラッシュランプ
31が閃光する。この閃光により照射された光により、
光学的記録媒体38が初期化される。
A device for flashing a flash lamp generally has an electric circuit configuration as shown in FIG. That is, the main capacitor 32 that stores the electric energy necessary for flashing the flash lamp 31, the power source 33 that charges the main capacitor 32 with the electric energy, and the flash lamp 3
1. A trigger coil 34 for generating a trigger voltage to start the flashing of No. 1, a discharge switch 35, a changeover switch 36 for switching between charging and discharging of the main capacitor 32, and a current value control for charging. It is based on a circuit including a resistor 37. The following method is generally used to initialize an optical recording medium using the initialization device of the electric circuit configuration of FIG. That is, the changeover switch 36 is switched to charging, and the output of the power supply 33 is set to the same voltage value as the voltage value required to determine the flash intensity of the flash lamp 31. This voltage setting is mainly determined by the withstand voltage of the main capacitor 32, and if set above the withstand voltage, the withstand voltage of the main capacitor 32 will be exceeded and the main capacitor 32 will be destroyed at the time of full charge. Is common. Power supply 33
Since a potential difference is generated between the main capacitor 32 and the terminal of the main capacitor 32, electric energy is supplied from the power source 33 to the main capacitor 32 through the resistor 37. The terminal voltage of the main capacitor 32 increases with the supply of electric energy, and finally the electric energy is supplied until the output voltage of the power supply 33 and the terminal voltage of the main capacitor 32 become the same (that is, until the potential difference disappears). To be done. In this way, after charging the main capacitor 32, the changeover switch 36 is turned off. After that, when the discharge switch 35 is turned on, a pulsed voltage is generated on the primary side of the trigger coil 34. As a result, a voltage of about 10 kV is generated on the secondary side of the trigger coil, and the flash lamp 31 flashes. By the light emitted by this flash,
The optical recording medium 38 is initialized.

【0022】一般に、以上のような方法で初期化行程が
進められているが、フラッシュ光による初期化では、光
学的記録媒体の全面を一括して初期化するので、初期化
(結晶化)そのものは1〜2ms以下で行われる。よっ
て、初期化に必要な時間はメインコンデンサ32への充
電時間でほぼ決まる。
Generally, the initialization process is carried out by the above method, but in the initialization by the flash light, the entire surface of the optical recording medium is initialized in a lump, so the initialization (crystallization) itself. Is performed in 1 to 2 ms or less. Therefore, the time required for initialization is almost determined by the charging time of the main capacitor 32.

【0023】従来はこの充電に要する時間がかなり長い
という課題があった。フラッシュによる初期化の場合、
所要時間の大半は、コンデンサーの充電に必要な時間で
あり、この時間を短縮することで、フラッシュ法の利点
をさらに大きなものにすることが可能になる。本発明者
らが実際にメインコンデンサ32への充電時間を測定す
ると、以下の様になった。例えば、フラッシュランプ3
1を12本同時に閃光させることとし、フラッシュラン
プ31の両極の閃光時電圧を700Vとした場合を想定
する。電源電圧は700Vに設定し、またメインコンデ
ンサ32の容量は12本を同時に閃光させるので36,
000μFの静電容量となる。この条件で、メインコン
デンサ32を充電すると、充電時間は約5分程度必要で
あった。
Conventionally, there has been a problem that the time required for this charging is considerably long. In case of initialization by flash,
Most of the time required is the time required to charge the capacitor, and shortening this time makes it possible to further increase the advantage of the flash method. When the present inventors actually measured the charging time for the main capacitor 32, the results were as follows. For example, flash lamp 3
It is assumed that 12 flash lamps 1 are simultaneously flashed, and the flashing voltage of both electrodes of the flash lamp 31 is 700V. The power supply voltage is set to 700V, and the main capacitor 32 has a capacity of 36 because it flashes 12 simultaneously.
The capacitance is 000 μF. When the main capacitor 32 was charged under this condition, the charging time required about 5 minutes.

【0024】ここで、メインコンデンサ32の充電時間
と到達電圧との関係を測定すると、図8の実線の様にな
る。すなわち、充電開始直後には、メインコンデンサ3
2にはほとんど電荷が蓄積されていないので、メインコ
ンデンサ32の端子電圧は0V近傍と低い。このため、
電源電圧とメインコンデンサ32端子間との電位差が大
きく、流れる電流も大きいので、メインコンデンサ32
は急速に充電される。しかし、充電が続けられる過程で
メインコンデンサ32の端子電圧も上昇し、電源電圧と
の電位差が小さくなるので、流れる電流も小さくなる。
この現象は充電が進むにつれて影響が大きくなり、その
結果、メインコンデンサ32の端子電圧がフラッシュラ
ンプ31の閃光電圧に達成するまでに、かなりの時間が
必要になっていた。
Here, when the relationship between the charging time of the main capacitor 32 and the ultimate voltage is measured, it becomes as shown by the solid line in FIG. That is, immediately after the start of charging, the main capacitor 3
Since almost no electric charge is stored in 2, the terminal voltage of the main capacitor 32 is as low as around 0V. For this reason,
Since the potential difference between the power supply voltage and the terminals of the main capacitor 32 is large and the flowing current is also large, the main capacitor 32
Is charged rapidly. However, the terminal voltage of the main capacitor 32 also rises in the process of continuing charging, and the potential difference from the power supply voltage decreases, so that the flowing current also decreases.
This phenomenon has a great influence as the charging progresses, and as a result, it takes a considerable time for the terminal voltage of the main capacitor 32 to reach the flash voltage of the flash lamp 31.

【0025】一方、今日の光学的記録媒体の製造には、
約1分程度のタクトタイムが要求されることが多い。よ
って、フラッシュ光による初期化時間を短縮するために
は、メインコンデンサの充電時間を図8の破線の様に短
縮する必要がある。
On the other hand, in the manufacture of today's optical recording media,
A takt time of about 1 minute is often required. Therefore, in order to shorten the initialization time by the flash light, it is necessary to shorten the charging time of the main capacitor as shown by the broken line in FIG.

【0026】[0026]

【発明が解決しようとする課題】以上説明した通り、従
来技術は初期化するために加熱することが必要で、この
加熱によりダメージが伴い、製品が壊れてしまう確率が
高いという問題があった。
As described above, the prior art requires heating for initialization, and there is a problem that the heating causes damage and the product is likely to be broken.

【0027】本発明は、前記従来の問題を解決するた
め、放電発光時間(照射時間)、放電発光パワー(照射
光パワー)を任意に設定することが可能なフラッシュ初
期化装置を提供すること、ならびに、その装置を用いる
熱ダメージの小さい初期化方法を提供することを第1の
目的とする。
In order to solve the above conventional problems, the present invention provides a flash initialization device capable of arbitrarily setting discharge light emission time (irradiation time) and discharge light emission power (irradiation light power). A first object of the present invention is to provide an initialization method that uses the device and has a small thermal damage.

【0028】本発明の解決しようとする第2の課題はフ
ラッシュ初期化法を実施する上で、初期化に要するトー
タルの所要時間を従来よりも短縮することであって、フ
ラッシュ初期化法では、初期化に要する時間の大半がフ
ラッシュ光のエネルギー源である蓄積部への充電時間で
あることに注目し、この充電速度を高める方法ならびに
それを実現する装置を提供することを目的とする。
A second problem to be solved by the present invention is to shorten the total time required for initialization in carrying out the flash initialization method as compared with the conventional method. It is an object of the present invention to provide a method for increasing the charging speed and a device for realizing the same, paying attention to the fact that most of the time required for the initialization is the charging time for the storage unit which is the energy source of flash light.

【0029】本発明の解決しようとする第3の課題は、
とくにフラッシュ初期化工程を含む光学的情報記録媒体
の製造課程において、またとくに単板構造の媒体の製造
課程において生起しやすい媒体の反り及び/または歪を
低減することであって、保護層製造工程や初期化工程等
を通じて、反り及び/または歪を低減するための製造方
法の提供を目的とする。
The third problem to be solved by the present invention is as follows.
In particular, in the manufacturing process of an optical information recording medium including a flash initialization process, and particularly in the manufacturing process of a medium having a single-plate structure, it is intended to reduce warpage and / or distortion of the medium, which is a protective layer manufacturing process. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method for reducing warpage and / or strain through an initializing step and the like.

【0030】本発明のしようとする第4の課題は、フラ
ッシュ初期化法に適する両面型媒体の製造工程が単板型
媒体に比べて複雑であるという点にあって、両面型媒体
の製造工程数を減らすための媒体の構成、ならびに前記
両面型媒体の製造方法の提供を目的とする。
A fourth problem to be solved by the present invention is that the manufacturing process of the double-sided medium suitable for the flash initialization method is more complicated than that of the single plate type medium. It is an object of the present invention to provide a medium structure for reducing the number and a method for manufacturing the double-sided medium.

【0031】[0031]

【課題を解決するための手段】本発明の製造方法は、上
記第1の目的を達成するために、初期化のために照射す
るフラッシュ光の波形を制御し、結晶化が生起したら、
瞬時に発光を停止させる方法を用いる。そして、上記方
法を実現するために、本発明の製造装置は、結晶−アモ
ルファス間の相変化を生じる記録薄膜層を基板上に備え
た光学的情報記録媒体を支持する支持台と、放電により
フラッシュ光を放出する光源と、上記光源に供給する電
気エネルギーを蓄積しておく蓄積回路部と、上記光源の
放電を開始させるためのトリガー回路部と、上記放電を
所定の発光時間後に強制的に中断し、発光の強度を所定
の強度から実効的にゼロレベルにまで瞬時に低減させる
遮断回路部を備えたフラッシュ露光装置とを備えてい
る。上記光学的情報記録媒体の初期結晶化を行う場合に
は、予め定めた印加電圧で上記蓄積回路部を充電し、上
記トリガー回路部を動作させて放電を開始させてフラッ
シュ光を放出させ、予め定めた放電時間経過後は上記遮
断回路部を作動させて放電を強制的に停止させる。
In order to achieve the first object, the manufacturing method of the present invention controls the waveform of the flash light irradiated for initialization, and when crystallization occurs,
A method of instantaneously stopping light emission is used. Then, in order to realize the above method, the manufacturing apparatus of the present invention comprises a support for supporting an optical information recording medium having a recording thin film layer for causing a phase change between crystal and amorphous on a substrate, and a flash for discharging. A light source that emits light, a storage circuit unit that stores electric energy supplied to the light source, a trigger circuit unit that starts discharge of the light source, and the discharge is forcibly interrupted after a predetermined light emission time. The flash exposure apparatus is provided with a cutoff circuit section that instantly reduces the intensity of light emission from a predetermined intensity to a zero level effectively. When the initial crystallization of the optical information recording medium is performed, the storage circuit unit is charged with a predetermined applied voltage, the trigger circuit unit is operated to start discharging, and flash light is emitted in advance. After the elapse of the predetermined discharge time, the above-mentioned cutoff circuit section is operated to forcibly stop the discharge.

【0032】樹脂基板や記録薄膜層や保護層に熱的な負
荷をなるべく与えないで、結晶化による初期化を施すた
めには、記録薄膜層で生じた熱が周囲に拡散する時間を
なるべく短くすることが必要である。実際の結晶化時間
は、高々数μsのオーダーであるから、記録薄膜層を瞬
時に結晶化温度まで昇温し、当該記録薄膜層が結晶化し
た後はなるべく速やかに冷却することが重要である。換
言すると、昇温速度と冷却速度とはなるべく速くし、し
かも記録薄膜層が結晶化するために要する時間だけ当該
記録薄膜層を高温状態に保持する必要がある。ところ
が、通常、フラッシュ暴露を施すと、発光強度のピーク
値を越えた後も発光のテール部が長く継続し、これが記
録薄膜並びに基板に熱的損傷を与えていたと考えられ
る。
In order to perform initialization by crystallization without applying a thermal load to the resin substrate, the recording thin film layer and the protective layer as much as possible, the time for the heat generated in the recording thin film layer to diffuse to the surroundings is shortened as much as possible. It is necessary to. Since the actual crystallization time is on the order of several μs at most, it is important to raise the temperature of the recording thin film layer to the crystallization temperature instantaneously and cool it as soon as possible after the recording thin film layer is crystallized. . In other words, it is necessary to increase the temperature rising rate and the cooling rate as much as possible, and to keep the recording thin film layer in a high temperature state for the time required for crystallization of the recording thin film layer. However, normally, when flash exposure is performed, the tail portion of the light emission continues for a long time even after the peak value of the light emission intensity is exceeded, which is considered to cause thermal damage to the recording thin film and the substrate.

【0033】そこで、本発明の遮断回路を具備する構成
によれば、光学的情報記録媒体へのフラッシュ照射を、
結晶化に必要な最小限の時間内に押さえ、しかも、任意
の時間で強制的に発光を停止することができるので、発
光のテール部の影響をなくすることができ、初期化の際
の熱ダメージを大きく低減することが可能になる。
Therefore, according to the configuration including the interruption circuit of the present invention, the flash irradiation to the optical information recording medium is performed,
Since the light emission can be stopped within the minimum time required for crystallization and the light emission can be forcibly stopped at any time, the influence of the tail portion of light emission can be eliminated, and the heat during initialization can be eliminated. It is possible to greatly reduce damage.

【0034】また、この際、放電そのものを停止させる
ことで、コンデンサーには未使用の電荷が放電されずに
残り、次の充電に要する時間を初回よりもはるかに短く
することができる。つまり、初期化を繰り返して行う場
合には、トータル時間を短縮することができ、生産速度
を高めることができる。
Further, at this time, by stopping the discharge itself, unused electric charge remains in the capacitor without being discharged, and the time required for the next charge can be made much shorter than the first time. That is, when the initialization is repeated, the total time can be shortened and the production speed can be increased.

【0035】好ましくは、本発明では放電時間を最大2
mSとする。また、好ましくは、本発明では光学情報記
録媒体に用いる記録薄膜の成分をGe−Sb−Te合金
を主成分とするものとする。
Preferably, in the present invention, the discharge time is up to 2
mS. Further, in the present invention, preferably, the composition of the recording thin film used for the optical information recording medium is a Ge-Sb-Te alloy as a main component.

【0036】本発明の第2の目的を達成するために、本
発明による製造装置は、結晶状態とアモルファス状態と
の間で相変化を生じる記録薄膜を基板上に備えた光学的
記録媒体にフラッシュ光を照射し、前記記録薄膜の所定
の領域を一括して初期状態である結晶状態に転換する装
置において、前記光学的記録媒体を支持する手段と、放
電によりフラッシュ光を放出する光源と、この光源に供
給するエネルギーを蓄積しておく蓄積手段と、この蓄積
手段にエネルギーを送る供給手段と、前記光源の放電を
開始させるための放電開始手段と、前記蓄積手段には蓄
積されたエネルギー量を検出する蓄積量検出手段と、前
記供給手段にはエネルギーを供給する量を設定する供給
量設定手段とを設け、前記蓄積量検出手段で検出した検
出量に応じて、前記供給量設定手段で設定する供給量を
前記蓄積手段のエネルギーの到達量または到達量の規定
値よりも大きくなるように前記供給手段を制御し、前記
蓄積手段のエネルギー量が所定の値に到達した時に、前
記供給手段から前記蓄積手段へのエネルギーの供給を遮
断する切り換え手段により遮断し、放電開始手段により
光源を発光させるように制御する制御手段とを具備す
る。これによって、メインコンデンサの充電時間を短縮
するとともに、放電パワーを任意に設定可能にする。
In order to achieve the second object of the present invention, a manufacturing apparatus according to the present invention flashes an optical recording medium having a recording thin film on a substrate, which causes a phase change between a crystalline state and an amorphous state. In a device for irradiating light and collectively converting a predetermined region of the recording thin film into a crystalline state which is an initial state, means for supporting the optical recording medium, a light source for emitting flash light by discharge, Storage means for storing energy to be supplied to the light source, supply means for sending energy to the storage means, discharge starting means for starting discharge of the light source, and energy amount stored in the storage means. The accumulated amount detecting means for detecting and the supply amount setting means for setting the amount of energy to be supplied to the supplying means are provided, and according to the detected amount detected by the accumulated amount detecting means, The supply means is controlled so that the supply quantity set by the supply quantity setting means is larger than the reached quantity of the energy of the storage means or a specified value of the reached quantity, and the energy quantity of the storage means reaches a predetermined value. At the same time, it comprises a control means for interrupting the supply of energy from the supplying means to the accumulating means by means of a switching means, and controlling the discharge starting means to cause the light source to emit light. This shortens the charging time of the main capacitor and allows the discharge power to be set arbitrarily.

【0037】蓄積手段のエネルギーの到達量の規定値よ
りも、供給手段の供給量を大きくしたため、蓄積手段へ
のエネルギー蓄積量が大きくなっても供給手段と蓄積手
段のエネルギー量に常に所定の差が確保される。従っ
て、エネルギー供給量の減少度合いが小さくなり、蓄積
手段へのエネルギー供給時間が短くなるため、光学的記
録媒体の初期化時間が大幅に短縮される。
Since the supply amount of the supply means is made larger than the specified value of the amount of energy reached by the storage means, even if the amount of energy stored in the storage means becomes large, there is always a predetermined difference in the amount of energy between the supply means and the storage means. Is secured. Therefore, the degree of decrease in the amount of energy supplied is reduced and the energy supply time to the storage means is shortened, so that the initialization time of the optical recording medium is greatly shortened.

【0038】本発明において、好ましくは、供給手段の
エネルギー供給量および蓄積手段のエネルギー蓄積量を
電圧量で検知し、前記蓄積手段の蓄積完了時の電圧値よ
りも、前記供給手段の電圧値の方を高くする。
In the present invention, preferably, the energy supply amount of the supply means and the energy storage amount of the storage means are detected by a voltage amount, and the voltage value of the supply means is more than the voltage value at the time of completion of the storage of the storage means. Raise one higher.

【0039】また、本発明において、好ましくは、供給
手段のエネルギー供給量および蓄積手段のエネルギー蓄
積量を電圧量で検知し、前記供給手段の電圧値と前記蓄
積手段の到達電圧値との差を概ね一定とする。
Further, in the present invention, preferably, the energy supply amount of the supply means and the energy storage amount of the storage means are detected by a voltage amount, and the difference between the voltage value of the supply means and the reached voltage value of the storage means is detected. It is almost constant.

【0040】本発明の第3の目的を達成するために、基
板上に結晶−アモルファス間の相変化を生じる記録薄膜
層を備え、かつ最上層に紫外線硬化樹脂を含む硬化性樹
脂を硬化させた保護層を具備した光学的情報記録媒体に
おいて、初期結晶化工程を終了後、アニール工程を施し
て前記保護層を完全硬化する方法を用いる。
In order to achieve the third object of the present invention, a recording thin film layer which causes a phase change between crystal and amorphous is provided on a substrate, and a curable resin containing an ultraviolet curable resin is cured on the uppermost layer. In an optical information recording medium having a protective layer, a method is used in which after the initial crystallization step is completed, an annealing step is performed to completely cure the protective layer.

【0041】初期化までの段階では、保護層の材料とし
て適用させる紫外線硬化樹脂の重合が未完なので、ある
程度の構造柔軟性を有している。したがって、アニール
工程を施すことにより、当該保護層の紫外線硬化樹脂を
完全硬化し、光学的情報記録媒体としての保護層の成膜
が完成できる。この際、反りを矯正する方向に力が加わ
る状態に保持しつつ、あるいは積極的に反りを矯正する
外力を加えつつアニール処理を行なう。これにより、当
該各工程で生じる反りを矯正でき、アニール後の状態は
反りが矯正された状態で固定される。
At the stage until the initialization, the ultraviolet curable resin applied as the material for the protective layer has not been completely polymerized, so that it has a certain degree of structural flexibility. Therefore, by performing the annealing step, the ultraviolet curable resin of the protective layer is completely cured, and the film formation of the protective layer as the optical information recording medium can be completed. At this time, the annealing process is performed while maintaining a state in which a force is applied in the direction to correct the warp or while actively applying an external force to correct the warp. As a result, the warpage that occurs in each of the steps can be corrected, and the state after annealing is fixed with the warpage corrected.

【0042】これによって、光学的情報記録媒体の保護
層の信頼性を高めると同時に、初期化工程での反りに起
因する不良数を減らし、製造上歩留まりを向上させるこ
とができる。
As a result, the reliability of the protective layer of the optical information recording medium can be improved, and at the same time, the number of defects caused by the warp in the initialization process can be reduced and the manufacturing yield can be improved.

【0043】好ましくは、光学的情報記録媒体として、
基板の上に、第1の誘電体層、記録薄膜層、第2の誘電
体層、反射層を積層し、最上層に保護層を設けた構成の
ものを用いる。
Preferably, as the optical information recording medium,
A structure in which a first dielectric layer, a recording thin film layer, a second dielectric layer, and a reflective layer are laminated on a substrate and a protective layer is provided on the uppermost layer is used.

【0044】また、好ましくは、記録薄膜層にGe−S
b−Teを主成分とする合金薄膜を用いる。また、好ま
しくは、アニール工程が、光学的情報記録媒体を反りの
ない状態への矯正、または反りを矯正する方向に外力を
与える矯正の何れかの矯正処理を兼ねる。
Preferably, the recording thin film layer is made of Ge-S.
An alloy thin film containing b-Te as a main component is used. Further, preferably, the annealing step also serves as a correction process for correcting the optical information recording medium to a warp-free state or for applying an external force in a direction of correcting the warp.

