JPH07326309A - Electron source and image forming device - Google Patents
Electron source and image forming deviceInfo
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- JPH07326309A JPH07326309A JP11712094A JP11712094A JPH07326309A JP H07326309 A JPH07326309 A JP H07326309A JP 11712094 A JP11712094 A JP 11712094A JP 11712094 A JP11712094 A JP 11712094A JP H07326309 A JPH07326309 A JP H07326309A
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- H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
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- H01J2201/316—Cold cathodes having an electric field parallel to the surface thereof, e.g. thin film cathodes
- H01J2201/3165—Surface conduction emission type cathodes
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- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Transforming Electric Information Into Light Information (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、電子源及びその応用で
ある画像形成装置に関わり、特に表面伝導型電子放出素
子を多数個備える電子源及びその応用である、例えば表
示装置等の画像形成装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electron source and its application, an image forming apparatus, and more particularly to an electron source having a large number of surface conduction electron-emitting devices and its application, for example, an image forming apparatus such as a display device. It relates to the device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、電子放出素子として、熱電子源と
冷陰極電子源の2種類が知られている。この内、冷陰極
電子源としては電界放出型(以下、FEと略す)、金属
/絶縁層/金属型(以下、MIMと略す)や表面伝導型
電子放出素子(以下、SCEと略す)等がある。2. Description of the Related Art Conventionally, two types of electron-emitting devices are known, a thermoelectron source and a cold cathode electron source. Among these, as the cold cathode electron source, there are a field emission type (hereinafter abbreviated as FE), a metal / insulating layer / metal type (hereinafter abbreviated as MIM), a surface conduction electron emission element (hereinafter abbreviated as SCE), and the like. is there.
【0003】FE型の例としては、W.P.Dyke & W.W.Dol
an, "Field emission", AdvanceinElectron Physics,8,
89(1956) 等が知られている。As an example of the FE type, WPDyke & WWDol
an, "Field emission", AdvanceinElectron Physics, 8,
89 (1956) is known.
【0004】またMIM型の例としては、C.A.Mead, "T
he tunnel-emission amplifier, J.Appl.Phys., 32,649
(1961) や、C.A.Spindt, "Physical properties of thi
n-film field emission cathodes with molybdemum con
es", J.Appl.Phys.,47,5248(1976) 等が知られている。As an example of the MIM type, CAMead, "T
he tunnel-emission amplifier, J.Appl.Phys., 32,649
(1961), CASpindt, "Physical properties of thi
n-film field emission cathodes with molybdemum con
es ", J.Appl.Phys., 47, 5248 (1976) and the like are known.
【0005】更にSCE型の例として、M.I.Elinson, R
adio Eng. Electron Pys.,10,(1965) 等がある。Further, as an example of the SCE type, MIElinson, R
adio Eng. Electron Pys., 10, (1965), etc.
【0006】更にSCEは、基板上に形成された小面積
の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことにより、電子放
出が生ずる現象を利用するものである。Further, the SCE utilizes a phenomenon in which electron emission occurs when a current is passed through a thin film having a small area formed on a substrate in parallel with the film surface.
【0007】この表面伝導型電子放出素子としては、前
記エリンソン等によるSnO2薄膜を用いたもの、Au薄
膜によるもの[G.Dittmer: "Thin Solid Films", 9,317
(1972)],In2O3/SnO2薄膜によるもの [M.Hartwell
and C.G.Fonstad:" IEEE Trans.ED Conf.", 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、第
26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告されて
いる。As the surface conduction electron-emitting device, one using a SnO 2 thin film by Erinson et al., One using an Au thin film [G. Dittmer: "Thin Solid Films", 9,317
(1972)], by In2O3 / SnO2 thin film [M. Hartwell
and CGFonstad: "IEEE Trans.ED Conf.", 519 (197
5)], a carbon thin film [Hiraki Araki et al .: Vacuum, Vol. 26, No. 1, p. 22 (1983)] and the like.
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として、前述のM.ハートウェルの素子構成
を図1に示す。同図において、1は絶縁性基板である。
電子放出部形成用薄膜はスパッタで形成されたH型形状
金属酸化物薄膜等からなり、後述のフォーミングと呼ば
れる通電処理により電子放出部3が形成される。4は電
子放出部を含む薄膜と呼ぶことにする。なお、図中のL
1は、0.5〜1mm、Wは0.1mmで設定されている。As a typical device configuration of these surface conduction electron-emitting devices, the above-mentioned M. The Hartwell device configuration is shown in FIG. In the figure, 1 is an insulating substrate.
The electron emitting portion forming thin film is made of an H-shaped metal oxide thin film or the like formed by sputtering, and the electron emitting portion 3 is formed by an energization process called forming described later. 4 will be referred to as a thin film including an electron emitting portion. In addition, L in the figure
1 is set to 0.5 to 1 mm and W is set to 0.1 mm.
【0009】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に電子放出部形成用薄膜
を、予めフォーミングと呼ばれる通電処理によって電子
放出部3を形成するのが一般的であった。即ち、フォー
ミングとは、前記電子放出部形成用薄膜の両端に電圧を
印加通電し、電子放出部形成用薄膜を局所的に破壊、変
形もしくは変質せしめ、電気的に高抵抗な状態にした電
子放出部3を形成することである。Conventionally, in these surface conduction electron-emitting devices, it is general that the electron-emitting portion forming thin film is formed in advance by an energization process called forming before the electron emission is performed. It was That is, the forming means that a voltage is applied to both ends of the electron emitting portion forming thin film to locally energize the electron emitting portion forming thin film to locally destroy, deform, or alter the electron emitting portion forming thin film to form an electrically high resistance electron emitting state. To form part 3.
【0010】前記フォーミング処理をした表面伝導型電
子放出素子は、電気放出部を含む薄膜4に電圧を印加
し、素子表面に電流を流すことにより、この電子放出部
3より電子を放出せしめるものである。なお、電子放出
部3は電子放出部形成用薄膜の一部に亀裂が発生して、
その亀裂付近から電子放出が行われる。以下、フォーミ
ングにより形成した電子放出部を含む薄膜4と呼ぶ。こ
のようなフォーミング処理をした表面伝導型電子放出素
子は、電極5、6間に電圧を印加することにより電子放
出部3より電子を放出する。The surface-conduction type electron-emitting device which has been subjected to the forming treatment is such that electrons are emitted from the electron-emitting region 3 by applying a voltage to the thin film 4 including the electric-emitting region and passing a current through the device surface. is there. In addition, in the electron emitting portion 3, a crack is generated in a part of the thin film for forming the electron emitting portion,
Electrons are emitted from the vicinity of the crack. Hereinafter, it is referred to as a thin film 4 including an electron emitting portion formed by forming. The surface conduction electron-emitting device that has undergone such forming processing emits electrons from the electron-emitting portion 3 by applying a voltage between the electrodes 5 and 6.
【0011】上述の表面伝導型放出素子は、構造が単純
で製造も容易であることから、大面積にわたり多数素子
を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を生か
せるようないろいろな応用が研究されている。例えば、
荷電ビーム源や表示装置等が挙げられる。多数の表面伝
導型電子放出素子を配列形成した例としては、並列に表
面伝導型電子放出素子を配列し、個々の素子の両端を配
線にてそれぞれ結線した行を多数行配列した電子源が挙
げられる(例えば、本出願人の特開平1−03133
2)。一方、特に表示装置等の画像形成装置において
は、近年、液晶を用いた平板型表示装置がCRTに代わ
って普及してきたが、自発光型でないためバックライト
等を持たねばならない、視野角が狭い等の問題点があ
り、自発光型の表示装置の開発が望まれていた。The above-mentioned surface conduction electron-emitting device has an advantage that a large number of devices can be arrayed over a large area because it has a simple structure and is easy to manufacture. Therefore, various applications that can make full use of this feature are being studied. For example,
Examples include a charged beam source and a display device. An example of arraying a large number of surface conduction electron-emitting devices is an electron source in which surface conduction electron-emitting devices are arranged in parallel and a large number of rows in which both ends of each element are connected by wiring are arranged. (For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-03133 of the present applicant.
2). On the other hand, in image forming apparatuses such as display devices, in particular, flat-panel display devices using liquid crystal have become popular in place of CRTs in recent years, but since they are not self-luminous, they must have a backlight, etc., and have a narrow viewing angle. Therefore, the development of a self-luminous display device has been desired.
【0012】また、自発光型の表示装置として従来よ
り、面状に展開した複数の電子放出素子と、この電子放
出素子から放出された電子ビームの照射により画像を形
成する画像形成部材(例えば蛍光体,レジスト材等、電
子が衝突することで発光,変色,帯電,変質等する部
材)とを、各々相対向させた薄型の画像表示装置があ
る。この様な画像表示装置の例として、図2及び図3
に、従来の電子線ディスプレイ装置の概略図を示す。Further, conventionally, as a self-luminous display device, a plurality of planar electron-emitting devices and an image-forming member (for example, a fluorescent member) that forms an image by irradiation of electron beams emitted from the electron-emitting devices. 2. Description of the Related Art There is a thin image display device in which a body, a resist material, and the like, which are members that emit light, change color, charge, and change due to the collision of electrons, face each other. As an example of such an image display device, FIGS.
FIG. 1 shows a schematic view of a conventional electron beam display device.
【0013】まず、図2は、相対向させた電子放出素子
と画像形成部材との間に変調電極を配置した構成を有す
る電子線ディスプレイ装置であって、詳述すると、71
はリアプレート、72は支持体、73は配線電極、74
は電子放出部、75は電子通過孔、76は変調電極、7
7はガラス板、78は透明電極、79は蛍光体(画像形
成部材)、80はフェースプレート、82は蛍光体の輝
点である。電子放出素子(72,73,74で構成)の
電子放出部74は薄膜技術により形成され、リアプレー
ト71とは接触することがない中空構造を成すものであ
る。又、変調電極76は、電子放出部74の上方(電子
放出方向)空間内に配置されており、そのため、放出さ
れた電子ビームの通過孔75を有している。First, FIG. 2 shows an electron beam display apparatus having a structure in which a modulation electrode is arranged between an electron-emitting device and an image forming member which face each other.
Is a rear plate, 72 is a support, 73 is a wiring electrode, and 74
Is an electron emission part, 75 is an electron passage hole, 76 is a modulation electrode, 7
Reference numeral 7 is a glass plate, 78 is a transparent electrode, 79 is a phosphor (image forming member), 80 is a face plate, and 82 is a bright spot of the phosphor. The electron emitting portion 74 of the electron emitting element (composed of 72, 73 and 74) is formed by a thin film technique and has a hollow structure that does not contact the rear plate 71. Further, the modulation electrode 76 is arranged in the space above the electron emission portion 74 (in the electron emission direction), and therefore has a passage hole 75 for the emitted electron beam.
【0014】この電子線ディスプレイ装置は、配線電極
73に電圧を印加し中空構造をなす電子放出部74を加
熱せしめることにより熱電子を放出させ、これら電子流
を情報信号に応じて変調する変調電極76に電圧を印加
することにより通過孔75より電子を取り出し、取り出
した電子を加速させ、蛍光体79に衝突させるものであ
る。また、配線電極73と変調電極76とでXYマトリ
クスを形成せしめ、画像形成部材である蛍光体79上に
画像表示を行うものである。In this electron beam display device, a voltage is applied to the wiring electrode 73 to heat the electron emitting portion 74 having a hollow structure so as to emit thermoelectrons and modulate the electron flow according to an information signal. Electrons are taken out from the passage hole 75 by applying a voltage to 76, and the taken out electrons are accelerated to collide with the phosphor 79. Further, an XY matrix is formed by the wiring electrodes 73 and the modulation electrodes 76, and an image is displayed on the phosphor 79 which is an image forming member.
【0015】また、他のディスプレイ装置の一つとし
て、金沢工業大学の宮崎栄一氏と坂本康正氏らが開発を
進める、水平アドレス垂直静電偏向方式ディスプレイ装
置がある。図3は装置の構成図であり、図4はその原理
図である。Further, as another display device, there is a horizontal address vertical electrostatic deflection type display device developed by Eiichi Miyazaki and Yasumasa Sakamoto of Kanazawa Institute of Technology. FIG. 3 is a block diagram of the device, and FIG. 4 is a principle diagram thereof.
【0016】図3において、91は基板、92は変調電
極、93は熱電子源、94は上偏向電極、95は下偏向
電極である。96は透明電極と蛍光体,レジスト材等の
フェースプレートで、電子が衝突することにより発光,
変色,帯電,変質等する画像形成部材が設けられてい
る。図4において、97は電子ビーム、98は等電位線
である。この熱電子源は、タングステン線に電子放出物
質を被覆したもので、外形は35μm、動作温度は70
0〜850℃である。In FIG. 3, reference numeral 91 is a substrate, 92 is a modulation electrode, 93 is a thermoelectron source, 94 is an upper deflection electrode, and 95 is a lower deflection electrode. Reference numeral 96 denotes a face plate made of a transparent electrode, a phosphor, a resist material, etc., which emits light when electrons collide with it.
An image forming member that undergoes discoloration, electrification, deterioration, etc. is provided. In FIG. 4, 97 is an electron beam and 98 is an equipotential line. This thermionic electron source is a tungsten wire coated with an electron emission material, and has an outer shape of 35 μm and an operating temperature of 70.
It is 0-850 degreeC.
【0017】熱電子源93に電流を流して電子放出さ
せ、放出した電子を変調電極に電圧を印加させることに
より電子ビームをON,OFF制御する。熱電子源93
と変調電極の間隔は0.15mmであり、変調電極92に
印加する電圧が−5Vでカットオフし、0Vで電子ビー
ムを引き出す。引き出された電子ビーム97は偏向電極
94,95に−200〜200Vの電圧を印加すること
により偏向させられ、フェースプレート96上の蛍光体
に衝突させて発光させるものである。つまり、偏向電極
94,95で垂直画素数が、変調電極92で水平画素数
が決まる。又、電子ビーム97は、フェースプレート9
6、偏向電極94,95、変調電極92の各電位によっ
て決定される電界分布で偏向,結像を行って画像を表示
する。A current is passed through the thermoelectron source 93 to cause electrons to be emitted, and the emitted electrons are applied with a voltage to the modulation electrode to control the ON / OFF of the electron beam. Thermionic source 93
The distance between the modulation electrode and the modulation electrode is 0.15 mm, the voltage applied to the modulation electrode 92 is cut off at -5 V, and the electron beam is extracted at 0 V. The extracted electron beam 97 is deflected by applying a voltage of −200 to 200 V to the deflection electrodes 94 and 95, and collides with the phosphor on the face plate 96 to emit light. That is, the number of vertical pixels is determined by the deflection electrodes 94 and 95, and the number of horizontal pixels is determined by the modulation electrode 92. Further, the electron beam 97 is transmitted to the face plate 9
6, an image is displayed by performing deflection and imaging with an electric field distribution determined by the potentials of the deflection electrodes 94 and 95 and the modulation electrode 92.
【0018】[0018]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の画像表示装置においては、以下のような問題点があ
った。即ち、 (1)前述の図2,図3に示したような通電加熱により
電子放出する熱電子源を用いた場合には、加熱による消
費電力が大きく効率が悪い。However, the above-mentioned conventional image display device has the following problems. That is, (1) When the thermoelectron source that emits electrons by energization heating as shown in FIGS. 2 and 3 is used, the power consumption by heating is large and the efficiency is poor.
【0019】(2)各構成部品を高精度に組み立てない
と表示画像に歪を生じる。(2) If the components are not assembled with high precision, the displayed image will be distorted.
【0020】(3)図3に示したような構成では、タン
グステン線を母体とした線状の熱電子源を用いるため、
通電加熱により電子線源が熱膨張し、所定の放出電子量
にばらつきや変動等が生じる。(3) In the structure shown in FIG. 3, since a linear thermoelectron source having a tungsten wire as a base is used,
The electron beam source thermally expands due to the energization heating, and variations or fluctuations occur in the amount of predetermined emitted electrons.
【0021】(4)電子光学的に隣接電極の影響を受け
やすく、微細なピッチのマルチ電子ビーム源を実現する
のが困難(ディスプレイとして高精細化が困難)。(4) Electron-optically susceptible to the influence of adjacent electrodes, and it is difficult to realize a multi-electron beam source with a fine pitch (it is difficult to achieve high definition as a display).
【0022】(5)熱ラインカソードは、通電加熱時に
電位勾配が発生するため、電子光学的には条件が不均一
なる。即ち、出力電子ビームのビーム毎の強度や起動方
向、あるいは収束特性に差が生じやすい。(5) Since the electric potential gradient is generated in the hot line cathode during heating by energization, the conditions are non-uniform electron-optically. That is, the intensity, the starting direction, or the convergence characteristic of each output electron beam tends to differ.
【0023】(6)上記問題に対処するため、通電加熱
でカソードを加熱した後、一旦通電を止め、蓄熱を利用
することも試みられているが、加熱・冷却サイクルによ
り、熱ラインカソードが伸縮して機械的に振動するた
め、電子光学的に不安定となってしまう。(6) In order to deal with the above problem, it has been attempted to stop the energization and utilize the stored heat after heating the cathode by energization heating, but the heat line cathode expands and contracts due to the heating / cooling cycle. Then, it vibrates mechanically and becomes electro-optically unstable.
【0024】上記理由により、大面積に亙って均一な表
示を行う画像表示装置への応用は事実上不可能であっ
た。Due to the above reasons, it was practically impossible to apply it to an image display device which performs a uniform display over a large area.
【0025】また、上記従来知られてきた表面伝導型放
出素子を用いて試みられた画像表示装置においては、表
示された画像の輝度が、原画像を忠実に再現しないとい
う問題があった。Further, in the image display device tried using the above-mentioned conventionally known surface conduction electron-emitting device, there is a problem that the brightness of the displayed image does not faithfully reproduce the original image.
