JPH0773848A - 質量分析計及び質量分析方法 - Google Patents
質量分析計及び質量分析方法Info
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- JPH0773848A JPH0773848A JP6148977A JP14897794A JPH0773848A JP H0773848 A JPH0773848 A JP H0773848A JP 6148977 A JP6148977 A JP 6148977A JP 14897794 A JP14897794 A JP 14897794A JP H0773848 A JPH0773848 A JP H0773848A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion sources
- mass spectrometer
- mass
- atmospheric pressure
- ionization
- Prior art date
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数のイオン源を用い、前記イオン源を短時間
に切り換え、分析対象を拡大したＬＣ／ＭＳを提供す
る。 【構成】ＡＰＣＩ部１とＥＳＩ部２を回転台１１または
往復台１９に設置し、前記回転台１１は、受台１３とオ
サエリング１２とにより回転可能に、前記往復台１９
は、受台２１とオサオ金具２０とベアリング２２と送り
ネジ２３とにより往復可能にそれぞれ構成されている。
ＡＰＣＩ部１とＥＳＩ部２とは、第一細孔１６，第二細
孔１７，質量分析部１８に対向する位置に移動せしめら
れ、それぞれのイオン化法によりイオン化し質量分析を
可能にするものである。 【効果】複数イオン源を簡単に切り換えられ、分析対象
物質が拡大し、一つのサンプルに対して複数のマススペ
クトルを得て分子構造解析等が容易にできる。
に切り換え、分析対象を拡大したＬＣ／ＭＳを提供す
る。 【構成】ＡＰＣＩ部１とＥＳＩ部２を回転台１１または
往復台１９に設置し、前記回転台１１は、受台１３とオ
サエリング１２とにより回転可能に、前記往復台１９
は、受台２１とオサオ金具２０とベアリング２２と送り
ネジ２３とにより往復可能にそれぞれ構成されている。
ＡＰＣＩ部１とＥＳＩ部２とは、第一細孔１６，第二細
孔１７，質量分析部１８に対向する位置に移動せしめら
れ、それぞれのイオン化法によりイオン化し質量分析を
可能にするものである。 【効果】複数イオン源を簡単に切り換えられ、分析対象
物質が拡大し、一つのサンプルに対して複数のマススペ
クトルを得て分子構造解析等が容易にできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、質量分析計（以下、Ｍ
Ｓという）及び質量分析方法に係り、特に、液体クロマ
トグラフ質量分析計（以下、ＬＣ／ＭＳという）におい
て、複数のイオン源、例えば大気圧化学イオン化イオン
源（以下、ＡＰＣＩという）とエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源（以下、ＥＳＩという）等を用い、広範な
測定対象試料を分析するのに好適なものを得ることにあ
る。
Ｓという）及び質量分析方法に係り、特に、液体クロマ
トグラフ質量分析計（以下、ＬＣ／ＭＳという）におい
て、複数のイオン源、例えば大気圧化学イオン化イオン
源（以下、ＡＰＣＩという）とエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源（以下、ＥＳＩという）等を用い、広範な
測定対象試料を分析するのに好適なものを得ることにあ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のＬＣ／ＭＳにおけるイオン化法
は、数種類の方法が提案されている。
は、数種類の方法が提案されている。
【０００３】各イオン化法は、それぞれ特色があり、あ
る物質についてはイオン化が困難であるという欠点があ
った。
る物質についてはイオン化が困難であるという欠点があ
った。
【０００４】一方、分離装置としてＬＣを用いる場合は
その測定対象は広範であり、極性の低いものから高いも
のまで存在する。
その測定対象は広範であり、極性の低いものから高いも
のまで存在する。
【０００５】このような数多くの試料を一つのイオン化
法で対応するため種々の方式が発展してきた。
法で対応するため種々の方式が発展してきた。
【０００６】この種々の方式については、加藤義昭et.
HITACHI SCIENTIFIC INSTRUMENT NEWS, Vol.３４，No.
１，１９９１；“Ｍ−１０００形日立ＬＣ−ＭＳ分析
計”記載の技術がある。
HITACHI SCIENTIFIC INSTRUMENT NEWS, Vol.３４，No.
