JPH07325665A - 座標検出機能付き表示装置及び同装置における座標誤測定検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】座標検出動作においてノイズ等の影響で生じる
誤測定座標値を検出できるようにする。 【構成】フレーム周期の一部に設けられたＸ座標検出期
間，Ｙ座標検出期間内にＬＣＤ表示パネル１０の縦電極
群，横電極群に対して順次電圧を印加し、その電圧を対
応電極との間の容量を介してペン２０で検出する。この
検出信号２２をアナログ処理回路５０で２値化してＸ座
標信号５１，Ｙ座標信号５２に変換し、各信号５１，５
２の対応座標検出期間の開始時から立ち上がり及び立ち
下がりまでの時間をカウント回路６０でカウントして、
立ち上がりと立ち下がり時間Ｔxu，Ｔxd及びＴyu，Ｔyd
を計測し、タイミング演算回路７０にてパルス幅Ｔxw＝
Ｔxd−Ｔxu，Ｔyw＝Ｔyd−Ｔyuを求め、それが予め設定
された範囲内か否かにより座標検出が正常に行われたか
否かをタブレット制御装置８０にて判別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ペンの指示位置の座標
を検出する座標検出装置及び同装置における座標誤測定
検出方法に係り、特にＬＣＤ装置（液晶表示装置）に代
表される表示装置の表示用電極をそのまま座標検出用の
電極として用いる座標検出機能付き表示装置及び同装置
における座標誤測定検出方法関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、フラットディスプレイ装置（ド
ットマトリックスディスプレイ装置）は、マトリックス
状に配置された画素と、その画素を駆動してデータを表
示するために、画素配列に対応して設けられた電極（表
示用電極）の群とを有している。この電極群は、画素配
列の各列に対応して配設される縦電極の群と、各行に対
応して配設される横電極の群からなる。これら縦電極群
と横電極群の配列は、ペンの指示位置の座標を検出する
座標検出装置（タブレット装置）における、座標検出用
の電極群と同様である。

【０００３】そこで近年は、フラツトディスプレイ装置
の持つ表示用電極群をそのまま座標検出用電極群として
用いることで座標検出が行えるようにした座標検出機能
付き表示装置が開発されている。

【０００４】この座標検出機能付き表示装置の代表的な
ものに、ＬＣＤ装置の表示用電極群を座標検出用電極群
として兼用しているＬＣＤ一体型タブレット装置（座標
検出機能付きＬＣＤ装置）がある。このＬＣＤ一体型タ
ブレット装置は、表示機能と座標検出機能の両機能を有
することから、ペン入力方式の情報処理機器等に適用す
ることは、コストの低減、重量の軽量化を図る上で重要
である。

【０００５】図９は上記ＬＣＤ一体型タブレット装置の
電極周辺の構造を示す。図９において、１１はＬＣＤの
縦電極、１２はＬＣＤの横電極である。図の例では、縦
電極１１が上側電極、横電極１２が下側電極として構成
されている。各縦電極１１と各横電極１２の交差する位
置には、縦電極１１と横電極１２に挟まれて画素（図示
せず）がそれぞれ設けられている。

【０００６】ＬＣＤ一体型タブレット装置では、図９に
示す電極構造の縦電極１１をＸ座標検出用に、横電極１
２をＹ座標検出用に兼用するために、１フレーム周期中
に座標検出期間を設け、当該１フレーム周期を表示期間
と座標検出期間とに分けている。そして、表示期間中は
ＬＣＤの通常表示を行い、座標検出期間中は縦電極１１
と横電極１２に順次電圧を印加し、ペン２０により、電
極１１，１２とペン先との間の容量（浮遊容量）を介し
て信号を検出し、その検出タイミングに基づいてペン先
の指示する位置のＸ，Ｙ座標を決定するようになってい
る。

【０００７】即ち、ＬＣＤ一体型タブレット装置では、
まず図１０に示すようなタイミングで、ＬＣＤの１フレ
ーム周期中にＸ座標検出期間とＹ座標検出期間からなる
座標検出期間を設けている。そして、Ｘ座標検出期間で
は、ＬＣＤの各縦電極（Ｘ電極）に順次電圧（縦電極信
号）を印加し、Ｙ座標検出期間では、ＬＣＤの各横電極
（Ｙ電極）に順次電圧（横電極信号）を印加し、その電
圧をＬＣＤ電極とペン（２０）との間の容量を介して当
該ペン（２０）で検出する構成となっている。ここで、
座標検出期間において電極に印加する電圧は、表示動作
に影響を与えないように、比較的低レベルに設定され
る。

【０００８】ペン（２０）での検出信号（ペン出力信
号）は当該ペン内部に設けられたアンプで増幅された
後、アナログ処理回路で処理され、以下に述べるように
２値化される。

【０００９】まず、ペン検出信号は、縦電極（Ｘ電極）
に対応して設けられた第１のアンプ（Ｘアンプ）と横電
極（Ｙ電極）に対応して設けられた第２のアンプ（Ｙア
ンプ）のそれぞれに入力され、その電極に適合したゲイ
ンで増幅される。

【００１０】Ｘアンプで増幅されたペン検出信号は、第
１のローパスフィルタでフィルタリングされた後、第１
のコンパレータ（Ｘコンパレータ）により第１の閾値
（第１の座標検出レベル）と比較されることで、２値化
される。同様に、Ｙアンプで増幅されたペン検出信号
は、第２のローパスフィルタでフィルタリングされた
後、第２のコンパレータ（Ｙコンパレータ）により第２
の閾値（第２の座標検出レベル）と比較されることで、
２値化される。

【００１１】このように、ペン検出信号を２値化するこ
とにより、ペン先の指示するＸ，Ｙ座標に対応する縦電
極，横電極に電圧が印加される各タイミングでパルスと
なるＸ，Ｙ座標信号が得られる。

【００１２】明らかなように、Ｘ，Ｙ座標検出期間の開
始タイミングからＸ，Ｙ座標信号の（パルスの）立ち上
がりのタイミング（座標検出レベルを越えるタイミン
グ）までの時間は、図１０中のＴx ，Ｔy に対応し、
Ｘ，Ｙ座標に相当する。したがって、Ｘ，Ｙ座標検出期
間が開始されてからＸ，Ｙ座標信号が立ち上がるまでの
時間を計測することで、ペン先の指示するＸ，Ｙ座標を
検出することがてきる。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】上記したように、ＬＣ
Ｄ一体型タブレット装置に代表される座標検出機能付き
表示装置では、１フレーム周期中に座標検出期間を設
け、当該座標期間において、表示用の各電極に表示動作
に影響を与えないように比較的低レベルの電圧を順次印
加して、その電圧をペンで検出するようにしている。

