JPH0738722A - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JPH0738722A
JPH0738722A JP5180549A JP18054993A JPH0738722A JP H0738722 A JPH0738722 A JP H0738722A JP 5180549 A JP5180549 A JP 5180549A JP 18054993 A JP18054993 A JP 18054993A JP H0738722 A JPH0738722 A JP H0738722A
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image
optical system
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Akihiko Kuze
暁彦 久世
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】光学系の収差に起因する画質劣化を低減させ
る。 【構成】集光光学系11は、被写体の撮像光10を第1
焦点面に集光させる。リレー光学系13は、第1焦点面
に結像される像を再び第2焦点面に結像する。第1焦点
面にはマスク板12を配設し、また、第2焦点面には複
数の受光素子15を有する一次元アレイセンサ14を配
設する。一次元アレイセンサ14は、複数の受光素子1
5が等間隔かつ互い違いに前後2列に配置して構成す
る。マスク板12は、一次元アレイセンサ14の各受光
素子15にそれぞれ対応して開けられた複数の小穴16
を有している。被写体の結像が一次元アレイセンサの受
光素子列に対して直角方向に移動していくように、撮像
装置を航空機や人工衛星等に搭載する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は航空機や人工衛星等に搭
載して地球探査等に利用する撮像装置に関し、特に集光
光学系により第1焦点面に結像される像をリレー光学系
により第2焦点面に結像し、この第2焦点面に一次元ア
レイセンサを配設している撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の撮像装置は、図3に示す
ように、被写体の撮像光20を第1焦点面に集光する集
光光学系21と、第1焦点面に配設されるスリット板2
2と、第1焦点面に結像される像を再び第2焦点面に結
像するリレー光学系23と、複数の受光素子25を有し
第2焦点面に配設される一次元アレイセンサ24とを備
えている。
【0003】一次元アレイセンサ24は、図4(e)に
示すように、複数の受光素子が密接して一列に配置され
ているセンサであり、図示しない駆動回路が各受光素子
を電気的に走査することにより、各受光素子から画像信
号を検出している。この一次元アレイセンサの受光素子
の配列方向に対して、被写体の結像が直角方向に移動し
ていくように撮像装置を航空機や人工衛星等に搭載すれ
ば、被写体の二次元画像を得ることができる。
【0004】ところで、スリット板22には、一次元ア
レイセンサ24の受光素子列に対応して一本のスリット
26を設けている。このスリット26を設けることによ
って、光学系の収差により本来受光すべきではない撮像
光が一次元アレイセンサ24の受光素子に入射して画質
を劣化させるのを防止している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の撮像装
置では、光学系の収差に起因する画質劣化を防止するた
めに、一本のスリットを有するスリット板を第1焦点面
に配設している。しかし、このスリットは長手方向に連
続して開いており、光学系の収差によって第1焦点面か
らの撮像光が長手方向に広がるので、一次元アレイセン
サの各受光素子には、本来入射すべきではない隣接受光
素子に対応する部分の入射光が漏込んでくる。このた
め、受光素子間の濃淡が不明確になり画質が劣化すると
いう問題点がある。
【0006】例えば、図4(a)に示すように、一次元
アレイセンサの各受光素子に対応して黒線と白線とが交
互に配列しているテストパターンを撮像した場合、第1
焦点面の結像を光度を縦軸にして表示すれば、集光光学
系の収差により図4(b)のように境界が少しぼけて結
像する。更に、第2焦点面では、リレー光学系の収差に
より図4(c)のように更に境界がぼけて結像する。従
って、第2焦点面に配設された一次元アレイセンサの各
受光素子の出力は、図4(d)に示すように、レベル変
化が少なくなり、濃淡が不明瞭な画質の劣化した画像信
号となる。
【0007】本発明の目的は、光学系の収差に起因する
画質劣化を低減できる撮像装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、被
写体からの光を第1焦点面に集光する第1の集光手段
と、前記第1焦点面に結像される像を再び第2焦点面に
結像する第2の集光手段と、複数の受光素子が配置され
前記第2焦点面に配設される受光センサと、この受光セ
ンサの前記複数の受光素子にそれぞれ対応して開けられ
た複数の小穴を有し前記第1焦点面に配設されるマスク
板とを備える。また、前記マスク板は、等間隔かつ互い
違いに前後2列に配置される前記複数の小穴を有してい
る。
【0009】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0010】本発明の撮像装置の光学系は、図1に示す
ように、被写体の撮像光10を第1焦点面に集光する集
光光学系11と、第1焦点面に配設されるマスク板12
と、第1焦点面に結像される像を再び第2焦点面に結像
するリレー光学系13と、複数の受光素子15を有し第
2焦点面に配設される一次元アレイセンサ14とを備え
ている。
【0011】一次元アレイセンサ14は、図2(g)に
示すように、複数の受光素子が等間隔かつ互い違いに前
後2列に配置されているセンサであり、図示しない駆動
回路が各受光素子列を電気的に走査することにより、各
受光素子から画像信号を検出する。また、この撮像装置
を搭載した航空機や人工衛星等の移動方向と受光素子列
の配列方向とを直交させることにより、被写体の結像が
一次元アレイセンサの受光素子列に対して直角方向に移
動していくので、各受光素子列から読出した信号を合成
することにより被写体の二次元画像を得ることができ
る。
【0012】ところで、マスク板12には、一次元アレ
イセンサ14の各受光素子15にそれぞれ対応するよう
に複数の小穴16が開けられている。すなわち、一次元
アレイセンサ14の各受光素子15の配置とマスク板1
2の各小穴16の配置は同一であり、リレー光学系13
で生じる収差による影響が低減できるように設定してい
る。
【0013】例えば、図2(a)に示すように、一次元
アレイセンサ14の各受光素子15に対応して黒線と白
線とが交互に配列しているテストパターンを撮像した場
合、第1焦点面における結像の光度を縦軸にして表示す
れば、集光光学系11の収差により図2(b)のように
境界が少しぼけて結像する。この第1焦点面の結像は、
マスク板12およびリレー光学系13を通過して第2焦
点面に結像する。
【0014】ここで、第1焦点面に配設されるマスク板
12の小穴は、図2(c)に示すように、等間隔に前後
2列に配置されているので、第2焦点面に配設される一
次元アレイセンサ14の受光素子の前列側に対応する結
像は、図2(d)に示すようになり、一方、受光素子の
後列側に対応する結像は、図2(e)に示すようにな
る。すなわち、隣接受光素子に対応する部分の入射光
が、一次元アレイセンサの各受光素子に漏込んでくるの
を抑えることができる。従って、一次元アレイセンサの
受光素子の出力は、図2(f)に示すように、濃淡が明
瞭な画像信号となり、光学系の収差に起因する画質劣化
を低減できる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、集
光光学系が第1焦点面に結像する像をリレー光学系によ
り第2焦点面に結像し、この第2焦点面に複数の受光素
子が配列した一次元アレイセンサを配設する撮像装置に
おいて、一次元アレイセンサの複数の受光素子を等間隔
に前後2列に配列し、また、第1焦点面には一次元アレ
イセンサの各受光素子にそれぞれ対応して開けられた複
数の小穴を有するマスク板を配設することにより、一次
元アレイセンサの各受光素子に、隣接受光素子に対応す
る部分の入射光が漏込んでくるのを抑えることができる
ので、従来のようなスリット板を使用した場合に比べ
て、光学系の収差の影響を更に低減して濃淡が明瞭な画
像信号を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図である。
【図2】本実施例の動作を説明するための図である。
【図3】従来の撮像装置の光学系の一例を示す図であ
る。
【図4】従来の撮像装置の動作を説明するための図であ
る。
【符号の説明】
11 集光光学系 12 マスク板 13 リレー光学系 14 一次元アレイセンサ 15 受光素子 16 小穴
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // G02B 27/18 Z 9120−2K

