JPH0734544B2 - 2進データの判定回路 - Google Patents

2進データの判定回路

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JPH0734544B2
JPH0734544B2 JP2615889A JP2615889A JPH0734544B2 JP H0734544 B2 JPH0734544 B2 JP H0734544B2 JP 2615889 A JP2615889 A JP 2615889A JP 2615889 A JP2615889 A JP 2615889A JP H0734544 B2 JPH0734544 B2 JP H0734544B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気ディスクの再生信号処理等に使用される
2進データの判定回路に関する。
〔従来の技術〕
光磁気データの記録媒体には2進データが記録される
が、その符号化方式には記録密度が高くとれ、またエラ
ー訂正能力が高いものが望まれ、その要求を満たすもの
の1つとして4/11符号が知られている。これは11ビット
の内4ビットが“1"(有意)他が“0"(無意)である符
号であり、2進データ列を8ビット毎に分離し、この8
ビットのビット列に一意対応する符号が定められてい
る。第7図(a)〜(h)はこの符号の例を示してい
る。光磁気ディスクに記録された4/11符号のデータは再
生されるが、再生データは復号する必要がある。即ち光
磁気ディスクから光学的に得た信号を電気信号に変換し
て得られたアナログ信号から2進データ列を得、これか
ら4/11符号を判定し、更には8ビットデータに変換す
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
而してディスク表面の汚れ、再生系の光学部、電気部の
動作により再生信号のレベルは変動する可能性がある。
また第2図(a)に示すように“1"のディジットが離散
している場合は問題が少ないが、同(b)(c)に示す
ように“1"のディジット間にある“0"のディジットは隣
接ディジットの影響で高レベルとなりがちであり、他の
“1"のディジットに低レベルの“1"があるとこの場合で
は10100001010が11100001000の誤判定されることがあ
る。
本発明はこのような復号の過程における4/11符号又はk/
n符号の判定回路を確立することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の判定回路は、アナログ信号を所定周期でサンプ
リングしてアナログ/ディジタル変換し、まず上位k個
のサンプル値のディジットを有意としてnビット符号を
判定し、これを予め定めてあるイレージャ符号と比較
し、これに該当しない場合はnビット符号を確立し、該
当する場合は第k位のサンプル値のディジットを無意と
し、これに替えて第(k+1)位のサンプル値のディジ
ットを有意とするものである。
このようにして得たnビット符号がイレージャ符号であ
った場合は第k−1値のサンプル値のディジットを無意
とし、第1,2…,k−2,k、k+1位のサンプル値のディジ
ットを有意とする。
〔作用〕
アナログ信号のレベルの高いものが有意ビットでない場
合にこれが検出され、正しいビットを有意とすることが
できる。
〔実施例〕
以下本発明をその実施例を示す図面に基づき説明する。
まずコード体系について説明する。
原2進データは01100011100110101110…のようなもので
あるが、8ビットを単位として01100011/10011010/1110
…のように分離され各8ビットのデータを第7図のコー
ド表に従い4/11符号に変換され、これが光磁気ディスク
に記録される。
4/11符号は理論上330個存在し得るが、8ビットのデー
タの符号化に際しては256個で足りる。そこで、この実
施例では次の規則に従いイレージャ符号を規定してい
る。
(1)“1"が4ディジット連続するパターン (2)最初の3ディジットが“1"であるパターン (3)最後の2ディジットが“1"であるパターン 第1図は本発明回路のブロック図であり、光磁気ディス
ク(図示せず)から再生されたアナログ信号ASはアナロ
グ/ディジタル(A/D)変換器4でディジタル信号に変
換される。光磁気ディスクのサーボバイトエリアに記録
されているクロックピットにより、作成されたクロック
信号CLKは前記アナログ信号に同期しており、A/D変換器
4に与えられ、ここで4/11符号のディジットの周期でサ
ンプリング,変換が行われる。またクロック信号CLKは
“1"ディジット判定回路5,6,7,8,9のクロック端子へ与
えられている。光磁気ディスクには4/11符号単位(サブ
コード)のサブ同期信号SSSが記録されており、これが
“1"ディジット判定回路5,6,7,8,9及びイレージャ符号
判定回路12へリセット信号として与えられている。
“1"ディジット判定回路5,6…は入力されたディジタル
信号を、先に入力されてラッチしている値と比較し、新
