JPH0792152A - クロマトグラフ用データ処理装置 - Google Patents
クロマトグラフ用データ処理装置Info
- Publication number
- JPH0792152A JPH0792152A JP23816693A JP23816693A JPH0792152A JP H0792152 A JPH0792152 A JP H0792152A JP 23816693 A JP23816693 A JP 23816693A JP 23816693 A JP23816693 A JP 23816693A JP H0792152 A JPH0792152 A JP H0792152A
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- Japan
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- peaks
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基準ピークの保持時間が比較的大きく変動し
ても、他のピークの同定を正確になし得るクロマトグラ
フ用データ処理装置を提供する。 【構成】 基準ピークの保持時間ｔR と、広い目の許容
幅ΔｔR を予め設定するとともに、ピーク面積値及びそ
の許容幅、異なる２つのチャンネルの面積比についての
値と許容幅、２つのスペクトルの類似度の許容値等を予
め設定しておき、保持時間ｔR 、及びその許容幅ΔｔR
より該当する基準ピーク候補Ｐ1 、…、Ｐ 4 を抽出し、
さらにその他の面積値等の比較により基準ピーク（例：
Ｐ1 ）を抽出し、この基準ピークを基に、相対保持時間
法により、他のピークを同定する。
ても、他のピークの同定を正確になし得るクロマトグラ
フ用データ処理装置を提供する。 【構成】 基準ピークの保持時間ｔR と、広い目の許容
幅ΔｔR を予め設定するとともに、ピーク面積値及びそ
の許容幅、異なる２つのチャンネルの面積比についての
値と許容幅、２つのスペクトルの類似度の許容値等を予
め設定しておき、保持時間ｔR 、及びその許容幅ΔｔR
より該当する基準ピーク候補Ｐ1 、…、Ｐ 4 を抽出し、
さらにその他の面積値等の比較により基準ピーク（例：
Ｐ1 ）を抽出し、この基準ピークを基に、相対保持時間
法により、他のピークを同定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＬＣ、ＧＣ、ＬＣ／
ＭＳ、ＧＣ／ＭＳ、ＬＣ／ＵＶ等のクロマトグラフ装置
から取り込んだクロマトグラムに種々の処理を実行し、
分析を行うクロマトグラフ用データ処理装置に関する。
ＭＳ、ＧＣ／ＭＳ、ＬＣ／ＵＶ等のクロマトグラフ装置
から取り込んだクロマトグラムに種々の処理を実行し、
分析を行うクロマトグラフ用データ処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】クロマトグラフ用データ処理装置におい
て、読み出したピーク成分の同定を行うのに、その保持
時間があらかじめ設定する保持時間に対し、あらかじめ
設定する許容幅内にあれば、その保持時間に対応する物
質のピークであるとし判断している。しかし、移動相流
量の変動等の分析条件の変動による各ピークの保持時間
のずれが生じ、従来は、この各保持時間のずれを相対保
持時間法を用いて補正している。この相対保持時間法
は、図４に示すように、あらかじめ設定された基準ピー
クＰ0 を、標準保持時間ｔR とその許容幅ΔｔR から同
定し、その他のピークＰ11、…、Ｐ14については次式に
より同定するものである。
て、読み出したピーク成分の同定を行うのに、その保持
時間があらかじめ設定する保持時間に対し、あらかじめ
設定する許容幅内にあれば、その保持時間に対応する物
質のピークであるとし判断している。しかし、移動相流
量の変動等の分析条件の変動による各ピークの保持時間
のずれが生じ、従来は、この各保持時間のずれを相対保
持時間法を用いて補正している。この相対保持時間法
は、図４に示すように、あらかじめ設定された基準ピー