【0045】また、好ましくは、アニール工程におい
て、ディスク形状を有する光学的情報記録媒体の外径よ
りもわずかに小さい径の穴を有する台の上に光学的情報
記録媒体を置き、その際、光学的情報記録媒体の中心と
前記穴との中心とを合わせ、かつ、光学的情報記録媒体
の凸面が上になるように保持する。そして、光学的情報
記録媒体が逆向きに凸、または平坦になるように、光学
的情報記録媒体のセンター部に加重し、またはセンター
部を固定する。
Further, preferably, in the annealing step, the optical information recording medium is placed on a table having a hole having a diameter slightly smaller than the outer diameter of the optical information recording medium having a disk shape, and the optical information recording medium The optical information recording medium is held so that the center of the optical information recording medium is aligned with the center of the hole and the convex surface of the optical information recording medium faces upward. Then, the optical information recording medium is weighted or fixed to the center portion of the optical information recording medium so that the optical information recording medium becomes convex or flat in the opposite direction.

【0046】また、好ましくは、アニール工程が矯正処
理を兼ね、基板面または保護層面の少なくとも何れか一
方の面を平坦な面上に伏せた状態に放置しつつアニール
工程を行なう。
Further, preferably, the annealing process also serves as a correction process, and the annealing process is performed while leaving at least one of the substrate surface and the protective layer surface flat on a flat surface.

【0047】また、好ましくは、アニール工程が矯正処
理を兼ね、基板面、保護層面の最内周部または最外周部
の少なくとも何れか1つを、平坦な面を有する物体に押
さえつけつつ、アニール工程を行なう。
Preferably, the annealing step also serves as a straightening step, and at least one of the innermost peripheral portion and the outermost peripheral portion of the substrate surface and the protective layer surface is pressed against an object having a flat surface while the annealing step is performed. Do.

【0048】また、好ましくは、平坦な面が、アニール
工程の温度以上の耐熱性を有する物体の一面であり、前
記物体を予め所定の温度に加熱した前記物体の平坦面上
に光学的情報記録媒体を置いた状態でアニール工程を行
なう。
Further, preferably, the flat surface is one surface of an object having heat resistance equal to or higher than the temperature of the annealing step, and the optical information is recorded on the flat surface of the object obtained by previously heating the object to a predetermined temperature. The annealing process is performed with the medium placed.

【0049】また、好ましくは、アニール工程が矯正処
理を兼ね、単板構造の光学的情報記録媒体を複数枚積み
重ねた状態で、両側から力を加えつつアニール工程を行
なう。
Further, preferably, the annealing step also serves as a straightening treatment, and the annealing step is performed while applying a force from both sides in a state where a plurality of optical information recording media having a single plate structure are stacked.

【0050】また、好ましくは、アニール工程の温度を
記録薄膜層の相変化が発生する温度以下とする。また、
好ましくは、アニール温度を100℃以下とする。な
お、下限値は60℃程度である。
Further, preferably, the temperature of the annealing step is set to a temperature at which the phase change of the recording thin film layer occurs or less. Also,
Preferably, the annealing temperature is 100 ° C. or lower. The lower limit is about 60 ° C.

【0051】また、好ましくは、初期結晶化工程をフラ
ッシュ露光により行なう。また、上記目的を達成するた
めの別の方法として、基板上に結晶−アモルファス間の
相変化を生じる記録薄膜層を含む多層構成の記録層を備
え、前記記録層の上層に紫外線硬化樹脂を含有する硬化
被膜の保護層を備えた構造の光学的記録部材の製造工程
において、本発明の製造方法は、前記紫外線硬化樹脂層
を設けた後、前記光学的記録部材の前記記録層及び前記
保護層を設けた基板面と対向する基板面に矯正力を加え
つつ紫外光線の照射を行なう紫外線照射工程と、前記紫
外線照射工程終了後の初期結晶化工程とを含む。
Further, preferably, the initial crystallization step is performed by flash exposure. As another method for achieving the above object, a recording layer having a multi-layered structure including a recording thin film layer that causes a phase change between crystal and amorphous is provided on a substrate, and an ultraviolet curable resin is contained in the upper layer of the recording layer. In the process of manufacturing an optical recording member having a structure including a protective layer of a cured coating, the manufacturing method of the present invention provides the recording layer and the protective layer of the optical recording member after providing the ultraviolet curable resin layer. The step of irradiating an ultraviolet ray while applying a correction force to the surface of the substrate opposite to the surface of the substrate provided with the step of irradiating ultraviolet rays and the step of initial crystallization after the step of irradiating the ultraviolet rays are included.

【0052】通常、単板の光学的情報記録媒体(以下光
ディスクと称す)は、保護層形成に起因する反りの方向
と、初期化に起因する反りの方向とが同一となるため、
これらの処理を加えた後の光ディスクの反りを増幅し、
光ディスクの記録に関わる層の平面性が損なわれる。し
たがって、少なくとも保護層硬化工程時に、反りが生じ
る方向と反対の方向に矯正力を印加しながら保護層を形
成することで、初期化工程後の反りを抑制できる。
Usually, in a single-plate optical information recording medium (hereinafter referred to as an optical disc), the warp direction due to the formation of the protective layer and the warp direction due to the initialization are the same.
Amplify the warp of the optical disk after adding these processes,
The flatness of the layers involved in recording on the optical disc is impaired. Therefore, the warp after the initialization step can be suppressed by forming the protective layer while applying the correction force in the direction opposite to the direction in which the warp occurs at least during the protective layer curing step.

【0053】好ましくは、初期化工程を、矯正力が加わ
った状態で行なう。また、好ましくは、紫外光照射工程
と初期化工程との間に、光学的記録媒体を加熱するアニ
ール工程を行なう。
Preferably, the initializing step is performed in a state in which the correction force is applied. Further, preferably, an annealing step of heating the optical recording medium is performed between the ultraviolet light irradiation step and the initialization step.

【0054】また、好ましくは、アニール工程を、矯正
力を印加した状態で行なう。また、好ましくは、アニー
ル工程の熱源を、赤外光ランプの照射とする。また、好
ましくは、初期化工程を、フラッシュ光照射により行な
う。
Further, preferably, the annealing process is performed in a state where a correction force is applied. Further, preferably, the heat source of the annealing step is irradiation of an infrared light lamp. Further, preferably, the initialization step is performed by flash light irradiation.

【0055】本発明によって、アモルファス相−結晶相
間の相変化型光ディスク媒体の初期化後の反り及び/ま
たは歪が低減され、サーボ特性を向上できる。本発明の
第4の目的は、フラッシュ初期化方法に適した媒体構成
である両面型媒体の製造工程数を減らすための光学的情
報記録媒体の構成、ならびに前記光学的情報記録媒体の
製造方法を提供することにある。
According to the present invention, the warp and / or the strain after the initialization of the phase-change type optical disk medium between the amorphous phase and the crystalline phase is reduced, and the servo characteristics can be improved. A fourth object of the present invention is to provide a structure of an optical information recording medium for reducing the number of manufacturing steps of a double-sided medium which is a medium structure suitable for a flash initialization method, and a method of manufacturing the optical information recording medium. To provide.

【0056】本発明は、上記目的を達成するために、透
明基板上にレーザ光線の照射によって光学的に検出可能
な変化を生じる記録薄膜層ならびに金属反射層を含む多
層構造膜を備えた2枚の光学的記録部材を、紫外線感応
硬化成分を含有する樹脂を介して、上記多層構造膜側が
互い内側になるようにしてはり合わせた媒体構成を採用
し、しかも、上記2枚の光学的記録部材の少なくとも何
れか一方が、上記樹脂の紫外線感応波長域に略3%以上
の透過率を有するように構成する。上記構成をとること
によって、基板を介して外部から紫外線を照射すること
により接着層を硬化させることが可能になる。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention comprises two sheets having a multilayer structure film including a recording thin film layer and a metal reflection layer which produce a change optically detectable by irradiation of a laser beam on a transparent substrate. The above optical recording member is laminated with a resin containing an ultraviolet-sensitive curing component so that the multilayer structure film sides are inside each other, and the above two optical recording members are used. At least one of them has a transmittance of about 3% or more in the ultraviolet sensitive wavelength range of the resin. With the above structure, it becomes possible to cure the adhesive layer by irradiating ultraviolet rays from the outside through the substrate.

【0057】ここで、好ましくは、記録薄膜層が、アモ
ルファス相−結晶相間の相変化現象に伴う光学的特性の
変化を応用するものであって、光学的記録部材の少なく
とも何れか一方の上記記録薄膜層がアモルファス状態の
場合には、樹脂の紫外線感応波長域に略3%以上の透過
率を有するものとする。
Here, it is preferable that the recording thin film layer applies a change in optical characteristics associated with a phase change phenomenon between an amorphous phase and a crystalline phase, and at least one of the recording members of the optical recording member. When the thin film layer is in an amorphous state, it has a transmittance of approximately 3% or more in the ultraviolet sensitive wavelength range of the resin.

【0058】また、好ましくは、金属反射層としてAu
を主成分とする合金Au100-xx(MはCr,Al,A
g,Cu,Ni,Si,Pt等の金属元素、100>x
≧0)を用いる。
Preferably, Au is used as the metal reflection layer.
Alloy containing 100% as a main component Au 100-x M x (M is Cr, Al, A
g, Cu, Ni, Si, Pt and other metal elements, 100> x
≧ 0) is used.

【0059】このような光学的情報記録媒体は、上記2
枚の光学的記録部材の少なくとも何れか一方の上記多層
構造膜が上記樹脂の紫外線感応波長域に略3%以上の透
過率を有するように膜形成を行う成膜工程と、上記2枚
の光学的記録部材を互いに上記多層構造膜の形成された
面が向かい合うように配置する配置工程と、上記対向す
る多層構造膜間のスペースに上記樹脂を充填する充填工
程と、紫外光の露光により上記樹脂を硬化させる露光工
程とを含む製造方法によって得ることができる。
Such an optical information recording medium has the above-mentioned 2
A film forming step of forming a film so that the multilayer structure film of at least one of the optical recording members has a transmittance of about 3% or more in the ultraviolet sensitive wavelength range of the resin; Step of arranging the physical recording members so that the surfaces on which the multilayer structure film is formed face each other, a filling step of filling the space between the facing multilayer structure films with the resin, and the resin by exposure to ultraviolet light. It can be obtained by a manufacturing method including an exposure step of curing.

【0060】一般に、紫外線感応硬化成分の硬化速度に
対する影響は、照射する紫外線の波長及び感応成分の量
子収率(紫外線照射強度に比例する)等に依存する。し
かしながら、本発明者らの実験によれば、紫外線照射で
硬化させる上での律速は(当該照射強度により硬化速度
は若干変化するけれども)、主に紫外線の波長によって
決まる。すなわち、紫外線照射で重合を開始する成分を
感応させる特定波長が存在すれば、少なくとも概ね3%
程度の透過率であっても、紫外線照射で重合を開始する
感応成分への照射強度自体は十分であり、硬化速度には
さほど影響を及ぼさないことが判明した。従って、上記
構成によれば、2枚のディスクの接着面の間に紫外線硬
化樹脂を充填し、紫外線を照射するだけで、両面型の光
学情報記録媒体を形成することができ、従来に比較して
製造工程数をはるかに少なくすることができる。
In general, the influence of the ultraviolet-sensitive curing component on the curing rate depends on the wavelength of the ultraviolet rays to be irradiated, the quantum yield of the sensitive component (proportional to the ultraviolet irradiation intensity), and the like. However, according to the experiments by the present inventors, the rate-determining rate for curing by ultraviolet irradiation (although the curing rate slightly changes depending on the irradiation intensity) is mainly determined by the wavelength of ultraviolet rays. That is, if there is a specific wavelength that sensitizes the component that initiates polymerization upon irradiation with ultraviolet light, it is at least about 3%.
It was found that even with a transmittance of about a certain degree, the irradiation intensity itself to the sensitive component that initiates polymerization by ultraviolet irradiation is sufficient, and does not affect the curing rate so much. Therefore, according to the above configuration, a double-sided optical information recording medium can be formed only by filling the ultraviolet curable resin between the adhesive surfaces of the two discs and irradiating with ultraviolet rays. The number of manufacturing steps can be greatly reduced.

【0061】ここで、好ましくは、光学的記録部材の両
側の面から露光を行なう。また、好ましくは、露光工程
の後、光学的情報記録媒体にエネルギー線を照射して初
期化する。
Here, exposure is preferably performed from both sides of the optical recording member. Further, preferably, after the exposure step, the optical information recording medium is irradiated with an energy ray for initialization.

【0062】また、好ましくは、エネルギー線としてレ
ーザービームを用いる。また、好ましくは、エネルギー
線としてフラッシュ光を用いる。また、好ましくは、前
記2枚の光学的記録部材のうちの少なくとも一方が再生
専用タイプである。
A laser beam is preferably used as the energy ray. Further, preferably, flash light is used as the energy ray. Further, preferably, at least one of the two optical recording members is a read-only type.

【0063】[0063]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施例を
図面に基づいて説明する。まず、本発明の第1の目的で
ある、放電発光時間(照射時間)、放電発光パワー(照
射光パワー)を任意に設定することが可能なフラッシュ
初期化装置を提供すること、ならびに、その装置を用い
て熱ダメージの小さい初期化方法を提供することを達成
するための発明の実施例について説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, a first object of the present invention is to provide a flash initialization device capable of arbitrarily setting discharge light emission time (irradiation time) and discharge light emission power (irradiation light power), and the device. An embodiment of the invention for achieving the provision of the initialization method with small thermal damage by using is described.

【0064】図1は、放電発光時間(照射時間)、放電
発光パワー(照射光パワー)を任意に設定することが可
能なフラッシュ初期化装置の1実施例の主要な構成を示
す図であって、この装置を用いて、以下に述べるように
熱ダメージの小さい初期化を行なうことができる。
FIG. 1 is a diagram showing a main configuration of an embodiment of a flash initialization device capable of arbitrarily setting discharge light emission time (irradiation time) and discharge light emission power (irradiation light power). By using this apparatus, initialization with small heat damage can be performed as described below.

【0065】初期化に際しては、まず、相変化材料で構
成される記録薄膜1(最初はアモルファス状態)を樹脂
基板2上に備えた光学的情報記録媒体3を、基板面を上
にして支持台6の上に置く。ここでは、基板面を上にし
たが、基板面を下にする構成も可能であり、装置構成に
従って自由な形態を取り得る。
At the time of initialization, first, the optical information recording medium 3 having the recording thin film 1 (initially in an amorphous state) composed of the phase change material on the resin substrate 2 is placed on the support base with the substrate surface facing upward. Place on top of 6. Here, the substrate surface is on the top, but the substrate surface may be on the bottom, and a free form can be taken according to the device configuration.

【0066】7はフラッシュ光源であって、電気エネル
ギーを蓄積する蓄積回路部8につながっている。この実
施例では、光源7として長さ35cmのキセノンフラッ
シュランプ24本を1mmのスペースをあけて平面上に
並べた構成とした。
A flash light source 7 is connected to a storage circuit section 8 for storing electric energy. In this embodiment, as the light source 7, 24 xenon flash lamps having a length of 35 cm are arranged on a plane with a space of 1 mm.

【0067】蓄積回路8は、抵抗器とコンデンサーとか
ら構成されており、電源12に接続され、これによって
所定の電圧になるまで充電される。また、9はトリガー
回路であり、上記蓄積回路部のコンデンサーが所定の電
圧に充電された後に、この回路を作動させて上記フラッ
シュ光源内部を通電可能な状態に変化させ、上記蓄積回
路に蓄積された電荷を上記放電回路内に一挙に流させ
る。この結果、上記フラッシュ光源7からは強いフラッ
シュ光線4が放出されることになる。なお、11は反射
板で、媒体への照射効率を高める働きをするが、本発明
を完結するための必須の要素ではない。
The storage circuit 8 is composed of a resistor and a capacitor, is connected to a power source 12, and is charged by the power source 12 to a predetermined voltage. Reference numeral 9 denotes a trigger circuit, which is activated after the capacitor of the storage circuit section is charged to a predetermined voltage to change the inside of the flash light source to a state in which it can be energized and stored in the storage circuit. The generated electric charges are made to flow into the discharge circuit at once. As a result, a strong flash light beam 4 is emitted from the flash light source 7. Reference numeral 11 denotes a reflector, which serves to enhance the efficiency of irradiation of the medium, but is not an essential element for completing the present invention.

【0068】上記記録薄膜1は上記フラッシュ光線4を
吸収、昇温し、結晶化転移する。また、上記放電回路に
は、放電遮断回路部10を取り付けてあり、所定の時間
放電させた後、強制的に放電を停止させ、発光の強度を
瞬時に実効的に0レベルまで低下させることができる。
The recording thin film 1 absorbs the flash light 4 and rises in temperature to undergo crystallization transition. Further, a discharge interruption circuit section 10 is attached to the discharge circuit, and after discharging for a predetermined time, the discharge is forcibly stopped, and the intensity of light emission can be instantaneously and effectively reduced to 0 level. it can.

【0069】図2によって、本発明の初期化装置に用い
る遮断回路部10の動作原理を説明する。まず、放電を
させる場合、放電をおこす前提として、まず蓄電回路部
8のコンデンサーC1を所定の電圧になるまで充電して
おく。次に、スイッチ回路5によって、トリガー回路9
のSCR(以下、サイリスターという)S1のゲート端
子にオン信号を加え、トリガー回路9のトリガートラン
スの両端に電圧を加える。
Referring to FIG. 2, the operation principle of the cutoff circuit section 10 used in the initialization device of the present invention will be described. First, in the case of discharging, as a premise of causing discharging, first, the capacitor C1 of the storage circuit unit 8 is charged to a predetermined voltage. Next, the switch circuit 5 causes the trigger circuit 9
The ON signal is applied to the gate terminal of the SCR (hereinafter referred to as thyristor) S1 and the voltage is applied to both ends of the trigger transformer of the trigger circuit 9.

【0070】上記電圧は昇圧され、高圧がフラッシュ光
源7のトリガー電極に印加されるとともに、遮断回路1
0のサイリスタS2をオンにする。この結果、フラッシ
ュ管の内部の電気抵抗が急激に低下するとともにメイン
コンデンサーC1両端の電圧がフラッシュ管両端に加わ
り、ランプの陰極ー陽極間で放電が開始され発光が得ら
れる。
The above voltage is boosted, a high voltage is applied to the trigger electrode of the flash light source 7, and the cutoff circuit 1
The thyristor S2 of 0 is turned on. As a result, the electric resistance inside the flash tube sharply decreases, and the voltage across the main capacitor C1 is applied to both ends of the flash tube, so that discharge is started between the cathode and anode of the lamp and light emission is obtained.

【0071】ついで、放電を強制的に中断する場合、遮
断回路中のサイリスターS3のゲート端子にオン信号を
加える。この際、オン信号を出す回路(図示は省略)に
は、タイマーを備えさせ、放電開始のスイッチオン後、
所定の時間が経過した時に、上記オン信号を出すように
設定する。
Then, when the discharge is forcibly interrupted, an ON signal is applied to the gate terminal of the thyristor S3 in the cutoff circuit. At this time, a circuit (not shown) that outputs an ON signal is equipped with a timer, and after switching on the discharge start,
The ON signal is set to be output when a predetermined time has elapsed.

【0072】遮断回路中には、遮断電流を発生するため
のコンデンサーC2が充電された状態で接続されてい
る。サイリスターS3がオン状態になると、C2両端の
電圧がサイリスタS2に逆方向にかかり、逆電流が発生
することでS2を瞬時にオフ状態に転換する。この結
果、メインコンデンサーからの放電を停止させることが
できる。すなわち、回路の時定数とは無関係に、任意の
発光時間を設定することが可能である。
In the breaking circuit, a capacitor C2 for generating a breaking current is connected in a charged state. When the thyristor S3 is turned on, the voltage across C2 is applied to the thyristor S2 in the opposite direction, and a reverse current is generated, so that S2 is instantly turned off. As a result, the discharge from the main capacitor can be stopped. That is, it is possible to set an arbitrary light emission time regardless of the time constant of the circuit.

【0073】遮断回路としては、例えばサンスタースト
ロボ(株)製のバリカット装置(VARICUT24)
を用いることも可能である。この場合には、実効的な発
光時間を0.1〜10msecの間で任意に制御でき
る。
As the breaking circuit, for example, a varicut device (VARICUT24) manufactured by Sunstar Strobe Co., Ltd.
It is also possible to use. In this case, the effective light emission time can be arbitrarily controlled within the range of 0.1 to 10 msec.

【0074】図3A−Dに,この回路を用いて放電発光
させたキセノンランプからの発光をピンダイオードで受
けた発光パターン例を示す。各図の横軸は時間軸であ
り、図3A−Cについては一目盛り0.5ms,図3D
については一目盛0.2msである。また縦軸はフォト
ディテクターの出力電圧に換算した発光強度を表わす。
また、回路中の蓄積部のコンデンサー容量は6000μ
F、充電電圧は800Vである。
FIGS. 3A to 3D show an example of a light emission pattern in which the pin diode receives light emitted from a xenon lamp which is discharged by using this circuit. The horizontal axis of each figure is a time axis, and for each of FIGS. 3A to 3C, one scale is 0.5 ms, and FIG.
Is 0.2 ms per scale. The vertical axis represents the emission intensity converted into the output voltage of the photo detector.
The capacitor capacity of the storage unit in the circuit is 6000μ.
F, the charging voltage is 800V.

【0075】図3Aは放電遮断回路10を作動しない場
合、図3B〜Dはそれぞれ遮断回路10を作動させた場
合で、順に発光時間を各々2mS、1mS、0.5mS
設定した場合に相当する。
FIG. 3A shows the case where the discharge interruption circuit 10 is not operated, and FIGS. 3B to 3D show the case where the interruption circuit 10 is operated respectively, and the light emission time is 2 mS, 1 mS and 0.5 mS, respectively.
This is equivalent to setting.