【００１４】このように、表示用電極を座標検出用電極
として兼用して座標検出を行う座標検出機能付き表示装
置では、表示動作に影響を与えないように各電極に比較
的低レベルの電圧印加を行うことから、専用の座標検出
装置（タブレット装置）を用いて座標検出を行うときよ
りもペンでの検出電圧（検出レベル）が低く、座標検出
を行うためのＳ／Ｎ比を確保することが難しい。

【００１５】そのため、従来の座標検出機能付き表示装
置では、バックライト等からのノイズや情報処理機器か
らのノイズをシールドするなどの処理を行うことで、ノ
イズ等の影響による座標検出の誤測定を防止するように
していた。

【００１６】しかしながら従来の座標検出機能付き表示
装置では、座標検出動作を行っているときに突然通常は
得られないようなレベルの大きい信号（例えばペンなど
が強く表示画面にぶつかり、その衝撃により検出電圧が
大きくなってしまう場合など）を検出したり、外部から
のノイズ、例えば蛍光灯のインバータ回路や他の情報処
理機器からのノイズなどの影響を受けてしまうことがあ
った。このため、従来のように、ペンでの検出信号が予
め定められた座標検出レベル（閾値）を越えるタイミン
グのみで単純に座標検出（測定）を行っていたのでは、
上記ノイズ等の影響でペンにより信号が検出された場合
には、本来のペン先位置でない座標値を誤って測定しま
う虞があった。このノイズ等の影響による誤測定は、上
記したＬＣＤ一体型タブレット装置ほどではないもの
の、専用の座標検出装置（タブレット装置）でも生じる
虞があった。

【００１７】本発明は上記事情を考慮してなされたもの
でその目的は、座標検出動作においてノイズ等の影響で
生じる誤測定座標値を検出して無効データとすることが
できる、座標検出機能付き表示装置並びに座標検出装置
及び同装置における座標誤測定検出方法を提供すること
にある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本発明は、マトリックス
状に配置された画素を駆動してデータを表示するため
に、画素配列に対応して配置された電極の群を有し、動
作期間の一部に設けられた座標検出期間内に上記電極の
群に順次電圧を印加して、その電圧が上記電極との間の
容量を介してペンで検出された際の検出タイミングに基
づき、当該ペンの指示位置の座標を検出する座標検出機
能付き表示装置、或いは縦横に配設された座標検出用の
電極の群を有し、この電極の群に順次電圧を印加して、
その電圧が電極との間の容量を介してペンで検出された
際の検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の座
標を検出する座標検出装置において、上記ペンでの検出
信号（ペン検出信号）の立ち上がりと立ち下がりのタイ
ミングを検出するためのタイミング検出手段と、このペ
ン検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの間
の時間間隔をもとに、座標検出が正常に行えたか否かを
判別する判別手段とを備えたことを特徴とするものであ
る。

【００１９】

【作用】上記の構成においては、上記座標検出機能付き
表示装置の表示用電極の群或いは座標検出装置（専用タ
ブレット）の座標検出用電極の群に、座標検出のために
座標検出期間内に順次電圧を印加する動作が、座標検出
期間毎に行われる。

【００２０】この種の装置では、位置指示にペンが用い
られる。このペンの指示位置の座標は、上記座標検出期
間において電極とペン先との間の容量を介して当該ペン
で信号（電圧信号）を検出することで、その検出タイミ
ングに基づき決定される。

【００２１】この際、タイミング検出手段により、ペン
での検出信号（ペン検出信号）の立ち上がりと立ち下が
りのタイミングが検出される。そして、このペン検出信
号の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの間の時間間
隔をもとに、座標検出が正常に行えたか否かが判別手段
により判別される。

【００２２】ここで、判別手段は、ペン検出信号の立ち
上がりと立ち下がりのタイミングの間の時間間隔が予め
設定した範囲内であれば座標検出が正常に行えたと判別
して、その際の検出座標を有効データとし、予め設定し
た範囲外であれば座標検出が正常に行えず誤測定であっ
たと判別して、その際の検出座標を無効データとする。

【００２３】また、ペン検出信号を２値化してパルス状
の信号に変換し、そのパルス状信号のパルス幅を検出し
て、そのパルス幅が予め設定した下限側閾値と上限側閾
値の範囲内であるか、或いは、その範囲から外れている
かを調べることにより、座標検出が正常に行えたか否か
を判別することも可能である。

【００２４】また、パルス状信号のパルス幅は、１座標
検出期間の開始時点から当該座標検出期間におけるパル
ス状信号の立ち上がり時点までの時間カウント値と、当
該座標検出期間の開始時点から当該座標検出期間におけ
るパルス状信号の立ち下がり時点までの時間カウント値
をもとに検出することが可能である。

【００２５】

【実施例】以下、本発明を座標検出機能付き表示装置
（ＬＣＤ一体型タブレット装置）に適用した一実施例に
つき図面を参照して説明する。図１は座標検出機能付き
表示装置（ＬＣＤ一体型タブレット装置）を備えた情報
処理装置のブロック構成図である。

【００２６】同図において、１０はＬＣＤ表示パネル
（フラットディスプレイパネル）である。ＬＣＤ表示パ
ネル１０は、図９に示したような表示用電極構造、即ち
互いに平行に配置された縦電極１１の群と、これら縦電
極１１の群に直交する横電極１２の群を有している。各
縦電極１１と各横電極１２の交差する位置には、縦電極
１１と横電極１２に挟まれて画素（図示せず）がそれぞ
れ設けられている。図９の例では、縦電極１１は上側電
極、横電極１２は下側電極として構成されている。縦電
極１１はＸ座標検出用電極（Ｘ電極）、横電極１２はＹ
座標検出用電極（Ｙ電極）としても用いられるようにな
っている。

【００２７】２０はＬＣＤ表示パネル１０をタブレット
面として位置指示するのに用いられるペンである。この
ペン２０は、ＬＣＤ表示パネル１０の表示用電極（ＬＣ
Ｄ電極）との間の容量を介して電圧を検出するようにな
っている。ペン２０は、この検出信号を増幅するアンプ
２１を内蔵している。

【００２８】３０はＬＣＤ表示パネル１０の縦電極（１
１）を駆動するための縦電極ドライブ回路、４０はＬＣ
Ｄ表示パネル１０の横電極（１２）を駆動するための横
電極ドライブ回路である。これら縦電極ドライブ回路３
０及び横電極ドライブ回路４０は、後述するタブレット
制御装置８０により制御される。

