JPH0798574A - Liquid crystal inspection instrument - Google Patents

Liquid crystal inspection instrument

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Publication number
JPH0798574A
JPH0798574A JP24263893A JP24263893A JPH0798574A JP H0798574 A JPH0798574 A JP H0798574A JP 24263893 A JP24263893 A JP 24263893A JP 24263893 A JP24263893 A JP 24263893A JP H0798574 A JPH0798574 A JP H0798574A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display panel
voltage
pattern
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP24263893A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Hakamata
博之 袴田
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NTN Corp
Original Assignee
NTN Corp
NTN Toyo Bearing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NTN Corp, NTN Toyo Bearing Co Ltd filed Critical NTN Corp
Priority to JP24263893A priority Critical patent/JPH0798574A/en
Publication of JPH0798574A publication Critical patent/JPH0798574A/en
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  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PURPOSE:To save the manpower of the inspecting process of a liquid crystal display device by preventing the variance of adjustment and the unevenness of measurement by a woker from occurring. CONSTITUTION:By giving a pattern generated from a display pattern generation part 6 to a liquid crystal driving part 12 and giving a driving voltage to the driving part 12 by a voltage adjustment device 5, the pattern is displayed on a liquid crystal display panel 11. Besides, the pattern is read by a CCD camera 30 through an optical system 31 and the luminance of the panel 11 and the existence of flicker and a defective picture element are measured by an image processor 4. By a computer 7, the pattern generated from the generation part 6 is instructed according to a detection and adjustment item and the adjustment device 5 is instructed to fluctuate the voltage at the same time.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は液晶検査装置に関し、
特に、液晶表示パネルを正常に表示させる液晶駆動電圧
を測定し、かつ液晶表示パネルの表示異常を測定するよ
うな液晶検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal inspection device,
In particular, the present invention relates to a liquid crystal inspection device for measuring a liquid crystal drive voltage for normally displaying a liquid crystal display panel and measuring a display abnormality of the liquid crystal display panel.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置は、産業の紙とも呼ばれ、
携帯型テレビや携帯型コンピュータなどに用いられ、そ
の需要は年々伸び続けているが、その反面、生産性が低
く価格低下もなかなか捗らないという問題を抱えてい
る。その原因の1つとして、現在目視に頼らざるを得な
い検査工程に多大な人員を要することが挙げられる。液
晶表示装置は、液晶表示パネルと液晶駆動部の2つの部
分により構成されるが、液晶駆動部の駆動電圧の調整
は、液晶表示パネルが正常な表示をするために必要な液
晶検査工程の1つである。また、光を透過してはいけな
いときに透過してしまったり、透過しなくてはいけない
ときに透過しないといった異常表示のある液晶表示装置
は不良として取り除かなければならず、異常表示の測定
も重要な液晶検査工程の1つである。
2. Description of the Related Art Liquid crystal display devices are also called industrial paper,
It is used in portable TVs and portable computers, and the demand for it continues to grow year by year, but on the other hand, it suffers from low productivity and slow price reduction. One of the causes is that a large number of personnel are required for the inspection process which currently has to rely on visual inspection. A liquid crystal display device is composed of two parts, a liquid crystal display panel and a liquid crystal drive unit. Adjustment of the drive voltage of the liquid crystal drive unit is one of the liquid crystal inspection steps necessary for the liquid crystal display panel to display normally. Is one. In addition, liquid crystal display devices that have an abnormal display that transmits light when it should not be transmitted or does not transmit when it must be transmitted must be removed as a defect, and measurement of the abnormal display is also important. This is one of the major liquid crystal inspection processes.

【0003】以下に、まず、液晶表示パネルの基本的な
構成からその表示特性が液晶表示パネルごとに異なる例
を2つ掲げ、液晶駆動部の調整が必要となる理由につい
て説明する。
First, two examples in which the liquid crystal display panel has different display characteristics from the basic structure of the liquid crystal display panel will be described below, and the reason why the liquid crystal drive section needs to be adjusted will be described.

