JPH0731494Y2 - High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer - Google Patents

High frequency inductively coupled plasma mass spectrometer

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JPH0731494Y2
JPH0731494Y2 JP7232788U JP7232788U JPH0731494Y2 JP H0731494 Y2 JPH0731494 Y2 JP H0731494Y2 JP 7232788 U JP7232788 U JP 7232788U JP 7232788 U JP7232788 U JP 7232788U JP H0731494 Y2 JPH0731494 Y2 JP H0731494Y2
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cooling
spray chamber
sample
mass spectrometer
high frequency
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正 内山
健一 阪田
昌三 小野
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は、試料導入系の1つであるスプレーチャンバー
の冷却方法を改善した高周波誘導結合プラズマ質量分析
計に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention relates to a high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer with an improved cooling method for a spray chamber, which is one of sample introduction systems.

〈従来の技術〉 高周波誘導結合プラズマ質量分析計は、高周波誘導結合
プラズマを用いて試料を励起させ、生じたイオンをノズ
ルとスキマーからなるインターフェイスを介して質量分
析計に導いて電気的に検出し該イオン量を精密に測定す
ることにより、試料中の被測定元素を高精度に分析する
ように構成されている。また、試料導入系の1つである
スプレーチャンバーは、均一な粒子だけを試料としてプ
ラズマトーチ1に導入するため冷却される。第3図は、
このような高周波誘導結合プラズマ質量分析計の従来例
構成説明図である。この図において、プラズマトーチ1
の外室1bと最外室1cにはガス調節器2を介してアルゴン
ガス供給源3からアルゴンガスが供給されている。ま
た、試料槽4内の試料はネブライザ4′で霧化されての
ちアルゴンガスによってスプレーチャンバー5(詳しく
はガラス製スプレーチャンバー本体5a)内に搬送され
る。ここで、スプレーチャンバー本体5aの両側は冷却用
アルミニウムブロック5b,5cで覆われており、該冷却用
アルミニウムブロック5cと放熱用アルミニウムブロック
5eの間にはベルチェ素子5dが装着されている。このた
め、スプレーチャンバー本体5a内に搬送された試料はベ
ルチェ素子5dの冷却効果によってスプレーチャンバー本
体5a内で冷却されるようになっている。また、このよう
にして冷却された試料は、再びアルゴンガスによってス
プレーチャンバー5(詳しくはスプレーチャンバー本体
5a)の出口を通ってプラズマトーチ1の内室1aへと搬入
される。一方、プラズマトーチ1の巻回された高周波誘
導コイル6には高周波電源10によって高周波電流が流さ
れ、該コイル6の周囲に高周波磁界(図示せず)が形成
されている。この状態で上記高周波磁界の近傍でアルゴ
ンガス中に電子かイオンが植え付けられると、該高周波
磁界の作用によって瞬時に高周波誘導結合プラズマ7が
生ずる。また、ノズル8とスキマー9に挟まれたフォア
チャンバー本体11内は、真空ポンプ12によって例えば1T
orr.に吸引されている。更に、センターチャンバー13内
には中心軸上に光の進入を阻止する小円板14aと該小円
板と一定距離を保つように配置されたイオンレンズ14b,
14cが設けられると共に、該センターチャンバー13の内
部は第1油拡散ポンプ15によって例えば10-4Torr.に吸
引され、マスフィルタ(例えば四重極マスフィルタ)16
を収容しているリアチャンバー17内は第2油拡散ポンプ
18によって例えば10-5Torr.に吸引されている。プラズ
マ7内のイオンは、ノズル8やスキマー9を経由しての
ち例えば小円板14aとイオンレンズ14b,14c(若しくはダ
ブレット四重極レンズ)の間を通って収束されてのちマ
スフィルタ16を通り二次電子増倍管19に導かれて検出さ
れ、該検出信号が信号処理部20に送出されて演算・処理
されることによって前記試料中の被測定元素分析値が求
められるようになっている。
<Prior art> A high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer excites a sample using high frequency inductively coupled plasma, and guides the generated ions to a mass spectrometer through an interface consisting of a nozzle and a skimmer for electrical detection. By precisely measuring the amount of ions, the element to be measured in the sample is analyzed with high accuracy. The spray chamber, which is one of the sample introduction systems, is cooled because only uniform particles are introduced as a sample into the plasma torch 1. Figure 3 shows
It is a conventional example structure explanatory view of such a high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer. In this figure, a plasma torch 1
The outer chamber 1b and the outermost chamber 1c are supplied with argon gas from an argon gas supply source 3 via a gas regulator 2. Further, the sample in the sample tank 4 is atomized by the nebulizer 4 ', and then is transported into the spray chamber 5 (specifically, the glass spray chamber body 5a) by argon gas. Here, both sides of the spray chamber body 5a are covered with cooling aluminum blocks 5b and 5c, and the cooling aluminum block 5c and the heat dissipation aluminum block are covered.
