JPH08136361A - 測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法 - Google Patents
測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法Info
- Publication number
- JPH08136361A JPH08136361A JP30305294A JP30305294A JPH08136361A JP H08136361 A JPH08136361 A JP H08136361A JP 30305294 A JP30305294 A JP 30305294A JP 30305294 A JP30305294 A JP 30305294A JP H08136361 A JPH08136361 A JP H08136361A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- soaking block
- resistance
- calibration
- furnace
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較校正炉の温度を正確に温度計に伝えるこ
とができて、高精度の比較校正試験を実現でき、しかも
比較校正炉に対する応答性が良くて、設定温度に早く到
達し、短いサイクルで多くの設定温度で比較校正試験を
行なうことのできる測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロ
ックを提供する。 【構成】 比較校正炉と該比較校正炉内に装入された均
熱ブロックとよりなり、均熱ブロックの挿入孔に標準測
温抵抗体と被校正抵抗体を挿入し、直列に接続し、電流
を流して、測温抵抗体の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換する測温抵抗体比較校正装置に於いて、
前記均熱ブロックを、銀、銀合金、金、金合金のいずれ
かにより構成したことを特徴とする。
とができて、高精度の比較校正試験を実現でき、しかも
比較校正炉に対する応答性が良くて、設定温度に早く到
達し、短いサイクルで多くの設定温度で比較校正試験を
行なうことのできる測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロ
ックを提供する。 【構成】 比較校正炉と該比較校正炉内に装入された均
熱ブロックとよりなり、均熱ブロックの挿入孔に標準測
温抵抗体と被校正抵抗体を挿入し、直列に接続し、電流
を流して、測温抵抗体の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換する測温抵抗体比較校正装置に於いて、
前記均熱ブロックを、銀、銀合金、金、金合金のいずれ
かにより構成したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、温度計、特に白金測温
抵抗体の比較校正装置の均熱ブロックに関するものであ
る。
抵抗体の比較校正装置の均熱ブロックに関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】測温抵抗体比較校正装置は、図１に示す
ように比較校正炉１と、該比較校正炉１内に装入された
均熱ブロック２とよりなり、均熱ブロック２に垂直に穿
設された挿入孔３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗
体５と被校正測温抵抗体６を挿入し、電気的に直列に接
続し、電流を流して測温抵抗体５、６の電圧降下により
抵抗値を算出し、温度に変換し、これを比較校正するも
のである。この測温抵抗体比較校正装置７に於ける従来
の均熱ブロック２は、亜鉛融点（約 420℃）程度までの
比較測定ではアルミニウム製の均熱ブロックを用い、そ
れ以上の温度で1100℃程度まではステンレス又はインコ
ネル製の均熱ブロックを用いるか、あるいは何も使用せ
ず大気の熱伝導により比較測定を行なっていた。ところ
が、上記従来のアルミニウム製、ステンレス又はインコ
ネル製の均熱ブロックは熱伝導が悪いために、比較校正
炉１の温度を正確に温度計に伝えることができず、比較
校正試験が不安定で精度が悪かった。また比較校正炉１
の温度になかなか追いつかず、安定した温度を得るのに
長時間要し、比較校正試験のサイクルが長かった。
ように比較校正炉１と、該比較校正炉１内に装入された
均熱ブロック２とよりなり、均熱ブロック２に垂直に穿
設された挿入孔３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗
体５と被校正測温抵抗体６を挿入し、電気的に直列に接
続し、電流を流して測温抵抗体５、６の電圧降下により
抵抗値を算出し、温度に変換し、これを比較校正するも
のである。この測温抵抗体比較校正装置７に於ける従来
の均熱ブロック２は、亜鉛融点（約 420℃）程度までの
比較測定ではアルミニウム製の均熱ブロックを用い、そ
れ以上の温度で1100℃程度まではステンレス又はインコ