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体からの光を第1焦点面に集光する
    第1の集光手段と、前記第1焦点面に結像される像を再
    び第2焦点面に結像する第2の集光手段と、複数の受光
    素子が配置され前記第2焦点面に配設される受光センサ
    と、この受光センサの前記複数の受光素子にそれぞれ対
    応して開けられた複数の小穴を有し前記第1焦点面に配
    設されるマスク板とを備えることを特徴とする撮像装
    置。
  2. 【請求項2】 前記マスク板は、等間隔かつ互い違いに
    前後2列に配置される前記複数の小穴を有していること
    を特徴とする請求項1記載の撮像装置。
JP5180549A 1993-07-22 1993-07-22 撮像装置 Expired - Lifetime JP2565287B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5180549A JP2565287B2 (ja) 1993-07-22 1993-07-22 撮像装置

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JP5180549A JP2565287B2 (ja) 1993-07-22 1993-07-22 撮像装置

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Publication Number Publication Date
JPH0738722A true JPH0738722A (ja) 1995-02-07
JP2565287B2 JP2565287B2 (ja) 1996-12-18

Family

ID=16085225

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5180549A Expired - Lifetime JP2565287B2 (ja) 1993-07-22 1993-07-22 撮像装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0785447A3 (en) * 1996-01-19 1998-11-25 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Image pickup apparatus, density measuring optical system and scanning optical microscope

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0785447A3 (en) * 1996-01-19 1998-11-25 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Image pickup apparatus, density measuring optical system and scanning optical microscope

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JP2565287B2 (ja) 1996-12-18

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Effective date: 19960813