JPH0740016B2 - Chromatograph / Mass Spectrometer - Google Patents

Chromatograph / Mass Spectrometer

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JPH0740016B2
JPH0740016B2 JP3058676A JP5867691A JPH0740016B2 JP H0740016 B2 JPH0740016 B2 JP H0740016B2 JP 3058676 A JP3058676 A JP 3058676A JP 5867691 A JP5867691 A JP 5867691A JP H0740016 B2 JPH0740016 B2 JP H0740016B2
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Japan
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measurement
retention time
time range
target
δti
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勝博 中川
研吉 長門
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Shimadzu Corp
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフや
液体クロマトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量
分析計とを接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置
に係り、特には選択イオンモニタ(SIM)法を適用する
場合に必要となるSIM測定テーブル作成のための手段
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a chromatograph / mass spectrometer in which various chromatographs such as a gas chromatograph and a liquid chromatograph are connected to a mass spectrometer, and more particularly to a selective ion monitor (SIM). The present invention relates to means for creating a SIM measurement table required when the method is applied.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフや液体クロ
マトグラフなどの各種のクロマトグラフと質量分析計と
を接続してなるクロマトグラフ/質量分析装置におい
て、特定の成分の定量分析を行う場合には、選択イオン
モニタ(SIM)法が採用されることがある。この選択イ
オンモニタ法は、定量対象となる成分に対応する特定の
ターゲットイオンを予め選定しておき、質量分析計の加
速電圧をターゲットイオンの特有の質量数(m/z)に対応
する値に設定して、ターゲットイオンの経時的な強度変
化を示すクロマトグラムを測定するものである。なお、
その後は、上記のクロマトグラムについて、ピーク面積
(たとえばピーク高さ×半値幅)を算出して予め求めた検
量線に基づいて成分の含有量などを決定する。
2. Description of the Related Art Generally, in a chromatograph / mass spectrometer in which various chromatographs such as a gas chromatograph and a liquid chromatograph are connected to a mass spectrometer, when quantitative analysis of a specific component is performed, selection is made. The ion monitor (SIM) method may be adopted. In this selective ion monitoring method, specific target ions corresponding to the components to be quantified are selected in advance, and the acceleration voltage of the mass spectrometer is set to a value corresponding to the specific mass number (m / z) of the target ions. It is set and the chromatogram showing the time-dependent intensity change of the target ion is measured. In addition,
After that, for the above chromatogram, the peak area
(For example, peak height × half-width) is calculated, and the content of the component or the like is determined based on the calibration curve previously obtained.

【0003】このように、選択イオンモニタ法は、イオ
ン種を予め限定してクロマトグラムを測定するので、共
存する妨害成分の影響を受け難く、しかも、各成分につ
いてデータの採取時間を長くとることができるのでS/
N比に優れ、測定感度が非常に高く、定量分析に適して
いる。
As described above, since the selective ion monitor method measures the chromatogram by limiting the ion species in advance, it is not easily affected by coexisting interfering components, and the data collection time for each component is long. S /
It has an excellent N ratio and very high measurement sensitivity and is suitable for quantitative analysis.

【0004】ところで、上記のような選択イオンモニタ
法による定量分析を行う場合には、予め定量すべき対象
成分のターゲットイオンを特定するのに必要な同定テー
ブルと、これらのターゲットイオンの各クロマトグラム
の測定条件を決めるに必要なSIM測定テーブルとをそ
れぞれ作成する必要がある。
When performing the quantitative analysis by the selective ion monitoring method as described above, an identification table necessary for specifying the target ions of the target components to be quantified in advance and the respective chromatograms of these target ions. It is necessary to create the SIM measurement table and the SIM measurement table necessary for determining the measurement conditions of the above.

【0005】上記の同定テーブルとSIM測定テーブル
は、従来、次のようにして作成している。
The above-mentioned identification table and SIM measurement table are conventionally created as follows.