A Peltier element 5d is mounted between 5e. Therefore, the sample carried into the spray chamber body 5a is cooled in the spray chamber body 5a by the cooling effect of the Peltier element 5d. In addition, the sample cooled in this way is sprayed again with the argon gas into the spray chamber 5 (specifically, the spray chamber main body).
It is carried into the inner chamber 1a of the plasma torch 1 through the outlet of 5a). On the other hand, a high frequency current is applied to the wound high frequency induction coil 6 of the plasma torch 1 by a high frequency power source 10, and a high frequency magnetic field (not shown) is formed around the coil 6. In this state, when electrons or ions are implanted in the argon gas in the vicinity of the high frequency magnetic field, high frequency inductively coupled plasma 7 is instantaneously generated by the action of the high frequency magnetic field. Further, the inside of the fore chamber main body 11 sandwiched between the nozzle 8 and the skimmer 9 is, for example, 1T by the vacuum pump 12.
being sucked by orr. Further, in the center chamber 13, a small disc 14a for preventing light from entering on the central axis and an ion lens 14b arranged so as to keep a constant distance from the small disc,
14c is provided, and the inside of the center chamber 13 is sucked by the first oil diffusion pump 15 to, for example, 10 −4 Torr.
The second oil diffusion pump is inside the rear chamber 17 that houses the
Aspirated by, for example, 10 -5 Torr. Ions in the plasma 7 pass through the nozzle 8 and the skimmer 9, and then pass through the mass filter 16 after being converged between, for example, the small disk 14a and the ion lenses 14b and 14c (or the doublet quadrupole lens). The elemental analysis value in the sample is obtained by being guided to the secondary electron multiplier 19 and detected, and the detection signal is sent to the signal processing unit 20 to be calculated and processed. .

〈考案が解決しようとする問題点〉 然しながら、上記従来例においては、ガラス製のスプレ
ーチャンバー5aを用いて上述のようにして試料を冷却す
る際、ペルチェ素子の放熱側が降温となり冷却側(面)
が十分に冷えないという欠点があった。また、スプレー
チャンバー本体5aが上述の如くガラス製であるため、冷
却用アルミニウムブロックを密着させるような加工が難
しくスプレーチャンバー本体5aと上記冷却用アルミニウ
ムブロック5b,5cとの間に隙間が生じ易くスプレーチャ
ンバー本体5aを十分に冷却することができないという欠
点もあった。本考案はかかる従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、スプレーチャンバーの冷
却方法が改善されネブライザで霧化された試料が十分に
冷却されたスプレーチャンバー5を通り均一な微粒子だ
けが試料としてプラズマトーチ1の内室1a内に導入され
究極的に被測定元素を正確に測定できるような高周波誘
導結合プラズマ質量分析計を提供することにある。
<Problems to be Solved by the Invention> However, in the above-mentioned conventional example, when the sample is cooled using the glass spray chamber 5a as described above, the radiating side of the Peltier element is cooled and the cooling side (surface)
There was a drawback that it did not get cold enough. Further, since the spray chamber main body 5a is made of glass as described above, it is difficult to perform processing such that the cooling aluminum block is brought into close contact with the spray chamber main body 5a and the cooling aluminum blocks 5b and 5c, and thus a gap is easily formed. There is also a drawback that the chamber body 5a cannot be cooled sufficiently. The present invention has been made in view of the drawbacks of the conventional example, and an object thereof is to improve the cooling method of the spray chamber and to allow the sample atomized by the nebulizer to pass through the sufficiently cooled spray chamber 5 to form uniform fine particles. The purpose of the present invention is to provide a high-frequency inductively coupled plasma mass spectrometer which is introduced as a sample into the inner chamber 1a of the plasma torch 1 and can ultimately accurately measure the element to be measured.

