JPH0738153A - 半導体発光素子並びに光ファイバモジュール装置および半導体発光素子ディスプレイ装置 - Google Patents

半導体発光素子並びに光ファイバモジュール装置および半導体発光素子ディスプレイ装置

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JPH0738153A
JPH0738153A JP17909993A JP17909993A JPH0738153A JP H0738153 A JPH0738153 A JP H0738153A JP 17909993 A JP17909993 A JP 17909993A JP 17909993 A JP17909993 A JP 17909993A JP H0738153 A JPH0738153 A JP H0738153A
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JP
Japan
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semiconductor
light emitting
semiconductor layer
electrode
semiconductor substrate
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Application number
JP17909993A
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English (en)
Inventor
Yasuhiro Wada
安弘 和田
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH0738153A publication Critical patent/JPH0738153A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光出射面に電極を有せず、外部量子効率を向
上させて輝度を高めることができ、発光領域を狭くして
いわゆる点発光を実現でき、しかも簡単に作製できる半
導体発光素子を提供する。 【構成】 n型半導体基板10と、基板10の一つの面
の所定領域に設けられたn型半導体層11と、n型半導
体層11上に積層されたp型半導体層12と、p型半導
体層12上に設けられた第1の電極15を備える。半導
体層11,12の近傍に、基板10の上記面に直接、ま
たは、基板10と同一の導電型を持つ第3の半導体層
(図示せず)を介して設けられた第2の電極14を備え
る。第1の電極15と第2の電極14との間に通電され
たとき、半導体層11と12との接合で発した光lを、
基板10の反対側の面17を通して出射する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体発光素子に関
する。より詳しくは、半導体基板の片面にn型半導体層
とp型半導体層とを有し、このn型半導体層とp型半導
体層との接合面から略垂直方向へ光を出射する半導体発
光素子に関する。また、そのような半導体発光素子を用
いて構成した光ファイバモジュール装置および半導体発
光素子ディスプレイ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体発光素子としては、図10
に示すように、n型半導体基板101の表面側に、例え
ばエピタキシャル成長法によりn型半導体層102、p
型半導体層103を順に形成し、n型半導体基板101
の裏面側とp型半導体層103の表面側に、スパッタ法
や蒸着法などによりオーミックコンタクト用の金属材料
(例えばAu)を設けてそれぞれn側電極104、p側
電極105を構成したものがある。n型半導体層102
とp型半導体層103とでpn接合面118が形成され
ている。図12(a)に示すように、n側電極104とp
側電極105との間に電流が注入されると(図中、電流
広がり幅を破線122a,122bで示している。)、
pn接合面118のうち電流広がり幅122a,122
bに含まれる部分118aが発光し、その光Lはp型半
導体層103を通して表面117側から出射される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記半導体
発光素子内部での電流の広がりを説明すると、半導体素
子内部のpn接合面118での実効電流広がり幅Waは
近似的に次式(1)および(2)で表される(ヒロオ・
ヨネズら:ジャパン・ジャーナル・オブ・アプライド・
フィジクス(Japan.J.Appl.Phys.)No.10
(1973)1585.)。
