JPH077988B2

JPH077988B2 - Ｂ点アクセス設定法

Info

Publication number: JPH077988B2
Application number: JP2325441A
Authority: JP
Inventors: 勇野崎; 秀和須田
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp; Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp; Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 1990-11-29
Filing date: 1990-11-29
Publication date: 1995-01-30
Anticipated expiration: 2010-01-30
Also published as: JPH04207247A

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）本発明は、デジタル交換機等において回線試験を行う際
に、試験装置と該当回線との接続設定を行うＢ点アクセ
ス設定法に関する。

（従来の技術）一般に、交換局においては、回線異常が発生した場合等
に備えて、端末対向試験、局内対向試験または通常通信
のモニター等を行うための監視試験設備を備えている。

これら監視試験の際に、複数端末の各回線を収容する集
線位置をＢ点と称しており、このＢ点において、試験装
置にて指定された回線を選択して、試験装置から送出さ
れる試験信号を指定回線に挿入し、または端末等から返
送される信号を抽出して試験装置へ転送している。

この場合、１加入者に割り当てられている上り／下り両
Ｂチャネルハイウェイ（データ転送ハイウェイ）の複数
のチャネル、および上り／下り両Ｄチャネルハイウェイ
（通信制御用ハイウェイ）の各々の２つのチャネルのう
ち、Ｂチャネルハイウェイの上り／下り各１チャネル
と、Ｄチャネルハイウェイの上り／下り各２チャネルを
選択して試験を行う。

従来、このＢ点アクセス設定法は、一のＢチャネルの試
験を行った後に他のＢチャネルの試験を行う場合、試験
装置から送出されるコマンドに従って、今まで選択して
いたＢチャネルおよびＤチャネルの信号をすべてクリア
して、再び各チャネルを選択し直して、試験を行ってい
た。

（発明が解決しようとする課題）しかしながら、従来の技術においては、同一加入者の一
のＢチャネルの試験を行った後に、他のＢチャネルの試
験を行う場合でも、新たに、上り／下り両Ｄチャネルの
同期をとり直さなければならず、Ｂ点における処理手順
が複雑化して時間を要するとともに、１次群インタフェ
ースのように同一加入者にて多数のＢチャネルを有する
場合には、そのすべてのチャネルを試験する際にさらに
時間がかかるという問題があった。

また、試験装置を操作する保守者等は、各Ｂチャネルに
対して、その試験のためのコマンドを毎回送信しなけれ
ばならず、多くの回線の試験を行なう場合、手間がかか
り、操作ミス等が生じやすくなり、通信中の他の回線に
障害を与える等の事故が発生する恐れがあった。

本発明は、このような課題を解決し、複数チャネルの試
験を行う場合に、Ｂ点における処理手順を簡単化して多
数のＢチャネルを有する加入者の試験を短時間に行うこ
とができ、さらに、試験装置の操作を簡単化して事故の
発生等の防止を図ったＢ点アクセス設定法を提供するこ
とを目的とする。

（課題を解決するための手段）本発明は、上記課題を解決するために、交換機における
集線装置が設けられたＢ点にて、試験装置から送出され
たコマンドに基づいて該当回線を選択し、次いで、該当
回線の上り／下り両Ｄチャネルハイウェイをリセットし
て、試験装置から送出される試験信号に基づいてこれら
Ｄチャネルハイウェイの同期をとり、次いで、該当回線
のＢチャネルハイウェイをリセットして、その中から前
記試験装置のコマンドによって指定された一のＢチャネ
ルを選択して、このＢチャネルに、試験装置から送出さ
れた試験信号を前記Ｄチャネルハイウェイの同期信号に
合わせて送出することにより試験を行い、次いで、次の
コマンドが試験装置から送出されると、このコマンドと
前回のコマンドとが同一加入者の試験チャネルの変更で
ある場合に、それまでに使用したＤチャネルハイウエイ
をリセットせずに、Ｂチャネルのみ選択し直して、その
選択したＢチャネルに試験信号を送出して試験を行って
ゆくことを特徴とする。