【００２９】５０はペン２０の検出信号（ペン検出信
号）２２をもとに当該ペン２０の指示するＸ座標位置，
Ｙ座標位置を得るためのＸ座標信号５１，Ｙ座標信号５
２を生成するアナログ処理回路である。

【００３０】アナログ処理回路５０は、図２に示すよう
に、Ｘ座標電極処理回路５１０及びＹ座標電極処理回路
５２０から構成される。Ｘ座標電極処理回路５１０は、
ペン検出信号２２を第１のゲインで増幅するアンプ（Ａ
ＭＰ）５１１、アンプ５１１の出力信号の低周波成分を
通過させるローパスフィルタ（ＬＰＦ）５１２、及びロ
ーパスフィルタ５１２の出力信号と第１の閾値Ｖth1 と
を比較して、当該信号がＶth1 を越えている期間中高レ
ベル（パルス）となる２値信号をＸ座標信号５１として
出力するコンパレータ（ＣＭＰ）５１３から構成され
る。

【００３１】Ｙ座標電極処理回路５２０は、ペン検出信
号２２を第２のゲインで増幅するアンプ（ＡＭＰ）５２
１、アンプ５２１の出力信号の低周波成分を通過させる
ローパスフィルタ（ＬＰＦ）５２２、及びローパスフィ
ルタ５２２の出力信号と第２の閾値Ｖth2 とを比較し
て、当該信号がＶth2 を越えている期間中高レベル（パ
ルス）となる２値信号をＹ座標信号５２として出力する
コンパレータ（ＣＭＰ）５２３から構成される。

【００３２】再び図１を参照すると、６０はカウント回
路である。カウント回路６０は、アナログ処理回路５０
から出力されたＸ座標信号５１の立ち上がり時間（Ｘ座
標立ち上がり時間）Ｔxuと立ち下がり時間（Ｘ座標立ち
下がり時間）ＴxdをＸ座標検出期間（図１０参照）の開
始タイミングからカウント（測定）する第１の時間カウ
ント機能を有している。カウント回路６０はまた、アナ
ログ処理回路５０から出力されたＹ座標信号５２の立ち
上がり時間（Ｙ座標立ち上がり時間）Ｔyuと立ち下がり
時間（Ｙ座標立ち下がり時間）ＴydをＹ座標検出期間
（図１０参照）の開始タイミングからカウント（測定）
する第２の時間カウント機能を有している。

【００３３】カウント回路６０は、図３に示すように、
Ｘ座標検出時間測定回路６１０及びＹ座標検出時間測定
回路６２０から構成される。Ｘ座標検出時間測定回路６
１０は、Ｘ座標検出期間の開始タイミングを示すＸ座標
検出開始タイミング信号ＴＭxsをＳ（セット）入力、ア
ナログ処理回路５０からのＸ座標信号５１をＲ（リセッ
ト）入力とするフリップフロップ（Ｆ／Ｆ）６１１、及
びＸ座標検出開始タイミング信号ＴＭxsをＳ入力、Ｘ座
標信号５１のレベル反転信号をＲ入力とするフリップフ
ロップ（Ｆ／Ｆ）６１２を有している。Ｘ座標検出時間
測定回路６１０はまた、フリップフロップ６１１のＱ出
力が“１”の期間中、座標カウントクロックＣＬＫの数
をカウントしてＸ座標立ち上がり時間Ｔxuを求めるＸ座
標カウンタ６１３、及びフリップフロップ６１２のＱ出
力が“１”の期間中、座標カウントクロックＣＬＫの数
をカウントしてＸ座標立ち下がり時間Ｔxdを求めるＸ座
標カウンタ６１４を有している。

【００３４】Ｙ座標検出時間測定回路６２０は、Ｙ座標
検出期間の開始タイミングを示すＹ座標検出開始タイミ
ング信号ＴＭysをＳ入力、アナログ処理回路５０からの
Ｙ座標信号５２をＲ入力とするフリップフロップ（Ｆ／
Ｆ）６２１、及びＹ座標検出開始タイミング信号ＴＭys
をＳ入力、Ｙ座標信号５２のレベル反転信号をＲ入力と
するフリップフロップ（Ｆ／Ｆ）６２２を有している。
Ｙ座標検出時間測定回路６２０はまた、フリップフロッ
プ６２１のＱ出力が“１”の期間中、座標カウントクロ
ックＣＬＫの数をカウントしてＹ座標立ち上がり時間Ｔ
yuを求めるＹ座標カウンタ６２３、及びフリップフロッ
プ６２２のＱ出力が“１”の期間中、座標カウントクロ
ックＣＬＫの数をカウントしてＹ座標立ち下がり時間Ｔ
ydを求めるＹ座標カウンタ６２４を有している。

【００３５】図１において、７０はカウント回路６０で
計測されたＸ座標立ち上がり時間ＴxuとＸ座標立ち下が
り時間Ｔxdとの差Ｔxw（Ｘ座標信号５１のパルス幅）、
及びＹ座標立ち上がり時間ＴyuとＹ座標立ち下がり時間
Ｔydとの差Ｔyw（Ｙ座標信号５２のパルス幅）を算出す
るタイミング演算回路である。

【００３６】８０はタブレット制御装置である。タブレ
ット制御装置８０は、図１０に示す各１フレーム周期の
表示期間においては、次に述べるＬＣＤ表示制御装置９
０から送られる座標表示信号に従うＬＣＤ表示パネル１
０の表示のために、座標検出期間においては、座標検出
機能（タブレット機能）のために、縦電極ドライブ回路
３０及び横電極ドライブ回路４０を制御する。

【００３７】タブレット制御装置８０はまた、座標検出
期間において、カウント回路６０からのＸ座標立ち上が
り時間ＴxuまたはＸ座標立ち下がり時間Ｔxdと、Ｙ座標
立ち上がり時間ＴyuまたはＹ座標立ち下がり時間Ｔydを
もとに、ペン２０の指示位置（ペン先）のＸ座標とＹ座
標を決定する。

【００３８】タブレット制御装置８０は更に、タイミン
グ演算回路７０からの減算結果Ｔxw，Ｔywが予め定めら
れた閾値ＴxlとＴxwの範囲，閾値ＴylとＴywの範囲を越
えているか否かにより、対応するＸ座標，Ｙ座標がノイ
ズ等に起因する誤測定データであるか否かを判断する。

