JPH07296011A

JPH07296011A - 記憶情報成形処理方法および装置

Info

Publication number: JPH07296011A
Application number: JP7120374A
Authority: JP
Inventors: Loridon Joel; ジョエル・ロリドン; Jean-Luc Ma; ジャン−リュク・マ; Alain Marini; アラーン・マリアンニ; Michel Latu; ミシェル・ラテュ
Original assignee: Commissariat a lEnergie Atomique CEA
Current assignee: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA
Priority date: 1994-04-22
Filing date: 1995-04-24
Publication date: 1995-11-10
Also published as: CA2147426A1; EP0678814A1; FR2719138B1; FR2719138A1; US5550382A

Abstract

(57)【要約】【目的】受動中性子測定において、パルス間の時間分
布の再構成を実施することにより、中性子複合性の分析
のために製造される物理的モデルの関連の立証およびそ
の測定精度が公知の装置に比して改善される偶然の相関
率の決定を可能にする方法および装置を提供する。【構成】２値情報を圧縮成形し、次いでそれらを遅延
された時間においてまたは時間遅延により再構成しかつ
処理するための方法および装置に関する。本発明は幾つ
かのチヤンネルに受信された情報を一定のサイクルの間
中記録しかつ次いでメモリチヤンネル数により非ゼロ情
報合計を連係することにより２値情報を成形することか
らなる。本発明は次いでサイクル表形状において有効な
情報を符号化することによりそれらを単に再構成するこ
とからなる。各分裂に適用されて、本発明は核分裂によ
り誘起された中性子および他の反応から起こる中性子の
比率を決定するために表の遅延された時間処理からな
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、２値情報を成形し、そ
れらを記憶しかつ次いでそれらを再構成しかつ処理する
方法に関する。本発明はとくに、放射線検出器からの一
連の電気パルスを成形しかつ記憶しそして次に前記パル
スをそれらの考え得る時間相関を決定するためにそれら
を時間遅延により再構成および処理するための方法およ
び装置に関する。

【０００２】本発明は放射性廃棄物中にとくに含有され
る核分裂性材料の特性の分野に使用される。この特性
は、とくに放射性廃棄物パツケージ中に含有される重い
核（核分裂性塊）の性質および量の評価により、それら
の貯蔵のために放射性廃棄物パツケージの分類を可能に
する。

【０００３】

【従来の技術】核分裂材料の特性の分野において、公知
の放射性方法は廃棄物パツケージの非割り込みおよび非
破壊試験または検査を許容する。この核分裂性材料特性
は、例えば、^{2 3 5}Ｕ，^{2 3 8}Ｐｕ，^{2 3 9}Ｐｕ，２４
０Ｐｕ，^{2 4 1}Ｐｕのごときウラニウム元素により構成
される放射性同位元素と関連付けられる中性子および／
またはフオトン放射線の検出を利用する。塊定量化は一
般に同位元素組成（相対的比率）の知見およびこれらの
種々の同位元素の少なくとも１つの活性の測定を必要と
する。

【０００４】ウラニウムおよび超ウラン元素の同位元素
組成を決定するために、前記放射性同位元素の不活性ガ
ンマ線の高エネルギ解像度ガンマ分光測定を使用するこ
とが知られている。これらの放射性同位元素の活性は一
般に能動または受動中性子測定により決定される。

【０００５】受動中性子測定はまた中性子を発生する軽
い元素によりアルフア粒子の自然核分裂および相互作用
からの中性子の検出に基礎を置いている。とくに、それ
らは^{2 3 8}Ｐｕ，^{2 4 0}Ｐｕまたは^{2 4 2}Ｐｕのごとき
プラトニウムの同様な同位元素の寄与の合図を可能にす
る。

【０００６】受動中性子測定において、軽い元素による
アルフア粒子の相互作用から結果として生じる中性子か
ら自然核分裂による中性子を識別するのに関心がある。
一致の分析は中性子の物理的起源の合図を可能にする。
この一致分析は検出器により検出された放射線が同時に
発生されるかまたは異なる時間で放出されるかどうかを
確立することからなる。同時に放出された中性子は同一
の自然核分裂から起こる。しかしながら、異なる時間に
おいて放出された中性子は同一の物理的起源を持たず、
すなわち、それらは同一の核分裂事象から起こらない。

【０００７】かくして、一致分析は、自然核分裂以外の
反応により誘起されかつ放性同位元素に化学的に結合さ
れる軽い元素（例えば、酸化物、窒化物等）によりアル
フア粒子の相互作用から結果として生じる、この場合に
時間相関されかついわゆる「対になつていない」または
相関されないまたは単一の中性子である自然発生核分裂
からの中性子間の識別を可能にする。この一致分析はま
たこれらの同位元素にる各核分裂の間中放出される平均
中性子数の知見に基礎を置いた放射性同位元素の特性を
許容する。

【０００８】能動測定は、次いで核廃棄物の核分裂性材
料含有量（^{2 3 5}Ｕ，^{2 3 9}Ｐｕおよび^{2 4 1}Ｐｕ）を
定量的にかつ或る場合には質的に決定するために分析さ
れる核反応の誘起を可能にする。結果として能動検出装
置は中性子発生器または発生源、一般に誘起される核分
裂を発生する可能性を増加するために中性子のエネルギ
レベルを低下するのに使用される炭化水素および／また
は水素材料により構成される、中性子減速体および中性
子を検出しかつ対応する信号をこれらの信号を測定しか
つ処理するための装置に供給するための検出器からな
る。多くの中性子検出器は熱中性子（例えば、³Ｈｅに
比例した検出器）、自然発生核分裂により放出された中
性子または遅延中性子またはアルフアから起こる中性子
に感応するので、ｎ反応は検出見込みを増大するために
減衰されねばならない。

【０００９】一致分析は中性子発生源（中性子発生器）
または寄生反応から誘起された核分裂および対になつて
いない中性子から起こる相関の中性子の識別を可能にす
る。一致分析はまた、受動中性子測定におけるように、
例えば^{2 3 5}Ｕ，^{2 3 9}Ｐｕ，^{2 4 1}Ｐｕ等の中性子特
性の識別を可能にする。一般に、能動中性子測定の間
中、受動的寄与は誘起された核分裂に比して無視し得
る。一致分析はまた能動背景雑音中の対になつていない
中性子による計算部分の減少を可能にする。質問源が同
位元素型、例えば、一定のステーシヨンを有するＡｍ／
Ｌｉからなるとき、対になつていない、質問機中性子フ
ラツクスは測定時間に関連して一定である。そのうえ、
かかる条件により、一致の捕捉および処理は受動中性子
測定に使用される装置と同一の装置によつて実施され得
る。

【００１０】多数の電子装置が受動中性子測定を行うの
に知られている。キヤンベラ・カンパニーにより販売さ
れたＪＳＲ１２（登録商標）装置は受動中性子測定を実
施する電子装置の１つである。前記ＪＳＲ１２装置は中
性子複合性の分析を可能にするために特殊なモジユール
ＭＳＲ４（登録商標）と連係する。このＭＳＲ４（登録
商標）モジユールは次数２５６（２値符号化における８
ビツトに対応する）まで中性子の複合性を分析する。

【００１１】ＪＳＲ１２（商標）は中性子検出器からの
種々のパルスが、それらの到達順序の関数として、記憶
されるシフトレジスタ手段を有する。これらのシフトレ
ジスタ手段は一連のメモリからなり、その各々はコント
ローラおよび電子クロツクからの指示で、それに先行す
るメモリの状態を記録しかつ前記シフトレジスタ手段の
出力において得られた情報はその結果として「時間シフ
ト」される。加えて、ＪＳＲ１２（登録商標）装置によ
り考慮された核中性子パルスは、予備遅延後、シフトレ
ジスタ手段の存続期間に等しいかまたはそれ以下の存続
期間にわたつてこの中性子パルスに先行した事象の「実
際のおよび偶発的な」メモリ内の蓄積を生じる。加え
て、各中性子パルスは予備遅延より長い時間遅延後、
「偶発的な」メモリ内の相関されない事象の蓄積を生じ
る。