【0004】図5はTFT型液晶表示パネル20の中の
1つの画素の電気的な構成を示す図である。TFT型液
晶表示パネルのそれぞれの画素は、実際の表示に貢献す
る液晶21と、それを挟む液晶電極22と、TFT23
と呼ばれるスイッチング素子から構成される。TFT2
3ではゲート電極にスイッチング信号が印加されている
間、ソース電極とドレイン電極間は抵抗が小さくなり、
実質的に導通状態になる。その結果、ドレイン電極に接
合された液晶電極に、ソース電極に印加されている表示
信号が印加される。ゲート電極にスイッチング電圧が印
加されなくなると、ソース電極とドレイン電極間は抵抗
が大きくなり、実質的に絶縁状態になる。その結果、ド
レイン電極に接合された液晶電極に印加された表示信号
は、次のスイッチング信号が印加されるまで保持される
ことになる。TFT23はゲート電極に与えられるスイ
ッチング信号の電圧が低いと正常に導通状態に変化せ
ず、逆に高いと正常に絶縁状態に変化しないという特性
をもっている。TFT23の各素子間でこの特性にばら
つきがあるため、個々の液晶表示パネルごとで正常に動
作するゲート電極に与えるスイッチング信号の電圧を測
定し、設定しなくてはならない。
FIG. 5 is a diagram showing an electrical configuration of one pixel in the TFT type liquid crystal display panel 20. Each pixel of the TFT type liquid crystal display panel includes a liquid crystal 21 that contributes to actual display, a liquid crystal electrode 22 that sandwiches the liquid crystal 21, and a TFT 23.
It is composed of a switching element called. TFT2
In 3, the resistance between the source electrode and the drain electrode becomes small while the switching signal is applied to the gate electrode,
It becomes substantially conductive. As a result, the display signal applied to the source electrode is applied to the liquid crystal electrode joined to the drain electrode. When the switching voltage is no longer applied to the gate electrode, the resistance between the source electrode and the drain electrode increases, and the gate electrode becomes substantially insulative. As a result, the display signal applied to the liquid crystal electrode joined to the drain electrode is held until the next switching signal is applied. The TFT 23 has a characteristic that when the voltage of the switching signal applied to the gate electrode is low, it does not normally change to the conductive state, and when it is high, it does not normally change to the insulating state. Since there are variations in this characteristic among the respective elements of the TFT 23, it is necessary to measure and set the voltage of the switching signal applied to the normally operating gate electrode for each liquid crystal display panel.

【0005】図6は液晶電極間に印加する表示信号電圧
と、その結果得られる光の透過率特性の変化の一般的な
関係を示す図である。液晶電極間に電圧を全く印加しな
い0Vの状態ではほぼ完全に光を透過し、電圧を印加す
るごとに透過率が減少し、ある値以上では透過率は減少
しなくなる。液晶表示装置では、この特性を利用して表
示を行なうが、実際には液晶材料の劣化を防ぐため、液
晶に印加する表示信号の電圧極性をフィールドごとに正
負反転させるという反転駆動という方式が用いられる。
FIG. 6 is a diagram showing a general relationship between the display signal voltage applied between the liquid crystal electrodes and the resulting change in light transmittance characteristics. In the state of 0 V in which no voltage is applied between the liquid crystal electrodes, light is almost completely transmitted, and the transmittance decreases every time a voltage is applied, and the transmittance does not decrease above a certain value. A liquid crystal display device uses this characteristic to perform display, but in order to prevent deterioration of the liquid crystal material, a method called inversion drive is used in which the voltage polarity of the display signal applied to the liquid crystal is inverted in each field. To be

【0006】反転駆動を行なう場合、透過率の変化する
様子が0Vを中心としてではなく、あるオフセット電圧
を中心に対称となっているため、正確にこのオフセット
電圧を中心に印加電圧を正確に判定しないと、異常な表
示画面や反転ごとにフリッカと呼ばれるちらつきが現わ
れてしまう。悪いことに、この液晶表示パネルの光の透
過特性は個々の液晶表示装置で微妙に異なるため、正常
に動作するオフセット電圧も個々の液晶表示装置ごとに
測定,調整しなくてならない。
When performing inversion driving, the state of change in transmittance is symmetrical not about 0 V but about an offset voltage. Therefore, the applied voltage is accurately determined with this offset voltage as the center. Otherwise, flickering called flicker will appear every abnormal display screen or inversion. Unfortunately, since the light transmission characteristics of the liquid crystal display panel are slightly different in each liquid crystal display device, the offset voltage that normally operates must be measured and adjusted for each liquid crystal display device.

