JPH08104306A - Carrier-embossing/taping device - Google Patents
Carrier-embossing/taping deviceInfo
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- JPH08104306A JPH08104306A JP6261045A JP26104594A JPH08104306A JP H08104306 A JPH08104306 A JP H08104306A JP 6261045 A JP6261045 A JP 6261045A JP 26104594 A JP26104594 A JP 26104594A JP H08104306 A JPH08104306 A JP H08104306A
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- embossed
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- sealing
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えばチップマウント
用としたトランジスタなどの電子部品を出荷するとき
に、使用者側でのプリント基板への搭載に便利となるよ
うに、極性などを所定の方向に統一して封止を行うもの
としたキャリアエンボステーピング装置に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention, when shipping electronic components such as transistors for chip mounting, sets the polarity and the like so as to be convenient for mounting on a printed circuit board by the user. The present invention relates to a carrier embossing and taping device that performs sealing in a unified direction.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のこの種のキャリアエンボステーピ
ング装置90の構成の例を示すものが図3であり、先
ず、一方のテープ81にはエンボス加工部91により所
定ピッチでエンボス部81aが形成され、続いて、部品
供給部92で前記エンボス部81a内に所定の方向とし
て例えばトランジスタ、ダイオード、抵抗器などの電子
部品70が落とし込まれ、その後に封止部93で他方の
テープ82により前記エンボス部81aの底面の封止が
行われるものである。2. Description of the Related Art FIG. 3 shows an example of the structure of a conventional carrier embossing and taping device 90. First, an embossing portion 81a is formed on one tape 81 by an embossing portion 91 at a predetermined pitch. Then, the electronic component 70 such as a transistor, a diode or a resistor is dropped into the embossed portion 81a in a predetermined direction by the component supply unit 92, and then the embossed portion 82 is sealed by the other tape 82 by the sealing unit 93. The bottom surface of the portion 81a is sealed.
【0003】図4は上記キャリアエンボステーピング装
置90を用いて形成されキャリアエンボステープ80を
示すものであり、前記エンボス部81aは封入が行われ
る電子部品70の外形に整合するように形成されるもの
であり、更に、他方のテープ82により封止を行うこと
で、輸送過程中にも電子部品70が向きを変えることは
なく、従って、使用者側では、プリント基板への搭載が
一々に方向性、極性などを確認することなく行えるもの
となる。FIG. 4 shows a carrier embossing tape 80 formed by using the carrier embossing and taping device 90, and the embossed portion 81a is formed so as to match the outer shape of the electronic component 70 to be sealed. Further, by sealing with the other tape 82, the electronic component 70 does not change its orientation even during the transportation process. Therefore, the user can mount the printed circuit board on the printed circuit board one by one. It can be done without checking the polarity.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】以上に説明したように
キャリアエンボステープ80として完成した状態では電
子部品70が向きを変える可能性は皆無である。しかし
ながら、キャリアエンボステーピング装置90内では、
前記部品供給部92から封止部93にいたる過程で振動
などを受けると、単に落とし込みが行われているのみの
電子部品70が向きを変える可能性は充分に考えられる
ものとなる。As described above, in the state where the carrier embossed tape 80 is completed, there is no possibility that the electronic component 70 changes its direction. However, in the carrier emboss taping device 90,
If vibration or the like is applied in the process of reaching the sealing portion 93 from the component supply portion 92, it is fully conceivable that the electronic component 70, which is only being dropped, changes its direction.
