JPH0749289A - 反射減衰量測定器 - Google Patents
反射減衰量測定器Info
- Publication number
- JPH0749289A JPH0749289A JP19612693A JP19612693A JPH0749289A JP H0749289 A JPH0749289 A JP H0749289A JP 19612693 A JP19612693 A JP 19612693A JP 19612693 A JP19612693 A JP 19612693A JP H0749289 A JPH0749289 A JP H0749289A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- delay time
- return loss
- light source
- reflected
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】−６０ｄＢ以下の反射減衰量の測定ができる高
精度な反射減衰量測定器を提供すること。 【構成】従来の反射減衰量測定器に受光遅延時間検出回
路１２と該受光遅延時間検出回路１２によって制御され
て検出器出力の読み取りを行う受光回路１３を設けて、
受光回路１３で受光した反射ＬＤパルス光とＬＤ光源の
出射パルス光との遅延時間ｔ1 の検出を可能にし、遅延
時間ｔ1 の間の検出器出力の読み取りを中止して、それ
により反射ＬＤパルス光測定時にノイズ光成分となる光
分岐結合器４からの回り込み光や光ファイバの後方散乱
光等を除去できる反射減衰量測定器を提供する。
精度な反射減衰量測定器を提供すること。 【構成】従来の反射減衰量測定器に受光遅延時間検出回
路１２と該受光遅延時間検出回路１２によって制御され
て検出器出力の読み取りを行う受光回路１３を設けて、
受光回路１３で受光した反射ＬＤパルス光とＬＤ光源の
出射パルス光との遅延時間ｔ1 の検出を可能にし、遅延
時間ｔ1 の間の検出器出力の読み取りを中止して、それ
により反射ＬＤパルス光測定時にノイズ光成分となる光
分岐結合器４からの回り込み光や光ファイバの後方散乱
光等を除去できる反射減衰量測定器を提供する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、反射減衰量測定器、特
に高精度の反射減衰量測定器に関するものである。
に高精度の反射減衰量測定器に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の反射減衰量測定器の基本構成を図
３に示す。
３に示す。
【０００３】図３において、ＬＤ光源１の出射光は、Ｌ
Ｄ光源をパルス駆動するための回路９（以下パルス駆動
回路という）によりパルス光となり、好ましくはモード
フィルタ（ＭＦ）２を設けてパルス光の高次モードを除
去し、次にＬＤ光の通過方向を切り換えるための光スイ
ッチ回路３によって光路を切り換える。光スイッチ回路
３がａ側にある場合には、ＬＤ光を分岐するための光分
岐結合器４を通って出射端５に達する。出射端５はコネ
クタ接続または融着接続６によって被測定物７に連結さ
れ、出射端５に達したＬＤ光は被測定物７に達し、被測
定物７で反射し、反射したＬＤパルス光は光分岐結合器
４を通り光スイッチ回路３を経て光検出器（ＤＥＴ）８
に達して、光検出器８により反射ＬＤパルス光量が測定
される。一方、光スイッチ回路３がｂ側にある場合に
は、光検出器８はＬＤ光源１の光出力を測定し、このＬ
Ｄ光源１のパルス光量を用い、前記反射ＬＤパルス光量
との差から反射減衰量が測定される。
Ｄ光源をパルス駆動するための回路９（以下パルス駆動
回路という）によりパルス光となり、好ましくはモード
フィルタ（ＭＦ）２を設けてパルス光の高次モードを除
去し、次にＬＤ光の通過方向を切り換えるための光スイ
ッチ回路３によって光路を切り換える。光スイッチ回路
３がａ側にある場合には、ＬＤ光を分岐するための光分
岐結合器４を通って出射端５に達する。出射端５はコネ
クタ接続または融着接続６によって被測定物７に連結さ
れ、出射端５に達したＬＤ光は被測定物７に達し、被測
定物７で反射し、反射したＬＤパルス光は光分岐結合器
４を通り光スイッチ回路３を経て光検出器（ＤＥＴ）８
に達して、光検出器８により反射ＬＤパルス光量が測定
される。一方、光スイッチ回路３がｂ側にある場合に
は、光検出器８はＬＤ光源１の光出力を測定し、このＬ
Ｄ光源１のパルス光量を用い、前記反射ＬＤパルス光量
との差から反射減衰量が測定される。
【０００４】また、光検出器８によるＬＤ光源１の光出
力測定により、ＬＤ光源１の光出力の校正ができる。パ
ルス光はリファレンス光ともなる。
力測定により、ＬＤ光源１の光出力の校正ができる。パ
ルス光はリファレンス光ともなる。
【０００５】上記反射減衰量測定器において、ＬＤ光源
１の出射パルス光の伝搬路は導波路によって結合される
ほか、光ファイバによっても結ばれる。
１の出射パルス光の伝搬路は導波路によって結合される
ほか、光ファイバによっても結ばれる。
【０００６】上記図３による従来の反射減衰量測定器の
構成の説明のようにして光検出器８により測定されるＬ
Ｄ光源１のパルス光量１４と反射ＬＤパルス光量を従来
の反射減衰量測定器の動作図として図４のi ）とii）に
示す。
構成の説明のようにして光検出器８により測定されるＬ
Ｄ光源１のパルス光量１４と反射ＬＤパルス光量を従来
の反射減衰量測定器の動作図として図４のi ）とii）に
示す。
【０００７】すなわち、図４のi ）には光検出器８で測
定されるパルス化されたＬＤ光源１の出射パルス光１４
を示す。出射パルス光１４の発光継続時間ｔ3 である。
定されるパルス化されたＬＤ光源１の出射パルス光１４
を示す。出射パルス光１４の発光継続時間ｔ3 である。
【０００８】図４のii）には光検出器８で測定される反
射ＬＤパルス光を示す。図から測定すべき反射ＬＤパル
ス光１０には光分岐結合器４からの回り込み光や光ファ
イバの後方散乱光等によるノイズ光成分１１が混合して
いることがわかる。
射ＬＤパルス光を示す。図から測定すべき反射ＬＤパル
ス光１０には光分岐結合器４からの回り込み光や光ファ
イバの後方散乱光等によるノイズ光成分１１が混合して
いることがわかる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
の反射減衰量測定器による測定では被測定物からの反射
ＬＤパルス光にノイズ光成分が混入するため高精度な反
射減衰量の測定ができないことがわかる。
の反射減衰量測定器による測定では被測定物からの反射
ＬＤパルス光にノイズ光成分が混入するため高精度な反
射減衰量の測定ができないことがわかる。
【００１０】ここで、高精度な測定とは−６０ｄＢ以下
の反射減衰量の測定をいう。
の反射減衰量の測定をいう。
【００１１】本発明の目的は、前述の従来技術の問題点
を解消し、高精度な反射減衰量の測定が可能な反射減衰
量測定器を提供することにある。
を解消し、高精度な反射減衰量の測定が可能な反射減衰
量測定器を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、１）Ｌ
Ｄ光源と該ＬＤ光源をパルス駆動するための回路と前記
ＬＤ光源出射パルス光を導波路または光ファイバに結合
するための光結合系と前記ＬＤ光の通過方向を切り換え
るための光スイッチ回路と前記ＬＤ光を分岐するための
光分岐結合器と被測定物からの反射戻り光を検出するた
めの光検出器とからなる反射減衰量測定器において、前
記ＬＤ光源からＬＤパルス光が出射する時刻と反射パル
ス光が前記光検出器に戻る時刻との遅延時間ｔ1 を検出
する回路を設けたこと、 ２）上記反射減衰量測定器において、前記ＬＤ光源出射
パルス光の発光開始時刻ｔ0 から、前記遅延時間ｔ1 だ
け遅れた時刻ｔ2 すなわちｔ0 ＋ｔ1 の時刻から、前記
光検出器出力の読み取りを始め、前記ＬＤパルス光の発
光時間ｔ3 経過後光検出器出力の読み取りを終える回路
を設けたことにある。
Ｄ光源と該ＬＤ光源をパルス駆動するための回路と前記
ＬＤ光源出射パルス光を導波路または光ファイバに結合
するための光結合系と前記ＬＤ光の通過方向を切り換え
るための光スイッチ回路と前記ＬＤ光を分岐するための
光分岐結合器と被測定物からの反射戻り光を検出するた
めの光検出器とからなる反射減衰量測定器において、前
記ＬＤ光源からＬＤパルス光が出射する時刻と反射パル
ス光が前記光検出器に戻る時刻との遅延時間ｔ1 を検出
する回路を設けたこと、 ２）上記反射減衰量測定器において、前記ＬＤ光源出射
パルス光の発光開始時刻ｔ0 から、前記遅延時間ｔ1 だ
け遅れた時刻ｔ2 すなわちｔ0 ＋ｔ1 の時刻から、前記
光検出器出力の読み取りを始め、前記ＬＤパルス光の発
光時間ｔ3 経過後光検出器出力の読み取りを終える回路
を設けたことにある。
【００１３】
【作用】本発明の上記構成によれば、ＬＤ光源からＬＤ
パルス光が出射する時刻と反射パルス光が前記光検出器
に戻る時刻との時間差（遅延時間）ｔ1 を検出すること
により、光検出器による反射ＬＤパルス光の測定値から
ノイズ成分を除去して反射減衰量測定精度を向上させる
ことができる。
パルス光が出射する時刻と反射パルス光が前記光検出器
に戻る時刻との時間差（遅延時間）ｔ1 を検出すること
により、光検出器による反射ＬＤパルス光の測定値から