また、本発明によるＢ点アクセス設定法は、試験装置か
ら送出されるコマンドが、該当加入者番号および試験モ
ードを含み、同一加入者の場合、その試験モードを１回
のコマンドによってすべてのＢチャネルに対して順次行
ってゆくことを特徴とする。

（作用）本発明のＢ点アクセス設定法によれば、一のＢチャネル
を試験した後に、試験装置から同一加入者の他のＢチャ
ネルの試験に切り換えるためのコマンドが送出された場
合、それまでに使用していたＤチャネルハイウェイをリ
セットしないので、そのままの同期状態にて、指定され
たＢチャネルハイウェイにＤチャネルハイウェイの同期
信号に合わせて試験信号をすぐに送出することができ、
Ｄチャネルハイウェイ設定のための時間を短縮し得る。

さらに、同一加入者に対して、その全チャネルの試験を
行う場合、試験装置から該当加入者番号と試験モードか
らなるコマンドを１回だけ送出して、その１回目にＤチ
ャネルハイウェイの同期をとって、Ｄチャネルハイウェ
イをリセットすることなく順次Ｂチャネルハイウェイの
試験を行う。

（実施例）次に、添付図面を参照して本発明によるＢ点アクセス設
定法の一実施例を詳細に説明する。

第１図には、この実施例のＢ点アクセス設定法が適用さ
れる中継システムが示されている。

この図において、矢印Ｘ側が局内を示し、この交換局10
には、複数の加入者回線が収容されている。なお、図に
おいては、説明の都合上１加入者のみを図示している。

この交換局10は、加入者線100を収容する加入者回路（O
CU）１と、この加入者回路１を複数収容する集線通話路
装置（LCNE）３と、集線通話路装置３を介して収容され
た回線の呼接続を行うための時分割回路網（TDNW）５と
を備えている。電話、ファクシミリ等の端末TAは、加入
者線100に回線終端装置（DSU）７を介して収容されてい
る。

加入者線100は、2B＋Ｄのハイウェイによって構成され
ており、この加入者線100を介して回線終端装置７と加
入者回路１との間において、2B＋Ｄのハイウェイによっ
てピンポン伝送方式（時分割方向制御方式）による双方
向通信が行われる。

また、この実施例においては、加入者回路１をＡ点、集
線通話路装置３をＢ点として、このＢ点において加入者
回線と試験台TEとの接続を行なって試験および監視の設
定を行う。

試験台TEは、時分割回路網５に設定された半固定パスＰ
および、この半固定パスＰに割り当てられた2Mb/sの容
量の専用線Ｑを介して集線通話路装置３に接続されてい
る。

この集線通話路装置３は、集線インタフェース12と、集
線スイッチ（LCSW）14と、信号処理回路（SIG）16と、
Ｂ点アクセス回路18と、ハイウェイインタフェース（HW
IF）20とを備えている。

集線スイッチ14は、時間スイッチ等からなり、集線イン
タフェース12を介して伝送されるＢチャネル信号の速度
変換等の処理を行い、ハイウェイインタフェース20を介
して時分割回路網５側に転送する。

信号処理回路16は、集線インタフェース12を介して伝送
されるＤチャネル信号の処理を行う回路であり、局内の
制御部（図示略）との間にてこれら制御信号の送受信を
行いその伝送処理を行う。

集線インタフェース（LCSWIF）12は、第２図に示すよう
に、加入者回路１内の伝送路終端部（SLTE）24に、それ
ぞれ上り／下り各２本のＢチャネルハイウェイ110と、
上り／下り各２本のＤチャネルハイウェイ120によって
接続されている。この集線インタフェース12は、上り２
本のＢチャネルハイウェイ110のＢチャネル信号を、た
とえば1024チャネル分の信号を8Mb/s直列に多重化して
集線スイッチ14へ転送し、集線スイッチ14から8Mb/s直
列にて送信される下りのＢチャネル信号を２本のＢチャ
ネルハイウェイ110にそれぞれ振り分ける機能を有す
る。同様に、この集線インタフェース110は、２本のＤ
チャネルハイウェイ120のＤチャネル信号を8Mb/s直列に
多重化して信号処理回路16へ転送し、信号処理回路16か
ら送信されるＤチャネル信号を２本のＤチャネルハイウ
ェイ120へそれぞれ振り分ける機能を有する。なお、第
２図においては、上りの回線のみが示されており、加入
者回路１には複数回線の伝送路終端部24が備えられて、
これらが2B＋Ｄのハイウェイにて集線インタフェース12
に接続される。