１，１９９１；“Ｍ−１０００形日立ＬＣ−ＭＳ分析
計”記載の技術がある。
【０００７】これらの各イオン化法は、それぞれ特徴を
有し、イオン化しやすい試料グループが限定され、一方
法により全ての試料をイオン化することはできない。
有し、イオン化しやすい試料グループが限定され、一方
法により全ての試料をイオン化することはできない。
【０００８】しかし、一方では広範なＬＣの測定対象物
質をＬＣ／ＭＳ分析したいという要望も多かった。
質をＬＣ／ＭＳ分析したいという要望も多かった。
【０００９】このため、二つのイオン源を備えたＭＳの
技術が提案された。例えば、ＡＰＩ法と他のイオン源を
組合せて、イオン化の効率を向上させる技術がある。
技術が提案された。例えば、ＡＰＩ法と他のイオン源を
組合せて、イオン化の効率を向上させる技術がある。
【００１０】上記技術は、ＡＰＩ法による主イオン源と
電子衝撃形の補助イオンとを直列に設け、ＡＰＩでイオ
ン化されなかった中性分析を電子衝撃によりイオン化す
ることにより、イオン量を増加させ実質的に質量分析計
の感度向上を図るものである。これに関連するものとし
ては、日本国特許第1078632 号記載の技術がある。
電子衝撃形の補助イオンとを直列に設け、ＡＰＩでイオ
ン化されなかった中性分析を電子衝撃によりイオン化す
ることにより、イオン量を増加させ実質的に質量分析計
の感度向上を図るものである。これに関連するものとし
ては、日本国特許第1078632 号記載の技術がある。
【００１１】さらに、広範な測定対象物質をＬＣ／ＭＳ
分析するため、大気イオン化イオン源と化学イオン化イ
オン源とを設け、前記両イオン源を切り換えて使用する
技術が提案された。これに関連するものとしは、特開平
4−109160 号公報記載の技術があった。
分析するため、大気イオン化イオン源と化学イオン化イ
オン源とを設け、前記両イオン源を切り換えて使用する
技術が提案された。これに関連するものとしは、特開平
4−109160 号公報記載の技術があった。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のＭＳにおい
ては、二つのイオン源が設けられているが、その試料導
入系の使用条件に制限があり、二つのイオン源の組合せ
が限定されていたため、被測定対象物の範囲が限定さ
れ、ＬＣと直結しても前ＬＣの被測定対象物を広範な範
囲において分離できるという利点を生かしきれていなか
った。
ては、二つのイオン源が設けられているが、その試料導
入系の使用条件に制限があり、二つのイオン源の組合せ
が限定されていたため、被測定対象物の範囲が限定さ
れ、ＬＣと直結しても前ＬＣの被測定対象物を広範な範
囲において分離できるという利点を生かしきれていなか
った。
【００１３】さらに、イオン性，高極性化合物のイオン
化に優れた機能を発揮するＥＳＩ法との組合せが考慮さ
れていなかった。そのため高分子化合物等の分析が不可
能という問題があった。
化に優れた機能を発揮するＥＳＩ法との組合せが考慮さ
れていなかった。そのため高分子化合物等の分析が不可
能という問題があった。
【００１４】本発明は、上記従来技術の問題点を解決す
るためになされたもので、複数個のイオン源を備え、か
つ、複数個のイオン源を短時間に切り換えることができ
る、分析対象が拡大されたＬＣと直結しその長所を生か
し、広範な対象物を測定できる大気圧イオン化ＭＳを提
供することを目的とする。
るためになされたもので、複数個のイオン源を備え、か
つ、複数個のイオン源を短時間に切り換えることができ
る、分析対象が拡大されたＬＣと直結しその長所を生か
し、広範な対象物を測定できる大気圧イオン化ＭＳを提
供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る大気圧イオン化質量分析計の構成は、
液体クロマトグラフで分離し、大気圧イオン化イオン源
で前記分離成分を霧化，イオン化して質量分析を行う質
量分析計において、前記大気圧イオン化イオン源を複数
個と、前記複数個のイオン源を切り換える切換器とを備
えたものである。複数個の大気圧イオン化イオン源は、
大気圧化学イオン化イオン源とエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源との組合せ、あるいは大気圧化学イオン化
イオン源と他方式の大気圧イオン化イオン源との組合せ
のいずれかにより構成したものである。
め、本発明に係る大気圧イオン化質量分析計の構成は、
液体クロマトグラフで分離し、大気圧イオン化イオン源
で前記分離成分を霧化，イオン化して質量分析を行う質
量分析計において、前記大気圧イオン化イオン源を複数
個と、前記複数個のイオン源を切り換える切換器とを備
えたものである。複数個の大気圧イオン化イオン源は、
大気圧化学イオン化イオン源とエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源との組合せ、あるいは大気圧化学イオン化
イオン源と他方式の大気圧イオン化イオン源との組合せ
のいずれかにより構成したものである。
【００１６】また、複数個のイオン源を切り換える手段
は、前記各イオン源を機械的手段により所定の位置へ配
設するようにしたものである。
は、前記各イオン源を機械的手段により所定の位置へ配
設するようにしたものである。
【００１７】また、複数個のイオン源を切り換える手段
は、所定の位置へ配設した前記各イオン源を電気的手段
により切り換えるようにしたものである。
は、所定の位置へ配設した前記各イオン源を電気的手段
により切り換えるようにしたものである。
【００１８】また、複数個のイオン源を切り換える手段
は、所定の位置へ配設した前記各イオン源を電気的手段