クＰ0 を、標準保持時間ｔR とその許容幅ΔｔR から同
定し、その他のピークＰ11、…、Ｐ14については次式に
より同定するものである。
【０００３】 〔ｔRi−（ｔRO／ＲTO）・ＲTi〕の絶対値＜ΔｔRi ただし、 ｔRi：同定しようとするピークの標準保持時間 ｔRO：基準ピークの標準保持時間 ＲTO：基準ピークの実測保持時間 ＲTi：同定しようとするピークの実測保持時間 ΔｔRi：同定しようとするピークの許容時間幅
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の保持時
間補正方法では、基準ピーク自身は、絶対的な保持時間
をもとに同定するので、分析条件の変動により基準ピー
クの保持時間が許容幅をこえて変動してしまった場合
は、全てのピークの同定が失敗してしまうという問題が
あった。
間補正方法では、基準ピーク自身は、絶対的な保持時間
をもとに同定するので、分析条件の変動により基準ピー
クの保持時間が許容幅をこえて変動してしまった場合
は、全てのピークの同定が失敗してしまうという問題が
あった。
【０００５】この発明は、上記問題点に着目してなされ
たものであって、基準ピークの保持時間が、比較的大き
く変動しても、他のピークの同定を正確になし得るクロ
マトグラフ用データ処理装置を提供することを目的とし
ている。
たものであって、基準ピークの保持時間が、比較的大き
く変動しても、他のピークの同定を正確になし得るクロ
マトグラフ用データ処理装置を提供することを目的とし
ている。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】この発明のクロ
マトグラフ用データ処理装置は、あらかじめ設定された
保持時間と許容幅から該当するピークを求める第１のピ
ーク抽出手段と、あらかじめ設定された面積値あるいは
高さとその許容幅から該当するピークを抽出する第２の
ピーク抽出手段と、異なる２つのチャンネルの面積比に
ついてあらかじめ設定されている値と許容幅から該当す
るピークを求める第３のピーク抽出手段と、２つのスペ
クトルの類似度を数量化する手段と、あらかじめ設定さ
れている類似度の許容値から該当するピークを求める第
４のピーク抽出手段とを備え、前記第１のピーク抽出手
段と、第２、第３及び第４のピーク抽出手段の中のいく
つかの手段とを用い、用いた全抽出手段について該当し
たピークを求め、これを基準ピークとして相対保持時間
法により、ピーク同定を行うようにしている。
マトグラフ用データ処理装置は、あらかじめ設定された
保持時間と許容幅から該当するピークを求める第１のピ
ーク抽出手段と、あらかじめ設定された面積値あるいは
高さとその許容幅から該当するピークを抽出する第２の
ピーク抽出手段と、異なる２つのチャンネルの面積比に
ついてあらかじめ設定されている値と許容幅から該当す
るピークを求める第３のピーク抽出手段と、２つのスペ
クトルの類似度を数量化する手段と、あらかじめ設定さ
れている類似度の許容値から該当するピークを求める第
４のピーク抽出手段とを備え、前記第１のピーク抽出手
段と、第２、第３及び第４のピーク抽出手段の中のいく
つかの手段とを用い、用いた全抽出手段について該当し
たピークを求め、これを基準ピークとして相対保持時間
法により、ピーク同定を行うようにしている。
【０００７】このクロマトグラフ用データ処理装置で
は、基準ピークの保持時間だけでなく、ピーク面積値、
ピーク高さ、ピーク位置のスペクトルパターン、異なる
２つのチャンネルのピーク面積比の情報も、適宜選択し
て加え、同定を行う。先ず、大きめに設定した保持時間
許容幅から複数のピークを拾い出す。次に、保持時間以
外の各情報について個別の許容幅を許容幅を設定し、先
に求めた複数ピークの中からしぼり込み、最終的に一つ
のピークを基準ピークとして同定する。この同定された
基準ピークを基に、相対保持時間法により、他のピーク
も同定する。
は、基準ピークの保持時間だけでなく、ピーク面積値、
ピーク高さ、ピーク位置のスペクトルパターン、異なる
２つのチャンネルのピーク面積比の情報も、適宜選択し
て加え、同定を行う。先ず、大きめに設定した保持時間
