JPH076505Y2 - 測温抵抗体の較正装置 - Google Patents
測温抵抗体の較正装置Info
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- JPH076505Y2 JPH076505Y2 JP4580789U JP4580789U JPH076505Y2 JP H076505 Y2 JPH076505 Y2 JP H076505Y2 JP 4580789 U JP4580789 U JP 4580789U JP 4580789 U JP4580789 U JP 4580789U JP H076505 Y2 JPH076505 Y2 JP H076505Y2
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- Japan
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- rtd
- resistance temperature
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は測温抵抗体（以下RTDと呼ぶ）の比較較正試
験時における回路構成に関するものである。
験時における回路構成に関するものである。
〔従来の技術〕 第３図は従来のRTD較正装置の構成図で、図において、1
1〜1nはRTD、２は定電流源で、例えば1000mA DCを発生
する。３は基準抵抗器、41〜4nは各RTD11〜1nに対応す
る切替用スキヤナ装置、５はデイジタルボルトメータ
で、スキヤナ装置41〜4nを順次ON,OFFし、その時のRTD1
1〜1nの両端の電圧を読込む。
1〜1nはRTD、２は定電流源で、例えば1000mA DCを発生
する。３は基準抵抗器、41〜4nは各RTD11〜1nに対応す
る切替用スキヤナ装置、５はデイジタルボルトメータ
で、スキヤナ装置41〜4nを順次ON,OFFし、その時のRTD1
1〜1nの両端の電圧を読込む。
次に動作について説明する。RTD11〜1nの比較較正試験
時はRTDを第３図の如く直列に接続し、基準抵抗器３に
よつて較正された定電流源２により一定電流を流す。こ
のときのRTD11〜1nの両端電圧をスキヤナ装置41〜4nを
切替えることにより順次デイジタルボルトメータ５に読
込む。この読込み値と電流値から抵抗値を求め温度を計
算することにより、真の温度を測定すると共にRTD11〜1
nの良，不良が判定できる。スキヤナ装置41〜4nの切替
え，読込み，判定の処理はマイクロコンピユータを用い
た方が高速で確実に判定ができる。
時はRTDを第３図の如く直列に接続し、基準抵抗器３に
よつて較正された定電流源２により一定電流を流す。こ
のときのRTD11〜1nの両端電圧をスキヤナ装置41〜4nを
切替えることにより順次デイジタルボルトメータ５に読
込む。この読込み値と電流値から抵抗値を求め温度を計
算することにより、真の温度を測定すると共にRTD11〜1
nの良，不良が判定できる。スキヤナ装置41〜4nの切替
え，読込み，判定の処理はマイクロコンピユータを用い
た方が高速で確実に判定ができる。
RTDの１エレメントは感温部（抵抗体）と外装部から成
つており、外装は通常アースされている。このため感温
部と外装間には数ＭΩの絶縁抵抗を有することになる。
第３図のような構成でRTDの比較較正を行なう場合、各R
TDの絶縁抵抗を事前に計測し、規定範囲内にあるかどう
かの確証も行なつている。
つており、外装は通常アースされている。このため感温
部と外装間には数ＭΩの絶縁抵抗を有することになる。
第３図のような構成でRTDの比較較正を行なう場合、各R
TDの絶縁抵抗を事前に計測し、規定範囲内にあるかどう
かの確証も行なつている。
従来のRTDの較正装置は以上のように構成されていたの
で、RTDの接続本数が多くなつた場合にRTDの絶縁抵抗は
並列に入る形となるため、相対的に絶縁抵抗が低下し、
もれ電流を生じることによつて一定電流での計測が出来
なくなるという問題点があつた。
で、RTDの接続本数が多くなつた場合にRTDの絶縁抵抗は
並列に入る形となるため、相対的に絶縁抵抗が低下し、
もれ電流を生じることによつて一定電流での計測が出来
なくなるという問題点があつた。
この考案は以上のような問題点を解消するためになされ
たもので、RTDの接続本数が増加しても絶縁抵抗の低下
の影響を回避できるRTDの較正装置を得ることを目的と
する。
たもので、RTDの接続本数が増加しても絶縁抵抗の低下
の影響を回避できるRTDの較正装置を得ることを目的と
する。
この考案に係るRTDの較正装置はRTDの接続を少なくとも
２群に分割し、１群ずつ測定することによつて、絶縁抵
抗の影響を回避するもので、しかも群の切替えにスキヤ
ナ装置を用いるため、同じコンピユータの制御により切
替が可能となる。
２群に分割し、１群ずつ測定することによつて、絶縁抵
抗の影響を回避するもので、しかも群の切替えにスキヤ
ナ装置を用いるため、同じコンピユータの制御により切
替が可能となる。
以下、この考案の一実施例を図について説明する。第１
図において、1n+1〜1n+m,4n+1〜4n+mはそれぞれこの考
案によつて追加されたRTDに対応するスキヤナ装置であ
る。10,11はRTDの群切換用スキヤナ装置である。
図において、1n+1〜1n+m,4n+1〜4n+mはそれぞれこの考
案によつて追加されたRTDに対応するスキヤナ装置であ
る。10,11はRTDの群切換用スキヤナ装置である。
次に動作について説明する。
スキヤナ装置10を閉とすることによつて形成されるRTD
群１〜1nを１群、スキヤナ装置11を閉とすることによつ
て形成されるRTD群1n+1〜1n+mを２群とする。まず、基
準抵抗器３により定電流源２を較正し、次に１群のRTD
の電圧値をスキヤナ装置10を閉とし、各RTD11〜1nに対
応するスキヤナ41〜4nを順次閉とすることにより、デイ
ジタルボルトメータ５によつて読込む。読込みが完了し
たらスキヤナ装置10を閉のままスキヤナ装置11を閉と
し、しかる後にスキヤナ装置10を開とする。その後２群