【0076】これらの図から、設定時間経過後は、発光
が完全に停止し、速やかに0レベルに低下することがわ
かる。図3B,C,Dで、停止する直前に、発光強度が
瞬時大きくなっているのは、コンデンサーC2からの電
流が瞬間的にフラッシュ管の方にも流れるためである。
From these figures, it can be seen that after the lapse of the set time, the light emission is completely stopped and the level is rapidly lowered to 0 level. In FIGS. 3B, 3C and 3D, the light emission intensity increases momentarily immediately before the stop because the current from the capacitor C2 momentarily flows toward the flash tube.

【0077】図4Aは、本発明の初期化方法を適用して
初期結晶化処理を行う光ディスク媒体の構成例を示す断
面図である。通常、徐冷構成と言われている。ポリカー
ボネイト製の直径200mm、厚さ1.2mmの基板2
上に厚さ90nmのZnS−SiO2(SiO2:20モ
ル%)膜(下引き誘電体層14)、厚さ30nmのGe
2Sb2Te5合金薄膜層(記録薄膜層1)、厚さ154
nmのZnS−SiO2(SiO2:20モル%)膜(上
引き誘電体層15)、厚さ10nmのAu薄膜層(反射
層16)をスパッタリングにより積層した。
FIG. 4A is a sectional view showing an example of the structure of an optical disk medium which is subjected to the initial crystallization process by applying the initialization method of the present invention. It is usually called a slow cooling configuration. Substrate 2 made of polycarbonate with a diameter of 200 mm and a thickness of 1.2 mm
ZnS-SiO 2 having a thickness of 90nm on (SiO 2: 20 mol%) film (undercoat dielectric layer 14), having a thickness of 30 nm Ge
2 Sb 2 Te 5 alloy thin film layer (recording thin film layer 1), thickness 154
nm of ZnS-SiO 2 (SiO 2: 20 mol%) film (upper coating dielectric layer 15), Au thin film layer having a thickness of 10nm (reflection layer 16) was laminated by sputtering.

【0078】形成したままの状態では、記録膜はアモル
ファス状態であった。次に、最上層に、紫外線硬化樹脂
をスピンコートして厚さ20μmの層を形成し、その
後、水銀ランプで照射して硬化させ、保護層17とし
た。
In the as-formed state, the recording film was in an amorphous state. Next, an ultraviolet curable resin was spin-coated on the uppermost layer to form a layer having a thickness of 20 μm, which was then irradiated with a mercury lamp and cured to form a protective layer 17.

【0079】表1は、図4Aの構成の媒体に図3のフラ
ッシュ照射を行った結果を示す。ランプ、媒体の間隔は
10mm,充電電圧は650、675、700、75
0、800Vの5条件とした。
Table 1 shows the results obtained by performing the flash irradiation shown in FIG. 3 on the medium having the structure shown in FIG. 4A. The distance between the lamp and the medium is 10 mm, the charging voltage is 650, 675, 700, 75
Five conditions of 0 and 800 V were set.

【0080】[0080]

【表1】 [Table 1]

【0081】表1中、「OK」の条件では、クラックや
剥離等の熱ダメージを呈することなくディスク全面の結
晶化が行えたこと、「損傷」は結晶化するか否かに関わ
らず、皺が発生する、クラックが生じる等、なんらかの
破損が生じたこと、「部分残り」は発光強度の比較的弱
い部分で結晶化せずに残る部分が見つかったこと、また
「不可」は、全く結晶化しなかったことをそれぞれ示し
ている。結晶化していることは、光学的な濃度が大きく
なっていることから肉眼でも容易に判定できるが、念の
ためX線回折法でも確認した。
In Table 1, under the condition of "OK", it was possible to crystallize the entire surface of the disk without exhibiting thermal damage such as cracks and peeling, and "damage" was wrinkled regardless of whether it was crystallized or not. Occurs, some kind of damage such as cracks occurs, "partial residue" is a part where the emission intensity is comparatively weak and a part that remains without crystallization is found, and "impossible" means no crystallization at all. It shows that there was nothing. Crystallization can be easily judged with the naked eye because the optical density is high, but it was also confirmed by X-ray diffractometry as a precaution.

【0082】ここで、表1から明らかなように、遮断回
路を作動させずに照射を行ったAの場合には、十分な結
晶化が生じる以前に熱的損傷か生じてしまうことがわか
った。また、遮断回路を動作させて発光のテール部をカ
ットすることで余分な加熱を低減することが可能とな
り、熱ダメージのない結晶化を達成することが可能とな
った。
As is clear from Table 1, in the case of irradiation A without activating the cutoff circuit, it was found that thermal damage occurs before sufficient crystallization occurs. . In addition, by operating the cutoff circuit to cut the tail portion of light emission, it is possible to reduce excessive heating, and it is possible to achieve crystallization without heat damage.

【0083】上記表1中には示していないが、発光時間
としては、2mSよりも長い条件および0.5mSより
も短い条件も試みた。その結果、遮断回路を動作させる
まで時間を3mSとした場合には初期化可能な条件が存
在したが、3mSを越えると損傷が顕著に現われ好まし
くなかった。2mS以下では、美しい初期化状態の得ら
れる条件が広く存在した。また、0.5mSよりも時間
を短かくした条件、例えば0.2mS、0.1mSの照
射時間でも全くダメージのない初期化が可能であった。
ただし、この場合には必要な充電電圧が2kV、4kV
と大きくなるので、大きな電源が必要となる。
Although not shown in Table 1 above, the light emission time was also tried under conditions of longer than 2 mS and shorter than 0.5 mS. As a result, there was a condition under which initialization was possible when the time until the cutoff circuit was activated was set to 3 mS, but when it exceeded 3 mS, damage was noticeable, which was not preferable. Below 2 mS, there were a wide range of conditions under which a beautiful initialized state was obtained. Further, even under the condition that the time was shorter than 0.5 mS, for example, the irradiation time of 0.2 mS and 0.1 mS, the initialization without any damage was possible.
However, in this case, the required charging voltage is 2kV, 4kV
Therefore, a large power supply is required.

【0084】上記初期結晶化を行ったディスクを評価デ
ッキにかけて記録・再生を行った。ディスクを線速27
m/sでドライブし、波長780nmのレーザー(開口
数:NA=0.55)を2値変調(ピークパワー24m
W,バイアスパワー10mW)し、記録周波数f1=1
8MHzの信号とf2=6,75MHzの信号を交互に
オーバライト記録した。f1のC/N、消去率を測定し
たところ、52dBのC/Nと26dBの消去率が得ら
れ、問題なく初期化が行われていることがわかった。
Recording and reproduction were carried out by mounting the above-mentioned initially crystallized disk on an evaluation deck. Disk speed 27
Driven at m / s, a 780 nm wavelength laser (numerical aperture: NA = 0.55) is binary-modulated (peak power 24 m
W, bias power 10 mW), and recording frequency f1 = 1
The 8 MHz signal and the f2 = 6,75 MHz signal were alternately recorded by overwrite recording. When the C / N and erasing rate of f1 were measured, a C / N of 52 dB and an erasing rate of 26 dB were obtained, and it was found that the initialization was performed without problems.

【0085】次に、急冷構成と通常呼ばれている、別の
構成の光ディスクを用い、本発明の初期結晶化方法を実
施してみた。図4Bに示すように、本実施例では、φ1
3cmのポリカーボネートの樹脂基板を用い、この上に
厚さ170nmのZnS−SiO2(SiO2:20モル
%)膜、厚さ25nmのGeBi2Te4合金薄膜、厚さ
45nmのZnS−SiO2(SiO2:20モル%)
膜、厚さ90nmのAlCr(Cr:3原子%)を順次
スパッタリングの方法で形成した。形成したままの状態
では記録膜はアモルファス状態であった。
Next, the initial crystallization method of the present invention was carried out by using an optical disk having another structure, which is usually called a quenching structure. As shown in FIG. 4B, in this embodiment, φ1
A 3 cm polycarbonate resin substrate was used, on which a 170 nm thick ZnS—SiO 2 (SiO 2 : 20 mol%) film, a 25 nm thick GeBi 2 Te 4 alloy thin film, and a 45 nm thick ZnS—SiO 2 ( SiO 2 : 20 mol%)
A film and 90 nm thick AlCr (Cr: 3 atomic%) were sequentially formed by a sputtering method. The recording film was in an amorphous state as it was formed.

【0086】次に、最上層に、紫外線硬化樹脂をスピン
コートして厚さ20μmの層を形成し、その後、水銀ラ
ンプで照射して硬化させ、保護層とした。この構成の光
ディスクに対しても、先の実施例と同じく初期化実験を
行った。この際、電圧は、625、650、675、7
00、750の5段階とした。
Next, an ultraviolet curable resin was spin-coated on the uppermost layer to form a layer having a thickness of 20 μm, which was then irradiated with a mercury lamp and cured to form a protective layer. Initialization experiments were performed on the optical disc of this configuration as in the previous embodiment. At this time, the voltages are 625, 650, 675, 7
There are five levels, 00 and 750.

【0087】[0087]

【表2】 [Table 2]

【0088】媒体の構成を変えて行ったこの実施例で
も、表2から明らかなように、遮断回路を作動させずに
照射を行った場合には、十分な結晶化が生じる以前に熱
的損傷か生じてしまうことがわかった。また、遮断回路
を動作させた場合には、発光時間に応じて適度な充電電
圧があり、その条件では熱ダメージのない結晶化を行え
ることが確かめられた。
Also in this example in which the medium composition was changed, as is apparent from Table 2, when irradiation was performed without activating the interruption circuit, thermal damage was caused before sufficient crystallization occurred. It turns out that it will happen. Further, it was confirmed that when the cutoff circuit was operated, there was an appropriate charging voltage according to the light emission time, and under that condition, crystallization without heat damage could be performed.

【0089】徐冷構成の場合と同じく、この場合にも、
2mSよりも長い条件および0.5mSよりも短い条件
も試みたが、傾向は同じであった。上記初期結晶化を行
ったディスクを評価デッキにかけて記録・再生を行っ
た。ディスクを線速10m/sでドライブし、波長78
0nmのレーザー(開口数:NA=0.50)を2値変
調(ピークパワー14mW,バイアスパワー7mW)
し、記録周波数f1=6.66MHzの信号とf2=
2.5MHzの信号を交互にオーバライト記録した。f
1のC/N、消去率を測定したところ、55dBのC/
Nと26dBの消去率が得られ、問題なく初期化が行わ
れていることがわかった。
In this case, as in the case of the slow cooling structure,
Conditions longer than 2 mS and shorter than 0.5 mS were tried, but the trends were the same. Recording / reproduction was performed by mounting the above-mentioned initially crystallized disc on an evaluation deck. Drive a disk at a linear velocity of 10 m / s and a wavelength of 78
Binary modulation of 0 nm laser (numerical aperture: NA = 0.50) (peak power 14 mW, bias power 7 mW)
The recording frequency f1 = 6.66 MHz signal and f2 =
Overwrite recording was performed with a signal of 2.5 MHz alternately. f
When the C / N of 1 and the erasing rate were measured, the C / N of 55 dB was obtained.
An erasing rate of N and 26 dB was obtained, and it was found that the initialization was performed without problems.

【0090】上の2例からわかるように、本発明の初期
化方法、初期化装置は媒体の構成によるものではなく、
媒体を構成する各層の材質、膜厚を変えても適応可能で
ある。
As can be seen from the above two examples, the initialization method and the initialization device of the present invention do not depend on the structure of the medium.
This is applicable even if the material and film thickness of each layer constituting the medium is changed.

【0091】基板材料としては例えばPMMAやポリオ
レフィン等の透明な高分子材料、例えばガラス等の透明
な無機材料、例えばCuやアルミ等の金属等が適用でき
る。誘電体材料としては、例えばZr−O,Ta−O,
Ge−O,Ti−O,Al−O等の酸化物、例えばAl
−N,Zr−N,Si−N,Ti−N等の窒化物、例え
ばSi−C,Ti−C等の炭化物、例えばCa−F,L
a−F等の弗化物を用いることができる。
As the substrate material, a transparent polymer material such as PMMA or polyolefin, a transparent inorganic material such as glass, or a metal such as Cu or aluminum can be used. Examples of the dielectric material include Zr-O, Ta-O,
An oxide such as Ge-O, Ti-O, Al-O, for example, Al
-N, Zr-N, Si-N, Ti-N, etc. nitrides, such as Si-C, Ti-C, etc. carbides, such as Ca-F, L
Fluorides such as aF can be used.

【0092】また、記録薄膜層としては例えばGe−S
b−Te系やこの系にCo,Bi,Pd,O,N,Se
等を添加した系(または、これらで一部を置換した
系),Sb−Te系、In−Sb−Te系、Ga−Sb
系、Ge−Te系,Ag−Sb−In−Te系,Ge−
Bi−Te系,Ge−Sn−Te系、Ge−Bi−Te
−Se系、Ge−Te−Sn−Au等の系、あるいはこ
れらの系に酸素、窒素等の添加物を加えた系に代表され
るように、これらの相変化を応用した相変化記録薄膜等
を用いることができる。
The recording thin film layer is, for example, Ge-S.
b-Te system and Co, Bi, Pd, O, N, Se in this system
Etc. (or a system in which some of these are substituted), Sb-Te system, In-Sb-Te system, Ga-Sb
System, Ge-Te system, Ag-Sb-In-Te system, Ge-
Bi-Te system, Ge-Sn-Te system, Ge-Bi-Te
-Se system, Ge-Te-Sn-Au, etc., or a system in which additives such as oxygen, nitrogen, etc. are added to these systems, as represented by phase change recording thin films, etc. Can be used.

【0093】また、反射層材料としては、Au,Al、
Ni,Cr等の金属、またはこれらをベースにした合金
が用いられる。また、媒体構成としては、例えば図4A
もしくはBに示した媒体と同じものを2枚はりあわせた
両面型の媒体等にも適用できる。すなわち、本発明は媒
体構成には左右されるものではない。
Further, as the reflective layer material, Au, Al,
Metals such as Ni and Cr, or alloys based on these are used. In addition, as a medium configuration, for example, FIG.
Alternatively, the same medium as shown in B can be applied to a double-sided medium in which two sheets are laminated. That is, the present invention does not depend on the medium configuration.

【0094】初期結晶化に必要な照射パワーは、媒体と
光源との距離を選ぶことで変化させられる。すなわち近
くすれば、照射時間を短くすること、もしくは充電電圧
を低くすることができる。逆に遠ざければ、照射時間を
長めにすること、もしくは充電電圧を高くすることが必
要になる。上記距離をどう選ぶかは、装置の設計事項で
ある。
The irradiation power required for the initial crystallization can be changed by selecting the distance between the medium and the light source. That is, if they are close to each other, the irradiation time can be shortened or the charging voltage can be lowered. On the contrary, if the distance increases, it is necessary to lengthen the irradiation time or increase the charging voltage. How to choose the above distance is a design matter of the device.

【0095】次の実施例は、充電に要する時間である。
先の図3A,B,C,Dに対応して最初に750Vまで
充電するときの充電時間と、一回放電させた後、放電前
の電圧まで最充電するに必要な時間とを調べた。電圧を
750Vに保持したままでの充電時間を測定した。結果
を表3に示す。
The next example is the time required for charging.
Corresponding to FIGS. 3A, 3B, 3C, and 3D described above, the charging time when initially charging to 750V and the time required to recharge to the voltage before discharging after discharging once were examined. The charging time was measured while the voltage was kept at 750V. The results are shown in Table 3.

【0096】[0096]

【表3】 [Table 3]

【0097】表3に示したように、最初の充電には4分
を要したが、1度放電させた後の次の充電時には放電時
間に対応して充電時間に差が生じている。すなわち、放
電時間が2mSの場合には、初回の半分の2分で次の充
電が完了している。同様に、放電時間が1mS、0.5
mSの条件では、次の充電時間は1分、30秒と短縮さ
れていることがわかる。すなわち、放電遮断回路を用
い、初期結晶化時には必要最小限の放電発光のみを行わ
せることで、初期結晶化の所要時間が大幅に短縮される
ことが確認できた。
As shown in Table 3, it took 4 minutes for the first charging, but there is a difference in the charging time corresponding to the discharging time at the time of the next charging after discharging once. That is, when the discharge time is 2 mS, the next charge is completed in 2 minutes, which is half of the initial time. Similarly, discharge time is 1 mS, 0.5
It can be seen that under the mS condition, the next charging time is shortened to 1 minute and 30 seconds. That is, it was confirmed that the time required for the initial crystallization was significantly shortened by using the discharge interruption circuit and performing only the minimum necessary discharge light emission during the initial crystallization.

【0098】次に本発明の第2の目的であるフラッシュ
初期化方法に要する時間を短縮するための実施例につい
て説明する。この実施例では、フラッシュ初期化方法に
おける所要時間の大半が、フラッシュ光のエネルギー源
である蓄積部への充電時間であることに注目し、この充
電速度を高める方法ならびにそれを実現する装置を提供
する。
Next, an embodiment for shortening the time required for the flash initialization method which is the second object of the present invention will be described. In this embodiment, it is noted that most of the time required for the flash initialization method is the charging time for the storage unit that is the energy source of the flash light, and a method for increasing this charging speed and a device for realizing the method are provided. To do.

【0099】図5は初期化時間を短縮した初期化装置の
構成例を説明する構成図である。初期化に際しては、光
記録媒体18を支持台19に載せる。光記録媒体18に
相対して、フラッシュランプ20(以下、単に「ラン
プ」という)が配置される。本図では、ランプ20とし
て1本のみが記載されているが、媒体の形状や表面積に
合わせて直線状のものを複数本並列してならべてもよ
く、また渦巻状の形状をしたランプを配置してもよい。
FIG. 5 is a configuration diagram for explaining an example of the configuration of the initialization device in which the initialization time is shortened. At the time of initialization, the optical recording medium 18 is placed on the support base 19. A flash lamp 20 (hereinafter, simply referred to as “lamp”) is arranged facing the optical recording medium 18. Although only one lamp 20 is shown in this figure, a plurality of linear lamps may be arranged in parallel according to the shape and surface area of the medium, and a spiral lamp is arranged. You may.

【0100】ランプ20を閃光させるのに必要な電気エ
ネルギーを蓄積するメインコンデンサ21がランプ20
の端子と並列に接続され、メインコンデンサ21には、
電荷の充電量をメインコンデンサ21の端子電圧として
検出するための電圧計22が並列に接続されている。こ
の電圧計22には、測定した電圧を他の回路に出力する
ための測定値出力端子が設けられている。
The main capacitor 21 for accumulating the electric energy required to make the lamp 20 flash is
It is connected in parallel with the terminal of
A voltmeter 22 for detecting the amount of charge as the terminal voltage of the main capacitor 21 is connected in parallel. The voltmeter 22 is provided with a measurement value output terminal for outputting the measured voltage to another circuit.

【0101】23はメインコンデンサ21を充電するた
めの電源である。この電源23には電源の出力端子電圧
を自動的に制御できる電圧設定回路24が設けられてい
る。25は切り換えスイッチであり、メインコンデンサ
21の充電、遮断、および過剰充電量の放電を切り換え
るために設けられている。
Reference numeral 23 is a power source for charging the main capacitor 21. The power supply 23 is provided with a voltage setting circuit 24 capable of automatically controlling the output terminal voltage of the power supply. Reference numeral 25 denotes a changeover switch, which is provided to change over the charging and blocking of the main capacitor 21 and the discharging of the excessive charge amount.

【0102】リレー26、トリガコイル27、およびト
リガコンデンサ28はランプ20を閃光させるために設
けられたものである。トリガコンデンサ28には予め抵
抗30を通して電圧Vtに充電される。この状態でリレ
ー26を閉じるとトリガコンデンサ28に蓄えられたエ
ネルギーは、トリガコイル27により高周波・高電圧の
エネルギーに変換されてランプ20のトリガ電極に印加
される。
The relay 26, the trigger coil 27, and the trigger capacitor 28 are provided to make the lamp 20 flash. The trigger capacitor 28 is charged to the voltage Vt through the resistor 30 in advance. When the relay 26 is closed in this state, the energy stored in the trigger capacitor 28 is converted into high frequency / high voltage energy by the trigger coil 27 and applied to the trigger electrode of the lamp 20.

【0103】この高周波・高電圧によりランプ20の内
部のキセノンガスが絶縁破壊され、陰陽極間に急激な放
電が開始される。これにより、メインコンデンサ21に
蓄えられたエネルギーは光のエネルギーとなり瞬間的に
発光する。
Due to this high frequency and high voltage, the xenon gas inside the lamp 20 is dielectrically broken down, and a rapid discharge is started between the cathode and anode. As a result, the energy stored in the main capacitor 21 becomes light energy and instantaneously emits light.

【0104】制御手段29は、電圧計22の測定値信号
を取り込む制御、設定回路24の設定電圧を決めるため
の信号を送る制御、切り換えスイッチ25の位置(ポジ
ション)を変える信号を送る制御、そしてリレー26を
閉じるための信号を送る制御をするために設けられてい
る。
The control means 29 controls to take in the measured value signal of the voltmeter 22, control to send a signal for determining the set voltage of the setting circuit 24, control to send a signal for changing the position of the changeover switch 25, and It is provided to control the sending of a signal to close the relay 26.