【００１２】上述した計算と平行して、特殊なモジユー
ルＭＳＲ４（登録商標）は必要ならば中性子複合性の分
析を可能にする。

【００１３】しかしながら、かかる装置の性能特性はそ
れを構成する電子要素により制限されかつその作業モー
ドの結果として、一定のパルス率計算作業に適するのみ
である。

【００１４】したがつて、かかる装置はパルスモード、
能動中性子測定に使用され得ない。パルスモードにおけ
る能動中性子測定の原理は高速中性子バーストによる核
分裂性材料痕跡を任意に含有する廃棄物ドラムを照射す
ることからなる。それらがいつたん減衰されると、前記
中性子は一定の寿命を有しそして核分裂性材料痕跡の核
分裂を引き起こすことができる。かくして、中性子フラ
ツクスは無視できない時間減衰を有する。しかしなが
ら、このＪＳＲ１２（登録商標）、ならびに「シフトレ
ジスタ」を組み込んでいるすべての他の装置は偶然の相
関（偶発的な事象により結合される）を評価する一方、
中性子フラツクスはすでに顕著に減少された。

【００１５】

【発明が解決すべき課題】かくして、かかる装置は有効
な相関かつそれゆえ実際の事象の数を過剰評価する欠点
をこうむる。したがつて、かかる装置によればフラツク
ス減衰作用に関連して得られる結果を訂正する必要があ
る。しかしながら、これらの減衰作用は測定セルの設
計、検出ブロツクの設計等のごとく、種々の安定したパ
ラメータから起こるが、またかつとくに特徴付けられる
べき廃棄物材料のドラムの成分の中性子特性から起こ
る。

【００１６】かくして、上述した装置によりパルスモー
ド、能動中性子測定を実施することは非常に困難であ
る。

【００１７】本発明の目的は上述した欠点を回避するこ
とである。このために本発明は、受動中性子測定におい
て、パルス間の時間分布の再構成を実施することによ
り、中性子複合性の分析のために製造される物理的モデ
ルの関連の立証およびその測定精度が公知の装置に比し
て改善される偶然の相関率の決定を可能にする方法およ
び装置を提案する。

【００１８】能動中性子測定において、本発明は誘起さ
れた核分裂から相関されない質問機中性子および相関さ
れた中性子間の識別を許容する。そのうえ、パルスモー
ドにおいて、存在する種々の中性子母集団の高速時間展
開の考慮を可能にする。

【００１９】

【課題を解決するための手段】より詳しくは、本発明
は、中性子検出器によつて検出された信号の記録から生
じる、記憶されるべき２値情報を成形しかつ処理するた
めにこのようにして成形された情報の再構成する記憶さ
れるべき情報の成形および処理方法に関する。この方法
は、ａ）Ｋ個の測定サイクルに対応する合計捕捉時間にわた
つて検出された信号を記録し、各サイクルが捕捉時間が
調整可能であるＮ個のチヤンネルを有し；ｂ）各サイクルに関して、チヤンネルの捕捉時間に対応
するサンプリング時間の間中検出された信号を各入力チ
ヤンネルに蓄積し；ｃ）１つのチヤンネルの捕捉時間に関して、個々の情報
の２値合計をこの方法入力すべてのチヤンネルに形成
し、かつ包括的なデータ項目を構成し；ｄ）各包括的なデータ項目に対応するチヤンネルの数を
割り当て；ｅ）包括的なデータ項目が成形されたデータ項目を形成
するためにゼロでないとき、各チヤンネル数およびそれ
と関連する包括的なデータ項目を記憶し；ｆ）同一方法においてかつＮ個のチヤンネルの一致が発
生するまで、前記サイクルの情報を処理し；ｇ）次のサイクルの記録を行うためにすべてのデータを
再び初期化し、ｈ）情報処理作業が実施されねばならないとき、情報処
理作業に必要な成形されたデータ内に含有された有効な
情報を再構成し；ｉ）前記有効な情報を処理することからなる。

【００２０】好都合には、有効な情報の再構成段階ｇ）
が再構成されるべき成形されたデータを選び、そして各
サイクルに関して、それぞれチヤンネル数および該チヤ
ンネルと関連する包括的なデータ項目からなる２つのコ
ラムを有する表の形で前記成形されたデータを書き込む
ことからなる。

【００２１】本発明の方法によれば、処理段階ｈ）が、
すべてのサイクルに関して、同一時間ヒストグラムにお
いて有効な情報をサイクルに関して年代的に置き換える
ために時間分布表（ＲＤＴ）を構成することからなり、
前記表が次のデータ処理指示、ＲＤＴ_j＝ＲＤＴ_j＋〔Ｃ_i×Ｃ_{( i + j - 1 )}〕から構成され、式中、ｊは有効な情報が年代的に置き換
えられる時間ヒストグラムのチヤンネルでありそしてｉ
は、各サイクルに関して、現行のチヤンネルの数であ
る。

【００２２】この式、ならびに明細書において言及され
る同一の型の他の式は等号がその左方の項が等号の右方
の項の計算の結果を数値で表すことを意味するデータ処
理指示である。

【００２３】有効な情報が現行のチヤンネルに関連する
特別な場合において、以下のデータ処理指示ＲＤＴ_{j = 1}＝ＲＤＴ_{j = 1}＋Ｃ_i×（Ｃ_{i - 1}）／２が使用される。

【００２４】本発明の方法が核分裂に適用されるとき、
２値情報は各分裂事象に関する。この場合に、処理段階
ｈ）は時間相関の中性子の検出を基礎にして、 −時間分布表（ＲＤＴ）のヒストグラムを構成し、 −最小二乗法を使用して、式、ＲＤＴ（ｔ）＝Ａ₁ｅｘｐ（Ｂ₁ｘｔ）＋Ａ₂ｅｘｐ
（−Ｂ₁ｘｔ）＋Ａ₃、式中、Ａ₁およびＢ₁は実際の事象に対する係数、Ａ₂
およびＡ₃は可変の、偶発的な事象に対する係数および
Ａ₃は時間安定の、偶発的な事象に対する係数である、
の係数を決定し、 −これらの係数を基礎にして、実際の事象に対応する区
域Ｒ＝Ａ₁／Ｂ₁を計算することにより実際の事象を決
定することからなる。

【００２５】好都合には、この処理段階ｈ）はまた実際
の事象および偶発的な事象の統計的な分析を基礎にして
一致の計算からなる。

【００２６】本発明の方法によれば、偶発的一致の計算
が、以前に再構成された、合計スペクトルを基礎にし
て、各チヤンネルと関連しかつ次のＧ個のチヤンネルに
入れられる偶発的な事象の合計数を決定することからな
る。

【００２７】実際のおよび偶発的な事象の計算が、各サ
イクルに関してかつ各チヤンネルに関して、処理されて
いるチヤンネルに追随するＧ個のチヤンネルに入れられ
る実際のおよび偶発的な事象の数を決定することからな
る。

【００２８】実際の一致がその場合に実際のおよび偶発
的な事象から前記チヤンネルと連係する偶発的な事象の
各サイクルに関する標準化された値を減算しかつ処理さ
れたすべてのチヤンネルに関してこのようにして得られ
た値を合計することにより各処理チヤンネルに関して得
られる。

【００２９】最後にかつ好都合には、各核分裂（複合
性）の間中放出された中性子の平均数の識別が行われ
る。偶発的な事象に関連してこの複合性の計算はまず、
各チヤンネルに関してかつすべてのサイクルに関して、
Ｇ個の次のチヤンネルに記憶された事象の数を各チヤン
ネルに記録しかつすべてのサイクルに関してかつ前記チ
ヤンネルに関して、前記事象の数が計算された回数を計
算することにより偶発的な事象の分布を決定することか
らなる。第２にそして考慮している計算のために、実際
のかつ偶発的な事象の分布の計算に続いて、対応する偶
発的な事象の分布が特別なレジスタに合計される。

【００３０】本発明の方法によれば、実際のかつ偶発的
な事象の複合性の計算は各チヤンネルに関して、Ｇ個の
次のチヤンネルに入れられる事象の数を計算しかつ事象
の前記数が見出された回数を、特別なレジスタにおい
て、合計することにより行われる。

