JPH08152488A - Time measuring device - Google Patents
Time measuring deviceInfo
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- JPH08152488A JPH08152488A JP31766094A JP31766094A JPH08152488A JP H08152488 A JPH08152488 A JP H08152488A JP 31766094 A JP31766094 A JP 31766094A JP 31766094 A JP31766094 A JP 31766094A JP H08152488 A JPH08152488 A JP H08152488A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、時間測定装置、特に、
カウンタによりクロック信号を計数して、複数の事象発
生時点間の時間を測定する際に、これら事象発生時点で
ある時間測定開始時及び時間測定終了時の近傍にクロッ
ク信号が発生しても、クロック周期で決まる以上の分解
能で、時間測定開始時及び終了時の間の時間間隔を正確
に測定できる装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a time measuring device, in particular
When the clock signal is counted by the counter and the time between multiple event occurrence points is measured, even if the clock signal is generated near the time measurement start point and the time measurement end point, which are the event occurrence points, the clock signal is generated. The present invention relates to an apparatus capable of accurately measuring a time interval between the start time and the end time of time measurement with a resolution higher than that determined by the cycle.
【0002】[0002]
【従来の技術】連続的な事象が生じる時間間隔、即ち、
時間測定開始時及び時間測定終了時の間の時間をデジタ
ル的に測定するには、クロック信号及びカウンタを用い
ている。この時間測定においては、先ず、測定開始前に
カウンタをゼロにリセットし(ゼロをカウンタにロード
し)、時間測定開始時及び時間測定終了時の間に発生す
るクロック信号のクロック数を計数する。この計数値と
クロック周期とを乗算することにより、測定開始時及び
終了時の間の時間が求まる。2. Description of the Related Art The time interval between successive events, that is,
A clock signal and a counter are used to digitally measure the time between the start of time measurement and the end of time measurement. In this time measurement, first, the counter is reset to zero (zero is loaded into the counter) before the measurement is started, and the number of clocks of the clock signal generated between the time measurement start and the time measurement end is counted. By multiplying this count value by the clock period, the time between the measurement start time and measurement end time can be obtained.
【0003】ところで、カウンタは、クロック信号の立
上り(又は立下り:以下、単に立上りという)で計数を
行う。また、一般的には、事象発生時点である被測定時
間の開始時及び終了時がクロック信号と同期しているこ
とがないので、これら時間測定開始時及び終了時がクロ
ック信号の立上りにほぼ一致することもない。この状態
を図2に示す。By the way, the counter counts at the rising edge (or falling edge: hereinafter simply referred to as rising edge) of the clock signal. In addition, in general, the start time and end time of the measured time, which is the time when the event occurs, are not synchronized with the clock signal, so the start time and end time of these time measurements almost coincide with the rising edge of the clock signal. There is nothing to do. This state is shown in FIG.
【0004】図2において、波形Aは、時間測定開始時
の時点T1から時間測定終了時の時点T4までの間が高
レベルのゲート信号を示し、波形Bは、クロック信号を
示す。なお、波形Aは、事象発生時に生じるパルスでフ
リップ・フロップをクロックすることにより発生でき
る。波形A及びBをアンド・ゲートに供給し、その出力
信号をカウンタが計数する。波形Cは、カウンタが計数
するクロック信号Bの立上り部分を示す。よって、カウ
ンタの計数値は、この場合、6となる。これは、時点T
2から時点T3までの時間が、(6ー1)×(クロック
周期)であることを表すが、カウンタの計数値のみから
では、時点T1及びT2間の時間と、時点T3及びT4
間の時間が不明である。よって、一般に、デジタル・カ
ウンタを用いた測定では、クロック周期で分解能が決ま
り、カウンタに計数値に+/−1の誤差が生じる。In FIG. 2, waveform A shows a high level gate signal from time T1 at the start of time measurement to time T4 at the end of time measurement, and waveform B shows a clock signal. It should be noted that the waveform A can be generated by clocking a flip-flop with a pulse generated when an event occurs. The waveforms A and B are supplied to the AND gate, and the output signal is counted by the counter. The waveform C shows the rising portion of the clock signal B counted by the counter. Therefore, the count value of the counter is 6 in this case. This is time T
The time from 2 to time T3 is (6-1) × (clock cycle), but only the count value of the counter indicates the time between time T1 and T2 and the time T3 and T4.
The time between is unknown. Therefore, in general, in the measurement using the digital counter, the resolution is determined by the clock cycle, and the counter has an error of +/− 1 in the count value.
【0005】最近、図2の時点T1及びT2間と、時点
T3及びT4間も測定できる種々の高分解能時間測定装
置が提案されている。第1の提案では、クロック信号周
期以上の期間にわたる傾斜波信号を発生させ、測定時間
開始時(時点T1)の傾斜波信号の振幅と、最初のクロ
ック信号発生時(時点T2)の傾斜信号の振幅との差を
求める。同様に、最後のクロック信号発生時(時点T
3)及び測定時間終了時(時点T4)の傾斜信号の振幅
差を求める。これら振幅差を時間、即ち、クロック信号
Bの位相に対応させて、時点T1及びT2間と、時点T
3及びT4間の時間を求めて、上述の誤差時間を補償し
ている。Recently, various high resolution time measuring devices have been proposed which can measure between time points T1 and T2 and between time points T3 and T4 of FIG. In the first proposal, a ramp signal is generated for a period equal to or longer than the clock signal period, and the amplitude of the ramp signal at the start of the measurement time (time T1) and the ramp signal at the time of the first clock signal generation (time T2) are calculated. Find the difference from the amplitude. Similarly, when the last clock signal is generated (time T
3) and the amplitude difference of the tilt signal at the end of the measurement time (time T4) is obtained. Corresponding these amplitude differences to time, that is, the phase of the clock signal B, between the time points T1 and T2 and the time point T
The time between 3 and T4 is determined to compensate for the above error time.
