JPH07294242A - 三次元測定機及び三次元形状測定法 - Google Patents
三次元測定機及び三次元形状測定法Info
- Publication number
- JPH07294242A JPH07294242A JP8339094A JP8339094A JPH07294242A JP H07294242 A JPH07294242 A JP H07294242A JP 8339094 A JP8339094 A JP 8339094A JP 8339094 A JP8339094 A JP 8339094A JP H07294242 A JPH07294242 A JP H07294242A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- coordinates
- contactor
- measuring
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
- Numerical Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 径の大きさが１：ｎである２個の接触子によ
り被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定する
測定手段Ａと、その座標を接触子毎に記憶する判断記憶
手段Ｂと、得られた接触子毎の座標値（Ｚφ1、Ｚφn）
より、式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎによって被測
定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定する演算手段
Ｃとからなる三次元測定機。 【効果】 被測定物の傾斜面と接触子との誤差を相殺
し、被測定物の任意点の座標を測定できるので、設計上
完全球面体でない上検査自体が変形を生じているサンプ
ルを検出することを目的とするランプリフレクターのよ
うな射出成形品が被測定物であっても、正確に測定でき
る。
り被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定する
測定手段Ａと、その座標を接触子毎に記憶する判断記憶
手段Ｂと、得られた接触子毎の座標値（Ｚφ1、Ｚφn）
より、式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎによって被測
定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定する演算手段
Ｃとからなる三次元測定機。 【効果】 被測定物の傾斜面と接触子との誤差を相殺
し、被測定物の任意点の座標を測定できるので、設計上
完全球面体でない上検査自体が変形を生じているサンプ
ルを検出することを目的とするランプリフレクターのよ
うな射出成形品が被測定物であっても、正確に測定でき
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定物の傾斜面と接
触子との誤差を補正し、被測定物の任意点の座標を測定
する三次元測定機及び三次元形状測定法に関する。
触子との誤差を補正し、被測定物の任意点の座標を測定
する三次元測定機及び三次元形状測定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、プラスチックス等の射出成形
品を検査するために、接触型の接触子を備える三次元測
定機により金型及びその射出成形品の成形後の寸法を測
定することが行われている。図５は、三次元測定機の倣
いプローブ３０を用い、マスターボール３１のＺＸ面に
投影させたＺ高さを測定する説明図であり、倣いプロー
ブ３０はその特性上の制約から、頂点を通る周上に測定
を行う。そして、その標準測定の結果を次に示す。
品を検査するために、接触型の接触子を備える三次元測
定機により金型及びその射出成形品の成形後の寸法を測
定することが行われている。図５は、三次元測定機の倣
いプローブ３０を用い、マスターボール３１のＺＸ面に
投影させたＺ高さを測定する説明図であり、倣いプロー
ブ３０はその特性上の制約から、頂点を通る周上に測定
を行う。そして、その標準測定の結果を次に示す。
【０００３】
【表１】
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記測定結果より、測
定点を等高線に対し垂直な方向のみしか正確には測定を
することができない。しかし、ランプリフレクターのよ
うな射出成形品は、設計上完全球面体でない上、検査自
体が変形を生じているサンプルを検出することを目的と
するため、前記測定機では測定方向が完全に垂直でない
と正確に測定できない。つまり、三次元測定機は、図２
に示すように接触子中心Ｚt（ｘ，ｙ，ｚt）から半径ｒ
を引いた値Ｚ0'を出力するので、接触子中心Ｚtの進行