【0105】次に、上記装置を用いて光記録媒体18を
初期化するための制御の流れを以下に記載する。ランプ
20の発光強度はランプ20を閃光させるのに必要な電
気エネルギーを蓄積するメインコンデンサ21の充電量
で決まるが、コンデンサー容量が一定であれば、メイン
コンデンサ21の端子電圧(すなわち、ランプの端子間
電圧)の大きさで決まる。印加電圧の最大許容値や発光
限界の下限値等はランプ20の設計に依存するが、ここ
では定格700Vのランプを用いた例を説明する。
Next, the flow of control for initializing the optical recording medium 18 using the above apparatus will be described below. The light emission intensity of the lamp 20 is determined by the amount of charge of the main capacitor 21 that stores the electrical energy required to make the lamp 20 flash, but if the capacitor capacity is constant, the terminal voltage of the main capacitor 21 (that is, the terminal of the lamp). Voltage). Although the maximum allowable value of the applied voltage and the lower limit value of the light emission limit depend on the design of the lamp 20, an example using a lamp rated at 700 V will be described here.

【0106】前記700Vをランプ端子間に印加するた
めには、メインコンデンサ21の電圧もまた700Vに
なるように充電する必要がある。そこで、 1)制御手段29によりメインコンデンサ21の充電完
了電圧を700Vに設定すると、制御手段29より切り
換えスイッチ25が充電側になるように信号が送られ、
充電が開始される。
In order to apply the 700V between the lamp terminals, it is necessary to charge the main capacitor 21 so that the voltage also becomes 700V. Therefore, 1) When the charging completion voltage of the main capacitor 21 is set to 700 V by the control means 29, a signal is sent from the control means 29 so that the changeover switch 25 is on the charging side.
Charging starts.

【0107】2)同時に、制御手段29から設定回路2
4に信号が送られ、電源23の出力電圧が設定される。 3)充電を続けるに従ってメインコンデンサ21の端子
電圧が上昇するので、この端子電圧を電圧計22で検出
し、その測定値を制御手段29に送る。
2) At the same time, the setting circuit 2 from the control means 29
4 is sent to set the output voltage of the power supply 23. 3) Since the terminal voltage of the main capacitor 21 rises as the charging is continued, this terminal voltage is detected by the voltmeter 22 and the measured value is sent to the control means 29.

【0108】4)制御手段29は電源23からの出力電
圧と前記メインコンデンサー21の端子電圧との電位差
が常に700Vになるように設定回路24に信号を送
り、設定回路24は電源23の出力電圧が電圧計22で
の測定電圧よりも700Vだけ大きくなるように制御さ
れる。
4) The control means 29 sends a signal to the setting circuit 24 so that the potential difference between the output voltage from the power source 23 and the terminal voltage of the main capacitor 21 is always 700 V, and the setting circuit 24 outputs the output voltage of the power source 23. Is controlled to be 700 V higher than the voltage measured by the voltmeter 22.

【0109】5)電圧計22が700V(またはそれを
越えた値)を検出したと同時に、制御手段29は切り換
えスイッチ25が遮断の位置になるように信号を送り、
メインコンデンサ21への充電が終了する。
5) At the same time when the voltmeter 22 detects 700V (or a value exceeding it), the control means 29 sends a signal so that the changeover switch 25 is in the cutoff position,
The charging of the main capacitor 21 is completed.

【0110】6)充電終了後、制御手段29はリレー2
6に信号を送り、リレー26が閉じることによりランプ
20が発光し、光記録媒体18にフラッシュ光が照射さ
れ初期化が行なわれる。
6) After charging is completed, the control means 29 controls the relay 2
The lamp 20 emits light when the signal is sent to 6 and the relay 26 is closed, and the optical recording medium 18 is irradiated with flash light for initialization.

【0111】図6は充電時間とメインコンデンサー21
の関係を表わしたものである。図中、実線で示した直線
が上記実施例で示した、電位差を常に700Vに保った
場合の様子であって、メインコンデンサ21の端子電圧
は充電終了電圧まで直線的に昇圧される。これと、印加
電圧を一定値にした場合(図中、破線のカーブ)とを比
べると、本実施例の方法を用いた場合には、はるかに短
時間に充電を完了させることができることがわかる。こ
の方法の場合は、充電完了までの時間とメインコンデン
サ21の端子電圧の増加量が一定であることから、充電
完了時間を容易に求めることができ便利である。
FIG. 6 shows the charging time and the main condenser 21.
It represents the relationship of. In the figure, the straight line shown by the solid line shows the case where the potential difference is always kept at 700 V, which is shown in the above embodiment, and the terminal voltage of the main capacitor 21 is linearly boosted to the charging end voltage. Comparing this with the case where the applied voltage is set to a constant value (the curve of the broken line in the figure), it can be seen that the charging can be completed in a much shorter time when the method of the present embodiment is used. . In the case of this method, since the time until completion of charging and the amount of increase in the terminal voltage of the main capacitor 21 are constant, the charging completion time can be easily obtained, which is convenient.

【0112】電源23の出力電圧の設定方法は上記の限
りではない。もっと簡便には、出力電圧を電源23の設
定電圧の上限に固定しておくことも可能である。例え
ば、電源23の最大定格電圧が1kVであれば、電源2
3の出力電圧が1kVになるように、制御手段29を通
して設定回路24にて制御する。この場合、充電開始直
後の電位差は1kVであり、充電終了時の電位差は、メ
インコンデンサ21の充電完了電圧を700Vとして、
300Vであるから、メインコンデンサー21の端子電
圧は図6中、一点鎖線で示したような変化を示し、電源
23の電圧を充電完了時の電圧である700Vに設定し
て充電するよりも短時間で充電できる。
The method of setting the output voltage of the power supply 23 is not limited to the above. More simply, the output voltage can be fixed to the upper limit of the set voltage of the power supply 23. For example, if the maximum rated voltage of the power supply 23 is 1 kV, the power supply 2
The setting circuit 24 is controlled through the control means 29 so that the output voltage of 3 becomes 1 kV. In this case, the potential difference immediately after the start of charging is 1 kV, and the potential difference at the end of charging is the charging completion voltage of the main capacitor 21 being 700V,
Since it is 300V, the terminal voltage of the main capacitor 21 changes as shown by the alternate long and short dash line in FIG. 6, and is shorter than charging by setting the voltage of the power supply 23 to 700V which is the voltage at the time of completion of charging. Can be charged with.

【0113】いずれにせよ、本発明ではメインコンデン
サ21の充電終了電圧よりも電源23の出力電圧を高く
キープすることで両者の電位差をできるだけ高くしてメ
インコンデンサ21に流入する電流値を増やすべく制御
する。これによって充電時間を短かくし、初期化に要す
る時間を短縮することができる。
In any case, in the present invention, the output voltage of the power supply 23 is kept higher than the charging end voltage of the main capacitor 21 so that the potential difference between the two is made as high as possible and the current value flowing into the main capacitor 21 is increased. To do. As a result, the charging time can be shortened and the time required for initialization can be shortened.

【0114】上記のように、本発明の初期化装置の特徴
の一つは、エネルギー供給手段に設けた供給量設定手
段、エネルギー蓄積手段に蓄積したエネルギー量を検出
する蓄積量検出手段、及び供給設定手段と蓄積検出手段
とからの出力に基づき供給手段と切り換え手段と放電開
始手段とに信号を出力する制御手段とを具備した点であ
る。
As described above, one of the features of the initialization device of the present invention is that the supply amount setting means provided in the energy supply means, the stored amount detection means for detecting the amount of energy stored in the energy storage means, and the supply The point is that a control means for outputting a signal to the supply means, the switching means and the discharge starting means based on the outputs from the setting means and the accumulation detecting means is provided.

【0115】供給量設定手段及び蓄積量検出手段で検出
する対象としては、エネルギーを直接検出する電荷量、
エネルギーを換算した電圧等があるが、フラッシュ光を
発光する観点では電圧で管理することが望ましい。
The targets to be detected by the supply amount setting means and the accumulated amount detecting means are the amount of electric charge for directly detecting energy,
Although there is a voltage converted from energy, etc., it is desirable to manage with voltage from the viewpoint of emitting flash light.

【0116】また、蓄積量検出手段で検出した検出量に
応じて、供給量設定手段で設定した供給量を、蓄積手段
の所定の到達量または到達量の設定値よりも大きくなる
ように供給手段を制御する制御手段を具備した点も本発
明の初期化装置の特徴の一つである。ここで蓄積手段の
所定の到達量とはフラッシュが発光するために要するエ
ネルギー量または電圧値を言い、設定値と同一にするこ
とも可能であるし、例えば放電をよりスムーズにスター
トさせるため所定の値よりも設定値の方をやや高目に設
定することも可能である。但し、上述した蓄積手段の設
定値は何れも、蓄積手段の飽和蓄積量よりも低く設定す
ることはもちろんである。
Further, in accordance with the detected amount detected by the accumulated amount detecting device, the supply amount set by the supply amount setting device is set to be larger than a predetermined reaching amount of the accumulating device or a set value of the reaching amount. It is also one of the features of the initialization device of the present invention that it is provided with a control means for controlling. Here, the predetermined reaching amount of the accumulating means means an energy amount or a voltage value required for the flash to emit light, and can be the same as a set value, or for example, a predetermined amount in order to start the discharge more smoothly. It is possible to set the set value slightly higher than the value. However, it goes without saying that any of the set values of the storage means described above is set lower than the saturated storage amount of the storage means.

【0117】原理的には供給量が蓄積手段の所定の到達
値または到達量の規定値の何れかよりも大きければ本発
明の効果は発揮される。また、両者間の差が大きいほ
ど、その効果は顕著になる。ただし、例えば電圧で検知
する場合では、通常は供給手段の電圧変動を考慮しなけ
ればならないので、蓄積手段の所定の到達量または到達
量の規定値の何れかの1.1倍以上であれば効果が現わ
れ、実製造を考慮すると1.3倍程度以上が好ましい。
上限は、一般的には供給手段の能力で限界があり、5倍
程度以下の能力を有する供給手段が入手し易いため好ま
しい。なお、この供給量と蓄積手段の到達量または到達
量規定値の何れかとの比は、エネルギーを対象とする場
合であっても、電圧を対象とする場合であっても変わら
ないことは勿論である。
In principle, the effect of the present invention is exerted when the supply amount is larger than either the predetermined reaching value of the accumulating means or the specified value of the reaching amount. Also, the greater the difference between the two, the more remarkable the effect. However, for example, in the case of detecting with a voltage, it is usually necessary to consider the voltage fluctuation of the supply means, so if it is 1.1 times or more of a predetermined reaching amount of the accumulating means or a specified value of the reaching amount, When the actual production is taken into consideration, an effect of about 1.3 times or more is preferable.
The upper limit is generally limited by the capacity of the supply means, and a supply means having a capacity of about 5 times or less is easily available, which is preferable. It should be noted that the ratio between the supply amount and the attainment amount of the accumulating means or the attainment amount regulation value does not change whether the energy is targeted or the voltage is targeted. is there.

【0118】さらに、本発明のもう一つの特徴は、供給
設定手段で設定する供給量を蓄積手段の到達量または到
達量の規定値の何れかよりも大きくなるように供給手段
を制御すると同時に、蓄積手段の蓄積量が所定の値に到
達したときに、切り換え手段を制御し、供給手段から蓄
積手段への供給を遮断し、放電開始手段に信号を送る制
御手段を具備した点である。すなわち、蓄積手段に蓄積
された蓄積量(例えば端子間電圧)を検出する検出手段
の信号を介して切り換え手段を制御するため、メインコ
ンデンサーを過充電してしまう等の心配がなく、最短時
間で充電を完了し、放電発光へと移ることができるとい
う特徴も有する。
Further, another feature of the present invention is that the supply means is controlled so that the supply quantity set by the supply setting means is larger than either the reaching quantity of the accumulating means or the specified value of the reaching quantity. The point is that the control means controls the switching means, cuts off the supply from the supply means to the storage means, and sends a signal to the discharge start means when the storage amount of the storage means reaches a predetermined value. That is, since the switching means is controlled via the signal of the detection means for detecting the amount of accumulation accumulated in the accumulation means (for example, the voltage between terminals), there is no fear of overcharging the main capacitor, etc. It also has a feature that charging can be completed and the discharge emission can be started.

【0119】本発明に適用できる光記録媒体18の構成
としては、既に図4A、4Bで説明した通りである。例
えば、PMMA,ポリカーボネート等の樹脂或はガラス
等からなる基板上に、ZnS−SiO2材料からなる誘
電体層、Ge−Sb−Te系等から構成された結晶状態
とアモルファス状態を可逆的に変化する相変化記録層、
Au、Al、Cr等の金属元素あるいはこれらの合金から
なる反射層などの薄膜を積層する。
The structure of the optical recording medium 18 applicable to the present invention is as described above with reference to FIGS. 4A and 4B. For example, on a substrate made of resin such as PMMA or polycarbonate, or glass, etc., a crystalline state and an amorphous state composed of a dielectric layer made of ZnS—SiO 2 material, Ge—Sb—Te system, etc. can be reversibly changed. Phase change recording layer,
A thin film such as a reflective layer made of a metal element such as Au, Al or Cr or an alloy thereof is laminated.

【0120】このような光記録媒体18の形態は、上記
積層した薄膜上に樹脂をスピンコートした構成も可能で
ある。また、基板と同様の樹脂板、ガラス板を接着剤を
用いて貼り合わせることも可能である。また、2組の記
録部材を中間基板を用いて貼り合わせることも可能であ
る。あるいは、膜側を内側にして接着剤で貼り合わせる
ことにより両面から記録,再生、消去可能な構造とする
ことも可能である。
The form of the optical recording medium 18 may be a structure in which a resin is spin-coated on the laminated thin films. It is also possible to bond the same resin plate and glass plate as the substrate using an adhesive. It is also possible to bond two sets of recording members using an intermediate substrate. Alternatively, it is also possible to make a structure in which recording, reproduction and erasing can be performed from both sides by adhering the film side inside with an adhesive.

【0121】光記録媒体1は記録、再生、消去ができる
光記録媒体であれば何れの製法であってもよい。また、
ディスク状、カード状、シート状、あるいはフィルム状
の形をしていても良く、発明は光記録媒体18の形態に
はこだわらない。
The optical recording medium 1 may be manufactured by any method as long as it can record, reproduce and erase data. Also,
It may have a disk shape, a card shape, a sheet shape, or a film shape, and the invention is not limited to the shape of the optical recording medium 18.

【0122】次に、本発明の第3の目的である、保護層
を形成する工程ならびに初期結晶化工程を通じて発生す
る媒体の反りや歪を低減する実施例について説明する。
図9に本発明による光学的情報記録媒体の製造方法の一
実施例として単板の光学的情報記録媒体(以下光ディス
ク媒体と称する)39を製造する工程を示す。図9では
省略したが、光ディスク媒体39は、基板上に相変化を
生じる記録薄膜層と、保護層とを含むものである。
Next, an embodiment for reducing the warp and strain of the medium generated through the step of forming the protective layer and the initial crystallization step, which is the third object of the present invention, will be described.
FIG. 9 shows a step of manufacturing a single-plate optical information recording medium (hereinafter referred to as an optical disk medium) 39 as one embodiment of the method for manufacturing an optical information recording medium according to the present invention. Although omitted in FIG. 9, the optical disc medium 39 includes a recording thin film layer that causes a phase change on the substrate and a protective layer.

【0123】図9の工程(a)は、基板上に記録薄膜層
等を形成する工程である。前記基板材料として有機樹脂
基板を用いる場合には、例えばポリカーボネイト、ポリ
メチルメタクリレート(PMMA)、ポリオレフィン等
の樹脂が用いられ、無機基板を用いる場合には、例えば
ガラス板の他、銅やアルミ等の金属板も用いることがで
きる。ディスク基板表面には、光をガイドするための溝
あるいはピット列が同心円上、またはスパイラル線上に
刻まれており、センター穴があけられている。基板材料
に、例えばガラス板の他、銅やアルミ等の金属板等の無
機基板材料を用いる場合には、例えばスタンピング転写
法(2P法)等で上記ガイド溝やピット列を形成してお
く。
Step (a) in FIG. 9 is a step of forming a recording thin film layer and the like on the substrate. When an organic resin substrate is used as the substrate material, a resin such as polycarbonate, polymethylmethacrylate (PMMA), or polyolefin is used. When an inorganic substrate is used, for example, a glass plate, copper, aluminum, or the like is used. A metal plate can also be used. Grooves or pit rows for guiding light are engraved on a concentric circle or a spiral line on the surface of the disk substrate, and a center hole is formed. When an inorganic substrate material such as a glass plate or a metal plate such as copper or aluminum is used as the substrate material, the guide groove or pit row is formed by a stamping transfer method (2P method) or the like.

【0124】この基板上に、スパッタリング、真空蒸着
等の方法で成膜工程(a)を行ない、必要に応じた層数
の多層膜を形成する。例えば、図10Aに示したよう
に、基板40の上に第1の誘電体層41、記録薄膜層4
2、第2の誘電体層43、反射層44の4層を積み重
ね、その上に保護層45を形成した構成が代表的であ
る、また、各層が複数の材料層で成る場合もある。まず
第1の反射層(図示を省略)を設け、次に、第1の誘電
体層41、記録薄膜層42、第2の誘電体層43、第2
の反射層(図示を省略)の順に形成する場合もある。ま
た、いずれか又は両方の反射層がない構成、さらに、い
ずれか又は両方の誘電体層がない構成もとることができ
る。
On this substrate, a film forming step (a) is carried out by a method such as sputtering or vacuum evaporation to form a multilayer film having the required number of layers. For example, as shown in FIG. 10A, the first dielectric layer 41 and the recording thin film layer 4 are formed on the substrate 40.
A typical structure is one in which four layers of 2, the second dielectric layer 43, and the reflective layer 44 are stacked and the protective layer 45 is formed thereon, and each layer may be composed of a plurality of material layers. First, a first reflective layer (not shown) is provided, and then the first dielectric layer 41, the recording thin film layer 42, the second dielectric layer 43, and the second dielectric layer 41.
The reflective layer (not shown) may be formed in this order. Further, a configuration without any or both of the reflection layers, and a configuration without any or both of the dielectric layers can also be adopted.

【0125】誘電体層41、43の材料としては、Zn
S−SiO2混合膜が代表的であるが、Zr−O,Ta
−O,Ge−O,Ti−O,Al−O等の酸化物、Al
−N,Zr−N,Si−N,Ti−N等の窒化物、Si
−C,Ti−C等の炭化物、Ca−F,La−F等の弗
化物あるいはこれらの混合物を用いることができる。
The material for the dielectric layers 41 and 43 is Zn.
A typical S-SiO 2 mixed film is Zr-O, Ta.
-O, Ge-O, Ti-O, Al-O and other oxides, Al
-N, Zr-N, Si-N, Ti-N and other nitrides, Si
Carbides such as -C and Ti-C, fluorides such as Ca-F and La-F, or a mixture thereof can be used.

【0126】記録薄膜層42の材料には、例えば、相変
化を応用した相変化記録薄膜、代表的にはGe−Sb−
Te系やこの系にCo,Bi,Pd,O,N,Cr,I
n,Sn,Se等を添加または、これらで一部を置換し
た系,Sb−Te系、In−Sb−Te系、Ga−Sb
系、Ge−Te系,Ag−Sb−In−Te系,Ge−
Bi−Te系,Ge−Sn−Te系、Ge−Bi−Te
−Se系、Ge−Te−Sn−Au等の系、あるいはこ
れらの系に酸素、窒素等の添加物を加えた系等を用いる
ことができる。
The material of the recording thin film layer 42 is, for example, a phase change recording thin film to which a phase change is applied, typically Ge-Sb-.
Te, Co, Bi, Pd, O, N, Cr, I
n, Sn, Se, etc., or a part thereof is substituted, Sb-Te system, In-Sb-Te system, Ga-Sb
System, Ge-Te system, Ag-Sb-In-Te system, Ge-
Bi-Te system, Ge-Sn-Te system, Ge-Bi-Te
A system such as —Se system, Ge—Te—Sn—Au, or a system obtained by adding an additive such as oxygen or nitrogen to these systems can be used.

【0127】また、反射層44の材料としては、Au,
Al、Ni,Ag,Ti,Cr等の金属、またはこれら
をベースにした合金、例えばAg−Cr,Al−Cr,
Al−Ti,Ni−Cr,Au−Cr等が用いられる。
The material of the reflective layer 44 is Au,
Metals such as Al, Ni, Ag, Ti and Cr, or alloys based on them, such as Ag-Cr, Al-Cr,
Al-Ti, Ni-Cr, Au-Cr, etc. are used.

【0128】成膜工程を終了したディスク状媒体は、図
9の工程(b)の保護層形成工程へ移行する。ここで
は、まず紫外線硬化樹脂をスピンコート等の方法で表面
に塗布し、ついで紫外線に露光して硬化させ保護層45
(図10A)とする。
The disk-shaped medium which has completed the film forming step is transferred to the protective layer forming step of step (b) of FIG. Here, first, an ultraviolet curable resin is applied to the surface by a method such as spin coating, and then exposed to ultraviolet rays to be cured to be hardened.
(FIG. 10A).

【0129】保護層を形成した後、図9の工程(c)の
初期化工程へ移る。初期化工程は、レーザ法でも、フラ
ッシュ法でもいずれでもよい。初期化工程を終えたディ
スク状媒体は既に述べた2つの理由、すなわち紫外線硬
化樹脂の重合に伴う収縮、ならびに記録薄膜の結晶化に
伴う収縮の影響で、通常は基板面47(すなわち記録層
等を成膜していない基板面側)が凸となる方向に反りを
生じる。本実施例では、この反りを低減する方法を説明
する。
After forming the protective layer, the process proceeds to the initialization step of step (c) in FIG. The initialization process may be either a laser method or a flash method. The disk-shaped medium that has undergone the initialization process is normally subjected to the above-mentioned two reasons, that is, the contraction due to the polymerization of the ultraviolet curable resin and the contraction due to the crystallization of the recording thin film. Warpage occurs in the direction in which the substrate surface side on which is not formed is convex. In this embodiment, a method for reducing this warp will be described.

