JPH0749414Y2 - Optical disc inspection device - Google Patents

Optical disc inspection device

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JPH0749414Y2
JPH0749414Y2 JP19806687U JP19806687U JPH0749414Y2 JP H0749414 Y2 JPH0749414 Y2 JP H0749414Y2 JP 19806687 U JP19806687 U JP 19806687U JP 19806687 U JP19806687 U JP 19806687U JP H0749414 Y2 JPH0749414 Y2 JP H0749414Y2
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JP
Japan
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guide groove
optical
signal
optical disc
circuit
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JP19806687U
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秀治 江口
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Victor Company of Japan Ltd
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  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は光ディスクの検査装置、更に詳細には、光ディ
スク製造工程における基板から仕上げ盤までの各工程に
おけるディスクの検査が可能な光ディスクの検査装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial field of application) The present invention relates to an optical disc inspection apparatus, and more specifically to an optical disc inspection apparatus capable of inspecting a disc in each process from a substrate to a finishing disc in an optical disc manufacturing process. Regarding

(従来の技術) 第7図は、従来の光ディスクの検査装置の一例(特開昭
59−148145号公報)の概略図である。図中、1は半導体
レーザ、2はコリメータレンズ、3は偏光ビームスプリ
ッタ、4はλ/4波長板、5は対物レンズ、6は対物レン
ズ5をフォーカス及びトラッキング方向に動作させる光
学ピックアップ、7は検査用光ディスク、8は集光レン
ズ、9は分割ミラー、10は二分割の光検出器よりなるフ
ォーカス制御用光検出器、11は二分割の光検出器よりな
るトラッキング制御用光検出器である。この光ディスク
の検査装置においては、フォーカス制御用光検出器の和
出力であるフォーカス和信号とトラッキング制御光検出
器の和出力であるトラッキング和信号を加算してRF信号
を得る。RF信号は、ディスクトラック上からの反射光量
に応じて出力振幅が変化し、例えばディスク基材内に異
物が存すると反射光量が減るため一側に、溝上の成形不
良等により反射光量が上がると+側に波形が出る。この
RF信号を上下一定のドロップアウト検出電圧でコンパレ
ータにて比較し、ドロップアウトを検出していた。
(Prior Art) FIG. 7 shows an example of a conventional optical disk inspecting apparatus (Japanese Patent Laid-Open No. 2000-242242)
59-148145). In the figure, 1 is a semiconductor laser, 2 is a collimator lens, 3 is a polarization beam splitter, 4 is a λ / 4 wavelength plate, 5 is an objective lens, 6 is an optical pickup for operating the objective lens 5 in the focus and tracking directions, and 7 is Optical disk for inspection, 8 is a condenser lens, 9 is a split mirror, 10 is a photodetector for focus control which is a photodetector of two splits, and 11 is a photodetector for tracking control which is a split photodetector. . In this optical disc inspection apparatus, the focus sum signal which is the sum output of the focus control photodetector and the tracking sum signal which is the sum output of the tracking control photodetector are added to obtain an RF signal. The output amplitude of the RF signal changes according to the amount of reflected light from the disc track.For example, if there is a foreign substance in the disc substrate, the amount of reflected light decreases. A waveform appears on the + side. this
The dropout was detected by comparing the RF signals with a dropout detection voltage that is constant above and below with a comparator.

また、特開昭61−273781号公報には、光ディスクの欠陥
がたとえ同一であっても、RF信号の振幅が光ディスクの
内周と外周とで差があるため、ドロップアウトを正しく
検出できないという不都合を解決すべく、前記ドロップ
アウト検出電圧をRF信号振幅に対応して可変できるよう
にした光ディスクの検査装置が記載されている。
Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 61-273781, even if the defects of the optical disk are the same, the amplitude of the RF signal is different between the inner circumference and the outer circumference of the optical disk, so that the dropout cannot be detected correctly. In order to solve the above problem, there is described an optical disk inspection device capable of varying the dropout detection voltage in accordance with the RF signal amplitude.