方向上に、接触子と被測定物との接触点が無い場合には
次のような誤差が生じる。 Ｚ0'＝Ｚt−ｒ・・・(1) ここで、 Ｚt・sinθ2＝ｒ Ｚt＝ｒ・sin-1θ2 θ1＋θ2＝π／２だから Ｚt＝ｒ・cos-1θ1 よって、(1)式は Ｚ0'＝ｒ・cos-1θ1−ｒ ＝ｒ(cos-1θ1−１) となり、誤差ｒ(cos-1θ1−１)が生じる。このような誤
差に対し、単純球面でない被測定物を等高線に対し直角
方向に測定するためには、測定面の仮想球面の中心を求
めてから測定する方法があるが、予備測定が必要な上、
複雑な形状には不適である。また、金型設計データは平
面座標が格子上に入力されており、これらの数に相当す
る点数分のデータを三次元測定機により得るためには、
２０cm四方の被測定対象に対し１５０回以上の倣い測定
を行う必要がある。そこで、本願発明は、誤差ｒ(cos-1
θ1−１)を消去することを課題とする。
定点を等高線に対し垂直な方向のみしか正確には測定を
することができない。しかし、ランプリフレクターのよ
うな射出成形品は、設計上完全球面体でない上、検査自
体が変形を生じているサンプルを検出することを目的と
するため、前記測定機では測定方向が完全に垂直でない
と正確に測定できない。つまり、三次元測定機は、図２
に示すように接触子中心Ｚt（ｘ，ｙ，ｚt）から半径ｒ
を引いた値Ｚ0'を出力するので、接触子中心Ｚtの進行
方向上に、接触子と被測定物との接触点が無い場合には
次のような誤差が生じる。 Ｚ0'＝Ｚt−ｒ・・・(1) ここで、 Ｚt・sinθ2＝ｒ Ｚt＝ｒ・sin-1θ2 θ1＋θ2＝π／２だから Ｚt＝ｒ・cos-1θ1 よって、(1)式は Ｚ0'＝ｒ・cos-1θ1−ｒ ＝ｒ(cos-1θ1−１) となり、誤差ｒ(cos-1θ1−１)が生じる。このような誤
差に対し、単純球面でない被測定物を等高線に対し直角
方向に測定するためには、測定面の仮想球面の中心を求
めてから測定する方法があるが、予備測定が必要な上、
複雑な形状には不適である。また、金型設計データは平
面座標が格子上に入力されており、これらの数に相当す
る点数分のデータを三次元測定機により得るためには、
２０cm四方の被測定対象に対し１５０回以上の倣い測定
を行う必要がある。そこで、本願発明は、誤差ｒ(cos-1
θ1−１)を消去することを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、この発明に係る三次元測定機は、径の大きさが
１：ｎである２個の接触子により被測定物の任意点の座
標を同時に又は別々に測定する測定手段と、前記測定手
段による座標を接触子毎に記憶する判断記憶手段と、前
記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標値（Ｚφ
1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する演算手段とからなることを特徴とするものである。
また、径の大きさが１：ｎである２個の接触子により被
測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定して、接
触子毎に座標を求め、前記接触子毎の座標値（Ｚφ1、
Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
することを特徴とする三次元形状測定法である。
めに、この発明に係る三次元測定機は、径の大きさが
１：ｎである２個の接触子により被測定物の任意点の座
標を同時に又は別々に測定する測定手段と、前記測定手
段による座標を接触子毎に記憶する判断記憶手段と、前
記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標値（Ｚφ
1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する演算手段とからなることを特徴とするものである。
また、径の大きさが１：ｎである２個の接触子により被
測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定して、接
触子毎に座標を求め、前記接触子毎の座標値（Ｚφ1、
Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
することを特徴とする三次元形状測定法である。
【０００６】
【作用】上記構成を有する本発明の三次元測定機では、
径の大きさが１：ｎである２個の接触子により被測定物
の任意点の座標を同時に又は別々に測定手段により測定
し、得られた座標を接触子毎に判断記憶手段において記
憶し、前記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標
値（Ｚφ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT） を演算
