JPH0735520Y2 - チャンネル検査装置 - Google Patents

チャンネル検査装置

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JPH0735520Y2
JPH0735520Y2 JP1988129769U JP12976988U JPH0735520Y2 JP H0735520 Y2 JPH0735520 Y2 JP H0735520Y2 JP 1988129769 U JP1988129769 U JP 1988129769U JP 12976988 U JP12976988 U JP 12976988U JP H0735520 Y2 JPH0735520 Y2 JP H0735520Y2
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JP
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亮 光山
歳世彦 市来
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Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、放送局、スタジオ等、あるいは中継所、ロケ
現場において使用される多数のステレオ機器のステレオ
・チャンネル(R(右)チャンネル及びL(左)チャン
ネル)について検査するのに用いるチャンネル検査装置
に関する。
従来技術及びその問題点 例えば、放送局では、収音、調整、再生、伝送を含む系
において、多数のマイクロホン、ミキサ、スイッチャ等
が使用されており、混みいったケーブル接続となるのが
通例である。このような状況において、各種機器の間で
のステレオ回線のLR接続を正確に行わねばならない。
従来、このステレオ回線のLR接続の確認は、単一出力の
発振器を用いて行っていた。詳しくは、その発振器出力
をステレオ回線の一端からL回線及びR回線に片方ずつ
入力する一方、そのステレオ回線の他端または途中で、
その発振器出力の受信の有無、並びにそのL回線または
R回線のどちらで受けているかについて、ヘッドホンま
たはオシロスコープ等で確認していた。
このような確認作業は、接続ケーブルが長い場合、ある
いは複数のスタジオにまたがっている場合には、特に繁
雑となり、手間がかかっていた。
この問題は、本局−中継所間、または本局−ロケ現場間
のように地理的に離れた場所間でのステレオ回線のLR回
線チェックにおいては、更に一層著しくなる。例えば、
ロケ現場−本局間では、ロケ現場のステレオLR回線の一
方に発振器出力を入力し、そして現在どちらの回線に入
力しているかをロケ現場と受信側の本局との間で電話連
絡する必要があった。
従って、本考案の目的は、簡単な回線でLRチャンネルの
如き1対の信号チャンネルの回線接続を検査、確認する
のに使用できるチャンネル検査装置を提供することであ
る。
更に、本考案は、1対の信号チャンネルの回線接続の検
査、及びそれらチャンネルのレベル合わせに使用できる
チャンネル検査装置を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段及び作用 上記の目的を達成するために、本考案のチャンネル検査
装置では、聴覚的にあるいは視覚的に識別可能な1対の
試験信号を発生する。
詳しくは、本考案のチャンネル検査装置は、第1図の第
1の基本構成図に示すように、1対の第1と第2の信号
チャンネルを検査するため、前記第1の信号チャンネル
に通す第1の試験信号として、第1の波形を有する第1
の信号を発生する信号発生手段1と、前記第1の信号を
受けるように接続されていて、前記第2の信号チャンネ
ルに通す第2の試験信号として、前記第1の信号を変更
して第2の波形を有する第2の信号を発生する波形変更
手段2と、から成っている。
また、本考案のチャンネル検査装置は、第2図の第2の
基本構成図に示すように、出力レベル調整手段3を更に
含むことができる。この調整手段3は、信号発生手段1
からの前記第1の信号と、波形変更手段2からの第2の
信号を受けるように接続されており、そしてこの調整手
段は、それら第1と第2の信号の出力レベルを互いに所
定の関係を持つように調節し、その結果の信号をそれぞ
れ前記第1及び第2の試験信号として発生する。
このような構成のチャンネル検査装置においては、1対
の第1及び第2の信号チャンネルに供給する、聴覚的ま
たは視覚的に識別可能な第1及び第2の試験信号を発生