【0006】また、第2の高分解能測定の提案は、クロ
ック信号周期未満、例えば、その周期の10分の1の単
位で、周期の10分の1の時間から順次増加する遅延時
間の遅延回路を9個設け、クロック信号をこれら9個の
遅延回路に共通に供給する。よって、クロック信号の分
解能を等価的に10倍にできる。測定開始時及び終了時
が、どの遅延回路からの出力信号に近いかを判断するこ
とにより、上述と同様に時点T1及びT2間と、時点T
3及びT4間の時間を求めることができる。第3の提案
としては、本願出願人が提案している正弦波及び余弦波
を用いる方法があるが、これについては、本発明の実施
例の一部として詳細に後述する。A second high-resolution measurement proposal is a delay circuit having a delay time that is gradually increased from the time of one-tenth of the cycle in units of less than the clock signal cycle, for example, one-tenth of the cycle. Are provided, and the clock signal is commonly supplied to these nine delay circuits. Therefore, the resolution of the clock signal can be equivalently multiplied by 10. By determining which delay circuit is closer to the output signal at the start and end of the measurement, as described above, between the time points T1 and T2 and the time point T2.
The time between 3 and T4 can be determined. The third proposal is a method using a sine wave and a cosine wave proposed by the applicant of the present application, which will be described later in detail as a part of the embodiments of the present invention.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】このようにクロック信
号の立上り時点と、時間測定開始時及び終了時との間の
時間(クロック信号の位相に対応)を測定できるが、次
のような問題がある。すなわち、図3に示す如く、ゲー
ト波形Aの立上り時点(時間測定開始時)及び/又は立
下り時点(時間測定終了時)が、クロック信号Bの立上
り時点と一致、又はほぼ一致した場合、これら時点のク
ロック信号Bの立上り部分がアンド・ゲートを通過する
か否かが微妙になる。これは、アンド・ゲートのしきい
値をクロック信号Bが越すか越さないかや、わずかな時
間のずれや、しきい値の温度変動などにより微妙に変動
するためである。As described above, the time (corresponding to the phase of the clock signal) between the rising time of the clock signal and the start and end of the time measurement can be measured, but the following problems occur. is there. That is, as shown in FIG. 3, when the rising time (at the start of time measurement) and / or the falling time (at the end of time measurement) of the gate waveform A coincides with or almost coincides with the rising time of the clock signal B, these Whether or not the rising portion of the clock signal B at the time point passes through the AND gate becomes delicate. This is because the clock signal B exceeds or does not exceed the threshold value of the AND gate, a slight time lag, and a slight change in the threshold temperature change.
【0008】このような場合、時点T0及び/又は時点
T1において、カウンタによるクロック信号の計数が不
定になるため、高分解能時間測定を行って、時間測定開
始時及び終了時とクロック信号との時間差(位相差)を
求めても、これら時間差がクロック信号の最初及び最後
の計数時点との差か否かが不明となる。In such a case, at time T0 and / or time T1, the count of the clock signal by the counter becomes indefinite. Therefore, high-resolution time measurement is performed, and the time difference between the clock signal at the start and end of time measurement is measured. Even if the (phase difference) is obtained, it is unclear whether or not these time differences are the differences between the first and last counting times of the clock signal.
【0009】また、各事象が生じる時間間隔を連続的に
測定する装置では、カウンタがクロック信号を連続的に
計数し、事象が生じる度にカウンタの計数値をメモリに
記憶し、記憶された計数値の差及びクロック周期から時
間間隔を求めている。この装置でも上述と同様に、事象
が生じた時点(時間測定開始時及び終了時)とクロック
信号の立上り時点との差が計測できない。さらに、時間
測定開始時及び/又は時間測定終了時である事象発生時
点が、クロック信号の立上り時点と一致、又はほぼ一致
した場合、これら時点でカウンタがクロック信号を計数
したか否かが微妙になり、記憶手段に転送され記憶され
る計数値も不正確なものとなる。よって、求めた記憶値
の差も不正確である。Further, in the device for continuously measuring the time interval at which each event occurs, the counter continuously counts the clock signal, stores the count value of the counter in the memory each time the event occurs, and stores the stored value. The time interval is calculated from the numerical difference and the clock cycle. Also in this device, similarly to the above, the difference between the time at which an event occurs (at the start and end of time measurement) and the time at which the clock signal rises cannot be measured. Further, when the event occurrence time point at the time measurement start time and / or the time measurement end time coincides with or almost coincides with the rising time point of the clock signal, whether or not the counter has counted the clock signal is delicate at these points. Therefore, the count value transferred to and stored in the storage means becomes inaccurate. Therefore, the calculated difference in stored value is also inaccurate.
【0010】したがって、本発明の目的は、事象発生時
点である時間測定開始時及び終了時の少なくとも一方
が、クロック信号の計数部分(立上り又は立下り)とほ
ぼ一致して、その計数が不定であっても、時間測定開始
時及び終了時の間の時間を確実に測定できる時間測定装
置の提供にある。Therefore, it is an object of the present invention that at least one of the time measurement start time and the time measurement end time at which an event occurs coincides with the counting portion (rising or falling) of the clock signal, and the counting is indefinite. Even if there is, it is to provide a time measuring device capable of surely measuring the time between the start and end of the time measurement.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】本発明の時間測定装置で
は、カウンタ22は、クロック発生手段20が発生した
所定周波数のクロック信号を計数する。位相測定手段2
4〜30は、クロック信号の周期のM倍(Mは2より大
きい数)を1周期として時間測定開始時及び時間測定終
了時の位相を測定する。処理手段32は、時間測定開始
時及び終了時の間にカウンタが計数したクロック数、並
びに位相測定手段が測定した時間測定開始時及び終了時
の位相から、時間測定開始時及び測定終了時の間の時間
を求める。なお、この際、処理手段は、位相測定手段が
測定した時間測定開始時及び終了時の位相の差からカウ
ンタが計数したクロック数を補正すると共に、時間測定
開始時及び終了時の間の時間と補正したクロック数によ
る時間との差を求める。In the time measuring device of the present invention, the counter 22 counts the clock signal of the predetermined frequency generated by the clock generating means 20. Phase measuring means 2
4 to 30 measure the phase at the time measurement start time and the time measurement end time with M times (M is a number larger than 2) as the cycle of the clock signal as one cycle. The processing means 32 obtains the time between the time measurement start time and the measurement end time from the number of clocks counted by the counter between the time measurement start time and the time measurement end time and the phase at the time measurement start time and the time measurement end time measured by the phase measurement means. . At this time, the processing means corrects the number of clocks counted by the counter from the phase difference at the start and end of the time measurement measured by the phase measuring means, and also at the time between the start and end of the time measurement. Find the difference from the clock time.
