JPH0729120A - Manufacture of thin film magnetic head - Google Patents

Manufacture of thin film magnetic head

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Publication number
JPH0729120A
JPH0729120A JP19770093A JP19770093A JPH0729120A JP H0729120 A JPH0729120 A JP H0729120A JP 19770093 A JP19770093 A JP 19770093A JP 19770093 A JP19770093 A JP 19770093A JP H0729120 A JPH0729120 A JP H0729120A
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JP
Japan
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slider
magnetic head
polishing
polyethylene glycol
aqueous solution
Prior art date
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Pending
Application number
JP19770093A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Yanagisawa
徹 柳沢
Isao Fukuda
功 福田
Shinya Sakagami
進也 坂上
Yuji Kobata
雄二 木幡
Hidetoshi Sazuka
秀敏 佐塚
Kazuhiro Yanagisawa
和浩 柳沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To easily control the amount of a recess by providing a step for polishing a floating surface of a slider member and a step for dipping the slider member into an aqueous solution of polyethylene glycol after the polishing step. CONSTITUTION:Many magnetic head elements are arranged on a wafer 10 of ceramic. The whole of the wafer 10 is cut square. Then, a processing jig 13 is bonded at the side opposite to an ABS surface (floating surface) 12 of a cut bar 11. Grooves are formed from the side of the ABS surface 12, and a rail 15 of a slider 14, etc., are formed. A breed slot is formed from the side of the ABS surface 12. The ABS surface 12 is then finished by polishing. Subsequently, the slider is dipped in an aqueous solution of polyethylene glycol, thereby to control the amount of a recess. Thereafter, each slider 14 is separated from the processing jig 13 and cleaned, resulting in the final product.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置に用
いられる薄膜磁気ヘッドの製造方法に関し、特に、スラ
イダ部材の浮上面(以下ABS面と称する)の加工につ
いて工夫を施した薄膜磁気ヘッドの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a thin film magnetic head used in a magnetic disk device, and more particularly to a thin film magnetic head devised for processing an air bearing surface (hereinafter referred to as ABS surface) of a slider member. It relates to a manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種の薄膜磁気ヘッドを製造する場
合、一般に、基板となるウエハ上に複数の磁気ヘッド素
子を薄膜集積技術によって形成する工程と、このように
薄膜磁気ヘッド素子が形成されたウエハを複数のバーに
切断する工程と、切断された各バーにABS面側から必
要な溝を形成する溝入れ工程と、各バーのABS面を高
精度に研磨する研磨工程とが少なくとも実施される。
2. Description of the Related Art In manufacturing a thin film magnetic head of this type, generally, a step of forming a plurality of magnetic head elements on a wafer serving as a substrate by a thin film integration technique, and the thin film magnetic head element thus formed. At least a step of cutting the wafer into a plurality of bars, a grooving step of forming a necessary groove on each of the cut bars from the ABS surface side, and a polishing step of polishing the ABS surface of each bar with high accuracy are performed. It

【0003】この研磨工程は、主として、各磁気ヘッド
素子のギャップデプス(スロートハイト)を一定に調整
するためのものであるが、異なる材質の層が現れている
ABS面を同時に研磨しているため、異種材質層間にリ
セスと称する加工段差を形成してしまう。
This polishing process is mainly for adjusting the gap depth (throat height) of each magnetic head element to a constant level, but since the ABS surface where layers of different materials are exposed is polished at the same time. A processing step called a recess is formed between different material layers.

【0004】図5は、このリセスを説明するために従来
の研磨工程がなされた後の磁気ヘッド素子周辺を表した
部分断面図である。同図において、50はAl23
TiC等の非常に硬いセラミック材によって形成された
スライダ、51はこのスライダ50の後端面上に形成さ
れたAl23 等による絶縁層、52及び53は絶縁層
51上に積層されたNi−Fe(パーマロイ)等のある
程度柔らかい金属材料からなる磁極層、54は磁極層5
2及び53間に設けられたAl23 等による層間絶縁
層、55はコイル導体、56は磁極層52及び53等の
上に積層されたAl23 等による保護膜、57はAB
S面をそれぞれ示している。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing the periphery of the magnetic head element after a conventional polishing process has been performed to explain this recess. In the figure, 50 is Al 2 O 3 −.
A slider formed of a very hard ceramic material such as TiC, 51 is an insulating layer made of Al 2 O 3 or the like formed on the rear end surface of the slider 50, and 52 and 53 are Ni-layers laminated on the insulating layer 51. The magnetic pole layer 54 is made of a soft metal material such as Fe (permalloy), and 54 is the magnetic pole layer 5.
2 is an interlayer insulating layer made of Al 2 O 3 or the like provided between 53, 55 is a coil conductor, 56 is a protective film made of Al 2 O 3 or the like laminated on the magnetic pole layers 52 and 53, and 57 is AB.
The S-planes are shown.