【0006】たとえば、質量数がそれぞれ(m/z)1,(m/
z)2,(m/z)3の既知の各ターゲットイオンa〜cについ
て、図7に示すような各クロマトグラムが観察される場
合、これらのクロマトグラムを特定するために、ターゲ
ットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/z)3、各ターゲット
イオンa〜cのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間t1〜t3、およびクロマトグラムのピークト
ップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅Δt1〜Δt3を予
め決定し、これらの質量数(m/z)1〜(m/z)3、標準保持時
間t1〜t3、許容保持時間幅Δt1〜Δt3を互いに対応付け
ることにより同定テーブルを作成する。
For example, the mass numbers are (m / z) 1 and (m / z), respectively.
For each of the known target ions a to c of z) 2 and (m / z) 3 , when each chromatogram as shown in FIG. 7 is observed, in order to specify these chromatograms, the target ions a to Mass number of c (m / z) 1 to (m / z) 3 , standard retention time t 1 to t 3 indicating the peak top position of the chromatogram of each target ion a to c, and fluctuation of the peak top of the chromatogram The allowable retention time width Δt 1 to Δt 3 that determines the width is determined in advance, and these mass numbers (m / z) 1 to (m / z) 3 , standard retention times t 1 to t 3 , allowable retention time width Δt 1 An identification table is created by associating ~ Δt 3 with each other.

【0007】また、クロマトグラムの測定条件を決める
ために、各ターゲットイオンa〜cの質量数(m/z)1〜(m/
z)3、および測定保持時間範囲R1〜R3を決定し、さら
に、測定保持時間範囲R1〜R3の重なりの有無を調べ、
測定保持時間範囲が互いに重なる場合には(この例では
1とR2とが重なっている)、これらの測定保持時間範
囲をカバーする最小の時間範囲R0を改めて測定保持時
間範囲として決定し、これらの質量数(m/z)と測定保持
時間範囲R0、R3とを互いに対応付けることによりSI
M測定テーブルを作成する。
In order to determine the measurement conditions for the chromatogram, the mass numbers (m / z) 1 to (m / z) of the target ions a to c are determined.
z) 3 , and the measurement holding time ranges R 1 to R 3 are determined, and further the presence or absence of the measurement holding time ranges R 1 to R 3 is checked,
When the measurement holding time ranges overlap each other (R 1 and R 2 overlap in this example), the minimum time range R 0 that covers these measurement holding time ranges is newly determined as the measurement holding time range. , SI can be obtained by associating these mass numbers (m / z) with the measurement retention time ranges R 0 and R 3.
Create M measurement table.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来技術
では、同定テーブルとSIM測定テーブルとをそれぞれ
別個に作成しているので、テーブル作成に手間がかかる
ばかりでなく、SIM測定テーブルの作成に際しては、
さらに、測定保持時間範囲の重なりの有無を調べてその
範囲を再調整する必要があり、テーブル作成が煩雑にな
っていた。
As described above, in the prior art, since the identification table and the SIM measurement table are created separately, not only is it troublesome to create the table, but also when creating the SIM measurement table. Is
Furthermore, it is necessary to check whether or not the measurement retention time ranges overlap and readjust the ranges, which complicates table creation.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、同定テーブル
を作成すると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動
的に作成されるようにして、選択イオンモニタ(SIM)
法に基づく定量分析を効率良く行えるようにするもので
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems. When an identification table is created, a SIM measurement table is automatically created accordingly. Select ion monitor (SIM)
It enables efficient quantitative analysis based on the method.

【0010】そのため、本発明では、定量すべき対象成
分を特定するのに必要なターゲットイオンの質量数、各
ターゲットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置
を示す標準保持時間(ti、i=1,2,…)、およびクロ
マトグラムのピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持
時間幅(Δti、i=1,2,…)をそれぞれ与える同定テ
ーブルを備えたクロマトグラフ/質量分析装置におい
て、次の構成を採る。
Therefore, in the present invention, the mass number of the target ion necessary for specifying the target component to be quantified, and the standard retention time (ti, i = 1, 2, which indicates the peak top position of the chromatogram of each target ion). , ...), and a chromatograph / mass spectrometer with an identification table that gives the allowable retention time width (Δti, i = 1, 2, ...) That determines the fluctuation width of the peak top of the chromatogram. take.