【００３９】９０は次に述べる情報処理機器１００から
送られる表示データ（ＬＣＤ表示データ）を読み込みタ
ブレット制御装置８０に座標表示信号を送るＬＣＤ表示
制御装置である。

【００４０】１００はＬＣＤ表示パネル１０を座標検出
機能付き表示装置として利用する情報処理機器である。
情報処理機器１００は、ＬＣＤ表示パネル１０に表示す
る情報をＬＣＤ表示制御装置９０に送り、またタブレッ
ト制御装置８０からペン２０の指示する位置の座標情報
（ペン先座標情報）を得て必要な処理を行う。

【００４１】次に、本発明の一実施例の動作を説明す
る。本実施例における座標検出機能付き表示装置（ＬＣ
Ｄ一体型タブレット装置）では、１フレーム周期（１フ
レーム期間）は、表示パネル１０に表示を行う表示期間
と、ペン２０の指示位置の座標を検出する（Ｘ座標検出
期間及びＹ座標検出期間からなる）座標検出期間とに分
かれている。１フレーム周期、表示期間及び座標検出期
間のそれぞれのタイミングは、従来のＬＣＤ一体型タブ
レット装置と同様に、図１０に示すようになっている。

【００４２】さて、ＬＣＤ表示パネル１０への表示動作
は次のように行われる。まず、画面表示データが情報処
理機器１００からＬＣＤ表示制御装置９０に出力され
る。この画面表示データを受けてＬＣＤ表示制御装置９
０内でＬＣＤ表示のための信号処理が行われ、対応する
座標（画素）表示信号がタブレット制御装置８０に送ら
れる。この座標表示信号は、そのままタブレット制御装
置８０から縦電極ドライブ回路３０及び横電極ドライブ
回路４０に出力される。すると、縦電極ドライブ回路３
０及び横電極ドライブ回路４０により、ＬＣＤ表示パネ
ル１０の対応する電極に電圧が印加され、ＬＣＤ表示パ
ネル１０への表示が行われる。

【００４３】一方、座標検出動作は次のように行われ
る。まず、タブレット制御装置８０は、各フレーム周期
のＸ座標検出期間において、図１０に示すタイミングで
Ｘ座標検出のための縦電極信号（Ｘ1 ，Ｘ2 ，Ｘ3…Ｘn
）を順次生成して縦電極ドライブ回路３０に出力し、
ＬＣＤ表示パネル１０の各縦電極１１（図９参照）に順
次電圧を印加する。同様にタブレット制御装置８０は、
各フレーム周期のＹ座標検出期間において、図１０に示
すタイミングでＹ座標検出のための横電極信号（Ｙ1 ，
Ｙ2 ，Ｙ3 …Ｙm ）を生成して横電極ドライブ回路４０
に出力し、ＬＣＤ表示パネル１０の各横電極１２（図９
参照）に順次電圧を印加する。

【００４４】さて、Ｘ座標検出期間において、縦電極ド
ライブ回路３０によりＬＣＤ表示パネル１０の各縦電極
１１（ここでは上側電極）に印加された電圧は、図４に
示すように、電極１１とペン２０との間の容量を介して
当該ペン２０により検出される（図１０のタイミングチ
ャート参照）。同様に、Ｙ座標検出期間において、横電
極ドライブ回路４０によりＬＣＤ表示パネル１０の各横
電極１２（下側電極）に印加された電圧は、電極１２と
ペン２０との間の容量を介して当該ペン２０により検出
される（図１０のタイミングチャート参照）。

【００４５】ここで、ペン２０により検出される電圧信
号のレベル（のピーク値）は、縦電極１１が上側電極、
横電極１２が下側電極の例では、各縦電極１１に電圧が
印加されるＸ座標検出期間の方が、各横電極１２に電圧
が印加されるＹ座標検出期間より高くなる（図１０参
照）。

【００４６】ペン２０により検出された電圧信号は当該
ペン２０に内蔵のアンプ２１により増幅され、ペン検出
信号２２としてアナログ処理回路５０に導かれる。アナ
ログ処理回路５０に導かれたペン検出信号２２は、ＬＣ
Ｄ表示パネル１０の縦電極１１（上側電極）に対応して
設けられた、Ｘ座標電極処理回路５１０内のアンプ５１
１により第１のゲインで増幅され、更にローパスフィル
タ５１２によりフィルタリングされた後、コンパレータ
５１３に入力される。

【００４７】コンパレータ５１３は、この入力信号（即
ち、アンプ５１１により増幅され、ローパスフィルタ５
１２によりフィルタリングされたペン検出信号２２）を
第１の閾値Ｖth1 と比較し、この入力信号（の電圧レベ
ル）が閾値Ｖth1 を越えてから当該閾値Ｖth1 より低く
なるまでの期間だけ高レベルとなるパルス状の波形を持
つＸ座標信号５１を出力する。

【００４８】また、アナログ処理回路５０に導かれた上
記ペン検出信号２２は、ＬＣＤ表示パネル１０の横電極
１２（下側電極）に対応して設けられた、Ｙ座標電極処
理回路５２０内のアンプ５２１にも入力され、当該アン
プ５２１により第２のゲインで増幅され、更にローパス
フィルタ５２２によりフィルタリングされた後、コンパ
レータ５２３に入力される。

【００４９】コンパレータ５２３は、この入力信号（即
ち、アンプ５２１により増幅され、ローパスフィルタ５
２２によりフィルタリングされたペン検出信号２２）を
第２の閾値Ｖth2 と比較し、この入力信号（の電圧レベ
ル）が閾値Ｖth2 を越えてから当該閾値Ｖth2 より低く
なるまでの期間だけ高レベルとなるパルス状の波形を持
つＹ座標信号５２を出力する。

【００５０】なお、アナログ処理回路５０をＸ座標電極
処理回路５１０とＹ座標電極処理回路５２０とで構成
し、その回路５１０，５２０内のアンプ５１１，５１２
のゲインと、コンパレータ５１３，５２３の閾値をそれ
ぞれ独立に設定しているのは、ペン２０により検出され
る電圧信号（ペン検出信号２２）のレベル（のピーク
値）が、前記したようにＸ座標検出期間とＹ座標検出期
間とで異なることによる。

【００５１】アナログ処理回路５０のＸ座標電極処理回
路５１０（内のコンパレータ５１３）から出力されたＸ
座標信号５１及びＹ座標電極処理回路５２０（内のコン
パレータ５２３）から出力されたＹ座標信号５２は、い
ずれもカウント回路６０に導かれる。このカウント回路
６０には、タブレット制御装置８０から出力される座標
カウントクロックＣＬＫ、Ｘ座標検出開始タイミング信
号ＴＭxs、及びＹ座標検出開始タイミング信号ＴＭysも
導かれる。

