JPH076754U - Appearance inspection device - Google Patents

Appearance inspection device

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Publication number
JPH076754U
JPH076754U JP3596693U JP3596693U JPH076754U JP H076754 U JPH076754 U JP H076754U JP 3596693 U JP3596693 U JP 3596693U JP 3596693 U JP3596693 U JP 3596693U JP H076754 U JPH076754 U JP H076754U
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JP
Japan
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image
observation system
stage
coordinates
micro
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Application number
JP3596693U
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Japanese (ja)
Inventor
新一 土坂
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optic Co Ltd
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本考案は、マクロ観察からミクロ観察への移行
を自動化し、欠陥部の座標入力を簡単化する外観検査装
置の提供を目的とする。 【構成】本外観検査装置は、マクロ観察系17、ミクロ
観察系18、マクロ観察系17及びミクロ観察系18の
双方の観察領域内を移動可能なステージ14,15と、
マクロ観察系17の像を取り込む第1の画像入力手段2
2と、ミクロ観察系18の像を取込む第2の画像入力手
段27と、取込んだ像を可視化するモニタ手段39とを
備えている。またマクロ観察系18で取込まれ表示され
た像の注目部位を座標指定手段41で指定し、その入力
座標をステージ制御手段でステージ上の座標へ変換し、
さらに注目部位をミクロ観察系18の光軸位置へ移動さ
せるステージ制御量を算出するものとした。
(57) [Summary] [Object] The present invention aims to provide a visual inspection apparatus that automates the transition from macro observation to micro observation and simplifies coordinate input of defects. [Structure] This appearance inspection apparatus includes stages 14 and 15 that are movable in the observation regions of a macro observation system 17, a micro observation system 18, a macro observation system 17, and a micro observation system 18,
First image input means 2 for capturing an image of the macro observation system 17
2, second image input means 27 for capturing an image of the micro observation system 18, and monitor means 39 for visualizing the captured image. Further, the attention site of the image captured and displayed by the macro observation system 18 is designated by the coordinate designating means 41, and the input coordinates are converted into the coordinates on the stage by the stage controlling means,
Further, the stage control amount for moving the attention site to the optical axis position of the micro observation system 18 is calculated.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、ウエハ,液晶ガラス基板等の被検体の外観検査に用いる外観検査装 置に係り、さらに詳しくはマクロ観察系とミクロ観察系を同一ステージ上に配し てマクロ観察系からミクロ観察系への切換えを行うことのできる外観検査装置に 関する。 The present invention relates to a visual inspection apparatus used for visual inspection of an object such as a wafer or a liquid crystal glass substrate. More specifically, a macro observation system and a micro observation system are arranged on the same stage, and the macro observation system to the micro observation system are arranged. The present invention relates to a visual inspection device capable of switching to.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

ウエハ,液晶ガラス基板等の製造工程では、各膜付け工程,パターン焼付け工 程及びエッチング工程毎に基板上の欠陥の有無を検査している。例えば、液晶の TFT基板の検査では、各工程毎にマクロ観察を行って基板上の欠陥を検出し、 基板上に欠陥を発見したならばその欠陥部にマークを付けておく。次に、マクロ 観察で発見した欠陥部を顕微鏡によるミクロ観察により詳細に検査していた。 In the manufacturing process of wafers, liquid crystal glass substrates, etc., the existence of defects on the substrate is inspected at each film forming process, pattern baking process and etching process. For example, in the inspection of a liquid crystal TFT substrate, macroscopic observation is performed in each process to detect defects on the substrate, and if a defect is found on the substrate, the defective portion is marked. Next, the defects found by macro observation were inspected in detail by micro observation with a microscope.

【0003】 ところが、マクロ観察とミクロ観察とは独立したステージ上で各々個別に実施 しており、しかもミクロ観察ではマクロ観察で付けたマークを頼りに,目視にて ,基板上の欠陥部(マーク)をミクロ観察系に備えられた対物レンズの光軸位置 へ位置付けしなければならず、その作業が極めて煩雑であった。However, the macro observation and the micro observation are performed separately on each stage, and in the micro observation, the defects (marks) on the substrate can be visually observed by relying on the marks made in the macro observation. ) Had to be positioned at the optical axis position of the objective lens provided in the micro observation system, and the work was extremely complicated.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

以上のような技術背景において、本出願人は特願平4−132577号におい て、同一ステージ上にマクロ観察系とミクロ観察系とを配し、マクロ観察で発見 した欠陥部を容易にミクロ観察系の光軸下へ移動可能に構成した外観検査装置を 提案している。 Under the above technical background, in the Japanese Patent Application No. 4-132577, the present applicant arranges a macro observation system and a micro observation system on the same stage so that the defect portion found by macro observation can be easily micro observed. We are proposing a visual inspection device that can be moved below the optical axis of the system.

【0005】 かかる装置は、図13に示すように、装置本体1、装置本体1に対しX方向へ 移動自在に取付けられたステージ2、装置本体1に保持されステージ2上に配置 されたマクロ観察系3,装置本体1に保持されマクロ観察系3に隣接するステー ジ2上に配置されたミクロ観察系4,マクロ観察系3及びミクロ観察系4の相互 間の相対座標を表示する座標表示装置5等とを備えている。As shown in FIG. 13, such an apparatus includes an apparatus body 1, a stage 2 movably attached to the apparatus body 1 in the X direction, and a macroscopic observation held by the apparatus body 1 and arranged on the stage 2. Coordinate display device for displaying relative coordinates among the micro observation system 4, the macro observation system 3, and the micro observation system 4, which are held on the system 3 and the apparatus body 1 and arranged on the stage 2 adjacent to the macro observation system 3. It has 5 mag.

【0006】 このような装置では、マクロ観察系3において発見された欠陥部を順次スポッ ト照明装置6のスポット照明位置Sに配置し、その都度、フットスイッチ7を押 して座標表示装置5に座標入力する。欠陥部をミクロ観察系へ移動する場合は、 基板をステージ2に載せたままステージ2をミクロ観察系へ移動し、座標表示装 置5に表示される相対座標が0になるようにステージ2を移動させることにより 欠陥部を対物レンズ8の光軸位置に一致させることができる。In such an apparatus, the defective portion found in the macro observation system 3 is sequentially arranged at the spot illumination position S of the spot illumination device 6, and the foot switch 7 is pressed each time to display the defect on the coordinate display device 5. Enter the coordinates. When moving the defective portion to the micro observation system, the stage 2 is moved to the micro observation system while the substrate is still mounted on the stage 2, and the stage 2 is moved so that the relative coordinates displayed on the coordinate display device 5 become zero. By moving, the defective portion can be aligned with the optical axis position of the objective lens 8.