【0026】即ち、例えば特公昭45−31615号に
おいては、図5及び図6に示すように、直列に接続され
た横電流型電子放出体502と、これと格子を形成する
ごとく配置された帯状の透明電極504の間に小さな孔
503′を有するガラス板503を有し、その孔50
3′が丁度前述の格子の交点にくるように配置されてい
る。そして、これら孔503′にガスを封入し、電子を
放出している横電流型電子放出体502と、加速電圧E
2が印加された透明電極504の交点のみがガス放電に
よって発光するようにした表示装置が開示されている。That is, for example, in Japanese Examined Patent Publication (Kokoku) No. 45-31615, as shown in FIGS. 5 and 6, a lateral current type electron emitter 502 connected in series and a strip-shaped electron emitter 502 arranged so as to form a lattice therewith. Glass plate 503 having a small hole 503 'between transparent electrodes 504 of
3'is arranged so that it is exactly at the intersection of the above-mentioned lattices. Then, a transverse current type electron emitter 502 which emits electrons by enclosing a gas in these holes 503 'and an acceleration voltage E
A display device is disclosed in which only the intersection of the transparent electrodes 504 to which 2 is applied emits light by gas discharge.
【0027】この特公昭45−31615号のなかに
は、横電流型電子放出体に関する詳しい説明はないが、
記載された材料(金属薄膜,ネサ膜)やネック部50
2′の構造が従来技術の項で述べた表面伝導型放出素子
と同一であることから、この範疇に含まれるものと考え
られる(尚、本願発明者らが用いた表面伝導型電子放出
素子という呼称は、薄膜ハンドブックの記載に準じたも
のである)。Although there is no detailed description of the lateral current type electron emitter in this Japanese Patent Publication No. 45-31615,
Described materials (metal thin film, NES film) and neck 50
Since the structure of 2'is the same as the surface conduction electron-emitting device described in the section of the prior art, it is considered to be included in this category (referred to as the surface conduction electron-emitting device used by the inventors of the present application). The name is based on the description in the thin film handbook).
【0028】上記表示装置においては、横電流型電子放
出体から放出された電子を加速ガス分子と衝突せしめて
放電させるものであるが、横電流電子放出体に同じ電流
を流しても、放電発光輝度が画素毎にばらついたり、同
一画素でも輝度が変動するという問題があった。この原
因としては、放電強度はガスの状態に大きく依存するた
め制御性が良くないこと、及び横電流型電子放出素子の
出力が実験例として紹介されているような15mmHg
程度の圧力下では必ずしも安定でないことなどが挙げら
れる。In the above display device, the electrons emitted from the lateral current type electron emitter are caused to collide with the accelerating gas molecules to cause discharge, but even if the same current is applied to the lateral current electron emitter, discharge light emission is performed. There is a problem that the brightness varies from pixel to pixel, or the brightness varies even in the same pixel. The reason for this is that the controllability is not good because the discharge intensity largely depends on the gas state, and the output of the lateral current type electron-emitting device is 15 mmHg as introduced as an experimental example.
It is not always stable under a certain pressure.
【0029】このため、かかる表示装置は多階調の表示
が困難であり、テレビジョン受像機などに広く応用され
るには至っていない。Therefore, it is difficult for such a display device to display multi-gradation, and it has not been widely applied to a television receiver or the like.
【0030】そこで、発明者らは、前記図2の表示装置
において、電子放出素子74の代わりに表面伝導形放出
素子を設置した装置を試みてきた。この装置では、一般
には、基板上に多数の素子を配列し、各素子間を薄膜も
しくは厚膜の電極で電気的に配線し、マルチ電子源とし
て用いていたが、配線抵抗で生じる電圧降下のために各
素子ごとに印加される電圧がばらついてしまうという現
象が起きている。その結果、各放出素子から放出される
電子線の電流量にばらつきが生じ、形成される画像に濃
度むらが起きるという問題が発生していた。Therefore, the inventors have tried an apparatus in which a surface conduction electron-emitting device is installed instead of the electron-emitting device 74 in the display device of FIG. In this device, generally, a large number of elements are arranged on a substrate, and the elements are electrically wired by thin or thick film electrodes and used as a multi-electron source. Therefore, a phenomenon occurs in which the voltage applied to each element varies. As a result, the amount of current of the electron beam emitted from each emitting element varies, which causes a problem that density unevenness occurs in the formed image.
【0031】図7及び図8は、この問題をより詳しく説
明するための図で、両図とも(a)は電子放出素子と配
線抵抗及び電源を含む等価回路図であり、(b)は各電
子放出素子の正極と負極の電位を示す図、(c)は各素
子の正負極間に印加される電圧を示す図である。7 and 8 are diagrams for explaining this problem in more detail. In both figures, (a) is an equivalent circuit diagram including an electron-emitting device, wiring resistance and a power source, and (b) is each. FIG. 3 is a diagram showing the potentials of the positive electrode and the negative electrode of the electron-emitting device, and (c) is a diagram showing the voltage applied between the positive and negative electrodes of each device.
【0032】図7(a)は、並列接続されたN個の電子
放出素子D1 〜DN と電源VE とを接続した回路を示す
もので、電源の正極と素子D1 の正極を、また電源の負
極と素子DN の負極を接続したものである。また、各素
子を並列に結ぶ共通配線は、図に示すように隣接する素
子間でそれぞれrの抵抗成分を有するものとする(画像
形成装置では、電子線のターゲットとなる画素は、通常
等ピッチで配列されている。従って、電子放出素子も空
間的に等間隔に配列されており、これらを結ぶ配線は幅
や膜圧が製造上ばらつかない限り、素子間で等しい抵抗
値をもつ)。また、電子放出素子D1 〜DN は、ほぼ等
しい抵抗値Rdを各々有するものとする。FIG. 7A shows a circuit in which N electron-emitting devices D1 to DN connected in parallel and a power source VE are connected to each other. The positive electrode of the power source and the positive electrode of the device D1 and the negative electrode of the power source are connected. Is connected to the negative electrode of the element DN. Further, the common wiring connecting the respective elements in parallel has a resistance component of r between the adjacent elements as shown in the figure (in the image forming apparatus, the pixels that are the targets of the electron beam are normally arranged at equal pitches). Therefore, the electron-emitting devices are also spatially arranged at equal intervals, and the wiring connecting them has the same resistance value between the devices unless the width and the film pressure vary in manufacturing). The electron-emitting devices D1 to DN have resistances Rd which are substantially equal to each other.
【0033】図7(c)の縦軸は印加電圧を示し、図7
(b)と同様に、傾向を見易くするために、便宜的に各
測定値同士を実線で結んでいる。The vertical axis of FIG. 7 (c) shows the applied voltage.
Similar to (b), in order to make the tendency easy to see, the measured values are connected with a solid line for convenience.
【0034】本図から明らかなように、図7(a)のよ
うな回路の場合には、両端の素子(D1 及びDN )に近
い程大きな電圧が印加され、中央部付近の素子では印加
電圧が小さくなる。従って、各電子放出素子から放出さ
れる電子源は、両端の素子程放出電流が大きくなる。よ
って、これを画像形成装置に応用した場合には、例え
ば、両端に近い部分の画像の表示濃度が濃く、中央部付
近の画像濃度が淡くなってしまう。As is clear from this figure, in the case of the circuit as shown in FIG. 7A, a larger voltage is applied to the elements (D1 and DN) at both ends, and the applied voltage is applied to the elements near the center. Becomes smaller. Therefore, in the electron source emitted from each electron-emitting device, the emission current becomes larger toward the devices at both ends. Therefore, when this is applied to the image forming apparatus, for example, the display density of the image near the both ends is high, and the image density near the center is light.
【0035】一方、図8に示すのは、並列接続された素
子列の片側(本図では素子D1 側)のみに電源の正負極
を接続した場合である。この様な回路の場合には、同図
(b)に示すように、正極側,負極側ともD1に近い
程、配線抵抗rによる電圧降下が大きくなる。On the other hand, FIG. 8 shows the case where the positive and negative electrodes of the power source are connected only to one side (the element D1 side in this figure) of the element rows connected in parallel. In the case of such a circuit, as shown in FIG. 6B, the voltage drop due to the wiring resistance r increases as the positive electrode side and the negative electrode side are closer to D1.
【0036】図8(a)の回路図において、各素子の正
極及び負極の電位を示したのが図8(b)である。この
図8(b)(c)において、横軸はD1 〜DN の素子番
号を示し、縦軸は電位を示す。●印は各素子の正電極電
位を、■印は負極電位を表わしており、電位分布の傾向
を見易くするために、便宜的に●印(■印)を実線で結
んでいる。In the circuit diagram of FIG. 8A, FIG. 8B shows the positive and negative electrode potentials of each element. In FIGS. 8B and 8C, the horizontal axis represents the element numbers D1 to DN and the vertical axis represents the potential. The ● mark represents the positive electrode potential of each element, and the ■ mark represents the negative electrode potential, and the ● mark (■ mark) is connected with a solid line for convenience in order to make the tendency of the potential distribution easy to see.
【0037】本図から明らかなように、配線抵抗rによ
る電圧降下は、一様に起こるわけではなく、正極側の場
合は素子D1 に近い程急峻であり、逆に負極側では素子
DNに近い程急峻になっている。これは、正極側では、
D1 に近い程線抵抗rを流れる電流が大きく、また負極
側では、逆にDN に近い程大きな電流が流れるためであ
る。As is apparent from this figure, the voltage drop due to the wiring resistance r does not occur uniformly, and is steeper as it is closer to the element D1 on the positive side, and conversely closer to the element DN on the negative side. It is becoming steeper. This is on the positive side
This is because the closer the current is to D1, the larger the current flowing through the line resistance r, and on the negative electrode side, the closer to DN, the larger the current flows.
【0038】これから、各素子の正負極間に印加される
電圧をプロットしたのが図8(c)である。図8(c)
において、横軸はD1 〜DN の素子番号を示しており、
各素子に印加される電圧は、同図(c)に示すようにD
1 に近い程大きなものとなり、画像形成装置として応用
するには極めて不都合であった。FIG. 8C is a plot of the voltage applied between the positive and negative electrodes of each element. Figure 8 (c)
In the figure, the horizontal axis represents the element numbers D1 to DN,
The voltage applied to each element is D as shown in FIG.
The closer it is to 1, the larger the size becomes, which is extremely inconvenient for application as an image forming apparatus.
【0039】以上二つの例で示したような素子毎の印加
電圧のばらつきの程度は、並列接続される素子の総数N
や、素子抵抗Rdと配線抵抗rの比(=Rd/r)や、あ
るいは電源の接続位置により異なるが、一般にはNが大
きい程、Rd/rが小さい程ばらつきは顕著となり、ま
た前記図7よりも図8の接続方法のほうが、素子に印加
される電圧のばらつきが大きいことがわかる。The degree of variation in the applied voltage for each element as shown in the above two examples is determined by the total number N of elements connected in parallel.
Although it depends on the ratio of the element resistance Rd to the wiring resistance r (= Rd / r) or the connection position of the power source, in general, the larger N is and the smaller Rd / r is, the more remarkable the variation is. It is understood that the connection method of FIG. 8 has a larger variation in the voltage applied to the element than the connection method of FIG.
【0040】例えば、図7の接続法で、素子抵Rd=1K
Ω,r=10mΩの場合、N=100であれば、印加電
圧の最も大きな素子と最も小さな素子とを比較すると、
Vmax :Vmin =102:100程度であるが、N=1
000であれば、Vmax :Vmin =472:100と、
ばらつきの割合は大きくなる。For example, in the connection method of FIG. 7, element resistance Rd = 1K
In the case of Ω and r = 10 mΩ, if N = 100, comparing the element having the largest applied voltage with the element having the smallest applied voltage,
Vmax: Vmin = 102: 100, but N = 1
000, Vmax: Vmin = 472: 100,
The rate of variation is large.
【0041】また、N=1000,Rd=1kΩ,r=
1mΩの場合には、Vmax :Vmin=127:100程
度であるが、r=10mΩの配線抵抗の場合には、Vma
x :Vmin =472:100程度というように、ばらつ
きの程度は大きくなる。Further, N = 1000, Rd = 1 kΩ, r =
In the case of 1 mΩ, Vmax: Vmin = 127: 100, but in the case of the wiring resistance of r = 10 mΩ, Vma:
The degree of variation becomes large as x: Vmin = 472: 100.
【0042】以上説明したように、特性の等しい電子放
出素子を複数個並列に接続した場合には、配線抵抗によ
り生ずる電圧降下のため、各素子に実効的に印加される
電圧は素子毎にばらついてしまい、電子ビームの放出量
が不均一となり、画像形成装置として応用する場合に不
都合があった。As described above, when a plurality of electron-emitting devices having the same characteristics are connected in parallel, the voltage effectively generated in each device varies due to the voltage drop caused by the wiring resistance. Therefore, the emission amount of the electron beam becomes non-uniform, which is inconvenient when applied as an image forming apparatus.
【0043】特に、画素数の多い(即ち、Nの大きい)
大容量表示装置を実現しようとする場合には、上記ばら
つきの割合は顕著となり、画像の濃度むらが発生すると
いう問題がある。Especially, the number of pixels is large (that is, N is large).
When trying to realize a large-capacity display device, there is a problem that the above-mentioned variation ratio becomes remarkable and uneven density of an image occurs.
【0044】本発明は上記従来例に鑑みてなされたもの
で、電子線の発生効率が高く、安定した電子の放出がで
きる電子源を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above conventional example, and an object of the present invention is to provide an electron source having a high electron beam generation efficiency and capable of stable electron emission.
【0045】また本発明は、電子線の発生効率が良く、
安定した階調画像を表現できる画像形成装置を提供する
ことを目的とする。The present invention has a high electron beam generation efficiency,
An object is to provide an image forming apparatus capable of expressing a stable gradation image.
【0046】また本発明の他の目的は、配線抵抗による
電子線の放出度合のバラツキを防止した電子源を提供す
ることにある。Another object of the present invention is to provide an electron source in which variations in electron beam emission degree due to wiring resistance are prevented.
【0047】また本発明の他の目的は、配線抵抗による
電子線の出力のバラツキを防止して安定した高品位の画
像を得ることができる画像形成装置を提供することにあ
る。Another object of the present invention is to provide an image forming apparatus capable of obtaining a stable high-quality image by preventing variations in electron beam output due to wiring resistance.
【0048】[0048]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の電子源は以下のような構成を備える。即ち、
入力信号に基づいて電子を放出する電子源であって、電
力供給端子間に複数並列に線状に接続され、それぞれが
前記電力供給端子に接続される相対向する一対の電極
と、該一対の電極間に配置された電子放出部とを有する
複数の表面伝導形電子放出素子を有し、前記電力供給端
子近傍の前記表面伝導形電子放出素子の前記一対の電極
間距離が他の表面伝導形電子放出素子の前記一対の電極
間距離よりも長く設定されている。In order to achieve the above object, the electron source of the present invention has the following structure. That is,
An electron source that emits electrons based on an input signal, wherein a plurality of electrodes are connected in parallel between power supply terminals in a linear manner, and a pair of electrodes facing each other connected to the power supply terminals and a pair of the electrodes. A plurality of surface-conduction type electron-emitting devices having electron-emitting portions arranged between electrodes, and the distance between the pair of electrodes of the surface-conduction type electron-emitting devices in the vicinity of the power supply terminal is another surface-conduction type. It is set longer than the distance between the pair of electrodes of the electron-emitting device.
【0049】また本発明の画像形成装置は以下のような
構成を備える。即ち、入力信号に基づいて電子線を放出
する電子源を平面状に複数配置した画像形成装置であっ
て、前記電子源は電力供給端子間に複数並列に線状に接
続され、それぞれが前記電力供給端子に接続される相対
向する一対の電極と、該一対の電極間に配置された電子
放出部とを有する複数の表面伝導形電子放出素子を有
し、前記入力信号に基づいて前記電力供給端子に通電し
て前記電子源を駆動する駆動手段と、前記電子源より放
出される電子線により可視画像を形成する画像形成手段
とを有する。The image forming apparatus of the present invention has the following structure. That is, in an image forming apparatus in which a plurality of electron sources that emit an electron beam based on an input signal are arranged in a plane, the electron sources are linearly connected in parallel between power supply terminals, and each of the power sources is the power source. A plurality of surface conduction electron-emitting devices each having a pair of electrodes connected to the supply terminal and facing each other and an electron-emitting portion arranged between the pair of electrodes; and supplying the power based on the input signal. It has a driving means for energizing a terminal to drive the electron source, and an image forming means for forming a visible image by an electron beam emitted from the electron source.
【0050】[0050]
【作用】以上の構成において、本発明の電子源は、電力
供給端子間に複数並列に線状に接続され、それぞれが前
記電力供給端子に接続される相対向する一対の電極と、
該一対の電極間に配置された電子放出部とを有する複数
の表面伝導形電子放出素子を有し、前記電力供給端子近
傍の前記表面伝導形電子放出素子の前記一対の電極間距
離が他の表面伝導形電子放出素子の前記一対の電極間距
離よりも長く設定されていることにより、配線抵抗によ
る影響を電極間距離で相殺する。In the above structure, the electron source of the present invention has a pair of electrodes which are linearly connected in parallel between the power supply terminals and which are connected to the power supply terminals.
A plurality of surface-conduction type electron-emitting devices having an electron-emitting portion arranged between the pair of electrodes, and the distance between the pair of electrodes of the surface-conduction type electron-emitting devices near the power supply terminal is different Since the distance between the pair of electrodes of the surface conduction electron-emitting device is set longer, the influence of the wiring resistance is canceled by the distance between the electrodes.
【0051】[0051]
【実施態様】以下に、本発明の一実施例を図面を参照し
て詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【0052】表面伝導型電子放出素子の典型的な電子放
出特性は、図9に示すように素子印加電圧が8V程度か
ら電子放出が始まり、印加電圧に比例して放出電流が増
加する。従って、何らかの原因によって実効的に素子に
印加される電圧が低下した場合には、印加電圧の低い素
子の放出電流の減少は顕著となり、画像形成装置等に応
用した場合には画像のむらとして現れることになる。特
に大面積に亙って表面伝導型電子放出素子を展開した大
型の画像表示装置等においては、配線抵抗と素子駆動時
に流れる電流に起因する電圧降下によって放出電流にば
らつきが生じ、表示むらが顕著になる。As a typical electron emission characteristic of the surface conduction electron-emitting device, as shown in FIG. 9, electron emission starts when the device applied voltage is about 8 V, and the emission current increases in proportion to the applied voltage. Therefore, when the voltage effectively applied to the element is lowered for some reason, the emission current of the element with a low applied voltage is significantly reduced, and when applied to an image forming apparatus or the like, it appears as image unevenness. become. Particularly in a large-sized image display device in which surface conduction electron-emitting devices are spread over a large area, the emission current varies due to the voltage drop caused by the wiring resistance and the current flowing when the device is driven, and the display unevenness is remarkable. become.