【0007】また、異常表示は、その原因が様々である
が、たとえば、画素単位での異常表示ではTFT23の
動作不良や液晶電極間への異物の混入などが考えられ
る。TFT23の動作不良の場合、液晶電極間に電荷が
蓄積されないため電圧が印加されず、光を透過してはい
けないのに透過してしまったり、逆に、電荷が集積され
たままとなり、光を透過しなくはならないのに透過しな
いというような異常表示となる。異常表示のある液晶表
示装置は異常箇所を修復できる場合、修復して製品にす
ることが可能なため修復工程に回される。
The cause of the abnormal display has various causes. For example, in the abnormal display on a pixel-by-pixel basis, it is conceivable that the TFT 23 malfunctions or foreign matter is mixed between liquid crystal electrodes. In the case of malfunction of the TFT 23, no voltage is applied between the liquid crystal electrodes because voltage is not applied, and light is transmitted though it should not be transmitted, or conversely, charge is accumulated and light is not transmitted. An abnormal display is displayed in which it is not transparent but it is not transparent. A liquid crystal display device having an anomaly display is sent to a repair process because it can be repaired into a product when the anomalous part can be repaired.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】従来では、正常に動作
する液晶表示装置のスイッチング電圧やオフセット電圧
を測定するのに作業者がボリュームなどを手動で調整し
ながら表示状態を目視で行なっている。また、同様にし
て異常表示の測定も、作業者の目視検査によらざるを得
ない。これらの検査工程は、液晶表示装置の生産工程に
おいて最も人手を要する工程の1つであり、液晶表示装
置の生産性を低下させている。
Conventionally, in order to measure a switching voltage or an offset voltage of a normally operating liquid crystal display device, an operator visually adjusts a display state while manually adjusting a volume or the like. Further, in the same manner, the measurement of the abnormality display must be done by visual inspection by the operator. These inspection steps are one of the most labor-intensive steps in the production process of liquid crystal display devices, and reduce the productivity of liquid crystal display devices.

【0009】それゆえに、この発明の主たる目的は、作
業者による調整のばらつきや測定むらを防ぎ、検査工程
の省略化を図ることのできるような液晶検査装置を提供
することである。
Therefore, a main object of the present invention is to provide a liquid crystal inspecting apparatus capable of preventing the variation of adjustments by the operator and the unevenness of measurement and simplifying the inspection process.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
液晶表示パネルにパターンを表示し、そのパターンを撮
像し、その撮像出力を画像処理して液晶表示パネルの異
常を検査する液晶検査装置であって、液晶表示パネルに
供給される液晶駆動電圧を変化させながら、画像処理に
よって液晶表示パネルの異常表示の有無および異常位置
を測定する測定手段を備えて構成される。
The invention according to claim 1 is
A liquid crystal inspection device that displays a pattern on a liquid crystal display panel, images the pattern, processes the imaged output, and inspects the liquid crystal display panel for abnormalities. The liquid crystal drive voltage supplied to the liquid crystal display panel is changed. Meanwhile, it is configured to include a measuring unit that measures the presence or absence of an abnormal display and the abnormal position of the liquid crystal display panel by image processing.

【0011】請求項2に係る発明では、請求項1の測定
手段は、液晶駆動電圧を変化させながら、液晶表示パネ
ルの輝度やフリッカなどの変化を測定する。
In the invention according to claim 2, the measuring means according to claim 1 measures changes in the brightness and flicker of the liquid crystal display panel while changing the liquid crystal drive voltage.

【0012】請求項3に係る発明では、請求項1の測定
手段は、請求項1または2の測定結果に基づいて、液晶
表示パネルが正常な表示となる液晶駆動電圧を測定す
る。
According to a third aspect of the invention, the measuring means of the first aspect measures the liquid crystal drive voltage for normal display on the liquid crystal display panel based on the measurement result of the first or second aspect.