【0011】すなわち、本発明の装置では、図1の機能
ブロック図に示すように、同定テーブルに基づいて、許
容保持時間幅(Δti)に一定値(f)を掛けた測定保持時間
幅(f・Δti)を算出するとともに、この測定保持時間幅
(f・Δti)と前記標準保持時間(ti)とから各ターゲット
イオンについての測定保持時間範囲(Ri=ti−f・Δti
〜ti+f・Δti)を設定する測定保持時間範囲設定手段1
と、この測定保持時間範囲設定手段1で設定された各測
定保持時間範囲(Ri)を各ターゲットイオンごとに時間
軸上にプロットしてタイムチャートを作成するタイムチ
ャート作成手段2と、このタイムチャート作成手段2で
作成されたタイムチャートの測定保持時間範囲(Ri)が
互いに重なるターゲットイオンどうしを一つのグループ
とし、各グループに含まれるターゲットイオンの測定保
持時間範囲(Ri)を全てカバーする最小の時間範囲を最
適測定保持時間範囲(Ti)として決定するとともに、各
グループごとにそのターゲットイオンの質量数と前記最
適測定保持時間範囲(Ti)とを互いに対応付けたSIM
測定テーブルを作成するSIM測定テーブル作成手段3
とを備えている。
That is, in the apparatus of the present invention, as shown in the functional block diagram of FIG. 1, the measurement holding time width (f) obtained by multiplying the allowable holding time width (Δti) by a constant value (f) is based on the identification table.・ Δti) is calculated and this measurement holding time width
(f · Δti) and the standard retention time (ti), the measurement retention time range for each target ion (Ri = ti−f · Δti
Measurement holding time range setting means 1 for setting up to ti + f · Δti)
And a time chart creating means 2 for creating a time chart by plotting each measurement holding time range (Ri) set by the measurement holding time range setting means 1 on the time axis for each target ion, and this time chart The target ions whose measurement retention time ranges (Ri) of the time chart created by the creating means 2 overlap each other are defined as one group, and the minimum measurement target time range (Ri) of all target ions included in each group is covered. A SIM in which the time range is determined as the optimum measurement retention time range (Ti) and the mass number of the target ion and the optimum measurement retention time range (Ti) are associated with each other for each group.
SIM measurement table creating means 3 for creating a measurement table
It has and.

【0012】[0012]

【作用】上記構成において、測定保持時間範囲設定手段
1は、同定テーブルに基づいて、各ターゲットイオンに
ついての測定保持時間範囲(Ri)を設定し、次いで、タ
イムチャート作成手段2は、この各測定保持時間範囲
(Ri)を各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロット
してタイムチャートを作成する。続いて、最適測定保持
時間範囲作成手段3は、タイムチャート上の測定保持時
間範囲(Ri)が互いに重なるターゲットイオンどうしを
一つのグループとし、各グループに含まれるターゲット
イオンの測定保持時間範囲(Ri)を全てカバーする最小
の時間範囲を最適測定保持時間範囲(Ti)として決定し
てSIM測定テーブルを作成する。
In the above structure, the measurement holding time range setting means 1 sets the measurement holding time range (Ri) for each target ion based on the identification table, and then the time chart creating means 2 sets the measurement holding time range. Retention time range
(Ri) is plotted for each target ion on the time axis to create a time chart. Subsequently, the optimum measurement retention time range creation means 3 sets the target ions whose measurement retention time ranges (Ri) on the time chart overlap each other as one group, and sets the measurement retention time range (Ri) of the target ions included in each group. ) Is determined as the optimum measurement holding time range (Ti) and a SIM measurement table is created.

【0013】つまり、同定テーブルが一旦作成される
と、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的に作成さ
れることになる。
That is, once the identification table is created, the SIM measurement table is automatically created accordingly.

【0014】[0014]

【実施例】図2は本発明の実施例に係るガスクロマトグ
ラフ/質量分析装置の全体を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing the entire gas chromatograph / mass spectrometer according to an embodiment of the present invention.

【0015】同図において、符号10はガスクロマトグ
ラフ/質量分析装置の全体を示し、12はガスクロマト
グラフ、14は質量分析計、16はガスクロマトグラフ
12と質量分析計14の動作を制御するとともに、質量
分析計14で得られるデータを処理するCPU、18は
必要な制御プログラムや後述する同定テーブル、SIM
測定テーブル、および測定データが格納されるメモリ、
20は同定テーブルのパラメータ等を入力するためのキ
ーボード、22はメモリ18の内容を表示するCRTで
ある。
In the figure, reference numeral 10 indicates the entire gas chromatograph / mass spectrometer, 12 is a gas chromatograph, 14 is a mass spectrometer, 16 is a gas chromatograph 12 and the operation of the mass spectrometer 14 is controlled, A CPU, 18 for processing data obtained by the analyzer 14 is a necessary control program, an identification table described later, and a SIM.
Measurement table and memory where measurement data is stored,
Reference numeral 20 is a keyboard for inputting parameters of the identification table, and 22 is a CRT for displaying the contents of the memory 18.