【0053】そこで本実施例では、予め配線抵抗による
電圧降下を補正するように素子の電子放出特性を変えて
おき、電子放出素子を所定の電圧で駆動した場合の放出
電流量のばらつきを補正して、均一な電子放出が得られ
る電子源及び画像形成装置を実現しようとするものであ
る。Therefore, in this embodiment, the electron emission characteristics of the element are changed in advance so as to correct the voltage drop due to the wiring resistance, and the variation in the amount of emission current when the electron emission element is driven at a predetermined voltage is corrected. Therefore, the present invention aims to realize an electron source and an image forming apparatus that can obtain uniform electron emission.
【0054】次に、本発明の一実施例として、電子放出
素子の特性を変える手段について説明する。図10
(a),(b)のそれぞれは、本実施例に用いる表面伝
導型電子放出素子の構成を示す上面図及び断面図であ
る。Next, a means for changing the characteristics of the electron-emitting device will be described as an embodiment of the present invention. Figure 10
(A) and (b) are respectively a top view and a cross-sectional view showing the configuration of the surface conduction electron-emitting device used in this example.
【0055】同図において、1は絶縁性基板、3は電子
放出部、4は電子放出部3を含む薄膜、5,6は素子電
極である。本素子について発明者らが鋭意検討を行った
結果、該表面伝導型電子放出素子の電子放出が開始され
る閾値電圧は、素子電極間隔L1 の長さに依存している
ことを見出した。即ち、L1が長くなるに従って上記閾
値電圧は高電圧側にシフトする。素子電極幅L1の違い
による典型的な電子放出特性の違いを図11に示す。図
11において、○で示した特性は電極間隔L1=2μ
m、●で示した特性はL1 =20μmの場合である。同
図から、何らかの原因で素子に印加される実効的な印加
電圧が低下した場合でも均一な放出電流を得るために
は、素子電極の間隔L1 を適当な長さに予め調整してお
くことによりほぼ一定の放出電流が得られることがわか
る。In the figure, 1 is an insulating substrate, 3 is an electron emitting portion, 4 is a thin film including the electron emitting portion 3, and 5 and 6 are device electrodes. As a result of intensive studies by the inventors of the present device, it was found that the threshold voltage at which electron emission of the surface conduction electron-emitting device is started depends on the length of the device electrode interval L1. That is, the threshold voltage shifts to the higher voltage side as L1 becomes longer. FIG. 11 shows a typical difference in electron emission characteristics due to a difference in device electrode width L1. In FIG. 11, the characteristics indicated by ○ are the electrode spacing L1 = 2μ
The characteristics indicated by m and ● are for L1 = 20 μm. From the figure, in order to obtain a uniform emission current even when the effective applied voltage applied to the device is lowered for some reason, the interval L1 between the device electrodes is adjusted to an appropriate length in advance. It can be seen that an almost constant emission current can be obtained.
【0056】本発明者らは、表面伝導型放出素子のなか
では、電子放出部もしくはその周辺部を微粒子膜から形
成したものが電子放出特性上、あるいは大面積にわたっ
て多数個を製造する上で好ましいことを見いだしてい
る。そこで、以下に述べる本発明の実施例の項では、微
粒子膜を用いて形成した表面伝導型放出素子をマルチ電
子ビーム源として用いた画像表示装置を、本発明の画像
形成装置の好ましい例として説明する。Among the surface conduction electron-emitting devices, the present inventors prefer the electron-emitting portion or its peripheral portion formed of a fine particle film in terms of electron-emitting characteristics or for manufacturing a large number over a large area. I'm finding a thing. Therefore, in the section of the embodiments of the present invention described below, an image display device using a surface conduction electron-emitting device formed by using a fine particle film as a multi-electron beam source is described as a preferable example of the image forming device of the present invention. To do.
【実施例】以下、添付図面を参照して本発明の好適な実
施例を詳細に説明するが、まず始めに本実施例に関わる
電子放出素子について説明し、次に本実施例による表示
装置の構成と駆動方法を説明する。The preferred embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. First, the electron-emitting device according to the present embodiment will be described, and then the display device according to the present embodiment will be described. The configuration and driving method will be described.
【0057】<第1実施例>本実施例の表示装置を説明
する前に、以下に本願出願人による本発明に関わる素子
の基本的な構成と製造方法および特徴(特開平2−56
822等を参考にして)及び本発明者らが、鋭意検討し
た結果見いだした本発明の原理となる特性について概説
する。本実施例に関わる表面伝導型電子放出素子の構
成、及び製法の特徴は、次の様なものがあげられる。<First Embodiment> Before explaining the display device of the present embodiment, the basic constitution, manufacturing method, and characteristics of the element relating to the present invention by the applicant of the present invention will be described below (Japanese Patent Laid-Open No. 2-56).
822 etc.) and the characteristics of the principle of the present invention found by the present inventors as a result of diligent study. The features of the structure and manufacturing method of the surface conduction electron-emitting device according to this embodiment are as follows.
【0058】(1)フォーミングとよばれる通電処理前
の電子放出部形成用薄膜(図12の符号2)は、微粒子
分散体を分散し形成された微粒子からなる薄膜、あるい
は、有機金属等を加熱焼成し形成された微粒子からなる
薄膜等、基本的には、微粒子より構成される。(1) The thin film for forming an electron emitting portion (reference numeral 2 in FIG. 12) before energization treatment called forming is a thin film of fine particles formed by dispersing a fine particle dispersion, or an organic metal or the like is heated. Basically, it is composed of fine particles such as a thin film of fine particles formed by firing.
【0059】(2)フォーミングとよばれる通電処理後
の電子放出部を含む薄膜4は、電子放出部3、電子放出
部3を含む薄膜4とも基本的には、微粒子より構成され
る。(2) The thin film 4 including the electron emitting portion after the energization process called forming is basically composed of the electron emitting portion 3 and the thin film 4 including the electron emitting portion 3 as fine particles.
【0060】本実施例に関わる表面伝導型電子放出素子
の基本的な構成は、平面型及び垂直型の2つの構成があ
げられる。There are two basic configurations of the surface conduction electron-emitting device according to this embodiment, that is, a planar type and a vertical type.
【0061】まず、平面型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。First, the planar surface conduction electron-emitting device will be described.
【0062】図10(a),(b)は、それぞれ、本実
施例にかかわる基本的な平面型表面伝導型電子放出素子
の構成を示す平面図及び断面図である。それらの図を用
いて、本実施例に関わる素子の基本的な構成を説明す
る。10 (a) and 10 (b) are a plan view and a sectional view, respectively, showing the structure of a basic planar surface conduction electron-emitting device according to this embodiment. The basic configuration of the element according to this embodiment will be described with reference to these drawings.
【0063】図10において、1は絶縁性基板、5と6
は素子電極、4は電子放出部3を含む薄膜、3は電子放
出部である。絶縁性基板1としては、石英ガラス,Na
等の不純物分有量を減少したガラス、青板ガラス、青板
ガラスにスパッタ法等により形成したSiO2を積層し
たガラス基板等及びアルミナ等のセラミックス等があげ
られる。In FIG. 10, 1 is an insulating substrate, 5 and 6
Is an element electrode, 4 is a thin film including the electron emitting portion 3, and 3 is an electron emitting portion. As the insulating substrate 1, quartz glass, Na
Examples thereof include glass having a reduced content of impurities such as blue glass, soda lime glass, a glass substrate in which SiO2 formed by soaking on soda lime glass is laminated, and ceramics such as alumina.
【0064】対向する素子電極5,6の材料としては導
電性を有するものであればどのようなものであっても構
わないが、例えば、Ni,Cr,Au,No,W,P
t,Ti,Al,Cu,Pd等の金属或は合金及びP
d,Ag,Au,RuO2,Pd−Ag等の金属或は金
属酸化物とガラス等から構成される印刷導体、In2O3
−SnO2等の透明導電体及びポリシリコン等の半導体
材料等があげられる。素子電極間隔L1は、数百オング
ストロームより数百マイクロメートルであり、素子電極
の製法の基本となるフォトリソグラフィ技術、即ち、露
光機の性能とエッチング方法等、及び、素子電極間に印
加する電圧と電子放出し得る電界強度等により設定され
るが、好ましくは、1マイクロメートルより100マイ
クロメートルである。素子電極長さW1、素子電極5,
6の膜厚dは、電極の抵抗値、前述したX,Y配線との
結線、多数配置された電子源の配置上の問題より適宜設
計され、通常は、素子電極長さW1は、数マイクロメー
トルより数百マイクロメートルであり、素子電極5,6
の膜厚dは、好ましくは数百オングストロームより数マ
イクロメートルである。Any material may be used as the material of the opposing element electrodes 5 and 6 as long as it has conductivity. For example, Ni, Cr, Au, No, W and P may be used.
Metals or alloys such as t, Ti, Al, Cu, Pd and P
In2O3, a printed conductor composed of a metal or metal oxide such as d, Ag, Au, RuO2, Pd-Ag and glass.
Examples thereof include transparent conductors such as SnO2 and semiconductor materials such as polysilicon. The element electrode interval L1 is several hundreds of angstroms to several hundreds of micrometers, and the photolithography technology that is the basis of the manufacturing method of the element electrodes, that is, the performance and etching method of the exposure device, the voltage applied between the element electrodes, and the like. It is set depending on the electric field strength capable of emitting electrons, etc., but is preferably 1 micrometer to 100 micrometers. Element electrode length W1, element electrode 5,
The film thickness d of 6 is properly designed in consideration of the resistance value of the electrode, the connection with the X and Y wirings described above, and the arrangement of a large number of arranged electron sources. Normally, the element electrode length W1 is several micrometer. It is several hundreds of micrometers rather than meters, and device electrodes 5, 6
The film thickness d is preferably several hundred angstroms to several micrometers.
【0065】絶縁性基板1上に設けられた対向する素子
電極5と素子電極6間及び素子電極5,6上設定された
電子放出部を含む薄膜4は、電子放出部3を含むが、図
10に示された場合だけでなく、素子電極5,6上に設
置されない場合もある。即ち、絶縁性基板1上に、電子
放出部形成用薄膜2、対向する素子電極5,6の電極順
に積層構成した場合である。また、対向する素子電極5
と素子電極6間の全てが、製法によっては、電子放出部
として機能する場合もある。この電子放出部を含む薄膜
4の膜合は、数オングストロームより数千オングストロ
ームであり、好ましくは10オングストロームから20
0オングストロームであり、素子電極5,6へのステッ
プカバレージ、電子放出部3と素子電極5,6間の抵抗
値及び電子放出部3の導電性微粒子の粒径、後述する通
電処理条件等によって、適宜設定される。その抵抗値
は、10の3乗より10の7乗オーム/□のシート抵抗
値を示す。The thin film 4 provided on the insulating substrate 1 between the device electrodes 5 and 6 facing each other and including the electron emitting portions set on the device electrodes 5 and 6 includes the electron emitting portion 3, Not only the case shown in FIG. 10 but also the case where it is not installed on the device electrodes 5 and 6. That is, this is a case where the electron emission portion forming thin film 2 and the opposing device electrodes 5 and 6 are laminated in this order on the insulating substrate 1. In addition, the opposing element electrode 5
Depending on the manufacturing method, there may be a case where everything between the device electrode 6 and the device electrode 6 functions as an electron emitting portion. The film thickness of the thin film 4 including the electron emitting portion is from several angstroms to several thousand angstroms, preferably from 10 angstroms to 20 angstroms.
0 angstrom, depending on the step coverage to the device electrodes 5 and 6, the resistance value between the electron emission part 3 and the device electrodes 5 and 6, the particle size of the conductive fine particles of the electron emission part 3, the energization processing conditions described later, etc. It is set appropriately. The resistance value indicates a sheet resistance value of 10 3 to 10 7 ohm / □.
【0066】電子放出部を含む薄膜4を構成する材料の
具体例を挙げるならば、Pd,Ru,Ag,Au,T
i,In,Cu,Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,
Pb等の金属、PdO,SnO2,In2O3,,Pb
O,Sb2O3等の酸化物、HfB2,ZrB2,LaB
6,CeB6,YB4,GdB4等の硼化物、Tic,Zr
C,HfC,TaC,SiC,WC等の炭化物、Ti
N,ZrN,HfN等の窒化物、Si,Ge等の半導
体、カーボン、AgMg,NiCu,Pb,Sn等であ
り、微粒子膜からなる。なお、ここで述べる微粒子膜と
は複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造とし
て、微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒
子が互いに隣接あるいは重なり合った状態(島状)の膜
をさす。Specific examples of the material forming the thin film 4 including the electron emitting portion are Pd, Ru, Ag, Au and T.
i, In, Cu, Cr, Fe, Zn, Sn, Ta, W,
Metals such as Pb, PdO, SnO2, In2O3, Pb
Oxides such as Sb2O3, HfB2, ZrB2, LaB
Borides such as 6, CeB6, YB4, GdB4, Tic, Zr
Carbides such as C, HfC, TaC, SiC, WC, Ti
Nitride such as N, ZrN and HfN, semiconductor such as Si and Ge, carbon, AgMg, NiCu, Pb, Sn and the like, which are fine particle films. It should be noted that the fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and the fine structure thereof is not only a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged but also a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (island shape). Point
【0067】電子放出部3は、数オングストロームより
数千オングストローム、好ましくは10オングストロー
ムから200オングストロームの粒径の導電性微粒子多
数個からなり、電子放出部を含む薄膜4の膜厚及び後述
する通電処理条件等の製法に依存しており、適宜設定さ
れる。電子放出部3を構成する材料は、電子放出部を含
む薄膜4を構成する材料の元素の一部あるいは全てと同
様のものである。The electron emitting portion 3 is composed of a large number of conductive fine particles having a particle diameter of several angstroms to several thousand angstroms, preferably 10 angstroms to 200 angstroms. It depends on the manufacturing method such as conditions and is set appropriately. The material forming the electron emitting portion 3 is similar to some or all of the elements of the material forming the thin film 4 including the electron emitting portion.
【0068】電子放出部3を有する電子放出素子の製造
方法としては様々な方法が考えられるが、その一例を図
12に示す。なお、図12において、電子放出部形成用
薄膜2は電子放出部3を形成する前の薄膜で、例えば微
粒子膜が挙げられる。Various methods are conceivable as a method of manufacturing the electron-emitting device having the electron-emitting portion 3, one example of which is shown in FIG. In FIG. 12, the electron emitting portion forming thin film 2 is a thin film before the electron emitting portion 3 is formed, and is, for example, a fine particle film.
【0069】以下、順をおって製造方法の説明を図10
及び図12に基づいて説明する。The manufacturing method will be described below in sequence with reference to FIG.
And it demonstrates based on FIG.
【0070】(1)絶縁性基板1を洗剤及び純水,有機
溶剤により十分に洗浄した後、真空蒸着技術、フォトリ
ソグラフィ技術により絶縁性基板1の面上に素子電極
5,6を形成する(図12(a))。(1) After the insulating substrate 1 is thoroughly washed with a detergent, pure water, and an organic solvent, the device electrodes 5 and 6 are formed on the surface of the insulating substrate 1 by the vacuum deposition technique and the photolithography technique ( FIG. 12A).
【0071】(2)絶縁性基板1上に設けられた素子電
極5と素子電極6との間の絶縁性基板1上に、有機金属
溶液を塗布して放置することにより有機金属薄膜を形成
する。なお、この有機金属溶液とは、前記Pd,Ru,
Ag,Au,Ti,In,Cu,Cr,Fe,Zn,S
n,Ta,W,Pb等の金属を主元素とする有機化合物
の溶液である。この後、有機金属薄膜を加熱焼成処理
し、リフトオフ,エッチング等によりパターニングし、
電子放出部形成用薄膜2を形成する(図12(b))。
なお、ここでは有機金属溶液の塗布法により説明した
が、本実施例の電子放出素子はこれに限るものではな
く、真空蒸着法,スパッタ法,化学的気相堆積法,分散
塗布法,ディッピング法,スピナー法等によって形成さ
れる場合もある。(2) An organic metal thin film is formed by applying an organic metal solution and leaving it on the insulating substrate 1 between the device electrodes 5 and 6 provided on the insulating substrate 1. . The organometallic solution means Pd, Ru,
Ag, Au, Ti, In, Cu, Cr, Fe, Zn, S
It is a solution of an organic compound containing a metal such as n, Ta, W, or Pb as a main element. After that, the organic metal thin film is heated and baked, patterned by lift-off, etching, etc.
The electron emission part forming thin film 2 is formed (FIG. 12B).
It should be noted that although the description has been given here by using the coating method of the organic metal solution, the electron-emitting device of the present embodiment is not limited to this, and the vacuum vapor deposition method, the sputtering method, the chemical vapor deposition method, the dispersion coating method, the dipping method. , It may be formed by the spinner method.
【0072】(3)続いて、フォーミングと呼ばれる通
電処理を素子電極5,6間に行う。これは不図示の電源
により電極間5,6にパルス状電圧を印加して、電子放
出部形成用薄膜2の部位に構造の変化した電子放出部3
が形成するものである(図12(c))。この通電処理
により電子放出部形成用薄膜2を局所的に破壊,変形も
しくは変質せしめ、これにより構造が変化した部位を電
子放出部3と呼ぶ。前に説明したように、電子放出部3
は金属微粒子で構成されていることを本出願人らは観察
している。(3) Subsequently, an energization process called forming is performed between the element electrodes 5 and 6. This is because a pulsed voltage is applied between the electrodes 5 and 6 by a power source (not shown) to change the structure of the electron emitting portion 3 at the portion of the electron emitting portion forming thin film 2.
Are formed (FIG. 12 (c)). The electron emission portion forming thin film 2 is locally destroyed, deformed or altered by this energization process, and a portion whose structure is changed by this is called an electron emission portion 3. As described above, the electron emitting portion 3
Applicants have observed that is composed of fine metal particles.
【0073】このフォーミング処理死に印加する電圧波
形を図13に示す。FIG. 13 shows the voltage waveform applied to this forming process death.