【0005】従って、現実には封止部93に続いて、前
記した電子部品70の方向性の検査が行われるものとな
るが、このときには既に他方のテープ82により封止が
行われているので、検査は目視或いはビデオカメラによ
る画像認識に頼らざるを得ず、例えば電子部品70の形
状、或いは、この電子部品70の外形に印字されたマー
クなど機能に対して間接的な要素で検査を行うものとな
り検出精度が低下する問題点を生じ、この点の解決が課
題とされるものとなっていた。Therefore, in reality, the electronic component 70 is inspected for its directivity after the sealing portion 93, but at this time, the other tape 82 has already been used for sealing. The inspection must rely on visual recognition or image recognition by a video camera, and the inspection is performed by an indirect element with respect to the shape of the electronic component 70 or the function such as a mark printed on the outer shape of the electronic component 70. However, there arises a problem that the detection accuracy is lowered, and it has been a problem to solve this problem.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は前記した従来の
課題を解決するための具体的な手段として、一方のテー
プに封入する電子部品の形状に対応するエンボス部を形
成し、該エンボス部内に所定の方向として前記電子部品
を落とし込んだ後に他方のテープで前記エンボス部の底
面を封着して成るキャリアエンボステーピング装置にお
いて、前記キャリアエンボステーピング装置には、前記
エンボス部の指定された位置に複数の検査穴を形成する
穴加工部と、前記他方のテープによる封着が行われた後
に前記検査穴からプローブを挿入し前記電子部品の封入
された方向を電気的に検定する封入方向検定部とが設け
られていることを特徴とするキャリアエンボステーピン
グ装置を提供することで、より高い精度の期待できる電
気的な検査も行えるものとして、前記した従来の課題を
解決するものである。As a concrete means for solving the above-mentioned conventional problems, the present invention forms an embossed portion corresponding to the shape of an electronic component to be enclosed in one tape, and the inside of the embossed portion is formed. In a carrier embossed taping device formed by sealing the bottom surface of the embossed portion with the other tape after dropping the electronic component in a predetermined direction, the carrier embossed taping device includes the embossed portion at a designated position. A hole processing part that forms a plurality of inspection holes, and a sealed direction verification part that electrically verifies the sealed direction of the electronic component by inserting a probe from the inspection hole after sealing with the other tape. By providing a carrier embossed taping device characterized by being provided with As things, it is intended to solve the conventional problems described above.
【0007】[0007]
【実施例】つぎに、本発明を図に示す一実施例に基づい
て詳細に説明する。図1に符号1で示すものはキャリア
エンボステーピング装置(以下にテーピング装置1と略
称する)であり、このテーピング装置1は従来例のもの
と同様に、図2に示すキャリアエンボステープ10を形
成するものであって、先ず、最初の工程としてエンボス
加工部2により、封入が行われる電子部品20の外形に
整合するエンボス部11aが、例えば加熱プレスなど適
宜な手段により一方のテープ11に形成されるものであ
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described in detail based on an embodiment shown in the drawings. Reference numeral 1 in FIG. 1 denotes a carrier embossing taping device (hereinafter abbreviated as taping device 1), and this taping device 1 forms the carrier embossing tape 10 shown in FIG. 2 as in the conventional example. First, as the first step, the embossing section 2 forms an embossed section 11a matching the outer shape of the electronic component 20 to be encapsulated on one tape 11 by an appropriate means such as a heat press. It is a thing.
【0008】尚、実際には、重力を利用して電子部品2
0の落とし込みが行われるものであるので、前記エンボ
ス部11aは開口する底部を上方とし、下方に突出する
ように形成されるものであるが、図2では本発明の構成
および作用、効果に対する理解を容易とするために上下
を反転した状態で示してある。Actually, the electronic component 2 is used by utilizing gravity.
Since the number 0 is dropped, the embossed portion 11a is formed so that the open bottom portion is upward and protrudes downward. In FIG. 2, understanding of the configuration, operation, and effect of the present invention is made. In order to facilitate the above, the upper and lower sides are shown inverted.
【0009】ここで、本発明では前記エンボス加工部2
に続いて穴加工部3を設けるものであり、この穴加工部
3は、例えば前記電子部品20がダイオードであり、ア
ノード端子とカソード端子との2箇所の端子部20aを
有するものである場合には、前記アノード端子とカソー
ド端子との夫々に対応するように2個の検査穴11bを
打抜加工などにより前記エンボス部11aに設けるもの
である。尚、前記検査穴11bの穴径は後に説明するプ
ローブ6aが通過するのに充分な径であれば良い。In the present invention, the embossed portion 2 is used.
