JPH0792076A - Grain analyzing device - Google Patents

Grain analyzing device

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Publication number
JPH0792076A
JPH0792076A JP5261572A JP26157293A JPH0792076A JP H0792076 A JPH0792076 A JP H0792076A JP 5261572 A JP5261572 A JP 5261572A JP 26157293 A JP26157293 A JP 26157293A JP H0792076 A JPH0792076 A JP H0792076A
Authority
JP
Japan
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particle
light beam
particles
test
analysis
Prior art date
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Pending
Application number
JP5261572A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Numajiri
泰幸 沼尻
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPH0792076A publication Critical patent/JPH0792076A/en
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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

PURPOSE:To measure the self-fluorescence of a grain to be analyzed, and perform a precise detailed analysis. CONSTITUTION:A flow part 2 is formed in the center of a flow cell 1, and a grain S to be analyzed is carried from above to below. A first optical beam generating light source 3 for generating a first optical beam B1 is arranged on the side of the flow cell 1, and a first optical detector 8 is arranged in the emitting direction of the flow cell 1. A second optical beam generating light source 9 for generating an optical beam B2 with a prescribed delay time after the detection of the grain to be analyzed obtained by the first detector 8 is arranged under the first optical detector 8, and a second optical detector 13 is arranged in the emitting direction of the flow cell. The second optical beam B2 has a pulse form, and the second optical detector 13 detects only the self- fluorescence of the scattered light and self-fluorescense generated from the grain to be analyzed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えばフローサイトメ
ータのように、サンプル中の個々の被検粒子に光ビーム
を照射し、光学的測定によって被検粒子の解析を行う粒
子解析装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a particle analyzer, such as a flow cytometer, which irradiates individual test particles in a sample with a light beam and analyzes the test particles by optical measurement. Is.

【0002】[0002]

【従来の技術】フローサイトメータとは、高速で流れる
細胞浮遊液、即ちサンプル液に例えばレーザー光を照射
し、その散乱光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の
性質・構造を解明する装置であり、細胞化学、免疫学、
血液学、腫瘍学、遺伝学等の分野で使用されている。
2. Description of the Related Art A flow cytometer is a device for illuminating a cell suspension flowing at a high speed, that is, a sample solution with, for example, a laser beam and detecting a photoelectric signal due to scattered light or fluorescence to elucidate the properties and structure of the cell. And cell chemistry, immunology,
It is used in fields such as hematology, oncology, and genetics.

【0003】このフローサイトメータ等に用いられる従
来の粒子解析装置では、フローセルの中央部の例えば2
00μm×200μmの微小な四角形断面を有する流通
部内を、シース液に包まれて通過する血球細胞等の被検
粒子にレーザー光などの照射光を照射し、その結果とし
て生ずる前方及び側方散乱光により、被検粒子の形状・
大きさ・屈折率などの粒子的性質を得ることが可能であ
る。また、蛍光剤により染色され得る被検粒子に対して
は、照射光とほぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の
蛍光を検出することにより、被検粒子を解析するための
重要な情報を集めることができる。
In a conventional particle analysis device used for this flow cytometer or the like, for example, the central part of the flow cell is
Irradiation light such as laser light is radiated to the test particles such as blood cells that are wrapped in the sheath liquid and pass through the circulation part having a minute rectangular cross section of 00 μm × 200 μm, and the resulting forward and side scattered light is generated. Due to the
It is possible to obtain particle properties such as size and refractive index. Further, for the test particles that can be stained with a fluorescent agent, by detecting the fluorescence of the test particles from the side scattered light in the direction substantially perpendicular to the irradiation light, important information for analyzing the test particles. Can be collected.

【0004】そして、光源としては一般的に光量及び波
長の安定性の高いアルゴンレーザー等のガスレーザー光
源が使用されている。
As a light source, a gas laser light source such as an argon laser having a high stability of light quantity and wavelength is generally used.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このような粒子解析装
置では、被検粒子から発生する自家蛍光をノイズとして
捨てるか、又は解析に使用するとしても自家蛍光を発生
するかしないかを検出するに留まっていた。後者の場合
に、蛍光剤を用いて解析する場合と比較して、染色等の
前処理が不要という利点があるものの、被検粒子の体
積、形状などによって自家蛍光量が異なり、精度の良い
解析ができない。
In such a particle analyzer, the autofluorescence generated from the particles to be detected is discarded as noise, or it is used to detect whether autofluorescence is generated or not. It stayed. The latter case has the advantage of not requiring pretreatment such as staining, as compared with the case of using a fluorescent agent, but the amount of autofluorescence differs depending on the volume, shape, etc. of the particles to be examined, and the analysis is highly accurate. I can't.