【0074】図13において、T1及びT2のそれぞれ
は、電圧波形のパルス幅とパルス間隔を示し、T1を1
マイクロ秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜10
0ミリ秒とし、三角波の波高値(フォーミング時のピー
ク電圧)は4V〜10V程度とし、フォーミング処理は
真空雰囲気下で数十秒間程度で適宜設定した。In FIG. 13, each of T1 and T2 indicates the pulse width and pulse interval of the voltage waveform, and T1 is 1
Microsecond to 10 milliseconds, T2 10 microsecond to 10
The peak value of the triangular wave (peak voltage during forming) was set to about 4 V to 10 V, and the forming process was appropriately set in a vacuum atmosphere for about several tens of seconds.
【0075】以上説明した電子放出部3を形成する際
に、素子の電極間5,6に三角波パルスを印加してフォ
ーミング処理を行っているが、素子の電極間に印加する
波形は三角波に限定することはなく、矩形波など所定の
波形を用いても良く、その波高値及びパルス幅・パルス
間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放出部
が良好に形成されるのであれば所望の値を選択すること
が出来る。When forming the electron-emitting portion 3 described above, the forming process is performed by applying the triangular wave pulse between the electrodes 5 and 6 of the element, but the waveform applied between the electrodes of the element is limited to the triangular wave. Alternatively, a predetermined waveform such as a rectangular wave may be used, and the peak value, the pulse width, the pulse interval, etc. are not limited to the above values, and any desired value may be used as long as the electron emitting portion is formed well. The value of can be selected.
【0076】上述のような素子構成と製造方法によって
作成された電子放出素子の基体特性について、図14及
び図15を用いて説明する。The substrate characteristics of the electron-emitting device produced by the above device structure and manufacturing method will be described with reference to FIGS. 14 and 15.
【0077】(電子放出素子の特性)図14は、図10
で示した構成を有する素子の電子放出特性を測定するた
めの測定装置の概略構成図である。(Characteristics of Electron-Emitting Element) FIG.
It is a schematic block diagram of a measuring device for measuring the electron emission characteristic of the element which has the structure shown in FIG.
【0078】図14において、電源31は素子電圧Vf
を電子放出素子に印加するための電源、電流計30は素
子電極5,6間の電子放出部3を含む薄膜4を流れる素
子電流Ifを測定するための電流計、電極34は素子の
電子放出部3より放出される放出電流Ieを捕捉するた
めのアノード電極、電源33はアノード電極34に電圧
を印加するための高圧電源、電流計32は素子の電子放
出部3より放出される放出電流Ieを測定するための電
流計である。In FIG. 14, the power source 31 is the element voltage Vf.
Is applied to the electron-emitting device, an ammeter 30 is an ammeter for measuring the device current If flowing through the thin film 4 including the electron-emitting portion 3 between the device electrodes 5 and 6, and the electrode 34 is an electron emission device. The anode electrode for capturing the emission current Ie emitted from the portion 3, the power source 33 is a high voltage power source for applying a voltage to the anode electrode 34, and the ammeter 32 is the emission current Ie emitted from the electron emitting portion 3 of the device. Is an ammeter for measuring.
【0079】この電子放出素子の素子電流Ifと放出電
流Ieの測定にあたっては、素子電極5,6に電源31
と電流計30とを接続し、該電子放出部3の上方に電源
33と電流計32とを接続したアノード電極34を配置
している。また、本電子放出素子及びアノード電極34
は真空装置35内に配置され、その真空装置35には不
図示の排気ポンプ及び真空計等の真空装置に必要な機器
が具備されており、所望の真空下で本素子の特性の測定
を行えるようになっている。When measuring the device current If and the emission current Ie of this electron-emitting device, the power supply 31 is applied to the device electrodes 5 and 6.
And an ammeter 30 are connected to each other, and an anode electrode 34 to which a power source 33 and an ammeter 32 are connected is arranged above the electron emitting portion 3. Further, the electron-emitting device and the anode electrode 34
Is arranged in a vacuum device 35, and the vacuum device 35 is equipped with equipment necessary for the vacuum device such as an exhaust pump and a vacuum gauge (not shown), and the characteristics of this element can be measured under a desired vacuum. It is like this.
【0080】なお、アノード電極34の電圧は、1KV
〜10KV、アノード電極34と電子放出素子との距離
Hは3mm〜8mmの範囲で測定した。The voltage of the anode electrode 34 is 1 KV.
-10 KV, and the distance H between the anode electrode 34 and the electron-emitting device was measured in the range of 3 mm to 8 mm.
【0081】更に、本発明者等は、上述の本実施例にか
かわる表面伝導型電子放出素子の特性を鋭意検討した結
果、本発明の原理となる特性上の特徴を見いだした。Further, as a result of earnest studies on the characteristics of the surface conduction electron-emitting device according to the above-mentioned embodiment, the inventors of the present invention found out the characteristic characteristics which are the principle of the present invention.
【0082】図14に示した測定装置により測定された
放出電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfとの関係
の典型的な例を図15に示す。図15からも明らかなよ
うに、本電子放出素子は放出電流Ieに対する3つの特
性を有する。A typical example of the relationship between the emission current Ie and the device current If and the device voltage Vf measured by the measuring device shown in FIG. 14 is shown in FIG. As is clear from FIG. 15, this electron-emitting device has three characteristics with respect to the emission current Ie.
【0083】まず第1に、本実施例の電子放出素子にあ
る電圧Vth以上の素子電圧を印加すると急激に放出電流
Ieが増加し、一方、電圧Vth以下では放出電流Ieがほ
とんど検出されない。即ち、本素子は、放出電流Ieに
対する明確な閾値電圧Vthを有する非線形素子である。First, when a device voltage higher than a certain voltage Vth is applied to the electron-emitting device of this embodiment, the emission current Ie rapidly increases. On the other hand, below the voltage Vth, the emission current Ie is hardly detected. That is, this element is a non-linear element having a clear threshold voltage Vth with respect to the emission current Ie.
【0084】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに依存
するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御できる。Secondly, since the emission current Ie depends on the element voltage Vf, the emission current Ie can be controlled by the element voltage Vf.
【0085】第3に、アノード電極34に捕捉される放
出電荷は、素子電圧Vfを素子に印加する時間に依存す
る。すなわち、アノード電極34に捕捉される電荷量
は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。Thirdly, the emitted charges captured by the anode electrode 34 depend on the time for which the device voltage Vf is applied to the device. That is, the amount of charge captured by the anode electrode 34 can be controlled by the time for which the device voltage Vf is applied.
【0086】また、既に述べたように、表面伝導型電子
放出素子の電子放出が開始される閾値電圧及び、ある一
定の電流値を得るために必要な素子印加電圧は、図11
に示したように素子電極間の距離L1 依存している。素
子電極間距離L1 と1素子当たり1μAの放出電流を得
るために必要な駆動電圧との関係を図16に示す。図1
6からも明らかなように、距離L1が短くなると駆動電
圧が低くても良く、きょりL1が長くなると駆動電圧を
高くする必要があるため、素子の実効駆動電圧が低下す
る場合にはL1 を減少させた素子を用い、駆動電圧が低
下しない場合には距離L1 を増加させた素子を用いるこ
とにより、放出電流の均一化が可能となる。尚、表面伝
導形放出素子の材料や、膜厚などを変えると、L1と駆
動電圧の関係が図16のように直線的ではなくなる場合
もあるが、その場合にも適宜L1を調整すれば良いこと
は言うまでもない。As already described, the threshold voltage at which electron emission of the surface conduction electron-emitting device is started and the device applied voltage required to obtain a certain current value are shown in FIG.
It depends on the distance L1 between the device electrodes as shown in FIG. FIG. 16 shows the relationship between the device electrode distance L1 and the drive voltage required to obtain an emission current of 1 μA per device. Figure 1
As is clear from 6, when the distance L1 is short, the drive voltage may be low, and when the distance L1 is long, the drive voltage needs to be high. Therefore, when the effective drive voltage of the element is reduced, It is possible to make the emission current uniform by using an element with a reduced distance and using an element with an increased distance L1 when the driving voltage does not decrease. When the material of the surface conduction electron-emitting device or the film thickness is changed, the relationship between L1 and the driving voltage may not be linear as shown in FIG. 16, but in that case, L1 may be adjusted appropriately. Needless to say.
【0087】また、素子電流Ifは素子電圧Vfに対して
単調増加する(MI)特性の例を図15に示したが、こ
の他にも、素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御
型負性抵抗(VCNR)特性を示す場合もある。なおこ
の場合も、本電子放出素子は上述した3つの特性を有す
る。FIG. 15 shows an example of the characteristic (MI) in which the element current If monotonously increases with respect to the element voltage Vf. In addition to this, the element current If is a voltage control type with respect to the element voltage Vf. It may also exhibit negative resistance (VCNR) characteristics. Also in this case, the electron-emitting device has the above-mentioned three characteristics.
【0088】なお、予め導電性粒子を分散して構成した
表面伝導型電子放出素子においては、前記基本的な素子
構成の基本的な製造方法のうち一部を変更しても構成で
きる。The surface conduction electron-emitting device in which the conductive particles are dispersed in advance can be constructed by partially changing the basic manufacturing method of the basic device structure.
【0089】図17は本発明の一実施例に係る基本的な
垂直型表面伝導型電子放出素子の構成を示す図面であ
る。FIG. 17 is a view showing the structure of a basic vertical surface conduction electron-emitting device according to an embodiment of the present invention.
【0090】図17において、1は絶縁性基板、5と6
は素子電極、4は電子放出部を含む薄膜、3は電子放出
部、67は段差形成部である。尚、電子放出部3は段差
形成部67の厚さ、製法及び、電子放出部を含む薄膜4
の厚さ、製法等によりその位置は変化し、図17に示さ
れた位置に限るものではない。In FIG. 17, 1 is an insulating substrate, 5 and 6
Is an element electrode, 4 is a thin film including an electron emitting portion, 3 is an electron emitting portion, and 67 is a step forming portion. The electron emitting portion 3 is a thin film 4 including the thickness and manufacturing method of the step forming portion 67 and the electron emitting portion.
The position varies depending on the thickness, manufacturing method, etc., and is not limited to the position shown in FIG.
【0091】絶縁性基板1、素子電極5と6、電子放出
部を含む薄膜4、電子放出部3は、前述した平面型表面
伝導型電子放出素子と同様の材料で構成されたものであ
り、垂直型表面伝導型電子放出素子を特徴づける段差形
成部67、電子放出部を含む薄膜4について詳述する。The insulating substrate 1, the device electrodes 5 and 6, the thin film 4 including the electron emitting portion, and the electron emitting portion 3 are made of the same material as that of the above-mentioned plane type surface conduction electron emitting device. The step forming portion 67 and the thin film 4 including the electron emitting portion which characterize the vertical surface conduction electron-emitting device will be described in detail.
【0092】段差形成部67は、真空蒸着法,印刷法,
スパッタ法等で形成されたSiO2等の絶縁性材料で構
成され、段差形成部67の厚さが、先に述べた平面型表
面伝導型電子放出素子の素子電極間隔L1に対応し、数
百オングストロームより数十マイクロメートルであり、
段差形成部67の製法及び素子電極間5,6に印加する
電圧と電子放出し得る電界強度により設定されるが、好
ましくは、1000オングストロームより10マイクロ
メートルである。The step forming portion 67 is formed by a vacuum vapor deposition method, a printing method,
The step forming portion 67 is made of an insulating material such as SiO2 formed by sputtering or the like, and the thickness of the step forming portion 67 corresponds to the element electrode interval L1 of the flat surface conduction electron-emitting device described above, and is several hundred angstroms. More than tens of micrometers,
The thickness is set depending on the manufacturing method of the step forming portion 67, the voltage applied between the device electrodes 5 and 6, and the electric field strength capable of emitting electrons, but it is preferably 1000 angstroms to 10 micrometers.
【0093】電子放出部3を含む薄膜4は、素子電極
5,6と段差形成部67作成後に、形成するため、素子
電極5,6の上に積層され、場合によっては、素子電極
5,6との電気的接続を担う重なりの一部を除いた所望
の形状にされる。また、電子放出部3を含む薄膜4の膜
厚は、その製法に依存して、段差部での薄膜と素子電極
5,6の上に積層された部分の膜厚では、異なる場合が
多く、一般に段差部分の膜厚が薄い。その結果、前述し
た平面型表面伝導型電子放出素子と比べて、容易に通電
処理され、電子放出部3が形成されたりする場合が多
い。The thin film 4 including the electron emitting portion 3 is laminated on the device electrodes 5 and 6 for forming after forming the device electrodes 5 and 6 and the step forming portion 67, and in some cases, the device electrodes 5 and 6 are formed. It is formed into a desired shape except for a part of the overlap that is responsible for electrical connection with. In addition, the film thickness of the thin film 4 including the electron emitting portion 3 often differs depending on the manufacturing method between the thin film at the step portion and the film thickness of the portion laminated on the device electrodes 5 and 6, Generally, the film thickness of the step portion is thin. As a result, as compared with the above-described flat surface-conduction type electron-emitting device, in many cases, the energization process is easily performed and the electron-emitting portion 3 is formed.
【0094】次に、本発明の実施例である画像形成装置
の概要を説明する。本実施例の画像形成装置は、真空容
器内に複数並列に接続された線状の表面伝導型電子放出
素子(SCE素子)列と、該素子列と直交するように配
置され、各放出素子に対応する電子通過孔を有する変調
電極とによりX−Yマトリクスを構成し、線状の放出素
子列を線順次駆動すると共に、変調電極に情報信号を印
加し、放出素子列から放出された電子を情報信号に応じ
て輝度変調し、輝度変調された電子線を放出素子列に対
向する位置に設けられた、電子線照射により可視光を発
する蛍光体を付設した蛍光体基板上の位置に前記電子線
を照射することで線状の発光を得るものである。Next, an outline of the image forming apparatus according to the embodiment of the present invention will be described. The image forming apparatus according to the present exemplary embodiment is provided with a plurality of linear surface conduction electron-emitting device (SCE device) rows connected in parallel in a vacuum container, and arranged so as to be orthogonal to the element row. An XY matrix is formed by the modulation electrodes having the corresponding electron passage holes, and linear emission element arrays are line-sequentially driven, and an information signal is applied to the modulation electrodes, so that electrons emitted from the emission element arrays are emitted. Brightness modulation is performed according to an information signal, and the electrons are provided at a position on a phosphor substrate provided with a phosphor that emits visible light by electron beam irradiation, provided at a position where the brightness-modulated electron beam is opposed to the emitter array. A linear light emission is obtained by irradiating a line.
【0095】以下に、本実施例の画像表示装置の動作に
ついて詳述する。The operation of the image display device of this embodiment will be described in detail below.
【0096】本装置では、並列接続された1列の線状電
子放出素子列によって、線状の発光輝点を形成する。従
って、例えば電子放出素子列1ラインを100素子並列
接続された表面伝導型放出素子で形成した場合、各素子
に対応した変調電極を放出素子と直交させて100本設
ける。次に、1走査線に対応した割当時間内に電子放出
素子を駆動し、各素子に対応した変調電極各々に情報信
号に応じた振幅のパルス電圧、あるいは情報信号に応じ
た長さのパルス電圧を全素子同時に印加する。すると、
情報信号に応じて輝度変調された1ライン分の線状の電
子線が発生し、発光体を付設した蛍光体基板に電子が衝
突し、1走査線に対応した線状の発光が得られる。更に
次の走査線を形成するためには、上記同様に素子列、及
び変調電極を駆動することで、第2列目の走査線を形成
することが可能となる。上記走査を繰り返し行うこと
で、1列の電子放出素子列で複数のライン状画像表示が
可能となるものである。In this device, a linear emission bright spot is formed by one line of linear electron-emitting devices connected in parallel. Therefore, for example, when one line of the electron-emitting device row is formed by 100 surface-conduction type emission devices connected in parallel, 100 modulation electrodes corresponding to the respective devices are provided orthogonal to the emission devices. Next, the electron-emitting device is driven within the allotted time corresponding to one scanning line, and a pulse voltage having an amplitude corresponding to the information signal or a pulse voltage having a length corresponding to the information signal is applied to each of the modulation electrodes corresponding to each device. Is simultaneously applied to all elements. Then,
A linear electron beam for one line whose brightness is modulated according to the information signal is generated, and the electron collides with the phosphor substrate provided with a light emitting body to obtain a linear light emission corresponding to one scanning line. Further, in order to form the next scanning line, it is possible to form the scanning line of the second row by driving the element row and the modulation electrode in the same manner as described above. By repeating the above scanning, a plurality of line-shaped images can be displayed by one electron-emitting device row.
【0097】また、上述したように情報信号に応じた変
調を行うためには、変調電極に印加するパルス電圧の印
加時間を変える(パルス幅変調)、あるいはパルス電圧
の振幅を変える(振幅変調)、あるいは割当時間内に印
加する振幅一定の微小パルスの入力数を変える(パルス
数変調)等いかなる方法を用いても構わない。Further, as described above, in order to perform the modulation according to the information signal, the application time of the pulse voltage applied to the modulation electrode is changed (pulse width modulation) or the amplitude of the pulse voltage is changed (amplitude modulation). Alternatively, any method such as changing the number of inputs of minute pulses having a constant amplitude and applied within the allotted time (pulse number modulation) may be used.
【0098】次に、本実施例の画像表示装置を詳細に説
明するが、説明の便宜上、まず初めに本実施例で用いた
表面伝導型放出素子について、その製造方法及び特性に
ついて具体的に説明し、次に本実施例により作成した画
像形成装置の構成及びその特性について説明する。Next, the image display device of the present embodiment will be described in detail. For convenience of explanation, first, the manufacturing method and characteristics of the surface conduction electron-emitting device used in this embodiment will be specifically described. Then, the configuration and characteristics of the image forming apparatus produced according to this embodiment will be described.
【0099】本実施例の電子放出素子として図10
(a),(b)に示すタイプの電子放出素子を作成し
た。図10(a)は本素子の平面図を、図10(b)は
断面図を示している。また、図10(a),(b)にお
いて、1は絶縁性基板、5および6は素子に電圧を印加
するための素子電極、4は電子放出部を含む薄膜、3は
電子放出部を示す。なお、図中のL1は素子電極5と素
子電極6の素子電極間隔、W1は素子電極の幅、dは素
子電極の厚さ、W2は素子の幅を表している。FIG. 10 shows an electron-emitting device of this embodiment.
