JPH08129001A - Chromatograph mass spectrometer using sim method - Google Patents
Chromatograph mass spectrometer using sim methodInfo
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- JPH08129001A JPH08129001A JP6292300A JP29230094A JPH08129001A JP H08129001 A JPH08129001 A JP H08129001A JP 6292300 A JP6292300 A JP 6292300A JP 29230094 A JP29230094 A JP 29230094A JP H08129001 A JPH08129001 A JP H08129001A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、選択イオンモニタ(Se
lected Ion Monitoring=SIM)法で分析を行なうク
ロマトグラフ質量分析装置に関し、特に、SIM法にお
いてモニタする全イオンを保持時間に応じてグループ分
けするグルーピングを自動的に行なう装置に関する。This invention relates to a selective ion monitor (Se
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chromatograph mass spectrometer that performs analysis by the lected ion monitoring (SIM) method, and particularly to an apparatus that automatically performs grouping for grouping all ions monitored in the SIM method according to retention time.
【0002】[0002]
【従来の技術】ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC
/MS)は環境、薬学、一般工学、天然物化学等の分野
における成分分析に広く用いられているが、特に微量有
機化合物の定量分析を行なう場合は、SIM法が使用さ
れる。2. Description of the Related Art A gas chromatograph mass spectrometer (GC
/ MS) is widely used for component analysis in the fields of environment, pharmacy, general engineering, natural product chemistry and the like, and the SIM method is used especially for quantitative analysis of trace organic compounds.
【0003】ガスクロマトグラフ質量分析装置による通
常の分析方法(質量走査法)では、図6に示すように、
まず注入器(インジェクタ)11によりキャリヤガス中
に試料を注入し、試料中の各成分をガスクロマトグラフ
部(GC)12で時間的に分離する。適切な特性に着目
してガスクロマトグラフ部12を出たガスを時間的に連
続して測定すると、図7に示すようなクロマトグラム2
1が得られる。次に、この成分分離されたガスを質量分
析部(MS)13に導入し、図8下段に示すような走査
パターン22により短時間毎に繰り返し質量走査を行な
う。これにより、クロマトグラム21の各ピーク部分に
おいて、各質量数(実際には質量数mを電荷zで除した
値m/z)におけるイオン強度(相対強度)を表わすマ
ススペクトル23(図9(a))が得られる。このマス
スペクトル23のパターンを所定のデータベースの各化
合物データと照合することにより、クロマトグラム21
の各ピークの化合物が特定される。なお通常は、後のデ
ータ処理の便のために、図9(a)に示すような連続的
なマススペクトル23からバックグラウンドを除去した
後、質量数毎に細分割したグラフの重心をとって相対強
度比で表わしたデータに変換する。このときのマススペ
クトルは図9(b)に示すようなグラフ(セントロイド
表示と呼ばれる)となり、データベースとの比較はこの
パターンにより行なわれる。In a usual analysis method (mass scanning method) using a gas chromatograph mass spectrometer, as shown in FIG.
First, a sample is injected into a carrier gas by an injector (injector) 11 and each component in the sample is temporally separated by a gas chromatograph (GC) 12. When the gas discharged from the gas chromatograph section 12 is continuously measured in time focusing on appropriate characteristics, a chromatogram 2 as shown in FIG.
1 is obtained. Next, the gas thus separated into components is introduced into the mass spectrometric analysis unit (MS) 13, and mass scanning is repeatedly performed at short time intervals by the scanning pattern 22 shown in the lower part of FIG. Accordingly, in each peak portion of the chromatogram 21, a mass spectrum 23 (relative intensity) representing the ion intensity (relative intensity) at each mass number (actually, the value m / z obtained by dividing the mass number m by the charge z) is obtained (see FIG. )) Is obtained. By comparing the pattern of this mass spectrum 23 with each compound data of a predetermined database, the chromatogram 21
The compound of each peak is identified. Normally, for the convenience of later data processing, after removing the background from the continuous mass spectrum 23 as shown in FIG. 9A, the centroid of the graph subdivided for each mass number is taken. Convert to data expressed as relative intensity ratio. The mass spectrum at this time becomes a graph (called centroid display) as shown in FIG. 9B, and the comparison with the database is performed by this pattern.