After that, the hole processing section 3 is provided. In the case where the hole processing section 3 is, for example, the electronic component 20 is a diode and has two terminal portions 20a of an anode terminal and a cathode terminal. The two inspection holes 11b are provided in the embossed portion 11a by punching so as to correspond to the anode terminal and the cathode terminal, respectively. The diameter of the inspection hole 11b may be a diameter sufficient for the probe 6a, which will be described later, to pass through.
【0010】このときに、前記テーピング装置1が、若
しも同一の電子部品20のみの封止を行うものであるな
らば、前記エンボス加工部2で加工するエンボス部11
aの形状、および、前記穴加工部3で加工する検査穴1
1bの位置および数などは一定であるので、前記エンボ
ス加工部2に穴加工部3の機能を持たせても良いものと
なる。At this time, if the taping device 1 seals only the same electronic component 20, the embossed portion 11 processed by the embossed portion 2 is processed.
The shape of a and the inspection hole 1 processed by the hole processing part 3
Since the position and the number of 1b are constant, the embossing section 2 may be provided with the function of the hole processing section 3.
【0011】上記のように検査穴11bが形成されたエ
ンボス部11aには、従来例で説明したのと同様に部品
供給部4で所定方向とした電子部品20が、例えば産業
ロボットなどにより落とし込まれるものとなる。従っ
て、この部品供給部4で落とし込みが行われた状態で
は、前記検査穴11bは電子部品20のアノード端子、
カソード端子などの端子部20aと対応する位置にある
ものとなっている。In the embossed portion 11a in which the inspection hole 11b is formed as described above, an electronic component 20 oriented in a predetermined direction by the component supply unit 4 is dropped by, for example, an industrial robot, as described in the conventional example. Will be used. Therefore, in the state in which the component supply unit 4 is dropped, the inspection hole 11b is the anode terminal of the electronic component 20,
It is located at a position corresponding to the terminal portion 20a such as the cathode terminal.
【0012】その後に、封止部5で他方のテープ12に
より熱溶着など適宜な手段による封着が行われて、前記
エンボス部11aの底部の封止が行われ、これにより前
記電子部品20の封入が行われるものとなる。ここで、
本発明では、従来例の目視による検査工程などに換え
て、前記封止部5の後に封入方向検定部6を設けるもの
であり、この封入方向検定部6で電子部品20のエンボ
ス部11aに対する方向性を検査する。After that, the other tape 12 is sealed in the sealing portion 5 by a suitable means such as heat welding to seal the bottom portion of the embossed portion 11a, whereby the electronic component 20 is sealed. Encapsulation will be performed. here,
In the present invention, instead of the visual inspection process of the conventional example, a sealing direction verification unit 6 is provided after the sealing unit 5, and the sealing direction verification unit 6 makes the direction of the electronic component 20 relative to the embossed section 11a. Inspect sex.
【0013】前記封入方向検定部6は、例えば2本とし
たプローブ6aと導通計6bであって、前記エンボス部
11aが定位置に達したときには前記プローブ6aが前
進して前記検査穴11bを通過し、電子部品20の端子
部20aに接触するものとなる。このときに、前記電子
部品20が例えばダイオードである場合には、アノード
端子側に正極、カソード端子側に負極を印加するもので
あり、これにより導通計6bは応動して電子部品20が
正しい方向でエンボス部11a内に位置していることを
告知するものとなる。The enclosing direction verification section 6 is, for example, two probes 6a and a continuity meter 6b. When the embossed section 11a reaches a fixed position, the probe 6a advances to pass through the inspection hole 11b. Then, it comes into contact with the terminal portion 20a of the electronic component 20. At this time, when the electronic component 20 is, for example, a diode, a positive electrode is applied to the anode terminal side and a negative electrode is applied to the cathode terminal side, whereby the continuity meter 6b responds and the electronic component 20 is oriented in the correct direction. Then, it is announced that it is located in the embossed portion 11a.
