JPH0791152B2 - Method for manufacturing superconductor thin film - Google Patents

Method for manufacturing superconductor thin film

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JPH0791152B2
JPH0791152B2 JP62216815A JP21681587A JPH0791152B2 JP H0791152 B2 JPH0791152 B2 JP H0791152B2 JP 62216815 A JP62216815 A JP 62216815A JP 21681587 A JP21681587 A JP 21681587A JP H0791152 B2 JPH0791152 B2 JP H0791152B2
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    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、高い超伝導転移温度を可能とする超伝導体薄
膜の製造方法に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method for producing a superconductor thin film which enables a high superconducting transition temperature.

従来の技術 従来の超伝導材料の最高の転移温度はNb3Geの2.3゜kであ
った。また実用材料としては、 Nb3Snの17゜Kが最高であり、実際のデバイスやシステム
に上記の材料を使用するのには、高価な液体ヘリウム
(沸点4.2゜k)による冷却を必要とした。
Conventional Technology The highest transition temperature of conventional superconducting materials was 2.3 ° k for Nb 3 Ge. In addition, 17 ° K of Nb 3 Sn is the highest practical material, and cooling with expensive liquid helium (boiling point 4.2 ° k) was required to use the above materials in actual devices and systems. .

一方、最近酸化物超伝導材料が高い超伝導転移温度を有
することの可能性が示唆され、La−Ba−Cu−O系で40゜
k,Ba−Y−Cu−O系で90゜k級の転移温度が得られてい
る。これらの材料は、冷却に液体ネオン(沸点27゜k),
液体チッソ(沸点77゜k)が使用できることから、超伝導
現象応用の大幅な拡大が期待される。特にこれら超伝導
材料の薄膜が合成されれば、高温動作のジョセフソン素
子の実現及び、高速半導体デバイスとの複合化が可能と
なるため、これら材料の導膜化をめざして、スパッタリ
ング法,真空蒸着法,スプレー法等が行なわれている。
On the other hand, recently it has been suggested that the oxide superconducting material may have a high superconducting transition temperature.
A 90 ° k-class transition temperature is obtained in the k, Ba-Y-Cu-O system. These materials use liquid neon (boiling point 27 ° k) for cooling,
Since liquid nitrogen (boiling point 77 ° k) can be used, it is expected that the application of superconductivity will be greatly expanded. In particular, if thin films of these superconducting materials are synthesized, it will be possible to realize Josephson devices that operate at high temperatures and to combine them with high-speed semiconductor devices. Vapor deposition methods, spray methods, etc. are used.

発明が解決しようとする問題点 Ba−Y−Cu−O系で薄膜を作成しようとする場合、スパ
ッタ法,真空蒸着法,スプレー法等があるが、これらの
方法では、成膜そのものは比較的低温でできるが、成膜
後、空気中または酸素中で約800〜900℃で熱処理しなけ
れば超伝導物質にならず、したがって高温に耐える基板
上でなければ超伝導材料を得ることができないという問
題点がある。
Problems to be Solved by the Invention When a thin film is formed using a Ba-Y-Cu-O system, there are a sputtering method, a vacuum vapor deposition method, a spray method, etc. It can be done at low temperature, but after film formation, it must be heat treated in air or oxygen at about 800-900 ° C to become a superconducting substance. Therefore, a superconducting material can only be obtained on a substrate that can withstand high temperatures. There is a problem.

また特に安価なガラスや有機フィルム等を基板に使用す
ることはできなかった。
In addition, particularly inexpensive glass, organic film and the like cannot be used for the substrate.

またCVD法(化学蒸着法)で成膜すれば成膜後熱処理を
行なわなくても良い可能性はあるものの、BaやSrのガス
ソースがないため実際のCVD法で成膜するのは困難であ
ると思われる。
Also, although there is a possibility that it is not necessary to perform heat treatment after film formation if the film is formed by the CVD method (chemical vapor deposition method), it is difficult to form the film by the actual CVD method because there is no gas source of Ba or Sr. It appears to be.