のRTD1n+1,1n+2〜1n+mに対応するスキヤナ4n+1,4n+2〜4
n+mを順次閉とすることにより、デイジタルボルトメー
タ５によつて２群のRTDの電圧値を読込む。この読込み
が完了したら、再度スキヤナ装置11を閉のままスキヤナ
装置10を閉とした後、スキヤナ装置11を開として１群RT
Dの計測を同様にくり返す。
群１〜1nを１群、スキヤナ装置11を閉とすることによつ
て形成されるRTD群1n+1〜1n+mを２群とする。まず、基
準抵抗器３により定電流源２を較正し、次に１群のRTD
の電圧値をスキヤナ装置10を閉とし、各RTD11〜1nに対
応するスキヤナ41〜4nを順次閉とすることにより、デイ
ジタルボルトメータ５によつて読込む。読込みが完了し
たらスキヤナ装置10を閉のままスキヤナ装置11を閉と
し、しかる後にスキヤナ装置10を開とする。その後２群
のRTD1n+1,1n+2〜1n+mに対応するスキヤナ4n+1,4n+2〜4
n+mを順次閉とすることにより、デイジタルボルトメー
タ５によつて２群のRTDの電圧値を読込む。この読込み
が完了したら、再度スキヤナ装置11を閉のままスキヤナ
装置10を閉とした後、スキヤナ装置11を開として１群RT
Dの計測を同様にくり返す。
この計測のフローチャートを第２図に示す。このように
群の切替時、必らず両群とも閉状態を保つことにより定
電流ループが途切れることなく、安定な計測が実施でき
る。
群の切替時、必らず両群とも閉状態を保つことにより定
電流ループが途切れることなく、安定な計測が実施でき
る。
なお、上記実施例ではRTDの接続を２群にした場合につ
いて説明したが、RTDの本数がもつと多くなれば、３群,
4群と随時、分割を多くしてもよい。
いて説明したが、RTDの本数がもつと多くなれば、３群,
4群と随時、分割を多くしてもよい。
また、上記実施例では、１回の計測のみの場合について
説明したが、例えば４回計測を実施し、その平均値をと
つて電圧値とするような場合では１群計測→２群計測→
１群計測→２群計測の如く随時スキヤナ装置を切替えて
いけば可能である。
説明したが、例えば４回計測を実施し、その平均値をと
つて電圧値とするような場合では１群計測→２群計測→
１群計測→２群計測の如く随時スキヤナ装置を切替えて
いけば可能である。
以上のようにこの考案によれば、RTDの接続本数が増え
ても群に分割し、群単位で計測を実施するようにしたの
で、絶縁抵抗の低下によるもれ電流の影響が排除でき、
安価に高精度の計測が可能となる効果がある。
ても群に分割し、群単位で計測を実施するようにしたの
で、絶縁抵抗の低下によるもれ電流の影響が排除でき、
安価に高精度の計測が可能となる効果がある。
第１図はこの考案の一実施例であるRTD較正装置の構成
図、第２図はこの考案のスキヤナ装置の動作を示すフロ
ーチヤート、第３図は従来のRTD較正装置の構成図であ
る。 11〜1n+mはRTD、２は定電流源、３は基準抵抗器、41〜4
n+mはスキヤナ装置、５はデイジタルボルトメータ、10,
11は群切替用スキヤナ装置。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
図、第２図はこの考案のスキヤナ装置の動作を示すフロ
ーチヤート、第３図は従来のRTD較正装置の構成図であ
る。 11〜1n+mはRTD、２は定電流源、３は基準抵抗器、41〜4
n+mはスキヤナ装置、５はデイジタルボルトメータ、10,
11は群切替用スキヤナ装置。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】複数の測温抵抗体を直列に接続し、一定電
流を流して各測温抵抗体の両端電圧を測定することによ
り、上記各測温抵抗体に比較較正を行なう測温抵抗体の
較正装置において、較正される上記直列に接続された複
数の測温抵抗体を、少なくとも２群に分けて並設し、こ
の各群ごとに定電流源を択一的に接続する群切替用スキ
ャナ、及び選択された群の各測温抵抗体の両端電位を順
次測定器に切替えて供給するスキャナ装置を備えたこと
を特徴とする測温抵抗体の較正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4580789U JPH076505Y2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 測温抵抗体の較正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4580789U JPH076505Y2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 測温抵抗体の較正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02135830U JPH02135830U (ja) | 1990-11-13 |
| JPH076505Y2 true JPH076505Y2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=31560312
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4580789U Expired - Lifetime JPH076505Y2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | 測温抵抗体の較正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076505Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-04-18 JP JP4580789U patent/JPH076505Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02135830U (ja) | 1990-11-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |