JPH0799631B2 - Reference voltage generation circuit - Google Patents

Reference voltage generation circuit

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JPH0799631B2
JPH0799631B2 JP12223185A JP12223185A JPH0799631B2 JP H0799631 B2 JPH0799631 B2 JP H0799631B2 JP 12223185 A JP12223185 A JP 12223185A JP 12223185 A JP12223185 A JP 12223185A JP H0799631 B2 JPH0799631 B2 JP H0799631B2
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JP
Japan
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reference voltage
circuit
read
switching element
memory cell
Prior art date
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JP12223185A
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JPS61280094A (en
Inventor
幹裕 後藤
義則 井上
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日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ROM(読み出し専用メモリ)、RAM(読み出し
書き込み可能メモリ)などのメモリ装置に用いられる基
準電圧発生回路に関する。
The present invention relates to a reference voltage generating circuit used in a memory device such as a ROM (read only memory) and a RAM (read / write memory).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の回路では、第3図に示すように基準電圧
発生回路16は、電源端子20と接地間に直列接続された抵
抗21および22を有し、この分圧回路を構成する複数の抵
抗21,22を通して接地に連続的に電流を流すことによ
り、基準電圧を発生している。読み出し回路17では、こ
の基準電圧とメモリセルアレイ18内の選択されたセルか
らの読み出し信号を比較して“1"(ハイレベル)、“0"
(ロウレベル)の判定を行い、出力データ19を発生して
いる。
In the conventional circuit of this type, as shown in FIG. 3, the reference voltage generating circuit 16 has resistors 21 and 22 connected in series between the power supply terminal 20 and the ground, and a plurality of voltage dividing circuits are provided. A reference voltage is generated by continuously flowing a current to the ground through the resistors 21 and 22. In the read circuit 17, the reference voltage is compared with the read signal from the selected cell in the memory cell array 18, and "1" (high level), "0"
(Low level) is determined and output data 19 is generated.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

上述した従来の回路では、読み出しのために基準電圧が
使用されていない時でも回路16では電源20から抵抗21,2
2を通して接地に電流が流れ、このため、消費電力が大
きく、温度上昇の原因になるなどの欠点がある。所謂CM
OS化により、回路の抵消費電力化が進んでいるが、従来
の構成では、回路全体の消費電力のうち基準電圧発生回
路16の消費電力が占める割合が増えている。
In the conventional circuit described above, in the circuit 16, even when the reference voltage is not used for reading, the power supply 20 is connected to the resistors 21,2 in the circuit 16.
Current flows through 2 to the ground, which results in high power consumption and a temperature rise. So-called CM
Although the power consumption of the circuit has been reduced due to the OS, in the conventional configuration, the power consumption of the reference voltage generation circuit 16 accounts for an increase in the power consumption of the entire circuit.

本発明の目的は消費電力を少なく、温度の上昇のおそれ
のない基準電圧発生回路を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a reference voltage generation circuit that consumes less power and is free from the risk of temperature rise.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、複数の抵抗性素子を直列に接続し電源電圧を
分圧する回路に直列に挿入した開閉素子と、この開閉素
子を制御する特定タイミング信号を周期的に発生するタ
イミング発生回路を有している。
The present invention has an opening / closing element in which a plurality of resistive elements are connected in series and is inserted in series in a circuit for dividing a power supply voltage, and a timing generation circuit for periodically generating a specific timing signal for controlling the opening / closing element. ing.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例でマイクロコンピュータに内
蔵された基準電圧発生回路に関する要部のブロック図で
ある。第2図は第1図に関するタイミング信号10の波形
及び基準電圧5の波形である。
FIG. 1 is a block diagram of an essential part of a reference voltage generating circuit incorporated in a microcomputer according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows the waveform of the timing signal 10 and the waveform of the reference voltage 5 relating to FIG.

メモリーセルアレイ8は命令データを内蔵し、マイクロ
コンピュータは1命令サイクル13ごとにメモリーセルア
レイ8より命令を読み出し、命令を実行する動作を繰り
返している。マイクロコンピュータにおいて、命令サイ
クル13のうち、命令の読み出し期間12では出力データ1
は使用され、命令の実行期間11では出力データ1は使用
されない。又、命令の読み出し期間12では、読み出し回
路7がメモリセルアレイ8より、命令データを読み出
し、出力データ1を出力するために、基準電圧5が第2
図のaレベルになる必要がある。
The memory cell array 8 contains the instruction data, and the microcomputer repeats the operation of reading the instruction from the memory cell array 8 every one instruction cycle 13 and executing the instruction. In the microcomputer, in the instruction read period 12 of the instruction cycle 13, output data 1
Is used, and the output data 1 is not used in the instruction execution period 11. In the instruction read period 12, the read voltage 7 is read from the memory cell array 8 by the read voltage and the output data 1 is output.
It must be at level a in the figure.

