JPH0749535Y2 - 温度調整器 - Google Patents

温度調整器

Info

Publication number
JPH0749535Y2
JPH0749535Y2 JP1988068668U JP6866888U JPH0749535Y2 JP H0749535 Y2 JPH0749535 Y2 JP H0749535Y2 JP 1988068668 U JP1988068668 U JP 1988068668U JP 6866888 U JP6866888 U JP 6866888U JP H0749535 Y2 JPH0749535 Y2 JP H0749535Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
measured
base
physical properties
temperature controller
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1988068668U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH01172117U (ja
Inventor
俊文 西井
祥司 山口
秀人 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Chemical Corp filed Critical Mitsubishi Chemical Corp
Priority to JP1988068668U priority Critical patent/JPH0749535Y2/ja
Publication of JPH01172117U publication Critical patent/JPH01172117U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0749535Y2 publication Critical patent/JPH0749535Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案は、種々の物質や材料の電子(あるいは正孔)
物性、例えば、電気抵抗、ホール係数、電子・正孔移動
度、熱伝導率、比熱、熱電能、磁気物性等を測定する際
に、2個以上の被計測体間を、一定の温度に制御するこ
との出来る温度調整器に関する。
[従来の技術] 一般に、種々の物質や材料の電子(あるいは正孔)物
性、例えば、電気抵抗、ホール係数、電子・正孔移動
度、熱伝導率、比熱、熱電能、磁気物性等、電子(ある
いは正孔)の運動に係わる物性は、温度に対し敏感に変
化するものである。従つて、これらの諸物性を測定する
際には、測定時の環境、特に、温度を一定に保つことが
重要である。また、これらの諸物性の温度特性を測定す
る際には、特に、測温に重点がおかれ、被計測体の温度
が均一になつた時の、温度及び上記諸物性の同時計測が
望ましい。
実際に、これら諸物性の温度特性を取るために、低温側
では、各種寒剤、例えば、氷、フロンガス、ドライアイ
ス、液体窒素、液体ヘリウム等、また、高温側では、水
あるいは油等の熱媒、又は、電気式加熱器(乾燥器、炉
等)が用いられている。
[考案が解決しようとする課題] ここで、このような温度調整器を用いて、物質又は材料
の種々の電子(あるいは正孔)物性を、1個または2個
以上の被計測体について測定する場合において、被計測
体内はもちろん、被計測体間の温度が均一に保たれる必
要がある。何故ならば、もし、被計測体内部に温度分布
があると、その温度勾配のために、電子(あるいは正
孔)の動きが乱されてしまい、また、被計測体間に温度
のバラ付きがあると、表示温度とズレを生じてしまい、
種々の物性が真の値と異なり、信頼性に問題が生じるこ
とになる。
実際に、高温側の温度調整については難しく、従来、こ
れら諸物性測定の際に用いられる電気炉、乾燥器等にお
いては、被計測体間の温度差は3〜5℃にも達してい
る。
この考案は、上述した課題に鑑みてなされたもので、常
に、2個以上の被計測体間が一定の温度、即ち、±0.3
℃以内で計測出来るようにして、同一温度で同一の被計
測体に何回計測動作を繰り返しても、同一の測定結果が
得られて、計測値に対する信頼性を向上させることが可
能であると共に、温度依存性を測定することの出来る温
度調整器を提供することである。
以上をまとめると、本考案の目的は、温度測定用センサ
で測定される基台温度と被計測体温度の実温度との差を
少なくでき、基台の収納および保温をするための断熱材
からなる筺体内において基台を収納して保温することで
種々の形状の被計測体に対して治具を用いて柔軟に対応
でき、かつ被計測体を凹部に密閉して高精度の温度管理
をする温度調整器を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上述した課題を解決し、目的を達成するために、この考
案に係わる温度調整器は、複数の被計測体を所望の温度
に設定および維持して、被計測体の諸物性を計測するた
めの温度調整器であって、熱伝導率が0.1cal/cm・secの
絶縁体から形成され、かつ被計測体を当接状態で直に収
容する複数の凹部を有する基台と、基台に内蔵される温
度測定用センサおよび昇温用ヒータと、その内側ににお
いて諸物性の計測に必要となる治具を設け、かつ閉状態
において被計測体の計測を行う蓋部材を有するとともに
基台の収納および保温をするための断熱材からなる筺体
とから構成されることを特徴としている。
ここでいう絶縁体とは、体積固有抵抗で、1012Ωcm以上
であり、それ以下では、被計測体と基台との間で電気的
に短絡が生じ、電子の動きに乱れが生じてしまい、物性
測定が困難になる。但し、被計測体の体積固有抵抗が小
さい場合でも、基台の体積固有抵抗との差が105Ωcm以
上であれば、計測に際し何等問題を生じない。
また、高熱伝導性とは、熱伝導率で、0.1cal/cmsec℃以
上であり、それ以下では、被計測体と基台との間での熱
の移動が充分に行なわれなくなり、被計測体内及び相互
間に温度分布が生じることになる。
[作用] 以上のように構成される温度調整器において、筺体内に
置かれる被計測体が所定の設定温度に正確に維持される
ように働く。そして、基台と治具とを組み合わせたま
ま、基台に取り付けたヒータにより被計測体内及び相互
間の温度を均一に設定し、また、変化させることが可能
となる。また、被計測体、基台の温度を均一に制御する
ことができるため、基台に取り付けたセンサが被計測体
の温度を示すことになる。
このようにして、2個以上の被計測体が常に均一な温
度、即ち、±0.3℃以内で計測することが出来るように
なり、計測値に対する信頼性が向上することになる。
[実施例] 以下に、この考案の温度調整器の一実施例の構成を添付
図面を参照して、詳細に説明する。
この考案の一実施例に係わる温度調整器10は、第1図に