【0007】 しかしながら、上述した外観検査装置は、基板上に発見した欠陥部の座標入力 を行うために、欠陥部をスポット照明位置Sに配置しなければならない。現実に は、大型のステージ2を動かして基板上に落としたスポットに欠陥部を重ね合わ せる作業が必要である。その様な作業は大型のステージ2を微動調整しなければ ならないため観察者に多大な負担を強いていた。However, in the above-described appearance inspection apparatus, in order to input the coordinates of the defective portion found on the substrate, the defective portion must be arranged at the spot illumination position S. In reality, it is necessary to move the large stage 2 to superimpose the defective portion on the spot dropped on the substrate. Such a work imposes a great burden on the observer because the large stage 2 must be finely adjusted.

【0008】 また基板上に落としたスポットに欠陥部を重ね合わせる作業は、ステージ2上 の基板に覆い被さるような姿勢で欠陥を探すこととなるので、作業者から基板上 に塵が落下する可能性が高いという問題がある。Further, the work of superposing the defective portion on the spot dropped on the substrate involves searching for the defect in such a posture as to cover the substrate on the stage 2, so that dust can drop on the substrate from the operator. There is a problem that the property is high.

【0009】 本考案は、以上のような実情に鑑みてなされたもので、マクロ観察からミクロ 観察への移行を自動化することができ、欠陥部の座標入力に際してステージ操作 を削減することができ、作業者から基板上に塵が落下する可能性を低減でき、し かも欠陥の分類や数等の工程の品質管理に必要データを獲得することのできる外 観検査装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, can automate the transition from macro observation to micro observation, and can reduce the stage operation at the time of inputting the coordinates of the defect portion, It is an object of the present invention to provide an appearance inspection device that can reduce the possibility of dust falling on a substrate from an operator and can acquire data necessary for quality control of processes such as classification and number of defects. .

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上記目的を達成するために本考案の外観検査装置は、マクロ観察領域に配置さ れた被検体からの物体光を取込んで所定倍率で拡大又は縮小した被検体像を形成 するマクロ観察系と、ミクロ観察領域に配置された被検体からの物体光を取込ん でマクロ観察系よりも大きな倍率で拡大した拡大像を形成するミクロ観察系と、 前記被検体を載置した状態で前記マクロ観察系及び前記ミクロ光学系の双方の観 察領域内を移動可能なステージと、前記マクロ観察系により形成された被検体像 を画像信号に変換する第1の画像入力手段と、前記ミクロ観察系により形成され た被検体像を画像信号に変換する第2の画像入力手段と、前記第1の画像入力手 段及び前記第2の画像入力手段で変換された各被検体像の画像信号を可視化する モニタ手段と、前記マクロ観察系で取込まれ前記モニタ手段で表示された被検体 像の注目部位を座標指定すると共に各指定座標を記憶する座標指定手段と、ステ ージ原点に対する前記ミクロ観察系の光軸位置が予め記憶され、前記座標指定手 段に記憶した注目部位の指定座標をステージ上の座標へ変換し、その変換座標と 前記ミクロ観察系の光軸位置とステージの現在位置とから前記注目部位を前記ミ クロ観察系の光軸位置へ移動させるステージ制御量を算出するステージ制御手段 とを具備する構成とした。 In order to achieve the above object, the appearance inspection apparatus of the present invention comprises a macro observation system that captures object light from a subject placed in a macro observation area and forms a subject image enlarged or reduced at a predetermined magnification. , A micro observation system that captures the object light from the subject placed in the micro observation region and forms a magnified image at a magnification greater than that of the macro observation system, and the macro observation while the subject is mounted A stage movable in the observation areas of both the optical system and the micro optical system, first image input means for converting an object image formed by the macro observation system into an image signal, and the micro observation system. Second image input means for converting the formed subject image into an image signal, and visualizing the image signal of each subject image converted by the first image input means and the second image input means. Monitoring means, The coordinate designation means for designating the coordinates of the region of interest of the subject image captured by the macro observation system and displayed by the monitor means and storing each designated coordinate, and the optical axis position of the micro observation system with respect to the stage origin. Is stored in advance, and the designated coordinates of the region of interest stored in the coordinate designating means are converted into coordinates on the stage, and the region of interest is identified from the converted coordinates, the optical axis position of the micro observation system, and the current position of the stage. Stage control means for calculating a stage control amount for moving to the optical axis position of the micro observation system.

【0011】 また本発明の外観検査装置は、上記の構成に加え、前記モニタ手段により被検 体像が表示されるモニタ画面上に、今回座標入力対象となっているエリアに隣接 するエリアの一部まで表示するエリア表示手段と、前記座標入力対象のエリア外 に前記座標指定手段で既に座標指定済みの注目部位があれば当該注目部位に座標 入力済みのマークを表示し、かつ、座標入力対象のエリア内で前記座標指定手段 による座標入力があればその部分に逐次座標入力済みマークを表示するマーク表 示手段とを具備する構成とした。Further, in addition to the above-mentioned configuration, the appearance inspection apparatus of the present invention has one of the areas adjacent to the area which is the current coordinate input target on the monitor screen on which the object image is displayed by the monitor means. Area display means for displaying up to a part, and if there is a target site whose coordinates have already been designated by the coordinate designating means outside the area for the coordinate input target, the coordinate input mark is displayed on the target site, and If there is a coordinate input by the coordinate designating means in the area, a mark displaying means for sequentially displaying the coordinate input completed mark is provided at that portion.

