JPH0811835B2 - Etching method - Google Patents
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- JPH0811835B2 JPH0811835B2 JP14015687A JP14015687A JPH0811835B2 JP H0811835 B2 JPH0811835 B2 JP H0811835B2 JP 14015687 A JP14015687 A JP 14015687A JP 14015687 A JP14015687 A JP 14015687A JP H0811835 B2 JPH0811835 B2 JP H0811835B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は塩化第二鉄溶液により銅等の金属の連続的エ
ッチング方法に関するものである。The present invention relates to a method for continuously etching a metal such as copper with a ferric chloride solution.
[従来の技術・問題点] 塩化第二鉄溶液による銅のエッチングはエッチングが
進行するに従って次式の反応によりエッチング液中の銅
イオン及び第一鉄イオン濃度が増大し、それに伴ってエ
ッチング速度が低下する。[Conventional Technology / Problems] In the etching of copper with a ferric chloride solution, the concentration of copper ions and ferrous ions in the etching solution increases due to the reaction of the following equation as the etching progresses, and the etching rate increases accordingly. descend.
Fe++++Cu0→Fe+++Cu+ Fe++++Cu+→Fe+++Cu++ この問題を解決するため、従来、塩化第二鉄溶液によ
る銅の連続的エッチング方法においては、エッチングの
有効距離を長くして(あるいは多槽として)、塩化第二
鉄溶液またはこれと塩酸を連続的に大量に供給し溶解し
ている銅イオン及び第一鉄イオンの濃度を相対的に低く
なるようにし、被エッチング物の実用的なラインスピー
ドを確保する方法が採られていた。しかしながらこの方
法においてはエッチング槽を長く(または多槽と)しな
ければならず、設備費が高くなること、また薬液を多量
に消費するためコストアップとなることの欠点があっ
た。Fe +++ + Cu 0 → Fe ++ + Cu + Fe +++ + Cu + → Fe ++ + Cu ++ In order to solve this problem, in the conventional continuous etching method of copper with a ferric chloride solution, etching is performed. By increasing the effective distance (or using multiple tanks), the ferric chloride solution or this and hydrochloric acid are continuously supplied in large amounts to relatively lower the concentrations of dissolved copper and ferrous ions. In this way, a method of ensuring a practical line speed of the object to be etched has been adopted. However, this method has drawbacks in that the etching tank must be long (or multiple tanks), the equipment cost is high, and the chemical solution is consumed in large amounts, resulting in cost increase.
また、米国特許第3,951,711号明細書には比重検出器
と、酸化還元電位検出器を備え、これらの出力に応じて
水、塩化第二鉄、酸化剤を供給する塩化第二鉄溶液によ
る銅の連続的エッチング方法が記載されている。この方
法は、エッチングによって生成する第一鉄イオンを低く
抑えようとして、エッチング薬液として、水、塩化第二
鉄に第一鉄イオンを第二鉄イオンに酸化するための酸化
剤を加え、エッチングの進行と共に生成する第一鉄イオ
ンを極力第二鉄イオンに酸化し、第二鉄イオンの濃度を
高く維持しつつエッチングを行なうことを提案したもの
である。しかしながら、この方法において使用される酸
化剤として掲げられているものは塩素ガスあるいは塩酸
と塩素酸アンモニウムの組み合わせで、塩素ガスは高圧
ガスの取り扱い上、危険性が大きいばかりでなく、pHが
1以下の強酸性となるエッチング液では塩素ガスの溶解
度が僅少であるため、大部分が塩素ガスとして散逸し、
酸化剤としての効果が小さいと共に、エッチング槽上、
あるいは周辺に飛散し、機器や建物の損傷、環境への障
害等の問題が発生し、実用上問題が有るといわざるを得
ない。また、塩素酸アンモニウムは非常に不安定な化合
物であり、室温において爆発し易い物質[丸善(株)発
行、化学便覧改定3版基礎編I、I−156頁、化合物22
の項参照]であり、取り扱い上難点があるばかりでな