(考案が解決すべき問題点) しかしながら、かかる従来装置の構成では、 記録膜の特性等により各光ディスク間で反射率が相
異するため、欠陥がたとえ同一であっても、光ディスク
によって欠陥が検出されたりされなかったりして検出誤
差が生じることがある、 光ディスク製造工程の基板から仕上げ盤までの各工
程におけるディスクは夫々反射率が大幅に異なるので、
これらすべての欠陥を検出することはできない、 光ディスクの案内溝をトラッキングすることにより
欠点を検出する方式であるため、溝の無い基板は検査で
きない、 等の欠陥を有していた。
(Problems to be solved by the device) However, in the configuration of the conventional device, the reflectance is different between the optical discs due to the characteristics of the recording film, so that even if the defects are the same, the defects are detected by the optical disc. It may or may not be detected, which may cause detection errors.Since the discs in each process from the substrate to the finishing disc in the optical disc manufacturing process differ greatly in reflectivity,
Since all of these defects cannot be detected, and the defect is detected by tracking the guide groove of the optical disk, the substrate without the groove cannot be inspected.

本考案はかかる点に鑑みてなされたもので、光ディスク
の欠陥の大きさ、位置、量を正確に測定でき、欠陥の発
生原因究明、欠陥の発生低減を図ることができる光ディ
スクの検査装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above point, and provides an optical disc inspection apparatus capable of accurately measuring the size, position, and amount of a defect in an optical disc, investigating the cause of the defect, and reducing the occurrence of the defect. The purpose is to do.

(問題点を解決すべき手段) 本考案は、光ディスクに光学系を介しレーザ光を照射
し、その反射光を光学ピックアップにより検出し、この
光学ピックアップの検出信号のレベルにより前記光ディ
スクを検査する光ディスクの検査装置において、前記検
出信号のレベルを自動調整するAGC回路と、このAGC回路
の出力信号を基準電圧と比較するコンパレータと、前記
光学ピックアップからの信号より前記光ディスクに案内
溝が有るか否かを検出する案内溝有無検出手段と、前記
案内溝が無い時に前記光学ピックアップの送り機構を制
御する回転速度制御回路と、前記案内溝が有る時にこの
溝にそって前記光学ピックアップを制御するトラッキン
グ制御回路とを備えたことを特徴とする光ディスクの検
査装置である。
(Means for Solving Problems) The present invention is an optical disc for irradiating an optical disc with laser light through an optical system, detecting the reflected light by an optical pickup, and inspecting the optical disc according to the level of a detection signal of the optical pickup. In the inspection device, the AGC circuit that automatically adjusts the level of the detection signal, the comparator that compares the output signal of the AGC circuit with a reference voltage, and whether or not there is a guide groove on the optical disk from the signal from the optical pickup. Guide groove presence / absence detecting means for detecting the presence of the guide groove, a rotation speed control circuit for controlling the feed mechanism of the optical pickup when the guide groove is not present, and a tracking control for controlling the optical pickup along the groove when the guide groove is present. An optical disc inspection apparatus comprising: a circuit.

(作用) 本考案における案内溝有無検出手段は、光ディスクに案
内溝が有るか否かをトラッキングエラー信号に基づいて
判断し、案内溝有無信号をCPUに出力する。CPUは、これ
に応じてディスクをトレースする手段を選択する。かく
して、案内溝の有無を問わずディスクの検査を行なえる
ようにする。
(Operation) The guide groove presence / absence detecting means in the present invention determines whether or not the optical disc has a guide groove based on the tracking error signal, and outputs the guide groove presence / absence signal to the CPU. The CPU selects the means for tracing the disk accordingly. Thus, the disc can be inspected with or without the guide groove.

また、本考案に係るRF信号のAGC回路は、ディスクの反
射率に関わらず同一形状の欠陥のRF信号は同一振幅にな
るようにする作用を有するので、反射率の如何を問わず
光ディスクの検査を行なえるようにする。
In addition, the AGC circuit for RF signals according to the present invention has the function of making the RF signals of defects of the same shape have the same amplitude regardless of the reflectance of the disc, so that the inspection of the optical disc is performed regardless of the reflectance. To be able to do.

(考案の実施例) 以下、本考案を実施例を示す図面と共に説明する。(Embodiment of the Invention) Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings showing an embodiment.