により切り換えるようにし、かつ、前記各イオン源の所
定位置を機械的手段により微調整できるようにしたもの
である。
は、所定の位置へ配設した前記各イオン源を電気的手段
により切り換えるようにし、かつ、前記各イオン源の所
定位置を機械的手段により微調整できるようにしたもの
である。
【００１９】さらに、機械的に所定の位置へ配設する手
段は、各イオン源が所定の軌道上を回動するようにした
ものである。
段は、各イオン源が所定の軌道上を回動するようにした
ものである。
【００２０】さらに、機械的に所定の位置へ配設する手
段は、各イオン源が所定の軌道上を往復運動するように
したものである。
段は、各イオン源が所定の軌道上を往復運動するように
したものである。
【００２１】
【作用】上記各技術的手段の働きは次のとおりである。
【００２２】本発明の構成によれば、例えば低中極性物
質のイオン化に適した大気圧化学イオン化イオン源と、
高極性物質のイオン化に適したエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源とを組合せ、それぞれのイオン源を動作さ
せることにより、前記質量分析部に多種類のイオンを入
射・分析させ、液体クロマトグラフ質量分析計の測定対
象を拡大することができる。
質のイオン化に適した大気圧化学イオン化イオン源と、
高極性物質のイオン化に適したエレクトロスプレイイオ
ン化イオン源とを組合せ、それぞれのイオン源を動作さ
せることにより、前記質量分析部に多種類のイオンを入
射・分析させ、液体クロマトグラフ質量分析計の測定対
象を拡大することができる。
【００２３】
【実施例】以下、本発明の各実施例を図１ないし図８を
参照して説明する。
参照して説明する。
【００２４】まず、全体の概要を簡単に説明する。
【００２５】図１，図２及び図８において、１はＡＰＣ
Ｉ部、２はＥＳＩ部、３は流出パイプ、４は霧化器、５
は支柱、６は脱溶媒室、７は針電極、８は支柱、９は流
出パイプ、１０はガス導入管、１１は回転台、１２はオ
サエリング、１３は受台、１４，１５は支柱、１６は第
一細孔、１７は第二細孔、１８は質量分析部、１９は往
復台、２０はオサエ金具、２１は受台、２２はベアリン
グ、２３は送りネジ、２４はＬＣポンプ、２５はＬＣカ
ラム、２６は質量分析計、２７は電源、２８は切換スイ
ッチである。
Ｉ部、２はＥＳＩ部、３は流出パイプ、４は霧化器、５
は支柱、６は脱溶媒室、７は針電極、８は支柱、９は流
出パイプ、１０はガス導入管、１１は回転台、１２はオ
サエリング、１３は受台、１４，１５は支柱、１６は第
一細孔、１７は第二細孔、１８は質量分析部、１９は往
復台、２０はオサエ金具、２１は受台、２２はベアリン
グ、２３は送りネジ、２４はＬＣポンプ、２５はＬＣカ
ラム、２６は質量分析計、２７は電源、２８は切換スイ
ッチである。
【００２６】〔実施例 １〕次に、図１にしたがい、Ａ
ＰＣＩが組み込まれたＬＣ／ＭＳの概略を説明する。
ＰＣＩが組み込まれたＬＣ／ＭＳの概略を説明する。
【００２７】図１において、ＬＣポンプ２４によりＬＣ
カラム２５に送られ分離された試料溶液は、ＡＰＣＩ部
１に送り込まれる。
カラム２５に送られ分離された試料溶液は、ＡＰＣＩ部
１に送り込まれる。
【００２８】前記ＡＰＣＩ部１に送り込まれた試料溶液
は、霧化器４で霧化され、脱溶媒室６において溶媒分子
が除去される。
は、霧化器４で霧化され、脱溶媒室６において溶媒分子
が除去される。
【００２９】前記溶媒分子が除去された霧化試料は、針
電極７と第一細孔１６の間に印加された約３ｋＶの電圧
によるコロナ放電により、溶媒分子がイオン化される。
電極７と第一細孔１６の間に印加された約３ｋＶの電圧
によるコロナ放電により、溶媒分子がイオン化される。
【００３０】この溶媒イオンと試料分子がイオン分子反
応によりイオン化され質量分析計２６で質量分析され
る。
応によりイオン化され質量分析計２６で質量分析され
る。
【００３１】次に、本発明の一実施例に係る大気イオン
化分析計を説明する。
化分析計を説明する。
【００３２】ＭＳがＬＣと直結されている構成，動作に
ついては、上記図１において説明したので重ねての説明
を省略する。
ついては、上記図１において説明したので重ねての説明
を省略する。
【００３３】以下、大気イオン化分析計のイオン源部に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００３４】図２において、ＡＰＣＩ部１およびＥＳＩ
部２は、回転台１１に固定装着されている。
部２は、回転台１１に固定装着されている。
【００３５】前記ＡＰＣＩ部１は、ＬＣ（図示せず）か
ら試料溶液を流出させる流出パイプ３，前記流出試料溶
液を霧化させる霧化器４，支柱５によって支えられてい
る前記試料溶液の溶媒分子が除去する脱溶媒室６，支柱
８によって支えられているコロナ放電を起こす針電極７
および前記針電極７に電圧を印加する電源２７により構
成されている。
ら試料溶液を流出させる流出パイプ３，前記流出試料溶
液を霧化させる霧化器４，支柱５によって支えられてい
る前記試料溶液の溶媒分子が除去する脱溶媒室６，支柱
８によって支えられているコロナ放電を起こす針電極７
および前記針電極７に電圧を印加する電源２７により構
成されている。
【００３６】前記ＥＳＩ部２は、ＬＣ（図示せず）から
の試料溶液を流出させる流出パイプ９と前記流出パイプ
９を内包するガス導入管１０とからなり、前記回転台１
１を貫通し、前記ガス導入管１０は、前規電源２７によ
り電圧が印加されるように構成されている。
の試料溶液を流出させる流出パイプ９と前記流出パイプ
９を内包するガス導入管１０とからなり、前記回転台１
１を貫通し、前記ガス導入管１０は、前規電源２７によ