く、酸化剤としての効果も小さいものである。Further, U.S. Pat.No. 3,951,711 is provided with a specific gravity detector and a redox potential detector, and water, ferric chloride, and copper in a ferric chloride solution for supplying an oxidizing agent are supplied according to the outputs of these detectors. A continuous etching method is described. In this method, in order to suppress the ferrous ions generated by etching to a low level, as an etching chemical, water, an oxidizing agent for oxidizing ferrous ions to ferric ions is added to ferric chloride, and etching is performed. The present invention proposes to oxidize ferrous ions generated with the progress to ferric ions as much as possible and perform etching while maintaining a high concentration of ferric ions. However, the oxidizing agent used in this method is chlorine gas or a combination of hydrochloric acid and ammonium chlorate. Chlorine gas is not only dangerous in handling high-pressure gas, but also has a pH of 1 or less. Since chlorine gas has a low solubility in the highly acidic etching solution of, most of it dissipates as chlorine gas,
The effect as an oxidizing agent is small, and on the etching tank,
Alternatively, there is a problem in practical use that there is a problem such as damage to equipment and buildings, damage to the environment, and the like due to scattering around. In addition, ammonium chlorate is a very unstable compound, and is a substance that easily explodes at room temperature [published by Maruzen Co., Ltd., Revised 3rd Edition, Basic Edition I, I-156, Compound 22]
In addition to the difficulty in handling, the effect as an oxidant is also small.
事実、この方法におけるエッチング液中の第一鉄イオ
ン/第二鉄イオンの比率は、ほぼ1でエッチング速度も
遅いものである。In fact, the ratio of ferrous ion / ferric ion in the etching solution in this method is almost 1, and the etching rate is slow.
[問題点を解決するための手段] 本発明の目的は、上記の欠点のない塩化第二鉄溶液に
よる銅、鉄、ニッケル、クロム、しんちゅう、ステンレ
ススチール、4,2−アロイ、その他の鉄、銅、ニッケル
等の合金等の金属の連続的エッチング方法を提供するこ
とにある。[Means for Solving the Problems] The object of the present invention is to provide copper, iron, nickel, chromium, brass, stainless steel, 4,2-alloy, and other iron by ferric chloride solution without the above-mentioned drawbacks. Another object of the present invention is to provide a continuous etching method for metals such as copper, alloys of nickel and the like.
本発明の塩化第二鉄溶液による銅、その他の金属の連
続的エッチング方法は、塩素酸ナトリウム、塩素酸カリ
ウム及び塩素酸カルシウムから選ばれる塩素酸塩1当量
に対し、塩素水素6〜9モル、塩化第二鉄2.5〜15モル
の割合で含有する水溶液を薬剤として供給することを特
徴とするものである。The method for continuously etching copper and other metals with the ferric chloride solution of the present invention is 6-9 mols of hydrogen chloride based on 1 equivalent of a chlorate selected from sodium chlorate, potassium chlorate and calcium chlorate. An aqueous solution containing ferric chloride in an amount of 2.5 to 15 mol is supplied as a drug.
本発明において使用される塩素酸塩は水溶液の状態で
使用されるのが好ましく、例えば塩素酸ナトリウムの場
合、35〜40重量%の水溶液を使用するのが好ましい。The chlorate used in the present invention is preferably used in the form of an aqueous solution, for example, in the case of sodium chlorate, it is preferable to use an aqueous solution of 35 to 40% by weight.
また、塩化水素も塩酸水溶液として供給されるのが好
ましく、例えば30〜35重量%塩酸を使用するのが良い。Hydrogen chloride is also preferably supplied as an aqueous solution of hydrochloric acid, for example, 30 to 35% by weight hydrochloric acid is preferably used.
更に塩化第二鉄も水溶液として供給するのが好まし
く、例えば40〜45゜Be′液を使用するのが好ましい。Further, ferric chloride is also preferably supplied as an aqueous solution, for example, it is preferable to use a 40 to 45 ° Be 'solution.
上記の濃度は特に限定されるものではないが、エッチ
ング液中の塩化第二鉄の濃度を40g/以上に維持するよ
うな濃度に設定するのがエッチング速度の維持の上で好
ましい。The above concentration is not particularly limited, but it is preferable to maintain the concentration of ferric chloride in the etching solution at 40 g / or more in order to maintain the etching rate.
塩素酸塩/塩化水素/塩化第二鉄の混合割合は、1当
量/6〜9モル/2.5〜15モルであるが、金属により好まし
い範囲は次の如くである。The mixing ratio of chlorate / hydrogen chloride / ferric chloride is 1 equivalent / 6 to 9 mol / 2.5 to 15 mol, but the preferable range is as follows depending on the metal.
銅、しんちゅうまたはその他の銅を主とする合金に対
しては、塩素酸塩/塩化水素/塩化第二鉄の割合が1当
量/6.6〜7.7モル/4.0〜6.5モル; 鉄、ニッケル、クロム、ステンレススチール、4,2−
アロイまたはその他の鉄あるいはニッケルを主とする合
金に対しては1当量/6.6〜7.7モル/5〜12モル。For copper, brass or other copper-based alloys, the ratio of chlorate / hydrogen chloride / ferric chloride is 1 equivalent / 6.6 to 7.7 mol / 4.0 to 6.5 mol; iron, nickel, chromium , Stainless steel, 4,2-
1 equivalent / 6.6 to 7.7 mol / 5 to 12 mol for alloys or other alloys mainly composed of iron or nickel.
塩化水素は6モル以上使用しないと塩素酸塩が過剰と
なってエッチング液中に残存し、また、スラッジが生成
するので好ましくなく、余り大過剰に使用するとアンダ
ーカットが進行する。また、塩化第二鉄は少ないとエッ
チング速度が低下し、多いと利用率が低下し、排液が多
くなり、コストアップとなる。If 6 mol or more of hydrogen chloride is not used, the chlorate becomes excessive and remains in the etching solution, and sludge is generated, which is not preferable, and if used in a too large amount, undercut proceeds. Further, when the amount of ferric chloride is small, the etching rate is low, and when it is large, the utilization rate is low, the drainage is large, and the cost is high.
また、本発明では適量の水の供給により、エッチング
液の比重を1.30〜1.45、好ましくは1.33〜1.43に維持す
るのが良い。比重が1.30より小さいとアンダーカットが
大きくなる傾向があり、1.45より大きいとエッチングス
ピードが低下する傾向にある。また、薬剤の適切な供給
によりエッチング液中の第一鉄イオンと第二鉄イオンの
濃度比をFe++/Fe+++=0.15〜0.50、なるべくは0.15〜0.
40に維持し、また、エッチング液中の第二鉄イオン濃度
を40g/以上、なるべくは55g/以上に維持するのが好
ましい。このように維持することにより、速いエッチン
グ速度を維持し、且つアンダーカット等の少ない高性能
のエッチングが可能となる。In the present invention, the specific gravity of the etching solution should be maintained at 1.30 to 1.45, preferably 1.33 to 1.43, by supplying an appropriate amount of water. If the specific gravity is less than 1.30, the undercut tends to increase, and if it exceeds 1.45, the etching speed tends to decrease. In addition, the concentration ratio of ferrous ion and ferric ion in the etching solution is Fe ++ / Fe +++ = 0.15 to 0.50, preferably 0.15 to 0 by appropriately supplying chemicals.
It is preferable to maintain the concentration at 40, and the ferric ion concentration in the etching solution at 40 g / or higher, preferably 55 g / or higher. By maintaining in this way, a high etching rate can be maintained and high-performance etching with less undercut can be performed.