ノイズ成分を除去して反射減衰量測定精度を向上させる
ことができる。
【００１４】
【実施例】本発明の一実施例を図１及び図２を用いて説
明する。ただし、以下の実施例は本発明を制限するもの
ではない。
明する。ただし、以下の実施例は本発明を制限するもの
ではない。
【００１５】図１は本発明の反射減衰量測定器の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【００１６】図２は本発明の反射減衰量測定器の動作を
示す説明図である。
示す説明図である。
【００１７】図１に示す本発明の反射減衰量測定器の構
成ブロック図は、前に引用した図３に示した従来の反射
減衰量測定器に受光遅延時間検出回路１２と該受光遅延
時間検出回路１２によって制御されて動作して検出器出
力の読み取りを行う受光回路１３を設けたものである。
成ブロック図は、前に引用した図３に示した従来の反射
減衰量測定器に受光遅延時間検出回路１２と該受光遅延
時間検出回路１２によって制御されて動作して検出器出
力の読み取りを行う受光回路１３を設けたものである。
【００１８】また、図２に示す本発明の反射減衰量測定
器の動作図i ）及びii）は、前に引用した図４に示した
従来の反射減衰量測定器の動作図i ）及びii）と同じで
ある。すなわち、図２のi ）の動作図は、図１の光検出
器８で測定されるパルス化されたＬＤ光源１の出射パル
ス光１４を示し、その発光継続時間はｔ3 である。
器の動作図i ）及びii）は、前に引用した図４に示した
従来の反射減衰量測定器の動作図i ）及びii）と同じで
ある。すなわち、図２のi ）の動作図は、図１の光検出
器８で測定されるパルス化されたＬＤ光源１の出射パル
ス光１４を示し、その発光継続時間はｔ3 である。
【００１９】図２のii）の動作図は、図１において、被
測定物７で反射し、光検出器８で測定される前記ノイズ
光成分１１を含んだ反射パルス光１０を示す。
測定物７で反射し、光検出器８で測定される前記ノイズ
光成分１１を含んだ反射パルス光１０を示す。
【００２０】次に、図１及び図２を用いて受光遅延時間
検出回路１２と検出器８の出力の読み取りを行う受光回
路１３の作用を説明する。
検出回路１２と検出器８の出力の読み取りを行う受光回
路１３の作用を説明する。
【００２１】図１に示す受光遅延時間検出回路１２では
受光回路１３で受光した反射パルス光１０とＬＤ光源１
の出射パルス光１４との遅延時間ｔ1 を検出する。
受光回路１３で受光した反射パルス光１０とＬＤ光源１
の出射パルス光１４との遅延時間ｔ1 を検出する。
【００２２】この遅延時間ｔ1 が検出できた時点で反射
ＬＤパルス光の測定を開始する。すなわち、遅延時間経
過を示す図２のiii ）のパルス１５の立下がりまでは受
光回路１３を非動作状態とし、パルス１５が立下がると
同時に受光回路１３を動作状態として光検出器８の出力
の読み取りを開始し、動作時間はＬＤ光源１の出射パル
ス光１４の受光継続時間はｔ3 と同じに設定し、ｔ3 時
間経過後受光回路１３による光検出器８の出力の読み取
りを終了する。以上の動作によって図２のiv）に示すよ
うにノイズ光成分１１を含まない反射ＬＤパルス光の測
定ができる。なお、受光遅延時間ｔ1 を検出する際、Ｌ
Ｄ光源１の出射光パルスの代わりにＬＤパルス駆動回路
９のＬＤ駆動パルスを用いても良い。
ＬＤパルス光の測定を開始する。すなわち、遅延時間経
過を示す図２のiii ）のパルス１５の立下がりまでは受
光回路１３を非動作状態とし、パルス１５が立下がると
同時に受光回路１３を動作状態として光検出器８の出力
の読み取りを開始し、動作時間はＬＤ光源１の出射パル
ス光１４の受光継続時間はｔ3 と同じに設定し、ｔ3 時
間経過後受光回路１３による光検出器８の出力の読み取
りを終了する。以上の動作によって図２のiv）に示すよ
うにノイズ光成分１１を含まない反射ＬＤパルス光の測
定ができる。なお、受光遅延時間ｔ1 を検出する際、Ｌ
Ｄ光源１の出射光パルスの代わりにＬＤパルス駆動回路
９のＬＤ駆動パルスを用いても良い。
【００２３】
【発明の効果】本発明の反射減衰量測定器によれば、反
射ＬＤパルス光測定時にノイズ光成分となる光分岐結合
器からの回り込み光や光ファイバの後方散乱光等を除去
でき、従って、−６０ｄＢ以下の高精度な反射減衰量測
定が可能となる。
射ＬＤパルス光測定時にノイズ光成分となる光分岐結合
器からの回り込み光や光ファイバの後方散乱光等を除去
でき、従って、−６０ｄＢ以下の高精度な反射減衰量測
定が可能となる。
【図１】本発明の反射減衰量測定器の構成の一実施例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】本発明の反射減衰量測定器の一実施例による動