り電圧が印加されるように構成されている。
【００３７】また、切換スイッチ２８により前記電源２
７の印加電圧が前記ＡＰＣＩ部１と前記ＥＳＩ部２とに
切り換えるようになっている。さらに、前記電源２７の
印加電圧が可変となるようになっている。
７の印加電圧が前記ＡＰＣＩ部１と前記ＥＳＩ部２とに
切り換えるようになっている。さらに、前記電源２７の
印加電圧が可変となるようになっている。
【００３８】前記回転台１１は、支柱１４，１５により
受台１３とオサエリング１２により、回転可能な構成と
なっている。
受台１３とオサエリング１２により、回転可能な構成と
なっている。
【００３９】前記回転台１１の回転により、前記ＡＰＣ
Ｉ部１の脱溶媒室６および前記ESI部２の流出パイプ９
のいずれかのイオン流出方向の前方には、第一細孔１
６，第二細孔１７が配置されるようになり、この細孔を
通じて質量分析部１８と連通している。
Ｉ部１の脱溶媒室６および前記ESI部２の流出パイプ９
のいずれかのイオン流出方向の前方には、第一細孔１
６，第二細孔１７が配置されるようになり、この細孔を
通じて質量分析部１８と連通している。
【００４０】したがって、前記ＡＰＣＩ部１，前記ＥＳ
Ｉ部２により生成したイオンは、それぞれ第一細孔１
６，第二細孔１７を通過し、質量分析部１８へ導入され
ることになる。
Ｉ部２により生成したイオンは、それぞれ第一細孔１
６，第二細孔１７を通過し、質量分析部１８へ導入され
ることになる。
【００４１】図示では、ＡＰＣＩ部１が前記第一細孔１
６，前記第二細孔１７，質量分析部１８とに対向する位
置にあり、質量分析をする状態にあることを示してい
る。
６，前記第二細孔１７，質量分析部１８とに対向する位
置にあり、質量分析をする状態にあることを示してい
る。
【００４２】前記回転台１１のつまみにより回転するこ
とにより前記ＥＳＩ部２が前記第一細孔１６，前記第二
細孔１７，質量分析部１８とに対向する位置に移動し、
かつ、前記切換スイッチ２８を前記ＡＰＣＩ側から前記
ＥＳＩ２側に切り換わり、前記電源２７の電圧が前記針
電極７から前記ガス導入管１０へ印加されることにより
前記ＥＳＩ部２がイオン化した試料を分析することとな
る。
とにより前記ＥＳＩ部２が前記第一細孔１６，前記第二
細孔１７，質量分析部１８とに対向する位置に移動し、
かつ、前記切換スイッチ２８を前記ＡＰＣＩ側から前記
ＥＳＩ２側に切り換わり、前記電源２７の電圧が前記針
電極７から前記ガス導入管１０へ印加されることにより
前記ＥＳＩ部２がイオン化した試料を分析することとな
る。
【００４３】このようにしてＡＰＣＩ部１，ＥＳＩ部２
の切り換えが可能となり、それぞれのイオン化法により
イオン化された試料の分析が行われることになる。
の切り換えが可能となり、それぞれのイオン化法により
イオン化された試料の分析が行われることになる。
【００４４】なお、イオン源切り換えにあたっては、イ
オン源の測定条件（ドリフト電圧，イオン化室温度）を
予め決めておいても良いし、これらの測定条件をその都
度、設定しても良い。
オン源の測定条件（ドリフト電圧，イオン化室温度）を
予め決めておいても良いし、これらの測定条件をその都
度、設定しても良い。
【００４５】ところで、一般に、アミノ酸のように極性
が小さい試料を分析するためにはＡＰＣＩによるイオン
化が適していると考えられており、一方、蛋白質のよう
な高分子化合物を分析するためにはＥＳＩによるイオン
化が適していると考えられている。このように測定試料
に応じた適切なイオン化があり、測定試料に応じて選択
することが望ましい。
が小さい試料を分析するためにはＡＰＣＩによるイオン
化が適していると考えられており、一方、蛋白質のよう
な高分子化合物を分析するためにはＥＳＩによるイオン
化が適していると考えられている。このように測定試料
に応じた適切なイオン化があり、測定試料に応じて選択
することが望ましい。
【００４６】このシステムでは、まず、試料をＡＰＣＩ
によりイオン化して質量分析を行い、次に、ＥＳＩによ
りイオン化して質量分析を行う。そして、ＡＰＣＩ及び
ESIの質量分析結果に基づいて、ＡＰＣＩのみによる分
析で充分か、ＥＳＩのみによる分析で充分か、あるい
は、ＡＰＣＩとＥＳＩの両方の分析が必要か判断するよ
うになっている。
によりイオン化して質量分析を行い、次に、ＥＳＩによ
りイオン化して質量分析を行う。そして、ＡＰＣＩ及び
ESIの質量分析結果に基づいて、ＡＰＣＩのみによる分
析で充分か、ＥＳＩのみによる分析で充分か、あるい
は、ＡＰＣＩとＥＳＩの両方の分析が必要か判断するよ
うになっている。
【００４７】そして、その判断結果に応じて、次回から
においては、適切なイオン源を選択して、質量分析をす
すめる。
においては、適切なイオン源を選択して、質量分析をす
すめる。
【００４８】図３（ａ）において、ステップ３０１で測
定者はどのような測定試料を測定するか入力する。測定
試料の種類は記憶される。次に、ステップ３０２で、測
定者はモードを選択する。すなわち、仮測定モードと実
測定モードから一方を選択する。仮測定モードは、試料
に対して、ＡＰＣＩがふさわしいか、ＥＳＩがふさわし
いか、あるいは、ＡＰＣＩとＥＳＩの両方が必要か判断
するためのモードである。
定者はどのような測定試料を測定するか入力する。測定
試料の種類は記憶される。次に、ステップ３０２で、測
定者はモードを選択する。すなわち、仮測定モードと実
測定モードから一方を選択する。仮測定モードは、試料
に対して、ＡＰＣＩがふさわしいか、ＥＳＩがふさわし
いか、あるいは、ＡＰＣＩとＥＳＩの両方が必要か判断
するためのモードである。
【００４９】ステップ３０２で仮測定モードが選択され
ると、図３（ｂ）のフロチャートに移り、まず、ステッ