【0014】従って、導通計6bに応動を生じないとき
には、例えば部品供給部4自体の不具合、或いは、部品
供給部4から封止部5に到る経路での振動による電子部
品20の移動などにより、エンボス部11a内に電子部
品20が正しい方向で封入が行われていないことが判定
できるものとなる。Therefore, when the continuity meter 6b does not react, for example, the component supply section 4 itself is defective, or the electronic component 20 is moved due to vibration in the path from the component supply section 4 to the sealing section 5. Therefore, it can be determined that the electronic component 20 is not sealed in the correct direction in the embossed portion 11a.
【0015】尚、前記導通計6bによる判定は、上記し
たように導通の有無により行われても良いものである
が、例えば電子部品20が抵抗器である場合には、その
抵抗値を測定して判定を行っても良いものであり、ま
た、電子部品20がコンデンサなど直流での導通を生じ
ないものである場合には、前記導通計6bを交流若しく
は高周波で作動するものとしても良い。The determination by the continuity meter 6b may be made by the presence or absence of conduction as described above. For example, when the electronic component 20 is a resistor, its resistance value is measured. Alternatively, when the electronic component 20 does not generate direct current conduction such as a capacitor, the continuity meter 6b may be operated with alternating current or high frequency.
【0016】また、前記電子部品20が、例えば複数の
抵抗器、コンデンサ、半導体素子などが組合わされた回
路素子であり、大部分の端子間で導通を生じるような場
合には、ある特定の導通を生じない端子間で電子部品2
0を測定しても良く、要はエンボス部11a内で電子部
品20が正しい方向にあることを知れば良いものであ
る。Further, when the electronic component 20 is a circuit element in which a plurality of resistors, capacitors, semiconductor elements, etc. are combined, and conduction is generated between most of the terminals, a certain conduction is conducted. Electronic component between terminals that does not cause
0 may be measured, and the point is to know that the electronic component 20 is in the correct direction in the embossed portion 11a.
【0017】上記のようにして検定が行われ、若しも不
良部分が検出された場合には、例えばマーキング或いは
切離しが行われて不良部分が明示または除外され、その
後にロール状などに巻取りが行われて出荷に備えられる
ものとなる。従って、マーキングを行う場合には連続的
な巻取りが可能となり、例えば1ロールを1000個巻
などと定尺(定数)とすることが可能となるが、切離し
を行うときには不定尺となる可能性を生じ、何れを選択
するかは使用者側の要求に従えば良い。When the inspection is carried out as described above and a defective portion is detected, for example, marking or separation is carried out to clearly indicate or exclude the defective portion, and thereafter, it is wound into a roll or the like. Will be prepared for shipment. Therefore, when marking is performed, continuous winding is possible, and for example, it is possible to have a fixed length (constant) such as 1000 rolls, but there is a possibility that unfixed length is used when separating. And which one to select may be in accordance with the request from the user.
【0018】以上に説明した構成としたことで、本発明
のテーピング装置1ではエンボス部11a内にある電子
部品20の方向が、この電子部品20の使用状態に近い
電気的な手段で直接的に検定されるものとなるので、例
えば、電子部品20の形状、或いは、マーキングなどに
より間接的に方向を検定する手段に比較して格段に精度
を向上させることが可能となる。With the configuration described above, in the taping device 1 of the present invention, the direction of the electronic component 20 in the embossed portion 11a is directly changed by an electric means close to the usage state of the electronic component 20. Since it is verified, it is possible to significantly improve the accuracy as compared with, for example, the shape of the electronic component 20 or the means for indirectly verifying the direction by marking or the like.