【0004】しかし、質量走査法では質量分析部13に
おける走査速度が速いために各質量数(m/z)におけ
る絶対的な検出強度が低く、S/N比が悪いという問題
がある。そこで、微量成分の定量分析を行なおうとする
場合は、予め質量走査法で試料中にどのような成分が存
在するかを定性的に確認しておき、再度ガスクロマトグ
ラフ−質量分析を行なう際に、定性分析により存在が確
認された成分(モニタイオン)の質量数のみを質量分析
部13において検出(モニタ)するというSIM法が用
いられる。なお、上記ではガスクロマトグラフを例とし
たが、液体クロマトグラフでも同様な質量分析を行なう
ことができる。However, the mass scanning method has a problem that the absolute detection intensity at each mass number (m / z) is low and the S / N ratio is poor because the scanning speed in the mass spectrometric section 13 is high. Therefore, when attempting to perform quantitative analysis of trace components, it is necessary to qualitatively confirm in advance what components are present in the sample by the mass scanning method, and then when performing gas chromatography-mass analysis again. The SIM method is used in which only the mass numbers of the components (monitor ions) whose existence is confirmed by qualitative analysis are detected (monitored) in the mass analysis unit 13. In addition, although the gas chromatograph was mentioned as the example above, the same mass spectrometry can be performed also in a liquid chromatograph.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】SIM法を行なうこと
のできるクロマトグラフ質量分析装置においては、同時
にモニタすることのできるイオンの数は限られている。
そのため、試料に含まれる化合物が多数存在する場合、
全ての化合物のイオンをモニタすることができない。例
えば、同時モニタ可能なイオンが10種の装置で、各化
合物に対してターゲットイオン(定量の基礎とするイオ
ン)1個と参照イオン(化合物の種類を確認するための
イオン)1個、合計2個のイオンをモニタする場合、1
回の測定では5種の化合物しか定量することができな
い。In a chromatographic mass spectrometer capable of performing the SIM method, the number of ions that can be simultaneously monitored is limited.
Therefore, when there are many compounds contained in the sample,
It is not possible to monitor the ions of all compounds. For example, a device that can simultaneously monitor 10 types of ions, one target ion (the ion that is the basis of quantification) and one reference ion (the ion for confirming the type of compound) for each compound, a total of 2 When monitoring individual ions, 1
Only 5 compounds can be quantified in one measurement.
【0006】また、分析の感度を上げ、極微量の化合物
も定量できるようにするためには、質量分析の際のイオ
ンの検出時間(デュエルタイム dwell time と呼ぶ)を
十分長くとる必要がある。しかし、クロマトグラムのピ
ークの存続時間(ピーク幅)は限られているため、でき
る限りピークトップの近くで質量分析が行なわれるよう
にするためには、サイクルタイム(図5のtc)を十分
短くしておく必要がある。この相反する課題を両立させ
るためには、1回のサイクルでは少数のイオンのみをモ
ニタするようにすればよい。Further, in order to increase the sensitivity of analysis and to be able to quantify a very small amount of compound, it is necessary to take a sufficiently long ion detection time (called dwell time) in mass spectrometry. However, since the peak duration (peak width) of the chromatogram is limited, the cycle time (tc in Fig. 5) is sufficiently short in order to perform mass spectrometry as close to the peak top as possible. You need to do it. In order to meet these conflicting problems, only a small number of ions should be monitored in one cycle.
【0007】そのため、クロマトグラム21を適当な箇
所で分割し、各部分毎に異なったイオンセットを使用す
るグルーピングという方法が用いられている。すなわ
ち、図7に示すように、時間tdまでは保持時間がその
時間迄である化合物のイオンをモニタイオン(グループ
I)とし、それ以降は保持時間がその時間td以上であ
る化合物のイオンをモニタイオン(グループII)とする
ことにより、より多くの化合物について、より長いデュ
エルタイムで質量分析を行なうことができるようにな
る。なお図7では簡単のために2分割の例を挙げたが、
更に多数個に分割してもよい。Therefore, a method called grouping is used in which the chromatogram 21 is divided at appropriate points and a different ion set is used for each portion. That is, as shown in FIG. 7, until the time td, the ions of the compound having the retention time up to that time are set as monitor ions (group I), and thereafter, the ions of the compound having the retention time at that time td or more are monitored. By making it an ion (group II), it becomes possible to perform mass spectrometry for a larger number of compounds with a longer dwell time. Note that in FIG. 7, an example of two divisions is given for simplicity, but
It may be further divided into a large number.