また、塩化第二鉄による従来の銅のエッチング方法で
は、エッチング液中の銅イオン濃度が65〜70g/になる
とエッチングスピードが大幅に低下し、事実上エッチン
グを停止しなければならなかったが、本発明のエッチン
グ方法によれば、エッチング液中の銅イオン濃度が90〜
100g/程度と高くても銅イオンを含まない場合と同様
のエッチングスピードを維持できる。Further, in the conventional copper etching method using ferric chloride, the etching speed was significantly reduced when the copper ion concentration in the etching solution became 65 to 70 g /, and the etching had to be effectively stopped, According to the etching method of the present invention, the copper ion concentration in the etching solution is 90 ~
Even if it is as high as about 100 g /, it is possible to maintain the same etching speed as when copper ions are not included.
本発明のエッチング方法を実施するに適した装置を以
下、第1図に従って説明する。An apparatus suitable for carrying out the etching method of the present invention will be described below with reference to FIG.
第1図は本発明の方法を実施する1つの例を示すもの
で、エッチング液はエッチング槽(1)からポンプ(10
0)により循環パイプ(101)を通ってコントロール槽
(2)に供給され、ポンプ(103)(無くても良い)に
より循環パイプ(102)を通ってエッチング槽(1)に
戻され循環サイクルされる。コントロール槽(2)はエ
ッチング槽(1)内のエッチング液の組成を分析あるい
は検出するための貯槽であり、第1図の如く、検出部
(3′)をエッチング液中に設け、該検出部(3′)
(例えば浮子式、電磁気式、比電導度式等、特に限定さ
れない)からの電気的信号を設定条件を満たす制御信号
として発生する比重検出器(3)と検出部(4′)をエ
ッチング液中に設け、該検出部(4′)(例えば酸化還
元電位差式、定電圧電流値式、光電管式等、特に限定さ
れない)からの第一鉄イオン濃度に関係する電気的信号
を設定条件を満たす制御信号として発生する第一鉄イオ
ン検出器(4)の検出部(3′)(4′)を設けると
か、あるいは比重計によりコンロール槽(2)内の液の
比重を測定し、更にコントロール槽(2)内の液を一部
採取して過マンガン酸カリウム標定液等により滴定し
て、常時、定時あるいは随時エッチング液の組成を分析
あるいは検出できる。FIG. 1 shows one example for carrying out the method of the present invention, in which the etching solution is pumped from the etching tank (1) (10).
It is supplied to the control tank (2) through the circulation pipe (101) by 0) and is returned to the etching tank (1) through the circulation pipe (102) by the pump (103) (which may be omitted) to be cycled. It The control tank (2) is a storage tank for analyzing or detecting the composition of the etching solution in the etching tank (1). As shown in FIG. 1, the detecting section (3 ') is provided in the etching solution, and the detecting section (3') is provided. (3 ')
A specific gravity detector (3) and a detection unit (4 ') that generate an electric signal from (for example, a float type, an electromagnetic type, a specific electric conductivity type, etc. as a control signal satisfying a setting condition) in an etching liquid are used. And controlling the electric signal related to the ferrous ion concentration from the detector (4 ′) (for example, redox potential difference type, constant voltage current value type, phototube type, etc., not particularly limited) satisfying the setting condition. A detection unit (3 ') (4') of a ferrous iron ion detector (4) generated as a signal is provided, or the specific gravity of the liquid in the control tank (2) is measured by a densitometer, and the control tank ( A part of the solution in 2) is sampled and titrated with a potassium permanganate standard solution or the like, so that the composition of the etching solution can be analyzed or detected constantly, regularly or at any time.