【0016】そして、図1の機能ブロック図に示した測
定保持時間範囲設定手段1、タイムチャート作成手段
2、およびSIM測定テーブル作成手段3は、本例では
CPU16とメモリ18により実現される。
The measurement holding time range setting means 1, the time chart creating means 2 and the SIM measurement table creating means 3 shown in the functional block diagram of FIG. 1 are realized by the CPU 16 and the memory 18 in this example.

【0017】次に、上記構成のガスクロマトグラフ/質
量分析装置10によるSIM測定テーブルの作成動作に
ついて説明する。
Next, the operation of creating the SIM measurement table by the gas chromatograph / mass spectrometer 10 having the above-mentioned configuration will be described.

【0018】いま、たとえば、7種の成分を定量するた
め、図3に示すような同定テーブルが作成されたものと
する。この同定テーブルの作成は、たとえば、所定の質
量範囲を繰り返し走査してその範囲内の全ての質量数の
マススペクトルを測定し、その結果に基づいて各成分ご
との時間変化を示すマスクロマトグラムを求める。そし
て、このマスクロマトグラムから、各成分a〜gに対応す
るターゲットイオンの質量数(m/z)1〜(m/z)7、各ターゲ
ットイオンのクロマトグラムのピークトップ位置を示す
標準保持時間(ti、i=1〜7)、およびクロマトグラム
のピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅(Δt
i、i=1〜7)をそれぞれ決定し、これらの各パラメー
タをキーボード20から入力することにより行われる。
こうして作成された同定テーブルは、メモリ18に格納
される。
Now, for example, it is assumed that an identification table as shown in FIG. 3 is created in order to quantify seven kinds of components. This identification table is created, for example, by repeatedly scanning a predetermined mass range and measuring mass spectra of all mass numbers within the range, and based on the result, a mass chromatogram showing the time change of each component is obtained. Ask. Then, from this mass chromatogram, the mass number of the target ion corresponding to each component a to g (m / z) 1 to (m / z) 7 , the standard retention time indicating the peak top position of the chromatogram of each target ion (ti, i = 1 to 7), and the allowable retention time width (Δt
i, i = 1 to 7) are respectively determined, and these respective parameters are input from the keyboard 20.
The identification table created in this way is stored in the memory 18.

【0019】次に、CPU16は、メモリ18に記憶さ
れている同定テーブルに基づいて、許容保持時間幅(Δt
i)に一定値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δti)を算出
する。ここに(f)はピ−クの開始点と終点が測定保持時
間範囲内に入り、しかもピ−ク検出できる測定保持時間
範囲を与える値である。
Next, the CPU 16 determines the allowable holding time width (Δt based on the identification table stored in the memory 18).
The measurement retention time width (f · Δti) is calculated by multiplying i) by a fixed value (f). Here, (f) is a value that gives the measurement holding time range in which the peak start point and the peak end point are within the measurement holding time range and the peak can be detected.

【0020】続いて、この測定保持時間幅(f・Δti)と
標準保持時間(ti)とから各ターゲットイオンについての
測定保持時間範囲(Ri=ti−f・Δti〜ti+f・Δti、i
=1〜7)を設定する。
Next, from the measured retention time width (f.Δti) and the standard retention time (ti), the measured retention time range (Ri = ti-f.Δti to ti + f.Δti, i) for each target ion is obtained.
= 1 to 7) is set.

【0021】次に、各測定保持時間範囲(Ri)を各ター
ゲットイオンごとに(この例では質量数(m/z)1〜(m/z)7
ごとに)時間軸上にプロットして、図4に示すようなタ
イムチャートを作成する。
Next, the measurement retention time range (Ri) is set for each target ion (in this example, the mass number (m / z) 1 to (m / z) 7
Plot each time) on the time axis to create a time chart as shown in FIG.

【0022】引き続いて、タイムチャート上の測定保持
時間範囲(Ri)が重なるターゲットイオンどうしを一つ
のグループとする。この例では、R1,R2,R4が重な
るので1グループ、R3は重なるものがないので単独で
1グループ、R5,R6,R7が重なるので1グループと
なり、全部で3つのグループができる。
Subsequently, target ions having overlapping measurement retention time ranges (Ri) on the time chart are grouped together. In this example, R 1 , R 2 , and R 4 are overlapped so that one group is formed. R 3 has no overlap, so that one group is independently formed, and R 5 , R 6 , and R 7 are overlapped so that one group is formed. I have a group.