問題点を解決するための手段 本発明は、前記問題点を解決するため、従来のスパッタ
法や真空蒸着法あるいはスプレー法ではなく、低圧力下
(104〜104Torr)でのマグネトロン放電あるいは、電子
サイクロトロン共鳴(ECR)による放電中でBa或いはSr
ターゲットをスパッタリングしながら、CuやL(ただし
Lは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのいず
れか一種の元素)の金属キレートのガスと酸素ガスを上
記放電プラズマ中に流して、300℃以下の低温で超伝導
体の薄膜を製造する方法を提供するものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the present invention provides a magnetron discharge under low pressure (10 4 to 10 4 Torr) or a conventional sputtering method, a vacuum deposition method or a spray method. , Ba or Sr in discharge by electron cyclotron resonance (ECR)
While sputtering the target, the metal chelate of Cu or L (where L is any one element of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu) A method for producing a superconductor thin film at a low temperature of 300 ° C. or lower by flowing a gas and an oxygen gas into the discharge plasma.

作用 発明者らは、マグネトロン放電あるいは、電子サイクロ
トロン共鳴(ECR)により得られたプラズマ中でBaをス
パッタリングしながら、CuやL(ただしLは、Y,La,Pr,
Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのうちのいずれか一種
の元素)を含む有機金属キレートのガスとO2を同じプラ
ズマ中に流すことによって、300℃以下の低温でBa−L
−Cu−O系の超伝導体酸化物の薄膜が得られることを見
いだした。
Action The inventors of the present invention sputtered Ba in a plasma obtained by magnetron discharge or electron cyclotron resonance (ECR) while Cu and L (where L is Y, La, Pr,
Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu) (organic metal chelate gas containing any one element) and O 2 by flowing in the same plasma, 300 ℃ or less At low temperature of Ba-L
It was found that a thin film of a -Cu-O-based superconductor oxide can be obtained.

このように300℃以下の低温で高い転移温度を持つ超伝
導体薄膜の合成が可能となるのは、低圧下(104〜104To
rr)におけるマグネトロン放電や、ECR放電を用いた高
密度なプラズマ中(電子温度が非常に高いが、ガラス温
度は低い)においては、化学反応を低温で引き起す活性
なラジカルやイオン等の化学種が多く存在し、通常のス
パッタリング法(RFスパッタリングやDCスパッタリン
グ)や真空蒸着法,スプレー法では、エネルギー的にお
こり得ない反応が300℃以下の低温でおこることが可能
であるためである。
In this way, it is possible to synthesize superconducting thin films with high transition temperatures at temperatures below 300 ° C under low pressure (10 4 to 10 4 To
rr) in high density plasma using magnetron discharge or ECR discharge (electron temperature is very high but glass temperature is low), chemical species such as active radicals and ions that cause chemical reaction at low temperature. This is because there are many types of reactions, and the reactions that cannot occur energetically can occur at a low temperature of 300 ° C or less in the ordinary sputtering method (RF sputtering or DC sputtering), vacuum deposition method, or spray method.

また通常のCVD法(熱CVD法)では、バリウムやストロン
チウムのガス原料がないためにCVD法でBa−L−Cu−O
系の超伝導体酸化物薄膜を得ることはできない。しかし
本願の方法によれば、バリウムやストロンチウムの金属
をターゲットとして、スパッタリングしながらガス原料
の存在するL(ただしLは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,H
o,Er,Tm,Yb,Luのいずれか一種の元素),Cu,O2系のガス
を高密度プラズマ中に流して、分解析出反応を基板上で
行なわせるために300℃以下の低温でしかも結晶性の良
い超伝導体酸化物薄膜が得られる。
In addition, in the ordinary CVD method (thermal CVD method), since there is no gas source of barium or strontium, the CVD method uses Ba-L-Cu-O.
It is not possible to obtain superconducting oxide thin films of the system. However, according to the method of the present application, L which is a gas raw material is present during sputtering while targeting a metal such as barium or strontium (where L is Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, H).
o, Er, Tm, Yb, Lu), Cu, O 2 -based gas is flowed in high-density plasma to cause decomposition and deposition reaction on the substrate at a low temperature of 300 ° C or lower. In addition, a superconductor oxide thin film having good crystallinity can be obtained.