【0012】[0012]
【実施例】以下、添付図を参照して、本発明の好適な実
施例を説明する。図1は、本発明の好適実施例のブロッ
ク図である。入力端子10を介して、事象信号をフリッ
プ・フロップ12のデータ端子D、並びにアナログ・デ
ジタル(A/D)変換器28及び30のサンプリング端
子に供給する。この事象信号は、事象が生じる度に発生
する短いパルス幅のパルス信号であり、このパルス信号
の立上り時点が事象発生時点である。本発明は、各事象
発生時点間の時間間隔を測定する装置である。クロック
発生器24は、周波数及び衝撃係数(デュティ・ファク
タ)が安定したクロック信号を発生し、フリップ・フロ
ップ12のクロック端子C、測定用カウンタ22のクロ
ック端子、及び正弦波発生器24に供給する。なお、ク
ロック信号の周波数は、事象信号のパルス間の時間間隔
を測定するのに必要な分解能で決まり、その周期は事象
信号のパルス幅よりも短い。また、カウンタ22のビッ
ト数は、測定する時間間隔の最大計測時間で決まる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a block diagram of a preferred embodiment of the present invention. Through the input terminal 10, the event signal is supplied to the data terminal D of the flip-flop 12 and the sampling terminals of the analog-digital (A / D) converters 28 and 30. This event signal is a pulse signal with a short pulse width that is generated each time an event occurs, and the rising time of this pulse signal is the event occurrence time. The present invention is an apparatus for measuring the time interval between the occurrence times of events. The clock generator 24 generates a clock signal whose frequency and duty factor are stable, and supplies the clock signal to the clock terminal C of the flip-flop 12, the clock terminal of the measuring counter 22, and the sine wave generator 24. . The frequency of the clock signal is determined by the resolution required to measure the time interval between the pulses of the event signal, and its period is shorter than the pulse width of the event signal. Further, the number of bits of the counter 22 is determined by the maximum measurement time of the measurement time intervals.
【0013】フリップ・フロップ12は、事象信号が発
生すると、即ち、事象信号が高レベルになると、クロッ
ク信号に同期して高レベルになるQ出力信号を発生す
る。このQ出力信号は、事象信号が低レベルに戻ると、
クロック信号に同期して低レベルになる。このQ出力信
号を、記憶手段であるメモリ14の書込み制御端子W
と、遅延回路16とに供給する。遅延回路16で微少時
間だけ遅延されたQ出力信号をアドレス・カウンタ18
のクロック端子に供給する。このアドレス・カウンタ1
8は、遅延されたQ出力信号を計数し、計数値をアドレ
ス信号としてメモリ14のアドレス端子Aに供給する。
一方、測定用カウンタ22は、クロック発生器20から
のクロック信号を計数して、その計数値をメモリ14の
第1データ端子D1に供給する。Flip-flop 12 produces a Q output signal which goes high in synchronization with the clock signal when an event signal is generated, ie when the event signal goes high. This Q output signal is
It goes low in synchronization with the clock signal. This Q output signal is transferred to the write control terminal W of the memory 14 which is a storage means.
And to the delay circuit 16. The Q output signal delayed by the delay circuit 16 for a minute time is supplied to the address counter 18
Supply to the clock terminal of. This address counter 1
8 counts the delayed Q output signal, and supplies the count value to the address terminal A of the memory 14 as an address signal.
On the other hand, the measurement counter 22 counts the clock signal from the clock generator 20 and supplies the count value to the first data terminal D1 of the memory 14.
【0014】正弦波発生器24は、周期がクロック発生
器20からのクロック信号周期の3倍の正弦波を発生す
る。なお、この正弦波の周期は、クロック周期の2倍よ
り長ければよいが、この実施例では3倍として説明す
る。かかる正弦波発生器24では、クロック信号を3分
の1に分周し、衝撃係数が50%のパルスを発生し、こ
のパルスをフィルタ処理して正弦波に変換する。移相回
路26は、正弦波発生器20からの正弦波信号の位相
を、+90度(若しくは−270度)又は−90度(若
しくは+270度)だけずらして、余弦波信号とする。
なお、この実施例では、−90度とする。移相回路26
は、フィルタ又は遅延回路で実現できる。この状態を図
6に示す。この図6において、波形Bはクロック発生器
20からのクロック信号であり、波形Dは正弦波発生器
24内部でクロック信号を3分の1に分周したパルス信
号であり、波形W1は正弦波発生器24からの正弦波で
あり、波形W2は移相回路26からの余弦波波形であ
る。The sine wave generator 24 generates a sine wave whose cycle is three times the cycle of the clock signal from the clock generator 20. The cycle of this sine wave may be longer than twice the clock cycle, but in this embodiment, it will be described as three times. The sine wave generator 24 divides the clock signal into ⅓, generates a pulse having an impact coefficient of 50%, and filters the pulse to convert it into a sine wave. The phase shift circuit 26 shifts the phase of the sine wave signal from the sine wave generator 20 by +90 degrees (or -270 degrees) or -90 degrees (or +270 degrees) to obtain a cosine wave signal.
In this embodiment, it is set to -90 degrees. Phase shift circuit 26
Can be realized by a filter or a delay circuit. This state is shown in FIG. In FIG. 6, a waveform B is a clock signal from the clock generator 20, a waveform D is a pulse signal obtained by dividing the clock signal into ⅓ in the sine wave generator 24, and a waveform W1 is a sine wave. The sine wave from the generator 24, and the waveform W2 is the cosine wave waveform from the phase shift circuit 26.