【0013】請求項4に係る発明では、液晶表示パネル
はTFT型液晶表示パネルであって、測定手段はTFT
型液晶表示パネルが正常な表示となるゲート電圧および
オフセット電圧を判断する。
In the invention according to claim 4, the liquid crystal display panel is a TFT type liquid crystal display panel, and the measuring means is a TFT.
The liquid crystal display panel determines a gate voltage and an offset voltage for normal display.

【0014】[0014]

【作用】この発明に係る液晶検査装置は、液晶表示パネ
ルに供給される液晶駆動電圧を変化させたときに、表示
されるパターンを撮像し、その撮像出力を画像処理する
ことによって、液晶表示パネルの異常表示の有無や異常
位置を測定する。
The liquid crystal inspecting apparatus according to the present invention picks up the pattern to be displayed when the liquid crystal driving voltage supplied to the liquid crystal display panel is changed, and processes the picked-up output to perform the image processing. Measure the presence or absence of abnormal display and abnormal position.

【0015】[0015]

【実施例】図1はこの発明の一実施例の構成を示す図で
ある。図1において、測定対象となる液晶表示装置は、
液晶表示パネル11と液晶駆動部12とからなり、液晶
表示パネル11には下方から光源(バックライト)2か
ら光が照射され、液晶表示パネル11の像が光学系31
を介してCCDカメラ30に撮像される。CCDカメラ
30の撮像出力は画像処理装置4に与えられる。画像処
理装置4は撮像信号に基づいて、表示状態の測定を行な
い、その結果をコンピュータ7に出力する。一方、コン
ピュータ7は測定項目に合わせて表示パターンを変える
ために、表示パターン発生部6に表示するパターンの指
令信号を出力する。コンピュータ7は画像処理装置4か
ら受け取ったデータに基づいて、電圧調整装置5にデー
タを出力し、電圧調整装置5から液晶駆動部12に印加
する電圧を変動させ、輝度やフリッカの変化の様子を画
像処理装置4に再度計測させる。この処理を繰返し、正
常に動作する電圧を測定する。
1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the liquid crystal display device to be measured is
The liquid crystal display panel 11 and the liquid crystal drive unit 12 are provided. The liquid crystal display panel 11 is irradiated with light from a light source (backlight) 2 from below, and an image of the liquid crystal display panel 11 is formed by an optical system 31.
The image is picked up by the CCD camera 30 via. The image pickup output of the CCD camera 30 is given to the image processing device 4. The image processing device 4 measures the display state based on the image pickup signal and outputs the result to the computer 7. On the other hand, the computer 7 outputs a command signal of a pattern to be displayed on the display pattern generator 6 in order to change the display pattern according to the measurement item. The computer 7 outputs the data to the voltage adjusting device 5 based on the data received from the image processing device 4 to change the voltage applied from the voltage adjusting device 5 to the liquid crystal drive unit 12 to show the change of brightness and flicker. The image processing device 4 is caused to measure again. This process is repeated to measure the voltage for normal operation.

【0016】次に、各部の詳細な動作について説明す
る。画像処理装置4はCCDカメラ30から画像1フレ
ーム分を512画素×512画素のフレームメモリに輝
度256階調に変換して取り込む。なお、フレームメモ
リは図示しないが画像処理装置4に内蔵されている。画
像1フレーム分が取り込まれるため、走査線1本ごとに
2つのフィールドの画像が交互に取り込まれていること
になる。このとき、液晶表示パネル11自体の走査線数
とCCDカメラ30上に結ぶ像の走査線数が一致するよ
うに、光学系31が調整されている。次に、画像処理装
置4は液晶表示パネル11の像がフレームメモリ上のど
の部分に取り込まれているかを判断し、測定範囲を決定
する。
Next, the detailed operation of each unit will be described. The image processing device 4 converts one frame of the image from the CCD camera 30 into a frame memory of 512 pixels × 512 pixels after converting it into 256 gradations of luminance. Although not shown, the frame memory is built in the image processing apparatus 4. Since one frame of image is captured, images in two fields are captured alternately for each scanning line. At this time, the optical system 31 is adjusted so that the number of scanning lines of the liquid crystal display panel 11 itself and the number of scanning lines of the image formed on the CCD camera 30 match. Next, the image processing device 4 determines in which part of the frame memory the image of the liquid crystal display panel 11 is captured, and determines the measurement range.

【0017】たとえば、輝度を測定する場合、像全体の
輝度を測定するならば、全測定範囲の輝度を合計して測
定結果とし、像の一部分(たとえば中央部分)の輝度を
測定するならば、その部分の範囲を指定してその部分の
みの輝度を合計して測定結果とすることも可能である。
For example, in the case of measuring the luminance, if the luminance of the entire image is measured, the luminances of all measurement ranges are summed to obtain the measurement result, and if the luminance of a part (for example, the central portion) of the image is measured, It is also possible to specify the range of that portion and sum the luminances of only that portion to obtain the measurement result.

【0018】また、フリッカの測定をする場合、たとえ
ば液晶表示パネルがフィールドごとに反転駆動されてい
るとき、走査線数ごとに2つのフィールド画面が交互に
取り込まれているので、フィールドごとに輝度を合計
し、それぞれのフィールドの輝度合計の差を測定結果と
する。2つのフィールドの輝度が一致しているとき、フ
リッカがない状態となる。また、異常表示もフレームメ
モリ上のデータを処理することにより測定可能である。
Further, in the case of measuring flicker, for example, when the liquid crystal display panel is reversely driven for each field, two field screens are alternately taken in for each number of scanning lines. Then, the difference is added as the measurement result. When the brightness of the two fields match, there is no flicker. Further, the abnormal display can also be measured by processing the data on the frame memory.

【0019】電圧調整装置5はコンピュータ7から与え
られる指令信号をD/A変換し、スイッチング電圧を0
Vから20Vの範囲で変化させ、オフセット電圧を1V
から8Vの範囲で変化させる。なお、これ以外にも、ボ
リュームやトリマなどをステッピングモータなどの回転
駆動力により回転させて電圧を変化させるようにしても
よい。
The voltage regulator 5 D / A-converts the command signal given from the computer 7 to reduce the switching voltage to 0.
Change the offset voltage to 1V by changing the range from V to 20V.
To 8V. In addition to this, the voltage may be changed by rotating a volume, a trimmer, or the like by the rotation driving force of a stepping motor or the like.

【0020】表示パターン発生部6は画像処理装置4と
同様にして、512×512ビットのフレームメモリを
内蔵していて、このフレームメモリの内容をビデオ信号
に変換してパターンを発生させるものであり、フレーム
メモリに記憶されている内容を書換えることにより、異
なるパターンを発生させることが可能となる。
Similar to the image processing device 4, the display pattern generator 6 has a 512 × 512-bit frame memory built therein, and converts the contents of the frame memory into a video signal to generate a pattern. By rewriting the contents stored in the frame memory, it becomes possible to generate different patterns.

【0021】図2はこの発明の一実施例の動作を説明す
るためのフローチャートである。図2を参照して、コン
ピュータ7による実際の測定方法について説明する。測
定は、図2(a)に示すようにオフセット電圧測定、
スイッチング電圧測定、異常点灯の順に行なわれ
る。オフセット電圧を測定するための準備として、コン
ピュータ7は図2(b)に示すようにスイッチング電圧
を予めわかっているおおよその値に設定するように電圧
調整装置5に指令信号を送る。表示パターン発生部6に
はフリッカの最も出やすい走査線2本ごとに液晶電極間
に電圧を印加させるパターンを発生するようにコンピュ
ータ7から指令が与えられる。コンピュータ7からオフ
セット電圧を測定開始電圧に設定するように電圧調整装
置5に指令を与えると、コンピュータ7は画像処理装置
4にフィールド間の輝度差を測定するように指令信号を
与える。オフセット電圧を少し変化させるように指令を
与えるたびに、フィールド間の輝度差測定結果を受け取
るという動作が測定終了電圧になるまで繰返され、オフ
セット電圧を変化させたときのフィールド間輝度差の変
化の様子がコンピュータ7によって測定される。
FIG. 2 is a flow chart for explaining the operation of one embodiment of the present invention. An actual measuring method by the computer 7 will be described with reference to FIG. The measurement is an offset voltage measurement as shown in FIG.
Switching voltage measurement and abnormal lighting are performed in this order. In preparation for measuring the offset voltage, the computer 7 sends a command signal to the voltage regulator 5 so as to set the switching voltage to an approximately known value as shown in FIG. 2 (b). The display pattern generation unit 6 is instructed by the computer 7 to generate a pattern for applying a voltage between the liquid crystal electrodes for every two scanning lines that are most prone to flicker. When the computer 7 gives a command to the voltage adjusting device 5 to set the offset voltage to the measurement start voltage, the computer 7 gives the image processing device 4 a command signal to measure the luminance difference between the fields. Every time a command is given to slightly change the offset voltage, the operation of receiving the measurement result of the brightness difference between fields is repeated until the measurement end voltage is reached, and the change in the brightness difference between fields when the offset voltage is changed is changed. The situation is measured by the computer 7.

【0022】図3はこの発明の一実施例によって測定さ
れたオフセット電圧とフィールド間輝度差の関係をグラ
フに示した図である。図3において、フィールド間輝度
差が正から負に変化する時点の0になる時点のオフセッ
ト電圧を正常な値として判定すると、コンピュータ7は
オフセット電圧を正常な値に設定するように電圧調整装
置5に指令信号を与える。これによって、オフセット電
圧の測定が終了する。
FIG. 3 is a graph showing the relationship between the offset voltage and the inter-field luminance difference measured according to an embodiment of the present invention. In FIG. 3, when the offset voltage at the time when the inter-field luminance difference changes from positive to negative is 0 is determined as a normal value, the computer 7 sets the offset voltage to a normal value. Command signal to. This completes the measurement of the offset voltage.

【0023】次に、スイッチング電圧を測定する。表示
パターン発生部6は表示画素すべてに電圧が印加された
状態になるパターンを発生する。オフセット電圧を測定
するときと同様にして、コンピュータ7は電圧調整装置
5によってスイッチング電圧を変化させながら、画像処
理装置4によって画面の輝度を測定させる。
Next, the switching voltage is measured. The display pattern generator 6 generates a pattern in which a voltage is applied to all display pixels. In the same manner as when measuring the offset voltage, the computer 7 causes the image processing device 4 to measure the screen brightness while changing the switching voltage by the voltage adjusting device 5.

【0024】図4はスイッチング電圧と輝度との関係を
グラフに示した例である。図4において、ある範囲内で
は輝度が一定となり、コンピュータ7はこのスイッチン
グ電圧範囲を正常な範囲として判定する。この例では像
の一部の輝度しか測定していないが、像全体の輝度変化
を測定すれば、液晶表示パネル11内でのTFTの特性
のばらつきの様子も測定可能である。コンピュータ7は
スイッチング電圧を正常な値に設定するように電圧調整
装置5に指令信号を与え、スイッチング電圧の測定を終
了する。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the switching voltage and the luminance. In FIG. 4, the brightness is constant within a certain range, and the computer 7 determines this switching voltage range as a normal range. In this example, only the brightness of a part of the image is measured, but by measuring the brightness change of the entire image, it is possible to measure the variation in the characteristics of the TFTs in the liquid crystal display panel 11. The computer 7 gives a command signal to the voltage adjusting device 5 so as to set the switching voltage to a normal value, and ends the measurement of the switching voltage.