エッチング槽(1)には塩化第二鉄水溶液と塩酸水溶
液の混合供給管(5、5′、6)(別々に供給しても良
い)、塩素酸塩水溶液供給管(7、7′)(エッチング
液に供給する以前に塩化第二鉄あるいは塩酸水溶液と混
合してはならない)、水供給管(8)が開口している。In the etching tank (1), mixed supply pipes (5, 5 ', 6) of ferric chloride aqueous solution and hydrochloric acid aqueous solution (may be supplied separately), chlorate aqueous solution supply pipes (7, 7') ( Do not mix with ferric chloride or hydrochloric acid aqueous solution before supplying to etching solution), water supply pipe (8) is open.
各々の供給管は各々のタンク[塩化第二鉄水溶液タン
ク(105)、塩酸水溶液タンク(106)、塩素酸塩水溶液
タンク(107)]と第一鉄イオン検出器(4)の出力端
子(A)と電気的に結合されて該検出器(4)の出力に
より制御されるポンプ[塩化第二鉄水溶液ポンプ(11
5)、塩酸水溶液ポンプ(116)、塩素酸塩水溶液ポンプ
(117)]あるいは比重検出器(3)の出力端子(B)
と電気的に結合されて該検出器(3)の出力により制御
される水ポンプ(118)を経由して結合している。Each supply pipe is connected to each tank [ferric chloride aqueous solution tank (105), hydrochloric acid aqueous solution tank (106), chlorate aqueous solution tank (107)] and an output terminal (A) of the ferrous ion detector (4). ) And a pump electrically controlled by the output of the detector (4) [ferric chloride aqueous solution pump (11
5), hydrochloric acid aqueous solution pump (116), chlorate aqueous solution pump (117)] or output terminal (B) of specific gravity detector (3)
And a water pump (118) electrically coupled to and controlled by the output of the detector (3).
尚、実用上は第1図に示すように水以外の薬剤につい
て各々のクッション槽(125、126、127)を使用するの
が良い。In practice, it is preferable to use the cushion tanks (125, 126, 127) for chemicals other than water as shown in FIG.
更にエッチング槽(1)にはオーバーフローしたエッ
チング廃液を取り出すための溢流用パイプ(109)が設
けられている。Further, the etching tank (1) is provided with an overflow pipe (109) for taking out the overflowed etching waste liquid.
第1図に示す例を変形した方法としては、塩化第二鉄
水溶液クッション槽(125)と塩酸水溶液クッション槽
(126)を同一のクッション槽で使用しても良く、ま
た、供給する水として、被エッチング物の洗浄排水を使
用しても良い。As a modified example of the example shown in FIG. 1, the ferric chloride aqueous solution cushion tank (125) and the hydrochloric acid aqueous solution cushion tank (126) may be used in the same cushion tank. You may use the cleaning drainage of the to-be-etched object.
更に、特別のコンロール槽(2)を設けず、直接エッ
チング槽(1)に各検出器、パイプを設けても良いが実
用上はコンロール槽(2)を設けるのが好ましい。Further, each detector and pipe may be directly provided in the etching tank (1) without providing the special control tank (2), but it is preferable to provide the control tank (2) in practical use.
[実 施 例] 実施例1 基本的に第1図に示される装置を使用して以下の条件
でプリント回路用銅張積層板のエッチングを行った。[Examples] Example 1 A copper clad laminate for a printed circuit board was etched under the following conditions, basically using the apparatus shown in FIG.
エッチング槽としてはシャワー式エッチングマシン
(エッチングの有効距離3m、エッチング循環液量800
)を使用し、比重検出器(富士電機製)と酸化還元電
位検出器(英国、フォックス社製酸化還元電位検出器)
を備えたコンロール槽を使用した。Shower type etching machine as an etching tank (effective etching distance of 3 m, etching circulating fluid amount 800
) Using a specific gravity detector (Fuji Electric Co., Ltd.) and a redox potential detector (Fox UK redox potential detector)
The control tank equipped with was used.