【0012】[0012]

【作用】[Action]

本考案の外観検査装置によれば、マクロ観察系により形成された被検体像が第 1の画像入力手段により画像信号に変換され、その画像信号がモニタ手段により 可視化される。モニタ手段に表示された被検体像の注目部位が座標指定手段によ り座標指定されると当該指定座標が記憶される。ステージ制御手段では注目部位 の指定座標がステージ上の座標へ変換され、その変換座標とミクロ観察系の光軸 位置とステージ位置とから注目部位をミクロ観察系の光軸位置へ移動させるため のステージ制御量が算出される。この算出されたステージ制御量でステージを駆 動すれば、注目部位がミクロ観察系の光軸位置へ移動できるものとなる。 According to the appearance inspection apparatus of the present invention, the subject image formed by the macro observation system is converted into the image signal by the first image input means, and the image signal is visualized by the monitor means. When the coordinates of the region of interest of the subject image displayed on the monitor means are designated by the coordinate designation means, the designated coordinates are stored. The stage control means converts the designated coordinates of the region of interest into coordinates on the stage, and the stage for moving the region of interest to the position of the optical axis of the micro observation system from the transformed coordinates, the position of the optical axis of the micro observation system, and the stage position. The controlled variable is calculated. If the stage is driven with this calculated stage control amount, the region of interest can be moved to the optical axis position of the micro observation system.

【0013】 また本考案の外観検査装置によれば、モニタ手段のモニタ画面上にエリア表示 手段によって座標入力対象エリアに隣接エリアの一部も合わせて表示させる。こ の表示画面に対してマーク表示手段が次のような加工を加える。すなわち、座標 入力対象エリア外に座標指定手段で既に座標指定済みの注目部位があれば当該注 目部位に座標入力済みのマークが表示される。また指定エリア内で座標指定手段 による座標入力があればその部分に逐次座標入力済みマークが表示される。Further, according to the appearance inspection apparatus of the present invention, a part of the adjacent area is also displayed in the coordinate input target area by the area display means on the monitor screen of the monitor means. The mark display means performs the following processing on this display screen. That is, if there is a region of interest that has already been coordinate-designated by the coordinate designating means outside the coordinate input target area, the coordinate-designated mark is displayed on the target region. Further, if there is a coordinate input by the coordinate designating means in the designated area, the coordinate input completed mark is successively displayed at that portion.

【0014】[0014]

【実施例】【Example】

以下、本考案の実施例について説明する。 図1は本考案の一実施例に係る外観検査装置の機能構成を示しており、図2は 同装置の外観を示している。 Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 shows a functional configuration of an appearance inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows an appearance of the apparatus.

【0015】 本実施例の外観検査装置は、顕微鏡基台11の上端面に一対のガイドレール1 2がY方向に向けて配設されており、そのガイドレール12にYステージ13が 摺動自在に載置されている。Yステージ13の中央部は方形状に開口しており、 開口部を挟んで一対のガイドレール14がX方向に向けて配設されている。ガイ ドレール14にはXステージ15がX方向へ移動自在に載置されている。以下、 Yステージ14,Xステージ15を包括して呼ぶ場合は、XYステージと呼ぶ。In the appearance inspection apparatus of this embodiment, a pair of guide rails 12 are arranged on the upper end surface of a microscope base 11 in the Y direction, and a Y stage 13 is slidable on the guide rails 12. It is placed in. The central portion of the Y stage 13 is opened in a rectangular shape, and a pair of guide rails 14 are arranged so as to sandwich the opening in the X direction. An X stage 15 is mounted on the guide rail 14 so as to be movable in the X direction. Hereinafter, when the Y stage 14 and the X stage 15 are collectively referred to, they are referred to as an XY stage.

【0016】 XYステージの上方には顕微鏡基台11に固定されたアーム16が設けられて いる。Xステージ15の移動領域上方には、X方向の一端側にアーム16に保持 されたマクロ観察系17が配置され、X方向の他端側にアーム16に保持された ミクロ観察系18が配置されている。An arm 16 fixed to the microscope base 11 is provided above the XY stage. Above the moving area of the X stage 15, a macro observation system 17 held by the arm 16 is arranged at one end side in the X direction, and a micro observation system 18 held by the arm 16 is arranged at the other end side in the X direction. ing.

【0017】 マクロ観察系17は、観察光軸を中心にマクロ観察領域Sをマクロ照明するマ クロ照明装置19、広視野,低倍率(1/40〜1/5程度)のTVレンズ21 、そのTVレンズ21を介して取り込まれた基板像をTV信号に変換するマクロ TVカメラ22を備えている。The macro observation system 17 includes a macro illumination device 19 for macro-illuminating the macro observation area S around the observation optical axis, a wide field of view, and a low-magnification (about 1/40 to 1/5) TV lens 21, It is provided with a macro TV camera 22 which converts a board image taken in through the TV lens 21 into a TV signal.

【0018】 ミクロ観察系18は、観察光軸(対物光軸)を中心にミクロ観察領域を照明す るミクロ照明装置23、対物レンズ24及び接眼レンズ25等からなる顕微鏡、 対物レンズ25から取り込まれた欠陥像をTVカメラレンズ26を介して受光面 に投影しTV信号に変換するミクロTVカメラ27を備えている。The micro-observation system 18 is incorporated from the objective lens 25, a microscope including a micro-illuminator 23 for illuminating a micro-observation region around the observation optical axis (objective optical axis), an objective lens 24 and an eyepiece lens 25, and the like. A micro TV camera 27 for projecting the defective image onto a light receiving surface through a TV camera lens 26 and converting it into a TV signal is provided.

【0019】 本外観検査装置は、図1に示すように、XYステージを移動させるための動力 源となるモータ31を備えている。コンピュータ32がコントローラ33に指令 を与えることにより、コントローラ33がドライバ34を介してモータ31の駆 動量を制御している。As shown in FIG. 1, the appearance inspection apparatus includes a motor 31 that serves as a power source for moving the XY stage. When the computer 32 gives a command to the controller 33, the controller 33 controls the driving amount of the motor 31 via the driver 34.

【0020】 XYステージの側面にはスケール35が設けられており、そのスケール35の 目盛りをセンサ36が読み取ってスケールカウンタ37へ出力している。スケー ルカウンタ37のカウント値はコントローラ33を介してコンピュータ32に入 力されている。A scale 35 is provided on the side surface of the XY stage, and a scale of the scale 35 is read by a sensor 36 and output to a scale counter 37. The count value of the scale counter 37 is input to the computer 32 via the controller 33.

【0021】 マクロTVカメラ22及びミクロTVカメラ27からの各TV信号は切換器3 8に入力する。この切換器38は、コンピュータ32から与えられる切換信号に よりいずれか一方のTV信号を選択して表示装置39へ送出する。Each TV signal from the macro TV camera 22 and the micro TV camera 27 is input to the switch 38. The switch 38 selects one of the TV signals according to the switching signal given from the computer 32 and sends it to the display device 39.