【0130】初期化終了後、図9の工程(d)のアニー
ル工程を行なう。この工程は本発明の特徴である。本実
施例では、ネジ穴をあけた平坦な面50を有する銅板5
1上に、凸面(ここでは図10Aの基板面47)を上に
向けて光ディスク媒体52を置き、光ディスクセンター
部をネジ53で止め、ディスク媒体52を平坦面50に
押しつけ、反りのない状態に保つ。この状態で、全体を
所定温度に加熱したドライオーブンに投入し、アニール
を行なう。アニール後は、全体を冷却し、冷却が止まっ
た段階でネジをはずせば、反りの小さくなったディスク
媒体が得られることになる。
After the initialization, the annealing step of step (d) of FIG. 9 is performed. This step is a feature of the present invention. In this embodiment, a copper plate 5 having a flat surface 50 with screw holes
1, the optical disk medium 52 is placed with the convex surface (here, the substrate surface 47 in FIG. 10A) facing upward, the optical disk center portion is fixed with the screw 53, and the disk medium 52 is pressed against the flat surface 50 so that there is no warp. keep. In this state, the whole is placed in a dry oven heated to a predetermined temperature and annealed. After annealing, if the whole is cooled and the screw is removed when the cooling is stopped, a disk medium with less warpage can be obtained.

【0131】反りを矯正する方法としては、上述のネジ
53を光ディスクセンター部を介して銅板51のネジ穴
に固定する方法以外に、様々なバリエーションがある。
このバリエーションについて、以下、具体例を挙げ説明
する。
There are various methods of correcting the warp other than the method of fixing the screw 53 to the screw hole of the copper plate 51 via the optical disk center portion.
This variation will be described below with reference to specific examples.

【0132】(実施例1)直径130mm,厚さ1.2
mmのポリカーボネイト基板上に、厚さ170nmのZ
nS−SiO2膜、25nmのGe2Sb2Te5膜、厚さ
40nmのZnS−SiO2(SiO2:20モル%)
膜、厚さ80nmのAlCr(Cr:3原子%)膜を順
にスパッタ法で形成し、最上層に約20μmの厚さにア
クリル系の紫外線硬化樹脂をスピンコートで塗布した
後、水銀ランプを照射して硬化させた。
Example 1 Diameter 130 mm, Thickness 1.2
170mm thick Z on a polycarbonate substrate of mm
nS-SiO 2 film, 25 nm Ge 2 Sb 2 Te 5 film, 40 nm thick ZnS-SiO 2 (SiO 2 : 20 mol%)
Film and 80nm thick AlCr (Cr: 3 atom%) film are sequentially formed by the sputtering method, and an acrylic ultraviolet curable resin is applied to the uppermost layer to a thickness of about 20 μm by spin coating, followed by irradiation with a mercury lamp. And cured.

【0133】次に、長さ35cmのキセノンフラッシュ
ランプを12本ならべて同時に放電発光させ、上記ディ
スク媒体を一括して結晶化させた。この状態で反り角を
測定したところ、10ミリラジアンと大きな値となっ
た。
Next, twelve xenon flash lamps each having a length of 35 cm were lined up and the discharge light emission was carried out at the same time to crystallize the above-mentioned disk medium at once. When the warp angle was measured in this state, a large value of 10 milliradians was obtained.

【0134】そこで、図11Aに示す銅製治具の平坦面
上に、上記ディスク基板40の基板面47(凸面)を上
にして最内周部54のみを固定し、100℃のオーブン
中に1時間放置した。
Therefore, only the innermost peripheral portion 54 is fixed on the flat surface of the copper jig shown in FIG. 11A with the substrate surface 47 (convex surface) of the disk substrate 40 facing upward, and the disc substrate 40 is placed in an oven at 100 ° C. for 1 hour. Left for hours.

【0135】自然冷却後、保護層は完全に硬化している
ことが確認され、また、反り角を再度測定したところ、
5ミリラジアンと小さくなっていることがわかった。な
お、反り角は図13に定義している。
After natural cooling, it was confirmed that the protective layer was completely cured, and the warp angle was measured again.
It turned out to be as small as 5 milliradians. The warp angle is defined in FIG.

【0136】(実施例2)実施例1と全く同様に形成し
た反りのある媒体を、今度は保護層面48を上にしてア
ニールした。1つは図11Bに示したように外周部55
のみを固定し、他の1つは図11Cに示したように、外
周部55と内周部54の両方を固定して同じ条件でアニ
ールした。
Example 2 The warped medium formed exactly as in Example 1 was annealed this time with the protective layer surface 48 facing up. One is the outer peripheral portion 55 as shown in FIG. 11B.
Only one of them was fixed, and the other one was fixed under the same conditions by fixing both the outer peripheral portion 55 and the inner peripheral portion 54 as shown in FIG. 11C.

【0137】自然冷却後、解放したところ、保護層は何
れも完全硬化していることが確認されたが、外周部55
のみを固定した媒体ではディスク媒体のセンター部が浮
き上がり、逆方向にランダムな反りが発生してしまっ
た。一方、内周部54と外周部55とを同時に固定して
アニールしたディスク媒体では、反り角が5ミリラジア
ンと小さくなっていた。
When the protective layer was released after natural cooling, it was confirmed that all the protective layers were completely cured.
In the medium with only the fixed one, the center portion of the disk medium floated up, and random warpage occurred in the opposite direction. On the other hand, in the disk medium in which the inner peripheral portion 54 and the outer peripheral portion 55 were fixed at the same time and annealed, the warp angle was as small as 5 milliradian.

【0138】すなわち、基板面を上にしてアニールする
場合には、内周部のみを固定すればいいが、保護層面4
8を上にする場合には、内周部と外周部をいずれも固定
する必要があることがわかった。
That is, when annealing is performed with the substrate surface facing upward, only the inner peripheral portion needs to be fixed, but the protective layer surface 4
It was found that when 8 was turned up, it was necessary to fix both the inner peripheral portion and the outer peripheral portion.

【0139】(実施例3)実施例1と同様に形成した反
りのある媒体を、図11Dに示す台56に固定し、逆方
向に3ミリラジアン程度反るように中央部をネジ57で
締め、実施例2と同様にアニールした。
(Embodiment 3) A warped medium formed in the same manner as in Embodiment 1 is fixed to a stand 56 shown in FIG. 11D, and the central portion is tightened with a screw 57 so as to warp about 3 milliradians in the opposite direction. Annealing was performed as in Example 2.

【0140】自然冷却後、保護層は完全硬化しているこ
とが確認され、また、反り角を測定したところ、反り角
は非常に低減され、基板面が凸の方向に1ミリラジアン
以下であった。
After natural cooling, it was confirmed that the protective layer was completely cured, and when the warp angle was measured, the warp angle was significantly reduced and it was 1 milliradian or less in the convex direction of the substrate surface. .

【0141】(実施例4)実施例1と同様に形成した反
りのある媒体を30枚用意し、同じ方向で積み重ね、図
12のようにおもり59をおいてセンター部を台58上
に固定した。この状態で100℃のオーブン中に投入
し、3時間放置した。
(Embodiment 4) Thirty sheets of warped media formed in the same manner as in Embodiment 1 were prepared, stacked in the same direction, and the center portion was fixed on the base 58 with a weight 59 as shown in FIG. . In this state, it was placed in an oven at 100 ° C. and left for 3 hours.

【0142】自然冷却後、保護層は完全硬化しているこ
とが確認され、また、各媒体の反り角を測定したとこ
ろ、いずれも5ミリラジアン以下に低減されていた。 (実施例5)実施例1の媒体をレーザ法で結晶化させ
た。ディスクを5m/sの速度で回転させ、波長830
nm、出力1Wの半導体レーザを半値幅20μmの幅に
成形したレーザビームを10μmピッチで送りながら全
面を結晶化させた。この状態で反り角を測定したとこ
ろ、7ミリラジアンとフラッシュ法に比べると小さな値
が得られた。
After natural cooling, it was confirmed that the protective layer was completely hardened, and when the warp angle of each medium was measured, all were reduced to 5 milliradians or less. (Example 5) The medium of Example 1 was crystallized by a laser method. Rotate the disk at a speed of 5 m / s and set the wavelength of 830
A semiconductor laser having a wavelength of 1 nm and an output of 1 W was shaped to have a half width of 20 μm, and the entire surface was crystallized while sending a laser beam at a pitch of 10 μm. When the warp angle was measured in this state, it was 7 milliradian, which was a small value as compared with the flash method.

【0143】実施例1と同様に、基板面(凸面)47を
上にして最内周部54のみを固定し、100℃のオーブ
ン中に1時間放置した。自然冷却後、保護層は完全硬化
していることが確認され、また、反り角を再度測定した
ところ、5ミリラジアンと小さくなっていることがわか
った。
As in Example 1, with the substrate surface (convex surface) 47 facing upward, only the innermost peripheral portion 54 was fixed and left in an oven at 100 ° C. for 1 hour. After the natural cooling, it was confirmed that the protective layer was completely cured, and when the warp angle was measured again, it was found that it was as small as 5 milliradian.

【0144】実施例5と実施例1とを比較してみると、
アニール工程が反り矯正処理も兼ねる場合には、フラッ
シュ初期化の場合に、より顕著な効果が得られることが
わかった。
A comparison between Example 5 and Example 1 shows that
It was found that a more remarkable effect can be obtained in the case of flash initialization when the annealing process also serves as the warp correction process.

【0145】(実施例6)実施例1と同様に形成した反
りのある媒体10枚を予め100℃に加熱しておいたア
ルミ製、アルミナ製及びガラス製の3通りの平板の各々
の平面上に基板面40を上にして置き、30分間放置後
自然冷却させた。
(Example 6) Ten warped media formed in the same manner as in Example 1 were preheated to 100 ° C on the respective flat surfaces of three flat plates made of aluminum, alumina and glass. The substrate surface 40 was placed on top of the plate, allowed to stand for 30 minutes, and then naturally cooled.

【0146】保護層は完全結晶化していることが確認さ
れ、また、反り角を測定したところ、何れの平板を用い
た場合でも、アニール後の反り角は5〜7ミリラジアン
の範囲であった。
It was confirmed that the protective layer was completely crystallized, and when the warp angle was measured, the warp angle after annealing was in the range of 5 to 7 milliradians regardless of which plate was used.

【0147】平板をアルミナ、ガラスに変えてやってみ
たが同様の効果を得た。 (実施例7)実施例1でアニール温度を、60〜120
℃の範囲で10℃刻みで行なった。この結果、アニール
温度が高くなるほど反りの矯正効果が大きかったが、1
10℃を越えると、基板材料としてポリカーボネイトを
用いたため、溝形状にやや異常が見られた。
When the flat plate was changed to alumina or glass, the same effect was obtained. (Embodiment 7) The annealing temperature in Embodiment 1 is 60 to 120.
The measurement was performed in the range of 0 ° C in steps of 10 ° C. As a result, the higher the annealing temperature, the greater the effect of correcting the warp.
When the temperature exceeds 10 ° C., a slight abnormality was observed in the groove shape because polycarbonate was used as the substrate material.

【0148】上記実施例は何れも基板材料として耐熱性
が低いポリカーボネイトを用いた例を示したが、基板材
料を耐熱性が高い例えばガラス等の無機材料を用いて行
なうことも可能である。この場合には、アニール処理前
後の保護層の硬化の様子及び反りの様子はほぼ同様であ
るが、アニール処理温度が110℃以上であっても溝形
状に異常は認められずなかった。すなわち、アニール処
理効果は充分に発揮され、高温処理の方が処理時間の短
縮等の効果も付加された。
In each of the above-mentioned embodiments, the polycarbonate material having low heat resistance is used as the substrate material, but it is also possible to use an inorganic material having high heat resistance, such as glass, as the substrate material. In this case, the hardening and warping of the protective layer before and after annealing were almost the same, but no abnormality was found in the groove shape even when the annealing temperature was 110 ° C. or higher. That is, the annealing treatment effect was sufficiently exhibited, and the high-temperature treatment also had the effect of shortening the treatment time.

【0149】また、上記実施例は何れも、誘電体膜を具
備した形態を例示したが、本発明の製造方法は誘電体膜
の有無に関わらず有効である。さらに、本発明の製造方
法は、保護層を完全硬化させることにより光学的情報記
録媒体の信頼性を高め、同時に記録薄膜層およぶ保護層
等の成膜及び/または初期化の各工程を通じてやむを得
ず生じる反りや歪を低減できる技術であるため、記録薄
膜層、誘電体層または基板等の材料が何れであっても、
その効果に変化が無いことはもちろんである。
Further, in each of the above-mentioned embodiments, the form provided with the dielectric film is exemplified, but the manufacturing method of the present invention is effective regardless of the presence or absence of the dielectric film. Further, the manufacturing method of the present invention enhances the reliability of the optical information recording medium by completely curing the protective layer, and at the same time, it is unavoidably caused through the steps of forming and / or initializing the recording thin film layer and the protective layer. Since it is a technology that can reduce warpage and distortion, it does not matter whether the material such as the recording thin film layer, the dielectric layer or the substrate is
Of course, there is no change in the effect.

【0150】次に本発明の第3の目的である、保護層を
形成する工程ならびに初期結晶化工程を通じて発生する
媒体の反りや歪を低減するための別の実施例について説
明する。
Next, another embodiment for reducing the warpage and distortion of the medium generated through the step of forming the protective layer and the initial crystallization step, which is the third object of the present invention, will be described.

【0151】この実施例では、直径130mm,厚さ
1.2mmのポリカーボネイト基板上に、下引き誘電体
層として厚さ170nmのZnS−SiO2膜、記録薄
膜層として25nmのGe2Sb2Te5膜、上引き誘電
体層として厚さ40nmのZnS−SiO2(SiO2
20モル%)膜、反射層として厚さ80nmのAlCr
(Cr:3原子%)膜を順にスパッタ法で形成し、最上
層に約20μmの厚さにアクリル系の紫外線硬化樹脂を
スピンコートで塗布したディスク媒体を複数枚の用意
し、以下の比較実験を行なった。
In this example, on a polycarbonate substrate having a diameter of 130 mm and a thickness of 1.2 mm, a ZnS-SiO 2 film having a thickness of 170 nm was used as a subbing dielectric layer, and a Ge 2 Sb 2 Te 5 film having a thickness of 25 nm was used as a recording thin film layer. A 40 nm-thick ZnS—SiO 2 (SiO 2 :
20 mol%) film, AlCr with a thickness of 80 nm as a reflective layer
(Cr: 3 atom%) films were sequentially formed by a sputtering method, and a plurality of disk media prepared by spin-coating an acrylic ultraviolet curable resin with a thickness of about 20 μm on the uppermost layer were prepared. Was done.

【0152】ディスク媒体Aは、そのままの状態(矯正
力を印加しない状態)で水銀ランプで照射して紫外線硬
化樹脂を硬化させ、フラッシュ法で初期化を行なった。
なお。フラッシュによる初期化には、図14に示した放
電回路を用い、キセノン放電管を放電発光させることで
露光照射を行なった。
The disk medium A was irradiated with a mercury lamp as it was (in the state where no correction force was applied) to cure the ultraviolet curable resin, and was initialized by the flash method.
Incidentally. For initialization by flash, the discharge circuit shown in FIG. 14 was used, and exposure irradiation was performed by causing a xenon discharge tube to discharge and emit light.

【0153】ディスク媒体Bは、紫外線照射を行なって
樹脂層を硬化させた後、次に図15に示すように基板面
47が凹になる状態に矯正力61を加えつつフラッシュ
初期化を行なった。
The disk medium B was irradiated with ultraviolet rays to cure the resin layer, and then flash initialization was carried out while applying a correction force 61 to the state where the substrate surface 47 became concave as shown in FIG. .

【0154】ディスク媒体Cは、紫外光線60の照射を
行なった後、ディスク媒体Bと同じように矯正力61を
加えつつ、100℃のオーブン中に投入し、1時間アニ
ールした後、矯正力61をとり除いてフラッシュ初期化
を行なった。
After the disk medium C was irradiated with the ultraviolet ray 60, it was placed in an oven at 100 ° C. while being applied with a correction force 61 as in the case of the disk medium B and annealed for 1 hour. Was removed and flash initialization was performed.

【0155】ディスク媒体Dは、紫外光線60の照射を
行なった後、ディスク媒体Cと同様に矯正力61を加え
て、アニール、フラッシュ初期化を行なった。ディスク
媒体Eは、はじめから矯正力61を加えつつ水銀ランプ
を照射し、紫外線硬化樹脂を硬化させた。その後、アニ
ールは行なわず、上記矯正力61を取り除いた状態でフ
ラッシュ初期化を行なった。
The disk medium D was irradiated with the ultraviolet ray 60 and then subjected to annealing and flash initialization by applying the correction force 61 similarly to the disk medium C. The disc medium E was irradiated with a mercury lamp while applying the correction force 61 from the beginning to cure the ultraviolet curable resin. After that, without performing annealing, flash initialization was performed with the correction force 61 removed.

【0156】ディスク媒体Fは、ディスク媒体Bと同様
に紫外線照射を行なった後、上記矯正力61を加えた状
態で100℃のオーブン中に投入し、1時間アニールし
た後、上記矯正力61を取り除いた状態でフラッシュ初
期化を行なった。
The disk medium F was irradiated with ultraviolet rays as in the case of the disk medium B, and then placed in an oven at 100 ° C. with the above-mentioned correction force 61 applied thereto and annealed for 1 hour. Flash initialization was performed in the removed state.

【0157】ディスク媒体Gは、前記の矯正力61を加
えた状態で、紫外線照射、フラッシュ初期化までを行な
った。各ディスク媒体A〜Gの反り量を図13に示す反
り角度で比較評価した。結果を表4に示す。表の中で、
「反らせ量」は矯正力を加えて反らせた大きさを反り角
で定義したもの、「反り」は各工程が終わったあとでの
実際の反り角を測定した結果を示す。また、「No」
は、表中に示したように、各工程を簡略化したか、省略
したかのいずれかを意味している。さらに、表中の数学
の「+」の符号は基板面が凸になる場合、「−」の符号
は凹になる場合を示している。なお、複数回行なったも
のもあるが、これは加える力の大きさを加減し、反らせ
量を調節したためである。製造上の容易さを考慮して、
反らせ量の最大値は5ミリラジアンとした。但し、最終
的には7ミリラジアン程度以下であれば実用的レベルで
ある。
The disk medium G was subjected to ultraviolet irradiation and flash initialization under the condition that the above-mentioned correction force 61 was applied. The warp amounts of the respective disk media A to G were compared and evaluated by the warp angle shown in FIG. The results are shown in Table 4. In the table,
The “warp amount” is defined by the warp angle, which is the size of the warp applied by the correction force, and the “warp” indicates the result of measuring the actual warp angle after each step. Also, "No"
Means that each step is simplified or omitted as shown in the table. Further, in the table, mathematical signs of "+" indicate that the substrate surface is convex, and signs of "-" indicate that it is concave. Some of the tests were performed multiple times, but this is because the magnitude of the applied force was adjusted and the amount of warpage was adjusted. Considering the ease of manufacturing,
The maximum amount of warpage was 5 milliradians. However, finally, if it is about 7 milliradians or less, it is a practical level.

【0158】[0158]

【表4】 [Table 4]

【0159】表4の結果から、紫外線硬化樹脂を硬化さ
せた後のアニール工程を省略したA,B,Eの場合に
は、紫外線光照射の条件によらず、初期化後には、紫外
線硬化樹脂層が凹となる大きな反りが発生した。
From the results shown in Table 4, in the case of A, B, and E in which the annealing process after curing the ultraviolet curable resin was omitted, the ultraviolet curable resin was not initialized after initialization regardless of the condition of the ultraviolet light irradiation. A large warp that the layer became concave occurred.

【0160】一方、紫外線照射時にはとくに矯正せず、
アニール時に基板面が凹なるような力を加えたC,Dの
場合、また紫外線照射工程とアニール工程で矯正力を加
えたFの場合、紫外線照射工程、アニール工程、初期化
工程を通じて矯正力を加えたGのいずれの場合にも、反
り量が非常に小さくなり、矯正力を加えつつアニール処
理を行なうことが非常に効果的であることがわかった。
On the other hand, when ultraviolet rays are irradiated, no particular correction is made,
In the case of C and D where a force is applied so that the substrate surface becomes concave during annealing, and in the case of F where a correction force is applied during the ultraviolet irradiation process and the annealing process, the correction force is applied through the ultraviolet irradiation process, the annealing process, and the initialization process. In any of the cases of added G, the warp amount became extremely small, and it was found that it is very effective to perform the annealing treatment while applying the correction force.

【0161】上記各ディスクを実際にデッキにのせてサ
ーボ特性を調べた。ディスクの回転数を1800rpm
とした。レーザ波長は780nm、対物レンズのNAは
0.55としたところ、C,D,F,Gのディスクでは
フォーカシング、トラッキングとも良好であったが、
A,B,Eではフォーカシングが難しかった。
Servo characteristics were examined by actually mounting each of the above disks on a deck. Disk rotation speed is 1800 rpm
And When the laser wavelength was 780 nm and the NA of the objective lens was 0.55, focusing and tracking were good for C, D, F, and G disks, but
Focusing was difficult with A, B, and E.