【0008】このようなグルーピングのために、従来は
分析者がクロマトグラム21を見て、モニタイオンの数
が装置の限界数を超えないように考慮しつつ、適切と思
われる分割箇所を指示していた。このため、実際にSI
M分析を行なう前に分析者がキーボードやマウス等によ
る各種指示作業を行なわなければならず、グルーピング
作業がSIM分析の完全自動化の一つの障害となってい
た。そこで本発明は、SIM法におけるグルーピングを
自動的に行なうクロマトグラフ質量分析装置を提供する
ものである。For such grouping, conventionally, an analyst views the chromatogram 21 and designates an appropriate division position while considering that the number of monitor ions does not exceed the limit number of the apparatus. Was there. Therefore, the SI
Before performing the M analysis, the analyst had to perform various instruction work using a keyboard, a mouse or the like, and the grouping work was one obstacle to complete automation of SIM analysis. Therefore, the present invention provides a chromatograph mass spectrometer that automatically performs grouping in the SIM method.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、クロマトグラフ装置により成分分
離された試料に対して、所定のモニタイオンについて質
量分析装置により分析を行なう、SIM法を用いたクロ
マトグラフ質量分析装置において、 a)クロマトグラフ装置を通過した試料に対して質量分析
装置において短時間毎に繰り返し質量走査することによ
り、短時間毎のマススペクトルを採取するマススペクト
ル採取手段と、 b)採取されたマススペクトルから全イオンクロマトグラ
ムを作成し、全イオンクロマトグラムの各ピークの間隔
が所定値以上である箇所を境界として全イオンクロマト
グラムを複数の区間に分割する分割手段と、 c)分割された各区間毎にモニタイオンを切り換えてSI
M分析を行なうSIM制御手段と、を備えることを特徴
としている。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention, which has been made to solve the above-mentioned problems, provides a SIM in which a sample separated into components by a chromatographic device is analyzed by a mass spectrometer for predetermined monitor ions. In the chromatograph mass spectrometer using the method, a) Collect a mass spectrum for each short time by repeatedly performing mass scanning on the sample that has passed through the chromatograph in the mass spectrometer every short time. And b) Create an all-ion chromatogram from the collected mass spectra, and divide the total-ion chromatogram into multiple sections with the location where the interval between each peak of the total-ion chromatogram is equal to or greater than a predetermined value as a boundary. And c) switching the monitor ion for each divided section
And SIM control means for performing M analysis.
【0010】[0010]
【作用】分割手段は、全イオンクロマトグラム(TI
C)の各ピークの間隔が所定値以上である箇所を境界と
してTICを分割する。これにより、試料に含まれる目
的化合物は保持時間によって複数のグループに分割され
る。この際、近接したピーク間では分割は行なわれない
ため、明確なグループ分けが可能となり、分析感度の低
下が防止される。SIM制御手段は、各グループ内では
そのグループに含まれる目的化合物のイオンのみをモニ
タし、上記境界に至った時点でモニタするイオンを次の
グループの目的化合物のイオンに切り換えてSIM分析
を行なう。これにより、各グループ内では長いデュエル
タイムでモニタイオンの検出を行なうことができる。The dividing means is a total ion chromatogram (TI
The TIC is divided with a boundary at a position where the interval between the peaks in C) is a predetermined value or more. As a result, the target compound contained in the sample is divided into a plurality of groups according to the retention time. At this time, since the peaks that are close to each other are not divided, clear grouping is possible, and a decrease in analysis sensitivity is prevented. Within each group, the SIM control means monitors only the ions of the target compound contained in that group, and when the boundary is reached, the monitored ion is switched to the ion of the target compound of the next group for SIM analysis. As a result, monitor ions can be detected within a long dwell time within each group.
【0011】[0011]
【実施例】本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ
質量分析装置(GC/MS)を図1〜図6により説明す
る。本実施例のガスクロマトグラフ質量分析装置は図6
に示す通り、注入器(インジェクタ)11、ガスクロマ
トグラフ部(GC)12、質量分析部(MS)13、デ
ータ処理・制御部14等から構成される。データ処理・
制御部14には、外部記憶装置15及びディスプレイ1
6が接続されている。EXAMPLE A gas chromatograph mass spectrometer (GC / MS) which is an example of the present invention will be described with reference to FIGS. The gas chromatograph mass spectrometer of this embodiment is shown in FIG.
As shown in FIG. 2, it is composed of an injector (injector) 11, a gas chromatograph section (GC) 12, a mass spectrometric section (MS) 13, a data processing / control section 14, and the like. Data processing·
The control unit 14 includes an external storage device 15 and a display 1.
6 is connected.