【００５２】カウント回路６０に導かれたＸ座標検出開
始タイミング信号ＴＭxsは、当該カウント回路６０のＸ
座標検出時間測定回路６１０に設けられたフリップフロ
ップ６１１，６１２のＳ入力に入力される。そして、フ
リップフロップ６１１のＲ入力にはＸ座標信号５１が入
力され、フリップフロップ６１２のＲ入力にはＸ座標信
号５１のレベル反転信号が入力される。

【００５３】これによりフリップフロップ６１１は、Ｘ
座標検出開始タイミング信号ＴＭxsの立ち上がりに応じ
て（即ちＸ座標検出開始タイミングで）セットし、Ｘ座
標信号５１の立ち上がりに応じてリセットする。これに
対し、フリップフロップ６１２は、フリップフロップ６
１１と同じタイミングでセットする一方、Ｘ座標信号５
１の立ち下がりに応じてリセットする。

【００５４】したがって、フリップフロップ６１１のＱ
出力はＸ座標検出開始タイミングからＸ座標信号５１の
立ち上がりのタイミングまでの期間中“１”（高レベ
ル）となり、フリップフロップ６１２のＱ出力はＸ座標
検出開始タイミングからＸ座標信号５１の立ち下がりの
タイミングまでの期間中高レベルとなる。

【００５５】一方、カウント回路６０に導かれたＹ座標
検出開始タイミング信号ＴＭysは、当該カウント回路６
０のＹ座標検出時間測定回路６２０に設けられたフリッ
プフロップ６２１，６２２のＳ入力に入力される。そし
て、フリップフロップ６２１のＲ入力にはＹ座標信号５
２が入力され、フリップフロップ６２２のＲ入力にはＹ
座標信号５２のレベル反転信号が入力される。

【００５６】これによりフリップフロップ６２１は、Ｙ
座標検出開始タイミング信号ＴＭysの立ち上がりに応じ
て（即ちＹ座標検出開始のタイミングで）セットし、Ｙ
座標信号５２の立ち上がりに応じてリセットする。これ
に対し、フリップフロップ６２２は、フリップフロップ
６２１と同じタイミングでセットする一方、Ｙ座標信号
５２の立ち下がりに応じてリセットする。

【００５７】したがって、フリップフロップ６２１のＱ
出力はＹ座標検出開始タイミングからＹ座標信号５２の
立ち上がりのタイミングまでの期間中“１”（高レベ
ル）となり、フリップフロップ６２２のＱ出力はＹ座標
検出開始タイミングからＹ座標信号５２の立ち下がりの
タイミングまでの期間中高レベルとなる。

【００５８】フリップフロップ６１１，６１２のＱ出力
信号はＸ座標カウンタ６１３，６１４のカウントイネー
ブル信号として用いられる。Ｘ座標カウンタ６１３は、
フリップフロップ６１１のＱ出力が“１”の期間中、即
ちＸ座標検出開始タイミングからＸ座標信号５１の立ち
上がりのタイミングまでの期間中、座標カウントクロッ
クＣＬＫの数をカウントし、Ｘ座標検出開始タイミング
を基準とするＸ座標立ち上がり時間Ｔxuを求める。

【００５９】同様に、Ｘ座標カウンタ６１４は、フリッ
プフロップ６１２のＱ出力が“１”の期間中、即ちＸ座
標検出開始タイミングからＸ座標信号５１の立ち下がり
のタイミングまでの期間中、座標カウントクロックＣＬ
Ｋの数をカウントし、Ｘ座標検出開始タイミングを基準
とするＸ座標立ち下がり時間Ｔxdを求める。

【００６０】一方、フリップフロップ６２１，６２２の
Ｑ出力信号はＹ座標カウンタ６２３，６２４のカウント
イネーブル信号として用いられる。Ｙ座標カウンタ６２
３は、フリップフロップ６２１のＱ出力が“１”の期間
中、即ちＹ座標検出開始タイミングからＹ座標信号５２
の立ち上がりのタイミングまでの期間中、座標カウント
クロックＣＬＫの数をカウントし、Ｙ座標検出開始タイ
ミングを基準とするＹ座標立ち上がり時間Ｔyuを求め
る。

【００６１】同様に、Ｙ座標カウンタ６２４は、フリッ
プフロップ６２２のＱ出力が“１”の期間中、即ちＹ座
標検出開始タイミングからＹ座標信号５２の立ち下がり
のタイミングまでの期間中、座標カウントクロックＣＬ
Ｋの数をカウントし、Ｙ座標検出開始タイミングを基準
とするＹ座標立ち下がり時間Ｔydを求める。

【００６２】以上のように、カウント回路６０では、Ｘ
座標検出時間測定回路６１０のＸ座標カウンタ６１３，
６１４によりＸ座標立ち上がり時間Ｔxu，Ｘ座標立ち下
がり時間Ｔxdが求められ、Ｙ座標検出時間測定回路６２
０のＹ座標カウンタ６２３，６２４によりＹ座標立ち上
がり時間Ｔyu，Ｙ座標立ち下がり時間Ｔydが求められ
る。これら各Ｔxu，Ｔxd，Ｔyu，Ｔydは、タイミング演
算回路７０とタブレット制御装置８０に導かれる。

【００６３】タイミング演算回路７０は、タブレット制
御装置８０からの指示により、例えばＸ座標検出期間の
終了時に、その際にカウント回路６０にて求められてい
るＸ座標立ち上がり時間ＴxuからＸ座標立ち下がり時間
Ｔxdを減算して、その差Ｔxw（＝Ｔxu−Ｔxd）、即ちＸ
座標信号５１のパルス幅Ｔxw（Ｘ座標信号５１が立ち上
がってから立ち下がるまでの時間間隔）を算出する。

【００６４】タイミング演算回路７０はまた、タブレッ
ト制御装置８０からの指示により、例えばＹ座標検出期
間の終了時に、その際にカウント回路６０にて求められ
ているＹ座標立ち上がり時間ＴyuからＹ座標立ち下がり
時間Ｔydを減算して、その差Ｔyw（＝Ｔyu−Ｔyd）、即
ちＹ座標信号５２のパルス幅Ｔyw（Ｙ座標信号５２が立
ち上がってから立ち下がるまでの時間間隔）を算出す
る。これらパルス幅Ｔxw及びＴywはタブレット制御装置
８０に導かれる。