許容幅から複数のピークを拾い出す。次に、保持時間以
外の各情報について個別の許容幅を許容幅を設定し、先
に求めた複数ピークの中からしぼり込み、最終的に一つ
のピークを基準ピークとして同定する。この同定された
基準ピークを基に、相対保持時間法により、他のピーク
も同定する。
【０００８】
【実施例】以下、実施例により、この発明をさらに詳細
に説明する。図１は、この発明の一実施例分析システム
の構成を示すブロック図である。ここで、クロマトグラ
フ１としては、フォトダイオードアレイＵＶ−ＶＩＳ検
出器を有する液体クロマトグラフを使用する。データ処
理装置２は、クロマトグラフ１からのクロマトグラムを
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１１と、取り込ま
れたデータ、あるいは記憶されているデータに、種々の
演算処理を実行し、ピークの同定等を行うＣＰＵ１２
と、ＣＰＵ１２用のプログラムを記憶するＲＯＭ１３
と、演算用のデータ、取り込まれたデータを記憶するＲ
ＡＭ１４と、クロマトグラム波形、分析結果等を表示す
る表示部１５と、同じくクロマトグラム波形、分析結果
等を印字出力するプリンタと、種々の設定値等を入力す
るためのキーボード１７とを備えている。もっとも、こ
れらの機器構成自体は、よく知られたものであり、新規
な特徴となるものではない。
に説明する。図１は、この発明の一実施例分析システム
の構成を示すブロック図である。ここで、クロマトグラ
フ１としては、フォトダイオードアレイＵＶ−ＶＩＳ検
出器を有する液体クロマトグラフを使用する。データ処
理装置２は、クロマトグラフ１からのクロマトグラムを
デジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１１と、取り込ま
れたデータ、あるいは記憶されているデータに、種々の
演算処理を実行し、ピークの同定等を行うＣＰＵ１２
と、ＣＰＵ１２用のプログラムを記憶するＲＯＭ１３
と、演算用のデータ、取り込まれたデータを記憶するＲ
ＡＭ１４と、クロマトグラム波形、分析結果等を表示す
る表示部１５と、同じくクロマトグラム波形、分析結果
等を印字出力するプリンタと、種々の設定値等を入力す
るためのキーボード１７とを備えている。もっとも、こ
れらの機器構成自体は、よく知られたものであり、新規
な特徴となるものではない。
【０００９】この実施例システムの特徴は、ＣＰＵ１２
で実行される分析処理過程において、基準ピークを同定
するのに、保持時間の他に、ピーク面積値、ピーク高
さ、ピーク位置のスペクトルパターン等も考慮して行う
機能を持たせたことである。次に、上記実施例システム
のデータ処理装置において、ピーク同定を行う場合の動
作を図２に示すフロー図により説明する。先ず、基準ピ
ークの標準保持時間ｔR と、許容幅ΔｔR を設定する
〔ステップＳＴ（以下ＳＴと略す）１〕。ここでは、許
容幅ΔｔR を、従来より大きめに設定する。次に、基準
ピークの面積値について、その標準値ＡR と許容幅ΔＡ
R を設定する（ＳＴ２）。また同様に、基準ピークのス
ペクトルの標準スペクトルとの類似度の許容値ＳR （下
限）を設定する（ＳＴ３）。
で実行される分析処理過程において、基準ピークを同定
するのに、保持時間の他に、ピーク面積値、ピーク高
さ、ピーク位置のスペクトルパターン等も考慮して行う
機能を持たせたことである。次に、上記実施例システム
のデータ処理装置において、ピーク同定を行う場合の動
作を図２に示すフロー図により説明する。先ず、基準ピ
ークの標準保持時間ｔR と、許容幅ΔｔR を設定する
〔ステップＳＴ（以下ＳＴと略す）１〕。ここでは、許
容幅ΔｔR を、従来より大きめに設定する。次に、基準
ピークの面積値について、その標準値ＡR と許容幅ΔＡ
R を設定する（ＳＴ２）。また同様に、基準ピークのス
ペクトルの標準スペクトルとの類似度の許容値ＳR （下
限）を設定する（ＳＴ３）。
【００１０】設定終了後、クロマトグラフ１において分
析を開始する（ＳＴ４）。分析が終了すると（ＳＴ
５）、自動的にステップＳＴ６以降に処理に移る。先ず
（保持時間ｔ−ｔR ）の絶対値がΔｔR より小さい、つ