【００３１】最後に、複合性は実際のかつ偶発的な事象
の記録から１サイクルに関して標準化された偶発的な事
象の記録を減算することにより得られる。

【００３２】本発明はまた記憶されるべき２値情報を成
形しかつ遅延された処理作業のために有効な成形された
情報を再構成する記憶されるべき情報の成形および処理
装置に関し、該装置は、 −一連のサイクルの間中２値情報を同時に受容し得る複
数の入力チヤンネルチヤンネルおよびサンプリングされ
た情報を供給し得る複数の出力チヤンネルからなるサン
プリング回路； −前記サンプリング回路の出力チヤンネルに接続された
複数の入力チヤンネルおよび出力からなる情報成形回路
で、該成形回路が、各サイクルに関して、前記入力チヤ
ンネルに同時に受信されかつ前記出力に包括的なデータ
項目を供給するサンプリングされた情報を記録可能であ
り； −前記成形回路の出力に接続された入力および出力を有
する符号化回路で、該符号化回路が、各包括的なデータ
項目に、これがゼロでない場合に、多数のメモリチヤン
ネルを割り当てかつ出力で成形されたデータ項目を供給
可能であり； −前記符号化回路の出力に接続される入力および成形さ
れたデータフアイリング手段に接続される出力を有する
メモリ； −前記成形されたデータ内に収容される有効な情報を再
構成可能でかつ前記情報を処理するための処理手段； −前記サンプリング回路、前記成形回路、前記符号化回
路、前記メモリおよび前記処理手段間の情報およびデー
タ変換を制御可能な制御回路からなることを特徴とす
る。

【００３３】好都合には、前記装置はパルス発生器によ
り供給される信号からパルスモードへデータの捕捉を許
容する制御回路に接続される同期手段からなる。

【００３４】核分裂事象の分野において実行されると
き、前記装置はまた、 −特徴付けられるべきパツケージへ多数の中性子を供給
可能な電気中性子発生器； −前記パツケージに供給されるべき中性子を熱中性子化
することが可能な測定エンクロージヤ； −前記パツケージに誘起される可能な核分裂から結果と
して生じる中性子放射線を検出することが可能でかつそ
れらを２値情報に変換するための中性子放射線検出手段
からなる。

【００３５】

【実施例】図１において本発明による方法の間中得られ
るおよび／または使用される種々の信号を示す。図１に
示される信号はパルスモード、能動中性子測定に関して
示される。かかる場合において、電気中性子発生器は特
徴付けられるパツケージを高速中性子により照射する。
発生器により放出された中性子は質問機中性子または質
問機フラツクスと呼ばれる。減速剤で減衰した後、これ
らの中性子は核分裂性材料で核分裂反応を生じる。かか
る核分裂反応の数はパツケージ中に収容される核分裂性
材料の量に依存する。

【００３６】検出された種々の中性子は誘起された核分
裂中性子または自然発生核分裂により放出された中性子
または単一中性子としてまた知られる対になつていない
中性子であることができる。かくして、目標は一方で自
然発生および誘起された核分裂中性子の量をかつ他方で
対になつていない中性子の量を決定することである。対
になつていない中性子は妨害反応（解釈の観点から）、
すなわち核分裂現象以外の寄生反応から起こり得る。対
になつていない中性子はまた中性子発生器により放出さ
れた質問機中性子である。

【００３７】本明細書の残部において、誘起された核分
裂または自然発生核分裂による現象はまた観察が望まれ
る現象に対応する「実際の事象Ｒ」と呼ばれる。しかし
ながら、妨害反応から生じる現象は「偶発的な事象Ａ」
と呼ばれる。得られるすべての現象は「実際のおよび偶
発的な事象Ｒ＋Ａ」を構成する。

【００３８】より詳しくは、目標は中性子検出器により
遮蔽される中性子が核分裂現象から起こるか起こらない
かを決定することである。遮蔽された中性子が同一の核
分裂から起こるかどうかを知るために、前記中性子が時
間相関されるかまたはされないかが確立される。かくし
て、時間相関された中性子が同一事象、すなわち同一核
分裂から起こり、これに反して相関されない中性子が種
々の反応から起こりかつ同一の核分裂事象から起こらな
い。

【００３９】図１（ａ）は電気発生器により供給されか
つ横座標で時間をかつ縦座標で同期信号の電圧によりサ
イクルの存続時間の決定を可能にする同期信号を示す。
時間信号Ｔ_iは本発明によるサイクルの存続時間を示
す。

【００４０】図１（ｂ）は中性子が電気発生器により発
生されるため速い、質問機中性子フラツクス、すなわち
相関されない中性子フラツクスを示す。図２において横
座標で時間がかつ縦座標でストロークの数、すなわちサ
ンプリング時間中に受容される高速中性子の数が示され
る。

【００４１】図１（ｃ）は電気発生器からのかつ測定セ
ルにおいて減衰された、熱中性子フラツクス、すなわち
物理的に相関された中性子を示す。図において時間は横
座標でかつストロークの数は縦座標でプロツトされる。

【００４２】図１（ｄ）は誘起された核分裂から得られ
る即発中性子フラツクスを示す。図において時間は横座
標でかつストロークの数は縦座標でプロツトされる。

【００４３】かくして、図１（ｂ）ないし図１（ｄ）に
おいて、質問機中性子フラツクスにより誘起された核分
裂から生じるそれぞれ高速、熱および即発中性子のフラ
ツクスのサイクルＴ_iの間中の展開を見ることができ
る。

【００４４】図１（ｃ）および図１（ｄ）は中性子検出
器により遮断された中性子のフラツクスがサイクルＴ_i
の終わりにおいて一定の減衰を有することを見ることが
可能で、それは、遮断されるために、中性子が任意に減
衰（後述されるように）された事実により説明される。

【００４５】図１（ｅ）は中性子検出器により遮断され
た中性子の合計カウントに関して得られる曲線を示す。
横座標でメモリのチヤンネルがかつ縦座標でストローク
の数がプロツトされる。曲線は中性子検出器、誘起され
た核分裂および考え得る妨害反応からの合計中性子スペ
クトルを示す。図において、陰影を付けた区域は一方で
同一の誘起された核分裂の間に放出されかつ実際の事象
を構成する中性子にかつ他方で異なる起源（アルフア、
軽い元素によるＮ反応または質問機の質問機中性子）の
かつ偶発的な事象を構成する中性子に対応する有効な信
号を示す。

【００４６】有効な信号内で本発明は実際の事象Ｒの部
分および偶発的な事象Ａの部分の識別を可能にする。

【００４７】本発明による方法は幾つかの主要段階、す
なわち記憶されるべき２値情報を成形する段階、成形さ
れた情報を再構成しかつ分析する段階および成形分解
（デコンパクテイング）の情報を処理する段階を包含す
る。

【００４８】いままで説明された本発明の好適な実施例
によれば、これらの成形されかつ次いで成形解除された
情報は核分裂事象に関する。これらの２値信号は、デー
タ処理作業において、中性子検出器により供給された電
気パルスを示す。前述のごとく、核分裂性材料元素が質
問機中性子バーストにより照射されるとき、前記材料元
素が核分裂誘起中性子により発生する。中性子検出器は
次いでこれらの誘起された中性子かつまた前記核分裂ま
たはそれと平行する反応から生じる他のすべての中性子
を遮蔽する。この中性子検出器はまた電気パルスの形で
受信された中性子を文字化することができる。２値情報
の形において符号化されたこれらの電気パルスは最小の
メモリ空間にそれらを記憶するために圧縮成形されねば
ならずかつその場合目標は時間遅延により情報を処理す
るためにそれらを再構成することである。

【００４９】より詳しくは、段階０と呼ばれる、２値情
報成形段階は、 −サンプリング時間中、複数の入力チヤンネルで、連続
または同時の方法において、検出された信号を受信し； −これらのサンプリング時間の各々に関して、幾つかの
入力チヤンネルで同時に、ならびにチヤンネルの各々で
連続して受信される信号の２値合計を形成し； −チヤンネルＴ_iの存続時間に関して、受信された前記
情報の数を記録し、この数が包括的なデータ項目Ｃ_iを
構成し； −これらの包括的なデータ項目Ｃ_iの各々に対応するチ
ヤンネルＮ_iの数を割り当てることからなる。