たに入力された信号の値が大である場合はこれをラッチ
して先のラッチ信号を出力し、小である場合はその入力
信号をラッチすることなく出力するものであり、A/D変
換器4出力は“1"ディジット判定回路5へ入力され、1
ディジット判定回路5(又は6,7,8)の出力は1ディジ
ット判定回路6(又は7,8,9)の入力としている。つま
り判定回路5,6…9は縦続接続されている。判定回路5,6
…9の縦続回路はこのようにしてラッチされた信号、後
に説明するように、入力された信号中の最大値、に対応
するディジットを記憶し、これを該当ディジットのみを
“1"とする11ビットの2進コードにデコードして判定回
路5,6,7についてはOR回路11へ、また判定回路8,9につい
てはセレクタ10へ入力する。セレクタ10はイレージャ符
号判定回路12が判定内容が正常であることを示す出力で
ある場合に判定回路8からの出力を、また異常であるこ
とを示す出力である場合に判定回路9からの出力を選択
してOR回路11へ出力する。OR回路出力は4/11符号となる
が、イレージャ符号判定回路12へ入力され、これに予め
記憶されているイレージャ符号と比較され、又は所定の
論理演算によりイレージャ符号であるか否かが判定さ
れ、入力符号がイレージャ符号である場合は前述のよう
にセレクタ10を判定回路9側へ切換える。
以上の回路の動作を説明する。
第2図(a)に示す如きアナログ信号ASが入力される
と、その横軸の目盛で示す周期のクロック信号CLKに従
いアナログ信号ASはA/D変換器4でアナログ/ディジタ
ル(A/D)変化され、変換されたディジタル信号は判定
回路5へ入力される。第2図(a)の例では第2ディジ
ットが大きく、第1,第3,4ディジットが小さいから、ま
た第5ディジットが最大であるから、判定回路5がクロ
ック信号CLKの各周期でラッチし、またはラッチを縦続
するディジットの値は となる。つまり最大値のディジットを記憶することにな
る。次段の判定回路6は第5ディジットの信号が入力さ
れないから第2位の第2ディジットを記憶することにな
る。従って 以下同様に判定回路7,8及び9には夫々第3,4,5位のディ
ジットが記憶される。従って判定回路5,6,7,8はO
R回路11へ夫々以下の11ビット符号を出力する。
判定回路5 00001000000 判定回路6 01000000000 判定回路7 00000000010 判定回路8 00000001000 従ってOR回路11出力は01001001010となる。これはイレ
ージャ符号ではないからイレージャ符号判定回路12出力
は正常を示し、セレクタ10は判定回路8を選択したまま
である。従ってOR回路11出力を適宜タイミングで取り込
めが正しい4/11符号が得られることになる。サブ同期信
号SSSが入力されると判定回路5,6…9及び12はリセット
され、次の11ディジットに対応するアナログ信号ASを入
力させ得る状態となる。
第3図は“1"ディジット判定回路5…9の構成を示すブ
ロック図である。
入力データINはセレクタ22及びコンパレータ23に入力さ
れる。またラッチ回路24のラッチ内容もそのQ端子から
セレクタ22及びコンパレータ23に入力される。コンパレ
ータ23は2つの入力を比較し、入力データIN>Qである
場合には入力信号INをラッチ回路24の入力端子Dへ、ま
たラッチ回路24の出力Qを出力データOUTとして出力さ
れ、逆にIN≦Qである場合は入力信号INを出力データOU
Tとして出力させ、またラッチ回路24の出力Qをラッチ
回路24の入力端子Dへ与えるようにセレクタ22を切り換
えるべく、前者の場合はハイレベル、後者の場合はロー
レベルの信号をセレクタ22へ与える。
このハイ,ローの信号はAND回路251の一入力となってお
り、またAND回路252のローアクティブの入力となって
い、両AND回路251,252の他人力はクロック信号CLKであ
る。AND回路251の出力はラッチ回路24へラッチ用のクロ
ックとして与えられ、またインバータを介してカウンタ
26のローアクティブのリセット端子Rに与えられる。一
方AND回路252の出力はカウンタ26へ計数対象として与え
られる。カウンタ26の内容はサブ同期信号SSSによって
ラッチ回路27にラッチされる。このラッチ回路27の内容
はデータ28によって前述した如き11ビット信号に変換さ
れてOR回路11へ出力される。その他サブ同期信号SSSは
ラッチ回路24にリセット信号としてその端子Rに与えら
れる。
次にこの回路の動作をまず判定回路5につき第2図
(a)の信号ASを例にとって説明する。
第1ディジットの入力信号が入った場合、ラッチ回路24
の内容はリセットされていて0であるので、コンパレー
タ23ではIN>Qとなりコンパレータ23はハイレベル信号
を出力し、セレクタ22経由でラッチ回路24に入力された
第1ディジットの信号をラッチする。またこのANDゲー
ト251出力によってカウンタ26はリセットされる。
次に第2ディジットの信号が入力されるとIN>Qである
ので上記同様にしてこれがラッチ回路24にラッチされ
る。同様にカウンタ26は再びリセットされる。一方、先