プリント回路用銅張積層板(銅箔厚み35μ、片面板、
銅の平均除去率50%)をエッチング液温度55℃、コンベ
アラインスピード3.3m/分とし、薬剤としては40゜Be′
の塩化第二鉄水溶液、35重量%塩酸、38重量%塩素酸ナ
トリウム水溶液を酸化還元電位検出器の電位が510±10m
vとなるよう自動制御しつつ4.7:7.1:1(モル比)となる
よう供給した。Copper clad laminate for printed circuits (copper foil thickness 35μ, single-sided board,
The average removal rate of copper is 50%), the etching solution temperature is 55 ° C, the conveyor line speed is 3.3m / min, and the chemical is 40 ° Be ′.
Ferric chloride aqueous solution, 35 wt% hydrochloric acid, 38 wt% sodium chlorate aqueous solution, the potential of the oxidation-reduction potential detector is 510 ± 10 m
It was supplied so as to be 4.7: 7.1: 1 (molar ratio) while being automatically controlled to be v.
また、比重が1.36±0.005となるよう自動的に水を供
給した。Also, water was automatically supplied so that the specific gravity became 1.36 ± 0.005.
過マンガン酸カリウム(1/10規定)による滴定により
エッチング液中の第一鉄イオン濃度を1時間毎に測定し
たところ、4.5ml前後で、第一鉄イオン濃度は25g/前
後であった。When the ferrous ion concentration in the etching solution was measured hourly by titration with potassium permanganate (1/10 N), it was about 4.5 ml and the ferrous ion concentration was about 25 g / around.
一方、エッチング液中の総鉄イオンの1時間毎の化学
分析値は98〜100g/であったので、第二鉄イオンの量
は73〜75g/となり、Fe++/Fe+++=0.33〜0.34に維持さ
れたことになる。On the other hand, the hourly chemical analysis value of total iron ions in the etching solution was 98 to 100 g /, so the amount of ferric ions was 73 to 75 g /, and Fe ++ / Fe +++ = 0.33 It was maintained at ~ 0.34.
尚、連続運転中エッチング液中の銅イオンは90〜100g
/の高濃度であったが、エッチングのスピードは当初
のラインスピード3.3m/分を連続的に維持した。The copper ion in the etching solution during continuous operation is 90 to 100 g.
Although the concentration of / was high, the etching speed was continuously maintained at the original line speed of 3.3 m / min.
本エッチングにより1時間当たりの約90m2のプリント
基板のエッチングを1日平均8時間ずつ3箇月以上連続
運転しても何等問題なく、エッチングの状態も良好であ
り、また、エッチング中にスラッジの生成もなく、エッ
チング後の洗浄も極めて容易であった。With this etching, about 90m 2 of printed circuit board per hour can be continuously operated for an average of 8 hours a day for 3 months or more without any problems, the etching condition is good, and sludge is generated during etching. Moreover, cleaning after etching was extremely easy.
比較例 実施例1と同一のエッチング槽を使用し、若干の塩酸
を含む40゜Be′の塩化第二鉄水溶液を使用し追加の薬剤
を使用せずにエッチングを行った。Comparative Example The same etching bath as in Example 1 was used, and etching was carried out using an aqueous solution of ferric chloride at 40 ° Be ′ containing a small amount of hydrochloric acid and no additional chemicals.
最初は3.3m/分のコンベアラインスピードであった
が、銅イオン濃度が上昇するに従いエッチングスピード
が低下し、6時間後には銅イオン濃度が70g/、ライン
スピードが1.6m/分となり、エッチングを中止した。Initially, the conveyor line speed was 3.3 m / min, but as the copper ion concentration increased, the etching speed decreased, and after 6 hours the copper ion concentration was 70 g / and the line speed was 1.6 m / min. I canceled it.
本エッチングでは平均1時間当たり約65m2のプリント
基板しかエッチング出来ず、品質もやや不安定であっ
た。With this etching, only a printed circuit board of about 65 m 2 could be etched on average per hour, and the quality was rather unstable.
