JPH0744223A - Test mode setting method for microwave oven - Google Patents
Test mode setting method for microwave ovenInfo
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- JPH0744223A JPH0744223A JP5191412A JP19141293A JPH0744223A JP H0744223 A JPH0744223 A JP H0744223A JP 5191412 A JP5191412 A JP 5191412A JP 19141293 A JP19141293 A JP 19141293A JP H0744223 A JPH0744223 A JP H0744223A
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
- Electric Ovens (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、生産過程で製品チェッ
ク等を行うために、電子レンジをテストモードに設定す
るための電子レンジのテストモード設定方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microwave oven test mode setting method for setting a microwave oven in a test mode in order to check a product in a production process.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、電子レンジの生産ラインで部品の
機能や装置のチェック等のテストを行うために、電子レ
ンジの操作パネル上に設置した調理用の操作キー、例え
ばスタートキー、オーブンキー、レンジキー等の各種キ
ーを、通常の使用態様では操作しないような組み合わせ
によってテストモードに設定し、各種のテストを行うよ
うにしていた。2. Description of the Related Art Conventionally, cooking operation keys, such as a start key and an oven key, installed on an operation panel of a microwave oven for performing tests such as checking functions of parts and devices in a microwave oven production line. Various keys, such as a range key, are set to the test mode by a combination that is not operated in a normal usage mode, and various tests are performed.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところが、前述の従来
方法では、多種類のキーを用いて複雑に押し替えなけれ
ばテストモードの設定および選択が出来ないようになっ
ているため、それに使用するために多数の種類のキーが
必要であり、操作手順も複雑で、その処理を制御するプ
ログラムも複雑になるという不都合がある。また、少な
い操作キーしか有していない機種では、実施できるテス
ト内容の数が制限されるという不都合がある。However, in the above-mentioned conventional method, the test mode cannot be set and selected without complicated pressing using various kinds of keys. There are disadvantages that many types of keys are required, the operation procedure is complicated, and the program for controlling the processing is complicated. Further, in a model having only a small number of operation keys, there is a disadvantage that the number of test contents that can be executed is limited.
【0004】そこで、本発明は少ない数のキーで多くの
テストモードの設定が可能であり、かつ操作が簡易な電
子レンジのテストモード設定方法を提供することを目的
とする。Therefore, an object of the present invention is to provide a test mode setting method for a microwave oven, in which many test modes can be set with a small number of keys and the operation is simple.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明による電子レンジ
のテストモード設定方法は、操作パネル上に複数の調理
用操作キーが設置された電子レンジにおいて、操作キー
の中の所定のキーをテストモード設定キーとし、この設
定キーのキーオン時間およびキーオフ時間の組み合わせ
によって電子レンジをテストモードに設定する。According to a method of setting a test mode of a microwave oven according to the present invention, in a microwave oven in which a plurality of operation keys for cooking are installed on an operation panel, a predetermined key among the operation keys is set in a test mode. The setting key is used, and the microwave oven is set to the test mode by the combination of the key-on time and the key-off time of the setting key.
【0006】[0006]
【作用】本発明では、電子レンジの操作パネル上に設置
されている調理用の操作キーの中から所定の操作キーを
テストモード設定キーとし、この設定キーを連続して一
定時間以上オンし、次いで一定時間以上オフし、その
後、再びオンすることによって、すなわちキーオン時間
およびキーオフ時間の組み合わせによって電子レンジを
テストモードに設定する。電子レンジをテストモードに
設定した後のテスト内容の選択は、設定キーを順次オン
することによって順次切り替え、所望のテスト内容を選
択したところでテスト開始を指示するキーを操作するこ
とによってテスト内容を実行する。In the present invention, a predetermined operation key among the operation keys for cooking installed on the operation panel of the microwave oven is used as the test mode setting key, and this setting key is continuously turned on for a predetermined time or more, Then, the microwave oven is set to the test mode by turning it off for a certain time or more and then turning it on again, that is, by combining the key-on time and the key-off time. After setting the microwave to the test mode, the test contents are selected by sequentially turning on the setting keys, and when the desired test contents are selected, the test contents are executed by operating the key to start the test. To do.