ネル製の均熱ブロックを用いるか、あるいは何も使用せ
ず大気の熱伝導により比較測定を行なっていた。ところ
が、上記従来のアルミニウム製、ステンレス又はインコ
ネル製の均熱ブロックは熱伝導が悪いために、比較校正
炉１の温度を正確に温度計に伝えることができず、比較
校正試験が不安定で精度が悪かった。また比較校正炉１
の温度になかなか追いつかず、安定した温度を得るのに
長時間要し、比較校正試験のサイクルが長かった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、比較
校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができて高精
度で安定な比較校正試験を行なうことができ、また短時
間に比較校正炉の温度に追いつき安定した温度を得るこ
とができて、短いサイクルで比較校正試験を行なうこと
ができるようにした測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロ
ックを提供しようとするものである。
校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができて高精
度で安定な比較校正試験を行なうことができ、また短時
間に比較校正炉の温度に追いつき安定した温度を得るこ
とができて、短いサイクルで比較校正試験を行なうこと
ができるようにした測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロ
ックを提供しようとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロックは、
比較校正炉と該比較校正炉内に装入された均熱ブロック
とよりなり、均熱ブロックの挿入孔に標準測温抵抗体と
被校正測温抵抗体を挿入し、直列に電気的に接続し、電
流を流して測温抵抗体の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換する測温抵抗体比較校正装置に於いて、
前記均熱ブロックを銀又は銀合金により校正したことを
特徴とするものである。さらに均熱ブロックとして銀又
は銀合金を用い、０℃以上 600℃未満で測温抵抗体の比
較校正を行なう、測温抵抗体の比較校正方法である。他
の本発明は上記測温抵抗体比較校正装置に於いて、前記
均熱ブロックを金又は金合金により構成したことを特徴
とするものである。さらに均熱ブロックとして金又は金
合金を用い、 400℃以上1000℃未満で測温抵抗体の比較
校正を行なう測温抵抗体の比較校正方法である。
の本発明の測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロックは、
比較校正炉と該比較校正炉内に装入された均熱ブロック
とよりなり、均熱ブロックの挿入孔に標準測温抵抗体と
被校正測温抵抗体を挿入し、直列に電気的に接続し、電
流を流して測温抵抗体の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換する測温抵抗体比較校正装置に於いて、
前記均熱ブロックを銀又は銀合金により校正したことを
特徴とするものである。さらに均熱ブロックとして銀又
は銀合金を用い、０℃以上 600℃未満で測温抵抗体の比
較校正を行なう、測温抵抗体の比較校正方法である。他
の本発明は上記測温抵抗体比較校正装置に於いて、前記
均熱ブロックを金又は金合金により構成したことを特徴
とするものである。さらに均熱ブロックとして金又は金
合金を用い、 400℃以上1000℃未満で測温抵抗体の比較
校正を行なう測温抵抗体の比較校正方法である。
【０００５】
【作用】上記のように本発明の測温抵抗体比較校正装置
の均熱ブロックは、銀、銀合金、金、金合金のいずれか
により構成されているので、熱容量が大きく、熱伝導が
良い。従って、均熱ブロックの温度が安定し、また比較
校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができるの
で、高精度の比較校正試験を実現できる。しかも比較校
正炉に対する応答性が良いので、設定温度に早く到達
し、短いサイクルで多くの設定温度で比較校正試験を行
なうことができる。尚金や金合金と銀や銀合金のどちら
も同等の性能が得られるが、値段の点から600℃未満で
は銀又は金合金を用いるのが好ましく、 400℃以上の高
温、その中でも特に銀の揮発、酸化がおこる 600℃以上
では金又は金合金を有いるのが好ましい。
の均熱ブロックは、銀、銀合金、金、金合金のいずれか
により構成されているので、熱容量が大きく、熱伝導が
良い。従って、均熱ブロックの温度が安定し、また比較
校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができるの
で、高精度の比較校正試験を実現できる。しかも比較校
正炉に対する応答性が良いので、設定温度に早く到達
し、短いサイクルで多くの設定温度で比較校正試験を行
なうことができる。尚金や金合金と銀や銀合金のどちら
も同等の性能が得られるが、値段の点から600℃未満で