するよう作用する。
実施例 次に、本考案のチャンネル検査装置の1実施例について
説明する。
第3図は、本考案に従って構成したステレオチャンネル
検査装置のブロック図である。この検査装置は、前述の
信号発生手段1及び波形変更手段2として、正弦波発振
器10と、クリップ回路20とを備え、更に、スイッチSW1
及びSW2、及び2つの減衰器40及び42を備えている。
発振器10の出力は、クリップ回路20の入力と、スイッチ
SW1及びSW2の接点bとに接続されている。クリップ回路
20の出力は、それらスイッチの接点aに接続されてい
る。スイッチSW1、SW2の接点cは、無信号用の接点であ
る。これらスイッチは、互いに独立して切り換え可能で
あり、各接点a,b,cの信号を夫々の減衰器40、42に与え
るよう作用する。
減衰器40、42は、ステレオチャンネルL、Rのレベル合
わせに使用するものであり、各減衰器出力L、Rを出力
端子50、52に発生する。各々の減衰器は、例えば、0dB
アッテネータ及び−20dBアッテネータと、並びに1dBス
テップの−4dB〜+3dB微調アッテネータと、を備えてい
る。
次に、クリップ回路20を詳細に示す第4図を参照する。
この第4図のクリップ回路は、半波整流回路にバイアス
を加える型式のものである。このクリップ回路が含む演
算増幅器22は、その反転入力に、抵抗器R1を介して正弦
波入力Vinを、そして抵抗器R3を介してクリップレベル
を示すクリップ電圧Vsを受ける。増幅器22の出力は、ダ
イオードD1及び抵抗器R2の直列接続、並びにダイオード
D2を通してその反転入力に接続されている。通常、演算
増幅器22のゲイン(R2/R1)は、1に設定してある。
クリップ出力Voutは、抵抗器R2とダイオードD1との接続
点に発生され、これは、第5図に示すように、クリップ
レベルVsに関して半波整流された波形となる。このクリ
ップレベルVsは、例えば、正弦波の上部10%をクリップ
するような値である。
次に、ステレオチャンネル検査装置の動作について説明
する。
本検査装置を、LR配線チェックに使用する場合、スイッ
チSW1を接点aにそしてスイッチSW2を接点bに切り換
え、それによりステレオ回線の一端から、そのL回線に
クリップ波形をそしてそのR回線に正弦波を与える。こ
の場合、減衰器は、バイパスとする。この配線チェック
においては、予め、L回線及びR回線のどちらにクリッ
プ波形を通すかを約束しておく。本例では、L回線にク
リップ波形を通し、従ってR回線に正弦波を通す。これ
によって、検査するステレオ回線の途中もしくは他端の
ステレオ機器において、この機器のステレオLR回線のど
ちらからクリップ波、正弦波が検出されるかに応じて、
LR配線チェックをすることができる。
この検査にヘッドホンを使用する場合、クリップ波は、
正弦波と比べ、高調波を多く含んでいるためピッチが高
くなり、従って、クリップ波は聴覚的に正弦波と識別で
きる。一方、オシロスコープを使用する場合には、波形
として、クリップ波と正弦波とは視覚的に識別できる。
また、この正弦波と、この正弦波とクリップ波との組み
合わせは、周波数成分が殆ど同じであるため、経路の周
波数特性に関係なく配線チェックが行える。
尚、このLR配線チェックの際、正弦波とクリップ波との
出力レベルが殆ど同じであるため(クリップ波は約−1d
Bのレベルダウン)、LR回線の各々の断線チェック、並
びに大きなレベルダウンのチェックも同時に行える。
更に、このレベル差の殆ど無い正弦波とクリップ波とを
用いて、ステレオLR回線上の各種ステレオ機器の大まか
なレベル合わせもできる。この場合、減衰器40及び42を
使用し、所要の減衰出力を夫々の出力端子50及び52に出
力し、そしてそのステレオ回線に供給する。
次に、本考案に従って構成したステレオチャンネル検査
装置の第2の実施例について説明する。この第2の実施
例は、第3図の検査装置に対し、正確なレベル合わせの
機能を追加したものである。即ち、この第2の実施例で
は、前述した出力レベル調整手段3として、クリップ回
路20のゲイン調整を更に含んでいる。
詳しくは、第4図の詳細なクリップ回路20において、こ
の回路のゲインは、抵抗器R1とR2の抵抗値の比(R2/R
1)で決まる。従って、上記の場合では−1dBレベルダウ
ンするクリップ波の出力レベルが、正弦波の出力レベル
と一致するように、その抵抗値の比を設定する。尚、ス
テレオ機器が指示計として実効値メータを使用している
場合には、正弦波出力とクリップ波出力の実効値が一致
するように調整する。これら出力は、この出力レベル調