【0022】 またコンピュータ32には座標指定手段の一部を構成するマウス41が接続さ れており、表示装置39の画面上にマウスマークが画像処理回路42により表示 されるようになっている。なお、本実施例で座標という場合は、XYステージに 関して予め設定した原点からの位置を言うものとする。A mouse 41 forming part of the coordinate designating means is connected to the computer 32, and a mouse mark is displayed on the screen of the display device 39 by the image processing circuit 42. It should be noted that, in the present embodiment, the term "coordinates" means the position from the origin set in advance for the XY stage.

【0023】 マウス41は、座標入力を指示する入力ボタン41aと,入力座標を取消すた めの取消しボタン41bとが設けられている。さらにコンピュータ32には、フ ロッピーディスク43,キーボード44が接続されている。The mouse 41 is provided with an input button 41a for instructing coordinate input and a cancel button 41b for canceling input coordinates. Further, a floppy disk 43 and a keyboard 44 are connected to the computer 32.

【0024】 なお、マクロ照明装置19による照明領域Sは直径100mm程度にしている 。これはマクロTVカメラ22のTVレンズ21の倍率を1/10として、マク ロTVカメラ22の撮像管の大きさを2/3インチとすると、実受光面が8×6 mm程度であるから、8×6mmの長方形の対角長10mmにレンズ倍率を掛け た値である。ただし、この設定は液晶パターンとカメラの大きさとに起因したモ アレを考慮して設定すべきであり、ここでは説明を判り易くするため上述の設定 とした。実際の1エリアの寸法は、80×60mm(TVカメラ22の受光面上 での8×6mmに対応)である。The illumination area S of the macro illumination device 19 has a diameter of about 100 mm. If the magnification of the TV lens 21 of the macro TV camera 22 is 1/10 and the size of the image pickup tube of the macro TV camera 22 is 2/3 inch, the actual light receiving surface is about 8 × 6 mm. It is a value obtained by multiplying the diagonal length of an 8 × 6 mm rectangle by 10 mm by the lens magnification. However, this setting should be set considering the moire caused by the liquid crystal pattern and the size of the camera, and the above setting is used here for the sake of clarity. The actual size of one area is 80 × 60 mm (corresponding to 8 × 6 mm on the light receiving surface of the TV camera 22).

【0025】 本実施例では、図5に示すように、基板10を6×5のマトリクス状に分割し 、A1,A2,……,F5,F6の順番で順次マクロ観察していくようにプログ ラムを組んでおく。そのため、マクロ観察系17の光軸とミクロ観察系18の対 物レンズ24の光軸との間の距離L1、及びXステージ13及びYステージ15 に設定された原点座標を予めコンピュータ32に記憶し、さらに各エリアに関し てエリア中心がTVカメラ22の光軸中心に一致(モニタ画面の中心と合致する )する座標を求めてコンピュータ32に予め設定しておく。In the present embodiment, as shown in FIG. 5, the substrate 10 is divided into a matrix of 6 × 5, and macroscopic observation is sequentially performed in the order of A1, A2, ..., F5, F6. Put the ram together. Therefore, the distance L1 between the optical axis of the macro observation system 17 and the optical axis of the object lens 24 of the micro observation system 18 and the origin coordinates set in the X stage 13 and the Y stage 15 are stored in the computer 32 in advance. Further, regarding each area, the coordinates at which the center of the area matches the center of the optical axis of the TV camera 22 (matches the center of the monitor screen) are obtained and set in advance in the computer 32.

【0026】 次に、以上のように構成された本実施例の動作について、図3及び図4を参照 して説明する。 コンピュータ32がキーボード44からマクロ観察要求を受信すると、スケー ルカウンタ37の値からXYステージの現在の座標を判断し、XYステージの座 標とエリアA1の中心座標とが一致するように、コントローラ33に指令を送出 し、コントローラ33でドライバ34を制御する。それと同時に、切換器38に 対して切換信号を送出してマクロTVカメラ22からのTV信号を選択して表示 装置39に入力する。その結果、図6に示すように、表示装置39のモニタ画面 Mには、エリアA1の中心がモニタ中心Oに来たマクロ観察像(基板像)が表示 される。また同一画面M上にマウスマークQが表示される。Next, the operation of this embodiment configured as described above will be described with reference to FIGS. 3 and 4. When the computer 32 receives the macro observation request from the keyboard 44, it determines the current coordinates of the XY stage from the value of the scale counter 37 and instructs the controller 33 to match the coordinates of the XY stage with the center coordinates of the area A1. The controller 33 controls the driver 34 by sending a command. At the same time, a switching signal is sent to the switching device 38 to select the TV signal from the macro TV camera 22 and input it to the display device 39. As a result, as shown in FIG. 6, on the monitor screen M of the display device 39, a macro observation image (substrate image) in which the center of the area A1 comes to the monitor center O is displayed. Also, a mouse mark Q is displayed on the same screen M.

【0027】 ここで、観察者はマウス41を操作しモニタ画面M上の欠陥部にマウスマーク Qを重ね合わせ、マウス41の入力ボタン41aを押す。 マウス41の入力ボタン41aが押されると、モニタ画面M上でのマウスマー ク位置とモニタ中心Oとの距離L2が画像処理回路42で読み取られる。その読 取られた距離L2をTVレンズ21の倍率に対応した値に変換し、XYステージ 上での座標に変換する。この様にして求めた欠陥部の入力座標は、欠陥部番号と 共に記憶部に記憶される。欠陥部番号はシリアル番号でナンバリングするものと する。コンピュータ32は、欠陥部の座標入力と同時に、キーボード44から欠 陥の種類を受け付ける。例えば、キーボードの数字キー(1番から30番)に対 して欠陥の種類を予め割り付けておく。そして1番キーならば「キズ」、2番キ ーならば「パーティクル」といった具合にコンピュータ側で欠陥の種類を認識す る。Here, the observer operates the mouse 41 to overlay the mouse mark Q on the defective portion on the monitor screen M, and presses the input button 41 a of the mouse 41. When the input button 41a of the mouse 41 is pressed, the distance L2 between the mouse mark position on the monitor screen M and the monitor center O is read by the image processing circuit 42. The read distance L2 is converted into a value corresponding to the magnification of the TV lens 21, and converted into coordinates on the XY stage. The input coordinates of the defective portion thus obtained are stored in the storage unit together with the defective portion number. The defective part number shall be numbered by the serial number. The computer 32 accepts the type of defect from the keyboard 44 at the same time when the coordinates of the defective portion are input. For example, the defect types are assigned in advance to the numeric keys (1 to 30) of the keyboard. The computer recognizes the type of defect, such as "scratch" for the 1st key and "particles" for the 2nd key.