実施例 以下、本発明の一実施例について、図面にもとづいて説
明する。図は、本発明の一実施例におけるマグネトロン
放電を利用したスパッタリング型プラズマCVD装置の概
略図を示すものである。
Embodiment One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The figure shows a schematic view of a sputtering type plasma CVD apparatus using magnetron discharge in one embodiment of the present invention.

図において、11は反応チャンバー、12はマグネトロン放
電を行なうためのマグネットを内蔵した高周波電極、13
は高周波電源、14は基板ホルダー、15は基板、16はバリ
ウムあるいはストロンチュームのターゲット、17は銅を
含有する金属キレートのバブラー、18はL〔ただしL
は、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのうちの
いずれか一種〕を含有する金属キレートのバブラー、19
は窒素(N2)キャリアガスのボンベ、20はO2反応ガスの
ボンベ、21は排気系である。
In the figure, 11 is a reaction chamber, 12 is a high-frequency electrode containing a magnet for performing magnetron discharge, 13
Is a high frequency power supply, 14 is a substrate holder, 15 is a substrate, 16 is a barium or strontium target, 17 is a metal chelate bubbler containing copper, 18 is L [however, L
Is any one of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu], a metal chelate bubbler, 19
Is a nitrogen (N 2 ) carrier gas cylinder, 20 is an O 2 reaction gas cylinder, and 21 is an exhaust system.

まず、バリウムをターゲットとして高周波電極部分に取
り付ける。次に、銅アセチルアセトン〔Cu(C5H7O)2〕お
よびイットリウムアセチルアセトン〔Y(C5H7O)3〕を18
0℃で加熱されたバブラー16,17にそれぞれ入れ、バブル
用のN2ガス20をそれぞれ10cc/分,3cc/分流し、これらの
蒸気を排気系21によって減圧状態になった反応チャンバ
ー11内のSiO2基板15に導入する。次に同じく反応ガスで
ある酸素(O2)19を5cc/分の流量で同じSiO2基板上に流
し、高周波電力(13.56MHz)を500w(5w/cm2)印加しBa
ターゲットをスパッタする。これらのスパッタリングと
CVDの反応は、約25分間行なった。この時のガス圧は1.0
×102Torrで、基板温度は200℃であった。またこの時基
板上に析出したBa2YCu3O7-yの膜厚は、約4500Åであっ
た。次にこの膜について、X線による結晶構造の解析、
および4端子法による超伝導転移温度の測定を行なっ
た。
First, barium is attached to the high-frequency electrode portion as a target. Next, copper acetylacetone [Cu (C 5 H 7 O) 2 ] and yttrium acetylacetone [Y (C 5 H 7 O) 3 ]
The bubblers 16 and 17 heated at 0 ° C. were respectively charged, N 2 gas 20 for bubbles was flowed at 10 cc / min and 3 cc / min, respectively, and these vapors were stored in the reaction chamber 11 which had been decompressed by the exhaust system 21. It is introduced into the SiO 2 substrate 15. Next, oxygen (O 2 ) 19, which is also a reaction gas, is flown on the same SiO 2 substrate at a flow rate of 5 cc / min, and high-frequency power (13.56 MHz) is applied at 500 w (5 w / cm 2 ) for Ba.
Sputter the target. With these sputtering
The CVD reaction was performed for about 25 minutes. The gas pressure at this time is 1.0
The substrate temperature was 200 ° C. at × 10 2 Torr. The film thickness of Ba 2 YCu 3 O 7-y deposited on the substrate at this time was about 4500Å. Next, for this film, analysis of the crystal structure by X-ray,
And the superconducting transition temperature was measured by the 4-terminal method.