【0019】[0019]
【発明の効果】以上に説明したように本発明により、エ
ンボス部の指定された位置に複数の検査穴を形成する穴
加工部と、他方のテープによる封着が行われた後に前記
検査穴からプローブを挿入し電子部品の封入された方向
を電気的に検定する封入方向検定部とが設けられている
キャリアエンボステーピング装置としたことで、封入が
行われた後の電子部品に前記検査穴を介して封入方向検
定部のプローブを接触可能とし、この種の電子部品の方
向性を検定する手段としては最適の電気的手段による検
定を可能として、エンボス部内における電子部品の方向
性の測定を精度の高いものとし、以て、キャリアエンボ
ステープの品質向上に極めて優れた効果を奏するもので
ある。As described above, according to the present invention, a hole processing portion for forming a plurality of inspection holes at a designated position of an embossed portion and the inspection hole after the other tape is sealed. By using a carrier emboss taping device that is provided with an encapsulation direction verification unit that inserts a probe and electrically verifies the encapsulation direction of electronic components, the inspection hole is formed in the electronic component after encapsulation is performed. The probe of the enclosing direction inspection unit can be contacted via this, and as the means for inspecting the directionality of this type of electronic component, it is possible to perform the inspection by the optimum electrical means, and the directionality of the electronic component in the embossed section can be measured accurately. Therefore, it is extremely effective in improving the quality of the carrier embossed tape.
【図1】 本発明に係るキャリアエンボステーピング装
置の一実施例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory view showing an embodiment of a carrier embossed taping device according to the present invention.
【図2】 同じ実施例のキャリアエンボステープの例を
示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory view showing an example of a carrier embossing tape of the same embodiment.
【図3】 従来例を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a conventional example.
【図4】 従来例のキャリアエンボステープの例を示す
説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of a conventional carrier embossing tape.
1……キャリアエンボステーピング装置 2……エンボス加工部 3……穴加工部 4……部品供給部 5……封止部 6……封入方向検定部 6a……プローブ 6b……導通計 10……キャリアエンボステープ 11……一方のテープ 11a……エンボス部 11b……検査穴 12……他方のテープ 1 ... Carrier embossed taping device 2 ... Embossing part 3 ... Hole processing part 4 ... Component supply part 5 ... Sealing part 6 ... Encapsulation direction verification part 6a ... Probe 6b ... Continuity meter 10 ... Carrier embossed tape 11 ... One tape 11a ... Embossed portion 11b ... Inspection hole 12 ... Other tape
Claims (1)
に対応するエンボス部を形成し、該エンボス部内に所定
の方向として前記電子部品を落とし込んだ後に他方のテ
ープで前記エンボス部の底面を封着して成るキャリアエ
ンボステーピング装置において、前記キャリアエンボス
テーピング装置には、前記エンボス部の指定された位置
に複数の検査穴を形成する穴加工部と、前記他方のテー
プによる封着が行われた後に前記検査穴からプローブを
挿入し前記電子部品の封入された方向を電気的に検定す
る封入方向検定部とが設けられていることを特徴とする
キャリアエンボステーピング装置。1. An embossed portion corresponding to the shape of an electronic component to be encapsulated in one tape is formed, and the electronic component is dropped in the embossed portion in a predetermined direction, and then the bottom surface of the embossed portion is sealed with the other tape. In the carrier embossed taping device formed by wearing, the carrier embossed taping device is provided with a hole processing part that forms a plurality of inspection holes at designated positions of the embossed part, and sealing with the other tape. A carrier emboss taping device, further comprising: an encapsulation direction verification unit that later verifies a direction in which the electronic component is encapsulated by inserting a probe through the inspection hole.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6261045A JPH08104306A (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Carrier-embossing/taping device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6261045A JPH08104306A (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Carrier-embossing/taping device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08104306A true JPH08104306A (en) | 1996-04-23 |
Family
ID=17356296
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6261045A Pending JPH08104306A (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Carrier-embossing/taping device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08104306A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998017091A1 (en) * | 1996-10-17 | 1998-04-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Parts container, method of inspecting parts using same, and apparatus therefor |
EP0921718A2 (en) * | 1997-12-05 | 1999-06-09 | Tek Pak, Inc. | Product carrier and method of making same |
JP2007070032A (en) * | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Kanehiro Kk | Lamp member conveying method |
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JPH0362997A (en) * | 1989-07-31 | 1991-03-19 | Elna Co Ltd | Electronic parts string |
-
1994
- 1994-09-30 JP JP6261045A patent/JPH08104306A/en active Pending
Patent Citations (1)
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