【００６５】ここで、ノイズ等の影響を受けずにペン検
出信号２２が検出された場合のＴxu，Ｔxd，Ｔxwの関係
を、ペン検出信号２２及びＸ座標信号５１と対応させて
図５に示す。

【００６６】通常、ノイズ等の影響を受けずにペン２０
によりペン検出信号２２（座標信号）が検出された場
合、そのペン検出信号２２の波形は図５に示すようにな
っている。この場合、ペン検出信号２２をアナログ処理
回路５０にて２値化することにより得られるパルス状の
波形を持つＸ座標信号５１の立ち上がりのタイミングと
立ち下がりのタイミングの間の時間間隔、即ちパルス幅
Ｔxwは、ペン２０の指示位置の違いや誤差などにより多
少は異なるものの、ほぼ同じような値、即ち或る閾値
（下限側閾値）Ｔxlと閾値（上限側閾値）Ｔxhの範囲内
の値となる。このことは、Ｙ座標信号５２についても同
様である。

【００６７】ところが、ノイズ等の影響を受けた状態で
ペン２０によりペン検出信号２２（座標信号）が検出さ
れた場合には、そのペン検出信号２２の波形、及び当該
ペン検出信号２２をアナログ処理回路５０にて２値化す
ることにより得られるパルス状の波形を持つＸ座標信号
５１は、図６或いは図７のようになる。

【００６８】この図６及び図７に示すペン検出信号２２
の波形、Ｘ座標信号５１の立ち上がりと立ち下がりのタ
イミングの間の時間間隔（パルス幅）Ｔxwは、図５に示
したペン検出信号２２の波形、Ｘ座標信号５１のタイミ
ング（パルス幅Ｔxw）とは異なり、ペン先位置や誤差な
どによって生じる時間の差の影響とは判断できず、ノイ
ズなどによる誤測定と考えられる。

【００６９】図６は、Ｘ座標信号５１のパルス幅Ｔxwが
上記の閾値Ｔxhよりも長い場合であり、図７は、上記の
閾値Ｔxlよりも短い場合である。したがって、Ｘ座標信
号５１の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの時間間
隔（パルス幅）Ｔxwは、ノイズ等の影響による誤測定を
判断する条件として利用することができる。即ち、Ｔxw
が閾値Ｔxlと閾値Ｔxhの範囲外にあるか否かにより、ノ
イズ等の影響による誤測定であるか否かを判断すること
ができる。この判断は、タブレット制御装置８０にて行
われる。

【００７０】このことは、Ｙ座標信号５２についても同
様であり、Ｙ座標信号５２の立ち上がりと立ち下がりの
タイミングの時間間隔、即ちパルス幅Ｔywが或る閾値
（下限側閾値）Ｔylと閾値（上限側閾値）Ｔyhの範囲外
にあるか否かにより、ノイズ等の影響による誤測定であ
るか否かを判断することができる。この判断は、タブレ
ット制御装置８０にて行われる。

【００７１】以上の動作を、Ｘ座標の誤測定検出動作を
例に、図８のフローチャートを参照して整理して説明す
る。各フレーム周期のＸ座標検出期間において、ペン２
０で検出されたペン検出信号２２はアナログ処理回路５
０で増幅、フィルタリングされて２値化され、パルス状
のＸ座標信号５１に変換される。

【００７２】時間カウント回路６０は、このＸ座標信号
５１のパルスの立ち上がり時間（Ｘ座標立ち上がり時
間）Ｔxuと立ち下がり時間（Ｘ座標立ち下がり時間）Ｔ
xdを、タブレット制御装置８０から出力される座標カウ
ントクロックＣＬＫ、Ｘ座標検出開始タイミング信号Ｔ
Ｍxsをもとにカウントする（ステップＳ１）。

【００７３】タイミング演算回路７０は、時間カウント
回路６０でカウントされたＸ座標立ち上がり時間Ｔxuと
Ｘ座標立ち下がり時間Ｔxdを受けて、Ｘ座標検出期間の
終了時にＴxd−Ｔxuの減算を行い、立ち上がり時間Ｔxu
と立ち下がり時間Ｔxdの時間間隔、即ちＸ座標信号５１
のパルスのパルス幅Ｔxw（＝Ｔxu−Ｔxd）を算出する
（ステップＳ２）。

【００７４】タブレット制御装置８０は、カウント回路
６０でカウントされたＸ座標立ち上がり時間Ｔxu及びＸ
座標立ち下がり時間Ｔxdと、タイミング演算回路７０で
算出されたパルス幅Ｔxwを、例えばＸ座標検出期間の終
了時（Ｙ座標検出期間の終了時でも構わない）に内部の
バッファ（図示せず）に取り込む。この取り込みを終了
すると、タブレット制御装置８０は、次のＸ座標検出期
間における時間カウントのために、カウント回路６０内
のフリップフロップ６１１，６１２及びＸ座標カウンタ
６１３，６１４を（図示せぬリセット信号により）リセ
ットする。

【００７５】次にタブレット制御装置８０は、タイミン
グ演算回路７０により算出されたＸ座標信号５１のパル
スのパルス幅Ｔxwが予め定められた閾値Ｔxlと閾値Ｔxh
の範囲内であるか否かを判別する（ステップＳ３，Ｓ
４）。

【００７６】もし、ＴxwがＴxlとＴxhの範囲内にあるな
らば、即ちＴxl＜Ｔxw≦Ｔxhであるならば、タブレット
制御装置８０は、ノイズなどによる誤測定はないと判断
し、時間カウント回路６０からのＸ座標立ち上がり時間
ＴxuまたはＸ座標立ち下がり時間Ｔxdをもとに、ペン２
０の指し示したＸ座標を決定して、情報処理機器１００
に送る（ステップＳ５）。

【００７７】これに対し、ＴxwがＴxlとＴxhの範囲外に
あるならば、即ちＴxw≦ＴxlまたはＴxw＞Ｔxhであるな
らば、タブレット制御装置８０は、ＴxuまたはＴxdをも
とにＸ座標を決定する他に、当該Ｘ座標がノイズなどに
よる誤測定データ（であり無効データ）であることを示
すエラーフラグを生成し（ステップＳ６）、このフラグ
をＸ座標に付して情報処理機器１００に送る。なお、Ｔ
xwがＴxlとＴxhの範囲外にある場合には、Ｘ座標の決定
を行わずに、エラーフラグだけを情報処理機器１００に
送るようにしても構わない。

【００７８】以上は、Ｙ座標の誤測定検出動作において
も同様であり、図８のフローチャートにおいて、Ｔxuを
Ｔyuに、ＴxdをＴydに、ＴxwをＴywに、ＴxlをＴylに、
そしてＴxhをＴyhとして、ステップＳ１〜Ｓ５の処理を
行うことで実現される。

【００７９】ところでタブレット制御装置８０は、Ｘ座
標検出期間の終了時（Ｙ座標検出期間の終了時でも構わ
ない）には、カウント回路６０でカウントされたＴxu，
Ｔxd及びタイミング演算回路７０で算出されたＴxwの他
に、カウント回路６０内のフリップフロップ６１１，６
１２のＱ出力も取り込むようになっている。またタブレ
ット制御装置８０は、Ｙ座標検出期間の終了時には、カ
ウント回路６０でカウントされたＴyu，Ｔyd及びタイミ
ング演算回路７０で算出されたＴywの他に、カウント回
路６０内のフリップフロップ６２１，６２２のＱ出力も
取り込むようになっている。

【００８０】タブレット制御装置８０は、Ｘ座標検出期
間（またはＹ座標検出期間）の終了時に取り込んだフリ
ップフロップ６１１，６１２のＱ出力の少なくとも一方
が“１”であるならば、即ちフリップフロップ６１１，
６１２の少なくとも一方がリセットされていないなら
ば、その際の検出座標はオーバフロー（エラー）である
として処理する。

【００８１】同様に、Ｙ座標検出期間の終了時に取り込
んだフリップフロップ６２１，６２２のＱ出力の少なく
とも一方が“１”である場合にも、即ちフリップフロッ
プ６２１，６２２の少なくとも一方がリセットされてい
ない場合にも、タブレット制御装置８０は、オーバフロ
ー（エラー）であるとして処理する。

【００８２】なお、前記実施例では、ペン２０からのペ
ン検出信号２２をアナログ処理回路５０にで２値化した
Ｘ座標信号５１，Ｙ座標信号５２のパルス幅Ｔxw，Ｔyw
をもとに、ノイズなどによる誤測定の有無を判別する場
合について説明したが、これに限るものではなく、ペン
検出信号２２の立ち上がりと立ち下がりのタイミングを
もとに、ノイズなどによる誤測定の有無を判別するよう
にしても構わない。ここで、ペン検出信号２２の立ち上
がりと立ち下がりのタイミングは、例えばＸ座標検出開
始タイミング（Ｙ座標検出開始タイミング）の時点から
ペン検出信号２２が或る閾値より大きくなるまでの時間
と、同じくペン検出信号２２が或る閾値より小さくなる
までの時間として検出可能である。

【００８３】また、前記実施例では、ＬＣＤ装置の表示
用電極群を座標検出用電極群として兼用しているＬＣＤ
一体型タブレット装置（座標検出機能付きＬＣＤ装置）
に適用した場合について説明したが、本発明は、ＥＬ
（エレクトロ・ルミネッセンス）ディスプレイなど、Ｌ
ＣＤ装置以外のドットマトリックスディスプレイを用い
て、その表示用電極群を座標検出用電極群として兼用し
ている表示一体型タブレット装置（座標検出機能付き表
示装置）にも適用可能である。

【００８４】また、本発明は、図９に示したのと同様の
構造の専用の座標検出用電極群を有する専用の座標検出
装置（タブレット装置）にも応用でき、座標検出精度を
向上させることが可能となる。

【００８５】

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、表
示用電極の群或いは座標検出用電極の群に順次電圧が印
加される座標検出期間内にノイズの影響を受けてペンに
よる信号検出が行われた場合、その際のペン検出信号の
波形は正常な状態でのペン検出信号の波形からずれて、
ペン検出信号の立ち上がりのタイミングと立ち下がりの
タイミングの間の時間間隔は、正常な状態での時間間隔
より著しく小さくなるか、或いは大きくなることに着目
し、ペン検出信号の立ち上がりのタイミングと立ち下が
りのタイミングの間の時間間隔、或いはペン検出信号を
２値化して得られるパルス状信号のパルス幅をもとに、
座標検出がノイズ等の影響を受けずに正常に行えたか否
かを判別する構成としたので、ノイズ等の影響により誤
測定された座標を無効データとして排除することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る座標検出機能付き表示
装置（ＬＣＤ一体型タブレット装置）を備えた情報処理
装置のブロック構成図。

【図２】図１中のアナログ処理回路５０の構成を示すブ
ロック図。

【図３】図１中のカウント回路６０の構成を示すブロッ
ク図。

【図４】同実施例において電極に印加された電圧が当該
電極とペンとの間の容量を介して検出されることを説明
するための図。

【図５】ノイズ等の影響を受けない場合のＸ座標立ち上
がり時間Ｔxu，Ｘ座標立ち下がり時間Ｔxd，パルス幅Ｔ
xwの関係を、ペン検出信号２２及びＸ座標信号５１と対
応させて示す図。

【図６】ノイズ等の影響を受けた場合のＸ座標立ち上が
り時間Ｔxu，Ｘ座標立ち下がり時間Ｔxd，パルス幅Ｔxw
の第１の関係例を、ペン検出信号２２及びＸ座標信号５
１と対応させて示す図。

【図７】ノイズ等の影響を受けた場合のＸ座標立ち上が
り時間Ｔxu，Ｘ座標立ち下がり時間Ｔxd，パルス幅Ｔxw
の第２の関係例を、ペン検出信号２２及びＸ座標信号５
１と対応させて示す図。