【0015】A/D変換器28は、正弦波発生器24か
らの正弦波信号を入力端子に受け、サンプリング端子に
供給された事象信号が発生する時点毎にこの正弦波信号
をサンプルして、デジタル信号に変換し、メモリ14の
第2データ端子D2に供給する。A/D変換器30は、
移相回路26からの余弦波信号を入力端子に受け、サン
プリング端子に供給された事象信号が発生する時点毎に
この余弦波信号をサンプルして、デジタル信号に変換
し、メモリ14の第3データ端子D3に供給する。これ
ら正弦波発生器24、移相回路26、A/D変換器28
及び30が、位相測定手段を構成する。The A / D converter 28 receives the sine wave signal from the sine wave generator 24 at its input terminal, samples this sine wave signal at each time when the event signal supplied to the sampling terminal is generated, It is converted into a digital signal and supplied to the second data terminal D2 of the memory 14. The A / D converter 30 is
The cosine wave signal from the phase shift circuit 26 is received at the input terminal, the cosine wave signal is sampled at every time when the event signal supplied to the sampling terminal is generated, converted into a digital signal, and stored in the third data of the memory 14. Supply to terminal D3. These sine wave generator 24, phase shift circuit 26, A / D converter 28
And 30 constitute the phase measuring means.
【0016】処理手段である処理回路32は、メモリ1
4に記憶されたカウンタ22の計数値、A/D変換器2
8及び30からのデジタルを受け、後述の処理を行っ
て、時間測定開始時及び終了時の間のカウンタ22のク
ロック計数値を補正する。さらに、この処理回路32
は、時間測定開始時及びその直後のクロック信号発生時
点間の時間と、時間測定終了時及びその直前のクロック
信号発生時点間の時間との和も求め、時間測定開始時及
び終了時の間の時間を正確に求める。この処理回路32
は、マイクロプロセッサ、プログラムを記憶したRO
M、一時記憶装置としてのRAMなどを含んでおり、そ
の処理結果を、表示器やプリントなどの出力装置36に
出力する。また、キーボードなどの入力装置34は、測
定開始などを指示する。The processing circuit 32, which is a processing means, includes a memory 1
4, the count value of the counter 22 stored in the A / D converter 2
The digital signals from 8 and 30 are received, and the processing described later is performed to correct the clock count value of the counter 22 between the time measurement start time and the time measurement end time. Further, this processing circuit 32
Is the sum of the time between the clock signal generation time point immediately after the time measurement start and the time point immediately after that, and the time between the clock signal generation time point immediately before and the time measurement end time, and the time between the time measurement start time and the time measurement end time is calculated. Accurately seek. This processing circuit 32
Is a microprocessor, RO that stores the program
M, a RAM as a temporary storage device, and the like are included, and the processing result is output to an output device 36 such as a display or a print. An input device 34 such as a keyboard gives an instruction to start measurement.
【0017】図4、図7〜図9は、本発明の第1実施例
の動作を説明する流れ図であり、かかる手順は処理回路
32内のROMに記憶されており、処理回路32内のマ
イクロプロセッサが処理を行う。図1の時間測定装置が
入力装置34の設定により測定モードになると、アドレ
ス・カウンタ18をゼロにリセットする。測定用カウン
タ22は、クロック発生器20からのクロック信号を計
数し、計数が最大値に達するとゼロに戻り、計数を繰り
返す。一方、A/D変換器28及び30は、周期がクロ
ック周期の3倍の正弦波信号及び余弦波信号を受ける。FIGS. 4 and 7 to 9 are flow charts for explaining the operation of the first embodiment of the present invention. Such a procedure is stored in the ROM in the processing circuit 32, and the micro-circuit in the processing circuit 32 is stored. The processor does the work. When the time measuring device of FIG. 1 is set to the measuring mode by setting the input device 34, the address counter 18 is reset to zero. The measurement counter 22 counts the clock signal from the clock generator 20, returns to zero when the count reaches the maximum value, and repeats counting. On the other hand, the A / D converters 28 and 30 receive a sine wave signal and a cosine wave signal whose period is three times the clock period.
【0018】入力端子10に事象信号の最初のパルスが
発生すると、A/D変換器28及び30は、その時点の
正弦波信号及び余弦波信号の振幅をサンプリングし、デ
ジタル値に変換する。その直後のクロック信号によりメ
モリ14が書き込み状態になるので、メモリ14は、ア
ドレス0に、アドレス・カウンタ18の計数値N1と、
A/D変換器28の出力デジタル値S1及びA/D変換
器30の出力デジタル値C1を記憶する。その直後に、
アドレス・カウンタ18は、遅延回路16の出力信号を
計数するので、アドレス信号が1だけ進む。When the first pulse of the event signal is generated at the input terminal 10, the A / D converters 28 and 30 sample the amplitudes of the sine wave signal and cosine wave signal at that time and convert them into digital values. Immediately after that, the memory 14 enters the write state by the clock signal, so the memory 14 sets the address 0 to the count value N1 of the address counter 18,
The output digital value S1 of the A / D converter 28 and the output digital value C1 of the A / D converter 30 are stored. Shortly thereafter,
Since the address counter 18 counts the output signal of the delay circuit 16, the address signal advances by 1.
【0019】同様に、事象信号の2番目のパルスが発生
すると、メモリ14は、アドレス1に、アドレス・カウ
ンタ18の計数値N2と、A/D変換器28及び30の
出力デジタル値S2及びC2を記憶する。その直後に、
アドレス信号が1だけ進む。以後、同様な動作を繰り返
す。なお、各事象発生時点間の間隔は、カウンタ22の
最大計数値とクロック信号の周期との積で決まる時間以
内である。このような処理が行われた際のメモリ14の
記憶状態を図5に示す。Similarly, when the second pulse of the event signal occurs, the memory 14 causes the address 1 to count N2 of the address counter 18 and the output digital values S2 and C2 of the A / D converters 28 and 30. Memorize Shortly thereafter,
The address signal advances by one. After that, the same operation is repeated. It should be noted that the interval between the event occurrence points is within the time determined by the product of the maximum count value of the counter 22 and the cycle of the clock signal. FIG. 5 shows the storage state of the memory 14 when such processing is performed.