【0023】そして、各グループごとに、そのグループ
に含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri)
を全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間範
囲(Ti)として決定する。したがって、この例では、
1,T2,T3がそれぞれ最適測定保持時間範囲とな
る。ここで、T1=t1−f・Δti〜t4+f・Δt4、T2=t3
−f・Δt3〜t3+f・Δt3、T3=t5−f・Δt5〜t7+f・
Δt7である。
Then, for each group, the measurement retention time range (Ri) of the target ions contained in that group
The minimum time range that covers all of the above is determined as the optimum measurement retention time range (Ti). So in this example,
T 1 , T 2 , and T 3 are the optimum measurement holding time range. Here, T 1 = t 1 −f · Δti to t 4 + f · Δt 4 , T 2 = t 3
-F · Δt 3 ~t 3 + f · Δt 3, T 3 = t 5 -f · Δt 5 ~t 7 + f ·
Δt 7 .

【0024】こうして、最適測定保持時間範囲(Ti、i
=1〜3)が決定されると、各グループごとにそのター
ゲットイオンの質量数と最適測定保持時間範囲(Ti)と
を互いに対応付けて、図5に示すようなSIM測定テー
ブルを作成する。こうしてCPU16により作成された
SIM測定テーブルは、メモリ18に格納される。
Thus, the optimum measurement holding time range (Ti, i
= 1 to 3) is determined, the mass number of the target ion and the optimum measurement retention time range (Ti) are associated with each other for each group to create a SIM measurement table as shown in FIG. The SIM measurement table thus created by the CPU 16 is stored in the memory 18.

【0025】選択イオンモニタ法に基づいて各成分の定
量分析を行う場合には、CPU16は、図3に示す同定
テーブルと図5に示すSIM測定テーブルとを共に参照
して、たとえば、図6に示すように、ガスクロマトグラ
フで分離して得られる成分の保持時間が一つの最適測定
保持時間範囲T1内にあるときには、質量分析計の加速
電圧をターゲットイオンの各質量数(m/z)1,(m/z)2,(m
/z)4に対応する3つの値にそれぞれ時分割(たとえば0.
5sec単位)で切り換えて各ターゲットイオンのクロマト
グラムのデータを採取する。他の最適保持時間範囲
2,T3についても同様である。
When quantitatively analyzing each component based on the selected ion monitor method, the CPU 16 refers to both the identification table shown in FIG. 3 and the SIM measurement table shown in FIG. As shown, when the retention time of the components obtained by gas chromatograph separation is within one optimum measurement retention time range T 1 , the acceleration voltage of the mass spectrometer is set to each mass number (m / z) 1 of the target ions. , (M / z) 2 , (m
/ z) Time division into three values corresponding to 4 (for example, 0.
The data of the chromatogram of each target ion is collected by switching every 5 seconds. The same applies to the other optimum holding time ranges T 2 and T 3 .

【0026】なお、この実施例では、ガスクロマトグラ
フと質量分析計とを結合した装置について説明したが、
液体クロマトグラフやその他のクロマトグラフと質量分
析計とを結合した装置についても本発明を適用すること
ができるのは勿論である。
In this embodiment, the apparatus in which the gas chromatograph and the mass spectrometer are combined has been described.
It goes without saying that the present invention can be applied to a liquid chromatograph and other devices in which a chromatograph and a mass spectrometer are combined.

【0027】[0027]

【発明の効果】本発明によれば、同定テーブルが一旦作
成されると、これに伴ってSIM測定テーブルが自動的
に作成されるので、従来のように、同定テーブルとSI
M測定テーブルとを個別に作成していた場合に比べてテ
ーブル作成の手間を大幅に削減することができる。
According to the present invention, once the identification table is created, the SIM measurement table is automatically created accordingly.
Compared with the case where the M measurement table and the M measurement table are created separately, the time and effort required to create the table can be significantly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のクロマトグラフ/質量分析装置の機能
ブロック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram of a chromatograph / mass spectrometer of the present invention.

【図2】本発明の実施例に係るガスクロマトグラフ/質
量分析装置の全体を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an entire gas chromatograph / mass spectrometer according to an embodiment of the present invention.