プ３１０で、回転台１１(図２)を回転させ、試料がＡＰ
ＣＩ部でイオン化されるようにする。さらに、実際に、
質量分析がなされ、分析結果にかかる情報が記憶され
る。
ると、図３（ｂ）のフロチャートに移り、まず、ステッ
プ３１０で、回転台１１(図２)を回転させ、試料がＡＰ
ＣＩ部でイオン化されるようにする。さらに、実際に、
質量分析がなされ、分析結果にかかる情報が記憶され
る。
【００５０】次に、ステップ３１４で、回転台１１（図
２）を回転させ、試料がＥＳＩ部２でイオン化されるよ
うにする。やはり、実際に質量分析を行い、分析結果に
かかる情報が記憶される。
２）を回転させ、試料がＥＳＩ部２でイオン化されるよ
うにする。やはり、実際に質量分析を行い、分析結果に
かかる情報が記憶される。
【００５１】次に、ステップ３１４で、ＡＰＣＩによる
分析結果及びＥＳＩによる分析結果がディスプレイの画
面に表示される。すなわち、まず、図４に示されるよう
な、ＡＰＣＩ及びＥＳＩによるＴＩＣ（Total Ion Curr
ent.所定時間における総信号量（イオン量））及び図５
に示されるマススペクトルが表示される。なお、APCIと
ＥＳＩに応じて表示の色を変えるとわかりやすい。図４
の例では、時間ｔ1 において、ＡＰＣＩにより検出され
たイオン量は、ＥＳＩにより検出されたイオン量より
も、かなり大きい。時間ｔ2 における両者の比較でも、
同様の傾向がみられる。さらに、時間ｔ3 及び時間ｔ4
では、ＡＰＣＩのみで検出が可能となっている。また、
図５に示されるマススペクトルにおいては、ほぼ全域の
ｍ／Ｚにわたって、ＡＰＣＩにより検出されたイオン量
が、ＥＳＩにより検出されたイオン量よりも大きい。す
なわち、このことは、ＡＰＣＩによれば充分な情報が得
られているが、ＥＳＩによると情報が失落することを意
味している。
分析結果及びＥＳＩによる分析結果がディスプレイの画
面に表示される。すなわち、まず、図４に示されるよう
な、ＡＰＣＩ及びＥＳＩによるＴＩＣ（Total Ion Curr
ent.所定時間における総信号量（イオン量））及び図５
に示されるマススペクトルが表示される。なお、APCIと
ＥＳＩに応じて表示の色を変えるとわかりやすい。図４
の例では、時間ｔ1 において、ＡＰＣＩにより検出され
たイオン量は、ＥＳＩにより検出されたイオン量より
も、かなり大きい。時間ｔ2 における両者の比較でも、
同様の傾向がみられる。さらに、時間ｔ3 及び時間ｔ4
では、ＡＰＣＩのみで検出が可能となっている。また、
図５に示されるマススペクトルにおいては、ほぼ全域の
ｍ／Ｚにわたって、ＡＰＣＩにより検出されたイオン量
が、ＥＳＩにより検出されたイオン量よりも大きい。す
なわち、このことは、ＡＰＣＩによれば充分な情報が得
られているが、ＥＳＩによると情報が失落することを意
味している。
【００５２】さらに、図６に示されるように、デイプレ
イには、ＡＰＣＩ及びＥＳＩの各々について、時間に対
する信号強度（イオン量），ｍ／Ｚに対する信号強度
（イオン量），組成元素及び化合式が数値化されて表示
される。
イには、ＡＰＣＩ及びＥＳＩの各々について、時間に対
する信号強度（イオン量），ｍ／Ｚに対する信号強度
（イオン量），組成元素及び化合式が数値化されて表示
される。
【００５３】ステップ３１６で、このような情報に基づ
いて、測定者は、この試料に対する適切なイオン化を選
択する。すなわち、ＡＰＣＩ，ＥＳＩ，ＡＰＣＩとＥＳ
Ｉの両方のなかから選択する。この情報は記憶される。
この分析結果により、試料に応じた、ドリフト電圧，イ
オン化室温度等のイオン化条件を設定しても良い。
いて、測定者は、この試料に対する適切なイオン化を選
択する。すなわち、ＡＰＣＩ，ＥＳＩ，ＡＰＣＩとＥＳ
Ｉの両方のなかから選択する。この情報は記憶される。
この分析結果により、試料に応じた、ドリフト電圧，イ
オン化室温度等のイオン化条件を設定しても良い。
【００５４】なお、上記の例では、ＡＰＣＩがＥＳＩよ
り好ましい例を示したが、これとは逆に、他の試料では
ＥＳＩがＡＰＣＩよりも好ましいかもしれない。さら
に、ＡＰＣＩによる質量分析とＥＳＩによる質量分析を
両方行う必要がある場合も存在する。例えば、図４にお
いて、ＡＰＣＩではｔ1 におけるＡ及びｔ3 におけるＣ
が検出され、他のＢ及びＤが検出されず、ＥＳＩにおい
て、ｔ2 におけるＢ及びｔ4 におけるＤが検出され、Ａ
及びＣが検出されないような場合である。このような場
合は、ＡＰＣＩ及びＥＳＩにより測定を行い、両方のマ
ススペクトルを合成し、これに基づく分析結果が重要と
なる。
り好ましい例を示したが、これとは逆に、他の試料では
ＥＳＩがＡＰＣＩよりも好ましいかもしれない。さら
に、ＡＰＣＩによる質量分析とＥＳＩによる質量分析を
両方行う必要がある場合も存在する。例えば、図４にお
いて、ＡＰＣＩではｔ1 におけるＡ及びｔ3 におけるＣ
が検出され、他のＢ及びＤが検出されず、ＥＳＩにおい
て、ｔ2 におけるＢ及びｔ4 におけるＤが検出され、Ａ
及びＣが検出されないような場合である。このような場
合は、ＡＰＣＩ及びＥＳＩにより測定を行い、両方のマ
ススペクトルを合成し、これに基づく分析結果が重要と
なる。
【００５５】さらに、この例では、測定者がＡＰＣＩ，
ＥＳＩ又はＡＰＣＩとＥＳＩの両方の、いずれかを選択
しているが、あらかじめ、選択のためのプログラムを記
憶させ、自動的に選択させるようにしても良い。
ＥＳＩ又はＡＰＣＩとＥＳＩの両方の、いずれかを選択
しているが、あらかじめ、選択のためのプログラムを記
憶させ、自動的に選択させるようにしても良い。
【００５６】図３（ａ）のステップ３０２で実測モード
が選択されると、図３（ｃ）のステップ３２０で、測定