【0006】また、連続照射光源の代りにパルス光を周
期的に連続照射して、蛍光剤からの蛍光の時間変化を測
定する方法も考えられているが、自家蛍光は塵埃などか
らも発生するため、この方法では精度の良い解析を行う
ことが困難である。
Further, a method of measuring the time change of fluorescence from a fluorescent agent by periodically irradiating pulsed light instead of a continuous irradiation light source has been considered, but autofluorescence is also generated from dust or the like. Therefore, it is difficult to perform accurate analysis with this method.

【0007】本発明の目的は、上述の問題を解消し、被
検粒子から発生する自家蛍光の時間変化を検出すること
によって、従来よりも詳細で高精度の自家蛍光解析がで
きる粒子解析装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a particle analyzer capable of performing more detailed and more accurate autofluorescence analysis than before by detecting the time change of autofluorescence generated from a test particle. To provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る粒子解析装置は、分離されて1個ずつ
順次に流れる被検粒子の通過を検出する第1の検出手段
と、該第1の検出手段の位置よりも下流位置で前記第1
の検出手段からの出力を基に被検粒子の通過に合わせて
被検粒子を照射するためのパルス状の光ビームを発生す
る光ビーム発生手段と、前記パルス状の光ビームの照射
により被検粒子から発生する蛍光光量を検出する第2の
検出手段と、前記蛍光光量を時間の関数として記録する
記録手段とを有することを特徴とする。
A particle analysis apparatus according to the present invention for achieving the above object comprises first detection means for detecting passage of test particles which are separated and sequentially flow one by one, The first detector is provided at a position downstream of the position of the first detector.
And a light beam generating means for generating a pulsed light beam for irradiating the particles to be detected in accordance with the passage of the particles to be inspected based on the output from the detection means, It is characterized by comprising a second detecting means for detecting the amount of fluorescent light emitted from the particles and a recording means for recording the amount of fluorescent light as a function of time.

【0009】[0009]

【作用】上述の構成を有する粒子解析装置は、複雑な前
処理を必要とせず、被検粒子から発生する自家蛍光の時
間変化を検出でき、被検粒子のより詳細で精度の良い解
析が可能となる。更には、自家蛍光に限らず、通常の蛍
光の測定についても蛍光量の時間変化を精度良く検出で
き、従来よりも詳細な解析が可能となる。
The particle analyzer having the above-mentioned configuration does not require complicated pretreatment and can detect the time change of the autofluorescence generated from the particles to be analyzed, which enables more detailed and accurate analysis of the particles to be analyzed. Becomes Furthermore, the time change of the fluorescence amount can be detected with high accuracy not only in the case of autofluorescence but also in the measurement of normal fluorescence, and a more detailed analysis than before can be performed.

【0010】[0010]

【実施例】以下に、本発明を図示の実施例を基に詳細に
説明する。図1は実施例の構成図であり、1はフローセ
ルであって、その中心にはフロー部2が形成され、被検
粒子Sは上から下にシースフロー方式によってシース流
で包まれて流れている。フローセル1の側方には、実質
的に連続光である第1の光ビームB1を発生する第1の光
ビーム発生光源3が配置され、この第1の光ビーム発生
光源3とフローセル1を結ぶ光路01には結像レンズ4が
設けられ、光路01の延長線のフローセル1の反対側には
ストッパ5、集光レンズ6、バンドパスフィルタ7、散
乱光を検出する第1の光検出器8が順次に配置されてい
る。これらの光ビーム発生光源3〜第1の光検出器8は
被検粒子の通過を検出する第1の検出手段を構成してい
る。
The present invention will be described in detail below with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment, in which a flow cell 1 is formed with a flow portion 2 at the center thereof, and particles to be tested S are wrapped in a sheath flow by a sheath flow method from above to below and flow. There is. A first light beam generation light source 3 that generates a first light beam B1 that is substantially continuous light is arranged on the side of the flow cell 1, and connects the first light beam generation light source 3 and the flow cell 1. An imaging lens 4 is provided in the optical path 01, and a stopper 5, a condenser lens 6, a bandpass filter 7, and a first photodetector 8 for detecting scattered light are provided on the side of the extension of the optical path 01 opposite to the flow cell 1. Are arranged in sequence. The light beam generating light source 3 to the first photodetector 8 constitute first detecting means for detecting passage of particles to be inspected.