この集線インタフェース12と、集線スイッチ14および信
号処理回路16との間にＢ点アクセス回路18が介挿されて
いる。

このＢ点アクセス回路18は、第３図（ａ）〜（ｃ）の機
能ブロック図に示すように、上りまたは下りの回線から
信号を取り込むドロッパ機能（DR）と、回線に信号を挿
入するインサート機能（IS）とを有しており、それぞれ
の機能によってモニタ試験アクセス（第３図（ａ））、
局内対向試験アクセス（第３図（ｂ））および端末対向
試験アクセス（第３図（ｃ））のそれぞれの処理を行う
回路である。なお、これらの図においては、Ｂチャネル
とＤチャネルを同時に示す上りハイウェイFHWおよび下
りハイウェイBHWにてその機能を表わしている。

このＢ点アクセス回路18を、第４図〜第８図を参照して
さらに詳細に説明する。

このＢ点アクセス回路18は、第４図に示すように、上り
ＢチャネルハイウェイBFHWおよび上りＤチャネルハイウ
ェイDFHWの信号をラッチする上り信号ラッチ回路（FLAT
CH）30と、上りＢチャネルハイウェイBFHWに試験信号を
挿入するＢ情報挿入セレクタ32と、上りＤチャネルハイ
ウェイDFHWに試験信号を挿入するＤ情報挿入セレクタ34
とを備えている。

上りＢチャネルハイウェイBFHWおよび上りＤチャネルハ
イウェイは、それぞれ前記8Mb/sの多重化ハイウェイで
あり、たとえば1024チャネル分の信号が伝送される。

それぞれのハイウェイBFHW,DFHWには、シリアルパラレ
ル変換回路36、38が設けられて、これら変換回路36、38
にてパラレル変換された信号を上り信号ラッチ回路30に
おいてラッチする。

この上り信号ラッチ回路30は、後述するオーダーバッフ
ァから加入者収容位置番号LENとモード情報MODEとを入
力して所望の加入者の信号をラッチし、このラッチした
信号BF,DF,STをそれぞれハイウェイインタフェース20を
介して試験台TEへ転送する前記ドロッパ機能DRを司る回
路である。

上りＢ情報挿入セレクタ32は、試験台TEから送信される
試験信号BFを上りＢチャネルハイウェイBFHWに挿入する
前記インサータ機能ISのＢチャネル側を司る回路であ
る。この上りＢ情報挿入セレクタ32の出力は、集線スイ
ッチ14の受信側へ送出される。上りＤ情報挿入セレクタ
34は、試験台TEから送信される制御信号DF,STを上りＤ
チャネルハイウェイDFHWに挿入する前記インサータ機能
ISのＤチャネル側を司る回路であり、その出力は、信号
処理回路16の受信側へ送出される。

同様に、このＢ点アクセス回路18は、第５図に示すよう
に、下りＢチャネルハイウェイBBHWおよび下りＤチャネ
ルハイウェイDBHWの信号をラッチする下り信号ラッチ回
路（BLATCH）40と、下りＢチャネルハイウェイBBHWに試
験信号BBを挿入するＢ情報挿入セレクタ42と、下りＤチ
ャネルハイウェイDBHWに試験信号DB,COを挿入するＤ情
報挿入セレクタ44とを備えている。この図において、そ
れぞれのハイウェイBBHW,DBHWには、セレクタ42,44から
送出される信号をシリアル変換する変換回路46、48がそ
れぞれ設けられている。また、通常通信の場合、Ｄチャ
ネルハイウェイDBHWには、通信処理回路16より制御信号
Ｄが送出され、かつ同期制御信号COが同期回路SD（図示
略）より送出され、これら制御信号D,COを合成回路50に
よって重畳して集線インタフェース12側へ伝送する。