【００５０】包括的なデータ項目Ｃ_iがゼロでないなら
ば、チヤンネル数Ｎ_iおよびこのチヤンネル数と連係す
る包括的なデータ項目Ｃ_iにより構成される各グループ
が次いで成形されかつフアイルされる。反対の場合にお
いて、すなわち包括的なデータ項目Ｃ_iがゼロでかつ結
果として有効な情報を持たないならば、包括的なデータ
項目Ｃ_iは記憶されない。

【００５１】前述されたように、本発明による方法はそ
の場合に成形された情報を処理可能にするためにそれら
を再構成することからなる。かくして、この方法は、有
効な情報のみが成形されかつ成形解除されることを保証
するため、顕著なレベルのメモリ空間利得、ならびに時
間利得となる。また、質問機パルス間で利用し得る時間
が非常に短いため、パルス型能動測定に関して非常に有
効な伝送時間利得となる。

【００５２】処理されるべきフアイル（処理されるべき
成形されたデータ項目Ｃ_iを有するフアイル）はメモリ
に負荷される。２値形状においてフアイルされる包括的
なデータ項目は、次いで表ＣＹＣ_kの形に変換される。
各表ＣＹＣ_kは測定のサイクルを記載しかつ第１のコラ
ムにチヤンネルの数Ｎ_iおよび第２のコラムに包括的な
データ項目Ｃ_iを有する。フアイルされたサイクルの合
計数ｋが計算される。これらの表ＣＹＣ_kが再構成され
たとき、包括的なデータ項目Ｃ_iが処理され得る。

【００５３】この包括的なデータ項目の処理は、各サイ
クルの表ＣＹＣ_kに関して、段階２において、装置の入
力チヤンネルでのそれらの到達の年代的順序において同
一のサイクルの有効な情報の置き換えを許容する時間分
布表ＲＤＴを再構成することからなる。この段階におい
てかつ各時間サイクルｋ（ｋは１からＫに変化する）に
関して表ＲＤＴ_jが再構成される（ｊは１からＫに変化
する）。この表は、式Ｅ１：ＲＤＴ_j＝ＲＤＴ_j＋〔Ｃ_i×
Ｃ_{( i + j - 1 )}〕式中、ｉは処理されているチヤンネルを示しかつｊは、
ゼロ内容チヤンネルを考慮する、次のすべてのチヤンネ
ルを示す、を基礎にして、分析開始チヤンネルＤＥＢと
分析終了チヤンネルＦＩＮとの間の各現行のチヤンネル
Ｉに関して決定される。

【００５４】ｊ＝ｉの特別な場合において、表ＲＤＴ₁
は式、Ｅ２：ＲＤＴ₁＝ＲＤＴ₁＋Ｃ_i×（Ｃ_i−１）／２から計算される。

【００５５】ＲＤＴ処理はまた擬似周期および実際の事
象の計算に関する段階３からなる。最終サイクル表ＣＹ
Ｃ_kの分析が終了されるとき、表ＲＤＴ_jは考え得る表
示のためにフアイルされる。最小二乗法により式、Ｅ３：ＲＤＴ（ｔ）＝Ａ１ｅｘｐ（Ｂ１ｘｔ）＋Ａ２ｅ
ｘｐ（−Ｂ２ｘｔ）＋Ａ₃ のＡ１，Ｂ１，Ａ２，Ｂ２およびＡ３を決定することが
可能である。式中、係数Ａ１およびＢ１は相関された母
集団、すなわち同一の核分裂事象から起こる相関された
中性子に関する。係数Ａ２およびＢ２は誘起された核分
裂事象以外の事象から起こる可変の相関されない中性子
に関する。係数Ａ３は時間安定事象に関する。

【００５６】これらの係数の決定はヒストグラム上で、
実際の一致に、すなわち誘起された核分裂から結果とし
て生じる実際の事象に対応する区域の知見を可能にす
る。実際の事象Ｒのこの区域は比Ａ１／Ｂ１に等しい。
この区域はストロークでまたはストローク／秒において
表され得る。また、基準発生器放出に関して標準化され
た形状において表され得る。

【００５７】より詳しくは図２の作用図を参照すること
ができ、図２は、 −図２のブロツク１００で示される有効な情報を再構成
する段階１； −ブロツク２００により示される時間分布表ＲＤＴの再
構成のための段階２； −ブロツク３００により示される擬似周期および実際の
事象の計算の段階３によるＲＤＴ処理の全体的概念を有
する。

【００５８】有効な情報再構成ブロツクはＣＹＣ_k表お
よびチヤンネルの数Ｎ_iおよびそれらの内容Ｃ_iの復号
副段階を示すサブブロツク１１０からなる。この副段階
はまた実施されるべき処理用の有効なパラメータを捕捉
することからなり、前記パラメータは、例えば、サイク
ル時間Ｔ_i、開始チヤンネルＤＥＢの数、分析終了チヤ
ンネルＦＩＮの数、再構成されるべきチヤンネルの数等
である。

【００５９】有効な情報再構成ブロツク１００はまた時
間分布表ＲＤＴ_iの初期化段階を示すサブブロツク１２
０からなる。この初期化は１からＩのｊのすべてに関し
て、Ｉが再構成されるべきチヤンネルの数であるとき、
表ＲＤＴ_jのすべてのラインをゼロにすることからな
る。

【００６０】ＲＤＴ表構成ブロツク２００は現行のサイ
クルｋと連係するＣＹＣ_kサイクル表を負荷するための
サブブロツク２１０からなる。該サブブロツク２２０は
現行チヤンネルｉ〜１の初期化副段階を示す。サブブロ
ツク２３０において試験は現行のチヤンネルＮ_iの数に
ついて実施される。この試験は現行のチヤンネルＮ_iが
分析開始チヤンネルＤＥＢの数超えるかどうかおよびそ
れがＩ−１チヤンネルがそれから減算された分析終了チ
ヤンネルＦＩＮの数以下であるかどうかを立証すること
からなる。かくして、この試験は式、Ｎ_i＞ＤＥＢおよびＮ_i＜（ＦＩＮ−Ｉ＋１）を立証することからなる。

【００６１】以下のサブブロツク２５０において、次の
チヤンネルの値ｋが１に初期化される。この段階は成形
されたデータＮ_iおよびＣ_iからゼロ包括的データ項目
Ｃ_iに対応するフアイルされないデータの回復を可能に
する。サブブロツク２６０は処理されるべき次のチヤン
ネル数の値についての試験でありかつＮ_{i + k}−Ｎ_{< I - 1'} かどうかを立証することからなり、式中、_Iは再構成さ
れるべき合計チヤンネル数である。試験が否定である場
合に、処理されている次のチヤンネルｋは分析力学およ
びマークの外部で現行のチヤンネルｉ用のヒストグラム
の再構成の終了である。方法は次いでサブブロツク２９
０に通る。

【００６２】サブブロツク２７０はチヤンネルＮ_{i + k}
−Ｎ_iに関してＲＤＴ値を決定する副段階を示す。この
ＲＤＴ値は式、Ｅ１：ＲＤＴ_{j = N i + k - N i} ＝ＲＤＴ_{j = N i + k - N i}＋（Ｃ_i×Ｃ_{i + K}）により決定される。

【００６３】サブブロツク２８０において１による増分
が処理されるべき次のチヤンネルｋの値について行われ
る。処理は次いで再びブロツク２６０で処理される。

【００６４】サブブロツク２９０は処理作業がそのため
に実施されねばならない少なくとも１つの他の現行チヤ
ンネルｉの存在についての試験である。すでに処理され
たチヤンネル以外のチヤンネルｉがあるならば、処理
は、ｉが１に初期化される場合に、ブロツク２２０で処
理される。

【００６５】サブブロツク２９５、ＲＤＴ表構成段階２
の最終副段階は他のＣＹＣ_kサイクル表が処理されねば
ならないかどうかを立証する試験である。少なくとも他
のＣＹＣ_kサイクル表が処理されねばならないならば、
本方法はＣＹＣ_kで負荷サブブロツク２１０を再び始め
る。反対の場合に、擬似周期および実際の事象を計算す
る段階３を開始することができる。

【００６６】ブロツク３００により示される、この段階
３はＲＤＴ_i表を記憶（サブブロツク３１０）する副段
階を包含する。サブブロツク３２０は式、Ｅ３：ＲＤＴ（ｔ）＝Ａ１ｅｘｐ（−Ｂ１ｘｔ）＋Ａ２
ｅｘｐ（−Ｂ２ｘｔ）＋Ａ３の係数Ａ１，Ｂ１，Ａ２，Ｂ２およびＡ３を計算する副
段階を示す。

【００６７】サブブロツク３３０において区域Ｒの計算
は核分裂の実際の事象に対応しかつ式、Ｒ＝Ａ１／Ｂ１を基礎にして計算される。

【００６８】最後に、ＲＤＴ処理は以前に計算された区
域Ｒを記憶する副段階（サブブロツク３４０）により完
了される。

【００６９】図３は、同様にＲ＋Ａ処理と呼ばれる、一
致の統計的分析および複合性の決定を許容する処理の作
用図である。このＲ＋Ａ処理は事象の実際のおよび偶発
的な寄与を決定することからなる。言い換えれば、それ
は相関されない中性子の量に関連して相関された中性子
の量を決定することからなる。したがつて、相関された
中性子に関して実際の寄与がかつ相関されたな中性子に
関して偶発的な寄与が言及される。

【００７０】図３は複合性分析を許容するすべての段階
を示す。各段階は図４、図５および図１６より詳細に説
明される。

【００７１】ＲＤＴ処理と同様に、前記Ｒ＋Ａ処理は有
効な情報再構成段階１を有する。それゆえこの段階はこ
こでは再び説明されない。しかしながら、それはこの方
法に特別な分析パラメータ、とくに一致分析存続期間Ｇ
を捕捉することからなる。

【００７２】Ｒ＋Ａ処理は次いで合計スペクトル計算段
階４からなる。各チヤンネルｉに関して、前記段階４は
ｋ個のサイクルすべてに関して決定することからなり、
合計スペクトルＳＯＭ_iは一方で合計カウントの実施を
可能にしそして他方で偶発的な事象Ａ、すなわち相関さ
れない中性子の数の計算を容易にする。

【００７３】この段階４は図３および図４においてブロ
ツク４００で示される。合計スペクトル計算段階４は６
個の副段階、すなわち、 −サブブロツク４１０により示されかつ現行のＣＹＣ_k
サイクル表を負荷することからなる副段階； −チヤンネルｉないし１を初期化することからなる副段
階（サブブロツク４２０）； −チヤンネル数Ｎ_iの試験からなるサブブロツク４３０
により示される副段階、該試験はチヤンネル数Ｎ_iが分
析開始チヤンネルＤＥＢを超えるかどうかおよび前記チ
ヤンネル数Ｎ_iが分析終了チヤンネルＦＩＮ以下である
かどうかを立証するために求め、その結果前記副段階は
式、Ｎ_i＞ＤＥＢおよびＮ_i＜ＦＩＮを証明することからなり； −中性子検出器により受信されるすべての中性子の合計
スペクトルである式、ＳＯＭ_{( N i )}を計算する副段
階、前記スペクトルは式、ＳＯＭ_{( N i )}＝ＳＯＭ_{( N i )}＋Ｃ_i によつて計算され； −サブブロツク４５０により示される、次の副段階は、
少なくとも１つの他のチヤンネルｉが処理されねばなら
ないかどうかかつこれが処理がサブブロツク４３０で再
び始まる場合であるかどうかを確立するための試験から
からなり、それに対して反対の場合に、すなわち方法チ
ヤンネルが処理されるべき最後のチヤンネルであつたな
らば、１つがブロツク４６０に通るを有する。

【００７４】ブロツク４６０において、他のＣＹＣ_kサ
イクル表が処理されるべきかどうかおよびこれが処理が
ＣＹＣ_k負荷ブロツク４１０で再び始まるかどうかであ
るが反対の場合に合計複合性スペクトルを計算する段階
５が実施されるかどうかを見るためのチエツクがなされ
る。

【００７５】段階５は、サブブロツク５１０ないし５９
５からなる、ブロツク５００により図３および図４に示
される。サブブロツク５１０はｉがチヤンネルをかつｎ
が複合性順序を示す複合性スペクトルに関するすべての
データからなるフアイルマルタトツト（ｉ，ｎ）の初期
化である。このゼロ初期化はｉからＩに変化するｉ関し
てかつ１からＮに変化するｎに関して以下のごとく実施
される。

【００７６】−サブブロツク５２０は現行のＣＹＣ_kサ
イクル表を負荷する副段階を示しており； −サブブロツク５３０はチヤンネルｉ〜１の初期化であ
り； −サブブロツク５４０はチヤンネルｉに追随するＧ個の
チヤンネルに記録された合計ストローク数を付与する変
数ＴＡＢ（ｊ）の初期化であり、前記ゼロ初期化は１か
らＩに変化するｊに関して行われ； −サブブロツク５５０はチヤンネル数Ｎ_iが分析時間で
あるＧを加えた分析開始チヤンネルＤＥＢを超えるかど
うかおよびＮ_iが分析終了チヤンネル以下であるかどう
かを立証することからなり、その結果この試験は式、Ｎ_i＞ＤＥＢ＋ＧおよびＮ_i＜ＦＩＮを証明し； −サブブロツク５６０はチヤンネルｉに追随するＧ個の
チヤンネル中のストロークＴＡＢ（Ｎ_i）の合計を計算
することからなり； −サブブロツク５７０は同一サイクルについて処理され
るべき他のチヤンネルｉがあるかどうかを立証する試験
でありそしてこれがそうであるならば処理は試験Ｎ_iの
サブブロツク５５０において再び始まり、それに反して
反対の場合には処理は更新されるサブブロツク５８０に
おいて、前記サイクルに関して、合計複合性スペクトル
に対してデータのフアイルを継続する。

【００７７】この更新は、１ユニツトだけ値Ｍｕｌｔａ
ｔｏｔ（ｉ，ｎ）を、ｎ＝ＴＡＢ（ｉ）と認められた各
複合性に関して増分することによりサブブロツク５９０
において実施される。すなわち、 −サブブロツク５９５はすべてのＣＹＣ_kサイクル表が
処理されたかどうかを立証する試験であり、そしてその
場合でないならば、処理がサイクル表負荷サブブロツク
５２０において再び行われるが、そうである場合には処
理がＲ＋Ａ計算段階６により継続される。

【００７８】Ｒ＋Ａ計算段階６は実際のおよび偶発的な
事象の数を評価することからなる。この段階６は図３お
よび図５においてブロツク６００により示されそして、
−第１副段階（サブブロツク６１０）はＲ＋Ａが偶発的
なかつ実際の事象の数であるパラメータＲ＋Ａ，Ａ，Ｍ
ＵＬＴＲＡ_n，ＭＵＬＴＡ_nを初期化することからな
り、Ａは偶発的な事象の数であり、ＭＵＬＴＲＡ_nおよ
びＭＵＬＴＡ_nはＲ＋ＡおよびＡのそれぞれの複合性フ
アイルであり； −サブブロツク６２０は現行のＣＹＣ_kサイクル表負荷
副段階を示し； −サブブロツク６３０において、現行の表ｉが１に初期
化され； −サブブロツク６４０はチヤンネルｉの数Ｎ_iが分析開
始チヤンネルに等しいかまたはそれより大きくそして厳
密に言えばそれからＧ−１が差し引かれる分析終了チヤ
ンネル数以下であるかどうかを立証することからなり； −ブロツク６５０により示される副段階がカウンタＳ_i
をゼロに初期化し； −サブブロツク６６０は現行のチヤンネルｉに追随する
分析時間Ｇにおいて記録されたパルス数の計算および１
からＧ−１に変化するｊに関してＳ_iの前記副段階の計
算を示し、Ｎ_{i + j}−Ｎ_iの場合において厳密にＧ以下
であるならば、前記計算は式、Ｓ_i＝Ｓ_i＋Ｃ_{i + j} を基礎にして行われる。