示すように、高熱伝導性の電気絶縁体から形成され、一
側に被計測体が収納される矩形状の4個の凹部12,14,1
6,18が形成された基台20を備えている。
ここで、この高熱伝導性の電気絶縁体は、窒化アルミニ
ウム、炭化ケイ素、窒化ホウ素、酸化ベリリウム等のセ
ラミツク、あるいは、ダイヤモンド他の高熱伝導性・電
気絶縁材料で形成された部材から構成されている。この
一実施例においては、この高熱伝導性の電気絶縁体は、
窒化アルミニウムから形成されており、具体的には、石
原薬品(株)製マシナブルセラミツクHタイプで形成さ
れた部材から構成されている。尚、この窒化アルミニウ
ムの熱伝導性は、銅の約1/4の値に設定されている。
ここで、凹部12,14,16,18は、基台20の一側(上面)に
形成され、これら凹部12,14,16,18の底面は、シート状
の被計測体が載置される載置面として規定されている。
また、この温度調整器10は、基台10を取り囲むようにし
て断熱のための保温材22及び蓋34を備えている。この蓋
34には、種々の物性測定用の治具を備え付けることが可
能であり、そのために種々の配線用の穴を設けることが
可能である。
一方、この基台20は、温度測定用センサ用穴24、昇温用
ヒータ用穴26,28,30,32を備えており、この両者によ
り、被計測体間の温度を均一に制御することが可能であ
る。
以上のように構成される温度調整器10を用いて、シート
状の被計測体の電子物性を測定する場合につき、以下に
説明する。
先ず、被計測体を基台20の凹部12内に収納し得るサンプ
ル形状に形成する。そして、このようなサンプルを基台
20の凹部12,14,16,18の底面上に夫々載置する。このよ
うに、サンプルを基台20に設置した後、物性測定用の治
具(但し、不図示)を備え付けた蓋34を被せる。
また、この一実施例においては、サンプルが温度調整器
10内に密閉されることになる。この為、この基台20内に
設置したヒータを用いて、室温から高温まで変化させる
ことにより、種々の電子物性の温度依存性を正確に測定
することが可能となる。即ち、同一のサンプルに何回計
測動作を繰り返しても、同一の測定結果が得られて、計
測値に対する信頼性を向上させることが出来ることにな
る。計測しようとする被計測体(サンプル)は、従来に
おいては外気に露出した状態に設定されていたので、こ
のサンプルを所定の温度に一定に設定することは非常に
困難であり、このため、サンプルの種々の電子物性の温
度依存性を測定することは、殆ど不可能であつた。しか
しながら、この一実施例においては、上述したように、
測定時において、サンプルは、温度を均一に設定された
基台20内の各凹部12,14,16,18内に夫々密閉されること
になるので、このような温度依存性の測定が可能となる
ものである。
この考案は、上述した一実施例の構成に限定されること
なく、本考案の要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能で
あることは言うまでもない。
例えば、上述した一実施例の構成においては、基台20の
凹部12,14,16,18の形状を矩形として、また、基台20自
身も直方体形状であると説明したが、これに限定される
ことなく、例えば、基台を円筒体から形成し、凹部を円
柱状の内部空間から規定するように構成しても良い。
また、加熱方式も、伝熱だけでなく、輻射、対流による
加熱方式を組み合わせても良い。
以上詳述したように、この実施例に係わる温度調整器
は、高熱伝導性の絶縁体から形成され、被計測体が収納
される凹部が形成され、且つ、温度測定用センサ及び昇
温用ヒータが配設された基台を具備する事を特徴として
いる。
従つて、本実施例によれば、計測時において、常に、2
個以上の被計測体間が一定の温度、即ち、±0.3℃以内
で計測出来るようにして、同一温度で同一の被計測体に
何回計測動作を繰り返しても、同一の測定結果が得られ
て、計測値に対する信頼性を向上させることが可能であ
ると共に、温度依存性を測定することの出来る温度調整
器が提供されることになる。
[考案の効果] 以上説明のように、本考案の温度調整器によれば、温度
測定用センサで測定される基台温度と、被計測体温度の
実温度との差を少なくでき、基台の収納および保温をす
るための断熱材からなる筺体内において基台を収納して
保温することで種々の形状の被計測体に対して治具を用
いて柔軟に対応でき、かつ被計測体を凹部に密閉して高
精度の温度管理をすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案に係わる温度調整器の一実施例の構成
を示す斜視図である。 図中、10……温度調整器、12;14;16;18……凹部、20…
…基台、22……保温材、24……温度センサ用穴、26;28;
30;32……ヒータ用穴、34……蓋である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−185159(JP,A) 特開 昭59−30038(JP,A) 実開 昭55−53210(JP,U) 特公 昭53−27505(JP,B2) 実公 昭61−1392(JP,Y2)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の被計測体を所望の温度に設定および
    維持して、前記被計測体の諸物性を計測するための温度
    調整器であって、 熱伝導率が0.1cal/cm・secの絶縁体から形成され、かつ
    前記被計測体を当接状態で直に収容する複数の凹部を有
    する基台と、 該基台に内蔵される温度測定用センサおよび昇温用ヒー
    タと、 前記諸物性の計測に必要となる治具を内側面に設けてな
    り、かつ閉状態において前記被計測体の計測を行う開閉
    自在の蓋部材を有するとともに、前記基台の収納および
    保温をするための断熱材からなる筺体と、 から構成されることを特徴とする温度調整器。
JP1988068668U 1988-05-26 1988-05-26 温度調整器 Expired - Lifetime JPH0749535Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988068668U JPH0749535Y2 (ja) 1988-05-26 1988-05-26 温度調整器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1988068668U JPH0749535Y2 (ja) 1988-05-26 1988-05-26 温度調整器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01172117U JPH01172117U (ja) 1989-12-06
JPH0749535Y2 true JPH0749535Y2 (ja) 1995-11-13