手段により決定するできるので、被測定物の傾斜面と接
触子との誤差を相殺し、被測定物の任意点の真の座標を
測定できる。また、上記構成を有する本発明の三次元形
状測定法も、同様に被測定物の傾斜面と接触子との誤差
を相殺し、被測定物の任意点の真の座標を測定できる。
径の大きさが１：ｎである２個の接触子により被測定物
の任意点の座標を同時に又は別々に測定手段により測定
し、得られた座標を接触子毎に判断記憶手段において記
憶し、前記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標
値（Ｚφ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT） を演算
手段により決定するできるので、被測定物の傾斜面と接
触子との誤差を相殺し、被測定物の任意点の真の座標を
測定できる。また、上記構成を有する本発明の三次元形
状測定法も、同様に被測定物の傾斜面と接触子との誤差
を相殺し、被測定物の任意点の真の座標を測定できる。
【０００７】
【実施例】以下、本願発明の三次元測定機及び三次元形
状測定法を図面に基づいて説明する。図６は、三次元形
状測定法を説明するフローチャート図であって、まず、
大きさが１：ｎである２個の接触子により被測定物の任
意点の座標を同時に（Ｓ１）又は別々に（Ｓ２）測定し
て、接触子毎に座標を求める（Ｓ３）。次に、前記接触
子毎の座標値（Ｚφ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する（Ｓ４）ものである。なお、演算式及び個々の工程
については以下に説明する。
状測定法を図面に基づいて説明する。図６は、三次元形
状測定法を説明するフローチャート図であって、まず、
大きさが１：ｎである２個の接触子により被測定物の任
意点の座標を同時に（Ｓ１）又は別々に（Ｓ２）測定し
て、接触子毎に座標を求める（Ｓ３）。次に、前記接触
子毎の座標値（Ｚφ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する（Ｓ４）ものである。なお、演算式及び個々の工程
については以下に説明する。
【０００８】次に、三次元測定装置は図１に示すよう
に、測定手段Ａ、判断記憶手段Ｂ及び演算手段Ｃとから
なる。該測定手段Ａは、接触子を備えたプローブA1と、
該プローブA1を三次元的に移動させる三次元移動手段A2
と、該接触子が被測定物Ｗと接触したことを検出する接
触検出手段A3と、該三次元移動手段A2の移動に応答し
て、該プローブA1の位置を三次元座標で検出する三次元
位置検出手段A4と、該接触検出手段A3によって該接触子
の被測定物Ｗへの接触が検出された時、該三次元位置検
出手段A4によって検出された上記プローブA1の三次元位
置から接触子の一次元位置を検出する座標検出手段A5と
からなる。測定手段Ａは、接触子を備えたプローブA1を
三次元的に移動させることのできる三次元移動手段A2に
より特定の１方向に移動させ、該接触子が被測定物Ｗと
接触したことを接触検出手段A3により検出した時に、該
三次元移動手段A2の移動に応答して一時的に移動を止
め、該プローブA1の位置を三次元座標により三次元位置
検出手段A4が検出する。また、該接触検出手段A3によっ
て該接触子の被測定物Ｗへの接触が検出されたと同時
に、該三次元位置検出手段A4によって検出された上記プ
ローブA1の三次元位置から、接触子が移動する特定方向
上の一次元位置を座標検出手段A5により検出することが
できる。これにより、ｘｙ軸平面の特定方向に三次元移
動手段A2により移動させる三次元測定機にあっては、被
測定物の任意点のｚ座標を測定することができる。次
に、該判断記憶手段Ｂは、該接触子の種類を判定する判
断手段B1と、該接触子の種類毎に該座標検出手段A5から
の検出値を記憶する記憶手段B2とからなる。径の大きさ
が１：２である２個の接触子の種類を判定する判断手段
B1は、プローブA1に接触子を取り付けた後種類別のスイ
ッチの入力による場合と、プローブA1に接触子の径の大
きさを判定する赤外線センサー若しくは種別記号、例え
ば軸に設けた切欠きの位置の相違を判別するセンサーに
よる場合と、２種類の接触子を自動的にプローブA1に供
給できる装置において供給する接触子の種利をその装置
から信号として判断手段B1へ入力される場合などがあ
る。そして、この判断手段B1による該接触子の種類毎
に、該座標検出手段A5からの検出値を記憶手段B2に記憶
することにより、径の大きさが１：２である２個の接触
子により前記任意点を、判断記憶手段Ｂとして別々に測
定することができる。詳しくは、接触子１及び接触子２
は、径の大きさの比がφ1：φ2＝１：２であって、任意
のｘｙ座標値における被測定物の傾斜面３のｚT値を測
定する場合を図２により説明する。まず、傾斜面角度θ
1を、先に計測する接触子１により傾斜面３を移動しつ
つ接触させて測定する。次に、接触子の径ｒ＝０の結