〈問題点を解決するための手段〉 このような目的を達成するために、本考案は、 ネブライザで霧化した試料をスプレーチャンバーで冷却
した後、プラズマトーチに導いて励起し、励起した被測
定試料を質量分析計において質量分析する高周波誘導結
合プラズマ質量分析計において、 前記スプレーチャンバーは、 前記ネブライザから供給された試料を冷却して均一な粒
子からなる試料を得るスプレーチャンバー本体と、 このスプレーチャンバー本体と一方の面が密着して設け
られた伝熱用シリコンシートと、 一方の面が前記伝熱用シリコンシートの他方の面と密着
して設けられた冷却用アルミニウムブロックと、 冷却源であって、前記冷却用アルミニウムブロックの他
方の面に冷却面が接するように設けられたペルチェ素子
と、 このペルチェ素子の冷却面と反対側の放熱面と接触さ
れ、前記ペルチェ素子を冷却する放熱用アルミニウムブ
ロックと、 を備え、前記伝熱用シリコンシートの介在により前記ス
プレーチャンバー本体の冷却効率を高めたことを特徴と
している。
<Means for Solving Problems> In order to achieve such an object, the present invention is to cool a sample atomized by a nebulizer in a spray chamber, and then guide the plasma torch to excite the sample to be measured. In a high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer for mass spectrometric analysis of a sample in a mass spectrometer, the spray chamber comprises a spray chamber body for cooling the sample supplied from the nebulizer to obtain a sample composed of uniform particles, and the spray chamber. A heat transfer silicon sheet provided with one surface in close contact with the main body, an aluminum block for cooling provided with one surface in close contact with the other surface of the heat transfer silicon sheet, and a cooling source. A Peltier element provided so that the cooling surface is in contact with the other surface of the cooling aluminum block. A heat-dissipating surface opposite to the heat-dissipating surface of the element, and a heat-dissipating aluminum block that cools the Peltier element, and the efficiency of cooling the spray chamber body is increased by interposing the heat-transfer silicon sheet Is characterized by.

〈実施例〉 以下、本考案について図を用いて詳細に説明する。第1
図は本考案の要部を示すスプレーチャンバーの分解構成
斜視図であり、第2図は本考案実施例の構成説明図であ
る。また、これらの図において、第3図と同一記号は同
一意味をもたせて使用しここでの重複説明は省略する。
更に、5′はスプレーチャンバー、5f,gはスプレーチャ
ンバー本体5aと冷却用アルミニウムブロック5b,5cとの
間にそれぞれ装着され例えば接着剤で固定された伝熱用
シリコンシート、5iは冷却水が流れる貫通穴、5jは第1
図に示した構成部品を組立てて固定するためのネジ、5h
は内部に冷却水が流れる連通穴が設けられている放熱用
のアルミニウムブロックである。尚、本考案は上述の構
成に限定されることなく種々の変形が可能であり、例え
ば放熱用アルミニウムブロックの代わりに大型のヒート
シンクを設けてもよい。また、伝熱用シリコンシート5
g,5fの代わりに薄い鉛の板を挟んで熱伝導をよくしても
よいものとする。
<Example> Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. First
FIG. 2 is an exploded perspective view of a spray chamber showing an essential part of the present invention, and FIG. 2 is an explanatory view of the configuration of an embodiment of the present invention. Further, in these figures, the same symbols as those in FIG. 3 are used with the same meanings, and duplicate explanations are omitted here.