第1図は、本考案の光ディスクの検査装置の一実施例を
示す回路ブロック図である。第1図において、12は検体
であるディスク、13はディスク12の案内溝あるいはディ
スク面上をトレースするアクチュエータを含む光学ピッ
クアップ、14は光学ピックアップ13をスクリューナット
とモータで検体の内外周方向に移動させる送り機構、15
はアクチュエータにフォーカス制御駆動信号15aを出力
するフォーカス制御回路、16はアクチュエータにトラッ
キング制御駆動信号16aを出力するトラッキング制御回
路、17はトラッキング制御回路からのトラッキングエラ
ー信号16aに基づき案内溝の有無を検出し、案内溝有無
信号17aを出力する案内溝有無検出回路、18はRF信号13a
の振幅をディスクの反射率の如何に関わらず一定にする
AGC回路、19はRF信号からドロップアウトを検出するコ
ンパレータ、20は案内溝の有無に応じてディスクのトレ
ース手段を選択するためのスイッチ、21は光学ピックア
ップの送り機構14のアクチュエータをディスクの内外周
方向に送るモータに回転速度制御電圧21aを加える回転
速度制御回路、22はフォーカスあるいはトラッキング制
御用の光検出器、そして23はCPUである。
FIG. 1 is a circuit block diagram showing an embodiment of an optical disk inspection apparatus of the present invention. In FIG. 1, 12 is a sample disk, 13 is an optical pickup including an actuator that traces the guide groove of the disk 12 or the disk surface, and 14 is the optical pickup 13 moved in the inner and outer peripheral directions of the sample by a screw nut and a motor. Feeding mechanism, 15
Is a focus control circuit that outputs the focus control drive signal 15a to the actuator, 16 is a tracking control circuit that outputs the tracking control drive signal 16a to the actuator, 17 is the presence or absence of the guide groove based on the tracking error signal 16a from the tracking control circuit Then, a guide groove presence / absence detection circuit that outputs a guide groove presence / absence signal 17a, 18 is an RF signal 13a
Keeps the amplitude constant regardless of the reflectivity of the disc
An AGC circuit, 19 is a comparator for detecting a dropout from an RF signal, 20 is a switch for selecting a disc tracing means according to the presence or absence of a guide groove, 21 is an actuator of an optical pickup feed mechanism 14, the inner and outer circumferences of the disc. A rotation speed control circuit for applying a rotation speed control voltage 21a to a motor for sending in the direction, 22 is a photodetector for focus or tracking control, and 23 is a CPU.

本考案の光ディスクの検査装置は、光学ピックアップ1
3、その送り機構14、フォーカス制御回路15、トラッキ
ング制御回路16及びコンパレータ19等よりなる従来の光
ディスクの検査装置に、更に案内溝有無検出回路17及び
RF信号のAGC回路18等を組み合わせた構成になってい
る。
The optical disc inspection apparatus of the present invention is an optical pickup 1
3, the conventional optical disc inspection device including the feed mechanism 14, the focus control circuit 15, the tracking control circuit 16, the comparator 19 and the like, and the guide groove presence / absence detection circuit 17 and
It has a configuration in which the AGC circuit 18 for RF signals is combined.

第2図は本考案に係る案内溝有無検出回路17の一例を示
す図面である。第2図に示す如く、案内溝有無検出回路
17は、ダイオード24、抵抗25及びコンデンサー26からな
るピークホールド回路と、抵抗27a,27bで検出電圧を設
定するコンパレータ28、抵抗29によりコンパレータ回路
とで構成されている。
FIG. 2 is a diagram showing an example of the guide groove presence / absence detection circuit 17 according to the present invention. As shown in FIG. 2, a guide groove presence / absence detection circuit
Reference numeral 17 includes a peak hold circuit including a diode 24, a resistor 25, and a capacitor 26, a comparator 28 that sets a detection voltage with the resistors 27a and 27b, and a comparator circuit with a resistor 29.