An electron-emitting device of the type shown in (a) and (b) was created. FIG. 10A shows a plan view of this device, and FIG. 10B shows a sectional view. In FIGS. 10A and 10B, 1 is an insulating substrate, 5 and 6 are device electrodes for applying a voltage to the device, 4 is a thin film including an electron emitting part, and 3 is an electron emitting part. . In the figure, L1 is the element electrode distance between the element electrode 5 and the element electrode 6, W1 is the element electrode width, d is the element electrode thickness, and W2 is the element width.
【0100】図12を用いて、本実施例の電子放出素子
の作成方法を述べる。A method of manufacturing the electron-emitting device of this embodiment will be described with reference to FIG.
【0101】絶縁性基板1として青板ガラスを用い、
これを有機溶剤により充分に洗浄した後、該基板1面上
に、Niからなる素子電極5,6を形成した(図12の
(a))。この時、素子電極間隔L1は2ミクロンから
20ミクロンとし、素子電極の幅W1を500ミクロ
ン、その厚さdを1000オングストロームとした。A soda lime glass is used as the insulating substrate 1,
After thoroughly washing this with an organic solvent, element electrodes 5 and 6 made of Ni were formed on the surface of the substrate 1 ((a) of FIG. 12). At this time, the element electrode interval L1 was set to 2 to 20 microns, the width W1 of the element electrode was set to 500 microns, and the thickness d thereof was set to 1000 angstroms.
【0102】有機パラジウム(奥野製薬(株)製、c
cp−4230)含有溶剤を塗布した後、300℃で1
0分間の加熱処理をして、酸化パラジウム(PdO)微
粒子(平均粒径:70オングストローム)からなる微粒
子膜を形成し、電子放出部形成用薄膜2とした(図12
の(b))。ここで電子電極5と6のほぼ中央部に配置
した。また、この電子放出部形成用薄膜2の膜厚は10
0オングストロームシート抵抗値は5×10の4乗Ω/
□であった。なおここで述べる微粒子膜とは、複数の微
粒子が集合した膜であり、その微細構造として、微粒子
が個々に分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに
隣接、あるいは重なり合った状態(島状も含む)の膜を
さし、その粒径とは、前記状態で粒子形状が認識可能な
微粒子についての径をいう。Organopalladium (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., c
cp-4230) containing solvent, and then 1
A heat treatment for 0 minutes was performed to form a fine particle film made of palladium oxide (PdO) fine particles (average particle diameter: 70 angstrom), which was used as an electron emission portion forming thin film 2 (FIG. 12).
(B)). Here, the electron electrodes 5 and 6 are arranged substantially in the center. The film thickness of the electron emission portion forming thin film 2 is 10
0 angstrom sheet resistance is 5 × 10 4 Ω /
It was □. The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and its fine structure is not only in a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged but also in a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (including an island shape ), And the particle diameter thereof means the diameter of fine particles whose particle shape can be recognized in the above state.
【0103】次に、図12(c)に示すように、電子
放出部3を素子電極5及び6の間に電圧を印加し、電子
放出部形成用薄膜2を通電処理(フォーミング処理)す
ることにより作成した。フォーミング処理の電圧波形を
図13に示す。Next, as shown in FIG. 12C, a voltage is applied to the electron emitting portion 3 between the device electrodes 5 and 6, and the electron emitting portion forming thin film 2 is energized (forming treatment). Created by. The voltage waveform of the forming process is shown in FIG.
【0104】図13中、T1及びT2は電圧波形のパルス
幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、
T2を10ミリ秒とし、三角波の波高値(フォーミング
時のピーク電圧)は5Vとし、フォーミング処理は約1
×10の−6乗[torr]の真空雰囲気下で60秒間行っ
た。このように作成された電子放出部3は、パラジウム
元素を主成分とする微粒子が分散配置された状態とな
り、その微粒子の平均粒径は30オングストロームであ
った。In FIG. 13, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform. In this embodiment, T1 is 1 millisecond,
T2 is 10 milliseconds, the peak value of the triangular wave (peak voltage during forming) is 5 V, and the forming process is about 1
It was carried out for 60 seconds in a vacuum atmosphere of × 10 −6 [torr]. In the electron emitting portion 3 thus produced, fine particles containing palladium element as a main component were dispersed and arranged, and the average particle diameter of the fine particles was 30 angstrom.
【0105】以上のようにして作成された素子につい
て、その電子放出特性の測定を行った。図14に測定装
置の概略構成図を示す。The electron emission characteristics of the device manufactured as described above were measured. FIG. 14 shows a schematic configuration diagram of the measuring device.
【0106】図14においても、1は絶縁性基板、5及
び6は素子電極、4は電子放出部を含む薄膜、3は電子
放出部を示し、31は素子に電圧を印加するための電
源、30は素子電流Ifを測定するための電流計、34
は素子より発生する放出電流Ieを測定するためのアノ
ード電極、33はアノード電極34に電圧を印加するた
めの高圧電源、32は放出電流を測定するための電流計
である。電子放出素子の上記素子電流If、放出電流Ie
の測定にあたっては、素子電極5,6に電源31と電流
計30とを配置している。また、本電子放出素子及びア
ノード電極34は真空装置内に設置されており、その真
空装置には不図示の排気ポンプ及び真空計等の真空装置
に必要な機器が具備されており、所望の真空下で本素子
の測定を行えるようになっている。なお本実施例では、
アノード電極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード
電極の電位を1KV、電子放出特定測定時の真空装置内
の真空度を1×10の−6乗[torr]とした。Also in FIG. 14, 1 is an insulating substrate, 5 and 6 are element electrodes, 4 is a thin film including an electron emitting portion, 3 is an electron emitting portion, 31 is a power source for applying a voltage to the element, 30 is an ammeter for measuring the device current If, 34
Is an anode electrode for measuring the emission current Ie generated from the device, 33 is a high voltage power source for applying a voltage to the anode electrode 34, and 32 is an ammeter for measuring the emission current. The device current If and the emission current Ie of the electron-emitting device
In the measurement of, the power source 31 and the ammeter 30 are arranged on the element electrodes 5 and 6. Further, the present electron-emitting device and the anode electrode 34 are installed in a vacuum device, and the vacuum device is equipped with equipment necessary for the vacuum device such as an exhaust pump and a vacuum gauge (not shown), and a desired vacuum is obtained. The device can be measured below. In this example,
The distance between the anode electrode and the electron-emitting device was 4 mm, the potential of the anode electrode was 1 KV, and the degree of vacuum in the vacuum apparatus at the time of specific measurement of electron emission was 1 × 10 −6 [torr].
【0107】以上のような測定装置を用いて、本電子放
出素子の電極5及び6の間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定したとこ
ろ、図11に示したような電流−電圧特性が得られた。A device voltage was applied between the electrodes 5 and 6 of the present electron-emitting device by using the above-described measuring device, and the device current If and the emission current Ie flowing at that time were measured. As shown in FIG. The current-voltage characteristics as described above were obtained.
【0108】以上説明した中で、電子放出部を形成する
際に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォーミ
ング処理を行っているが、素子の電極間に印加する波形
は三角波に限定することはなく、矩形波など所望の波形
を用いても良く、その波高値及びパルス幅・パルス間隔
等についても上述の値に限ることなく、電子放出部が良
好に形成されれば所望の値を選択することが出来る。In the above description, when the electron emitting portion is formed, the triangular wave pulse is applied between the electrodes of the element to perform the forming process, but the waveform applied between the electrodes of the element is limited to the triangular wave. Alternatively, a desired waveform such as a rectangular wave may be used, and the crest value, pulse width, pulse interval, etc. are not limited to the above values, and a desired value may be obtained as long as the electron emitting portion is well formed. You can choose.
【0109】(表示装置の構成)次に、上述した表面伝
導型放出素子を用いた画像表示装置の構成について以下
に詳述する。図18は本実施例の画像表示装置の概略的
部分斜視図である。(Structure of Display Device) Next, the structure of an image display device using the above-mentioned surface conduction electron-emitting device will be described in detail below. FIG. 18 is a schematic partial perspective view of the image display device of this embodiment.
【0110】図18において、線状に複数配線された表
面伝導型放出素子列に直交するようにストライプ状に変
調電極92が各放出素子に対応して形成されている。本
実施例では、1ラインあたりの放出素子数を100素子
としたため、ストライプ状の変調電極92もまた100
本で形成されており、各変調電極92は個々独立に電圧
印加可能となっている。従って、放出素子列の1ライン
の走査時間の間に情報信号に応じた輝度信号を変調電圧
として変調電極92に加えることにより、情報信号に応
じた量の電子放出が得られることになる。In FIG. 18, the modulation electrodes 92 are formed in stripes corresponding to the respective emission elements so as to be orthogonal to the surface conduction electron-emitting element rows arranged in a plurality of lines. In this embodiment, since the number of emitting elements per line is 100, the stripe-shaped modulation electrode 92 also has 100 elements.
It is formed of a book, and voltage can be applied to each modulation electrode 92 independently. Therefore, by applying the brightness signal corresponding to the information signal as the modulation voltage to the modulation electrode 92 during the scanning time of one line of the emitting element array, the amount of electron emission corresponding to the information signal can be obtained.
【0111】尚、図18において、変調電極92は、表
面伝導型放出素子93とフェースプレート131の中間
に位置し、ほぼ円形の電子ビーム透過孔を有するもので
あるが、変調電極92の位置や形状は必ずしもこれに限
るものではない。要は、表面伝導型放出素子93より放
出された電子ビームの強度を強調できれば良く、例え
ば、基板91上の表面伝導型放出素子93と同一面上、
あるいは表面伝導型電子放出素子93よりも下面に設け
てもよい。In FIG. 18, the modulation electrode 92 is located between the surface conduction electron-emitting device 93 and the face plate 131 and has a substantially circular electron beam transmitting hole. The shape is not necessarily limited to this. The point is that the intensity of the electron beam emitted from the surface conduction type emission element 93 can be emphasized. For example, on the same plane as the surface conduction type emission element 93 on the substrate 91,
Alternatively, it may be provided below the surface conduction electron-emitting device 93.
【0112】また、フェースプレート131は、ガラス
基板の内面に蛍光膜とメタルバックとが形成されてな
る。蛍光膜は、それがモノクロームの場合は蛍光体のみ
から成るが、カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列に
よりブラックストライプあるいはブロックマトリクスな
どと呼ばれる黒色導電材1601と蛍光体1602とで
構成される(図19)。ブラックストライプやブラック
マトリクスが設けられる目的は、カラー表示の場合に必
要となる3原色蛍光体の、各蛍光体1602間の塗り分
け部を黒くすることで混色等を目立たなくすることと、
蛍光膜における外光反射によるコントラストの低下を制
御することである。本実施例では、蛍光体としてはスト
ライプ形状を採用しており、先にブラックストライプを
形成し、その間隙部に各色蛍光体を塗布して蛍光膜を作
成する。また、ブラックストライプの材料として通常良
く用いられている黒鉛を主成分とする材料を用いたが、
導電性があり、光の透過及び反射が少ない材料であれば
これに限るものではない。The face plate 131 has a fluorescent film and a metal back formed on the inner surface of the glass substrate. The fluorescent film is composed of only the phosphor when it is monochrome, but when it is a color fluorescent film, it is composed of a black conductive material 1601 and a phosphor 1602 called a black stripe or block matrix depending on the arrangement of the phosphors. (FIG. 19). The purpose of providing the black stripes and the black matrix is to make the mixed colors and the like inconspicuous by blackening the coating portions between the phosphors 1602 of the three primary color phosphors necessary for color display,
This is to control the decrease in contrast due to the reflection of external light on the fluorescent film. In this embodiment, a stripe shape is adopted as the phosphor, a black stripe is first formed, and phosphors of each color are applied to the gaps to form a phosphor film. In addition, although a material containing graphite as a main component, which is usually often used as a material for the black stripe, was used,
The material is not limited to this as long as the material is electrically conductive and has little light transmission and reflection.
【0113】ガラス基板に蛍光体を塗布する方法として
は、モノクローム表示の場合は沈澱法や印刷法が用いら
れるが、カラー表示である本実施例ではスラリー法を用
いた。カラーの場合にも印刷法を用いて同等の塗布膜を
得ることができる。また、蛍光膜の内側には通常メタル
バックが設けられる。このメタルバックの目的は、蛍光
体の発光のうち内面側への光をフェースプレート側へ鏡
面反射することにより輝度を向上すること、電子ビーム
加速電圧を印加するための電極として作用すること、発
生した負イオンの衝突によるダメージからの蛍光体を保
護すること等である。As a method of applying the phosphor to the glass substrate, a precipitation method or a printing method is used in the case of monochrome display, but a slurry method is used in the present embodiment for color display. Even in the case of color, an equivalent coating film can be obtained by using a printing method. A metal back is usually provided inside the fluorescent film. The purpose of this metal back is to improve the brightness by specularly reflecting the light toward the inner surface side of the light emitted from the phosphor to the face plate side, and to act as an electrode for applying an electron beam acceleration voltage. To protect the phosphor from damage due to the collision of the negative ions.
【0114】メタルバックは、蛍光膜作成後、蛍光膜の
内面側表面の平滑化処理(通常フィルミングと呼ばれ
る)を行い、その後、Al(アルミニウム)を真空蒸着
することで作製した。The metal back was produced by forming a fluorescent film, smoothing the inner surface of the fluorescent film (usually called filming), and then vacuum-depositing Al (aluminum).
【0115】フェースプレートには、更に蛍光膜の導電
性を高めるため、蛍光膜の外面側に透明電極(不図示)
が設けられる場合もあるが、本実施例では、メタルバッ
クのみで十分な導電性が得られたので省略した。On the face plate, a transparent electrode (not shown) is provided on the outer surface side of the fluorescent film in order to further enhance the conductivity of the fluorescent film.
May be provided, but it was omitted in this example because sufficient conductivity was obtained only by the metal back.
【0116】また、前述の封着を行う際、カラーの場合
は各色蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけ
ないため、十分な位置合わせを行う必要がある。Further, in the case of the above-mentioned sealing, in the case of color, it is necessary to make the respective color phosphors correspond to the electron-emitting devices, so that it is necessary to perform sufficient alignment.
【0117】以上のような構造及び駆動方法により、良
好な画像を表現できる画像形成装置が得られた。With the above structure and driving method, an image forming apparatus capable of expressing a good image was obtained.
【0118】尚、電極の導電性金属は、その構成元素の
一部あるいは全部が同一であっても、またそれぞれ異な
ってもよく、Ni,Cr,Au,Mo,W,Pt,T
i,A1,Cu,Pd等の金属或は合金及びPd,A
g,Au,RuO2,Pd−Ag等の金属或は金属酸化
物とガラス等から構成される印刷導体、In2O3−Sn
O2等の透明導体及びポリシリコン等の半導体材料等よ
り適宜選択される。The conductive metals of the electrodes may have some or all of the constituent elements that are the same or different, and Ni, Cr, Au, Mo, W, Pt, and T may be used.
Metals or alloys such as i, A1, Cu, Pd and Pd, A
In2O3-Sn, a printed conductor composed of glass or a metal or metal oxide such as g, Au, RuO2, Pd-Ag.
It is appropriately selected from a transparent conductor such as O2 and a semiconductor material such as polysilicon.
【0119】次に、本実施例で用いた電子源部分の構成
について詳述する。Next, the structure of the electron source portion used in this embodiment will be described in detail.
【0120】図20(a)は電子源部分の概略的上面図
であり、3は電子放出部、4は電子放出部を含む薄膜、
5,6は素子電極である。また、本図は並列接続した素
子列の駆動端子が片側だけ(D1側)にある場合であ
る。FIG. 20A is a schematic top view of the electron source portion, 3 is an electron emitting portion, 4 is a thin film including the electron emitting portion,
Reference numerals 5 and 6 are element electrodes. Further, this drawing shows the case where the drive terminals of the element arrays connected in parallel are only on one side (D1 side).
【0121】まず、典型的な表面伝導型電子放出素子の
特性をもとに、300個の素子(D1〜D300)が並列接
続された場合の配線抵抗による電圧降下を見積もったと
ころ、配線抵抗r=5mΩ、素子抵抗Rdを〜10kΩ
とすると、素子実効印加電圧は、駆動端子側の素子に印
加される電圧をVfmax 、他端部分の素子に印加される
電圧をVfmin とすると、その比Vfmax :Vfmin =1
10:100程度と成る。これは配線電極の片側(D1
側)から駆動電圧16Vを印加した時に、他端部分の素
子(D300側)には実効的には14.5Vの電圧が印加
されることを示している。そこで本実施例では、例えば
1素子あたり1マイクロアンペアの放出電流を得るため
には、上記条件の場合には駆動端子から遠い部分(D30
0側)の素子は16Vの印加電圧で1マイクロアンペ
ア、駆動端子側の素子(D1側)は14.5Vの印加電
圧で1マイクロアンペアの放出電流が得られるような特
性を持った素子を配列配置しておけば、一定の駆動電圧
を印加した場合に全素子から一定の放出電流が得られる
ことになる。そこで、前述の図16から明らかなよう
に、駆動端子側の素子の電極間隔L1 を20ミクロン、
駆動端子から遠い部分の素子の電極間隔を6ミクロンと
しておけば良いことに成る。First, based on the characteristics of a typical surface conduction electron-emitting device, the voltage drop due to the wiring resistance when 300 devices (D1 to D300) were connected in parallel was estimated. = 5 mΩ, element resistance Rd is -10 kΩ
If the voltage applied to the element on the drive terminal side is Vfmax and the voltage applied to the element on the other end is Vfmin, the effective voltage applied to the element is the ratio Vfmax: Vfmin = 1.
It will be about 10: 100. This is one side of the wiring electrode (D1
It is shown that when a drive voltage of 16 V is applied from the side), the voltage of 14.5 V is effectively applied to the element (D300 side) at the other end. Therefore, in the present embodiment, in order to obtain an emission current of, for example, 1 microamperes per device, in the case of the above conditions, a portion far from the drive terminal (D30
The element on the (0 side) is 1 microampere with an applied voltage of 16V, and the element on the drive terminal side (D1 side) is an element with a characteristic that an emission current of 1 microampere is obtained with an applied voltage of 14.5V. If they are arranged, a constant emission current can be obtained from all the elements when a constant drive voltage is applied. Therefore, as is apparent from FIG. 16 described above, the electrode interval L1 of the element on the drive terminal side is 20 μm,
It suffices to set the electrode spacing of the elements far from the drive terminal to 6 microns.