【0020】処理回路32は、総ての事象信号が発生し
た後、又は、上述の動作期間中に、メモリ14の記憶内
容を読み出し、事象発生時点間の各間隔、即ち、時間測
定開始時及び終了時間の間隔を求める処理を行う。ま
ず、図4のステップ40において、処理回路32は、メ
モリ14に記憶されたA/D変換器28及び30の出力
デジタル値S1及びC1から、正弦波W1のゼロからの
立上り部分の時点Tm、即ち、クロック信号Bのパルス
の1つの立上り部分を基準とした位相θ1(度)と求め
ると共に、A/D変換器の出力デジタル値S2及びC2
から同様な位相θ2(度)を求める。The processing circuit 32 reads out the contents stored in the memory 14 after all the event signals are generated or during the above-mentioned operation period, and at each interval between the event occurrence points, that is, at the time measurement start time and Perform processing to determine the end time interval. First, in step 40 of FIG. 4, the processing circuit 32 determines from the output digital values S1 and C1 of the A / D converters 28 and 30 stored in the memory 14 the time Tm of the rising portion of the sine wave W1 from zero, That is, the phase θ1 (degrees) is obtained with reference to one rising edge of the pulse of the clock signal B, and the output digital values S2 and C2 of the A / D converter are obtained.
Then, a similar phase θ2 (degree) is obtained from
【0021】ステップ40において、θ1を求める方法
を更に説明する。図6に示すように、時点Tnにおい
て、事象信号であるサンプリング・パルスが発生したと
すると、A/D変換器28は、信号波形W1の振幅値S
1をデジタル化し、A/D変換器30は、信号波形W2
の振幅値C1をデジタル化している。信号波形W1が上
昇方向でゼロクロスする点と、信号波形W2の最大値の
点との時点Tmを基準点(位相0度)としているので、
時点Tm及びTn間の位相をθ1とすると、 S1=G * sin θ1 C1=G * cos θ1 となる。ただし、Gは、信号波形W1及びW2の振幅値
である。この関係からΦは、次式で求まる。 θ1=tan(-1)(S1/C1) なお、tan(-1)は、アークタンジェント(逆正接)を意
味する。処理回路32は、ROMに記憶されたプログラ
ムに応じて、上述の計算を行い、時点Tmに対する時点
Tnの位相を求める。θ2、θ3・・・の求め方も同じ
ある。The method of obtaining θ1 in step 40 will be further described. As shown in FIG. 6, if a sampling pulse, which is an event signal, is generated at time Tn, the A / D converter 28 determines that the amplitude value S of the signal waveform W1.
1 is digitized, and the A / D converter 30 outputs the signal waveform W2
The amplitude value C1 of is digitized. Since the time point Tm between the point where the signal waveform W1 zero-crosses in the rising direction and the point where the signal waveform W2 has the maximum value is the reference point (phase 0 degree),
When the phase between the time points Tm and Tn is θ1, S1 = G * sin θ1 C1 = G * cos θ1. However, G is the amplitude value of the signal waveforms W1 and W2. From this relationship, Φ can be obtained by the following equation. θ1 = tan (-1) (S1 / C1) Note that tan (-1) means arc tangent (inverse tangent). The processing circuit 32 performs the above calculation according to the program stored in the ROM, and obtains the phase of the time point Tn with respect to the time point Tm. The method for obtaining θ2, θ3, ... Is the same.
【0022】本実施例では、正弦波W1及び余弦波W2
の1周期がクロック信号の3周期である。また、位相角
θ1及びθ2の値は共に0度以上で360度未満の範囲
であり、時間測定終了時点及び開始時点間の位相差は、
(θ2−θ1)+(360×P)である(但し、Pは0
及び正の整数)である。よって、θ2−θ1が正のとき
は位相差θ=θ2−θ1とし、θ2−θ1が負のときは
θ=θ2−θ1+360する。ここで、クロック信号の
立上り時点と事象発生時点が一致した場合のみ、カウン
タ22の計数値が図2のように不定であると仮定する。
この場合、位相角θ2及びθ1の位相差θが、0度以上
で120度未満のときは、カウンタ22の計数値の差N
2−N1の値Nは、3で割り切れる値である。また、位
相差θが120度以上で240度未満のとき、計数差N
は、3で除算すると1だけ余る数、即ち、3で割り切れ
る値から1だけプラスした値である。同様に、位相差θ
が240度以上で360度未満のとき、計数差Nは、3
で除算すると2だけ余る数、即ち、3で割り切れる値か
ら1だけマイナスした値である。In this embodiment, the sine wave W1 and the cosine wave W2
Is one cycle of the clock signal. The values of the phase angles θ1 and θ2 are both in the range of 0 degree or more and less than 360 degrees, and the phase difference between the time measurement end point and the time measurement start point is
(Θ2-θ1) + (360 × P) (where P is 0
And a positive integer). Therefore, when θ2-θ1 is positive, the phase difference θ = θ2-θ1 is set, and when θ2-θ1 is negative, θ = θ2-θ1 + 360 is set. Here, it is assumed that the count value of the counter 22 is indefinite as shown in FIG. 2 only when the rising time of the clock signal coincides with the event occurrence time.
In this case, when the phase difference θ between the phase angles θ2 and θ1 is 0 degree or more and less than 120 degrees, the difference N between the count values of the counter 22 is N.
The value N of 2-N1 is a value divisible by 3. When the phase difference θ is 120 degrees or more and less than 240 degrees, the count difference N
Is a number that is left by 1 when divided by 3, that is, a value that is divisible by 3 plus 1. Similarly, the phase difference θ
Is 240 degrees or more and less than 360 degrees, the count difference N is 3
When divided by, the number is a remainder of 2, that is, a value divisible by 3, minus 1.