第3図は、案内溝有無検出回路17での波形を示し、
(a)は案内溝有無検出回路17の入力波形、(b)はピ
ークホールド回路の出力波形を示す。図において、30a
は溝有、31aは溝無の場合のトラッキングエラー波形、3
0bは溝有、31bは溝無の場合のピークホールド回路の出
力波形を示す。トラッキング制御回路16は、回転してい
るディスクにフォーカスをかけると案内溝の有無に応じ
て第3図(a)に示すトラッキングエラー波形16aを出
力する。案内溝有無検出回路17は、このトラッキングエ
ラー波形16aのピークを検波して、コンパレータ28で検
出電圧32と比較し、検出電圧を越えれば案内溝有で“H"
を出力し、越えなければ案内溝無で“L"を出力する。
FIG. 3 shows the waveform in the guide groove presence / absence detection circuit 17,
(A) shows the input waveform of the guide groove presence / absence detection circuit 17, and (b) shows the output waveform of the peak hold circuit. In the figure, 30a
Is a groove error, 31a is a tracking error waveform without a groove, 3
0b shows the output waveform of the peak hold circuit when there is a groove, and 31b shows the output waveform when there is no groove. The tracking control circuit 16 outputs a tracking error waveform 16a shown in FIG. 3 (a) depending on the presence or absence of the guide groove when the rotating disk is focused. The guide groove presence / absence detection circuit 17 detects the peak of the tracking error waveform 16a and compares it with the detection voltage 32 by the comparator 28. If the detection voltage is exceeded, the guide groove is present and "H".
Is output, and if it is not exceeded, “L” is output without a guide groove.

回転速度制御回路21としては、アクチュエータをディス
クの内外周方向に送るモータの回転速度を制御しうるも
のであればいずれをも使用できる。
As the rotation speed control circuit 21, any one can be used as long as it can control the rotation speed of the motor that feeds the actuator in the inner and outer peripheral directions of the disk.

第4図は、RF信号のAGC回路18の一例を示す図面であ
る。第4図に示す如く、AGC回路18は、抵抗33a,33bから
なるフォーカス制御用光検出器出力(c)とトラッキン
グ制御用光検出器出力(d)とを加え合わせる回路、ロ
ーパスフィルター(LPF)34からなるディスク反射率検
出回路、検出した反射率に応じた電流をフォトカプラ35
の発光ダイオード(LED)35aに流す、抵抗36a,36bとオ
ペアンプ37及びフォトカプラ35からなる定電流回路、及
びコンデンサ38a,38b、抵抗39a,39b,39c,39d、トランジ
スタ40、フォトカプラ35の抵抗(Rx)35bからなる交流
増幅器とで構成されている。
FIG. 4 is a drawing showing an example of the AGC circuit 18 for RF signals. As shown in FIG. 4, the AGC circuit 18 is a circuit for adding a focus control photodetector output (c) consisting of resistors 33a and 33b and a tracking control photodetector output (d), a low pass filter (LPF). Disk reflectivity detection circuit consisting of 34, current corresponding to the detected reflectivity is photocoupler 35
Constant current circuit consisting of resistors 36a and 36b, operational amplifier 37 and photocoupler 35, and capacitors 38a and 38b, resistors 39a, 39b, 39c and 39d, transistor 40, and resistance of photocoupler 35, which flow through the light emitting diode (LED) 35a of (Rx) 35b and AC amplifier.

第5図は、AGC回路18のAGC原理説明図である。第5図に
示す如く、反射率の低いディスクの場合は、RF信号振幅
及びフォーカス制御用光検出器出力(c)とトラッキン
グ制御用光検出器出力(d)が低く、フォトカプラ35の
LED35aに流れる電流が少なくなる。そして、このLED35a
に流す電流と抵抗値Rxとは反比例の関係にあるので、抵
抗値Rxは高くなり交流アンプの利得が上がる。一方、反
射率が高いディスクの場合は、逆の動作となり、交流ア
ンプの利得が下がる。従って、同一形状の欠陥であれば
ディスクの反射率が異なってもAGC回路の出力は一定振
幅となる。
FIG. 5 is an explanatory diagram of the AGC principle of the AGC circuit 18. As shown in FIG. 5, in the case of a disc with a low reflectance, the RF signal amplitude and the focus control photodetector output (c) and the tracking control photodetector output (d) are low, and
The current flowing through the LED 35a is reduced. And this LED35a
The resistance value Rx is increased and the gain of the AC amplifier is increased because the resistance value Rx is inversely proportional to the current flowing through the resistance value Rx. On the other hand, in the case of a disk having a high reflectance, the operation is reversed, and the gain of the AC amplifier is reduced. Therefore, if the defects have the same shape, the output of the AGC circuit has a constant amplitude even if the reflectances of the disks are different.