Further, 5'is a spray chamber, 5f and g are mounted between the spray chamber main body 5a and the cooling aluminum blocks 5b and 5c, respectively, and are heat transfer silicon sheets fixed by, for example, an adhesive, and 5i is a cooling water. Through hole, 5j is first
Screws to assemble and secure the components shown, 5h
Is an aluminum block for heat dissipation, which has a communication hole through which cooling water flows. It should be noted that the present invention is not limited to the above-described configuration, and various modifications can be made. For example, a large heat sink may be provided instead of the heat radiating aluminum block. Also, heat transfer silicon sheet 5
A thin lead plate may be sandwiched in place of g and 5f to improve heat conduction.

このような構成からなる本考案の実施例において、上記
ペルチェ素子5dに電流を流すとペルチェ素子5dの冷却面
(第2図の上側)が冷却され、該冷却面に接している冷
却用アルミニウムブロック5cが冷却される。また、ペル
チェ素子5dの冷却面(第2図の上側)が冷却されると同
時にペルチェ素子5dの放熱面(第2図の下側)が熱くな
り、該放熱面に放熱用アルミニウムブロック5hが接触し
ているため、ペルチェ素子5dの熱負荷が小さくなり冷却
用アルミニウムブロック5cが更に冷却される。このよう
にして冷却用アルミニウムブロック5cが十分に冷却さ
れ、該冷却用アルミニウムブロック5cに接触している伝
熱用シリコンシート5gが冷却され究極的にスプレーチャ
ンバー本体5aが冷却されるようになる。一方、プラズマ
トーチ1の外室1bと最外室1cにはガス調節器2を介して
アルゴンガス供給源3からアルゴンガスが供給されてい
る。また、試料槽4内の試料はネブライザ4′で霧化さ
れてのちアルゴンガスによってスプレーチャンバー5
(詳しくはガラス製スプレーチャンバー本体5a)内に搬
送され、上述のようなペルチェ素子5dの冷却効果によっ
てスプレーチャンバー本体5a内で冷却されるようになっ
ている。また、このようにして冷却された試料は、再び
アルゴンガスによってスプレーチャンバー5(詳しくは
スプレーチャンバー本体5a)の出口を通ってプラズマト
ーチ1の内室1aへと搬入される。プラズマトーチ1に巻
回された高周波誘導コイル6には高周波電源10によって
高周波電流が流され、該コイル6の周囲に高周波磁界
(図示せず)が形成されている。この状態で上記高周波
磁界の近傍でアルゴンガス中に電子かイオンが植え付け
られると、該高周波磁界の作用によって瞬時に高周波誘
導結合プラズマ7が生ずる。また、ノズル8とスキマー
9に挟まれたフォアチャンバー本体11内は、真空ポンプ
12によって例えば1Torr.に吸引されている。更に、セン
ターチャンバー13内には中心軸上に光の進入を阻止する
小円板14aと該小円板と一定距離を保つように配置され
たイオンレンズ14b,14cが設けられると共に、該センタ
ーチャンバー13の内部は第1油拡散ポンプ15によって例
えば10-4Torr.に吸引され、マスフィルタ(例えば四重
極マスフィルタ)16を収容しているリアチャンバー17内
は第2油拡散ポンプ18によって例えば10-5Torr.に吸引
されている。プラズマ7内のイオンは、ノズル8やスキ
マー9を経由してのち例えば小円板14aとイオンレンズ1
4b,14c(若しくはダブレット四重極レンズ)の間を通っ
て収束されてのちマスフィルタ16を通り二次電子増倍管
19に導かれて検出され、該検出信号が信号処理部20に送
出されて演算・処理されることによって前記試料中の被
測定元素分析値が求められる。
In the embodiment of the present invention having such a configuration, when a current is applied to the Peltier element 5d, the cooling surface (upper side in FIG. 2) of the Peltier element 5d is cooled and the aluminum block for cooling is in contact with the cooling surface. 5c is cooled. Further, the cooling surface (upper side in FIG. 2) of the Peltier element 5d is cooled, and at the same time, the heat radiating surface (lower side in FIG. 2) of the Peltier element 5d becomes hot, and the heat radiating aluminum block 5h comes into contact with the heat radiating surface. Therefore, the heat load on the Peltier element 5d is reduced, and the cooling aluminum block 5c is further cooled. In this way, the cooling aluminum block 5c is sufficiently cooled, the heat transfer silicon sheet 5g in contact with the cooling aluminum block 5c is cooled, and finally the spray chamber body 5a is cooled. On the other hand, argon gas is supplied from the argon gas supply source 3 to the outer chamber 1b and the outermost chamber 1c of the plasma torch 1 via the gas regulator 2. In addition, the sample in the sample tank 4 is atomized by the nebulizer 4 ', and then is sprayed with the argon gas.