なお、第４図および第５図においては、０チャネル〜10
23チャネルの信号を伝送する一方のＢチャネルハイウェ
イのみが図示されているが、他方の1024チャネル〜2048
チャネルの信号を伝送するＢチャネルハイウェイにも、
信号ラッチ回路30,40およびＢ情報挿入セレクタ32,34,4
2,44が備えられており、この実施例においては、それぞ
れの信号ラッチ回路30-30,40-40が接続されて連動して
動作する構成である。

また、第６図に示すように、このＢアクセス回路18は、
試験台TEから送信されるコマンドを蓄積するオーダーバ
ッファ52と、ドロッパ、インサータ機能のタイミングを
とるためのタイミング信号発生回路（BACTIM）54とを備
えている。

オーダバッファ52は、Ｂ点アクセスを行う端末収容位置
番号LENとモード情報MODEを蓄積するレジスタであり、
試験台TEから送出されたコマンドをソフトインタフェー
スを介して入力し、上り信号ラッチ回路30、下り信号ラ
ッチ回路40およびタイミング信号発生回路54へ、端末収
容位置番号LENおよびモード情報MODEをそれぞれ転送す
る。なお、端末収容位置番号LENは、前記伝送路終端部
（SLTE）24の番号と同終端部24内にて割り当てられた加
入者回線の番号にて表わされ、たとえば第９図に示すよ
うに、各伝送路網終端装置24に、128チャネル分収容し
た各端末に対応して割り付けられている。

さらに、このＢ点アクセス回路18は、第７図および第８
図に示すように、上り信号ラッチ回路30および下り信号
ラッチ回路40から転送される信号を試験台TEにて受信可
能な信号に編集する上り編集部60と、試験台TEから送信
される試験信号をそれぞれのハイウェイに挿入するため
に編集する下り編集部80とを備えている。

第７図において、上り編集部60は、マルチフレーム同期
信号付加回路（MFAD）62,64と、上りＢ情報編集回路（B
CHG）66と、上りＤ情報編集回路（DCHG）68と、マルチ
プレクサ（MPX）70とから構成されている。

マルチフレーム同期信号付加回路62,64は、試験台TEへ
転送するＢ点アクセス情報のうちＤ信号に対して20マル
チフレーム分の同期信号を付加する。上りＢ情報編集回
路66は、上り信号ラッチ回路30、下り信号ラッチ回路40
にてラッチしたＢ信号BB,BFをアクセスモードに対応し
て、試験台TEへの専用線Ｑの時分割ハイウェイにおける
タイムスロット＃16,＃18にそれぞれ割り付ける（第10
図参照）。

上りＤ情報編集回路68は、上り信号ラッチ回路30および
下り信号ラッチ回路40にてラッチしたＤ情報ST/CO/Dを
アクセスモードに対応して試験台TEへの時分割ハイウェ
イにおけるタイムスロット＃17,＃19に割り付ける（第1
0図参照）。

第８図において、下り編集部80は、選択回路82と、デマ
ルチプレクサ（DMPX）84と、下りＢ編集回路（BCHG）86
と、下りＤ編集回路（DCHG）88と、マルチフレームアラ
イナ（MFAL）90〜96とから構成されている。

選択回路82は、オーダバッファ52に蓄積された端末収容
番号LENの最初のビットMSBを入力して、このビットが
“0"の場合に試験信号を取り入れてデマルチプレクサ84
へ送出する回路である。なお、1024〜2047チャネルを収
容する回路では、端末収容番号の最初のビットMSBが
“1"の場合に試験信号を取り入れる。

デマルチプレクサ84は、シリアルに入力する試験信号を
４つタイムスロットに分割して送出する。

下りＢ情報編集回路86は、デマルチプレクサ84から試験
信号BF,BBを入力して、これら試験信号BF,BBをアクセス
モードに対応してＢ情報挿入セレクタ32、42にそれぞれ
割り付ける。