エッチング液中にはスラッジが発生し、エッチング後
のプリント基体は十分な洗浄を必要とした。Sludge was generated in the etching solution, and the printed substrate after etching required sufficient cleaning.
実施例2 実施例1と同一のエッチングマシンを用いステンレス
スチール316の薄片を液温45℃で連続的にエッチングし
た。Example 2 Using the same etching machine as in Example 1, a thin piece of stainless steel 316 was continuously etched at a liquid temperature of 45 ° C.
薬剤としては、40゜Be′の塩化第二鉄水溶液、35重量
%塩酸、38重量%塩素酸ナトリウム水溶液を、酸化還元
電位検出器の電位が530〜540mvとなるよう自動制御しつ
つ9.0:7.1:1.0(モル比)となるよう供給した。As the chemicals, 40 ° Be ′ ferric chloride aqueous solution, 35 wt% hydrochloric acid, 38 wt% sodium chlorate aqueous solution are automatically controlled so that the potential of the redox potential detector is 530 to 540 mv 9.0: 7.1. : 1.0 (molar ratio).
また、比重が1.38〜1.40となるよう自動的に水を供給
した。Also, water was automatically supplied so that the specific gravity became 1.38 to 1.40.
過マンガン酸カリウム(1/10規定)による滴定により
エッチング液中の第一鉄イオン濃度を1時間毎に測定し
たところ、4.5ml前後で、第一鉄イオンは25g/前後で
あった。When the ferrous ion concentration in the etching solution was measured every one hour by titration with potassium permanganate (1/10 N), it was about 4.5 ml and the ferrous ion was about 25 g / around.
一方、エッチング液の総鉄イオンの1時間毎の化学分
析値は120g/前後であったので、第二鉄イオン濃度は9
5g/前後となり、Fe++/Fe+++=0.26程度に維持された
ことになる。On the other hand, since the chemical analysis value of the total iron ions in the etching solution per hour was around 120 g /, the ferric ion concentration was 9
It was around 5g /, which means that Fe ++ / Fe +++ = 0.26 was maintained.
尚、連続運的中のエッチングのスピードは毎分26μm
(両面の合計、片面では13μm)であり、スラッジの生
成もなくエッチングの状態も良好であった。The etching speed during continuous operation is 26 μm / min.
(Total on both sides, 13 μm on one side), no sludge was generated, and the etching state was good.
[発明の効果] 本発明の効果は、設備費及び操作コストが比較的安価
で、エッチング速度が速く、且つ一定に維持でき、その
結果品質の一定なプリント基板を生産性良く製造するこ
とができる塩化第二鉄溶液による銅等の連続的エッチン
グ方法を提供したことにある。[Effects of the Invention] The effects of the present invention are that the equipment cost and the operation cost are relatively low, the etching rate is fast, and can be maintained constant, and as a result, a printed circuit board of constant quality can be manufactured with high productivity. It is intended to provide a continuous etching method for copper or the like with a ferric chloride solution.
第1図は本発明を実施するための装置の一例を示すもの
である。 図中:1……エッチング槽、2……コントロール槽、3…
…比重検出器、3′……検出部、4……第一鉄イオン検
出器、4′……検出部、5、5′、6……塩化第二鉄水
溶液と塩酸水溶液の混合供給管、7、7′……塩素酸水
溶液供給管、8……水供給管、100……ポンプ、101、10
2……循環パイプ、103……ポンプ、105……塩化第二鉄
水溶液タンク、106……塩酸水溶液タンク、107……塩素
酸水溶液タンク、109……溢流用パイプ、115……塩化第
二鉄水溶液ポンプ、116……塩酸水溶液ポンプ、117……
塩素酸塩水溶液ポンプ、118……水ポンプ、125、126、1
27……クッション槽。FIG. 1 shows an example of an apparatus for carrying out the present invention. In the figure: 1 ... Etching tank, 2 ... Control tank, 3 ...