【0012】このガスクロマトグラフ質量分析装置によ
りモニタイオンを決定し、自動グルーピングを行なった
後、SIM分析を行なう場合の手順を図1〜図5により
説明する。まず、スキャンモード(質量を連続的に走査
することにより、連続的なマススペクトルを得るモー
ド)による分析を行なう前に、分析者が目的化合物を先
に指定する方法について説明する。A procedure for determining monitor ions by this gas chromatograph mass spectrometer, performing automatic grouping, and then performing SIM analysis will be described with reference to FIGS. First, a method will be described in which the analyst first specifies the target compound before performing the analysis in the scan mode (the mode in which the mass is continuously scanned to obtain a continuous mass spectrum).
【0013】まず分析者がキーボードより、分析しよう
とする目的の化合物の名前を入力する(ステップS
1)。これに対し、データ処理・制御部14は、接続さ
れた外部記憶装置15に格納されているデータベースを
参照することにより、入力された化合物のマススペクト
ル(具体的には、その化合物の分子イオンM+及びフラ
グメントイオン[M−A]+及びベースピーク(=相対
強度が100%であるイオン)の質量数(m/z)並び
にその強度比のデータ)を読み出す(ステップS2)。First, the analyst inputs the name of the target compound to be analyzed from the keyboard (step S).
1). On the other hand, the data processing / control unit 14 refers to the database stored in the external storage device 15 connected to the data processing / control unit 14 to refer to the mass spectrum of the input compound (specifically, the molecular ion M of the compound). The mass number (m / z) of the + and fragment ions [MA] + and the base peak (= ion having a relative intensity of 100% and the data of the intensity ratio) are read (step S2).
【0014】次に、データ処理・制御部14からの指示
に従って分析者が試料を注入器11から注入すると、デ
ータ処理・制御部14はスキャンモードで質量分析を行
なう(ステップS3)。この分析は、後に行なうSIM
分析の為の準備的なものである。データ処理・制御部1
4は、このスキャンモード分析で得られた各時点のマス
スペクトルの中で、ステップS2で読み出されたマスス
ペクトルに合致するものを探す(ステップS4)。次
に、全てのマススペクトルからTIC(トータルイオン
クロマトグラム)を作成し、TICの中におけるこの合
致マススペクトルの位置より、その目的化合物の保持時
間trを検出する(ステップS5)。そして、各目的化
合物のモニタイオンを自動的に決定する(ステップS
6)。モニタイオンをデータ処理・制御部14により自
動的に決定する方法については、本願出願人の出願に係
る特願平6−194924号明細書に詳細が記載されて
いる。こうして、ステップS1で入力された全ての目的
化合物について保持時間tr及びSIM分析のためのモ
ニタイオンを決定した後、図2(a)に示すようなSI
Mテーブルを作成する。Next, when the analyst injects the sample from the injector 11 according to the instruction from the data processing / control unit 14, the data processing / control unit 14 performs mass spectrometry in the scan mode (step S3). This analysis will be performed later
Preparatory for analysis. Data processing / control unit 1
Among the mass spectra obtained at each time point in this scan mode analysis, the search unit 4 searches for one that matches the mass spectrum read in step S2 (step S4). Next, a TIC (total ion chromatogram) is created from all the mass spectra, and the retention time tr of the target compound is detected from the position of this matching mass spectrum in the TIC (step S5). Then, the monitor ion of each target compound is automatically determined (step S
6). The details of the method for automatically determining the monitor ions by the data processing / control unit 14 are described in the specification of Japanese Patent Application No. 6-194924 filed by the applicant of the present application. In this way, after the retention time tr and the monitor ion for SIM analysis are determined for all the target compounds input in step S1, the SI as shown in FIG.
Create M table.
【0015】次に、これらモニタイオンについて、後述
の自動グルーピングを行なう(ステップS7)。グルー
ピングが終了した後、再度注入部11から試料を注入
し、SIM分析を開始する(ステップS8)。この際、
質量分析部13ではグルーピングの結果作成されたSI
Mテーブル(図2(b))に基づき、保持時間の各部分
区間毎にモニタイオンのセットを切り換えてSIM分析
を行なう。Next, these monitor ions are subjected to automatic grouping described later (step S7). After the grouping is completed, the sample is injected again from the injection part 11 and the SIM analysis is started (step S8). On this occasion,
In the mass spectrometric section 13, the SI created as a result of grouping
Based on the M table (FIG. 2B), the set of monitor ions is switched for each partial section of the retention time, and SIM analysis is performed.
【0016】次に、ステップS7における自動グルーピ
ングについて詳しく説明する。本実施例の装置では2種
の方法で自動グルーピングを行なうことができ、分析者
は予めいずれかのモードを選択することができる。一つ
は感度を重視して、各化合物をできる限り正確に定量し
ようとするモード(感度重視モード)であり、他方は分
析を迅速に行なうことを重視し、各化合物の定量につい
ては、全体的な濃度比が比較できればよいとするモード
(全体観察モード)である。Next, the automatic grouping in step S7 will be described in detail. The apparatus of this embodiment can perform automatic grouping by two methods, and the analyst can select either mode in advance. One is a mode that emphasizes sensitivity and tries to quantify each compound as accurately as possible (sensitivity-oriented mode), and the other emphasizes that analysis is performed quickly. This is a mode (overall observation mode) in which it is only necessary to compare different concentration ratios.
【0017】まず、感度重視モードが選択されている場
合について、図3のフローチャートにより説明する。最
初にデータ処理・制御部14は、TICにおける各目的
化合物のピークトップの前後に所定の時間幅a(たとえ
ば1分)を取ることにより、1個のピークを中心とした
区間(これをピーク区間と呼ぶ)を設定してゆく(ステ
ップS21)。全ての目的化合物についてピーク区間を
決定した後、保持時間trの短い方から順に隣接ピーク
区間の間の隙間の長さ(時間)bを算出し(ステップS
22)、それが所定の基準値b0(たとえば0.5分)
以上であるか否かを判定する(ステップS23)。隣接
ピーク区間の間の隙間の長さがb0未満であるとき(隣
接ピーク区間がオーバーラップしている場合も含む)
は、そのピーク間で分割することはできないため、ステ
ップS22に戻って次の隣接ピーク区間について同様の
判定を行なう。隣接ピーク区間の間にb0以上の隙間が
空いているときには、そこをグルーピングの分割点と
し、その点以前のピークの化合物のモニタイオンでグル
ープを設定する(ステップS24)。そして、全てのピ
ークについて隙間長さのチェックが終了したか否かを判
定し(ステップS25)、未だ残っている場合にはステ
ップS22に戻る。こうしてTICの各隣接ピーク区間
について順次分割可能か否かを判定し、分割可能な箇所
においては分割を行なうことにより全モニタイオンのグ
ルーピングを行なう。グルーピングを行なった結果は、
図2(b)に示すようなSIMテーブルにまとめられ、
後にSIM分析を行なう際(ステップS8)に参照され
る。これにより感度重視モードでは、1グループ内に含
まれる化合物はできる限り少なくなるようにグルーピン
グが行なわれ、感度の高いSIM分析を行なうことがで
きるようになる。First, the case where the sensitivity priority mode is selected will be described with reference to the flowchart of FIG. First, the data processing / control unit 14 takes a predetermined time width a (for example, 1 minute) before and after the peak top of each target compound in TIC to determine a section centered on one peak (this section is a peak section). Is called) (step S21). After determining the peak intervals for all the target compounds, the gap length (time) b between the adjacent peak intervals is calculated in order from the shorter retention time tr (step S
22), which is a predetermined reference value b0 (for example, 0.5 minutes)
It is determined whether or not the above (step S23). When the length of the gap between adjacent peak sections is less than b0 (including the case where adjacent peak sections overlap)
Cannot be divided between the peaks, the process returns to step S22 and the same determination is performed for the next adjacent peak section. When there is a gap of b0 or more between the adjacent peak sections, it is set as a division point of the grouping, and a group is set by the monitor ions of the compound of the peak before that point (step S24). Then, it is determined whether or not the check of the gap length has been completed for all the peaks (step S25), and if there are still peaks, the process returns to step S22. In this way, it is determined whether or not each adjacent peak section of the TIC can be sequentially divided, and the division is performed at the dividable portions, so that all monitor ions are grouped. The result of grouping is
The SIM table as shown in FIG.
It is referred to later when performing SIM analysis (step S8). As a result, in the sensitivity-oriented mode, grouping is performed so that the number of compounds included in one group is as small as possible, and high-sensitivity SIM analysis can be performed.
【0018】なお、上記モードにおいては、分割するか
否かの基準となる間隔b0を変化させることにより、分
析目的の調整を行なうこともできる。すなわち、分割を
行なう判定基準となる間隔b0を小さく設定しておくこ
とにより分割数は多くなり、より高感度の分析が可能と
なる。逆に、基準間隔b0を大きく設定しておくことに
より分割数を減らし、次に述べる全体観察モードに近く
することができる。In the above mode, it is also possible to adjust the purpose of analysis by changing the interval b0 that serves as a reference for dividing. That is, by setting the interval b0, which is the criterion for division, to be small, the number of divisions increases, and higher sensitivity analysis becomes possible. On the contrary, by setting the reference interval b0 large, it is possible to reduce the number of divisions and to approximate the whole observation mode described below.
