JPH07326787A - Optical semiconductor device - Google Patents

Optical semiconductor device

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JPH07326787A
JPH07326787A JP6118463A JP11846394A JPH07326787A JP H07326787 A JPH07326787 A JP H07326787A JP 6118463 A JP6118463 A JP 6118463A JP 11846394 A JP11846394 A JP 11846394A JP H07326787 A JPH07326787 A JP H07326787A
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JP
Japan
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optical semiconductor
output terminal
semiconductor device
electrode
substrate
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Application number
JP6118463A
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Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Haga
孝裕 羽賀
Yoshinori Kaido
佳典 海道
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP6118463A priority Critical patent/JPH07326787A/en
Publication of JPH07326787A publication Critical patent/JPH07326787A/en
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Abstract

PURPOSE:To provide an optical semiconductor device having a thin output terminal area. CONSTITUTION:An optical semiconductor device is provided with first electrode layers 30a-30c, optical semiconductor active layers 60a-60c, and second electrode layers 70a-70c laminated on a substrate 10 having an insulating surface. Output terminal areas electrically connected to the first and second electrode layers, respectively, have two foils of solder plated metal 140a and 140c on a first electrode extension section 30 at and second electrode extension section 70ct respectively extended from the first and second electrode layers.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光起電力装置等の光半
導体装置における出力端子領域の構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure of an output terminal region in an optical semiconductor device such as a photovoltaic device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光半導体装置の出力端子領域につ
いて、例えば、実公昭62−11023号公報に開示が
ある。絶縁基板上に、第1電極層、半導体光活性層及び
第2電極層を積層した光半導体装置において、出力端子
領域の構造は、上記各電極層から延出する延出部上にリ
ード線を、半田付けしたものであった。そして、この半
田付け作業により形成された半田層は、リード線の接着
強度の向上、及び、半田層による集電効果向上のため、
大面積に形成されていた。
2. Description of the Related Art A conventional output terminal region of an optical semiconductor device is disclosed, for example, in Japanese Utility Model Publication No. 62-11023. In an optical semiconductor device in which a first electrode layer, a semiconductor photoactive layer, and a second electrode layer are laminated on an insulating substrate, the structure of the output terminal region is such that a lead wire is provided on the extension extending from each electrode layer. , It was soldered. Then, the solder layer formed by this soldering work improves the adhesive strength of the lead wire and the current collecting effect of the solder layer.
It was formed in a large area.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の光
半導体装置においては、次のような問題点があった。
The conventional optical semiconductor device described above has the following problems.

【0004】即ち、リード線を強固に接続し、集電効果
を向上させるために、半田層面積を大きくし半田層の膜
厚を大きくしているので、出力端子領域の厚さが大きく
なる。更に、基板に可撓性を有するものを用いるときに
は、半田層自身は可撓性を有さないことから、出力端子
領域においては、可撓性を持たせることができない。
That is, since the solder layer area is increased and the solder layer thickness is increased in order to firmly connect the lead wires and improve the current collecting effect, the thickness of the output terminal region is increased. Furthermore, when a flexible substrate is used, the solder layer itself does not have flexibility, and therefore the output terminal region cannot have flexibility.

【0005】本発明はこのような問題点を解決するため
に成されたものであり、出力端子領域の厚さが小さい光
半導体装置を提供することを目的とする。加えて、可撓
性を有する基板を用いるとき、可撓性を有する出力端子
領域を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object thereof is to provide an optical semiconductor device having a small thickness of an output terminal region. In addition, it is an object to provide a flexible output terminal region when using a flexible substrate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の光半導体装置
は、絶縁表面を有する基板上に、第1電極層、半導体光
活性層及び第2電極層を積層した光半導体装置であっ
て、一方の前記電極層より延出する延出部上に、半田め
っきした金属箔を有する出力端子領域を備えることを特
徴とする。
An optical semiconductor device of the present invention is an optical semiconductor device in which a first electrode layer, a semiconductor photoactive layer, and a second electrode layer are laminated on a substrate having an insulating surface. The output terminal region having a metal foil plated with solder is provided on the extension portion extending from the electrode layer.