【0004】 Wa=W0+2W1 …(1) W1=(2nkT/qJ(ρ/h))1/2 …(2) ここで、W0はp側電極105の電極幅、nはダイオー
ド特性を表す定数、kはボルツマン定数、Tは温度、qは
電荷、Jは電流密度、ρはp型半導体層103の抵抗
率、hはp型半導体層103の厚さをそれぞれ示してい
る。
【0005】式(2)から分かるように、p型半導体層
103の厚さが薄い場合は、W1が小さく、pn接合面
118での発光領域118aのほとんどは電極105直
下にある。このため、上記従来の半導体発光素子は、電
極105によって光Lが殆ど遮ぎられ、素子(チップ)
外部へ出射される光の効率(一般に「外部量子効率」と
いう。)が低いという問題がある。また、出射された光
Lの指向性が、電極105の陰によって影響を受け、チ
ップの正面方向がくぼむという問題がある。
【0006】これらの問題を改善するため、従来は、p
型半導体層103の抵抗率ρを小さくしたり、図12
(b)に示すようにp型半導体層103の厚みh1(h1
h)を厚くしたりして、pn接合面118での電流広が
り幅Waを広げる設計がなされている。しかし、p型半
導体層103の抵抗率ρを小さく(不純物濃度を高く)
すると、p型半導体層103の光吸収係数が大きくな
り、また、結晶欠陥による非発光センターが発生しやす
くなるという弊害が生ずる。一方、p型半導体層103
の厚さhを厚くすると、p型半導体層103での光吸収
量が大きくなり、また、電流の広がりに伴い電流密度が
低くなって発光効率が低下するという弊害が生ずる。結
果として、外部量子効率を向上させる効果はあまり得ら
れていない。
【0007】また、図11に示すように、n型半導体層
102とp型半導体層103の両側部分を除去して、そ
こにポリイミドなどの絶縁用樹脂106を設け、樹脂1
06表面からp型半導体層103表面に延びる電極10
5′を設けた半導体発光素子が提案されている。つま
り、発光領域118aが電極105′直下にくるのを避
け、電極105′の隙間を通して光Lを出射させようと
している。この半導体発光素子では、電極105′によ
って吸収,遮光される割合を低くして、ある程度外部量
子効率を向上させ、光の指向性におけるチップ正面方向
の窪みをなくすことができる。しかし、光出射面117
の一部がオーミック接触領域として電極105′に覆わ
れているため、光Lの一部は電極105′により吸収及
び反射を受け、外部に出射されていない。さらに、この
半導体発光素子は、図11に示したものに比して、内部
構造が複雑になるため、製造工程が複雑で、工程数が増
加するという問題がある。
【0008】また、図10に示した従来の半導体発光素
子と、光ファイバとを組み合わせて光ファイバモジュー
ル装置を構成した場合、半導体発光素子自体が持つ上述
の問題点のほかに、半導体発光素子の発光領域が広いこ
とが問題となる。すなわち、通常の光ファイバモジュー
ル装置では、半導体発光素子からの光を効率よく光ファ
イバに取り込むために、半導体発光素子と光ファイバと
の間に集光用のレンズが形成されている。ここで、上記
従来の半導体発光素子は、pn接合面での電流広がり幅
を広げた結果、発光領域が広くなっているため、レンズ
による集光性が悪くなって、光ファイバに対する光結合
効率が低下する。また、半導体発光素子と光ファイバ、
集光用レンズとの位置合わせも難しい点であり、これら
の位置ずれによる光結合効率の低下が問題となる。
【0009】また、図10に示した従来の半導体発光素
子を同一面内に複数配置して半導体発光素子ディスプレ
イ装置を構成した場合、各半導体発光素子の光出射面1
17側に電極105が形成されているため、装置のディ
スプレイ面に電極105の陰(暗い部分)が発生すると
いう問題がある。また、半導体発光素子アレイをマトリ
クス状に配置する場合、ディスプレイ面側に電極105
があるため、電極配線が非常に難しいという問題があ
る。
【0010】そこで、この発明の目的は、光出射面に電
極を有せず、外部量子効率を向上させて輝度を高めるこ
とができ、発光領域を狭くしていわゆる点発光を実現で
き、しかも簡単に作製できる半導体発光素子を提供する
ことにある。
【0011】また、この発明の目的は、半導体発光素子
と光ファイバとの間の光結合効率を高めることができる
光ファイバモジュール装置を提供することにある。
【0012】また、この発明の目的は、ディスプレイ面
に電極の陰が発生することなく、高輝度を示し、かつ電
極配線が簡単に行うことができる半導体発光素子ディス
プレイ装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の半導体発光素子は、p型またはn
型のいずれかの導電型を持つ半導体基板と、上記半導体