第1図において、タイミング発生回路9がタイミング信
号10に第2図に示した波形信号を与えることにより、命
令の読み出し期間12ではタイミング信号10は“1"(ハイ
レベル)となり、開閉素子3はONする。開閉素子3がON
すると、抵抗4と抵抗6を通して電源からGNDに電流が
流れ、基準電圧5がaレベルとなり、読み出し回路7は
読み出し可能となり、メモリーセル8のデータが読み出
し回路7より読み出され、出力データ1として出力され
る。また、命令の実行期間11では、出力データ1が使用
されないため、基準電圧5はaレベルである必要がな
い。よって、命令の実行期間11では、タイミング信号10
は“0"(ロウレベル)が出力され、開閉素子3はオフす
る。開閉素子3がオフすることにより、抵抗4と抵抗6
を通して電源からGNDに流れる電流は遮断される。この
動作を各命令サイクルごとい繰り返すことにより、マイ
クロコンピュータの消費電流が減少し、消費電力を低減
することが可能である。
In FIG. 1, the timing generation circuit 9 gives the waveform signal shown in FIG. 2 to the timing signal 10, so that the timing signal 10 becomes “1” (high level) in the instruction read period 12 and the switching element 3 becomes Turn on. Switching element 3 is ON
Then, a current flows from the power supply to GND through the resistors 4 and 6, the reference voltage 5 becomes a level, the read circuit 7 becomes readable, and the data of the memory cell 8 is read by the read circuit 7 and output data 1 is obtained. Is output. Further, since the output data 1 is not used during the instruction execution period 11, the reference voltage 5 does not need to be at the a level. Therefore, in the instruction execution period 11, the timing signal 10
"0" (low level) is output, and the switching element 3 is turned off. When the switching element 3 is turned off, the resistance 4 and the resistance 6
The current flowing from the power supply to GND is cut off. By repeating this operation for each instruction cycle, the current consumption of the microcomputer can be reduced and the power consumption can be reduced.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明は、基準電圧発生回路に開閉
素子を入れ、タイミング発生回路がメモリーの出力信号
を使用する期間は開閉素子を閉じ、メモリーの出力信号
を使用しない期間は開閉素子を開くような信号を周期的
に前記開閉素子に与えることにより、基準電圧発生回路
に流れる電流を減少し、回路の消費電力を低減できる効
果がある。
As described above, according to the present invention, the switching element is inserted in the reference voltage generation circuit, the switching element is closed when the timing generation circuit uses the output signal of the memory, and the switching element is opened when the output signal of the memory is not used. By periodically applying such a signal to the switching element, it is possible to reduce the current flowing through the reference voltage generating circuit and reduce the power consumption of the circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、本発明の一実施例による回路構成例を示すブ
ロック図、第2図は第1図の回路のタイミング信号波形
図と基準電圧の波形図である。第3図は従来回路を示す
ブロック図である。 1……出力データ、2……基準電圧発生回路、3……開
閉素子、4……抵抗、5……基準電圧、6……抵抗、7
……読み出し回路、8……メモリーセル、9……タイミ
ング発生回路、10……タイミング信号、11……命令の実
行期間、12……命令の読み出し期間、13……1命令サイ
クル、14……タイミング信号10の波形、15……基準電圧
5の波形、16……基準電圧発生回路、17……読み出し回
路、18……メモリーセル、19……出力データ。
FIG. 1 is a block diagram showing a circuit configuration example according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a timing signal waveform diagram and a reference voltage waveform diagram of the circuit of FIG. FIG. 3 is a block diagram showing a conventional circuit. 1 ... Output data, 2 ... Reference voltage generating circuit, 3 ... Switching element, 4 ... Resistor, 5 ... Reference voltage, 6 ... Resistor, 7
...... Reading circuit, 8 ...... Memory cell, 9 ...... Timing generation circuit, 10 ...... Timing signal, 11 ...... Command execution period, 12 ...... Command reading period, 13 ...... 1 command cycle, 14 ...... Timing signal 10 waveform, 15 …… reference voltage 5 waveform, 16 …… reference voltage generating circuit, 17 …… reading circuit, 18 …… memory cell, 19 …… output data.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−45680(JP,A) 特開 昭57−113263(JP,A) 特開 昭52−156520(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP-A-58-45680 (JP, A) JP-A-57-113263 (JP, A) JP-A-52-156520 (JP, A)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】命令データを記憶するメモリセルアレイを
有するコンピュータに内蔵された基準電圧発生回路であ
って、前記メモリセルアレイの選択されたセルからの読
み出し信号を基準電圧と比較することにより前記命令デ
ータを発生するための前記基準電圧を発生する基準電圧
発生回路において、直列接続された複数の抵抗性素子を
有し電源電圧を分圧して前記基準電圧を発生する抵抗性
素子直列回路と、この抵抗性素子直列回路に直列に挿入
されたスイッチング素子と、前記メモリセルアレイから
命令データを読み出す命令読み出し期間に前記スイッチ
ング素子を導通せしめ、読み出された命令の実行期間で
は前記スイッチング素子を遮断せしめるタイミング信号
を前記スイッチング素子に供給するタイミング発生回路
とを備えることを特徴とする基準電圧発生回路。
1. A reference voltage generating circuit built in a computer having a memory cell array for storing instruction data, wherein the instruction data is obtained by comparing a read signal from a selected cell of the memory cell array with a reference voltage. In the reference voltage generating circuit for generating the reference voltage for generating, a resistive element series circuit having a plurality of resistive elements connected in series to divide a power supply voltage to generate the reference voltage, and the resistance And a timing signal for electrically connecting the switching element during a command read period for reading command data from the memory cell array and for shutting off the switching device during an execution period of the read command. And a timing generation circuit for supplying the switching element to the switching element. Reference voltage generating circuit according to symptoms.
JP12223185A 1985-06-05 1985-06-05 Reference voltage generation circuit Expired - Lifetime JPH0799631B2 (en)

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JPS61280094A JPS61280094A (en) 1986-12-10
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS57113263A (en) * 1980-12-29 1982-07-14 Nec Corp Semiconductor device and its manufacture
JPS5845680A (en) * 1981-09-11 1983-03-16 Canon Inc Power supply for memory

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