整の後、各スイッチSW1、SW2を通して減衰器40、42に加
えられ、ここでレベル合わせに必要な減衰を受けそして
各出力端子50、52に出力される。この結果、正弦波とク
リップ波の組み合わせを用いて、LR配線チェック並びに
各種ステレオ機器のレベル合わせも行うことができる。
以上に説明した実施例においては、次のような変更が可
能である。第1に、信号源波形として正弦波の代わり
に、その他の波形、例えば、三角波、矩形波の台形波が
使用できる。第2に、クリップレベルは、聴覚的または
視覚的に識別可能であれば、電圧Vsを変更して、正弦波
(またはその他の波形)の上記の上部10%以外のレベル
にも設定できる。第3に、波形変更の仕方として、波形
の上部及び下部の両方をリミットする方法がある。
効果 以上に述べた本考案のチャンネル検査装置によれば、簡
単にしかも簡単な回路でLR配線チェックをすることがで
き、従来のように今どちらの回線に試験信号を与えてい
るかについての連絡が不要となる。また、LR識別用の試
験信号を、ステレオ機器の大まかなあるいは正確なレベ
ル合わせにも使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案のチャンネル検査装置の第1基本構成
を示す概略図。 第2図は、本考案のチャンネル検査装置の第2の基本構
成を示す概略図。 第3図は、本考案によるステレオチャンネル検査装置の
ブロック図。 第4図は、第3図のクリップ回路の詳細な回路図。 第5図は、第4図の回路の波形を示す図。 (符号説明) 10:正弦波発振器、20:クリップ回路、40、42:減衰器、5
0、52:出力端子、22:演算増幅器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭47−24802(JP,A) 特公 昭54−19161(JP,B2)

Claims (6)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】1対の第1と第2の信号チャンネルを検査
    するため、該第1と第2の信号チャンネルに通す第1と
    第2の試験信号を発生するチャンネル検査装置であっ
    て、 イ)前記第1の試験信号として、第1の波形を有する第
    1の信号を発生する信号発生手段と、 ロ)前記第1の信号を受けるように接続されており、前
    記第2の試験信号として、前記第1の信号を変更するこ
    とにより、前記第1の波形とは部分的に異なった第2の
    波形を有しかつ前記第1の信号と同一の周波数を有する
    第2の信号を発生する変更手段と、 から成るチャンネル検査装置。
  2. 【請求項2】請求項第1項記載のチャンネル検査装置に
    おいて、前記第1の信号と前記第2の信号の出力レベル
    を調整する出力レベル調整手段、を更に含むチャンネル
    検査装置。
  3. 【請求項3】請求項第1項または第2項記載のチャンネ
    ル検査装置において、前記信号発生手段は、発振器であ
    り、前記第1の波形を有する前記第1の信号は、正弦波
    であること、を特徴とするチャンネル検査装置。
  4. 【請求項4】請求項第1項または第2項記載のチャンネ
    ル検査装置において、前記1対の第1と第2の信号チャ
    ンネルは、オーディオ電気システムのステレオ回線の右
    チャンネル及び左チャンネルであること、を特徴とする
    チャンネル検査装置。
  5. 【請求項5】請求項第1項または第2項記載のチャンネ
    ル検査装置において、前記第1の波形は中心レベルに関
    して上下対称の波形であり、前記第2の波形は中心レベ
    ルに関して上下非対称の波形であり、前記変更手段は、
    クリップ回路であって、前記第1の信号の前記第1の波
    形を、該第1波形の中心レベルより高いあるいは低いレ
    ベルの一方のレベルに等しい所定のクリップ・レベルに
    関してクリップすること、を特徴とするチャンネル検査
    装置。
  6. 【請求項6】請求項第2項記載のチャンネル検査装置に
    おいて、前記出力レベル調整手段は、前記第1の信号と
    前記第2の信号とが同一の出力レベルをもつように調整
    すること、を特徴とするチャンネル検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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