【0023】すなわち、図10に示すように、位相差θ
が範囲E(0度以上で120度未満)の場合、カウンタ
22の計数差が不定を含んでいても、3で割り切れる数
の内、最も計数差に近い値に補正すればよい。位相差θ
が範囲F(120度以上で240度未満)の場合、カウ
ンタ22の計数差が不定を含んでいても、3で割り切れ
る数から1だけプラスした値の内、最も計数差に近い値
に補正すればよい。同様に、位相差θが範囲G(240
度以上で360度未満)の場合、カウンタ22の計数差
が不定を含んでいても、3で割り切れる数から1だけマ
イナスした値の内、最も計数差に近い値に補正すればよ
い。時間測定開始時点及び終了時点間の時間間隔の内、
1クロック周期未満の端数は、120度が1クロック周
期であるので、位相差θから求めることができる。That is, as shown in FIG. 10, the phase difference θ
Is in the range E (0 degrees or more and less than 120 degrees), even if the count difference of the counter 22 includes an indefinite value, it is sufficient to correct the count difference to the value closest to the count difference among the numbers divisible by 3. Phase difference θ
Is in the range F (120 degrees or more and less than 240 degrees), even if the count difference of the counter 22 includes an indefinite value, it is possible to correct the value that is closest to the count difference among the values obtained by adding 1 to the number divisible by 3 Good. Similarly, the phase difference θ is in the range G (240
If the counter difference is greater than or equal to 360 degrees and less than 360 degrees), even if the count difference of the counter 22 includes an indefinite value, it may be corrected to a value that is closest to the count difference among the values that are divisible by 3 by one. Within the time interval between the time measurement start point and the time measurement end point,
The fraction less than one clock cycle can be obtained from the phase difference θ because 120 degrees is one clock cycle.
【0024】上述は、クロック信号の立上り時点と事象
発生時点が一致した場合のみ、カウンタ22の計数値が
不定であると仮定して、本発明の原理を説明したが、実
際のデジタル回路では、クロック信号の立上り時点と事
象発生時点が一致した場合の他に、ほぼ一致した場合に
も、カウンタ22の計数値が不定となる。したがって、
本発明の実施例では、不定となる範囲を広く考えて、次
のように処理する。The above has described the principle of the present invention, assuming that the count value of the counter 22 is indefinite only when the rising time of the clock signal coincides with the event occurrence time. However, in the actual digital circuit, The count value of the counter 22 becomes indefinite not only when the rising time of the clock signal and the event occurrence time match, but also when they almost match. Therefore,
In the embodiment of the present invention, the range that becomes indefinite is widely considered, and processing is performed as follows.
【0025】図4のステップ40からステップ42に進
み、メモリ14に記憶されたN2及びN1の差を3で除
算して、その余りを求める。なお、N2の値がN1の値
より小さいとき、即ち、カウンタの計数値が最大値まで
達し、ゼロに戻ったときは、N2−N1+(カウンタの
最大計数値)とすればよい。ステップ44及び46に
て、余りを判断し、余りが0の場合に図7の流れ図に進
み、余りが1の場合に図8の流れ図に進み、余りが2の
場合に図9の流れ図に進む。The process proceeds from step 40 to step 42 in FIG. 4 and the difference between N2 and N1 stored in the memory 14 is divided by 3 to obtain the remainder. When the value of N2 is smaller than the value of N1, that is, when the count value of the counter reaches the maximum value and returns to zero, it may be N2-N1 + (the maximum count value of the counter). In steps 44 and 46, the remainder is judged, and if the remainder is 0, the flow chart of FIG. 7 is proceeded, if the remainder is 1, the flow chart of FIG. 8 is proceeded to, and if the remainder is 2, the flow chart of FIG. 9 is proceeded to. .
【0026】図7において、ステップ47にて、θ2−
θ1が−180度以下かを判断する。この差が−180
度以下(イエス)の場合には、ステップ48に進み、位
相差θをθ2−θ1+360とする。また、ステップ4
7でノーの場合、ステップ50に進み、θ2−θ1が1
80度よりも大きいかを判断する。ステップ50の判断
結果がイエスの場合、ステップ52に進み、θをθ2−
θ1−360とする。また、判断ステップ50がノーの
場合、ステップ54に進み、θをθ2−θ1とする。ス
テップ48、52又は54で位相差θを求めた後、ステ
ップ56に進み、時間測定開始時点及び終了時点間の時
間差Tを式(N2−N1)×TC+(θ/360)×3
×TCにより求める。なお、TCは、クロック信号の周
期である。In FIG. 7, in step 47, θ2-
It is determined whether θ1 is −180 degrees or less. This difference is -180
If the degree is less than or equal to (YES), the process proceeds to step 48, and the phase difference θ is set to θ2-θ1 + 360. Also, step 4
If the answer is 7 and no, the process proceeds to step 50 and θ2-θ1 is 1
Determine if it is greater than 80 degrees. If the determination result in step 50 is YES, the process proceeds to step 52, where θ is θ2-
θ1 to 360. If the determination step 50 is NO, the process proceeds to step 54, where θ is set to θ2-θ1. After obtaining the phase difference θ in step 48, 52 or 54, the process proceeds to step 56 and the time difference T between the time measurement start point and the time measurement end point is calculated by the formula (N2-N1) × TC + (θ / 360) × 3.
× TC Note that TC is the cycle of the clock signal.
【0027】余りが1の場合である図8では、ステップ
58にて、θ2−θ1が−60度以下かを判断する。こ
の判断結果イエスの場合には、ステップ60に進み、位
相差θをθ2−θ1+360とする。また、ステップ5
8でノーの場合、ステップ62に進み、θ2−θ1が3
00度よりも大きいかを判断する。このステップ62の
判断結果がイエスの場合、ステップ64に進み、θをθ
2−θ1−360とし、ノーの場合、ステップ66に進
み、θをθ2−θ1とする。ステップ60、64又は6
6で位相差θを求めた後、ステップ68に進み、時間測
定開始時点及び終了時点間の時間差Tを式(N2−N1
−1)×TC+(θ/360)×3×TCにより求め
る。In FIG. 8 where the remainder is 1, it is determined at step 58 whether θ2-θ1 is -60 degrees or less. If the result of this determination is YES, the routine proceeds to step 60, where the phase difference θ is set to θ2-θ1 + 360. Also, step 5
If the answer is 8 and no, the process proceeds to step 62 and θ2-θ1 is 3
It is determined whether it is greater than 00 degrees. If the determination result in step 62 is YES, the process proceeds to step 64, where θ is set to θ
2-θ1-360, and in the case of No, the routine proceeds to step 66, where θ is θ2-θ1. Step 60, 64 or 6
After calculating the phase difference θ in step 6, the process proceeds to step 68, and the time difference T between the time measurement start point and the time measurement end point is calculated by the formula (N2-N1).