基板の導電型と同一の導電型を持ち、上記半導体基板の
一つの面の所定領域に設けられた第1の半導体層と、上
記半導体基板の導電型と異なる導電型を持ち、上記第1
の半導体層上に積層された第2の半導体層と、上記第2
の半導体層上に設けられた第1の電極と、上記第1,第
2の半導体層の近傍に、上記半導体基板の上記面に直
接、または、上記半導体基板の導電型と同一の導電型を
持つ第3の半導体層を介して設けられた第2の電極を備
えて、上記第1の電極と第2の電極との間に通電された
とき、上記第1の半導体層と第2の半導体層との接合部
で発した光を、上記半導体基板の上記面と反対側の面を
通して出射するようにしたことを特徴としている。
【0014】また、請求項2に記載の半導体発光素子
は、請求項1記載の半導体発光素子において、上記第2
の半導体層の厚さが50μm以下に設定されていること
を特徴としている。
【0015】また、請求項3に記載の半導体発光素子
は、請求項1または2に記載の半導体発光素子におい
て、上記第2の半導体層の抵抗率が0.2Ωcm-1以上に
設定されていることを特徴としている。
【0016】また、請求項4に記載の半導体発光素子
は、請求項1乃至3のいずれか一つに記載の半導体発光
素子において、上記第2の半導体層と上記第1の電極と
の間に、コンタクト用開口を有する絶縁層が設けられ、
このコンタクト用開口を通して上記第2の半導体層と上
記第1の電極とが接触していることを特徴としている。
【0017】また、請求項5に記載の半導体発光素子
は、請求項1乃至4のいずれか一つに記載の半導体発光
素子において、上記半導体基板の上記反対側の面で、上
記光が出射する箇所に、集光用のレンズが設けられてい
ることを特徴としている。
【0018】また、請求項6に記載の光ファイバモジュ
ール装置は、半導体発光素子アレイと、この半導体発光
素子アレイと光結合する光ファイバアレイとを有し、上
記半導体発光素子アレイは、p型またはn型のいずれか
の導電型を持つ半導体基板と、上記半導体基板の導電型
と同一の導電型を持ち、上記半導体基板の一つの面の複
数の領域に設けられた第1の半導体層と、上記半導体基
板の導電型と異なる導電型を持ち、上記第1の半導体層
上にそれぞれ積層された第2の半導体層と、上記第2の
半導体層上にそれぞれ設けられた第1の電極と、上記第
1,第2の半導体層の近傍に、上記半導体基板の上記面
に直接、または、上記半導体基板の導電型と同一の導電
型を持つ第3の半導体層を介して設けられた第2の電極
を備えて、上記第1の電極と第2の電極との間に通電さ
れたとき、上記第1の半導体層と第2の半導体層との接
合部で発した光を、上記半導体基板の上記面と反対側の
面を通して出射するようになっており、上記光ファイバ
アレイを構成する各光ファイバの一端は、それぞれ上記
半導体発光素子アレイの上記半導体基板の上記反対側の
面の光出射箇所に配されていることを特徴としている。
【0019】また、請求項7に記載の半導体発光素子デ
ィスプレイ装置は、一方向に延びる半導体発光素子アレ
イを平行に複数並べて配置したマトリクス状の半導体発
光素子ディスプレイ装置であって、上記半導体発光素子
アレイは、p型またはn型のいずれかの導電型を持ち一
方向に延びる半導体基板と、上記半導体基板の導電型と
同一の導電型を持ち、上記半導体基板の一つの面で一方
向に並ぶ複数の領域に設けられた第1の半導体層と、上
記半導体基板の導電型と異なる導電型を持ち、上記第1
の半導体層上にそれぞれ積層された第2の半導体層と、
上記第2の半導体層上にそれぞれ設けられた第1の電極
と、上記第1,第2の半導体層の近傍に、上記半導体基
板の上記面に直接、または、上記半導体基板の導電型と
同一の導電型を持つ第3の半導体層を介して設けられた
第2の電極を備えて、上記第1の電極と第2の電極との
間に通電されたとき、上記第1の半導体層と第2の半導
体層との接合部で発した光を、上記半導体基板の上記面
と反対側の面を通して出射するようになっていることを
特徴としている。
【0020】
【作用】請求項1の半導体発光素子では、電極がすべて
半導体基板の一つの面側に設けられ、この面と反対側の
面から光が出射されるので、電極によって光が遮ぎられ
るようなことが無く、従来の半導体発光素子(図10)
に比して外部量子効率が改善される。この結果、従来に
比して、輝度が高まる。また、電極によって光が遮られ
ないことから、第1の半導体層と第2の半導体層とがな
す接合部(pn接合面)での電流広がり幅を狭くして、
発光領域を狭くする設計が可能となる。したがって、い
わゆる点発光を実現できる。また、この半導体発光素子
は、内部構造として樹脂を含まないので、通常の工程に
よって簡単に作製される。
【0021】また、請求項2の半導体発光素子では、上