作を示す説明図である。
作を示す説明図である。
【図３】従来の反射減衰量測定器の典型例の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図４】従来の反射減衰量測定器の典型例の動作を示す
説明図である。
説明図である。
１ ＬＤ光源 ２ モードフィルタ ３ 光スイッチ ４ 光分岐結合器 ５ 出射端 ６ コネクタ接続または融着接続 ７ 被測定物 ８ 光検出器 ９ ＬＤパルス駆動回路 １０ 反射パルス光 １１ ノイズ光成分 １２ 受光遅延時間検出回路 １３ 受光回路 １４ ＬＤ発光パルス １５ パルス ｔ0 出射開始時刻 ｔ1 遅延時間 ｔ3 発光時間
Claims (2)
- 【請求項１】ＬＤ光源と該ＬＤ光源をパルス駆動するた
めの回路と前記ＬＤ光源出射パルス光を導波路または光
ファイバに結合するための光結合系と前記ＬＤ光の通過
方向を切り換えるための光スイッチ回路と前記ＬＤ光を
分岐するための光分岐結合器と被測定物からの反射戻り
光を検出するための光検出器とからなる反射減衰量測定
器において、前記ＬＤ光源からＬＤパルス光が出射する
時刻と反射パルス光が前記光検出器に戻る時刻との遅延
時間ｔ1 を検出する回路を設けたことを特徴とする反射
減衰量測定器。 - 【請求項２】上記反射減衰量測定器において、前記ＬＤ
光源のパルス光出射開始時刻ｔ0 から、前記遅延時間ｔ
1 だけ遅れた時刻ｔ2 から、前記光検出器出力の読み取
りを始め、前記ＬＤパルス光の発光時間ｔ3 経過後光検
出器出力の読み取りを終える回路を設けたことを特徴と
する請求項１記載の反射減衰量測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19612693A JPH0749289A (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 反射減衰量測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19612693A JPH0749289A (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 反射減衰量測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0749289A true JPH0749289A (ja) | 1995-02-21 |
Family
ID=16352683
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19612693A Pending JPH0749289A (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 反射減衰量測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0749289A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7395644B2 (en) | 1998-09-24 | 2008-07-08 | Bowe Bell + Howell Company | Inserting apparatus and method with controlled, master cycle speed-dependent actuator operations |
| JP2016080600A (ja) * | 2014-10-20 | 2016-05-16 | 古河電気工業株式会社 | 光ファイバの測定方法および測定装置 |
-
1993
- 1993-08-06 JP JP19612693A patent/JPH0749289A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7395644B2 (en) | 1998-09-24 | 2008-07-08 | Bowe Bell + Howell Company | Inserting apparatus and method with controlled, master cycle speed-dependent actuator operations |
| JP2016080600A (ja) * | 2014-10-20 | 2016-05-16 | 古河電気工業株式会社 | 光ファイバの測定方法および測定装置 |
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