-1) × TC + (θ / 360) × 3 × TC
【0028】余りが2の場合である図9では、ステップ
70にて、θ2−θ1が−300度以下かを判断する。
この判断結果イエスの場合には、ステップ72に進み、
位相差θをθ2−θ1+360とする。また、ステップ
70で判断結果がノーの場合、ステップ74に進み、θ
2−θ1が60度よりも大きいかを判断する。このステ
ップ74の判断結果がイエスの場合、ステップ76に進
み、θをθ2−θ1−360とし、ノーの場合、ステッ
プ78に進み、θをθ2−θ1とする。ステップ72、
76又は78で位相差θを求めた後、ステップ80に進
み、時間測定開始時点及び終了時点間の時間差Tを式
(N2−N1+1)×TC+(θ/360)×3×TC
により求める。In FIG. 9 where the remainder is 2, it is determined in step 70 whether θ2-θ1 is -300 degrees or less.
If the result of this determination is yes, then proceed to step 72,
The phase difference θ is θ2-θ1 + 360. If the determination result in step 70 is NO, the process proceeds to step 74, where θ
2- Determine if θ1 is greater than 60 degrees. If the determination result in step 74 is YES, the process proceeds to step 76, and θ is set to θ2-θ1 to 360. If the determination result is NO, the process proceeds to step 78 and θ is set to θ2-θ1. Step 72,
After obtaining the phase difference θ by 76 or 78, the process proceeds to step 80, and the time difference T between the time measurement start point and the time measurement end point is calculated by the formula (N2-N1 + 1) × TC + (θ / 360) × 3 × TC.
Ask by
【0029】このように求めた時間差Tを出力装置36
により表示したり、プリントする。つぎに、2番目に発
生した事象及び3番目に発生した事象間の時間差を、計
数値N2及びN3と、位相角度θ2及びθ3とから上述
と同様に求める。以下、順次同様な処理を行なう。The time difference T thus obtained is output to the output device 36.
To display or print. Next, the time difference between the second event and the third event is obtained from the count values N2 and N3 and the phase angles θ2 and θ3 in the same manner as described above. Thereafter, similar processing is sequentially performed.
【0030】上述では、クロック周期の3倍を、正弦波
の周期、即ち、位相角度を求める周期としたが、クロッ
ク周期の4倍を正弦波周期としてもよい。この場合は、
正弦波発生器24が、クロック信号を4分の1に分周
し、フィルタ処理などにより正弦波に変換する。処理回
路32は、カウンタ22の計数値N2及びN1の差であ
るN2−N1を4で除算し、その余りの値に応じて、図
11〜図15に示す流れ図に沿って、上述と同様な処理
を行う。すなわち、図11のステップ82で、上述のス
テップ40と同じ処理を行い、ステップ84で(N2−
N1)/4の余りを求める。判断ステップ86〜90に
より、余りを判断し、図12〜図15の流れ図に進む。
図12のステップ92〜102は、余りが0の場合の流
れ図であり、図13のステップ104〜114は、余り
が1の場合の流れ図である。また、図14のステップ1
16〜126は、余りが2の場合の流れ図であり、図1
5のステップ128〜138は、余りが3の場合の流れ
図である。これらステップは、クロック信号を3分の1
に分周した場合と、ほぼ同様なので、これ以上の説明は
省略する。In the above description, three times the clock cycle is the cycle of the sine wave, that is, the cycle for obtaining the phase angle, but four times the clock cycle may be the sine wave cycle. in this case,
The sine wave generator 24 divides the clock signal into quarters and converts it into a sine wave by filtering or the like. The processing circuit 32 divides N2-N1 which is the difference between the count values N2 and N1 of the counter 22 by 4 and, in accordance with the value of the remainder, according to the flowcharts shown in FIGS. Perform processing. That is, in step 82 of FIG. 11, the same processing as step 40 described above is performed, and in step 84 (N2-
Find the remainder of N1) / 4. Decision steps 86-90 determine the remainder and proceed to the flow charts of FIGS.
Steps 92 to 102 of FIG. 12 are flowcharts when the remainder is 0, and steps 104 to 114 of FIG. 13 are flowcharts when the remainder is 1. Also, step 1 of FIG.
16 to 126 are flow charts when the remainder is 2.
Steps 128 to 138 of 5 are flowcharts when the remainder is 3. These steps reduce the clock signal by a third
Since it is almost the same as the case where the frequency is divided into, the further description will be omitted.
【0031】上述は、本発明の好適な実施例について説
明したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変更
が可能である。例えば、位相角度を求める場合、その1
周期はクロック信号周期の3倍及び4倍以外に、2倍以
上の任意の倍数ならばよく、2.5倍等でもよい。ま
た、位相測定手段は、上述の正弦波及び余弦波を用いて
アナログ・デジタル変換する回路以外に、傾斜波の振幅
をサンプリングし、そのサンプル値から位相角度を求め
る回路でもよい。Although the preferred embodiment of the present invention has been described above, various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, when obtaining the phase angle, 1
In addition to 3 and 4 times the clock signal cycle, the cycle may be any multiple of 2 or more, such as 2.5 times. Further, the phase measuring means may be a circuit which samples the amplitude of the inclined wave and obtains the phase angle from the sampled value, in addition to the circuit for analog / digital conversion using the sine wave and cosine wave described above.
【0032】[0032]
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、時間測定開
始時及び終了時の少なくとも一方が、クロック信号の計
数部分(立上り又は立下り)とほぼ一致して、その計数
が不定であっても、時間測定開始時及び終了時の間の時
間を確実に測定できる。As described above, according to the present invention, at least one of the start time and the end time of the time measurement substantially coincides with the counting portion (rising or falling) of the clock signal, and the counting is indefinite. Also, the time between the start and end of the time measurement can be reliably measured.
【図1】本発明の好適な実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a preferred embodiment of the present invention.