記第2の半導体層の厚さが50μm以下に設定されてい
る。この場合、式(1)、(2)から分かるように、上
記pn接合面での電流広がり幅が狭くなり、発光領域が
狭くなる。
【0022】また、請求項3の半導体発光素子では、上
記第2の半導体層の抵抗率が0.2Ωcm-1以上に設定さ
れている。この場合、式(1)、(2)から分かるよう
に、上記pn接合面での電流広がり幅が狭くなり、発光
領域が狭くなる。
【0023】また、請求項4の半導体発光素子では、上
記第2の半導体層と上記第1の電極との間に、コンタク
ト用開口を有する絶縁層が設けられ、このコンタクト用
開口を通して上記第2の半導体層と上記第1の電極とが
接触している。この場合、上記式(1)において、電極
幅が実質的に上記コンタクト用開口の寸法に減じられ
る。したがって、上記pn接合面での電流広がり幅がさ
らに狭くなり、さらに発光領域が狭くなる。
【0024】また、請求項5の半導体発光素子は、上記
半導体基板の上記反対側の面(光出射面)で、光が出射
する箇所に、集光用のレンズが設けられている。この場
合、pn接合面での電流広がり幅を狭くした結果、発光
領域が狭くなっているので、レンズによる集光性が良く
なり、光ファイバに対する光結合効率が高くなる。ま
た、pn接合面の発光領域と上記集光用レンズとの位置
合わせは、光出射面に直接レンズを設けることにより高
精度になされる。したがって、光ファイバと組み合わせ
る場合の光結合効率が高まる。
【0025】また、請求項6に記載の光ファイバモジュ
ール装置は、半導体発光素子アレイと、この半導体発光
素子アレイと光結合する光ファイバアレイとを有する。
ここで、上記半導体発光素子アレイは、電極が半導体基
板の一つの面側に設けられ、この面と反対側の面から光
が出射するようになっている。したがって、電極によっ
て光が遮ぎられるようなことが無く、外部量子効率が改
善され、従来に比して輝度が高くなる。また、電極によ
って光が遮られないことから、第1の半導体層と第2の
半導体層とがなす接合部(pn接合面)での電流広がり
幅を狭くして、発光領域を狭くする設計がなされる。し
たがって、集光性が良くなって、光ファイバに対する光
結合効率が高まる。また、半導体発光素子アレイの光出
射面には電極が存在しないので、この光出射面に直接レ
ンズを設けたり、光ファイバとの接続用の凹溝を設ける
ことが可能となる。このようにした場合、pn接合面の
発光領域と集光用レンズとの位置合わせが、容易に、か
つ高精度になされる。したがって、さらに光結合効率が
高まる。
【0026】また、請求項7に記載の半導体発光素子デ
ィスプレイ装置は、各半導体発光素子アレイの電極がす
べて半導体基板の一つの面側に設けられ、この面と反対
側(ディスプレイ面側)の面を通して光を出射するの
で、装置のディスプレイ面に電極の陰(暗い部分)が発
生することがない。したがって、高輝度を示す。また、
第1,第2の電極に対する配線は、すべて上記半導体基
板の上記一つの面側で行われる。したがって、電極配線
が簡単に行われる。また、各半導体発光素子アレイの第
2の電極を、それぞれ各半導体発光素子アレイの一端側
に設けた場合、第2の電極は、上記半導体基板を共通配
線として用いる。したがって、電極配線のパターンが交
差しなくなり、この結果、電極配線がさらに簡単に行わ
れる。
【0027】
【実施例】以下、この発明を図面を参照して実施例によ
り詳細に説明する。
【0028】図1は、この発明の一実施例の半導体発光
素子を示している。この半導体発光素子は、GaAs系赤
外発光素子であって、n−GaAs基板10の表面(一つ
の面)に、n−GaAs層11、p−GaAs層12を順に
備えている。p−GaAs層12の表面には、コンタクト
用開口13aを有する絶縁膜としてのSiO2膜13が
設けられている。さらに、SiO2膜13上に、第1の
電極としてのp層電極15が設けられている。このp層
電極15は、コンタクト用開口13aを通してp−Ga
As層12とオーミック接触している。一方、上記メサ
部11,12近傍のn−GaAs基板10の表面上に、第
2の電極としてのn層電極14が設けられている。
【0029】この半導体発光素子は、p層電極15とn
層電極14との間に電流を流すことにより、p型半導体
層12とn型半導体層11との接合面18から基板10
の反対側の面17を通して光Lを出射する。光出射面1
7に電極が存在しないので、従来に比して外部量子効率
を向上させ、輝度を高めることができる。
【0030】図8,図9は、前述した式(1)、(2)にお
いて、p−GaAs層12の抵抗率ρ、厚さh、および素
子の全電流値Iをパラメータとして、pn接合面18で
の実効電流広がり幅Waを計算した結果を示している。
なお、図8ではp層電極15の電極幅Woを20μm、素