下りＤ情報編集回路88は、デマルチプレクサ84から試験
信号DF,STまたはDB,COを入力して、これら試験信号をア
クセスモードに対応してＤ情報挿入セレクタ34、44に割
り付ける。

マルチフレームアライナー90,94は、試験台TEから送信
されるＢ点アクセス情報のうちＤ情報の信号DB,DFから2
0マルチフレームの同期信号を検出し、内部の20マルチ
フレーム位相に同期合わせを行う。

マルチフレームアライナ92,96は、試験台TEから送信さ
れるＢ点アクセス情報のうちＤ情報の信号CO,STから３
マルチフレームの同期信号を検出し、内部の３マルチフ
レーム位相に同期合わせを行う。

次に、この実施例のＢ点アクセス設定法を上記各部を参
照して説明する。

まず、試験台TEにて保守者が該当回線番号および試験モ
ードを試験装置に入力すると、このコマンドとそのコマ
ンドの試験モードに対応した試験信号が、時分割回路網
５を介してＢ点アクセス回路18に転送される。

この場合、試験モードは、第11図（ａ）に示すように、
２進表示による２ビット構成にて表現されて伝送され、
この実施例においては、モニタモードが「11」、端末対
向試験が「10」、局内対向試験が「11」、Ｂ点アクセス
モードの解除を行う場合が「00」の信号で表示される。

加入者回線番号は、０〜2047チャネルに対応して、伝送
路終端部24の番号と、その収容位置番号とがそれぞれ２
進数によって表され、この実施例の場合、伝送路終端部
の番号０〜15がそれぞれ４桁、端末収容位置番号０〜12
7がそれぞれ７桁にて表現され、合計11桁の表示となっ
ている。

これら試験モードおよび加入者回線番号は、ソフトイン
タフェースを介してオーダバッファ52に一旦蓄積され
る。

試験信号は、第10図に示すように、時分割ハイウェイ上
の＃16〜＃19にそれぞれ割り付けられて送信され、下り
編集部80に入力する。

たとえば、０〜1023チャネルのうちのいずれかの加入者
の端末対向試験を行う場合、オーダバッファ52のモード
情報MODEに「10」と、その加入者回線番号が一旦蓄積さ
れる。

このモード情報MODEと加入者回線番号LENがタイミング
発生回路54へ転送されると、タイミング発生回路54から
各部へリセット信号が送出されて、各部において初期設
定が行われる。

この間に、試験台TEから送信された試験信号BB/DB/CO
は、下り編集部80にて、そのデマルプレクサ84を介し
て、それぞれ下りＢ編集回路86および下りＤ編集回路88
に蓄積される。

次いで、タイミング発生回路54からタイミング信号が発
生されると、マルチフレームアライナ90,92によって、
下りＤチャネルの試験信号DBから20マルチフレームの同
期信号を検出し、内部の20マルチフレーム位相に同期合
わせを行うとともに、試験信号COから３マルチフレーム
の同期信号を検出し、内部の３マルチフレーム位相に同
期合わせを行い、Ｄ情報挿入セレクタ44を介してＤチャ
ネルハイウェイDBHWに挿入する。

次いで、下りＢチャネルハイウェイBBHWの該当チャネル
をリセットして、そのチャネルに、Ｂ情報挿入セレクタ
42を介して試験信号BBを前記ＤチャネルハイウェイDBHW
の同期信号に合わせて送出する。

これら試験信号は、集線インタフェース12および加入者
回路１を介して回線終端回路７へ伝送される。

回線終端回路７においては、これらの試験信号を受信す
ると、その折り返し回路によって、上り回線に受信した
試験信号を上り信号BF/DF/STとして返送する。

返送された信号は、上り信号ラッチ回路30によってラッ
チされ、上り編集部60へ転送される。

上り編集部60は、マルチフレーム同期信号付加回路62,6
4によって、DF信号に対して20マルチフレーム分の同期
信号を付加して、このDF信号とともにST信号およびBF信
号を上りＢ情報編集回路66および上りＤ情報編集回路68
によって、第10図に示すように、試験台TEへの専用線Ｑ
の時分割ハイウエイにおけるタイムスロット＃16〜＃19
にそれぞれ割り付けて転送する。これにより、試験台TE
においては、送信した試験信号と受信した信号とを比較
する等の試験を行い、回線異常を判定する。異常がない
場合、次のチャネルの試験を行う。