【0162】アニールの方法としては、ディスク媒体全
体をオーブン中に投入する方法もあるが、図16に示す
ように、赤外線ランプ62を用いて、赤外光線63で加
熱する方法が高速に加熱できる点で便利であった。上記
実施例のC,D,F,Gに関し、赤外線ランプ62によ
るアニールを試したが同様の結果となった。
As a method of annealing, there is a method of putting the whole disk medium in an oven, but as shown in FIG. 16, a method of heating with an infrared ray 63 using an infrared lamp 62 can heat at high speed. It was convenient in terms. Regarding C, D, F, and G of the above-mentioned embodiment, the annealing by the infrared lamp 62 was tried, but the same result was obtained.

【0163】なお、本発明の要旨は、少なくとも保護層
の紫外線硬化工程と初期化工程とに反りを矯正する方向
に矯正力を印加させる製造方法であるため、初期結晶化
を必要とする相変化光記録媒体であれば既に図4、図1
0で説明した何れの媒体でも適用できる。
Since the gist of the present invention is a manufacturing method in which a correction force is applied at least in the ultraviolet curing step and the initialization step of the protective layer in a direction for correcting the warp, a phase change that requires initial crystallization. If it is an optical recording medium, it is already shown in FIG.
Any of the media described in 0 can be applied.

【0164】次に、本発明の第4の目的である、製造工
程数を削減した両面型媒体の構成例、ならびにその製造
工程を示す実施例を説明する。図17は、本発明の両面
型光学的情報記録媒体の1実施例の構成を断面図として
示したものである。この実施例では、ポリカーボネイト
製の厚さ1.2mmの透明基板64上に、第1の誘電体
層65として厚さ90nmのZnS−SiO2膜、記録
薄膜層66として厚さ30nmのGe2Sb2Te5合金
薄膜層、第2の誘電体層67として厚さ154nmのZ
nS−SiO2膜、金属反射層68として厚さ10nm
のAu薄膜層をスパッタリングにより積層して構成した
単板の光学的記録部材70を2枚準備し、膜側を互いに
内側にして紫外線感応成分を含有する樹脂(以下、「紫
外線硬化樹脂」という)を用いて接着層69を形成し、
貼り合わせた。
A fourth example of the present invention, which is a fourth example of the structure of a double-sided medium in which the number of manufacturing steps is reduced, and an example showing the manufacturing steps will be described. FIG. 17 is a sectional view showing the structure of one embodiment of the double-sided optical information recording medium of the present invention. In this embodiment, a ZnS—SiO 2 film having a thickness of 90 nm is used as the first dielectric layer 65 and a Ge 2 Sb film having a thickness of 30 nm is used as the recording thin film layer 66 on a transparent substrate 64 made of polycarbonate and having a thickness of 1.2 mm. 2 Te 5 alloy thin film layer, Z having a thickness of 154 nm as the second dielectric layer 67
nS-SiO 2 film, metal reflection layer 68 having a thickness of 10 nm
Of two single-plate optical recording members 70 each of which is formed by laminating Au thin film layers by sputtering, and a resin containing an ultraviolet-sensitive component (hereinafter, referred to as “ultraviolet curable resin”) with the film sides inside each other. To form the adhesive layer 69,
Pasted together

【0165】この紫外線硬化樹脂の硬化に用いた水銀灯
の波長(250〜350nm)近傍で、上記単板の光学
的記録部材を介した透過率は約5%であった。但し、透
明基板64の材料としては、上記したポリカーボネイト
の他に、例えばPMMAやガラスであってもよい。ま
た、第1の誘電体層及び第2の誘電体層の材料として
は、上記ZnS−SiO2の他に、例えばSiO2、Ta
25などの酸化物系の誘電体、SiNやAlN等の窒化
物であってもよい。また、記録薄膜層66の材料として
は、他に例えばIn−Sb−Te系の相変化材料を用い
てもよい。いずれにせよ、本発明の両面型光学的情報記
録媒体を構成する材料に制限を受けるものではない。
The transmittance through the single plate optical recording member was about 5% in the vicinity of the wavelength (250 to 350 nm) of the mercury lamp used for curing the ultraviolet curable resin. However, the material of the transparent substrate 64 may be PMMA or glass, for example, in addition to the above polycarbonate. The materials for the first dielectric layer and the second dielectric layer include, for example, SiO 2 and Ta in addition to the above ZnS-SiO 2.
It may be an oxide-based dielectric such as 2 O 5 or a nitride such as SiN or AlN. Further, as the material of the recording thin film layer 66, for example, an In-Sb-Te based phase change material may be used. In any case, the material constituting the double-sided optical information recording medium of the present invention is not limited.

【0166】図18は、本発明の実施例における両面型
光学的情報記録媒体の貼り合わせプロセスを示す工程図
である。ポリカーボネイト製の透明基板71、72上に
は、記録層を形成する薄膜73、74が多層に形成され
ていて、光学的記録部材70を構成している。
FIG. 18 is a process chart showing a bonding process of the double-sided optical information recording medium in the embodiment of the present invention. On the transparent substrates 71 and 72 made of polycarbonate, thin films 73 and 74 that form recording layers are formed in multiple layers to form an optical recording member 70.

【0167】まず工程(a)に示したように、この薄膜
73、74が形成されている面を互いに内側にして、基
板71と基板72を対向させる。薄膜73、74間のス
ペースは、適当でよいが3mm程度が妥当である。次
に、工程(b)示したように、このスペースに紫外線硬
化樹脂75を注入する。注入後、基板71と基板72を
密着し一体化させると、工程(c)に示したように、紫
外線硬化樹脂75は薄膜73、74の表面全体に広が
る。また、上述した密着法に加え、例えば基板71、7
2を回転させれば、紫外線硬化樹脂の均一塗布が促進さ
れて好ましい。工程(c)のように、紫外線硬化樹脂7
5が均一に塗布された後、紫外線76を基板72側から
照射すると、工程(d)に示したように照射した紫外線
76の約5%が紫外線硬化樹脂75に到達し、紫外線硬
化樹脂が硬化する。以上の工程により、基板71と基板
72が一体化し、両面型光学的情報記録媒体が製造でき
る。
First, as shown in step (a), the substrates 71 and 72 are opposed to each other with the surfaces having the thin films 73 and 74 formed inside. The space between the thin films 73 and 74 may be appropriate, but about 3 mm is appropriate. Next, as shown in step (b), an ultraviolet curable resin 75 is injected into this space. After the injection, when the substrate 71 and the substrate 72 are brought into close contact with each other and integrated, the ultraviolet curable resin 75 spreads over the entire surfaces of the thin films 73 and 74 as shown in step (c). In addition to the above-mentioned adhesion method, for example, the substrates 71, 7
If 2 is rotated, uniform application of the ultraviolet curable resin is promoted, which is preferable. UV curable resin 7 as in step (c)
When 5 is uniformly applied and then the ultraviolet rays 76 are irradiated from the substrate 72 side, about 5% of the irradiated ultraviolet rays 76 reach the ultraviolet curable resin 75 as shown in step (d), and the ultraviolet curable resin is cured. To do. Through the above steps, the substrate 71 and the substrate 72 are integrated, and the double-sided optical information recording medium can be manufactured.

【0168】なお、図18では、紫外線を光学的情報記
録媒体の透明基板の片面(基板72側)からのみ照射し
た場合について示しているが、この照射は各透明基板7
1、72の両面から同時に行っても良く、この場合は両
面から紫外線硬化樹脂75の硬化が促進されるので、さ
らに短時間で両面型光学的情報記録媒体の貼り合わせが
行なえる。
Although FIG. 18 shows the case where ultraviolet rays are radiated only from one side (substrate 72 side) of the transparent substrate of the optical information recording medium, this irradiation is performed on each transparent substrate 7.
It may be performed simultaneously from both sides of Nos. 1 and 72. In this case, since the curing of the ultraviolet curable resin 75 is promoted from both sides, the double-sided optical information recording medium can be bonded in a shorter time.

【0169】また、本発明の光学的情報記録媒体の光学
的記録部材の紫外線透過率は、記録薄膜層と金属反射層
とのみで構成される場合であっても、または、例えば図
17に示したように2層の誘電体層で挟んだ記録層を有
し、かつ一方の誘電体層に金属反射層を備えた構成の場
合であっても、いずれも金属反射層の材料及び膜厚に依
存する。従って、本発明の主旨の感応波長領域の紫外線
透過率の制御には、主に金属反射層の材料及び当該反射
層の成膜を制御することで、紫外線の透過率を設定す
る。
The ultraviolet transmittance of the optical recording member of the optical information recording medium of the present invention is shown in FIG. 17 even when it is composed of only the recording thin film layer and the metal reflection layer. Even when the recording layer is sandwiched between two dielectric layers and the metal reflection layer is provided on one of the dielectric layers, the material and the film thickness of the metal reflection layer are both determined. Dependent. Therefore, in order to control the ultraviolet ray transmittance in the sensitive wavelength region of the present invention, the ultraviolet ray transmittance is set mainly by controlling the material of the metal reflective layer and the film formation of the reflective layer.

【0170】なお、金属反射層の材料としては、Al,
Cr,Ag,Cu,Ni,Au等の純金属材料をはじ
め、他の金属材料との合金材料等も適用でき、本発明の
要請を満足させるためには何れの材料を用いても、おお
よそ20nm〜50nmの範囲内にあれば達成できる
が、特にAuもしくはAuを主成分とする合金、すなわ
ち199>x≧0とするとAu100-xx(但しMは合金
を形成する金属元素)が、反射率と紫外線と透過率との
両方を満足し易いため好ましい。
As the material of the metal reflection layer, Al,
In addition to pure metal materials such as Cr, Ag, Cu, Ni, and Au, alloy materials with other metal materials, etc. can be applied. It can be achieved if it is in the range of up to 50 nm, but Au 100-x M x (where M is a metal element forming the alloy) is particularly preferable when Au or an alloy containing Au as a main component, that is, 199> x ≧ 0. It is preferable because it is easy to satisfy both the reflectance, the ultraviolet ray and the transmittance.

【0171】なお、上述したように金属反射層の材料及
び/または膜厚が主な要因ではあるが、透明基板、記録
薄膜層の膜厚または誘電体層の膜厚による寄与もあり、
これらに用いる材料により膜厚を適宜選択する必要があ
る場合も発生する。一般的には、紫外線波長領域で3%
以上程度であれば満足できる。
Although the material and / or the film thickness of the metal reflective layer is the main factor as described above, there is also a contribution from the film thickness of the transparent substrate, the recording thin film layer or the dielectric layer,
It may occur that the film thickness needs to be appropriately selected depending on the materials used for these. Generally, 3% in the UV wavelength range
If it is above the above level, it is satisfactory.

【0172】但し、記録薄膜層がアモルファス相−結晶
相の相転移で発生する光学特性の変化を応用する場合で
は、一般的に記録薄膜層作成時にはアモルファス状態で
あるため。記録薄膜層がアモルファス状態での紫外線透
過率を概ね3%以上にする必要がある。
However, in the case where the recording thin film layer is applied with the change in the optical characteristics caused by the phase transition between the amorphous phase and the crystalline phase, it is generally in the amorphous state when the recording thin film layer is formed. It is necessary that the ultraviolet transmittance of the recording thin film layer in the amorphous state is approximately 3% or more.

【0173】そこで、上記工程により貼り合わせた両面
型光学的情報記録媒体における透過率と、紫外線硬化樹
脂の硬化度合いとについて評価した。両面型光学的情報
記録媒体の紫外線透過率は、薄膜73、74の膜構成を
変化させ0%、1%、2%、3%、5%とした。
Therefore, the transmittance of the double-sided optical information recording medium bonded in the above process and the degree of curing of the ultraviolet curable resin were evaluated. The ultraviolet transmittance of the double-sided optical information recording medium was set to 0%, 1%, 2%, 3% and 5% by changing the film constitution of the thin films 73 and 74.

【0174】なお、透過率0%の両面型光学的情報記録
媒体の薄膜73、74の構成は、透明基板71、72上
に厚さ70nmのZnS−SiO2(SiO2:20モル
%)膜、厚さ25nmのGe2Sb2Te5合金薄膜、厚
さ45nmのZnS−SiO2(Si02 :20モル
%)膜、厚さ90nmのAlCr(Cr:3原子%)を
形成した構造とした。
The thin films 73 and 74 of the double-sided optical information recording medium having a transmittance of 0% are composed of a ZnS—SiO 2 (SiO 2 : 20 mol%) film having a thickness of 70 nm on the transparent substrates 71 and 72. , A 25 nm thick Ge 2 Sb 2 Te 5 alloy thin film, a 45 nm thick ZnS—SiO 2 (Si 0 2 : 20 mol%) film, and a 90 nm thick AlCr (Cr: 3 atom%) structure. .

【0175】また、透過率が1%、2%、3%、及び5
%の両面型光学的情報記録媒体の薄膜73、74の構成
は、透明基板71、72上に、厚さ92nmのZnS−
Si02(SiO2:20モル%)膜、厚さ20〜40n
m程度のGe2Sb2Te5合金薄膜、厚さ160nmの
ZnS−SiO2(SiO2:20モル%)膜、厚さ5〜
30nm前後のAu膜を形成した構造とし、合金薄膜と
Au反射層の膜厚を変えて透過率を調整した。結果を表
5に示す。
Further, the transmittance is 1%, 2%, 3%, and 5
%, The thin films 73 and 74 of the double-sided optical information recording medium are composed of transparent substrates 71 and 72 on which ZnS- having a thickness of 92 nm is formed.
Si0 2 (SiO 2: 20 mol%) film thickness 20~40n
Ge 2 Sb 2 Te 5 alloy thin film of about m, ZnS—SiO 2 (SiO 2 : 20 mol%) film of 160 nm in thickness, thickness 5 to 5
The structure was such that an Au film of about 30 nm was formed, and the transmittance was adjusted by changing the film thickness of the alloy thin film and the Au reflective layer. The results are shown in Table 5.

【0176】[0176]

【表5】 [Table 5]

【0177】表5に示したように、上記透過率0%の両
面型光学的情報記録媒体を貼り合わせようと紫外線を照
射して紫外線硬化樹脂の硬化を試みたが、硬化できなか
った。次に、透過率が1%の両面型光学的情報記録媒体
の貼り合わせ時に、紫外線を照射して紫外線硬化樹脂の
硬化を試みたところ、紫外線硬化樹脂は一部の領域のみ
硬化し、10分以上継続して紫外線を照射しても、硬化
は促進されず不十分であった。また、紫外線透過率が2
%の両面型光学的情報記録媒体の貼り合わせ時に、紫外
線を照射して紫外線硬化樹脂の硬化を試みたところ、紫
外線硬化樹脂は硬化したが、約10分程度の照射時間を
要した。この硬化時間は、今日の両面型光学的情報記録
媒体の製造には2〜3分程度のタクトタイムが必要なこ
とから、不十分であった。
As shown in Table 5, ultraviolet rays were radiated to try to bond the double-sided optical information recording medium having the above-mentioned transmittance of 0% to try to cure the ultraviolet-curing resin, but it could not be cured. Next, when the double-sided optical information recording medium having a transmittance of 1% was attached, an attempt was made to irradiate it with ultraviolet rays to cure the ultraviolet curable resin. Even if the ultraviolet rays were continuously irradiated as described above, the curing was not promoted and was insufficient. Also, the ultraviolet transmittance is 2
%, When the double-sided optical information recording medium was laminated, an attempt was made to irradiate it with ultraviolet rays to cure the ultraviolet-curable resin. The ultraviolet-curable resin was cured, but it took about 10 minutes for irradiation. This curing time was insufficient because a tact time of about 2 to 3 minutes was required to manufacture today's double-sided optical information recording medium.

【0178】一方、紫外線透過率が3%の両面型光学的
情報記録媒体の貼り合わせ時に、紫外線を照射して紫外
線硬化樹脂の硬化を試みたところ、約4〜5分程度で紫
外線硬化樹脂が硬化した。さらに、紫外線照射を両面型
光学的情報記録媒体の両側から行ったところ、約2分で
紫外線硬化樹脂が硬化した。
On the other hand, when the double-sided type optical information recording medium having an ultraviolet transmittance of 3% was attached, an attempt was made to irradiate it with ultraviolet rays to cure the ultraviolet curable resin. Cured. Further, when UV irradiation was performed from both sides of the double-sided optical information recording medium, the UV curable resin was cured in about 2 minutes.

【0179】最後に、紫外線透過率が5%の両面型光学
的情報記録媒体の貼り合わせ時に、紫外線を両面型光学
的情報記録媒体の片面から照射して紫外線硬化樹脂の硬
化を試みたところ、紫外線硬化樹脂はわずか1分以下で
硬化した。
Finally, when a double-sided optical information recording medium having an ultraviolet transmittance of 5% was attached, ultraviolet rays were radiated from one side of the double-sided optical information recording medium to try to cure the ultraviolet curable resin. The UV curable resin cured in less than 1 minute.

【0180】以上のことから、両面型光学的情報記録媒
体を紫外線硬化樹脂で貼り合わせる場合、薄膜73,7
4の紫外線透過率は、硬化度合いとタクトタイムの関係
から3%以上が推奨できる。
From the above, when the double-sided optical information recording medium is bonded with the ultraviolet curable resin, the thin films 73, 7
The ultraviolet transmittance of 4 is recommended to be 3% or more in view of the relationship between the curing degree and the tact time.

【0181】このようにして作成した両面型光学的情報
記録媒体の貼り合わせ強度について評価した。評価方法
は、落下試験と高温高湿にて行った。落下試験は、両面
型光学的情報記録媒体をこの記録媒体の録再時に用いる
カートリッジ内に挿入して、このカートリッジを高さ7
5cmからコンクリート面上に6回落下させた。その結
果、透過率が3%と5%の両面型光学的情報記録媒体
は、接着して貼り合わせた部分の剥離もなく異常は認め
られなかった。また、2%のものは4回目までは異常が
なく、5回目で一部が剥離した。
The bonding strength of the double-sided optical information recording medium thus prepared was evaluated. The evaluation method was a drop test and high temperature and high humidity. In the drop test, the double-sided optical information recording medium is inserted into a cartridge used for recording / reproducing of this recording medium, and the height of the cartridge is set to 7
It dropped from 5 cm onto the concrete surface 6 times. As a result, in the double-sided optical information recording mediums with the transmittances of 3% and 5%, no abnormality was observed without peeling of the bonded and bonded portions. In addition, 2% of the products had no abnormality up to the fourth time, and a part was peeled off at the fifth time.

【0182】また、両面型光学的情報記録媒体を、80
℃、80%RHの雰囲気に300時間放置して取り出し
たところ、透過率が3%と5%の両面型光学的情報記録
媒体は、接着の剥がれやクラックの発生はなかった。2
%のものは、100時間までは異常なかったが、300
時間後には一部剥がれが見られた。
A double-sided optical information recording medium is
When left in an atmosphere of 80 ° C. and 80% RH for 300 hours and taken out, the double-sided optical information recording medium having transmittances of 3% and 5% did not show peeling of adhesion or cracks. Two
% Was normal for up to 100 hours, but 300
Some peeling was seen after a while.

【0183】次に、作成した両面型光学的情報記録媒体
の初期化を行った。初期化とは、通常、上記アモルファ
ス−結晶間の相変化光学的情報記録媒体では、記録方向
を結晶からアモルファスへの変化とするので、記録を行
なう前提として、記録薄膜を予め結晶状態に転換してお
くことが行われることをいう。
Next, the prepared double-sided optical information recording medium was initialized. Initialization generally means that in the above-mentioned amorphous-crystal phase change optical information recording medium, the recording direction is changed from crystal to amorphous, so that the recording thin film is converted into a crystalline state in advance on the premise of recording. It means that things are stored.

【0184】初期化の方法としては、既に説明した2つ
の方法を試みた。すなわち例えば特開昭60−1060
31号公報等に開示されているレーザビームによる逐次
処理の方法を行った。すなわち、録再に用いるレーザダ
イオードよりもはるかに大出力のレーザを用い、数10
〜数100μm幅の光スポットを形成する。媒体を一定
速度で送りながら、この光スポットを照射することで、
一回の操作で多数のトラックを一度に結晶化することが
できる。
As the initialization method, the two methods described above were tried. That is, for example, JP-A-60-1060
The method of sequential processing by a laser beam disclosed in Japanese Patent No. 31 is used. That is, using a laser with a much higher output than the laser diode used for recording and reproducing,
A light spot having a width of several 100 μm is formed. By irradiating this light spot while sending the medium at a constant speed,
It is possible to crystallize many tracks at once with one operation.

【0185】また、例えば特願昭62−250533号
公報等で提案されている、キセノンランプを用いたフラ
ッシュ光を用いてディスク面全体を一括して短時間で結
晶化するという方法でも行った。
Further, for example, a method proposed in Japanese Patent Application No. 62-250533 and the like, in which flash light using a xenon lamp is used to collectively crystallize the entire disk surface in a short time, is used.

【0186】以上の2種類の方法で初期化を行い、従来
から行われていたホットメルト接着剤で貼り合わせた両
面型光学的情報記録媒体と、本実施例の図17の紫外線
硬化樹脂で貼り合わせた両面型光学的情報記録媒体との
初期化状態を比較した。
Initialization is carried out by the above two methods, and the double-sided optical information recording medium which has been pasted with a hot-melt adhesive, and the UV-curable resin shown in FIG. 17 of this embodiment are pasted. The initialization state of the combined double-sided optical information recording medium was compared.