果、つまり三次元測定機の出力値Ｚφr=0＝ＺTを推測す
るために、最初に、接触子１によりＺφ1が出力され
る。次に、接触子２によりＺφ2が出力されるので、判
断記憶手段Ｂに入力される。更に、この三次元測定機は
該判断記憶手段Ｂにより得られた２種類の座標値（Ｚφ
1、Ｚφ2）より、演算手段Ｃにおいて 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφ2／２ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する。
に、測定手段Ａ、判断記憶手段Ｂ及び演算手段Ｃとから
なる。該測定手段Ａは、接触子を備えたプローブA1と、
該プローブA1を三次元的に移動させる三次元移動手段A2
と、該接触子が被測定物Ｗと接触したことを検出する接
触検出手段A3と、該三次元移動手段A2の移動に応答し
て、該プローブA1の位置を三次元座標で検出する三次元
位置検出手段A4と、該接触検出手段A3によって該接触子
の被測定物Ｗへの接触が検出された時、該三次元位置検
出手段A4によって検出された上記プローブA1の三次元位
置から接触子の一次元位置を検出する座標検出手段A5と
からなる。測定手段Ａは、接触子を備えたプローブA1を
三次元的に移動させることのできる三次元移動手段A2に
より特定の１方向に移動させ、該接触子が被測定物Ｗと
接触したことを接触検出手段A3により検出した時に、該
三次元移動手段A2の移動に応答して一時的に移動を止
め、該プローブA1の位置を三次元座標により三次元位置
検出手段A4が検出する。また、該接触検出手段A3によっ
て該接触子の被測定物Ｗへの接触が検出されたと同時
に、該三次元位置検出手段A4によって検出された上記プ
ローブA1の三次元位置から、接触子が移動する特定方向
上の一次元位置を座標検出手段A5により検出することが
できる。これにより、ｘｙ軸平面の特定方向に三次元移
動手段A2により移動させる三次元測定機にあっては、被
測定物の任意点のｚ座標を測定することができる。次
に、該判断記憶手段Ｂは、該接触子の種類を判定する判
断手段B1と、該接触子の種類毎に該座標検出手段A5から
の検出値を記憶する記憶手段B2とからなる。径の大きさ
が１：２である２個の接触子の種類を判定する判断手段
B1は、プローブA1に接触子を取り付けた後種類別のスイ
ッチの入力による場合と、プローブA1に接触子の径の大
きさを判定する赤外線センサー若しくは種別記号、例え
ば軸に設けた切欠きの位置の相違を判別するセンサーに
よる場合と、２種類の接触子を自動的にプローブA1に供
給できる装置において供給する接触子の種利をその装置
から信号として判断手段B1へ入力される場合などがあ
る。そして、この判断手段B1による該接触子の種類毎
に、該座標検出手段A5からの検出値を記憶手段B2に記憶
することにより、径の大きさが１：２である２個の接触
子により前記任意点を、判断記憶手段Ｂとして別々に測
定することができる。詳しくは、接触子１及び接触子２
は、径の大きさの比がφ1：φ2＝１：２であって、任意
のｘｙ座標値における被測定物の傾斜面３のｚT値を測
定する場合を図２により説明する。まず、傾斜面角度θ
1を、先に計測する接触子１により傾斜面３を移動しつ
つ接触させて測定する。次に、接触子の径ｒ＝０の結
果、つまり三次元測定機の出力値Ｚφr=0＝ＺTを推測す
るために、最初に、接触子１によりＺφ1が出力され
る。次に、接触子２によりＺφ2が出力されるので、判
断記憶手段Ｂに入力される。更に、この三次元測定機は
該判断記憶手段Ｂにより得られた２種類の座標値（Ｚφ
1、Ｚφ2）より、演算手段Ｃにおいて 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφ2／２ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する。
【０００９】演算手段Ｃでは、ＺTの演算式Ｆを次のよ
うに処理する。 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−(Ｚφ2−Ｚφ1) ＝２Ｚφ1−Ｚφ2 ＝２｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒ2(cos-1θ
1−１)｝ ＝ＺT＋(２ｒ1−ｒ2)(cos-1θ1−１) ここで、ｒ1＝１、ｒ2＝２であれば、２ｒ1−ｒ2＝０な
ので、 ＝ＺT これにより、任意のｘｙ座標値における被測定物の傾斜
面３のｚT値が求められる。
うに処理する。 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−(Ｚφ2−Ｚφ1) ＝２Ｚφ1−Ｚφ2 ＝２｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒ2(cos-1θ
1−１)｝ ＝ＺT＋(２ｒ1−ｒ2)(cos-1θ1−１) ここで、ｒ1＝１、ｒ2＝２であれば、２ｒ1−ｒ2＝０な