にラッチされていた第1ディジットの信号は出力OUT、
カウンタ26の値は加算器29で1だけ加算されて出力COUN
T、となる。
次に第3ディジットの入力信号ではIN≦Qであるからコ
ンパレータ出力はローレベルとなり第3ディジットの信
号はそのまま出力OUTとなる。
一方、ラッチ回路24にはANDゲート251からのクロック信
号CLK出力がないのでラッチ回路24はそのまま第2ディ
ジットの内容となっている。一方、ANDゲート252はクロ
ック信号CLKを出力するのでカウンタ26は+1される。
第4ディジットの入力では同様にしてカウンタ26は2と
なる。第5ディジットの信号が入力されるとIN>Q(=
第2ディジット)となるからこの入力信号がラッチされ
ると共に、カウンタ26がリセットされる。第5ディジッ
トが最大であるので以後ラッチ回路24の内容は変わら
ず、一方、カウンタ26は第6〜第11ディジットの入力に
より6までカウントアップする。
デコーダ28はカウンタ26の内容をmとすると第(11−
m)ディジットを1とする11ビットの符号、この場合は
00001000000を出力する。
次に判定回路6への入力は、0…のよう
に第5ディジットが入力されないから、ラッチ回路24の
内容は2番目に大きい第2ディジットの信号となり、カ
ウンタ26は第2ディジットの信号が入力されて以降のカ
ウント値を前段のカウンタ26から受け継ぎながら、9ま
でカウントアップされる。したがってデコーダ28からは
01000000000となる。このようにデコーダ28の出力はラ
ッチ回路24に記憶したディジットが1,他が0の11ビット
符号となる。判定回路7,8,及び9のラッチ回路24は第1
0,8及び9ディジットの信号を記憶し、カウンタ26の内
容は夫々1,3,2となる。従ってOR回路11からは判定回路
5,6,7,8のデコーダ28出力の01001001010が出力される。
第4図はイレージャ符号判定回路の構成を示す。
図において30はプログラム・ロジック・アレイイ(PL
A)でありOR回路11出力 {M}i={M0,M1,M2,M3,M4,M5,M6,M7,M8
M9,M10i が入力され以下の論理演算をし、その結果ハイレベル信
号Yを出力する。
Y=M0×M1×M2×M3 +M1×M2×M3×M4 +M2×M3×M4×M5 +M3×M4×M5×M6 +M4×M5×M6×M7 +M5×M6×M7×M8 +M6×M7×M8×M9 +M7×M8×M9×M10 +M0×M1×M2 +M9×M10 右辺第1〜8項はイレージャ符号の規定の(1)に第9
項は同(2),第10項は同(3)に相当する。
この信号Y及びサブ同期信号SSSがNAND回路32に入力さ
れる。従ってNAND回路32出力はOR回路11出力がイレージ
ャ符号である場合にはサブ同期信号SSSに同期してロー
レベルとなりフリップフロップ31がリセットされる。フ
リップフロップ31のセット出力Qはこのリセット時にの
みローとなりセレクタ10を判定回路9側に切り換える。
本発明回路によれば第2図(b)に記す如く第2ディジ
ットが0であるにも拘らず第1,3ディジットの1に移動
されて高いレベルとなり、第10ディジットより大となっ
ている場合はOR回路11出力は11100001000となる。とこ
ろが、この4/11符号はイレージャ符号であるからセレク
タ10は判定回路9側に切り換わり結局出力は1010000101
0と正しくなる。
第5図は本発明の第2の回路のブロック図であり、この
回路は第1の回路の様に第4位と第5位を入れ替えても
なおイレージャ符号であった場合に第3位と第5位とを
入れ替える様にしたものである。従ってこの例では第3,
4,5位のディジットの信号をラッチする判定回路7,8,9の
デコーダ28出力がセレクタ10を介してOR回路11にあたえ
られる構成となっている。イレージャ符号判定回路12は
正常時は判定回路7,8出力を選択し、1回イレージャを
判定すると判定回路7,9出力を選択し、OR回路11出力に
よって、2回目のイレージャ判定をすると判定回路8,9
出力を選択する。
第2図(c)に示すアナログ信号は第2図(b)のもの
と第2ディジット,第8ディジットの大小が逆転してい
る例であり、1回目では第1,2,3のディジットがOR回路1
1から出力されイレージャと判定される。次に第4,5位が
入れ替えられて第1,2,3,10ディジットが出力されるがこ
れもイレージャと判定される。次には第3,5位が入れ替
えられ第1,3,8,10ディジットの10100001010が出力され
て正しく判定されることになる。
第6図にこの場合のイレージャ符号判定回路12の例を示
し、第4図同様のPLA30出力Yとクロック信号CLKとを2
入力とするANDゲート34の出力を計数するカウンタ33を
設ける。このカウンタはサブ同期信号SSSでリセットす
るものとし、その出力Qが0の場合にセレクタ10が判定
回路7,8を、1の場合に判定回路7,9を、2の場合に8,9
を選択するようにセレクタ10を構成しておく。
なお、本発明は4/11符号に限らず一般にk/n符号に適用