Family

ID=31293973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1988068668U Expired - Lifetime JPH0749535Y2 (ja) 1988-05-26 1988-05-26 温度調整器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0749535Y2 (ja)

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5327505A (en) * 1976-08-27 1978-03-14 Iseki Agricult Mach Structure of driving wheel for levee forming
JPS62185159A (ja) * 1986-02-12 1987-08-13 Toshiba Corp イオン選択性電極の恒温装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01172117U (ja) 1989-12-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3733887A (en) Method and apparatus for measuring the thermal conductivity and thermo-electric properties of solid materials
GB2133886A (en) Fast response temperature sensing probe
JPS6039530A (ja) 圧電汚染検出器
US5729181A (en) High thermal gain oven with reduced probability of temperature gradient formation for the operation of a thermally stable oscillator
US4178800A (en) Method of and apparatus for the measuring of quantities of heat
US3592060A (en) Apparatus and method for measuring the thermal conductivity of insulating material
Del Cerro et al. Flux calorimeter for measuring thermophysical properties of solids: study of TGS
JPH0712944Y2 (ja) 電子部品実装基板の温度保護構造
Ramires et al. The thermal conductivity of toluene and water
JPH0749535Y2 (ja) 温度調整器
Johannin et al. Thermal conductivity of nitrogen at high temperatures and pressures
US5356216A (en) Apparatus for measuring heat of circuit module
JP3380023B2 (ja) 温度基準装置
SU1323869A1 (ru) Калориметр
JP2664929B2 (ja) 抵抗計測器
JP3372496B2 (ja) 電気特性評価装置
RU1566883C (ru) Емкостный датчик температуры труднодоступных объектов
US3318134A (en) Thermal instrument calibration system
US7015424B2 (en) Heat generator
JPH0616015B2 (ja) 熱分析装置
SU736747A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициентаТЕплОпРОВОдНОСТи СублиМиРующиХ ВЕщЕСТВ
JPH0241569Y2 (ja)
RU2036448C1 (ru) Способ измерения давления газа и устройство для его осуществления
SU935765A1 (ru) Устройство дл определени теплофизических свойств твердых тел
RU1805367C (ru) Конденсационный гигрометр