【0025】以上の測定結果を用いて、正常な表示を行
なう電圧になるように電圧調整装置5を再度設定する
と、コンピュータ7は異常表示の有無を測定するため
に、表示パターン発生部6にすべての画素が光を透過す
る状態になるパターンを発生するように指令を与える。
画像処理装置4は光の透過率の低い画素の有無を測定
し、光の透過率の低い画素があればその表示パネル11
内での位置を結果としてコンピュータ7に送る。応じ
て、CPU7はすべての画素が光を透過しない状態にな
るパターンを発生するように表示パターン発生部6に指
令信号を出力する。画像処理装置4は光の透過率の高い
画素の有無を判定し、同様にその結果をコンピュータ7
に送る。これらの測定結果から、コンピュータ7は液晶
表示パネル11の異常点灯の有無を判定する。最後に、
これらの結果をコンピュータ7の画面上や外部記憶装置
などに出力して検査を終了する。
When the voltage adjusting device 5 is set again so that the voltage for normal display is obtained by using the above measurement results, the computer 7 is set in the display pattern generator 6 in order to measure the presence / absence of abnormal display. The command is given to generate a pattern in which the pixel of becomes transparent to light.
The image processing device 4 measures the presence / absence of a pixel having a low light transmittance, and if there is a pixel having a low light transmittance, the display panel 11 thereof is detected.
The position within is sent to the computer 7 as a result. In response, the CPU 7 outputs a command signal to the display pattern generation unit 6 so as to generate a pattern in which all pixels do not transmit light. The image processing device 4 determines the presence / absence of a pixel having a high light transmittance, and similarly, the result is determined by the computer 7
Send to. Based on these measurement results, the computer 7 determines whether or not the liquid crystal display panel 11 is abnormally lit. Finally,
These results are output on the screen of the computer 7 or an external storage device and the inspection is completed.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、液晶
表示パネルに供給される液晶駆動電圧を変化させながら
画像処理によって表示パネルの異常表示の有無や異常位
置を測定するようにしたので、液晶表示パネルの検査工
程における省力化が期待でき、作業者の体調や気分によ
り生ずる作業むらがなくなり、安定した品質の製品が期
待できる。さらに、撮像手段を用いることにより、液晶
表示パネルの検査対象の範囲を自由に変えることがで
き、しかも短時間に測定することができる。
As described above, according to the present invention, the presence or absence of abnormal display and the abnormal position of the display panel are measured by image processing while changing the liquid crystal drive voltage supplied to the liquid crystal display panel. Therefore, labor saving can be expected in the inspection process of the liquid crystal display panel, work unevenness caused by the physical condition and mood of the worker is eliminated, and stable quality products can be expected. Further, by using the image pickup means, the range of the inspection target of the liquid crystal display panel can be freely changed and the measurement can be performed in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例の全体の構成を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例の動作を説明するためのフ
ローチャートである。
FIG. 2 is a flow chart for explaining the operation of the embodiment of the present invention.

【図3】この発明の一実施例によるオフセット電圧とフ
ィールド間輝度差の関係をグラフに示した図である。
FIG. 3 is a graph showing a relationship between an offset voltage and an inter-field luminance difference according to an embodiment of the present invention.

【図4】この発明の一実施例によるスイッチング電圧と
輝度との関係をグラフに示した図である。
FIG. 4 is a graph showing a relationship between a switching voltage and brightness according to an embodiment of the present invention.

【図5】従来のTFT型液晶表示部の構成を示す図であ
る。
FIG. 5 is a diagram showing a configuration of a conventional TFT type liquid crystal display unit.

【図6】液晶電極間電圧と光の透過特性を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a voltage between liquid crystal electrodes and a light transmission characteristic.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 光源 3 TFT 4 画像処理装置 5 電圧調整装置 6 表示パターン発生部 7 コンピュータ 11 液晶表示パネル 12 液晶駆動部 13 液晶 14 液晶電極 30 CCDカメラ 31 光学系 2 light source 3 TFT 4 image processing device 5 voltage adjustment device 6 display pattern generation unit 7 computer 11 liquid crystal display panel 12 liquid crystal drive unit 13 liquid crystal 14 liquid crystal electrode 30 CCD camera 31 optical system