【0019】次に、感度重視モードが選択されている場
合について、図4のフローチャートにより説明する。最
初にデータ処理・制御部14は、SIMテーブル(図2
(a))に書き込まれている全モニタイオンの個数Nを
カウントする(ステップS31)。そして、この全モニ
タイオンの個数Nが本ガスクロマトグラフ質量分析装置
の同時検出可能イオン数β以下であるか否かを判定する
(ステップS32)。N≦βであれば全モニタイオンを
1グループとする(ステップS33)。これにより、目
的化合物全体の量比を迅速に測定することができる。Next, the case where the sensitivity priority mode is selected will be described with reference to the flowchart of FIG. First, the data processing / control unit 14 displays the SIM table (see FIG.
The number N of all monitor ions written in (a)) is counted (step S31). Then, it is determined whether or not the number N of all monitor ions is equal to or less than the number β of ions that can be simultaneously detected by the gas chromatograph mass spectrometer (step S32). If N ≦ β, all monitor ions are grouped (step S33). Thereby, the quantitative ratio of the entire target compound can be measured quickly.
【0020】一方、ステップS32でN>βである場合
は、装置の限界のために1回のSIM分析で全ての目的
化合物の測定を行なうことはできない。従って、全モニ
タイオンをNG=[INT(N/β)+1](INT(x)は
xを超えない最大の整数を表わす)グループに分割する
こととする。そして、この際、化合物数が各グループで
できるだけ均等になるように(モニタイオンの数が均等
になるようにしてもよい)、SIMテーブルの化合物を
分割する。具体的には、SIMテーブルの保持時間の短
い方から順にモニタイオンをカウントしてゆき、INT
(N/NG)個目が化合物の切れ目と一致していればそ
こを仮境界とし、そうでなければ、その直前の化合物の
切れ目を仮境界とする(ステップS34)。次に、この
ようにして決定した仮境界を挟む両側のピークの保持時
間trの差Δtrを所定の下限値Δtrminと比較し(ステ
ップS35)、Δtr≧Δtrminである場合は、その仮
境界を本境界として、それ迄のモニタイオンを1グルー
プとする(ステップS36)。Δtr<Δtrminである
場合は、その直前の化合物の切れ目を境界とする(ステ
ップS37)。その直前の切れ目においてもΔtr<Δ
trminである場合は、さらにその直前の切れ目を境界と
する(同)。こうして第1グループを決定した後、NG
個のグループ全てについて境界の確定が終了したか否か
を判定する(ステップS38)。確定グループ数が未だ
NGに達していない場合はステップS34に戻り、確定
したグループの直後から再びモニタイオンのカウントを
開始してINT(N/NG)個目で上記同様に仮境界及び本
境界を決定する。On the other hand, if N> β in step S32, it is not possible to measure all the target compounds by one SIM analysis due to the limitation of the apparatus. Therefore, it is assumed that all monitor ions are divided into NG = [INT (N / β) +1] (INT (x) represents the maximum integer not exceeding x) groups. Then, at this time, the compounds in the SIM table are divided so that the number of compounds is as equal as possible in each group (the number of monitor ions may be equal). Specifically, monitor ions are counted in order from the one with the shortest retention time in the SIM table, and INT
If the (N / NG) -th item coincides with the break of the compound, it is set as the temporary boundary, and if not, the break of the compound immediately before that is set as the temporary boundary (step S34). Next, the difference Δtr between the retention times tr of the peaks on both sides of the temporary boundary thus determined is compared with a predetermined lower limit value Δtrmin (step S35). If Δtr ≧ Δtrmin, the temporary boundary is determined as As a boundary, the monitor ions up to that point are grouped (step S36). When Δtr <Δtrmin, the break of the compound immediately before that is set as the boundary (step S37). Even at the break immediately before that, Δtr <Δ
In the case of trmin, the break immediately before that is set as the boundary (same). After deciding the first group in this way, NG
It is determined whether the boundaries have been determined for all the groups (step S38). If the number of confirmed groups has not yet reached NG, the process returns to step S34, counting of monitor ions is started again immediately after the confirmed group, and the temporary boundary and the main boundary are set at the INT (N / NG) th position in the same manner as above. decide.