この場合、同一加入者の他のＢチャネルの試験を行う際
に、その回線番号をコマンドとして試験台TEから送出す
ると、Ｂ点アクセス回路18は、それまでに使用したＤチ
ャネルハイウエイをリセットせずに、コマンドによって
指定されたＢチャネルのみ選択し直して、その選択した
Ｂチャネルに試験信号を送出して上記と同様に試験を行
う。なお、同一加入者の複数チャネルの試験を行なう場
合、試験台TEまたはＢ点アクセス回路18に、これら複数
チャネルを有する加入者を登録して、その加入者番号を
最初のコマンドにて判別することにより、１回のコマン
ドの送信のみにて自動的に試験を行うようにしてもよ
い。

また、モニタ試験アクセスを行う場合は、試験台から該
当回線番号およびモード情報「01」からなるコマンドが
送出される。そのコマンドはオーダバッファ52を介し
て、上り信号ラッチ回路30および下り信号ラッチ回路40
に転送される。

これにより、上り信号ラッチ回路30は、上りハイウェイ
FHWから該当チャネルの上りＢチャネル信号BFと、上り
Ｄチャネル信号DBとをラッチして、上り編集部70を介し
て試験台TEへ転送する。下り信号ラッチ回路40は、下り
ハイウェイBHWから該当チャネルの下りＢチャネル信号B
Bと、下りＤチャネル信号DBとをそれぞれラッチして、
これら信号を上り編集部70を介して試験台TEへ転送す
る。

この場合も、同一加入者の複数チャネルのモニタを行う
ときは、試験台TEにおける最初のコマンドのみによっ
て、試験台またはＢ点アクセス回路にて登録されたチャ
ネルを順次モニタする。

同様に、局内対向試験アクセスを行う場合は、試験台TE
から該当回線番号およびモード情報「11」をコマンドと
して送信すると、このコマンドがオーダバッファ52に一
旦蓄積されて、これらがタイミング発生回路54に転送さ
れると、タイミング発生回路54から送出されるリセット
信号によって各部がリセットされる。

次いで、試験台TEから送信された試験信号BF/DF/STのう
ちＤ情報DF/STがマルチフレームアライナ94,96によって
それぞれ上りＤチャネルハイウェイDFHWの内部同期に合
わせられる。この同期に合わせて、該当チャネルにBF信
号を送出する。送出された試験信号は、挿入セレクタ3
2,34によってそれぞれ上りハイウェイFHWに挿入されて
集線スイッチ14および信号処理回路16へ転送される。

次いで、この試験信号に対する折り返し信号BB/DB/COが
下りハイウェイBHWから返送されると、下り信号ラッチ
回路40にてそれら返送信号をラッチし、上り編集部60を
介して試験台TEへ転送する。

これにより、試験台TEにて送信信号と返送信号の比較等
を行って局内回線の異常を判定し、上記と同様に、同一
加入者の複数チャネルの試験を行う場合は、Ｄチャネル
ハイウェイのリセットを行うことなく、順次、該当Ｂチ
ャネルの試験を行っていく。

（発明の効果）以上説明したように、この発明のＢ点アクセス設定法に
よれば、一のＢチャネルを試験した後に、試験装置から
同一加入者の他のＢチャネルの試験に切り換えるための
コマンドが送出された場合、それまでに使用していたＤ
チャネルをリセットしないので、そのままの同期状態に
て、指定されたＢチャネルにＤチャネルの同期信号に合
わせて試験信号をすぐに送出することができ、Ｄチャネ
ル設定のための時間を短縮し得る。したがって、一次群
インタフェースのように同一加入者にて多数のＢチャネ
ルを有する場合により効果的に試験を行うことができ
る。