子の全電流値Iを20mAとし、図9ではp層電極15
の電極幅Woを20μm、p−GaAs層12の厚さhを1
0μmとして計算している。これらの図から、p−GaA
s層12の抵抗率ρが大きいほど、また厚さhが小さい
ほど、また素子の全電流値Iが大きいほど実効電流広が
り幅Waは小さくなることがわかる。
【0031】この半導体発光素子では、光出射面17に
電極が存在しないことから、上記計算結果に基づいて実
効電流広がり幅Waを小さく取って発光領域18aを狭
くすることができる。すなわち、この半導体発光素子で
は、pn接合面18での実効電流広がり幅Waを小さく
する目的で、p−GaAs層12の厚さhを50μm以下
に設定している。また、p−GaAs層12の抵抗率ρを
0.2Ωcm-1以上に設定している。また、p−GaAs層
12とp層電極15との間にSiO2膜13を設けて、
p−GaAs層12とp層電極15とをコンタクト用開口
13aを通してのみ接触させることにより、式(1)にお
けるW0の値自体を小さく設定している。この結果、発
光領域18aを従来に比して狭くして、いわゆる点発光
を実現することができる。
【0032】図2(a)〜(d)は、上記半導体発光素子の作
製過程を示している。
【0033】まず、同図(a)に示すように、n−GaA
s基板10の表面に、液相エピタキシャル成長法等の手
法により、n−GaAs層11、p−GaAs層12を順次
形成する。続いて、p−GaAs層12の表面に、CVD
法やスパッタ法等の手法により、SiO2膜13を形成
する。フォトリソグラフィー等の手法により、SiO2
膜13を部分的に除去してコンタクト用開口13aを形
成する。
【0034】次に、同図(b)に示すように、コンタク
ト用開口13a,13aの間の領域をn−GaAs基板1
0に達するまでケミカルエッチングして、SiO2膜1
3、p−GaAs層12、n−GaAs層11を除去する。
これにより、n−GaAs基板10の表面に分離溝16を
設けて、p−GaAs層12、n−GaAs層11をチップ
単位に分離する。なお、このとき、p−GaAs層12を
分離すれば良く、分離溝16にn−GaAs層11を残し
ても良い。またケミカルエッチングの代わりに、ダイシ
ングソーで機械的に切削加工を施しても良い。
【0035】次に、同図(c)に示すように、SiO2
13上に、コンタクト用開口を通してp−GaAs層12
と接触するp層電極15を形成するとともに、分離溝1
6内のn−GaAs基板10(または残したn−GaAs層
11)の表面にn層電極14を形成する。この後、所定
の熱処理を施して、p層電極15とp型GaAs層12、
n層電極14とn−GaAs基板10(または残したn−
GaAs層11)とのオーミックコンタクトをとる。
【0036】最後に、同図(d)に示すように、ダイシ
ングソーなどを用いてn−GaAs基板10を切断して
(切断箇所を10aで示す)、個々のチップに分割す
る。これにより、図1に示した半導体発光素子を得る。
【0037】このように、この半導体発光素子は、図1
1に示した従来の半導体発光素子と異なり、ポリイミド
などの絶縁用樹脂を設けないので、通常の工程によって
簡単に作製することができる。
【0038】なお、図3に示すように、n層電極14の
直下にn−GaAs層11′を設けて、p層電極15とn
層電極14とを同じ高さに形成しても良い。この場合、
上記工程の後、例えば選択的エピタキシャル成長法な
どにより、分離溝16内のn−GaAs基板10の表面に
n−GaAs層11′を形成する。この後、上記工程か
らのプロセスを実施する。これにより、容易に作製する
ことができる。
【0039】図4(a),(b)は、図3に示した半導体発光
素子の光出射面17にレンズ19,20aを設けた例を
示している。図4(a)に示す半導体発光素子は、光出射
面17に、例えばエピタキシャル成長法などの手法によ
り、半導体からなるレンズ19を形成したものである。
一方、図4(b)に示す半導体発光素子は、光出射面17
に、例えばガラス、プラスチックからなるレンズ部材2
0を搭載したものである。上述のように半導体発光素子
の発光領域を狭くしているので、レンズ19、20によ
って集光性を高めることができる。なお、レンズ19、
レンズ部材20は、光出射面17に電極が存在しないこ
とから、容易に形成または搭載することができる。ま
た、レンズ19、20aは半球レンズとして図示してい
るが、非球面レンズやフレネルレンズなどであっても良
い。
【0040】なお、上記各半導体発光素子はGaAs系の
赤外発光素子としたが、当然ながら、これに限られるも
のではない。例えばGaPやGaAsP、GaAlAs等の他
の材料を採用しても良い。この場合も同様に、外部量子