試料に応じてイオン源を選択する。これは、ステップ３
１６の選択結果（記憶されている）に基づいて選択され
る。なお、この測定試料が仮測定モードを経ていない場
合には、図７に示される関係に基づいて、自動的に、Ａ
ＰＣＩとＥＳＩから選択される。また、測定者が選択す
るようにしても良い。さらに、ステップ３２２で、質量
分析が実行される。例えば、ＡＰＣＩとＥＳＩによる両
方の分析を行って、両方の結果を合成して、両方の結果
に基づいて、ディスプレイに結果を表示する。
が選択されると、図３（ｃ）のステップ３２０で、測定
試料に応じてイオン源を選択する。これは、ステップ３
１６の選択結果（記憶されている）に基づいて選択され
る。なお、この測定試料が仮測定モードを経ていない場
合には、図７に示される関係に基づいて、自動的に、Ａ
ＰＣＩとＥＳＩから選択される。また、測定者が選択す
るようにしても良い。さらに、ステップ３２２で、質量
分析が実行される。例えば、ＡＰＣＩとＥＳＩによる両
方の分析を行って、両方の結果を合成して、両方の結果
に基づいて、ディスプレイに結果を表示する。
【００５７】図７は、本実施例で説明したＡＰＣとＥＳ
Ｉとに適した物質名を縦軸に、分子量を横軸とにとり、
適用範囲（斜線部）を描いたものである。
Ｉとに適した物質名を縦軸に、分子量を横軸とにとり、
適用範囲（斜線部）を描いたものである。
【００５８】ＡＰＣＩはアミノ酸，抗生物質，糖等の分
子量１０００〜２０００ダルトン，ＥＳＩはペプチド，
蛋白質等の分子量１０万ダルトン程度以上のイオン化に
それぞれ好適であり、本実施例により両者の適用が簡単
な切換操作で可能となる。
子量１０００〜２０００ダルトン，ＥＳＩはペプチド，
蛋白質等の分子量１０万ダルトン程度以上のイオン化に
それぞれ好適であり、本実施例により両者の適用が簡単
な切換操作で可能となる。
【００５９】また、これらの上記物質群は、ＬＣで最も
多く測定されるものであり、ＬＣ／ＭＳへ組み込むＭＳ
としてのその利用価値は計り知れない。
多く測定されるものであり、ＬＣ／ＭＳへ組み込むＭＳ
としてのその利用価値は計り知れない。
【００６０】〔実施例 ２〕次に、本発明の他の一実施
例に係る大気イオン化分析計のイオン源部を説明する。
例に係る大気イオン化分析計のイオン源部を説明する。
【００６１】図８において、図中、図１と同一符号は同
等部分であるので詳細な説明は省略する。新たな符号の
み説明する。１９は往復台、２０はオサエ金具、２１は
受台、２２はベアリング、２３は送りネジ、２４，２５
は支柱である。
等部分であるので詳細な説明は省略する。新たな符号の
み説明する。１９は往復台、２０はオサエ金具、２１は
受台、２２はベアリング、２３は送りネジ、２４，２５
は支柱である。
【００６２】〔実施例 １〕におけると同一のＡＰＣＩ
部１とＥＳＩ部２とは、往復台１９に固定装着されてい
る。
部１とＥＳＩ部２とは、往復台１９に固定装着されてい
る。
【００６３】前記往復台１９は、支柱２４，２５によっ
て支えられている受台２１と、ガイド兼用のオサエ金具
２０と、当該往復台１９を滑動させるためのベアリング
２２により往復移動するように構成されている。
て支えられている受台２１と、ガイド兼用のオサエ金具
２０と、当該往復台１９を滑動させるためのベアリング
２２により往復移動するように構成されている。
【００６４】前記往復台１９は、つまみ付の送りネじ２
３により往復運動を与えられ、図示においては、ＡＰＣ
Ｉ部１が、第一細孔１６，第二細孔１７，質量分析部１
８と対向する位置にあり、分析状態にあることを示して
いる。
３により往復運動を与えられ、図示においては、ＡＰＣ
Ｉ部１が、第一細孔１６，第二細孔１７，質量分析部１
８と対向する位置にあり、分析状態にあることを示して
いる。
【００６５】前記往復台１９により前記ＥＳＩ部２も分
析可能位置に移動すると共に、切換スイッチ２８がＡＰ
ＣＩ部１側からＥＳＩ部２側に切り換わることにより、
第一細孔１６，第二細孔１７，質量分析部１８に対向す
る位置となり、前記イオン源によりイオン化された試料
の分析が可能となる。
析可能位置に移動すると共に、切換スイッチ２８がＡＰ
ＣＩ部１側からＥＳＩ部２側に切り換わることにより、
第一細孔１６，第二細孔１７，質量分析部１８に対向す
る位置となり、前記イオン源によりイオン化された試料
の分析が可能となる。
【００６６】上記各実施例においては、複数個のイオン
源の切り換えを機械的に行わせる手段について説明した
が、これに限定されるものでなく電気的に実施しても差
し支えない。例えば所定の位置へ複数個のイオン源を配
置し、電気的に切り換えを実施する。
源の切り換えを機械的に行わせる手段について説明した
が、これに限定されるものでなく電気的に実施しても差
し支えない。例えば所定の位置へ複数個のイオン源を配
置し、電気的に切り換えを実施する。
【００６７】さらに、機械的，電気的両手段を併用して
も差し支えない。例えば所定の位置へ複数個のイオン源
を配置し、電気的に切り換えを実施し、さらに、機械的
に微調整を実施しても差し支えない。
も差し支えない。例えば所定の位置へ複数個のイオン源
を配置し、電気的に切り換えを実施し、さらに、機械的
に微調整を実施しても差し支えない。
【００６８】上記各実施例においては、下記のような具
体的結果があげられる。
体的結果があげられる。
【００６９】（１）ＡＰＣＩ，ＥＳＩなどの複数個のイ
オン源が、装着換えなどの操作なしに簡便、かつ、容易
に短時間で切換可能となる。従来のものでは約６０分要
していたが、本実施例では約３分にて実施できる。
オン源が、装着換えなどの操作なしに簡便、かつ、容易
に短時間で切換可能となる。従来のものでは約６０分要
していたが、本実施例では約３分にて実施できる。