【0011】第1の光検出手段の下方には、パルス状の
第2の光ビームB2を発生する第2の光ビーム発生光源9
が配置され、この光ビーム発生光源9とフローセル1を
結ぶ光路02には結像レンズ10が設けられ、光路02の延
長線のフローセル1の反対側には集光レンズ11、バン
ドパスフィルタ12、被検粒子から発生する自家蛍光の
光量を検出する第2の光検出器13が順次に配置され、
第2の検出手段が構成されている。
A second light beam generating light source 9 for generating a pulsed second light beam B2 is provided below the first light detecting means.
Is provided, and an imaging lens 10 is provided on an optical path 02 connecting the light beam generating light source 9 and the flow cell 1, and a condenser lens 11, a band pass filter 12, and an extension line of the optical path 02 on the opposite side of the flow cell 1. Second photodetectors 13 for detecting the amount of autofluorescence emitted from the particles to be inspected are sequentially arranged,
The second detection means is configured.

【0012】また、第1の光検出器8の出力は信号処理
部14に接続され、この信号処理部14の出力は光ビー
ム発生光源9、第2の光検出器13に接続されている。
更に、第2の光検出器13の出力は記録部15を経て解
析部16に接続されている。
The output of the first photodetector 8 is connected to the signal processing unit 14, and the output of the signal processing unit 14 is connected to the light beam generating light source 9 and the second photodetector 13.
Further, the output of the second photodetector 13 is connected to the analysis unit 16 via the recording unit 15.

【0013】被検粒子Sとして、実施例ではヒトの肺組
織の単離浮遊細胞が用いられている。第1の光ビーム発
生光源3としては波長633nmのHe−Neレーザー
光源を用い、この第1の光ビーム発生光源3から発生す
る第1の光ビームB1は結像レンズ4でフローセル1の中
心に集光される。このフローセル1のフロー部2を流れ
る被検粒子Sによる前方散乱光は、集光レンズ6、バン
ドパスフィルタ7を経て第1の光検出器8に入射して電
気信号に変換され、信号処理部14に送られる。ストッ
パ5は直進する第1の光ビームB1を遮断するものであ
り、バンドパスフィルタ7は633nm以外の波長の外
光を第1の光検出器8に入射させないためのものであ
る。
As the test particles S, isolated floating cells of human lung tissue are used in the examples. A He-Ne laser light source having a wavelength of 633 nm is used as the first light beam generation light source 3, and the first light beam B1 generated from the first light beam generation light source 3 is focused on the center of the flow cell 1 by the imaging lens 4. Collected. The forward scattered light by the particles S to be tested flowing in the flow section 2 of the flow cell 1 is made incident on the first photodetector 8 through the condenser lens 6 and the bandpass filter 7 and converted into an electric signal, and the signal processing section. Sent to 14. The stopper 5 blocks the first light beam B1 traveling straight, and the bandpass filter 7 prevents external light having a wavelength other than 633 nm from entering the first photodetector 8.

【0014】信号処理部14では、被検粒子Sからの散
乱光か或いは塵埃などからの散乱光かであるかを、送ら
れてきた電気信号のレベルに応じて判断し、被検粒子S
からの散乱光が或る大きさのレベルの電気信号の場合に
は、被検粒子Sが光ビームB2が照射される位置に到達す
る所定の遅延時間後に光ビーム発生光源9をオンにし、
1パルスの光ビームB2を発生させる。
The signal processing unit 14 determines whether the light is scattered light from the particles S to be detected or scattered light from dust or the like according to the level of the electric signal sent, and the particles S to be detected are detected.
When the scattered light from is an electric signal of a certain level, the light beam generating light source 9 is turned on after a predetermined delay time for the test particle S to reach the position where the light beam B2 is irradiated,
A light beam B2 of 1 pulse is generated.