効率を向上させて輝度を高めることができ、発光領域を
狭くしていわゆる点発光を実現することができる。ま
た、簡単に作製することができる。
【0041】図5は、この発明の一実施例の光ファイバ
モジュール装置を示している。
【0042】この光ファイバモジュール装置は、複数の
光ファイバ31を一方向に並べてなる光ファイバアレイ
50と、ライン状の半導体発光素子アレイ30と、配線
電極32,33を有する配線基板40とを備えている。
半導体発光素子アレイ30は、図3に示した半導体発光
素子のn−GaAs層11,p−GaAs層12を光ファイ
バ31の数だけ一方向に同一ピッチで並べ、一端にn−
GaAs層11′を設けて構成されている。各層12,1
1′の電極は半田バンプ34になっている。また、配線
基板40の配線電極33,32は、半導体発光素子アレ
イ30の半田バンプ34と対応して設けられている。す
なわち、配線電極33は、半田バンプ34と同一ピッチ
で並び、半導体発光素子アレイ30の長手方向に対して
垂直に延びている。配線電極32はn−GaAs層11′
に対応し、半導体発光素子アレイ30の長手方向と平行
に延びている。
【0043】半導体発光素子アレイ30は、半田バンプ
34を介して配線基板40にフリップチップボンディン
グされ、電気的に接続される。このように半導体発光素
子アレイ30をフリップチップとして用いることによっ
て、半導体発光素子アレイ30と配線基板40とを容易
に接続できる。この後、光ファイバアレイ50が、半導
体発光素子アレイ30の光出射面17上に搭載される。
この結果、半導体発光素子アレイ30の発光領域18a
と光ファイバアレイ50の光ファイバ31とが、それぞ
れ1対1に光結合する。既に述べたように、半導体発光
素子アレイ30の各発光領域18aは狭く形成されてい
るので、従来に比して光結合効率を高めることができ
る。
【0044】また、図6(a),(b)に示すように、半導体
発光素子アレイ30の光出射面17に、発光領域18a
に対応して半球レンズ19やフレネルレンズ19′を設
けた場合、光ファイバ31との光結合効率をさらに向上
できる。また、光ファイバ31との位置合わせを容易に
行うことができる。なお、同図(c)に示すように、半導
体発光素子アレイの光出射面17に、発光領域18aに
対応して光ファイバ31との接続用の凹溝35を形成し
た場合も、同様の効果を得ることができる。
【0045】図7は、この発明の一実施例の半導体発光
素子ディスプレイ装置を示している。
【0046】この半導体発光素子ディスプレイ装置は、
マトリクス状の半導体発光素子アレイ30′と、走査用
電極36,信号用電極37を有する配線基板40′とを
備えている。半導体発光素子アレイ30′は、図5中に
示した半導体発光素子アレイ(但し、可視光発光のもの
に限る。)30を平行に複数並ベて構成されている。ま
た、配線基板40′の電極37,36は、半導体発光素
子アレイ30′の半田バンプ34と対応して設けられて
いる。すなわち、信号用電極37は、各ライン30の半
田バンプ34と同一ピッチで並び、ライン30の長手方
向に対して垂直に延びている。走査用電極36は、各ラ
イン30の端部のn−GaAs層11′に対応し、各ライ
ン30の長手方向と平行に延びている。
【0047】半導体発光素子アレイ30′は、半田バン
プ34を介して配線基板40′にフリップチップボンデ
ィングされ、電気的に接続される。各半導体発光素子ア
レイ30の電極がすべて片面側に設けられているので、
電極配線を簡単に行うことができる。すなわち、半導体
発光素子アレイ30をフリップチップとして用いること
によって、図5の例と同様に、半導体発光素子アレイ3
0′と配線基板40′とを容易に接続できる。したがっ
て、実装を容易に行うことができる。
【0048】なお、半導体発光素子アレイ30′の光出
射面17には、高輝度化を目的としてレンズ等を設けて
も良い。
【0049】
【発明の効果】以上より明らかなように、請求項1の半
導体発光素子は、電極がすべて半導体基板の一つの面側
に設けられ、この面と反対側の面から光が出射されるの
で、電極によって光が遮ぎられるようなことが無く、従
来の半導体発光素子(図10)に比して外部量子効率を
改善でき、この結果、従来に比して輝度を高めることが
できる。また、電極によって光が遮られないことから、
第1の半導体層と第2の半導体層とがなす接合部(pn
接合面)での電流広がり幅を狭くして、発光領域を狭く
することができ、いわゆる点発光を実現できる。また、
内部構造として樹脂を含まないので、通常の工程によっ
て簡単に作製することができる。
【0050】また、請求項2に半導体発光素子は、上記
第2の半導体層の厚さが50μm以下に設定されている
ので、上記pn接合面での電流広がり幅を狭くして、発