【図3】同定テーブルの内容を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing the contents of an identification table.

【図4】タイムチャート作成手段で作成されるタイムチ
ャートである。
FIG. 4 is a time chart created by a time chart creating means.

【図5】SIM測定テーブル作成手段で作成されたSI
M測定テーブルの説明図である。
FIG. 5: SI created by SIM measurement table creation means
It is an explanatory view of an M measurement table.

【図6】同定テーブルとSIM測定テーブルに基づいて
選択イオンモニタ法により定量分析を行う場合の説明図
である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of a case where quantitative analysis is performed by a selective ion monitoring method based on an identification table and a SIM measurement table.

【図7】各成分のターゲットイオンに基づいて得られる
クロマトグラムである。
FIG. 7 is a chromatogram obtained based on the target ion of each component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…測定保持時間範囲設定手段、2…タイムチャート作
成手段、3…SIM測定テーブル作成手段、10…クロ
マトグラフ/質量分析装置、16…CPU、18…メモ
リ。
1 ... Measurement holding time range setting means, 2 ... Time chart creating means, 3 ... SIM measurement table creating means, 10 ... Chromatograph / mass spectrometer, 16 ... CPU, 18 ... Memory.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01J 49/26 4230−5E ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H01J 49/26 4230-5E

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 定量すべき対象成分を特定するのに必要
なターゲットイオンの質量数、前記各ターゲットイオン
のクロマトグラムのピークトップ位置を示す標準保持時
間(ti、i=1,2,…)、および前記クロマトグラムの
ピークトップのゆらぎ幅を決める許容保持時間幅(Δt
i、i=1,2,…)をそれぞれ与える同定テーブルを備
えたクロマトグラフ/質量分析装置において、前記同定
テーブルに基づいて、前記許容保持時間幅(Δti)に一定
値(f)を掛けた測定保持時間幅(f・Δti)を算出するとと
もに、この測定保持時間幅(f・Δti)と前記標準保持時
間(ti)とから各ターゲットイオンについての測定保持時
間範囲(Ri=ti−f・Δti〜ti+f・Δti)を設定する測
定保持時間範囲設定手段(1)と、この測定保持時間範囲
設定手段(1)で設定された各測定保持時間範囲(Ri)を
各ターゲットイオンごとに時間軸上にプロットしてタイ
ムチャートを作成するタイムチャート作成手段(2)と、
このタイムチャート作成手段(2)で作成されたタイムチ
ャートの測定保持時間範囲(Ri)が互いに重なるターゲ
ットイオンどうしを一つのグループとし、各グループに
含まれるターゲットイオンの測定保持時間範囲(Ri)を
全てカバーする最小の時間範囲を最適測定保持時間範囲
(Ti)として決定するとともに、各グループごとにその
ターゲットイオンの質量数と前記最適測定保持時間範囲
(Ti)とを互いに対応付けたSIM測定テーブルを作成
するSIM測定テーブル作成手段(3)と、を備えること
を特徴とするクロマトグラフ/質量分析装置。
1. A mass number of a target ion required to specify a target component to be quantified, and a standard retention time (ti, i = 1, 2, ...) Indicating a peak top position of a chromatogram of each target ion. , And the allowable retention time width (Δt that determines the fluctuation width of the peak top of the chromatogram
i, i = 1, 2, ...) In a chromatograph / mass spectrometer provided with an identification table, the allowable retention time width (Δti) is multiplied by a constant value (f) based on the identification table. The measurement retention time width (f · Δti) is calculated, and the measurement retention time range (Ri = ti−f ·) for each target ion is calculated from the measurement retention time width (f · Δti) and the standard retention time (ti). The measurement retention time range setting means (1) for setting Δti to ti + f · Δti) and the measurement retention time range (Ri) set by the measurement retention time range setting means (1) are set as a time axis for each target ion. Time chart creation means (2) that plots above and creates a time chart,
The target ions whose measurement retention time ranges (Ri) of the time chart created by this time chart creation means (2) overlap each other are made into one group, and the measurement retention time range (Ri) of the target ions contained in each group is set. Optimum minimum time range that covers all measurement retention time range
(Ti), and the mass number of the target ion and the optimum measurement retention time range for each group
SIM measurement table creating means (3) for creating a SIM measurement table in which (Ti) is associated with each other, and a chromatograph / mass spectrometer.
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