【0005】Al23 等からなる絶縁層51、層間絶
縁層54及び保護膜56は、Al23 −TiC等から
なるスライダ50に比して材質的に柔らかいため、従来
技術による研磨が行われると、リセス58がスライダ5
0と絶縁層51との間に発生する。この場合のリセス量
(深さ)が図ではd1 で表されている。また、Ni−F
e等からなる磁極層52及び53は、Al23 等から
なる絶縁層51、層間絶縁層54及び保護膜56に比し
て材質がさらに柔らかいため、ABS面57から後退す
る方向のリセス59がこの部分で発生する。この場合の
リセス量がd2で表されている。
Since the insulating layer 51 made of Al 2 O 3 or the like, the interlayer insulating layer 54 and the protective film 56 are softer in material than the slider 50 made of Al 2 O 3 —TiC or the like, they can be polished by the conventional technique. When done, the recess 58 causes the slider 5 to
It occurs between 0 and the insulating layer 51. The recess amount (depth) in this case is represented by d 1 in the figure. In addition, Ni-F
Since the magnetic pole layers 52 and 53 made of e or the like are made of a softer material than the insulating layer 51 made of Al 2 O 3 , the interlayer insulating layer 54 and the protective film 56, the recess 59 in the direction of receding from the ABS surface 57 is formed. Occurs in this part. The recess amount in this case is represented by d 2 .

【0006】研磨面における各材質の硬度の相違からく
る研磨効率の差に基づいてこのようなリセス58及び5
9が発生すると、磁気媒体と磁極との距離が大きくなる
ことからスライダの低浮上化を図ったとしても高記録密
化が難しくなる。このため、スライダと保護膜とを同一
材料で構成するようにしてリセス量の低減化を図ること
が既に提案されている(特開昭62−214507号公
報)。材質を同じにすれば確かにリセスの発生を防止で
きるが、磁極層と保護膜とを同一材料とすることができ
ないので、前述のリセス59に対してはこの方法を採用
することができない。
The recesses 58 and 5 are formed on the basis of the difference in polishing efficiency due to the difference in hardness of each material on the polishing surface.
When No. 9 occurs, the distance between the magnetic medium and the magnetic pole becomes large, so that it is difficult to achieve high recording density even if the flying height of the slider is reduced. Therefore, it has already been proposed to reduce the recess amount by forming the slider and the protective film with the same material (Japanese Patent Laid-Open No. 62-214507). If the same material is used, the occurrence of recesses can be surely prevented, but this method cannot be adopted for the recesses 59 because the pole layer and the protective film cannot be made of the same material.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】磁極層のリセス59を
も含めてリセス量を小さくするために、本出願人は、研
磨液のスラリ(例えばダイヤモンド粉末)の微粒子化を
図る、及び加工定盤の材質を変えて硬度を最適化する等
の方法を試みた。しかしながら、このような研磨によっ
て全てのリセス量を所望の値に制御することは極めて困
難であった。
In order to reduce the recess amount including the recess 59 of the magnetic pole layer, the applicant of the present invention intends to make the slurry (for example, diamond powder) of the polishing liquid into fine particles, and the processing surface plate. We tried to optimize the hardness by changing the material. However, it has been extremely difficult to control all recess amounts to desired values by such polishing.