は銀又は金合金を用いるのが好ましく、 400℃以上の高
温、その中でも特に銀の揮発、酸化がおこる 600℃以上
では金又は金合金を有いるのが好ましい。
【０００６】
【実施例】本発明の測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロ
ックの一実施例について説明すると、図１に示すように
比較校正炉１と、該比較校正炉１内に装入された均熱ブ
ロック２とよりなる測温抵抗体比較校正装置７に於い
て、前記均熱ブロック２を銀により構成した。この銀よ
りなる均熱ブロック２に垂直に穿設された挿入孔３、４
に、夫々白金よりなる標準測温抵抗体５と被測温抵抗体
６を装入し、電気的に直列に接続し、 0.5mAの電流を流
して、測温抵抗体５、６の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換し、これを比較校正した。この試験に於
いて、銀よりなる均熱ブロック２の温度の安定性につい
て調べた処、10分間で最大15mK変動した。また、 250℃
から 300℃に比較校正炉１の温度設定を変えた後、 300
℃で安定するまでにかかる時間は４〜５時間であった。
次に他の実施例について説明すると、図１に示す測温抵
抗体比較校正装置７に於ける均熱ブロック２を金により
構成した。この金よりなる均熱ブロック２に垂直に穿設
された挿入孔３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗体
５と被測温抵抗体６を挿入し、電気的に直列に接続し、
0.5mAの電流を流して、測温抵抗体５、６の電圧降下に
より抵抗値を算出し、温度に変換し、これを比較校正し
た。この試験に於いて、金よりなる均熱ブロック２の温
度の安定性について調べたところ、10分間で最大15mK変
動した。また、 250℃から 300℃に比較校正炉１の温度
設定を変えた処、 300℃で安定するまでにかかる時間は
３〜４時間であった。然して従来例について説明する
と、図１に示す測温抵抗体比較校正装置７に於ける均熱
ブロック２をインコネルにより構成した。このインコネ
ルよりなる均熱ブロック２に垂直に穿設された挿入孔
３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗体５と被測温抵
抗体６を挿入し、電気的に直列に接続し、 0.5mAの電流
を流して、測温抵抗体５、６の電圧降下により抵抗値を
算出し、温度に変換し、これを比較校正した。この試験
に於いて、インコネルよりなる均熱ブロック２の温度の
安定性について調べた処、10分間で最大20mK変動した。
また、 250℃から 300℃に比較校正炉１の温度設定を変
えた後、 300℃を安定するまでにかかる時間は５〜６時
間であった。
ックの一実施例について説明すると、図１に示すように
比較校正炉１と、該比較校正炉１内に装入された均熱ブ
ロック２とよりなる測温抵抗体比較校正装置７に於い
て、前記均熱ブロック２を銀により構成した。この銀よ
りなる均熱ブロック２に垂直に穿設された挿入孔３、４
に、夫々白金よりなる標準測温抵抗体５と被測温抵抗体
６を装入し、電気的に直列に接続し、 0.5mAの電流を流
して、測温抵抗体５、６の電圧降下により抵抗値を算出
し、温度に変換し、これを比較校正した。この試験に於
いて、銀よりなる均熱ブロック２の温度の安定性につい
て調べた処、10分間で最大15mK変動した。また、 250℃
から 300℃に比較校正炉１の温度設定を変えた後、 300
℃で安定するまでにかかる時間は４〜５時間であった。
次に他の実施例について説明すると、図１に示す測温抵
抗体比較校正装置７に於ける均熱ブロック２を金により
構成した。この金よりなる均熱ブロック２に垂直に穿設
された挿入孔３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗体
５と被測温抵抗体６を挿入し、電気的に直列に接続し、
0.5mAの電流を流して、測温抵抗体５、６の電圧降下に
より抵抗値を算出し、温度に変換し、これを比較校正し
た。この試験に於いて、金よりなる均熱ブロック２の温
度の安定性について調べたところ、10分間で最大15mK変
動した。また、 250℃から 300℃に比較校正炉１の温度
設定を変えた処、 300℃で安定するまでにかかる時間は
３〜４時間であった。然して従来例について説明する
と、図１に示す測温抵抗体比較校正装置７に於ける均熱
ブロック２をインコネルにより構成した。このインコネ
ルよりなる均熱ブロック２に垂直に穿設された挿入孔
３、４に夫々白金よりなる標準測温抵抗体５と被測温抵
抗体６を挿入し、電気的に直列に接続し、 0.5mAの電流
を流して、測温抵抗体５、６の電圧降下により抵抗値を
算出し、温度に変換し、これを比較校正した。この試験
に於いて、インコネルよりなる均熱ブロック２の温度の
安定性について調べた処、10分間で最大20mK変動した。
また、 250℃から 300℃に比較校正炉１の温度設定を変
えた後、 300℃を安定するまでにかかる時間は５〜６時
間であった。
【０００７】