【0122】上記見積もりをもとに、本実施例で作製し
た電子源部分の各素子の位置と電極間隔の関係を図20
(b)のグラフ図に示す。Based on the above estimation, the relationship between the position of each element in the electron source portion produced in this example and the electrode spacing is shown in FIG.
It is shown in the graph of (b).
【0123】また、図21(a)に上記電子源の駆動端
子を両側に、即ち、例えば正極側の駆動端子を左端(D
1側)に、負極側の駆動端子を右端(D300側)にそれぞ
れ設けた場合を示す。前述と同様の見積りを行うと、左
右に正負両駆動端子を分けた場合には、素子に実効的に
印加される電圧は、両端部分の素子に印加される電圧を
Vfmax 、中央部分の素子に印加される電圧をVfmin と
すると、その比Vfmax:Vfmin =105:100程度
と成る。これは配線電極の両端から駆動電圧16Vを印
加した時に、中央部分の素子には実効的には15.2V
の電圧が印加されることを示している。そこで例えば1
素子あたり1マイクロアンペア、中央部分の素子は1
5.2Vの印加電圧で1マイクロアンペアの放出電流が
得られるような特性を持った素子を並列配置しておけ
ば、一定の駆動電圧を印加した場合に全素子から一定の
放出電流が得られることになる。そこで、図16から明
らかなように、両端部分の素子の電極間隔L1 を20ミ
クロン、中央部分の素子の電極間隔を12ミクロンとし
ておけば良いことに成る。Further, in FIG. 21A, the drive terminals of the electron source are arranged on both sides, that is, for example, the drive terminal on the positive electrode side is located at the left end (D).
1 side) shows the case where the drive terminal on the negative electrode side is provided at the right end (D300 side), respectively. According to the same estimation as above, when the positive and negative drive terminals are divided into the left and right, the voltage effectively applied to the elements is Vfmax, which is the voltage applied to the elements at both ends, and When the applied voltage is Vfmin, the ratio Vfmax: Vfmin = 105: 100. This means that when a drive voltage of 16V is applied from both ends of the wiring electrode, the element in the central portion is effectively 15.2V.
It is shown that the voltage of is applied. So for example 1
1 microamp per element, 1 in the center
By arranging in parallel the elements having the characteristics such that the emission current of 1 microampere can be obtained at the applied voltage of 5.2V, the constant emission current can be obtained from all the elements when the constant drive voltage is applied. It will be. Therefore, as is apparent from FIG. 16, the electrode spacing L1 between the elements at both ends should be 20 microns, and the electrode spacing between the elements in the central portion should be 12 microns.
【0124】上記見積もりをもとに、本実施例で作製し
た電子源部分の各素子の位置と電極間隔の関係を図21
(b)に示す。Based on the above estimation, the relationship between the position of each element in the electron source portion manufactured in this example and the electrode spacing is shown in FIG.
It shows in (b).
【0125】次に、本実施例における電子源及び画像形
成装置の駆動方法について述べる。図22は、本実施例
で作製した画像形成装置を駆動するための電気回路をブ
ロック図として示したもので、図中、1000は前記図
18に示した画像形成装置野主要部を構成する表示パネ
ル、1001は外部から入力する復号画像信号をデコー
ドするためのデコード回路、1002はシリアル信号を
パラレル信号に変換して出力するシリ/パラ変換回路、
1003はラインメモリ、1004は変調信号発生回
路、1005はタイミング制御回路、1006は走査信
号発生回路である。なお、同図では説明の便宜上、駆動
端子Dp及びDmが各々異なる方向に取り出されている場
合、即ち図18に示した電極構成の場合を示す。Next, a method of driving the electron source and the image forming apparatus in this embodiment will be described. FIG. 22 is a block diagram showing an electric circuit for driving the image forming apparatus manufactured in this embodiment. In the figure, 1000 is a display constituting a main part of the image forming apparatus shown in FIG. A panel, 1001 is a decoding circuit for decoding a decoded image signal input from the outside, 1002 is a serial / para conversion circuit for converting a serial signal into a parallel signal and outputting the parallel signal,
Reference numeral 1003 is a line memory, 1004 is a modulation signal generation circuit, 1005 is a timing control circuit, and 1006 is a scanning signal generation circuit. For convenience of explanation, FIG. 18 shows the case where the drive terminals Dp and Dm are taken out in different directions, that is, the electrode configuration shown in FIG.
【0126】画像形成装置1000の電極端子Dp1〜
Dp100、及びDm1〜Dm100は各々電気回路と接
続されており、端子EVは10[KV]の加速電圧を発
生する電圧源HVに接続され、端子G1〜G200は変調信
号発生回路1004に接続され、端子Dp1〜Dp100は
走査信号発生回路1006に接続され、端子Dm1〜Dm1
00はグランドに接続されている。Electrode terminals Dp1 of the image forming apparatus 1000
Dp100 and Dm1 to Dm100 are each connected to an electric circuit, a terminal EV is connected to a voltage source HV that generates an acceleration voltage of 10 [KV], and terminals G1 to G200 are connected to a modulation signal generation circuit 1004. The terminals Dp1 to Dp100 are connected to the scanning signal generating circuit 1006, and the terminals Dm1 to Dm1.
00 is connected to ground.
【0127】以下、各部の機能を説明する。まず、デコ
ード回路1001は、外部から入力するたとえばNTS
Cテレビ信号などの復号画像信号をデコードするための
回路で、復号画像信号から輝度信号成分と同期信号成分
を分離して、前者をData信号としてシリ/パラ変換
回路1002に、後者をTsync信号としてタイミング制
御回路1005に出力する。即ち、デコード回路100
1は、RGBの各色成分ごとの輝度を表示パネル100
0のカラー画素配列に合わせて配列し、シリ/パラ変換
回路1002に順次出力する。また、垂直同期信号と水
平同期信号を抽出してタイミング制御回路1005に出
力する。タイミング制御回路1005は、前記同期信号
Tsyncを基準にして、各部の動作タイミングを整合させ
るための各種タイミング制御信号を発生する。つまり、
シリ/パラ変換回路1002に対してはTspを、ライン
メモリ1003に対してはTmryを、変調信号発生回路
1004に対してはTmodを、走査信号発生回路100
6に対してはTscanを出力する。The function of each section will be described below. First, the decoding circuit 1001 receives an external input, for example, NTS.
In a circuit for decoding a decoded image signal such as a C television signal, a luminance signal component and a synchronization signal component are separated from the decoded image signal, the former is used as a Data signal in the serial / para conversion circuit 1002, and the latter is used as a Tsync signal. It is output to the timing control circuit 1005. That is, the decoding circuit 100
1 indicates the brightness of each RGB color component on the display panel 100.
They are arranged according to the color pixel arrangement of 0 and sequentially output to the serial / para conversion circuit 1002. Further, the vertical synchronizing signal and the horizontal synchronizing signal are extracted and output to the timing control circuit 1005. The timing control circuit 1005 generates various timing control signals for matching the operation timings of the respective parts with the synchronization signal Tsync as a reference. That is,
Tsp is used for the serial / parallel conversion circuit 1002, Tmry is used for the line memory 1003, Tmod is used for the modulation signal generation circuit 1004, and scanning signal generation circuit 100 is used.
For T6, Tscan is output.
【0128】シリ/パラ変換回路1002は、デコード
回路1001から入力する輝度信号Dataをタイミン
グ制御回路1005より入力されるタイミング信号Tsp
に基づいて順次サンプリングし、100個の並列信号I
1 〜I100 としてラインメモリ1003に出力する。タ
イミング制御回路1005は、画像の1ライン分のデー
タがシリ/パラ変換された時点でラインメモリ1003
に対して書き込みタイミング制御信号Tmryを出力す
る。ラインメモリ1003は、Tmryを受けるとI1 〜
I100 の内容を記憶して、それをI′1 〜I′100 とし
て変調信号発生回路1004に出力するが、これはライ
ンメモリに次の書き込みタイミング制御信号Tmryが入
力されるまで保持される。The serial / para conversion circuit 1002 receives the luminance signal Data input from the decoding circuit 1001 and the timing signal Tsp input from the timing control circuit 1005.
Sequential sampling based on
It is output to the line memory 1003 as 1 to I100. The timing control circuit 1005 has a line memory 1003 at the time point when the data for one line of the image is serial / para-converted.
A write timing control signal Tmry is output to When the line memory 1003 receives Tmry, I1 ...
The contents of I100 are stored and output as I'1 to I'100 to the modulation signal generation circuit 1004, which is held until the next write timing control signal Tmry is input to the line memory.
【0129】変調信号発生回路1004は、ラインメモ
リ1003より入力される画像1ライン分の輝度データ
に基づいて、画像形成装置1000のグリッド電極に印
加する変調信号を発生させるための回路であり、タイミ
ング制御回路1005の発生するタイミング逝去信号T
modに合わせて変調信号を端子G1 〜G300 に同時に印
加する。変調信号は、画像の輝度データに応じて電圧の
大きさを変える電圧変調方式を用いるが、輝度データに
応じて電圧パルスの長さを変えるパルス幅変調方式を用
いることも可能である。The modulation signal generation circuit 1004 is a circuit for generating a modulation signal to be applied to the grid electrode of the image forming apparatus 1000 based on the brightness data for one line of the image input from the line memory 1003. Timing pass signal T generated by control circuit 1005
A modulation signal is applied simultaneously to the terminals G1 to G300 in accordance with mod. The modulation signal uses a voltage modulation method that changes the magnitude of the voltage according to the brightness data of the image, but it is also possible to use a pulse width modulation method that changes the length of the voltage pulse according to the brightness data.
【0130】また、走査信号発生回路1006は、画像
形成装置1000の表面伝導型放出素子の素子列を適宜
駆動するための電圧パルスを発生するための回路であ
る。タイミング制御回路1005の発生するタイミング
制御信号Tscanに合わせて適宜内部のスイッチング回路
を切り替え、定電圧源DVの発生する表面伝導型放出素
子の閾値を上回る適当な駆動電圧VE[V]か、または
グランドレベル(すなわち0[V])かを選択して端子
Dp1 〜Dp100 に印加するものである。The scanning signal generation circuit 1006 is a circuit for generating a voltage pulse for appropriately driving the element array of the surface conduction electron-emitting devices of the image forming apparatus 1000. The internal switching circuit is appropriately switched according to the timing control signal Tscan generated by the timing control circuit 1005, and an appropriate drive voltage VE [V] exceeding the threshold of the surface conduction electron-emitting device generated by the constant voltage source DV or ground. The level (that is, 0 [V]) is selected and applied to the terminals Dp1 to Dp100.
【0131】以上の回路により、画像形成装置1000
には図23のタイムチャートにタイミングで駆動信号が
印加される。図23中の(a)〜(d)のそれぞれは、
走査信号発生回路1006から表示パネル1000の端
子Dp1 〜Dp100 のそれぞれに印加される信号の一部を
示すが、図23から明らかなように、振幅VE[V]の
電圧パルスが画像の1ライン表示時間ごとに順次Dp1,
Dp2,Dp3,…の順に印加されてゆく。一方、端子Dm1
〜Dm100は常にグランドレベル(0[V])と接続され
ているため、上記電圧パルスにより素子列は第1列目か
ら順次駆動され電子ビームが出力されていく。With the above circuit, the image forming apparatus 1000
23, a drive signal is applied at a timing shown in the time chart of FIG. Each of (a) to (d) in FIG.
A part of the signal applied from the scanning signal generation circuit 1006 to each of the terminals Dp1 to Dp100 of the display panel 1000 is shown. As is apparent from FIG. 23, the voltage pulse of the amplitude VE [V] is displayed on one line of the image. Dp1, sequentially for each hour
Dp2, Dp3, ... Are applied in this order. On the other hand, terminal Dm1
Since ~ Dm100 is always connected to the ground level (0 [V]), the element train is sequentially driven from the first train by the voltage pulse and the electron beam is output.
【0132】また、これと同期して変調信号発生回路1
004から、同図(f)に点線で示すタイミングで画像
の1ライン分の変調信号が同時に端子G1〜G300に印加
される。このように走査信号が切り替えられるのに同期
して順次変調信号も切り替えられ、1画面分の画像が表
示されてゆく。これを連続して繰り返し行うことによ
り、テレビジョン動画の表示が行われる。Further, in synchronization with this, the modulation signal generation circuit 1
From 004, the modulation signal for one line of the image is simultaneously applied to the terminals G1 to G300 at the timing shown by the dotted line in FIG. In this way, the modulation signal is sequentially switched in synchronization with the switching of the scanning signal, and an image for one screen is displayed. The television moving image is displayed by continuously and repeatedly performing this.
【0133】以上説明したような構成及び駆動方法の画
像形成装置により良好な画像の形成が可能となる。An excellent image can be formed by the image forming apparatus having the structure and driving method as described above.
【0134】<第2実施例>次に、本発明を用いた第2
の実施例を説明する。なお、説明の便宜上、まず本実施
例に用いた電子源について説明し、次いで画像形成装置
の構成及び駆動方法について述べる。<Second Embodiment> Next, a second embodiment of the present invention will be described.
An example will be described. For convenience of description, the electron source used in this embodiment will be described first, and then the configuration and driving method of the image forming apparatus will be described.
【0135】本実施例の電子源の斜視図は図17に示さ
れた垂直型のものである。同図において、1は絶縁性基
板、5及び6は素子電極(上部及び下部)、4は電子放
出部を含む薄膜、3は電子放出部を示す。また、7は段
差形成層で、本実施例ではSiO2よりなる。以上の本
実施例の電子源は下記のように作製される。なお、L1
は段差形成層67の厚さを示している。A perspective view of the electron source of this embodiment is the vertical type shown in FIG. In the figure, 1 is an insulating substrate, 5 and 6 are device electrodes (upper and lower parts), 4 is a thin film including an electron emitting portion, and 3 is an electron emitting portion. The step forming layer 7 is made of SiO2 in this embodiment. The electron source of this embodiment described above is manufactured as follows. In addition, L1
Indicates the thickness of the step forming layer 67.
【0136】絶縁性基板1として青板ガラスを用い、
これを有機溶剤により十分に洗浄した後、該基板1の面
上に、真空蒸着法によりNiを1000オングストロー
ム積層し、フォトリソおよびエッチングプロセスによっ
てパターニングしてNiからなる下部素子電極5を形成
した(図24(a))。その上に、最終的に段差形成層
67となるSiO2をCVD法により2ミクロン積層し
た(図24(b))。A soda lime glass is used as the insulating substrate 1,
After thoroughly washing this with an organic solvent, Ni of 1000 angstrom was laminated on the surface of the substrate 1 by a vacuum deposition method and patterned by a photolithography and etching process to form a lower element electrode 5 made of Ni (FIG. 24 (a)). SiO2, which finally becomes the step forming layer 67, was laminated thereon by 2 μm by the CVD method (FIG. 24 (b)).
【0137】更に、その上にリフトオフ法で、厚さ10
00オングストロームのNiからなる上部差電極6(真
空蒸着法により堆積)を図24(c)に示したように形
成した。その後、上部素子電極5をマスクとしてドライ
エッチング法によりSiO2を部分的に除去してSiO2
絶縁層端面8を形成し、段差形成層67とした(図24
を部分的に除去してSiO2絶縁層端面8を形成し、段
差形成層67とした(図24(d))。なお、上述の素
子電極2及び3の幅は500ミクロンとした。Further, a thickness of 10 is obtained by the lift-off method.
An upper difference electrode 6 (deposited by a vacuum evaporation method) made of Ni of 00 angstrom was formed as shown in FIG. After that, SiO2 is partially removed by dry etching using the upper element electrode 5 as a mask to remove SiO2.
The insulating layer end face 8 is formed to form the step forming layer 67 (see FIG. 24).
Was partially removed to form the SiO2 insulating layer end face 8 to form a step forming layer 67 (FIG. 24 (d)). The width of the device electrodes 2 and 3 described above was set to 500 μm.
【0138】次に、有機パラジウム(奥野製薬(株)
製、ccp−4230)をスピンコータを用いて塗布し
た後、300℃で10分間の加熱処理をして、酸化パラ
ジウム(PdO)微粒子からなる微粒子膜を素子電極5
及び6間に位置する段差形成層67の端面8を被覆する
ように形成し、電子放出部形成用薄膜2とした(図24
(e))。ここで電子放出部形成用薄膜2は、その幅
(素子の幅)を300ミクロンとした。なおここで述べ
る微粒子膜とは、複数の微粒子が集合した膜であり、そ
の微細構造として、微粒子が個々に分散配置した状態の
みならず、微粒子が互いに隣接、あるいは重なり合った
状態(島状も含む)の膜をさす。Next, organic palladium (Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.)
Co., Ltd., ccp-4230) is applied using a spin coater, and then heat treatment is performed at 300 ° C. for 10 minutes to form a fine particle film of palladium oxide (PdO) fine particles on the device electrode 5
And 6 are formed so as to cover the end face 8 of the step forming layer 67, and the thin film 2 for forming an electron emitting portion is formed (see FIG. 24).
(E)). Here, the electron emission portion forming thin film 2 has a width (element width) of 300 μm. The fine particle film described here is a film in which a plurality of fine particles are aggregated, and its fine structure is not only in a state in which the fine particles are individually dispersed and arranged but also in a state in which the fine particles are adjacent to each other or overlap each other (including an island shape). ) Membrane.
【0139】次に、素子電極5と6の間に電圧を印加
し、電子放出部形成用薄膜2を通電処理(フォーミング
処理)することにより電子放出部3を作成した(図24
(f))。フォーミング処理の電圧波形を図13に示
す。Next, a voltage is applied between the device electrodes 5 and 6, and the electron-emitting portion forming thin film 2 is energized (forming) to form the electron-emitting portion 3 (FIG. 24).
(F)). The voltage waveform of the forming process is shown in FIG.