【0008】例えば、リセス量を100Å以下に抑えよ
うとした場合、スライダ50に対する絶縁層51、層間
絶縁層54及び保護膜56のリセス並びにスライダ50
に対する磁極層52及び53のリセスについてはある程
度制御可能であったが、絶縁層51、層間絶縁層54及
び保護膜56に対する磁極層52及び53のリセスを適
切に制御することはできなかった。即ち、磁極層が保護
膜に対して平坦となったり、磁極層が10〜20Å程度
保護膜のABS面から突出する現象が起きて制御が難し
かった。磁極層が保護膜に平坦な場合は全く問題ない
が、突出部が生じている場合は、磁気ヘッドの信頼性の
点から大きな問題となる。磁極層のこのような突出部
(凸部)を除去するために、研磨工程後にイオンミリン
グを行うことも考えられるが、これは工程数の大幅な増
大化を招き、またコストの上昇をもたらすという問題が
ある。
For example, when the recess amount is to be suppressed to 100 Å or less, the recesses of the insulating layer 51, the interlayer insulating layer 54 and the protective film 56 with respect to the slider 50 and the slider 50.
Although the recesses of the pole layers 52 and 53 with respect to the magnetic pole layers 52 and 53 could be controlled to some extent, the recesses of the pole layers 52 and 53 with respect to the insulating layer 51, the interlayer insulating layer 54, and the protective film 56 could not be appropriately controlled. That is, it is difficult to control because the phenomenon that the magnetic pole layer becomes flat with respect to the protective film or the magnetic pole layer projects from the ABS surface of the protective film by about 10 to 20 Å. When the pole layer is flat on the protective film, there is no problem at all, but when the protrusion is formed, it becomes a serious problem from the viewpoint of reliability of the magnetic head. Ion milling may be performed after the polishing step in order to remove such protrusions (protrusions) of the pole layer, but this leads to a significant increase in the number of steps and an increase in cost. There's a problem.

【0009】従って本発明は、コストの増大化を最小限
に抑えつつリセス量を所望範囲に抑えることのできる薄
膜磁気ヘッドの製造方法を提供するものである。
Accordingly, the present invention provides a method of manufacturing a thin film magnetic head capable of suppressing the amount of recess within a desired range while minimizing the increase in cost.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、薄膜磁
気ヘッドの製造方法は、薄膜磁気ヘッド素子が形成され
ているスライダ部材の浮上面の研磨加工を行う工程と、
この工程の後にスライダ部材をポリエチレングリコール
水溶液に浸漬する工程とを備えている。
According to the present invention, a method of manufacturing a thin film magnetic head comprises a step of polishing an air bearing surface of a slider member on which a thin film magnetic head element is formed,
After this step, a step of immersing the slider member in a polyethylene glycol aqueous solution is provided.

【0011】[0011]

【作用】まず、セラミック材からなるウエハ上に薄膜集
積技術によって磁気ヘッド素子を形成する。この場合、
磁気ヘッド素子がウエハ面上で複数の列状に並ぶように
形成する。次いで、ウエハを切断してこのように複数列
に形成された磁気ヘッド素子の各列をバー状態に切り出
す。切り出した各バーについてABS面側から必要な溝
を形成した後、各バーのABS面を仕上げ研磨する。仕
上げ研磨後に、各バーをポリエチレングリコール水溶液
に浸漬する。ポリエチレングリコール水溶液は、金属で
ある磁極層のみに対しての選択的なエッチング効果を有
しており、他の層、例えば保護膜、絶縁層、及び層間絶
縁層等にはエッチング効果が全くない。エッチング量
は、ポリエチレングリコール水溶液への浸漬時間によっ
て制御されるから、研磨によって磁極層に前述の突出部
(凸部)が形成されたとしても、これをポリエチレング
リコール水溶液へ浸漬させることにより、その突出リセ
ス量をゼロ又は負に、即ち凹形状に、極めて容易に制御
することができる。
First, a magnetic head element is formed on a wafer made of a ceramic material by a thin film integration technique. in this case,
The magnetic head elements are formed so as to be arranged in a plurality of rows on the wafer surface. Next, the wafer is cut to cut each row of the magnetic head elements thus formed in a plurality of rows into a bar state. After forming necessary grooves from the ABS surface side of each cut bar, the ABS surface of each bar is finish-polished. After finishing polishing, each bar is dipped in a polyethylene glycol aqueous solution. The polyethylene glycol aqueous solution has a selective etching effect only on the magnetic pole layer, and has no etching effect on other layers such as the protective film, the insulating layer, and the interlayer insulating layer. Since the etching amount is controlled by the immersion time in the polyethylene glycol aqueous solution, even if the above-mentioned protrusions (projections) are formed on the pole layer by polishing, the protrusions can be formed by immersing the protrusions in the polyethylene glycol aqueous solution. The recess amount can be controlled to zero or negative, that is, a concave shape, very easily.