【0007】更に、前記延出部が前記基板の周縁に向か
って延出すると共に、前記周縁に沿って延在し、この延
出部上に金属箔を有することを特徴とする。
Further, the extending portion extends toward the peripheral edge of the substrate, extends along the peripheral edge, and has a metal foil on the extending portion.

【0008】加えて、前記基板が可撓性を有することを
特徴とする。
In addition, the substrate is flexible.

【0009】[0009]

【作用】本発明の光半導体装置は、以上の構成であり、
半田付け作業による厚い半田層がなく、薄い半田めっき
層により、金属箔が出力端子領域に固着されるので、出
力端子領域の厚さが小さい。
The optical semiconductor device of the present invention has the above constitution,
Since the metal foil is fixed to the output terminal area by the thin solder plating layer without a thick solder layer due to the soldering work, the thickness of the output terminal area is small.

【0010】更に、延出部が基板の周縁に向かって延出
すると共に、周縁に沿って延在し、この延出部上に金属
箔を有することより、金属箔が集電極として働く。
Further, since the extending portion extends toward the peripheral edge of the substrate and extends along the peripheral edge, and the metal foil is provided on this extending portion, the metal foil acts as a collector electrode.

【0011】加えて、半田付け作業による厚い半田層が
ないので、基板が可撓性を有する場合は、出力端子領域
を含む光半導体装置全体の可撓性を損なわない。
In addition, since there is no thick solder layer due to the soldering work, when the substrate has flexibility, the flexibility of the entire optical semiconductor device including the output terminal region is not impaired.

【0012】[0012]

【実施例】以下に、本発明の光半導体装置の一実施例で
ある光起電力装置を、図1〜3を用いて詳細に説明す
る。そして、本実施例の説明に際しては、初めに複数の
発電領域の直列接続構造を説明し、次に本発明の特徴で
ある出力端子領域の構造を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A photovoltaic device which is an embodiment of the optical semiconductor device of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. In describing the present embodiment, first, a series connection structure of a plurality of power generation regions will be described, and then a structure of an output terminal region, which is a feature of the present invention, will be described.

【0013】10は可撓性を有するステンレスやアルミ
ニウム等の金属シートとこの上に形成されたポリイミド
等の絶縁樹脂膜からなる基板、又は、ポリイミド等の樹
脂からなるフィルムの基板である。
Reference numeral 10 denotes a substrate made of a flexible metal sheet such as stainless steel or aluminum and an insulating resin film formed thereon such as polyimide, or a film substrate made of resin such as polyimide.

【0014】20a〜20cは基板10上に形成された
複数の発電領域、30a〜30cは基板10上の発電領
域20a〜20c毎に分割配置された第1電極層であ
る。これら第1電極層30a〜30cは、厚さ約0.1
〜1.0μmで、アルミニウム、チタン、ニッケル、銅
等の単層構造、又は、基板10側よりアルミニウム/チ
タンの積層構造、基板10側よりタングステン/アルミ
ニウム/チタンの積層構造等の金属膜からなり、基板1
0上に金属膜を全面形成した後レーザビームを照射し
て、発電領域20a〜20c間及び発電領域20cの右
端に分割溝41(幅約50μm)を、更に、基板10の
外周部内側近傍の全域に外周溝42(幅約50μm)を
形成することにより分割配置されたものである。
Reference numerals 20a to 20c are a plurality of power generation regions formed on the substrate 10, and 30a to 30c are first electrode layers divided and arranged for each power generation region 20a to 20c on the substrate 10. These first electrode layers 30a to 30c have a thickness of about 0.1.
.About.1.0 μm and made of a metal film such as a single layer structure of aluminum, titanium, nickel, copper or the like, or a laminated structure of aluminum / titanium from the substrate 10 side, a laminated structure of tungsten / aluminum / titanium from the substrate 10 side, etc. , Substrate 1
After forming a metal film over the entire surface of the substrate 0, a laser beam is irradiated to form a dividing groove 41 (width of about 50 μm) between the power generation regions 20a to 20c and at the right end of the power generation region 20c, and further in the vicinity of the inside of the outer peripheral portion of the substrate 10. Peripheral grooves 42 (width of about 50 μm) are formed in the entire area to be divided and arranged.

【0015】51は分割溝41にこの両側の金属膜にま
たがって配置された絶縁ペースト、52は外周溝42に
この両側の金属膜にまたがって配置された絶縁ペース
ト、53は第1電極層30a〜30c各々の左端でこれ
ら各々の上に形成された絶縁ペーストである。これら絶
縁ペースト51、52、53は、ポリイミド、又は、フ
ェノ−ル系のバインダーに二酸化シリコン等の無機材料
の粉末(粒径約1.5〜7.0μm)を含むもので、ス
クリーン印刷法によりパタ−ニングされた後、250〜
300℃で焼成され、高さ約10〜50μm、幅約0.
4〜0.6mmに形成される。
Reference numeral 51 is an insulating paste arranged in the dividing groove 41 over the metal films on both sides thereof, 52 is an insulating paste arranged in the outer peripheral groove 42 over the metal films on both sides thereof, and 53 is the first electrode layer 30a. .About.30c is an insulating paste formed on each of the left ends thereof. These insulating pastes 51, 52 and 53 are made of polyimide or a phenolic binder containing powder of an inorganic material such as silicon dioxide (particle size: about 1.5 to 7.0 μm). 250 ~ after being patterned
It is fired at 300 ° C. and has a height of about 10 to 50 μm and a width of about 0.
It is formed to 4 to 0.6 mm.

【0016】60a〜60cは第1電極層30a〜30
c上に分割配置されたアモルファスシリコン、アモルフ
ァスシリコンカーバイド、アモルファスシリコンゲルマ
ニウム等をpnまたはpinに積層した半導体光活性層
(厚さ約0.3〜1.0μm)、70a〜70cは半導
体光活性層60a〜60c上に分割配置された酸化亜鉛
(ZnO)、酸化インジウム錫(ITO)、酸化錫(S
nO2)等の透明導電膜からなる第2電極層(厚さ約
0.3〜1.0μm)で、全面形成された半導体光活性
層上に透明導電膜を全面形成して、絶縁ペースト52、
53上にレーザビームを照射して、分割溝82、83を
形成することより、半導体光活性層60a〜60c、第
2電極層70a〜70cを各々分割配置する。
Reference numerals 60a to 60c denote first electrode layers 30a to 30.
A semiconductor photoactive layer (thickness of about 0.3 to 1.0 μm) in which pn or pin is laminated with amorphous silicon, amorphous silicon carbide, amorphous silicon germanium, etc. dividedly arranged on c, and 70a to 70c are semiconductor photoactive layers. Zinc oxide (ZnO), indium tin oxide (ITO), tin oxide (S)
a second electrode layer (thickness of about 0.3 to 1.0 μm) made of a transparent conductive film such as nO 2 ) is formed over the entire surface of the semiconductor photoactive layer to form an insulating paste 52. ,
The semiconductor photoactive layers 60a to 60c and the second electrode layers 70a to 70c are separately arranged by irradiating the laser beam on the laser beam 53 to form the dividing grooves 82 and 83.

【0017】そして、92、93は分割溝82、83か
らの水分等の進入を防止するために、分割溝82、83
を埋めて形成された絶縁ペーストである。
Further, reference numerals 92 and 93 denote dividing grooves 82 and 83 in order to prevent water and the like from entering through the dividing grooves 82 and 83.
Is an insulating paste that is formed by filling in.

【0018】また、各発電領域20a〜20cは、隣り
合う発電領域と電気的な直列接続を行うために、第1電
極層30b、30cの左端で、第1電極層30b、30
cと基板10との間に銀ペースト等からなる導電ペース
ト100b、100cを配置している。これら導電ペー
スト100b、100c上に配置した半導体光活性層6
0a、60b、及び第2電極層70a、70b上からレ
ーザビームを照射することにより、導電ペースト100
b、100cと、第2電極層70a、70bが各々溶着
して電気的に接続され、各発電領域20a〜20cが直
列に接続される。ここで、導電ペースト100b、10
0cは、ポリイミド又はフェノール系のバインダーに
銀、ニッケル又はアルミニウム等の粉末(粒径約3〜7
μm)を含むもので、スクリーン印刷によりパターニン
グされた後、250〜300℃で焼成され、高さ約10
〜50μm、幅約0.4〜0.6mmに形成される。
Further, each of the power generation regions 20a to 20c is electrically connected in series with an adjacent power generation region, and the first electrode layers 30b and 30 are at the left ends of the first electrode layers 30b and 30c.
Conductive pastes 100b and 100c made of silver paste or the like are arranged between the substrate c and the substrate 10. Semiconductor photoactive layer 6 disposed on these conductive pastes 100b and 100c
0a, 60b and the second electrode layers 70a, 70b are irradiated with a laser beam to form the conductive paste 100.
b and 100c and the second electrode layers 70a and 70b are welded and electrically connected to each other, and the power generation regions 20a to 20c are connected in series. Here, the conductive pastes 100b, 10
0c is a powder of silver, nickel, aluminum or the like (particle size of about 3 to 7) in a polyimide or phenol binder.
After being patterned by screen printing, it is baked at 250 to 300 ° C., and the height is about 10 μm.
The width is about 50 μm and the width is about 0.4 to 0.6 mm.

【0019】110は、発電領域20a〜20cの配列
方向に平行な複数の枝部分111とこれら枝部分111
の右端で連続している幹部分112からなる集電極で、
この幹部分112は導電ペースト100b、100cの
上方に位置して、帯状である。また、右端に位置する集
電極110の幹部分は、後述する出力端子120cが兼
用している。
Reference numeral 110 denotes a plurality of branch portions 111 parallel to the arrangement direction of the power generation regions 20a to 20c and these branch portions 111.
A collector electrode consisting of a stem portion 112 that is continuous at the right end of
The trunk portion 112 is located above the conductive pastes 100b and 100c and has a strip shape. Further, the trunk portion of the collector electrode 110 located at the right end is also used as the output terminal 120c described later.

【0020】そして、本発明の特徴は、以下に説明する
出力端子領域の構造にある。まず、配列方向の左端に位
置する出力端子領域において、30atは第1電極層3
0aより延出する第1電極延出部、100atは第1電
極延出部30atと基板10との間に配置され、左辺と
平行に延在する帯状の導電ペーストである。60atは
導電ペースト100atの上方に形成された半導体光活
性層と同一工程、同一材料で形成された半導体膜、70
atは半導体膜60at上に形成されたこれとほぼ同一
形状であり、第2電極層と同一工程、同一材料で形成さ
れた透明導電膜からなる第2電極パッドである。ここ
で、導電ペースト100atと第2電極パッド70at
は、電気的接続を取るために、第2電極パッド70at
上よりレーザービームを照射して溶着されている。
The feature of the present invention resides in the structure of the output terminal area described below. First, in the output terminal region located at the left end in the arrangement direction, 30at is the first electrode layer 3
The first electrode extension portion 100at extending from 0a is a strip-shaped conductive paste that is arranged between the first electrode extension portion 30at and the substrate 10 and extends parallel to the left side. 60at is a semiconductor film formed of the same material and the same process as the semiconductor photoactive layer formed above the conductive paste 100at,
At is a second electrode pad formed on the semiconductor film 60at and having substantially the same shape as that of the second electrode layer, which is made of a transparent conductive film and made of the same material and in the same step. Here, the conductive paste 100at and the second electrode pad 70at
Is connected to the second electrode pad 70at for electrical connection.
It is welded by irradiating a laser beam from above.

【0021】120aは第2電極パッド70at上に形
成された左辺と平行に延在する導電ペーストからなる出
力端子、130aは出力端子120a上に左辺と平行に
延在する帯状の銅ペーストである。この銅ペースト13
0aは、通常の半田付け作業を可能にするもので、フェ
ノール系樹脂をバインダーとして、粒径5〜7μmの銅
粉末を重量比約90%で混入したものからなり、スクリ
ーン印刷によるパタ−ニング後、加熱処理により硬化さ
れる。この銅ペースト材料により、半田材料との固着
を、容易に、強固に行うことができる。
Reference numeral 120a is an output terminal formed of a conductive paste formed on the second electrode pad 70at and extending parallel to the left side, and 130a is a strip-shaped copper paste extending on the output terminal 120a parallel to the left side. This copper paste 13
No. 0a enables normal soldering work, and is composed of a mixture of copper powder having a particle size of 5 to 7 μm in a weight ratio of about 90% using a phenolic resin as a binder, and after patterning by screen printing. , Cured by heat treatment. This copper paste material can easily and firmly fix the solder material.