(Specifically, it is transported into the glass spray chamber main body 5a) and cooled in the spray chamber main body 5a by the cooling effect of the Peltier element 5d as described above. The sample cooled in this way is again carried into the inner chamber 1a of the plasma torch 1 through the outlet of the spray chamber 5 (specifically, the spray chamber body 5a) by argon gas. A high-frequency current is applied to the high-frequency induction coil 6 wound around the plasma torch 1 by a high-frequency power source 10, and a high-frequency magnetic field (not shown) is formed around the coil 6. In this state, when electrons or ions are implanted in the argon gas in the vicinity of the high frequency magnetic field, high frequency inductively coupled plasma 7 is instantaneously generated by the action of the high frequency magnetic field. Further, the inside of the fore chamber main body 11 sandwiched between the nozzle 8 and the skimmer 9 is a vacuum pump.
Aspirated by 12 to 1 Torr. Further, in the center chamber 13, there are provided a small disk 14a for blocking the entrance of light on the central axis and ion lenses 14b, 14c arranged so as to maintain a constant distance from the small disk, and the center chamber 13 The inside of 13 is sucked to, for example, 10 −4 Torr. By the first oil diffusion pump 15, and the inside of the rear chamber 17 housing the mass filter (eg, quadrupole mass filter) 16 is, for example, by the second oil diffusion pump 18. Aspirated at 10 -5 Torr. Ions in the plasma 7 pass through the nozzle 8 and the skimmer 9 and then, for example, the small disk 14a and the ion lens 1
Secondary electron multiplier after passing through the space between 4b and 14c (or doublet quadrupole lens) and then passing through the mass filter 16.
By being guided to 19 and detected, the detected signal is sent to the signal processing section 20 for calculation and processing, whereby the measured elemental analysis value in the sample is obtained.

〈考案の効果〉 以上詳しく説明したような本考案の実施例によれば、ス
プレーチャンバー本体と冷却用アルミニウムブロックの
間に伝熱用シリコンシートを密着して設けているため、
スプレーチャンバー本体と冷却用アルミニウムブロック
間の伝熱が改善され、ペルチェ素子によってスプレーチ
ャンバー本体を効率よく冷却することができる。
<Effect of the Invention> According to the embodiment of the present invention as described in detail above, since the heat transfer silicon sheet is provided in close contact between the spray chamber body and the cooling aluminum block,
The heat transfer between the spray chamber body and the aluminum block for cooling is improved, and the spray chamber body can be efficiently cooled by the Peltier element.