まり設定した許容幅内に入るピークＰi （i ＝１、…、
ｎ）をピックアップする（ＳＴ６）。図３の波形例で
は、ｉ＝４であり、±ΔｔR 内に入るピークはＰ1 、Ｐ
2 、Ｐ3 、Ｐ4 である。
析を開始する（ＳＴ４）。分析が終了すると（ＳＴ
５）、自動的にステップＳＴ６以降に処理に移る。先ず
（保持時間ｔ−ｔR ）の絶対値がΔｔR より小さい、つ
まり設定した許容幅内に入るピークＰi （i ＝１、…、
ｎ）をピックアップする（ＳＴ６）。図３の波形例で
は、ｉ＝４であり、±ΔｔR 内に入るピークはＰ1 、Ｐ
2 、Ｐ3 、Ｐ4 である。
【００１１】次に、ピークＰi の中から（面積値Ａ−Ａ
R ）の絶対値がΔＡR より小さい、つまり設定した面積
値の許容幅内に入るピークＰj を求める（ＳＴ７）。図
３の波形例で、該当するのがＰ1 、Ｐ4 であるとする。
続いて、ピークＰj の中から基準ピークのスペクトルと
の類似度Ｓj を求め、Ｓj ＞ＳR なるピークＰk を求め
る（ＳＴ８）。図３の波形例においてＳ1 ＞ＳR 、Ｓ4
＜ＳR のときはＰ1 を基準ピークとする。
R ）の絶対値がΔＡR より小さい、つまり設定した面積
値の許容幅内に入るピークＰj を求める（ＳＴ７）。図
３の波形例で、該当するのがＰ1 、Ｐ4 であるとする。
続いて、ピークＰj の中から基準ピークのスペクトルと
の類似度Ｓj を求め、Ｓj ＞ＳR なるピークＰk を求め
る（ＳＴ８）。図３の波形例においてＳ1 ＞ＳR 、Ｓ4
＜ＳR のときはＰ1 を基準ピークとする。
【００１２】もっとも、該当するＰk が２個以上ある場
合は、すなわちＳＴ１０での“Ｐkが２つ以上か”の判
定がＹＥＳの場合は、面積値許容幅ΔＡR 及び類似度の
許容値ＳR を変更し（ＳＴ１１）、再度ＳＴ７に戻り、
残ったピークＰk の中から、再設定したΔＡR 内にある
ピークを求め、また類似度が許容値Ｓn 以上のピークを
抽出し（ＳＴ８）、残ったピークＰk が１つとなると、
ＳＴ９、ＳＴ１０の判定がＮＯとなり、その残されたピ
ークＰk を基準ピークとし（ＳＴ１２）、後は、従来と
同様に、その基準ピークを基に相対保持時間にて他の保
持時間を算出し、各ピークの許容幅を考慮して他のピー
クを同定する（ＳＴ１３）。
合は、すなわちＳＴ１０での“Ｐkが２つ以上か”の判
定がＹＥＳの場合は、面積値許容幅ΔＡR 及び類似度の
許容値ＳR を変更し（ＳＴ１１）、再度ＳＴ７に戻り、
残ったピークＰk の中から、再設定したΔＡR 内にある
ピークを求め、また類似度が許容値Ｓn 以上のピークを
抽出し（ＳＴ８）、残ったピークＰk が１つとなると、
ＳＴ９、ＳＴ１０の判定がＮＯとなり、その残されたピ
ークＰk を基準ピークとし（ＳＴ１２）、後は、従来と
同様に、その基準ピークを基に相対保持時間にて他の保
持時間を算出し、各ピークの許容幅を考慮して他のピー
クを同定する（ＳＴ１３）。
【００１３】ＳＴ６、ＳＴ７、ＳＴ８の処理を行った結
果、抽出されるピークＰk がなしの場合には、ＳＴ９の
判定がＹＥＳとなり、この場合はエラーとなる。ここ
で、上記実施例で使用したスペクトルの類似度について
説明する。吸収スペクトルは波長ごとの吸光量の集まり
であるが、コンピュータ内部では、離散的吸光度データ
の集合として、次のように表すことができる〔ここに、
波長λn の吸光度をａ（λn ）とする〕。
果、抽出されるピークＰk がなしの場合には、ＳＴ９の
判定がＹＥＳとなり、この場合はエラーとなる。ここ
で、上記実施例で使用したスペクトルの類似度について
説明する。吸収スペクトルは波長ごとの吸光量の集まり
であるが、コンピュータ内部では、離散的吸光度データ
の集合として、次のように表すことができる〔ここに、
波長λn の吸光度をａ（λn ）とする〕。
【００１４】 （ａ（λ1 ）、ａ（λ2 ）、…、ａ（λn ）） 例えば、ａ（λ1 ）が２００ｎｍの吸光度、ａ（λ2 ）
が２０１ｎｍの吸光度である。これをさらに抽象化し、
この集合をベクトルとして扱う。すなわち、 〔Ｓ〕＝（ａ（λ1 ）、ａ（λ2 ）、…、ａ（λn ）） として表すことができる。すなわち、吸収スペクトルが