【0022】140aは銅ペースト130a上に固着さ
れ、表面が半田めっきされた銅からなる帯状の金属箔で
ある。
Reference numeral 140a is a strip-shaped metal foil made of copper, which is fixed onto the copper paste 130a and whose surface is solder-plated.

【0023】一方、配列方向の右端に位置する出力端子
領域において、30ctは発電領域20cの第1電極膜
30cの右側に位置する島状の第1電極パッド、100
ctは第1電極パッド30ctと基板10との間に配置
され、右辺と平行に延在する帯状の導電ペーストであ
る。60ctは半導体光活性層60cから延在し、導電
ペースト100ctの上方に形成された半導体膜、70
ctは第2電極層70cから延在し、半導体膜60ct
上に形成された第2電極延出部である。ここで、電気抵
抗を下げ集電効率を向上させるために、導電ペースト1
00ctと第2電極延出部70ctとは、第2電極延出
部70ct上よりレーザービームを照射して溶着され、
電気接続している。
On the other hand, in the output terminal region located at the right end in the arrangement direction, 30ct is an island-shaped first electrode pad 100 located on the right side of the first electrode film 30c of the power generation region 20c.
ct is a strip-shaped conductive paste that is arranged between the first electrode pad 30ct and the substrate 10 and extends parallel to the right side. Reference numeral 60ct denotes a semiconductor film which extends from the semiconductor photoactive layer 60c and is formed above the conductive paste 100ct.
ct extends from the second electrode layer 70c, and the semiconductor film 60ct
It is the 2nd electrode extension part formed above. Here, in order to reduce the electric resistance and improve the current collecting efficiency, the conductive paste 1
00ct and the second electrode extension 70ct are welded by irradiating a laser beam from above the second electrode extension 70ct,
It is electrically connected.

【0024】120cは第2電極延出部70ct上に形
成された右辺と平行に延在する帯状の導電ペーストから
なる出力端子、130cは出力端子120c上に右辺と
平行に延在する帯状の銅ペーストである。140cは銅
ペースト130c上に固着され、表面が半田めっきされ
た銅からなる長方形板状の金属箔である。
Reference numeral 120c is an output terminal made of a strip-shaped conductive paste extending in parallel with the right side formed on the second electrode extension 70ct, and 130c is a strip-shaped copper extending in parallel with the right side on the output terminal 120c. It is a paste. Reference numeral 140c is a rectangular plate-shaped metal foil made of copper having a surface solder-plated and fixed onto the copper paste 130c.

【0025】ここで、金属箔140a、140cの銅ペ
ースト130a、130c上への固着方法について、説
明する。この固着方法は、銅ペースト130a、130
c上、又は、金属箔140a、140cにフラックスを
塗布した後、金属箔140a、140cを銅ペースト1
30a、130c上に当て半田ごてで金属箔140a、
140c上より加熱することにより固着される。また、
従来ならば、金属箔140a、140cが半田めっきさ
れていないので、別途銅ペースト130a、130c上
に形成された半田付け作業による半田層を介して、銅ペ
ースト130a、130c上に半田付けされる。本発明
では、半田めっきされた金属箔140a、140c(厚
さ約80μm)を用いるので、従来のような別途形成さ
れる半田層(厚さ約100〜1000μm)がなく、半
田めっき(厚さ約2μm)の膜厚が小さいことより、出
力端子領域の厚さを小さくできる利点がある。
Here, a method of fixing the metal foils 140a and 140c onto the copper pastes 130a and 130c will be described. This fixing method is used for the copper pastes 130a, 130
c, or after applying the flux to the metal foils 140a and 140c, the metal foils 140a and 140c are applied to the copper paste 1
Metal foil 140a, which is placed on 30a and 130c with a soldering iron,
It is fixed by heating from above 140c. Also,
Conventionally, since the metal foils 140a and 140c are not solder-plated, they are soldered onto the copper pastes 130a and 130c via a solder layer separately formed on the copper pastes 130a and 130c by a soldering operation. In the present invention, since the solder-plated metal foils 140a and 140c (thickness: about 80 μm) are used, there is no separately formed solder layer (thickness: about 100 to 1000 μm), and the solder plating (thickness: about 80 μm) is omitted. The small thickness (2 μm) has an advantage that the thickness of the output terminal region can be reduced.