【0028】 コンピュータ32では、欠陥の種類に応じて予め格納しておいた異なる形状の マークをモニタ画面上の欠陥部に重ねて表示させる。図6に示す例では、「キズ 」と認識した欠陥部を丸いマークRで表示している。In the computer 32, marks having different shapes stored in advance according to the type of defect are displayed so as to be superimposed on the defective portion on the monitor screen. In the example shown in FIG. 6, a defective portion recognized as a “scratch” is indicated by a round mark R.

【0029】 次に、当該エリアA1での座標入力の終了指示があれば、次のエリアA2へ移 行する。エリア変更は、XYステージの現在の座標と移動後の座標とが予め判っ ているので、隣接エリアの中心をモニタ画面中心に一致させ得るステージ制御量 を予め設定しておく。そのステージ制御量だけモータ31を駆動することにより 、隣接するエリアの中心がモニタ画面の中心に一致するだけXYステージが移動 する。Next, if there is an instruction to end the coordinate input in the area A1, the process moves to the next area A2. In changing the area, the current coordinates of the XY stage and the coordinates after movement are known in advance, so a stage control amount that allows the center of the adjacent area to coincide with the center of the monitor screen is set in advance. By driving the motor 31 by the stage control amount, the XY stage moves as much as the center of the adjacent area coincides with the center of the monitor screen.

【0030】 以上の様にして全エリアのマクロ観察が完了したならば、ミクロ観察要求を待 ってミクロ観察を実行する。 コンピュータ32は、キーボード44からのミクロ観察要求を受信すると、切 換器38へ切換信号を送出してミクロTVカメラ27のTV信号を表示装置39 へ入力し、かつマクロ観察時に記憶した欠陥部の入力座標を欠陥部番号の若い番 号から順に読み込む。そして、スケールカウンタ37のカウント値と、XYステ ージの原点に対するミクロ観察系の光軸位置座標と、読込んだ欠陥部の入力座標 とから当該欠陥部をミクロ観察系の光軸位置へ移動させるのに必要なステージ制 御量を算出し、その算出したステージ制御量に応じてモータ31を駆動する。When the macro observation of all areas is completed as described above, the micro observation is executed while waiting for the micro observation request. When the computer 32 receives the micro observation request from the keyboard 44, it sends a switching signal to the switch 38 to input the TV signal of the micro TV camera 27 to the display device 39, and to detect the defective portion stored during macro observation. Input coordinates are read in order from the smallest defect number. Then, based on the count value of the scale counter 37, the optical axis position coordinates of the micro observation system with respect to the origin of the XY stage, and the input coordinates of the read defect portion, the defect portion is moved to the optical axis position of the micro observation system. The amount of stage control required for this is calculated, and the motor 31 is driven according to the calculated amount of stage control.

【0031】 上記ステージ制御量によって駆動されたXYステージにより、欠陥部がミクロ 観察系の光軸直下へ来ると、光軸上に配した欠陥部が照明装置23にてスポット 照明される。その照明された欠陥部の像が顕微鏡の観察光学系(対物レンズ24 等)により高倍率で拡大されミクロTVカメラ27の受光面に結像する。When the defective portion comes directly below the optical axis of the microscopic observation system by the XY stage driven by the above-mentioned stage control amount, the defective portion arranged on the optical axis is spot-illuminated by the illumination device 23. An image of the illuminated defect portion is magnified at a high magnification by the observation optical system (objective lens 24 etc.) of the microscope and forms an image on the light receiving surface of the micro TV camera 27.

【0032】 ここで、実際には、一回のステージ制御で高倍率の対物レンズ24による画像 取り込みは行わず、マクロ観察での座標精度を考慮して一回目のステージ制御で は比較的低倍(5×,10×)の対物レンズでピント合わせを行う。次に、モニ タ画面上に写し出された欠陥像をモニタ画面中心に持ってきてから、高倍率の対 物レンズに切換え、詳細な観察を実施する。Here, in reality, the image is not captured by the high-magnification objective lens 24 in one stage control, and a relatively low magnification is used in the first stage control in consideration of the coordinate accuracy in macro observation. Focusing is performed with a (5 ×, 10 ×) objective lens. Next, bring the defect image projected on the monitor screen to the center of the monitor screen, switch to a high-magnification object lens, and perform detailed observation.

【0033】 次に、コンピュータ32は、キーボード44から欠陥部の変更指示を待って、 変更指示が入力されたならば記憶している欠陥部が残っているか否か判断し、残 っていれば次の欠陥部番号の入力座標を読み込む。またマクロ観察で入力した座 標を全て読出して残っていなければ、ミクロ観察を終了する。Next, the computer 32 waits for an instruction to change the defective portion from the keyboard 44, judges whether or not the stored defective portion remains if the change instruction is input, and if it remains, Read the input coordinates of the next defective part number. If all the coordinates input in macro observation are read out and there are no remaining coordinates, micro observation ends.

【0034】 なお、以上のようにして欠陥部の座標と種類が入力されると、必要に応じてヒ ストグラム,円グラフ等を作成するアプリケーションプログラムを起動し、加工 データを前工程へフィードバックしたり、後工程の準備に使用する。When the coordinates and type of the defect portion are input as described above, an application program that creates a histogram, pie chart, etc. is started as necessary, and the machining data is fed back to the previous process. , Used for preparation of post-process.