次に本考案の光ディスクの検査装置の動作を説明する。Next, the operation of the optical disk inspection apparatus of the present invention will be described.

ディスク12を回転させながらフォーカスをかけ、トラッ
キングを開始する前にCPUで案内溝の有無を判別する。
案内溝の有無は、トラッキング制御回路16からのトラッ
キングエラー信号16aを案内溝有無検出回路17に入力
し、その出力信号(案内溝有無信号17a)をもとに行な
う。この案内溝有無信号17aを、CPU23に入力し、この信
号をもとにディスク12のトレース手段の選択を行なった
後、検査を開始する。選択は、トレース手段選択スイッ
チ20により行なう。溝有の場合は、常法に従ってトラッ
キングを行ない、溝無の場合は、回転速度制御回路21に
より光学ピックアップ13を制御し、ディスク12面上を螺
線にトレースする。
Focus is applied while rotating the disk 12, and the presence or absence of the guide groove is determined by the CPU before starting tracking.
The presence or absence of the guide groove is determined based on an output signal (guide groove presence / absence signal 17a) obtained by inputting the tracking error signal 16a from the tracking control circuit 16 to the guide groove presence / absence detection circuit 17. The guide groove presence / absence signal 17a is input to the CPU 23, and the tracing means of the disk 12 is selected based on this signal, and then the inspection is started. The selection is made by the trace means selection switch 20. When the groove is present, the tracking is performed according to the usual method. When the groove is not present, the optical pickup 13 is controlled by the rotation speed control circuit 21 and the surface of the disc 12 is spirally traced.

案内溝有の場合は、送り機構14を駆動させトラッキング
を行なう。すなわち、CPU23からトラッキングサーボのO
N指令を出し、アクチュエータのトラッキングコイルに
サーボ電圧を加え、かつ、アクチュエータをディスクの
内外周方向に送るモータにトラッキングエラー信号16a
のDC成分を加える。かくするとき、光ビームはディスク
面の案内溝をすべてトレースしてゆく。
When the guide groove is provided, the feed mechanism 14 is driven to perform tracking. That is, the tracking servo O
N command is issued, servo voltage is applied to the tracking coil of the actuator, and the tracking error signal 16a is sent to the motor that sends the actuator to the inner and outer circumferences of the disk.
Add the DC component of. At this time, the light beam traces all the guide grooves on the disk surface.

また、案内溝無の場合は、トラッキングができないの
で、CPU23からトラッキングサーボのOFF指令を出し、ア
クチュエータのトラッキングコイルには電圧を加えな
い。そして、アクチュエータをディスクの内外周方向に
送るモータに回転速度制御回路21より回転速度制御電圧
を加える。かくするとき、光ビームはディスク面上をデ
ィスク回転数とアクチュエータ送り速度の関係で決まる
トラックピッチで螺線状にトレースしてゆく。
Further, when there is no guide groove, since tracking cannot be performed, the CPU 23 issues a tracking servo OFF command, and no voltage is applied to the tracking coil of the actuator. Then, a rotation speed control voltage is applied from the rotation speed control circuit 21 to the motor that sends the actuator in the inner and outer peripheral directions of the disk. At this time, the light beam spirally traces on the disk surface at a track pitch determined by the relationship between the disk rotation speed and the actuator feed speed.

第6図は、RF信号(e)及びコンパレータ19の出力
(f)の波形図を示す。ディスク12の欠陥があれば、例
えば第6図に示す如くRF信号(e)の振幅が変化する。
このRF信号(e)を上下一定にドロップアウト検出電圧
(光量増あるいは光量減検出電圧)とコンパレータ19に
て比較することによりドロップアウトを検出できる。し
かし、ディスク12の反射率が異なれば、RF信号の振幅も
異なってくる。本考案においては、RF信号(e)をAGC
回路18に通し、ディスク12の反射率に関わらず同一形状
の欠陥のRF信号(e)は同一振幅となるようにする。そ
して、AGC処理した後のRF信号をコンパレータ19により
前記検出電圧と比較することにより反射率の如何を問わ
ずドロップアウトを漏れなく検出することができる。
FIG. 6 shows a waveform diagram of the RF signal (e) and the output (f) of the comparator 19. If the disk 12 has a defect, the amplitude of the RF signal (e) changes, for example, as shown in FIG.
The dropout can be detected by comparing the RF signal (e) with the dropout detection voltage (light amount increase or light amount decrease detection voltage) which is constant in the upper and lower directions by the comparator 19. However, if the reflectance of the disk 12 is different, the amplitude of the RF signal is also different. In the present invention, the RF signal (e) is sent to the AGC.
The RF signal (e) of the defect having the same shape is passed through the circuit 18 to have the same amplitude regardless of the reflectance of the disk 12. Then, by comparing the RF signal after the AGC process with the detection voltage by the comparator 19, it is possible to detect the dropout without omission regardless of the reflectance.