光領域を狭くすることができる。
【0051】また、請求項3の半導体発光素子は、上記
第2の半導体層の抵抗率が0.2Ωcm-1以上に設定され
ているので、上記pn接合面での電流広がり幅を狭くし
て、発光領域を狭くすることかできる。
【0052】また、請求項4の半導体発光素子は、上記
第2の半導体層と上記第1の電極との間に、コンタクト
用開口を有する絶縁層が設けられ、このコンタクト用開
口を通して上記第2の半導体層と上記第1の電極とが接
触しているので、電極幅を実質的に上記コンタクト用開
口の寸法に減じることができる。したがって、上記pn
接合面での電流広がり幅をさらに狭くでき、さらに発光
領域を狭くすることができる。
【0053】また、請求項5の半導体発光素子は、上記
半導体基板の上記反対側の面(光出射面)で、光が出射
する箇所に、集光用のレンズが設けられている。しか
も、pn接合面での電流広がり幅を狭くした結果、発光
領域が狭くなっているので、レンズによる集光性を改善
でき、光ファイバに対する光結合効率を高めることがで
きる。また、pn接合面の発光領域と上記集光用レンズ
との位置合わせは、光出射面に直接レンズを設けること
により高精度になされる。したがって、光ファイバと組
み合わせる場合の光結合効率を高めることができる。
【0054】また、請求項6に記載の光ファイバモジュ
ール装置は、半導体発光素子アレイと、この半導体発光
素子アレイと光結合する光ファイバアレイとを有し、上
記半導体発光素子アレイは、電極がすべて半導体基板の
一つの面側に設けられ、この面と反対側の面から光が出
射するので、電極によって光が遮ぎられるようなことが
無い。したがって、外部量子効率を改善でき、従来に比
して輝度を高めることができる。また、電極によって光
が遮られないことから、第1の半導体層と第2の半導体
層とがなす接合部(pn接合面)での電流広がり幅を狭
くして、発光領域を狭くすることができる。したがっ
て、集光性が良くして、光ファイバに対する光結合効率
を高めることができる。また、半導体発光素子アレイの
光出射面には電極が存在しないので、この光出射面に直
接レンズを設けたり、光ファイバとの接続用の凹溝を設
けることができる。このようにした場合、pn接合面の
発光領域と集光用レンズとの位置合わせを、容易に、か
つ高精度に行うことができる。したがって、さらに光結
合効率を高めることができる。
【0055】また、請求項7に記載の半導体発光素子デ
ィスプレイ装置は、各半導体発光素子アレイの電極がす
べて半導体基板の一つの面側に設けられ、この面と反対
側(ディスプレイ面側)の面を通して光を出射するの
で、装置のディスプレイ面に電極の陰(暗い部分)が発
生することがない。したがって、高輝度を示すことがで
きる。また、第1,第2の電極に対する配線は、すべて
上記半導体基板の上記一つの面側で行われるので、電極
配線を簡単に行うことができる。また、各半導体発光素
子アレイの第2の電極を、それぞれ各半導体発光素子ア
レイの一端側に設けた場合、第2の電極は、上記半導体
基板を共通配線として用いて、電極配線のパターンが交
差しなくなり、この結果、電極配線をさらに簡単に行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例の半導体発光素子の断面
構造を示す図である。
【図2】 上記半導体発光素子の作製過程を示す図であ
る。
【図3】 上記半導体発光素子の変形例を示す図であ
る。
【図4】 上記半導体発光素子のさらなる変形例を示す
図である。
【図5】 この発明の一実施例の光ファイバモジュール
装置の構成を示す図である。
【図6】 上記光ファイバモジュール装置の変形例を示
す図である。
【図7】 この発明の一実施例の半導体発光素子ディス
プレイ装置の構成を示す図である。
【図8】 電流広がり幅についての計算結果を示す図で
ある。
【図9】 電流広がり幅についての計算結果を示す図で
ある。
【図10】 従来の半導体発光素子の断面構造を示す図
である。
【図11】 従来の半導体発光素子の断面構造を示す図
である。
【図12】 図10に示した従来の半導体発光素子の動
作を説明する図である。
【符号の説明】
10 n−GaAs基板 11 n−GaAs層 12 p−GaAs層 13 SiO2膜 14 n層電極 15 p層電極 16 分離溝 17 光出射面 18 pn接合面 19,20a レンズ 30 半導体発光素子アレイ 31 光ファイバアレイ 32,33 配線電極 34 バンプ 35 凹溝 36 走査用電極 37 信号用電極

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 p型またはn型のいずれかの導電型を持
    つ半導体基板と、 上記半導体基板の導電型と同一の導電型を持ち、上記半