【0012】[0012]

【実施例】図1(A)〜(J)は、本発明による薄膜磁
気ヘッドの製造方法の一実施例を示す工程図である。
1 (A) to 1 (J) are process drawings showing an embodiment of a method of manufacturing a thin film magnetic head according to the present invention.

【0013】まず、Al23 −TiC等のセラミック
材によるウエハ10上に薄膜集積技術によって多数の磁
気ヘッド素子を複数列に並ぶように形成する。次いで、
複数のバーに切断するための浅溝(図示なし)をこのウ
エハ10上に加工形成した後、図1(A)に示すよう
に、ウエハ10全体を四角形状に切断する。次いで、図
1(B)に示すように、ウエハ10を切断して複数列に
形成された磁気ヘッド素子の各列をバー11に切り出
す。ウエハ10の切断は、円板状のダイヤモンド砥石に
よって行われる。
First, a large number of magnetic head elements are formed in a plurality of rows on a wafer 10 made of a ceramic material such as Al 2 O 3 —TiC by a thin film integration technique. Then
After forming shallow grooves (not shown) for cutting into a plurality of bars on this wafer 10, the entire wafer 10 is cut into a rectangular shape as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 1B, the wafer 10 is cut and each row of magnetic head elements formed in a plurality of rows is cut out into a bar 11. The cutting of the wafer 10 is performed by a disc-shaped diamond grindstone.

【0014】次に、図1(C)に示すように、切り出し
たバー11のABS面12の反対側の面に、金属又はセ
ラミクス製の直方体形状からなる加工用治具13を接着
する。次いで、図1(D)に示すごとくABS面12表
面の研削を行い、その表面高さのおおまかな調整がなさ
れる。
Next, as shown in FIG. 1C, a processing jig 13 made of metal or ceramics and having a rectangular parallelepiped shape is adhered to the surface of the cut bar 11 opposite to the ABS surface 12. Next, as shown in FIG. 1D, the surface of the ABS 12 is ground, and the surface height is roughly adjusted.

【0015】次に、図1(E)に示すごとく、ABS面
12側から溝加工が行われ、各スライダ14のレール1
5等が形成される。なお、図1(E)〜(J)において
は、バー11の一部のスライダ部分のみが示されている
が、実際には図1(D)に示すように多数のスライダが
設けられている。次いで、図1(F)に示すごとく、A
BS面12側からさらに溝加工が行われ、ブリードスロ
ット16が形成される。
Next, as shown in FIG. 1E, groove processing is performed from the ABS 12 side, and the rail 1 of each slider 14 is processed.
5 etc. are formed. Although only a part of the slider portion of the bar 11 is shown in FIGS. 1E to 1J, a large number of sliders are actually provided as shown in FIG. 1D. . Then, as shown in FIG.
Grooves are further processed from the BS surface 12 side to form bleed slots 16.

【0016】次いで、図1(G)に示すように、レール
15のABS面12の仕上げ研磨が行われる。この仕上
げ研磨は、金属定盤を使用し、研磨液のスラリとして微
粒子のダイヤモンド粉末を用いてリセス量を100Å以
下に抑えるように工夫している。この工程においては、
スライダ14のABS面12の平面度について、スロー
トハイトについて、及びリセス量について所定の基準を
満足させることが要求される。しかしながら、リセス量
を100Å以下にしようとすると、前述したように、A
23 等による保護膜に対してNi−Fe(パーマロ
イ)等による磁極層が平坦となったり、又は10〜20
Å程度ABS面から突出する現象が起きてしまう。そこ
で、本実施例では、仕上げ研磨工程の後に、図1(H)
に示すように、スライダ(治具13に取り付けられたバ
ー11)をポリエチレングリコール水溶液17内に浸漬
し、この浸漬時間を適宜調節して磁極層に形成された突
出部(凸部)を選択的にエッチングすることにより突出
リセス量をゼロ又は負に制御している。
Next, as shown in FIG. 1G, the ABS surface 12 of the rail 15 is finish-polished. In this finish polishing, a metal surface plate is used, and fine diamond powder is used as a slurry of the polishing liquid so as to suppress the recess amount to 100 Å or less. In this process,
It is required that the flatness of the ABS surface 12 of the slider 14, the throat height, and the recess amount satisfy predetermined criteria. However, if the recess amount is set to 100 Å or less, as described above, A
The pole layer made of Ni-Fe (permalloy) or the like becomes flat with respect to the protective film made of l 2 O 3 or the like, or 10 to 20
Å About the phenomenon of protruding from the ABS surface occurs. Therefore, in the present embodiment, after the finish polishing step, as shown in FIG.
As shown in FIG. 6, the slider (bar 11 attached to the jig 13) is dipped in the polyethylene glycol aqueous solution 17, and the dipping time is adjusted appropriately to selectively project the protrusions (projections) formed on the pole layer. The amount of protrusion recess is controlled to zero or negative by etching.