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液晶表示パネルにパターンを表示し、そ
のパターンを撮像し、その撮像出力を画像処理して前記
液晶表示パネルの異常を検査する液晶検査装置であっ
て、 前記液晶表示パネルに供給される液晶駆動電圧を変化さ
せながら画像処理によって、該液晶表示パネルの異常表
示の有無および異常位置を測定する測定手段を備えた、
液晶検査装置。
1. A liquid crystal inspecting apparatus for displaying a pattern on a liquid crystal display panel, imaging the pattern, and image-processing the imaged output to inspect the liquid crystal display panel for abnormality, which is supplied to the liquid crystal display panel. A liquid crystal drive voltage is changed, and image processing is performed to measure whether or not there is an abnormal display of the liquid crystal display panel and an abnormal position.
LCD inspection device.
【請求項2】 前記測定手段は、前記液晶駆動電圧を変
化させながら前記液晶表示パネルの輝度やフリッカなど
の変化を測定することを特徴とする、請求項1の液晶検
査装置。
2. The liquid crystal inspecting apparatus according to claim 1, wherein the measuring unit measures changes in the brightness and flicker of the liquid crystal display panel while changing the liquid crystal driving voltage.
【請求項3】 前記測定手段は、前記測定結果に基づい
て前記液晶表示パネルが正常な表示となる液晶駆動電圧
を測定することを特徴とする、請求項1または2の液晶
検査装置。
3. The liquid crystal inspection device according to claim 1, wherein the measuring means measures a liquid crystal drive voltage for normal display on the liquid crystal display panel based on the measurement result.
【請求項4】 前記液晶表示パネルはTFT型液晶表示
パネルであって、 前記測定手段は、前記TFT型液晶表示パネルが正常な
表示となるゲート電圧およびオフセット電圧を判断する
ことを特徴とする、請求項3の液晶検査装置。
4. The liquid crystal display panel is a TFT type liquid crystal display panel, and the measuring means determines a gate voltage and an offset voltage at which the TFT type liquid crystal display panel provides a normal display. The liquid crystal inspection device according to claim 3.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005010641A (en) * 2003-06-20 2005-01-13 Fujitsu Ten Ltd Device and method for adjusting flickering of display device
JP2006194657A (en) * 2005-01-12 2006-07-27 Yokogawa Electric Corp Pseudo defective image creation method and device using it
CN100401042C (en) * 2003-01-24 2008-07-09 牧德科技股份有限公司 Methos and system for detecting faceplate of liquid crystal display
JP2008164850A (en) * 2006-12-27 2008-07-17 Lg Display Co Ltd Method for adjusting reference voltage of liquid crystal display device
JP2014238601A (en) * 2007-03-15 2014-12-18 スケーラブル ディスプレイ テクノロジーズ インコーポレイテッド System and method for displaying images
CN110428761A (en) * 2019-07-10 2019-11-08 武汉精立电子技术有限公司 A kind of method, apparatus and system of non-contact measurement Flicker value of liquid crystal module

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100401042C (en) * 2003-01-24 2008-07-09 牧德科技股份有限公司 Methos and system for detecting faceplate of liquid crystal display
JP2005010641A (en) * 2003-06-20 2005-01-13 Fujitsu Ten Ltd Device and method for adjusting flickering of display device
JP2006194657A (en) * 2005-01-12 2006-07-27 Yokogawa Electric Corp Pseudo defective image creation method and device using it
JP4513962B2 (en) * 2005-01-12 2010-07-28 横河電機株式会社 Pseudo defect image creation method and apparatus using the same
JP2008164850A (en) * 2006-12-27 2008-07-17 Lg Display Co Ltd Method for adjusting reference voltage of liquid crystal display device
JP2014238601A (en) * 2007-03-15 2014-12-18 スケーラブル ディスプレイ テクノロジーズ インコーポレイテッド System and method for displaying images
JP2017097349A (en) * 2007-03-15 2017-06-01 スケーラブル ディスプレイ テクノロジーズ インコーポレイテッド Method for displaying images
US10523910B2 (en) 2007-03-15 2019-12-31 Scalable Display Technologies, Inc. System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback
US11159774B2 (en) 2007-03-15 2021-10-26 Scalable Display Technologies, Inc. System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback
US11570412B2 (en) 2007-03-15 2023-01-31 Scalable Display Technologies, Inc. System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback
US11930304B2 (en) 2007-03-15 2024-03-12 Scalable Display Technologies, Inc. System and method for providing improved display quality by display adjustment and image processing using optical feedback
CN110428761A (en) * 2019-07-10 2019-11-08 武汉精立电子技术有限公司 A kind of method, apparatus and system of non-contact measurement Flicker value of liquid crystal module

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