【0007】また、設定キーとしては、一定時間以上オ
ンする最初のキーと、一定時間以上オフした後にオンす
る2回目のキーとが異なるキーであってもよく、この場
合は2回目にオンするキーをテスト内容の選択を兼ねた
キーとしてもよい。The setting key may be different from the first key which is turned on for a certain time or longer and the second key which is turned on after being turned off for a certain period or longer. In this case, the setting key is turned on for the second time. The key may be a key that also serves to select the test content.
【0008】[0008]
【実施例】図1は、本発明が適用される電子レンジの操
作パネルの一例を示す構成図である。この操作パネル
は、加熱時間や加熱の進行具合などを表示する表示部
1、各種の操作キーが設置されているキー入力部2を備
え、キー入力部2には、加熱をスタートさせるスタート
キー2a、電子レンジをオーブンモードに設定するオー
ブンキー2b、レンジモードに設定するレンジキー2
c、グリルモードに設定するグリルキー2d、加熱の停
止や設定の取り消しを行う取り消しキー2eが設置され
ている。1 is a block diagram showing an example of an operation panel of a microwave oven to which the present invention is applied. This operation panel is provided with a display unit 1 for displaying a heating time, a heating progress, etc., and a key input unit 2 in which various operation keys are installed. The key input unit 2 has a start key 2a for starting heating. , Oven key 2b to set the microwave to oven mode, range key 2 to set the microwave mode
c, a grill key 2d for setting the grill mode, and a cancel key 2e for stopping heating or canceling the setting are provided.
【0009】図2は、本発明が適用される電子レンジの
概略的ブロック図で、制御部10およびその周辺回路を
示している。制御部10は中央処理装置やプログラムメ
モリ、ワーキングメモリ等を有するマイクロコンピュー
タで構成され、電源回路11の投入によってリセット回
路12から発生するリセット信号でイニシャライズさ
れ、電源同期信号回路13からの同期信号に同期して動
作を開始し、クロック回路14からのクロック信号によ
って駆動される。FIG. 2 is a schematic block diagram of a microwave oven to which the present invention is applied, showing the control unit 10 and its peripheral circuits. The control unit 10 is composed of a microcomputer having a central processing unit, a program memory, a working memory, etc., is initialized by a reset signal generated from the reset circuit 12 when the power supply circuit 11 is turned on, and is converted into a synchronization signal from the power supply synchronization signal circuit 13. The operation is started in synchronization and driven by the clock signal from the clock circuit 14.
【0010】また、制御部10への入力信号としては、
キー入力部2で操作されたキーを検出するキースイッチ
回路15からのキー情報、加熱室に収納された被加熱物
の重量を測定する重量センサ回路16からの重量情報、
加熱室内の温度を測定するサーミスタ回路17からの温
度情報等がある。As an input signal to the control unit 10,
Key information from a key switch circuit 15 that detects a key operated by the key input unit 2, weight information from a weight sensor circuit 16 that measures the weight of a heated object housed in a heating chamber,
There is temperature information and the like from the thermistor circuit 17 that measures the temperature in the heating chamber.
【0011】また、制御部10からは、表示回路18に
加熱時間および加熱進行具合等の情報を出力し、ブザー
回路19に加熱時間の終了を表す情報を出力し、リレー
駆動回路20にリレー制御情報等を出力する。表示回路
18は加熱時間等の情報を受けてこれらの情報を表示部
1に表示する制御を行い、ブザー回路19は加熱時間の
終了を示す情報を受けてブザーを鳴らし、リレー駆動回
路20はリレー制御情報を受けて各種のリレー接点の開
閉駆動を行う。The control unit 10 outputs information such as heating time and heating progress to the display circuit 18, outputs information indicating the end of heating time to the buzzer circuit 19, and relay control to the relay drive circuit 20. Output information etc. The display circuit 18 receives the information such as the heating time and controls to display this information on the display unit 1, the buzzer circuit 19 receives the information indicating the end of the heating time and sounds the buzzer, and the relay drive circuit 20 causes the relay drive circuit 20 to relay. Receiving control information, it opens and closes various relay contacts.
【0012】次に、本実施例によるテストモードの設定
方法を、図3に示すフローチャートを参照しながら説明
する。本実施例はキー入力部2の所定の一つのキーをテ
ストモード設定キーとし、この設定キーの操作によって
テストモードを設定するようになっている。Next, the method of setting the test mode according to this embodiment will be described with reference to the flow chart shown in FIG. In this embodiment, one predetermined key of the key input unit 2 is used as a test mode setting key, and the test mode is set by operating this setting key.