【0017】図2(A)〜(C)は、この仕上げ研磨工
程の前、仕上げ研磨工程の後及びその後に行われる浸漬
工程後における磁気ヘッド素子周辺をそれぞれ表した部
分断面図である。これらの図において、20はAl2
3 −TiC等のセラミック材によって形成されたスライ
ダ、21はこのスライダ20の後端面上に形成されたA
23 等による絶縁層、22及び23は絶縁層21上
に積層されたNi−Fe等の金属材料からなる磁極層、
24は磁極層22及び23間に設けられたAl23
による層間絶縁層、25はコイル導体、26は磁極層2
2及び23等の上に積層されたAl23 等による保護
膜、27はABS面をそれぞれ示している。
2A to 2C are partial cross-sectional views showing the magnetic head element and its periphery before the final polishing step, after the final polishing step and after the dipping step performed thereafter. In these figures, 20 is Al 2 O
A slider 21 made of a ceramic material such as 3- TiC is a slider 21 formed on the rear end surface of the slider 20.
an insulating layer made of l 2 O 3 or the like; 22 and 23 are magnetic pole layers laminated on the insulating layer 21 and made of a metal material such as Ni--Fe;
24 is an interlayer insulating layer made of Al 2 O 3 or the like provided between the magnetic pole layers 22 and 23, 25 is a coil conductor, and 26 is a magnetic pole layer 2.
2 and 23 and the like are protective films made of Al 2 O 3 and the like, and 27 is an ABS surface, respectively.

【0018】図2(A)に示す磁気ヘッドに対して仕上
げ研磨工程が行われると、スライダ20、絶縁層21、
層間絶縁層24及び保護膜26については、ABS面2
7が100Å以下の段差でほぼ平坦となる。しかしなが
ら、磁極層22及び23の部分には、図2(B)に示す
ような10〜20Å程度の高さを有する凸部22a及び
23aの生じる場合がある。そこでこのような場合、図
1(H)の工程においてこのスライダをポリエチレング
リコール水溶液17内に浸漬することにより、磁極層2
2及び23の凸部22a及び23aのみを選択的にエッ
チングして除去し、図2(C)に示すように磁極層22
及び23のABS面が他の層と同一面となるか又は多少
凹むようにリセス量の制御を行う。
When the final polishing process is performed on the magnetic head shown in FIG. 2A, the slider 20, the insulating layer 21,
Regarding the interlayer insulating layer 24 and the protective film 26, the ABS surface 2
7 becomes almost flat with steps less than 100Å. However, in some cases, protrusions 22a and 23a having a height of about 10 to 20Å as shown in FIG. 2B may be formed on the pole layers 22 and 23. Therefore, in such a case, by immersing this slider in the polyethylene glycol aqueous solution 17 in the step of FIG.
Only the convex portions 22a and 23a of 2 and 23 are selectively etched and removed, and as shown in FIG.
The recess amount is controlled so that the ABS surfaces of Nos. 23 and 23 are flush with the other layers or are slightly recessed.

【0019】リセス量の制御は、ポリエチレングリコー
ル水溶液17内への浸漬時間を制御することによって行
う。ポリエチレングリコールには、Ni−Fe等の金属
材料だけをエッチングする作用がある。そこでこの作用
を利用し、ポリエチレングリコール水溶液に磁気ヘッド
を浸漬する時間を制御することにより、磁極層22及び
23のリセス量を制御している。ポリエチレングリコー
ル水溶液への浸漬時間とNi−Feのエッチング量との
関係が図3及び図4に示されている。
The recess amount is controlled by controlling the immersion time in the polyethylene glycol aqueous solution 17. Polyethylene glycol has a function of etching only a metal material such as Ni-Fe. Therefore, by utilizing this action, the recess amount of the magnetic pole layers 22 and 23 is controlled by controlling the time for immersing the magnetic head in the polyethylene glycol aqueous solution. The relationship between the immersion time in the polyethylene glycol aqueous solution and the etching amount of Ni-Fe is shown in FIGS. 3 and 4.