できることは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上の如き本発明による場合はアナログ信号のレベル変
動に依らず正確に2進データ判定、更には復号が可能と
なり、これを光磁気ディスクの再生等に用いる場合は高
信頼性のディスクドライブを提供しているのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の回路のブロック図、第2図は動
作説明のための波形図、第3図はディジット判定回路の
ブロック図、第4図はイレージャ符号判定回路のブロッ
ク図、第5図は本発明の第2の回路のブロック図、第6
図はそのイレージャ符号判定回路のブロック図、第7図
は4/11符号を示す図面である。 4…A/D変換器、5,6・・・9…“1"ディジット判定回
路、1,2…イレージャ符号判定回路、10…セレクタ、11
…OR回路 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清瀬 泰広 兵庫県尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三 菱電機株式会社産業システム研究所内 (72)発明者 荒井 隆一郎 兵庫県尼崎市塚口本町8丁目1番1号 三 菱電機株式会社産業システム研究所内 (56)参考文献 特開 昭63−99621(JP,A) 特開 昭63−136362(JP,A) 特公 昭48−7649(JP,B1) 特公 昭55−12781(JP,B2)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】nビット中のkビットが有意、(n−k)
    ビットが無意であるnビット符号の列の情報を有するア
    ナログ信号を所定周期でサンプリングしてディジタル変
    換したサンプル信号から元のnビット符号を判定する回
    路において、 順次入力される前記ディジタル化されたnビット符号列
    の最大値から上位(k+1)番目までのサンプル信号を
    個々にラッチするとともに、該ラッチしたサンプル信号
    の前記nビット符号列内における入力順序を個々に特定
    しておく(k+1)個の有意ディジット判定手段と、 前記有意ディジット判定手段によりラッチされたサンプ
    ル信号のうちの最大値から上位k番目までのサンプル信
    号に基づいて該有意ディジット判定手段が特定している
    入力順序に関連したnビット符号を生成するnビット符
    号生成手段と、 生成された前記nビット符号が予め定めてある符号であ
    るか否かを判定する判定手段とを備え、 該判定手段が前記nビット符号を前記予め定めてある符
    号であると判定した場合には前記有意ディジット判定手
    段にラッチされたサンプル信号のうちの最大値から上位
    (k−1)番目までのサンプル信号と(k+1)番目の
    サンプル信号に基づいて該有意ディジット判定手段が特
    定している入力順序に関連したnビット符号を生成する
    ことを特徴とする2進データの判定回路。
  2. 【請求項2】nビット中のkビットが有意、(n−k)
    ビットが無意であるnビット符号の列の情報を有するア
    ナログ信号を所定周期でサンプリングしてディジタル変
    換したサンプル信号から元のnビット符号を判定する回
    路において、 順次入力される前記ディジタル化されたnビット符号列
    の最大値から上位(k+1)番目までのサンプル信号を
    個々にラッチするとともに、該ラッチしたサンプル信号
    の前記nビット符号列内における入力順序を個々に特定
    しておく(k+1)個の有意ディジット判定手段と、 前記有意ディジット判定手段によりラッチされたサンプ
    ル信号のうちの最大値から上位k番目までのサンプル信
    号に基づいて該有意ディジット判定手段が特定している
    入力順序に関連したnビット符号を生成するnビット符
    号生成手段と、 生成された前記nビット符号が予め定めてある符号であ
    るか否かを判定する判定手段とを備え、 該判定手段が前記nビット符号を前記予め定めてある符
    号であると判定した場合には前記有意ディジット判定手
    段にラッチされたサンプル信号のうちの最大値から上位
    (k−1)番目までのサンプル信号と(k+1)番目の
    サンプル信号に基づいて該有意ディジット判定手段が特
    定している入力順序に関連したnビット符号を生成し、 該生成されたnビット符号が前記判定手段により再び前
    記予め定めてある符号であると判定された場合には前記
    有意ディジット判定手段にラッチされたサンプル信号の
    うちの最大値から上位(k−2)番目までのサンプル信
    号とk番目のサンプル信号と(k+1)番目のサンプル
    信号とに基づいて該有意ディジット判定手段が特定して
    いる入力順序に関連したnビット符号を生成することを
    特徴とする2進データの判定回路。
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