【0035】 この様に本実施例によれば、マクロ観察像をモニタ画面上に表示し、その画面 上でマウス41を使って欠陥部を指定し、その指定した欠陥部の位置をステージ 上での座標に自動変換して記憶し、ミクロ観察へ移行したときに順次欠陥部をミ クロ観察系の光軸直下へ移動するようにXYステージを制御するので、欠陥部の 座標入力作業が極めて簡単化され、またミクロ観察時に欠陥部を肉眼で探す必要 がなくなりゴミ等が観察者から基板10上に落ちることがなくなるので、コンタ ミ性が改善されることとなる。As described above, according to this embodiment, the macro observation image is displayed on the monitor screen, the defective portion is designated by using the mouse 41 on the screen, and the position of the designated defective portion is displayed on the stage. The coordinates of the defect are automatically converted and stored, and when the micro observation is performed, the XY stage is controlled so that the defect is sequentially moved to the position directly below the optical axis of the micro observation system, so it is extremely easy to input the coordinates of the defect. In addition, since it is not necessary to look for a defective portion with the naked eye at the time of microscopic observation, dust and the like do not fall on the substrate 10 from the observer, so that the contamination property is improved.

【0036】 また、本実施例によれば、マクロ観察における欠陥部の座標入力時に欠陥の種 類まで入力するので、欠陥の種類及び数等の品質管理に必要なデータを獲得する ことができる。Further, according to the present embodiment, since the defect type is also input at the time of inputting the coordinates of the defect portion in macro observation, it is possible to acquire data necessary for quality control such as the type and number of defects.

【0037】 ところで、マクロ観察エリア(座標入力範囲)をモニタ画面全面に表示してし まうと、該当エリアと隣接エリアとの境にある欠陥は観察しずらく、また隣接エ リアまで表示すると入力済みか否か判らなくなる可能性がある。By the way, if the macro observation area (coordinate input range) is displayed on the entire surface of the monitor screen, it is difficult to observe the defect at the boundary between the relevant area and the adjacent area, and it is also possible to display up to the adjacent area. There is a possibility that you may not know whether or not it has been completed.

【0038】 そこで、図7,図9に示すような座標入力画面の方式をとればその様な問題を 解決できる。上記実施例では、マクロTVカメラのTVレンズ21に1/10× の倍率のものを用いて単一エリアをモニタ画面全面に表示したが、本変形例では 例えば、TVレンズ21に1/15×の倍率のものを用い、該当エリア(80m m×60mm)に対応する部分にモニタ画面上で枠囲いをして座標入力対象範囲 とそれ以外の領域とを区分けする。Therefore, such a problem can be solved by adopting the coordinate input screen system as shown in FIGS. In the above embodiment, the TV lens 21 of the macro TV camera having a magnification of 1/10 × was used to display a single area on the entire monitor screen. However, in this modification, for example, the TV lens 21 has a 1/15 × magnification. The area corresponding to the corresponding area (80 mm × 60 mm) is surrounded by a frame on the monitor screen and the coordinate input target range and the other area are divided.

【0039】 図7及び図9を参照して、エリアC4を座標入力対象エリアとしてモニタ表示 する際の処理について説明する。 本変形例では、エリアC4の中心をマクロ観察系の光軸位置に配置し、1エリ アよりも大きな実視野を有するTVレンズを介してマクロ観察像を取込む。その 取込んだマクロ観察像を、座標入力対象エリアとなるエリアC4の中心をモニタ 中心としてモニタ画面に表示する。Processing when the area C4 is displayed as a coordinate input target area on the monitor will be described with reference to FIGS. 7 and 9. In this modification, the center of the area C4 is arranged at the optical axis position of the macro observation system, and the macro observation image is captured via the TV lens having a real visual field larger than one area. The captured macro observation image is displayed on the monitor screen with the center of the area C4, which is the area for coordinate input, as the monitor center.

【0040】 次に、モニタ画面M上に、座標入力対象エリアであるエリアC4の領域Nを示 す枠を重ねて表示する。観察者は、領域Nの中を座標入力対象エリアであると認 識することができる。Next, on the monitor screen M, a frame indicating the area N of the area C4 that is the coordinate input target area is displayed in an overlapping manner. The observer can recognize that the area N is a coordinate input target area.

【0041】 一方、モニタ画面Mに表示されたマクロ画像のうちエリアC4以外の領域に入 力済みの欠陥部があるか否か判断する。A1〜C3まではマクロ観察済みである ので、それらのエリア内には入力済みの欠陥部がある可能性がある。エリアC4 以外の領域に入力済みの欠陥部がある場合には、該当する欠陥部に重ねて入力済 みマークRを表示させる。On the other hand, in the macro image displayed on the monitor screen M, it is determined whether or not there is a defective portion that has been input in an area other than the area C4. Since macro observations have been made for A1 to C3, there is a possibility that there is a defective portion that has already been input in those areas. When there is a defective portion that has already been input in an area other than the area C4, the input mark R is displayed over the corresponding defective portion.

【0042】 そしてエリアC4に対して欠陥部の座標入力があれば、その入力座標を欠陥部 番号と共に記憶し、かつ当該部位に入力済みマークを表示する。 この様な本変形例によれば、座標入力対象エリアの周囲領域まで同一画面に表 示し、かつ周囲領域に欠陥部の座標入力済みのものがあれば入力済みマークを表 示させるようにしたので、隣接するエリアとの境界部において入力済みか否かの 判断が容易になり、入力落ち,或いは2度入力などのミスを防止できる。If the coordinates of the defective portion are input to the area C4, the input coordinates are stored together with the defective portion number, and the input completed mark is displayed at the relevant portion. According to this modification, the surrounding area of the coordinate input target area is displayed on the same screen, and if there is any defective area coordinate input in the surrounding area, the input mark is displayed. In addition, it becomes easy to judge whether or not the input has been completed at the boundary between the adjacent areas, and it is possible to prevent an input error or an error such as double input.

【0043】 また、図8に示すように、エリア変更時の1ステップ当たりの移動量を上述し た実施例のものに比べ小さくし、隣接するエリアの一部を表示するようにする。 この場合は上記実施例と同様に1/10×のTVレンズを用いることができる。 図8では、斜線で示すエリアA2を座標入力対象エリアとしており、エリアA1 とエリアA2の境界にある欠陥アは、エリアA1の検査時に入力済みであること が画面から認識できる。Further, as shown in FIG. 8, the movement amount per step when changing the area is made smaller than that in the above-described embodiment, and a part of the adjacent area is displayed. In this case, a 1/10 × TV lens can be used as in the above embodiment. In FIG. 8, the shaded area A2 is the coordinate input target area, and it can be recognized from the screen that the defect A at the boundary between the areas A1 and A2 has been input at the time of the inspection of the area A1.