【0140】図13中、T1及びT2は電圧波形のパルス
幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1ミリ秒、
T2を10ミリ秒とした。また、本実施例ではT1を1ミ
リ秒、T2を1ミリ秒とした。また、本実施例ではフォ
ーミング電圧は5Vとし、フォーミング処理は約1×1
0の−6乗[torr]の真空雰囲気下で60秒間行った。こ
のように作成された電子放出部3は、パラジウム元素を
主成分とする微粒子が分散配置された状態である。In FIG. 13, T1 and T2 are the pulse width and pulse interval of the voltage waveform. In this embodiment, T1 is 1 millisecond,
T2 was set to 10 milliseconds. Further, in this embodiment, T1 is set to 1 millisecond and T2 is set to 1 millisecond. Further, in this embodiment, the forming voltage is set to 5 V, and the forming process is performed by about 1 × 1.
It was carried out for 60 seconds in a vacuum atmosphere of 0 −6 [torr]. The electron emitting portion 3 thus formed is in a state in which fine particles containing a palladium element as a main component are dispersed and arranged.
【0141】以上のように作成された素子について、第
1実施例で用いた測定装置(図14参照)により、その
電子放出特性を測定した。但し、本実施例では、該素子
を1×10の−6乗[torr]の真空下にて、アノード電極
と電子放出素子間の距離4mm、アノード電極の電位を1
kVとし、上部素子電極6が高電位となるように素子電
極5及び6の間に素子電圧を印加して、その時に流れる
素子電流If及び放出電流Ieを測定した。その結果、図
9で示した電流−電圧特性とほぼ同等の特性が得られ、
素子電圧14Vでは素子電流Ifが2.2mA、放出電
流Ieが1.1μAとなり、電子放出効率η=Ie/If
(%)は0.05%であった。The electron emission characteristics of the device produced as described above were measured by the measuring apparatus used in the first embodiment (see FIG. 14). However, in this example, the device was placed under a vacuum of 1 × 10 −6 [torr], the distance between the anode electrode and the electron-emitting device was 4 mm, and the potential of the anode electrode was 1.
A device voltage was applied between the device electrodes 5 and 6 so that the upper device electrode 6 had a high potential, and the device current If and the emission current Ie flowing at that time were measured. As a result, the characteristics substantially equal to the current-voltage characteristics shown in FIG. 9 are obtained,
When the device voltage is 14 V, the device current If is 2.2 mA, the emission current Ie is 1.1 μA, and the electron emission efficiency η = Ie / If.
(%) Was 0.05%.
【0142】また、実施例1と同様に電子放出素子の特
性を変えるために、本実施例では段差形成層67の厚さ
を1ミクロンから20ミクロンの範囲で変えたところ、
図11に示した特性と同等の結果が得られ、垂直型SC
Eの電子放出開始電圧は段差形成層67の厚さによって
いることを確認した。Further, in order to change the characteristics of the electron-emitting device as in Example 1, the thickness of the step forming layer 67 was changed in the range of 1 to 20 microns in this example.
A result similar to the characteristics shown in FIG. 11 was obtained, and the vertical SC
It was confirmed that the electron emission starting voltage of E depends on the thickness of the step forming layer 67.
【0143】垂直型SCEを用いた画像形成装置を実施
例1と同様の思想で作成し、同様の駆動方法にて画像形
成を行ったところ、良好な画像形成装置が得られた。An image forming apparatus using the vertical type SCE was prepared in the same idea as in Example 1 and an image was formed by the same driving method, and a good image forming apparatus was obtained.
【0144】また、本実施例に係るSCE素子の材料や
構成、あるいは製造方法は、本実施例で説明したような
手順や値に限るものではなく、それらが異なれば、図1
3に示したSCE素子の特性が実施例と異なる場合もあ
る。その場合にも本発明を適用できることはもちろんで
ある。The material and structure of the SCE element according to the present embodiment, or the manufacturing method is not limited to the procedures and values described in the present embodiment.
The characteristics of the SCE element shown in FIG. 3 may be different from those of the examples. Of course, in this case, the present invention can be applied.
【0145】また、本実施例の表示装置はNTSC方式
のTVとして説明したが、本発明はこれに限らず、他の
方式のTV装置や、TVに限らず計算機や画像メモリネ
ットワーク等に直接あるいは関節に接続された表示装置
などにも適用することができる。Although the display device of this embodiment has been described as a TV of the NTSC system, the present invention is not limited to this, and is not limited to the TV device of another system or directly to a computer, an image memory network or the like, not limited to the TV. It can also be applied to a display device connected to a joint.
【0146】さらに、本実施例としては画像表示装置の
場合で説明したが、本発明はこれに限るものではなく、
電子線を用いて画像を描画する装置の電子源として用い
ることもできるし、光プリンタのように光像を記憶する
記録装置の光源に応用することもできる。Further, although the present embodiment has been described in the case of the image display device, the present invention is not limited to this.
It can be used as an electron source of a device that draws an image using an electron beam, or can be applied to a light source of a recording device that stores an optical image such as an optical printer.
【0147】図25は、前記説明の表示パネル1000
に、例えばテレビジョン放送をはじめとする種々の画像
情報源より提供される画像情報を表示できるように構成
した表示装置の一例を示すための図である。図中、10
00は前述した表示パネル、1101は表示パネル10
00の駆動回路、1102は表示コントローラ、110
3はマルチプレクサ、1104はデコーダ、1105は
入出力インターフェース回路、1106はCPU、11
07は画像生成回路、1108および1109および1
110は画像メモリインターフェース回路、1111は
画像入力インターフェース回路、1112および111
3はTV信号受信回路、1114は入力部である。(な
お、本図においては、テレビジョンをはじめとする各入
力信号の音声成分に関する処理回路やスピーカなどは省
略している。)以下、画像信号の流れに沿って各部の機
能を説明してゆく。FIG. 25 shows the display panel 1000 described above.
FIG. 3 is a diagram showing an example of a display device configured to be able to display image information provided from various image information sources including, for example, television broadcasting. 10 in the figure
00 is the above-mentioned display panel, 1101 is the display panel 10.
00 drive circuit, 1102 display controller, 110
3 is a multiplexer, 1104 is a decoder, 1105 is an input / output interface circuit, 1106 is a CPU, 11
Reference numeral 07 is an image generation circuit, 1108, 1109 and 1
110 is an image memory interface circuit, 1111 is an image input interface circuit, 1112 and 111.
3 is a TV signal receiving circuit, and 1114 is an input unit. (It should be noted that, in this figure, a processing circuit, a speaker, and the like relating to the audio component of each input signal such as a television are omitted.) Hereinafter, the function of each part will be described along the flow of the image signal. .
【0148】まず、TV信号受信回路1113は、たと
えば電波や空間光通信などのような無線伝送系を用いて
伝送されるTV画像信号を受信する為の回路である。受
信するTV信号の方式は特に限られるものではなく、た
とえば、NTSC方式,PAL方式,SECAM方式な
どの諸方式でもよい。また、これよりさらに多数の走査
線よりなるTV信号(たとえばMUSE方式をはじめと
するいわゆる高品位TV)は、大面積化や大画素数化に
適した前記表示パネルの利点を生かすのに好適な信号源
である。TV信号受信回路1113で受信されたTV信
号は、デコーダ1114に出力される。また、TV信号
受信回路1112は、たとえば同軸ケーブルや光ファイ
バーなどのような有線伝送系を用いて伝送されるTV画
像信号を受信するための回路である。前記TV信号受信
回路1113と同様に、受信するTV信号の方式は特限
られるものではなく、また本回路で受信されたTV信号
もデコーダ1104に出力される。First, the TV signal receiving circuit 1113 is a circuit for receiving a TV image signal transmitted using a wireless transmission system such as radio waves or spatial optical communication. The system of the TV signal to be received is not particularly limited, and for example, various systems such as NTSC system, PAL system and SECAM system may be used. Further, a TV signal (for example, a so-called high-definition TV such as the MUSE method) having a larger number of scanning lines than this is suitable for taking advantage of the display panel suitable for a large area and a large number of pixels. It is a signal source. The TV signal received by the TV signal receiving circuit 1113 is output to the decoder 1114. The TV signal receiving circuit 1112 is a circuit for receiving a TV image signal transmitted using a wired transmission system such as a coaxial cable or an optical fiber. Similar to the TV signal receiving circuit 1113, the system of the TV signal to be received is not particularly limited, and the TV signal received by this circuit is also output to the decoder 1104.
【0149】また、画像入力インターフェース回路11
11は、たとえばTVカメラや画像読み取りスキャナな
どの画像入力装置から供給される画像信号を取り込むた
めの回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1104
に出力される。また、画像メモリインターフェース回路
1110は、ビデオテープレコーダ(以下VTRと略
す)に記憶されている画像信号を取り込むための回路
で、取り込まれた画像信号はデコーダ1104に出力さ
れる。また、画像メモリインターフェース回路1109
は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を取り込
むための回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ11
04に出力される。また、画像メモリインターフェース
回路1108は、いわゆる静止画ディスクのように、静
止画像データを記憶している装置から画像信号を取り込
むための回路で、取り込まれた静止画像データはデコー
ダ1104に出力される。Further, the image input interface circuit 11
Reference numeral 11 denotes a circuit for capturing an image signal supplied from an image input device such as a TV camera or an image reading scanner. The captured image signal is a decoder 1104.
Is output to. The image memory interface circuit 1110 is a circuit for capturing an image signal stored in a video tape recorder (hereinafter abbreviated as VTR), and the captured image signal is output to the decoder 1104. Also, the image memory interface circuit 1109
Is a circuit for fetching the image signal stored in the video disc. The fetched image signal is the decoder 11
It is output to 04. The image memory interface circuit 1108 is a circuit for capturing an image signal from a device that stores still image data, such as a so-called still image disk, and the captured still image data is output to the decoder 1104.
【0150】また、入出力インターフェース回路110
5は、本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコン
ピュータネットワークもしくはプリンタなどの出力装置
とを接続するための回路である。画像データや文字・図
形情報の入出力を行うのはもちろんのこと、場合によっ
ては本表示装置の備えるCPU1106と外部との間で
制御信号や数値データの入出力などを行うことも可能で
ある。Further, the input / output interface circuit 110
Reference numeral 5 is a circuit for connecting the present display device to an external computer, a computer network, or an output device such as a printer. It is of course possible to input / output image data and character / graphic information, and in some cases, input / output control signals and numerical data between the CPU 1106 of the display device and the outside.
【0151】また、画像生成回路1107は、前記入出
力インターフェース回路1105を介して外部から入力
される画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU
1106より出力される画像データや文字・図形情報に
もとづき表示用画像データを生成するための回路であ
る。本回路の内部には、たとえば画像データや文字・図
形情報を蓄積するための書き換え可能メモリや、文字コ
ードに対応する画像パターンが記憶されている読み出し
専用メモリや、画像処理を行うためのプロセッサなどを
はじめとして画像の生成に必要な回路が組み込まれてい
る。Further, the image generation circuit 1107 is provided with image data, character / graphic information, or CPU which is externally input through the input / output interface circuit 1105.
1106 is a circuit for generating display image data based on image data and character / graphic information output from 1106. Inside this circuit, for example, a rewritable memory for accumulating image data and character / graphic information, a read-only memory in which an image pattern corresponding to a character code is stored, a processor for performing image processing, etc. And the circuits necessary for image generation are incorporated.
【0152】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ1104に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路1105を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンタに出力すること
も可能である。CPU1106は、主として本表示装置
の動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わる作
業を行う。たとえば、マルチプレクサ1103に制御信
号を出力し、表示パネルに表示する画像信号を適宜選択
したり組み合わせたりする。また、その際には表示する
画像信号に応じて表示パネルコントローラ1102に対
して制御信号を発生し、画面表示周波数や走査方法(た
とえばインターレースかノンインターレースか)や一画
面の走査線の数など表示装置の動作を適宜制御する。ま
た、前記画像生成回路1107に対して画像データや文
字・図形情報を直接出力したり、あるいは前記入出力イ
ンターフェース回路1105を介して外部のコンピュー
タやメモリをアクセスして画像データや文字・図形情報
を入力する。The display image data generated by this circuit is output to the decoder 1104, but in some cases, it may be output to an external computer network or printer via the input / output interface circuit 1105. The CPU 1106 mainly performs operations related to operation control of the display device and generation, selection, and editing of a display image. For example, a control signal is output to the multiplexer 1103 to appropriately select or combine image signals to be displayed on the display panel. At that time, a control signal is generated to the display panel controller 1102 according to the image signal to be displayed, and the display frequency, the scanning method (for example, interlaced or non-interlaced), the number of scanning lines in one screen, etc. are displayed. The operation of the device is controlled appropriately. Further, the image data or character / graphic information is directly output to the image generation circuit 1107, or an external computer or memory is accessed through the input / output interface circuit 1105 to display the image data or character / graphic information. input.
【0153】なお、CPU1106は、むろんこれ以外
の目的の作業にも関わるものであって良い。たとえば、
パーソナルコンピュータやワードプロセッサなどのよう
に、情報を生成したり処理する機能に直接関わっても良
い。It should be noted that the CPU 1106 may of course be involved in work for other purposes. For example,
It may be directly related to the function of generating and processing information, such as a personal computer or a word processor.
【0154】あるいは、前述したように入出力インター
フェース回路1105を介して外部のコンピュータネッ
トワークと接続し、たとえば数値計算などの作業を外部
機器と協動して行っても良い。また、入力部1114
は、前記CPU1106に使用者が命令やプログラム、
あるいはデータなどを入力するためのものであり、たと
えばキーボードやマウスのほか、ジョイスティック、バ
ーコードリーダ、音声認識装置など多様な入力機器を用
いる事が可能である。Alternatively, as described above, the input / output interface circuit 1105 may be connected to an external computer network to perform work such as numerical calculation in cooperation with an external device. Also, the input unit 1114
Is a user's command or program to the CPU 1106,
Alternatively, it is for inputting data and the like, and various input devices such as a joystick, a bar code reader, and a voice recognition device can be used in addition to a keyboard and a mouse.
【0155】また、デコーダ1104は、前記1107
ないし1113より入力される種々の画像信号を3原色
信号、または輝度信号とI信号,Q信号に逆変換するた
めの回路である。なお、同図中に点線で示すように、デ
コーダ1104は内部に画像メモリを備えるのが望まし
い。これは、たとえばMUSE方式方式をはじめとし
て、逆変換するに際して画像メモリを必要とするような
テレビ信号を扱うためである。また、画像メモリを備え
る事により、静止画の表示が容易になる、あるいは前記
画像生成回路1107およびCPU1106と協同して
画像の間引き、補間,拡大,合成をはじめとする画像処
理や編集が容易に行えるようになるという利点が生まれ
るからである。Further, the decoder 1104 has the above-mentioned 1107.
Is a circuit for inversely converting various image signals input from the signals 1 to 1113 into three primary color signals or luminance signals and I signals and Q signals. It is desirable that the decoder 1104 has an image memory therein, as indicated by a dotted line in the figure. This is for handling a television signal that requires an image memory for reverse conversion, including the MUSE system. Further, the provision of the image memory facilitates the display of a still image, or facilitates image processing and editing such as image thinning, interpolation, enlargement, and synthesis in cooperation with the image generation circuit 1107 and the CPU 1106. This is because the advantage of being able to do it is born.
【0156】マルチプレクサ1103は、前記CPU1
106より入力される制御信号にもとづき表示画像を適
宜選択するものである。即ち、マルチプレクサ1103
はデコーダ1104から入力される逆変換された画像信
号のうちから所望の画像信号を選択して駆動回路110
1に出力する。その場合には、一画面表示時間内で画像
信号を切り替えて選択することにより、いわゆる多画面
テレビのように、一画面を複数の領域に分けて領域によ
って異なる画像を表示することも可能である。また、表
示パネルコントローラ1102は、前記CPU1106
より入力される制御信号にもとづき駆動回路1101の
動作を制御するための回路である。The multiplexer 1103 is the CPU 1
The display image is appropriately selected based on the control signal input from 106. That is, the multiplexer 1103
Selects a desired image signal from the inversely converted image signals input from the decoder 1104, and drives the drive circuit 110.
Output to 1. In that case, by switching and selecting image signals within one screen display time, it is possible to divide one screen into a plurality of areas and display different images depending on the areas, as in a so-called multi-screen television. . Further, the display panel controller 1102 has the CPU 1106.
This is a circuit for controlling the operation of the drive circuit 1101 based on a control signal input from the driver.
【0157】まず、表示パネルの基本的な動作に関わる
ものとして、たとえば表示パネルの駆動用電源(図示せ
ず)の動作シーケンスを制御するための信号を駆動回路
1101に対して出力する。また、表示パネル1000
の駆動方法に関わるものとして、たとえば画面表示周波
数や走査方法(たとえばインターレースかノンインター
レースか)を制御するための信号を駆動回路1101に
対して出力する。また、場合によっては表示画像の輝度
やコントラストや色調やシャープネスといった画質の調
整に関わる制御信号を駆動回路1101に対して出力す
る場合もある。また、駆動回路1101は、表示パネル
1000に印加する駆動信号を発生するための回路であ
り、前記マルチプレクサ1103から入力される画像信
号と、前記表示パネルコントローラ1102より入力さ
れる制御信号にもとづいて動作するものである。First, regarding the basic operation of the display panel, for example, a signal for controlling an operation sequence of a power source (not shown) for driving the display panel is output to the drive circuit 1101. In addition, the display panel 1000
A signal for controlling a screen display frequency and a scanning method (for example, interlace or non-interlace) is output to the drive circuit 1101 as a method related to the drive method of (1). In some cases, a control signal relating to image quality adjustment such as brightness, contrast, color tone, and sharpness of a display image may be output to the drive circuit 1101. The drive circuit 1101 is a circuit for generating a drive signal applied to the display panel 1000, and operates based on an image signal input from the multiplexer 1103 and a control signal input from the display panel controller 1102. To do.