(考案の効果) 本考案の光ディスクの検査装置は、叙上の如く検体の案
内溝の有無を問わず、かつ、反射率の影響を除くように
構成されているので、本考案によれば、光ディスク製造
工程における基盤から仕上げ盤までの各工程におけるデ
ィスクの検査を誤差少なく行なうことができる。
(Effect of the Invention) Since the optical disk inspection apparatus of the present invention is configured to remove the influence of reflectance regardless of the presence or absence of the guide groove of the sample as described above, the present invention provides: It is possible to inspect the disc in each process from the substrate to the finishing plate in the optical disc manufacturing process with a small error.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の光ディスクの検査装置の一実施例を示
すブロック図、第2図は本考案に係る案内溝有無検出回
路の一例を示す図面、第3図は同案内溝有無検出回路の
入出力波形で(a)は入力波形、(b)は出力波形であ
る。第4図は本考案に係るRF信号のAGC回路の一例を示
す図面、第5図は同AGC回路のAGC原理説明図、第6図は
RF信号(e)及びコンパレータの出力(f)の波形図、
第7図は従来の光ディスク装置の一例の概略図を示す。 17…案内溝有無検出回路、18…AGC回路、(c)…フォ
ーカス制御用光検出器出力、(d)…トラッキング制御
用光検出器出力。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an optical disc inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of a guide groove presence / absence detection circuit according to the present invention, and FIG. In the input / output waveform, (a) is an input waveform and (b) is an output waveform. FIG. 4 is a drawing showing an example of an AGC circuit for RF signals according to the present invention, FIG. 5 is an explanatory view of the AGC principle of the AGC circuit, and FIG.
Waveform diagram of RF signal (e) and comparator output (f),
FIG. 7 shows a schematic view of an example of a conventional optical disk device. 17 ... Guide groove presence / absence detection circuit, 18 ... AGC circuit, (c) ... Focus control photodetector output, (d) ... Tracking control photodetector output.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】光ディスクに光学系を介しレーザ光を照射
し、その反射光を光学ピックアップにより検出し、この
光学ピックアップの検出信号のレベルにより前記光ディ
スクを検査する光ディスクの検査装置において、前記検
出信号のレベルを自動調整するAGC回路と、このAGC回路
の出力信号を基準電圧と比較するコンパレータと、前記
光学ピックアップからの信号より前記光ディスクに案内
溝が有るか否かを検出する案内溝有無検出手段と、前記
案内溝が無い時に前記光学ピックアップの送り機構を制
御する回転速度制御回路と、前記案内溝が有る時にこの
溝にそって前記光学ピックアップを制御するトラッキン
グ制御回路とを備えたことを特徴とする光ディスクの検
査装置。
1. An optical disc inspection apparatus for irradiating an optical disc with laser light through an optical system, detecting the reflected light by an optical pickup, and inspecting the optical disc according to the level of the detection signal of the optical pickup. AGC circuit for automatically adjusting the level, a comparator for comparing the output signal of the AGC circuit with a reference voltage, and a guide groove presence / absence detecting unit for detecting whether or not the optical disk has a guide groove based on a signal from the optical pickup. And a rotation speed control circuit for controlling the feed mechanism of the optical pickup when the guide groove is absent, and a tracking control circuit for controlling the optical pickup along the groove when the guide groove is present. Optical disc inspection device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011237255A (en) * 2010-05-10 2011-11-24 Hitachi High-Technologies Corp Device and method for detecting pattern profile, and production line for patterned media disk

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JPH01121838U (en) 1989-08-18

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