【0015】この遅延時間は第1の光ビームB1の照射位
置と下流にあるパルス状の光ビームB2の照射位置との距
離と、フロー部2を流れる被検粒子Sの速度が分かれば
容易に求められる。更に、信号処理部14は1パルスの
光ビームB2の照射後に第2の光検出器13をオンにす
る。
This delay time is easily obtained if the distance between the irradiation position of the first light beam B1 and the irradiation position of the downstream pulsed light beam B2 and the velocity of the test particle S flowing through the flow section 2 are known. Desired. Further, the signal processing unit 14 turns on the second photodetector 13 after the irradiation of the one-pulse light beam B2.

【0016】実施例では光ビーム発生光源9として、波
長530nm、パルス時間100pSに調整したダイレ
ーザーを用いている。光ビーム発生光源9から発生する
光ビームB2は結像レンズ10でフローセル1の中心に集
光され、被検粒子Sは励起されて自家蛍光が発生する。
この自家蛍光は集光レンズ11、バンドパスフィルタ1
2を経て、自家蛍光の光量を検出する第2の光検出器1
3へ入射し電気信号に変換され、その電気信号つまり自
家蛍光の光量は記録部15で時間の関数として記録さ
れ、解析部16に送られる。
In the embodiment, a die laser adjusted to have a wavelength of 530 nm and a pulse time of 100 pS is used as the light beam generating light source 9. The light beam B2 generated from the light beam generating light source 9 is focused on the center of the flow cell 1 by the imaging lens 10, and the test particle S is excited to generate autofluorescence.
This autofluorescence is collected by a condenser lens 11 and a bandpass filter 1.
Second photodetector 1 for detecting the amount of autofluorescent light via 2
3 and is converted into an electric signal, and the electric signal, that is, the amount of autofluorescence light is recorded as a function of time by the recording unit 15 and sent to the analyzing unit 16.

【0017】第2の光検出器13として、実施例ではス
トリークカメラと一次元CCDの組み合わせが用いられ
ている。ストリークカメラは入射光により発生する電子
を電気的に高速で曲げることにより、入射光量の高速な
時間変化を空間的に記録することを可能にするものであ
る。このストリークカメラは二次元検出器と共に用いる
ことが多いが、この実施例では一次元のCCDで十分で
あり、例えば512×512ピクセルの二次元CCDを
用いる場合と比較して、512ピクセルの一次元CCD
を用いるとメモリー容量が512分の1で済み、そのた
め高速で解析ができるので粒子解析には好都合である。
In the embodiment, a combination of a streak camera and a one-dimensional CCD is used as the second photodetector 13. The streak camera electrically bends the electrons generated by the incident light at a high speed, thereby enabling a rapid temporal change in the incident light amount to be spatially recorded. This streak camera is often used with a two-dimensional detector, but a one-dimensional CCD is sufficient in this embodiment. For example, a one-dimensional CCD with 512 pixels is used as compared with a two-dimensional CCD with 512 × 512 pixels. CCD
It is convenient for particle analysis because the memory capacity is reduced to 512 times by using, and high-speed analysis is possible.

【0018】また、第2の光ビームB2をパルス状にする
理由は、被検粒子Sからの自家蛍光が発生するまでの極
く短い時間だけ光ビームB2を照射し、第2の光検出器1
3への光ビームB2からの散乱光などの混入を防ぎ、自家
蛍光のみを検出することができるようにするためであ
る。ここでは100pSのパルス時間としたが、通常で
は500pSでも十分である。
The reason why the second light beam B2 is pulsed is that the light beam B2 is irradiated for a very short time until autofluorescence from the particles S to be detected is generated, and the second photodetector is used. 1
This is because it is possible to prevent the scattered light from the light beam B2 from entering the light source 3 and to detect only the autofluorescence. Here, the pulse time is 100 pS, but 500 pS is usually sufficient.

【0019】図2、図3は第2の光検出器13から記録
部15に送られる電気信号の例を示し、それぞれ正常肺
組織細胞、腫瘍肺組織細胞からのものであり、横軸は時
間、縦軸は電圧に比例する自家蛍光量を任意単位で表し
たものである。図中に矢印で示した自家蛍光量の立ち下
がり部の時間が、図2の正常細胞では長く、図3の腫瘍
細胞では短く現われる。
2 and 3 show examples of electric signals sent from the second photodetector 13 to the recording unit 15, which are from normal lung tissue cells and tumor lung tissue cells, respectively, and the horizontal axis represents time. The vertical axis represents the amount of autofluorescence proportional to the voltage in arbitrary units. The time of the fall portion of the amount of autofluorescence shown by the arrow in the figure appears long in the normal cells of FIG. 2 and short in the tumor cells of FIG.