【発明の効果】以上の説明で判るように本発明の測温抵
抗体比較校正装置の均熱ブロックは、熱容量が大きく熱
伝導が良いので、比較校正試験時の温度が安定し、また
比較校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができ、
高精度の比較校正試験を実現できる。しかも比較校正炉
に対する応答性が良いので設定温度に早く到達し、短い
サイクルで多くの設定温度で比較校正試験を行なうこと
ができる。
抗体比較校正装置の均熱ブロックは、熱容量が大きく熱
伝導が良いので、比較校正試験時の温度が安定し、また
比較校正炉の温度を正確に温度計に伝えることができ、
高精度の比較校正試験を実現できる。しかも比較校正炉
に対する応答性が良いので設定温度に早く到達し、短い
サイクルで多くの設定温度で比較校正試験を行なうこと
ができる。
【図１】測温抵抗体比較校正装置の要部概略図である。
１ 比較校正炉 ２ 均熱ブロック ３ 挿入孔 ４ 挿入孔 ５ 標準測温抵抗体 ６ 被測温抵抗体 ７ 測温抵抗体比較校正装置
Claims (4)
- 【請求項１】 比較校正炉と該比較校正炉内に装入され
た均熱ブロックとよりなり、均熱ブロックの挿入孔に標
準測温抵抗体と被校正測温抵抗体を挿入し、直列に接続
し、電流を流して測温抵抗体の電圧降下により抵抗値を
算出し、温度に変換する測温抵抗体比較校正装置に於い
て、前記均熱ブロックを、銀又は銀合金により構成した
ことを特徴とする測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロッ
ク。 - 【請求項２】 請求項１記載の均熱ブロックを用いて０
℃以上 600℃未満の温度範囲にて測温抵抗体の比較校正
を行なうことを特徴とする、測温抵抗体の比較校正方
法。 - 【請求項３】 比較校正炉と該比較校正炉内に挿入され
た均熱ブロックの挿入孔に標準測温抵抗体と被校正測温
抵抗体を挿入し、直列に接続し、電流を流して測温抵抗
体の電圧降下により抵抗値を算出し、温度に変換する測
温抵抗体比較校正装置に於いて、前記均熱ブロックを金
又は金合金により構成したことを特徴とする測温抵抗体
比較校正装置の均熱ブロック。 - 【請求項４】 請求項３記載の均熱ブロックを用いて、
400℃以上1000℃未満の温度範囲にて測温抵抗体の比較
校正を行なうことを特徴とする、測温抵抗体の比較校正
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30305294A JPH08136361A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | 測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30305294A JPH08136361A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | 測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136361A true JPH08136361A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17916342
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30305294A Pending JPH08136361A (ja) | 1994-11-11 | 1994-11-11 | 測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136361A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002050502A1 (fr) * | 2000-12-19 | 2002-06-27 | Japan Science And Technology Corporation | Procede d'etalonnage du champ magnetique d'un thermometre avec dependance au champ magnetique |
| JP2007127487A (ja) * | 2005-11-02 | 2007-05-24 | Yamari Sangyo Kk | 温度データロガーの校正方法およびそれに用いる均熱ブロック |
| JP2011191251A (ja) * | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Anritsu Keiki Kk | 接触式表面温度センサ校正器、接触式表面温度センサの校正方法及び基準温度センサの校正方法 |
| JP2018048999A (ja) * | 2016-09-19 | 2018-03-29 | シーカ ドクター シーベルト アンド キューン ゲーエムベーハー アンド コーポレイテッド カーゲー | 温度センサ較正用ブロック較正器 |