【0013】まず、制御部10は、キー入力部2の何れ
かのキーがオンされたことを表すキーオン情報がキース
イッチ回路15から入力されたか否かを検出し(ステッ
プS1)、次いでオンされたキーがテストモード設定キ
ー、例えばオーブンキー2bであるか否か判断する(ス
テップS2)。オンされたキーが設定キー2bであれば
キーオンタイマをスタートさせ(ステップS3)、そう
でなければ処理を終了する。なお、各キーはフリップ・
フロップを用いたトグル形式となっており、一度目の操
作でオンし、2度目の操作でオフするようになってい
る。First, the control unit 10 detects whether or not key-on information indicating that any one of the keys of the key input unit 2 has been turned on is input from the key switch circuit 15 (step S1), and then turned on. It is determined whether or not the selected key is the test mode setting key, for example, the oven key 2b (step S2). If the turned-on key is the setting key 2b, the key-on timer is started (step S3), and if not, the process ends. In addition, each key is a flip
It is a toggle type using a flop, and it is turned on by the first operation and turned off by the second operation.
【0014】次いで、キースイッチ回路15からキーオ
ン情報が再び入力されると(ステップS4)、これは設
定キー2b以外のキーがオンされたことを意味するので
キーオンタイマをクリアし(ステップS5)、処理を終
了する。また、キーオンタイマが、例えば10秒以上カ
ウントした場合は(ステップS6)、設定キー2bがテ
ストモード設定のためにオンされたものでないと判断し
てキーオンタイマをクリアし(ステップS5)、処理を
終了する。Next, when the key-on information is input again from the key switch circuit 15 (step S4), this means that a key other than the setting key 2b is turned on, so the key-on timer is cleared (step S5). The process ends. If the key-on timer counts for 10 seconds or more (step S6), it is determined that the setting key 2b is not turned on for setting the test mode, the key-on timer is cleared (step S5), and the process is executed. finish.
【0015】設定キーがオンされた後に他のキーがオン
されず、しかも10秒経過しないうちにキースイッチ回
路15からキーオフ信号が入力されたときは(ステップ
S7)、制御回路10は設定キー2bがオフされたと判
断し、キーオンタイマの内容を読み取って設定キー2b
のキーオン時間が2秒以上か否か判断する(ステップS
8)。When the key-off signal is input from the key switch circuit 15 within 10 seconds after the setting key is turned on and other keys are not turned on (step S7), the control circuit 10 sets the setting key 2b. Is determined to have been turned off, the contents of the key-on timer are read, and the setting key 2b
It is determined whether or not the key-on time of is 2 seconds or more (step S
8).
【0016】キーオン時間が2秒未満であればキーオン
タイマをクリアし(ステップS5)、処理を終了する。
2秒以上であればキーオンタイマをクリアし(ステップ
S9)、今度はキーオフタイマをスタートさせ(ステッ
プS10)、キースイッチ回路15からのキーオン情報
を待機する(ステップS11)。If the key-on time is less than 2 seconds, the key-on timer is cleared (step S5), and the process ends.
If it is 2 seconds or more, the key-on timer is cleared (step S9), the key-off timer is started this time (step S10), and the key-on information from the key switch circuit 15 is waited (step S11).
【0017】キースイッチ回路15からキーオン情報が
入力されると、オンされたキーが設定キー2bか否か判
断し(ステップS12)、設定キー2bでなければ別の
キーがオンされたとしてキーオフタイマをクリアし(ス
テップS13)、処理を終了する。When the key-on information is input from the key switch circuit 15, it is judged whether or not the turned-on key is the setting key 2b (step S12). If it is not the setting key 2b, it is determined that another key is turned on and the key-off timer Is cleared (step S13), and the process ends.
【0018】オンされたキーが設定キー2bであれば、
ステップS7でキーオフされてからステップS11でキ
ーオンされるまでのキーオフ時間が2秒以内か否か判断
し(ステップS14)、2秒を超えていればキーオフタ
イマをクリアし(ステップS13)、処理を終了する。
2秒以内であればキーオフタイマをクリアし(ステップ
S15)、テストモード設定処理を行う(ステップS1
6)。If the key turned on is the setting key 2b,
It is determined whether or not the key-off time from the key-off in step S7 to the key-on in step S11 is within 2 seconds (step S14), and if it exceeds 2 seconds, the key-off timer is cleared (step S13), and the process is executed. finish.