【0026】ここで、本発明の示す半田めっきとは、以
下のことを示す。まず、半田とは、低融点(一般に45
0℃以下)のろう付け用合金又は単体金属の総称、めっ
きとは、金属の表面に他の金属膜を付着させ、おおうこ
とを示すものである。
Here, the solder plating described in the present invention means the following. First, solder has a low melting point (typically 45
The term “plating”, which is a general term for brazing alloys or simple metals of 0 ° C. or lower), means that another metal film is adhered and covered on the surface of the metal.

【0027】半田材料としては、錫、鉛、インジウム、
錫−鉛合金、錫−鉛−アンチモン合金、錫−鉛−カドミ
ウム合金が利用できる。半田めっきの形成方法として
は、電気めっき、無電解めっき、プラズマ溶射、ドライ
プレ−ティング(真空蒸着、イオンプレ−ティング、ス
パッタ)が利用できる。
As the solder material, tin, lead, indium,
Tin-lead alloy, tin-lead-antimony alloy, tin-lead-cadmium alloy can be used. As a method for forming the solder plating, electroplating, electroless plating, plasma spraying, dry plating (vacuum deposition, ion plating, sputtering) can be used.

【0028】141a、141cは、出力を外部に導出
するための、金属箔140a、140bの下端より延出
するリード延長部である。また、リード延長部141
a、141cを設けることなく、金属箔140a、14
0b上に別途リード部材(図示なし)を固着することも
できる。リード延長部141a、141cを有する場合
は、別途リード部材を固着する場合に比べて、リード部
材の厚さがない分、出力端子領域の厚さが小さくなる。
また、リード部材を用いる場合であっても、リード部材
として半田めっきした金属箔を用いるならば、上述の本
実施例の如く、半田付け作業による半田層を必要とせ
ず、出力端子領域の厚さが小さくなる。
Reference numerals 141a and 141c are lead extension portions extending from the lower ends of the metal foils 140a and 140b for leading the output to the outside. Also, the lead extension 141
a, 141c without providing the metal foils 140a, 14c
It is also possible to separately attach a lead member (not shown) on 0b. When the lead extensions 141a and 141c are provided, the thickness of the output terminal region is smaller than that of the case where a lead member is separately fixed because the lead member has no thickness.
Further, even if the lead member is used, if a solder-plated metal foil is used as the lead member, the solder layer by the soldering work is not required as in the above-described embodiment, and the thickness of the output terminal region is not required. Becomes smaller.

【0029】そして、本実施例においては、銅ペースト
130a、130c上の略全域に、電気抵抗の小さい金
属箔140a、140cが固着されていることより、こ
れら金属箔140a、140cが集電極として働き、出
力損失を低減して出力を外部に導出することができる。
また、金属箔140a、140cは、銅ペースト130
a、130c上の略全域に延在する形状であるが、集電
効果がある範囲で、延在する長さ、幅を小さくしてもよ
い。
In this embodiment, since the metal foils 140a and 140c having a small electric resistance are fixed to the copper pastes 130a and 130c over substantially the entire area, these metal foils 140a and 140c serve as collector electrodes. The output loss can be reduced and the output can be led to the outside.
In addition, the metal foils 140a and 140c are the copper paste 130.
Although the shape is such that it extends over substantially the entire area on a and 130c, the extending length and width may be reduced within a range where a current collecting effect can be obtained.