    導体基板の一つの面の所定領域に設けられた第1の半導
    体層と、 上記半導体基板の導電型と異なる導電型を持ち、上記第
    1の半導体層上に積層された第2の半導体層と、 上記第2の半導体層上に設けられた第1の電極と、 上記第1,第2の半導体層の近傍に、上記半導体基板の
    上記面に直接、または、上記半導体基板の導電型と同一
    の導電型を持つ第3の半導体層を介して設けられた第2
    の電極を備えて、 上記第1の電極と第2の電極との間に通電されたとき、
    上記第1の半導体層と第2の半導体層との接合部で発し
    た光を、上記半導体基板の上記面と反対側の面を通して
    出射するようにしたことを特徴とする半導体発光素子。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体発光素子におい
    て、 上記第2の半導体層の厚さが50μm以下に設定されて
    いることを特徴とする半導体発光素子。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の半導体発光素
    子において、 上記第2の半導体層の抵抗率が0.2Ωcm-1以上に設定
    されていることを特徴とする半導体発光素子。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか一つに記載の
    半導体発光素子において、 上記第2の半導体層と上記第1の電極との間に、コンタ
    クト用開口を有する絶縁層が設けられ、このコンタクト
    用開口を通して上記第2の半導体層と上記第1の電極と
    が接触していることを特徴とする半導体発光素子。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか一つに記載の
    半導体発光素子において、 上記半導体基板の上記反対側の面で、上記光が出射する
    箇所に、集光用のレンズが設けられていることを特徴と
    する半導体発光素子。
  6. 【請求項6】 半導体発光素子アレイと、この半導体発
    光素子アレイと光結合する光ファイバアレイとを有し、 上記半導体発光素子アレイは、p型またはn型のいずれ
    かの導電型を持つ半導体基板と、上記半導体基板の導電
    型と同一の導電型を持ち、上記半導体基板の一つの面の
    複数の領域に設けられた第1の半導体層と、上記半導体
    基板の導電型と異なる導電型を持ち、上記第1の半導体
    層上にそれぞれ積層された第2の半導体層と、上記第2
    の半導体層上にそれぞれ設けられた第1の電極と、上記
    第1,第2の半導体層の近傍に、上記半導体基板の上記
    面に直接、または、上記半導体基板の導電型と同一の導
    電型を持つ第3の半導体層を介して設けられた第2の電
    極を備えて、上記第1の電極と第2の電極との間に通電
    されたとき、上記第1の半導体層と第2の半導体層との
    接合部で発した光を、上記半導体基板の上記面と反対側
    の面を通して出射するようになっており、 上記光ファイバアレイを構成する各光ファイバの一端
    は、それぞれ上記半導体発光素子アレイの上記半導体基
    板の上記反対側の面の光出射箇所に配されていることを
    特徴とする光ファイバモジュール装置。
  7. 【請求項7】 一方向に延びる半導体発光素子アレイを
    平行に複数並べて配置したマトリクス状の半導体発光素
    子ディスプレイ装置であって、 上記半導体発光素子アレイは、p型またはn型のいずれ
    かの導電型を持ち一方向に延びる半導体基板と、上記半
    導体基板の導電型と同一の導電型を持ち、上記半導体基
    板の一つの面で一方向に並ぶ複数の領域に設けられた第
    1の半導体層と、上記半導体基板の導電型と異なる導電
    型を持ち、上記第1の半導体層上にそれぞれ積層された
    第2の半導体層と、上記第2の半導体層上にそれぞれ設
    けられた第1の電極と、上記第1,第2の半導体層の近
    傍に、上記半導体基板の上記面に直接、または、上記半
    導体基板の導電型と同一の導電型を持つ第3の半導体層
    を介して設けられた第2の電極を備えて、上記第1の電
    極と第2の電極との間に通電されたとき、上記第1の半
    導体層と第2の半導体層との接合部で発した光を、上記
    半導体基板の上記面と反対側の面を通して出射するよう
    になっていることを特徴とする半導体発光素子ディスプ
    レイ装置。
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