【0187】レーザビームにより初期化した場合、双方
のディスクともクラック、傷、あるいは剥離などの異常
は認められず、良好に初期化できた。また、フラッシュ
光で初期化した場合、ホットメルト接着剤で貼り合わせ
た両面型光学的情報記録媒体では、微少な剥離、シワ、
またはクラックが数カ所みられる場合があったが、本発
明の例えば図17に示したような両面型光学的情報記録
媒体では、キズ、クラックあるいは剥離等の異常は見ら
れなかった。
When initialized by the laser beam, no abnormalities such as cracks, scratches or peeling were observed on both disks, and the initialization was excellent. In addition, when initialized with flash light, in the double-sided optical information recording medium bonded with a hot melt adhesive, slight peeling, wrinkles,
Or, there were cases where cracks were observed at several places, but in the double-sided optical information recording medium of the present invention as shown in, for example, FIG. 17, no abnormality such as scratches, cracks or peeling was observed.

【0188】次に、初期化した図17の両面型光学的情
報記録媒体を記録再生装置に装着し、ディスクの記録再
生評価を行った。ディスクを線速27m/sでドライブ
し、波長780nmのレーザー(開口率:NA=0.5
5)を、2値変調(ピークパワー24mW,バイアスパ
ワー12mW)し、記録周波数f1=18MHzの信号
とf2=6.75MHzの信号を交互にオーバライト記
録した。
Next, the initialized double-sided optical information recording medium of FIG. 17 was mounted in a recording / reproducing apparatus, and recording / reproducing evaluation of the disc was performed. A disk was driven at a linear velocity of 27 m / s and a laser having a wavelength of 780 nm (aperture ratio: NA = 0.5
5) was binary-modulated (peak power 24 mW, bias power 12 mW), and a signal with a recording frequency f1 = 18 MHz and a signal with a recording frequency f2 = 6.75 MHz were alternately recorded by overwrite.

【0189】f1のキャリアー対ノイズ比(以下、「C
/N」と称す)、消去率を測定したところ、52dBの
C/Nと26dBの消去率が得られ、問題なく初期化が
行われていることがわかった。また、繰り返してオーバ
ライト記録したが、初期の信号品質が維持されており、
C/Nや消去率の劣化は認められなかった。
The carrier-to-noise ratio of f1 (hereinafter referred to as "C
/ N ”), the erasing rate was measured, and it was found that a C / N of 52 dB and an erasing rate of 26 dB were obtained, and initialization was performed without problems. Also, overwriting was recorded repeatedly, but the initial signal quality was maintained,
No deterioration of C / N or erasing rate was observed.

【0190】以上のように本発明の光学的情報記録媒体
では、紫外線硬化樹脂を接着層材料として適用し、多層
構成の記録層の構成を工夫し、紫外線硬化樹脂の感応光
波長域で略3%以上の透過率を有するように各層の膜厚
を選定し、紫外線を照射すると、多層構成の記録層を透
過した紫外線により、紫外線硬化樹脂が硬化し、短時間
かつ少ない行程で両面型光学的情報記録媒体が製造でき
る。
As described above, in the optical information recording medium of the present invention, the ultraviolet curable resin is applied as the adhesive layer material, and the constitution of the recording layer having a multi-layered structure is devised so that it is approximately 3 in the sensitive light wavelength range of the ultraviolet curable resin. When the film thickness of each layer is selected so as to have a transmittance of at least%, and ultraviolet rays are irradiated, the ultraviolet curing resin is cured by the ultraviolet rays that have passed through the recording layer of the multi-layered structure, and the double-sided optical type is used in a short time and in a small number of steps. An information recording medium can be manufactured.

【0191】なお、上記実施例では、貼り合わせた2枚
の光学的記録部材が同一仕様の場合について説明した
が、本発明の本質は、少なくとも一方の光学的記録部材
の紫外線透過率が概ね3%以上であれば良いため、両面
型光学的情報記録媒体の一方の光学的記録部材は、例え
ばCDやCD−ROMに代表される再生専用であっても
良い。また例えば一方の光学的記録部材は記録薄膜層と
金属反射層とのみで構成されていても良く、さらに2枚
の光学的記録部材の各々の誘電体層、記録薄膜層及び金
属反射層の材料及び/又は膜厚が変化した構成であって
も良いことはもちろんである。
In the above embodiment, the case where the two bonded optical recording members have the same specifications has been described, but the essence of the present invention is that the ultraviolet transmittance of at least one of the optical recording members is approximately 3%. %, The optical recording member on one side of the double-sided optical information recording medium may be a read-only one represented by a CD or a CD-ROM. Further, for example, one of the optical recording members may be composed of only the recording thin film layer and the metal reflection layer, and the material of the dielectric layer, the recording thin film layer and the metal reflection layer of each of the two optical recording members. As a matter of course, the configuration may be changed and / or the film thickness may be changed.

【0192】さらに、本発明の光学記録部材を接着する
樹脂としては、少なくとも紫外線感応硬化成分を含有す
ればよく、すなわち従来技術のホットメルト接着剤等に
混入させる形態であっても、本発明の効果が発揮される
ことはもちろんである。
Further, as the resin for adhering the optical recording member of the present invention, it is sufficient that it contains at least a UV-sensitive curing component, that is, even if it is mixed with a conventional hot melt adhesive or the like, Of course, the effect is exhibited.

【0193】[0193]

【発明の効果】以上説明した通り本発明によれば、基板
上に、結晶−アモルファス間の相変化を生じる記録薄膜
層を含む多層構成の記録層と、前記記録層の上層に紫外
線硬化樹脂を含有する硬化被膜の保護層を含む構造の光
学的記録部材の製造工程において、フラッシュ発光を強
制的に停止させるための遮断回路を備えたフラッシュ露
光装置を初期化工程に適用することで、アモルファス相
−結晶相間の相変化型光学的情報記録媒体の初期化を高
速に行なうことが可能になり、同時に初期化に伴う熱的
なダメージを低減することが可能となった。この際、フ
ラッシュ発光のエネルギーを蓄積するコンデンサーから
の無駄な放電を抑制できるので、次の充電完了までの時
間を短縮でき、フラッシュ法による初期化工程のタクト
を短縮することが可能となった。
As described above, according to the present invention, a recording layer having a multi-layered structure including a recording thin film layer that causes a phase change between crystal and amorphous, and an ultraviolet curable resin on the recording layer are provided on a substrate. In the manufacturing process of the optical recording member having the structure including the protective layer of the cured film, the flash exposure device equipped with a shutoff circuit for forcibly stopping the flash emission is applied to the initialization process to obtain the amorphous phase. -The phase-change type optical information recording medium between crystal phases can be initialized at high speed, and at the same time, it is possible to reduce the thermal damage due to the initialization. At this time, it is possible to suppress wasteful discharge from the capacitor that accumulates the energy of flash emission, so that it is possible to shorten the time until the next charging is completed and shorten the tact of the initialization process by the flash method.

【0194】また、前記製造工程において、メインコン
デンサーの端子間電圧と印加電圧との差を所定の大きさ
以上に保持する回路を導入することで、フラッシュ発光
のエネルギーを蓄積するコンデンサーへの充電完了時間
を短くすることを可能とし、初期化工程に要する時間を
さらに短縮することが可能となった。
In the manufacturing process, a circuit for holding the difference between the voltage between the terminals of the main capacitor and the applied voltage at a predetermined value or more is introduced to complete the charging of the capacitor storing the energy of flash emission. It has become possible to shorten the time and further shorten the time required for the initialization process.

【0195】また、前記製造工程において、前記紫外線
硬化樹脂を含有する樹脂を塗布した後、前記光学的記録
部材の前記記録層及び前記保護層を設けた基板面と対向
する基板面に、矯正力を加えつつ紫外光線の照射を行な
うことで、フラッシュ初期化工程で生起する反りや歪を
予め防止することが可能となった。
In addition, in the manufacturing process, after applying the resin containing the ultraviolet curable resin, a correction force is applied to the substrate surface of the optical recording member opposite to the substrate surface on which the recording layer and the protective layer are provided. By irradiating with ultraviolet rays while adding, it became possible to prevent warpage and distortion that occur in the flash initialization process in advance.

【0196】また、前記製造工程において、フラッシュ
初期結晶化工程を終了後、反りや歪の矯正工程を兼ねた
アニール工程を施し、反りや歪みを大幅に低減するとと
もに、前記保護層を完全硬化することが可能となり、サ
ーボ特性の向上、保護層の信頼性を向上、製造歩留まり
の向上が可能となった。
In the manufacturing process, after the flash initial crystallization process is completed, an annealing process that also serves as a warping or distortion correcting process is performed to significantly reduce the warping or distortion and to completely cure the protective layer. It has become possible to improve the servo characteristics, the reliability of the protective layer, and the manufacturing yield.

【0197】また、前記製造工程において、光記録媒体
の紫外線透過率を3%以上とすることによって、フラッ
シュ初期化に適した構成である両面型構成の製造工程数
を低減し、生産効率を向上させることが可能となった。
Further, in the above manufacturing process, by setting the ultraviolet transmittance of the optical recording medium to 3% or more, the number of manufacturing steps of the double-sided structure suitable for flash initialization is reduced, and the production efficiency is improved. It became possible to do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の初期化方法に適用される遮断回路を備
えた初期化装置の1実施例における主要な構成を示す図
FIG. 1 is a diagram showing a main configuration in one embodiment of an initialization device having a cutoff circuit applied to an initialization method of the present invention.

【図2】本発明の初期化装置に用いる遮断回路部10の
動作原理を説明する図
FIG. 2 is a diagram for explaining the operation principle of the interruption circuit unit 10 used in the initialization device of the present invention.

【図3】本発明のフラッシュ初期化装置におけるフラッ
シュ光の発光波形をオシロスコープで観測した結果を示
す図 A 本発明の遮断回路を用いずに放電発光させた場合の
発光波形図 B 本発明の遮断回路を発光開始後2msで作動させた
場合の発光波形図 C 本発明の遮断回路を発光開始後1msで作動させた
場合の発光波形図 D 本発明の遮断回路を発光開始後0.5msで作動さ
せた場合の発光波形図
FIG. 3 is a diagram showing a result of observing a light emission waveform of flash light with an oscilloscope in the flash initialization device of the present invention. A A light emission waveform diagram in the case of discharge light emission without using the interruption circuit of the present invention B The interruption of the present invention Light emission waveform diagram when the circuit is activated 2 ms after the start of light emission C Light emission waveform diagram when the circuit of the present invention is activated 1 ms after the start of light emission D The interruption circuit of the present invention is activated 0.5 ms after the start of light emission Waveform diagram of light emission

【図4】本発明の初期化方法を適用して初期結晶化処理
を行う光ディスク媒体の構成の1例を示す断面図 A 徐冷構成の1例を示す断面図 B 急冷構成の1例を示す断面図
FIG. 4 is a cross-sectional view showing an example of the configuration of an optical disk medium which is subjected to an initial crystallization treatment by applying the initialization method of the present invention. A A cross-sectional view showing an example of a slow cooling configuration B B An example of a rapid cooling configuration Cross section

【図5】本発明の初期化装置の1実施例で、充電時間を
短縮するための機能を付加した構成
FIG. 5 is a configuration of an initialization device according to an embodiment of the present invention, in which a function for shortening charging time is added.

【図6】本発明の初期化装置の1実施例で、フラッシュ
ランプの発光エネルギーを蓄積するためのメインコンデ
ンサーを充電する際の、充電時間と充電電圧との関係を
示す図
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a charging time and a charging voltage when the main capacitor for storing the light emission energy of the flash lamp is charged in one embodiment of the initialization device of the present invention.

【図7】従来の初期化装置における回路構成を説明する
ための図
FIG. 7 is a diagram for explaining a circuit configuration in a conventional initialization device.

【図8】従来の初期化装置におけるメインコンデンサー
への充電時間と充電電圧の過程を説明するための図
FIG. 8 is a diagram for explaining a process of charging time and charging voltage to a main capacitor in a conventional initialization device.

【図9】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の一実
施例の工程図
FIG. 9 is a process drawing of an example of a method for manufacturing an optical information recording medium of the present invention.

【図10】相変化記録媒体の構成例の断面構成を示す図 A 単板構造のディスク構成の場合の断面図 B ホットメルト接着剤を用いた、従来の両面構造ディ
スク構成の場合の断面図
FIG. 10 is a diagram showing a cross-sectional configuration of a configuration example of a phase-change recording medium. A A cross-sectional diagram in the case of a disc structure having a single-plate structure.

【図11】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の1
実施例において、ディスク固定治具を用いてアニールを
行なう工程例を示す図 (A)内周部を固定する場合の構成例 (B)外周部を固定する場合の構成例 (C)内周部と外周部をそれぞれ別個に固定する場合の
構成例 (D)アニール工程前とは逆方向の反りを有するように
固定する場合の構成例
FIG. 11 is a first method of manufacturing an optical information recording medium of the present invention.
FIG. 4 is a diagram showing an example of a process of performing annealing using a disk fixing jig in the embodiment. (A) Configuration example in which the inner peripheral portion is fixed (B) Configuration example in which the outer peripheral portion is fixed (C) Inner peripheral portion And an example of the structure in which the outer peripheral portion is fixed separately (D) A structure in the case of fixing so as to have a warp in the opposite direction to that before the annealing step

【図12】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の1
実施例において、ディスク固定治具を用いて多数のディ
スクを一度にアニールする方法例を示す構成図
FIG. 12 is a first method of manufacturing an optical information recording medium of the present invention.
Configuration diagram showing an example of a method for annealing a large number of discs at once using a disc fixing jig in Examples

【図13】本発明で適用した反り角の計測方法を説明す
る図
FIG. 13 is a diagram for explaining a warp angle measuring method applied in the present invention.

【図14】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の製
造工程中で、フラッシュ初期化に用いる放電回路の一実
施例を示す回路図
FIG. 14 is a circuit diagram showing an embodiment of a discharge circuit used for flash initialization in the manufacturing process of the method for manufacturing an optical information recording medium of the present invention.

【図15】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の製
造工程中で、基板面が凹面になるように矯正しつつフラ
ッシュ照射を行なう一実施例の工程図
FIG. 15 is a process diagram of an example in which flash irradiation is performed while correcting the substrate surface to be a concave surface in the manufacturing process of the method for manufacturing an optical information recording medium of the present invention.

【図16】本発明の光学的情報記録媒体の製造方法の製
造工程中で、アニール工程を赤外線ランプを用いて行な
う一実施例の概略構成図
FIG. 16 is a schematic configuration diagram of an example in which an annealing step is performed using an infrared lamp in the manufacturing process of the method for manufacturing an optical information recording medium of the present invention.

【図17】紫外線硬化樹脂を接着層に用いて構成した、
本発明の両面型光学的情報記録媒体の一実施例の構成を
示す断面図
FIG. 17 is a diagram in which an ultraviolet curable resin is used for the adhesive layer,
Sectional drawing which shows the structure of one Example of the double-sided optical information recording medium of this invention.

【図18】本発明の両面型光学的情報記録媒体の製造工
程の一実施例を示す概略工程図 (1)透明基板を対向させる工程図 (2)紫外線硬化樹脂を注入する工程図 (3)紫外線硬化樹脂を均一に塗布する工程図 (4)紫外線照射の工程図
FIG. 18 is a schematic process diagram showing an embodiment of a process for manufacturing the double-sided optical information recording medium of the present invention (1) Process diagram of facing transparent substrates (2) Process diagram of injecting UV curable resin (3) Process drawing for uniformly applying UV curable resin (4) Process drawing for UV irradiation

【符号の説明】 1 記録薄膜層 2 基板 3 光学的情報記録媒体 4 フラッシュ光線 5 スイッチ回路部 6 支持台 7 フラッシュ光源 8 蓄積回路部 9 トリガー回路部 10 遮断回路部 11 反射板 12 電源 13 トリガー電極 14 下引き誘電体層 15 上引き誘電体層 16 反射層 17 保護層 18 光記録媒体 19 支持台 20 フラッシュランプ 21 メインコンデンサ 22 電圧計 23 電源 24 設定回路 25 切り換えスイッチ 26 リレー 27 トリガーコイル 28 トリガーコンデンサー 29 制御手段 30 充電抵抗 31 フラッシュランプ 32 メインコンデンサー 33 電源 34 トリガーコイル 35 放電スイッチ 36 切り換えスイッチ 37 抵抗 38 光学的情報記録媒体 39 光学的情報記録媒体 40 基板 41 第1の誘電体層 42 記録薄膜層 43 第2の誘電体層 44 反射層 45 保護層 47 基板面 48 保護層面 49 接着剤(ホットメルト) 50 平坦な面 51 銅板 52 ディスク媒体 53 ネジ 54 内周部 55 外周部 56 台 57 ネジ 58 台 59 オモリ 60 矯正力 61 紫外光線 62 赤外線ランプ 63 赤外光線 64 透明基板 65 第1の誘電体層 66 記録薄膜層 67 第2の誘電体層 68 金属反射層 69 接着層(紫外線硬化樹脂層) 70 光学的記録部材 71 透明基板 72 透明基板 73 薄膜 74 薄膜 75 紫外線硬化樹脂 76 紫外線[Explanation of reference numerals] 1 recording thin film layer 2 substrate 3 optical information recording medium 4 flash light beam 5 switch circuit section 6 support base 7 flash light source 8 storage circuit section 9 trigger circuit section 10 cutoff circuit section 11 reflector plate 12 power supply 13 trigger electrode 14 Undercoat Dielectric Layer 15 Overcoat Dielectric Layer 16 Reflective Layer 17 Protective Layer 18 Optical Recording Medium 19 Support 20 Flash Lamp 21 Main Capacitor 22 Voltmeter 23 Power Supply 24 Setting Circuit 25 Changeover Switch 26 Relay 27 Trigger Coil 28 Trigger Capacitor 29 control means 30 charging resistance 31 flash lamp 32 main condenser 33 power supply 34 trigger coil 35 discharge switch 36 changeover switch 37 resistance 38 optical information recording medium 39 optical information recording medium 40 substrate 41 first dielectric layer 42 recording thin film layer 43 second dielectric layer 44 reflection layer 45 protective layer 47 substrate surface 48 protective layer surface 49 adhesive (hot melt) 50 flat surface 51 copper plate 52 disk medium 53 screw 54 inner peripheral portion 55 outer peripheral portion 56 units 57 screws 58 units 59 weight 60 correction force 61 ultraviolet ray 62 infrared lamp 63 infrared ray 64 transparent substrate 65 first dielectric layer 66 recording thin film layer 67 second dielectric layer 68 metal reflective layer 69 adhesive layer (UV curing) Resin layer) 70 Optical recording member 71 Transparent substrate 72 Transparent substrate 73 Thin film 74 Thin film 75 UV curable resin 76 UV light

フロントページの続き (31)優先権主張番号 特願平6−233830 (32)優先日 平6(1994)9月28日 (33)優先権主張国 日本(JP) (31)優先権主張番号 特願平6−236748 (32)優先日 平6(1994)9月30日 (33)優先権主張国 日本(JP)Continuation of front page (31) Priority claim number Japanese Patent Application No. 6-233830 (32) Priority date Hei 6 (1994) September 28 (33) Priority claiming country Japan (JP) (31) Priority claim number Special Heihei 6-236748 (32) Priority date Hei 6 (1994) September 30 (33) Priority claiming country Japan (JP)