ので、 ＝ＺT これにより、任意のｘｙ座標値における被測定物の傾斜
面３のｚT値が求められる。
【００１０】図３に、本願測定機による測定結果を示
す。（ａ）は、被測定物のｘｙ平面図を示すものであ
り、一定のｙ座標値となる方向へ３回のｙ座標値が異な
る測定を行った。（ｂ）は、測定値と設計値との差を縦
軸に、ｘｙ座標値を横軸に示した立体図であって、ほぼ
設計通りの金型が得られたことが判る。なお、２個の接
触子を用いているが、２個以上の径の異なる複数の接触
子を用い、得られた多数の測定値を統計学的に演算処理
すればより誤差を近似することができる。
す。（ａ）は、被測定物のｘｙ平面図を示すものであ
り、一定のｙ座標値となる方向へ３回のｙ座標値が異な
る測定を行った。（ｂ）は、測定値と設計値との差を縦
軸に、ｘｙ座標値を横軸に示した立体図であって、ほぼ
設計通りの金型が得られたことが判る。なお、２個の接
触子を用いているが、２個以上の径の異なる複数の接触
子を用い、得られた多数の測定値を統計学的に演算処理
すればより誤差を近似することができる。
【００１１】一般に、径の大きさが１：ｎである接触子
φ1及びφnにより測定するとき、Ｚ軸の差は次のような
式で表わされる。 ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−｛Ｚφn−(ｎ−１)Ｚφ1｝ ＝ｎＺφ1−Ｚφn ＝ｎ｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒn(cos-1θ
1−１)｝ ＝ｎＺT＋(ｎｒ1−ｒn)(cos-1θ1−１) ここで、ｎｒ1−ｒn＝０なので、 ＝ｎＺT となり、この値をｎで割ることにより、任意のｘｙ座標
値における被測定物の傾斜面３のｚ値を求めることがで
きる。つまり、 Ｆ（ＺT）＝ｆ（ＺT）／ｎ ＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ ＝ＺT で求めることができる。
φ1及びφnにより測定するとき、Ｚ軸の差は次のような
式で表わされる。 ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−｛Ｚφn−(ｎ−１)Ｚφ1｝ ＝ｎＺφ1−Ｚφn ＝ｎ｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒn(cos-1θ
1−１)｝ ＝ｎＺT＋(ｎｒ1−ｒn)(cos-1θ1−１) ここで、ｎｒ1−ｒn＝０なので、 ＝ｎＺT となり、この値をｎで割ることにより、任意のｘｙ座標
値における被測定物の傾斜面３のｚ値を求めることがで
きる。つまり、 Ｆ（ＺT）＝ｆ（ＺT）／ｎ ＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ ＝ＺT で求めることができる。
【００１２】なお、傾斜面角度θ1は次式によりも求め
られる。 Ｚφ1−Ｚφn ＝｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒn(cos-1θ1
−１)｝ ＝(ｒ1−ｒn)(cos-1θ1−１) 従って、 cosθ1＝(ｒ1−ｒn)(Ｚφ1−Ｚφn＋ｒ1−ｒn)-1 である。
られる。 Ｚφ1−Ｚφn ＝｛ＺT＋ｒ1(cos-1θ1−１)｝−｛ＺT＋ｒn(cos-1θ1
−１)｝ ＝(ｒ1−ｒn)(cos-1θ1−１) 従って、 cosθ1＝(ｒ1−ｒn)(Ｚφ1−Ｚφn＋ｒ1−ｒn)-1 である。
【００１３】他の実施例として、径の大きさが１：ｎで
ある２個の接触子により前記任意点を、同時に測定する
判断記憶手段を説明する。第１実施例では径の異なる接
触子１及び接触子２を、時間差を設けて測定箇所を２
度、移動することにより測定するものであったが、第２
実施例では小径の接触子１を大径の接触子２の中に、そ
れぞれの接触子の中心のｘｙ座標値が同一になるように
内蔵させることにより、測定箇所の移動を１度で測定を
することができるようにする。つまり、接触子の縦断面
を示す図４のように、大径の接触子２の中心に孔２０を
穿設し、その孔２０の中に小径の接触子１を挿入して、
それぞれの接触子１，２の中心のｘｙ座標値が同一にな
るように内蔵させる。そして、接触子毎に測定手段Ａ
1，Ａ2を設け、どちらの測定手段Ａ1，Ａ2から送られる
かにより接触子の種類を判断手段B1により判定し、該座
標検出手段A5からの検出値を記憶手段B2に記憶すること
ができる。その後の演算手段Ｃは第１実施例と同一であ
る。
ある２個の接触子により前記任意点を、同時に測定する
判断記憶手段を説明する。第１実施例では径の異なる接
触子１及び接触子２を、時間差を設けて測定箇所を２
度、移動することにより測定するものであったが、第２
実施例では小径の接触子１を大径の接触子２の中に、そ
れぞれの接触子の中心のｘｙ座標値が同一になるように
内蔵させることにより、測定箇所の移動を１度で測定を