さらに、同一加入者に対して、その全チャネルハイウェ
イの試験を行う場合、試験装置から該当加入者番号と試
験モードからなるコマンドを１回だけ送出して、その１
回目にＤチャネルハイウェイの同期をとって、Ｄチャネ
ルハイウェイをリセットすることなく順次Ｂチャネルハ
イウェイの試験を行う。したがって、多くの回線の試験
を行なう場合、手間がかからず、誤操作が少なくなっ
て、通信中の他の回線に障害を与える等の事故を防止す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるＢ点アクセス設定法が適用される
交換方式の実施例を示す中継方式図、第２図は、第１図に示す実施例のＡ点とＢ点との間の中
継方式図、第３図（ａ）〜（ｃ）は同実施例におけるＢ点アクセス
回路を示す機能ブロック図、第４図〜第８図は、それぞれ同実施例におけるＢ点アク
セス回路を示す回路図であり、第４図は、上りハイウェ
イ付近の回路を示す図、第５図は下りハイウェイ付近を
示す図、第６図は試験台の送出コマンドを受ける部分を
示す図、第７図は上り編集部を示す図、第８図は下り編
集部を示す図、第９図は、この実施例の伝送路終端部における端末収容
位置番号を示す図、第10図は、この実施例における試験台から送信されるコ
マンドを説明するための図、第11図は、この実施例における試験台から送信される試
験信号の、その専用線における割り付け状態を示す図で
ある。主要部分の符号の説明１……加入者回路３……集線通話路装置５……時分割回路網７……回線網終端装置 10……交換局 12……集線インタフェース 14……集線スイッチ 16……信号処理回路 18……Ｂ点アクセス回路 20……ハイウェイインタフェース 24……伝送路網集端部 30……上り信号ラッチ回路 32……上りＢ情報挿入セレクタ 34……上りＤ情報挿入セレクタ 40……下り信号ラッチ回路 42……下りＢ情報挿入セレクタ 44……下りＤ情報挿入セレクタ 52……オーダバッファ 54……タイミング信号発生回路 62,64……マルチフレーム同期信号付加回路 66……上りＢ情報編集回路 68……上りＤ情報編集回路 86……下りＢ情報編集回路 88……下りＤ情報編集回路 90〜96……マルチフレームアライナ 100……加入者線 110……Ｂチャネルハイウェイ 120……Ｄチャネルハイウェイ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開平１−259661（ＪＰ，Ａ) 特開平２−13164（ＪＰ，Ａ) 特開平２−39760（ＪＰ，Ａ) 特開平２−272896（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の加入者回線を収容する集線装置が設
けられた交換機のＢ点にて、試験装置から送出された試
験信号を引き込んで該当回線の試験を行うＢ点アクセス
設定法において、前記Ｂ点にて、試験装置から送出されたコマンドに基づ
いて該当回線を選択し、次いで、該当回線の上り／下り両Ｄチャネルハイウェイ
をリセットして、試験装置から送出される試験信号に基
づいてこれらＤチャネルハイウェイの同期をとり、次いで、該当回線のＢチャネルハイウェイをリセットし
て、その中から前記試験装置のコマンドによって指定さ
れた一のＢチャネルを選択して、このＢチャネルに、試験装置から送出された試験信号を
前記Ｄチャネルハイウェイの同期信号に合わせて送出す
ることにより試験を行い、次いで、次のコマンドが試験装置から送出されると、こ
のコマンドと前回のコマンドとが同一加入者の試験チャ
ネルの変更である場合に、それまでに使用したＤチャネ
ルハイウェイをリセットせずに、Ｂチャネルのみ選択し
直して、その選択したＢチャネルに試験信号を送出して
該当回線の試験を行ってゆくことを特徴とするＢ点アク
セス設定法。
【請求項２】請求項１に記載のＢ点アクセス設定法にお
いて、前記試験装置から送出されるコマンドは、該当加
入者番号および試験モードを含み、同一加入者の場合、
その試験モードを１回のコマンドによってすべてのＢチ
ャネルに対して順次行ってゆくことを特徴とするＢ点ア
クセス設定法。