【0020】このような自家蛍光量が時間の関数である
性質を利用し、解析部16では個々の被検粒子が正常細
胞か腫瘍細胞かを判別することができる。それは、例え
ば自家蛍光量のピーク値が2分の1になる時間を求め、
その時間が設定値よりも長ければ正常細胞、短ければ腫
瘍細胞であると判断する方法でもよい。このような時間
で判定することにより、自家蛍光量の違いで判定しよう
とする際に問題となる個々の細胞の体積や形状の違いに
よる大きな誤差を除くことができる。
By utilizing such a property that the amount of autofluorescence is a function of time, the analysis unit 16 can determine whether each test particle is a normal cell or a tumor cell. That is, for example, find the time when the peak value of the amount of autofluorescence becomes half,
If the time is longer than the set value, it may be determined that the cells are normal cells, and if the time is shorter than the set value, the cells may be tumor cells. By making a determination in such a time, it is possible to eliminate a large error due to a difference in volume or shape of individual cells, which is a problem when trying to make a determination based on a difference in autofluorescence amount.

【0021】また、実施例では第1の光ビーム発生光源
3、第1の光検出器8などで被検粒子Sの通過を検出す
る第1の光検出手段を構成しているが、この検出は一般
に良く知られている被検粒子が細孔を通過する時の電気
抵抗変化を検出する方法でもよい。
In the embodiment, the first light beam generating light source 3, the first light detector 8 and the like constitute the first light detecting means for detecting the passage of the particles S to be inspected. The method may be a well-known method of detecting a change in electric resistance when the test particles pass through the pores.

【0022】更に、実施例では第1の光検出手段で被検
粒子Sから発生する前方散乱光を用いて被検粒子Sの検
出を行っているが、この前方散乱光或いは側方散乱光又
は被検粒子と結合した蛍光剤からの蛍光をも被検粒子S
の解析に用いれば、解析のパラメータが増加し更に詳細
な被検粒子Sに対する解析を行うことができる。
Further, in the embodiment, the first light detecting means detects the test particles S by using the forward scattered light generated from the test particles S. However, the forward scattered light or the side scattered light or The fluorescence from the fluorescent agent bound to the particles to be detected is also detected from the particles S to be detected.
If it is used for analysis, the analysis parameter increases, and a more detailed analysis of the test particle S can be performed.

【0023】また、被検粒子Sから発生する自家蛍光の
光量を検出する第2の光検出器13で、自家蛍光の代り
に蛍光剤からの蛍光の光量を検出して、その時間の関数
を被検粒子Sの解析に用いることもできる。この場合に
は、被検粒子Sの通過を検知して測定を行うので、被検
粒子Sのみからの蛍光を精度良く測定できる。
The second photodetector 13 for detecting the amount of autofluorescence emitted from the particles S to be detected detects the amount of fluorescence emitted from the fluorescent agent instead of the autofluorescence, and calculates the function of the time. It can also be used for analysis of the test particles S. In this case, since the passage of the test particles S is detected and the measurement is performed, the fluorescence from only the test particles S can be accurately measured.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る粒子解
析装置は、個々の被検粒子の通過を検出する第1の検出
手段、自家蛍光励起用のパルス状の光ビームを発生する
光ビーム発生手段、自家蛍光量を検出する第2の検出手
段、そして自家蛍光量を時間の関数として記録する記録
手段を備え、個々の被検粒子から発生する自家蛍光量の
時間変化を精度良く検出することができ、複雑な前処理
を必要とせず短時間のうちに大量の細胞などの被検粒子
の自家蛍光に基づく詳細な解析を行うことができる。更
には、自家蛍光に限らず、通常の蛍光の測定についても
蛍光量の時間変化を精度良く検出でき、従来よりも詳細
な解析が可能となる効果もある。
As described above, the particle analysis apparatus according to the present invention is the first detection means for detecting passage of individual test particles, and the light beam for generating the pulsed light beam for autofluorescence excitation. Providing a generation means, a second detection means for detecting the amount of autofluorescence, and a recording means for recording the amount of autofluorescence as a function of time, the time change of the amount of autofluorescence generated from each test particle is accurately detected Therefore, it is possible to perform a detailed analysis based on the autofluorescence of a large number of test particles such as cells in a short time without requiring complicated pretreatment. Further, not only autofluorescence but also normal fluorescence measurement can accurately detect the time change of the fluorescence amount, and there is an effect that a more detailed analysis than in the past can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment.