【００７０】（２）ＡＰＣＩ，ＥＳＩなどの複数のイオ
ン源の利点を生かし、分析可能な測定対象を拡大でき
る。
ン源の利点を生かし、分析可能な測定対象を拡大でき
る。
【００７１】（３）一つの試料物質に対してもＡＰＣ
Ｉ，ＥＳＩなどの複数のイオン化法によりイオン化分析
することにより異なるマススペクトルが得られ、情報量
が多面化し、分子構造解析などが行い易くなる。
Ｉ，ＥＳＩなどの複数のイオン化法によりイオン化分析
することにより異なるマススペクトルが得られ、情報量
が多面化し、分子構造解析などが行い易くなる。
【００７２】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、複数個のイオン源を備え、かつ、複数個のイオン
源を短時間に切り換えることができる、分析対象が拡大
されたＬＣと直結しその長所を生かし、広範な対象物を
測定できる大気圧イオン化質量分析計を提供することが
できる。
れば、複数個のイオン源を備え、かつ、複数個のイオン
源を短時間に切り換えることができる、分析対象が拡大
されたＬＣと直結しその長所を生かし、広範な対象物を
測定できる大気圧イオン化質量分析計を提供することが
できる。
【図１】ＡＰＣＩが組み込まれたＬＣ／ＭＳの略示図で
ある。
ある。
【図２】大気圧イオン化ＭＳのイオン源縦断面図であ
る。
る。
【図３】分析動作を示すフローチャートである。
【図４】ＡＰＣＩ及びＥＳＩそれぞれにおけるＴＩＣを
示す図である。
示す図である。
【図５】ＡＰＣＩ及びＥＳＩそれぞれにおけるマススペ
クトルを示す図である。
クトルを示す図である。
【図６】分析結果の表示内容を示す図である。
【図７】分析対象物質に応じてイオン源の選択を示す図
である。
である。
【図８】第２の実施例における、ＬＣ／ＭＳのイオン源
縦断面図である。
縦断面図である。
１…ＡＰＣＩ部、２…ＥＳＩ部、３…流出パイプ、４…
霧化器、５，８，１４，１５…支柱、６…脱溶媒室、７
…針電極、９…流出パイプ、１０…ガス導入管、１１…
回転台、１２…オサエリング、１３，２１…受台、１６
…第一細孔、１７…第二細孔、１８…質量分析部、１９
…往復台、２０…オサオ金具、２２…ベアリング、２３
…送りネジ、２４…ＬＣポンプ、２５…ＬＣカラム、２
６…質量分析計、２７…電源、２８…切換スイッチ。
霧化器、５，８，１４，１５…支柱、６…脱溶媒室、７
…針電極、９…流出パイプ、１０…ガス導入管、１１…
回転台、１２…オサエリング、１３，２１…受台、１６
…第一細孔、１７…第二細孔、１８…質量分析部、１９
…往復台、２０…オサオ金具、２２…ベアリング、２３
…送りネジ、２４…ＬＣポンプ、２５…ＬＣカラム、２
６…質量分析計、２７…電源、２８…切換スイッチ。
Claims (13)
- 【請求項１】液体クロマトグラフで分離し、大気圧イオ
ン化イオン源で前記分離成分を霧化，イオン化し、質量
分析を行う質量分析計において、 前記大気圧イオン化イオン源を複数個と、前記複数個の
イオン源を切り換える切換器とを備えたことを特徴とす
る質量分析計。 - 【請求項２】複数個の大気圧イオン化イオン源は、大気
圧化学イオン化イオン源とエレクトロスプレイイオン化
イオン源との組合せにより構成されていることを特徴と
する請求項１記載の質量分析計。 - 【請求項３】前記切換器は、前記各イオン源を機械的手
段により所定位置へ配設するようにしたことを特徴とす
る請求項１記載の質量分析計。 - 【請求項４】前記切換器は、所定位置へ配設した前記各
イオン源を電気的手段により切り換えるようにしたこと
を特徴とする請求項１記載の質量分析計。 - 【請求項５】前記切換器は、所定位置へ配設した前記各
イオン源を電気的手段により切り換えるようにし、か
つ、前記各イオン源の所定位置を機械的手段により微調
整するようにしたことを特徴とする請求項１記載の質量
分析計。 - 【請求項６】所定の位置へ機械的に配設する手段は、各
イオン源が所定の軌道上を回動するようにしたことを特
徴とする請求項３記載の質量分析計。 - 【請求項７】所定の位置へ機械的に配設する手段は、各
イオン源が所定の軌道上を往復運動するようにしたこと
を特徴とする請求項３記載の質量分析計。 - 【請求項８】前記複数のイオン源によるイオン化をそれ
ぞれ行い、これに基づいてイオン源を切り換えることを
特徴とする請求項１記載の質量分析計。 - 【請求項９】試料に応じてイオン源を選択することを特
徴とする請求項１記載の質量分析計。 - 【請求項１０】複数のイオン源と、前記イオン源を切り
換える切換器と、前記切換器からのイオン化された試料
を質量分析する質量分析部を有したことを特徴とする質
量分析計。 - 【請求項１１】同一の試料が前記複数のイオン源でイオ
ン化が可能な構成であることを特徴とする請求項１０記
載の質量分析計。 - 【請求項１２】液体クロマトグラフで分離し、大気圧化
イオン化イオン源で前記分離成分を霧化し、イオン化
し、質量分析を行う質量分析計において、 前記大気圧イオン化イオン源を複数個備え、さらに、前
記複数の大気圧イオン化イオン源を並列的に設置し、前
記複数の大気圧イオン化イオン源を前記並列方向に移動
する手段を有したことを特徴とする質量分析計。 - 【請求項１３】液体クロマトグラフで分離し、複数の大
気圧イオン源を切り換え、この切り換えた大気圧イオン
源でイオン化し、質量分析を行うことを特徴とする質量
分析計方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14897794A JP3271431B2 (ja) | 1993-06-30 | 1994-06-30 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16051793 | 1993-06-30 | ||