【００７９】サブブロツク６７０および６８０は次式、Ｅ４：ｒ＋ａ_i＝Ｃ_i×〔（Ｃ_i−１）／２＋Ｓ_i〕およびＥ５：Ｒ＋Ａ＝Ｒ＋Ａ＋ｒ＋ａ_i を基礎にして実際のかつ偶発的な事象の合計数を、チヤ
ンネル数Ｎ_iに関して決定することからなる副段階を示
す。

【００８０】Ｒ＋Ａ処理方法はまた実際のかつ偶発的な
事象Ｒ＋Ａの多極次数を復号する段階７を包含する。こ
の復号は、チヤンネルＮ_iに関して、対応する複合性記
録を増分することにより得られる。図３および図５にブ
ロツク７００で示されるこの段階７は、複合性次数ｎが
ｒ＋ａ_iに等しくされる場合に、サブブロツク７１０か
らなる。この段階７はまたサブブロツク７２０に関連し
かつ合計複合性フアイルＭＵＬＴＲＡ（ｎ）を１だけ増
分することからなる。

【００８１】Ｒ＋Ａ処理は第８段階、すなわち偶発的な
事象を計算する段階８を包含する。段階８は図３および
図６においてブロツク８００で示される。チヤンネルＮ
_iに関してかつすべての利用し得るサイクルに関して、
計算はチヤンネル数Ｎ_iを基礎にしてかつＧ個のチヤン
ネルの分析時間に関して記録された事象の合計について
行われる。この合計は１式に基づいて計算される。

【００８２】

【数１】

【００８３】かくして、ａ_iの計算はチヤンネル数Ｎ_i
に関する偶発的な事象を示す。

【００８４】サブブロツク８２０は予め定めた数ａ_iだ
け偶発的な事象Ａの合計数を増分することからなる。

【００８５】Ｒ＋Ａ処理はまた偶発的な事象の複合性を
復号する段階９からなる。したがつて、処理されている
チヤンネル数Ｎ_iに関して、偶発的な複合性はフアイル
ＭＵＬＴＡＴＯＴ（Ｎ_i，ｎ）から計算される。かくし
て、段階９はＭＵＬＴＡＴＯＴ（Ｎ_i，ｎ）フアイルに
よりＭＵＬＴＡ_nを増分することからなる。サブブロツ
ク９２０はチヤンネルｉすべてが処理されたかどうかを
立証するための試験である。その場合には処理はチヤン
ネルｉに関して初期化サブブロツク６３０において再び
行われる。その場合には処理はサブブロツク９３０で継
続する。

【００８６】サブブロツク９３０はすべてのＣＹＣ_kサ
イクル表が処理されたかどうかを立証するための試験で
ある。そうでない場合には、処理はＣＹＣ_kサイクル表
負荷サブブロツク６２０において再び始まる。そうであ
る場合には処理は段階１０により継続する。

【００８７】Ｒ＋Ａ処理は分析結果を編集しおよび／ま
たはフアイルする段階１０により継続することができ
る。したがつて、すべてのＣＹＣ_kサイクル表を処理し
た後、実際の事象の計算は合計のサイクル数から標準化
された偶発的な事象を減算することにより得られる。図
３および図６においてブロツク９５０により示されるこ
の段階１０は式、Ｅ７：Ｒ＝Ｒ＋Ａ−１／ＣＹＣ×Ａを基礎にして実際の事象Ｒの数を決定する副段階（サブ
ブロツク９５１）からなる。

【００８８】各複合性次数ｎに関して、実際の事象（副
段階９５３）の部分が次いで式、Ｅ８：ＭＵＬＴＲ_n＝ＭＵＬＴＲＡ_n−１／ＣＹＣ_k×
ＭＵＬＴＡ_n によつて計算される。

【００８９】サブブロツク９５５は基準発生器による放
出に関して標準化段階を示す。サブブロツク９５７はス
トロークにおいて、またはストローク／秒において得ら
れたけっかのフアイルおよび編集を示す。

【００９０】図８は上述した方法を実施するための装置
１を示す。この装置はまたサンプリング回路２として知
られる入力回路からなる。このサンプリング回路２はこ
の回路に幾つかの２値情報または電気パルスを同時に受
信させ得る複数の入力チヤンネルｅ２（好適な実施例に
おいては１２個のチヤンネル）を有する。このサンプリ
ング回路２は周波数Ｆ（例えば、およそ１０ＭＨｚ）に
より、入力Ｅ２の状態をサンプリングするのサンプリ
ングは付与されたチヤンネル存続時間（１ないし９９９
μｓ）実施される。

【００９１】このサンプリングの結果はアクセスチヤン
ネルＥ４により成形回路４に伝送される。したがつて、
サンプリング回路２は１／Ｆの同一チヤンネルに連続し
て到達する２つのパルス間の時間解像度により成形回路
４に情報を伝送する利点を有する。

【００９２】この成形回路４は、各チヤンネルに関し
て、入力チヤンネルＥ２に同時に受信されたサンプリン
グされた情報を記録するための電子手段を有する。この
成形回路４の機能は実質上計量体の作用と同じである。
この回路４は、コントローラ１０（後述されるような）
の命令に関してかつチヤンネルの存続時間に対応する検
査時間Ｔ_iに関して、種々の入力チヤンネルＥ４のそれ
に伝送されたサンプリングを積分する。したがつて、例
えば、種々のチヤンネルに同時に存在する２つのパルス
が記録（２値合計）される。検査時間Ｔ_i（チヤンネル
の存続時間）の終わりにおいて、成形回路４は符号化器
６にこのようにして計算されたストロークＣ_iの合計を
伝送する。指摘されることは、ストロークが各サンプリ
ングに関して計算機されたパルスの数であるということ
である。

【００９３】この成形回路４の利点は該回路がサンプリ
ング回路２と連係するとき一致分析の間中存在する待ち
時間のかなりの減少を許容するということである。回路
４はどのような計算損失もなしにおよそ１０⁶の計算率
の獲得を可能にする。

【００９４】成形回路４により計算されたストロークＣ
_iの合計は包括的なデータ項目を構成する。各包括的な
データ項目は符号化回路６に接続Ｅ６により伝送され
る。符号化回路６の作用は現行のチヤンネルＮ_iの数を
発生することである。

【００９５】チヤンネルの数１０２４を有する本発明に
よる装置の好適な実施例に関して、回路６はＮ＝１から
Ｎ＝１０２４の現行のチヤンネル数を発生する。

【００９６】現行チヤンネルＮ_iに関して、符号化回路
６は伝送された値Ｃを試験する。この値が厳密にゼロを
超えるならば、回路６はバツフア記憶装置８にチヤンネ
ルの数Ｎ_iおよびその内容Ｃ_iを示す符号化された言葉
（例えば１６ビツトの）を伝送する。この符号化された
言葉は「成形されたデータ項目」と呼ばれる。包括的な
データ項目Ｃ_iがゼロである場合に、符号化回路６は現
行のチヤンネルを増分する。最終チヤンネル（提案され
た例に関して１０２４）の処理の間中、その考え得る符
号化後、回路６はサイクルの存続時間の終わりを表す特
殊な文字を編集する。

【００９７】かかる符号化回路６は記憶されるべき情報
の大きさに厳密に必要であるものへの減少を可能にし、
その結果有効な情報（その内容がゼロでない）のみが符
号化される。

【００９８】本発明による装置はまた得ようとされる計
算率にしたがつて寸法付けられるバツフア記憶装置８を
組み込む。この記憶装置８はコントローラ１０により制
御されかつ該コントローラ１０への記憶された情報の連
続伝送を許容する。コントローラ１０の命令で符号化回
路６からのデータがバツフア記憶装置８に記憶される
か、または記憶装置８に記憶されたデータが例えばＰＣ
型マイクロコンピユータに、ＦＩＦＯ（フアースト・イ
ン・フアースト・アウト）伝送原理にしたがつてインタ
ーフエイスバツフア１６を介して伝送される。

【００９９】コントローラ１０の作用はマイクロコンピ
ユータ（図面には示されない）により対話することであ
る。それはまた上述した方法に使用される測定パラメー
タを制御しかつまた本発明による装置１を構成する種々
の回路を制御する。