【図2】正常細胞からの信号例のグラフ図である。FIG. 2 is a graph showing an example of signals from normal cells.

【図3】腫瘍細胞からの信号例のグラフ図である。FIG. 3 is a graph of an example of signals from tumor cells.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フローセル 2 フロー部 3 第1の光ビーム発生光源 8 第1の光検出器 9 第2の光ビーム発生光源 13 第2の光検出器 14 信号処理部 15 記録部 16 解析部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Flow cell 2 Flow part 3 1st light beam generation light source 8 1st photodetector 9 2nd light beam generation light source 13 2nd photodetector 14 Signal processing part 15 Recording part 16 Analysis part

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 分離されて1個ずつ順次に流れる被検粒
子の通過を検出する第1の検出手段と、該第1の検出手
段の位置よりも下流位置で前記第1の検出手段からの出
力を基に被検粒子の通過に合わせて被検粒子を照射する
ためのパルス状の光ビームを発生する光ビーム発生手段
と、前記パルス状の光ビームの照射により被検粒子から
発生する蛍光光量を検出する第2の検出手段と、前記蛍
光光量を時間の関数として記録する記録手段とを有する
ことを特徴とする粒子解析装置。
1. A first detection means for detecting passage of test particles which are separated and sequentially flow one by one, and a first detection means from a position downstream of the position of the first detection means. Light beam generating means for generating a pulsed light beam for irradiating the test particle in accordance with passage of the test particle based on the output, and fluorescence generated from the test particle by the irradiation of the pulsed light beam A particle analysis device comprising: a second detecting means for detecting a light quantity; and a recording means for recording the fluorescent light quantity as a function of time.
【請求項2】 前記蛍光は自家蛍光である特許請求の範
囲第1項に記載の粒子解析装置。
2. The particle analysis device according to claim 1, wherein the fluorescence is autofluorescence.
【請求項3】 前記第1の検出手段は、被検粒子に実質
的に連続光である連続光ビームを照射し、被検粒子から
発生する散乱光を検出することにより被検粒子の通過を
検出する請求項1に記載の粒子解析装置。
3. The first detecting means irradiates a test particle with a continuous light beam that is substantially continuous light, and detects scattered light generated from the test particle to detect passage of the test particle. The particle analysis device according to claim 1, which detects the particle.
【請求項4】 被検粒子はシースフロー方式により流す
ようにした請求項1に記載の粒子解析装置。
4. The particle analyzer according to claim 1, wherein the particles to be detected are caused to flow by a sheath flow method.
【請求項5】 前記パルス状の光ビームはレーザー光と
した請求項1に記載の粒子解析装置。
5. The particle analysis apparatus according to claim 1, wherein the pulsed light beam is a laser beam.
【請求項6】 前記パルス状の光ビームのパルス照射時
間は500pS以下とした請求項1に記載の粒子解析装
置。
6. The particle analysis apparatus according to claim 1, wherein the pulse irradiation time of the pulsed light beam is 500 pS or less.
【請求項7】 前記連続光ビームはレーザー光とした請
求項3に記載の粒子解析装置。
7. The particle analysis apparatus according to claim 3, wherein the continuous light beam is a laser beam.
【請求項8】 前記連続光ビームにより被検粒子から発
生する散乱光を、更に被検粒子の解析に用いるようにし
た請求項3に記載の粒子解析装置。
8. The particle analysis device according to claim 3, wherein scattered light generated from the particles to be inspected by the continuous light beam is further used for analysis of the particles to be inspected.
【請求項9】 前記連続光ビームにより被検粒子から発
生する蛍光を、更に被検粒子の解析に用いるようにした
請求項3に記載の粒子解析装置。
9. The particle analysis apparatus according to claim 3, wherein the fluorescence generated from the particles to be inspected by the continuous light beam is further used for analysis of the particles to be inspected.
【請求項10】 前記記録手段に記載された蛍光光量の
時間変化が、設定された値よりも大きい場合に、被検粒
子が腫瘍細胞であると判断する解析部を更に有する請求
項1に記載の粒子解析装置。
10. The analysis unit according to claim 1, further comprising an analysis unit that determines that the test particles are tumor cells when the temporal change in the amount of fluorescent light described in the recording unit is larger than a set value. Particle analyzer.
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