【0044】 上記実施例のマクロ観察系では、集束光を基板10に照射していたが、特に集 束しない照明光であっても良い。 図10〜図11(a)(b)は、上記実施例のマクロ観察系における照明装置 の変形例を示している。In the macro observation system of the above-mentioned embodiment, the substrate 10 is irradiated with the focused light, but the illumination light not particularly focused may be used. 10 to 11 (a) and (b) show modifications of the illuminating device in the macro observation system of the above embodiment.

【0045】 図10に示す変形例は、光ファイバー51から出射した光をハーフミラー52 でレンズ53に入射して、干渉光を基板10に照射する干渉光学系の例である。 この干渉光学系によって照明された基板10からの反射光をTVカメラで取込ん で表示する。The modified example shown in FIG. 10 is an example of an interference optical system in which the light emitted from the optical fiber 51 is incident on the lens 53 by the half mirror 52 and the interference light is applied to the substrate 10. The reflected light from the substrate 10 illuminated by the interference optical system is captured by the TV camera and displayed.

【0046】 この変形例は、主に膜ムラの検査をするものである。また、TVレンズ21が ファイバ51の光出射光からコリメータレンズ53までの距離,即ち、コリメー タレンズ53の焦点距離と共役な位置に配置された場合、TVレンズ21が図示 しない照明装置からのフィラメント像を取り込んでしまうため膜ムラの検査を行 うことができない。そこでTVレンズ21は共役の位置に配置されずに、共役な 位置よりもコリメータレンズ53の光軸に対して離れた位置に配置されている。In this modification, the film unevenness is mainly inspected. Further, when the TV lens 21 is arranged at a distance from the light emitted from the fiber 51 to the collimator lens 53, that is, at a position conjugate with the focal length of the collimator lens 53, the TV lens 21 has a filament image from an illuminating device (not shown). It is impossible to inspect the film for unevenness because it takes in. Therefore, the TV lens 21 is not arranged at the conjugate position, but is arranged at a position farther from the optical axis of the collimator lens 53 than the conjugate position.

【0047】 図11(a)(b)に示す変形例は、多数の光ファイバーをリニアに束ねたフ ァイバー群54を、基板10と平行に近い角度で照射するようにしたものである 。基板10に対して斜めに入射した光の反射光をレンズ55で集光してTVレン ズ21に入射してマクロ観察像を得る。In the modification shown in FIGS. 11A and 11B, a fiber group 54 in which a large number of optical fibers are linearly bundled is irradiated at an angle nearly parallel to the substrate 10. The reflected light of the light obliquely incident on the substrate 10 is condensed by the lens 55 and incident on the TV lens 21 to obtain a macro observation image.

【0048】 この変形例によれば、基板10のLCDパターンが消え、ゴミ,キズの部分で の反射光のみがTVカメラに入射するため、TVカメラ22の受光面におけるモ アレの影響を除去できる利点がある。According to this modification, the LCD pattern on the substrate 10 disappears, and only the reflected light at the dust and scratch portions enters the TV camera. Therefore, the influence of moire on the light receiving surface of the TV camera 22 can be eliminated. There are advantages.

【0049】 図12には、上記実施例においてマウスに代わる座標入力手段の変形例が示さ れている。本変形例は、トラックボール55内蔵のボックス56に、A〜Dのア ルファベットキーと、1〜4の数字キーと、欠陥の種類を類別するA−1〜A− 4のキーと、座標入力指示のための入力ボタン及び取り消しのための取消ボタン とを備えている。例えば、コンピュータ側では、A−1はキズ大,A−2はキズ 小,A−3はゴミ大,A−4はゴミ小と認識する等、各キーの種類を判別して各 キーに割り付けられた個々の処理を実行するようにしておく。FIG. 12 shows a modification of the coordinate input means which replaces the mouse in the above embodiment. In this modification, in a box 56 with a built-in trackball 55, alphabet keys A to D, numeric keys 1 to 4, keys A-1 to A-4 for classifying defect types, and coordinate input. It has an input button for instructions and a cancel button for cancellation. For example, on the computer side, A-1 is recognized as a large scratch, A-2 is recognized as a small scratch, A-3 is recognized as a large dust, and A-4 is recognized as a small dust. The specified individual processing is executed.

【0050】 またはモニタ画面上に欠陥の種類に対応した1〜30の数字を表示し、欠陥入 力後に当該数字に合いマークを合わせて入力し、この入力からコンピュータが欠 陥の種類を認識し、かつ観察者にも後から認識できるように構成しても良い。Alternatively, the numbers 1 to 30 corresponding to the types of defects are displayed on the monitor screen, and after the defect is input, the matching mark is input to the number and the computer recognizes the type of the defect from this input. Also, it may be configured so that the observer can recognize it later.

【0051】 また座標入力手段は、マウスに限るものではなく、例えばデジタイザーと呼ば れる信号線の入ったパネルを用いることもできる。パネルにプローブを当てるこ とによりパネルのプローブ位置に対応してモニタ画面上の対応位置にマークが現 れるようにする。 本考案は上記実施例に限定されるものではなく、本考案の要旨を逸脱しない範 囲内で種々変形実施可能である。The coordinate input means is not limited to the mouse, and a panel called a digitizer having a signal line may be used. By applying a probe to the panel, a mark will appear at the corresponding position on the monitor screen corresponding to the probe position on the panel. The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention.

【0052】[0052]

【考案の効果】[Effect of device]

以上詳記したように本考案によれば、マクロ観察からミクロ観察への移行を自 動化することができ、欠陥部の座標入力に際してステージ操作を削減することが でき、作業者から基板上に塵が落下する可能性を低減でき、しかも欠陥の分類や 数等の工程の品質管理に必要データを獲得することのできる外観検査装置を提供 できる。 As described above in detail, according to the present invention, the transition from macro observation to micro observation can be automated, the stage operation can be reduced when inputting the coordinates of the defect portion, and the operator can change the position on the substrate. It is possible to provide a visual inspection apparatus that can reduce the possibility of dust falling and can acquire data necessary for quality control of processes such as classification and number of defects.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の一実施例に係る外観検査装置の機能構
成図である。
FIG. 1 is a functional configuration diagram of a visual inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す外観検査装置の外観図である。FIG. 2 is an external view of the appearance inspection device shown in FIG.