【０１００】パラメータ化段階の間中、コントローラ１
０は同期遅延の存続時間、チヤンネル当たりの存続時間
Ｔ_i、交換速度、ＣＹＣ測定サイクルの合計数等のごと
き種々の設定を読みかつそれらを種々の対応する回路に
伝送する一方それらを初期化する。

【０１０１】測定段階の間中、コントローラ１０は同期
信号の出現を待ちかつ測定サイクルＣＹＣの数を減分
し、一方成形回路、符号化回路およびバツフア記憶装置
の作動を有効にする。

【０１０２】コントローラの作用が同期がコントローラ
１０の外部で同期回路１４から起こる場合において説明
されたことは自明である。しかしながら、幾つかの場合
には、同期は内部で、すなわち同期回路１４なしに供給
されることができかつ事実上実際のコントローラ１０に
より設けられる。

【０１０３】測定サイクルの間中、コントローラ１０は
インターフエイスバス１６を介してバツフア記憶装置８
とコンピユータとの間のデータ伝送を発生する。現行の
サイクルの終わりに、さらに分析されるべきサイクルが
あるならば、コントローラ１０は装置１のすべての回路
を再初期化する。しかしながら、現行のサイクルが終了
されかつ事実上最後のサイクルてあつたとき、コントロ
ーラ１０はコンピユータに引き渡しかつ監視モードに置
かれる。

【０１０４】本発明による装置はまた内部モード同期が
選ばれるとき短絡される同期回路１４を有する。この同
期回路１４はコントローラに測定サイクルおよびそれら
の計算の捕捉の有効を許容する信号を伝送する。

【０１０５】本発明による装置はまた、主電圧を装置他
の回路に供給するための直流電圧に変換する低電圧／主
電源１２からなる。

【０１０６】以前に数回述べられたように、装置はコン
ピユータを過負荷しないために図７に示されないコンピ
ユータを有する。ＰＣ型からなつてもも良いこのコンピ
ユータは測定の間中使用されるフアイルのフアイリング
を許容する。パラメータ化段階の間中、前記コンピユー
タは使用者に次いでコントローラ１０に伝送されるはず
である測定パラメータの獲得を可能にする。測定段階に
おいて、前記コンピユータはデータを変換しかつそれら
をハードデイスクのごとき記憶手段にフアイルするため
にコントローラ１０と対話する。

【０１０７】図８は廃棄物ドラム中に収容された核分裂
性材料を特徴付けるための装置を示す。この特徴付け装
置は図８に関連して説明された本発明による装置に使用
する。この核分裂性材料特徴付け装置はまた、 −検査されるべきドラムの内部を照射するための中性子
バーストを放出する電気中性子発生器１８； −電源２０ａ、低電圧源２０ｃ、制御回路２０ｄおよび
同期装置２０ｂを組み込んでいる発生器１８の電気供給
および制御用手段２０； −減速剤手段（ポリエチレンのような）および発生器１
８により照射された質問機中性子を熱中性子化するため
の反射器手段（グラフアイトのような）を組み込んでい
る測定エンクロージヤ２２； −核分裂により誘起された中性子放射線を検出すること
ができる複数の中性子検出器２４； −カウンタの電源および検出器２４からのパルスの成形
（ＴＴＬ標準）用電子回路２６； −合計計算に供せられる制御／指令コンピユータ２８； −入力において一方で同期装置２０ｄからの同期信号お
よび他方で電源および成形回路２６から到来する種々の
ＴＴＬ信号を受信する計量体３０； −本発明による装置１；および −その作用は図７に関連して説明された、一致測定に供
せられるフアイリングおよび処理コンピユータ３２から
なる。

【０１０８】図８に略示された装置は能動中性子質問原
理を利用する。この原理によれば、高速中性子バースト
は時間ｔにおいて中性子発生器１８により放出される。
物質／中性子相互作用放出子の結果として、これらの中
性子は熱中性子化される。ドラムに多分収容される核分
裂材料はその核分裂を引き起こす熱中性子に曝される。
前記誘起された核分裂から結果として生じる高速中性子
の検出はドラム中に収容される核分裂材料塊を定量する
のに使用される。

【０１０９】図７に示した本発明による装置は誘起され
た核分裂中性子による事象からの質問機中性子による事
象の識別を可能にする。かくして、所望しない雑音の減
少かつしたがつて図８において提案された装置の検出限
界の改善を可能にする。そのうえ、本発明による装置は
核分裂性同位元素の性質（ＵまたはＰｕ）の特徴付け、
ならびにキユリウム同位元素のごとき他の同位元素によ
る考え得る汚染の評価を可能にする。

【０１１０】図９はおよそ１０ｇのウラニウム２３５の
サンプルに関して能動パルス測定に収容されるＲＤＴ構
成例を示す。この曲線がそれにより得られた条件は以下
の通りである。中性子発生器は、１２５Ｈｚの固定周波
数で、１５μｓの間隔において高速中性子バーストを放
出した。それは本発明による計量体および装置１の同期
に使用されるＴＴＬ型同期信号を供給した。

【０１１１】得られた記録は以下の設定、すなわち合計
サイクル数１１２５００、３μｓ／チヤンネルのチヤン
ネル時間および４０μｓの同期時間遅延に対応する。得
られた曲線は２つの指数関数、すなわちその擬似期間が
およそ１７μｓのＴ_{1 / 2}である第１の指数関数曲線お
よび測定セル中の質問機中性子の寿命にしたがつてより
ゆつくり減衰する第２の指数関数曲線の合計の形であ
る。

【０１１２】

【発明の効果】叙上のごとく、本発明は、中性子検出器
からの信号の記録から生じかつ記憶されるべき２値情報
を成形しかつ該成形された情報を処理するためにかくし
て成形された有効な情報を再構成する記憶されるべき情
報の成形および処理方法において、ａ）多数の測定サイクルに対応する合計捕捉時間検出さ
れた信号の記録を行い、各サイクルが調整可能な捕捉時
間を有する多数のチヤンネルからなり、ｂ）各サイクルに関して、チヤンネルの捕捉時間に対応
するサンプリング時間検出された信号を蓄積し、これら
の信号の各々が個々の情報を示し、ｃ）１つのチヤンネルの捕捉時間に関して、これらの個
々の情報の２値合計を形成し、かくして合計された情報
が包括的なデータ項目を構成し、ｄ）各総括的なデータ項目に対応するチヤンネルの数を
割り当て、ｅ）前記包括的なデータ項目が成形されたデータ項目を
形成するためにゼロでないとき、各チヤンネル数、なら
びにそれと関連する包括的なデータ項目を記憶し、ｆ）次のサイクルの記録を行うためにデータ項目の各々
を再び初期化し、ｇ）情報処理作業を行うために、対応する成形されたデ
ータ項目に含まれる有効な情報を再構成し、ｈ）前記有効な情報を処理する構成としたので、受動中
性子測定において、パルス間の時間分布の再構成を実施
することにより、中性子複合性の分析のために製造され
る物理的モデルの関連の立証およびその測定精度が公知
の装置に比して改善される偶然の相関率の決定を可能に
する方法および装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】パルスモードにおける能動中性子測定中に使用
されかつ得られたパルスを示す概略図である。

【図２】事象間の時間分布の再構成処理の作用概略図で
ある。

【図３】実際のおよび偶発的な時間相関の統計的な処理
の作用概略図である。

【図４】図３の概略図のブロツク４００および５００を
フローチヤートでより詳細に示す図である。

【図５】図３の概略図のブロツク６００および７００を
フローチヤートでより詳細に示す図である。

【図６】図３の概略図のブロツク８００，９００および
９５０をフローチヤートでより詳細に示す図である。

【図７】本発明による装置を示す概略図である。

【図８】核分裂に適用される本発明による装置を示す概
略図である。

【図９】能動モードにおいて測定された^{2 3 5}Ｕに関し
て得られた時間分布の再構成の「ＲＤＴ」曲線を示す図
である。

【符号の説明】

１装置２サンプリング回路Ｅ２入力チヤンネル４成形回路６復号器８バツフア記憶装置１０コントローラ１２低電圧／主電源１４同期回路１８電気中性子発生器２２測定エンクロージヤ２４中性子検出器２６電子回路２８制御／指令コンピユータ３０計量体３２フアイリングおよび処理コンピユータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者アラーン・マリアンニフランス国ヴィニョン・エス／ヴェルドン、リュ・ドゥ・ラ・ルージエール 14 (72)発明者ミシェル・ラテュフランス国モントボンノ、アレー・デ・ジャエツ１