【図2】時間測定の原理を説明する波形図である。FIG. 2 is a waveform diagram illustrating the principle of time measurement.
【図3】従来の時間測定装置の問題点を説明する波形図
である。FIG. 3 is a waveform diagram illustrating a problem of a conventional time measuring device.
【図4】本発明の一実施例の動作を説明する流れ図であ
る。FIG. 4 is a flowchart illustrating the operation of the embodiment of the present invention.
【図5】図1のブロック図で用いるメモリの記憶内容を
示す図である。5 is a diagram showing stored contents of a memory used in the block diagram of FIG. 1. FIG.
【図6】本発明の動作を説明する波形図である。FIG. 6 is a waveform diagram illustrating the operation of the present invention.
【図7】本発明の一実施例の動作を説明する流れ図であ
る。FIG. 7 is a flowchart illustrating the operation of the embodiment of the present invention.
【図8】本発明の一実施例の動作を説明する流れ図であ
る。FIG. 8 is a flowchart illustrating the operation of the embodiment of the present invention.
【図9】本発明の一実施例の動作を説明する流れ図であ
る。FIG. 9 is a flowchart illustrating the operation of the embodiment of the present invention.
【図10】本発明の原理を説明する図である。FIG. 10 is a diagram illustrating the principle of the present invention.
【図11】本発明の他の実施例の動作を説明する流れ図
である。FIG. 11 is a flowchart illustrating the operation of another embodiment of the present invention.
【図12】本発明の他の実施例の動作を説明する流れ図
である。FIG. 12 is a flowchart illustrating the operation of another embodiment of the present invention.
【図13】本発明の他の実施例の動作を説明する流れ図
である。FIG. 13 is a flowchart illustrating the operation of another embodiment of the present invention.
【図14】本発明の他の実施例の動作を説明する流れ図
である。FIG. 14 is a flowchart illustrating the operation of another embodiment of the present invention.
【図15】本発明の他の実施例の動作を説明する流れ図
である。FIG. 15 is a flowchart illustrating the operation of another embodiment of the present invention.
20 クロック発生手段 22 カウンタ 24 位相測定手段を構成する正弦波発生器 26 位相測定手段を構成する移相回路 28、30 位相測定手段を構成するA/D変換器 32 処理手段 20 clock generating means 22 counter 24 sine wave generator constituting phase measuring means 26 phase shift circuit constituting phase measuring means 28, 30 A / D converter constituting phase measuring means 32 processing means
Claims (4)
ロック発生手段と、 上記クロック信号を計数するカウンタと、 上記クロック信号の周期のM倍(Mは2より大きい数)
を1周期として時間測定開始時及び時間測定終了時の位
相を測定する位相測定手段と、 上記時間測定開始時及び上記時間測定終了時の間に上記
カウンタが計数したクロック数、並びに上記位相測定手
段が測定した上記時間測定開始時及び上記時間測定終了
時の位相から、上記時間測定開始時及び上記時間測定終
了時の間の時間を求める処理手段とを具えた時間測定装
置。1. A clock generation means for generating a clock signal of a predetermined frequency, a counter for counting the clock signal, and M times the cycle of the clock signal (M is a number greater than 2).
As a cycle, phase measuring means for measuring the phase at the time measurement start and time measurement end, the number of clocks counted by the counter between the time measurement start and the time measurement end, and the phase measurement means measuring A time measuring device comprising processing means for determining a time between the time measuring start and the time measuring end based on the phase at the time measuring start and the time measuring end.
定した上記時間測定開始時及び上記時間測定終了時の位
相の差から上記カウンタが計数したクロック数を補正す
ることを特徴とする請求項1の時間測定装置。2. The processing means corrects the number of clocks counted by the counter from the phase difference measured by the phase measuring means at the start of the time measurement and at the end of the time measurement. 1 time measuring device.
定した上記時間測定開始時及び上記時間測定終了時の位
相の差から、上記時間測定開始時及び上記時間測定終了
時の間の時間と上記補正したクロック数による時間との
差を求めることを特徴とする請求項2の時間測定装置。3. The processing means, based on the phase difference measured by the phase measuring means at the time measurement start and the time measurement end, the time between the time measurement start and the time measurement end and the correction. 3. The time measuring device according to claim 2, wherein the time difference is obtained according to the number of clocks.
了時の上記カウンタの計数値を記憶する記憶手段を更に
具え、上記処理手段は上記記憶手段に記憶された上記計
数値の差から上記時間測定開始時及び上記時間測定終了
時の間に上記カウンタが計数したクロック数を求めるこ
とを特徴とする請求項3の時間測定装置。4. The storage means further stores a count value of the counter at the time of starting the time measurement and at the end of the time measurement, wherein the processing means calculates the time from the difference between the count values stored in the storage means. 4. The time measuring device according to claim 3, wherein the number of clocks counted by the counter is calculated between the start of the measurement and the end of the time measurement.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31766094A JPH08152488A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Time measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31766094A JPH08152488A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Time measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08152488A true JPH08152488A (en) | 1996-06-11 |
Family
ID=18090618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31766094A Pending JPH08152488A (en) | 1994-11-28 | 1994-11-28 | Time measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08152488A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008510967A (en) * | 2004-08-20 | 2008-04-10 | テラダイン・インコーポレーテッド | Time measurement using a phase-shifted periodic waveform |
CN102621878A (en) * | 2012-01-04 | 2012-08-01 | 西安近代化学研究所 | High-precision time interval measurement device |
CN114047683A (en) * | 2021-11-15 | 2022-02-15 | 星汉时空科技(长沙)有限公司 | Time interval measuring method and device based on orthogonal sampling interpolation |
-
1994
- 1994-11-28 JP JP31766094A patent/JPH08152488A/en active Pending
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CN114047683A (en) * | 2021-11-15 | 2022-02-15 | 星汉时空科技(长沙)有限公司 | Time interval measuring method and device based on orthogonal sampling interpolation |
CN114047683B (en) * | 2021-11-15 | 2022-05-24 | 星汉时空科技(长沙)有限公司 | Time interval measuring method and device based on orthogonal sampling interpolation |
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