If it is within 2 seconds, the key-off timer is cleared (step S15), and the test mode setting process is performed (step S1).
6).
【0019】このテストモード設定処理は表示部1にテ
ストモードの設定状態である旨の表示を行い、電子レン
ジを最初のテストモードに設定する。次いで、キースイ
ッチ回路15からのキーオン情報の入力を待機し(ステ
ップS17)、キーオン情報が入力されたときは、オン
されたキーの種別を判断する。In this test mode setting process, the display unit 1 displays that the test mode is set, and the microwave oven is set to the first test mode. Next, the input of key-on information from the key switch circuit 15 is awaited (step S17), and when the key-on information is input, the type of the turned-on key is determined.
【0020】その結果、オンされたキーが取り消しキー
2eであれば(ステップS18)、処理を終了し、スタ
ートキー2aであれば(ステップS19)、設定されて
いるテスト内容の実行を開始し(ステップS20)、設
定キー2bであれば(ステップS21)、次ぎのテスト
内容に移行する(ステップS22)。それ以外のキーが
オンされたとき(ステップS21)、テスト内容の実行
が終了したとき(ステップS20)、あるいは次ぎのテ
スト内容に移行したときは(ステップS22)、再びス
テップS17の処理に戻る。As a result, if the turned-on key is the cancel key 2e (step S18), the process is terminated, and if it is the start key 2a (step S19), execution of the set test content is started ( If the key is the setting key 2b (step S20) (step S21), the process proceeds to the next test content (step S22). When any other key is turned on (step S21), the execution of the test content is completed (step S20), or when the next test content is entered (step S22), the process returns to step S17.
【0021】このように、本実施例では、テストモード
設定キーとして機能する所定の操作キーを、連続して2
秒間以上オンし続け、キーオフ後、2秒以内に再びオン
することによって電子レンジをテストモードに設定する
ことができる。さらにテスト内容の切り替えも設定キー
の操作によって順次切り替えることができる。As described above, in the present embodiment, the predetermined operation keys functioning as the test mode setting keys are consecutively pressed twice.
The microwave oven can be set to the test mode by continuing to turn on for more than one second, and turning on again within 2 seconds after key off. Furthermore, the test contents can be switched in sequence by operating the setting keys.
【0022】この動作を、図4に示すタイミングチャー
トによって説明する。まず、設定キーであるオーブンキ
ー2bを時点t0 でオンし、3秒経過した時点t1 でオ
フする。さらに、時点t1 から1秒経過した時点t2 で
再び設定キー2bをオンすると、電子レンジはテストモ
ードに設定される。テストモードの設定が終了した時点
t3 以降に再び設定キー2bをオンすると、オンする毎
にテスト内容を切り替えることができる。こうして所望
のテスト内容を選択した後に、時点t4 でスタートキー
2aをオンすれば、選択したテスト内容を実行すること
が出来る。This operation will be described with reference to the timing chart shown in FIG. First, the oven key 2b, which is a setting key, is turned on at a time point t 0 , and turned off at a time point t 1 after 3 seconds. Further, when the setting key 2b is turned on again at the time point t 2 when one second has passed from the time point t 1 , the microwave oven is set to the test mode. When the setting key 2b is turned on again after the time t 3 when the setting of the test mode is completed, the test contents can be switched every time the setting key 2b is turned on. After selecting the desired test content in this way, if the start key 2a is turned on at time t 4 , the selected test content can be executed.
【0023】図5は、本発明によるテストモード設定方
法の他の実施例を示すタイミングチャートである。前述
の実施例では、所定の一つのキーの操作によってテスト
モードの設定およびテスト内容の選択ができるようにし
たが、本実施例では最初にオンしてキーオン時間を設定
する設定キーと、所定のキーオフ時間後にオンする設定
キーとを異ならせ、かつ2回目にオンする設定キーの種
類によってテスト内容の選択を同時に行えるようにした
ものである。FIG. 5 is a timing chart showing another embodiment of the test mode setting method according to the present invention. In the above-described embodiment, the test mode can be set and the test contents can be selected by operating one predetermined key, but in the present embodiment, the setting key for turning on the key-on time first and the predetermined key are set. The setting key that is turned on after the key-off time is different, and the test contents can be selected at the same time depending on the type of the setting key that is turned on for the second time.