【図3】図1に示す外観検査装置の動作内容の一部を示
すフローチャートである。
3 is a flowchart showing a part of the operation contents of the appearance inspection device shown in FIG.

【図4】図1に示す外観検査装置の動作内容の他の一部
を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing another part of the operation content of the appearance inspection device shown in FIG.

【図5】基板をマクロ観察する際の分割状態を示す図で
ある。
FIG. 5 is a diagram showing a divided state when macro-observing a substrate.

【図6】マクロ観察像が表示されたモニタ画面を示す図
である。
FIG. 6 is a diagram showing a monitor screen on which a macro observation image is displayed.

【図7】モニタ画面におけるマクロ観察像の表示方式の
変形例を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a modification of the display method of the macro observation image on the monitor screen.

【図8】モニタ画面におけるマクロ観察像の表示方式の
他の変形例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing another modification of the display method of the macro observation image on the monitor screen.

【図9】図7に示す変形例の動作内容の要部を示すフロ
ーチャートである。
9 is a flowchart showing a main part of the operation content of the modified example shown in FIG.

【図10】図1に示す外観検査装置における照明装置の
変形例を示す図である。
10 is a diagram showing a modified example of the illumination device in the visual inspection device shown in FIG.

【図11】図1に示す外観検査装置における照明装置の
他の変形例を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing another modification of the illumination device in the visual inspection device shown in FIG. 1.

【図12】図1に示す外観検査装置における座標入力手
段の変形例を示す図である。
12 is a diagram showing a modified example of the coordinate input means in the visual inspection apparatus shown in FIG.

【図13】マクロ観察系とミクロ観察系とを連動させた
外観検査装置の斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view of an appearance inspection apparatus in which a macro observation system and a micro observation system are linked.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…基板、13…Yステージ、15…Xステージ、1
7…マクロ観察系、18…ミクロ観察系、19…マクロ
照明装置、21,26…TVレンズ、22…マクロTV
カメラ、23…ミクロ照明装置、24…対物レンズ、2
7…ミクロTVカメラ、32…コンピュータ、39…表
示装置、41…マウス。
10 ... Substrate, 13 ... Y stage, 15 ... X stage, 1
7 ... Macro observation system, 18 ... Micro observation system, 19 ... Macro illumination device 21, 26 ... TV lens, 22 ... Macro TV
Camera, 23 ... Micro illumination device, 24 ... Objective lens, 2
7 ... Micro TV camera, 32 ... Computer, 39 ... Display device, 41 ... Mouse.

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 マクロ観察領域に配置された被検体から
の物体光を取込んで所定倍率で拡大した被検体像を形成
するマクロ観察系と、 ミクロ観察領域に配置された被検体からの物体光を取込
んでマクロ観察系よりも大きな倍率で拡大した拡大像を
形成するミクロ観察系と、 前記被検体を載置した状態で前記マクロ観察系及び前記
ミクロ光学系の双方の観察領域内を移動可能なステージ
と、 前記マクロ観察系により形成された被検体像を画像信号
に変換する第1の画像入力手段と、 前記ミクロ観察系により形成された被検体像を画像信号
に変換する第2の画像入力手段と、 前記第1の画像入力手段及び前記第2の画像入力手段で
変換された各被検体像の画像信号を可視化するモニタ手
段と、 前記マクロ観察系で取込まれ前記モニタ手段で表示され
た被検体像の注目部位を座標指定すると共に各指定座標
を記憶する座標指定手段と、 ステージ原点に対する前記ミクロ観察系の光軸位置が予
め記憶され、前記座標指定手段に記憶した注目部位の指
定座標をステージ上の座標へ変換し、その変換座標と前
記ミクロ観察系の光軸位置とステージの現在位置とから
前記注目部位を前記ミクロ観察系の光軸位置へ移動させ
るステージ制御量を算出するステージ制御手段と、 を具備したことを特徴とする外観検査装置。
1. A macro observation system that takes in object light from a subject arranged in a macro observation region to form a subject image enlarged at a predetermined magnification, and an object from the subject arranged in a micro observation region. A micro observation system that captures light and forms a magnified image at a magnification greater than that of the macro observation system, and the observation areas of both the macro observation system and the micro optical system in a state where the subject is mounted. A movable stage, a first image input unit that converts an object image formed by the macro observation system into an image signal, and a second image input unit that converts the object image formed by the micro observation system into an image signal Image input means, monitor means for visualizing the image signals of the respective subject images converted by the first image input means and the second image input means, and the monitor means taken in by the macro observation system. Displayed in The coordinate designation means for designating the coordinates of the designated region of the subject image and storing each designated coordinate, and the optical axis position of the micro observation system with respect to the origin of the stage are stored in advance, The designated coordinates are converted into coordinates on the stage, and the stage control amount for moving the attention site to the optical axis position of the micro observation system is calculated from the converted coordinates, the optical axis position of the micro observation system, and the current position of the stage. An external appearance inspection device comprising:
【請求項2】 前記モニタ手段により被検体像が表示さ
れるモニタ画面上に、今回座標入力対象となっているエ
リアに隣接するエリアの一部まで表示するエリア表示手
段と、 前記座標入力対象のエリア外に前記座標指定手段で既に
座標指定済みの注目部位があれば当該注目部位に座標入
力済みのマークを表示し、かつ、座標入力対象のエリア
内で前記座標指定手段による座標入力があればその部分
に逐次座標入力済みマークを表示するマーク表示手段
と、 を具備したことを特徴とする請求項1記載の外観検査装
置。
2. An area display means for displaying a part of an area adjacent to an area which is a current coordinate input target on a monitor screen on which the subject image is displayed by the monitor means, and the coordinate input target. If there is a target area whose coordinates have already been designated by the coordinate designating means outside the area, a mark with coordinates input is displayed on the target location, and if there is coordinate input by the coordinate designating means in the area for coordinate input. 2. The appearance inspection apparatus according to claim 1, further comprising mark display means for sequentially displaying the coordinate input mark at that portion.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09113460A (en) * 1995-10-19 1997-05-02 Sekisui Chem Co Ltd Method and apparatus for detecting defect of reflective polarization object
JP2001091840A (en) * 1999-09-20 2001-04-06 Olympus Optical Co Ltd Microscope system
JP2001117018A (en) * 1999-10-19 2001-04-27 Olympus Optical Co Ltd Picture display device

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