その時の結果を表の試料番号1に示す。以下同様にし
て、基板温度,ターゲットの種類,キレートの種類,バ
ブラーの量(N2,O2の流量),反応チャンバー内の圧
力,プラズマ発生の方法等を変化させたときのX線解
析,超伝導転移温度を表の試料番号2〜21に示す。また
試料番号22〜23は、本発明外の比較例である。
The result at that time is shown in Sample No. 1 in the table. Similarly, X-ray analysis when changing the substrate temperature, target type, chelate type, bubbler amount (N 2 and O 2 flow rate), pressure in the reaction chamber, plasma generation method, etc. The superconducting transition temperature is shown in sample numbers 2 to 21 in the table. Further, sample numbers 22 to 23 are comparative examples outside the present invention.

なお特許請求の範囲において、チャンバー内の減圧を10
4Torr〜104Torrとしたのは、104Torrより気圧が高いと
チャンバー内の各種粒子(中性,ラジカル,イオン等)
の平均自由行程が短くなり、各種粒子がある程度の運動
エネルギーを持って反応に寄与することが困難になる。
そのため低温で結晶性の良い超伝導酸化物が得られない
ためである。また104Torr以下になると放電を維持する
ことが困難であり、また酸化物超伝導膜の成長速度が低
くなってしまうからである。
It should be noted that in the claims, the pressure reduction in the chamber is 10
4 Torr~10 4 Torr and the is given, 10 4 Torr than atmospheric pressure is high, the various particles in the chamber (neutral radicals, ions, etc.)
The mean free path of is shortened, and it becomes difficult for various particles to contribute to the reaction with some kinetic energy.
Therefore, a superconducting oxide having good crystallinity cannot be obtained at low temperature. Further, if it is 10 4 Torr or less, it is difficult to maintain the discharge, and the growth rate of the oxide superconducting film becomes low.

発明の効果 以上述べてきたように、本発明は、低圧プラズマ中によ
るスパッタリングとCVD反応とを巧みに利用して、300℃
以下の低温で超伝導酸化物を合成できる方法であって、
産業上きわめて有益な発明である。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, the present invention skillfully utilizes sputtering and CVD reaction in a low-pressure plasma, and
A method for synthesizing a superconducting oxide at the following low temperature,
This is an extremely useful invention in the industry.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