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】中性子検出器からの信号を記録して得ら
れる記憶されるべき２値情報を成形しかつ該成形された
情報を処理するためにかくして成形された有効情報を再
構成する記憶情報成形処理方法において、ａ）各サイクルが調整可能な捕捉時間を有する多数のチ
ヤンネル（Ｎ）からなる、多数の測定サイクル（Ｋ）に
対応する合計捕捉時間検出された信号を記録し、ｂ）各サイクルに関して、チヤンネルの捕捉時間に対応
するサンプリング時間検出され、各々が個々の情報を示
す信号を蓄積し、ｃ）１つのチヤンネルの捕捉時間に関して、これらの個
々の情報の２値合計を形成し、合計された情報が包括的
なデータ項目を構成し、ｄ）各総括的なデータ項目に対応するチヤンネルの数
（Ｎｉ）を割り当て、ｅ）前記包括的なデータ項目が成形されたデータ項目を
形成するためにゼロでないとき、各チヤンネル数、なら
びにそれと関連する包括的なデータ項目を記憶し、ｆ）次のサイクルの記録を実行するためにデータ項目の
各々を再び初期化し、ｇ）情報処理操作を実行するために、対応する成形され
たデータ項目に含まれる有効情報を再構成（段階０）
し、ｈ）前記有効情報を処理（段階１ないし１０）する、こ
とを含む記憶情報成形処理方法。
【請求項２】前記有効情報を再構成する段階ｆ）が、
再構成されるべき成形されたデータを選び、そして各サ
イクルに関して、それぞれチヤンネル数（Ｎ_i）および
前記チヤンネルと関連する包括的なデータ項目（Ｃ_i）
を組み込んでいる２つのコラムを有するＣＹＣ表形式で
前記成形されたデータを書き込むことからなり、各表が
サイクルを示すことを特徴とする請求項１に記載の記憶
情報成形処理方法。
【請求項３】前記処理段階ｈ）が、すべてのサイクル
に関して、同一時間ヒストグラムにおいて有効な情報を
各サイクルに関して年代的に置き換えるために時間分布
表（ＲＤＴ）を再構成することからなり、前記表がデー
タ処理命令ＲＤＴ_j＝ＲＤＴ_j＋〔Ｃ_i×Ｃ_{( i + j - 1 )}〕ｉ：処理されているチヤンネルｊ：その内容がゼロであるチヤンネルを考慮する次の全
チヤンネルｉから構成されることを特徴とする請求項２に記載の記憶
情報成形処理方法。
【請求項４】前記第１サイクルに関連する前記有効情
報が、ＲＤＴ₁＝ＲＤＴ₁＋Ｃ_i×（Ｃ_{i - 1}）／２により決定されることを特徴とする請求項３に記載の記
憶情報成形処理方法。
【請求項５】前記２値情報が、核分裂性材料への中性
子の投与から起こる実際のまたは偶発的な核分裂事象に
関連しているものであつて、前記処理段階（８）が、 −時間分布表（ＲＤＴ）のヒストグラムを再構成し、 −最小二乗法によつて、ＲＤＴ（ｔ）＝Ａ₁ｅｘｐ（Ｂ₁ｘｔ）＋Ａ₂ｅｘｐ
（−Ｂ₁ｘｔ）＋Ａ₃、Ａ₁、Ｂ₁：実際の事象に対する係数Ａ₂、Ｂ₂：可変の、偶発的な事象に対する係数Ａ₃：時間安定の、偶発的な事象に対する係数の各係数を決定し、 −これらの係数に基づいて、実際の事象に対応する区域
Ｒ＝Ａ₁／Ｂ₁を計算することにより時間相関の中性子
検出からの実際の事象を決定することからなる請求項１
に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項６】前記２値情報が実際のまたは偶発的であ
る核分裂事象に関連するものであつて、前記処理段階
（Ａ）が実際の事象および偶発的な事象の統計的分析に
基づく一致計算からなることを特徴とする請求項１に記
載の記憶情報成形処理方法。
【請求項７】前記偶発的一致計算が、合計スペクトル
に基づいて、各チヤンネルと関連する偶発的な事象の合
計数を決定することを特徴とする請求項６に記載の記憶
情報成形処理方法。
【請求項８】前記実際のおよび偶発的な事象の計算
が、すべてのサイクルに関して、各サイクルの実際のお
よび偶発的な事象の合計数を決定することからなること
を特徴とする請求項６に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項９】前記実際の一致が、実際のおよび偶発的
な事象の合計数から偶発的な事象の合計数を減算するこ
とにより得られることを特徴とする請求項７若しくは８
に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項１０】各核分裂中、放出される中性子の平均
数を決定することからなり、前記数がすべての測定サイ
クルおよび各チヤンネルに関して決定されることを特徴
とする請求項６に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項１１】各チヤンネルに関してかつ全サイクル
に関して処理されているチヤンネルに追随するチヤンネ
ルＧの記憶された事象の数を記録しかつ全サイクルに関
して前記事象の数が計算された回数を合計することによ
り偶発的な事象の多数のスペクトルを決定することによ
り偶発的な事象の多数の次数の計算からなることを特徴
とする請求項６に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項１２】各チヤンネルに関して、処理されてい
るチヤンネルに追随するチヤンネルＧに記憶された事象
の数の決定によりそしてすべてのサイクルに関して、前
記事象の数が見出された回数を合計することによる実際
の事象の多数の次数の計算からなることを特徴とする請
求項６に記載の記憶情報成形処理方法。
【請求項１３】記憶されるべき２値情報を成形しかつ
遅延された処理操作のために有効な成形された情報を再
構成する記憶情報成形処理装置において、一連のサイクル期間中、２値情報を同時に受容し得る複
数の入力チヤンネル（Ｅ２）およびサンプリングされた
情報を供給し得る複数の出力チヤンネルからなるサンプ
リング回路（２）、前記サンプリング回路の出力チヤンネルに接続された複
数の入力チヤンネル（Ｅ４）および出力からなり、各サ
イクルに関して、前記入力チヤンネルに同時に受信され
かつ前記出力に包括的なデータ項目を供給するサンプリ
ングされた情報が記録可能である情報成形回路（４）、前記成形回路の出力に接続された入力（Ｅ６）および出
力を有し、各包括的なデータ項目（Ｃ₁）に、これがゼ
ロでない場合に、多数のメモリチヤンネル（Ｎ_i）を割
り当てかつ出力で成形されたデータ項目を供給可能な符
号化回路（６）、前記符号化回路の出力に接続される入力および成形され
たデータフアイリング手段を有するメモリ（８）、前記成形されたデータ内に収容される有効な情報を再構
成可能でかつ前記情報を処理するための処理手段（３
２）、前記サンプリング回路、前記成形回路、前記符号化回
路、前記メモリおよび前記処理手段間の情報およびデー
タ変換を制御可能な制御回路（１０）、からなることを
特徴とする記憶情報成形処理装置。
【請求項１４】パルス発生器により供給される信号か
らパルスモードへデータの捕捉を許容する前記制御回路
に接続される同期手段（１４）を有することを特徴とす
る請求項１３に記載の記憶情報成形処理装置。
【請求項１５】さらに、特徴付けられるべきパツケージへ多数の中性子を供給可
能な電気中性子発生器（１８）、前記パツケージに供給されるべき中性子を熱中性子化す
ることが可能な測定エンクロージヤ（２２）、前記パツケージに誘起される可能な核分裂から結果とし
て生じる中性子放射線を検出することが可能な中性子放
射線を検出しかつそれらを２値情報に変換するための手
段（２４，２６）、からなり、前記２値情報が、核分裂
事象に関することを特徴とする請求項１３に記載の記憶
情報成形処理装置。