【0020】図3は、平均分子量の異なる2種類のポリ
エチレングリコール(#200及び#400)を純水に
1:9の割合で溶解させたポリエチレングリコール水溶
液へNi−Fe材を浸漬させた場合の浸漬時間に対する
エッチング量(深さ)を測定したものである。同図から
明かのように、#200のポリエチレングリコールの水
溶液の方が浸漬時間に対し、エッチング量の依存性が高
くなっている。
FIG. 3 shows the case where the Ni-Fe material is immersed in a polyethylene glycol aqueous solution prepared by dissolving two kinds of polyethylene glycols (# 200 and # 400) having different average molecular weights in pure water at a ratio of 1: 9. The etching amount (depth) with respect to the immersion time is measured. As is clear from the figure, the aqueous solution of polyethylene glycol # 200 has a higher dependence of the etching amount on the immersion time.

【0021】また図4は、濃度の異なる#200のポリ
エチレングリコール水溶液(ポリエチレングリコール:
純水が1:9及び2:8)へNi−Fe材を浸漬させた
場合の浸漬時間に対するエッチング量を測定したもので
ある。同図から明かのように、濃度によってエッチング
速度に差があり、#200のポリエチレングリコールで
は純水に対する濃度を高めるとエッチング速度が高くな
る。リセス量の制御には、エッチング速度が適度に遅い
方が管理し易いので、ポリエチレングリコール:純水の
比が1:9の方が好ましい。
FIG. 4 shows a # 200 polyethylene glycol aqueous solution (polyethylene glycol:
This is a measurement of the etching amount with respect to the immersion time when the Ni—Fe material was immersed in pure water 1: 9 and 2: 8). As is clear from the figure, there is a difference in the etching rate depending on the concentration, and in the case of # 200 polyethylene glycol, the etching rate increases when the concentration in pure water is increased. Since the control of the recess amount is easier when the etching rate is moderately slow, the ratio of polyethylene glycol: pure water is preferably 1: 9.

【0022】図3及び図4の実験結果より、#200の
ポリエチレングリコールを1:9の比で純水に溶解させ
た水溶液がリセス量の制御には最適であることが分か
る。
From the experimental results shown in FIGS. 3 and 4, it can be seen that an aqueous solution prepared by dissolving # 200 polyethylene glycol in pure water at a ratio of 1: 9 is optimal for controlling the recess amount.

【0023】このようにして仕上げ研磨及びリセス量制
御を行った後、図1(I)に示すごとく、レール15の
チャンファ18を研磨によって作成する。次いで、図1
(J)に示すように、バー11を個々のスライダ14に
切断分離する。その後、各スライダ14をこの加工用治
具13から取り外して洗浄することにより最終的なスラ
イダが得られる。
After finishing polishing and controlling the recess amount in this manner, the chamfer 18 of the rail 15 is formed by polishing, as shown in FIG. 1 (I). Then, FIG.
As shown in (J), the bar 11 is cut and separated into individual sliders 14. Thereafter, each slider 14 is removed from the processing jig 13 and washed to obtain a final slider.

【0024】このように本実施例では、スライダの仕上
げ研磨工程の次にポリエチレングリコール水溶液へのス
ライダ浸漬工程が実施され保護膜に対する磁極層の凸部
が平坦に近い凹状態となるように制御される。特に、水
溶液への浸漬時間を制御することによってエッチング量
が制御されるので、操作が極めて容易であり、高性能な
磁気ヘッドを製造工程数をさほど増大させることなくし
かも製造コストの増加を最小限に抑えて提供することが
できる。
As described above, in this embodiment, the slider is subjected to the final polishing step and then to the slider dipping step in the polyethylene glycol aqueous solution, and the protrusion of the pole layer with respect to the protective film is controlled so as to be almost flat. It In particular, since the etching amount is controlled by controlling the immersion time in the aqueous solution, the operation is extremely easy, and a high-performance magnetic head can be manufactured without significantly increasing the number of manufacturing steps and minimizing the increase in manufacturing cost. It is possible to provide it while suppressing it.