することができるようにする。つまり、接触子の縦断面
を示す図４のように、大径の接触子２の中心に孔２０を
穿設し、その孔２０の中に小径の接触子１を挿入して、
それぞれの接触子１，２の中心のｘｙ座標値が同一にな
るように内蔵させる。そして、接触子毎に測定手段Ａ
1，Ａ2を設け、どちらの測定手段Ａ1，Ａ2から送られる
かにより接触子の種類を判断手段B1により判定し、該座
標検出手段A5からの検出値を記憶手段B2に記憶すること
ができる。その後の演算手段Ｃは第１実施例と同一であ
る。
【００１４】
【発明の効果】以上に詳述したように、この三次元測定
機及び三次元形状測定法に係る発明によれば、被測定物
の傾斜面と接触子との誤差を相殺し、被測定物の任意点
の座標を測定できるので、設計上完全球面体でない上検
査自体が変形を生じているサンプルを検出することを目
的とするランプリフレクターのような射出成形品が被測
定物であっても、正確に測定できる。
機及び三次元形状測定法に係る発明によれば、被測定物
の傾斜面と接触子との誤差を相殺し、被測定物の任意点
の座標を測定できるので、設計上完全球面体でない上検
査自体が変形を生じているサンプルを検出することを目
的とするランプリフレクターのような射出成形品が被測
定物であっても、正確に測定できる。
【図１】本発明に係る三次元測定機を示す概略図であ
る。
る。
【図２】任意のｘｙ座標値における傾斜面の被測定物を
測定する場合の説明図である。
測定する場合の説明図である。
【図３】被測定物及び測定結果の説明図である。
【図４】第２実施例に係る三次元測定機を示す概略図で
ある。
ある。
【図５】倣いプローブによりマスターボールを測定する
説明図である。
説明図である。
【図６】三次元形状測定法を説明するフローチャート図
である。
である。
１、２・・接触子、３・・傾斜面、２０・・孔、Ａ・・
測定手段、Ｂ・・判断記憶手段、Ｃ・・演算手段。
測定手段、Ｂ・・判断記憶手段、Ｃ・・演算手段。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０５Ｂ 19/408
Claims (2)
- 【請求項１】 径の大きさが１：ｎである２個の接触子
により被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定
する測定手段と、 前記測定手段による座標を接触子毎に記憶する判断記憶
手段と、 前記判断記憶手段により得られた接触子毎の座標値（Ｚ
φ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
する演算手段とからなることを特徴とする三次元測定
機。 - 【請求項２】 径の大きさが１：ｎである２個の接触子
により被測定物の任意点の座標を同時に又は別々に測定
して、 接触子毎に座標を求め、 前記接触子毎の座標値（Ｚφ1、Ｚφn）より、 式 Ｆ（ＺT）＝Ｚφ1−Ｚφn／ｎ によって被測定物の任意点の真の座標Ｆ（ＺT）を決定
することを特徴とする三次元形状測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8339094A JPH07294242A (ja) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | 三次元測定機及び三次元形状測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8339094A JPH07294242A (ja) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | 三次元測定機及び三次元形状測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07294242A true JPH07294242A (ja) | 1995-11-10 |
Family
ID=13801107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8339094A Pending JPH07294242A (ja) | 1994-04-21 | 1994-04-21 | 三次元測定機及び三次元形状測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07294242A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006277181A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Brother Ind Ltd | 数値制御装置及びその測定方法 |
| JP2021001865A (ja) * | 2019-06-18 | 2021-01-07 | 日本精工株式会社 | 接触式プローブ及び座標測定装置 |