| JP5-160517 | 1993-06-30 | ||
| JP14897794A JP3271431B2 (ja) | 1993-06-30 | 1994-06-30 | 質量分析計 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001269633A Division JP2002157971A (ja) | 1993-06-30 | 2001-09-06 | 質量分析計及び質量分析方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0773848A true JPH0773848A (ja) | 1995-03-17 |
| JP3271431B2 JP3271431B2 (ja) | 2002-04-02 |
Family
ID=26479001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14897794A Expired - Fee Related JP3271431B2 (ja) | 1993-06-30 | 1994-06-30 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3271431B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08236064A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
| JPH09178705A (ja) * | 1995-12-26 | 1997-07-11 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP2005528746A (ja) * | 2002-05-31 | 2005-09-22 | ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド | 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源 |
| JP2009192388A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| CN109187711A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-11 | 东华理工大学 | 一种封闭式电喷雾萃取电离源装置 |
| JP2020507883A (ja) * | 2016-12-19 | 2020-03-12 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・カナダ・インコーポレイテッドＰｅｒｋｉｎｅｌｍｅｒ Ｈｅａｌｔｈ Ｓｃｉｅｎｃｅｓ Ｃａｎａｄａ， Ｉｎｃ． | 無機および有機質量分析法システムおよびその使用方法 |
| WO2023089685A1 (ja) * | 2021-11-17 | 2023-05-25 | 株式会社日立ハイテク | 質量分析計、および質量分析計の制御方法 |
-
1994
- 1994-06-30 JP JP14897794A patent/JP3271431B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08236064A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Shimadzu Corp | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
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| JP2009192388A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
| JP2020507883A (ja) * | 2016-12-19 | 2020-03-12 | パーキンエルマー・ヘルス・サイエンシーズ・カナダ・インコーポレイテッドＰｅｒｋｉｎｅｌｍｅｒ Ｈｅａｌｔｈ Ｓｃｉｅｎｃｅｓ Ｃａｎａｄａ， Ｉｎｃ． | 無機および有機質量分析法システムおよびその使用方法 |
| US11056327B2 (en) | 2016-12-19 | 2021-07-06 | Perkinelmer Health Sciences Canada, Inc. | Inorganic and organic mass spectrometry systems and methods of using them |
| CN109187711A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-11 | 东华理工大学 | 一种封闭式电喷雾萃取电离源装置 |
| CN109187711B (zh) * | 2018-09-19 | 2024-01-19 | 东华理工大学 | 一种封闭式电喷雾萃取电离源装置 |
| WO2023089685A1 (ja) * | 2021-11-17 | 2023-05-25 | 株式会社日立ハイテク | 質量分析計、および質量分析計の制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3271431B2 (ja) | 2002-04-02 |
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