| CN115372710A (zh) * | 2022-10-21 | 2022-11-22 | 西安创联电气科技（集团）有限责任公司 | 一种电阻自动测试装置 |
-
1994
- 1994-11-11 JP JP30305294A patent/JPH08136361A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002050502A1 (fr) * | 2000-12-19 | 2002-06-27 | Japan Science And Technology Corporation | Procede d'etalonnage du champ magnetique d'un thermometre avec dependance au champ magnetique |
| JP2007127487A (ja) * | 2005-11-02 | 2007-05-24 | Yamari Sangyo Kk | 温度データロガーの校正方法およびそれに用いる均熱ブロック |
| JP2011191251A (ja) * | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Anritsu Keiki Kk | 接触式表面温度センサ校正器、接触式表面温度センサの校正方法及び基準温度センサの校正方法 |
| JP2018048999A (ja) * | 2016-09-19 | 2018-03-29 | シーカ ドクター シーベルト アンド キューン ゲーエムベーハー アンド コーポレイテッド カーゲー | 温度センサ較正用ブロック較正器 |
| CN115372710A (zh) * | 2022-10-21 | 2022-11-22 | 西安创联电气科技（集团）有限责任公司 | 一种电阻自动测试装置 |
| CN115372710B (zh) * | 2022-10-21 | 2024-02-06 | 西安创联电气科技（集团）有限责任公司 | 一种电阻自动测试装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Martin | Specific heats of copper, silver, and gold below 30 k | |
| Taylor et al. | The specific heats and resistivities of molybdenum, tantalum, and rhenium | |
| JP2928306B2 (ja) | ガスの熱伝導率測定方法およびその装置 | |
| US3339398A (en) | High sensitivity differential thermal analysis apparatus and method | |
| JPH11201924A (ja) | 示差熱分析装置 | |
| CN112034002B (zh) | 一种热电材料塞贝克系数的测量装置和方法 | |
| JPH08136361A (ja) | 測温抵抗体比較校正装置の均熱ブロック及び測温抵抗体の比較校正方法 | |
| JPH05223771A (ja) | 熱伝導検出器 | |
| JP2898928B2 (ja) | 熱電対自動校正装置および校正方法 | |
| JP2832334B2 (ja) | 熱電変換性能評価方法および装置 | |
| CN114414208B (zh) | 一种热电堆型激光能量测量及校准系统用校准方法 | |
| US3182507A (en) | Thermal history gage | |
| JP2949314B2 (ja) | 熱量測定装置及び方法 | |
| CN114526844A (zh) | 一种热电堆传感器热学参数自测试方法 | |
| Besley | Use of ceramic-encapsulated rhodium-iron alloy resistance thermometers below 80K: thermometric properties and stability | |
| Pochapsky | Determination of heat capacity by pulse heating | |
| Cowan et al. | An Investigation of the β-γ Transition in Oxygen | |
| Wood et al. | Pyrometry | |
| Boissonnas | Specific heat of strained rubber | |
| CN115420769B (zh) | 红外热电堆传感器的塞贝克系数测试方法 | |
| JPH06342027A (ja) | 配線の評価方法及び評価装置 | |
| RU2020435C1 (ru) | Способ градуировки термопар | |
| CN108645530B (zh) | 测温系统及利用测温系统测量测温区温度的方法 | |
| JP2750720B2 (ja) | 温度検出器劣化補正装置 | |
| CN116298593A (zh) | 一种电阻丝快速寿命测试方法 |