【0021】こうしてモニタイオンのグルーピングを行
なってゆき、NG個のグループのモニタイオンセットを
作成した後、SIMテーブルにおいてモニタイオンが余
った場合は、グループの数を[NG+1]個として上記
同様の処理を繰り返す(ステップS39→S40→S3
4)。以上により、全モニタイオンの全体観察モードに
よるグルーピングが終了する。After the monitor ions are grouped in this way to form monitor ion sets of NG groups, if monitor ions remain in the SIM table, the number of groups is set to [NG + 1] and the same processing as above is performed. Is repeated (steps S39 → S40 → S3
4). As a result, the grouping of all monitor ions in the overall observation mode is completed.
【0022】上記は、目的化合物を先に指定し、その後
スキャンモードで質量分析するという順序であったが、
まずスキャンモードで質量分析を行ない、TICを作成
した後目的化合物を指定するという順序で行なうことも
できる。これを図5のフローチャートにより説明する。
まず、注入部より試料を注入して、スキャンモードで質
量分析を行なう(ステップS51)。これにより得られ
た各時点のマスクロマトグラムよりTICを作成し(ス
テップS52)、所定の基準によりTICに現われる全
てのピークを検出する(ステップS53)。これら各ピ
ークについて、外部記憶装置15に格納されているデー
タベース(DB)を参照することにより、そのマススペ
クトルに合致する化合物を検索する。そして上記同様、
特願平6−194924号明細書に記載された方法によ
りモニタイオンを決めておく(ステップS54)。一
方、各ピークに化合物名を付記したTICのグラフをデ
ィスプレイ16上に表示し、分析者による目的化合物の
指定を待つ。分析者はディスプレイ16上に表示された
TICカーブを見ながら、マウス又はキーボード等の操
作により、SIM分析を行なう目的化合物のピークを指
定する(ステップS55)。目的化合物の指定がなされ
ると、データ処理・制御部14は図2(a)に示すよう
なSIMテーブルを作成する(ステップS56)。この
SIMテーブルの各モニタイオンに対して、上記の自動
グルーピングを行なう(ステップS57)。そして、分
析者が再度注入部11から試料を注入し、所定の分析開
始キー操作を行なうと、データ処理・制御部14はグル
ーピングが行なわれたSIMテーブル(図2(b))に
基づきSIM分析を行なう(ステップS58)。In the above, the target compound was designated first, and then the mass spectrometry was performed in the scan mode.
It is also possible to first perform mass spectrometry in scan mode, create a TIC, and then specify a target compound. This will be described with reference to the flowchart of FIG.
First, a sample is injected from the injection part and mass spectrometry is performed in scan mode (step S51). A TIC is created from the mass chromatogram obtained at each time point (step S52), and all peaks appearing in the TIC are detected according to a predetermined standard (step S53). With respect to each of these peaks, a database (DB) stored in the external storage device 15 is referred to search for a compound that matches the mass spectrum. And like above
Monitor ions are determined in advance by the method described in Japanese Patent Application No. 6-194924 (step S54). On the other hand, a TIC graph in which a compound name is added to each peak is displayed on the display 16 and the analyzer waits for designation of the target compound. The analyst specifies the peak of the target compound for SIM analysis by operating the mouse or keyboard while looking at the TIC curve displayed on the display 16 (step S55). When the target compound is designated, the data processing / control unit 14 creates a SIM table as shown in FIG. 2A (step S56). The above-described automatic grouping is performed on each monitor ion in the SIM table (step S57). Then, when the analyst again injects the sample from the injecting unit 11 and performs a predetermined analysis start key operation, the data processing / control unit 14 performs SIM analysis based on the SIM table (FIG. 2B) in which the grouping is performed. Is performed (step S58).
【0023】[0023]
【発明の効果】本発明に係るクロマトグラフ質量分析装
置では、分析者による面倒な操作を必要とすることなく
グルーピングを自動的に行なう。このため、他の操作の
自動化と相まって、SIM分析の全自動化が可能とな
り、誰でもが簡単に高感度の分析を行なうことができる
ようになる。また、本装置においては、分割の基準とす
るピーク間隔の時間を大小変化させることにより、でき
るだけ細分割したグルーピングや大まかなグルーピング
等を任意に選択することができる。従って、例えばでき
るだけ高感度で分析を行ないたいときは基準時間間隔を
小さくして細分割グルーピングを行ない、逆にできるだ
け速やかに分析して全体の構成比を観察したいときは基
準時間間隔を大きくして大まかなグルーピングを行なう
というように、目的に応じた最適なグルーピングを行な
うことができるようになる。In the chromatograph mass spectrometer according to the present invention, grouping is automatically performed without requiring a troublesome operation by an analyst. Therefore, in combination with automation of other operations, SIM analysis can be fully automated, and anyone can easily perform highly sensitive analysis. Further, in the present apparatus, by varying the time of the peak interval serving as a reference of division, it is possible to arbitrarily select subdivided grouping or rough grouping as much as possible. Therefore, for example, if you want to perform analysis with the highest sensitivity possible, reduce the reference time interval to perform subdivision grouping, and conversely, if you want to analyze as quickly as possible and observe the overall composition ratio, increase the reference time interval. Optimal grouping can be performed according to the purpose, such as performing rough grouping.