一つのベクトルに１対１で対応する。いま、ここに二つ
の吸収スペクトルＳ1 とＳ2 があるとすると、Ｓ 1 、Ｓ
2 はおのおの次のベクトルに相当する。なお、以下で
〔 〕をベクトル記号として使用している。
が２０１ｎｍの吸光度である。これをさらに抽象化し、
この集合をベクトルとして扱う。すなわち、 〔Ｓ〕＝（ａ（λ1 ）、ａ（λ2 ）、…、ａ（λn ）） として表すことができる。すなわち、吸収スペクトルが
一つのベクトルに１対１で対応する。いま、ここに二つ
の吸収スペクトルＳ1 とＳ2 があるとすると、Ｓ 1 、Ｓ
2 はおのおの次のベクトルに相当する。なお、以下で
〔 〕をベクトル記号として使用している。
【００１５】〔Ｓ1 〕＝（ａ1 （λ1 ）、ａ
1 （λ2 ）、…、ａ1 （λn ）） 〔Ｓ2 〕＝（ａ2 （λ1 ）、ａ2 （λ2 ）、…、ａ
2 （λn ）） これを簡単にするため、２次元として図示すると、図５
のようになる。すなわち、スペクトルＳ1 がベクトル
〔Ｓ1 〕、スペクトルＳ2 がベクトル〔Ｓ2 〕となる。
ここで、もしＳ1 とＳ2 が全く同じ物質のものであれ
ば、スペクトルは全くパターンが等しく、相似形となる
から、ベクトルの各要素間の比は等しくなり、ベクトル
〔Ｓ1 〕と〔Ｓ2 〕は同じ方向を向く。すなわち、図５
の角θは０ということになる。
1 （λ2 ）、…、ａ1 （λn ）） 〔Ｓ2 〕＝（ａ2 （λ1 ）、ａ2 （λ2 ）、…、ａ
2 （λn ）） これを簡単にするため、２次元として図示すると、図５
のようになる。すなわち、スペクトルＳ1 がベクトル
〔Ｓ1 〕、スペクトルＳ2 がベクトル〔Ｓ2 〕となる。
ここで、もしＳ1 とＳ2 が全く同じ物質のものであれ
ば、スペクトルは全くパターンが等しく、相似形となる
から、ベクトルの各要素間の比は等しくなり、ベクトル
〔Ｓ1 〕と〔Ｓ2 〕は同じ方向を向く。すなわち、図５
の角θは０ということになる。
【００１６】これをもっと一般化すれば、二つのベクト
ル間の角θが小さければ小さい程スペクトルパターンが
近いということができる。発明者らはこれを応用し、二
つのスペクトル間の一致度として、
ル間の角θが小さければ小さい程スペクトルパターンが
近いということができる。発明者らはこれを応用し、二
つのスペクトル間の一致度として、
【００１７】
【数１】
【００１８】と定義した。これは、
【００１９】
【数２】
【００２０】を表す。したがって、ＳＩが１に近ければ
近い程、スペクトルパターンは似ていることを表す。す
なわちＳＩが類似度である。なお、上記実施例では、液
体クロマトグラフに、使用する場合を説明したが、本発
明では、これに限ることなく、ＧＣ／ＭＳ、ＣＺＥ／Ｕ
Ｖ等にも適用できる。
近い程、スペクトルパターンは似ていることを表す。す
なわちＳＩが類似度である。なお、上記実施例では、液
体クロマトグラフに、使用する場合を説明したが、本発
明では、これに限ることなく、ＧＣ／ＭＳ、ＣＺＥ／Ｕ
Ｖ等にも適用できる。
【００２１】
【発明の効果】この発明によれば、保持時間だけでな
く、面積値、面積値が異なる２チャンネルの面積比、２
つのスペクトルの類似度等の情報も、基本ピークの同定
に用いるものであるから、分析条件が変動し、保持時間
のズレが大きくても、基準ピークを正しく同定すること
ができ、各ピークの保持時間の相対値が変化しなければ
相対保持時間法により、全ピークの同定が可能となる。
それゆえ、移動相流量等の分析条件の正確さに対して要
求される条件がゆるくても、さしつかえなくなり、装置
の簡素化をはかることができる。
く、面積値、面積値が異なる２チャンネルの面積比、２
つのスペクトルの類似度等の情報も、基本ピークの同定
に用いるものであるから、分析条件が変動し、保持時間
のズレが大きくても、基準ピークを正しく同定すること
ができ、各ピークの保持時間の相対値が変化しなければ
相対保持時間法により、全ピークの同定が可能となる。
それゆえ、移動相流量等の分析条件の正確さに対して要
求される条件がゆるくても、さしつかえなくなり、装置
の簡素化をはかることができる。