また、スプレーチャンバー本体を伝熱用シリコンシート
を介して冷却用アルミニウムブロックで完全に覆ってい
るため、外部から放射や伝導でスプレーチャンバー本体
に伝わる熱を防ぐことができるという利点もある。
Further, since the spray chamber main body is completely covered with the cooling aluminum block via the heat transfer silicon sheet, there is an advantage that heat transmitted to the spray chamber main body by radiation or conduction from the outside can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の要部を示すスプレーチャンバーの分解
構成斜視図であり、第2図は本考案実施例の構成説明
図、第3図は従来例の構成説明図である。 1……プラズマトーチ、3……アルゴンガス供給源、4
……試料槽、4′……ネブライザ 5a……スプレーチャンバー本体、5b,5c……冷却用アル
ミニウムブロック 5d……ペルチェ素子、5f,5g……伝熱用シリコンシー
ト、5h……放熱用アルミニウムブロック 5i……冷却水用の貫通穴、5j……ネジ 7……高周波誘導結合プラズマ、8……ノズル、9……
スキマー、11……フォアチャンバー、13……センターチ
ャンバー、16……マスフィルタ、17……リアチャンバ
ー、20……信号処理部、
FIG. 1 is an exploded perspective view of a spray chamber showing an essential part of the present invention, FIG. 2 is a structural explanatory view of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a structural explanatory view of a conventional example. 1 ... Plasma torch, 3 ... Argon gas supply source, 4
…… Sample tank, 4 ′ …… Nebulizer 5a …… Spray chamber body, 5b, 5c …… Aluminum block for cooling 5d …… Peltier element, 5f, 5g …… Silicon sheet for heat transfer, 5h …… Aluminum block for heat dissipation 5i …… Through hole for cooling water, 5j …… Screw 7 …… High frequency inductively coupled plasma, 8 …… Nozzle, 9 ……
Skimmer, 11 fore chamber, 13 center chamber, 16 mass filter, 17 rear chamber, 20 signal processing unit,

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】ネブライザで霧化した試料をスプレーチャ
ンバーで冷却した後、プラズマトーチに導いて励起し、
励起した被測定試料を質量分析計において質量分析する
高周波誘導結合プラズマ質量分析計において、 前記スプレーチャンバーは、 前記ネブライザから供給された試料を冷却して均一な粒
子からなる試料を得るスプレーチャンバー本体と、 このスプレーチャンバー本体と一方の面が密着して設け
られた伝熱用シリコンシートと、 一方の面が前記伝熱用シリコンシートの他方の面と密着
して設けられた冷却用アルミニウムブロックと、 冷却源であって、前記冷却用アルミニウムブロックの他
方の面に冷却面が接するように設けられたペルチェ素子
と、 このペルチェ素子の冷却面と反対側の放熱面と接触さ
れ、前記ペルチェ素子を冷却する放熱用アルミニウムブ
ロックと、 を備え、前記伝熱用シリコンシートの介在により前記ス
プレーチャンバー本体の冷却効率を高めたことを特徴し
た高周波誘導結合プラズマ質量分析計。
1. A nebulizer atomized sample is cooled in a spray chamber and then introduced into a plasma torch for excitation.
In a high frequency inductively coupled plasma mass spectrometer for performing mass analysis of an excited sample to be measured in a mass spectrometer, the spray chamber is a spray chamber body for cooling the sample supplied from the nebulizer to obtain a sample composed of uniform particles. A heat transfer silicon sheet having one surface in close contact with the spray chamber body, and a cooling aluminum block having one surface in close contact with the other surface of the heat transfer silicon sheet, A Peltier element, which is a cooling source and is provided such that the cooling surface is in contact with the other surface of the cooling aluminum block, and a radiating surface opposite to the cooling surface of the Peltier element is contacted to cool the Peltier element. A heat dissipation aluminum block, and the spray chamber is interposed by the heat transfer silicon sheet. A high-frequency inductively coupled plasma mass spectrometer characterized by improving the cooling efficiency of the bar body.
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