【図1】 本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ
質量分析装置におけるSIM分析の一つの手順を示すフ
ローチャート。FIG. 1 is a flowchart showing one procedure of SIM analysis in a gas chromatograph mass spectrometer which is an embodiment of the present invention.
【図2】 SIM分析の前に作成されるSIMテーブル
の内容を示す説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram showing the contents of a SIM table created before SIM analysis.
【図3】 感度重視モードにおける自動グルーピング処
理の手順を示すフローチャート。FIG. 3 is a flowchart showing a procedure of automatic grouping processing in the sensitivity-oriented mode.
【図4】 全体観察モードにおける自動グルーピング処
理の手順を示すフローチャート。FIG. 4 is a flowchart showing a procedure of automatic grouping processing in the whole observation mode.
【図5】 実施例のガスクロマトグラフ質量分析装置に
おける他のSIM分析方法の手順を示すフローチャー
ト。FIG. 5 is a flowchart showing a procedure of another SIM analysis method in the gas chromatograph mass spectrometer of the embodiment.
【図6】 実施例のガスクロマトグラフ質量分析装置の
概略構成図。FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a gas chromatograph mass spectrometer according to an example.
【図7】 全イオンクロマトグラムの一例を示すグラ
フ。FIG. 7 is a graph showing an example of a total ion chromatogram.
【図8】 クロマトグラムと質量走査パターンの関係を
示すグラフ。FIG. 8 is a graph showing a relationship between a chromatogram and a mass scanning pattern.
【図9】 マススペクトル及びそのセントロイド表示の
一例を示すグラフ。FIG. 9 is a graph showing an example of a mass spectrum and its centroid display.
11…注入器 12…ガスクロマトグラフ部 13…質量分析部 14…データ処理・制御部 15…外部記憶装置 16…ディスプレイ 11 ... Injector 12 ... Gas chromatograph part 13 ... Mass spectrometric part 14 ... Data processing / control part 15 ... External storage device 16 ... Display
Claims (1)
た試料に対して、所定のモニタイオンについて質量分析
装置により分析を行なう、SIM法を用いたクロマトグ
ラフ質量分析装置において、 a)クロマトグラフ装置を通過した試料に対して質量分析
装置において短時間毎に繰り返し質量走査することによ
り、短時間毎のマススペクトルを採取するマススペクト
ル採取手段と、 b)採取されたマススペクトルから全イオンクロマトグラ
ムを作成し、全イオンクロマトグラムの各ピークの間隔
が所定値以上である箇所を境界として全イオンクロマト
グラムを複数の区間に分割する分割手段と、 c)分割された各区間毎にモニタイオンを切り換えてSI
M分析を行なうSIM制御手段と、を備えることを特徴
とするSIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置。1. A chromatograph mass spectrometer using the SIM method, wherein a sample separated into components by a chromatograph is analyzed by a mass spectrometer with respect to predetermined monitor ions. A mass spectrum sampling means for collecting mass spectra for each short time by repeatedly performing mass scanning for each sample in the mass spectrometer for the sample thus prepared, and b) creating an all-ion chromatogram from the collected mass spectra. , A dividing means for dividing the total ion chromatogram into a plurality of sections with a position where the interval of each peak of the total ion chromatogram is equal to or more than a predetermined value as a boundary, and c) switching monitor ions for each of the divided sections, and SI
A chromatograph mass spectrometer using the SIM method, comprising: SIM control means for performing M analysis.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6292300A JPH08129001A (en) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | Chromatograph mass spectrometer using sim method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP6292300A JPH08129001A (en) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | Chromatograph mass spectrometer using sim method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08129001A true JPH08129001A (en) | 1996-05-21 |
Family
ID=17779980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP6292300A Pending JPH08129001A (en) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | Chromatograph mass spectrometer using sim method |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH08129001A (en) |
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