【0025】なお上述の実施例においては、ポリエチレ
ングリコール水溶液へのスライダ浸漬工程をスライダの
仕上げ研磨工程の次に行っているが、この浸漬工程は仕
上げ研磨工程の後であればどの段階で行ってもよい。
In the above embodiment, the step of immersing the slider in the aqueous solution of polyethylene glycol is performed after the step of finish polishing the slider. However, this step of immersing may be performed at any stage after the finish polishing step. Good.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば、薄膜磁気ヘッド素子が形成されているスライダ部材
の浮上面の研磨加工を行う工程と、この工程の後にスラ
イダ部材をポリエチレングリコール水溶液に浸漬する工
程とを備えているため、製造工程数をさほど増大させる
ことなくしかもコストの増大化を最小限に抑えつつリセ
ス量を所望範囲に抑えることができる。
As described in detail above, according to the present invention, the step of polishing the air bearing surface of the slider member on which the thin film magnetic head element is formed, and the slider member after this step are treated with a polyethylene glycol aqueous solution. Therefore, the recess amount can be suppressed to a desired range without increasing the number of manufacturing steps and minimizing the increase in cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による製造方法の一実施例における工程
の一部を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a part of steps in an embodiment of a manufacturing method according to the present invention.

【図2】図1の実施例における各工程がなされた場合の
磁気ヘッド素子周辺を表した部分断面図である。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing the periphery of a magnetic head element in the case where each step in the embodiment of FIG. 1 is performed.

【図3】ポリエチレングリコール水溶液への浸漬時間と
Ni−Fe材のエッチング量との関係を示す特性図であ
る。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a relationship between an immersion time in a polyethylene glycol aqueous solution and an etching amount of a Ni—Fe material.

【図4】ポリエチレングリコール水溶液への浸漬時間と
Ni−Fe材のエッチング量との関係を示す特性図であ
る。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing the relationship between the immersion time in a polyethylene glycol aqueous solution and the etching amount of a Ni—Fe material.

【図5】従来の研磨工程がなされた後の磁気ヘッド素子
周辺を表した部分断面図である。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing the periphery of the magnetic head element after a conventional polishing process is performed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ウエハ 11 バー 12、27 ABS面 13 加工用治具 14、20 スライダ 15 レール 16 ブリードスロット 17 ポリエチレングリコール水溶液 18 チャンファ 21 絶縁層 22、23 磁極層 24 層間絶縁層 25 コイル導体 26 保護膜 10 Wafer 11 Bar 12, 27 ABS Surface 13 Processing Jig 14, 20 Slider 15 Rail 16 Bleed Slot 17 Polyethylene Glycol Aqueous Solution 18 Chamfer 21 Insulating Layer 22, 23 Pole Layer 24 Interlayer Insulating Layer 25 Coil Conductor 26 Protective Film

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木幡 雄二 東京都中央区日本橋一丁目13番1号ティー ディーケイ株式会社内 (72)発明者 佐塚 秀敏 東京都中央区日本橋一丁目13番1号ティー ディーケイ株式会社内 (72)発明者 柳沢 和浩 東京都中央区日本橋一丁目13番1号ティー ディーケイ株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Yuji Kohata 1-13-1 Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo TDK Corporation (72) Inventor Hidetoshi Satsuka 1-13-1 Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo TDK Incorporated (72) Inventor Kazuhiro Yanagisawa 1-13-1, Nihonbashi, Chuo-ku, Tokyo TDK Corporation

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 薄膜磁気ヘッド素子が形成されているス
ライダ部材の浮上面の研磨加工を行う工程と、該工程の
後に該スライダ部材をポリエチレングリコール水溶液に
浸漬する工程とを備えたことを特徴とする薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法。
1. A method comprising: a step of polishing an air bearing surface of a slider member having a thin film magnetic head element formed thereon; and a step of immersing the slider member in a polyethylene glycol aqueous solution after the step. Method for manufacturing thin film magnetic head.
JP19770093A 1993-07-16 1993-07-16 Manufacture of thin film magnetic head Pending JPH0729120A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7082671B2 (en) * 1999-06-03 2006-08-01 Tdk Corporation Magnetic disc apparatus production method
US7100269B2 (en) * 2002-01-10 2006-09-05 Headway Technologies Inc. Method of manufacturing slider of thin-film magnetic head
US7207100B2 (en) * 2001-10-10 2007-04-24 Tdk Corporation Method of manufacturing a magnetic head

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Effective date: 20021203