【0158】以上、各部の機能を説明したが、図25に
例示した構成により、本表示装置においては多様な画像
情報源より入力される画像情報を表示パネル1000に
表示する事が可能である。すなわち、テレビジョン放送
をはじめとする各種の画像信号はデコーダ1104にお
いて逆変換された後、マルチプレクサ1103において
適宜選択され、駆動回路1101に入力される。一方、
表示コントローラ1102は、表示する画像信号に応じ
て駆動回路1101の動作を制御するための制御信号を
発生する。駆動回路1101は、上記画像信号と制御信
号にもとづいて表示パネル1000に駆動信号を印加す
る。これにより、表示パネル1000において画像が表
示される。これらの一連の動作は、CPU1106によ
り統括的に制御される。Although the functions of the respective parts have been described above, the configuration illustrated in FIG. 25 allows the display panel 1000 to display image information input from various image information sources in the present display device. That is, various image signals such as television broadcast are inversely converted by the decoder 1104, appropriately selected by the multiplexer 1103, and input to the drive circuit 1101. on the other hand,
The display controller 1102 generates a control signal for controlling the operation of the drive circuit 1101 according to the image signal to be displayed. The drive circuit 1101 applies a drive signal to the display panel 1000 based on the image signal and the control signal. As a result, the image is displayed on the display panel 1000. A series of these operations is controlled by the CPU 1106 as a whole.
【0159】また、本表示装置においては、前記デコー
ダ1104に内蔵する画像メモリや、画像生成回路11
07およびCPU1106が関与することにより、単に
複数の画像情報の中から全多久したものを表示するだけ
でなく、表示する画像情報に対して、たとえば拡大,縮
小,回転,移動,エッジ強調,間引き,補間,色変換,
画像の縦横比変換などをはじめとする画像処理や、合
成,消去,接続,入れ換え,はめ込みなどをはじめとす
る画像編集を行う事も可能である。また、本実施例の説
明では特に触れなかったが、上記画像処理や画像編集と
同様に、音声情報に関しても処理や編集を行なうための
専用回路を設けても良い。In the present display device, the image memory built in the decoder 1104 and the image generation circuit 11 are also provided.
Due to the involvement of the CPU 07 and the CPU 1106, not only is a plurality of pieces of image information that are long-lived displayed, but also image information to be displayed is enlarged, reduced, rotated, moved, edge emphasized, thinned, or the like. Interpolation, color conversion,
It is also possible to perform image processing such as image aspect ratio conversion, and image editing such as composition, deletion, connection, replacement, and fitting. Further, although not particularly mentioned in the description of the present embodiment, a dedicated circuit for processing and editing voice information may be provided as in the above-mentioned image processing and image editing.
【0160】したがって、本表示装置は、テレビジョン
放送の表示機器,テレビ会議の端末機器,画像の編集機
器,コンピュータの端末機器,ワードプロセッサをはじ
めとする事務用端末機器,ゲーム機などの機能を一台で
兼ね備えることが可能で、産業用あるいは民生用として
極めて応用範囲が広い。しかも、表示パネルの薄形化が
容易なため、装置の奥行きを小さくすることができる。
それに加えて、大画面化が容易で輝度が高く視野角特性
にも優れるため、臨場感あふれる画像を視認性良く表示
する事が可能である。Therefore, the present display device has functions of a display device for television broadcasting, a terminal device for a video conference, an image editing device, a computer terminal device, an office terminal device such as a word processor, and a game machine. It can be combined with a stand, and has a very wide range of applications for industrial or consumer use. Moreover, since the display panel can be easily thinned, the depth of the device can be reduced.
In addition, it is possible to display a highly realistic image with good visibility because it is easy to enlarge the screen, has high brightness, and has excellent viewing angle characteristics.
【0161】以上説明したように本実施例によれば、効
率が良く、安定した電子の放出ができる電子源を提供す
ることができる。また本実施例によれば、効率良く、安
定して階調画像を表現できるという効果がある。As described above, according to this embodiment, it is possible to provide an electron source which is highly efficient and can stably emit electrons. Further, according to this embodiment, there is an effect that a gradation image can be expressed efficiently and stably.
【0162】<第3実施例>次に、本発明を用いた第3
の実施例を図面を用いて詳細に説明する。本実施例の電
子源部分は実施例1と同様であるが、本実施例において
は、図26に示すように並列接続された各素子の正極
側、負極側の各々の配線電極はそれぞれ両端に電源及び
グランドの接続端子を備えており、同図に示したように
各配線電極はそれぞれ2つの方向から同一の電圧を印加
される構成とした。予め、本素子構成における各素子の
電圧降下を見積もったところ、図26に示したように並
列接続された素子列の中央付近の素子の実効的な印加電
圧が最も低下する。また、同図破線で示したように正極
側、負極側各々の片側から電圧印加した場合と比較して
正、負両極の電極の両端から駆動した場合の方が実効的
な印加電圧の低下が少ない。<Third Embodiment> Next, a third embodiment of the present invention will be described.
Embodiments will be described in detail with reference to the drawings. The electron source portion of this embodiment is the same as that of the first embodiment, but in this embodiment, as shown in FIG. 26, the wiring electrodes on the positive electrode side and the negative electrode side of each element connected in parallel are provided at both ends. It has a connection terminal for a power source and a ground, and as shown in the figure, each wiring electrode is configured to be applied with the same voltage from two directions. When the voltage drop of each element in this element configuration is estimated in advance, the effective applied voltage to the elements near the center of the element row connected in parallel as shown in FIG. 26 is the lowest. In addition, as shown by the broken line in the figure, the effective applied voltage decreases more when driving from both ends of the positive and negative electrodes than when applying voltage from one side of each of the positive electrode side and the negative electrode side. Few.
【0163】上記見積もりをもとに、本発明の特徴であ
る電極感覚Lを、中央付近で2ミクロン、両端で10ミ
クロンとすることで実効的な印加電圧の低下をキャンセ
ルし、均一な電子放出が得られるような素子構成とし
た。以上のようにして作製された素子について、第1実
施例で用いた測定評価装置(図14参照)によりその電
子放出特性を測定したところ、図9で示した電流−電圧
特性とほぼ同等の特性が得られ、全素子からほぼ同等の
放出電流が得られた。また、上記素子を実施例1、2と
同様の思想に基づいて画像表示装置を作製し、画像表示
を行ったところ、輝度むらの少ない良好な表示画像が得
られた。また、正極側、負極側各々の電極を両側から駆
動することで電極間隔の補正幅をより少なくできること
が確認された。Based on the above estimation, the electrode sense L, which is a feature of the present invention, is set to 2 μm in the vicinity of the center and 10 μm at both ends to cancel the effective drop in the applied voltage and to make uniform electron emission. The device configuration is such that The electron emission characteristics of the element manufactured as described above were measured by the measurement / evaluation apparatus used in the first example (see FIG. 14). As a result, characteristics substantially equivalent to the current-voltage characteristics shown in FIG. 9 were obtained. Was obtained, and almost the same emission current was obtained from all the devices. An image display device was produced by using the above element based on the same concept as in Examples 1 and 2, and an image was displayed. As a result, a good display image with less uneven brightness was obtained. It was also confirmed that the correction width of the electrode interval can be further reduced by driving the positive electrode side and the negative electrode side from both sides.
【0164】尚、本発明は、複数の機器から構成される
システムに適用しても、1つの機器から成る装置に適用
してもよい。また本発明は、システム或は装置に本発明
を実施するプログラムを供給することによって達成され
る場合にも適用できることはもちろんである。The present invention may be applied to a system composed of a plurality of devices or an apparatus composed of one device. Further, the present invention can of course be applied to the case where it is achieved by supplying a program for implementing the present invention to a system or an apparatus.
【0165】[0165]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、電
子線の発生効率が高く、安定した電子の放出ができる電
子源を提供できる。As described above, according to the present invention, it is possible to provide an electron source which has a high electron beam generation efficiency and can stably emit electrons.
【0166】また本発明によれば、電子線の発生効率が
良く、安定した階調画像を表現できる画像形成装置を提
供できる。Further, according to the present invention, it is possible to provide an image forming apparatus having a high electron beam generation efficiency and capable of expressing a stable gradation image.
【0167】また本発明によれば、配線抵抗による電子
線の放出度合のバラツキを防止した電子源とその画像形
成装置を提供できる。Further, according to the present invention, it is possible to provide the electron source and the image forming apparatus for the electron source in which the variation of the emission degree of the electron beam due to the wiring resistance is prevented.
【0168】[0168]
【図1】従来の表面伝導型電子放出素子の構成例を示す
上面図である。FIG. 1 is a top view showing a configuration example of a conventional surface conduction electron-emitting device.
【図2】従来の電子源を用いた画像形成装置の構成図で
ある。FIG. 2 is a configuration diagram of an image forming apparatus using a conventional electron source.
【図3】従来の表示装置の構成図である。FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional display device.
【図4】電子放出部近傍の電子軌道を説明するための図
である。FIG. 4 is a diagram for explaining electron trajectories in the vicinity of an electron emitting portion.
【図5】横電流型電子放出体を用いた従来の画像表示装
置の一部拡大図である。FIG. 5 is a partially enlarged view of a conventional image display device using a lateral current type electron emitter.
【図6】横電流型電子放出体を用いた従来の画像表示装
置の構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional image display device using a lateral current type electron emitter.
【図7】素子を複数並列接続した場合の等価回路、電
位,印加電圧を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an equivalent circuit, potentials, and applied voltages when a plurality of elements are connected in parallel.
【図8】素子を複数並列接続した場合の等価回路、電
位,印加電圧を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an equivalent circuit, a potential, and an applied voltage when a plurality of elements are connected in parallel.
【図9】表面伝導型電子放出素子の典型的な特性図であ
る。FIG. 9 is a typical characteristic diagram of a surface conduction electron-emitting device.
【図10】本実施例の水平型電子放出素子の概略構成図
である。FIG. 10 is a schematic configuration diagram of a horizontal electron-emitting device of this embodiment.
【図11】本実施例の電子放出特性の変化を示す図であ
る。FIG. 11 is a diagram showing changes in electron emission characteristics of this example.
【図12】実施例の電子放出素子の製造方法を示す図で
ある。FIG. 12 is a diagram showing a method for manufacturing the electron-emitting device of the example.
【図13】電子放出素子の製造工程中で行われるフォー
ミング処理時の電圧パルス波形図である。FIG. 13 is a voltage pulse waveform diagram at the time of forming processing performed in the manufacturing process of the electron-emitting device.
【図14】電子放出素子の測定装置の構成を示す図であ
る。FIG. 14 is a diagram showing a configuration of an electron-emitting device measuring apparatus.
【図15】本実施例の電子放出素子の電流−電圧特性を
示す図である。FIG. 15 is a diagram showing current-voltage characteristics of the electron-emitting device of this example.
【図16】本実施例の電子放出素子における電極間隔と
駆動電圧との関係を示す図である。FIG. 16 is a diagram showing a relationship between an electrode interval and a drive voltage in the electron-emitting device of this example.
【図17】本実施例の垂直型電子放出素子の概略構成図
である。FIG. 17 is a schematic configuration diagram of a vertical electron-emitting device of this example.
【図18】本実施例の画像形成装置の斜視断面図であ
る。FIG. 18 is a perspective sectional view of the image forming apparatus of this embodiment.
【図19】本実施例の画像形成装置で使用されるフェー
スプレートの説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram of a face plate used in the image forming apparatus of this embodiment.
【図20】本実施例において一方より電力を供給される
配線時の電子源部分の構成を示す図である。FIG. 20 is a diagram showing a configuration of an electron source portion when wiring is supplied with electric power from one side in the present embodiment.
【図21】本実施例において両端より電力を供給される
配線時の電子源部分の構成を示す図である。FIG. 21 is a diagram showing a configuration of an electron source portion when wiring is supplied with power from both ends in the present embodiment.
【図22】本実施例の画像表示装置の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 22 is a block diagram showing the configuration of the image display device of the present embodiment.
【図23】本実施例の画像表示装置における駆動方法を
示すタイミングチャート図である。FIG. 23 is a timing chart diagram showing a driving method in the image display device of the present embodiment.
【図24】本実施例の垂直型電子放出素子の製造工程を
示す図である。FIG. 24 is a diagram showing a manufacturing process of the vertical electron-emitting device according to the present embodiment.
【図25】本実施例の画像表示装置の概略構成を示すブ
ロック図である。FIG. 25 is a block diagram showing a schematic configuration of the image display device of the present embodiment.
【図26】第3実施例を説明する図である。FIG. 26 is a diagram illustrating a third embodiment.
1 絶縁性基板 3 電子放出部 4 薄膜 5,6 素子電極 30 電流計 31 電源 67 段差形成層 92 変調電極 93 線状電子源 131 フェースプレート 1000 表示パネル 1002 シリ/パラ変換回路 1003 ラインメモリ 1004 変調信号発生器 1005 タイミング信号発生器 1006 走査信号発生回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulating substrate 3 Electron emission part 4 Thin film 5,6 Element electrode 30 Ammeter 31 Power supply 67 Step forming layer 92 Modulation electrode 93 Linear electron source 131 Face plate 1000 Display panel 1002 Sili / para conversion circuit 1003 Line memory 1004 Modulation signal Generator 1005 Timing signal generator 1006 Scan signal generation circuit
Claims (9)
源であって、 電力供給端子間に複数並列に線状に接続され、それぞれ
が前記電力供給端子に接続される相対向する一対の電極
と、該一対の電極間に配置された電子放出部とを有する
複数の表面伝導形電子放出素子を有し、 前記電力供給端子近傍の前記表面伝導形電子放出素子の
前記一対の電極間距離が他の表面伝導形電子放出素子の
前記一対の電極間距離よりも長く設定されていることを
特徴とする電子源。1. An electron source that emits electrons based on an input signal, wherein a plurality of electrodes are linearly connected in parallel between power supply terminals and are connected to the power supply terminals. And a plurality of surface-conduction type electron-emitting devices having an electron-emitting portion arranged between the pair of electrodes, and the distance between the pair of electrodes of the surface-conduction type electron-emitting device in the vicinity of the power supply terminal is An electron source, which is set to be longer than the distance between the pair of electrodes of another surface conduction electron-emitting device.
た前記複数の表面伝導形電子放出素子の一端側に設けら
れ、前記電力供給端子近傍の前記表面伝導形電子放出素
子の前記一対の電極間距離が最も長く、前記電力供給端
子より離れるにつれて前記一対の電極間距離が短くなっ
ていることを特徴とする請求項1に記載の電子源。2. The power supply terminal is provided on one end side of the plurality of surface conduction electron-emitting devices connected in a plurality of lines, and the pair of the surface conduction electron-emitting devices near the power supply terminal are provided. The electron source according to claim 1, wherein the distance between the electrodes is longest, and the distance between the pair of electrodes becomes shorter as the distance from the power supply terminal increases.
た前記複数の表面伝導形電子放出素子の両側に設けら
れ、線状に接続された複数の前記表面伝導形電子放出素
子のうち両端部に位置している表面伝導形電子放出素子
の前記一対の電極間距離が最も長く、前記線状に接続さ
れた複数の表面伝導形電子放出素子のうち中央部近傍の
表面伝導形電子放出素子の前記一対の電極間距離が最も
短くなっていることを特徴とする請求項1に記載の電子
源。3. The power supply terminals are provided on both sides of the plurality of surface-conduction type electron-emitting devices connected in a plurality of lines, and both ends of the plurality of surface-conduction type electron-emitting devices connected in a line. Of the plurality of surface-conduction type electron-emitting devices connected to each other in a linear manner and having the longest distance between the pair of electrodes of the surface-conduction type electron-emitting device located in the central part The electron source according to claim 1, wherein the distance between the pair of electrodes is the shortest.
いて電子線を放出することを特徴とする請求項1乃至3
の少なくともいずれか1項に記載の電子源。4. The electron emitting unit emits an electron beam based on the input signal.
The electron source according to at least any one of 1.
子源を平面状に複数配置した画像形成装置であって、 前記電子源は電力供給端子間に複数並列に線状に接続さ
れ、それぞれが前記電力供給端子に接続される相対向す
る一対の電極と、該一対の電極間に配置された電子放出
部とを有する複数の表面伝導形電子放出素子を有し、 前記入力信号に基づいて前記電力供給端子に通電して前
記電子源を駆動する駆動手段と、 前記電子源より放出される電子線により可視画像を形成
する画像形成手段と、を有することを特徴とする画像形
成装置。5. An image forming apparatus in which a plurality of electron sources for emitting electron beams based on an input signal are arranged in a plane, wherein the electron sources are linearly connected in parallel between power supply terminals, respectively. Has a plurality of surface conduction electron-emitting devices having a pair of electrodes facing each other connected to the power supply terminal, and an electron-emitting portion arranged between the pair of electrodes, based on the input signal An image forming apparatus comprising: a driving unit that energizes the power supply terminal to drive the electron source; and an image forming unit that forms a visible image by an electron beam emitted from the electron source.
調する変調手段を更に有することを特徴とする請求項1
に記載の画像形成装置。6. The device according to claim 1, further comprising a modulator that modulates the electron beam based on the input signal.
The image forming apparatus according to item 1.
スを形成するように配置された変調電極を有し、前記変
調電極に前記入力信号に基づく電圧の振幅を変調した所
定幅のパルス電圧が印加されることを特徴とする請求項
6に記載の画像形成装置。7. The modulation means has a modulation electrode arranged so as to form a matrix with the electron source, and a pulse voltage of a predetermined width obtained by modulating the amplitude of the voltage based on the input signal is applied to the modulation electrode. The image forming apparatus according to claim 6, wherein the image forming apparatus is applied.
スを形成するように配置された変調電極を有し、前記変
調電極に前記入力信号に基づいてパルス幅を変調した所
定電圧のパルス電圧が印加されることを特徴とする請求
項6に記載の画像形成装置。8. The modulation means has a modulation electrode arranged so as to form a matrix with the electron source, and a pulse voltage of a predetermined voltage whose pulse width is modulated based on the input signal is applied to the modulation electrode. The image forming apparatus according to claim 6, wherein the image forming apparatus is applied.
より光を発する発光手段を有することを特徴とする請求
項5に記載の画像形成装置。9. The image forming apparatus according to claim 5, wherein the image forming unit includes a light emitting unit that emits light when irradiated with the electron beam.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11712094A JPH07326309A (en) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | Electron source and image forming device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11712094A JPH07326309A (en) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | Electron source and image forming device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07326309A true JPH07326309A (en) | 1995-12-12 |
Family
ID=14703928
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11712094A Withdrawn JPH07326309A (en) | 1994-05-30 | 1994-05-30 | Electron source and image forming device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07326309A (en) |
-
1994
- 1994-05-30 JP JP11712094A patent/JPH07326309A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
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