【図８】同実施例におけるＸ座標の誤測定検出動作を説
明するためのフローチャート。

【図９】一般的なＬＣＤ一体型タブレット装置の電極周
辺の構造を示す図。

【図１０】一般的なＬＣＤ一体型タブレット装置におけ
る座標検出動作のタイミングチャート。

【符号の説明】

１０…ＬＣＤ表示パネル、１１…縦電極、１２…横電
極、２０…ペン、２２…ペン検出信号、３０…縦電極ド
ライブ回路、４０…横電極ドライブ回路、５０…アナロ
グ処理回路（２値化手段）、５１…Ｘ座標信号（パルス
状信号）、５２…Ｙ座標信号（パルス状信号）、６０…
カウント回路、７０…タイミング演算回路（パルス幅検
出手段）、８０…タブレット制御装置（判別手段）、９
０…ＬＣＤ表示制御装置、１００…情報処理機器、５１
３，５２３…コンパレータ（ＣＭＰ）、６１０…Ｘ座標
検出時間測定回路、６１３…Ｘ座標カウンタ（第１の時
間カウント手段）、６１４…Ｘ座標カウンタ（第２の時
間カウント手段）、６２０…Ｙ座標検出時間測定回路、
６２３…Ｙ座標カウンタ（第１の時間カウント手段）、
６２４…Ｙ座標カウンタ（第２の時間カウント手段）、
ＣＬＫ…座標カウントクロック、ＴＭxs…Ｘ座標検出開
始タイミング信号、ＴＭys…Ｙ座標検出開始タイミング
信号、Ｔxu…Ｘ座標立ち上がり時間、Ｔxd…Ｘ座標立ち
下がり時間、Ｔyu…Ｙ座標立ち上がり時間、Ｔyd…Ｙ座
標立ち下がり時間。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 マトリックス状に配置された画素を駆動
   してデータを表示するために、画素配列に対応して配置
   された電極の群を有し、動作期間の一部に設けられた座
   標検出期間内に前記電極の群に順次電圧を印加して、そ
   の電圧が前記電極との間の容量を介してペンで検出され
   た際の検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の
   座標を検出する座標検出機能付き表示装置において、 前記ペンでの検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイ
   ミングを検出するためのタイミング検出手段と、 このタイミング検出手段により検出された前記ペンでの
   検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの間の
   時間間隔をもとに、座標検出が正常に行えたか否かを判
   別する判別手段とを具備することを特徴とする座標検出
   機能付き表示装置。
2. 【請求項２】 前記判別手段は、前記ペンでの検出信号
   の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの間の時間間隔
   が、予め設定した範囲内であれば座標検出が正常に行え
   たと判別し、前記予め設定した範囲外であれば座標検出
   が正常に行えず誤測定であったと判別することを特徴と
   する請求項１記載の座標検出機能付き表示装置。
3. 【請求項３】 マトリックス状に配置された画素を駆動
   してデータを表示するために、画素配列に対応して配置
   された電極の群を有し、動作期間の一部に設けられた座
   標検出期間内に前記電極の群に順次電圧を印加して、そ
   の電圧が前記電極との間の容量を介してペンで検出され
   た際の検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の
   座標を検出する座標検出機能付き表示装置において、 前記ペンでの検出信号を２値化してパルス状の信号に変
   換する２値化手段と、 この２値化手段から出力されるパルス状信号のパルス幅
   を検出するパルス幅検出手段と、 このパルス幅検出手段により検出されたパルス幅をもと
   に座標検出が正常に行えたか否かを判別する判別手段と
   を具備することを特徴とする座標検出機能付き表示装
   置。
4. 【請求項４】 前記座標検出期間の開始時点から当該座
   標検出期間における前記パルス状信号の立ち上がり時点
   まで時間カウントを行う第１の時間カウント手段と、前
   記座標検出期間の開始時点から当該座標検出期間におけ
   る前記パルス状信号の立ち下がり時点まで時間カウント
   を行う第２の時間カウント手段とを更に具備し、前記パ
   ルス幅検出手段は、前記第１及び第２の時間カウント手
   段の時間カウント結果をもとに前記パルス幅を検出する
   ことを特徴とする請求項３記載の座標検出機能付き表示
   装置。
5. 【請求項５】 前記判別手段は、前記パルス幅が、予め
   設定した下限側閾値と上限側閾値の範囲内であれば座標
   検出が正常に行えたと判別し、前記下限側閾値と上限側
   閾値の範囲外であれば座標検出が正常に行えず誤測定で
   あったと判別することを特徴とする請求項３記載の座標
   検出機能付き表示装置。
6. 【請求項６】 縦横に配設された座標検出用の電極の群
   を有し、この電極の群に順次電圧を印加して、その電圧
   が前記電極との間の容量を介してペンで検出された際の
   検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の座標を
   検出する座標検出装置において、 前記ペンでの検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイ
   ミングを検出するためのタイミング検出手段と、 このタイミング検出手段により検出された前記ペンでの
   検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイミングの間の
   時間間隔をもとに、座標検出が正常に行えたか否かを判
   別する判別手段とを具備することを特徴とする座標検出
   装置。
7. 【請求項７】 マトリックス状に配置された画素を駆動
   してデータを表示するために、画素配列に対応して配置
   された電極の群を有し、動作期間の一部に設けられた座
   標検出期間内に前記電極の群に順次電圧を印加して、そ
   の電圧が前記電極との間の容量を介してペンで検出され
   た際の検出タイミングを、当該ペンでの検出信号と予め
   定められた検出タイミング決定用閾値をもとに決定し、
   その検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の座
   標を検出する座標検出機能付き表示装置、または縦横に
   配設された座標検出用の電極の群を有し、この電極の群
   に順次電圧を印加して、その電圧が前記電極との間の容
   量を介してペンで検出された際の検出タイミングを、当
   該ペンでの検出信号と予め定められた検出タイミング決
   定用閾値をもとに決定し、その検出タイミングに基づ
   き、当該ペンの指示位置の座標を検出する座標検出装置
   に適用される座標誤測定検出方法において、 前記ペンでの検出信号の立ち上がりと立ち下がりのタイ
   ミングを検出し、その立ち上がりと立ち下がりのタイミ
   ングの間の時間間隔をもとに、座標検出が正常に行えた
   か否かを判別するようにしたことを特徴とする座標誤測
   定検出方法。
8. 【請求項８】 マトリックス状に配置された画素を駆動
   してデータを表示するために、画素配列に対応して配置
   された電極の群を有し、動作期間の一部に設けられた座
   標検出期間内に前記電極の群に順次電圧を印加して、そ
   の電圧が前記電極との間の容量を介してペンで検出され
   た際の検出タイミングを、当該ペンでの検出信号と予め
   定められた検出タイミング決定用閾値をもとに決定し、
   その検出タイミングに基づき、当該ペンの指示位置の座
   標を検出する座標検出機能付き表示装置、または縦横に
   配設された座標検出用の電極の群を有し、この電極の群
   に順次電圧を印加して、その電圧が前記電極との間の容
   量を介してペンで検出された際の検出タイミングを、当
   該ペンでの検出信号と予め定められた検出タイミング決
   定用閾値をもとに決定し、その検出タイミングに基づ
   き、当該ペンの指示位置の座標を検出する座標検出装置
   に適用される座標誤測定検出方法において、 前記ペンでの検出信号を２値化してパルス状の信号に変
   換し、当該パルス状信号のパルス幅を検出して、そのパ
   ルス幅をもとに、座標検出が正常に行えたか否かを判別
   するようにしたことを特徴とする座標誤測定検出方法。