Claims (36)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 結晶−アモルファス間の相変化を生じる
記録薄膜層を基板上に備えた光学的情報記録媒体にフラ
ッシュ光を照射し、上記記録薄膜の所定の部分を一括し
て初期状態である結晶状態に転換する方法であって、 上記光学的情報記録媒体を所定の位置に支持する工程
と、 フラッシュ光源に供給する電気エネルギーを蓄積回路部
に充電する工程と、 上記フラッシュ光源にトリガーをかけて発光を開始させ
る工程と、 上記発光を所定の時間継続させた後、上記フラッシュ光
源に接続された遮断回路部を作動させ、上記放電を強制
的に瞬時に終了させて発光強度を実質的にゼロレベルま
で降下させる工程とを備えている光学的情報記録媒体の
初期化方法。
1. An optical information recording medium having a recording thin film layer that causes a phase change between crystal and amorphous on a substrate is irradiated with flash light, and a predetermined portion of the recording thin film is collectively in an initial state. A method of converting to a crystalline state, the step of supporting the optical information recording medium at a predetermined position, the step of charging the storage circuit section with electric energy supplied to the flash light source, and the trigger of the flash light source. Starting the light emission, and after continuing the light emission for a predetermined time, the cutoff circuit unit connected to the flash light source is activated to forcibly and instantaneously end the discharge to substantially reduce the light emission intensity. And a step of lowering the optical information recording medium to a zero level.
【請求項2】 放電時間を最大2ミリ秒とした請求項1
に記載の光学的情報記録媒体の初期化方法。
2. The discharge time is set to a maximum of 2 milliseconds.
The method for initializing the optical information recording medium according to 1.
【請求項3】 記録薄膜層をGe−Sb−Te合金を主
成分とする薄膜とした請求項1に記載の光学的情報記録
媒体の初期化方法。
3. The method for initializing an optical information recording medium according to claim 1, wherein the recording thin film layer is a thin film containing a Ge—Sb—Te alloy as a main component.
【請求項4】 結晶−アモルファス間の相変化を生じる
記録薄膜層を基板上に備えた光学的情報記録媒体にフラ
ッシュ光を照射し、上記記録薄膜の所定の部分を一括し
て初期状態である結晶状態に転換する装置であって、 上記光学的記録媒体を支持する台部と、 放電によりフラッシュ光を放出する光源と、 上記光源に供給する電気エネルギーを蓄積しておく蓄積
回路部と、 上記光源の放電を開始させるためのトリガー回路部と、 上記放電を所定の発光時間後に強制的に中断し、発光の
強度を所定の強度から実効的にゼロレベルにまで瞬時に
低減させる遮断回路部とを備えた光学的情報記録媒体の
初期化装置。
4. An optical information recording medium having a recording thin film layer that causes a phase change between crystal and amorphous on a substrate is irradiated with flash light, and a predetermined portion of the recording thin film is collectively in an initial state. An apparatus for converting to a crystalline state, comprising: a base portion for supporting the optical recording medium; a light source for emitting flash light by discharge; a storage circuit portion for storing electric energy supplied to the light source; A trigger circuit unit for starting discharge of the light source, and a shutoff circuit unit for forcibly interrupting the discharge after a predetermined light emission time and instantaneously reducing the intensity of light emission from the predetermined intensity to an effective zero level. A device for initializing an optical information recording medium, comprising:
【請求項5】 結晶状態とアモルファス状態との間で相
変化を生じる記録薄膜を基板上に備えた光学的記録媒体
にフラッシュ光を照射し、前記記録薄膜の所定の領域を
一括して初期状態の結晶状態に転換する装置であって、 前記光学的記録媒体を支持する手段と、 放電によりフラッシュ光を照射する光源と、 この光源に供給するエネルギーを蓄積しておく蓄積手段
と、 この蓄積手段にエネルギーを送る供給手段と、 前記光源の放電を開始させるための放電開始手段と、 前記蓄積手段には蓄積されたエネルギー量を検出する蓄
積量検出手段と、 前記供給手段にはエネルギーを供給する量を設定する供
給量設定手段と、 前記蓄積量検出手段で検出した検出量に応じて、前記供
給量設定手段で設定する供給量を前記蓄積手段のエネル
ギーの到達量または到達量の規定値のいずれかよりも大
きくなるように前記供給手段を制御し、前記蓄積手段の
エネルギー量が所定の値に到達した時に、前記供給手段
から前記蓄積手段へのエネルギーの供給を遮断する切り
換え手段により遮断し、放電開始手段により光源を発光
させるように制御する制御手段とを備えている光学的記
録媒体の初期化装置。
5. An optical recording medium provided with a recording thin film which causes a phase change between a crystalline state and an amorphous state on a substrate is irradiated with flash light, and a predetermined region of the recording thin film is collectively initialized. Is a device for converting to the crystalline state, a means for supporting the optical recording medium, a light source for irradiating flash light by discharge, a storage means for storing energy to be supplied to the light source, and a storage means. Supplying means for sending energy to the storage means, discharge starting means for starting discharge of the light source, accumulated amount detecting means for detecting the amount of energy accumulated in the accumulating means, and supplying energy for the supplying means. The supply amount setting means for setting the amount, and the supply amount set by the supply amount setting means according to the detected amount detected by the accumulated amount detecting means reaches the energy of the accumulating means. Alternatively, the supply means is controlled so as to be larger than one of the specified values of the reached amount, and when the energy amount of the storage means reaches a predetermined value, the supply of energy from the supply means to the storage means is performed. An initialization device for an optical recording medium, comprising: a switching means for shutting off, and a control means for controlling the light source to emit light by a discharge starting means.
【請求項6】 供給手段のエネルギー供給量および蓄積
手段のエネルギー蓄積量を電圧値で検知し、前記蓄積手
段の蓄積完了時の電圧値よりも、前記供給手段の電圧値
の方を高くする請求項5に記載の光学的記録媒体の初期
化装置。
6. A voltage value of the energy supply amount of the supply means and an energy storage amount of the storage means is detected, and the voltage value of the supply means is made higher than the voltage value at the time of completion of the storage of the storage means. Item 6. An optical recording medium initialization device according to item 5.
【請求項7】 供給手段のエネルギー供給量および蓄積
手段のエネルギー蓄積量を電圧値で検知し、前記供給手
段の電圧値と前記蓄積手段の到達電圧値との差がほぼ一
定である請求項5に記載の光学的記録媒体の初期化装
置。
7. The energy supply amount of the supply means and the energy storage amount of the storage means are detected by voltage values, and the difference between the voltage value of the supply means and the reached voltage value of the storage means is substantially constant. An optical recording medium initialization device according to item 1.
【請求項8】 基板上に、結晶−アモルファス間の相変
化を生じる記録薄膜層を含む多層構成の記録層と、前記
記録層の上層に紫外線硬化樹脂を含有する硬化被膜の保
護層を含む構造の光学的記録部材の製造方法であって、 前記紫外線硬化樹脂膜を設けた後、前記光学的記録部材
の前記記録層及び前記保護層を設けた基板面と対向する
基板面に、矯正力を加えつつ紫外光線の照射を行なう紫
外線照射工程と、 前記紫外線照射工程終了後に行う初期結晶化工程とを備
えている光学的情報記録媒体の製造方法。
8. A structure including a recording layer having a multilayer structure including a recording thin film layer that causes a phase change between crystal and amorphous on a substrate, and a protective layer of a cured film containing an ultraviolet curing resin on the recording layer. A method of manufacturing an optical recording member of, wherein after providing the ultraviolet curing resin film, a correction force is applied to a substrate surface facing the substrate surface provided with the recording layer and the protective layer of the optical recording member. A method of manufacturing an optical information recording medium, which further comprises an ultraviolet irradiation step of irradiating an ultraviolet ray while additionally performing an initial crystallization step performed after the completion of the ultraviolet irradiation step.
【請求項9】 紫外光照射工程と初期化工程との間に、
光学的記録媒体を加熱するアニール工程を行う請求項8
に記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
9. Between the ultraviolet light irradiation step and the initialization step,
9. An annealing step of heating an optical recording medium is performed.
A method for manufacturing the optical information recording medium according to 1.
【請求項10】 アニール工程を、矯正力を印加した状
態で行う請求項9に記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
10. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 9, wherein the annealing step is performed in a state where a correction force is applied.
【請求項11】 アニール工程の熱源が、赤外光ランプ
の照射である請求項9または10に記載の光学的情報記
録媒体の製造方法。
11. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 9, wherein the heat source in the annealing step is irradiation with an infrared lamp.
【請求項12】 初期化工程を、矯正力を加えた状態で
行う請求項8に記載の光学的情法記録媒体の製造方法。
12. The method of manufacturing an optical information recording medium according to claim 8, wherein the initialization step is performed in a state where a correction force is applied.
【請求項13】 初期化工程を、フラッシュ光照射によ
り行う請求項8、9又は12記載の光学的情報記録媒体
の製造方法。
13. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 8, 9 or 12, wherein the initialization step is performed by flash light irradiation.
【請求項14】 基板上に、結晶−アモルファス間の相
変化を生じる記録薄膜層を備え、かつ最上層に紫外線硬
化樹脂を含む硬化性樹脂を硬化させた保護層を具備した
光学的情報記録媒体の製造方法であって、初期結晶化工
程を終了後、アニール工程を施し前記保護層を完全硬化
することを特徴とする光学的情報記録媒体の製造方法。
14. An optical information recording medium comprising a recording thin film layer for causing a phase change between crystal and amorphous on a substrate, and a protective layer formed by curing a curable resin containing an ultraviolet curable resin on the uppermost layer. The method for manufacturing an optical information recording medium, wherein the protective layer is completely cured by performing an annealing step after the completion of the initial crystallization step.
【請求項15】 光学的情報記録媒体が、基板の上に第
1の誘電体層、記録薄膜層、第2の誘電体層、反射層を
積層し、最上層に保護層を設けて構成されている請求項
14に記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
15. An optical information recording medium is constituted by laminating a first dielectric layer, a recording thin film layer, a second dielectric layer and a reflective layer on a substrate, and providing a protective layer on the uppermost layer. 15. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 14, wherein.
【請求項16】 記録薄膜層がGe−Sb−Teを主成
分とする合金薄膜である請求項14又は15に記載の光
学的情報記録媒体の製造方法。
16. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 14, wherein the recording thin film layer is an alloy thin film containing Ge—Sb—Te as a main component.
【請求項17】 アニール工程において、光学的情報記
録媒体を反りのない状態に矯正する処理、又は反りを矯
正する方向に外力を与える処理を行う請求項14に記載
の光学的情報記録媒体の製造方法。
17. The manufacturing of an optical information recording medium according to claim 14, wherein in the annealing step, a process of correcting the optical information recording medium to a warp-free state or a process of applying an external force in a direction of correcting the warp is performed. Method.
【請求項18】 アニール工程において、ディスク形状
を有する光学的情報記録媒体の外径より少し小さい径の
穴を有する台の上に前記光学的情報記録媒体の外周部が
支持されるように、かつ、前記光学的情報記録媒体の中
心と前記穴との中心とを合わせた状態で、前記光学的情
報記録媒体の凸面が上になるように前記光学的情報記録
媒体を保持し、前記光学的情報記録媒体が逆向きに凸、
または平坦になるように、前記光学的情報記録媒体のセ
ンター部に加重し、又はセンター部を固定する請求項1
4又は17に記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
18. In the annealing step, the outer peripheral portion of the optical information recording medium is supported on a stand having a hole having a diameter slightly smaller than the outer diameter of the optical information recording medium having a disk shape, and In the state where the center of the optical information recording medium is aligned with the center of the hole, the optical information recording medium is held so that the convex surface of the optical information recording medium faces upward, and the optical information The recording medium is convex in the opposite direction,
Alternatively, the center portion of the optical information recording medium is weighted or fixed so as to be flat.
The method for manufacturing an optical information recording medium according to 4 or 17.
【請求項19】 アニール工程で矯正処理を行い、基板
面または保護層面の少なくとも何れか一方の面を、平滑
な面上に伏せた状態に放置する請求項14又は17に記
載の光学的情報記録媒体の製造方法。
19. The optical information recording according to claim 14 or 17, wherein a straightening treatment is performed in the annealing step, and at least one of the substrate surface and the protective layer surface is left in a state of lying on a smooth surface. Medium manufacturing method.
【請求項20】 アニール工程で矯正処理を行い、基板
面又は保護層面の最内周部又は最外周部の少なくとも何
れか1つを、平坦な面を有する物体に押さえつける請求
項14又は17に記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
20. A straightening process is performed in the annealing step, and at least one of the innermost peripheral portion and the outermost peripheral portion of the substrate surface or the protective layer surface is pressed against an object having a flat surface. Of manufacturing the optical information recording medium of.
【請求項21】 平坦な面が、アニール工程の温度以上
の耐熱性を有する物体の一面であり、予め所定の温度に
加熱した前記物体の平坦面上に光学的情報記録媒体を置
く請求項14、19又は20に記載の光学的情報記録媒
体の製造方法。
21. The flat surface is one surface of an object having heat resistance equal to or higher than the temperature of the annealing step, and the optical information recording medium is placed on the flat surface of the object previously heated to a predetermined temperature. 21. A method for manufacturing an optical information recording medium according to item 19 or 20.
【請求項22】 アニール工程で矯正処理を行い、単板
構造の光学的情報記録媒体を複数枚積み重ねた状態で、
両側から力を加える請求項14、17又は20に記載の
光学的情報記録媒体の製造方法。
22. In a state where a plurality of optical information recording media having a single plate structure are stacked by performing a straightening process in an annealing process,
The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 14, 17 or 20, wherein a force is applied from both sides.
【請求項23】 アニール工程の温度が記録薄膜層の相
変化が発生する温度以下である請求項14又は17〜2
2のいずれか1項に記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
23. The annealing step is performed at a temperature not higher than a temperature at which a phase change of the recording thin film layer occurs.
Item 3. The method for producing an optical information recording medium according to any one of items 2.
【請求項24】 アニール工程の温度が100℃以下で
ある請求項23に記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
24. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 23, wherein the temperature of the annealing step is 100 ° C. or lower.
【請求項25】 初期結晶化工程をフラッシュ露光によ
り行う請求項14に記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
25. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 14, wherein the initial crystallization step is performed by flash exposure.
【請求項26】 レーザ光線の照射によって光学的に検
出可能な変化を生じる記録薄膜層及び金属反射層を含む
多層構造膜を透明基板上に備えた光学的記録部材を2枚
貼り合わせた光学的情報記録媒体であって、前記2枚の
光学的情報記録部材を、前記多層構造膜が内側になるよ
う対向させ、紫外線に感応して硬化する成分を含有する
樹脂を介して前記2枚の光学的情報記録部材を貼り合わ
せ、前記2枚の光学的記録部材のうちの少なくとも一方
が、前記樹脂の紫外線感応波長域において略3%以上の
透過率を有することを特徴とする光学的情報記録媒体。
26. An optical system in which two optical recording members each having a multi-layered film including a recording thin film layer and a metal reflection layer, which produce an optically detectable change upon irradiation with a laser beam, are attached on a transparent substrate. In the information recording medium, the two optical information recording members are made to face each other with the multilayer structure film inside, and the two optical information recording members are interposed via a resin containing a component that cures in response to ultraviolet rays. Optical information recording member, at least one of the two optical recording members has a transmittance of approximately 3% or more in the ultraviolet sensitive wavelength range of the resin. .
【請求項27】 前記記録薄膜層は、アモルファス相−
結晶相間の相変化現象に伴う光学的特性の変化を利用す
るものであり、前記2枚の光学的記録部材のうちの少な
くとも一方の記録薄膜層がアモルファス状態の場合に
は、樹脂の紫外線感応波長域において略3%以上の透過
率を有する請求項26に記載の光学的情報記録媒体。
27. The recording thin film layer comprises an amorphous phase-
It utilizes the change in optical characteristics due to the phase change phenomenon between crystal phases, and when at least one recording thin film layer of the two optical recording members is in an amorphous state, the ultraviolet sensitive wavelength of the resin 27. The optical information recording medium according to claim 26, which has a transmittance of about 3% or more in the range.
【請求項28】 金属反射層が、Auを主成分とする合
金Au100-xx(Mは金属元素、100>x≧0)であ
る請求項26に記載の光学的情報記録媒体。
28. The optical information recording medium according to claim 26, wherein the metal reflection layer is an alloy Au 100-x M x (M is a metal element, 100> x ≧ 0) containing Au as a main component.
【請求項29】 透明基板上に、レーザ光線の照射によ
って光学的に検出可能な変化を生じる記録薄膜層及び金
属反射層を含む多層構造膜を備えてなる2枚の光学的記
録部材を、紫外線感応硬化成分を含有する樹脂を用いて
貼り合わせる工程を有する製造方法であって、 前記2枚の光学的記録部材の少なくとも一方の前記多層
構造膜について、前記樹脂の紫外線感応波長域において
略3%以上の透過率を有する膜を形成する成膜工程と、 前記2枚の光学的記録部材を互いに前記多層構造膜の形
成された面が向かい合うように配置する配置工程と、 前記対向する多層構造膜間のスペースに前記樹脂を充填
する充填工程と、 紫外光の露光により前記樹脂を硬化させる露光工程とを
備えている光学的情報記録媒体の製造方法。
29. Two optical recording members comprising a transparent substrate and a multi-layer structure film including a recording thin film layer and a metal reflection layer which produce a change optically detectable by irradiation of a laser beam, A manufacturing method comprising a step of laminating using a resin containing a sensitive curing component, wherein the multilayer structure film of at least one of the two optical recording members is approximately 3% in an ultraviolet sensitive wavelength range of the resin. A film forming step of forming a film having the above-mentioned transmittance, an arranging step of arranging the two optical recording members so that surfaces on which the multilayer structure film is formed face each other, and the facing multilayer structure film. A method of manufacturing an optical information recording medium, comprising: a filling step of filling the space with the resin; and an exposure step of curing the resin by exposure to ultraviolet light.
【請求項30】 前記露光を光学的記録部材の両側の面
から行う請求項29記載の光学的情報記録媒体の製造方
法。
30. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 29, wherein the exposure is performed from both sides of the optical recording member.
【請求項31】 露光工程の後、光学的情報記録媒体に
エネルギー線を照射して初期化を行う請求項29又は3
0に記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
31. The optical information recording medium is irradiated with energy rays for initialization after the exposure step.
0. The method for manufacturing the optical information recording medium described in 0.
【請求項32】 前記エネルギー線がレーザービームで
ある請求項31記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
32. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 31, wherein the energy beam is a laser beam.
【請求項33】 前記エネルギー線がフラッシュ光であ
る請求項31記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
33. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 31, wherein the energy beam is flash light.
【請求項34】 前記2枚の光学的記録部材のうちの少
なくとも一方が再生専用タイプである請求項26に記載
の光学的情報記録媒体。
34. The optical information recording medium according to claim 26, wherein at least one of the two optical recording members is a read-only type.
【請求項35】 前記2枚の光学的記録部材のうちの少
なくとも一方が再生専用タイプであることを特徴とする
請求項29に記載の光学的情報記録媒体の製造方法。
35. The method for manufacturing an optical information recording medium according to claim 29, wherein at least one of the two optical recording members is a read-only type.
【請求項36】 請求項8記載の製造方法において、前
記光学的情報記録媒体を、それ自身の重みで反りが矯正
されるような向きに配置して紫外線の照射を行う光学的
情報記録媒体の製造方法。
36. The optical information recording medium according to claim 8, wherein the optical information recording medium is arranged in a direction such that the warp is corrected by its own weight and the ultraviolet ray is irradiated. Production method.
JP7246211A 1994-09-27 1995-09-25 Production of optical information recording medium and production apparatus Pending JPH08153343A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7246211A JPH08153343A (en) 1994-09-27 1995-09-25 Production of optical information recording medium and production apparatus

Applications Claiming Priority (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23103594 1994-09-27
JP23383094 1994-09-28
JP23289694 1994-09-28
JP23382994 1994-09-28
JP6-236748 1994-09-30
JP23674894 1994-09-30
JP6-231035 1994-09-30
JP6-233829 1994-09-30
JP6-232896 1994-09-30
JP6-233830 1994-09-30
JP7246211A JPH08153343A (en) 1994-09-27 1995-09-25 Production of optical information recording medium and production apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08153343A true JPH08153343A (en) 1996-06-11

Family

ID=27554050

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7246211A Pending JPH08153343A (en) 1994-09-27 1995-09-25 Production of optical information recording medium and production apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08153343A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6256286B1 (en) 1997-02-21 2001-07-03 Nec Corporation Method for initiating a phase change recording medium
JP2003515232A (en) * 1999-11-16 2003-04-22 ポラロイド コーポレイション System and method for initializing a phase change recording medium
JP2005251377A (en) * 2004-02-03 2005-09-15 Ricoh Co Ltd Lamination correction stage capable of receiving inner and outer periphery and changing peripheral level difference
JP2012226893A (en) * 2011-04-18 2012-11-15 Iwasaki Electric Co Ltd Flash light discharge lamp lighting device, light irradiator, and method of hardening photo-curing material by using flash light discharge lamp lighting device
TWI625582B (en) * 2016-10-31 2018-06-01 元太科技工業股份有限公司 Identifiable element, display device, method of manufacturing the same and method of forming a display pattern
US10657853B2 (en) 2016-10-31 2020-05-19 E Ink Holdings Inc. Identifiable element, display device, method of manufacturing the same, and method of forming a display pattern

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6256286B1 (en) 1997-02-21 2001-07-03 Nec Corporation Method for initiating a phase change recording medium
JP2003515232A (en) * 1999-11-16 2003-04-22 ポラロイド コーポレイション System and method for initializing a phase change recording medium
JP4886954B2 (en) * 1999-11-16 2012-02-29 センシン・キャピタル,リミテッド・ライアビリティ・カンパニー System and method for initializing a phase change recording medium
JP2005251377A (en) * 2004-02-03 2005-09-15 Ricoh Co Ltd Lamination correction stage capable of receiving inner and outer periphery and changing peripheral level difference
JP2012226893A (en) * 2011-04-18 2012-11-15 Iwasaki Electric Co Ltd Flash light discharge lamp lighting device, light irradiator, and method of hardening photo-curing material by using flash light discharge lamp lighting device
TWI625582B (en) * 2016-10-31 2018-06-01 元太科技工業股份有限公司 Identifiable element, display device, method of manufacturing the same and method of forming a display pattern
US10657853B2 (en) 2016-10-31 2020-05-19 E Ink Holdings Inc. Identifiable element, display device, method of manufacturing the same, and method of forming a display pattern

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100218211B1 (en) Manufacturing method and device of optical information recording media
JP3250989B2 (en) Optical information recording medium, recording / reproducing method thereof, manufacturing method thereof, and optical information recording / reproducing apparatus
EP1959445B1 (en) Information recording medium and method for manufacturing same
JPH1173692A (en) Optical recording medium and its production
JPH08153343A (en) Production of optical information recording medium and production apparatus
JP2005122872A (en) Two-layer phase-change type information recording medium and its recording and reproducing method
EP1683647A1 (en) Two-layer phase change information recording medium and recording method
EP0706179A2 (en) Production process of optical information recording medium and production apparatus therefor
JP2000215516A (en) Optical information recording medium and its production, recording and reproducing method for the same, and recording and reproducing device
JPH097224A (en) Recording member and recording method and recording device using the same member
JPH07109663B2 (en) Optical information recording / reproducing / erasing member and manufacturing method thereof
WO2003028021A1 (en) Optical recording medium and its recording system
EP2116386A1 (en) Information recording medium, process for producing the information recording medium, sputtering target, and film forming apparatus
JPH08329521A (en) Optical recording medium
JP3214183B2 (en) Optical information recording medium
JP2001084655A (en) Initialization method for optical information recording medium
JP2001273674A (en) Optical information recording medium, method for recording and reproducing the same, method for manufacturing that medium, and optical information recording and reproducing device
WO2003028022A1 (en) Optical recording medium
JPH11134723A (en) Method and device for initializing information recording medium
JP2004241046A (en) Phase change optical information recording medium and its manufacturing method
JPH06274934A (en) Information recording member and device
JP2002352474A (en) Optical recording medium and its manufacturing method
JPH0883443A (en) Production of optical information recording medium
JPH117656A (en) Optical information record medium
JPH04263133A (en) Information beam recording medium and recording/ reproducing

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20031209

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20040206

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20040312