【0030】ここで、本実施例で用いた出力端子120
a、120cを省略して、銅ペースト130a、130
cに出力端子120a、120cの機能を兼用させ、銅
ペースト130a、130c上に直接、半田めっきした
金属箔140a、140cを固着してもよい。この場
合、出力端子120a、120cがない分、出力端子領
域の厚さが小さくなる。
Here, the output terminal 120 used in this embodiment.
a and 120c are omitted and copper pastes 130a and 130 are omitted.
The metal foils 140a and 140c may be directly plated on the copper pastes 130a and 130c, and the metal foils 140a and 140c may be fixed to the copper pastes 130a and 130c. In this case, since the output terminals 120a and 120c are not provided, the thickness of the output terminal area is reduced.

【0031】更には、本実施例においては、第2電極層
70a〜70cを透明として、この側より光を入射して
いるが、第1電極層30a〜30cと基板10とを透明
として、この側より光を入射させてもよい。
Further, in the present embodiment, the second electrode layers 70a to 70c are made transparent and light is incident from this side, but the first electrode layers 30a to 30c and the substrate 10 are made transparent. Light may be incident from the side.

【0032】[0032]

【発明の効果】本発明の光半導体装置は、以上の構成で
あり、半田付け作業による厚い半田層がなく、薄い半田
めっき層により、金属箔が出力端子領域に固着されるの
で、出力端子領域の厚さが小さい。
The optical semiconductor device of the present invention has the above-described structure. Since the metal foil is fixed to the output terminal area by the thin solder plating layer without the thick solder layer due to the soldering work, the output terminal area is reduced. Is small in thickness.

【0033】更に、延出部が基板の周縁に向かって延出
すると共に、周縁に沿って延在し、この延出部上に金属
箔を有することより、金属箔が集電極として働き、出力
損失を低減して出力を外部に導出することができる。
Furthermore, since the extending portion extends toward the peripheral edge of the substrate and extends along the peripheral edge, and the metal foil is provided on this extending portion, the metal foil acts as a collector electrode, and the output is provided. It is possible to reduce the loss and lead the output to the outside.

【0034】加えて、半田付け作業による厚い半田層が
ないので、基板が可撓性を有する場合は、出力端子領域
を含む光半導体装置全体の可撓性を損なわない。
In addition, since there is no thick solder layer due to the soldering work, when the substrate has flexibility, the flexibility of the entire optical semiconductor device including the output terminal region is not impaired.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例である光半導体装置を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an optical semiconductor device which is an embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.

【図3】図1のB−B断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along line BB of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 基板 30a、30b、30c 第1電極層 30at 第1電極延出部 60a、60b、60c 半導体光活性層 70a、70b、70c 第2電極層 70ct 第2電極延出部 140a、140c 金属箔 10 Substrate 30a, 30b, 30c 1st electrode layer 30at 1st electrode extension part 60a, 60b, 60c Semiconductor photoactive layer 70a, 70b, 70c 2nd electrode layer 70ct 2nd electrode extension part 140a, 140c Metal foil

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁表面を有する基板上に、第1電極
層、半導体光活性層及び第2電極層を積層した光半導体
装置であって、一方の前記電極層より延出する延出部上
に、半田めっきした金属箔を有する出力端子領域を備え
ることを特徴とする光半導体装置。
1. An optical semiconductor device in which a first electrode layer, a semiconductor photoactive layer, and a second electrode layer are laminated on a substrate having an insulating surface, and on an extending portion extending from one of the electrode layers. An optical semiconductor device comprising an output terminal region having a solder-plated metal foil.
【請求項2】 前記延出部が前記基板の周縁に向かって
延出すると共に、前記周縁に沿って延在し、この延出部
上に前記金属箔を有することを特徴とする請求項1の光
半導体装置。
2. The extending portion extends toward the peripheral edge of the substrate, extends along the peripheral edge, and has the metal foil on the extending portion. Optical semiconductor device.
【請求項3】 前記基板が可撓性を有することを特徴と
する請求項1の光半導体装置。
3. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein the substrate has flexibility.
JP6118463A 1994-05-31 1994-05-31 Optical semiconductor device Pending JPH07326787A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008038553A1 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Sanyo Electric Co., Ltd. Solar cell module

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