図は、本発明の一実施例におけるスパッタリング併用型
プラズマCVD装置の概略図である。 11……反応チャンバー、12……マグネトロン放電を行な
うためのマグネットを内蔵した高周波電極、13……高周
波電源、14……基板ホルダー、15……基板、16……バリ
ウムあるいはストロンチュームのターゲット、17……銅
を含有する金属キレートのバブラー、18……L〔ただし
Lは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのうち
のいずれか一種〕を含有する金属キレートのバブラー、
19……窒素(N2)キャリアガスのボンベ、20……酸素
(O2)反応ガスのボンベ、21……排気系。
FIG. 1 is a schematic diagram of a plasma CVD apparatus combined with sputtering according to an embodiment of the present invention. 11 ... Reaction chamber, 12 ... High-frequency electrode with built-in magnet for magnetron discharge, 13 ... High-frequency power supply, 14 ... Substrate holder, 15 ... Substrate, 16 ... Barium or strontium target, 17 …… Copper-containing metal chelate bubbler, 18 …… L [where L is any of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu] A metal chelate bubbler containing
19 …… Nitrogen (N 2 ) carrier gas cylinder, 20 …… Oxygen (O 2 ) reaction gas cylinder, 21 …… Exhaust system.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】10-4Torr〜10-4Torrに減圧されたチャンバ
ー内において、マグネトロン放電あるいは、電子サイク
ロトロン共鳴(ECR)による放電を起し、その中でバリ
ウム(Ba)あるいはストロンチウム(Sr)をスパッタリ
ングしながら銅(Cu)およびL〔ただし、Lはイットリ
ウム(Y),ランタン(La),プラセオジウム(Pr),
ネオジウム(Nd),サマリウム(Sm),ユウロピウム
(Eu),ガドリニウム(Gd),ジスプロシウム(Dy),
ホルミウム(Ho),エルビウム(Er),ツリウム(T
m),イッテルビウム(Yb),ルテチウム(Lu)〕を含
有する金属キレートの蒸気と、反応ガスとしての酸素ガ
ス(O2)をチャンバー内に導入して基板上に一般式M2LC
u3−O7-y〔ただし、MはBaあるいはSr、LはY,La,Pr,N
d,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのいずれか一種の元素
で、yは0.1〜0.3の数〕で示される薄膜を析出させるこ
とを特徴とする超伝導体薄膜の製造方法。
1. A 10 -4 Torr~10 -4 Torr decompressed chamber, a magnetron discharge or caused discharge by electron cyclotron resonance (ECR), barium therein (Ba) or strontium (Sr) While sputtering copper (Cu) and L [where L is yttrium (Y), lanthanum (La), praseodymium (Pr),
Neodymium (Nd), Samarium (Sm), Europium (Eu), Gadolinium (Gd), Dysprosium (Dy),
Holmium (Ho), Erbium (Er), Thulium (T
m), ytterbium (Yb), lutetium (Lu)] and a chelate vapor containing oxygen and oxygen gas (O 2 ) as a reaction gas are introduced into the chamber, and the general formula M 2 LC
u 3 -O 7-y [where M is Ba or Sr and L is Y, La, Pr, N
d, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, any one element, y is a number of 0.1 ~ 0.3], a superconductor characterized by depositing a thin film Thin film manufacturing method.
【請求項2】金属キレートとして、CuおよびL(ただし
Lは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのいず
れか一種の元素)のアセチルアセトンキレートを用いる
ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の超伝
導体薄膜の製造方法。
2. Cu and L (where L is any one element of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb and Lu) as a metal chelate. The method for producing a superconductor thin film according to claim 1, wherein an acetylacetone chelate is used.
【請求項3】金属キレートとして、CuおよびL(ただし
Lは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのいず
れか一種の元素)のジピバロイルメタン錯体を用いるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の超伝導
体薄膜の製造方法。
3. As a metal chelate, Cu and L (where L is any one element of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu) The method for producing a superconductor thin film according to claim (1), characterized in that a dipivaloylmethane complex is used.
【請求項4】金属キレートとして、CuおよびL(ただし
Lは、Y,La,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Luのいず
れか一種の元素)のトリフルオロアセチルアセトン錯体
を用いることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記
載の超伝導体薄膜の製造方法。
4. Cu and L (where L is any one element of Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Gd, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, Lu) as a metal chelate. The method for producing a superconductor thin film according to claim (1), wherein a trifluoroacetylacetone complex is used.
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US6677001B1 (en) * 1986-11-10 2004-01-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Microwave enhanced CVD method and apparatus
JPH0672306B2 (en) 1987-04-27 1994-09-14 株式会社半導体エネルギー研究所 Plasma processing apparatus and plasma processing method
DE68922734T2 (en) * 1988-03-16 1995-09-14 Toshiba Kawasaki Kk METHOD FOR PRODUCING A THIN-LAYER OXIDE SUPER LADDER.
JP2527789B2 (en) * 1988-05-31 1996-08-28 株式会社フジクラ Method for manufacturing oxide-based superconducting wire
KR930011413B1 (en) 1990-09-25 1993-12-06 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 겐큐쇼 Plasma cvd method for using pulsed waveform
EP0595895B1 (en) * 1991-07-23 1997-12-29 BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company Method and device for frame interpolation of a moving image
JP4637556B2 (en) * 2004-12-01 2011-02-23 株式会社アルバック Film forming apparatus, composite wiring film forming apparatus including the film forming apparatus, and thin film manufacturing method

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