| CN112614191A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-06 | 江苏智库智能科技有限公司 | 基于双目深度相机的装卸位置检测方法、装置和系统 |
-
1994
- 1994-04-21 JP JP8339094A patent/JPH07294242A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006277181A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Brother Ind Ltd | 数値制御装置及びその測定方法 |
| JP2021001865A (ja) * | 2019-06-18 | 2021-01-07 | 日本精工株式会社 | 接触式プローブ及び座標測定装置 |
| CN112614191A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-06 | 江苏智库智能科技有限公司 | 基于双目深度相机的装卸位置检测方法、装置和系统 |
| CN112614191B (zh) * | 2020-12-16 | 2024-05-24 | 江苏智库智能科技有限公司 | 基于双目深度相机的装卸位置检测方法、装置和系统 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4866643A (en) | Method for automatic compensation of probe offset in a coordinate measuring machine | |
| JP2809295B2 (ja) | 座標測定機及びその測定方法 | |
| US5276974A (en) | Unit for continuously measuring shape defects of a part, and measuring process used in this unit. | |
| US7079969B2 (en) | Dynamic artefact comparison | |
| JP4504818B2 (ja) | 加工物検査方法 | |
| US8526705B2 (en) | Driven scanning alignment for complex shapes | |
| JPS5887408A (ja) | 多座標測定機械の自己定心作用を有する係合する測定機構に固定された検出ピンを校正する方法並びにこの方法を実施する標準器 | |
| CN108731602A (zh) | 物件厚度测量系统、方法、检测设备及计算机程序产品 | |
| CN206132015U (zh) | 多传感器测量机坐标统一和精度检定的标准器 | |
| JPH05507145A (ja) | 表面の形状を決定する装置 | |
| JP3215325B2 (ja) | 測定機の校正方法及びその装置 | |
| KR870002441A (ko) | 물체의 3차원 측정방법 및 장치 | |
| JP2018522240A (ja) | アーチファクトを測定するための方法 | |
| Cheng et al. | Integrated laser/CMM system for the dimensional inspection of objects made of soft material | |
| Zexiao et al. | A simplified method for the extrinsic calibration of structured-light sensors using a single-ball target | |
| Zuquete-Guarato et al. | Towards a new concept of in-line crankshaft balancing by contact less measurement: process for selecting the best digitizing system | |
| JPH07294242A (ja) | 三次元測定機及び三次元形状測定法 | |
| JPH06229741A (ja) | 透明板状体の検査方法およびその装置 | |
| JP6472363B2 (ja) | 計測装置、計測方法および物品の製造方法 | |
| JPH10332304A (ja) | 測定機の校正方法及びその装置 | |
| CN110726368B (zh) | 产品中心的机械坐标的获取方法 | |
| JP2987607B2 (ja) | 三次元座標測定機 | |
| JP2000097684A5 (ja) | ||
| JPH01174907A (ja) | 曲面形状測定方法およびその装置 | |
| CN115014241B (zh) | 一种三坐标测轮廓的检测系统及方法 |