【0024】例えば、時点t0 で最初の設定キー(例え
ば、オーブンキー2b)をオンし、2.5秒経過した時点
t1 でオフし、それから1.5秒後の時点t2 で2回目の
設定キー(例えば、レンジキー2c)をオンすると、レ
ンジキー2cに対応したテスト内容が選択され、時点t
3 でスタートキー2aをオンすることでそのテスト内容
が実行される。[0024] For example, first setting key at the time t 0 (for example, oven key 2b) turned on, turned off at the time t 1 has elapsed 2.5 seconds, the second time with it from after the 1.5 second time point t 2 When the setting key (for example, the range key 2c) is turned on, the test content corresponding to the range key 2c is selected at the time t.
When the start key 2a is turned on at 3 , the test content is executed.
【0025】[0025]
【発明の効果】本発明によれば、少ない数のキーで多種
類のテストモードの設定が可能となるため、操作キーの
少ない機種でも多種類のテストが実行でき、しかもテス
トモードの設定および選択の手順が大幅に簡素化され
る。According to the present invention, a large number of types of test modes can be set with a small number of keys, so that a large number of types of tests can be executed even with a model having a small number of operation keys, and the setting and selection of test modes can be performed. The procedure is greatly simplified.
【図1】本発明が適用される電子レンジの操作パネルの
一例を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an example of an operation panel of a microwave oven to which the present invention is applied.
【図2】図1に示す電子レンジの制御系のブロック図で
ある。FIG. 2 is a block diagram of a control system of the microwave oven shown in FIG.
【図3】本発明による設定手順の一実施例を説明するフ
ローチャートである。FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of a setting procedure according to the present invention.
【図4】図3に示す設定手順のタイミングチャートであ
る。FIG. 4 is a timing chart of the setting procedure shown in FIG.
【図5】本発明の他の実施例を説明するタイミングチャ
ートである。FIG. 5 is a timing chart illustrating another embodiment of the present invention.
1 表示部 2 キー入力部 2a スタートキー 2b オーブンキー 2c レンジキー 2d グリルキー 2e 取り消しキー 10 制御部 15 キースイッチ回路 18 表示回路 1 display section 2 key input section 2a start key 2b oven key 2c range key 2d grill key 2e cancel key 10 control section 15 key switch circuit 18 display circuit
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05B 6/68 310 Z 7361−3K Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location H05B 6/68 310 Z 7361-3K
Claims (3)
設置された電子レンジにおいて、前記操作キーの中の所
定のキーをテストモード設定キーとし、前記設定キーの
キーオン時間およびキーオフ時間の組み合わせによって
前記電子レンジをテストモードに設定することを特徴と
する電子レンジのテストモード設定方法。1. A microwave oven having a plurality of cooking operation keys installed on an operation panel, wherein a predetermined key among the operation keys is a test mode setting key, and a combination of a key-on time and a key-off time of the setting key. A test mode setting method for a microwave oven, characterized in that the microwave oven is set to a test mode according to.
ことを特徴とする請求項1記載の電子レンジのテストモ
ード設定方法。2. The microwave oven test mode setting method according to claim 1, wherein the setting key is a single operation key.
定する設定キーと前記キーオフ時間後に操作する設定キ
ーとが異なるキーであり、前記キーオフ時間後に操作す
る設定キーはテスト内容の選択を兼ねていることを特徴
とする請求項1記載の電子レンジのテストモード設定方
法。3. The setting key is a key different from a setting key for setting the key-on time and a setting key operated after the key-off time, and the setting key operated after the key-off time also serves to select a test content. The test mode setting method for a microwave oven according to claim 1, wherein:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5191412A JPH0744223A (en) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | Test mode setting method for microwave oven |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5191412A JPH0744223A (en) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | Test mode setting method for microwave oven |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0744223A true JPH0744223A (en) | 1995-02-14 |
Family
ID=16274184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5191412A Pending JPH0744223A (en) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | Test mode setting method for microwave oven |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0744223A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101915879A (en) * | 2010-07-20 | 2010-12-15 | 美的集团有限公司 | Electromagnetic oven testing device |
-
1993
- 1993-08-02 JP JP5191412A patent/JPH0744223A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101915879A (en) * | 2010-07-20 | 2010-12-15 | 美的集团有限公司 | Electromagnetic oven testing device |
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