【図１】この発明が実施される分析システムの構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】同実施例分析システムの動作を説明するための
フロー図である。
フロー図である。
【図３】同実施例分析システムのおける基準ピークの同
定を説明するためのクロマトグラム波形例を示す図であ
る。
定を説明するためのクロマトグラム波形例を示す図であ
る。
【図４】従来の相互保持時間法による各ピークの同定を
説明するためのクロマトグラフ波形例を示す図である。
説明するためのクロマトグラフ波形例を示す図である。
【図５】スペクトルの類似度を説明するための一致度を
表す特性図である。
表す特性図である。
ｔR 基準ピークの設定保持時間 ΔｔR 設定保持時間の許容幅 Ｐ1 、…、Ｐ4 基準ピークの候補
Claims (1)
- 【請求項１】あらかじめ設定された保持時間と許容幅か
ら該当するピークを求める第１のピーク抽出手段と、あ
らかじめ設定された面積値あるいは高さとその許容幅か
ら該当するピークを抽出する第２のピーク抽出手段と、
異なる２つのチャンネルの面積比についてあらかじめ設
定されている値と許容幅から該当するピークを求める第
３のピーク抽出手段と、２つのスペクトルの類似度を数
量化する手段と、あらかじめ設定されている類似度の許
容値から該当するピークを求める第４のピーク抽出手段
とを備え、前記第１のピーク抽出手段と、第２、第３及
び第４のピーク抽出手段の中のいくつかの手段とを用
い、用いた全抽出手段について該当したピークを求め、
これを基準ピークとして相対保持時間法により、ピーク
同定を行うことを特徴とするクロマトグラフ用データ処
理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23816693A JP3424276B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23816693A JP3424276B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792152A true JPH0792152A (ja) | 1995-04-07 |
| JP3424276B2 JP3424276B2 (ja) | 2003-07-07 |
Family
ID=17026170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23816693A Expired - Fee Related JP3424276B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3424276B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009503480A (ja) * | 2005-07-25 | 2009-01-29 | メタノミクス ゲーエムベーハー | クロマトグラフィー／マススペクトロメトリーを用いてサンプルを分析する手段と方法 |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP23816693A patent/JP3424276B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009503480A (ja) * | 2005-07-25 | 2009-01-29 | メタノミクス ゲーエムベーハー | クロマトグラフィー／マススペクトロメトリーを用いてサンプルを分析する手段と方法 |
| JP2011203262A (ja) * | 2005-07-25 | 2011-10-13 | Metanomics Gmbh | クロマトグラフィー／マススペクトロメトリーを用いてサンプルを分析する手段と方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3424276B2 (ja) | 2003-07-07 |
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