… Specific gravity detector, 3 ′… detector, 4 …… ferrous iron ion detector, 4 ′ …… detector, 5,5 ′, 6 …… mixed supply pipe of ferric chloride aqueous solution and hydrochloric acid aqueous solution, 7, 7 '... Chloric acid aqueous solution supply pipe, 8 ... Water supply pipe, 100 ... Pump, 101, 10
2 ... Circulation pipe, 103 ... Pump, 105 ... Ferric chloride aqueous solution tank, 106 ... Hydrochloric acid aqueous solution tank, 107 ... Chloric acid aqueous solution tank, 109 ... Overflow pipe, 115 ... Ferric chloride Aqueous solution pump, 116 …… Hydrochloric acid solution pump, 117 ……
Chlorate solution pump, 118 …… water pump, 125, 126, 1
27 …… Cushion tank.
Claims (3)
ング方法において、塩素酸ナトリウム、塩素酸カリウム
及び塩素酸カルシウムから選ばれる塩素酸塩1当量に対
し、塩化水素6〜9モル、塩化第二鉄2.5〜15モルの割
合で含有する水溶液を薬剤として供給することを特徴と
するエッチング方法。1. A method for continuously etching a metal with a ferric chloride solution, wherein 6 to 9 mol of hydrogen chloride and ferric chloride are added to 1 equivalent of a chlorate selected from sodium chlorate, potassium chlorate and calcium chlorate. An etching method characterized in that an aqueous solution containing diiron 2.5 to 15 mol is supplied as a chemical.
チング液中の第一鉄イオンと第二鉄イオンの濃度比をFe
++/Fe+++=0.15〜0.50に、エッチング液中の第二鉄イオ
ンの濃度を40g/以上に維持する特許請求の範囲第1項
記載のエッチング方法。2. The specific gravity of the etching solution is 1.30 to 1.45, and the concentration ratio of ferrous ions and ferric ions in the etching solution is Fe.
The etching method according to claim 1, wherein the concentration of ferric ion in the etching liquid is maintained at 40 g / or more, with ++ / Fe +++ = 0.15 to 0.50.
グ液が移動可能に設けられたコントロール槽とを設け、
該コントロール槽内で比重及び生成した第一鉄イオンを
化学的あるいは物理的に測定あるいは検出し、塩素酸塩
含有水溶液、塩酸水溶液及び塩化第二鉄含有水溶液をエ
ッチング槽、コントロール槽あるいは別に設けたクッシ
ョン槽に各々単独であるいは一部を混合して供給する装
置を使用する特許請求の範囲第2項記載のエッチング方
法。3. An etching bath and a control bath in which the etching bath and the etching liquid are movably provided,
The specific gravity and the ferrous ions formed in the control tank were measured or detected chemically or physically, and a chlorate-containing aqueous solution, a hydrochloric acid aqueous solution and a ferric chloride-containing aqueous solution were provided in an etching tank, a control tank or separately. The etching method according to claim 2, wherein a device for supplying the cushion tanks individually or by mixing a part thereof is used.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14015687A JPH0811835B2 (en) | 1986-07-15 | 1987-06-05 | Etching method |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP16487586 | 1986-07-15 | ||
JP61-164875 | 1986-07-15 | ||
JP14015687A JPH0811835B2 (en) | 1986-07-15 | 1987-06-05 | Etching method |
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Publication Number | Publication Date |
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JPS6487788A JPS6487788A (en) | 1989-03-31 |
JPH0811835B2 true JPH0811835B2 (en) | 1996-02-07 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4603128B2 (en) * | 2000-06-06 | 2010-12-22 | 義和 小林 | Cupric chloride / sodium chlorate etching system |
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- 1987-06-05 JP JP14015687A patent/JPH0811835B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS6487788A (en) | 1989-03-31 |
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